JPH0833621A

JPH0833621A - ***撮影装置

Info

Publication number: JPH0833621A
Application number: JP6169371A
Authority: JP
Inventors: Akira Tsukamoto; 明塚本; Seiichiro Nagai; 清一郎永井; Masayuki Nishiki; 雅行西木; Kouichirou Nabuchi; 好一郎名渕; Toru Saisu; 亨斎須; Takayuki Tomizaki; 隆之富崎; Shinichi Yamada; 真一山田; Katsuyuki Taguchi; 克行田口
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Engineering Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 1994-07-21
Filing date: 1994-07-21
Publication date: 1996-02-06

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明の目的は、自動露出制御のためのＸ線の
検出位置を自動的に最適な位置に設定できる***撮影装
置を提供することである。【構成】本発明は、撮影台上に載置された***をＸ線で
撮影する***撮影ユニット１と、***一部を通過したＸ
線を検出し、時間的累積Ｘ線量が所定値に達した時に乳
房撮影ユニット１による撮影を停止させる自動露出制御
ユニット２と、スリット光源から***に向けて少なくと
も２方向に発射されたスリット光を撮影台を経由して２
本のラインセンサで受光し、これらラインセンサ各々の
信号強度変化から得られる４つの***輪郭点に基づいて
***形状を近似的に認識し、この認識した***形状に基
づいて自動露出制御ユニット２がＸ線を検出する位置を
決定し、この位置で自動露出制御ユニット２がＸ線を検
出するように自動露出制御ユニット２を制御する位置決
定ユニット３とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、自動露出制御により撮
影時間を管理しながら***を所定濃度で撮影する***撮
影装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】触診や視診では発見できないような主に
早期乳癌の微細病変を抽出するのに***撮影が用いられ
る。この***撮影には、主に***中心に存在する関心領
域のコントラストを高めるために***を圧迫して均等厚
で撮影する圧迫撮影が必須とされている。また、***撮
影には、濃度不足や過多による撮影失敗を避け、被曝量
を最小に抑えるために、自動露出制御（ＡＥＣ；Automa
tic Exposure Control）も必須とされている。

【０００３】ところで、関心領域のコントラストを高め
るためには、当然であるが、この関心領域を通過したＸ
線を検出し、自動露出制御に活用するのが最適である。
***の大きさは個人差があるので、***撮影装置ではＸ
線の検出位置を変えられるように、複数のＡＥＣセンサ
を設置して選択的に使用したり、１個のＡＥＣセンサを
移動自在に設けたりできるようになっている。

【０００４】しかし、オペレータは、撮影台上の圧迫乳
房を見て、患者が代る毎にＡＥＣセンサを選択または移
動する必要があり、非常に面倒であり、しかもＡＥＣセ
ンサの位置はオペレータが経験的に決定しているので、
ＡＥＣセンサを常に最適な位置に設定できるとは限らな
い。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した事情
に対処すべくなされたもので、その目的は、自動露出制
御のためのＸ線の検出位置を自動的に最適な位置に設定
できる***撮影装置を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、撮影
台上に載置された***をＸ線で撮影する***撮影ユニッ
トと、***の一部を通過したＸ線を検出し、時間的に累
積したＸ線量が所定値に達したときに上記***撮影ユニ
ットによる撮影を停止させる自動露出制御ユニットと、
スリット光源から***に向けて少なくとも２方向に発射
されたスリット光を上記撮影台を経由して少なくとも２
本のラインセンサで受光し、上記少なくとも２本のライ
ンセンサ各々の信号強度変化から得られる少なくとも４
つの***輪郭点に基づいて***形状を近似的に認識し、
この認識した***形状に基づいて上記自動露出制御ユニ
ットがＸ線を検出する位置を決定し、この位置で上記自
動露出制御ユニットがＸ線を検出するように上記自動露
出制御ユニットを制御する位置決定手段とを具備する。

