JPH08510273A - 部分重合した樹脂 - Google Patents

部分重合した樹脂

Info

Publication number
JPH08510273A
JPH08510273A JP6524462A JP52446294A JPH08510273A JP H08510273 A JPH08510273 A JP H08510273A JP 6524462 A JP6524462 A JP 6524462A JP 52446294 A JP52446294 A JP 52446294A JP H08510273 A JPH08510273 A JP H08510273A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dvs
resin
solvent
monomer
heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6524462A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3839469B2 (ja
Inventor
エス. フォスター,パメラ
エル. エッカー,アーネスト
ダブリュ.,ジュニア. ラッター,エドワード
エス. モイヤー,エリック
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dow Chemical Co
Original Assignee
Dow Chemical Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dow Chemical Co filed Critical Dow Chemical Co
Publication of JPH08510273A publication Critical patent/JPH08510273A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3839469B2 publication Critical patent/JP3839469B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/075Silicon-containing compounds
    • G03F7/0757Macromolecular compounds containing Si-O, Si-C or Si-N bonds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D4/00Coating compositions, e.g. paints, varnishes or lacquers, based on organic non-macromolecular compounds having at least one polymerisable carbon-to-carbon unsaturated bond ; Coating compositions, based on monomers of macromolecular compounds of groups C09D183/00 - C09D183/16

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Polymerisation Methods In General (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (a) DVS樹脂が、固体基材上の薄層に塗布し重合した場合に、ひび割れをおこさず、かつ(b) DVS樹脂が、光子照射された際に有機不溶性固体にするに十分な量の少なくとも1種の感光性試薬の添加により光硬化性にされた際に、溶媒による現像において少なくとも50パーセントのフィルム残率を与える、ように溶媒中における当初のDVSモノマーの濃度において溶媒中でDVSモノマーを加熱することを含む、部分重合したDVS樹脂の形成方法。この方法は工業スケールに容易にスケールアップすることができ、沈澱溶媒から分離しなければならない低分子量画分をほとんどもしくはまったく発生せず、その保全性を保つ基材上にフィルムを形成するために用いてよい新規DVS樹脂を製造する。

