JPH0875812A - Receptacle tester - Google Patents

Abstract

PURPOSE: To surely inspect wiring error of a protecting earthing wire and an earthing side power source wire in a short time by classifying many sampling data according to size. CONSTITUTION: A non-earthing side power source wire 11, an earthing side power source wire 12, and a protecting earthing wire 13 are connected to a receptacle 30 from a distribution panel 20. The receptacle tester 40a confirms whether wiring connection to the receptacle 30 is correct or not. That is, a filter 42 takes out a d.c. component from a differential amplifier 41, and an A/D converting circuit 44 converts the output from the filter 42. The sampling pulse is added from an measurement processing circuit 45. The measurement processing circuit 45 classifies many data sampled by the A/D converting circuit 44, according to size, and data contained in the same class are sampled in a specified ratio in order according to occurring frequency, and averaged. Since the frequency distribution is obtained by statistical processing, influence of other devices are canceled.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、コンセントテスタに
関し、詳しくは、検査対象のコンセントに対する保護用
接地線と接地側電源線の誤配線の検査が短時間に誰でも
正確にできるようなコンセントテスタに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an outlet tester, and more particularly to an outlet tester capable of accurately inspecting an incorrect wiring of a protective ground wire and a grounding side power supply wire for an outlet to be inspected in a short time. Regarding

【０００２】[0002]

【従来の技術】図５に、従来のコンセントテスタの使用
例を示す。ここで、１０は電源電圧を６０００Ｖから１
００Ｖに降圧する柱上トランス、１１は降圧された１０
０Ｖ交流電源の非接地側電源線、１２は１００Ｖ交流電
源の接地側電源線、１３は保護用接地線、２０はこれら
の線１１，１２，１３が接続された配電盤、３０は端子
３１，３２，３３に対して配電盤２０からの配線がなさ
れた検査対象としてのコンセントである。さらに、２４
は配電盤２０やコンセント３９を介してコンセント３０
に対して並列に接続された他の装置である。これらは、
コンセントテスタ４０の使用環境を示している。なお、
接地側電源線１２の抵抗分，保護用接地線１３の抵抗
分，接地側電源線１２と保護用接地線１３の間における
接地内部の抵抗分を，それぞれ抵抗Ｒ１，抵抗Ｒ２，抵
抗Ｒ３として示すが、これらの抵抗値は、それぞれ１Ω
以下、１Ω以下、１０〜５０Ω程度が一般的である。2. Description of the Related Art FIG. 5 shows an example of use of a conventional outlet tester. Here, 10 is the power supply voltage from 6000V to 1
Pillar transformer that steps down to 00V, 11 stepped down 10
Non-grounded power supply line of 0V AC power supply, 12 is grounded power supply line of 100V AC power supply, 13 is a protective grounding wire, 20 is a switchboard to which these wires 11, 12, 13 are connected, 30 is terminals 31, 32 , 33 are wirings from the switchboard 20 and are outlets to be inspected. In addition, 24
Is the outlet 30 through the switchboard 20 and the outlet 39.
Is another device connected in parallel to. They are,
The usage environment of the outlet tester 40 is shown. In addition,
The resistance component of the ground side power supply line 12, the resistance component of the protection ground line 13, and the resistance component inside the ground between the ground side power supply line 12 and the protection ground line 13 are shown as resistance R1, resistance R2, and resistance R3, respectively. However, these resistance values are each 1Ω
Hereafter, it is generally 1 Ω or less and about 10 to 50 Ω.

【０００３】コンセントテスタ４０は、コンセント３０
の各端子３１，３２，３３に対応する各端子３１ａ，３
２ａ，３３ａと端子３１ａに接続されたスイッチＳＷ1
、ＤＣの検査直流電流を供給する直流流出回路（電流
源回路）としてのダイオードＤ1 と、このダイオードＤ
1 と端子３２ａ，３３ａとの間にそれぞれ接続された４
５ｋΩ程度の高抵抗Ｒ11，Ｒ12と、可変抵抗器ＶＲによ
る零点調整用機能を有し、端子３２ａ，３３ａの間の電
圧を検出する差動増幅器４１と、この検出電圧を表示す
る電圧計測器４３とからなり、差動増幅器４１と電圧計
測器４３との間には５０Ｈｚ以上の交流成分を除去する
ローパスフィルタ４２が接続されており、電圧計測器４
３によって表示されるのは、検出電圧がローパスフィル
タ４２を通過した後の直流電圧である。The outlet tester 40 is an outlet 30.
Terminals 31a, 3 corresponding to the terminals 31, 32, 33 of
Switch SW1 connected to terminals 2a, 33a and terminal 31a
, A diode D1 as a DC outflow circuit (current source circuit) for supplying DC inspection DC current, and this diode D1
4 connected between 1 and terminals 32a and 33a, respectively
A differential amplifier 41 having a high resistance R11, R12 of about 5 kΩ and a zero point adjusting function by the variable resistor VR and detecting the voltage between the terminals 32a, 33a, and a voltage measuring device 43 for displaying the detected voltage. And a low-pass filter 42 for removing an AC component of 50 Hz or more is connected between the differential amplifier 41 and the voltage measuring device 43.
What is indicated by 3 is the DC voltage after the detected voltage has passed through the low-pass filter 42.

【０００４】保護用接地付きのコンセント３０を設置す
る場合、配電盤２０からコンセント３０に至る配線２
１，２２，２３によって、それぞれ非接地側電源線１１
とコンセント３０の端子３１間、接地側電源線１２とコ
ンセント３０の端子３２間、保護用接地線１３とコンセ
ント３０の端子３３間が接続される。そして、コンセン
ト３０に対する配線接続が正しく行われたか否かの確認
がコンセントテスタ４０によりなされる。When installing the outlet 30 with a protective ground, the wiring 2 from the switchboard 20 to the outlet 30
1, 22 and 23 respectively connect the non-grounded power supply line 11
And the terminal 31 of the outlet 30, the ground side power supply line 12 and the terminal 32 of the outlet 30, and the protective ground wire 13 and the terminal 33 of the outlet 30 are connected. Then, the outlet tester 40 confirms whether or not the wiring connection to the outlet 30 is correctly made.

