JPH0866387A - 放射線撮像装置 - Google Patents
放射線撮像装置Info
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- JPH0866387A JPH0866387A JP6207388A JP20738894A JPH0866387A JP H0866387 A JPH0866387 A JP H0866387A JP 6207388 A JP6207388 A JP 6207388A JP 20738894 A JP20738894 A JP 20738894A JP H0866387 A JPH0866387 A JP H0866387A
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 X線強度を十分高めて被検体の撮像を行う場
合であっても疑似像やアーティファクトが生じない撮影
像が得られる放射線撮像装置を提供する。 【構成】 被検体に照射された透過したX線はラインセ
ンサで検出され、検出されたX線の測定データはバッフ
ァメモリを介して補正手段で画像表示用のデータに変換
されて、表示手段に画像表示される。このとき、ライン
センサに配設されたガイド用センサの出力YRiが予め検
出用センサの特性に応じて定められたYLkを超えると、
演算手段は、ガイド用センサ出力YRiに所定の演算処
理、例えば、Yk =(YPk/YLk)・YRiを施すことに
よって、その近傍の検出用センサの修正出力Yk を算出
し、補正手段はこれを検出用センサの測定データとして
画像表示用のデータに変換し、表示手段によって画像表
示が行われる。
合であっても疑似像やアーティファクトが生じない撮影
像が得られる放射線撮像装置を提供する。 【構成】 被検体に照射された透過したX線はラインセ
ンサで検出され、検出されたX線の測定データはバッフ
ァメモリを介して補正手段で画像表示用のデータに変換
されて、表示手段に画像表示される。このとき、ライン
センサに配設されたガイド用センサの出力YRiが予め検
出用センサの特性に応じて定められたYLkを超えると、
演算手段は、ガイド用センサ出力YRiに所定の演算処
理、例えば、Yk =(YPk/YLk)・YRiを施すことに
よって、その近傍の検出用センサの修正出力Yk を算出
し、補正手段はこれを検出用センサの測定データとして
画像表示用のデータに変換し、表示手段によって画像表
示が行われる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体を透過した放射
線から放射線像を撮影する放射線撮像装置に関する。
線から放射線像を撮影する放射線撮像装置に関する。
【0002】
【従来技術】近年、胸部用の放射線撮像装置として、直
接フィルムに透過X線を照射することでX線撮影像を得
る方式に代わり、半導体センサにより透過X線を電気信
号に変換することでX線撮影像を得る方式が開発されて
いる。
接フィルムに透過X線を照射することでX線撮影像を得
る方式に代わり、半導体センサにより透過X線を電気信
号に変換することでX線撮影像を得る方式が開発されて
いる。
【0003】このセンサは、通常個々のX線検出センサ
を1次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構成
され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査する
ことで2次元画像が得られる。
を1次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構成
され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査する
ことで2次元画像が得られる。
【0004】図8はこのラインセンサを用いた放射線撮
像装置の一つであるX線撮像装置の概略図で、ラインセ
ンサ10が体軸方向に設置された支柱11に対して、そ
の軸方向に移動可能に配設され、対向する位置にはX線
管12が配設されている。そして、ラインセンサ10の
前に立たせた被検体Bに対してX線管12からX線を照
射し、その状態でラインセンサ10を下方、即ち被検体
Bの体軸方向へ移動させながら透過X線を検出すること
により被検体Bの2次元X線画像を得るよう構成されて
いる。
像装置の一つであるX線撮像装置の概略図で、ラインセ
ンサ10が体軸方向に設置された支柱11に対して、そ
の軸方向に移動可能に配設され、対向する位置にはX線