Description

【発明の詳細な説明】 部分重合した樹脂 本発明は、部分重合した樹脂及びその製造方法に関する。 このような樹脂は光硬化性にされ、不活性化フィルムに、ホトレジストに、電 気装置の加工における断熱層として、半導体素子用の保護フィルムとして、並び にマルチチップモジュール及び他の多層電子回路における中間層誘電体として用 いてよい。 Johnsonらは、IEEE Transactions on Components,Hybrids,and Manufacturi ng Technology,Vol.13,No.2,1990年6月において、下式のポリマー すなわち、いまやThe Dow Chemical CompanyよりCYCLOTENE 3022(以後部分熱重 合したDVSモノマーもしくはDVS樹脂とする)としてメシチレン中の部分重 合した(B段階)溶液として入手可能な、1,3-ビス(2-ビシクロ[4.2.0]オク タ-1,3,5-トリエン-3-イルエテニル)-1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン(以 後DVSモノマーとする)を薄フィルムマルチチップモジュールの加工用の中間 層誘電体として用いてよいことを開示している。この部分熱重合したDVSモノ マーは、基材上にDVS樹脂の溶液をスピンコーティングし、溶媒を蒸発させ、 次いで窒素中において約250℃で約5分間加熱することによって重合することに よって適用してよい。重合には触媒及び/又は開始剤は必要ない。 1991年12月10日に出願された米国特許出願番号第805,395号、1992年12月10日 に出願され、1993年6月24日に93/12,055として公開されたPCT出願第92/10,64 9号、MoyerらのProceeding,IEPS,Austin,1992,p.37、及びRutterらのProcee dings,ISHM/IEPS,Denver,April 1992,p.394は、混合物を光子を輻射した際 に有機不溶性にするに十分な量の少なくとも1種の感光性試薬(photosensitive agent)の添加により光硬化性にされるDVS樹脂を開示している。 好ましい実施態様において、B段階のDVS樹脂は溶媒と混合され、高分子量 オリゴマーが沈澱され、これは次いで光硬化性樹脂として用いられる。モノマー 、ダイマー及び低分子量オリゴマーの除去は樹脂の光硬化を促進する。 樹脂の溶媒沈澱には欠点がある。DVS樹脂の大部分はその工程により拒絶さ れる。この部分を再利用することは、工程の複雑さを増す。また、沈澱に用いら れる溶媒は最終樹脂が使用のために用いられる溶媒とは異なっている。従って、 沈澱溶媒は除去しなければならず、固体樹脂は、有効な高分子量樹脂及びリサイ クルされた低分子量樹脂の両方のために使用された溶媒に再び溶解される。 米国特許第4,642,329号は、ベンゾシクロブテンモノマーを部分重合する又は B段階にする方法を開示している。教示されている方法はアミド及びスルホンの ような高沸点双極性非プロトン性溶媒中でベンゾシクロブテンを溶液重合するこ とである。ベンゾシクロブテンを溶解するためにリチウム塩を加えてもよい。 この方法も欠点を有する。部分重合したモノマーは高沸点溶媒から分離しなけ ればならず、ここで蒸留はベンゾシクロブテンをさらに重合する温度を含むこと に留意すべきである。また、リチウム塩の使用はリチウムの残留物を残し、これ は硬化した樹脂をミクロエ レクトロニクスにおける誘電体として用いる場合に許容されない。 副生成物を形成せず、他の溶媒を必要とせず、かつ工業上スケールアップする ことのできる方法において低分子量オリゴマー(例えばモノマー、ダイマー及び トリマー等)のレベルが低いDVS樹脂を製造することが望まれる。 一態様において、本発明は、DVS樹脂の製造方法であって、少なくとも100, 000のMwにおいて樹脂がゲル化せずかつ160,000の絶対分子量において回転半径 がSEC/LALLSを用いて90Å未満であるような溶媒中のDVSモノマーの濃度で、 溶媒中においてDVSモノマーを加熱することを含む方法である。Mwはポリス チレン検量標準を基準としてSECにより測定した見かけの重量平均分子量であ る。 他の態様において、本発明は、DVS樹脂の製造方法であって、溶媒を除去し た場合にDVS樹脂がさらに190℃において硬化し、ゲル化後に剪断貯蔵弾性率 G’の増加速度は測定され、次いで分別転化における変化の関数としてG’の増 加速度を示す指数が400以下であるような溶媒中のDVSモノマーの濃度におい て溶媒中でDVSモノマーを加熱することを含む方法である。 他の態様において、本発明は、DVS樹脂の製造方法であって、 (a) 固体基材上の薄層に塗布し重合した際にDVS樹脂がひび割れず、そし て (b) 光子を輻射した際に混合物を有機不溶性固体に転化するに十分な量の少 なくとも1種の感光性試薬の添加によりDVS樹脂が光硬化性にされ、溶媒によ る現像の際に少なくとも50パーセントフィルムが残留される ような溶媒中のDVSモノマーの濃度において溶媒中でDVSモノマーを加熱す ることを含む方法である。 有機可溶性とは、光子に暴露されない光硬化性樹脂の一部が、Stoddard溶媒、 キシレン、メシチレン、トルエン、2-メトキシエチルエーテル(ジグリム)、N- メチルピロリドン(NMP)、NMPと2-ヒドロキシエチル2−ピロリドンの混 合物、ジプロピレングリコールジメチルエーテル(The Dow Chemical Companyよ りProglyde DMM溶媒として入手可能)、Stoddard/メタノール混合物、乳酸エチ ル、n-ブチルブチレート、エチルブチレート及び他のブチルエステル、もしくは これらの混合物のような炭化水素に可溶であることを意味する。 この工程及びDVS樹脂を説明するこれらの3つの方法は同じ工程及びDVS 樹脂を説明すると理解されるが、各説明において変化があってもよい。 他の態様において、本発明は前記工程により製造されたDVS樹脂である。 他の態様において、本発明は160,000の絶対分子量において回転半径が、SEC/L ALLSを用いて90Å未満であるDVS樹脂である。 他の態様において、本発明は、DVS樹脂から溶媒を除去し、その後190℃で 硬化させた、ゲル化直後に剪断貯蔵弾性率G’の増加速度を測定した場合に、分 画転化の変化の関数として増加するG’の速度が400以下であるDVS樹脂であ る。 他の態様において、本発明は、前記DVS樹脂又は前記方法により形成された DVS樹脂を含む光硬化性組成物である。 他の態様において、本発明は、前記DVS樹脂又は前記方法により形成された DVS樹脂の硬化したポリマーである。 他の態様において、本発明は、前記DVS樹脂又は前記方法により形成された DVS樹脂の硬化したポリマーの少なくとも1つのパターン化した層を含む基材 である。 本発明の特徴は、DVSモノマーの当初の濃度が特定の範囲内にある溶媒中で 重合が行われることである。 本発明の利点は、工程を工業スケールに容易にスケールアップすることができ 、沈澱する溶媒から分離しなければならない低分子量画分がほとんどあるいはま ったく発生せず、DVS樹脂をその一体性を維持する基材上のフィルムの形成に 使用可能にすることである。 本発明のDVSモノマーは下式の構造の化合物を含む。 上式中、各R3は独立にC1-6アルキル、シクロアルキル、アルアルキル、又は フェニルであり、 各R5は独立にC1-6アルキル、トリメチルシリル、メトキシ、又はクロロであ り、 各R6は独立にC1-6アルキル、クロロ、又はシアノであり、 nは1以上の整数であり、そして 各q及びrは独立に0又は1の整数である。 最も好ましいDVS化合物は、下式により表される。 この化合物の説明は特定の幾何異性体又はエチレン二重結合に関する空間配向 を規定するものと解釈すべきではない。この方法によ り形成される組成物は、この二重結合についての位置異性体並びに他の化合物を 含む。 これらのオルガノポリシロキサンが架橋したビスベンゾシクロブテンモノマー は、米国特許第4,812,588号、5,136,069号、5,138,081号、及び1991年3月28日出 願の米国特許出願番号第677,023号に記載されている方法によって製造すること ができる。 好ましいDVSモノマーを製造するための前記記載の方法によって、主要な成 分としてジビニルテトラメチルジシロキサン−ビス−ベンゾシクロブテンモノマ ーを含む混合物が得られるであろう。このモノマー混合物は粘度が低い。本発明 の方法によって、このDVSモノマーは溶媒と接触して部分重合される。 薄フィルム中で光硬化性樹脂として用いた場合に許容される特性を示す部分重 合された樹脂を与える条件においてこのモノマーを重合する。許容される特性と は、ひび割れを生じないような結合性の保持を含む。また、硬化の際の適切なフ ィルム残率をも含む。ひび割れは、DVS樹脂の薄フィルムを基材に塗布した際 、光硬化する前に前焼き付けした際、又は現像溶媒に浸した際に、DVS樹脂の 薄フィルムに割れもしくはしわが形成することである。この割れ及びしわは樹脂 フィルムの厚さを不均一にする。フィルム残率は、溶媒を除去し紡糸した後の当 初のフィルムの厚さに対する最終的な硬化させたフィルムの厚さの比であり、通 常パーセントで表される。 例えば、約3重量パーセントの2,6-ビス(4-アジドベンジリデン)-4-メチル シクロヘキサノン(BAC−M)を加えることにより、光硬化性樹脂に樹脂を配 合することにより本発明の樹脂の特性をテストしてもよい。この組成物を、例え ばスピンもしくはスプレーコーティングによって基材に塗布し、溶媒を除去し、 光子源を用いてそのゲル化点をこえて樹脂組成物の少なくとも一部を硬化させ、 溶 媒を用いて樹脂組成物の露光されていない部分を除去し、そして最後に光硬化さ れた樹脂を例えば熱によって硬化させる。 光硬化する前にフィルムがひび割れずかつフィルム残率が適切であるならばこ の樹脂は許容される。好ましくは、現像溶媒が光硬化されたフィルムを除去せず かつ現像前のフィルムの厚さに対する最終的に硬化されたフィルムの厚さの比が 少なくとも約0.50であり、又は少なくとも約50パーセントのフィルムが残留され ている場合にフィルム残率は適切である。 好ましくは、部分重合工程における溶媒中のモノマーの当初の濃度を調節する ことによって許容される樹脂が達成されるであろう。好ましくは、この当初の濃 度は、モノマー及び溶媒の全重量を基準として12〜32重量パーセントのモノマー である。この当初の濃度が約12重量パーセント未満である場合、部分重合した樹 脂より形成されたフィルムは溶媒を除去した際又は硬化したフィルムのプラズマ クリーニングの間ににひび割れを起こす傾向がある。このモノマーの当初の濃度 が約32重量パーセントより多い場合、フィルム残率は50パーセント未満となる傾 向にある。 好ましくは、このフィルム残率は少なくとも約60パーセントであり、より好ま しくは少なくとも75パーセントであり、最も好ましくは少なくとも約90パーセン トである。 好ましい当初のDVSモノマー濃度を使用することにより、より好ましいフィ ルム特性が得られるであろう。好ましくは、当初のDVSモノマー濃度は17〜30 パーセントであり、より好ましくは20〜約25パーセントであり、最も好ましくは 25±1パーセントである。最終フィルム特性の変化は、同じ光加工条件における 当初のモノマー濃度と滑らかに相関する。 反応もしくは重合温度において部分重合したDVS樹脂及びDV Sモノマーの両方を溶解する溶媒中で部分重合を行ってよく、又は反応もしくは 重合温度においてDVSモノマーを溶解するが所望の部分重合したDVS樹脂を 溶解しない溶媒中で部分重合を行ってもよい。適切な溶媒は用いる工程によって 異なる。 部分重合したDVS樹脂を溶解する溶媒は炭化水素である。ヘキサン、Isopar G、Stoddard溶媒のような脂肪族炭化水素、トルエン、キシレン及びメシチレン のような芳香族炭化水素が例示される。より好ましい溶媒は、トルエン、キシレ ン及びメシチレンのような芳香族炭化水素を含む。メシチレンが最も好ましい。 それは、メシチレンは配合溶媒でもあるからである。他のより好ましい群は、16 5℃以下の標準沸点を有する炭化水素であり、この溶媒は蒸留により樹脂から容 易に除去されかつ配合溶媒と置換されるからである。 部分重合されたDVS樹脂が沈澱する溶媒はアルコールを含み、C3-6アルコ ールが好ましく、t-アミルアルコール及びn-ブタノールが最も好ましい。 好ましくは、溶媒及びDVSモノマーは最終的に完全に硬化されたフィルムの 誘電特性に影響を与えるイオンを含まない。除かれるべきイオンの例はアルカリ 金属イオン及び遷移金属イオンのような金属イオン、及びハロゲン化物、硫酸塩 及び硝酸塩のようなアニオンである。 DVSモノマーを重合するのに有効な温度において部分重合を行ってよい。好 適な温度は125〜300℃である。好ましい温度は140〜250℃であり、より好ましい 温度は140〜200℃である。重合温度が溶媒の沸点より高い場合、加圧容器を用い てもよい。低い温度では重合はゆっくり進行する。高い温度では重合度の調節が 困難である。 所望の最終硬化されたフィルム樹脂を与える部分重合された樹脂 を与える時間この部分重合を行ってよい。20,000〜170,000のMwを得るに十分 な時間この重合を行ってよい。好ましくは、90,000〜170,000のMwを得るに十 分な時間この重合を行ってよい。最も好ましくは、140,000±10,000g/molのMw を有するDVS樹脂を得るに十分な時間DVSモノマーの重合を行ってよい。 Mwは重量平均分子量である。Mnは数平均分子量である。この比、Mw/M nは樹脂の多分散度と呼ばれる。本明細書における分子量はみかけの分子量であ る。これは分子量範囲の狭い、線状アタクチックポリスチレンポリマーを標準と して用いるサイズ排除クロマトグラフィー(SEC)により決定される。本発明 の方法により製造されたポリマーは比較的広い分子量範囲を有する。また、モノ マーは4官能価であり、分枝鎖ポリマーを当てるであろう。 モノマーの当初の濃度は反応速度に影響を与える。モノマーの当初の濃度が高 いほど、所定のMwを達成するための時間は短い。 好ましくは、ゲル化点を越えてDVS樹脂を重合すべきではない。時間は重合 温度により異なる。温度が高いほど、所定の分子量を得るに必要な時間は短い。 好ましくは、重合反応から酸素は排除される。反応と接触する大気中の酸素濃 度は100ppm未満であることが好ましい。 本発明の部分重合工程が終了後、本発明の部分重合したDVS樹脂が得られる 。本発明のDVS樹脂はDVSモノマーそのままを部分重合し、所望の樹脂をア ルコール溶媒中に沈澱させることにより形成されるDVS樹脂とは異なっている と考えられる。溶媒中で部分重合された樹脂は、所定の絶対分子量に対して流体 力学的体積(hydrodynamic volueme)が小さいと考えられる。これは、溶媒によ り希釈された際に同じ分子からの活性サイトが互いに見出される可能性が高いた めであろう。モノマーの当初の濃度が低いほど、この影 響は著しい。 構造的差を直接調べるため、低角度レーザー光散乱を接続したサイズ排除クロ マトグラフィー(SEC/LALLS)を用いる。所定の分子量の種々のDVS樹脂にお いて回転半径(Rg)を測定することができる。30パーセント未満の当初のDV Sモノマー濃度において溶媒B段階により製造されるDVS樹脂はニートB段階 により製造した同様の樹脂よりも所定の絶対分子量に対してRgが低いことが見 出された。160,000の絶対分子量において、ニートB段階樹脂は90オングストロ ーム以上のRgを有している。160,000の絶対分子量において、30パーセントD VSモノマー未満の当初の濃度でB段階DVS樹脂は90Å未満のRgを有してい る。Rgを測定する適切な方法は実施例に示す。 当初のDVSモノマー濃度が30パーセント未満の溶媒中のB段階DVS樹脂と DVSモノマーをそのまま(ニート)部分重合しかつアルコール溶媒中で所望の 樹脂を沈澱させることによって形成したDVS樹脂の間の他の差はゲル化直後か つガラス化前のゴム状態における硬化挙動である。G’もしくは剪断貯蔵弾性率 は、等しい硬化条件においてニートB段階DVS樹脂についてより速く増加する 。ゴム相におけるG’の増加速度は平行プレートレオメーター内で測定される。 190℃の硬化温度及びゲル化をこえるゴム相においてG’は指数的に増加する。 このG’の指数的増加を示す速度定数はニートDVS樹脂にちては0.011sec-1で あり、一方DVSモノマーの当初の濃度が30パーセント以下であるB段階DVS 樹脂については0.009sec-1以下である。G’を測定する好適な方法は実施例に示 す。 本発明の方法によって形成された本発明の部分重合されたDVS樹脂は光硬化 性組成物に混合してもよい。この組成物は、1種以上の感光性試薬、1種以上の 光増感剤(photosensitizer)、及び他の 助剤、例えば抗酸化剤、充填剤、接着剤、染料、他のモノマーもしくはオリゴマ ー、重合促進剤もしくは遅延剤を含んでもよい。 本発明のDVS樹脂を光硬化性にする適切な試薬及びこの樹脂を光硬化する方 法は、1991年12月10日出願の米国特許出願番号第805,395号、1992年12月10日出 願のPCT出願番号92/10,649号、MoyerらのProceedings,IEPS,Austin,1992 ,p.37、RutterらのProceedings,ISHM/IEPS,Denver,1992年4月、p.394及びMo yerらのProceedings,MRS,Bostonに開示されている。 本発明の樹脂を光硬化性にするために用いられる好適な感光性試薬は、用いら れる光子源の波長の近くに吸収最大を有しかつベンゾシクロブテン光硬化に影響 を与えるものである。光増感剤が感光性試薬と共に用いられる場合、好適な感光 性試薬は光増感剤からエネルギーを受け取ることのできるものである。 