JPH0829713A - Multibeam scanning optical device - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To correct the curvature of a scanning line well and to obtain a synthetic picture having good quality by making a light beam transmitted through a beam separating means incident on a deflecting surface of an optical deflector inside a surface perpendicular to a main scanning surface from an inclined direction. CONSTITUTION:A semiconductor laser 1a is arranged in a state where it is deviated by a specified amount from the optical axis of a collimator lens 2a in order that the light beam outgoing from the laser 1a is made incident on the deflecting surface 5a of an optical deflector 5 at an angle theta from the inclined direction inside the surface(subscanning surface) perpendicular to the main scanning surface. Thus, a reflection point on the deflecting surface 5a is deviated up and down in accordance with the rotation of the optical deflector 5; as a result, the curvature is caused on the scanning line of the light beam on the surface of a photodetector 9. The incident angle theta of the light beam made incident on the deflecting surface 5a is set in a state where the curvature amount of the scanning line at this time is nearly the same as that of the light beam caused in the case the light beam is transmitted through a dichroic mirror 7 for separation, and only the direction of curvature is different, so that the curvature is reversely corrected. Thus, the scanning line on the surface of the photodetector 9 is in a straight line condition without having the curvature.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はマルチビーム走査光学装
置に関し、特に波長の異なる複数の光ビーム（レーザ
光）を利用して被走査面としての記録媒体（例えば感光
体ドラム）面上の複数位置に導光し光走査して画像の記
録をする、例えばマルチカラー複写機やマルチカラーレ
ーザープリンタ等の画像形成装置に好適なマルチビーム
走査光学装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-beam scanning optical device, and in particular, a plurality of light beams (laser beams) having different wavelengths are used to make a plurality of light beams on a surface of a recording medium (for example, a photosensitive drum) to be scanned. The present invention relates to a multi-beam scanning optical device suitable for an image forming apparatus such as a multi-color copying machine or a multi-color laser printer, which records an image by guiding light to a position and optically scanning.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来より、マルチカラー複写機等に用い
られるマルチビーム走査光学装置においては光源として
波長の異なる複数の半導体レーザを用い、該複数の半導
体レーザから出射した複数の光ビーム（レーザ光）をビ
ーム合成手段としての合成用ダイクロイックミラーで１
つの光路に合成している。そして合成した光ビームを偏
向反射する光偏向器を介して結像レンズ（ｆθレンズ）
で集光し、ビーム分離手段としての分離用ダイクロイッ
クミラーで複数の光ビームに分離した後、同一の被走査
面（感光体ドラム面）上の異なった複数の領域に導光
し、該複数の光ビームで該被走査面上を光走査すること
により画像記録を行なっている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a multi-beam scanning optical device used in a multi-color copying machine, a plurality of semiconductor lasers having different wavelengths are used as a light source, and a plurality of light beams (laser light) emitted from the plurality of semiconductor lasers are used. ) Is a dichroic mirror for combining as a beam combining means.
Combined into one optical path. An imaging lens (fθ lens) is provided through an optical deflector that deflects and reflects the combined light beam.
The light is condensed by a dichroic mirror for separation as a beam separating means, and then separated into a plurality of light beams, which are then guided to different regions on the same surface to be scanned (photoreceptor drum surface), thereby Image recording is performed by optically scanning the surface to be scanned with a light beam.

【０００３】[0003]

【発明が解決しようとする課題】一般に厚みのあるビー
ム分離手段としてのダイクロイックミラーを光路中に結
像レンズの光軸に対して斜め（例えば４５度）に傾けて
配置すると、該ダイクロイックミラーを透過した光ビー
ムは該ダイクロイックミラーへの入射角及び該ダイクロ
イックミラーのミラー基板の厚みに応じて感光体ドラム
面上での走査線の直線性が失われ湾曲が生じてしまうと
いう問題点がある。Generally, when a dichroic mirror as a beam separating means having a large thickness is arranged in the optical path obliquely (for example, 45 degrees) with respect to the optical axis of the imaging lens, the dichroic mirror is transmitted. The generated light beam has a problem that the linearity of the scanning line on the surface of the photoconductor drum is lost depending on the angle of incidence on the dichroic mirror and the thickness of the mirror substrate of the dichroic mirror, resulting in curving.

【０００４】この状態のままで感光体ドラム面上を光走
査すると、この透過した光ビームは例えば図１０に示す
点線１９のように該感光体ドラム９面上で１ラインの走
査線が円弧を描いた状態（湾曲状態）となる。When the surface of the photoconductor drum is optically scanned in this state, the transmitted light beam has a scanning line of one arc on the surface of the photoconductor drum 9 as shown by the dotted line 19 in FIG. It becomes the drawn state (curved state).

