JPH085574A - Go/no-go test equipment and test method for component thrown into cap - Google Patents

Go/no-go test equipment and test method for component thrown into cap

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JPH085574A
JPH085574A JP13901994A JP13901994A JPH085574A JP H085574 A JPH085574 A JP H085574A JP 13901994 A JP13901994 A JP 13901994A JP 13901994 A JP13901994 A JP 13901994A JP H085574 A JPH085574 A JP H085574A
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JP
Japan
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cap
image
gravity
center
image data
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Application number
JP13901994A
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Japanese (ja)
Inventor
Ikuo Yoshida
郁生 吉田
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To mechanize or automate the inspection of damage on a component thrown into a cap, adhesion of dust, etc., while enhancing the inspection accuracy. CONSTITUTION:The inventive test equipment comprises a camera 4 for picking up the planar image of a cap C and a component m1 thrown into the cap C, and means 6 for calculating the center of gravity of the image of the cap C based on the image data of the cap C picked up by means of the camera 4, setting a predetermined inspection region with reference to the center of gravity thus calculated, and deciding that the component m1 thrown into the cap is defective if the image data occupies the inspection region less than a threshold ratio.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本願発明は、たとえばカンシール
型半導体レーザの円筒状キャップ内へタブレットやガラ
ス板などの部品を投入した後において、それら投入部品
の損傷の有無、あるいはダスト類の付着の有無などを検
査する場合に用いられる投入部品の良否検査装置、およ
びその検査方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is, for example, after inserting parts such as a tablet or a glass plate into a cylindrical cap of a canseal type semiconductor laser, and then checking whether the parts are damaged or dust is attached. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for inspecting whether or not a component is used, which is used when inspecting the like, and an inspection method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえばカンシール型の半導体レーザな
どにおいては、円筒状のキャップ内にレーザダイオード
が密封された構造とされるが、この円筒状キャップに
は、たとえば図9に示すような作業が予め施されるのが
一般的である。
2. Description of the Related Art For example, a can seal type semiconductor laser has a structure in which a laser diode is sealed in a cylindrical cap. It is generally applied.

【0003】すなわち、同図に示す作業は、まず円筒状
キャップCの内部に、低融点ガラスなどで形成されたリ
ング状のタブレットm1や、ガラス板m2を各々投入し
た後に、ガラス板m2を上方から加圧させながら、これ
らを焼成炉で加熱するものである。これにより、タブレ
ットm1を溶融させて、このタブレットm1を介してガ
ラス板m2を円筒状キャップCに接着させることがで
き、円筒状キャップCの開口部10をガラス板m2によ
って密閉することができる。
That is, in the work shown in the figure, first, a ring-shaped tablet m1 made of low-melting glass or the like and a glass plate m2 are placed inside the cylindrical cap C, and then the glass plate m2 is moved upward. These are heated in a firing furnace while being pressurized. Thereby, the tablet m1 can be melted and the glass plate m2 can be adhered to the cylindrical cap C via the tablet m1, and the opening 10 of the cylindrical cap C can be sealed by the glass plate m2.

【0004】上記のような一連の作業においては、タブ
レットm1やガラス板m2の製造不良、あるいは円筒状
キャップCへの投入時の衝撃などに原因して、これらの
各部品に割れや欠けなどの損傷が生じている場合があ
る。このような損傷が生じている場合には、その損傷に
よって発生したガラス破片などが電子部品に悪影響を与
えるばかりか、たとえばガラス板m2が損傷していると
きには、レーザダイオードからのレーザビームの照射に
不具合を生じる。また、タブレットm1が損傷している
ときには、ガラス板m2の接着力の低下を来たすといっ
た不具合が生じる。さらに、ガラス板m2の表面にダス
ト類が付着している場合には、焼成炉での焼成時にこの
ダスト類がガラス板m2の表面に焼き付きを生じるた
め、やはりレーザビームの照射に不具合を生じる。
In the above-described series of operations, due to the manufacturing failure of the tablet m1 and the glass plate m2, the impact at the time of insertion into the cylindrical cap C, and the like, cracks and chips are caused in these respective parts. It may be damaged. When such damage occurs, not only the glass fragments generated by the damage adversely affect the electronic components, but also when the glass plate m2 is damaged, for example, when the laser beam is emitted from the laser diode. It causes trouble. Further, when the tablet m1 is damaged, a problem occurs that the adhesive force of the glass plate m2 is reduced. Furthermore, if dusts are attached to the surface of the glass plate m2, the dusts will stick to the surface of the glass plate m2 during firing in the firing furnace, which also causes a problem in laser beam irradiation.

【0005】したがって、円筒状キャップC内へタブレ
ットm1やガラス板m2を投入したときには、それらの
投入が終了した時点で、損傷の有無やダスト類の有無を
検査することが要請される。
Therefore, when the tablet m1 and the glass plate m2 are put into the cylindrical cap C, it is required to inspect for damage or dust at the end of the putting.

【0006】ところが、従来では、タブレットm1やガ
ラス板m2を円筒状キャップC内へ投入する以前の段階
についてはともかく、その投入後において、これら投入
部品についての損傷の有無などの検査を機械化、あるい
は自動化で行う手段は存在しないのが実情であった。そ
こで、従来では、それらの検査を作業員が目視により行
っていた。
However, conventionally, regardless of the stage before the tablet m1 or the glass plate m2 is put into the cylindrical cap C, after the throwing, mechanized inspection for damage of these put-in parts, or The reality is that there is no automated means. Therefore, in the past, the workers had to visually inspect them.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の作業員の目
視による検査では、タブレットm1やガラス板m2の微
小な割れや欠け、あるいは微小なダスト類を発見するこ
とは困難である。したがって、実際には割れなどが存在
している場合であっても、これが看過されてしまう事態
が頻繁に生じ、検査の正確性に欠けるという難点があっ
た。また、検査の作業効率も悪く、検査要員として多数
の人手を要するという難点もあった。
It is difficult to find minute cracks or chips or minute dusts on the tablet m1 or the glass plate m2 by the above-mentioned visual inspection of the worker. Therefore, even if a crack or the like actually exists, it is often overlooked, and the accuracy of the inspection is poor. In addition, the work efficiency of the inspection is poor, and a large number of workers are required as the inspection personnel.

【0008】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、キャップ内へ投入された部品の
損傷の有無、あるいはダスト類の付着の有無などの検査
を人手によらず、機械化または自動化できるようにし、
しかもその検査が正確に行えるようにすることをその課
題としている。
The present invention has been devised under such circumstances, and it is necessary to manually inspect the parts put in the cap for damage or dust. Without mechanization or automation,
Moreover, the task is to make the inspection accurate.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
In order to solve the above problems, the present invention takes the following technical means.

【0010】すなわち、本願の請求項1に記載した発明
は、キャップおよびこのキャップ内に投入された投入部
品の平面画像を撮像するためのカメラと、このカメラで
撮像されたキャップの画像データからそのキャップの画
像の重心を算出するとともに、この重心を基準として一
定の検査領域を設定し、その検査領域において上記投入
部品と認識される画像データの占める割合が所定の閾値
以下であるときに不良と判断する良否判定手段とを備え
ていることを特徴としている。
That is, the invention described in claim 1 of the present application is based on a camera for taking a plane image of a cap and a put-in component put in the cap, and image data of the cap taken by the camera. While calculating the center of gravity of the image of the cap, a certain inspection area is set with this center of gravity as a reference, and when the ratio of the image data recognized as the input component in the inspection area is less than or equal to a predetermined threshold value, it is determined to be defective. It is characterized in that it is provided with a pass / fail judgment means for making a judgment.

【0011】本願の請求項2に記載した発明は、上記請
求項1の投入部品の良否検査装置において、上記カメラ
は、複数のキャップを縦横に配列したジグを搬送するコ
ンベアの上方に配置されているとともに、このカメラの
下方にそのジグが搬送されてきたときには、ジグ上の各
キャップの上方へ順次移動してその撮像を行うように水
平方向に沿って移動自在に設けられていることを特徴と
している。
The invention described in claim 2 of the present application is, in the quality inspection device for input parts according to claim 1, the camera is arranged above a conveyer for carrying a jig in which a plurality of caps are vertically and horizontally arranged. In addition, when the jig is conveyed below this camera, it is movable along the horizontal direction so that it sequentially moves to the top of each cap on the jig to capture the image. I am trying.

【0012】本願の請求項3に記載した発明は、上記請
求項1または2の投入部品の良否検査装置において、上
記良否判定手段によって不良と判断された投入部品をキ
ャップから分離し、またはその投入部品が投入されてい
るキャップと一緒に、その配置箇所から取り出し除去す
るための取出手段が、上記カメラに連動して水平移動す
るように設けられていることを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, in the quality inspection device for a component to be inserted according to the first or second aspect, the component to be inserted, which is judged to be defective by the quality determining means, is separated from the cap, or is inserted. It is characterized in that, together with the cap into which the parts are put, a take-out means for taking out and removing the cap from the arrangement position is provided so as to move horizontally in conjunction with the camera.