【０００７】請求項４の発明は、Ｘ線管からばく射され
***を通過したＸ線像を画像データに変換する***撮影
ユニットと、***の一部を通過したＸ線を検出し、時間
的に累積したＸ線量が所定値に達したときに上記***撮
影ユニットによる撮影を停止させる自動露出制御ユニッ
トと、上記画像データから***形状を認識し、この認識
した***形状に基づいて上記自動露出制御ユニットがＸ
線を検出する位置を決定し、この位置で上記自動露出制
御ユニットがＸ線を検出するように上記自動露出制御ユ
ニットを制御する位置決定手段とを具備する。

【０００８】

【作用】請求項１の発明によれば、撮影台を経由した光
の大部分はラインセンサでとらえられるが、***に照射
された光の大部分は吸収や散乱等によってラインセンサ
でとらえられないので、ラインセンサからの信号強度が
明確に変化する点を***の輪郭点として***形状を認識
することができる。しかも、少なくとも４つの輪郭点か
ら***形状を認識するので、二等辺三角形や半楕円近似
により比較的正確な***形状を得ることができる。関心
部位は***の略中心に集中しているので、自動露出制御
のためのＸ線検出の最適位置を、二等辺三角形や半楕円
の例えば重心位置として計算することができる。自動露
出制御ユニットはこの位置でＸ線を検出するので、上記
目的を達成できる。

【０００９】請求項４の発明によれば、画像データから
***形状を認識し、この認識した***形状に基づいて上
記自動露出制御ユニットがＸ線を検出する位置が決定さ
れ、自動露出制御ユニットはこの位置でＸ線を検出する
ので、上記目的を達成できる。

【００１０】

【実施例】以下図面を参照して本発明による***撮影装
置の一実施例を説明する。（第１実施例）図１に第１実施例に係る***撮影装置の
構成を示す。図２に図１のスリット光源とラインセンサ
の構造的な配置関係を主に示す。***撮影装置は、撮影
台上に載置された***をＸ線で撮影する***撮影ユニッ
ト１と、***の一部を通過したＸ線を検出し、時間的に
累積したＸ線量が所定値に達したときに***撮影ユニッ
ト１による撮影を停止させる自動露出制御ユニット２
と、自動露出制御のためのＸ線を検出する位置を決定す
る位置決定ユニット３とから構成される。

【００１１】Ｘ線コントローラ１３からトリガを受けて
高電圧発生器１２から管電圧が印加されると、Ｘ線管１
１からＸ線がコーンビーム状に***に向けてばく射され
る。***を通過したＸ線はカセッテ１４のＸ線フィルム
を感光する。Ｘ線フィルムには、濃淡像としてのＸ線像
が写し込まれる。

【００１２】図２（ａ）に示すように、Ｘ線管１１は架
台４０の先端に収容され、カセッテ１４は、Ｘ線管１１
に対向した状態で、撮影台４１内に装填される。撮影
は、撮影台４１の天板に載置された***が圧迫板４２で
圧迫された状態で行われる。圧迫板４２は、図示しない
昇降機構に昇降自在に支持される。

【００１３】図２（ｂ）は、天板および撮像装置を取り
外した状態で撮影台４１内をＸ線管側から見た図であ
る。自動露出制御ユニット２の第１、第２、第３のＡＥ
Ｃセンサ２１，２２，２３は、一般的に半円形の検出面
を有し、シンチレータ板の後方にフォトマルチプライ
ヤ、イオンチェンバーまたは半導体等の光電変換器が装
着されてなる。第１、第２、第３のＡＥＣセンサ２１，
２２，２３は、撮影台４１内に天板に沿って異なる位
置、具体的には胸部に接触する撮影台４１のエッジから
順番に離散的に配列されている。第１、第２、第３のＡ
ＥＣセンサ２１，２２，２３の検出信号は、セレクタ２
４を介して択一的に積分器２５に送られる。積分器２５
は、入力した検出信号を時間的に積分（累積）すること
を周期的に繰り返し、累積する都度、累積Ｘ線量に応じ
た累積信号を比較器２７に出力する。比較器２７には、
基準濃度設定器２６から基準濃度に相当する基準信号が
供給される。比較器２７で累積信号は基準信号と比較さ
れ、累積信号が基準信号に達した時、つまり換言すると
累積Ｘ線量が所定値に達した時、例えば電圧の極性反転
という状態で撮影終了信号がＸ線コントローラ１３に出
力される。このときＸ線コントローラ１３は、高電圧発
生器１２に指示してＸ線管１１からＸ線のばく射を停止
させ、撮影を終了させる。

