JPH0857433A - 永久磁石の自動選別装置 - Google Patents
永久磁石の自動選別装置Info
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- JPH0857433A JPH0857433A JP6327978A JP32797894A JPH0857433A JP H0857433 A JPH0857433 A JP H0857433A JP 6327978 A JP6327978 A JP 6327978A JP 32797894 A JP32797894 A JP 32797894A JP H0857433 A JPH0857433 A JP H0857433A
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S209/00—Classifying, separating, and assorting solids
- Y10S209/907—Magnetic feeder
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁石に対するヒステリシス曲線中２上限線の
全ての点を測定、分析して、その特性を評価することに
より、使用者が所望する特性を有する磁石のみを選別で
きるようにすると共に、磁石の測定時間を減少して測定
及び選別による生産性を向上させること。 【構成】 磁化された試料を積載させておくために上部
設置板の上部に設けられる供給部と、前記供給部に積層
された試料を順次１個ずつ分離して移送するために設け
られる移送部と、前記移送部により移送された試料の特
性を測定するため上部設置板に一対の支持棒で固定され
た下部設置板の間に設けられるテスト部と、前記テスト
部でテスト完了された試料を取り出すためテスト部と接
続するように直下方の下部設置板に設けられる取り出し
部と、前記取り出し部により取り出される試料をテスト
結果によって分類する分類部と、前記分類部により分類
された試料を込めて保管する積載部とから構成された永
久磁石の自動測定および選別装置が提供される。
全ての点を測定、分析して、その特性を評価することに
より、使用者が所望する特性を有する磁石のみを選別で
きるようにすると共に、磁石の測定時間を減少して測定
及び選別による生産性を向上させること。 【構成】 磁化された試料を積載させておくために上部
設置板の上部に設けられる供給部と、前記供給部に積層
された試料を順次１個ずつ分離して移送するために設け
られる移送部と、前記移送部により移送された試料の特
性を測定するため上部設置板に一対の支持棒で固定され
た下部設置板の間に設けられるテスト部と、前記テスト
部でテスト完了された試料を取り出すためテスト部と接
続するように直下方の下部設置板に設けられる取り出し
部と、前記取り出し部により取り出される試料をテスト
結果によって分類する分類部と、前記分類部により分類
された試料を込めて保管する積載部とから構成された永
久磁石の自動測定および選別装置が提供される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、任意の形や大きさで切
断された軟・硬磁石（以下、「磁石」という）を測定し
たり、測定された結果（品質）によって自動的に選別す
るための磁石選別装置に関するものである。
断された軟・硬磁石（以下、「磁石」という）を測定し
たり、測定された結果（品質）によって自動的に選別す
るための磁石選別装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】現在市場に流通されている磁石は、素材
の微細な特性の差により磁化された状態においてその表
面磁束密度（magnetic surface flux density ）の値が
千差万別である。従って、磁石を選別しない状態で使用
する場合、これを使用した製品（例えばヘッドフォー
ン，ＣＤプレイヤー用のアクチュエータ等）の品質を低
下させる要因となるので、均一な特性値を有する磁石の
使用が求められている。
の微細な特性の差により磁化された状態においてその表
面磁束密度（magnetic surface flux density ）の値が
千差万別である。従って、磁石を選別しない状態で使用
する場合、これを使用した製品（例えばヘッドフォー
ン，ＣＤプレイヤー用のアクチュエータ等）の品質を低
下させる要因となるので、均一な特性値を有する磁石の
使用が求められている。
【０００３】図１は、磁性材料の特性を測定するための
回路図であり、各コイル（Ｎ1 ，Ｎ 2 ）に誘起される電
圧Ｖ1 ，Ｖ2 は、次の式により求める。
回路図であり、各コイル（Ｎ1 ，Ｎ 2 ）に誘起される電
圧Ｖ1 ，Ｖ2 は、次の式により求める。
【数１】
【０００４】上記式においてＮ1 ＝Ｎ2 であれば、式
により
により
【数２】 両辺をｔに対して積分すると、
【数３】 即ち、Ｖ0 シグナル（signal）を積分すると、磁石の磁
化量（Ｍ）となる。
化量（Ｍ）となる。
【０００５】上記式において両辺積分を整理してみる
と、
と、
【数４】 即ち、Ｖ0 を積分すると、外部磁場の強さ（Ｈ）−フィ
ールド（field ）値となる。
ールド（field ）値となる。
【０００６】上記式においてパルス印加前であるの
で、ｄＨ／ｄｔ＝０となる。
で、ｄＨ／ｄｔ＝０となる。
【数５】 上記，式の結果をＭ−Ｈプロッティング（plottin
g）して、図２のようなｉＨｃ曲線を得る。なお、Ｂ＝
Ｈ＋Ｍにおいて、式に式を足すとＢ値が求められ、
これを式とＢ−Ｈプロッティング（plotting）して、
ｂＨｃ曲線を得る。
g）して、図２のようなｉＨｃ曲線を得る。なお、Ｂ＝
Ｈ＋Ｍにおいて、式に式を足すとＢ値が求められ、
これを式とＢ−Ｈプロッティング（plotting）して、
ｂＨｃ曲線を得る。
【０００７】上記式において、 Ｖ1 ，Ｖ2 ：各コイルに誘起された電圧 Ｖ0 ：Ｖ1 ＋Ｖ2 Ａ：コイルの断面積 Ａｍ：磁石の断面積 Ｎ1 ，Ｎ2 ：各コイルの捲回数 Ｍ：磁石の磁化量 Ｈ：外部磁場の強さ ｔ：時間 Ｍｏ（Ｊｏ）：磁石の磁化量としての初期値（残留磁束
密度Ｂｒ）である。
密度Ｂｒ）である。
【０００８】上記式によれば、一般的な磁性体は外部か
ら印加される磁界と磁石の磁化量（自発磁化）の間にヒ
ステリシス現象が現れることが分かる。
ら印加される磁界と磁石の磁化量（自発磁化）の間にヒ
ステリシス現象が現れることが分かる。
【０００９】図２は、図２上限線の曲線のみを示したヒ
ステリシス曲線を示したグラフである。前記ヒステリシ
ス曲線中２上限（即ち、外部から印加された磁界が磁石
から出てくる磁力線の方向と反対である場合）の特性を
分析することで、その磁石（軽磁石の場合にもっと有
利）の特性が分かる。
ステリシス曲線を示したグラフである。前記ヒステリシ
ス曲線中２上限（即ち、外部から印加された磁界が磁石
から出てくる磁力線の方向と反対である場合）の特性を
分析することで、その磁石（軽磁石の場合にもっと有
利）の特性が分かる。
【００１０】図２において、ｉＨｃ曲線は外部磁界
（Ｈ）に対する「磁石自体の磁化量」の関係を示した曲
