JPH08320430A - 自動焦点検出装置 - Google Patents

自動焦点検出装置

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JPH08320430A
JPH08320430A JP7148227A JP14822795A JPH08320430A JP H08320430 A JPH08320430 A JP H08320430A JP 7148227 A JP7148227 A JP 7148227A JP 14822795 A JP14822795 A JP 14822795A JP H08320430 A JPH08320430 A JP H08320430A
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JP
Japan
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scanning
image forming
light
photoelectric conversion
conversion element
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Application number
JP7148227A
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English (en)
Inventor
Haruto Sakai
春人 酒井
Aiichi Ishikawa
愛一 石川
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 物体面上の物体が少ない場合や光電変換素子
が僅かに傾いている場合でも、合焦状態を正確に検出す
ることができる自動焦点検出装置を提供する。 【構成】 光源からの光を物体面に照射する照射光学系
と、物体面からの反射光を光路差を有する2つの光束に
分割し、一方の光束を第1結像位置に、他方の光束を第
2結像位置に夫々結像させる結像光学系と、両結像位置
間に配置され、2つの光束を受ける光電変換素子とを備
えた自動焦点検出装置において、光電変換素子としてC
CDエリアセンサ5を用い、かつCCDエリアセンサ5
によって2次元的に走査する2つの走査領域を設定する
走査領域設定部10と、この設定部10により設定され
た2つの走査領域で受光された2つの光束の高周波成分
を比較して合焦制御を行う制御回路とを備える。2つの
光束に含まれる物体の像をCCDエリアセンサ5の2つ
の走査領域で確実に受光することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は顕微鏡等の光学機器に
使用可能な自動焦点検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の自動焦点検出装置としては、例え
ば、光源と、この光源からの光を物体面に照射する照射
光学系と、物体面からの反射光を光路差を有する2つの
光束に分割し、前記2つの光束の一方を第1結像位置に
結像させると共に、前記2つの光束の他方を第1結像位
置に対し光軸方向にずれた第2結像位置に結像させる結
像光学系と、第1結像位置と第2結像位置との間に配置
され、前記2つの光束の光学像を受光する光電変換素子
とを備え、光電変換素子により受光した2つの光束(2
つの光学像)を2つの電気信号に変換し、各電気信号の
高周波成分のみを取り出し、その絶対値を積分し、その
両積分値の差をとって合焦ずれ信号を得、この信号に基
づいて合焦状態を検出するように構成されたものが知ら
れている。そして、前記光電変換素子としては、図7に
示すようなCCDラインセンサ70が使用されている。
このCCDラインセンサ67は、1列に並んだ複数の素
子を有し、各素子から光電変換された電気信号が時系列
的に(順次)出力されるように構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、光電変換素子として図7に示すようなCC
Dラインセンサ70を使用しているので、(1)物体面
上の物体が少ないと、光路差を有する2つの光束(2つ