【００１４】位置決定ユニット３のスリット光源３０
は、Ｘ線管１１からカセッテ１４に至るＸ線束から退避
した例えば圧迫板４２の先端に装着され、少なくとも乳
房を横断する幅のスリット光を放射する。スリット光源
３０からのスリット光は、例えば分光器を介して少なく
とも２方向に分光され、図２（ｃ），（ｄ）に示すよう
に、各々撮影台１４の異なる反射位置で反射して、架台
４０に設けられた少なくとも２本のラインセンサ３１，
３２それぞれに受光される。圧迫板４２の昇降に伴うス
リット光源３０の上下に関わらず、反射光を受光できる
ように、２本のラインセンサ３１，３２は各々独立して
架台４０に上下移動自在に保持される。撮影台１４で反
射した光はラインセンサ３１，３２でとらえられるが、
***に照射された光の大部分は吸収や散乱等によってラ
インセンサ３１，３２でとらえられない。ラインセンサ
３１，３２各々の出力は***形状認識回路（ＳＲＣ）３
３に送られる。***形状認識回路３３は、ラインセンサ
３１，３２各々の信号分布が明確に変化する点を***の
輪郭点として***形状を認識する。２本のラインセンサ
３１，３２により輪郭点は少なくとも４つ得られるの
で、***形状認識回路３３は、これら４つの輪郭点の位
置関係から***形状を、二等辺三角形または半楕円に近
似的に認識する。位置決定回路３４は、***形状認識回
路３３が認識した***形状に基づいて、例えば二等辺三
角形または半楕円の重心位置を計算し、この重心位置に
一致するまたは最も近いＡＥＣセンサ２１，２２，２３
を選択し、セレクト信号をセレクタ２４に供給する。乳
癌等の検診のための関心部位は***の略中央に集中して
いるので、自動露出制御のためのＸ線検出の最適位置
を、二等辺三角形や半楕円の例えば重心位置として計算
することができる。

【００１５】セレクト信号に応じてＡＥＣセンサ２１，
２２，２３のいずれかが択一的に積分器２５に接続さ
れ、ＡＥＣセンサ２１，２２，２３のいずれかの出力信
号が自動露出制御に活用される。選択されたＡＥＣセン
サ２１，２２，２３からは周期的に信号出力が繰り返さ
れ、積分器２５は、ＡＥＣセンサ２１，２２，２３のい
ずれかの出力電圧を積分し、比較器２７に供給する。比
較器２７には基準濃度設定器２６からの基準濃度に応じ
た基準電圧が供給される。比較器２７は両者を比較し、
具体的には差分し、この差分電圧をＸ線コントローラ１
３に露出制御信号として供給する。露出制御信号の電圧
値（差分電圧）は、ＡＥＣセンサからの出力の積分電圧
が基準電圧に達した時、極性反転する。

【００１６】Ｘ線コントローラ１３は、露出制御信号の
電圧値が極性反転を示したとき、高電圧発生器１２にＸ
線ばく射の停止を指示する。これにより高電圧発生器１
２からＸ線管１１への管電圧、管電流の供給が停止さ
れ、Ｘ線管１１からのＸ線のばく射が停止して撮影が終
了する。

