JPH0875812A - Receptacle tester - Google Patents
Receptacle testerInfo
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- JPH0875812A JPH0875812A JP6232384A JP23238494A JPH0875812A JP H0875812 A JPH0875812 A JP H0875812A JP 6232384 A JP6232384 A JP 6232384A JP 23238494 A JP23238494 A JP 23238494A JP H0875812 A JPH0875812 A JP H0875812A
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- Prior art keywords
- terminal
- wire
- data
- outlet
- average value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、コンセントテスタに
関し、詳しくは、検査対象のコンセントに対する保護用
接地線と接地側電源線の誤配線の検査が短時間に誰でも
正確にできるようなコンセントテスタに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an outlet tester, and more particularly to an outlet tester capable of accurately inspecting an incorrect wiring of a protective ground wire and a grounding side power supply wire for an outlet to be inspected in a short time. Regarding
【0002】[0002]
【従来の技術】図5に、従来のコンセントテスタの使用
例を示す。ここで、10は電源電圧を6000Vから1
00Vに降圧する柱上トランス、11は降圧された10
0V交流電源の非接地側電源線、12は100V交流電
源の接地側電源線、13は保護用接地線、20はこれら
の線11,12,13が接続された配電盤、30は端子
31,32,33に対して配電盤20からの配線がなさ
れた検査対象としてのコンセントである。さらに、24
は配電盤20やコンセント39を介してコンセント30
に対して並列に接続された他の装置である。これらは、
コンセントテスタ40の使用環境を示している。なお、
接地側電源線12の抵抗分,保護用接地線13の抵抗
分,接地側電源線12と保護用接地線13の間における
接地内部の抵抗分を,それぞれ抵抗R1,抵抗R2,抵
抗R3として示すが、これらの抵抗値は、それぞれ1Ω
以下、1Ω以下、10〜50Ω程度が一般的である。2. Description of the Related Art FIG. 5 shows an example of use of a conventional outlet tester. Here, 10 is the power supply voltage from 6000V to 1
Pillar transformer that steps down to 00V, 11 stepped down 10
Non-grounded power supply line of 0V AC power supply, 12 is grounded power supply line of 100V AC power supply, 13 is a protective grounding wire, 20 is a switchboard to which these wires 11, 12, 13 are connected, 30 is terminals 31, 32 , 33 are wirings from the switchboard 20 and are outlets to be inspected. In addition, 24
Is the outlet 30 through the switchboard 20 and the outlet 39.
Is another device connected in parallel to. They are,
The usage environment of the outlet tester 40 is shown. In addition,
The resistance component of the ground side power supply line 12, the resistance component of the protection ground line 13, and the resistance component inside the ground between the ground side power supply line 12 and the protection ground line 13 are shown as resistance R1, resistance R2, and resistance R3, respectively. However, these resistance values are each 1Ω
Hereafter, it is generally 1 Ω or less and about 10 to 50 Ω.
【0003】コンセントテスタ40は、コンセント30
の各端子31,32,33に対応する各端子31a,3
2a,33aと端子31aに接続されたスイッチSW1
、DCの検査直流電流を供給する直流流出回路(電流
源回路)としてのダイオードD1 と、このダイオードD
1 と端子32a,33aとの間にそれぞれ接続された4
5kΩ程度の高抵抗R11,R12と、可変抵抗器VRによ
る零点調整用機能を有し、端子32a,33aの間の電
圧を検出する差動増幅器41と、この検出電圧を表示す
る電圧計測器43とからなり、差動増幅器41と電圧計
測器43との間には50Hz以上の交流成分を除去する
ローパスフィルタ42が接続されており、電圧計測器4
3によって表示されるのは、検出電圧がローパスフィル
タ42を通過した後の直流電圧である。The outlet tester 40 is an outlet 30.
Terminals 31a, 3 corresponding to the terminals 31, 32, 33 of
Switch SW1 connected to terminals 2a, 33a and terminal 31a
, A diode D1 as a DC outflow circuit (current source circuit) for supplying DC inspection DC current, and this diode D1
4 connected between 1 and terminals 32a and 33a, respectively
A differential amplifier 41 having a high resistance R11, R12 of about 5 kΩ and a zero point adjusting function by the variable resistor VR and detecting the voltage between the terminals 32a, 33a, and a voltage measuring device 43 for displaying the detected voltage. And a low-pass filter 42 for removing an AC component of 50 Hz or more is connected between the differential amplifier 41 and the voltage measuring device 43.
What is indicated by 3 is the DC voltage after the detected voltage has passed through the low-pass filter 42.
【0004】保護用接地付きのコンセント30を設置す
る場合、配電盤20からコンセント30に至る配線2
1,22,23によって、それぞれ非接地側電源線11
とコンセント30の端子31間、接地側電源線12とコ
ンセント30の端子32間、保護用接地線13とコンセ
ント30の端子33間が接続される。そして、コンセン
ト30に対する配線接続が正しく行われたか否かの確認
がコンセントテスタ40によりなされる。When installing the outlet 30 with a protective ground, the wiring 2 from the switchboard 20 to the outlet 30
1, 22 and 23 respectively connect the non-grounded power supply line 11
And the terminal 31 of the outlet 30, the ground side power supply line 12 and the terminal 32 of the outlet 30, and the protective ground wire 13 and the terminal 33 of the outlet 30 are connected. Then, the outlet tester 40 confirms whether or not the wiring connection to the outlet 30 is correctly made.