【0013】本願の請求項4に記載した発明は、上記請
求項1ないし3の何れかの投入部品の良否検査装置にお
いて、上記良否判定手段は、キャップの外径よりも小径
に形成されたキャップの開口部の画像データに基づい
て、キャップの画像の重心の算出処理を実行し、この処
理による重心の算出が不可能なときには、キャップの外
周縁の画像データに基づいて上記重心の算出処理を実行
するように構成されていることを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the device for inspecting quality of input parts according to any one of the first to third aspects, the quality determining means is a cap having a diameter smaller than the outer diameter of the cap. When the calculation of the center of gravity of the image of the cap is not possible based on the image data of the opening of the cap, the calculation of the center of gravity is performed based on the image data of the outer peripheral edge of the cap when the calculation of the center of gravity is not possible. It is characterized by being configured to execute.

【0014】本願の請求項5に記載した発明は、投入部
品の良否検査方法であって、キャップおよびこのキャッ
プ内に投入された投入部品の平面画像をカメラで撮像
し、この撮像によって得られたキャップの画像データか
らそのキャップの画像の重心を算出した後に、この重心
を基準として一定の検査領域を設定し、その後この検査
領域において上記投入部品と認識される画像データが占
める割合を求め、この割合が所定の閾値以下であるとき
には不良と判断することを特徴としている。
The invention described in claim 5 of the present application is a method for inspecting the quality of a put-in component, which is obtained by taking a two-dimensional image of the cap and the put-in component put in the cap with a camera. After calculating the center of gravity of the image of the cap from the image data of the cap, a certain inspection area is set with this center of gravity as a reference, and then the ratio of the image data recognized as the input component in this inspection area is obtained. The feature is that it is determined to be defective when the ratio is equal to or less than a predetermined threshold value.

【0015】[0015]

【発明の作用および効果】上記請求項1に記載した発明
においては、キャップ内に所望の投入部品を投入した後
に、これらの平面画像をカメラで撮像すると、良否判定
手段は、その円筒状キャップの重心を基準として一定の
検査領域を設定した上で、その検査領域において投入部
品として認識される画像データの占める割合を算出し、
この割合が所定の閾値以下であれば、不良と判断する。
In the invention described in claim 1, when the plane images of these parts are picked up by the camera after the desired input parts are put in the cap, the quality judgment means determines that the cylindrical cap is After setting a certain inspection area based on the center of gravity, calculate the ratio of the image data recognized as input parts in the inspection area,
If this ratio is less than or equal to a predetermined threshold value, it is determined to be defective.

【0016】すなわち、検査領域において投入部品の割
れや欠け、あるいはダスト類の付着があると、それに見
合った量だけ投入部品として認識される画像データの占
める割合が減少する。そして、上記の割れや欠け、ある
いはダスト類の存在量が一定の限度を超えると、投入部
品として認識される画像データの占める割合が所定の閾
値以下となり、不良と判断されることとなる。
That is, if cracks or chipping of input parts or adhesion of dusts in the inspection area, the proportion of image data recognized as input parts is reduced by an amount commensurate with the cracks or chips. Then, when the cracks, chips, or the amount of dusts exceeds a certain limit, the ratio of the image data recognized as the input component is less than or equal to a predetermined threshold value, and the defect is determined.

【0017】したがって、投入部品の損傷の有無、ある
いはダスト類の付着の有無などを人手によらず、機械化
または自動化して能率よく判断することができ、しかも
その判断の正確性を高めることができる。その結果、従
来とは異なり、検査人員の削減が図れ、また不良品がそ
のまま看過されてしまうといった不具合を解消すること
ができる効果が得られる。
Therefore, the presence or absence of damage to the input parts, the presence or absence of adhesion of dusts, etc. can be efficiently mechanized or automated to make an efficient judgment, and the accuracy of the judgment can be improved. . As a result, unlike the prior art, it is possible to reduce the number of inspecting personnel, and it is possible to solve the problem that defective products are overlooked as they are.

【0018】また、投入部品の割れなどを検査するため
の検査領域は、キャップの画像の重心を基準として設定
しているために、たとえばキャップ内に投入部品が多少
偏って投入されているような場合であっても、そのよう
な偏りに原因して検査領域が不当な箇所に位置ずれする
ようなことも解消でき、キャップとの関係において最も
重要とされる投入部品の箇所を検査領域として設定し、
投入部品の適切な検査が行えるという効果が得られる。
Further, since the inspection area for inspecting cracks of the input parts is set with the center of gravity of the image of the cap as a reference, for example, the input parts are placed in the cap in a biased manner. Even if it is the case, it is possible to eliminate the problem that the inspection area is displaced to an improper location due to such a bias, and the location of the put-in component that is most important in relation to the cap is set as the inspection area. Then
The effect that an appropriate inspection of the input parts can be performed is obtained.

【0019】すなわち、たとえば半導体レーザなどに用
いられるキャップでは、レーザビームの照射位置となる
キャップの中心部においてガラス板の汚れなどが存在し
てはならないが、キャップの画像の重心を基準とすれ
ば、ガラス板の偏りなどに関係なく、レーザビームが照
射されるキャップの中心部を検査領域として適切に設定
することができるなどの効果が得られる。
That is, in a cap used for, for example, a semiconductor laser, the glass plate should not be contaminated in the center of the cap which is the irradiation position of the laser beam, but if the center of gravity of the image of the cap is used as a reference. Also, regardless of the deviation of the glass plate, the central portion of the cap irradiated with the laser beam can be appropriately set as the inspection region, and the like.

【0020】請求項2に記載した発明においては、複数
のキャップを縦横に配列したジグがコンベアによってカ
メラの下方に搬送されてきたときに、カメラを水平方向
に移動させて各キャップの上方へ順次移動させることに
より、各キャップの撮像を行うことができる。したがっ
て、多数のキャップをジグにセットし、これらを順次コ
ンベアで搬送させる作業工程途中において、これら各キ
ャップ内に投入された投入部品の良否検査を自動作業に
よって効率よく行わせることができるという効果が得ら
れる。
According to the second aspect of the present invention, when a jig having a plurality of caps arranged vertically and horizontally is conveyed below the camera by a conveyor, the camera is moved horizontally to sequentially move the caps upward. By moving, each cap can be imaged. Therefore, in the middle of the work process of setting a large number of caps on a jig and sequentially transporting them with a conveyor, there is an effect that it is possible to efficiently perform a quality inspection of the put-in parts put in each of these caps by an automatic work. can get.

【0021】請求項3に記載した発明においては、良否
判定手段によって不良と判断された投入部品を、キャッ
プから分離して単独で、またはキャップと一緒に、取出
手段によって取り出し、その配置箇所から除去すること
ができる。したがって、不良な投入部品がキャップ内に
投入されているまま、これらが次工程へ搬送されるとい
った不具合を解消することができるという利点が得られ
る。
According to the third aspect of the present invention, the thrown-in parts which have been determined to be defective by the quality determining means are separated from the cap and taken out individually or together with the cap by the taking-out means and removed from the location. can do. Therefore, there is an advantage that it is possible to solve the problem that the defective components are transferred to the next process while being placed in the cap.

【0022】また、このような不良品の取り出しは、カ
メラによってキャップや投入部品の平面画像を撮像して
いる作業に並行して、能率よく行えるという効果も得ら
れる。
Further, such an effect that the defective product can be taken out efficiently can be obtained in parallel with the operation of picking up the planar image of the cap and the input parts by the camera.

【0023】請求項4に記載した発明においては、良否
判定手段は、少なくともキャップの開口部と外周縁との
何れかの画像データに基づいてキャップの重心を算出す
るので、たとえば投入部品によってキャップの開口部が
隠されていることによってその画像データが得られない
ような場合であっても、外周縁の画像データに基づいて
キャップの重心の算出が適切に行えるという効果が得ら
れる。しかも、その重心の算出に際しては、画像領域が
広いキャップの外周縁の画像データに基づいた重心の算
出処理を優先するのではなく、それよりも画像領域が狭
いキャップの開口部の画像データに基づいた重心の算出
処理を優先して実行するために、画像領域が狭い分だけ
重心の算出に要する演算処理時間を短くすることができ
る。その結果、投入部品の良否判定に要する時間の短縮
化が図れ、検査の高速化が図れるという利点が得られ
る。
In the invention described in claim 4, since the quality determining means calculates the center of gravity of the cap based on at least image data of the opening portion and the outer peripheral edge of the cap, for example, the cap component is determined by the input parts. Even if the image data cannot be obtained because the opening is hidden, the effect that the center of gravity of the cap can be appropriately calculated based on the image data of the outer peripheral edge is obtained. Moreover, when calculating the center of gravity, priority is not given to the calculation processing of the center of gravity based on the image data of the outer peripheral edge of the cap with a wide image area, but based on the image data of the opening of the cap with a narrower image area. Since the calculation processing of the center of gravity is preferentially executed, the calculation processing time required for the calculation of the center of gravity can be shortened because the image area is narrow. As a result, it is possible to shorten the time required for determining the quality of the input component and to speed up the inspection.