【００１７】次に本実施例の動作について説明する。実
際の撮影に先立って、***の形状を近似的に認識して、
ＡＥＣセンサ２１，２２，２３のいずれかを選択するた
めに、***が撮影台４１上に設置され、さらに圧迫板４
２に圧迫された状態で、位置決定ユニット３が起動す
る。スリット光源３０からのスリット光は、分光器を介
して少なくとも２方向に分光され、撮影台１４および乳
房に照射される。撮影台１４で反射した光はラインセン
サ３１，３２でとらえられる。一方、***に照射された
光の大部分は吸収や散乱等によってラインセンサ３１，
３２でとらえられない。

【００１８】ラインセンサ３１，３２各々の出力は、乳
房形状認識回路３３に送られる。***形状認識回路３３
は、ラインセンサ３１，３２各々の信号分布における信
号強度が明確に変化する点、つまり***と撮影台４１と
の境界点を、***の輪郭点として***形状を認識する。
図３（ａ）は二等辺三角形近似の場合、図３（ｂ）は半
楕円近似の場合の***形状を示す。***形状認識回路３
３は、撮影台４１を２次元座標として規定し、この座標
に、既知である第１の反射位置上の輪郭点Ｐ12，Ｐ12、
第１の反射位置上の輪郭点Ｐ21，Ｐ22を分布し、これら
４点を通過する二等辺三角形を求め、または半楕円をカ
ーブフィッチィングにより求めて***形状を近似する。
また、***形状認識回路３３は、***形状の大きさを示
す特徴量として、二等辺三角形であれば底辺ａと高さ
ｂ、また半楕円であれば長軸ａと短軸ｂを計算する。こ
の***形状の大きさを示す特徴量は、ＡＥＣセンサ２
１，２２，２３として、図５（ａ）に示すようなアイリ
ス機構をＡＥＣセンサの前面に配置したり、また図５
（ｂ）に示すようなＸ線を光に変換するシンチレータ層
の後方にアモルファスシリコン（a-si）を介して水平水
直走査回路を備えたランダムアクセス可能な固体撮像装
置を設けて任意の領域だけの素子信号を出力できるよう
な採光野の大きさを変化させることが可能なものが採用
されているときに、採光野の大きさを変化させるための
パラメータとして利用し、***の大きさに応じて採光野
の大きさを変化させることができる。図５（ｂ）の斜線
部分は、固体撮像装置から自動露出制御のためにランダ
ムアクセスで読み出される感光素子群を示す。

【００１９】位置決定回路３４は、***形状認識回路３
３が近似的に認識した***形状を表す二等辺三角形また
は半楕円の重心位置を計算し、この重心位置に一致する
または最も近いＡＥＣセンサ２１，２２，２３を選択
し、セレクト信号をセレクタ２４に供給する。上述した
ように、乳癌等の検診のための関心部位は***の略中央
に集中しているので、二等辺三角形や半楕円の例えば重
心位置が自動露出制御のためのＸ線検出の最適位置にな
る。

【００２０】セレクト信号に応じてＡＥＣセンサ２１，
２２，２３のいずれかが択一的に積分器２５に接続さ
れ、ＡＥＣセンサ２１，２２，２３のいずれかの出力信
号が自動露出制御に活用される。なお、図４に示すよう
に、１個のＡＥＣセンサが撮影台４１の表面に沿って縦
横に移動可能に支持されている場合、位置決定回路３４
が計算した重心位置にこのＡＥＣセンサが移動される。

【００２１】Ｘ線管１１からＸ線がばく射され、実際に
撮影が開始された以後は、選択されたＡＥＣセンサ２
１，２２または２３から、検出信号が周期的に積分器２
５に読み出され、積分器２５で順次加算、つまり積分さ
れ、この積分電圧が比較器２７で基準濃度設定器２６か
らの基準濃度に応じた基準電圧に比較される。例えば、
比較器２７で積分電圧から基準電圧が差分され、この差
分電圧がＸ線コントローラ１３に露出制御信号として供
給され、積分電圧が基準電圧に達して露出制御信号の電
圧値（差分電圧）が正から負へと極性反転したとき、つ
まり累積Ｘ線量が所定値に達したとき、Ｘ線コントロー
ラ１３は、高電圧発生器１２に指示して、高電圧発生器
１２からＸ線管１１への管電圧、管電流の供給を停止さ
せて、Ｘ線管１１からのＸ線のばく射を停止して撮影を
終了させる。

