JPH08306279A - 真空遮断器の真空度監視装置 - Google Patents
真空遮断器の真空度監視装置Info
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- JPH08306279A JPH08306279A JP10960995A JP10960995A JPH08306279A JP H08306279 A JPH08306279 A JP H08306279A JP 10960995 A JP10960995 A JP 10960995A JP 10960995 A JP10960995 A JP 10960995A JP H08306279 A JPH08306279 A JP H08306279A
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- vacuum degree
- monitoring device
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- Driving Mechanisms And Operating Circuits Of Arc-Extinguishing High-Tension Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 真空度チェック用の停電および高圧電源装置
を不要とし、真空度の判定を容易に実施し、メンテナン
ス作業等のコストを低減した真空遮断器の真空度監視装
置を得る。 【構成】 真空容器内で接離可能に対向した一対の接触
子６１、６２を封入してなる真空バルブ６と、真空バル
ブを絶縁ガスＧＳ内に封入するためのガス容器１とを有
し、接触子を開閉して電気回路の開閉を行う真空遮断器
の真空度監視装置において、真空バルブの開極時に真空
バルブ内の接触子間に発生するアーク光Ｌのスペクトル
を検出して電気信号Ｅを出力する検出部３ａと、電気信
号に基づいて、スペクトルが絶縁ガスの輝線スペクトル
を示すときに真空度が低下したことを判別して警報信号
Ｈを出力する信号処理回路部５とを設け、信号処理回路
部を主回路とは非接触関係で設置した。
を不要とし、真空度の判定を容易に実施し、メンテナン
ス作業等のコストを低減した真空遮断器の真空度監視装
置を得る。 【構成】 真空容器内で接離可能に対向した一対の接触
子６１、６２を封入してなる真空バルブ６と、真空バル
ブを絶縁ガスＧＳ内に封入するためのガス容器１とを有
し、接触子を開閉して電気回路の開閉を行う真空遮断器
の真空度監視装置において、真空バルブの開極時に真空
バルブ内の接触子間に発生するアーク光Ｌのスペクトル
を検出して電気信号Ｅを出力する検出部３ａと、電気信
号に基づいて、スペクトルが絶縁ガスの輝線スペクトル
を示すときに真空度が低下したことを判別して警報信号
Ｈを出力する信号処理回路部５とを設け、信号処理回路
部を主回路とは非接触関係で設置した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、真空開閉機器の電流
開閉部に使用する真空バルブの真空度を判別且つ監視す
る真空遮断器の真空度監視装置に関し、特に非接触で真
空度の判別を可能として作業コストを低減した真空遮断
器の真空度監視装置に関するものである。
開閉部に使用する真空バルブの真空度を判別且つ監視す
る真空遮断器の真空度監視装置に関し、特に非接触で真
空度の判別を可能として作業コストを低減した真空遮断
器の真空度監視装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は一般的なガス絶縁開閉装置（Ｃ−
ＧＩＳ）に収納されている真空遮断器の開極状態におけ
る主要部構造を示す主要部断面図であり、図において、
６は真空遮断器をオンオフ制御するための真空バルブで
ある。６１は真空バルブ６内に位置決め固定された固定
接点、６２は真空バルブ６内で軸方向に移動可能な可動
接点であり、一対の接触子を構成する固定接点６１およ
び可動接点６２は、オフ状態において、各先端部に一定
の間隔を持たせて対向配置されている。
ＧＩＳ）に収納されている真空遮断器の開極状態におけ
る主要部構造を示す主要部断面図であり、図において、
６は真空遮断器をオンオフ制御するための真空バルブで
ある。６１は真空バルブ６内に位置決め固定された固定
接点、６２は真空バルブ６内で軸方向に移動可能な可動
接点であり、一対の接触子を構成する固定接点６１およ
び可動接点６２は、オフ状態において、各先端部に一定
の間隔を持たせて対向配置されている。
【０００３】６１１および６１２はセラミックにより形
成された真空バルブ６の絶縁筒であり、これらは、金属