【０００５】コンセントテスタ４０は、接地側電源線１
２と保護用接地線１３の何れが端子３２又は端子３３と
接続されているのかを判別するものであって、以下の手
順でその判別がなされる。すなわち、コンセントテスタ
４０がコンセント３０に挿着され、端子３１ａがコンセ
ント３０の端子３１と、端子３２ａ、端子３３ａの一方
がコンセント３０の端子３２と，他方が端子３３とに接
続され、スイッチＳＷ1 が手動で開にされる。この状態
で、差動増幅器４１の可変抵抗器ＶＲにより零点調整が
行われ、端子３２，３３間の電圧についての電圧計測器
４３の表示が“０”にされる。これにより、他の装置２
４や周辺の状態に起因する接地電位差（接地内部の抵抗
Ｒ３に発生している。）の影響が一応取り除かれる。The outlet tester 40 is a ground side power line 1
It is to determine which of the 2 or the protective ground wire 13 is connected to the terminal 32 or the terminal 33, and the determination is made by the following procedure. That is, the outlet tester 40 is inserted into the outlet 30, the terminal 31a is connected to the terminal 31 of the outlet 30, one of the terminals 32a and 33a is connected to the terminal 32 of the outlet 30, and the other is connected to the terminal 33, and the switch SW1 is turned on. It is opened manually. In this state, zero adjustment is performed by the variable resistor VR of the differential amplifier 41, and the display of the voltage measuring instrument 43 regarding the voltage between the terminals 32 and 33 is set to "0". As a result, the other device 2
4, the influence of the ground potential difference (generated in the resistor R3 inside the ground) due to the state of 4 and the surroundings is temporarily removed.

【０００６】次に、スイッチＳＷ1 が閉にされる。この
状態では、接地側電源線１２，抵抗Ｒ１，端子３２，抵
抗Ｒ１１，ダイオードＤ１，スイッチＳＷ1 ，端子３
１，非接地側電源線１１からなるループに、１００Ｖの
交流電源による波高値約３．１４ｍＡの脈流が検査電流
として流れる。これにより、抵抗Ｒ１に−１ｍＶ程度の
電圧が発生して、端子３２の電位がその分だけ低くな
る。Next, the switch SW1 is closed. In this state, the ground side power supply line 12, the resistor R1, the terminal 32, the resistor R11, the diode D1, the switch SW1, the terminal 3
1, a pulsating current having a peak value of about 3.14 mA due to an AC power supply of 100 V flows as a test current in the loop composed of the non-grounded power supply line 11. As a result, a voltage of about -1 mV is generated in the resistor R1, and the potential of the terminal 32 becomes lower by that amount.

【０００７】同様に、抵抗Ｒ３，保護用接地線１３，抵
抗Ｒ２，端子３３，抵抗Ｒ１２，ダイオードＤ１，スイ
ッチＳＷ1 ，端子３１，非接地側電源線１１からなるル
ープに、やはり１００Ｖの交流電源による波高値約３．
１４ｍＡの脈流が検査電流として流れる。これにより、
抵抗Ｒ２に−１ｍＶ程度の電圧が発生し、さらに抵抗Ｒ
３にも−１０〜−５０ｍＶ程度の電圧が発生して、端子
３３の電位がその分だけ低くなる。線２３には抵抗Ｒ３
を経由して電流が流れるからコンセントの端子３３と端
子３２間の電圧は端子３２を基準にとると直流を流す前
に比べマイナス方向に脈打つ電圧１０〜５０ｍＶ程度の
電圧が検出される。この電圧は差動増幅器４１に入力さ
れ差動増幅器出力にはプラス方向に脈打つ電圧が発生す
る。その交流分をフィルタ４２で除去後電圧計測器４３
に加えられる。Similarly, a loop composed of the resistor R3, the protective ground line 13, the resistor R2, the terminal 33, the resistor R12, the diode D1, the switch SW1, the terminal 31, and the non-grounded power supply line 11 is also supplied with an AC power supply of 100V. Crest value about 3.
A pulsating current of 14 mA flows as a test current. This allows
A voltage of about -1 mV is generated in the resistor R2, and the resistor R2
A voltage of about -10 to -50 mV is also generated in 3, and the potential of the terminal 33 is lowered by that amount. Resistor R3 on line 23
Since a current flows through the terminal, the voltage between the terminal 33 and the terminal 32 of the outlet is about 10 to 50 mV, which pulsates in the negative direction as compared with that before the direct current is applied, when the terminal 32 is used as a reference. This voltage is input to the differential amplifier 41, and a voltage pulsing in the positive direction is generated at the output of the differential amplifier. After the AC component is removed by the filter 42, the voltage measuring device 43
Is added to

【０００８】そこで、表示状態ではローパスフィルタ４
２を通過して平均化された直流電圧として＋１０ｍＶ〜
＋５０ｍＶ程度のＤＣ電圧が検出される。この電圧は接
地内の抵抗Ｒ３によるものであり、これにより端子３３
が保護用接地線であると判別される。同様にして電圧計
測器４３に＋１０ｍＶ〜＋５０ｍＶ程度の電圧が検出さ
れたときには端子３２が保護用接地線であると判別さ
れ、これにより誤配線であることが分かる。Therefore, in the display state, the low-pass filter 4
+10 mV as a DC voltage averaged by passing 2
A DC voltage of about +50 mV is detected. This voltage is due to the resistor R3 in ground, which causes the terminal 33
Is a protective ground wire. Similarly, when a voltage of about +10 mV to +50 mV is detected by the voltage measuring device 43, the terminal 32 is determined to be the protective ground line, which indicates that the wiring is incorrect.