【0024】請求項5に記載の発明においては、キャッ
プおよびこのキャップ内に投入された投入部品の平面画
像をカメラで撮像した後に、この撮像によって得られた
画像データに基づいて、キャップの重心の算出、この重
心を基準とした検査領域の設定、およびこの検査領域に
おける投入部品として認識される画像データが占める割
合の算出などを行ってから、その割合が所定の閾値以下
であれば、不良と判断する。したがって、請求項1の発
明について上記したのと同様の効果を期待することがで
きる。
According to the fifth aspect of the present invention, after the plane image of the cap and the put-in component put in the cap is captured by the camera, the center of gravity of the cap is determined based on the image data obtained by the image capturing. After the calculation, the setting of the inspection area based on the center of gravity, and the calculation of the proportion of the image data recognized as the input parts in this inspection area, the proportion is equal to or less than a predetermined threshold to decide. Therefore, it is possible to expect the same effect as described above for the invention of claim 1.

【0025】[0025]

【実施例の説明】以下、本願発明の好ましい実施例を、
図面を参照しつつ具体的に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The preferred embodiments of the present invention will be described below.
A specific description will be given with reference to the drawings.

【0026】なお、本実施例については、たとえば図3
に示すようなシステムに適用される投入部品の良否検査
装置Aa,Abを一例として説明する。
Note that this embodiment is shown in FIG.
The acceptability inspection devices Aa and Ab applied to the system as shown in FIG.

【0027】図3に示すシステムは、コンベア3によっ
て搬送されるパレット2上にカーボン製などのジグ1を
載設し、このジグ1を符号N1からN7に示す各作業工
程へ順次移送させるシステムである。上記コンベア3
は、パレット2をフレーム30,30に沿って間欠移送
するものであり、パレット2を所定の作業位置へ搬送し
たときには、たとえばフレーム30,30に設けられた
凹部31,31へパレット2を嵌入させる等してその位
置決め固定を図るように構成されている。
The system shown in FIG. 3 is a system in which a jig 1 made of carbon or the like is placed on a pallet 2 conveyed by a conveyor 3 and the jig 1 is sequentially transferred to each work process indicated by reference numerals N1 to N7. is there. Above conveyor 3
Is for intermittently transferring the pallet 2 along the frames 30 and 30, and when the pallet 2 is conveyed to a predetermined work position, the pallet 2 is fitted into the recesses 31 and 31 provided in the frames 30 and 30, for example. For example, it is configured to fix and position the same.

【0028】上記システムでは、従来技術として図9で
説明したのと同様な一連の作業がなされる。すなわち、
コンベア3によるパレット2の搬送経路のうち、符号N
1の箇所では、カンシール型の半導体レーザのレーザダ
イオードの密封に用いられる円筒状キャップCが上下逆
さまにされた状態で、ジグ1の孔部11内に投入され
る。また、符号N2の箇所では、円筒状キャップC内に
リング状のタブレットm1が投入される。さらに、符号
N4の箇所では、円板状のガラス板m2が投入される。
そして、符号N6,N7の箇所では、ジグ1の上に上ジ
グ1Aが載置されて、ガラス板m2が押圧され、この状
態で焼成炉に搬入されて加熱されるように構成されてい
る。
In the above system, a series of operations similar to those described in FIG. 9 as the prior art is performed. That is,
Of the conveyance paths of the pallet 2 by the conveyor 3, the reference numeral N
At position 1, the cylindrical cap C used for sealing the laser diode of the can-seal type semiconductor laser is inserted into the hole 11 of the jig 1 in an upside down state. In addition, at the location indicated by reference numeral N2, the ring-shaped tablet m1 is placed in the cylindrical cap C. Further, a disk-shaped glass plate m2 is put in at the place of reference sign N4.
Then, at the positions of N6 and N7, the upper jig 1A is placed on the jig 1, the glass plate m2 is pressed, and in this state, the upper jig 1A is carried into the firing furnace and heated.

【0029】本実施例に係る良否検査装置Aa,Abの
うち、一方の良否検査装置Aaは、上記した一連の作業
工程のうち、円筒状キャップC内へタブレットm1が投
入された後の検査を実行するものである。また、他方の
良否検査装置Abは、円筒状キャップC内へガラス板m
2が更に追加して投入された後の検査を実行するもので
ある。
Of the quality inspection devices Aa and Ab according to this embodiment, one of the quality inspection devices Aa performs the inspection after the tablet m1 is put into the cylindrical cap C in the above-described series of working steps. It is what you do. Further, the other quality inspection device Ab is configured such that the glass plate m is inserted into the cylindrical cap C.
2 is to perform the inspection after the additional input.

【0030】まず、本実施例については説明の便宜上、
上記した良否検査装置Aaの構成から説明する。図1は
良否検査装置Aaの一例を示す概略斜視図、図2はその
回路構成の一例を示すブロック図である。
First, for convenience of explanation, this embodiment will be described.
The configuration of the quality inspection apparatus Aa described above will be described. FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of the quality inspection device Aa, and FIG. 2 is a block diagram showing an example of its circuit configuration.

【0031】図1において、この良否検査装置Aaは、
上記ジグ1の搬送経路の上方に配置されたカメラ4、こ
のカメラ4の水平移動を行わせるためのカメラ動作機構
部5、およびカメラ4から出力される画像データ信号に
基づいて検査対象物品の良否を判定する良否判定回路6
などを具備して構成されている。また、この良否検査装
置Aaには、円筒状キャップC内に投入されている不良
なタブレットm1を外部に取り出すための取出手段とし
て、ブロアー7の吸気側に接続された吸引ノズル8も具
備されている。
In FIG. 1, the quality inspection device Aa is
Based on the camera 4 arranged above the transportation path of the jig 1, the camera operation mechanism section 5 for horizontally moving the camera 4, and the image data signal output from the camera 4, the quality of the inspection target article is determined. Pass / fail judgment circuit 6 for judging
It is configured by including. The quality inspection device Aa is also provided with a suction nozzle 8 connected to the intake side of the blower 7 as a take-out means for taking out the defective tablet m1 put in the cylindrical cap C to the outside. There is.

【0032】上記カメラ4としては、たとえばCCDカ
メラが適用されるが、その下方には同軸落射照明部40
や光学レンズ41が取付けられている。図2に示すよう
に、同軸落射照明部40の光源40aから円筒状キャッ
プCに対してはプリズム40b(またはハーフミラー)
を介して光の照射がなされる。そして、その反射光は、
入射光と同軸となるように反射し、光学レンズ41によ
って集光されてからカメラ4に入射するように構成され
ている。
A CCD camera, for example, is applied as the camera 4, and a coaxial incident illumination unit 40 is provided below the CCD camera.
An optical lens 41 is attached. As shown in FIG. 2, a prism 40b (or a half mirror) is provided for the cylindrical cap C from the light source 40a of the coaxial epi-illumination unit 40.
Light is emitted through the. And the reflected light is
It is configured to be reflected coaxially with the incident light, be condensed by the optical lens 41, and then be incident on the camera 4.

【0033】このカメラ4からは、円筒状キャップCお
よびこの円筒状キャップC内に投入されているタブレッ
トm1の平面画像の画信号(階調信号)がアナログ信号
で出力されるが、これはA/Dコンバータ42によって
デジタル信号に変換された後に、2値化回路43によっ
て、各画素(ドット)の信号が白または黒のいずれかの
画像データ信号として2値化処理される。
From the camera 4, the image signal (gradation signal) of the plane image of the cylindrical cap C and the tablet m1 inserted in the cylindrical cap C is output as an analog signal. After being converted into a digital signal by the / D converter 42, the signal of each pixel (dot) is binarized by the binarization circuit 43 as an image data signal of either white or black.

【0034】図4は、上記のようにして2値化処理され
た画像データの一例を示す説明図である(なお、図4以
降の画像の説明図においては、黒色の画像領域をクロス
ハッチングの領域として示す。それ以外の画像領域は白
色の画像領域である)。
FIG. 4 is an explanatory view showing an example of the image data binarized as described above (in the explanatory views of the images after FIG. 4, the black image area is cross-hatched. This is shown as a region, and the other image regions are white image regions).