筒６１３により軸方向に接合されて延長され、筒状の真
空容器を構成している。
成された真空バルブ６の絶縁筒であり、これらは、金属
筒６１３により軸方向に接合されて延長され、筒状の真
空容器を構成している。
【０００４】６１４および６１５は絶縁筒６１１、６１
２および金属筒６１３からなる筒状容器の両端を閉塞す
る端板、６１８は可動接点６２の周辺の気密性を保持す
るためのベローズ、６１９は固定接点６１および可動接
点６２を同心状に取り囲んでいるシールドである。固定
接点６１は端板６１４に固定され、可動接点６２は、ベ
ローズ６１８を介して端板６１５に気密的に接続されて
いる。
２および金属筒６１３からなる筒状容器の両端を閉塞す
る端板、６１８は可動接点６２の周辺の気密性を保持す
るためのベローズ、６１９は固定接点６１および可動接
点６２を同心状に取り囲んでいるシールドである。固定
接点６１は端板６１４に固定され、可動接点６２は、ベ
ローズ６１８を介して端板６１５に気密的に接続されて
いる。
【０００５】次に、図５の特性図を参照しながら、図４
に示した従来の真空遮断器の真空度監視装置の動作につ
いて説明する。ガス絶縁開閉装置に収納された真空遮断
器の真空バルブ６において、真空バルブ６内にＳＦ
6（６フッ化イオウ）ガスが侵入して、真空度がたとえ
ば１０-3Ｔｏｒｒ（トリチェリ）オーダよりも低下（１
０-3Ｔｏｒｒ以上に気圧が上昇）した場合、固定接点６
１と可動接点６２との間（電極間）、および、固定接点
６１および可動接点６２とシールド６１９との間（電極
およびシールド間）の放電電圧［ｋＶ］（この場合、１
ｍｍの間隔に対する放電電圧）は、それぞれ、図５の実
線および破線に示すように変化する。
に示した従来の真空遮断器の真空度監視装置の動作につ
いて説明する。ガス絶縁開閉装置に収納された真空遮断
器の真空バルブ６において、真空バルブ６内にＳＦ
6（６フッ化イオウ）ガスが侵入して、真空度がたとえ
ば１０-3Ｔｏｒｒ（トリチェリ）オーダよりも低下（１
０-3Ｔｏｒｒ以上に気圧が上昇）した場合、固定接点６
１と可動接点６２との間（電極間）、および、固定接点
６１および可動接点６２とシールド６１９との間（電極
およびシールド間）の放電電圧［ｋＶ］（この場合、１
ｍｍの間隔に対する放電電圧）は、それぞれ、図５の実
線および破線に示すように変化する。
【０００６】したがって、真空遮断器がたとえば開極状
態（真空バルブ６内の固定接点６１と可動接点６２との
間の間隔が開いているオフ状態）にある場合、真空バル
ブ６の固定接点６１と可動接点６２との間に、各接点間
の放電電圧特性から選定した任意の電圧を印加して、放
電が発生するか否かを見ることによって真空度が健全か
否かを調べることができる。
態（真空バルブ６内の固定接点６１と可動接点６２との
間の間隔が開いているオフ状態）にある場合、真空バル
ブ６の固定接点６１と可動接点６２との間に、各接点間
の放電電圧特性から選定した任意の電圧を印加して、放
電が発生するか否かを見ることによって真空度が健全か
否かを調べることができる。
【０００７】具体的には、各接点６１および６２の電極
間隔が６ｍｍ（定格電圧６ｋＶ）の場合、５ｋＶ程度の
電圧を印加して放電が発生すれば真空度が異常に低下し
ていると判定される。しかしながら、絶縁筒６１１およ
び６１２が劣化しても、放電電圧が低下するため、実際
に真空度の劣化に起因するのかを確実に特定することは
できない。
間隔が６ｍｍ（定格電圧６ｋＶ）の場合、５ｋＶ程度の
電圧を印加して放電が発生すれば真空度が異常に低下し
ていると判定される。しかしながら、絶縁筒６１１およ
び６１２が劣化しても、放電電圧が低下するため、実際
に真空度の劣化に起因するのかを確実に特定することは
できない。
【０００８】このように、従来の真空度監視装置におい
ては、真空度の健全化を調べるために、ガス絶縁開閉装
置内部で断路器を操作して真空バルブを主回路から切り
離し、前述した任意の電圧を印加して放電電流が流れる
か否かを調べていた。
ては、真空度の健全化を調べるために、ガス絶縁開閉装
置内部で断路器を操作して真空バルブを主回路から切り
離し、前述した任意の電圧を印加して放電電流が流れる
か否かを調べていた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従来の真空遮断器の真
空度監視装置は以上のように、真空度の健全性判定を行
う場合には、真空遮断器を主回路から切り離す（真空遮
断器より下位の電路の停電をとる）必要があるととも
に、真空バルブ６に電圧を印加するための高圧電源装置
が必要になるうえ、放電発生が判定されても真空度が劣
化したのか絶縁筒６１１および６１２が劣化したのかを
判別しにくいという問題があった。
空度監視装置は以上のように、真空度の健全性判定を行