【０００５】一方、分離ダイクロイックミラーで反射し
た光ビームは該分離ダイクロイックミラーで反射する際
に生じる湾曲は発生しない。この為感光体ドラム９面上
を光走査する１ラインの走査線は例えば図１０に示す実
線１８のように直線状態となって維持される。On the other hand, the light beam reflected by the separation dichroic mirror does not have the curvature generated when it is reflected by the separation dichroic mirror. Therefore, one scanning line for optically scanning the surface of the photoconductor drum 9 is maintained in a linear state as shown by a solid line 18 in FIG. 10, for example.

【０００６】従って、このようなマルチビーム走査光学
装置を、例えばマルチカラー複写機に適用して複数色の
合成を行なった場合、合成画像上で色ズレや混色等が発
生し、良質なる複写画像が得られないという問題点があ
った。Therefore, when such a multi-beam scanning optical device is applied to, for example, a multi-color copying machine to synthesize a plurality of colors, color misregistration, color mixture, etc. occur on the synthesized image, resulting in a good quality copied image. There was a problem that was not obtained.

【０００７】本発明はビーム分離手段としての分離用ダ
イクロイックミラーで分離した複数の光ビームを利用し
て被走査面（感光体ドラム面）上の異なる領域を光走査
する際、該分離用ダイクロイックミラーで分離した光ビ
ームのうち透過する光ビームを主走査面と垂直な面内
（副走査断面内）で光偏向器の偏向面に対して斜め方向
から入射するように各要素を構成することにより、該ビ
ーム分離手段を透過した際に発生する被走査面上での走
査線の湾曲を良好に補正し、良質なる合成画像（複写画
像）を得ることができるマルチビーム走査光学装置の提
供を目的とする。According to the present invention, when a plurality of light beams separated by a separating dichroic mirror as a beam separating means are used to optically scan different areas on a surface to be scanned (photosensitive drum surface), the separating dichroic mirror is used. By configuring each element so that the transmitted light beam of the light beam separated in (2) is incident on the deflecting surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane (in the sub-scanning cross section). An object of the present invention is to provide a multi-beam scanning optical device capable of satisfactorily correcting the curvature of the scanning line on the surface to be scanned which occurs when the beam is separated by the beam separating means and obtaining a high quality composite image (copy image). And

【０００８】又、本発明はビーム分離手段としての分離
用ダイクロイックミラーで分離した複数の光ビームを利
用して被走査面（感光体ドラム面）上の異なる領域を光
走査する際、該被走査面上を光走査する複数の光ビーム
の走査線の状態がそれぞれ略一致するように該複数の光
ビームのうち少なくとも１つの光ビームを主走査面と垂
直な面内で光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射
するように各要素を構成することにより、良質なる合成
画像（複写画像）を得ることができるマルチビーム走査
光学装置の提供を目的とする。Further, according to the present invention, when a plurality of light beams separated by the separating dichroic mirror as the beam separating means are used to optically scan different areas on the surface to be scanned (photosensitive drum surface), the scanning is performed. At least one light beam of the plurality of light beams in the plane perpendicular to the main scanning plane is deflected by the deflecting surface of the light deflector so that the states of the scanning lines of the plurality of light beams optically scanning the surface substantially match. It is an object of the present invention to provide a multi-beam scanning optical device capable of obtaining a high quality composite image (copy image) by configuring each element so as to be incident from an oblique direction.

【０００９】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明のマルチビーム走
査光学装置は、 （１−１）複数の光源から出射した波長の異なる複数の
光ビームを各々対応する光学部材を通してビーム合成手
段で合成し、該合成した光ビームを偏向反射する複数の
偏向面を有する光偏向器を介して結像手段で集光し、該
合成した光ビームを波長領域に応じて反射及び透過させ
るビーム分離手段で複数の光ビームに分離した後、被走
査面上の異なった複数の領域に導光し、該複数の光ビー
ムで該被走査面上を光走査する際、該ビーム分離手段を
透過する光ビームが主走査面と垂直な面内で該光偏向器
の偏向面に対して斜め方向から入射するように各要素を
構成して、該光ビームが該ビーム分離手段を透過する際
に発生する被走査面上での走査線の湾曲を補正したこと
を特徴としている。A multi-beam scanning optical device according to the present invention comprises: (1-1) combining a plurality of light beams having different wavelengths emitted from a plurality of light sources by a beam combining means through corresponding optical members. , A plurality of beam separating means for converging the combined light beam by an image forming means through an optical deflector having a plurality of deflecting surfaces for deflecting and reflecting the combined light beam, and reflecting and transmitting the combined light beam according to a wavelength region. After being separated into a plurality of light beams, the light beams are guided to different areas on the surface to be scanned, and when the plurality of light beams optically scan the surface to be scanned, Each element is configured so as to be incident obliquely on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane, and the scanned beam generated when the light beam passes through the beam separating means. That the curvature of the scanning line on the surface is corrected Features.