線であり、ｂＨｃ曲線は外部磁界（Ｈ）に対する「磁石
自体の特性と外部から印加された磁界とを共に考慮した
特性（磁石自体の特性＋外部磁界）」を示した曲線であ
る。
（Ｈ）に対する「磁石自体の磁化量」の関係を示した曲
線であり、ｂＨｃ曲線は外部磁界（Ｈ）に対する「磁石
自体の特性と外部から印加された磁界とを共に考慮した
特性（磁石自体の特性＋外部磁界）」を示した曲線であ
る。
【００１１】磁石の磁束密度は、その磁石の形態及び周
囲環境（例えば：磁石にヨークを付着）によって決定さ
れる。このような条件を考慮して決定される直線がパー
ミアンス・ライン（permeance line）（以下、Ｐライン
という）であり、図２においてｐ1 ，ｐ2 線である。こ
の時、磁石から発生される磁束密度の大きさは、ｂＨｃ
曲線とｐラインの交点に対する（Ｂ）値である。
囲環境（例えば：磁石にヨークを付着）によって決定さ
れる。このような条件を考慮して決定される直線がパー
ミアンス・ライン（permeance line）（以下、Ｐライン
という）であり、図２においてｐ1 ，ｐ2 線である。こ
の時、磁石から発生される磁束密度の大きさは、ｂＨｃ
曲線とｐラインの交点に対する（Ｂ）値である。
【００１２】例えば、裸磁石状態でｐラインが図２にお
いてのｐ1 であれば、前記磁石から発生される表面磁束
密度の大きさはＢ1 となる。しかし、一般的に磁石を応
用する時には、例えば、モータ，スピーカー等において
は、磁石にヨークを付着してｐラインを大きくすること
で、表面磁束密度の大きさを増大させる。この時ｐライ
ンが図２においてのｐ2 であれば、磁石の表面磁束密度
の大きさはＢ2 となる。即ち、Ｂ1 からＢ2 へ磁束密度
値が大きくなる。
いてのｐ1 であれば、前記磁石から発生される表面磁束
密度の大きさはＢ1 となる。しかし、一般的に磁石を応
用する時には、例えば、モータ，スピーカー等において
は、磁石にヨークを付着してｐラインを大きくすること
で、表面磁束密度の大きさを増大させる。この時ｐライ
ンが図２においてのｐ2 であれば、磁石の表面磁束密度
の大きさはＢ2 となる。即ち、Ｂ1 からＢ2 へ磁束密度
値が大きくなる。
【００１３】図２でｉＨｃ曲線とｂＨｃ曲線がＨ軸と交
差する点のＨ値を保磁力といい、ｉＨｃないしｂＨｃと
示す。従来は、均一な特性の磁石を評価、選別するた
め、作業者が別の測定器を利用、手作業で裸磁石または
装着された状態で表面磁束密度及び磁束を測定し、ヒス
テリシス曲線上で１〜２点（point ）に対する特性値で
全体特性値を代表して示した。
差する点のＨ値を保磁力といい、ｉＨｃないしｂＨｃと
示す。従来は、均一な特性の磁石を評価、選別するた
め、作業者が別の測定器を利用、手作業で裸磁石または
装着された状態で表面磁束密度及び磁束を測定し、ヒス
テリシス曲線上で１〜２点（point ）に対する特性値で
全体特性値を代表して示した。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】前記測定方法は、ヒス
テリシス曲線上の１〜２点を代表して評価及び選別する
ので、その磁石を実際応用した時の表面磁束密度Ｂ2 と
は多くの差がある。これにより、磁石の磁性評価に対す
る全体的な特性を代表し得ない問題点を有するようにな
る。なぜなら、ヒステリシス曲線の中からｐラインであ
るＢ1 値のみ測定したからである。
テリシス曲線上の１〜２点を代表して評価及び選別する
ので、その磁石を実際応用した時の表面磁束密度Ｂ2 と
は多くの差がある。これにより、磁石の磁性評価に対す
る全体的な特性を代表し得ない問題点を有するようにな
る。なぜなら、ヒステリシス曲線の中からｐラインであ
るＢ1 値のみ測定したからである。
【００１５】上記したように、測定する機器としては、
精密測定機器が広く知れているが、品質管理するには、
処理速度が非常に遅く、１〜２日を要し、印加できる磁
界が２０ＫＯｅ程度で低く、使用できる実情ではない。
なお、前記測定を完了した後、その結果による分類作業
を手作業で行うが、これにより磁石の分類作業による生
産性が低下した。
精密測定機器が広く知れているが、品質管理するには、
処理速度が非常に遅く、１〜２日を要し、印加できる磁
界が２０ＫＯｅ程度で低く、使用できる実情ではない。
なお、前記測定を完了した後、その結果による分類作業
を手作業で行うが、これにより磁石の分類作業による生
産性が低下した。
【００１６】本発明は、上記のいろいろな問題点を解決
するために、磁石に対するヒステリシス曲線中の２上限
線の全ての点を測定、分析して、その特性を評価するこ
とで、使用者が所望する特性を有する磁石のみを選別で
きるようにすると共に、磁石の測定時間を減少して測定
及び選別による生産性を向上させることにその目的があ
る。
するために、磁石に対するヒステリシス曲線中の２上限
線の全ての点を測定、分析して、その特性を評価するこ
とで、使用者が所望する特性を有する磁石のみを選別で
きるようにすると共に、磁石の測定時間を減少して測定
及び選別による生産性を向上させることにその目的があ
る。
【００１７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の形態によれば、磁化された試料を積載させて
おくために上部設置板の上部に設けられる供給部と、前
記供給部に積層された試料を順次１個ずつ分離して移送
するために設けられる移送部と、前記移送部により送ら
れた試料の特性を測定するため上部設置板に一対の支持
棒で固定された下部設置板の間に設けられるテスト部
と、前記テスト部でテスト完了された試料を取り出すた
めテスト部と接続するように直下方の下部設置板に設け
られる取り出し部と、前記取り出し部により取り出され
る試料をテスト結果によって分類する分類部と、前記分
類部により分類された試料を込めて保管する積載部とか
ら構成された永久磁石の自動測定及び選別装置が提供さ
れる。
の本発明の形態によれば、磁化された試料を積載させて
おくために上部設置板の上部に設けられる供給部と、前
記供給部に積層された試料を順次１個ずつ分離して移送
するために設けられる移送部と、前記移送部により送ら
れた試料の特性を測定するため上部設置板に一対の支持
棒で固定された下部設置板の間に設けられるテスト部
と、前記テスト部でテスト完了された試料を取り出すた
めテスト部と接続するように直下方の下部設置板に設け
られる取り出し部と、前記取り出し部により取り出され
る試料をテスト結果によって分類する分類部と、前記分
類部により分類された試料を込めて保管する積載部とか
ら構成された永久磁石の自動測定及び選別装置が提供さ
れる。
【００１８】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面を参照し
て説明する。図３は、本発明の要部を示した斜視図であ
り、本発明は、供給部，移送部，テスト部，取り出し
部，分類部，積載部の６つの主要部分から構成する。本
発明は磁化された磁石をテストする装置であるため、磁
石と接触する構成部材は非磁性体で形成する。供給部の
構成は図３ないし図５に示す。
て説明する。図３は、本発明の要部を示した斜視図であ
り、本発明は、供給部，移送部，テスト部，取り出し