【０００９】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、抵抗Ｒ1 には
他の装置２４の負荷電流が流れるので他の装置の電源の
ＯＮ／ＯＦＦ時に数１０ｍsec の間流れる突入電流によ
り抵抗Ｒ１の端子電圧が変動する。これにより発生する
パルス電圧が電圧計測器４３の計測値を一定時間の間変
化させるため誤判定の原因となる。そこで、未経験の素
人では簡単に正確な検査ができない欠点がある。このよ
うな問題を回避するためにノイズ防止用の積分回路を、
ローパスフィルタ４２のほかに設けてみても、数１０ｍ
sec のパルスを排除するには大きな時定数の積分回路が
必要になって、しかも、１つのコンセントの配線検査の
測定に長い時間をかけなければならなくなり、作業性が
悪くなる。However, since the load current of the other device 24 flows through the resistor R1, the terminal voltage of the resistor R1 fluctuates due to the inrush current flowing for several tens of milliseconds when the power source of the other device is turned on / off. To do. The pulse voltage generated thereby changes the measured value of the voltage measuring device 43 for a certain period of time, which causes an erroneous determination. Therefore, there is a drawback that even an inexperienced amateur cannot easily and accurately perform an inspection. In order to avoid such problems, an integrator circuit for noise prevention,
Even if it is installed in addition to the low-pass filter 42, it is several tens of meters.
In order to eliminate the sec pulse, an integrating circuit with a large time constant is required, and moreover, it takes a long time to measure the wiring inspection of one outlet, which deteriorates the workability.

【００１０】一方、簡単にコンセントの接続状態を検査
できる装置として、本出願人は、Ａ／Ｄ変換回路とマイ
クロプロセッサを用いたテスタを特願平５−８１４９４
号「コンセントテスター」として出願している。これ
は、零点調整用機能を演算処理により排除して自動判定
できるようにしたものであるが、測定タイミングによっ
ては、電源のＯＮ／ＯＦＦの影響を排除できないことが
ある。この発明の目的は、このような従来技術の問題点
を解決するものであって、検査対象のコンセントに対す
る保護用接地線と接地側電源線の誤配線の検査が短時間
に誰でも確実にできるコンセントテスタを提供すること
にある。On the other hand, as an apparatus capable of easily inspecting the connection state of an outlet, the applicant of the present invention has proposed a tester using an A / D conversion circuit and a microprocessor in Japanese Patent Application No. 5-81494.
No. "Outlet Tester". This is for eliminating the zero-point adjusting function by arithmetic processing so that automatic determination can be performed, but depending on the measurement timing, the influence of ON / OFF of the power supply may not be eliminated. An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and anyone can surely inspect in a short time for erroneous wiring of a protective ground wire and a ground-side power supply wire for an outlet to be inspected. To provide an outlet tester.

【００１１】[0011]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明のコンセントテスタの特徴は、交流電
源の非接地側線に接続された第１の端子と、保護接地線
及び交流電源の接地側いずれか一方に接続された第２の
端子と、何れか他方の端子に接続された第３の端子を有
するコンセントに対して装着されて、第２の端子または
第３の端子に接続された線が交流電源の接地側線か保護
接地線の何れかであるかを判定するコンセントテスタに
おいて、第２及び前記第３の端子と第１の端子との間に
設けられ制御信号に応じて直流を流す直流流出回路と、
第２端子と第３の端子との間の電圧から直流成分を取り
出すフィルタ回路と、このフィルタ回路の出力をＡＤ変
換するＡ／Ｄ変換回路と、このＡ／Ｄ変換回路によりサ
ンプリングされた多数のＡＤ変換されたデータをその大
きさに応じて階級分けし同一階級に含まれるデータの発
生度数の多いものから順に所定の割合でデータを採取し
てその平均を採る平均値算出手段とを備えていて、前記
の直流が流されていないときに平均値算出手段により得
られる平均値と前記直流が流されているときに平均値算
出手段により得られる平均値との差により前記の判定を
するものである。The features of the outlet tester of the present invention for achieving such an object are that the first terminal connected to the ungrounded side line of the AC power source, the protective ground line and the AC power source. Attached to an outlet having a second terminal connected to either one of the ground side and a third terminal connected to the other terminal, and connected to the second terminal or the third terminal In the outlet tester for determining whether the connected line is the ground side line of the AC power supply or the protective ground line, a DC line is provided between the second and third terminals and the first terminal in accordance with a control signal. A direct current outflow circuit
A filter circuit for extracting a DC component from the voltage between the second terminal and the third terminal, an A / D conversion circuit for AD converting the output of this filter circuit, and a large number of samples sampled by this A / D conversion circuit. The A / D-converted data is classified into classes according to the size thereof, and an average value calculating means for collecting the data at a predetermined ratio in order from the one having the highest occurrence frequency of the data included in the same class and taking the average thereof is provided. And makes the above-mentioned determination based on the difference between the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is not applied and the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is being applied. Is.

【００１２】[0012]

【作用】このように、階級分けして同一階級に含まれる
データについて統計処理により頻度分布を採り、所定の
割合のものを選択にするようにしているので、他の装置
が稼働している状態の測定値を排除することができ、こ
れによりその影響をキャンセルして各端子間の電位差を
零点調整なしに安定な形で得ることができる。その結
果、誰でも正確に誤配線か否かの判定が容易に短時間で
自動的に得られる。As described above, since the frequency distribution is obtained by statistical processing of the data items included in the same class by classifying and the data having a predetermined ratio is selected, the state in which other devices are operating It is possible to eliminate the measured value of, thereby canceling its influence and obtaining the potential difference between the terminals in a stable form without adjusting the zero point. As a result, anyone can easily and automatically determine whether or not the wiring is incorrect in a short time and automatically.