の光学像)71、72に含まれる物体の像71a、72
aがCCDラインセンサ70に受光されない場合があ
り、この場合には前記合焦ずれ信号が得られないので、
合焦状態を検出することができず、また、(2)CCD
ラインセンサ70が図7に示すように僅かでも傾いてい
ると、CCDラインセンサ70に受光される2つの光学
像71、72が一致しないので、合焦状態を正確に検出
できないという問題がある。
【0004】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題は物体面上の物体が少ない場合や光
電変換素子が僅かに傾いている場合でも、合焦状態を正
確に検出することができる自動焦点検出装置を提供する
ことである。
【0005】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め請求項1記載の発明の自動焦点検出装置は、光源と、
この光源からの光を物体面に照射する照射光学系と、前
記物体面からの反射光を光路差を有する2つの光束に分
割し、前記2つの光束の一方を第1結像位置に結像させ
ると共に、前記2つの光束の他方を前記第1結像位置に
対し光軸方向にずれた第2結像位置に結像させる結像光
学系と、前記第1結像位置と前記第2結像位置との間に
配置され、前記2つの光束を受光する光電変換素子とを
備え、前記光電変換素子により得られる前記2つの光束
の光情報を比較することにより合焦状態を検出する自動
焦点検出装置において、前記光電変換素子は二次元的に
走査可能に構成され、かつ前記光電変換素子によって二
次元的に走査する2つの走査領域を設定する走査領域設
定手段と、前記走査領域設定手段により設定された前記
光電変換素子の2つの走査領域で受光された前記2つの
光束の光情報を比較して合焦ずれ信号を求め、この合焦
ずれ信号に基づいて合焦制御を行う制御回路とを備えて
いる。
【0006】請求項2記載の発明の自動焦点検出装置
は、前記走査領域設定手段は、前記光電変換素子の、所
定間隔離れた2つの走査領域を二次元的に走査させるよ
うに構成されている。
【0007】請求項3記載の発明の自動焦点検出装置
は、前記制御回路は、前記2つの走査領域内の対応する
1つの走査ラインで得られる2つの光情報を比較して得
られる合焦ずれ信号を、前記走査領域内の全ての走査ラ
インについて積算する積算手段を含んでいる。
【0008】
【作用】請求項1記載の自動焦点検出装置では、光電変
換素子は二次元的に走査可能であり、走査領域設定手段
により設定された光電変換素子の2つの走査領域で光路
差を有する2つの光束を受けるので、物体面上の物体が
少ない場合でも、2つの光束に含まれる物体の像を光電
変換素子の2つの走査領域で確実に受光することができ
ると共に、光電変換素子が僅かに傾いている場合でも、
光電変換素子の2つの走査領域内で一致した2つの光学
像を受光することができる。
【0009】請求項2記載の自動焦点検出装置では、走
査領域設定手段により、光電変換素子の、所定間隔離れ
た2つの走査領域を二次元的に走査させるので、光電変
換素子の全面を二次元的に走査する場合よりも走査時間
及び信号処理時間が短縮され、高速に合焦状態を検出す
ることができる。
【0010】請求項3記載の自動焦点検出装置では、積
算手段が、設定された2つの走査領域内の対応する1つ
の走査ラインで得られる2つの光情報を比較して得られ
る合焦ずれ信号を、各走査領域内の全ての走査ラインに
ついて積算するので、広い範囲に亘ってレベルの高い合
焦ずれ信号が得られる。
【0011】
【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
【0012】図2はこの発明の一実施例に係る顕微鏡用
の自動焦点検出装置の光学系を、図1は同装置に使用さ
れる合焦制御を行う制御回路のブロック図をそれぞれ示
している。
【0013】図2に示す顕微鏡用の自動焦点検出装置
は、光源1と、ハーフミラー2及び対物レンズ3を有
し、光源1からの光を被検物4の物体面4aに照射する
照射光学系と、物体面4aからの反射光を光路差を有す
る2つの光束に分割し、2つの光束の一方を第1結像位
置xに結像させると共に、2つの光束の他方を第1結像