【0005】コンセントテスタ40は、接地側電源線1
2と保護用接地線13の何れが端子32又は端子33と
接続されているのかを判別するものであって、以下の手
順でその判別がなされる。すなわち、コンセントテスタ
40がコンセント30に挿着され、端子31aがコンセ
ント30の端子31と、端子32a、端子33aの一方
がコンセント30の端子32と,他方が端子33とに接
続され、スイッチSW1 が手動で開にされる。この状態
で、差動増幅器41の可変抵抗器VRにより零点調整が
行われ、端子32,33間の電圧についての電圧計測器
43の表示が“0”にされる。これにより、他の装置2
4や周辺の状態に起因する接地電位差(接地内部の抵抗
R3に発生している。)の影響が一応取り除かれる。The outlet tester 40 is a ground side power line 1
It is to determine which of the 2 or the protective ground wire 13 is connected to the terminal 32 or the terminal 33, and the determination is made by the following procedure. That is, the outlet tester 40 is inserted into the outlet 30, the terminal 31a is connected to the terminal 31 of the outlet 30, one of the terminals 32a and 33a is connected to the terminal 32 of the outlet 30, and the other is connected to the terminal 33, and the switch SW1 is turned on. It is opened manually. In this state, zero adjustment is performed by the variable resistor VR of the differential amplifier 41, and the display of the voltage measuring instrument 43 regarding the voltage between the terminals 32 and 33 is set to "0". As a result, the other device 2
4, the influence of the ground potential difference (generated in the resistor R3 inside the ground) due to the state of 4 and the surroundings is temporarily removed.
【0006】次に、スイッチSW1 が閉にされる。この
状態では、接地側電源線12,抵抗R1,端子32,抵
抗R11,ダイオードD1,スイッチSW1 ,端子3
1,非接地側電源線11からなるループに、100Vの
交流電源による波高値約3.14mAの脈流が検査電流
として流れる。これにより、抵抗R1に−1mV程度の
電圧が発生して、端子32の電位がその分だけ低くな
る。Next, the switch SW1 is closed. In this state, the ground side power supply line 12, the resistor R1, the terminal 32, the resistor R11, the diode D1, the switch SW1, the terminal 3
1, a pulsating current having a peak value of about 3.14 mA due to an AC power supply of 100 V flows as a test current in the loop composed of the non-grounded power supply line 11. As a result, a voltage of about -1 mV is generated in the resistor R1, and the potential of the terminal 32 becomes lower by that amount.
【0007】同様に、抵抗R3,保護用接地線13,抵
抗R2,端子33,抵抗R12,ダイオードD1,スイ
ッチSW1 ,端子31,非接地側電源線11からなるル
ープに、やはり100Vの交流電源による波高値約3.
14mAの脈流が検査電流として流れる。これにより、
抵抗R2に−1mV程度の電圧が発生し、さらに抵抗R
3にも−10〜−50mV程度の電圧が発生して、端子
33の電位がその分だけ低くなる。線23には抵抗R3
を経由して電流が流れるからコンセントの端子33と端
子32間の電圧は端子32を基準にとると直流を流す前
に比べマイナス方向に脈打つ電圧10〜50mV程度の
電圧が検出される。この電圧は差動増幅器41に入力さ
れ差動増幅器出力にはプラス方向に脈打つ電圧が発生す
る。その交流分をフィルタ42で除去後電圧計測器43
に加えられる。Similarly, a loop composed of the resistor R3, the protective ground line 13, the resistor R2, the terminal 33, the resistor R12, the diode D1, the switch SW1, the terminal 31, and the non-grounded power supply line 11 is also supplied with an AC power supply of 100V. Crest value about 3.
A pulsating current of 14 mA flows as a test current. This allows
A voltage of about -1 mV is generated in the resistor R2, and the resistor R2
A voltage of about -10 to -50 mV is also generated in 3, and the potential of the terminal 33 is lowered by that amount. Resistor R3 on line 23
Since a current flows through the terminal, the voltage between the terminal 33 and the terminal 32 of the outlet is about 10 to 50 mV, which pulsates in the negative direction as compared with that before the direct current is applied, when the terminal 32 is used as a reference. This voltage is input to the differential amplifier 41, and a voltage pulsing in the positive direction is generated at the output of the differential amplifier. After the AC component is removed by the filter 42, the voltage measuring device 43
Is added to
【0008】そこで、表示状態ではローパスフィルタ4
2を通過して平均化された直流電圧として+10mV〜
+50mV程度のDC電圧が検出される。この電圧は接
地内の抵抗R3によるものであり、これにより端子33
が保護用接地線であると判別される。同様にして電圧計
測器43に+10mV〜+50mV程度の電圧が検出さ
れたときには端子32が保護用接地線であると判別さ
れ、これにより誤配線であることが分かる。Therefore, in the display state, the low-pass filter 4
+10 mV as a DC voltage averaged by passing 2
A DC voltage of about +50 mV is detected. This voltage is due to the resistor R3 in ground, which causes the terminal 33
Is a protective ground wire. Similarly, when a voltage of about +10 mV to +50 mV is detected by the voltage measuring device 43, the terminal 32 is determined to be the protective ground line, which indicates that the wiring is incorrect.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】しかし、抵抗R1 には
他の装置24の負荷電流が流れるので他の装置の電源の
ON/OFF時に数10msec の間流れる突入電流によ
り抵抗R1の端子電圧が変動する。これにより発生する
パルス電圧が電圧計測器43の計測値を一定時間の間変
化させるため誤判定の原因となる。そこで、未経験の素
人では簡単に正確な検査ができない欠点がある。このよ
うな問題を回避するためにノイズ防止用の積分回路を、
ローパスフィルタ42のほかに設けてみても、数10m
sec のパルスを排除するには大きな時定数の積分回路が
必要になって、しかも、1つのコンセントの配線検査の
測定に長い時間をかけなければならなくなり、作業性が
悪くなる。However, since the load current of the other device 24 flows through the resistor R1, the terminal voltage of the resistor R1 fluctuates due to the inrush current flowing for several tens of milliseconds when the power source of the other device is turned on / off. To do. The pulse voltage generated thereby changes the measured value of the voltage measuring device 43 for a certain period of time, which causes an erroneous determination. Therefore, there is a drawback that even an inexperienced amateur cannot easily and accurately perform an inspection. In order to avoid such problems, an integrator circuit for noise prevention,
Even if it is installed in addition to the low-pass filter 42, it is several tens of meters.