部，分類部，積載部の６つの主要部分から構成する。本
発明は磁化された磁石をテストする装置であるため、磁
石と接触する構成部材は非磁性体で形成する。供給部の
構成は図３ないし図５に示す。
【００１９】多くの束の試料１を積層された状態で入れ
ておく試料積載管２に前記試料積載管の下部を閉鎖させ
る安着板３を固定する。前記安着板３には、テストされ
る一束の試料１が通過されるよう試料供給通路３ａを形
成する。
ておく試料積載管２に前記試料積載管の下部を閉鎖させ
る安着板３を固定する。前記安着板３には、テストされ
る一束の試料１が通過されるよう試料供給通路３ａを形
成する。
【００２０】前記試料積載管２に入れられる試料は、下
端がＮ極、上端はＳ極に向かうようにする。これは、一
束の試料が試料供給通路３ａを通じて移送完了される
と、その消尽された束の最上端はＳ極になるので、試料
積載管２内に位置された隣の束のいずれか一つを引き寄
せることが出来るようにするためである。なぜなら、そ
の隣の束の下端はＮ極であり、消尽されて試料供給通路
３ａの上端に露出された試料の上端はＳ極となるので、
磁石の引力作用により互いに引き寄せるためである。こ
れにより試料積載管２内に入れられた試料束を順次供給
できるようになる。
端がＮ極、上端はＳ極に向かうようにする。これは、一
束の試料が試料供給通路３ａを通じて移送完了される
と、その消尽された束の最上端はＳ極になるので、試料
積載管２内に位置された隣の束のいずれか一つを引き寄
せることが出来るようにするためである。なぜなら、そ
の隣の束の下端はＮ極であり、消尽されて試料供給通路
３ａの上端に露出された試料の上端はＳ極となるので、
磁石の引力作用により互いに引き寄せるためである。こ
れにより試料積載管２内に入れられた試料束を順次供給
できるようになる。
【００２１】前記安着板３の上面に図５のように試料供
給通路３ａ側に下向傾斜面３ｂを形成すると、試料供給
通路３ａの隣に位置した試料束が引力作用により引っ張
られる時、下向傾斜面３ｂに沿って滑りながら試料供給
通路３ａ側へより容易に引っ張られるようになる。
給通路３ａ側に下向傾斜面３ｂを形成すると、試料供給
通路３ａの隣に位置した試料束が引力作用により引っ張
られる時、下向傾斜面３ｂに沿って滑りながら試料供給
通路３ａ側へより容易に引っ張られるようになる。
【００２２】もし、未磁化の素材を順次供給して磁化さ
せた後、これを測定及び選別するためには、図４のよう
に供給部の一側へ未磁化の素材を順次移送するパーツ・
フィーダーを設ける。供給部の試料積載管２上部にパー
ツ・フィーダー４の端と連結されるように供給ガイド５
を設け、前記供給ガイドの上部に近接センサ６を設け、
供給ガイドの外側には一定の間隔でパルス形態の磁界を
印加する磁化コイル７を設ける。
せた後、これを測定及び選別するためには、図４のよう
に供給部の一側へ未磁化の素材を順次移送するパーツ・
フィーダーを設ける。供給部の試料積載管２上部にパー
ツ・フィーダー４の端と連結されるように供給ガイド５
を設け、前記供給ガイドの上部に近接センサ６を設け、
供給ガイドの外側には一定の間隔でパルス形態の磁界を
印加する磁化コイル７を設ける。
【００２３】従って、供給ガイド５内に磁化された試料
がない場合には、近接センサ６がこれを感知して、機器
のテスト動作を中断させると共にパーツ・フィーダー４
を動作させ、供給ガイド５内に未磁化の素材が供給され
るようにする。
がない場合には、近接センサ６がこれを感知して、機器
のテスト動作を中断させると共にパーツ・フィーダー４
を動作させ、供給ガイド５内に未磁化の素材が供給され
るようにする。
【００２４】図５のように安着板３に形成された試料供
給通路３ａの下部に、試料１が供給される試料供給管８
の上部を互いに通じるように連結固定して、一定量の試
料（試料供給管の高さだけ）が移送部へ供給されるよう
にする。
給通路３ａの下部に、試料１が供給される試料供給管８
の上部を互いに通じるように連結固定して、一定量の試
料（試料供給管の高さだけ）が移送部へ供給されるよう
にする。
【００２５】前記移送部の構成を説明すると、前記試料
供給管８の下部が固定される固定板９をスペーサ１１で
上部設置板１０に一定間隔を維持するように固定し、前
記固定板９の一側には試料分離孔１２ａが形成されたス
ライダ１２を進退可能に設ける。
供給管８の下部が固定される固定板９をスペーサ１１で
上部設置板１０に一定間隔を維持するように固定し、前
記固定板９の一側には試料分離孔１２ａが形成されたス
ライダ１２を進退可能に設ける。
【００２６】前記スライダ１２の上部には、試料分離孔
１２ａと同心円を成す穴１３ａが形成された試料分離板
１３をボルト１４で着脱可能に固定する。前記スライダ
１２は、上部設置板１０にブラケット１５で固定された
第１シリンダ１６のロードと固定して、第１シリンダの
動作によりスペーサ１１の間を通過しながら試料分離孔
１２ａ内の試料を１個ずつ分離させるようにする。
１２ａと同心円を成す穴１３ａが形成された試料分離板
１３をボルト１４で着脱可能に固定する。前記スライダ
１２は、上部設置板１０にブラケット１５で固定された
第１シリンダ１６のロードと固定して、第１シリンダの
動作によりスペーサ１１の間を通過しながら試料分離孔
１２ａ内の試料を１個ずつ分離させるようにする。
【００２７】前記試料分離板１３の両側面はスペーサ１
１と接続し、上面は固定板９の下面と接触するように設
け、スライダ１２は上部設置板１０に形成された突出片
１０ａにガイドされ、進退運動するように設ける。前記
スライダ１２が設けられた上部設置板１０の他の側に
は、試料の直径より大きい試料投入通路１７ａが形成さ
れた試料投入板１７を着脱可能に固定する。
１と接続し、上面は固定板９の下面と接触するように設
け、スライダ１２は上部設置板１０に形成された突出片
１０ａにガイドされ、進退運動するように設ける。前記
スライダ１２が設けられた上部設置板１０の他の側に
は、試料の直径より大きい試料投入通路１７ａが形成さ
れた試料投入板１７を着脱可能に固定する。
【００２８】供給部及び移送部の試料供給管８とスペー
サ１１、試料分離板１３そして試料投入板１７は、測定
する試料の直径あるいは厚さにより上部設置板１０に適
切に交替して使用する。
サ１１、試料分離板１３そして試料投入板１７は、測定
する試料の直径あるいは厚さにより上部設置板１０に適
切に交替して使用する。
【００２９】図６は、本発明のテスト部及び取り出し部
を示した縦断面図である。前記移送部で移送された試料
１をガイドするために、試料投入通路１７ａと一致する
ように上部設置板１０に試料供給投入管１８の上端を螺
挿で固定し、下端は支持棒２０ａに締結部材で固定す
る。前記締結部材は、ボルト２１及びナット２２で固定
された締結バー２３とＵボルト２４及びナット２５を使
用する。
を示した縦断面図である。前記移送部で移送された試料
１をガイドするために、試料投入通路１７ａと一致する
ように上部設置板１０に試料供給投入管１８の上端を螺
挿で固定し、下端は支持棒２０ａに締結部材で固定す
る。前記締結部材は、ボルト２１及びナット２２で固定
された締結バー２３とＵボルト２４及びナット２５を使
用する。