【００１０】特に前記複数の光源のうち少なくとも１つ
の光源を主走査面と垂直な面内において前記対応する光
学部材の光軸からズラして配置することにより、前記ビ
ーム分離手段で透過する光ビームを主走査面と垂直な面
内で前記光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射さ
せたことや、前記ビーム合成手段を主走査面と垂直な面
内において前記光学部材の光軸に対して傾けて配置する
ことにより、前記ビーム分離手段で透過する光ビームを
主走査面と垂直な面内で前記光偏向器の偏向面に対して
斜め方向から入射させたことや、前記ビーム分離手段は
ダイクロイックミラーより成っていること等を特徴とし
ている。In particular, by arranging at least one light source of the plurality of light sources in a plane perpendicular to the main scanning plane so as to be offset from the optical axis of the corresponding optical member, the light beam transmitted by the beam separating means. Is incident on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from the oblique direction, and the beam synthesizing means is arranged on the optical axis of the optical member in a plane perpendicular to the main scanning plane. By arranging the light beams so as to be inclined with respect to each other, the light beam transmitted by the beam splitting means is made incident on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane, and the beam splitting is performed. The means is characterized by comprising a dichroic mirror.

【００１１】（１−２）複数の発光部をアレイ状に並置
した光源より出射した波長の異なる複数の光ビームを光
学部材を通して複数の偏向面を有する光偏向器に導光
し、該光偏向器で偏向反射させ、結像手段で集光した後
に、該複数の光ビームを波長領域に応じて反射及び透過
させるビーム分離手段により反射光と透過光の光ビーム
に分離した後、被走査面上の異なった複数の領域に各々
導光し、該複数の光ビームで該被走査面上を光走査する
際、該ビーム分離手段を透過する光ビームが主走査面と
垂直な面内で該光偏向器の偏向面に対して斜め方向から
入射するように各要素を構成して、該光ビームが該ビー
ム分離手段を透過する際に発生する被走査面上での走査
線の湾曲を補正したことを特徴としている。(1-2) A plurality of light beams having different wavelengths emitted from a light source in which a plurality of light emitting portions are arranged side by side in an array are guided through an optical member to an optical deflector having a plurality of deflection surfaces, and the light deflection is performed. After being deflected and reflected by an optical device and condensed by an image forming means, it is separated into a reflected light beam and a transmitted light beam by a beam separating means for reflecting and transmitting the plurality of light beams in accordance with a wavelength region, and then a surface to be scanned. When each of the light beams is guided to a plurality of different regions on the upper side and the plurality of light beams are optically scanned on the surface to be scanned, the light beam transmitted through the beam separating means is in a plane perpendicular to the main scanning surface. Each element is configured so as to be incident obliquely on the deflection surface of the optical deflector, and the curvature of the scanning line on the surface to be scanned that occurs when the light beam passes through the beam separating means is corrected. It is characterized by having done.

【００１２】特に前記複数の発光部のうち少なくとも１
つの発光部を主走査面と垂直な面内において前記光学部
材の光軸からズラして配置することにより、前記ビーム
分離手段で透過する光ビームを主走査面と垂直な面内で
前記光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射させた
ことや、前記ビーム分離手段はダイクロイックミラーよ
り成っていること等を特徴としている。In particular, at least one of the plurality of light emitting units
By arranging the two light emitting portions so as to be offset from the optical axis of the optical member in a plane perpendicular to the main scanning surface, the light beam transmitted by the beam splitting means is deflected in the plane perpendicular to the main scanning surface. It is characterized in that it is made incident on the deflecting surface of the vessel obliquely and that the beam separating means is composed of a dichroic mirror.