【００２２】このように本実施例では、オペレータが介
入しないで、自動露出制御のためのＸ線検出の位置を設
定できるので、オペレータによるＡＥＣセンサの位置調
整にかかる手間が解消され、しかも安定的に最適な位置
に決定することができる。（第２実施例）図６に第２実施例に係る***撮影装置の
構成を示す。なお図１と同じ部分には同符号を付して説
明は省略する。ここでは、撮像手段として、第１実施例
のＸ線フィルムに代えて、Ｘ線を光に変換するシンチレ
ータ層と、アモルファスシリコン（a-si）と、水平水直
走査回路を備えたランダムアクセス可能な固体撮像装置
５１とを、Ｘ線管１１側から順に積み重ねた構造のもの
を採用する。スキャンコントローラ５２の読み出し制御
により固体撮像装置５１から読み出された信号出力は、
図示しないアナログディジタルコンバータを介してディ
ジタル化されて、セレクタ５３を介して画像データの表
示や記録を行う出力ユニット５４と、位置決定ユニット
３とに選択的に送られる。

【００２３】本実施例では、自動露出制御のためのＸ線
検出の位置を決定するために、実際の撮影に先立って、
実際の撮影より低エネルギーのＸ線によりプレ撮影を行
なう。このプレ撮影のとき、セレクタ５３はシステムコ
ントローラ５７により制御され、固体撮像装置５１の出
力が位置決定ユニット３に接続される。固体撮像装置５
１が撮像したディジタル画像データは、フレームメモリ
５５を介して***形状認識回路５６に送り込まれ、ここ
で***形状として***の輪郭が認識される。この輪郭認
識の方法としては、図７（ｃ）に示すように、画像デー
タを水平線に沿って微分をとり、その変曲点、つまり信
号強度が特徴的に変化する点を、輪郭点として認定する
ことを、水平線を変えながら繰り返す。***を通過して
減衰を受けたＸ線は、***を通過しないＸ線に比較し
て、シンチレータ層に到達時のＸ線エネルギーが明らか
に低く、したがって***の輪郭点は信号強度が特徴的に
変化する変曲点に相違ない。また、プレ撮影は実際の撮
影より低エネルギーのＸ線により行われるので、実際の
撮影に比べてＳ／Ｎが低くなるが、***を通過して減衰
を受けたＸ線は、***を通過しないＸ線に比較して、シ
ンチレータ層に到達時のＸ線エネルギーが明らかに低い
ので、変曲点の識別には影響がない。

【００２４】この認識された***形状のデータは、位置
決定回路３４に送られ、そこで***形状の重心位置が自
動露出制御のためのＸ線検出の位置として計算される。
位置決定回路３４は、上述の第１実施例と同様に、重心
位置に一致するまたは最も近いＡＥＣセンサ２１，２
２，２３のいずれかをセレクトし、自動露出制御に活用
させる。また、１個のＡＥＣセンサが撮影台４１の表面
に沿って縦横に移動可能に支持されている場合、位置決
定回路３４が計算した重心位置にこのＡＥＣセンサが移
動される。また、***形状認識回路５６は、***形状の
大きさを示す特徴量として、***の長軸と短軸を計算す
る。この***形状の大きさを示す特徴量は、ＡＥＣセン
サ２１，２２，２３として、図５（ａ）に示したような
アイリス機構をＡＥＣセンサの前面に配置したり、また
図５（ｂ）に示したようなＸ線を光に変換するシンチレ
ータ層の後方にアモルファスシリコン（a-si）を介して
水平水直走査回路を備えたランダムアクセス可能な固体
撮像装置を設けて任意の領域だけの素子信号を出力でき
るような採光野の大きさを変化させることが可能なもの
が採用されているときに、採光野の大きさを変化させる
ためのパラメータとして利用し、***の大きさに応じて
採光野の大きさを変化させることができる。