管12が配設されている。そして、ラインセンサ10の
前に立たせた被検体Bに対してX線管12からX線を照
射し、その状態でラインセンサ10を下方、即ち被検体
Bの体軸方向へ移動させながら透過X線を検出すること
により被検体Bの2次元X線画像を得るよう構成されて
いる。
【0005】かかるX線撮像装置で被検体Bを撮像する
場合、被検体Bの撮像部位に応じてX線の吸収率が異な
るため、それぞれの撮像の目的に応じて診断に適した画
像を得べく、撮像時のX線強度は種々変更される。例え
ば、X線の吸収率が非常に高い肩骨から心臓にかけての
縦隔部や腹部野等では、X線強度を十分高めて被検体の
撮像が行われる。
場合、被検体Bの撮像部位に応じてX線の吸収率が異な
るため、それぞれの撮像の目的に応じて診断に適した画
像を得べく、撮像時のX線強度は種々変更される。例え
ば、X線の吸収率が非常に高い肩骨から心臓にかけての
縦隔部や腹部野等では、X線強度を十分高めて被検体の
撮像が行われる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ライン
センサ10を構成するX線検出素子は、それぞれ個々の
検出特性を有し、X線の強度を示す入射線量に対して、
例えば図9a、bに示すような検出特性を示す。即ち、
図9aの例では、X線の入射線量がIP を超えると検出
される入射フォトンのカウント値は急激に下降し、ま
た、図9bの例では、X線の入射線量がIS を超えると
検出される入射フォトンのカウント値は飽和状態とな
る。
センサ10を構成するX線検出素子は、それぞれ個々の
検出特性を有し、X線の強度を示す入射線量に対して、
例えば図9a、bに示すような検出特性を示す。即ち、
図9aの例では、X線の入射線量がIP を超えると検出
される入射フォトンのカウント値は急激に下降し、ま
た、図9bの例では、X線の入射線量がIS を超えると
検出される入射フォトンのカウント値は飽和状態とな
る。
【0007】このため、図9aのようにX線の入射線量
I1 である場合とI2 である場合等ではそれらを区別で
きず、また、図9bの場合は、X線の入射線量IS を超
えるとその区別ができなくなるため、X線強度を十分高
めて被検体の撮像を行う場合等では、撮像画像に疑似像
やアーティファクトが生じ、診断に支障を来すという問
題が生じる。
I1 である場合とI2 である場合等ではそれらを区別で
きず、また、図9bの場合は、X線の入射線量IS を超
えるとその区別ができなくなるため、X線強度を十分高
めて被検体の撮像を行う場合等では、撮像画像に疑似像
やアーティファクトが生じ、診断に支障を来すという問
題が生じる。
【0008】そこで、本発明はかかる問題点を解消する
ため、X線強度を十分高めて被検体の撮像を行う場合で
あっても疑似像やアーティファクトが生じない良好な撮
影像が得られる放射線撮像装置を提供することを目的と
する。
ため、X線強度を十分高めて被検体の撮像を行う場合で
あっても疑似像やアーティファクトが生じない良好な撮
影像が得られる放射線撮像装置を提供することを目的と
する。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、被検体を透過した放射線を放射線センサ
で検出し、その出力を信号処理して画像を構成する放射
線撮像装置において、前記放射線センサを多数の放射線
検出素子を一次元または2次元のアレイ状に並べて構成
するとともに、これら検出素子のなかにこれら素子に比
べて十分強い放射線を検出できるガイド用検出素子を1
または複数個混在させたことを特徴とする。
に、本発明は、被検体を透過した放射線を放射線センサ
で検出し、その出力を信号処理して画像を構成する放射
線撮像装置において、前記放射線センサを多数の放射線
検出素子を一次元または2次元のアレイ状に並べて構成
するとともに、これら検出素子のなかにこれら素子に比
べて十分強い放射線を検出できるガイド用検出素子を1
または複数個混在させたことを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明の作用を図に基づいて説明すると、図1
で、被検体に照射され透過したX線はラインセンサ1で
検出され、検出されたX線の測定データはバッファメモ
リ2を介して補正手段4で画像表示用のデータに変換さ
れて、表示手段5に表示される。このとき、図2及び図
4に示すように、ラインセンサ1に配設されたガイド用
センサ(ガイド用検出素子)1a、1b、・・・の出力
が検出用センサ(放射線検出素子)の検出特性に応じて