う場合には、真空遮断器を主回路から切り離す（真空遮
断器より下位の電路の停電をとる）必要があるととも
に、真空バルブ６に電圧を印加するための高圧電源装置
が必要になるうえ、放電発生が判定されても真空度が劣
化したのか絶縁筒６１１および６１２が劣化したのかを
判別しにくいという問題があった。
【００１０】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたもので、真空バルブの真空度調査のた
めに停電をとる必要がなく、且つ高圧電源装置も必要と
せず、真空度の判定を容易に実施することができ、作業
コストを低減した真空遮断器の真空度監視装置を提供す
ることを目的とする。
るためになされたもので、真空バルブの真空度調査のた
めに停電をとる必要がなく、且つ高圧電源装置も必要と
せず、真空度の判定を容易に実施することができ、作業
コストを低減した真空遮断器の真空度監視装置を提供す
ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項１に係
る真空遮断器の真空度監視装置は、真空容器内で接離可
能に対向した一対の接触子を封入してなる真空バルブ
と、真空バルブを絶縁ガス内に封入するためのガス容器
とを有し、接触子を開閉することによって電気回路の開
閉を行う真空遮断器の真空度監視装置において、真空バ
ルブの開極時に真空バルブ内の接触子間に発生するアー
ク光のスペクトルを検出して電気信号を出力する検出部
と、電気信号に基づいて、スペクトルが絶縁ガスの輝線
スペクトルを示すときに真空度が低下したことを判別し
て警報信号を出力する信号処理回路部とを備えたもので
ある。
る真空遮断器の真空度監視装置は、真空容器内で接離可
能に対向した一対の接触子を封入してなる真空バルブ
と、真空バルブを絶縁ガス内に封入するためのガス容器
とを有し、接触子を開閉することによって電気回路の開
閉を行う真空遮断器の真空度監視装置において、真空バ
ルブの開極時に真空バルブ内の接触子間に発生するアー
ク光のスペクトルを検出して電気信号を出力する検出部
と、電気信号に基づいて、スペクトルが絶縁ガスの輝線
スペクトルを示すときに真空度が低下したことを判別し
て警報信号を出力する信号処理回路部とを備えたもので
ある。
【００１２】また、この発明の請求項２に係る真空遮断
器の真空度監視装置は、請求項１において、絶縁ガスは
ＳＦ6からなり、検出部は、ＳおよびＦの輝線スペクト
ルのみを通過させるフィルタを含むものである。
器の真空度監視装置は、請求項１において、絶縁ガスは
ＳＦ6からなり、検出部は、ＳおよびＦの輝線スペクト
ルのみを通過させるフィルタを含むものである。
【００１３】また、この発明の請求項３に係る真空遮断
器の真空度監視装置は、請求項１において、絶縁ガスは
Ｎ2からなり、検出部は、Ｎ2の輝線スペクトルのみを通
過させるフィルタを含むものである。
器の真空度監視装置は、請求項１において、絶縁ガスは
Ｎ2からなり、検出部は、Ｎ2の輝線スペクトルのみを通
過させるフィルタを含むものである。
【００１４】また、この発明の請求項４に係る真空遮断
器の真空度監視装置は、請求項１から請求項３までのい
ずれかにおいて、真空バルブは２本の真空バルブを直列
に接続した構成からなり、検出部は、各真空バルブに対
応して２個並設され、信号処理回路部は、各検出部から
の電気信号の差分をとって輝線スペクトルの有無を判別
するものである。
器の真空度監視装置は、請求項１から請求項３までのい
ずれかにおいて、真空バルブは２本の真空バルブを直列
に接続した構成からなり、検出部は、各真空バルブに対
応して２個並設され、信号処理回路部は、各検出部から
の電気信号の差分をとって輝線スペクトルの有無を判別
するものである。
【００１５】
【作用】この発明の請求項１においては、開極（オフ）
時に真空バルブ内の接点間のアークより発生する光のス
ペクトルが、真空度低下時に絶縁ガス成分の影響で変化
することに着目し、スペクトル分析装置となる信号処理
回路部を主回路とは非接触関係で設置する。これによ
り、真空度低下の判別を真空バルブの接点間のアークに
より発生する光のスペクトルにより検出し、真空度の監
視を主回路に対して非接触で実施可能とする。
時に真空バルブ内の接点間のアークより発生する光のス
ペクトルが、真空度低下時に絶縁ガス成分の影響で変化
することに着目し、スペクトル分析装置となる信号処理
回路部を主回路とは非接触関係で設置する。これによ
り、真空度低下の判別を真空バルブの接点間のアークに
より発生する光のスペクトルにより検出し、真空度の監
視を主回路に対して非接触で実施可能とする。
【００１６】また、この発明の請求項２においては、真
空バルブを封入する外部の絶縁ガスがＳＦ6の場合に、