【0035】図4に示す画像データにおいては、円筒状
キャップCの底面側に位置する円形状の開口部10の領
域、および円筒状キャップCよりも外側のジグ1の領域
の各々が、黒色領域B1,B3となっている。また、タ
ブレットm1は、その色彩が黒色であり、かつその表面
が粗面であることにより、やはり黒色領域B2となって
いる。これに対し、円筒状キャップCは光反射率の高い
金属製であることより、撮像された部分については白色
領域W1,W2となっている。
In the image data shown in FIG. 4, the area of the circular opening 10 located on the bottom side of the cylindrical cap C and the area of the jig 1 outside the cylindrical cap C are black areas. They are B1 and B3. The tablet m1 has a black color and has a rough surface, so that the tablet m1 is also a black region B2. On the other hand, since the cylindrical cap C is made of metal having a high light reflectance, the imaged portions are white areas W1 and W2.

【0036】上記良否判定回路6は、上記図4で示した
ような画像データに基づいてタブレットm1の良否を判
断するものであり、CPUなどで構成することができる
が、図2に示すように、重心算出部60、検査領域設定
部61、割合演算部62、比較回路63、閾値設定部6
4、および信号出力回路65などを具備して構成されて
いる。
The quality judgment circuit 6 judges the quality of the tablet m1 based on the image data shown in FIG. 4, and can be constituted by a CPU or the like, but as shown in FIG. , Centroid calculation unit 60, inspection area setting unit 61, ratio calculation unit 62, comparison circuit 63, threshold value setting unit 6
4, and a signal output circuit 65 and the like.

【0037】上記重心算出部60は、2値化回路43か
ら受信した画像データに基づき、円筒状キャップCの画
像の重心Gを算出するものである。すなわち、図4で示
した画像データを一例として説明すると、この重心算出
部60は、まず上記画像データのうち、最も小径で、か
つ連続した黒色領域B1、すなわち円筒状キャップCの
開口部10に相当する領域のx方向とy方向の各々の最
大長x1,y1を求める。そして、この黒色領域B1が
正確な円であれば、一定の許容範囲内でx1=y1とな
る筈であるから、その条件が成立するときには、これら
x1,y1の長さ領域の(x1/2,y1/2)の座標
地点を円筒状キャップCの重心Gとして特定する。
The center of gravity calculating section 60 calculates the center of gravity G of the image of the cylindrical cap C based on the image data received from the binarizing circuit 43. That is, to explain the image data shown in FIG. 4 as an example, the center-of-gravity calculating unit 60 first determines a continuous black region B1 having the smallest diameter in the image data, that is, the opening 10 of the cylindrical cap C. Maximum lengths x1 and y1 of the corresponding region in the x direction and the y direction are obtained. If the black area B1 is an accurate circle, x1 = y1 should be satisfied within a certain allowable range. Therefore, when the condition is satisfied, (x1 / 2 of the length areas of x1 and y1). , Y1 / 2) is specified as the center of gravity G of the cylindrical cap C.

【0038】これに対し、たとえば図5に示すように、
タブレットm1の中心が円筒状キャップCの中心に対し
て寸法Sだけ偏心し、タブレットm1の一部が、円筒状
キャップCの開口部10の内側へ適宜寸法S1だけはみ
出しているような場合には、上記した手法では重心Gを
求めることはできない。この場合には、図6に示すよう
に、黒色領域B1,B2が互いに接触してしまうことに
より、最少領域としての黒色領域B1,B2のx方向の
最大長x2と、y方向の最大長y2とでは、x2≠y2
となり、それらの値の差が大きくなる。したがって、こ
れでは正確に円筒状キャップCの重心Gを求めることが
できない。
On the other hand, for example, as shown in FIG.
When the center of the tablet m1 is eccentric by the dimension S with respect to the center of the cylindrical cap C, and a part of the tablet m1 appropriately protrudes inside the opening 10 of the cylindrical cap C by the dimension S1. The center of gravity G cannot be obtained by the above method. In this case, as shown in FIG. 6, since the black areas B1 and B2 contact each other, the maximum length x2 in the x direction and the maximum length y2 in the y direction of the black areas B1 and B2 as the minimum areas. And then x2 ≠ y2
And the difference between these values becomes large. Therefore, this cannot accurately determine the center of gravity G of the cylindrical cap C.

【0039】このため、上記のような場合には、重心算
出部60は、第2回目の演算処理として、円筒状キャッ
プCの外周縁の画像データに基づいて重心Gを求める処
理を実行する。すなわち、たとえば図6で示した画像デ
ータにおいては、円筒状キャップCに相当する白色領域
W2のx,y両方向の最大長x3,y3を求める。この
ように円筒状キャップCの外周縁の画像データに基づい
て重心Gを求める方法では、x3,y3の値がタブレッ
トm1の投入具合によって変動するといったことはない
から、常に、一定の許容範囲内で、x3=y3の関係が
成立する。したがって、この場合には、重心算出部60
は、これらx3,y3の長さ領域の(x3/2,y3/
2)の座標地点を円筒状キャップCの重心Gとして特定
するように構成されている。
Therefore, in the above-mentioned case, the center-of-gravity calculating section 60 executes the process of obtaining the center-of-gravity G based on the image data of the outer peripheral edge of the cylindrical cap C as the second calculation process. That is, for example, in the image data shown in FIG. 6, the maximum lengths x3 and y3 of the white region W2 corresponding to the cylindrical cap C in both the x and y directions are obtained. In this way, in the method of obtaining the center of gravity G based on the image data of the outer peripheral edge of the cylindrical cap C, the values of x3 and y3 do not fluctuate depending on the insertion state of the tablet m1, and therefore, always within a certain allowable range. Then, the relationship of x3 = y3 is established. Therefore, in this case, the center of gravity calculation unit 60
Is (x3 / 2, y3 / in the length region of these x3 and y3.
The coordinate point 2) is specified as the center of gravity G of the cylindrical cap C.

【0040】上記検査領域設定部61は、重心算出部6
0で算出された重心Gを基準として検査領域となる画像
領域を設定するものである。具体的には、図4におい
て、2種類の一点鎖線の円として示すように、重心Gか
ら半径R1,R2の円周に相当する複数の画素(ドッ
ト)の画像データを、検査領域として設定する。これら
半径R1,R2の値は、リング状のタブレットm1の内
径、外径、およびタブレットm1が円筒状キャップC内
で位置ずれする最大寸法などを考慮し、これら半径R
1,R2の2つの円周がタブレットm1の画像領域B2
よりも外側へはみ出さないように予め考慮して設定され
た数値である。
The inspection area setting section 61 includes a center of gravity calculating section 6
The image area serving as the inspection area is set with the center of gravity G calculated at 0 as a reference. Specifically, in FIG. 4, image data of a plurality of pixels (dots) corresponding to the circumference from the center of gravity G to the radii R1 and R2 is set as the inspection area, as shown by two types of dashed-dotted circles. . The values of the radii R1 and R2 are set in consideration of the inner diameter and outer diameter of the ring-shaped tablet m1 and the maximum size of the tablet m1 that is displaced in the cylindrical cap C.
Two circles 1 and R2 are image areas B2 of the tablet m1.
It is a numerical value that is set in consideration so that it does not extend outside.

【0041】上記割合演算部62は、上記検査領域設定
部61で設定された検査領域の画像データのうち、タブ
レットm1と認識される画像データが占める割合を演算
して算出するものである。具体的には、図4に示す画像
データにおいては、タブレットm1は黒色の画像データ
として認識されるのに対し、タブレットm1の割れや欠
けなどは白色の画像データとして認識される。そこで、
この割合演算部62では、半径R1,R2の各円周上の
全画素数のうち、黒色の画素の数、あるいはそれとは逆
に白色の画素の数を算出することにより、検査領域にお
ける全画素数に占める黒色の画素数の割合を求めるよう
に構成されている。
The ratio calculator 62 calculates and calculates the ratio of the image data recognized as the tablet m1 in the image data of the inspection area set by the inspection area setting unit 61. Specifically, in the image data shown in FIG. 4, the tablet m1 is recognized as black image data, while cracks or chips of the tablet m1 are recognized as white image data. Therefore,
The ratio calculation unit 62 calculates the number of black pixels or the number of white pixels, on the contrary, out of the total number of pixels on the circumference of each of the radii R1 and R2, thereby calculating the total number of pixels in the inspection area. The number of black pixels in the number is calculated.

【0042】比較回路63は、上記割合演算部62で算
出された割合の値を、閾値設定部64に予め設定されて
いる閾値と比較し、割合演算部62で算出された割合の
数値が所定の閾値よりも小さいときには、タブレットm
1が不良であると判定し、その旨の信号を信号出力回路
65へ出力する回路である。このときには、信号出力回
路65からはタブレットm1が不良である旨の所定の信
号が外部へ出力される。
The comparison circuit 63 compares the value of the ratio calculated by the ratio calculating unit 62 with a threshold value preset in the threshold setting unit 64, and the numerical value of the ratio calculated by the ratio calculating unit 62 is predetermined. When it is smaller than the threshold of
1 is a circuit that determines that the signal is defective and outputs a signal to that effect to the signal output circuit 65. At this time, the signal output circuit 65 outputs a predetermined signal indicating that the tablet m1 is defective.