予め定められた値YLkを超えると、演算手段3は、その
ガイド用センサ近傍の検出用センサ1a’、1b’、・
・・それぞれの出力を、例えば、ガイド用センサ出力Y
Riに次の演算処理、Y=(YPk/YLk)・YRiを施した
値として算出し、補正手段4はこれをその近傍の検出用
センサ1a’、1b’、・・・の測定データとして画像
表示用のデータに変換して画像表示を行う。
で、被検体に照射され透過したX線はラインセンサ1で
検出され、検出されたX線の測定データはバッファメモ
リ2を介して補正手段4で画像表示用のデータに変換さ
れて、表示手段5に表示される。このとき、図2及び図
4に示すように、ラインセンサ1に配設されたガイド用
センサ(ガイド用検出素子)1a、1b、・・・の出力
が検出用センサ(放射線検出素子)の検出特性に応じて
予め定められた値YLkを超えると、演算手段3は、その
ガイド用センサ近傍の検出用センサ1a’、1b’、・
・・それぞれの出力を、例えば、ガイド用センサ出力Y
Riに次の演算処理、Y=(YPk/YLk)・YRiを施した
値として算出し、補正手段4はこれをその近傍の検出用
センサ1a’、1b’、・・・の測定データとして画像
表示用のデータに変換して画像表示を行う。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1〜図7に基づ
いて説明する。
いて説明する。
【0012】図1は本発明にかかる放射線撮像装置の一
つであるX線撮像装置のブロック図である。同図におい
て、1は被検体を透過したX線を検出するラインセンサ
で、複数の検出用センサが直線上に配列されている。2
はバッファメモリで、ラインセンサ1で検出されたX線
の測定データが一時的に記憶される。3は演算手段で、
ラインセンサ1のガイド用センサにより検出されたX線
の測定データに応じてその近傍の検出用センサの修正出
力を算出する。4は補正手段で、検出用センサで検出さ
れたX線の測定データから画像表示用の補正データを算
出する。5は表示手段で、補正手段4から出力される補
正データに基づいて撮影像の画像表示を行う。
つであるX線撮像装置のブロック図である。同図におい
て、1は被検体を透過したX線を検出するラインセンサ
で、複数の検出用センサが直線上に配列されている。2
はバッファメモリで、ラインセンサ1で検出されたX線
の測定データが一時的に記憶される。3は演算手段で、
ラインセンサ1のガイド用センサにより検出されたX線
の測定データに応じてその近傍の検出用センサの修正出
力を算出する。4は補正手段で、検出用センサで検出さ
れたX線の測定データから画像表示用の補正データを算
出する。5は表示手段で、補正手段4から出力される補
正データに基づいて撮影像の画像表示を行う。
【0013】ラインセンサ1は図2に示されるように、
多数のX線の検出用センサをアレイ状に配設し、4つの
検出用センサ毎にガイド用センサ1a、1b、・・・が
設けられている。ここで、各ガイド用センサの両側に隣
接する4つの検出用センサ1a’、1b’、・・・を各
ガイド用センサ近傍の検出用センサとする。
多数のX線の検出用センサをアレイ状に配設し、4つの
検出用センサ毎にガイド用センサ1a、1b、・・・が
設けられている。ここで、各ガイド用センサの両側に隣
接する4つの検出用センサ1a’、1b’、・・・を各
ガイド用センサ近傍の検出用センサとする。
【0014】ガイド用センサ1a、1b、・・・は、図
3に示されるように、検出用センサと同種の半導体セン
サのX線入射口にX線を吸収する材料で形成されたアブ
ソーバ11a、11b・・・を配設することにより構成
される。かかる場合、図4に示されるように検出用セン
サ出力Yk がX線の入射線量IP を境に降下または飽和
し始めるのに対して、ガイド用センサ出力YRiはアブソ
ーバ11a、11b・・・によってX線が吸収される結
果、通常の検出用センサに比べて、カーブが緩やかであ
り、その出力がカウント値YPkに達するまでは出力が低
下することはない。このため、通常の検出用センサに比
べて感度は落ちるが、非常に強いX線を識別して検出す
ることができる。ここで、アブソーバ11a、11b・
・・は、通常蒸着或いはメッキで形成されるため、薄く
てしかもX線を良く吸収する物質が望ましく、例えば、
鉛、金等がアブソーバの材料として適している。
3に示されるように、検出用センサと同種の半導体セン
サのX線入射口にX線を吸収する材料で形成されたアブ
ソーバ11a、11b・・・を配設することにより構成
される。かかる場合、図4に示されるように検出用セン
