JPH09105766A - 部分放電測定方法 - Google Patents
部分放電測定方法Info
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- JPH09105766A JPH09105766A JP26286295A JP26286295A JPH09105766A JP H09105766 A JPH09105766 A JP H09105766A JP 26286295 A JP26286295 A JP 26286295A JP 26286295 A JP26286295 A JP 26286295A JP H09105766 A JPH09105766 A JP H09105766A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料に対して高電圧ストレスをかけることな
く、また、部分放電測定に長時間を必要としない部分放
電測定方法を提供する。 【解決手段】 ブッシング１の樹脂モールド部１ｂをグ
ランドに接続し、中心導体１ａに交流電源２の出力端子
を接続して、Ｘ線管６によってブッシング１にＸ線を照
射しながら交流電源２によって電圧を印加して部分放電
を発生させるので、通常状態で部分放電が発生する印加
電圧レベルよりも低いレベルの印加電圧でしかも短時間
で部分放電を発生させることができる。
く、また、部分放電測定に長時間を必要としない部分放
電測定方法を提供する。 【解決手段】 ブッシング１の樹脂モールド部１ｂをグ
ランドに接続し、中心導体１ａに交流電源２の出力端子
を接続して、Ｘ線管６によってブッシング１にＸ線を照
射しながら交流電源２によって電圧を印加して部分放電
を発生させるので、通常状態で部分放電が発生する印加
電圧レベルよりも低いレベルの印加電圧でしかも短時間
で部分放電を発生させることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂モールド電気
品を試料とする部分放電試験における部分放電測定方法
に関する。
品を試料とする部分放電試験における部分放電測定方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、モールド変圧器、磁気浮上鉄道
用地上コイル、モールド形ブッシング、及びガス絶縁機
用絶縁スペーサなどの樹脂モールド電気品は、エポキシ
樹脂などで導体をモールドした構成であり、その電気的
及び機械的特性は非常に優れている。
用地上コイル、モールド形ブッシング、及びガス絶縁機
用絶縁スペーサなどの樹脂モールド電気品は、エポキシ
樹脂などで導体をモールドした構成であり、その電気的
及び機械的特性は非常に優れている。
【０００３】ところが、これらの樹脂モールド電気品の
樹脂絶縁部分において部分放電が発生すると、樹脂が分
解されて機器の劣化や故障へと繋がるおそれがある。こ
のため、これらの製品の製造出荷検査においては、使用
電圧で部分放電が発生しない事を検証する部分放電試験
が行われる。例えば、ＪＩＳ Ｃ４３０６−１９９１
「配電用６ＫＶモールド変圧器」では、部分放電開始電
圧が使用電圧の１．３倍以上、部分放電消滅電圧が使用
電圧の１．２倍以上であることが要件として規定されて
おり、部分放電試験においてはこれらの部分放電測定が
行われている。
樹脂絶縁部分において部分放電が発生すると、樹脂が分
解されて機器の劣化や故障へと繋がるおそれがある。こ
のため、これらの製品の製造出荷検査においては、使用
電圧で部分放電が発生しない事を検証する部分放電試験
が行われる。例えば、ＪＩＳ Ｃ４３０６−１９９１
「配電用６ＫＶモールド変圧器」では、部分放電開始電
圧が使用電圧の１．３倍以上、部分放電消滅電圧が使用
電圧の１．２倍以上であることが要件として規定されて
おり、部分放電試験においてはこれらの部分放電測定が
行われている。
【０００４】樹脂モールド電気品の内部では、部分放電
は、導体と樹脂との界面の剥離部分や樹脂内部のボイド
などで形成された空間において発生する。部分放電が発
生するには、これらの空間において電子放出により電荷
が形成されることが必要である。従って、部分放電測定
を行う場合は、この電荷が形成されるまでの時間を考慮
して試料に対する電圧の印加時間を長くしたり、或い
は、過度の高電圧を印加して電子にエネルギを与えるこ
とにより、短時間で部分放電を発生させたりしていた。
は、導体と樹脂との界面の剥離部分や樹脂内部のボイド
などで形成された空間において発生する。部分放電が発