ＳおよびＦの輝線スペクトル成分を分析して真空度劣化
を判別する。
空バルブを封入する外部の絶縁ガスがＳＦ6の場合に、
ＳおよびＦの輝線スペクトル成分を分析して真空度劣化
を判別する。
【００１７】また、この発明の請求項３においては、真
空バルブを封入する外部の絶縁ガスがＮ2の場合に、Ｎ2
の輝線スペクトル成分を分析して真空度劣化を判別す
る。
空バルブを封入する外部の絶縁ガスがＮ2の場合に、Ｎ2
の輝線スペクトル成分を分析して真空度劣化を判別す
る。
【００１８】また、この発明の請求項４においては、２
本の真空バルブを直列接続し、各真空バルブの接点間の
アークより発生する光のスペクトルの差分を検出して、
真空度劣化の判別を行う。
本の真空バルブを直列接続し、各真空バルブの接点間の
アークより発生する光のスペクトルの差分を検出して、
真空度劣化の判別を行う。
【００１９】
実施例１．以下、この発明の実施例１を図について説明
する。図１は真空度監視装置を搭載したガス絶縁開閉装
置の遮断器室の主要部構成を示す断面図であり、６、６
１および６２は前述と同様のものである。図１におい
て、１はＳＦ6ガスＧＳが封入されたガス容器、２はガ
ス容器１の側壁の一部に設けられた開口部である。
する。図１は真空度監視装置を搭載したガス絶縁開閉装
置の遮断器室の主要部構成を示す断面図であり、６、６
１および６２は前述と同様のものである。図１におい
て、１はＳＦ6ガスＧＳが封入されたガス容器、２はガ
ス容器１の側壁の一部に設けられた開口部である。
【００２０】３は開口部２に設けられた樹脂製の密封端
子であり、入射した光Ｌを電気信号Ｅに変換する検出部
３ａを内蔵している。密封端子３は、開口部２を気密に
するように取り付けられるとともに、真空バルブ６の接
触子間に発生するアークＡを観測できる位置に取り付け
られている。５は真空度劣化時に警報信号Ｈを出力する
信号処理回路部であり、検出部３ａとともに真空度監視
装置を構成している。検出部３ａの出力端子は、接続ケ
ーブル４を介して信号処理回路部５に接続されている。
子であり、入射した光Ｌを電気信号Ｅに変換する検出部
３ａを内蔵している。密封端子３は、開口部２を気密に
するように取り付けられるとともに、真空バルブ６の接
触子間に発生するアークＡを観測できる位置に取り付け
られている。５は真空度劣化時に警報信号Ｈを出力する
信号処理回路部であり、検出部３ａとともに真空度監視
装置を構成している。検出部３ａの出力端子は、接続ケ
ーブル４を介して信号処理回路部５に接続されている。
【００２１】８は真空遮断器６内の可動接点６２を駆動
するための操作機構、９は操作機構８の駆動力を可動接
点６２に伝達するための絶縁ロッド、Ａは開極時に各接
点６１および６２間に発生するアーク、ＬはアークＡに
より出射される光である。
するための操作機構、９は操作機構８の駆動力を可動接
点６２に伝達するための絶縁ロッド、Ａは開極時に各接
点６１および６２間に発生するアーク、ＬはアークＡに
より出射される光である。
【００２２】図２は図１内の検出部３ａおよび信号処理
回路部５の構成例を示すブロック図である。図２におい
て、３１はＳ（イオウ）およびＦ（フッ素）原子の輝線
スペクトルだけを通過させるフィルタ、３２はフィルタ
３１を通過した光Ｌｆを電気信号Ｅに変換する検出器で
あり、これらは検出部３ａを構成している。
回路部５の構成例を示すブロック図である。図２におい
て、３１はＳ（イオウ）およびＦ（フッ素）原子の輝線
スペクトルだけを通過させるフィルタ、３２はフィルタ
３１を通過した光Ｌｆを電気信号Ｅに変換する検出器で
あり、これらは検出部３ａを構成している。
【００２３】５１は検出器３２からの電気信号Ｅの強度
分布等を処理判定する信号処理部、５２は信号処理部５
１の判定結果が真空度低下を示す場合に警報信号Ｈを生
成する出力装置であり、これらは信号処理回路部５を構
成している。
分布等を処理判定する信号処理部、５２は信号処理部５
１の判定結果が真空度低下を示す場合に警報信号Ｈを生
成する出力装置であり、これらは信号処理回路部５を構
成している。
【００２４】図３は真空バルブ６を２本直列に接続して
構成した事例を示す断面図である。図３において、３０
１および３０２は図１内の検出部３ａと同一構成の２個
の検出部であり、各真空バルブ６に対応して、ガス容器
１の側壁に並列に取り付けられている。５００は各検出
部３０１および３０２からの電気信号Ｅ１およびＥ２を
処理する信号処理回路部である。
構成した事例を示す断面図である。図３において、３０
１および３０２は図１内の検出部３ａと同一構成の２個
の検出部であり、各真空バルブ６に対応して、ガス容器
１の側壁に並列に取り付けられている。５００は各検出