【００３０】前記試料供給投入管１８の上側に第１次感
知コイル２６を設け、試料通過時誘起される電圧で磁化
量としての初期値を測定する。前記試料供給管１８の最
下端の外側には、第２次感知コイル２７を設け、投入さ
れた試料に逆方向に磁界が印加される時誘起される電圧
で磁化量変化を測定する。
知コイル２６を設け、試料通過時誘起される電圧で磁化
量としての初期値を測定する。前記試料供給管１８の最
下端の外側には、第２次感知コイル２７を設け、投入さ
れた試料に逆方向に磁界が印加される時誘起される電圧
で磁化量変化を測定する。
【００３１】前記第２次感知コイル２７の一側に第３次
感知コイル２８を設け、外部から印加された磁界の変化
が電圧で誘起される時印加された外部磁界に対する磁界
の大きさを求める。前記第２，３次感知コイル２７，２
８の外側には、試料のテストの時パルス状の外部磁界を
印加する外部磁界印加コイル２９を設ける。前記第２，
３次感知コイルは外部磁界印加コイル２９に、支持され
るように設け、外部磁界印加コイル２９は、下部設置板
１９に固定された固定棒３０にバンド１７で締結する。
感知コイル２８を設け、外部から印加された磁界の変化
が電圧で誘起される時印加された外部磁界に対する磁界
の大きさを求める。前記第２，３次感知コイル２７，２
８の外側には、試料のテストの時パルス状の外部磁界を
印加する外部磁界印加コイル２９を設ける。前記第２，
３次感知コイルは外部磁界印加コイル２９に、支持され
るように設け、外部磁界印加コイル２９は、下部設置板
１９に固定された固定棒３０にバンド１７で締結する。
【００３２】前記第１，２，３次感知コイル２６，２
７，２８から感知された各電圧は、コンヒュータまたは
積分回路により波形を時間に対して積分し、試料の特性
（残留磁束密度，抗磁力，最大エネルギー量）を判断す
る。
７，２８から感知された各電圧は、コンヒュータまたは
積分回路により波形を時間に対して積分し、試料の特性
（残留磁束密度，抗磁力，最大エネルギー量）を判断す
る。
【００３３】前記電圧を積分する時、コンピュータを利
用する場合、信号値を一定の時間間隔でＤ／Ａコンバー
タを通じて受け入れられ、信号の大きさとその時間間隔
を掛けてから、これらの値を累積させ算出する。なお、
積分回路を利用する場合には、各時刻に測定された値が
その時刻までの積分値となる。この以外には波形を時間
に対して積分する時、半導体素子またはプログラマブル
・ロジック・コントローラ（Programmable Logic Contr
oller)（ＰＬＣ）が利用できることは勿論である。
用する場合、信号値を一定の時間間隔でＤ／Ａコンバー
タを通じて受け入れられ、信号の大きさとその時間間隔
を掛けてから、これらの値を累積させ算出する。なお、
積分回路を利用する場合には、各時刻に測定された値が
その時刻までの積分値となる。この以外には波形を時間
に対して積分する時、半導体素子またはプログラマブル
・ロジック・コントローラ（Programmable Logic Contr
oller)（ＰＬＣ）が利用できることは勿論である。
【００３４】上記したように、テスト完了の試料を取り
出す取り出し部構造は、次の通りである。初期状態に試
料供給管１８とずれて位置する試料排出通路３１ａが形
成された回転棒３１を下部設置板１９に回転可能に設け
る。これにより試料供給投入管１８を通じて投入された
試料１は、テストの時、回転棒３１の上部に載せられる
ようになる。
出す取り出し部構造は、次の通りである。初期状態に試
料供給管１８とずれて位置する試料排出通路３１ａが形
成された回転棒３１を下部設置板１９に回転可能に設け
る。これにより試料供給投入管１８を通じて投入された
試料１は、テストの時、回転棒３１の上部に載せられる
ようになる。
【００３５】前記下部設置板１９に回転可能に設けられ
る回転棒３１の上部は、支持棒２０ａに固定された他の
締結バー３２で支持し、下部は下部設置板１９の固定さ
れたベアリング３３で支持する。前記回転棒３１の上部
は下部設置板１９に固定されたベアリング３３に結合す
る。
る回転棒３１の上部は、支持棒２０ａに固定された他の
締結バー３２で支持し、下部は下部設置板１９の固定さ
れたベアリング３３で支持する。前記回転棒３１の上部
は下部設置板１９に固定されたベアリング３３に結合す
る。
【００３６】前記回転棒３１には図３に示したように、
回転棒を１８０°回転させるためピニオン３４を回転棒
３１と一体となるように固定する。前記ピニオン３４の
一側にピニオンと噛み合って進退運動するラック３５を
設け、前記ラックはブラケット３６に固定された第２シ
リンダー３７のロードと固定する。
回転棒を１８０°回転させるためピニオン３４を回転棒
３１と一体となるように固定する。前記ピニオン３４の
一側にピニオンと噛み合って進退運動するラック３５を
設け、前記ラックはブラケット３６に固定された第２シ
リンダー３７のロードと固定する。
【００３７】前記第２シリンダー３７の動作によってラ
ック３５が安定的に進退運動されるように図７のように
ラック３５の一側にガイド突起３５ａを形成し、下部設
置板１９にはガイド突起が嵌め込まれるガイドレール３
８を設け、前記ラック３５がガイドレール３８にガイド
されて摺動運動するようにする。
ック３５が安定的に進退運動されるように図７のように
ラック３５の一側にガイド突起３５ａを形成し、下部設
置板１９にはガイド突起が嵌め込まれるガイドレール３
８を設け、前記ラック３５がガイドレール３８にガイド
されて摺動運動するようにする。
【００３８】この際、前記回転棒３１は非磁性体である
合成樹脂材で、ピニオン３４は金属材質であるステイン
レスで形成する。これは、試料が磁性体なので、テスト
時、移送をなだらかにするためであり、長期間繰り返し
使用時にもピニオン３４が磨耗されないようにするため
である。
合成樹脂材で、ピニオン３４は金属材質であるステイン
レスで形成する。これは、試料が磁性体なので、テスト
時、移送をなだらかにするためであり、長期間繰り返し
使用時にもピニオン３４が磨耗されないようにするため
である。
【００３９】前記テスト部の試料供給投入管１８と垂直
線上に位置する下部設置板１９に試料を排出するための
排出管３９を固定する。これは、テスト完了後、回転棒
３１が１８０°回転され、試料供給投入管１８と試料排
出通路３１ａ、そして排出管３９が一直線上に位置する
時、回転棒３１の上部に載せていた試料１が排出される
ようにするためである。
線上に位置する下部設置板１９に試料を排出するための
排出管３９を固定する。これは、テスト完了後、回転棒
３１が１８０°回転され、試料供給投入管１８と試料排
出通路３１ａ、そして排出管３９が一直線上に位置する
時、回転棒３１の上部に載せていた試料１が排出される
ようにするためである。
【００４０】図８は、本発明の分類部及び積載部を示し
た縦断面図である。前記テスト部により試料の特性を測
定して選別する分類部は、前記取り出し部の排出管３９
と嵌め込まれるようにセレクションフード（selection
hood）４０を設け、上部一端を下部設置板１９とスプリ
ング４１で連結し、下部は第３シリンダー４２のロード
とヒンジ結合する。
た縦断面図である。前記テスト部により試料の特性を測