【0043】これに対し、割合演算部62で算出された
割合の数値が所定の閾値よりも大きいときには、タブレ
ットm1が良であると判定し、比較回路63から信号出
力回路65に対しては何ら特別な信号を出力しない。た
だし、タブレットm1が不良であると判定した場合とは
異なる信号を出力させることにより、信号出力回路65
からタブレットm1が良である旨の信号を信号出力回路
65から積極的に出力させるようにしても構わない。タ
ブレットm1が良か不良かの信号は、たとえば監視盤な
どへ適宜送信することにより、この検査装置Aaによる
検査状況をオペレータなどが監視できるように構成する
ことができる。
On the other hand, when the numerical value of the ratio calculated by the ratio calculating unit 62 is larger than the predetermined threshold value, it is determined that the tablet m1 is good, and the comparison circuit 63 does not notify the signal output circuit 65. No special signal is output. However, by outputting a signal different from that when the tablet m1 is determined to be defective, the signal output circuit 65
Therefore, a signal indicating that the tablet m1 is good may be positively output from the signal output circuit 65. A signal indicating whether the tablet m1 is good or bad can be configured to allow an operator or the like to monitor the inspection status of the inspection device Aa by appropriately transmitting the signal to the monitor panel or the like.

【0044】図1において、カメラ動作機構部5は、カ
メラ4を支持するアーム51の基台52をX方向へスラ
イドさせるテーブル53や、このテーブル53をY方向
へスライドさせるテーブル54などを具備するものであ
る。これらの各部は、たとえばサーボモータを用いたラ
ックピニオン機構など(図示略)によって往復動自在に
設けられており、これによりカメラ4はX,Y方向の二
次面方向へ水平移動自在である。このカメラ動作機構部
5の具体的な動作は、カメラ移動動作制御回路50によ
って制御されており、ジグ1にセットされた複数の円筒
状キャップCの全てをカメラ4によって1つずつ所定の
順序で撮像できるように制御される。
In FIG. 1, the camera operation mechanism section 5 comprises a table 53 for sliding a base 52 of an arm 51 supporting the camera 4 in the X direction, a table 54 for sliding the table 53 in the Y direction, and the like. It is a thing. Each of these parts is provided so as to be reciprocally movable by, for example, a rack and pinion mechanism (not shown) using a servo motor, whereby the camera 4 is horizontally movable in the secondary surface directions of the X and Y directions. The specific operation of the camera operation mechanism section 5 is controlled by the camera movement operation control circuit 50, and all of the plurality of cylindrical caps C set on the jig 1 are controlled by the camera 4 one by one in a predetermined order. It is controlled so that it can be imaged.

【0045】上記吸引ノズル8は、カメラ4に連結され
た同軸落射照明部40の一側部に取付けられており、こ
れによってカメラ4に連動して水平移動するようになっ
ている。この吸引ノズル8は、その下端部の吸引口80
が下向きに設けられており、カメラ4で所望の円筒状キ
ャップCおよびその内部のタブレットm1を撮像してい
る際に、その撮像箇所とは異なる箇所に存在するタブレ
ットm1をブロアー7の吸引力によって吸引し、円筒状
キャップCの外部へ取り出すことができるように設けら
れている。なお、このようにして吸引されたタブレット
m1は、吸引ノズル8とブロアー7とを接続するエア配
管81の途中に設けられたフィルター82を備えた不良
部品捕捉部83に捕捉されるようになっている。
The suction nozzle 8 is attached to one side of the coaxial epi-illumination unit 40 connected to the camera 4 so that the suction nozzle 8 can be moved horizontally in conjunction with the camera 4. The suction nozzle 8 has a suction port 80 at its lower end.
Is provided downward, and when the desired cylindrical cap C and the tablet m1 inside thereof are imaged by the camera 4, the tablet m1 existing at a position different from the imaging position is attracted by the blower 7 by the suction force. It is provided so that it can be sucked and taken out of the cylindrical cap C. The tablet m1 thus sucked is caught by the defective part catching section 83 provided with the filter 82 provided in the middle of the air pipe 81 connecting the suction nozzle 8 and the blower 7. There is.

【0046】また、上記吸引ノズル8によるタブレット
m1の取り出しは、エア配管81に設けられた開閉バル
ブ84が開となったときにのみ実行され、そのタイミン
グは不良部品取出制御回路9によって制御されるように
構成されている。
The removal of the tablet m1 by the suction nozzle 8 is executed only when the opening / closing valve 84 provided in the air pipe 81 is opened, and the timing is controlled by the defective part removal control circuit 9. Is configured.

【0047】すなわち、不良部品取出制御回路9は、た
とえば図2に示すように、不良箇所のアドレス判断記憶
部90とバルブ制御回路91とから構成されている。ア
ドレス判断記憶部90は、たとえば良否判定回路6から
不良の旨の信号を受信した時期と、そのときにカメラ移
動動作制御回路50から送信されてきたカメラ4のアド
レスデータ(撮像箇所のアドレスデータ)に基づいて、
タブレットm1が不良である箇所のアドレスを判断し、
そのアドレスを記憶するものである。そして、この不良
箇所のアドレス判断記憶部90は、その後カメラ移動動
作制御回路50から順次送信されてくる撮像箇所のアド
レスデータに基づいて、現時点における吸引ノズル8の
アドレスを判断し、この吸引ノズル8のアドレスが先に
記憶している不良箇所のアドレスと一致すれば、その時
点で開閉バルブ84を開にするようにバルブ制御回路9
1を駆動制御するように構成されている。
That is, the defective part take-out control circuit 9 is composed of a defective portion address judgment storage section 90 and a valve control circuit 91 as shown in FIG. 2, for example. The address determination storage unit 90 receives, for example, the time when a signal indicating a defect is received from the pass / fail determination circuit 6 and the address data of the camera 4 (address data of the image pickup location) transmitted from the camera movement operation control circuit 50 at that time. On the basis of,
Determine the address of the location where the tablet m1 is defective,
The address is stored. Then, the defective portion address determination storage unit 90 determines the address of the suction nozzle 8 at the present time based on the address data of the image pickup portion sequentially transmitted from the camera movement operation control circuit 50 thereafter, and the suction nozzle 8 is determined. If the address of No. 1 matches the address of the defective portion stored previously, the valve control circuit 9 is made to open the opening / closing valve 84 at that time.
1 is configured to be drive-controlled.

【0048】次に、上記した良否検査装置Aaを用いて
の本願発明に係る投入部品の良否検査方法の一例につい
て説明する。
Next, an example of the quality inspection method of the input parts according to the present invention using the quality inspection apparatus Aa described above will be described.

【0049】まず、図1において、円筒状キャップC内
にタブレットm1を投入したジグ1がカメラ4の下方に
搬送されて停止されると、カメラ動作機構部5を作動さ
せ、ジグ1にセットされた複数の円筒状キャップCおよ
びその内部のタブレットm1の各平面画像を順次カメラ
4で撮像させてゆく。
First, in FIG. 1, when the jig 1 in which the tablet m1 is placed in the cylindrical cap C is conveyed below the camera 4 and stopped, the camera operating mechanism section 5 is operated to be set in the jig 1. Further, the planar images of the plurality of cylindrical caps C and the tablet m1 therein are sequentially captured by the camera 4.

【0050】これにより、たとえば図4または図6で示
したような画像データが得られるが、この画像データに
基づいて良否判定回路6の重心算出部60は、円筒状キ
ャップCの画像の重心Gを算出する。この重心Gの算出
に際しては、まず図4で示したように、円筒状キャップ
Cの開口部10に相当する黒色領域B1の最大長x1,
y1を求める。そして、一定の許容範囲でx1=y1の
関係が成立すれば、これらx1,y1の数値に基づいて
円筒状キャップCの重心Gを決定する。
As a result, for example, the image data as shown in FIG. 4 or FIG. 6 is obtained. Based on this image data, the center of gravity calculating unit 60 of the quality determination circuit 6 determines the center of gravity G of the image of the cylindrical cap C. To calculate. When calculating the center of gravity G, first, as shown in FIG. 4, the maximum length x1 of the black region B1 corresponding to the opening 10 of the cylindrical cap C is 1.
Find y1. Then, if the relationship of x1 = y1 is established within a certain allowable range, the center of gravity G of the cylindrical cap C is determined based on these numerical values of x1 and y1.

【0051】また、上記とは異なり、図5および図6で
示したように、円筒状キャップCに対してタブレットm
1が一定寸法以上偏心して投入されている場合には、x
1≠y1となるが、この場合には、その後円筒状キャッ
プCの外周縁に相当する白色領域W2の最大長x3,y
3に基づいて重心Gを求める。
Also, unlike the above, as shown in FIGS. 5 and 6, the tablet m is attached to the cylindrical cap C.
When 1 is eccentrically inserted with a certain size or more, x
1 ≠ y1, but in this case, the maximum length x3, y of the white region W2 corresponding to the outer peripheral edge of the cylindrical cap C thereafter.
The center of gravity G is calculated based on 3.