サ出力Yk がX線の入射線量IP を境に降下または飽和
し始めるのに対して、ガイド用センサ出力YRiはアブソ
ーバ11a、11b・・・によってX線が吸収される結
果、通常の検出用センサに比べて、カーブが緩やかであ
り、その出力がカウント値YPkに達するまでは出力が低
下することはない。このため、通常の検出用センサに比
べて感度は落ちるが、非常に強いX線を識別して検出す
ることができる。ここで、アブソーバ11a、11b・
・・は、通常蒸着或いはメッキで形成されるため、薄く
てしかもX線を良く吸収する物質が望ましく、例えば、
鉛、金等がアブソーバの材料として適している。
【0015】図5は、本発明の一実施例の動作を示すフ
ローチャートである。まず、被検体のX線撮影を行い、
ラインセンサ1で検出された被検体を透過したX線の測
定データを得る(S1)。演算手段3は、ガイド用セン
サ1aの測定データYRiと予め定めたカウント値YLkと
を比較し、ガイド用センサ1aの測定データYRiが予め
定めたカウント値YLkよりも大きい場合は、検出用セン
サで測定できない強いX線が入射したと判断し、S3に
進んでその近傍の検出用センサ1a’の測定データを修
正し、それ以外の場合は、測定データの修正を行わず、
S4に進む。
ローチャートである。まず、被検体のX線撮影を行い、
ラインセンサ1で検出された被検体を透過したX線の測
定データを得る(S1)。演算手段3は、ガイド用セン
サ1aの測定データYRiと予め定めたカウント値YLkと
を比較し、ガイド用センサ1aの測定データYRiが予め
定めたカウント値YLkよりも大きい場合は、検出用セン
サで測定できない強いX線が入射したと判断し、S3に
進んでその近傍の検出用センサ1a’の測定データを修
正し、それ以外の場合は、測定データの修正を行わず、
S4に進む。
【0016】ここで、ガイド用センサ1aの測定データ
YRiと比較されるカウント値YLkは、図4に示すよう
に、検出用センサ出力が極大値YPk付近を示すときのX
線の入射線量IP に対応するガイド用センサ1aの出力
値とすれば、ガイド用センサ出力値YLkを境に検出用セ
ンサが正常動作する範囲内にあるX線の入射線量である
か否かの判断が可能となる。又、検出用センサ出力が所
定のX線強度で飽和する特性を示す場合には、飽和が生
じたときの検出用センサ出力値をYPkとすればよい。
YRiと比較されるカウント値YLkは、図4に示すよう
に、検出用センサ出力が極大値YPk付近を示すときのX
線の入射線量IP に対応するガイド用センサ1aの出力
値とすれば、ガイド用センサ出力値YLkを境に検出用セ
ンサが正常動作する範囲内にあるX線の入射線量である
か否かの判断が可能となる。又、検出用センサ出力が所
定のX線強度で飽和する特性を示す場合には、飽和が生
じたときの検出用センサ出力値をYPkとすればよい。
【0017】S2で、ガイド用センサ1aの測定データ
YRiが予め定めたカウント値YLkよりも大きい場合、演
算手段3はガイド用センサ1aの近傍の検出用センサ1
a’の測定データの修正を行う。すなわち、図4におい
て、検出用センサ出力YK がYPKより大きく(X線の入
射線量がIP より大)である場合には、ガイド用センサ
の出力YRiを用いて次式により検出用センサの修正出力
Yを算出する。
YRiが予め定めたカウント値YLkよりも大きい場合、演
算手段3はガイド用センサ1aの近傍の検出用センサ1
a’の測定データの修正を行う。すなわち、図4におい
て、検出用センサ出力YK がYPKより大きく(X線の入
射線量がIP より大)である場合には、ガイド用センサ
の出力YRiを用いて次式により検出用センサの修正出力
Yを算出する。
【0018】Yk =(YPk/YLk)・YRi ここで、kは検出用センサの識別番号、iはガイド用セ
ンサの識別番号を示す変数である。
ンサの識別番号を示す変数である。
【0019】この修正出力により、X線の入射線量がI
P 以上である場合には、検出用センサの出力値は、入射
線量に応じて図4の点線に対応する値となる。なお、検
出用センサ出力の極大値YPkは検出用センサの個々の特
性によって異なり、またYLkの値も個々の検出用センサ
及びガイド用センサの個々の特性によって異なるが、こ
れらの値は、例えば、被検体が存在しない状態で曝射し
たX線の強度を徐々に増し、全て検出用センサについて
カウント値のチェックを行い、それぞれの検出用センサ
毎にYPk及びYLkの値を算出すればよい。
P 以上である場合には、検出用センサの出力値は、入射