【００１３】[0013]

【実施例】図１に、この発明のコンセントテスタの一実
施例のブロック図を示す。なお、図５と同等の構成は同
一の符号で示す。図１のコンセントテスタ４０ａにあっ
ては、図５における電圧計測器４３に代えてＡ／Ｄ変換
回路４４と計測処理装置４５とを備えている。また、差
動増幅器４１には零点調整用の可変抵抗器ＶＲが設けら
れていない。Ａ／Ｄ変換回路４４は、差動増幅器４１の
アナログ出力を受けて８ビットのデジタル値に変換す
る。そのサンプリングパルスは計測処理装置４５から加
えられる。計測処理装置４５は、内部にＭＰＵ（マイク
ロプロセッサ）４５ａとメモリ４５ｂ、そしてＬＣＤ等
の表示装置４５ｃとを有していて、メモリ４５ｂには、
計測値カウント処理プログラム４６と、計測値統計処理
プログラム４７、計測平均値算出プログラム４８、誤配
線判定プログラム４９とが格納され、さらに、計測値カ
ウントデータ記憶エリア５０が設けられている。また、
さらに、計測処理装置４５は、スイッチＳＷ1 にＯＮ／
ＯＦＦする制御信号を送出し、Ａ／Ｄ変換回路４４には
サンプリングパルスを送出する。そのサンプリング周期
は、数１０ｍsec 程度であり、データのサンプリング回
数は、１００〜３００程度である。なお、ここでのスイ
ッチ回路ＳＷ1 は、マニュアルスイッチではなく、制御
信号によりＯＮ／ＯＦＦする電子スイッチとする。1 is a block diagram of an embodiment of the outlet tester of the present invention. The same components as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. The outlet tester 40a in FIG. 1 includes an A / D conversion circuit 44 and a measurement processing device 45 in place of the voltage measuring device 43 in FIG. Further, the differential amplifier 41 is not provided with the variable resistor VR for adjusting the zero point. The A / D conversion circuit 44 receives the analog output of the differential amplifier 41 and converts it into an 8-bit digital value. The sampling pulse is added from the measurement processing device 45. The measurement processing device 45 has an MPU (microprocessor) 45a, a memory 45b, and a display device 45c such as an LCD inside, and the memory 45b includes:
A measured value count processing program 46, a measured value statistical processing program 47, a measured average value calculation program 48, and a miswiring determination program 49 are stored, and a measured value count data storage area 50 is further provided. Also,
Further, the measurement processing device 45 turns on / off the switch SW1.
A control signal to turn off is sent, and a sampling pulse is sent to the A / D conversion circuit 44. The sampling cycle is about several tens of msec, and the number of times data is sampled is about 100 to 300. The switch circuit SW1 here is not a manual switch but an electronic switch that is turned on / off by a control signal.

【００１４】計測値カウント処理プログラム４６は、Ｍ
ＰＵ４５ａがこれを実行することによりＡ／Ｄ変換回路
４４から得られた計測値に基づいて図３（ａ）に示す計
測値カウントデータ記憶エリア５０のインデックス１〜
ｎを参照して計測値に対応したエリアを検索する。計測
値に一致したインデックスが検索されたときにそこの数
記憶部ＣＡから数値を読出してこれに＋１、すなわち、
読出されたカウント値をインクリメントして元に戻して
記憶されている数値を更新する。検索の結果計測値がな
かったときには、その計測値に対するインデックスを作
成して数記憶部分ＣＡの値に１を記憶し、データ記憶領
域のエンドマークＥＮＤをその後ろに移動する。なお、
８ビットのＡ／Ｄ変換回路のデータをそのまま階級分け
すれば、２５６階級のデータとして階級分けできるの
で、前記のインデックスは、最大で２５６階級から選択
されたものとなる。しかし、これを半分の１２８階級の
データに分けて各インデックスとし、半分の分解能で階
級分けして計測値カウントデータ記憶エリア５０に計測
値のカウント値を記憶することもできる。逆にＡ／Ｄ変
換回路を１０ビットとして得たデータを１／４の分解能
にして２５６階級としてもよいし、半分の分解能で５１
２階級として分けてデータを処理してもよい。The measured value count processing program 46 is M
Based on the measurement values obtained from the A / D conversion circuit 44 by the PU 45a executing this, indexes 1 to 1 in the measurement value count data storage area 50 shown in FIG.
The area corresponding to the measured value is searched by referring to n. When the index that matches the measured value is searched, the numerical value is read from the numerical value storage unit CA there and +1 is added to it, that is,
The read count value is incremented and returned to the original value to update the stored numerical value. When there is no measured value as a result of the search, an index is created for that measured value, 1 is stored in the value of the number storage portion CA, and the end mark END of the data storage area is moved to the rear. In addition,
If the data of the 8-bit A / D conversion circuit is classified as it is, it can be classified as data of 256 classes, so that the index is selected from 256 classes at the maximum. However, it is also possible to divide this into data of 128 classes of half and make each index, classify with half the resolution, and store the count value of the measurement value in the measurement value count data storage area 50. On the contrary, the data obtained by using the A / D conversion circuit with 10 bits may be set to have a resolution of ¼ and may have 256 classes, or 51 at a resolution of half.
The data may be processed separately as two classes.