【0052】このように、円筒状キャップCの重心の算
出方法としては、2通りの方法があるが、白色領域W2
より面積の小さい黒色領域B1に基づく演算処理を先に
実行すれば、それだけ画像処理を行う画像データ数が少
なくて済むため、重心Gを求める演算処理を迅速に行う
ことができる。また、仮に黒色領域B1に基づいて重心
Gを適切に算出できなくても、この場合には第2回目の
白色領域W2に基づいた演算処理によって確実に重心G
の算出が行えるので、何ら不具合はない。
As described above, there are two methods for calculating the center of gravity of the cylindrical cap C, but the white area W2
If the calculation processing based on the black area B1 having a smaller area is executed first, the number of pieces of image data to be subjected to the image processing is reduced accordingly, so that the calculation processing for obtaining the center of gravity G can be performed quickly. Even if the center of gravity G cannot be properly calculated based on the black region B1, in this case, the center of gravity G can be reliably performed by the second arithmetic processing based on the white region W2.
Can be calculated, so there is no problem.

【0053】次いで、上記のようにして円筒状キャップ
Cの画像の重心Gを算出した後には、検査領域設定部6
1によって、たとえば図4で示した所定の半径R1,R
2の円周上の領域を検査領域として設定する。そして、
割合演算部62によって、その検査領域の全画素数にお
ける白画素または黒画素の割合を算出させる。
Next, after the center of gravity G of the image of the cylindrical cap C is calculated as described above, the inspection area setting unit 6
1, the predetermined radii R1 and R shown in FIG.
The area on the circumference of 2 is set as the inspection area. And
The ratio calculator 62 calculates the ratio of white pixels or black pixels in the total number of pixels in the inspection area.

【0054】タブレットm1は黒色の画像となるから、
このタブレットm1に割れや欠けが存在しない場合に
は、上記半径R1,R2の円周上の画素は全て黒色の画
素となる。そして、この場合には、タブレットm1と認
識される黒画素の割合が所定の閾値以上となるから、こ
の場合には信号出力回路65から不良である旨の信号出
力は行われない。
Since the tablet m1 has a black image,
If the tablet m1 is not cracked or chipped, all pixels on the circumference having the radii R1 and R2 are black pixels. Then, in this case, the ratio of the black pixels recognized as the tablet m1 becomes equal to or higher than the predetermined threshold value. In this case, therefore, the signal output circuit 65 does not output a signal indicating that the pixel is defective.

【0055】これに対し、上記半径R1,R2の円周上
の画素に白色の画素が一定量以上含まれ、タブレットm
1と認識される黒画素の割合が所定の閾値以下となった
場合には、信号出力回路65からタブレットm1が不良
である旨の信号出力がなされる。すなわち、タブレット
m1の外周縁や内周縁に割れや欠けが存在する場合に
は、これらの部位は白色の画像となっており、この白色
の画像分だけタブレットm1と認識される黒画素の割合
が減少するため、この割合が所定の閾値以下となった場
合には、タブレットm1が不良である旨が適切に判断さ
れる。
On the other hand, the pixels on the circumference of the radii R1 and R2 include white pixels in a certain amount or more, and the tablet m
When the ratio of black pixels recognized as 1 is equal to or lower than a predetermined threshold value, the signal output circuit 65 outputs a signal indicating that the tablet m1 is defective. That is, when there are cracks or chips on the outer peripheral edge or the inner peripheral edge of the tablet m1, these parts are white images, and the proportion of black pixels recognized as the tablet m1 is the same as the white image. Because of the decrease, when this ratio becomes less than or equal to the predetermined threshold value, it is appropriately determined that the tablet m1 is defective.

【0056】また、上記のように2つの半径R1,R2
の各円周上の領域を検査領域として設定すれば、リング
状のタブレットm1として最も割れや欠けが発生し易い
タブレットm1の外周縁付近と内周縁付近を重点的に検
査することができ、その検査効率が良好となる。さら
に、検査対象となる画像データは、半径R1,R2の各
円周上に位置する画素の画像データでよいから、たとえ
ばタブレットm1の全域を検査対象にする場合に比較す
ると、検査対象となる画像データの数量を非常に少なく
でき、良否判定を高速で行うことができる利点も得られ
る。
As described above, the two radii R1 and R2 are
By setting the areas on each circumference of as the inspection area, it is possible to intensively inspect the vicinity of the outer peripheral edge and the inner peripheral edge of the tablet m1 which is most likely to be cracked or chipped as the ring-shaped tablet m1. Inspection efficiency is improved. Further, since the image data to be inspected may be image data of pixels located on the circumferences of the radii R1 and R2, for example, the image to be inspected is compared with the case where the entire area of the tablet m1 is inspected. There is an advantage that the quantity of data can be very small and the quality judgment can be performed at high speed.

【0057】さらに、上記のような良否検査の結果、不
良と判断されたタブレットm1のアドレスは不良部品取
出制御回路9の不良箇所のアドレス判断記憶部90に記
憶される。そして、カメラ4が順次移動して他の円筒状
キャップCおよびその内部のタブレットm1の撮像を行
っている際において、吸引ノズル8のアドレスが上記不
良なタブレットm1のアドレスに一致したときには、不
良部品取出制御回路9の制御によって開閉バルブ84が
一時的に開とされる。
Further, the address of the tablet m1 which is determined to be defective as a result of the quality inspection as described above is stored in the defective portion address determination storage unit 90 of the defective component ejection control circuit 9. Then, when the camera 4 sequentially moves to image the other cylindrical cap C and the tablet m1 therein, when the address of the suction nozzle 8 coincides with the address of the defective tablet m1, the defective part is detected. The opening / closing valve 84 is temporarily opened by the control of the takeout control circuit 9.

【0058】これにより、不良なタブレットm1は吸引
ノズル8によって円筒状キャップCの外部へ取り出さ
れ、除去される。したがって、不良なタブレットm1が
投入されたままその円筒状キャップCが次の工程位置へ
不当に搬送されるといった不具合がなくなる。このよう
な不良なタブレットm1の取り出し作業は、カメラ4で
他のタブレットm1や円筒状キャップCの撮像を行って
いるときに行えるので、作業効率も良好となる。
As a result, the defective tablet m1 is taken out of the cylindrical cap C by the suction nozzle 8 and removed. Therefore, there is no problem that the cylindrical cap C is improperly conveyed to the next process position while the defective tablet m1 is still loaded. Since such a work of taking out the defective tablet m1 can be performed while the camera 4 is imaging the other tablet m1 and the cylindrical cap C, the work efficiency is also improved.

【0059】なお、上記吸引ノズル8は、不良なタブレ
ットm1を円筒状キャップCの外部へ吸引するだけでは
なく、円筒状キャップCも一緒に吸引し、ジグ1上から
排除させてもよい。タブレットm1を単独で排除する
か、あるいは円筒状キャップCも排除するかは、吸引ノ
ズル8の吸引口80の開口径を円筒状キャップCの外径
よりも大きくするか否かの設定によって任意に選択可能
である。
The suction nozzle 8 may not only suck the defective tablet m1 to the outside of the cylindrical cap C but also suck the cylindrical cap C together and remove it from the jig 1. Whether the tablet m1 is excluded alone or the cylindrical cap C is also excluded is arbitrarily determined by setting whether to make the opening diameter of the suction port 80 of the suction nozzle 8 larger than the outer diameter of the cylindrical cap C. It is selectable.

【0060】次に、図3で示した他方の投入部品の良否
検査装置Abについて説明する。
Next, the quality inspection device Ab for the other input component shown in FIG. 3 will be described.

【0061】この良否検査装置Abは、その基本的な構
成は、上述した一方の良否検査装置Aaと共通する。し
かし、この良否検査装置Abは、図7に示すように、円
筒状キャップC内のタブレットm1の上側へ投入された
円板状のガラス板m2を検査対象とするため、次のよう
に上記良否検査装置Aaとは一部異なる構成となってい
る。
The quality inspection apparatus Ab has the same basic configuration as the one quality inspection apparatus Aa described above. However, as shown in FIG. 7, the quality inspection apparatus Ab targets the disk-shaped glass plate m2 inserted above the tablet m1 in the cylindrical cap C as an inspection target. The structure is partially different from that of the inspection device Aa.