好ましい感光性試薬は、アジド、ビスマレイミド、アクリレート、アセチレン 、イソシアネート、共役芳香族ケトン、及びベンゾフェノン含有ポリマーである 。 最も好ましい感光性試薬の群はアジドである。本発明のポリマーの製造に用い られるアジドは下式で表される。 Q−(N3x 上式中、Qはx価の有機部分であり、xは2以上の整数である。 好適なアジドの例、並びにその合成及び特性は、"Azides and Nitrenes,Reac tivity and Utility",Academic Press,1984、"Azides and Amines from Grign ard Reagents and Tosyl Azide",Smithら、J.Org.Chem.,34,3430(1969)、"En cyclopedia of Polymer Science and Engineering"、2版、Vol.11,186-212、Y angら、Proc.SPIE-Int.Soc.Opt.Eng.,469(Adv.Resist Technol.),117-26,198 4、Wolfら、J.Electochem.Soc.,131(7),1664-70,1984、Ts unodaら、Photographic Science and Engineering,17,390,(1973)、Journal o f Photographic Science,29,188,(1976)、"Organic Compounds with Nitrogen -Nitrogen Bonds" Ronald Prez Co.,New York,NY,1966、Boyerら、Chem.Rev., 54,1,(1954)、Japanese Patent Number JO1279240-A、米国特許第4,565,767号、 4,294,908号、4,354,976号、及び欧州特許出願90300546.0、84112698.0、843008 37.6及び83810156.6に記載されている。 好ましいアジドは芳香族ビスアジドであり、その例は下式によって表されるも のである。 2,6-ビス[3-(4-アジドフェニル)-2-プロペニリデン]シクロヘキサノン 2,6-ビス[3-(4-アジドフェニル)-2-プロペニリデン]-4-メチルシクロヘキサ ノン 2,6-ビス(4-アジドベンジリデン)-4-メチルシクロヘキサノン 2,6-ビス(4-アジドベンジリデン)-4-t-ブチルシクロヘキサノン 4,4'もしくは3,3'-ジアジドフェニルスルホン 4,4'もしくは3,3'-ジアジドフェニルスルフィド 4,4'もしくは3,3'-ジアジドフェニルエーテル 2,2-ビス[4-(4-アジドフェノキシ)フェニル]プロパン、又は 2,2-ビス[4-(3-アジドフェノキシ)フェニル]プロパン 4,4'-ジアジドスチルベン 4,4'-ジアジドベンズアラセトフェノン 2,3-ジアジド-1,4-ナフトキノン 4,4'-ジアジドジフェニルメタン より好ましいアジドはBAC−Mもしくは2,6-ビス[3-(4-アジドフェニル) -2-プロペニリデン]-4-メチルシクロヘキサノンのような高共役芳香族ビスアジ ドである。 最も好ましいアジドは用いられる光子源の波長により決定される。用いられる 光子源の波長付近に吸収最大を有するアジドが選ばれ、又は光増感剤が感光性試 薬と共に用いられる場合、光増感剤からエネルギーを受け取るアジドが選ばれる 。用いられる系中のアジドの溶解度も考慮される。本発明のDVS樹脂に適した 感光性試薬は2,6-ビス(4-アジドベンジリデン)-4-アルキルシクロヘキサノン 、例えば2,6-ビス(4-アジドベンジリデン)-4-メチルシクロヘキサノン(以後 BAC−Mとする)又は2,6-ビス(4-アジドベンジリデン)-4-t-ブチルシクロ ヘキサノンである。 ビスアジドの選択に関係する他の要因は下に置くDVS樹脂の相の厚さである 。BAC−Mは365nmの光を吸収する。BAC−Mは5ミクロン以下のような薄 層には良好な選択である。10ミクロンのようなより厚い層においては、そのよう な波長を吸収しない他のビスアジドと共にBAC−Mを用いてもよい。好ましい 第二のビスアジドは、4,4'もしくは3,3'-ジアジドフェニルスルホン、4,4'もし くは3,3'-ジアジドフェニルエーテル、2,2-ビス[4-(4-アジドフェノキシ)フ ェニル]プロパン、又は2,2-ビス[4-(3-アジドフェノキシ)フェニル]プロパ ンを含む。BAC−Mと共に用いるにより好ましいビスジアジドは、3,3'-ジア ジドフェニルスルホン、4,4'-ジアジドフェニルエーテル、又は2,2-ビス[4-(4 -アジドフェノキシ)フェニル]プロパンである。最も好ましいものは3,3'-ジア ジドフェニルスルホンである。 12ミクロンよりも厚い層に対してはBAC−Mを用いずにこれらの他のビスア ジドを用いてもよい。好ましい他のビスアジドは、3, 3'-ジアジドフェニルスルホン、4,4'もしくは3,3'-ジアジドフェニルエーテル、 2,2-ビス[4-(4-アジドフェノキシ)フェニル]プロパン、又は2,2-ビス[4-( 3-アジドフェノキシ)フェニル]プロパンを含む。より好ましいビスアジドは3, 3'-ジアジドフェニルスルホン、4,4'-ジアジドフェニルエーテル、又は2,2-ビス [4-(4-アジドフェノキシ)フェニル]プロパンである。最も好ましいものは3, 3'-ジアジドフェニルスルホンである。 本発明のDVS樹脂組成物は、本発明の光硬化されたDVSポリマーを与える ために光硬化させてよい。 本発明の光硬化されたポリマーの製造において用いられるDVS樹脂及び感光 性試薬の量は変化してよい。好適な量は、主要成分としてDVS樹脂を含み、光 子に曝されることにより光硬化された有機不溶性ポリマーが製造される光硬化性 混合物を提供するものである。 感光性試薬の好適な量は、組成物の光子に曝された部分に十分な硬化を与え、 現像溶媒中で不溶性にするものである。感光性試薬(BAC−M)の好ましい重 量パーセント範囲は、個々の感光性試薬及びDVS樹脂の重量の合計を基準とし て0.1〜20パーセントである。感光性試薬のより好ましい重量パーセント範囲は 、1〜6パーセントである。感光性試薬の最も好ましい重量パーセント範囲は、 1〜4パーセントである。DVS樹脂の好ましい重量パーセント範囲は、感光性 試薬及びDVS樹脂の重量の合計を基準として80〜99.1パーセントである。DV S樹脂のより好ましい重量パーセント範囲は、94〜99パーセントである。DVS 樹脂の最も好ましい重量パーセント範囲は、96〜99パーセントである。BAC− Mとは分子量がかなり異なる感光性試薬については、BAC−Mの前記の重量パ ーセントにより与えられるモル濃度に相当するよう感光性試薬のパ ーセントを調節してよい。 DVS樹脂及び感光性試薬に加え、本発明のある実施態様は、本発明を仕上げ るために加えてよい1種以上の所望の成分を含む。 工程の間並びに硬化した樹脂における組成物の酸化安定性を高めるために抗酸 化剤を加えてもよい。本発明においてフェノール、スルフィド、ホスフィット、 及びアミドタイプの抗酸化剤を用いてよい。ヒンダードアミンが好ましい抗酸化 剤である。脂肪族及び芳香族部分を有するヒンダーフォアミンがより好ましい抗 酸化剤である。最も好ましい抗酸化剤は重合した1,2-ジヒドロ-2,2,4-トリメチ ルキノリン、CAS登録番号26780-96-1である。 抗酸化剤は下式のオリゴマーとして入手可能である。 上式中、Rは水素、電子求引性もしくは電子供与性基であり、nは0〜6である 。好ましくはRは水素であるが、化合物の抗酸化活性を阻害しないどのような置 換基であってもよい。 Rが水素である2,2,4-トリメチル-1,2-ジヒドロキノリンは3もしくは4の重 合度のオリゴマー(nは1もしくは2である)としてR.T.VanderbiltよりAgeRit e MAとして入手可能である。 好ましくは、この所望の抗酸化剤は8重量パーセント未満、より好ましくは7 重量パーセント未満、最も好ましくは0.001〜6重量パーセントの範囲で用いられ る。 感光性試薬の感光性を高めるために光増感剤を加えてもよい。好 適な所望の光増感剤の合成及び特性は、SpechtらのTetrahedron,Vol.38,No.9 ,p.1203-1211(1982)、Tsunodaら、Photographic Science and Engineering,17 ,390(1973)、米国特許第4,268,603号、及び欧州特許出願90300546.0に開示され ている。好適な光増感剤は、その吸収最大が用いられる光子源の波長付近である ものである。 好ましい光増感剤は下式により表される。 上式中、Arは下式で表される。 上式中、R20、R21、R22、R23は独立にH、OCH3、及び−N(C25 2である。 上式中、Arは下式で表される。 より好ましい光増感剤は下式で表される。 3,3'-カルボニルビス(7-メトキシクマリン) 3,3'-カルボニルビス(7-ジエチルアミノクマリン) ある用途において、感光性試薬は光増感剤として作用するであろう。例えば、 BAC−Mはジアジドスルホン及びジアジドスルフィドに対して光増感剤として 作用する。 好ましくは、所望の光増感剤は5重量パーセント未満、より好ましくは3重量 パーセント未満、最も好ましくは0.001〜2重量パー セントの範囲で用いられる。 感光性試薬は、攪拌、超音波処理、及び加熱のような従来の方法により部分重 合したDVS樹脂/溶媒系に溶解することができる。DVS樹脂/感光性試薬混 合物のすべての処理は、好ましくは光子輻射による感光性反応の早期開始を防ぐ ため暗い環境において行われる。好適な環境を提供する1つの手段は、500nm未 満の波長を遮断する琥珀色(黄色)のフィルターを取り付けたライトを備えた作 業空間を用いることである。 DVS樹脂含有組成物の薄フィルムは接着促進剤を用いずに基材に塗布してよ い。所望により、接着促進剤をスプレーもしくはスピン溶液として配合してよく 、この溶液はDVS樹脂含有組成物を塗布する直前に塗布される。又は、接着促 進剤はDVS樹脂/光架橋剤組成物に添加される。 接着促進剤は、分子の一端が金属、金属酸化物、もしくはセラミック基材表面 に共有結合しているかもしくは吸着しており、分子の他の端がDVS樹脂ポリマ ーマトリックスと反応するようなものである。好適な接着促進剤は、トリアルコ キシビニルシラン及びトリアルコキシビニルシリルベンゾシクロブタンを含む。 トリアルコキシビニルシリルベンゾシクロブタンの製造及び特性は米国特許第4, 831,172号及び5,002,808号に記載されている。 より好ましい接着促進剤は、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、トリメト キシビニルシラン、トリエトキシビニルシラン、トリメトキシビニルシリルベン ゾシクロブタン、及びトリエトキシビニルシリルベンゾシクロブタンを含む。最 も好ましい接着促進剤は、3-メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン(CA S-02530-85-0)である。 好適な基材は、珪素、アルミナ、セラミック材料、例えば窒化ア ルミニウム、ガラス、焼結したセラミック、銅シート、印刷回路板、多結晶ダイ アモンドフィルム、GaAs、すなわちXIII-XV半導体、窒化珪素フィルム、ガラス セラミック及び高温ポリマーフィルム、例えばポリイミド及びポリベンザゾール からなるものである。より好ましい基材は、アルミナ及び珪素からなるものであ る。最も好ましい基材は珪素である。 DVS樹脂含有組成物は3〜70重量パーセント固体を含む溶液より塗布される 。DVS樹脂含有組成物の固体顔料及び分子量は、スプレーもしくはスピン溶液 の粘度を決定する。スピン時間及び速度は特定の組成物粘度におけるフィルムの 品質及び厚さを調節するために用いられる。ベンゾシクロブタンによる基材コー ティングの詳細は、Journal of Electronic Material,Vol.19,No.12,1990に 記載されている。 DVS樹脂組成物が25℃において1100±50cStの粘度を有する好ましい工程に おいて、68〜70°F、45〜55パーセントの相対湿度、500rpmで10秒の塗布量、280 0rpmで30秒のスピンにおいてDVS樹脂組成物をスピンコートしてよい。これは 通常厚さ10〜12ミクロンのコーティングを与える。乾燥した樹脂(コットンキャ ンディー)が基材の端に付着することを防ぐため、コートされる基材の裏側にキ シレンの流れを当ててもよい。 流延用溶媒の大部分はスピンコーティング工程の間に除去される。残留溶媒を 除去するためにソフトベーク(softbake)サイクルが必要かもしれない。このソ フトベークはポリマーフィルムの流れから生ずる応力を緩和し、基材へのフィル ムの接着を高め、そして例えばハードコンタクトモードにおいて印刷を行う場合 にマスクへの接着を防ぐため加工の間の取扱いを都合よくするようにフィルムを 硬くする。 ソフトベークは従来のオーブン、ベルトオーブン又はホットプレートにおいて 行ってよい。好ましいソフトベーク温度は、残留溶媒を除去し、ポリマーのガラ ス転移温度以上の温度を必要とする応力緩和を与えるに十分であるが、樹脂の酸 化もしくは熱硬化を避けかつ樹脂を流動させ平坦にするに十分低い温度である。 好ましいソフトベーク温度はDVS樹脂含有組成物の成分によって大きく異なる 。より好ましいソフトベーク温度は70〜120℃であり、最も好ましいソフトベー ク温度は75℃である。このソフトベークは時間温度依存性である。温度が高いほ ど、ソフトベークに必要な時間は短い。120℃のホットプレート上で1分が、80 ℃のオーブン内で20〜30分と同じ結果を達成する。BAC−Mを用いる場合、そ の熱不安定性のため、75℃で20分ソフトベークすることが好ましい。 好ましいソフトベーク時間は、残留溶媒を除去し、応力を緩和するに十分であ るが、樹脂成分の酸化又は熱硬化を避けるに十分短い時間である。好ましいソフ トベーク時間はDVS樹脂含有組成物の成分によって大きく異なる。より好まし いソフトベーク時間は15秒〜60分である。最も好ましいソフトベーク時間は所望 の特性と処理能力によってきまり、15秒〜30分である。処理能力を最大にするた め、時間は短いほうが適している。 好適なソフトベーク雰囲気は、真空、空気、窒素、アルゴン、及びヘリウムを 含む。窒素が最も好ましい雰囲気である。 照射時間は用いる光子源によってきまる。高圧水銀光子源の種々の成分の選択 的除去は優れたフィルム特性を与える好適な光子源は、この光子源の波長エネル ギーを吸収することのできる好適な感光性試薬が存在するものである。好ましい 光子源は、可視光、紫外線、X線、及び電子ビームを含む。より好ましい光子源 は、紫外線及び可視光を含む。最も好ましい光子源は超高圧水銀アークである。 そ の量はフィルムの厚さ及び用いる感光性試薬によってきまる。10ミクロンの厚さ のフィルムに対しては、好適な量はl-ライン(365nm)において300〜600mJ/cm2 である。 従来の方法で近接もしくはソフトコンタクトモードにおいて保護マスクを通し てDVS樹脂組成物にあたる光をパターン化してもよい。 光子をあてた後、ソフトベークサイクルを用いてもよい。このサイクルは長寿 命の光化学的に発生した中間体の反応速度を高める。この中間体はこのサイクル の間高い移動性を有し、従って移動し、反応種を発見する。 この反応性中間体の移動性を高めるたの方法は、光子照射の間に加熱すること である。そのような方法は感光性試薬の感度を高める。 光子照射終了後、フィルムを溶媒現像する。溶媒現像は、溶解溶媒を用いて光 子照射されていない、すなわち光硬化されていない材料を除去する。溶解は2つ の工程を含む。第一の工程はガラス状ポリマーを膨潤ネットワークに転化する溶 媒浸透である。第二の工程は溶液海面においてゲルから低分子量オリゴマーを抽 出することを含む。 好適な現像溶媒は、光子が照射されていない成分を選択的に溶解し、光子が照 射されているフィルムの膨潤を最小にするものである。露光されていないDVS 樹脂フィルムに適した溶媒は、炭化水素、例えばStoddard溶媒、キシレン、メシ チレン及びトルエン、2-メトキシエチルエーテル(ジグリム)、C5-C12ブチル エステル、例えばエチルブチレート及びn-ブチルブチレート、ジプロピレングリ コールジメチルエーテル(Proglyde DMM溶媒)、N-メチルピロリドン(NMP)、 NMPと2-ヒドロキシエチル2-ピロリドンの混合物及びStoddard/メタノール混 合物を含む。ここでStoddard溶媒とは、"Haw ley's Condensed Chemical Dictionary",11版、Van Nostrand Reinhold Compan y,New York,1987に規定されている。 DVS樹脂フィルム系用の最も好ましい溶媒は、Stoddard溶媒及びProglyme D MMジプロピレングリコールジメチルエーテルである。Stoddard溶媒は良好なフィ ルム残率を与えるが、露光されていないDVS樹脂の溶解が遅く、引火点が低い 。Proglyme DMMジプロピレングリコールジメチルエーテルはフィルム残率が低い が、高い引火点を有し、例えばジグリムよりも毒性が低い。N-ブチルブチレート は厚さ8ミクロン未満のふぃるむに対しては良好な選択であるが、より厚いフィ ルムではひび割れを起こす傾向がある。現像溶媒の選択は使用者の選択によって ある程度支配される。 好ましい溶媒現像法は、スプレー、パドルもしくは浸漬法を含む。スプレー現 像は、大スケール製造にすることができるため好ましい方法である。1つの好ま しい方法はウェーハー上でパドリングし、実験により求められた時間浸透させる ことである。次いでウェーハーを高速で回転させ溶媒及び浸透したフィルムを除 去する。好ましい現像法は溶媒によってきまる。好ましくはジグリムがパドルさ れる。 