In order to eliminate the sec pulse, an integrating circuit with a large time constant is required, and moreover, it takes a long time to measure the wiring inspection of one outlet, which deteriorates the workability.
【0010】一方、簡単にコンセントの接続状態を検査
できる装置として、本出願人は、A/D変換回路とマイ
クロプロセッサを用いたテスタを特願平5−81494
号「コンセントテスター」として出願している。これ
は、零点調整用機能を演算処理により排除して自動判定
できるようにしたものであるが、測定タイミングによっ
ては、電源のON/OFFの影響を排除できないことが
ある。この発明の目的は、このような従来技術の問題点
を解決するものであって、検査対象のコンセントに対す
る保護用接地線と接地側電源線の誤配線の検査が短時間
に誰でも確実にできるコンセントテスタを提供すること
にある。On the other hand, as an apparatus capable of easily inspecting the connection state of an outlet, the applicant of the present invention has proposed a tester using an A / D conversion circuit and a microprocessor in Japanese Patent Application No. 5-81494.
No. "Outlet Tester". This is for eliminating the zero-point adjusting function by arithmetic processing so that automatic determination can be performed, but depending on the measurement timing, the influence of ON / OFF of the power supply may not be eliminated. An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and anyone can surely inspect in a short time for erroneous wiring of a protective ground wire and a ground-side power supply wire for an outlet to be inspected. To provide an outlet tester.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明のコンセントテスタの特徴は、交流電
源の非接地側線に接続された第1の端子と、保護接地線
及び交流電源の接地側いずれか一方に接続された第2の
端子と、何れか他方の端子に接続された第3の端子を有
するコンセントに対して装着されて、第2の端子または
第3の端子に接続された線が交流電源の接地側線か保護
接地線の何れかであるかを判定するコンセントテスタに
おいて、第2及び前記第3の端子と第1の端子との間に
設けられ制御信号に応じて直流を流す直流流出回路と、
第2端子と第3の端子との間の電圧から直流成分を取り
出すフィルタ回路と、このフィルタ回路の出力をAD変
換するA/D変換回路と、このA/D変換回路によりサ
ンプリングされた多数のAD変換されたデータをその大
きさに応じて階級分けし同一階級に含まれるデータの発
生度数の多いものから順に所定の割合でデータを採取し
てその平均を採る平均値算出手段とを備えていて、前記
の直流が流されていないときに平均値算出手段により得
られる平均値と前記直流が流されているときに平均値算
出手段により得られる平均値との差により前記の判定を
するものである。The features of the outlet tester of the present invention for achieving such an object are that the first terminal connected to the ungrounded side line of the AC power source, the protective ground line and the AC power source. Attached to an outlet having a second terminal connected to either one of the ground side and a third terminal connected to the other terminal, and connected to the second terminal or the third terminal In the outlet tester for determining whether the connected line is the ground side line of the AC power supply or the protective ground line, a DC line is provided between the second and third terminals and the first terminal in accordance with a control signal. A direct current outflow circuit
A filter circuit for extracting a DC component from the voltage between the second terminal and the third terminal, an A / D conversion circuit for AD converting the output of this filter circuit, and a large number of samples sampled by this A / D conversion circuit. The A / D-converted data is classified into classes according to the size thereof, and an average value calculating means for collecting the data at a predetermined ratio in order from the one having the highest occurrence frequency of the data included in the same class and taking the average thereof is provided. And makes the above-mentioned determination based on the difference between the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is not applied and the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is being applied. Is.
【0012】[0012]
【作用】このように、階級分けして同一階級に含まれる
データについて統計処理により頻度分布を採り、所定の
割合のものを選択にするようにしているので、他の装置
が稼働している状態の測定値を排除することができ、こ
れによりその影響をキャンセルして各端子間の電位差を
零点調整なしに安定な形で得ることができる。その結
果、誰でも正確に誤配線か否かの判定が容易に短時間で
自動的に得られる。As described above, since the frequency distribution is obtained by statistical processing of the data items included in the same class by classifying and the data having a predetermined ratio is selected, the state in which other devices are operating It is possible to eliminate the measured value of, thereby canceling its influence and obtaining the potential difference between the terminals in a stable form without adjusting the zero point. As a result, anyone can easily and automatically determine whether or not the wiring is incorrect in a short time and automatically.