線量に応じて図4の点線に対応する値となる。なお、検
出用センサ出力の極大値YPkは検出用センサの個々の特
性によって異なり、またYLkの値も個々の検出用センサ
及びガイド用センサの個々の特性によって異なるが、こ
れらの値は、例えば、被検体が存在しない状態で曝射し
たX線の強度を徐々に増し、全て検出用センサについて
カウント値のチェックを行い、それぞれの検出用センサ
毎にYPk及びYLkの値を算出すればよい。
【0020】次に、補正手段4は、演算手段3で修正さ
れ、あるいはそのまま出力された測定データから画像表
示用の補正データを算出し(S4)、表示手段5は、こ
の補正データに基づいて画像表示を行う(S5)。そし
て、これらの一連の動作S2〜S5をラインセンサ1に
配設された全ガイド用センサ1b,1c,・・・に対し
て行う(S6)。
れ、あるいはそのまま出力された測定データから画像表
示用の補正データを算出し(S4)、表示手段5は、こ
の補正データに基づいて画像表示を行う(S5)。そし
て、これらの一連の動作S2〜S5をラインセンサ1に
配設された全ガイド用センサ1b,1c,・・・に対し
て行う(S6)。
【0021】なお、上述した実施例では、検出用センサ
の修正出力をその近傍のガイド用センサの出力を用いて
算出したが、本発明はこれに限定されるものではなく、
例えば、一律に初期値がカウント値YPkである所定角度
の直線近似としてもよい。
の修正出力をその近傍のガイド用センサの出力を用いて
算出したが、本発明はこれに限定されるものではなく、
例えば、一律に初期値がカウント値YPkである所定角度
の直線近似としてもよい。
【0022】上述したように本発明によれば、検出用セ
ンサが検出できない強いX線が入射した場合であって
も、その近傍のガイド用センサで検出されたX線の測定
データを用いて、検出用センサの修正出力を算出し、こ
れを用いて画像表示を行うよう構成したため、従来のよ
うに検出用センサ出力の急激な低下や飽和による撮像画
像への悪影響がなくなり、アーティファクトの少ない撮
像画像を得ることができる。
ンサが検出できない強いX線が入射した場合であって
も、その近傍のガイド用センサで検出されたX線の測定
データを用いて、検出用センサの修正出力を算出し、こ
れを用いて画像表示を行うよう構成したため、従来のよ
うに検出用センサ出力の急激な低下や飽和による撮像画
像への悪影響がなくなり、アーティファクトの少ない撮
像画像を得ることができる。
【0023】図6は、本発明の他の実施例の動作を示す
フローチャートである。本実施例では、ラインセンサ1
の測定データの修正は行わずに従来と同様に2次元画像
の表示を行うと共に、あわせて、ガイド用センサで検出
されたX線の測定データに応じて、その近傍の検出用セ
ンサで検出されたX線の測定データの補正を行う場合を
示す。
フローチャートである。本実施例では、ラインセンサ1
の測定データの修正は行わずに従来と同様に2次元画像
の表示を行うと共に、あわせて、ガイド用センサで検出
されたX線の測定データに応じて、その近傍の検出用セ
ンサで検出されたX線の測定データの補正を行う場合を
示す。
【0024】まず被検体のX線撮影を行い、ラインセン
サ1で検出された被検体を透過したX線の測定データを
得た後(S11)、演算手段3による修正処理を施すこ
となくバッファメモリ1、補正手段4を介して表示手段
5に2次元画像を表示する(S12)。
サ1で検出された被検体を透過したX線の測定データを
得た後(S11)、演算手段3による修正処理を施すこ
となくバッファメモリ1、補正手段4を介して表示手段
5に2次元画像を表示する(S12)。
【0025】また、これと並行して、演算手段3は、図
5で示したフローチャートのS2、S3の手順と同様
に、バッファメモリ2から読み出したガイド用センサ1
aの測定データYRiと、予め定めたカウント値YLkとを
比較し(S13)、ガイド用センサ1aの測定データY
Riが予め定めたカウント値YLkよりも大きい場合は、さ
らに、バッファメモリ2からガイド用センサ近傍の検出
用センサ1a’の測定データを読み出して、この修正出
力を算出し、再びバッファメモリ2に記憶する(S1
4)。ガイド用センサ1aの測定データYRiが予め定め
たカウント値YLkより小さいかイコールである場合は、
測定データの修正を行わず、そのままS15に進む(S
13)。
5で示したフローチャートのS2、S3の手順と同様
に、バッファメモリ2から読み出したガイド用センサ1
aの測定データYRiと、予め定めたカウント値YLkとを