厚さ10ミクロンのフィルムに対して好ましい組成物において、68°Fで2分間S toddard溶媒をパドルし、次いで500rpmで回転させながら20分間洗浄する。 140,000〜150,000のMwを達成するため、例示されたモノマー合成法を用いて 製造されたDVSモノマーより製造された好ましいDVS樹脂を用い、25パーセ ント固体の当初の濃度において、例示された方法を用いてB段階にしてもよい。 DVS樹脂を基準として3重量パーセントのBAC−M及び1重量パーセントの AgeRite MAを配合した樹脂を用いて厚さ5〜7ミクロンのコーティングを形成 してもよい。これは次いでメシチレンの添加により25℃で350±17cStの粘度に希 釈される(約40パーセントDVS樹脂)。DVS樹脂を基準として2重量パーセ ントのBAC−M、0.75重量パーセントの3,3'-ジアジドフェニルスルホン及び0 .75重量パーセントのAgeRite MAを配合した樹脂を用いて厚さ8〜10ミクロンのコ ーティングを形成してもよい。これは次いでメシチレンにより25℃で1100±50cS tの粘度にされる(約47パーセントDVS樹脂)。1重量パーセントのBAC− M、0.9重量パーセントの3,3'-ジアジドフェニルスルホン及び0.75もしくは1重 量パーセントのAgeRite MAを配合した樹脂を用いて厚さ20ミクロンのコーティン グを形成してもよい。 20ミクロン以上の厚さのフィルムを形成するため、より低い粘度の溶液のため に回転速度を例えば850rpmまで低下させなければならず、又は粘度を高めかつよ り速い速度で回転させてもよい。いずれにおいても、樹脂の一部を365nmの波長 の光で600〜1000mJ/cm2で光硬化させる。Proglyde DMM現像溶媒をウェーハー上 に少なくとも90秒間パドリングし、その後回転によって除去する。5ミクロンの コーティングでは、Stoddard溶媒又はn-ブチルブチレートのいずれかが有効な溶 媒である。10及び20ミクロンのコーティングでは、Stoddard溶媒が好ましい。 溶媒現像されたフィルムは、溶媒を除去するために後ベークしてよい。この後 ベークは、120〜140℃に0.5〜2分間温度上昇を含む。好ましくは、10ミクロンの フィルムは100℃で1分間大気中ホットプレート上で後ベークされる。 硬化を行う前にデバイスを光学的に観察してもよい。DVS樹脂は近UV波長 において蛍光を発する。この特性は光学観察に有利に用いられる。 特定の波長の光を照射し、異なる波長においてその部分を観察す ることにより蛍光光学観察を行う。この照射する波長は検出物に反射する光から 濾過される。最も簡単な態様は、近UV波長で観察部分を照射する水銀ランプ具 備する。反射された光は立体鏡及びカメラにより検出される。観察部分を立体鏡 の観察領域に置き、サイドからランプを照射する。立体鏡のクラウンガラス構成 部分はランプからの反射したUV光を濾過するが、観察部分からのより長い波長 の蛍光の観察を可能にする。カメラは反射した光を記録するために用いてよい。 そのような光学観察のために従来の市販入手可能な光学観察装置を用いてよい 。典型的には、この装置は輝線源、広帯域パスフィルター及びある種の機械映像 を用いる。照射源はレーザー又は原子線発生源であってよい。輝線源の使用は、 対象とする波長のみを取り出すプレフィルターの必要性を排除する。発生フィル ターシステムは照射する光の波長のみをブロックし、あらゆる波長の蛍光光を検 出器に通過させるように選ばれる。検出器はコンピュータロジックが適用される ようなタイプであってよい。 好ましくは、照射するかつ蛍光光波長は近UVにある。好ましい照射波長はK r+レーザーの337.5、356.4又は408nm、Ar+レーザーの351.1又は383.8nm、H e/Cdレーザーの325又は442nm、又は水銀蒸気ランプの254又は365nmである。 蛍光の発生は1つの波長で照射し異なる波長の光を検出する利点を与える。レ ーザー蛍光は樹脂と蛍光を発しない金属回路のような封入物の間を容易に区別す る。入射光及び反射光が同じ波長を有する場合、観察部位を区別する唯一のパラ メーターは反射率である。金属封入物の反射率は表面上の酸化物の量によって大 きく異なる。 自動光学観察により、観察されるものは光源により照射され、反射された光は 像をデジタルフォーマットに変換するカメラにより検 出される。 米国特許第4,152,723号は、回路板を光学的に観察する方法を詳細に記載して いる。光エネルギーのビームは、所定のパターンにおいて、絶縁基板上に配置さ れた金属半導体のパターンを含む回路板の表面をスキャンする。このビームはD VS樹脂中の検出可能な蛍光を励起するに十分高いエネルギーレベルを有してい る。蛍光は、この蛍光の波長に敏感な手段により選択的に検出され、ビームが蛍 光を発する基材上もしくは蛍光を発しない金属半導体上での入射であるかどうか を示すバイナリ相シグナルに変換する。このバイナリシグナルは、回路板の表面 のバイナリイメージが発生するようにビームのスキャンと同調される。 イメージ処理オプションは薄フィルム内の欠陥を検出しかつ確認する能力を拡 大する。CADイメージもしくは実際の機能を用いて発生した所望のイメージを 比較するためにデジタルシステムを用いてよい。このシステムは2つのイメージ の間の差のみを示しかつ欠陥のタイプを区別するようにプログラムしてもよい。 樹脂が多すぎるもしくは少なすぎる領域の数を基準として自動的にフィルムが排 除される。 2つのイメージの間の差のフーリエ変換により、欠陥のタイプが確認される。 より敏感な処理において、フーリエ変換されたイメージは欠陥の空間周波数特性 が調べられる。対象とする欠陥の変換を濾過した後、逆の変換は欠陥のみのイメ ージからなるであろう。 光学的観察が樹脂の上層の欠陥を検出した場合、それは適当な溶媒によりデバ イスから除去してよい。これはデバイスの極限収率を高める。好適な除去溶媒は 、樹脂の光硬化した上層を溶解するが、下の構造を侵さないものである。好適な 除去溶媒は、テトラヒドロフラン及び2,(3)(テトラヒドロフルフリルオキシ )テトラヒドロピ ランを含む。欠陥のある光硬化したDVS樹脂組成物フィルムは、75℃において 20分間、NMPをベースとするストリッパー、例えばShipley 1165ストリッパー 中で超音波処理により除去される。ある場合には、ストリッパーとしてキシレン を用いてもよい。 工程のこの時点において、例えば、光学的観察後、パターン化された薄フィル ムはさらにミクロ回路及び誘電層を有してもよく、これはさらに熱により硬化さ れる。 多層連続ユニットもしくはマルチチップモジュールを製造する方法は以下の文 献に記載されている。J.J.Reche,"Fabrication of High Density Multichip Mod ule"IEEE/CMT 1989 IEMT Symposium,p.104、T.Tessierら、"Process Considera tion in Fabrication Thin Film MCM",IEPS,1989,p.294、S.F.Hahnら、"The Fabrication and Properties of Thermoset Films Derived from Bisbenzocyclo butene for Multilayer Applications",Proceedings of the ACS Division of Polymeric Materials:Science and Engineering,59,190,1988、P.H.Townsend ら、"The Processing and Properties of Multilayer Interconnection Structu res Using Thermoset Films Derived From Bisbenzocyclobutene",Proceedings of the Materials Research Society,p.47,1989、J.Recheら、"High Density Multichip Module Fabrication",The International Journal for Hybrid Mic roelectronics,Vol.13,No.4,1990。マルチチップモジュールの製造に関する 他の情報は"Benzocyclobutene Processing Guide For Multilayer Interconnect Fabrication(Multichip Modules)",The Dow Chemical Company,Midland,Mic higan,1991に見られる。 現像し回転乾燥した後、又は後ベークした後、以下のスケジュールの1つを用 いて、残っている樹脂を窒素雰囲気下で硬化してもよ い。 他の金属もしくはポリマー層が形成されているソフト硬化されたフィルムに対 しては、210℃で40分間加熱してよい。 ハードなもしくは最終硬化したフィルムに対しては、以下のスケジュールによ って加熱してよい。 50℃で5分 15分かけて50℃から100℃に加熱する 100℃で15分 15分かけて100℃から150℃に加熱する 150℃に60分 60分かけて150℃から250℃に加熱する 250℃に1分 連続的に20℃ 好ましい厚さ10ミクロンのフィルムは250℃で60分間完全に硬化される。 赤外線炉内で樹脂フィルムを硬化させてもよい。好適な炉及び方法は、P.E.Ga rrouらのRapid Thermal Cure of BCB Dielectrics,Proceedings ECTC,San Die go,1992年5月,p.770-776に開示されている。窒素雰囲気下においてRadiant Te chnology Corporation Model No.LA-306赤外線オーブンを用いてよい。260℃に おいて1.5分でソフト硬化が得られる。280℃において30秒でハード硬化が得られ る。 DVS樹脂組成物の個々の層を硬化した後、コートされた基材をO2/CF4(9 0/10)プラズマに300ワット、200mTorrで30秒間暴露することによって連続バイ アス内に残っているスカムを除去してよい。この必要性はバイアスの大きさ及び 形状並びに残っているスカムの量によってきまる。 パターン化された硬化された樹脂フィルムを製造するため、以下のことが好ま しい。例示されるDVSモノマーを、メシチレン中25パーセント固体で165℃で4 6時間そして145℃で十分な時間B段階にし、145℃で4.4cp(又は25℃で35cSt) の粘度を得る。DVS樹脂は真空ストリップにより52重量パーセント固体(25℃ で4000cpの粘度)を得る。このDVS樹脂に2重量パーセントBAC−M、0.75 重量パーセント3,3'−ジアジドフェニルスルホン及び0.75重量パーセントのAgeR ite MA抗酸化剤を加え、25℃で1100±50cStの粘度までメシチレンで希釈する。 この組成物を基材上の部分的に熱硬化したDVS樹脂もしくは銅を下層に有す るSiO2上にスピンコートして10ミクロンの厚さを形成し、パターン化し、硬 化させ、最終フィルムを得る。68〜70°F、45〜55パーセント相対湿度において スピンコートを行う。500rpmで10秒塗布し、2800rpmで30秒スピンする。裏側を キシレンで洗浄し、スピニングの間基材の端に接着するコットンキャンディーを 防ぐ。 75℃で20分間予備ベークする。超高圧水銀アーク(365nm)により300〜600mJ/ cm2においてマスクを通して露光する。68°Fで2分間、Stoddard溶媒のパドルを 形成し、次いで500rpmでスピンしながら20秒間洗浄する。 100℃において1分間後ベークすることにより残留現像溶媒を除去する。追加 層を望む場合、N2中で210℃において40分間ソフト硬化する。最終硬化のため、 N2中で250℃において60分間ハード硬化する。コートされた基材をO2/CF4(9 0/10)プラズマに300ワット、200mTorrで30秒間暴露することによって連続バイ アス内に残っているスカムを除去する。 これは10ミクロンのパターン化されたフィルムを与える。 以下の実施例は本発明を説明するものであり、なんら限定するものではない。 特に示さない限り、部及びパーセントはすべて重量基準である。特に示さない限 り、重量パーセントは溶媒及び添加剤を除いた系内に存在する樹脂の重量に対す るものである。樹脂を溶媒内で部分重合させる例において、パーセント樹脂固体 は樹脂の重量を樹脂プラス溶媒の重量で割り、100倍したものである。 特に示さない限り、分子量は、標準として線状ポリスチレンを用いるサイズ排 除クロマトグラフィーにより得られたみかけの分子量である。DVS樹脂は線状 ではなく、検出手段に対して異なる応答を示すため分子量はみかけである。方法A 下式で表されるビスベンゾシクロブテンモノマーの製造 以下の物質を用いる 726g 3-ブロモベンゾシクロブテン(3.97mol) 369g 1,3-ジビニル-1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン(1.98mol) 1134g 酢酸カリウム(11.56mol) 0.90g 酢酸パラジウム 4.88g トリ(o-トリル)ホスフィン 1090mL N,N-ジメチルホルムアミド 545mL 脱イオン水 反応器に水を加え、攪拌する。酢酸カリウムを反応器に加え、溶 解するまで攪拌する。N,N-ジメチルホルムアミドを反応器に加え、次いで3-ブロ モベンゾシクロブテン、1,3-ジビニル-1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン、酢 酸パラジウム及びトリ(o-トリル)ホスフィンを加える。得られた混合物を窒素 流で30分間パージする。反応混合物を93℃に25時間加熱し、ここでガスクロマト グラフ分析により反応が終了したことが示される。 反応器の内容物を60℃に冷却し、攪拌を停止する。反応混合物を1000mLの脱イ オン水で希釈する。相が分離した後、水層を除去し、捨てる。 有機層を750mLのIsopar G炭化水素溶媒で希釈する。有機層を2500mLの脱イオ ン水で洗浄した水が中性になるまで洗浄する。 有機層を攪拌しながら2.9g(0.032mol)のt-ブチルヒドロペルオキシドを加え る。この混合物を60℃で4時間撹拌し、次いで室温まで冷却する。適当なサイズ のカラムに400gのシリカゲル及び90gの硫酸マグネシウムを5ミクロンのフィル ター上に充填してフィルターを準備する。有機溶液をこのカラムに通し、このカ ラムを500mLのIsoper G炭化水素溶媒で洗浄する。 ショートパス蒸留装置を用いて粗生成物を精製する。2つの方法を行う。第一 の方法において、粗生成物を脱気し、Isopar G炭化水素及び他の揮発物を110〜1 30℃及び4〜25mmHgにおいて除去する。第二の方法において、160℃の温度及び0. 001mmHgの圧力において、DVSモノマーを底のタール画分として残る精製した 生成物として除去する。 精製工程の種々の時点における無機不純物含量は以下のとおりである。 蒸留した生成物は、これ以上処理せずに電子用途に使用するに十分純粋である 。方法B SEC−LALLSによるDVS樹脂の特性決定 この方法は160,000の絶対分子量におけるDVS樹脂の回転半径Rgを測定す る。30重量パーセント固体における部分重合されたもしくはB段階の所定の分子 量におけるDVS樹脂のRgは、低分子量物を除去したもしくは除去しない部分 重合したものよりも低い。 50mgの広分子量アタクチック汎用ポリスチレン(Dow polystyrene1683)を25m LのHPLCグレードテトラヒドロフラン(THF)に溶解することによりポリスチレン 標準を調製する。ニートB段階DVSモノマーをメシチレンに溶解し、ブタノー ルのような非溶媒を加えることにより高分子量画分を沈澱させてDVS樹脂濃度 標準を調製する。沈澱を真空中で乾燥し、この粉末75mgを25mLのTHFに溶解する 。このテストするサンプルをメシチレンに溶解する。固体をベースとして約30mg を10mLのTHFに加える。 テストする前にシリンジタイプのフィルターを用いてサンプルを濾過する。10 0,000未満の公称のMwを有するサンプルについては、25mmのGelman Acrodiscシ リンジフィルター(CR-PTFE)、0.2ミ クロン気孔サイズを用いる。100,000以上の公称のMwを有するサンプルについ ては、25mmのAnatop Disposableシリンジフィルター及び0.02ミクロン気孔サイ ズを用いる。小さなフィルターは高分子量DVS樹脂中に存在するミクロゲルを 除去する。0.02ミクロンフィルターを通して濾過することは困難である。高分子 量サンプルを濾過するにはかなりの力が必要であり、フィルターが破壊しないよ うに注意しなければならない。必要なサンプルの量を制限するためオートサンプ ラーのバイアルに入れる体積を制限してもよい。 通常、75ミクロリットルのサンプルを3つの接続したPolymer Laboratories P L gel SECカラムに入れる。最初の2つはPL 10μm Mixed-Bカラムであり、第三 のものはPL 5μm Mixed-Cカラムである。このカラムは周囲温度において1mL/mi nのFisher HPLCグレードTHFで、脱気するためヘリウムを連続的に通して流す。 75μLのサンプルをWaters WISP 712オートサンプラーで投与する。低アングル レーザー光散乱をThermo-SeparationsのChromatixKMX-6により632.8nmの波長で 行う。示差屈折インデックスをWaters 410 Differential Refractive Index検出 器により測定する。Polymer Laboratories Calibre V5.0ソフトウェアーを用い てIBMPCにおいてデータを集める。 屈折率検出器ピーク下の領域を測定し、これを乾燥DVS樹脂より製造した標 準の屈折率検出器ピーク下での領域を比較することによりDVS樹脂の全体の濃 度を計算する。