位置xに対し光軸方向にずれた第2結像位置yに結像さ
せる結像光学系と、第1結像位置xと第2結像位置yと
の間に配置され、光路差を有する2つの光束(2つの光
学像)を受ける光電変換素子5とを備えている。結像光
学系には、物体面4aからの反射光を結像する対物レン
ズ3と、対物レンズ3を通ってくる物体面4aからの反
射光を透過光と反射光とに分割するハーフプリズム6
と、ハーフプリズム6で反射された光を光路差を有する
2つの光束に分割するハーフプリズム7とが設けられて
いる。前記ハーフプリズム6を透過した物体面4aから
の反射光は不図示の像面に結像され、この像面を観察光
学系によって観察可能である。
【0014】なお、前記物体面4aが合焦位置(図2の
B位置)にあるとき、XーY=0(X:第1結像位置x
と光電変換素子5の受光面との間の距離、Y:第2結像
位置yと前記受光面との間の距離)となるように光電変
換素子5の位置を予め調整してある。
【0015】前記光電変換素子5として、二次元的に走
査可能なCCDエリアセンサが用いられている。このC
CDエリアセンサ5は、図5に示すように、n個(例え
ば10個)の素子が1列に並んだN本の走査ライン(例
えば、1番目の走査ラインL1から20番目の走査ライ
ンL20までの20本の走査ライン)を有し、各走査ラ
インL1〜L20の各素子から光電変換された電気信号
が時系列的に(順次)出力されるように構成されてい
る。図4及び図5において、符号5aは仮想の中心線5
0で分割されたCCDエリアセンサ5の左半分の受光範
囲を、符号5bはCCDエリアセンサ5の右半分の受光
範囲をそれぞれ示している。また、図4及び図5におい
て、2つの光学像の一方41が受光する左半分の受光範
囲5a内に、2つの光学像の他方が右半分の受光範囲5
b内にそれぞれ受光されている。
【0016】図1に示す制御回路は、CCDエリアセン
サ5によって二次元的に走査する2つの走査領域(左半
分の受光範囲5a内での走査領域と、右半分の受光範囲
5b内での走査領域)を任意に設定可能な走査領域設定
部10を備えている。この走査領域設定部10は、例え
ば、左半分の受光範囲5a内では2番目の走査ラインL
2から9番目の走査ラインまでの走査領域を設定すると
共に、右半分の受光範囲5b内では12番目の走査ライ
ンL12から19番目の走査ラインまでの走査領域を設
定することができる。また、走査領域設定部10は、後
述するタイミングコントロール回路18で制御されるタ
イミングで、1つの走査ライン毎に、図3のA1〜C1
で示すような受光量に応じて光電変換された電気信号3
1又は31′を読み出して出力するようになっている。
【0017】図3のA1〜C1において、電気信号31
は、図5に示す一方の走査領域内における1つの走査ラ
イン(例えば走査ラインL3)の各素子から時系列的に
出力される信号(光情報)であり、電気信号31′は他
方の走査領域内における1つの走査ライン(例えば走査
ラインL3と対応する走査ラインL13)の各素子から
時系列的に出力される信号(光情報)である。そして、
図3のB1は、物体面4aが合焦位置(図2のB位置)
にあるときの状態を、同図のA1及びC1は物体面4a
が合焦位置からずれた図2のA位置及びC位置にあると
きの状態をそれぞれ示している。
【0018】前記制御回路は、さらに、走査領域設定部
10の出力信号からDC成分を取り除くDCオフセット
除去回路11と、DCオフセット除去回路11の出力信
号を増幅する増幅器12と、増幅器12の出力信号から
高周波成分(光学像41、42のコントラストを表す光
情報)を取り出し、図3のA2〜C2でそれぞれ示す信
号32又は32′を出力するバンドパスフィルタ13と
を備えている。図3のA2〜C2は図3のA1〜C1に
それぞれ対応している。
【0019】さらに、制御回路は、バンドパスフィルタ
13の出力信号の絶対値を検出する絶対値回路14と、
絶対値回路14の出力信号を積分する積分器15と、2
つのサンプルホールド回路16、17と、タイミングコ
ントロール回路18とを備えている。
【0020】タイミングコントロール回路18は、走査
領域設定部10、積分器15、及び2つのサンプルホー
ルド回路16、17の動作タイミングを制御している。