比較し(S13)、ガイド用センサ1aの測定データY
Riが予め定めたカウント値YLkよりも大きい場合は、さ
らに、バッファメモリ2からガイド用センサ近傍の検出
用センサ1a’の測定データを読み出して、この修正出
力を算出し、再びバッファメモリ2に記憶する(S1
4)。ガイド用センサ1aの測定データYRiが予め定め
たカウント値YLkより小さいかイコールである場合は、
測定データの修正を行わず、そのままS15に進む(S
13)。
【0026】そして、これらの一連の動作S13〜S1
4をラインセンサ1に配設された全ガイド用センサ1
a、1b、・・・について行った後(S15)、補正手
段4はバッファメモリ2から測定データを読み出して画
像表示用の補正データを算出して(S16)、既に表示
されている画像を再表示する(S17)。
4をラインセンサ1に配設された全ガイド用センサ1
a、1b、・・・について行った後(S15)、補正手
段4はバッファメモリ2から測定データを読み出して画
像表示用の補正データを算出して(S16)、既に表示
されている画像を再表示する(S17)。
【0027】このように、本発明の第2の実施例によれ
ば、撮影後、直ちに撮影画像を観察でき、撮影像全体の
迅速な把握できると共に、その後わずかに遅れて修正さ
れたアーティファクトのない良好な撮影像が表示される
ため、細部の診断にも支障を来さないという利点があ
る。
ば、撮影後、直ちに撮影画像を観察でき、撮影像全体の
迅速な把握できると共に、その後わずかに遅れて修正さ
れたアーティファクトのない良好な撮影像が表示される
ため、細部の診断にも支障を来さないという利点があ
る。
【0028】尚、上述した実施例では、アレイ状センサ
として、ラインセンサを用いたが、2次元センサを用い
てもよく、また、放射線として最も代表的なX線を用い
た場合について述べたが、他の放射線、例えば、γ線、
陽電子(ポジトロン)、光子(フォトン)等を用いても
よい。
として、ラインセンサを用いたが、2次元センサを用い
てもよく、また、放射線として最も代表的なX線を用い
た場合について述べたが、他の放射線、例えば、γ線、
陽電子(ポジトロン)、光子(フォトン)等を用いても
よい。
【0029】さらに、上述した実施例では、ガイド用セ
ンサとして、通常の検出用センサに鉛等の放射線を吸収
する材料からなるアブソーバを配設する構成を示した
が、図7に示すように、通常の検出用センサの出力を超
高速アンプ11bでカウントするよう構成してもよい。
これは、強いX線が入射した場合でも十分リニアリティ
ーをもってそのフォトン数をカウントできるアンプが将
来開発された場合を想定したものであり、かかる場合、
高価となる超高速アンプはガイド用センサとして少数用
いるだけで良好な画像が得られるようになり、安価なシ
ステムの提供が可能となる。
ンサとして、通常の検出用センサに鉛等の放射線を吸収
する材料からなるアブソーバを配設する構成を示した
が、図7に示すように、通常の検出用センサの出力を超
高速アンプ11bでカウントするよう構成してもよい。
これは、強いX線が入射した場合でも十分リニアリティ
ーをもってそのフォトン数をカウントできるアンプが将
来開発された場合を想定したものであり、かかる場合、
高価となる超高速アンプはガイド用センサとして少数用
いるだけで良好な画像が得られるようになり、安価なシ
ステムの提供が可能となる。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、検出用センサが正確に
検出できない強いX線が入射した場合であっても、その
近傍のガイド用センサで検出されたX線の測定データを
用いて修正されたデータを用いて画像表示を行うよう構
成したいため、従来のように検出用センサ出力の急激な
低下や飽和による撮像画像への悪影響がなくなり、X線
強度を十分高めて被検体の撮像を行う場合であっても疑
似像やアーティファクトの少ない撮像画像を得ることが
できる。
検出できない強いX線が入射した場合であっても、その
近傍のガイド用センサで検出されたX線の測定データを
用いて修正されたデータを用いて画像表示を行うよう構
成したいため、従来のように検出用センサ出力の急激な
低下や飽和による撮像画像への悪影響がなくなり、X線
強度を十分高めて被検体の撮像を行う場合であっても疑
似像やアーティファクトの少ない撮像画像を得ることが
できる。
【図1】本発明にかかる放射線撮像装置のブロック図で
ある。
ある。
【図2】本発明にかかるラインセンサの詳細を示す図で
ある。
ある。
【図3】本発明にかかるガイド用センサを示す図であ