【００２５】本実施例では、第１実施例と同様に、オペ
レータが介入しないで、自動露出制御のためのＸ線検出
の位置を設定できるので、オペレータによるＡＥＣセン
サの位置調整にかかる手間が解消され、しかも安定的に
最適な位置に決定することができる。また、本実施例で
は、***形状の認識に、***画像を撮像するための固体
撮像装置を兼用できるので、第１実施例のようにスリッ
ト光源やラインセンサ等を不要とすることができる。

【００２６】なお、上述の説明では、***形状認識回路
５６で***形状を認識し、この***形状に基づいて位置
決定回路３４で自動露出制御のためのＸ線検出の位置を
決定していたが、図７（ａ）に示すように、画像を複数
領域に分割し、各領域のピクセル値の合計値（または平
均値）を領域間で比較して、最も高い合計値、つまり最
も濃度の高い領域を選択し、この領域の中心位置を自動
露出制御のためのＸ線検出の位置として決定すること
や、図７（ｂ）に示すように、画像の離散点間でピクセ
ル値を比較して、最も高いピクセル値、つまり最も濃度
の高い離散点を選択し、この点の位置を自動露出制御の
ためのＸ線検出の位置として決定するようにしてもよ
い。（第３実施例）図８に第３実施例に係る***撮影装置の
構成を示す。なお図６と同じ部分には同符号を付して説
明は省略する。本実施例の特徴は、Ｘ線を光に変換する
シンチレータ層と、アモルファスシリコン（a-si）と、
水平水直走査回路を備えたランダムアクセス可能な電荷
蓄積型の固体撮像装置５１の出力を、自動露出制御に利
用する点にある。***形状を認識するためのプレ撮影に
ついては第２実施例と同様であるのでここでは省略す
る。このプレ撮影により、***形状が認識され、自動露
出制御のためのＸ線検出の位置および領域が決定され、
システムコントローラ５７に供給される。

【００２７】実際の撮影が行われＸ線が継続的にばく射
されているとき、システムコントローラ５７によりセレ
クタ６１は位置決定ユニット３側に接続される。システ
ムコントローラ５７に制御されたスキャンコントローラ
５２は、撮影の最中、固体撮像装置５１から、位置決定
回路３で決定された自動露出制御のためのＸ線検出領域
内の信号電荷だけを、１つのフレームデータとして一定
のフレームレートで繰り返し読み出させる。位置決定回
路３は、自動露出制御のためのＸ線検出領域を自由形状
で設定してもよく、また固体撮像装置５１のフレームを
複数に分割し、特定の領域を選択するようにしてもよ
い。

【００２８】固体撮像装置５１から読み出された当該Ｘ
線検出領域に関するフレームデータは、セレクタ５３，
６１を介して位置決定ユニット３のフレーム間積分回路
６２に送られる。フレーム間積分回路６２は、撮影開始
から現在までに撮影された全フレームについてフレーム
間で積分する。フレーム間積分回路６２で積分されたフ
レームデータは、フレームメモリ６３に送られ保持され
ると共に、フレームメモリ６３からピクセルデータ列と
して読み出され、フレーム内積分器６４で全てのピクセ
ルが積分される。この積分値は比較器２７で基準濃度設
定器２６からの基準値と比較され、自動露出制御に利用
される。

【００２９】この比較器２７の比較結果がＸ線コントロ
ーラ１３に露出制御信号として供給され、累積Ｘ線量が
所定値に達したとき、Ｘ線コントローラ１３は、高電圧
発生器１２に指示して、高電圧発生器１２からＸ線管１
１への管電圧、管電流の供給を停止させて、Ｘ線管１１
からのＸ線のばく射を停止して撮影を終了させる。