【００１３】（１−３）複数の光源から出射した波長の
異なる複数の光ビームを各々対応する光学部材を通して
ビーム合成手段で合成し、該合成した光ビームを偏向反
射する複数の偏向面を有する光偏向器を介して結像手段
で集光し、該合成した光ビームを波長領域に応じて反射
及び透過させるビーム分離手段で複数の光ビームに分離
した後、被走査面上の異なった複数の領域に導光し、該
複数の光ビームで該被走査面上を光走査する際、該被走
査面上を光走査する複数の光ビームの走査線の状態がそ
れぞれ略一致するように該複数の光ビームのうち少なく
とも１つの光ビームを主走査面と垂直な面内で該光偏向
器の偏向面に対して斜め方向から入射するように各要素
を構成したことを特徴としている。(1-3) A plurality of light beams having different wavelengths emitted from a plurality of light sources are combined by a beam combining means through corresponding optical members, and a plurality of deflection surfaces for deflecting and reflecting the combined light beams are provided. After being condensed by the image forming means via the optical deflector and separated into a plurality of light beams by the beam separating means for reflecting and transmitting the combined light beam according to the wavelength region, a plurality of different light beams on the surface to be scanned are separated. When the optical scanning is performed on the surface to be scanned with the plurality of light beams, the scanning lines of the plurality of light beams optically scanning the surface to be scanned are substantially aligned with each other. Each element is configured so that at least one light beam of the plurality of light beams is incident on the deflection surface of the light deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from an oblique direction.

【００１４】特に前記複数の光源のうち少なくとも１つ
の光源を主走査面と垂直な面内において前記対応する光
学部材の光軸からズラして配置することにより、前記複
数の光ビームのうち少なくとも１つの光ビームを主走査
面と垂直な面内で前記光偏向器の偏向面に対して斜め方
向から入射させたことや、前記ビーム合成手段を主走査
面と垂直な面内において前記光学部材の光軸に対して傾
けて配置することにより、前記複数の光ビームのうち少
なくとも１つの光ビームを主走査面と垂直な面内で前記
光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射させたこと
や、前記ビーム分離手段はダイクロイックミラーより成
っていること等を特徴としている。Particularly, by arranging at least one light source of the plurality of light sources so as to be offset from the optical axis of the corresponding optical member in a plane perpendicular to the main scanning plane, at least one of the plurality of light beams is arranged. The two light beams are made to enter the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from an oblique direction, and the beam synthesizing means is arranged in a plane perpendicular to the main scanning plane of the optical member. By arranging the light beams at an angle with respect to the optical axis, at least one light beam of the plurality of light beams is made incident on the deflection surface of the optical deflector obliquely in a plane perpendicular to the main scanning plane. In addition, the beam separating means includes a dichroic mirror.

【００１５】[0015]

【実施例】図１は本発明の実施例１の要部側面図（副走
査断面図）、図２は本発明の実施例１の要部平面図（主
走査断面図）である。1 is a side view (sub-scan sectional view) of a main part of a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view (main-scan sectional view) of a main part of the first embodiment of the present invention.

【００１６】図中、１ａ，１ｂは各々光源としての半導
体レーザであり、画像信号に基づき光変調された光ビー
ム（レーザ光）を出射している。各半導体レーザ１ａ，
１ｂから出射する光ビームの波長は各々異なり、例えば
半導体レーザ１ａから出射する光ビームの波長λ₁ は６
７０ｎｍ、半導体レーザ１ｂから出射する光ビームの波
長λ₂ は７８０ｎｍである。本実施例においては主走査
面と垂直な面内（副走査面内）において半導体レーザ１
ａを光学部材としてのコリメーターレンズ２ａの光軸か
ら所定量ズラして配置し、該半導体レーザ１ａから出射
した光ビームが偏向手段としての光偏向器５の偏向面５
ａへ入射する際、所定の角度θを持って斜め方向から入
射（斜入射）するように構成している。これにより後述
するようにビーム分離手段（分離用ダイクロイックミラ
ー）を透過した際に発生する光ビームの被走査面上での
走査線の湾曲を補正している。In the figure, reference numerals 1a and 1b denote semiconductor lasers as light sources, which emit a light beam (laser light) optically modulated based on an image signal. Each semiconductor laser 1a,
The wavelengths of the light beams emitted from the semiconductor lasers 1b are different from each other. For example, the wavelength λ ₁ of the light beams emitted from the semiconductor laser 1a is 6
70 nm, the wavelength λ ₂ of the light beam emitted from the semiconductor laser 1b is 780 nm. In this embodiment, the semiconductor laser 1 is provided in a plane perpendicular to the main scanning plane (in the sub-scanning plane).
a is arranged by being displaced by a predetermined amount from the optical axis of the collimator lens 2a as an optical member, and the light beam emitted from the semiconductor laser 1a is deflected by the deflecting surface 5 of the optical deflector 5 as deflecting means.
When incident on a, it is configured so as to be incident (oblique incidence) from a diagonal direction with a predetermined angle θ. Thereby, as will be described later, the curvature of the scanning line on the surface to be scanned of the light beam generated when passing through the beam separating means (separation dichroic mirror) is corrected.