LALLSを用いて流出するポリマー画分のRayleighファクターと純 粋な溶媒のReyleighファクターの間の差である過剰のRayleighファクターを測定 する。これと即屈折率検出器により決定された流出する画分の濃度からサンプル の与えられた滞留時間の絶対分子量を計算することができる。 与えられた滞留時間のRgは公知の標準により同じ方法を行うこ とによってカラムにおいて計算することができる。THF中25℃におけるDow po lystyrene 1683のような線状アタクチックポリスチレンについて、Rg(Å)は 21.574+9.224e-4×MW-7.256e-10×MW2+2.2795E-17×MW3である。本発明を規定 するため、ポリスチレン標準を基準としてRgにより滞留時間を補正する。これ を基準として、160,000の絶対分子量におけるDVS樹脂サンプルについてRg を読み取ることができる。 種々のDVS樹脂のRgの値の例を表IIに示す。ここで、Rgは160,000の絶 対分子量について測定する。 方法C DMSによるDVSの特性決定 本発明のDVS樹脂を動的機械分光光度計によりニートB段階DVS樹脂と区 別する。動的機械分光光度計及びポリマーの特性決定すためのその使用は、J.D. FerryのViscoelastic Properties of Polymers,3版に記載されている。固体樹 脂のディスクを190℃において硬化させる。ゴム相におけるG’及び剪断貯蔵弾 性率の増加を測定する。30パーセント未満の濃度における溶媒中のB段階DVS 樹脂の増加率は、低分子量物を除去していてもいなくてもニートB段階DVS樹 脂より低い。 中範囲力リバランストランスジューサー及び高温操作用の環境チャンバーを備 えたRheometric Inc.(Piscataway,NJ)Model RDS-IIE動的機械分光光度計を用 いる。動的剪断貯蔵弾性率(G’)をひずみに対する応力の部位の比として計算 する。 DVS樹脂が溶液中にある場合、真空ストリップして溶媒を1パーセント未満 まで除去する。真空ストリップの間に硬化が進行しないように注意する。ディス ク(直径8mm×厚さ1.5〜2.0mm)を120℃、10〜15psiにおいて5分間圧縮成形す る。DMSのプレートを硬化温度(190℃)まで加熱し、プレートの間の隙間を なくす。オーブンを開き、樹脂ディスクを底のプレート上に乗せる。オーブンを 閉じ、上のプレートを下げてサンプルと接触させる。プレートの隙間を当初のサ ンプルの厚さ±0.1mmに調節し、接触を確実にする。 装置を始動し、30秒ごとに測定する。まず、ひずみシグナルは10ラジアン/se cの角度のある周波数及び10パーセントのひずみの大きさを有する。10〜11分後 、周波数は1ラジアン/secに低下する。硬化の間にG’は大きく増加するため 、トルクシグナルを許容される範囲に保つため、ひずみを定期的に低下させるこ とが必要である。 この等温硬化テストにより硬化時間に対するG’のデータが得られる。硬化温 度は正確に再現できないため、時間及び温度データより分転化変化を計算してよ い。 Δpで示されるテストの開始からの分転化変化は、R.A.Kirchhoff and K.J.Br uzaの"Progress in Polymer Science"Vol.18,p.85-185、1993に示されているD VSモノマーの疑似一次硬化反応の有効な速度を示す前記実験に基づく等式を用 いて硬化テストデータ から推定される。分転化の変化は Δp=p−p0 (式中、p0及びpはそれぞれテスト開始時及びテスト開始後のある時点におけ る分転化を示す。分転化(p)対硬化時間を推定するため、以下の計算を行う。 Pi+1=1−{(1−pi)exp[−ki+1(ti+1-ti)]} ここで速度定数は ki+1=(2.79×1015min-1)exp{-19200/Ti+1} (上式中、Ti+1は温度(°K)である) に基づいて推定される。 この分転化への硬化時間の変換は、SEC(残留モノマー)又はDSC(残留 発熱)により求められる当初の転化p0より開始する。当初の転化の決定におけ る不確実性が分転化の変化に与える影響は無視してよい。 次いでG’を分転化に対してプロットする。B段階DVS樹脂について、G’ はゲル化後ほぼ指数的に約20kPaの値まで増加し、この値は最も意味がある。こ のデータを G’=A・exp(a・Δp) (上式中、Aはテストの開始時におけるG’の外挿した値であり、ファクターa は分転化の変化(Δp)に対するG’の半対数プロットの傾斜である) にフィットさせる。 ニートB段階DVS樹脂では500〜900に変化する。当初のモノマー濃度が30パー セント以下である溶媒B段階DVS樹脂では、230〜350に変化する。値の例を表 IIIに示す。 例1〜10 溶媒中の部分重合 三口フラスコに攪拌器、還流冷却器、温度調節器を接続したサーモカップル、 及び温度調節器に接続した加熱マントルを取り付ける。前記方法により製造した DVSモノマー及びメシチレンを表に示す比でフラスコに加える(パーセントD VSモノマーは全溶液中の当初の重量パーセントDVSモノマーである)。 攪拌器を始動する。フラスコを窒素でパージし反応の間窒素を維持する。次い で反応容器を表に示す温度に表に示す時間加熱する。反応終了後、反応体をロー タリーエバポレーターにおいて90℃、約 50mmHgにおいて42パーセントDVS樹脂まで濃縮し、又はメシチレンを追加して 42パーセントDVS樹脂に希釈する。 次いでサイズ排除クロマトグラフィー(SEC)によりMn及びMwを測定す る。結果を表IVに示す。 このデータはモノマーの当初の濃度が増加すると、重合が所定のMwまで進行 した際にMnが低下する傾向にあることを示している。例11〜16 25,000のみかけのMwに達するまで167℃において同じ方法で他のサンプルを 部分重合する。残っているモノマーの重量パーセントを全DVSモノマー及びオ リゴマーを基準として決定する。結果を表Vに示す。 このデータは、与えられたMwにおいて、溶媒中の当初のモノマー濃度が増加 するとMnが低下し、これは残っているモノマーの重量パーセントが高いのが一 部の理由であることを示している。Mw/Mnの比は多分散性と呼ばれ、分子量 範囲の広がりを意味する。このデータは溶媒中の固体の当初の重量パーセントが 増加すると、多分散性、もしくはMw/Mnが増加することを示している。例16〜42 所定の当初のモノマー濃度において異なるMwまで他のサンプルを部分重合す る。 次いでDVS樹脂溶液を、例えば300cpsの粘度まで希釈する。より厚い、例え ば20ミクロンのフィルムを得るため、800cpsの粘度の溶液を用いてもよい。この 溶液をクラス100クリーンルーム内で5ミクロンフィルターを通して濾過する。 DVS樹脂を基準として3重量パーセントの2,6-ジ(4-アジドベンジリデン)4- メチルシクロヘキサノン(BAC−M)をDVS樹脂の溶液に加える。 裸珪素ウェーハーをプラズマ酸素洗浄し、脱イオン水中に浸漬し 、次いで回転するスピンドライヤーにおいてスピンリンスドライサイクルを行う 。次いで基材に3-アミノプロピルトリエトキシシランの0.5パーセント水溶液を 塗布して接着を促進する。次いでDVS樹脂溶液を約3mLの溶液を用いて、500r pmの塗布サイクルで10秒、そして5000rpmの塗布サイクルで30秒、珪素基材上に スピンコートする。コートされたウェーハーを窒素下80℃のオーブン内で30分間 予備ベークする。基材上のフィルムをOrielマスクアライナー(mask aligner) を用いてハードコンタクトモードで石英ホトマスクを通して125〜1000mJ/cm2の3 50〜450nmの波長の光を照射する。 フィルムの未露光部分を洗浄除去する現像溶媒を用いて潜イメージを現像する 。典型的溶媒は2-メトキシエチルエーテル(ジグリム)、n-ブチルブチレート、 Proglyme DMM、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、又はStoddard溶媒で ある。例23、25、26、30〜33、及び35〜39において、現像溶媒は2-メトキシエチ ルエーテルであり、例24、27〜29、34及び40では現像溶媒はn-ブチルブチレート である。 溶媒をコートされ露光された基材上にパドリングし、次いで500rpmで30秒間回 転させながら基材上に他の溶媒をスプレーする。溶媒塗布終了直後に回転速度を 4000〜5000rpmに高め溶媒を乾燥する。好ましくは、ジグリム及びProglyde DMM 溶媒をパドリングし、次いで回転により除去する。好ましくは、n-ブチルブチレ ートを回転の間にスプレーする。 フィルムの厚さをスチルスプロフィロメトリー(stylus profilometry)によ り測定する。このフィルムを窒素中250℃に1時間加熱することにより硬化する 。再びフィルムの厚さを測定し、溶媒現像前の厚さに対するハード硬化後の厚さ の比をパーセントフィルム残率で表す。フィルムの物理的変化も記録する。フィ ルムが亀裂もし くはひび割れした場合、実験を停止する。結果を表VIに示す。 表VIのデータは、高いMwが当初のモノマー濃度15、20、及び25パーセントに おいて高いフィルム残率を与えることを示している。これはまた、当初のモノマ ー濃度が12〜32パーセントの範囲外では、この範囲以下では亀裂を生じ、範囲以 上ではフィルム残率が低くなることを示している。5パーセントの当初のモノマ ー濃度より製造されたフィルムはスピンコーティング後溶媒を蒸発させると亀裂 が生ずる。10パーセントの当初のモノマー濃度より製造されたフィルムはソフト ベークから冷却すると亀裂が生ずる。 より薄いフィルムは亀裂が生ずる傾向が低い。3〜5ミクロンのフィルムは、 当初のモノマー濃度が12パーセントでも亀裂が生じることがない。10ミクロンよ り厚いフィルムは120℃で1分間ホットプレートベークした後、18パーセントの 当初のモノマー濃度でも亀裂が生じる。例42〜47 高温及び高圧における部分重合 高圧実験を行うために250mLのガラスをライニングした圧力反応器を用いる。 これに攪拌器、温度調節器及び加熱マントルに接続したサーモカップルを有する サーモウェル、窒素用ガス入口及び排気ラインを取り付ける。 メシチレン中の表に示す濃度のモノマーを反応器に加える。攪拌器を始動する 。反応器を窒素でパージし、反応の間窒素を維持する。次いで反応容器を表に示 す時間及び温度に加熱する。反応体の沸騰を避けるため、表に示す温度における 反応体の自己圧力以上に窒素圧を維持する。 次いでサイズ排除クロマトグラフィー(SEC)によりMn及びMwを測定し 、結果を表VIIに示す。 表VIIは、高温及び高圧において達成された分子量が前記の低圧において達成 されたものと実質的に同じであることを示している。重合時間が短いことを除い て、重合温度を高めることは部分重合したDVS樹脂にほとんど影響を与えない と考えられる。例48〜68 他の溶媒中での重合 メシチレン以外の溶媒を用い、溶媒中の部分重合と共に沈澱を用いる。 例43〜47において用いた同じ250mLのガラスライニング反応容器を用いて、メ シチレン以外の溶媒について実験を行う。 表に示す溶媒中の表に示す濃度のモノマーを反応器に加える。生成物溶液を冷 却して沈澱させることを除き、同じ方法を用いる。種々の画分の特性を測定する 。 次いでSECによりMn及びMwを測定する。結果を表VIIIa-cに示す。 例48は沈澱する前に高温において採取した均質部分重合したDVSである。室 温において静置後、溶液から2層のポリマーが沈澱する。例49は最初に形成した 底層である。例50は第二に形成した上層である。例51〜54 この溶液を183℃で11時間加熱し、22℃に冷却し、沈澱を例51として採取する 。反応器の内容物を再び167℃に6時間以上加熱し、均質な溶液を例52として採 取する。反応器を再び22℃に冷却し、沈澱を例53として採取する。反応器を再び 167℃に1.5時間以上加熱し、22℃に冷却し、沈澱を例54として採取する。 例52は冷却し、不溶性部分を沈澱させる前の均質な溶液のサンプ ルであるため低分子量であることを示している。 例55は冷却し不溶性部分を沈澱させる前の均質溶液のサンプルである。例55a は20重量パーセントオリゴマーまで希釈し30℃に冷却した際の例55より沈澱させ た固体である。例56は混合物を30℃に冷却した沈澱のサンプルである。 例57は冷却し不溶性部分を沈澱させる前の均質溶液のサンプルである。例58は 30℃に冷却した例57溶液から沈澱した固体である。 例59は重合混合物を30℃に冷却して沈澱させた固体のサンプルである。 例60は冷却し不溶性部分を沈澱させる前の均質溶液のサンプルである。例61は 30℃に冷却した例60溶液から沈澱した固体である。 例62は冷却し不溶性部分を沈澱させる前の均質溶液のサンプルである。例63は 30℃に冷却した例62溶液から沈澱した固体である。 例64は冷却し不溶性部分を沈澱させる前の均質溶液のサンプルである。例65は 30℃に冷却した例64溶液から沈澱した固体である。 例66は冷却し不溶性部分を沈澱させる前の均質溶液のサンプルである。例67は 30℃に冷却した例66溶液から沈澱した固体である。例68は例67の沈澱を除去した 後に混合物中に残っている液体のサンプルである。例69〜71 光規定(photodefine)性DVS樹脂組成物中のパターンの形成 例示されているDVSモノマーをメシチレン中25パーセント固体において、16 5℃で46時間、そして145℃で4.4cpの粘度(これは140,000±10,000のMwに相当 する)を達成するに十分な時間B段階にする。このDVS樹脂を真空ストリップ により52重量パーセント固体(粘度4000cp、25℃)まで濃縮する。このDVS樹 脂に表に示す量のAgeRite MA抗酸化剤を加える。この溶液をVortex shaker上で 2時間、Eberbach shaker上で一晩攪拌し、そして10分間超音波処理して添加物 をすべて溶解させ、空気の泡を除去する。 清潔な珪素ウェハーに3-アミノプロピルトリエトキシシラン接着促進剤の0.5 パーセント水溶液を3,000rpmのスピン速度で30秒間スピンコートする。光規定性 DVS樹脂組成物を10秒塗布速度で500rpmで、次いで2750rpmで30秒間ウェハー 上にスピンコートする。このウェハーを80℃で20分間予備ベークする。ウェハー をCanonマス クアライナーに入れ、石英ホトマスクを通して、350〜450nmの広帯源を用いて36 5nmで1,000mJ/cm2の光に露光する。 露光後、ウェハーをSolite model 5110-NDスプレー現像器の真空チャック上に 設置してフィルムの表面上にStoddard溶媒をパドリングすることによりフィルム を現像する。光硬化されていない樹脂が溶解した後、ウェハーを500rpmで10秒間 スピンさせ、その間表面にStoddard溶媒流をあてる。ウェハーを4000rpmで30秒 スピンさせ乾燥する。ウェハーを窒素下において50℃で5分間加熱し、5分かけ て100℃に昇温し、100℃に15分間加熱し、15分かけて150℃に昇温し、150℃で15 分間加熱し、60分かけて250℃に昇温し、250℃で60分間加熱し、そして120分か けて100℃にする。 予備ベーク後及びハード硬化後にフィルムの厚さを測定する。予備ベーク後の フィルムの厚さに対するハード硬化後のフィルムの厚さの比は、パーセントで表 すフィルム残率である。結果を表IXに示す。 例69(5ミクロン)には3.0重量パーセントBAC−M及び1.0重量パーセント AgeRite MAを配合する。例70(10ミクロン)には2.0重量パーセントBAC−M 、0.75重量パーセント3,3'-ジアジドフェニルスルホン及び0.75〜1.0重量パーセ ントAgeRite MAを配合する。例71(20ミクロン)には1.0重量パーセントBAC −M、0.9重量パーセント3,3'-ジアジドフェニルスルホン及び1.0重量パーセン トAgeRite MAを配合する。 例72〜80 光規定性DVS樹脂組成物中のパターンの形成 例69〜71と同じ方法で、パターンを形成し硬化させる。DVS樹脂には表に示 す量のビスアジドを加える。結果を表Xに示す。この表中、ISOは2,2-ビス[ 4-(4-アジドフェノキシ)フェニル]プロパンであり、ETHERは4,4'-ジア ジドフェニルエーテルであり、SULFは4,4'-ジアジドフェニルスルフィドで ある。 例81〜83 光規定性DVS樹脂組成物中のパターンの形成 例69〜71と同じ方法で、パターンを形成し硬化させる。DVS樹脂には表に示 す量のビスアジドを加える。結果を表XIに示す。この表中、ISOは2,2-ビス[ 4-(4-アジドフェノキシ)フェニル]プロパンであり、ETHERは4,4'-ジア ジドフェニルエーテルであり、BAC−Mは2,6-ビス(4-アジドベンジリデン) -4-メチルシクロヘキサノンである。 他のベンゾシクロブテンモノマー、例えば米国特許第5,026,892号に開示され ているもの、を同様にして溶媒の存在下で部分重合してもよい。 溶媒の存在下における部分重合は、ビスベンゾシクロブテンモノマーが下式 のモノマーのように高融点を有する場合、又は部分重合が下式 のモノマーのように反応中に多量の熱を発生する場合に特に有利である。 部分重合されたビスベンゾシクロブテンは、混合物であるため融点が低い。溶 媒は重合の熱を冷却することによりヒートシンクとして又は冷却液としても作用 する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),CA,JP,KR (72)発明者 ラッター,エドワード ダブリュ.,ジュ ニア. アメリカ合衆国,ミシガン 48642,ミッ ドランド,ローレル レーン 1915 (72)発明者 モイヤー,エリック エス. アメリカ合衆国,ミシガン 48642,ミッ ドランド,アンドレ ストリート 4500