る。
る。
【図4】検出用センサとガイド用センサにおけるX線の
入射線量と出力との関係を示す図である。
入射線量と出力との関係を示す図である。
【図5】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図6】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図7】本発明にかかるガイド用センサの他の構成例を
示す図である。
示す図である。
【図8】放射線撮像装置の概略図である。
【図9】X線検出用センサにおけるX線の入射線量と出
力との関係を示す図である。
力との関係を示す図である。
1・・・・・・ラインセンサ 2・・・・・・バッファメモリ 3・・・・・・演算手段 4・・・・・・補正手段 5・・・・・・表示手段
Claims (1)
- 【請求項1】 被検体を透過した放射線を放射線センサ
で検出し、その出力を信号処理して画像を構成する放射
線撮像装置において、 前記放射線センサを多数の放射線検出素子を一次元また
は2次元のアレイ状に並べて構成するとともに、これら
検出素子のなかにこれら素子に比べて十分強い放射線を
検出できるガイド用検出素子を1または複数個混在させ
たことを特徴とし、このガイド用検出素子の出力によっ
て入射放射線量が各検出素子の正常動作範囲内にあるか
どうかを判定し、また各検出素子の動作特性を補正する
ようにしてなる放射線撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20738894A JP3446327B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20738894A JP3446327B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0866387A true JPH0866387A (ja) | 1996-03-12 |
JP3446327B2 JP3446327B2 (ja) | 2003-09-16 |
Family
ID=16538916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20738894A Expired - Fee Related JP3446327B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3446327B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524454A (ja) * | 2002-05-03 | 2005-08-18 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 線量計を含むx線検査装置 |
JP2013500113A (ja) * | 2009-07-29 | 2013-01-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線検査装置及び方法 |
JP2019520909A (ja) * | 2016-06-29 | 2019-07-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 光子カウントコンピュータ断層撮影 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100923094B1 (ko) * | 2008-01-15 | 2009-10-22 | (주)이우테크놀로지 | 트렁케이션 아티팩트를 보정하는 방법 |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP20738894A patent/JP3446327B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524454A (ja) * | 2002-05-03 | 2005-08-18 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 線量計を含むx線検査装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3446327B2 (ja) | 2003-09-16 |
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