定して選別する分類部は、前記取り出し部の排出管３９
と嵌め込まれるようにセレクションフード（selection
hood）４０を設け、上部一端を下部設置板１９とスプリ
ング４１で連結し、下部は第３シリンダー４２のロード
とヒンジ結合する。
【００４１】前記セレクションフード４０を測定結果に
よって移送する第３シリンダ４２の外周面には、図９の
ように２個のＬＥＤ４３を一定間隔で固定する。これは
取り出し部の回転棒３１が回転される前にセレクション
フード４０が第３シリンダー４２の動作に移動時、移動
される位置によりＬＥＤ４３が点灯するようにすること
で、作業者がセレクションフード４０の位置を肉眼で識
別するためである。
よって移送する第３シリンダ４２の外周面には、図９の
ように２個のＬＥＤ４３を一定間隔で固定する。これは
取り出し部の回転棒３１が回転される前にセレクション
フード４０が第３シリンダー４２の動作に移動時、移動
される位置によりＬＥＤ４３が点灯するようにすること
で、作業者がセレクションフード４０の位置を肉眼で識
別するためである。
【００４２】前記セレクションフード４０により分類さ
れた試料を込めて保管する積載部の構成は、次のようで
ある。上部が開放された箱状の積載函４４をセレクショ
ンフード４０の下方に位置するよう設け、前記積載函の
内部に無数に小さい透孔４５ａが形成された複数個の分
類箱４５を着脱可能に位置させる。
れた試料を込めて保管する積載部の構成は、次のようで
ある。上部が開放された箱状の積載函４４をセレクショ
ンフード４０の下方に位置するよう設け、前記積載函の
内部に無数に小さい透孔４５ａが形成された複数個の分
類箱４５を着脱可能に位置させる。
【００４３】前記積載函４４の内部に２５０〜４５０℃
程度の温度を維持するオイル４６を込めておく。前記分
類箱４５に透孔４５ａを形成する理由は、オイル４６が
分類箱の内部へ流入されるようにするためである。な
お、積載函４４内に２５０〜４５０℃のオイルを込めて
おく理由は、測定が完了された試料を完全脱磁させると
同時に試料が分類箱４５内に自由落下し込められる時、
分類箱内にあった他の試料と人力により互いにぶつかっ
て破壊されるのを防止するためである。
程度の温度を維持するオイル４６を込めておく。前記分
類箱４５に透孔４５ａを形成する理由は、オイル４６が
分類箱の内部へ流入されるようにするためである。な
お、積載函４４内に２５０〜４５０℃のオイルを込めて
おく理由は、測定が完了された試料を完全脱磁させると
同時に試料が分類箱４５内に自由落下し込められる時、
分類箱内にあった他の試料と人力により互いにぶつかっ
て破壊されるのを防止するためである。
【００４４】このように構成された本発明は、初期に試
料積載管２内に多くの束の積層された試料を入れて、こ
の中から一束が試料供給管８を通じて試料分離孔１２ａ
内に嵌め込められた状態で機器を作動させるものであ
り、その作用効果を説明すると次のようである。
料積載管２内に多くの束の積層された試料を入れて、こ
の中から一束が試料供給管８を通じて試料分離孔１２ａ
内に嵌め込められた状態で機器を作動させるものであ
り、その作用効果を説明すると次のようである。
【００４５】図１０は、本発明の作動状態を説明するた
めのフローチャートである。本発明は、試料積載管２内
に磁化された試料が挿入されていない状態で、図４のよ
うに本発明の装置一側に設けたパーツ・フィーダー４が
動作すると、未磁化の試料がガイド５内に順次供給され
て一列に積層される。これにより供給された試料がＮ個
以上であることを別のセンサ（図示は省略する）が感知
すると、磁化コイル７に磁化信号をしてパルス信号を発
生させるようになるので、試料に磁化が成されるように
なる。
めのフローチャートである。本発明は、試料積載管２内
に磁化された試料が挿入されていない状態で、図４のよ
うに本発明の装置一側に設けたパーツ・フィーダー４が
動作すると、未磁化の試料がガイド５内に順次供給され
て一列に積層される。これにより供給された試料がＮ個
以上であることを別のセンサ（図示は省略する）が感知
すると、磁化コイル７に磁化信号をしてパルス信号を発
生させるようになるので、試料に磁化が成されるように
なる。
【００４６】前記のように、未磁化の試料を磁化させた
後テストをしたり、図３に示した試料積載管２内に多く
の束の試料を入れてテストをする時には、下端がＮ極、
上端がＳ極に向かうように多くの束の試料を試料積載管
２内に入れる。前記試料積載管２内に入れる試料束の中
の一束は試料供給管８を通じて摺動１２の試料分離孔１
２ａ内に位置されるようにした後、テストを実施する。
後テストをしたり、図３に示した試料積載管２内に多く
の束の試料を入れてテストをする時には、下端がＮ極、
上端がＳ極に向かうように多くの束の試料を試料積載管
２内に入れる。前記試料積載管２内に入れる試料束の中
の一束は試料供給管８を通じて摺動１２の試料分離孔１
２ａ内に位置されるようにした後、テストを実施する。
【００４７】このような状態でブラケット１５に固定設
置された第１シリンダー１６が動作して、図５の一点鎖
線のようにスライダ１２を図面上、左側に移動させる
と、試料分離板１３が積層された試料束から一つの試料
１が分離される。前記動作の時試料供給管８内に位置し
た余りの試料束の中の最下端面は、試料分離板１３の上
面に載せられるので位置が変化されない。
置された第１シリンダー１６が動作して、図５の一点鎖
線のようにスライダ１２を図面上、左側に移動させる
と、試料分離板１３が積層された試料束から一つの試料
１が分離される。前記動作の時試料供給管８内に位置し
た余りの試料束の中の最下端面は、試料分離板１３の上
面に載せられるので位置が変化されない。
【００４８】前記動作でスライダ１２が移送して、試料
分離孔１２ａが試料投入板１７に形成された試料投入通
路１７ａと一致すると、試料分離孔１２ａ内にあった試
料は自重により試料供給投入管１８側に自由落下する。
このように分離された一つの試料を試料投入通路１７ａ
を通じて試料供給投入管１８側に供給した後には、第１
シリンダー１６の復帰動作によりスライダ１２が初期状
態に戻る。
分離孔１２ａが試料投入板１７に形成された試料投入通
路１７ａと一致すると、試料分離孔１２ａ内にあった試
料は自重により試料供給投入管１８側に自由落下する。
このように分離された一つの試料を試料投入通路１７ａ
を通じて試料供給投入管１８側に供給した後には、第１
シリンダー１６の復帰動作によりスライダ１２が初期状
態に戻る。
【００４９】これによりスライダ１２に形成された試料
分離孔１２ａが試料供給管８内にあった試料束と一致す
るので、最下方に位置した試料が自重により試料分離孔
１２ａ内に挿入される。
分離孔１２ａが試料供給管８内にあった試料束と一致す
るので、最下方に位置した試料が自重により試料分離孔
１２ａ内に挿入される。
【００５０】前記スライダ１２の繰り返し動作により試
料積載管２内にあった一束の試料が順次供給され、最上
方に位置した試料の上面が安着板３の上面と一致する
と、安着板３と一致した試料の上面はＳ極をかかってお
り、隣に位置した他の束の最下端に位置した試料の下面
はＮ極をかかっているので、隣に位置した試料の束が人