【0062】すなわち、この良否検査装置Abについ
て、便宜上、図1および図2を援用して説明すると、こ
の良否検査装置Abでは、カメラ4で円筒状キャップC
およびこの円筒状キャップC内に投入されたガラス板m
2を撮像すると、たとえば図8に示すような2値化画像
が得られる。
That is, the quality inspection device Ab will be described with reference to FIGS. 1 and 2 for the sake of convenience. In this quality inspection device Ab, the camera 4 has a cylindrical cap C.
And the glass plate m placed in the cylindrical cap C
When 2 is imaged, a binarized image as shown in FIG. 8 is obtained, for example.

【0063】同図に示す画像においては、ガラス板m2
が白色領域W3となり、このガラス板m2と円筒状キャ
ップCとの隙間が黒色領域B4となっている。また、円
筒状キャップCの外周縁などの他の部位は白色領域W4
となり、この円筒状キャップCの外側は黒色領域B5と
なっている。
In the image shown in the figure, the glass plate m2
Is a white area W3, and the gap between the glass plate m2 and the cylindrical cap C is a black area B4. In addition, other regions such as the outer peripheral edge of the cylindrical cap C are white regions W4.
The outside of the cylindrical cap C is a black area B5.

【0064】上記のような画像データでは、円筒状キャ
ップCの開口部10がガラス板m2によって覆われてい
るため、その開口部10を撮像画像として認識すること
はできない。したがって、この良否検査装置Abにおけ
る重心算出部60は、2値化回路43から受信した画像
データのうち、円筒状キャップCの外周縁に相当する白
色領域W4に基づいて円筒状キャップCの重心Gを算出
するように構成されている。この重心Gの具体的な算出
方法は、良否検査装置Aaの場合について先に説明した
のと同様であり、白色領域W4の最大長x3,y3を求
めることによって算出することができる。
In the above image data, since the opening 10 of the cylindrical cap C is covered with the glass plate m2, the opening 10 cannot be recognized as a captured image. Therefore, the center of gravity calculation unit 60 in the quality inspection apparatus Ab determines the center of gravity G of the cylindrical cap C based on the white region W4 corresponding to the outer peripheral edge of the cylindrical cap C in the image data received from the binarization circuit 43. Is configured to calculate The specific method of calculating the center of gravity G is the same as that described above in the case of the quality inspection apparatus Aa, and can be calculated by obtaining the maximum lengths x3 and y3 of the white area W4.

【0065】また、この良否検査装置Abでは、ガラス
板m2の割れや欠けなどの検査のみならず、その表面に
ダスト類が付着しているか否かの検査をも行えるように
構成されている。具体的には、図2で示した検査領域設
定部61は、図8に示す画像データにおいて、円筒状キ
ャップCの重心Gを中心とする半径R3の円周上の領域
の他、この円周に内接する正方形の領域Dをも検査対象
として設定するように構成されている。そして、割合演
算部62は、上記した半径R3の円周上の領域において
ガラス板m2として認識される白色の画像データが占め
る割合を算出するとともに、上記した正方形の領域Dに
おいてガラス板m2として認識される白色の画像データ
が占める割合も算出するように構成されている。
Further, the quality inspection device Ab is constructed so that it can be inspected not only for cracks and chips of the glass plate m2 but also for whether dusts are attached to the surface thereof. Specifically, in the image data shown in FIG. 8, the inspection area setting unit 61 shown in FIG. 2 has, in addition to the area on the circumference of the radius R3 centering on the center of gravity G of the cylindrical cap C, the circumference of this circumference. The square area D inscribed in is also set as the inspection target. Then, the ratio calculation unit 62 calculates the ratio occupied by the white image data recognized as the glass plate m2 in the region on the circumference of the radius R3 described above, and recognizes it as the glass plate m2 in the square region D described above. It is also configured to calculate the proportion occupied by the white image data.

【0066】比較回路63では、上記のようにして算出
された2種類の割合の値が予め個別に設定された2種類
の閾値と各々比較される。そして、これらの比較の結
果、2種類の割合の値が何れも閾値を超えている場合に
は、信号出力回路65から不良の旨の信号は出力され
ず、2種類の割合の双方または何れか一方が閾値以下で
ある場合には信号出力回路65から不良の旨の信号出力
がなされるように構成されている。
In the comparison circuit 63, the values of the two types of ratios calculated as described above are respectively compared with the two types of threshold values set individually beforehand. Then, as a result of these comparisons, if the values of the two types of ratios both exceed the threshold value, no signal indicating failure is output from the signal output circuit 65, and either or both of the two types of ratios are not output. When one is equal to or less than the threshold value, the signal output circuit 65 outputs a signal indicating a defect.

【0067】上記した構成の良否検査装置Abでは、図
7で示した円筒状キャップCおよびガラス板m2の平面
画像をカメラ4で撮像し、その良否を良否判定回路6で
判定させる場合において、そのガラス板m2に割れや欠
けがあると、それらの部分が黒色の画像データとして認
識される。したがって、ガラス板m2の外周縁に割れや
欠けがあった場合には、重心Gから半径R3の円周上に
おいて白色の画像データが占める割合が減少し、所定の
閾値以下となる。よって、この場合には良否判定回路6
でガラス板m2が不良であると判定され、その信号出力
回路65から不良の旨の信号出力がなされる。
In the pass / fail inspection apparatus Ab having the above-described structure, when the camera 4 captures the planar image of the cylindrical cap C and the glass plate m2 shown in FIG. 7, and the pass / fail determination circuit 6 determines the pass / fail, If the glass plate m2 has cracks or chips, those parts are recognized as black image data. Therefore, if the outer peripheral edge of the glass plate m2 is cracked or chipped, the ratio of the white image data on the circumference of the radius R3 from the center of gravity G decreases and becomes less than or equal to the predetermined threshold value. Therefore, in this case, the pass / fail judgment circuit 6
Therefore, the glass plate m2 is determined to be defective, and the signal output circuit 65 outputs a signal indicating the defect.

【0068】また、仮にガラス板m2に割れや欠けが存
在しない場合であっても、正方形の領域Dにダスト類が
付着していると、この部分がやはり黒色の画像として認
識されるので、この領域Dにおいて白色の画像データが
占める割合が減少し、所定の閾値以下となる。したがっ
て、この場合においても、やはり良否判定回路6ではガ
ラス板m2が不良であると判定され、信号出力回路65
から不良の旨の信号出力がなされる。
Even if the glass plate m2 is not cracked or chipped, if dusts adhere to the square area D, this portion is recognized as a black image. The ratio of the white image data in the area D decreases and becomes less than or equal to the predetermined threshold value. Therefore, also in this case, the quality determination circuit 6 still determines that the glass plate m2 is defective, and the signal output circuit 65.
A signal indicating failure is output from.

【0069】このようにして不良と判定されたガラス板
m2は、その後他のガラス板m2が検査されているとき
に吸引ノズル8によって吸引されて円筒状キャップCか
ら取り出されて、廃棄処理される。なお、その際、その
円筒状キャップC内に先に投入されているタブレットm
1がガラス板m2と一緒に吸引ノズル8に吸引されても
何ら支障はない。また、円筒状キャップCを一緒に吸引
ノズル8で吸引しても構わない。
The glass plate m2 thus determined to be defective is sucked by the suction nozzle 8 when the other glass plate m2 is subsequently inspected, taken out from the cylindrical cap C, and disposed of. . At that time, the tablet m previously put into the cylindrical cap C
There is no problem even if 1 is sucked by the suction nozzle 8 together with the glass plate m2. Further, the cylindrical cap C may be sucked together by the suction nozzle 8.

【0070】一方、上記とは異なり、ガラス板m2に割
れや欠けがなく、またダスト類の付着もない場合には、
上記した検査領域に黒色の画像データは存在せず、各検
査領域における白色の画像データが占める割合は所定の
閾値を超える。したがって、この場合においては、良否
判定回路6はガラス板m2が良であると判定する。
On the other hand, unlike the above, when the glass plate m2 is not cracked or chipped and dust is not attached,
There is no black image data in the inspection area, and the proportion of the white image data in each inspection area exceeds a predetermined threshold. Therefore, in this case, the quality determination circuit 6 determines that the glass plate m2 is good.

【0071】また、ガラス板m2にダスト類が付着して
いる場合において、そのダスト類の付着箇所が、検査領
域Dの外側(たとえは図8のQで示す箇所)である場合
があるが、この場合にも良否判定回路6はガラス板m2
が良であると判定する。検査領域Dは、この円筒状キャ
ップC内にレーザダイオードを密封させた場合におい
て、このレーザダイオードから照射されるレーザビーム
が通過する最大領域(一般には円筒状キャップCの開口
部10の中心部付近)を考慮して決定されるべき領域で
ある。したがって、検査領域Dの外部にダスト類が多少
付着していても、レーザビームの照射には何ら支障は生
じないため、これを良として判断しても何ら不具合はな
い。
When dusts are attached to the glass plate m2, the dusts may be attached to the outside of the inspection area D (eg, the portion indicated by Q in FIG. 8). Also in this case, the pass / fail judgment circuit 6 uses the glass plate m2.
Is judged to be good. The inspection area D is the maximum area through which the laser beam emitted from the laser diode passes when the laser diode is sealed in the cylindrical cap C (generally, near the center of the opening 10 of the cylindrical cap C). ) Is the area that should be decided in consideration. Therefore, even if some dust adheres to the outside of the inspection area D, there is no problem in the irradiation of the laser beam, and there is no problem even if this is judged to be good.