【００１５】計測値統計処理プログラム４７は、ＭＰＵ
４５ａがこれを実行することにより計測値カウントデー
タ記憶エリア５０の各インデックスの数記憶部ＣＡの数
値を参照してインデックスを度数（カウント値）の多い
順に順位付けしたインデックスとカウント値のデータを
生成する（図３（ｂ）参照）。計測平均値算出プログラ
ム４８は、ＭＰＵ４５ａがこれを実行することにより計
測値統計処理プログラム４７により生成されたデータを
参照して度数の多い順から、例えば、７０％のデータを
採取して、その平均値を算出してメモリ４５ｂの状態デ
ータを参照してスイッチＳＷ1 がＯＮか、ＯＦＦかの状
態に応じて、スイッチＳＷ1 がＯＦＦのときには平均値
のデータをＡとしてスイッチＳＷ1 がＯＮのときには平
均値のデータをＢとしてメモリ４５ｂに記憶する。The measurement value statistical processing program 47 is an MPU.
By executing this, 45a refers to the numerical value of the number storage section CA of each index in the measurement value count data storage area 50 to generate index and count value data in which the indexes are ranked in descending order of frequency (count value). (See FIG. 3B). The measurement average value calculation program 48 refers to the data generated by the measurement value statistical processing program 47 by the MPU 45a executing the measurement average value calculation program 48, and collects, for example, 70% of the data in descending order of frequency and averages them. The value is calculated and the state data of the memory 45b is referred to. Depending on whether the switch SW1 is ON or OFF, the average value data is A when the switch SW1 is OFF and the average value data is when the switch SW1 is ON. The data is stored as B in the memory 45b.

【００１６】誤配線判定プログラム４９は、スイッチＳ
Ｗ1 がＯＦＦのときに記憶した平均値のデータＡとスイ
ッチＳＷ1 がＯＮのときに記憶した平均値のデータＢと
をメモリ４５ｂから読出してＣ＝Ａ−Ｂの値を算出す
る。正しく配線されている場合には、結果値Ｃは負とな
る。すなわち、スイッチＳＷ1 がＯＦＦしているときに
は、他の装置２４等の影響により保護用接地線１３から
抵抗３、そして接地側電源線１２の接地ラインへと流れ
る電流により発生する接地内抵抗Ｒ3 により発生する電
圧の直流分が差動増幅器４１の出力に検出され、スイッ
チＳＷ1 がＯＮしているときには抵抗３を流れる検査電
流により端子３２がさらに低下し、差動増幅器４１の出
力がさらに＋方向に変化するからである。なお、抵抗Ｒ
1 ，Ｒ2 に発生する検査電流による電圧変化は相殺され
る。そこで、Ｃ＝Ａ−Ｂが正になり、正しい配線である
ことが分かる。The miswiring determination program 49 uses the switch S
The average value data A stored when W1 is OFF and the average value data B stored when the switch SW1 is ON are read from the memory 45b to calculate the value of C = AB. If the wiring is correct, the result value C will be negative. That is, when the switch SW1 is turned off, it is generated by the in-ground resistor R3 generated by the current flowing from the protective ground line 13 to the resistor 3 and the ground side power line 12 to the ground line under the influence of the other device 24 and the like. The DC component of the voltage to be detected is detected in the output of the differential amplifier 41, and when the switch SW1 is ON, the test current flowing through the resistor 3 further lowers the terminal 32, and the output of the differential amplifier 41 further changes in the + direction. Because it does. The resistance R
The voltage change due to the inspection current generated in 1 and R2 is canceled. Therefore, C = AB becomes positive, and it is understood that the wiring is correct.

【００１７】一方、線２１が端子３３に線２２が端子３
２に接続されているものとする。差動増幅器４１の入力
が反転するから出力も反転する。すなわちスイッチＳＷ
１がＯＦＦの場合の電圧は−ＡになりスイッチＳＷ１が
ＯＮの場合の電圧は−Ｂとなる。そこで、Ｃ＝−Ａ−
（−Ｂ）＝−（Ａ−Ｂ）であるから負の値となる。以上
のことから配線が誤配線であることが分かる。そこで、
算出結果の値Ｃが正か負かにより誤配線か否かを表示装
置４５ｃに判定結果の数値Ｃとともに表示する。On the other hand, the wire 21 is connected to the terminal 33 and the wire 22 is connected to the terminal 3
It is assumed that it is connected to 2. Since the input of the differential amplifier 41 is inverted, the output is also inverted. That is, the switch SW
When 1 is OFF, the voltage is -A, and when switch SW1 is ON, the voltage is -B. Therefore, C = -A-
Since (−B) = − (A−B), it has a negative value. From the above, it can be seen that the wiring is erroneous. Therefore,
Whether the wiring is wrong or not is displayed on the display device 45c together with the numerical value C of the determination result depending on whether the value C of the calculation result is positive or negative.

【００１８】図２に従って全体的な測定処理について説
明すると、まず、ＭＰＵ４５ａは、スイッチＳＷ１をＯ
ＦＦとし、この状態をメモリ４５ｂに状態データとして
記憶する（ステップ１０１）。次に、ＭＰＵ４５ａがＡ
／Ｄ変換回路４４をサンプリングパルスを送出して制御
し、測定データのサンプリングをする（ステップ１０
２）。なお、ここでのサンプリング数を１５０回程度と
する。次に、計測値カウント処理プログラム４６が実行
されてサンプリングされたデジタル値は、その大きさの
インデックスに従って階級分けして計測値カウントデー
タ記憶エリア５０に記憶される（ステップ１０３）。The overall measurement process will be described with reference to FIG. 2. First, the MPU 45a turns on the switch SW1.
FF is set, and this state is stored in the memory 45b as state data (step 101). Next, the MPU 45a
The / D conversion circuit 44 is controlled by sending a sampling pulse to sample the measurement data (step 10).
2). The number of samplings here is about 150 times. Next, the measured value count processing program 46 is executed and the sampled digital values are classified according to the index of the size and stored in the measured value count data storage area 50 (step 103).