力作用により引かれて、試料供給管２内に位置した試料
と垂直線上に載せられるようになる。
料積載管２内にあった一束の試料が順次供給され、最上
方に位置した試料の上面が安着板３の上面と一致する
と、安着板３と一致した試料の上面はＳ極をかかってお
り、隣に位置した他の束の最下端に位置した試料の下面
はＮ極をかかっているので、隣に位置した試料の束が人
力作用により引かれて、試料供給管２内に位置した試料
と垂直線上に載せられるようになる。
【００５１】前記原理により試料積載管２内にあった試
料が消尽されるまで、試料を続けて試料供給管側に供給
させることが出来るようになる。このように隣の試料束
が人力作用により引かれる時、前記安着板３の上面に試
料供給通路３ａ側へ下向傾斜面３ｂが形成されていて、
試料束が自重により滑って試料供給管８に位置した試料
束の最近接部に常に位置するので、試料の供給がもっと
円滑になる。
料が消尽されるまで、試料を続けて試料供給管側に供給
させることが出来るようになる。このように隣の試料束
が人力作用により引かれる時、前記安着板３の上面に試
料供給通路３ａ側へ下向傾斜面３ｂが形成されていて、
試料束が自重により滑って試料供給管８に位置した試料
束の最近接部に常に位置するので、試料の供給がもっと
円滑になる。
【００５２】前記移送部の動作で供給部にあった一つの
試料を図６のように試料供給投入管１８へ自由落下させ
ると、試料が試料供給投入管１８の上部外側に設けられ
た第１次感知コイル２６を通過するようになるので、第
１次感知コイル２６が磁石の磁化量初期値である残留磁
束密度Ｂｒを測定するようになる。
試料を図６のように試料供給投入管１８へ自由落下させ
ると、試料が試料供給投入管１８の上部外側に設けられ
た第１次感知コイル２６を通過するようになるので、第
１次感知コイル２６が磁石の磁化量初期値である残留磁
束密度Ｂｒを測定するようになる。
【００５３】第１次感知コイル２６に試料が通過される
時、前記第１コイルに誘起される電圧は、大略１サイク
ル（cycle ）の正弦波形である。これにより“＋”また
は“−”の波形を積分回路またはコンピュータ等を利用
して時間に対して積分することで、残留磁束密度が算出
される。
時、前記第１コイルに誘起される電圧は、大略１サイク
ル（cycle ）の正弦波形である。これにより“＋”また
は“−”の波形を積分回路またはコンピュータ等を利用
して時間に対して積分することで、残留磁束密度が算出
される。
【００５４】上記のように試料供給投入管１８を通じて
自由落下しながら残留磁束密度を測定し、試料１が試料
供給投入函１８の下端に位置すると、試料排出通路３１
ａが試料供給投入管１８と１８０°位相差を有するよう
に回転棒３１が位置するので、試料１は回転棒３１の上
部に載せられるようになる。
自由落下しながら残留磁束密度を測定し、試料１が試料
供給投入函１８の下端に位置すると、試料排出通路３１
ａが試料供給投入管１８と１８０°位相差を有するよう
に回転棒３１が位置するので、試料１は回転棒３１の上
部に載せられるようになる。
【００５５】試料１が試料供給投入管１８の下部に位置
するように回転棒３１に載せられた状態で、第２次感知
コイル２７は逆方向の磁界が試料に印加され、試料の磁
化量が変わる時、変化される様相を電圧の形で感知する
ので、残留磁束密度の測定じと同様に積分して、試料に
対する磁化量変化の大きさを求めるようになる。
するように回転棒３１に載せられた状態で、第２次感知
コイル２７は逆方向の磁界が試料に印加され、試料の磁
化量が変わる時、変化される様相を電圧の形で感知する
ので、残留磁束密度の測定じと同様に積分して、試料に
対する磁化量変化の大きさを求めるようになる。
【００５６】上記のように、試料の特性を測定する時、
試料供給投入管１８の下部外側に囲まれるように設けら
れた外部磁界印加コイル２９によりパルス電圧が印加さ
れると、第３次感知コイル２８が外部から印加された外
部磁界に対する磁界の大きさを算出するようになる。
試料供給投入管１８の下部外側に囲まれるように設けら
れた外部磁界印加コイル２９によりパルス電圧が印加さ
れると、第３次感知コイル２８が外部から印加された外
部磁界に対する磁界の大きさを算出するようになる。
【００５７】この時加えられる印加磁界は、パルス状
（約１０００〜１００００μｓｅｃ）であるので、測定
時間が非常に短くて処理時間が早くなり、パルス発生装
置に無理なく大きい磁界（３０ＫＯｅ以上）を発生させ
ることが出来るようになる。
（約１０００〜１００００μｓｅｃ）であるので、測定
時間が非常に短くて処理時間が早くなり、パルス発生装
置に無理なく大きい磁界（３０ＫＯｅ以上）を発生させ
ることが出来るようになる。
【００５８】前記テスト部により一つの試料に対する特
性を測定した後は、コンピュータが測定による結果を分
析してこれを選別するようになる。試料を選別するため
に、測定された結果により第３シリンダー４２が動作し
て、排出管３９に嵌め込まれたセレクションフード４０
を移動させ、出口を積載函４４内に位置した多数個の分
類箱４５のいずれか一つの分類箱と一致させる。
性を測定した後は、コンピュータが測定による結果を分
析してこれを選別するようになる。試料を選別するため
に、測定された結果により第３シリンダー４２が動作し
て、排出管３９に嵌め込まれたセレクションフード４０
を移動させ、出口を積載函４４内に位置した多数個の分
類箱４５のいずれか一つの分類箱と一致させる。
【００５９】上記したように、第３シリンダー４２の動
作によりセレクションフード４０が位置する箇所は、図
９のように第３シリンダーの外周面に固定された２個の
ＬＥＤ４３中のいずれか一つのＬＥＤが点灯することに
より、作業者が良品か又は不良品で分類されるかを肉眼
で識別可能になる。
作によりセレクションフード４０が位置する箇所は、図
９のように第３シリンダーの外周面に固定された２個の
ＬＥＤ４３中のいずれか一つのＬＥＤが点灯することに
より、作業者が良品か又は不良品で分類されるかを肉眼
で識別可能になる。
【００６０】テスト結果によって試料を分類するセレク
ションフード４０の移送が完了されたら、試料供給投入
管１８の下端にブラケット３６で設けられた第２シリン
ダー３７が動作する。これにより第２シリンダー３７の
ロードと固定されたラック３５がガイドレール３８にガ
イドされて移動するので、ラック３５と噛み合ったピニ
オン３４が回転される。
ションフード４０の移送が完了されたら、試料供給投入
管１８の下端にブラケット３６で設けられた第２シリン
ダー３７が動作する。これにより第２シリンダー３７の
ロードと固定されたラック３５がガイドレール３８にガ
イドされて移動するので、ラック３５と噛み合ったピニ
オン３４が回転される。
【００６１】前記ラック３５は、ガイドレール３８にガ
イドされて移動するので、その動作が安定的に成される
ようになるが、ラック３５の移動範囲はピニオン３４と
固定された回転棒３１が１８０°回転するように回転棒
の直径により正確に設定されなければならない。
イドされて移動するので、その動作が安定的に成される
ようになるが、ラック３５の移動範囲はピニオン３４と