【0013】[0013]
【実施例】図1に、この発明のコンセントテスタの一実
施例のブロック図を示す。なお、図5と同等の構成は同
一の符号で示す。図1のコンセントテスタ40aにあっ
ては、図5における電圧計測器43に代えてA/D変換
回路44と計測処理装置45とを備えている。また、差
動増幅器41には零点調整用の可変抵抗器VRが設けら
れていない。A/D変換回路44は、差動増幅器41の
アナログ出力を受けて8ビットのデジタル値に変換す
る。そのサンプリングパルスは計測処理装置45から加
えられる。計測処理装置45は、内部にMPU(マイク
ロプロセッサ)45aとメモリ45b、そしてLCD等
の表示装置45cとを有していて、メモリ45bには、
計測値カウント処理プログラム46と、計測値統計処理
プログラム47、計測平均値算出プログラム48、誤配
線判定プログラム49とが格納され、さらに、計測値カ
ウントデータ記憶エリア50が設けられている。また、
さらに、計測処理装置45は、スイッチSW1 にON/
OFFする制御信号を送出し、A/D変換回路44には
サンプリングパルスを送出する。そのサンプリング周期
は、数10msec 程度であり、データのサンプリング回
数は、100〜300程度である。なお、ここでのスイ
ッチ回路SW1 は、マニュアルスイッチではなく、制御
信号によりON/OFFする電子スイッチとする。1 is a block diagram of an embodiment of the outlet tester of the present invention. The same components as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. The outlet tester 40a in FIG. 1 includes an A / D conversion circuit 44 and a measurement processing device 45 in place of the voltage measuring device 43 in FIG. Further, the differential amplifier 41 is not provided with the variable resistor VR for adjusting the zero point. The A / D conversion circuit 44 receives the analog output of the differential amplifier 41 and converts it into an 8-bit digital value. The sampling pulse is added from the measurement processing device 45. The measurement processing device 45 has an MPU (microprocessor) 45a, a memory 45b, and a display device 45c such as an LCD inside, and the memory 45b includes:
A measured value count processing program 46, a measured value statistical processing program 47, a measured average value calculation program 48, and a miswiring determination program 49 are stored, and a measured value count data storage area 50 is further provided. Also,
Further, the measurement processing device 45 turns on / off the switch SW1.
A control signal to turn off is sent, and a sampling pulse is sent to the A / D conversion circuit 44. The sampling cycle is about several tens of msec, and the number of times data is sampled is about 100 to 300. The switch circuit SW1 here is not a manual switch but an electronic switch that is turned on / off by a control signal.
【0014】計測値カウント処理プログラム46は、M
PU45aがこれを実行することによりA/D変換回路
44から得られた計測値に基づいて図3(a)に示す計
測値カウントデータ記憶エリア50のインデックス1〜
nを参照して計測値に対応したエリアを検索する。計測
値に一致したインデックスが検索されたときにそこの数
記憶部CAから数値を読出してこれに+1、すなわち、
読出されたカウント値をインクリメントして元に戻して
記憶されている数値を更新する。検索の結果計測値がな
かったときには、その計測値に対するインデックスを作
成して数記憶部分CAの値に1を記憶し、データ記憶領
域のエンドマークENDをその後ろに移動する。なお、
8ビットのA/D変換回路のデータをそのまま階級分け
すれば、256階級のデータとして階級分けできるの
で、前記のインデックスは、最大で256階級から選択
されたものとなる。しかし、これを半分の128階級の
データに分けて各インデックスとし、半分の分解能で階
級分けして計測値カウントデータ記憶エリア50に計測
値のカウント値を記憶することもできる。逆にA/D変
換回路を10ビットとして得たデータを1/4の分解能
にして256階級としてもよいし、半分の分解能で51
2階級として分けてデータを処理してもよい。The measured value count processing program 46 is M
Based on the measurement values obtained from the A / D conversion circuit 44 by the PU 45a executing this, indexes 1 to 1 in the measurement value count data storage area 50 shown in FIG.
The area corresponding to the measured value is searched by referring to n. When the index that matches the measured value is searched, the numerical value is read from the numerical value storage unit CA there and +1 is added to it, that is,
The read count value is incremented and returned to the original value to update the stored numerical value. When there is no measured value as a result of the search, an index is created for that measured value, 1 is stored in the value of the number storage portion CA, and the end mark END of the data storage area is moved to the rear. In addition,
If the data of the 8-bit A / D conversion circuit is classified as it is, it can be classified as data of 256 classes, so that the index is selected from 256 classes at the maximum. However, it is also possible to divide this into data of 128 classes of half and make each index, classify with half the resolution, and store the count value of the measurement value in the measurement value count data storage area 50. On the contrary, the data obtained by using the A / D conversion circuit with 10 bits may be set to have a resolution of ¼ and may have 256 classes, or 51 at a resolution of half.
The data may be processed separately as two classes.
【0015】計測値統計処理プログラム47は、MPU
45aがこれを実行することにより計測値カウントデー
タ記憶エリア50の各インデックスの数記憶部CAの数
値を参照してインデックスを度数(カウント値)の多い
順に順位付けしたインデックスとカウント値のデータを
生成する(図3(b)参照)。計測平均値算出プログラ
ム48は、MPU45aがこれを実行することにより計
測値統計処理プログラム47により生成されたデータを
参照して度数の多い順から、例えば、70%のデータを
採取して、その平均値を算出してメモリ45bの状態デ
ータを参照してスイッチSW1 がONか、OFFかの状
態に応じて、スイッチSW1 がOFFのときには平均値
のデータをAとしてスイッチSW1 がONのときには平
均値のデータをBとしてメモリ45bに記憶する。The measurement value statistical processing program 47 is an MPU.