生するには、これらの空間において電子放出により電荷
が形成されることが必要である。従って、部分放電測定
を行う場合は、この電荷が形成されるまでの時間を考慮
して試料に対する電圧の印加時間を長くしたり、或い
は、過度の高電圧を印加して電子にエネルギを与えるこ
とにより、短時間で部分放電を発生させたりしていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この様な部分放電試験
において、部分放電開始電圧については、使用電圧の
１．３倍以上のある値に定めた基準電圧を試料に対して
印加し、部分放電が発生しないことを確認すれば十分で
ある。しかしながら、部分放電消滅電圧については、実
際に試料に対して部分放電を発生させて、その正確な値
を測定する必要がある。従って、上記のように部分放電
を発生させるために、試料に対して長時間の電圧印加を
行ったり、基準電圧を大きく上回る過度の高電圧を印加
することが避けられず、試験時間を長時間必要とした
り、また、試料にかかる高電圧ストレスが大きいという
問題があった。
において、部分放電開始電圧については、使用電圧の
１．３倍以上のある値に定めた基準電圧を試料に対して
印加し、部分放電が発生しないことを確認すれば十分で
ある。しかしながら、部分放電消滅電圧については、実
際に試料に対して部分放電を発生させて、その正確な値
を測定する必要がある。従って、上記のように部分放電
を発生させるために、試料に対して長時間の電圧印加を
行ったり、基準電圧を大きく上回る過度の高電圧を印加
することが避けられず、試験時間を長時間必要とした
り、また、試料にかかる高電圧ストレスが大きいという
問題があった。
【０００６】本発明は上記課題を解決するもので、その
目的は、試料に対して高電圧ストレスをかけることな
く、また、試験時間を長時間必要としない部分放電測定
方法を提供することにある。
目的は、試料に対して高電圧ストレスをかけることな
く、また、試験時間を長時間必要としない部分放電測定
方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の部分放電測定方法は、樹脂モールド
電気品を試料とする部分放電試験において、樹脂を透過
する電磁波を試料に対して照射しながら部分放電の測定
を行うことを特徴とする。
め、請求項１記載の部分放電測定方法は、樹脂モールド
電気品を試料とする部分放電試験において、樹脂を透過
する電磁波を試料に対して照射しながら部分放電の測定
を行うことを特徴とする。
【０００８】請求項２記載の部分放電測定方法は、樹脂
モールド電気品を試料とする部分放電試験において、樹
脂を透過する電磁波を試料に対して照射しながら印加電
圧を上昇させて部分放電を発生させた後、電磁波の照射
を停止してから印加電圧を降下させて部分放電消滅電圧
を測定することを特徴とする。
モールド電気品を試料とする部分放電試験において、樹
脂を透過する電磁波を試料に対して照射しながら印加電
圧を上昇させて部分放電を発生させた後、電磁波の照射
を停止してから印加電圧を降下させて部分放電消滅電圧
を測定することを特徴とする。
【０００９】以上の場合において、樹脂を透過する電磁
波を、Ｘ線（請求項３）、またはマイクロ波（請求項
４）とするのが好適である。
波を、Ｘ線（請求項３）、またはマイクロ波（請求項
４）とするのが好適である。
【００１０】請求項５記載の部分放電測定方法は、樹脂
モールド電気品を試料とする部分放電試験において、Ｘ
線を照射方向を変えて試料の一部分に対して照射して部
分放電の測定を行って、これらの部分放電特性を比較す
ることにより部分放電発生箇所を測定することを特徴と
する。
モールド電気品を試料とする部分放電試験において、Ｘ
線を照射方向を変えて試料の一部分に対して照射して部
分放電の測定を行って、これらの部分放電特性を比較す
ることにより部分放電発生箇所を測定することを特徴と
する。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下本発明の第１実施例について
図１を参照して説明する。電気的構成を示す図１におい
て、試料としての樹脂モールド電気品たるモールド形ブ
ッシング１は、中心導体１ａをエポキシ樹脂によってモ
ールドした構成であり、その樹脂モールド部１ｂはグラ
ンドに接続され、中心導体１ａは昇降圧可能な交流電源
２の出力端子に接続されている。交流電源２のもう一方
の出力端子は、グランドに接続されている。また、ブッ