【００３０】システムコントローラ５７は、撮影終了
後、セレクタ５３，６１を制御して、固体撮像装置５１
を合成回路６５に接続する。そして、システムコントロ
ーラ５７は、スキャンコントローラ５２を制御して固体
撮像装置５１から画像データを合成回路６５に読み出さ
せる。この画像は、自動露出制御のためのＸ線検出領域
内のデータが欠落している。このため、システムコント
ローラ５７は、フレームメモリ６３を制御して、フレー
ムメモリ６３に保持されている自動露出制御のためのＸ
線検出領域内のデータを合成回路６５に読み出させて、
１フレームに合成し、***の画像データとして完成す
る。

【００３１】このように本実施例によれば、上述の第
１、第２実施例の効果に加えて、固体撮像装置５１を通
常の***画像の撮像だけでなく、***形状の認識および
自動露出のために兼用することができ、したがって、Ａ
ＥＣセンサは不要になり、コストダウンを図り、しかも
小形化を実現することができる。

【００３２】なお、上述の説明では、***形状認識回路
５６で***形状を認識し、この***形状に基づいて位置
決定回路３４で自動露出制御のためのＸ線検出の位置を
決定していたが、図７（ａ）に示すように、画像を複数
領域に分割し、各領域のピクセル値の合計値（または平
均値）を領域間で比較して、最も高い合計値、つまり最
も濃度の高い領域を選択し、この領域の中心位置を自動
露出制御のためのＸ線検出の位置として決定すること
や、図７（ｂ）に示すように、画像の離散点間でピクセ
ル値を比較して、最も高いピクセル値、つまり最も濃度
の高い離散点を選択し、この点の位置を自動露出制御の
ためのＸ線検出の位置として決定するようにしてもよ
い。本発明は上述した実施例に限定されず、種々変形し
て実施可能である。

【００３３】

【発明の効果】請求項１の発明によれば、撮影台を経由
した光の大部分はラインセンサでとらえられるが、***
に照射された光の大部分は吸収や散乱等によってライン
センサでとらえられないので、ラインセンサからの信号
強度が明確に変化する点を***の輪郭点として***形状
を認識することができ、しかも、少なくとも４つの輪郭
点から***形状を認識するので、二等辺三角形や半楕円
近似により比較的正確な***形状を得ることができ、関
心部位は***の略中心に集中しているので、自動露出制
御のためのＸ線検出の最適位置を、二等辺三角形や半楕
円の例えば重心位置として計算することができ、自動露
出制御ユニットはこの位置でＸ線を検出するので、自動
露出制御のためのＸ線の検出位置を自動的に最適な位置
に設定できる***撮影装置を提供することができる。

【００３４】請求項４の発明によれば、画像データから
***形状を認識し、この認識した***形状に基づいて上
記自動露出制御ユニットがＸ線を検出する位置が決定さ
れ、自動露出制御ユニットはこの位置でＸ線を検出する
ので、自動露出制御のためのＸ線の検出位置を自動的に
最適な位置に設定できる***撮影装置を提供することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１実施例に係る***撮影装置のブロック図。