固定された回転棒３１が１８０°回転するように回転棒
の直径により正確に設定されなければならない。
【００６２】前記動作により回転棒３１が１８０°回転
すると、回転棒に形成された試料排出通路３１が試料供
給投入管１８及び排出管３９と一直線上に位置するの
で、試料供給投入管１８の下部に位置していた試料は、
試料排出通路３１ａ→排出管３９→セレクションフード
４０を通じていずれかひとつの分類箱４５内に込められ
るようになる。その後、第２シリンダー３７及び第３シ
リンダー４２は初期状態に還元されるので、試料排出通
路３１ａが試料供給投入管１８と１８０°位相差を有す
るようになり、セレクションフード４０は、一番目の分
類箱４５と一致する。
すると、回転棒に形成された試料排出通路３１が試料供
給投入管１８及び排出管３９と一直線上に位置するの
で、試料供給投入管１８の下部に位置していた試料は、
試料排出通路３１ａ→排出管３９→セレクションフード
４０を通じていずれかひとつの分類箱４５内に込められ
るようになる。その後、第２シリンダー３７及び第３シ
リンダー４２は初期状態に還元されるので、試料排出通
路３１ａが試料供給投入管１８と１８０°位相差を有す
るようになり、セレクションフード４０は、一番目の分
類箱４５と一致する。
【００６３】前記セレクションフード４０を通じて分類
箱４５内に試料が込められる時、積載函４４内にはオイ
ル４６が込められているので、測定完了され積載されて
いた他の試料と人力により互いにぶつかって破壊される
ことが防止され、２５０〜４５０℃のオイルにより完全
に脱磁される。
箱４５内に試料が込められる時、積載函４４内にはオイ
ル４６が込められているので、測定完了され積載されて
いた他の試料と人力により互いにぶつかって破壊される
ことが防止され、２５０〜４５０℃のオイルにより完全
に脱磁される。
【００６４】今まで説明したことは、供給部に積層され
ていた試料から移送部が一つを分離してテスト部に移送
しテストしてから、その結果により良品または不良品に
分離して積載函内に込める１サイクルを説明したもので
あり、このような動作は試料積載管２内に込められた試
料が消尽されるまで繰り返し遂行される。
ていた試料から移送部が一つを分離してテスト部に移送
しテストしてから、その結果により良品または不良品に
分離して積載函内に込める１サイクルを説明したもので
あり、このような動作は試料積載管２内に込められた試
料が消尽されるまで繰り返し遂行される。
【００６５】
【発明の効果】上記本発明は、次のようないろいろの長
所を有する。 １．磁石測定時印加される磁界がパルス状であるので、
パルス発生装置に無理を与えず大きい磁界を発生させる
ようになる。 ２．印加磁界がパルス状であるので、測定時間が非常に
短くて処理速度が早い。 ３．磁石の全ての特性を評価するので、これを使用した
部品の品質を安定化させることが出来るようになる。 ４．ブロック(block) 状態の磁石を測定、選別して、こ
れを必要な大きさに切断使用するので、測定時間が短縮
できるのはもちろん、品質の均一性を維持するようにな
る。 ５．測定のため、非測定物を別の加工もせず、実際応用
される磁石の切断前の状態で直接測定するので、測定の
ための加工時間が節約される。 ６．測定と同時に分類が可能になるので、測定及び分類
による生産性を向上させることができる。
所を有する。 １．磁石測定時印加される磁界がパルス状であるので、
パルス発生装置に無理を与えず大きい磁界を発生させる
ようになる。 ２．印加磁界がパルス状であるので、測定時間が非常に
短くて処理速度が早い。 ３．磁石の全ての特性を評価するので、これを使用した
部品の品質を安定化させることが出来るようになる。 ４．ブロック(block) 状態の磁石を測定、選別して、こ
れを必要な大きさに切断使用するので、測定時間が短縮
できるのはもちろん、品質の均一性を維持するようにな
る。 ５．測定のため、非測定物を別の加工もせず、実際応用
される磁石の切断前の状態で直接測定するので、測定の
ための加工時間が節約される。 ６．測定と同時に分類が可能になるので、測定及び分類
による生産性を向上させることができる。
【図１】磁性材料の特性を測定するための回路図であ
る。
る。
【図２】磁気ヒステリシス曲線を示したグラフである。
【図３】本発明の要部を示した斜視図である。
【図４】本発明の一側にパーツ・フィーダーを設けた状
態の正面図である。
態の正面図である。
【図５】本発明の供給部及び移送部を示した縦断面図で
ある。
ある。
【図６】本発明のテスト部及び取り出し部を示した縦断
面図である。
面図である。
【図７】図６のＡ−Ａ線に沿って示した断面図である。
【図８】本発明の分類部及び積載部を示した縦断面図で
ある。
ある。
【図９】図８で分類部を抜粋して示した斜視図である。
【図１０】本発明の永久磁石の自動選別装置の動作を説
明するためのフローチャートである。
明するためのフローチャートである。
２ 試料積載管 ３ 安着板 ３ａ 試料供給通路 ４ パーツ・フィーダー １０ 上部設置板 １２ スライダ １２ａ 試料分離孔 １３ 試料分離板 １７ 試料投入板 １７ａ 試料投入通路 １８ 試料供給投入管 １９ 下部設置板 ２６ 第１次感知コイル ２７ 第２次感知コイル ２８ 第３次感知コイル ２９ 外部磁界印加コイル ３１ 回転棒 ３１ａ 試料排出通路 ３４ ピニオン ３５ ラック ３８ ガイドレール ３９ 排出管 ４０ セレクションフード ４４ 積載函 ４５ 分類箱
フロントページの続き (72)発明者 リ ウン ドク 大韓民国 ギョンギ−ド アンヤン−シ ドンアン−ク ビサン１−ドン ビサンズ ゴン アパートメント 124−301 (72)発明者 ミン イン ソン 大韓民国 ギョンギ−ド ソンナム−シ ズンオン−ドン クムガン２−ドン 2582 (72)発明者 ギム ベ ギュン 大韓民国 ソウル−シ ガンドン−ク ギ ル２−ドン 376−２
Claims (17)
- 【請求項１】 磁化された試料を積載しておくため上部
設置板の上部に設けられる供給部と、 前記供給部に積層された試料を順次に１個ずつ分離して
移送するため上部設置板に設けられる移送部と、 前記移送部により移送された試料の特性を測定するため
上部設置板に一対の支持棒で固定された下部設置板の間
に設けられるテスト部と、 前記テスト部でテスト終了された試料を取り出すためテ
スト部と接続するように直下の下部設置板に設けられる
取り出し部と、 前記取り出し部により取り出される試料をテスト結果に
よって分類する分類部と、 前記分類部により分類された試料を入れて保管する積載
部と、から構成することを特徴とする永久磁石の自動選
別装置。 - 【請求項２】 前記供給部は、 試料が積層された状態で積載される試料積載管と、 前記試料積載管の下部を閉鎖させると同時に積層された
一束の試料を送り出す試料供給通路を有する安着板と、 前記安着板に形成された試料供給通路と一致するように
固定板の間に固定され、試料を移送部へ供給する試料供
給板と、から構成されることを特徴とする請求項１記載
の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項３】 前記供給部の試料供給管上部に供給ガイ