シング１の中心導体１ａと樹脂モールド１ｂとの間に
は、インピーダンス３及び測定用インピーダンス４の直
列回路が接続されており、両者の共通接続点には、部分
放電測定器５の入力端子が接続されている。その部分放
電測定器５のもう一方の入力端子は、グランドに接続さ
れている。そして、中心導体１ａが貫通している方向に
おけるブッシング１の近傍には、樹脂モールド部１ｂを
透過する電磁波としてＸ線を放射するＸ線管６が配置さ
れている。
図１を参照して説明する。電気的構成を示す図１におい
て、試料としての樹脂モールド電気品たるモールド形ブ
ッシング１は、中心導体１ａをエポキシ樹脂によってモ
ールドした構成であり、その樹脂モールド部１ｂはグラ
ンドに接続され、中心導体１ａは昇降圧可能な交流電源
２の出力端子に接続されている。交流電源２のもう一方
の出力端子は、グランドに接続されている。また、ブッ
シング１の中心導体１ａと樹脂モールド１ｂとの間に
は、インピーダンス３及び測定用インピーダンス４の直
列回路が接続されており、両者の共通接続点には、部分
放電測定器５の入力端子が接続されている。その部分放
電測定器５のもう一方の入力端子は、グランドに接続さ
れている。そして、中心導体１ａが貫通している方向に
おけるブッシング１の近傍には、樹脂モールド部１ｂを
透過する電磁波としてＸ線を放射するＸ線管６が配置さ
れている。
【００１２】次に、本実施例の作用を説明する。上記構
成において部分放電試験を行う場合、まず、Ｘ線管６を
動作させて、Ｘ線をブッシング１に対して照射する。す
ると、ブッシング１の樹脂モールド部１ｂ中の電子は、
Ｘ線の照射により励起されて、中心導体１ａと樹脂モー
ルド１ｂとの界面の剥離或いは樹脂モールド部１ｂ内部
のボイドによって形成された空間に放出される。この状
態で、ブッシング１に交流電源２によって低い電圧から
印加を開始し、徐々に印加電圧のレベルを上昇させて行
く。
成において部分放電試験を行う場合、まず、Ｘ線管６を
動作させて、Ｘ線をブッシング１に対して照射する。す
ると、ブッシング１の樹脂モールド部１ｂ中の電子は、
Ｘ線の照射により励起されて、中心導体１ａと樹脂モー
ルド１ｂとの界面の剥離或いは樹脂モールド部１ｂ内部
のボイドによって形成された空間に放出される。この状
態で、ブッシング１に交流電源２によって低い電圧から
印加を開始し、徐々に印加電圧のレベルを上昇させて行
く。
【００１３】すると、前述した剥離或いはボイドによっ
て形成された空間には、前述のようにＸ線の照射による
電子放出によって、予め部分放電の発生に関与する初期
電子に相当するものが形成されているため、通常よりも
低いレベルの印加電圧で部分放電が発生する。そして、
ブッシング１に部分放電が発生したことを確認した後、
Ｘ線管６の動作を停止させ、そこから交流電源２の印加
電圧のレベルを下降させて、部分放電が消滅したときの
測定用インピーダンス４の端子間電圧を、部分放電測定
器５によって測定する。その測定された端子間電圧から
ブッシング１の印加電圧を換算すれば、部分放電消滅電
圧を求めることができる。
て形成された空間には、前述のようにＸ線の照射による
電子放出によって、予め部分放電の発生に関与する初期
電子に相当するものが形成されているため、通常よりも
低いレベルの印加電圧で部分放電が発生する。そして、
ブッシング１に部分放電が発生したことを確認した後、
Ｘ線管６の動作を停止させ、そこから交流電源２の印加
電圧のレベルを下降させて、部分放電が消滅したときの
測定用インピーダンス４の端子間電圧を、部分放電測定
器５によって測定する。その測定された端子間電圧から
ブッシング１の印加電圧を換算すれば、部分放電消滅電
圧を求めることができる。
【００１４】以上のように本実施例によれば、ブッシン
グ１にＸ線管６によってＸ線を照射しながら交流電源２
によって電圧を印加して部分放電を発生させたので、通
常状態で部分放電が発生する印加電圧レベルよりも低い
レベルの印加電圧でしかも短時間で部分放電を発生させ
ることができる。また、従来とは異なり、ブッシング１
に対して過度の高電圧を印加すること無く、ブッシング
１に与える高電圧ストレスを低下させることができる。
また、本実施例によれば、樹脂を透過する電磁波として
Ｘ線を用いたので、ブッシング１に対して電子放出を生
じさせる電磁波の発生が容易となり、測定をも容易に実
施することができる。
グ１にＸ線管６によってＸ線を照射しながら交流電源２
によって電圧を印加して部分放電を発生させたので、通
常状態で部分放電が発生する印加電圧レベルよりも低い