【００１９】インパルス性ノイズ印加された部位は電圧
値が急激に変化しているから、一定時間間隔でサンプリ
ングするとデジタル値も急激に変化するが、インパルス
性ノイズが印加されていない部位は、電圧値がほぼ一定
で変化が小さいからデジタル値もほぼ一定で変化が小さ
い。階級分けは、この特性に従って行われる。すなわ
ち、他の装置の電源のＯＮ／ＯＦＦを含めてインパルス
性ノイズが印加された部位はデジタル量の変化が大きい
ので同一階級に含まれる頻度は小さい。Since the voltage value of the portion to which the impulse noise is applied changes abruptly, the digital value also changes abruptly when sampling is performed at a constant time interval, but the portion to which the impulse noise is not applied changes the voltage value. Is almost constant and the change is small, so the digital value is almost constant and the change is small. The classification is done according to this characteristic. That is, the frequency of being included in the same class is small because the digital amount of the portion to which the impulsive noise is applied, including the ON / OFF of the power source of the other device, is large.

【００２０】そこで、次に計測値統計処理プログラム４
７が実行されて、発生頻度の多い階級順に並び変えたデ
ータを生成する（ステップ１０４）。そして、計測平均
値算出プログラム４８が実行されて発生頻度の多い階級
から順に全体のあらかじめ定めた割合（Ｓ）に達するま
で抽出して（ステップ１０５）、平均値を求めてスイッ
チＳＷ1 がＯＮか、ＯＦＦか状態を参照して、現在は、
ＳＷ1 がＯＦＦあるので前記の平均値をＡとしてメモリ
４５ｂに記憶する（ステップ１０６）。ここでＳを、例
えば、７０％程度の値に選択すれば、数値Ａ，Ｂには他
の装置の電源のＯＮ／ＯＦＦによるインパルス性ノイズ
が印加された部位の影響は排除されている。Then, next, the measured value statistical processing program 4
7 is executed to generate data rearranged in order of the frequency of occurrence (step 104). Then, the measured average value calculation program 48 is executed, and extraction is performed in order from the class with the highest frequency of occurrence until the predetermined ratio (S) of the whole is reached (step 105), the average value is calculated, and the switch SW1 is ON, With reference to OFF or status,
Since SW1 is OFF, the average value is stored in the memory 45b as A (step 106). Here, if S is set to a value of, for example, about 70%, the influence of the portion to which the impulsive noise due to the ON / OFF of the power source of the other device is applied to the numerical values A and B is eliminated.

【００２１】次に、スイッチＳＷ１がＯＮか否かが状態
データにより判定される（ステップ１０７）。その結
果、ＯＦＦになっているので、ＮＯとなり、ＭＰＵ４５
ａは、スイッチＳＷ１をＯＮとし、この状態をメモリ４
５ｂに状態データとして記憶する（ステップ１０８）。
これによりダイオードＤ１による半波整流の直流電流が
線２２と２３に流れる。抵抗Ｒ３による電圧降下が発生
し端子３３の電位は端子３２を基準にするとマイナス方
向に脈打つ脈流となりその平均値はＳＷ１をＯＦＦのと
きに比べるとマイナス方向に変移する。Next, it is judged from the status data whether or not the switch SW1 is ON (step 107). As a result, since it is OFF, it becomes NO and the MPU 45
a turns on the switch SW1 and sets this state to the memory 4
It is stored in 5b as status data (step 108).
As a result, a direct current for half-wave rectification by the diode D1 flows through the lines 22 and 23. A voltage drop occurs due to the resistor R3, and the potential of the terminal 33 becomes a pulsating current that pulsates in the negative direction with respect to the terminal 32, and the average value thereof shifts in the negative direction as compared with when SW1 is OFF.

【００２２】フィルタ４２により直流分を取り出しＳＷ
１がＯＦＦのときと同様にしてステップ１０２へと戻
り、測定データのサンプリングをする。そして、ＳＷ1
がＯＮあるので算出した平均値をＢとしてメモリ４５ｂ
に記憶する（ステップ１０６）。そして、スイッチＳＷ
１がＯＮか否かが状態データにより判定される（ステッ
プ１０７）。その結果、今度はＯＮになっているので、
ＹＥＳとなり、誤配線判定プログラム４９が実行され
て、数値Ｃ＝Ａ−Ｂが算出され（ステップ１０９）、数
値Ｃが正か否かが判定され、判定結果が表示される（ス
テップ１１０）。The DC component is taken out by the filter 42 and the SW
Similar to when 1 is OFF, the process returns to step 102 to sample the measurement data. And SW1
Is ON, the calculated average value is set as B and is stored in the memory 45b.
(Step 106). And the switch SW
Whether or not 1 is ON is determined from the state data (step 107). As a result, since it is turned on this time,
If YES, the miswiring determination program 49 is executed to calculate the numerical value C = AB (step 109), it is determined whether the numerical value C is positive, and the determination result is displayed (step 110).

【００２３】ところで、配線２１を介して柱上トランス
１０の非接地側線に接続されたコンセント３０の端子３
１（この発明における第１の端子）とコンセントテスタ
４１の端子３１ａについての接続は、端子３１の電圧を
接地を基準として測定することでその電圧値により非接
地側線側端子であることを確認してから接続すればよ
い。これにより端子３１と端子３１ａは誤りなく接続で
きる。この非接地側線接続のコンセント３０の端子とコ
ンセントテスタ４０ａの端子との接続は、切替えスイッ
チを介して端子３１〜端子３３のいずれかと端子３１ａ
とを選択的に接続するようにして電圧を測定することで
非接地側線側端子であることを確認して端子３１と端子
３１ａとを接続するようにすることができる。これによ
り作業性はさらに向上するし、非接地側線の端子につい
て誤配線も簡単に分かる。By the way, the terminal 3 of the outlet 30 connected to the non-grounded side wire of the pole transformer 10 via the wiring 21.
1 (the first terminal in the present invention) and the terminal 31a of the outlet tester 41 are connected to each other by measuring the voltage of the terminal 31 with reference to the ground, and confirming that the voltage is the non-ground side wire side terminal. You can connect it later. As a result, the terminals 31 and 31a can be connected without error. The connection between the terminal of the outlet 30 and the terminal of the outlet tester 40a, which are connected to the non-grounded side line, is performed through the changeover switch to any one of the terminals 31 to 33 and the terminal 31a.
It is possible to connect the terminal 31 and the terminal 31a by confirming that the terminal is the non-ground side line side terminal by measuring the voltage by selectively connecting and. As a result, workability is further improved, and miswiring of the terminal of the non-grounded side wire can be easily recognized.