By executing this, 45a refers to the numerical value of the number storage section CA of each index in the measurement value count data storage area 50 to generate index and count value data in which the indexes are ranked in descending order of frequency (count value). (See FIG. 3B). The measurement average value calculation program 48 refers to the data generated by the measurement value statistical processing program 47 by the MPU 45a executing the measurement average value calculation program 48, and collects, for example, 70% of the data in descending order of frequency and averages them. The value is calculated and the state data of the memory 45b is referred to. Depending on whether the switch SW1 is ON or OFF, the average value data is A when the switch SW1 is OFF and the average value data is when the switch SW1 is ON. The data is stored as B in the memory 45b.
【0016】誤配線判定プログラム49は、スイッチS
W1 がOFFのときに記憶した平均値のデータAとスイ
ッチSW1 がONのときに記憶した平均値のデータBと
をメモリ45bから読出してC=A−Bの値を算出す
る。正しく配線されている場合には、結果値Cは負とな
る。すなわち、スイッチSW1 がOFFしているときに
は、他の装置24等の影響により保護用接地線13から
抵抗3、そして接地側電源線12の接地ラインへと流れ
る電流により発生する接地内抵抗R3 により発生する電
圧の直流分が差動増幅器41の出力に検出され、スイッ
チSW1 がONしているときには抵抗3を流れる検査電
流により端子32がさらに低下し、差動増幅器41の出
力がさらに+方向に変化するからである。なお、抵抗R
1 ,R2 に発生する検査電流による電圧変化は相殺され
る。そこで、C=A−Bが正になり、正しい配線である
ことが分かる。The miswiring determination program 49 uses the switch S
The average value data A stored when W1 is OFF and the average value data B stored when the switch SW1 is ON are read from the memory 45b to calculate the value of C = AB. If the wiring is correct, the result value C will be negative. That is, when the switch SW1 is turned off, it is generated by the in-ground resistor R3 generated by the current flowing from the protective ground line 13 to the resistor 3 and the ground side power line 12 to the ground line under the influence of the other device 24 and the like. The DC component of the voltage to be detected is detected in the output of the differential amplifier 41, and when the switch SW1 is ON, the test current flowing through the resistor 3 further lowers the terminal 32, and the output of the differential amplifier 41 further changes in the + direction. Because it does. The resistance R
The voltage change due to the inspection current generated in 1 and R2 is canceled. Therefore, C = AB becomes positive, and it is understood that the wiring is correct.
【0017】一方、線21が端子33に線22が端子3
2に接続されているものとする。差動増幅器41の入力
が反転するから出力も反転する。すなわちスイッチSW
1がOFFの場合の電圧は−AになりスイッチSW1が
ONの場合の電圧は−Bとなる。そこで、C=−A−
(−B)=−(A−B)であるから負の値となる。以上
のことから配線が誤配線であることが分かる。そこで、
算出結果の値Cが正か負かにより誤配線か否かを表示装
置45cに判定結果の数値Cとともに表示する。On the other hand, the wire 21 is connected to the terminal 33 and the wire 22 is connected to the terminal 3
It is assumed that it is connected to 2. Since the input of the differential amplifier 41 is inverted, the output is also inverted. That is, the switch SW
When 1 is OFF, the voltage is -A, and when switch SW1 is ON, the voltage is -B. Therefore, C = -A-
Since (−B) = − (A−B), it has a negative value. From the above, it can be seen that the wiring is erroneous. Therefore,
Whether the wiring is wrong or not is displayed on the display device 45c together with the numerical value C of the determination result depending on whether the value C of the calculation result is positive or negative.
【0018】図2に従って全体的な測定処理について説
明すると、まず、MPU45aは、スイッチSW1をO
FFとし、この状態をメモリ45bに状態データとして
記憶する(ステップ101)。次に、MPU45aがA
/D変換回路44をサンプリングパルスを送出して制御
し、測定データのサンプリングをする(ステップ10
2)。なお、ここでのサンプリング数を150回程度と
する。次に、計測値カウント処理プログラム46が実行
されてサンプリングされたデジタル値は、その大きさの
インデックスに従って階級分けして計測値カウントデー
タ記憶エリア50に記憶される(ステップ103)。The overall measurement process will be described with reference to FIG. 2. First, the MPU 45a turns on the switch SW1.
FF is set, and this state is stored in the memory 45b as state data (step 101). Next, the MPU 45a
The / D conversion circuit 44 is controlled by sending a sampling pulse to sample the measurement data (step 10).
2). The number of samplings here is about 150 times. Next, the measured value count processing program 46 is executed and the sampled digital values are classified according to the index of the size and stored in the measured value count data storage area 50 (step 103).
【0019】インパルス性ノイズ印加された部位は電圧
値が急激に変化しているから、一定時間間隔でサンプリ
ングするとデジタル値も急激に変化するが、インパルス
性ノイズが印加されていない部位は、電圧値がほぼ一定
で変化が小さいからデジタル値もほぼ一定で変化が小さ
い。階級分けは、この特性に従って行われる。すなわ
ち、他の装置の電源のON/OFFを含めてインパルス
性ノイズが印加された部位はデジタル量の変化が大きい
ので同一階級に含まれる頻度は小さい。Since the voltage value of the portion to which the impulse noise is applied changes abruptly, the digital value also changes abruptly when sampling is performed at a constant time interval, but the portion to which the impulse noise is not applied changes the voltage value. Is almost constant and the change is small, so the digital value is almost constant and the change is small. The classification is done according to this characteristic. That is, the frequency of being included in the same class is small because the digital amount of the portion to which the impulsive noise is applied, including the ON / OFF of the power source of the other device, is large.