部３０１および３０２からの電気信号Ｅ１およびＥ２を
処理する信号処理回路部である。
【００２５】次に、図１および図２を参照しながら、こ
の発明の実施例１の動作について説明する。まず、初期
状態において、接触子すなわち固定接点６１および可動
接点６２は閉成（オン）されているものとする。
の発明の実施例１の動作について説明する。まず、初期
状態において、接触子すなわち固定接点６１および可動
接点６２は閉成（オン）されているものとする。
【００２６】図１において、操作機構８内の制御装置
（図示せず）に開極指令が入力されると、操作機構８が
動作し、その駆動力が絶縁ロッド９に伝達されて、真空
バルブ６内の可動接点６２が固定接点６１から離れ、各
接点６１および６２間にアークＡが発生する。
（図示せず）に開極指令が入力されると、操作機構８が
動作し、その駆動力が絶縁ロッド９に伝達されて、真空
バルブ６内の可動接点６２が固定接点６１から離れ、各
接点６１および６２間にアークＡが発生する。
【００２７】このとき、真空バルブ６の真空度が正常で
あれば、真空バルブ６中に発生するアークＡの発光スペ
クトルは、基本的に電極成分のＣｕ（銅）を中心とした
スペクトルとなる。しかし、真空バルブ６が真空不良と
なり、真空バルブ６の内部にガス容器１内のＳＦ6ガス
ＧＳが侵入すると、各接点６１および６２間に発生する
アークＡはＳＦ6ガスＧＳのアークとなる。
あれば、真空バルブ６中に発生するアークＡの発光スペ
クトルは、基本的に電極成分のＣｕ（銅）を中心とした
スペクトルとなる。しかし、真空バルブ６が真空不良と
なり、真空バルブ６の内部にガス容器１内のＳＦ6ガス
ＧＳが侵入すると、各接点６１および６２間に発生する
アークＡはＳＦ6ガスＧＳのアークとなる。
【００２８】この場合、アークＡの発光スペクトルに
は、Ｃｕ（銅）成分の他に、Ｓ（イオウ）およびＦ（フ
ッ素）の成分が含まれることになる。したがって、Ｓお
よびＦのスペクトル成分が検出されるか否かを判定すれ
ば、真空バルブ６の真空度不良を判定することができ
る。
は、Ｃｕ（銅）成分の他に、Ｓ（イオウ）およびＦ（フ
ッ素）の成分が含まれることになる。したがって、Ｓお
よびＦのスペクトル成分が検出されるか否かを判定すれ
ば、真空バルブ６の真空度不良を判定することができ
る。
【００２９】以上の点に着目し、アークＡの発光スペク
トル成分のうち、ＳおよびＦ原子の発光スペクトル成分
だけを検出するために、図２に示すように、検出部３ａ
内にＳおよびＦ原子の輝線スペクトルだけを通過させる
フィルタ３１を設ける。これにより、真空度不良発生時
のみにおいて、検出器３２が電気信号Ｅを出力すること
になる。
トル成分のうち、ＳおよびＦ原子の発光スペクトル成分
だけを検出するために、図２に示すように、検出部３ａ
内にＳおよびＦ原子の輝線スペクトルだけを通過させる
フィルタ３１を設ける。これにより、真空度不良発生時
のみにおいて、検出器３２が電気信号Ｅを出力すること
になる。
【００３０】こうして得られた電気信号Ｅは、信号処理
部５１に送られ、ノイズなどが分離されて処理判定され
る。もし、ＳおよびＦの輝線スペクトル強度が所定値以
上であれば、真空度不良と判定されて、出力装置５２か
ら外部の各監視機器（図示せず）に警報信号Ｈが出力さ
れる。
部５１に送られ、ノイズなどが分離されて処理判定され
る。もし、ＳおよびＦの輝線スペクトル強度が所定値以
上であれば、真空度不良と判定されて、出力装置５２か
ら外部の各監視機器（図示せず）に警報信号Ｈが出力さ
れる。
【００３１】これにより、停電状態を設定する必要がな
く、また、電源装置を準備する必要がなく、ＳＦ6ガス
ＧＳの侵入状態、すなわち真空バルブ６の真空度不良の
みを確実に監視することができる。また、真空バルブ６
の絶縁筒の劣化を真空度不良と誤検出することもない。
したがって、作業コストが低減されるうえ、高信頼性の
監視装置を実現することができる。
く、また、電源装置を準備する必要がなく、ＳＦ6ガス
ＧＳの侵入状態、すなわち真空バルブ６の真空度不良の
みを確実に監視することができる。また、真空バルブ６
の絶縁筒の劣化を真空度不良と誤検出することもない。
したがって、作業コストが低減されるうえ、高信頼性の
監視装置を実現することができる。
【００３２】実施例２．なお、上記実施例１において
は、ＳＦ6ガス絶縁開閉装置に収納された真空バルブ６
を対象とした場合について説明したが、絶縁ガスとし
て、ＳＦ6ガスではなく、Ｎ2（窒素）ガスや他の絶縁性
ガスを適用した開閉装置の場合であっても、たとえばＮ
2ガスの輝線スペクトルを通過するフィルタを用いるこ
とにより、前述と同様の効果を奏することができる。こ
の場合、絶縁ガスの違いに対応できるように、たとえ
ば、分析装置としての信号処理回路部５内の分析能力を