レベルの印加電圧でしかも短時間で部分放電を発生させ
ることができる。また、従来とは異なり、ブッシング１
に対して過度の高電圧を印加すること無く、ブッシング
１に与える高電圧ストレスを低下させることができる。
また、本実施例によれば、樹脂を透過する電磁波として
Ｘ線を用いたので、ブッシング１に対して電子放出を生
じさせる電磁波の発生が容易となり、測定をも容易に実
施することができる。
【００１５】更に、本実施例によれば、ブッシング１に
部分放電が発生した事を確認した後、Ｘ線管６の動作を
停止させてから交流電源２の印加電圧のレベルを下降さ
せて部分放電消滅電圧を測定するようにしたので、通常
状態で部分放電が発生する印加電圧レベルよりも低いレ
ベルの印加電圧で部分放電消滅電圧の測定が可能であ
り、しかも、Ｘ線の照射による影響を排除して、部分放
電消滅電圧を正確に測定することができる。
部分放電が発生した事を確認した後、Ｘ線管６の動作を
停止させてから交流電源２の印加電圧のレベルを下降さ
せて部分放電消滅電圧を測定するようにしたので、通常
状態で部分放電が発生する印加電圧レベルよりも低いレ
ベルの印加電圧で部分放電消滅電圧の測定が可能であ
り、しかも、Ｘ線の照射による影響を排除して、部分放
電消滅電圧を正確に測定することができる。
【００１６】図２は、本発明の第２実施例を示すもので
あり、第１実施例と同一部分には同一符号を付して説明
を省略し、以下異なる部分のみ説明する。図２において
は、ブッシング１の近傍には、Ｘ線管６の代わりにマグ
ネトロンなどによって構成されたマイクロ波発振器７が
配置されている。マイクロ波発振器７は、樹脂を透過す
る電磁波としてマイクロ波を発振して出力するもので
る。また、インピーダンス３及び測定用インピーダンス
４の共通接続点と部分放電測定器５の入力端子との間に
は、マイクロ波の影響を部分放電測定器５に対して及ぼ
さないようにローパスフィルタ８が挿入されている。他
は第１実施例と同一の構成である。
あり、第１実施例と同一部分には同一符号を付して説明
を省略し、以下異なる部分のみ説明する。図２において
は、ブッシング１の近傍には、Ｘ線管６の代わりにマグ
ネトロンなどによって構成されたマイクロ波発振器７が
配置されている。マイクロ波発振器７は、樹脂を透過す
る電磁波としてマイクロ波を発振して出力するもので
る。また、インピーダンス３及び測定用インピーダンス
４の共通接続点と部分放電測定器５の入力端子との間に
は、マイクロ波の影響を部分放電測定器５に対して及ぼ
さないようにローパスフィルタ８が挿入されている。他
は第１実施例と同一の構成である。
【００１７】次に、第２実施例の作用を説明する。ブッ
シング１に対しては、第１実施例におけるＸ線の代わり
に、マイクロ波発振器７によってマイクロ波を照射す
る。すると、Ｘ線を照射した場合と同様に、ブッシング
１の樹脂中の電子は、Ｘ線の照射により励起されて、剥
離或いはボイドによって形成された空間に放出される。
以降は第１実施例と同様の手順で部分放電消滅電圧を測
定する。
シング１に対しては、第１実施例におけるＸ線の代わり
に、マイクロ波発振器７によってマイクロ波を照射す
る。すると、Ｘ線を照射した場合と同様に、ブッシング
１の樹脂中の電子は、Ｘ線の照射により励起されて、剥
離或いはボイドによって形成された空間に放出される。
以降は第１実施例と同様の手順で部分放電消滅電圧を測
定する。
【００１８】以上のように第２実施例によれば、ブッシ
ング１にマイクロ波発振器７によってマイクロ波を照射
しながら部分放電消滅電圧を測定したので、ブッシング
１の樹脂モールド部１を透過して電子放出を生じさせる
電磁波の発生がより容易となる。
ング１にマイクロ波発振器７によってマイクロ波を照射
しながら部分放電消滅電圧を測定したので、ブッシング
１の樹脂モールド部１を透過して電子放出を生じさせる
電磁波の発生がより容易となる。
【００１９】図３は、本発明の第３実施例を示すもので
ある。図３は、樹脂モールド電気品たる３相のモールド
変圧器９を試料として部分放電試験を行う場合のＸ線管
６の配置状態を示すものである。モールド変圧器９は、
中心に鉄心９ａの脚部９ａａが存在し、その周囲にモー
ルドコイル９ｂが配置されているため、複数例えば６個
のＸ線管６をモールド変圧器９の周囲に配置して、Ｘ線
が脚部９ａａによって遮られてモールドコイル９ｂに対
して陰となる部分が出来ないようにする。
ある。図３は、樹脂モールド電気品たる３相のモールド
変圧器９を試料として部分放電試験を行う場合のＸ線管