【0020】そこで、次に計測値統計処理プログラム4
7が実行されて、発生頻度の多い階級順に並び変えたデ
ータを生成する(ステップ104)。そして、計測平均
値算出プログラム48が実行されて発生頻度の多い階級
から順に全体のあらかじめ定めた割合(S)に達するま
で抽出して(ステップ105)、平均値を求めてスイッ
チSW1 がONか、OFFか状態を参照して、現在は、
SW1 がOFFあるので前記の平均値をAとしてメモリ
45bに記憶する(ステップ106)。ここでSを、例
えば、70%程度の値に選択すれば、数値A,Bには他
の装置の電源のON/OFFによるインパルス性ノイズ
が印加された部位の影響は排除されている。Then, next, the measured value statistical processing program 4
7 is executed to generate data rearranged in order of the frequency of occurrence (step 104). Then, the measured average value calculation program 48 is executed, and extraction is performed in order from the class with the highest frequency of occurrence until the predetermined ratio (S) of the whole is reached (step 105), the average value is calculated, and the switch SW1 is ON, With reference to OFF or status,
Since SW1 is OFF, the average value is stored in the memory 45b as A (step 106). Here, if S is set to a value of, for example, about 70%, the influence of the portion to which the impulsive noise due to the ON / OFF of the power source of the other device is applied to the numerical values A and B is eliminated.
【0021】次に、スイッチSW1がONか否かが状態
データにより判定される(ステップ107)。その結
果、OFFになっているので、NOとなり、MPU45
aは、スイッチSW1をONとし、この状態をメモリ4
5bに状態データとして記憶する(ステップ108)。
これによりダイオードD1による半波整流の直流電流が
線22と23に流れる。抵抗R3による電圧降下が発生
し端子33の電位は端子32を基準にするとマイナス方
向に脈打つ脈流となりその平均値はSW1をOFFのと
きに比べるとマイナス方向に変移する。Next, it is judged from the status data whether or not the switch SW1 is ON (step 107). As a result, since it is OFF, it becomes NO and the MPU 45
a turns on the switch SW1 and sets this state to the memory 4
It is stored in 5b as status data (step 108).
As a result, a direct current for half-wave rectification by the diode D1 flows through the lines 22 and 23. A voltage drop occurs due to the resistor R3, and the potential of the terminal 33 becomes a pulsating current that pulsates in the negative direction with respect to the terminal 32, and the average value thereof shifts in the negative direction as compared with when SW1 is OFF.
【0022】フィルタ42により直流分を取り出しSW
1がOFFのときと同様にしてステップ102へと戻
り、測定データのサンプリングをする。そして、SW1
がONあるので算出した平均値をBとしてメモリ45b
に記憶する(ステップ106)。そして、スイッチSW
1がONか否かが状態データにより判定される(ステッ
プ107)。その結果、今度はONになっているので、
YESとなり、誤配線判定プログラム49が実行され
て、数値C=A−Bが算出され(ステップ109)、数
値Cが正か否かが判定され、判定結果が表示される(ス
テップ110)。The DC component is taken out by the filter 42 and the SW
Similar to when 1 is OFF, the process returns to step 102 to sample the measurement data. And SW1
Is ON, the calculated average value is set as B and is stored in the memory 45b.
(Step 106). And the switch SW
Whether or not 1 is ON is determined from the state data (step 107). As a result, since it is turned on this time,
If YES, the miswiring determination program 49 is executed to calculate the numerical value C = AB (step 109), it is determined whether the numerical value C is positive, and the determination result is displayed (step 110).
【0023】ところで、配線21を介して柱上トランス
10の非接地側線に接続されたコンセント30の端子3
1(この発明における第1の端子)とコンセントテスタ
41の端子31aについての接続は、端子31の電圧を
接地を基準として測定することでその電圧値により非接
地側線側端子であることを確認してから接続すればよ
い。これにより端子31と端子31aは誤りなく接続で
きる。この非接地側線接続のコンセント30の端子とコ
ンセントテスタ40aの端子との接続は、切替えスイッ
チを介して端子31〜端子33のいずれかと端子31a
とを選択的に接続するようにして電圧を測定することで
非接地側線側端子であることを確認して端子31と端子
31aとを接続するようにすることができる。これによ
り作業性はさらに向上するし、非接地側線の端子につい
て誤配線も簡単に分かる。By the way, the terminal 3 of the outlet 30 connected to the non-grounded side wire of the pole transformer 10 via the wiring 21.
1 (the first terminal in the present invention) and the terminal 31a of the outlet tester 41 are connected to each other by measuring the voltage of the terminal 31 with reference to the ground, and confirming that the voltage is the non-ground side wire side terminal. You can connect it later. As a result, the terminals 31 and 31a can be connected without error. The connection between the terminal of the outlet 30 and the terminal of the outlet tester 40a, which are connected to the non-grounded side line, is performed through the changeover switch to any one of the terminals 31 to 33 and the terminal 31a.
It is possible to connect the terminal 31 and the terminal 31a by confirming that the terminal is the non-ground side line side terminal by measuring the voltage by selectively connecting and. As a result, workability is further improved, and miswiring of the terminal of the non-grounded side wire can be easily recognized.
【0024】図4は、他の実施例であって、スイッチS
W1 とダイオードD1 の直列回路ににスイッチSW2 と
ダイオードD2 との直列回路を並列に挿入して計測制御
装置のスイッチSW1 をONさせた後に、スイッチSW
2 をONさせて(このときスイッチSW1 をOFF)さ
せてダイオードD1 に対して逆方向の向きのダイオード
D2 を回路に接続し、ダイオードD2 側でダイオードD
1 に対して逆向きの電流を流して、それぞれにおいて誤
配線判定をすることにより、二重に誤配線判定をするよ
うにしたものである。FIG. 4 shows another embodiment of the switch S.