【図２】図１のスリット光源とラインセンサの構造的な
配置関係を示す図。

【図３】***形状の近似方法を説明する図。

【図４】ＡＥＣセンサの変形例を示す図。

【図５】ＡＥＣセンサの他の変形例を示す図。

【図６】第２実施例に係る***撮影装置のブロック図。

【図７】***形状の認識方法を説明する図。

【図８】第３実施例に係る***撮影装置のブロック図。

【符号の説明】

１…***撮影ユニット、２…自動露出制御ユニット、３
…位置決定ユニット、１１…Ｘ線管、１２…高電圧発生
器、１３…Ｘ線コントローラ、１４…カセッテ、２１乃
至２３…ＡＥＣセンサ、２４…セレクタ、２５…積分
器、２６…基準濃度設定器、２７…比較器、３０…スリ
ット光源、３１，３２…ラインセンサ、３３…***形状
認識回路、３４…位置決定回路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者西木雅行栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者名渕好一郎栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者斎須亨栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者富崎隆之栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者山田真一栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者田口克行栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】撮影台上に載置された***をＸ線で撮影
する***撮影ユニットと、 ***の一部を通過したＸ線を検出し、時間的に累積した
Ｘ線量が所定値に達したときに前記***撮影ユニットに
よる撮影を停止させる自動露出制御ユニットと、スリ
ット光源から***に向けて少なくとも２方向に発射され
たスリット光を前記撮影台を経由して少なくとも２本の
ラインセンサで受光し、前記少なくとも２本のラインセ
ンサ各々の信号強度変化から得られる少なくとも４つの
***輪郭点に基づいて***形状を近似的に認識し、この
認識した***形状に基づいて前記自動露出制御ユニット
がＸ線を検出する位置を決定し、この位置で前記自動露
出制御ユニットがＸ線を検出するように前記自動露出制
御ユニットを制御する位置決定手段とを具備することを
特徴とする***撮影装置。
【請求項２】前記位置決定手段は前記認識した***形
状に基づいて、前記自動露出制御ユニットが***の一部
を通過したＸ線を検出する採光野の形状を決定し、前記
自動露出制御ユニットはランダムアクセス可能な固体撮
像装置を有し、前記位置決定手段が決定した採光野内の
前記固体撮像装置の検出信号を自動露出制御に活用する
ことを特徴とする請求項１に記載の***撮影装置。
【請求項３】前記***撮影ユニットはＸ線管と、***
を通過したＸ線を光に変換する変換手段と、前記変換手
段の出力光を撮像するランダムアクセス可能な固体撮像
装置とを有し、前記自動露出制御ユニットは前記位置決
定手段が決定した採光野内の前記固体撮像装置の信号出
力を取り込み自動露出制御に活用することを特徴とする
請求項１に記載の***撮影装置。
【請求項４】Ｘ線管からばく射され、***を通過した
Ｘ線像を画像データとして撮像する***撮影ユニット
と、 ***の一部を通過したＸ線を検出し、時間的に累積した
Ｘ線量が所定値に達したときに前記***撮影ユニットに
よる撮影を停止させる自動露出制御ユニットと、前記画像データから***形状を認識し、この認識した乳
房形状に基づいて前記自動露出制御ユニットがＸ線を検
出する位置を決定し、この位置で前記自動露出制御ユニ
ットがＸ線を検出するように前記自動露出制御ユニット
を制御する位置決定手段とを具備することを特徴とする
***撮影装置。
【請求項５】前記自動露出制御ユニットは前記撮影台
の天板に沿って異なる位置に配置された複数のＸ線セン
サを有し、前記位置決定手段が決定した位置にしたがっ
て前記複数のＸ線センサを選択的に使用することを特徴
とする請求項１又は請求項４に記載の***撮影装置。
【請求項６】前記自動露出制御ユニットは前記撮影台
に沿って移動可能なＸ線センサを有し、前記位置決定手
段が決定した位置に前記Ｘ線センサを設定することを特
徴とする請求項１又は請求項４に記載の***撮影装置。
【請求項７】前記位置決定手段は前記認識した***形
状に基づいて、前記自動露出制御ユニットが***の一部
を通過したＸ線を検出する採光野の形状を決定し、前記
自動露出制御ユニットは前記位置決定手段が決定した採
光野内の前記固体撮像装置の信号出力を取り込み自動露
出制御に活用することを特徴とする請求項４に記載の乳
房撮影装置。
【請求項８】前記自動露出制御ユニットは前記画像デ
ータの一部を取り込み自動露出制御に活用することを特
徴とする請求項４に記載の***撮影装置。