ドを設け、前記供給ガイドの外側には磁化コイルを設
け、前記供給ガイド上部の外側には未磁化の素材を順次
に供給ガイド内へ移送するパーツフィーダーを設けてな
ることを特徴とする請求項１ないし請求項２記載の永久
磁石の自動選別装置。 - 【請求項４】 供給ガイドの上部に近接センサを設け、
供給ガイド内の素材が一定量だけ足りない時には、近接
センサがこれを感知して機器のテスト動作を中断させる
ことを特徴とする請求項３記載の永久磁石の自動選別装
置。 - 【請求項５】 前記安着板に試料供給通路側に下向傾斜
面を形成することを特徴とする請求項２記載の永久磁石
の自動選別装置。 - 【請求項６】 前記移送部は、 スペーサで試料供給管と一定間隔を有するように固定さ
れた固定板と、 前記上部設置板に摺動可能に設けられ、試料分離孔が形
成されたスライダと、 前記スライダの上部に固定され、試料分離孔と一致する
穴が形成されると同時に固定板の下面と接続する試料分
離板と、 前記上部設置板に固定されたブラケットに設けられ、ス
ライダを作動させる第１シリンダと、 前記第１シリンダの動作によってスライダの試料分離孔
と一致する試料投入通路を有する試料投入板と、から構
成されることを特徴とする請求項１記載の永久磁石の自
動選別装置。 - 【請求項７】 前記上部設置板と固定板の間にスペーサ
及び試料分離板を着脱可能に設けてなることを特徴とす
る請求項６記載の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項８】 前記テスト部は、 移送部により移送された試料をガイドする試料供給投入
管と、 前記試料供給投入函の上側に設けられ、試料通過の時誘
起される電圧を利用して磁化量としての初期値を測定す
る第１次感知コイルと、 前記試料供給投入管の最下橋の外側に囲まれるように設
けられ、投入された試料に逆方向の磁界を印加して誘起
される電圧で磁化量の変化を測定する第２次感知コイル
と、 前記第２次感知コイルの一側に設けられ、電圧形態で誘
起されて外部磁化及び変化量を測定する第３次感知コイ
ルと、 前記第２，３次感知コイルを囲むように設け、試料のテ
ストの時外部磁界を印加する外部磁界印加コイルと、 前記第１，２，３次感知コイルから感知された電圧を積
分するコンピュータと、から構成されることを特徴とす
る請求項１記載の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項９】 前記試料供給投入管を支持棒と固定され
た締結バーに締結部材で固定することを特徴とする請求
項１ないし請求項８記載の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１０】 前記取り出し部は、 初期状態で試料供給投入管とずれて位置する試料排出通
路が形成された回転棒と、 前記回転棒に固定されたピニオンと、 前記ピニオンと噛み合うように設けられ、第２シリンダ
により進退運動をするラックと、 前記試料供給投入管と垂直線上に位置するように下部設
置板に固定された排出管と、から構成されることを特徴
とする請求項１記載の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１１】 前記ラックにガイド突起を設け、下部
設置板にはガイド突起が嵌め込まれるガイドレールを設
け、前記ラックがガイドレールにガイドされて、摺動運
動するようになることを特徴とする請求項１０記載の永
久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１２】 前記回転棒を他の締結バーで支持棒に
支持して、下部は下部設置板に固定されたベアリングに
嵌め込み、前記回転棒が締結バー及びベアリングで支持
された状態で回転運動をするようになることを特徴とす
る請求項１０記載の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１３】 前記回転棒は非磁性体で、ピニオンは
金属材質で形成することを特徴とする請求項１０記載の
永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１４】 前記回転棒は合成樹脂材で、ピニオン
はステインレス材質で形成することを特徴とする請求項
１３記載の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１５】 前記分類部は、 前記排出管３９に嵌め込まれ、一端が下部設置板にスプ
リングで弾力設置されたセレクションフードと、 前記セレクションフードの下部と固定され、テスト部の
結果によってセレクションフードを移動させる第３シリ
ンダと、から構成されることを特徴とする請求項１記載
の永久磁石の自動選別装置。 - 【請求項１６】 前記積載部は、 分類部の一側に位置するように設けられる箱状の積載函
と、 前記積載函に込められ、外側に透孔が形成された多数個
の分類箱と、 前記積載函内に込められるオイルと、から構成されるこ
とを特徴とする請求項１記載の永久磁石の自動選別装
置。 - 【請求項１７】 前記積載函内に込められるオイルの温
度を２５０〜４５０℃に維持することを特徴とする請求
項１６記載の永久磁石の自動選別装置。
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000235917A (ja) * | 1999-02-15 | 2000-08-29 | Tokin Corp | 永久磁石の検査方法及び装置 |
| JP2011014596A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Icom Inc | 磁石群から磁石を分離する磁石分離装置 |
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- 1994-12-28 JP JP6327978A patent/JPH0857433A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000235917A (ja) * | 1999-02-15 | 2000-08-29 | Tokin Corp | 永久磁石の検査方法及び装置 |
| JP2011014596A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Icom Inc | 磁石群から磁石を分離する磁石分離装置 |
| CN104624523A (zh) * | 2013-11-07 | 2015-05-20 | 珠海格力电器股份有限公司 | 电子元件检测装置和电子元件自动检测方法 |
| CN104624523B (zh) * | 2013-11-07 | 2017-10-03 | 珠海格力电器股份有限公司 | 电子元件检测装置和电子元件自动检测方法 |
| CN108922762A (zh) * | 2018-09-19 | 2018-11-30 | 深圳市蓝丝腾科技有限公司 | 一种变压器自动化加工生产装置 |
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