After inserting the series circuit of the switch SW2 and the diode D2 in parallel into the series circuit of W1 and the diode D1 and turning on the switch SW1 of the measurement control device, switch SW
2 is turned on (the switch SW1 is turned off at this time) to connect the diode D2 in the direction opposite to the diode D1 to the circuit, and the diode D2 is connected to the diode D2.
By applying a current in the opposite direction to 1 and making incorrect wiring judgments for each, double wiring misjudgment is made.
【0025】具体的な処理ステップとしては、ステップ
101のOFF状態の設定をスイッチSW1 とSW2 と
し、これら2つのスイッチの状態を記憶し、ステップ1
07の判定ではスイッチSW1 またはSW2 がONかを
判定する。ステップ109では、計算結果値のCの値を
スイッチSW1 ,SW2 に応じてそれぞれメモリに記憶
するようにする。そして、ステップ109とステップ1
10との間にスイッチSW2 がONか否かを判定するス
テップとスイッチSW2 がOFFのときにはステップ1
08と同様にスイッチSW2 をONさせてこれを記憶し
てからステップ102へと戻るようにする。また、前記
の判定でスイッチSW2 がONのときにはステップ11
0へと移行する。As a concrete processing step, the setting of the OFF state in step 101 is set to switches SW1 and SW2, the states of these two switches are stored, and step 1
In the judgment of 07, it is judged whether the switch SW1 or SW2 is ON. In step 109, the value C of the calculation result value is stored in the memory in accordance with the switches SW1 and SW2. Then, step 109 and step 1
Step 10 to determine whether the switch SW2 is ON or not, and step 1 if the switch SW2 is OFF
Similar to 08, the switch SW2 is turned on to store it, and then the process returns to step 102. If the switch SW2 is ON in the above judgment, step 11
Transition to 0.
【0026】ステップ110では、スイッチSW1 ,S
W2 の両者のCの値により誤配線判定をする。なお、こ
の場合には、スイッチSW2 の判定における数値Cの判
定は、スイッチSW1 の場合と逆になり、C<0の判定
を行う。C=−A−(−B)=−(A−B)であるから
スイッチSW2 のときにはスイッチSW1 のときとは逆
にCが正の値のときに誤配線であると判定する。これら
の判定の結果、両者で誤配線とされたときには、誤配線
と表示され、いずれかで誤配線とされたときには、再測
定のメッセージが表示される。以上説明してきたが、ダ
イオードを1つ設ける場合には、ダイオードD1 ,D2
のいずれか一方の方向でよいことはもちろんである。In step 110, the switches SW1 and S1
Wrong wiring is determined based on the C values of both W2. In this case, the determination of the numerical value C in the determination of the switch SW2 is the reverse of the determination of the switch SW1, and the determination of C <0 is performed. Since C = -A-(-B) =-(A-B), it is determined that the wiring is incorrect when C is a positive value in the case of the switch SW2 and the switch SW1. As a result of these judgments, if both are erroneous wiring, erroneous wiring is displayed, and if either is erroneous wiring, a message for re-measurement is displayed. As described above, when one diode is provided, the diodes D1 and D2
It goes without saying that either direction can be used.
【0027】[0027]
【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明にあっては、階級分けして同一階級に含まれるデー
タについて統計処理により頻度分布を採り、所定の割合
のものを選択にするようにしているので、他の装置が稼
働している状態の測定値を排除することができ、これに
よりその影響をキャンセルして各端子間の電位差を零点
調整なしに安定な形で得ることができる。その結果、簡
単な操作で未熟練者でも短時間に正確に保護用接地線と
接地側交流電源線とを判別することができる。As can be understood from the above description, according to the present invention, the frequency distributions of the data contained in the same class are classified by statistical processing, and the data having a predetermined ratio are selected. Therefore, it is possible to eliminate the measured value when other devices are operating, thereby canceling its influence and obtaining the potential difference between each terminal in a stable form without zero adjustment. . As a result, even by an unskilled person, it is possible to accurately distinguish the protective ground wire and the ground side AC power supply wire by a simple operation.
【図1】図1は、この発明のコンセントテスタを適用し
た一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment to which the outlet tester of the present invention is applied.
【図2】図2は、測定値のデータ処理のフローチャート
である。FIG. 2 is a flowchart of data processing of measured values.
【図3】図3は、データ処理のデータ記憶状態の説明図
であって、(a)は、図1におけるメモリの計測値カウ
ントデータ記憶エリアの説明図、(b)は、その頻度分
布の大きい順に並べた説明図である。3A and 3B are explanatory diagrams of a data storage state of data processing. FIG. 3A is an explanatory diagram of a measured value count data storage area of the memory in FIG. 1, and FIG. 3B is a frequency distribution thereof. It is an explanatory view arranged in descending order.
【図4】図4は、この発明のコンセントテスタを適用し
た他の一実施例のブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of another embodiment to which the outlet tester of the present invention is applied.
【図5】図5は、従来のコンセントテスタのブロック図
である。FIG. 5 is a block diagram of a conventional outlet tester.