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.部分重合したDVS樹脂の形成方法であって、 (a) DVS樹脂が、固体基材上の薄層に塗布し重合した場合に、ひび割れを おこさず、かつ (b) DVS樹脂が、光子照射された際に有機不溶性固体にするに十分な量の 少なくとも1種の感光性試薬の添加により光硬化性にされた際に、溶媒による現 像において少なくとも50パーセントのフィルム残率を与える ように溶媒中における当初のDVSモノマーの濃度において溶媒中でDVSモノ マーを加熱することを含む方法。 2.DVSモノマーの当初の濃度が12〜32重量パーセントである、請求項1記 載の方法。 3. (a) DVS樹脂が、固体基材上の薄層に塗布し重合した場合に、ひび 割れをおこさず、かつ (b) DVS樹脂が、光子照射された際に有機不溶性固体にするに十分な量の 少なくとも1種の感光性試薬の添加により光硬化性にされた際に、溶媒による現 像において少なくとも50パーセントのフィルム残率を与える ように12〜32重量パーセントの溶媒中の当初のDVSモノマーの濃度において溶 媒中でDVSモノマーを加熱することを含む方法により形成されたDVS樹脂。 4.160,000の絶対分子量における回転半径が、SEC/LALLSを用いて9 0オングストローム未満であるDVS樹脂。 5.溶媒を除去し、その後190℃においてさらに硬化させ、そしてゲル化を越 える剪断貯蔵弾性率G’の増加率を想定した場合に、分転化の変化に対するG’ の増加速度を示す指数が400以下である DVS樹脂。 6.(a) DVS樹脂が、固体基材上の薄層に塗布し重合した場合に、ひび割 れをおこさず、かつ (b) DVS樹脂が、光子照射された際に有機不溶性固体にするに十分な量の 少なくとも1種の感光性試薬の添加により光硬化性にされた際に、溶媒による現 像において少なくとも50パーセントのフィルム残率を与える ように12〜32重量パーセントの溶媒中における当初のDVSモノマーの濃度にお いて溶媒中でDVSモノマーを加熱することを含む方法により形成されたDVS 樹脂を含む光硬化性組成物。 7.12〜32重量パーセントの溶媒中における当初のDVSモノマーの濃度にお いて溶媒中でDVSモノマーを加熱することを含む方法により形成されたDVS 樹脂を加熱することにより形成された硬化したポリマー。 8.12〜32重量パーセントの溶媒中における当初のDVSモノマーの濃度にお いて溶媒中でDVSモノマーを加熱することを含む方法により形成されたDVS 樹脂を加熱することにより形成された硬化したポリマーの少なくとも1つのパタ ーン化された層を含む基材。 9.160,000の絶対分子量における回転半径が、SEC/LALLSを用いて9 0オングストローム未満であるDVS樹脂を加熱することにより形成された硬化 したポリマーの少なくとも1つのパターン化された層を含む基材。 10.溶媒を除去し、その後190℃においてさらに硬化させ、そしてゲル化を越 える剪断貯蔵弾性率G’の増加率を想定した場合に、分転化の変化に対するG’ の増加速度を示す指数が400以下であるDVS樹脂を加熱することにより形成さ れた硬化したポリマーの少なくとも1つのパターン化された層を含む基材。
JP52446294A 1993-04-29 1994-04-25 部分重合した樹脂 Expired - Lifetime JP3839469B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US5499993A 1993-04-29 1993-04-29
US08/054,999 1993-04-29
US08/224,203 1994-04-14
US08/224,203 US5854302A (en) 1993-04-29 1994-04-14 Partially polymerized divinylsiloxane linked bisbenzocyclobutene resins and methods for making said resins
PCT/US1994/004535 WO1994025903A1 (en) 1993-04-29 1994-04-25 Partially polymerized resins