【0072】なお、ガラス板m2へのダスト類の付着を
判断するための検査領域を単純な正方形の形状の領域D
とすれば、この検査領域を設定するための画像データの
演算処理が容易となる。すなわち、たとえば円状の領域
を検査領域として設定する場合に比較するとかなり容易
となり、演算処理が容易となる利点が得られる。ただ
し、本願発明はこれに限定されず、たとえば重心Gを中
心とする円の領域を検査領域としてもよいことは勿論で
あり、あるいはそれ以外の形状の図形領域を検査領域と
してもよい。
The inspection area for judging the adhesion of dusts to the glass plate m2 is a simple square area D.
Then, the arithmetic processing of the image data for setting the inspection area becomes easy. That is, compared with the case where a circular area is set as the inspection area, for example, it becomes considerably easier, and the advantage that the arithmetic processing becomes easier is obtained. However, the present invention is not limited to this, and it is needless to say that, for example, a region of a circle centered on the center of gravity G may be used as the inspection region, or a graphic region having a shape other than that may be used as the inspection region.

【0073】上記した各実施例では、カンシール型半導
体レーザに適用される円筒状キャップC内に投入された
タブレットm1やガラス板m2を検査対象とした場合に
ついて説明したが、本願発明は決してこれに限定されな
い。本願発明の検査対象となる投入部品およびこの投入
部品が投入されるキャップの具体的な種類は一切限定さ
れない。また、キャップも円筒状キャップに限定され
ず、たとえば角筒状のキャップに投入された投入部品の
良否検査にも適用できることは言うまでもない。
In each of the above-mentioned embodiments, the case in which the tablet m1 and the glass plate m2 put in the cylindrical cap C applied to the Canseal type semiconductor laser are inspected has been described. Not limited. There are no particular restrictions on the specific types of the components to be inspected according to the present invention and the caps into which the components are to be inserted. Further, it goes without saying that the cap is not limited to the cylindrical cap, and can be applied to, for example, the quality inspection of the thrown-in component put in the square tubular cap.

【0074】その他、本願発明では、良否判定手段の具
体的な回路構成なども上記した実施例のものに限定され
ず、各部の具体的な構成は種々に設計変更自在である。
In addition, in the present invention, the specific circuit configuration of the quality determination means is not limited to that of the above-described embodiment, and the specific configuration of each part can be variously changed in design.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願発明に係る投入部品の良否検査装置の一例
を示す斜視図。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a quality inspection device for a put-in component according to the present invention.

【図2】図1に示す投入部品の良否検査装置の回路構成
の一例を示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a circuit configuration of the quality inspection device for the input components shown in FIG.

【図3】本願発明に係る投入部品の良否検査装置が適用
されたシステムの一例を示す斜視図。
FIG. 3 is a perspective view showing an example of a system to which the quality inspection device for a thrown-in component according to the present invention is applied.

【図4】円筒状キャップおよび円筒状キャップ内に投入
されたタブレットの撮像画像の一例を示す説明図。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a captured image of a cylindrical cap and a tablet placed in the cylindrical cap.

【図5】円筒状キャップ内にタブレットが偏って投入さ
れた状態を示す断面図。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state where a tablet is biasedly inserted into a cylindrical cap.

【図6】図5に示す円筒状キャップおよびタブレットの
撮像画像の一例を示す説明図。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of captured images of the cylindrical cap and the tablet shown in FIG.

【図7】円筒状キャップ内にガラス板が投入された状態
を示す断面図。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state where a glass plate is put into a cylindrical cap.

【図8】図7に示す円筒状キャップCおよびガラス板の
撮像画像の一例を示す説明図。
8 is an explanatory diagram showing an example of captured images of the cylindrical cap C and the glass plate shown in FIG. 7. FIG.

【図9】円筒状キャップ内へタブレットおよびガラス板
を順次投入する状態を示す断面図。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state where a tablet and a glass plate are sequentially loaded into a cylindrical cap.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ジグ 2 パレット 3 コンベア 4 カメラ 5 カメラ動作機構部 6 良否判定回路 7 ブロアー 8 吸引ノズル C 円筒状キャップ(キャップ) m1 タブレット(投入部品) m2 ガラス板(投入部品) Aa,Ab 投入部品の良否検査装置 1 Jig 2 Pallet 3 Conveyor 4 Camera 5 Camera operating mechanism 6 Pass / fail judgment circuit 7 Blower 8 Suction nozzle C Cylindrical cap (cap) m1 Tablet (input component) m2 Glass plate (input component) Aa, Ab Quality inspection of input component apparatus

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キャップおよびこのキャップ内に投入さ
れた投入部品の平面画像を撮像するためのカメラと、 このカメラで撮像されたキャップの画像データからその
キャップの画像の重心を算出するとともに、この重心を
基準として一定の検査領域を設定し、その検査領域にお
いて上記投入部品と認識される画像データの占める割合
が所定の閾値以下であるときに不良と判断する良否判定
手段とを備えていることを特徴とする、投入部品の良否
検査装置。
1. A camera for picking up a planar image of a cap and a put-in component put in the cap, a center of gravity of the image of the cap is calculated from image data of the cap picked up by the camera, and A certain inspection area is set on the basis of the center of gravity, and there is provided a quality determination means for determining a defect when the ratio of the image data recognized as the input component in the inspection area is equal to or less than a predetermined threshold value. A quality inspection device for input parts.
【請求項2】 上記カメラは、複数のキャップを縦横に
配列したジグを搬送するコンベアの上方に配置されてい
るとともに、このカメラの下方にそのジグが搬送されて
きたときには、ジグ上の各キャップの上方へ順次移動し
てその撮像を行うように水平方向に沿って移動自在に設
けられていることを特徴とする、請求項1に記載の投入
部品の良否検査装置。
2. The camera is arranged above a conveyor for carrying a jig having a plurality of caps arranged vertically and horizontally, and when the jig is carried below the camera, each cap on the jig is arranged. 2. The quality inspection apparatus for a thrown-in component according to claim 1, wherein the quality inspection apparatus is provided so as to be movable in the horizontal direction so as to sequentially move upward and to image the image.
【請求項3】 上記良否判定手段によって不良と判断さ
れた投入部品をキャップから分離し、またはその投入部
品が投入されているキャップと一緒に、その配置箇所か
ら取り出し除去するための取出手段が、上記カメラに連
動して水平移動するように設けられていることを特徴と
する、請求項1または2に記載の投入部品の良否検査装
置。
3. A take-out means for separating a put-in component judged to be defective by the quality judging means from the cap, or taking out and removing from the place where the put-in component is put together with the cap into which the put-in component is put, The quality inspection apparatus for a thrown component according to claim 1 or 2, wherein the inspection apparatus is provided so as to move horizontally in association with the camera.
【請求項4】 上記良否判定手段は、キャップの外径よ
りも小径に形成されたキャップの開口部の画像データに
基づいて、キャップの画像の重心の算出処理を実行し、
この処理による重心の算出が不可能なときには、キャッ
プの外周縁の画像データに基づいて上記重心の算出処理
を実行するように構成されていることを特徴とする、請
求項1ないし3の何れかに記載の投入部品の良否検査装
置。
4. The quality determining means executes a calculation process of a center of gravity of an image of the cap based on image data of an opening of the cap formed to have a smaller diameter than an outer diameter of the cap,
4. When it is impossible to calculate the center of gravity by this process, the process of calculating the center of gravity is executed based on the image data of the outer peripheral edge of the cap. The inspection device for the quality of the input parts described in.
【請求項5】 キャップおよびこのキャップ内に投入さ
れた投入部品の平面画像をカメラで撮像し、この撮像に
よって得られたキャップの画像データからそのキャップ
の画像の重心を算出した後に、この重心を基準として一
定の検査領域を設定し、その後この検査領域において上
記投入部品と認識される画像データが占める割合を求
め、この割合が所定の閾値以下であるときには不良と判
断することを特徴とする、投入部品の良否検査方法。
5. A plane image of a cap and a put-in component put in the cap is captured by a camera, and the center of gravity of the image of the cap is calculated from image data of the cap obtained by the image capturing. A certain inspection area is set as a reference, then the ratio of the image data recognized as the input component in this inspection area is obtained, and when this ratio is less than or equal to a predetermined threshold value, it is determined to be defective, How to inspect the quality of input parts.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2013114778A1 (en) * 2012-01-31 2013-08-08 コニカミノルタ株式会社 Optical component inspecting apparatus
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