10…柱上トランス、11…非接地側電源線、12…接
地側電源線、13…保護用接地線、20…配電盤、24
…他の装置、30…コンセント、31,32,33,3
1a,32a,33a…端子、40,40a…コンセン
トテスタ、41…差動増幅器、42…ローパスフィル
タ、43…電圧計測器、44…A/D変換回路、45…
計測処理装置、45a…MPU(マイクロプロセッ
サ)、45b…メモリ、45c…表示装置、46…計測
値カウント処理プログラム、47…計測値統計処理プロ
グラム、48…計測平均値算出プログラム、49…誤配
線判定プログラム、50…測値カウントデータ記憶エリ
ア。10 ... Pole transformer, 11 ... Non-ground side power line, 12 ... Ground side power line, 13 ... Protective ground line, 20 ... Switchboard, 24
... Other devices, 30 ... Outlets, 31, 32, 33, 3
1a, 32a, 33a ... Terminal, 40, 40a ... Outlet tester, 41 ... Differential amplifier, 42 ... Low pass filter, 43 ... Voltage measuring device, 44 ... A / D conversion circuit, 45 ...
Measurement processing device, 45a ... MPU (microprocessor), 45b ... Memory, 45c ... Display device, 46 ... Measured value count processing program, 47 ... Measured value statistical processing program, 48 ... Measured average value calculation program, 49 ... Miswiring determination Program, 50 ... Measured value count data storage area.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹村 敏 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 橋本 昭則 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 前田 洋人 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 斉藤 彰 東京都千代田区内神田二丁目14番6号 日 立電子サービス株式会社内 (72)発明者 金子 実 東京都千代田区内神田二丁目14番6号 日 立電子サービス株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Satoshi Takemura 1 Horiyamashita, Hinoyamashita, Hadano City, Kanagawa Prefecture (72) Inventor, Akinori Hashimoto 1st Horiyamashita, Hadano City, Kanagawa Niitsu Computer Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Hiroto Maeda 1 Horiyamashita, Hinoyamashita, Hadano, Kanagawa Pref., Computer Electronics Co., Ltd. (72) Inventor, Akira Saito 2-14-6, Uchikanda, Chiyoda-ku, Tokyo Within Hirate Denshi Service Co., Ltd. ( 72) Inventor Minoru Kaneko 2-14-6, Kanda, Chiyoda-ku, Tokyo, Nikkei Electronic Service Co., Ltd.
Claims (1)
端子と、保護用接地線及び前記交流電源の接地側いずれ
か一方に接続された第2の端子と、何れか他方の端子に
接続された第3の端子を有するコンセントに対して装着
されて、前記第2の端子または前記第3の端子に接続さ
れた線が前記交流電源の接地側線か保護用接地線の何れ
かであるかを判定するコンセントテスタにおいて、 前記第2及び前記第3の端子と前記第1の端子との間に
設けられ制御信号に応じて直流を流す直流流出回路と、
前記第2端子と前記第3の端子との間の電圧から直流成
分を取り出すフィルタ回路と、このフィルタ回路の出力
をAD変換するA/D変換回路と、このA/D変換回路
によりサンプリングされた多数のAD変換されたデータ
をその大きさに応じて階級分けし同一階級に含まれる前
記データの発生度数の多いものから順に所定の割合で前
記データを採取してその平均を採る平均値算出手段とを
備え、 前記直流が流されていないときに前記平均値算出手段に
より得られる前記平均値と前記直流が流されているとき
に前記平均値算出手段により得られる前記平均値との差
により前記の判定をするコンセントテスタ。1. A first terminal connected to a non-grounded side wire of an AC power supply, a second terminal connected to one of a protective ground wire and a ground side of the AC power supply, and the other terminal. Is attached to an outlet having a third terminal connected to, and the wire connected to the second terminal or the third terminal is either a ground side wire of the AC power supply or a protective ground wire. A outlet tester for determining whether or not there is a direct current outflow circuit, which is provided between the second and third terminals and the first terminal, and flows a direct current according to a control signal,
A filter circuit for extracting a DC component from the voltage between the second terminal and the third terminal, an A / D conversion circuit for AD converting the output of the filter circuit, and a sampled by the A / D conversion circuit. A large number of AD-converted data are classified according to their size, and the data are sampled at a predetermined ratio in descending order of the frequency of occurrence of the data contained in the same class, and an average value calculating means is provided. And a difference between the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is not applied and the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is being applied. Concentration tester to judge.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6232384A JPH0875812A (en) | 1994-07-04 | 1994-09-01 | Receptacle tester |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17472794 | 1994-07-04 | ||
JP6-174727 | 1994-07-04 | ||
JP6232384A JPH0875812A (en) | 1994-07-04 | 1994-09-01 | Receptacle tester |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0875812A true JPH0875812A (en) | 1996-03-22 |
Family
ID=26496230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6232384A Pending JPH0875812A (en) | 1994-07-04 | 1994-09-01 | Receptacle tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0875812A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100305921B1 (en) * | 1999-09-09 | 2001-11-07 | 윤문수 | Test equipment for making of ground and short in a distribution system |
CN113447854A (en) * | 2021-06-24 | 2021-09-28 | 山东大学 | Converter system open-circuit fault diagnosis method and system based on predictive control |
-
1994
- 1994-09-01 JP JP6232384A patent/JPH0875812A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100305921B1 (en) * | 1999-09-09 | 2001-11-07 | 윤문수 | Test equipment for making of ground and short in a distribution system |
CN113447854A (en) * | 2021-06-24 | 2021-09-28 | 山东大学 | Converter system open-circuit fault diagnosis method and system based on predictive control |
CN113447854B (en) * | 2021-06-24 | 2022-04-05 | 山东大学 | Converter system open-circuit fault diagnosis method and system based on predictive control |
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