ワイドレンジに設定しておけばよい。
は、ＳＦ6ガス絶縁開閉装置に収納された真空バルブ６
を対象とした場合について説明したが、絶縁ガスとし
て、ＳＦ6ガスではなく、Ｎ2（窒素）ガスや他の絶縁性
ガスを適用した開閉装置の場合であっても、たとえばＮ
2ガスの輝線スペクトルを通過するフィルタを用いるこ
とにより、前述と同様の効果を奏することができる。こ
の場合、絶縁ガスの違いに対応できるように、たとえ
ば、分析装置としての信号処理回路部５内の分析能力を
ワイドレンジに設定しておけばよい。
【００３３】実施例３．また、上記実施例１において
は、真空バルブ６が１本のみ設置された場合について説
明したが、たとえば図３に示すように、真空バルブ６を
２本直列に構成した遮断器においても同様の効果を得る
ことができる。この場合、信号処理回路部５００におい
て、２つの検出部３０１および３０２からの電気信号Ｅ
１およびＥ２の差分をとって比較することにより、ノイ
ズ等の除去を簡単に行うことができ、さらに検出精度が
高く且つ信頼性の高い真空遮断器の真空度監視装置を構
成することができる。
は、真空バルブ６が１本のみ設置された場合について説
明したが、たとえば図３に示すように、真空バルブ６を
２本直列に構成した遮断器においても同様の効果を得る
ことができる。この場合、信号処理回路部５００におい
て、２つの検出部３０１および３０２からの電気信号Ｅ
１およびＥ２の差分をとって比較することにより、ノイ
ズ等の除去を簡単に行うことができ、さらに検出精度が
高く且つ信頼性の高い真空遮断器の真空度監視装置を構
成することができる。
【００３４】実施例４．また、スペクトル特定手段とし
て、検出部３ａ内にフィルタ３１を設けたが、信号処理
回路部５内にスペクトル特定機能を内蔵させれば、フィ
ルタ３１を省略することもできる。
て、検出部３ａ内にフィルタ３１を設けたが、信号処理
回路部５内にスペクトル特定機能を内蔵させれば、フィ
ルタ３１を省略することもできる。
【００３５】
【発明の効果】以上のようにこの発明の請求項１によれ
ば、真空容器内で接離可能に対向した一対の接触子を封
入してなる真空バルブと、真空バルブを絶縁ガス内に封
入するためのガス容器とを有し、接触子を開閉すること
によって電気回路の開閉を行う真空遮断器の真空度監視
装置において、真空バルブの開極時に真空バルブ内の接
触子間に発生するアーク光のスペクトルを検出して電気
信号を出力する検出部と、電気信号に基づいて、スペク
トルが絶縁ガスの輝線スペクトルを示すときに真空度が
低下したことを判別して警報信号を出力する信号処理回
路部とを備え、信号処理回路部を主回路とは非接触関係
で設置したので、真空度チェックのための停電をとる必
要がなく且つ高圧電源装置も不要となり、真空度の判定
を容易に実施することができるうえ、メンテナンス作業
等のコストを低減した真空遮断器の真空度監視装置が得
られる効果がある。
ば、真空容器内で接離可能に対向した一対の接触子を封
入してなる真空バルブと、真空バルブを絶縁ガス内に封
入するためのガス容器とを有し、接触子を開閉すること
によって電気回路の開閉を行う真空遮断器の真空度監視
装置において、真空バルブの開極時に真空バルブ内の接
触子間に発生するアーク光のスペクトルを検出して電気
信号を出力する検出部と、電気信号に基づいて、スペク
トルが絶縁ガスの輝線スペクトルを示すときに真空度が
低下したことを判別して警報信号を出力する信号処理回
路部とを備え、信号処理回路部を主回路とは非接触関係
で設置したので、真空度チェックのための停電をとる必
要がなく且つ高圧電源装置も不要となり、真空度の判定
を容易に実施することができるうえ、メンテナンス作業
等のコストを低減した真空遮断器の真空度監視装置が得
られる効果がある。
【００３６】また、この発明の請求項２によれば、請求
項１において、絶縁ガスはＳＦ6からなり、検出部は、
ＳおよびＦの輝線スペクトルのみを通過させるフィルタ
を含み、ＳおよびＦの輝線スペクトル成分を分析して真
空度劣化を判別するようにしたので、信頼性の高い真空
遮断器の真空度監視装置が得られる効果がある。
項１において、絶縁ガスはＳＦ6からなり、検出部は、
ＳおよびＦの輝線スペクトルのみを通過させるフィルタ
を含み、ＳおよびＦの輝線スペクトル成分を分析して真
空度劣化を判別するようにしたので、信頼性の高い真空
遮断器の真空度監視装置が得られる効果がある。
【００３７】また、この発明の請求項３によれば、請求
項１において、絶縁ガスはＮ2からなり、検出部は、Ｎ2
の輝線スペクトルのみを通過させるフィルタを含み、Ｎ
2の輝線スペクトル成分を分析して真空度劣化を判別す
るようにしたので、信頼性の高い真空遮断器の真空度監
視装置が得られる効果がある。
項１において、絶縁ガスはＮ2からなり、検出部は、Ｎ2