６の配置状態を示すものである。モールド変圧器９は、
中心に鉄心９ａの脚部９ａａが存在し、その周囲にモー
ルドコイル９ｂが配置されているため、複数例えば６個
のＸ線管６をモールド変圧器９の周囲に配置して、Ｘ線
が脚部９ａａによって遮られてモールドコイル９ｂに対
して陰となる部分が出来ないようにする。
【００２０】即ち、左，右の２個のＸ線管６は、左端部
のモールドコイル９ｂの左側面，右端部のモールドコイ
ル９ｂの右側面に対応し、前，後各２個計４個のＸ線管
６は、隣接する脚部９ａａ，９ａａ間に対応する。そし
て、モールド変圧器９の部分放電試験に際しては、モー
ルドコイル９ｂの一次コイル導体と鉄心９ａとの間，モ
ールドコイル９ｂの二次コイル導体と鉄心９ａとの間及
びモールドコイル９ｂの一次コイル導体と二次コイル導
体との間に順次交流電源電圧を印加して部分放電測定を
行うものである。
のモールドコイル９ｂの左側面，右端部のモールドコイ
ル９ｂの右側面に対応し、前，後各２個計４個のＸ線管
６は、隣接する脚部９ａａ，９ａａ間に対応する。そし
て、モールド変圧器９の部分放電試験に際しては、モー
ルドコイル９ｂの一次コイル導体と鉄心９ａとの間，モ
ールドコイル９ｂの二次コイル導体と鉄心９ａとの間及
びモールドコイル９ｂの一次コイル導体と二次コイル導
体との間に順次交流電源電圧を印加して部分放電測定を
行うものである。
【００２１】以上のように第３実施例によれば、モール
ド変圧器９のような比較的複雑な形状を有するものであ
っても、モールドコイル９ｂに対してＸ線を十分に照射
することができる。
ド変圧器９のような比較的複雑な形状を有するものであ
っても、モールドコイル９ｂに対してＸ線を十分に照射
することができる。
【００２２】図４及び図５は、本発明の第４実施例を示
すものである。図５は、試料たる樹脂モールド電気品た
るモールド形ブッシング１０の具体的形状を示すもの
で、ブッシング１０は、中心導体１０ａの周囲が樹脂モ
ールド部１０ｂによってモールドされており、その樹脂
モールド部１０ｂの下部の周囲は、更に、電界制御用の
シールド部１０ｃが設けられている。
すものである。図５は、試料たる樹脂モールド電気品た
るモールド形ブッシング１０の具体的形状を示すもの
で、ブッシング１０は、中心導体１０ａの周囲が樹脂モ
ールド部１０ｂによってモールドされており、その樹脂
モールド部１０ｂの下部の周囲は、更に、電界制御用の
シールド部１０ｃが設けられている。
【００２３】第４実施例では、図４に示すように、Ｘ線
管６が放射するＸ線をマスク１１によってビーム状に絞
り、そのビーム状のＸ線をブッシング１０の一部分に対
して照射すると同時に、例えば第１実施例のようにブッ
シング１０に交流電圧を印加して、部分放電発生箇所の
測定を行う。この場合、印加電圧のレベルは、予め第１
実施例のような部分放電測定法によってブッシング１０
の全体にＸ線を照射した場合の部分放電発生電圧を求め
ておいて、その部分放電発生電圧と略同一のレベルとす
る。
管６が放射するＸ線をマスク１１によってビーム状に絞
り、そのビーム状のＸ線をブッシング１０の一部分に対
して照射すると同時に、例えば第１実施例のようにブッ
シング１０に交流電圧を印加して、部分放電発生箇所の
測定を行う。この場合、印加電圧のレベルは、予め第１
実施例のような部分放電測定法によってブッシング１０
の全体にＸ線を照射した場合の部分放電発生電圧を求め
ておいて、その部分放電発生電圧と略同一のレベルとす
る。
【００２４】そして、先ずの照射方向においてＸ線管
６を平行移動させて、部分放電が発生する箇所を走査す
る。ここで、前述のように、Ｘ線を照射した場合は電子
放出によって通常よりも低いレベルの印加電圧で部分放
電が発生するので、ビーム状のＸ線を平行移動させてブ
ッシング１０に照射することによって、そのＸ線が樹脂
モールド部１０ｂの内部にスポット状に存在するボイド
に照射された場合は、その位置で部分放電が発生する。
６を平行移動させて、部分放電が発生する箇所を走査す
る。ここで、前述のように、Ｘ線を照射した場合は電子
放出によって通常よりも低いレベルの印加電圧で部分放
電が発生するので、ビーム状のＸ線を平行移動させてブ
ッシング１０に照射することによって、そのＸ線が樹脂
モールド部１０ｂの内部にスポット状に存在するボイド
に照射された場合は、その位置で部分放電が発生する。
【００２５】よって、の照射方向において部分放電が
発生した位置を検出した後、次に、Ｘ線管６の位置を変
えて、の照射方向において同様に平行移動させて、Ｘ