【００２４】図４は、他の実施例であって、スイッチＳ
Ｗ1 とダイオードＤ1 の直列回路ににスイッチＳＷ2 と
ダイオードＤ2 との直列回路を並列に挿入して計測制御
装置のスイッチＳＷ1 をＯＮさせた後に、スイッチＳＷ
2 をＯＮさせて（このときスイッチＳＷ1 をＯＦＦ）さ
せてダイオードＤ1 に対して逆方向の向きのダイオード
Ｄ2 を回路に接続し、ダイオードＤ2 側でダイオードＤ
1 に対して逆向きの電流を流して、それぞれにおいて誤
配線判定をすることにより、二重に誤配線判定をするよ
うにしたものである。FIG. 4 shows another embodiment of the switch S.
After inserting the series circuit of the switch SW2 and the diode D2 in parallel into the series circuit of W1 and the diode D1 and turning on the switch SW1 of the measurement control device, switch SW
2 is turned on (the switch SW1 is turned off at this time) to connect the diode D2 in the direction opposite to the diode D1 to the circuit, and the diode D2 is connected to the diode D2.
By applying a current in the opposite direction to 1 and making incorrect wiring judgments for each, double wiring misjudgment is made.

【００２５】具体的な処理ステップとしては、ステップ
１０１のＯＦＦ状態の設定をスイッチＳＷ1 とＳＷ2 と
し、これら２つのスイッチの状態を記憶し、ステップ１
０７の判定ではスイッチＳＷ1 またはＳＷ2 がＯＮかを
判定する。ステップ１０９では、計算結果値のＣの値を
スイッチＳＷ1 ，ＳＷ2 に応じてそれぞれメモリに記憶
するようにする。そして、ステップ１０９とステップ１
１０との間にスイッチＳＷ2 がＯＮか否かを判定するス
テップとスイッチＳＷ2 がＯＦＦのときにはステップ１
０８と同様にスイッチＳＷ2 をＯＮさせてこれを記憶し
てからステップ１０２へと戻るようにする。また、前記
の判定でスイッチＳＷ2 がＯＮのときにはステップ１１
０へと移行する。As a concrete processing step, the setting of the OFF state in step 101 is set to switches SW1 and SW2, the states of these two switches are stored, and step 1
In the judgment of 07, it is judged whether the switch SW1 or SW2 is ON. In step 109, the value C of the calculation result value is stored in the memory in accordance with the switches SW1 and SW2. Then, step 109 and step 1
Step 10 to determine whether the switch SW2 is ON or not, and step 1 if the switch SW2 is OFF
Similar to 08, the switch SW2 is turned on to store it, and then the process returns to step 102. If the switch SW2 is ON in the above judgment, step 11
Transition to 0.

【００２６】ステップ１１０では、スイッチＳＷ1 ，Ｓ
Ｗ2 の両者のＣの値により誤配線判定をする。なお、こ
の場合には、スイッチＳＷ2 の判定における数値Ｃの判
定は、スイッチＳＷ1 の場合と逆になり、Ｃ＜０の判定
を行う。Ｃ＝−Ａ−（−Ｂ）＝−（Ａ−Ｂ）であるから
スイッチＳＷ2 のときにはスイッチＳＷ1 のときとは逆
にＣが正の値のときに誤配線であると判定する。これら
の判定の結果、両者で誤配線とされたときには、誤配線
と表示され、いずれかで誤配線とされたときには、再測
定のメッセージが表示される。以上説明してきたが、ダ
イオードを１つ設ける場合には、ダイオードＤ1 ，Ｄ2
のいずれか一方の方向でよいことはもちろんである。In step 110, the switches SW1 and S1
Wrong wiring is determined based on the C values of both W2. In this case, the determination of the numerical value C in the determination of the switch SW2 is the reverse of the determination of the switch SW1, and the determination of C <0 is performed. Since C = -A-(-B) =-(A-B), it is determined that the wiring is incorrect when C is a positive value in the case of the switch SW2 and the switch SW1. As a result of these judgments, if both are erroneous wiring, erroneous wiring is displayed, and if either is erroneous wiring, a message for re-measurement is displayed. As described above, when one diode is provided, the diodes D1 and D2
It goes without saying that either direction can be used.

【００２７】[0027]

【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明にあっては、階級分けして同一階級に含まれるデー
タについて統計処理により頻度分布を採り、所定の割合
のものを選択にするようにしているので、他の装置が稼
働している状態の測定値を排除することができ、これに
よりその影響をキャンセルして各端子間の電位差を零点
調整なしに安定な形で得ることができる。その結果、簡
単な操作で未熟練者でも短時間に正確に保護用接地線と
接地側交流電源線とを判別することができる。As can be understood from the above description, according to the present invention, the frequency distributions of the data contained in the same class are classified by statistical processing, and the data having a predetermined ratio are selected. Therefore, it is possible to eliminate the measured value when other devices are operating, thereby canceling its influence and obtaining the potential difference between each terminal in a stable form without zero adjustment. . As a result, even by an unskilled person, it is possible to accurately distinguish the protective ground wire and the ground side AC power supply wire by a simple operation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】図１は、この発明のコンセントテスタを適用し
た一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment to which the outlet tester of the present invention is applied.