の輝線スペクトルのみを通過させるフィルタを含み、Ｎ
2の輝線スペクトル成分を分析して真空度劣化を判別す
るようにしたので、信頼性の高い真空遮断器の真空度監
視装置が得られる効果がある。
【００３８】また、この発明の請求項４によれば、請求
項１から請求項３までのいずれかにおいて、真空バルブ
は２本の真空バルブを直列に接続した構成からなり、検
出部は、各真空バルブに対応して２個並設され、信号処
理回路部は、各検出部からの電気信号の差分をとって輝
線スペクトルの有無を判別するようにしたので、さらに
信頼性の高い真空遮断器の真空度監視装置が得られる効
果がある。
項１から請求項３までのいずれかにおいて、真空バルブ
は２本の真空バルブを直列に接続した構成からなり、検
出部は、各真空バルブに対応して２個並設され、信号処
理回路部は、各検出部からの電気信号の差分をとって輝
線スペクトルの有無を判別するようにしたので、さらに
信頼性の高い真空遮断器の真空度監視装置が得られる効
果がある。
【図１】 この発明の実施例１によるガス絶縁開閉装置
の遮断器室の主要部構成を示す断面図である。
の遮断器室の主要部構成を示す断面図である。
【図２】 図１内の検出部の具体的構成例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】 この発明の実施例３によるガス絶縁開閉装置
の遮断器室の主要部構成を示す断面図である。
の遮断器室の主要部構成を示す断面図である。
【図４】 従来のガス絶縁開閉装置に収納されている真
空バルブの内部構造を示す断面図である。
空バルブの内部構造を示す断面図である。
【図５】 一般的な真空バルブの真空度に対する対地間
および電極間の放電電圧の変化を示す特性図である。
および電極間の放電電圧の変化を示す特性図である。
【符号の説明】 １ ガス容器、３ａ、３０１、３０２ 検出部、５ 信
号処理回路部、６ 真空バルブ（真空遮断器）、３１
フィルタ、３２ 検出器、５１ 信号処理部、５２ 出
力装置、６１ 固定接点（接触子）、６２ 可動接点
（接触子）、６１１、６１２ 絶縁筒（真空容器）、６
１３ 金属筒（真空容器）、Ａ アーク、Ｅ、Ｅ１、Ｅ
２ 電気信号、ＧＳ 絶縁ガス、Ｈ 警報信号、Ｌ ア
ーク光。
号処理回路部、６ 真空バルブ（真空遮断器）、３１
フィルタ、３２ 検出器、５１ 信号処理部、５２ 出
力装置、６１ 固定接点（接触子）、６２ 可動接点
（接触子）、６１１、６１２ 絶縁筒（真空容器）、６
１３ 金属筒（真空容器）、Ａ アーク、Ｅ、Ｅ１、Ｅ
２ 電気信号、ＧＳ 絶縁ガス、Ｈ 警報信号、Ｌ ア
ーク光。
Claims (4)
- 【請求項１】 真空容器内で接離可能に対向した一対の
接触子を封入してなる真空バルブと、前記真空バルブを
絶縁ガス内に封入するためのガス容器とを有し、前記接
触子を開閉することによって電気回路の開閉を行う真空
遮断器の真空度監視装置において、 前記真空バルブの開極時に前記真空バルブ内の接触子間
に発生するアーク光のスペクトルを検出して電気信号を
出力する検出部と、 前記電気信号に基づいて、前記スペクトルが前記絶縁ガ
スの輝線スペクトルを示すときに真空度が低下したこと
を判別して警報信号を出力する信号処理回路部とを備え
たことを特徴とする真空遮断器の真空度監視装置。 - 【請求項２】 前記絶縁ガスはＳＦ6からなり、前記検
出部は、ＳおよびＦの輝線スペクトルのみを通過させる
フィルタを含むことを特徴とする請求項１に記載の真空
遮断器の真空度監視装置。 - 【請求項３】 前記絶縁ガスはＮ2からなり、前記検出
部は、Ｎ2の輝線スペクトルのみを通過させるフィルタ
を含むことを特徴とする請求項１に記載の真空遮断器の
真空度監視装置。 - 【請求項４】 前記真空バルブは２本の真空バルブを直
列に接続した構成からなり、 前記検出部は、前記各真空バルブに対応して２個並設さ
れ、 前記信号処理回路部は、前記各検出部からの電気信号の
差分をとって前記輝線スペクトルの有無を判別すること
を特徴とする請求項１から請求項３までのいずれかに記
載の真空遮断器の真空度監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10960995A JPH08306279A (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | 真空遮断器の真空度監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10960995A JPH08306279A (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | 真空遮断器の真空度監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08306279A true JPH08306279A (ja) | 1996-11-22 |