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08510273A true JPH08510273A (ja) 1996-10-29
JP3839469B2 JP3839469B2 (ja) 2006-11-01

Family

ID=26733729

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52446294A Expired - Lifetime JP3839469B2 (ja) 1993-04-29 1994-04-25 部分重合した樹脂

Country Status (9)

Country Link
US (2) US5854302A (ja)
EP (1) EP0700534B1 (ja)
JP (1) JP3839469B2 (ja)
KR (1) KR100305127B1 (ja)
CA (1) CA2159733A1 (ja)
DE (1) DE69424786T2 (ja)
MY (1) MY131673A (ja)
SG (1) SG59955A1 (ja)
WO (1) WO1994025903A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6232398B1 (en) 1996-12-05 2001-05-15 Nec Corporation Alkali or acid corrodible organic or composite particles in resin matrix
JP2002265762A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Nippon Kayaku Co Ltd ベンゾシクロブテン樹脂組成物、樹脂結合型金属成型部品
JP2004506797A (ja) * 2000-08-21 2004-03-04 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド マイクロ電子デバイス製造に使用する有機ポリマー絶縁膜用ハードマスクとしての有機シリケート樹脂
JP2006503167A (ja) * 2002-10-18 2006-01-26 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド 高い防湿性を有する、水性現像可能な感光性ベンゾシクロブテン系オリゴマー及びポリマー
KR100949053B1 (ko) * 2003-07-28 2010-03-25 다우 코닝 코포레이션 패턴 형성된 실리콘 층의 에칭방법