【0021】タイミングコントロール回路18は、走査
領域設定部10により2番目の走査ラインL2から9番
目の走査ラインL9までの走査領域と12番目の走査ラ
インL12から19番目の走査ラインL19までの走査
領域とを設定した場合、2番目の走査ラインL2、走査
ラインL2と対応する12番目の走査ラインL12、3
番目の走査ラインL3、走査ラインL3と対応する13
番目の走査ラインL13…及び19番目の走査ラインの
順に各走査ラインから前記電気信号31または31′が
出力されるように、走査領域設定部10の動作タイミン
グを制御するように構成されている。
【0022】また、タイミングコントロール回路18
は、2番目〜9番目の走査ラインL2〜L9から前記電
気信号31がそれぞれ出力されるときに積分器15を動
作させ、このときの積分値を表す信号(図3のA3〜C
3に示す信号33)を一方のサンプルホールド回路16
で保持させると共に、12番目〜19番目の走査ライン
L12〜L19から前記電気信号31′がそれぞれ出力
されるときに積分器15を動作させ、このときの積分値
を表す信号(図3のA3〜C3に示す信号33′)を他
方のサンプルホールド回路17で保持させるように構成
されている。
【0023】前記制御回路は、さらに、サンプルホール
ド回路16、17の出力信号(積分値を表す信号)を比
較し、その差を表す信号(被検物4の合焦位置からのず
れ量を表す合焦ずれ信号で、設定された2つの走査領域
内の対応する1つの走査ライン、例えば走査ラインL
3、L13からの電気信号31、31′を信号処理して
得られる図6の信号61)を出力する差動増幅器19
と、差動増幅器19からの合焦ずれ信号61を各走査領
域内の全ての走査ラインについて積算して合焦ずれ信号
62(図6参照)を出力する積算回路20と、被検物4
と対物レンズ3との光軸方向における相対位置を制御す
る焦準用モータ22と、積算回路20からの出力信号に
より焦準用モータ22を制御するモータ制御回路20と
を備えている。
【0024】次に、上記構成を有する一実施例の動作を
説明する。
【0025】光源1からの光は、ハーフミラー2及び対
物レンズ3を経由して物体面4aに照射される。物体面
4aからの反射光は、対物レンズ3、ハーフミラー2及
びハーフプリズム6を経由した後、ハーフプリズム7に
よって光路差を有する2つの光束に分割される。2つの
光束の一方は第1結像位置xに結像され、2つの光束の
他方は第1結像位置xに対し光軸方向にずれた第2結像
位置yに結像される。これによって、 光路差を有する
2つの光束(図4及び図5に示す2つの光学像41、4
2)の一方及び他方がCCDエリアセンサ5の左半分の
受光範囲5a及び右半分の受光範囲5b内でそれぞれ受
光される。
【0026】いま、CCDエリアセンサ5によって二次
元的に走査する任意の2つの走査領域が走査領域設定部
10によって設定されている(例えば、左右の受光範囲
5a、5bの全面を走査するように設定されている)も
のとする。このとき、走査領域設定部10は、最初に一
方の走査領域5a内にある1番目の走査ラインL1で得
られる電気信号31(図3のA1〜C1参照)を出力
し、次に他方の走査領域5b内にある走査ラインL1と
対応する11番目の走査ラインL11で得られる電気信
号31′(同図参照)を出力し、次に走査領域5a内に
ある2番目の走査ラインL2で得られる電気信号31を
出力し、次に走査領域5b内にある走査ラインL2と対
応する12番目の走査ラインL12で得られる電気信号
31′を出力する。以下同様に、2つの走査領域5a、
5b内の対応する1つの走査ラインで得られる電気信号
32、32′を交互に出力させ、最後に走査ラインL2
0で得られる電気信号32′を出力させる。
【0027】このようにして信号31、31′が走査領
域設定部10から交互に出力されると、DCオフセット
除去回路11は信号31、31′からDC成分を取り除
き、この信号を増幅器12が増幅した後、バンドパスフ
ィルタ13が高周波成分を取り出すと、図3のA2〜C
2でそれぞれ示す信号32、32′が得られる。A2の
信号32、32′がA1の信号31、31′に、B2の
信号32、32′がB1の信号31、31′に、C2の