Family
ID=14514633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10960995A Pending JPH08306279A (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | 真空遮断器の真空度監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08306279A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6426627B2 (en) | 1999-12-16 | 2002-07-30 | Hitachi, Ltd. | Vacuum switch including vacuum-measurement devices, switchgear using the vacuum switch, and operation method thereof |
| JP2007538371A (ja) * | 2004-05-18 | 2007-12-27 | ジェニングス テクノロジー | 真空開閉装置における高圧条件を検出する方法および装置 |
| JP2009525583A (ja) * | 2006-01-31 | 2009-07-09 | トーマス・アンド・ベッツ・インターナショナル・インコーポレーテッド | 真空開閉装置 |
| JP2010197132A (ja) * | 2009-02-24 | 2010-09-09 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 真空遮断器真空試験器 |
| CN102565686A (zh) * | 2011-12-07 | 2012-07-11 | 上海工程技术大学 | 一种嵌入式实时监测的智能真空断路器 |
| WO2012157134A1 (ja) * | 2011-05-13 | 2012-11-22 | 三菱電機株式会社 | 密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置 |
-
1995
- 1995-05-08 JP JP10960995A patent/JPH08306279A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6426627B2 (en) | 1999-12-16 | 2002-07-30 | Hitachi, Ltd. | Vacuum switch including vacuum-measurement devices, switchgear using the vacuum switch, and operation method thereof |
| US6529009B2 (en) | 1999-12-16 | 2003-03-04 | Hitachi, Ltd. | Vacuum switch including vacuum-measurement devices, switchgear using the vacuum switch, and operation method thereof |
| JP2007538371A (ja) * | 2004-05-18 | 2007-12-27 | ジェニングス テクノロジー | 真空開閉装置における高圧条件を検出する方法および装置 |
| JP2009525583A (ja) * | 2006-01-31 | 2009-07-09 | トーマス・アンド・ベッツ・インターナショナル・インコーポレーテッド | 真空開閉装置 |
| JP2010197132A (ja) * | 2009-02-24 | 2010-09-09 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 真空遮断器真空試験器 |
| WO2012157134A1 (ja) * | 2011-05-13 | 2012-11-22 | 三菱電機株式会社 | 密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置 |
| CN102565686A (zh) * | 2011-12-07 | 2012-07-11 | 上海工程技术大学 | 一种嵌入式实时监测的智能真空断路器 |
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