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0616701B1 (en) * 1991-12-10 2002-02-13 The Dow Chemical Company Photocurable cyclobutarene compositions
WO1996031805A1 (en) * 1995-04-03 1996-10-10 The Dow Chemical Company Photodefineable compositions
DE19543540C1 (de) * 1995-11-22 1996-11-21 Siemens Ag Vertikal integriertes Halbleiterbauelement mit zwei miteinander verbundenen Substraten und Herstellungsverfahren dafür
US6660875B1 (en) 1998-06-09 2003-12-09 Ppt Technologies, Llc Ion exchange purification of dielectric condensate precursor fluids and silicate esters such as tetraethylorthosilicate (TEOS)
US6361926B1 (en) * 1998-10-23 2002-03-26 The Dow Chemical Company Acid functional polymers based on benzocyclobutene
US6281115B1 (en) * 1998-11-16 2001-08-28 Industrial Technology Research Institute Sidewall protection for a via hole formed in a photosensitive, low dielectric constant layer
TW418475B (en) * 1999-02-22 2001-01-11 Mosel Vitelic Inc Configuration method for thin film cracking parameters and the application using the same
US6235544B1 (en) * 1999-04-20 2001-05-22 International Business Machines Corporation Seed metal delete process for thin film repair solutions using direct UV laser
US6535105B2 (en) 2000-03-30 2003-03-18 Avx Corporation Electronic device and process of making electronic device
US6617674B2 (en) * 2001-02-20 2003-09-09 Dow Corning Corporation Semiconductor package and method of preparing same
US6919164B2 (en) * 2001-06-08 2005-07-19 The Penn State Research Foundation Patterning compositions using E-beam lithography and structures and devices made thereby
US20040131970A1 (en) * 2003-01-07 2004-07-08 Meagley Robert P. Photodefinable polymers for semiconductor applications
JP2004221449A (ja) * 2003-01-17 2004-08-05 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 多層配線基板およびその製造方法
US7297460B2 (en) * 2003-02-26 2007-11-20 Agfa-Gevaert Radiation curable ink compositions suitable for ink-jet printing
DE602005025550D1 (de) 2004-10-13 2011-02-03 Dow Global Technologies Inc Polymerformulierungen auf Benzocyclobutenbasis
WO2006044338A1 (en) 2004-10-13 2006-04-27 Dow Global Technologies Inc. Aqueous developable benzocyclobutene-based polymer composition and method of use of such compositions
CN100374448C (zh) * 2005-12-30 2008-03-12 四川大学 双烯基硅氧烷桥联双苯并环丁烯单体及预聚体的制备方法
DE102007038514A1 (de) * 2007-08-16 2009-02-19 Robert Bosch Gmbh Elektrische Schaltungsanordnung und Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Schaltungsanordnung
CN101463042B (zh) * 2007-12-21 2012-01-11 中国科学院化学研究所 一种含硅苯并环丁烯树脂及其中间体与它们的制备方法
US20120021134A1 (en) * 2009-04-15 2012-01-26 3M Innovative Properties Company Process and apparatus for coating with reduced defects
CN102206229A (zh) * 2011-04-14 2011-10-05 西南科技大学 含硅苯并环丁烯单体及其制备方法
CN102516547B (zh) * 2011-11-18 2013-10-16 西南科技大学 苯并环丁烯硅油树脂及其制备方法
US9269623B2 (en) 2012-10-25 2016-02-23 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Ephemeral bonding
US9273215B2 (en) 2012-10-30 2016-03-01 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Adhesion promoter
US9315696B2 (en) 2013-10-31 2016-04-19 Dow Global Technologies Llc Ephemeral bonding
US9153357B1 (en) 2014-03-27 2015-10-06 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Adhesion promoter
US9644118B2 (en) 2015-03-03 2017-05-09 Dow Global Technologies Llc Method of releasably attaching a semiconductor substrate to a carrier
US9296915B1 (en) 2015-04-10 2016-03-29 Dow Global Technologies Llc Toughened arylcyclobutene polymers
US9441055B1 (en) 2015-09-18 2016-09-13 Dow Global Technologies Llc Arylcyclobutenes
US20170174805A1 (en) 2015-12-21 2017-06-22 Dow Global Technologies Llc Arylcyclobutenes
US10113024B2 (en) 2015-12-21 2018-10-30 Dow Global Technologies Llc Arylcyclobutenes
US20190112400A1 (en) 2017-10-12 2019-04-18 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Polymers from bis-arylcyclobutene group containing monomers that cure through other groups and methods for making the same
US11817316B2 (en) 2020-05-02 2023-11-14 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Coating compositions and methods of forming electronic devices
CN117098824A (zh) 2021-03-30 2023-11-21 日产化学株式会社 粘接剂组合物、层叠体、层叠体的制造方法以及经加工的基板的制造方法
EP4306609A1 (en) 2021-03-31 2024-01-17 Nissan Chemical Corporation Laminate, release agent composition, and method for manufacturing processed semiconductor substrate
EP4309893A1 (en) 2021-03-31 2024-01-24 Nissan Chemical Corporation Laminate, release agent composition, and method for producing processed semiconductor substrate
JPWO2022210241A1 (ja) 2021-03-31 2022-10-06
JPWO2023074324A1 (ja) 2021-10-29 2023-05-04

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2852379A (en) * 1955-05-04 1958-09-16 Eastman Kodak Co Azide resin photolithographic composition
US3075950A (en) * 1960-08-04 1963-01-29 Eastman Kodak Co Cross-linked olefinic polymers
US3625919A (en) * 1967-02-10 1971-12-07 Hiroyoshi Kamogawa Process for the preparation of diazotized vinylphenol polymers having phototropic properties
US3948667A (en) * 1971-06-21 1976-04-06 Japan Synthetic Rubber Company Limited Photosensitive compositions
US4197133A (en) * 1977-10-14 1980-04-08 Ciba-Geigy Corporation Photo-curable compositions of matter containing bis-azidophthalimidyl derivatives
DE2948324C2 (de) * 1978-12-01 1993-01-14 Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo Lichtempfindliches Gemisch, enthaltend eine Bisazidverbindung, und Verfahren zur Bildung von Mustern
DE2951101A1 (de) * 1979-12-19 1981-06-25 Merck Patent Gmbh, 6100 Darmstadt Verfahren zur herstellung von azidobenzalverbindungen
JPS5940641A (ja) * 1982-08-31 1984-03-06 Toshiba Corp 高解像度用ネガ型フオトレジスト組成物
DE3463576D1 (en) * 1983-03-03 1987-06-11 Toray Industries Radiation sensitive polymer composition
US4571375A (en) * 1983-10-24 1986-02-18 Benedikt George M Ring-opened polynorbornene negative photoresist with bisazide
US4642329A (en) * 1984-08-27 1987-02-10 The Dow Chemical Company Prepolymer processing of arylcyclobutene monomeric compositions
US4540763A (en) * 1984-09-14 1985-09-10 The Dow Chemical Company Polymers derived from poly(arylcyclobutenes)
US4783514A (en) * 1986-02-28 1988-11-08 The Dow Chemical Company Polymeric monoarylcyclobutane compositions
US4812588A (en) * 1987-12-14 1989-03-14 The Dow Chemical Company Polyorganosiloxane-bridged bisbenzocyclobutene monomers
US5002808A (en) * 1988-03-23 1991-03-26 The Dow Chemical Company Adhesion methods employing benzocyclobutene-based organosilane adhesion aids
JP2643261B2 (ja) * 1988-03-23 1997-08-20 株式会社日立製作所 ネガ型感光性組成物及びパタン形成方法
EP0616701B1 (en) * 1991-12-10 2002-02-13 The Dow Chemical Company Photocurable cyclobutarene compositions
US5416233A (en) * 1994-01-25 1995-05-16 The Dow Chemical Company Preparation of vinylsilane-benzocyclobutenes

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6232398B1 (en) 1996-12-05 2001-05-15 Nec Corporation Alkali or acid corrodible organic or composite particles in resin matrix
JP2004506797A (ja) * 2000-08-21 2004-03-04 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド マイクロ電子デバイス製造に使用する有機ポリマー絶縁膜用ハードマスクとしての有機シリケート樹脂
JP2002265762A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Nippon Kayaku Co Ltd ベンゾシクロブテン樹脂組成物、樹脂結合型金属成型部品
JP2006503167A (ja) * 2002-10-18 2006-01-26 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド 高い防湿性を有する、水性現像可能な感光性ベンゾシクロブテン系オリゴマー及びポリマー
JP2013014774A (ja) * 2002-10-18 2013-01-24 Dow Global Technologies Llc 高い防湿性を有する、水性現像可能な感光性ベンゾシクロブテン系オリゴマー又はポリマーの製造方法
KR100949053B1 (ko) * 2003-07-28 2010-03-25 다우 코닝 코포레이션 패턴 형성된 실리콘 층의 에칭방법

Also Published As

Publication number Publication date
MY131673A (en) 2007-08-30
WO1994025903A1 (en) 1994-11-10
JP3839469B2 (ja) 2006-11-01
CA2159733A1 (en) 1994-11-10
KR100305127B1 (ko) 2001-11-22
EP0700534B1 (en) 2000-05-31
SG59955A1 (en) 1999-02-22
DE69424786T2 (de) 2000-12-28
EP0700534A1 (en) 1996-03-13
DE69424786D1 (de) 2000-07-06
US5854302A (en) 1998-12-29
KR960702119A (ko) 1996-03-28
US5882836A (en) 1999-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08510273A (ja) 部分重合した樹脂
US5585450A (en) Oligomerized cyclobutarene resins
US9261782B2 (en) Maleimide containing cycloolefinic polymers and applications thereof
US8715900B2 (en) Self-imageable layer forming polymer and compositions thereof
CN1983029A (zh) 使用氟化氩光致抗蚀剂的方法和装置
JP6726281B2 (ja) ノルボルナジエン及び無水マレイン酸由来の重合体並びにその利用
CN102782001A (zh) 可自成像膜形成聚合物及其组合物和由此制得的器件和结构
US20090029287A1 (en) Photosensitive resin composition
CN111522200B (zh) 一种用于12英寸硅晶圆的负型pspi树脂及其制备方法与应用
EP1474724B1 (en) Halogenated anti-reflective coatings
US20030099904A1 (en) Photosensitive formulation for buffer coatings, film containing the photosensitive formulation, and method for fabricating electronics with the photosensitive formulation
CN118221938A (zh) 聚酰亚胺、负性感光树脂组合物以及图案固化膜的制备方法
CN117304486A (zh) 一种正性光敏聚酰亚胺树脂、其制备方法及正性光刻胶
TW202319412A (zh) 新型親水性釘壓mat之開發
CN115826360A (zh) 感光性聚酰亚胺组合物、图形的制造方法、固化物和电子部件
JP2024075235A (ja) ネガ型感光性樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法、及び半導体装置
TW202336055A (zh) 用於含聚苯乙烯與聚甲基丙烯酸甲酯鏈段之嵌段共聚物之自組裝之具可調極性的中性刷
CN118363270A (zh) 负型感光性树脂组合物、固化浮雕图案的制造方法和半导体装置
JPH01129246A (ja) 感光性耐熱樹脂組成物
TW201406798A (zh) 形成可自我成像的層之聚合物以及其組成物
KR20000015410A (ko) 신규한 포토레지스트 중합체 및 이를 이용한 포토레지스트 조성물
JPS6060641A (ja) X線レジスト
JPH0987229A (ja) カルボキシル基含有芳香族ビニル化合物
JPH07211141A (ja) 電子装置用部品

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040301

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050301

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20050531

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20050711

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050826

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060221

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060704

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060803

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100811

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110811

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110811

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120811

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130811

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term