信号32、32′がC1の信号31、31′にそれぞれ
対応する。バンドパスフィルタ13の出力信号の絶対値
を絶対値回路14により検出し、絶対値回路14の出力
信号を積分器15により積分すると、図3のA3〜C3
でそれぞれ示す積分値を表す33、33′が得られる。
A3の信号33、33′がA2の信号32、32′に、
B3の信号33、33′がB2の信号32、32′に、
C3の信号33、33′がC2の信号32、32′にそ
れぞれ対応する。
【0028】A3〜C3の信号33、33′は2つの光
学像41、42(図4参照)にそれぞれ対応しており、
信号33はサンプルホールド回路16により保持され、
信号33′はサンプルホールド回路17により保持され
る。サンプルホールド回路16、17の出力信号(積分
値を表す信号)を差動増幅器19が比較して図6に示す
合焦ずれ信号61を出力する。この合焦ずれ信号61
は、設定された2つの走査領域内の対応する1つの走査
ライン(例えば、対応する走査ラインL3とL13)毎
に得られる信号である。積算回路20は、差動増幅器1
9からの合焦ずれ信号61を走査領域内の全ての走査ラ
インについて積算して図6に示す合焦ずれ信号62を出
力する。モータ制御回路21は、積算回路20からの合
焦ずれ信号62により焦準用モータ22を制御する。す
なわち、モータ制御回路21は、合焦ずれ信号62が0
になるように、焦準用モータ22を制御して結像光学系
の光軸方向における被検物4と対物レンズ3との相対位
置を制御する。
【0029】このように、上記一実施例に係る自動焦点
検出装置では、積算回路20から出力される合焦ずれ信
号62が0になるように、結像光学系の光軸方向におけ
る被検物4と対物レンズ3との相対位置を焦準用モータ
22によって制御することにより自動合焦動作がなされ
る。
【0030】上記一実施例によれば、CCDエリアセン
サ5は二次元的に走査可能であり、走査領域設定部10
により設定されたCCDエリアセンサ5の2つの走査領
域で光路差を有する2つの光束(2つの光学像41、4
2)を受けるので(図4及び図5参照)、物体面4a上
の物体が少ない場合でも、2つの光学像41、42に含
まれる物体の像をCCDエリアセンサ5の2つの走査領
域で確実に受光することができる。また、CCDエリア
センサ5が図4の実線で示すように僅かに傾いている場
合でも、CCDエリアセンサ5の2つの走査領域内で一
致した2つの光学像を受光することができる。したがっ
て、物体面4a上の物体が少ない場合やCCDエリアセ
ンサ5が僅かに傾いている場合でも、合焦状態を正確に
検出することができる。
【0031】また、上記一実施例によれば、積算回路2
0が、差動増幅器19からの合焦ずれ信号61をCCD
エリアセンサ5の2つの走査領域内の全ての走査ライン
について積算して図6に示す合焦ずれ信号62を出力す
るように構成してあるので、図6から明らかなように合
焦ずれの検出範囲を広くすることができる。
【0032】なお、上記一実施例において、走査領域設
定部10による走査領域の設定によって、CCDエリア
センサ5の所定間隔(例えば、図4に示す間隔m)だけ
離れた2つの走査領域を二次元的に走査すれば、CCD
エリアセンサ5の受光範囲全体を二次元的に走査する場
合よりも、走査時間及び信号処理時間が短縮され、高速
に合焦状態を検出することができる。
【0033】さらに、上記一実施例において、予め基準
となる物体を図4に示す前記2つの光学像41、42と
同様にCCDエリアセンサ5の受光面上に結像させ、2
つの光学像41、42の間隔mを不図示のメモリー部に
記憶させておく。そして、実際に合焦検出を行う際に、
記憶した間隔mだけ離れた対応する2つの走査ライン5
c、5dで前記2つの光学像41、42の高周波成分を
検出するように、走査領域設定部10を構成すれば、走
査時間及び信号処理時間がさらに短縮され、より高速に
合焦状態を検出することができる。
【0034】なお、上記一実施例において、CCDエリ
アセンサ5に代えて二次元的に走査可能に構成された他
の光電変換素子を用いることもできる。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明に係る自動焦点検出装置によれば、光電変換素子は二