線を樹脂モールド部１０ｂに照射する。而して、及び
の照射方向において部分放電が発生した位置における
Ｘ線の照射軸上の交点Ａが、樹脂モールド部１０ｂ内部
の部分放電発生箇所を示すことになる。
発生した位置を検出した後、次に、Ｘ線管６の位置を変
えて、の照射方向において同様に平行移動させて、Ｘ
線を樹脂モールド部１０ｂに照射する。而して、及び
の照射方向において部分放電が発生した位置における
Ｘ線の照射軸上の交点Ａが、樹脂モールド部１０ｂ内部
の部分放電発生箇所を示すことになる。
【００２６】また、Ｘ線管６の位置を上下方向に移動さ
せて、以上と同様の手順で部分放電発生箇所の測定を行
い、また、Ｘ線が中心導体１０ａによって遮られて樹脂
モールド部１０ｂに対して陰になる部分については、ブ
ッシング１０を回転させて同様の測定を行えば、ブッシ
ング１０全体について測定を行うことができる。
せて、以上と同様の手順で部分放電発生箇所の測定を行
い、また、Ｘ線が中心導体１０ａによって遮られて樹脂
モールド部１０ｂに対して陰になる部分については、ブ
ッシング１０を回転させて同様の測定を行えば、ブッシ
ング１０全体について測定を行うことができる。
【００２７】以上のように第４実施例によれば、Ｘ線管
６の位置を変えて、ビーム状のＸ線を照射方向及び
において平行移動させながらブッシング１０に対して照
射して部分放電の測定を行い、照射方向及びで部分
放電が発生した位置におけるＸ線の照射軸上の交点Ａ
を、樹脂モールド部１０ｂ内部の部分放電発生箇所とし
て特定したので、部分放電が発生した箇所を容易に測定
することができる。
６の位置を変えて、ビーム状のＸ線を照射方向及び
において平行移動させながらブッシング１０に対して照
射して部分放電の測定を行い、照射方向及びで部分
放電が発生した位置におけるＸ線の照射軸上の交点Ａ
を、樹脂モールド部１０ｂ内部の部分放電発生箇所とし
て特定したので、部分放電が発生した箇所を容易に測定
することができる。
【００２８】本発明は上記し且つ図面に記載した実施例
にのみ限定されるものではなく、次のような変形または
拡張が可能である。樹脂モールド電気品は、ブッシング
１及び１０またはモールド変圧器９に限ること無く、樹
脂モールドされた導体を有する構成であれば何でも良
い。電磁波は、Ｘ線やマイクロ波に限ること無く、樹脂
を透過する電磁波であれば良い。第１及び第２実施例に
おける電圧の印加方法は、中心導体１ａをグランドに接
続して、樹脂モールド部１ｂを交流電源２の出力端子に
接続しても良い。
にのみ限定されるものではなく、次のような変形または
拡張が可能である。樹脂モールド電気品は、ブッシング
１及び１０またはモールド変圧器９に限ること無く、樹
脂モールドされた導体を有する構成であれば何でも良
い。電磁波は、Ｘ線やマイクロ波に限ること無く、樹脂
を透過する電磁波であれば良い。第１及び第２実施例に
おける電圧の印加方法は、中心導体１ａをグランドに接
続して、樹脂モールド部１ｂを交流電源２の出力端子に
接続しても良い。
【００２９】第３実施例において、Ｘ線管６の代わりに
マイクロ波発振器７を配置しても良い。第４実施例にお
ける部分放電発生箇所測定を、最初はマスク１１の代わ
りにスリットを配置することにより、Ｘ線を照射方向
及びにおける平面状に照射するようにして、部分放電
の発生状態に応じてスリットの長さを順次短くして行
き、次第に走査範囲を狭めて行き、最終的に、マスク１
１を配置してビーム状のＸ線を照射することにより部分
放電発生箇所を特定するようにすれば、測定をより短時
間で行うことができる。
マイクロ波発振器７を配置しても良い。第４実施例にお
ける部分放電発生箇所測定を、最初はマスク１１の代わ
りにスリットを配置することにより、Ｘ線を照射方向
及びにおける平面状に照射するようにして、部分放電
の発生状態に応じてスリットの長さを順次短くして行
き、次第に走査範囲を狭めて行き、最終的に、マスク１
１を配置してビーム状のＸ線を照射することにより部分
放電発生箇所を特定するようにすれば、測定をより短時
間で行うことができる。
【００３０】
【発明の効果】本発明は以上説明した通りであるので、
以下の効果を奏する。請求項１記載の部分放電測定方法
によれば、樹脂を透過する電磁波を試料に対して照射し
ながら部分放電の測定を行うので、電磁波が試料からの
電子放出を促すことによって、低い印加電圧で部分放電
を発生させることができ、従来とは異なり、試料に与え
る高電圧ストレスを低下させることができ、加えて、部
分放電測定を行う時間を短縮することも可能となる。