【図２】図２は、測定値のデータ処理のフローチャート
である。FIG. 2 is a flowchart of data processing of measured values.

【図３】図３は、データ処理のデータ記憶状態の説明図
であって、（ａ）は、図１におけるメモリの計測値カウ
ントデータ記憶エリアの説明図、（ｂ）は、その頻度分
布の大きい順に並べた説明図である。3A and 3B are explanatory diagrams of a data storage state of data processing. FIG. 3A is an explanatory diagram of a measured value count data storage area of the memory in FIG. 1, and FIG. 3B is a frequency distribution thereof. It is an explanatory view arranged in descending order.

【図４】図４は、この発明のコンセントテスタを適用し
た他の一実施例のブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of another embodiment to which the outlet tester of the present invention is applied.

【図５】図５は、従来のコンセントテスタのブロック図
である。FIG. 5 is a block diagram of a conventional outlet tester.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１０…柱上トランス、１１…非接地側電源線、１２…接
地側電源線、１３…保護用接地線、２０…配電盤、２４
…他の装置、３０…コンセント、３１，３２，３３，３
１ａ，３２ａ，３３ａ…端子、４０，４０ａ…コンセン
トテスタ、４１…差動増幅器、４２…ローパスフィル
タ、４３…電圧計測器、４４…Ａ／Ｄ変換回路、４５…
計測処理装置、４５ａ…ＭＰＵ（マイクロプロセッ
サ）、４５ｂ…メモリ、４５ｃ…表示装置、４６…計測
値カウント処理プログラム、４７…計測値統計処理プロ
グラム、４８…計測平均値算出プログラム、４９…誤配
線判定プログラム、５０…測値カウントデータ記憶エリ
ア。10 ... Pole transformer, 11 ... Non-ground side power line, 12 ... Ground side power line, 13 ... Protective ground line, 20 ... Switchboard, 24
... Other devices, 30 ... Outlets, 31, 32, 33, 3
1a, 32a, 33a ... Terminal, 40, 40a ... Outlet tester, 41 ... Differential amplifier, 42 ... Low pass filter, 43 ... Voltage measuring device, 44 ... A / D conversion circuit, 45 ...
Measurement processing device, 45a ... MPU (microprocessor), 45b ... Memory, 45c ... Display device, 46 ... Measured value count processing program, 47 ... Measured value statistical processing program, 48 ... Measured average value calculation program, 49 ... Miswiring determination Program, 50 ... Measured value count data storage area.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹村 敏 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 橋本 昭則 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 前田 洋人 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 斉藤 彰 東京都千代田区内神田二丁目14番６号 日 立電子サービス株式会社内 (72)発明者 金子 実 東京都千代田区内神田二丁目14番６号 日 立電子サービス株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Satoshi Takemura 1 Horiyamashita, Hinoyamashita, Hadano City, Kanagawa Prefecture (72) Inventor, Akinori Hashimoto 1st Horiyamashita, Hadano City, Kanagawa Niitsu Computer Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Hiroto Maeda 1 Horiyamashita, Hinoyamashita, Hadano, Kanagawa Pref., Computer Electronics Co., Ltd. (72) Inventor, Akira Saito 2-14-6, Uchikanda, Chiyoda-ku, Tokyo Within Hirate Denshi Service Co., Ltd. ( 72) Inventor Minoru Kaneko 2-14-6, Kanda, Chiyoda-ku, Tokyo, Nikkei Electronic Service Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】交流電源の非接地側線に接続された第１の
端子と、保護用接地線及び前記交流電源の接地側いずれ
か一方に接続された第２の端子と、何れか他方の端子に
接続された第３の端子を有するコンセントに対して装着
されて、前記第２の端子または前記第３の端子に接続さ
れた線が前記交流電源の接地側線か保護用接地線の何れ
かであるかを判定するコンセントテスタにおいて、 前記第２及び前記第３の端子と前記第１の端子との間に
設けられ制御信号に応じて直流を流す直流流出回路と、
前記第２端子と前記第３の端子との間の電圧から直流成
分を取り出すフィルタ回路と、このフィルタ回路の出力
をＡＤ変換するＡ／Ｄ変換回路と、このＡ／Ｄ変換回路
によりサンプリングされた多数のＡＤ変換されたデータ
をその大きさに応じて階級分けし同一階級に含まれる前
記データの発生度数の多いものから順に所定の割合で前
記データを採取してその平均を採る平均値算出手段とを
備え、 前記直流が流されていないときに前記平均値算出手段に
より得られる前記平均値と前記直流が流されているとき
に前記平均値算出手段により得られる前記平均値との差
により前記の判定をするコンセントテスタ。1. A first terminal connected to a non-grounded side wire of an AC power supply, a second terminal connected to one of a protective ground wire and a ground side of the AC power supply, and the other terminal. Is attached to an outlet having a third terminal connected to, and the wire connected to the second terminal or the third terminal is either a ground side wire of the AC power supply or a protective ground wire. A outlet tester for determining whether or not there is a direct current outflow circuit, which is provided between the second and third terminals and the first terminal, and flows a direct current according to a control signal,
A filter circuit for extracting a DC component from the voltage between the second terminal and the third terminal, an A / D conversion circuit for AD converting the output of the filter circuit, and a sampled by the A / D conversion circuit. A large number of AD-converted data are classified according to their size, and the data are sampled at a predetermined ratio in descending order of the frequency of occurrence of the data contained in the same class, and an average value calculating means is provided. And a difference between the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is not applied and the average value obtained by the average value calculating means when the direct current is being applied. Concentration tester to judge.