次元的に走査可能であり、走査領域設定手段により設定
された光電変換素子の2つの走査領域で光路差を有する
2つの光束を受けるので、物体面上の物体が少ない場合
でも、2つの光束に含まれる物体の像を光電変換素子の
2つの走査領域で確実に受光することができると共に、
光電変換素子が僅かに傾いている場合でも、光電変換素
子の2つの走査領域内で一致した2つの光学像を受光す
ることができる。したがって、物体面上の物体が少ない
場合や光電変換素子が僅かに傾いている場合でも、合焦
状態を正確に検出することができる。
【0036】請求項2記載の発明に係る自動焦点検出装
置によれば、走査領域設定手段により、光電変換素子
の、所定間隔離れた2つの走査領域を二次元的に走査さ
せるので、光電変換素子の全面を二次元的に走査する場
合よりも走査時間及び信号処理時間が短縮され、高速に
合焦状態を検出することができる。
【0037】請求項3記載の発明に係る自動焦点検出装
置によれば、積算手段が、設定された2つの走査領域内
の対応する1つの走査ラインで得られる2つの光情報を
比較して得られる合焦ずれ信号を、各走査領域内の全て
の走査ラインについて積算するので、広い範囲に亘って
レベルの高い合焦ずれ信号が得られる。したがって、合
焦ずれの検出範囲が広くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の一実施例に係る自動焦点検出
装置の主要部をなす制御回路のブロック図である。
【図2】図2はこの発明の一実施例に係る自動焦点検出
装置の光学系を示す概略構成図である。
【図3】図3は合焦制御を説明するための信号波形図で
ある。
【図4】図4はCCDエリアセンサが傾いた状態を示す
説明図である。
【図5】図5はCCDエリアセンサを示す動作説明図で
ある。
【図6】図6は一実施例に係る自動焦点検出装置によっ
て得られる合焦ずれ信号を示す図である。
【図7】図7は従来の自動焦点検出装置におけるCCD
ラインセンサを示す平面図である。
【符号の説明】
1 光源 4a 物体面 5 CCDエリアセンサ(光電変換素子) 10 走査領域設定部(走査領域設定手段) 20 積算回路(積算手段) x 第1結像位置 y 第2結像位置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、この光源からの光を物体面に照
    射する照射光学系と、前記物体面からの反射光を光路差
    を有する2つの光束に分割し、前記2つの光束の一方を
    第1結像位置に結像させると共に、前記2つの光束の他
    方を前記第1結像位置に対し光軸方向にずれた第2結像
    位置に結像させる結像光学系と、前記第1結像位置と前
    記第2結像位置との間に配置され、前記2つの光束を受
    光する光電変換素子とを備え、前記光電変換素子により
    得られる前記2つの光束の光情報を比較することにより
    合焦状態を検出する自動焦点検出装置において、 前記光電変換素子は二次元的に走査可能に構成され、か
    つ前記光電変換素子によって2次元的に走査する2つの
    走査領域を設定する走査領域設定手段と、 前記走査領域設定手段により設定された前記光電変換素
    子の2つの走査領域で受光された前記2つの光束の光情
    報を比較して合焦ずれ信号を求め、この合焦ずれ信号に
    基づいて合焦制御を行う制御回路とを備えていることを
    特徴とする自動焦点検出装置。
  2. 【請求項2】 前記走査領域設定手段は、前記光電変換
    素子の、所定間隔離れた2つの走査領域を二次元的に走
    査させるように構成されていることを特徴とする請求項
    1記載の自動焦点検出装置。
  3. 【請求項3】 前記制御回路は、前記2つの走査領域内
    の対応する1つの走査ラインで得られる2つ光情報を比
    較して得られる合焦ずれ信号を、前記走査領域内の全て
    の走査ラインについて積算する積算手段を含んでいるこ
    とを特徴とする請求項1記載の自動焦点検出装置。
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