以下の効果を奏する。請求項１記載の部分放電測定方法
によれば、樹脂を透過する電磁波を試料に対して照射し
ながら部分放電の測定を行うので、電磁波が試料からの
電子放出を促すことによって、低い印加電圧で部分放電
を発生させることができ、従来とは異なり、試料に与え
る高電圧ストレスを低下させることができ、加えて、部
分放電測定を行う時間を短縮することも可能となる。
【００３１】請求項２記載の部分放電測定方法によれ
ば、樹脂を透過する電磁波を試料に対して照射しながら
印加電圧を上昇させて部分放電を発生させた後、電磁波
の照射を停止してから印加電圧を降下させて部分放電消
滅電圧を測定するので、通常状態における印加電圧より
も低いレベルの印加電圧で部分放電消滅電圧を測定する
ことができ、また、電磁波の影響を排除して、部分放電
消滅電圧の測定を正確に行うことができる。
ば、樹脂を透過する電磁波を試料に対して照射しながら
印加電圧を上昇させて部分放電を発生させた後、電磁波
の照射を停止してから印加電圧を降下させて部分放電消
滅電圧を測定するので、通常状態における印加電圧より
も低いレベルの印加電圧で部分放電消滅電圧を測定する
ことができ、また、電磁波の影響を排除して、部分放電
消滅電圧の測定を正確に行うことができる。
【００３２】請求項３または４記載の部分放電測定方法
によれば、樹脂を透過する電磁波をＸ線またはマイクロ
波としたので、電磁波の発生が容易となり、測定をも容
易に実施することができる。
によれば、樹脂を透過する電磁波をＸ線またはマイクロ
波としたので、電磁波の発生が容易となり、測定をも容
易に実施することができる。
【００３３】請求項５記載の部分放電測定方法によれ
ば、Ｘ線を照射方向を変えて試料の一部分に対して照射
して部分放電の測定を行って、これらの部分放電特性を
比較することにより部分放電発生箇所を測定するので、
部分放電が発生した箇所を容易に特定することができ
る。
ば、Ｘ線を照射方向を変えて試料の一部分に対して照射
して部分放電の測定を行って、これらの部分放電特性を
比較することにより部分放電発生箇所を測定するので、
部分放電が発生した箇所を容易に特定することができ
る。
【図１】本発明の第１実施例を示す電気的構成図
【図２】本発明の第２実施例を示す図１相当図
【図３】本発明の第３実施例におけるモールド変圧器に
対するＸ線管の配置状態を示す図
対するＸ線管の配置状態を示す図
【図４】本発明の第４実施例におけるブッシングに対す
るＸ線の照射状態を示す図
るＸ線の照射状態を示す図
【図５】ブッシングの斜視図
１はブッシング（樹脂モールド電気品，試料）、９はモ
ールド変圧器（樹脂モールド電気品，試料）、１０はブ
ッシング（樹脂モールド電気品，試料）を示す。
ールド変圧器（樹脂モールド電気品，試料）、１０はブ
ッシング（樹脂モールド電気品，試料）を示す。
Claims (5)
- 【請求項１】 樹脂モールド電気品を試料とする部分放
電試験において、 樹脂を透過する電磁波を試料に対して照射しながら部分
放電の測定を行うことを特徴とする部分放電測定方法。 - 【請求項２】 樹脂モールド電気品を試料とする部分放
電試験において、 樹脂を透過する電磁波を試料に対して照射しながら印加
電圧を上昇させて部分放電を発生させた後、前記電磁波
の照射を停止してから印加電圧を降下させて部分放電消
滅電圧を測定することを特徴とする部分放電測定方法。 - 【請求項３】 樹脂を透過する電磁波は、Ｘ線であるこ
とを特徴とする請求項１または２記載の部分放電測定方
法。 - 【請求項４】 樹脂を透過する電磁波は、マイクロ波で
あることを特徴とする請求項１または２記載の部分放電
測定方法。 - 【請求項５】 樹脂モールド電気品を試料とする部分放
電試験において、 Ｘ線を照射方向を変えて試料の一部分に対して照射して
部分放電の測定を行って、これらの部分放電特性を比較
することにより部分放電発生箇所を測定することを特徴
とする部分放電測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26286295A JPH09105766A (ja) | 1995-10-11 | 1995-10-11 | 部分放電測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26286295A JPH09105766A (ja) | 1995-10-11 | 1995-10-11 | 部分放電測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09105766A true JPH09105766A (ja) | 1997-04-22 |
Family
ID=17381671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26286295A Pending JPH09105766A (ja) | 1995-10-11 | 1995-10-11 | 部分放電測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09105766A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5675031A (en) * | 1992-09-10 | 1997-10-07 | Teijin Limited | 4-hydroxy-2-cyclopentenone derivatives and anticancer agent and bone formation accelerator containing the same |
| JP2010281785A (ja) * | 2009-06-08 | 2010-12-16 | Mitsubishi Electric Corp | 被測定物の欠陥検出装置及び方法 |
| JP2011209266A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-10-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の絶縁欠陥検出装置 |
| JP2012127687A (ja) * | 2010-12-13 | 2012-07-05 | Toshiba Industrial Products Manufacturing Corp | 固体絶縁物内部欠陥検出システム |
| CN103954896A (zh) * | 2014-05-12 | 2014-07-30 | 国家电网公司 | 一种油纸绝缘局部放电起始电压试验*** |
| JP2016212122A (ja) * | 2016-09-16 | 2016-12-15 | 株式会社東芝 | 繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムおよび部分放電計測方法 |
| CN108254667A (zh) * | 2016-12-27 | 2018-07-06 | 三菱电机株式会社 | 评价装置及评价方法 |
-
1995
- 1995-10-11 JP JP26286295A patent/JPH09105766A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5675031A (en) * | 1992-09-10 | 1997-10-07 | Teijin Limited | 4-hydroxy-2-cyclopentenone derivatives and anticancer agent and bone formation accelerator containing the same |
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| JP2011209266A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-10-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の絶縁欠陥検出装置 |
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| JP2016212122A (ja) * | 2016-09-16 | 2016-12-15 | 株式会社東芝 | 繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムおよび部分放電計測方法 |
| CN108254667A (zh) * | 2016-12-27 | 2018-07-06 | 三菱电机株式会社 | 评价装置及评价方法 |
| CN108254667B (zh) * | 2016-12-27 | 2020-12-04 | 三菱电机株式会社 | 评价装置及评价方法 |
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