【００１７】２ａ，２ｂは各々光学部材としてのコリメ
ーターレンズであり、各々対応する各半導体レーザ１
ａ，１ｂから出射した光ビームを略平行光束としてい
る。Reference numerals 2a and 2b each denote a collimator lens as an optical member, and each corresponding semiconductor laser 1
The light beams emitted from a and 1b are substantially parallel light beams.

【００１８】３はビーム合成手段であり、ダイクロイッ
クミラー（合成用ダイクロイックミラー）より成ってお
り、図３に示す分光透過率特性を有している。この合成
用ダイクロイックミラー３は半導体レーザ１ａから出射
した波長６７０ｎｍの光ビームを透過させ、半導体レー
ザ１ｂから出射した波長７８０ｎｍの光ビームを反射さ
せ１つの光路に合成している。Reference numeral 3 denotes a beam combining means, which is composed of a dichroic mirror (combining dichroic mirror) and has a spectral transmittance characteristic shown in FIG. The synthesizing dichroic mirror 3 transmits the light beam having a wavelength of 670 nm emitted from the semiconductor laser 1a and reflects the light beam having a wavelength of 780 nm emitted from the semiconductor laser 1b to combine them into one optical path.

【００１９】４はシリンドリカルレンズであり、副走査
断面のみ所定の屈折力を有している。５は複数の偏向面
を有する光偏向器であり、回転多面鏡より成っており、
駆動手段（不図示）により矢印Ａ方向に所定の速度で回
転している。A cylindrical lens 4 has a predetermined refracting power only in the sub-scan section. Reference numeral 5 is an optical deflector having a plurality of deflecting surfaces, which is composed of a rotating polygon mirror,
It is rotated at a predetermined speed in the direction of arrow A by a driving means (not shown).

【００２０】６は結像手段としてのｆθ特性を有する結
像レンズ（ｆθレンズ）であり、球面レンズ６ａとトー
リックンレンズ６ｂの２つのレンズより成っており、光
偏向器５の偏向面５ａで偏向反射した複数の光ビームを
集光し、後述するビーム分離手段（分離用ダイクロイッ
クミラー）と折り返しミラーを介して被走査面としての
感光体ドラム面上の異なった２つの露光位置Ｐ１，Ｐ２
にそれぞれ結像（集束）させている。Reference numeral 6 denotes an image forming lens (fθ lens) having an fθ characteristic as an image forming means, which is composed of two lenses, a spherical lens 6a and a toricon lens 6b, and is a deflecting surface 5a of the optical deflector 5. A plurality of deflected and reflected light beams are converged, and two different exposure positions P1 and P2 on the surface of the photosensitive drum as a surface to be scanned are collected via a beam separating means (separating dichroic mirror) and a folding mirror which will be described later.
Are imaged (focused) respectively.

【００２１】ビーム分離手段としての分離用ダイクロイ
ックミラー７は上記の合成用ダイクロイックミラー３の
光学特性（図３に示す透過率特性）と同様に入射した光
ビームのうち波長６７０ｎｍの光ビームを透過させ、波
長７８０ｎｍの光ビームを反射させることにより２つの
光ビームに分離している。又本実施例における分離用ダ
イクロイックミラー７は結像レンズ６の光軸上の光ビー
ムの入射角が略４５度となるように該結像レンズ６の光
軸に対して所定方向へ傾けて配置している。The separating dichroic mirror 7 as the beam separating means transmits the light beam having a wavelength of 670 nm among the incident light beams in the same manner as the optical characteristic (transmittance characteristic shown in FIG. 3) of the combining dichroic mirror 3 described above. , A light beam having a wavelength of 780 nm is reflected to be separated into two light beams. The separation dichroic mirror 7 in this embodiment is arranged so as to be inclined in a predetermined direction with respect to the optical axis of the imaging lens 6 so that the incident angle of the light beam on the optical axis of the imaging lens 6 becomes approximately 45 degrees. are doing.

【００２２】８ａは折り返しミラーであり、分離用ダイ
クロイックミラー７で反射された波長７８０ｎｍの光ビ
ームを感光体ドラム９面上の第１の露光位置Ｐ１に導い
ている。８ｂ，８ｃは各々折り返しミラーであり、分離
用ダイクロイックミラー７を透過した波長６７０ｎｍの
光ビームを感光体ドラム９面上の第２の露光位置Ｐ２に
導いている。感光体ドラム９は図中矢印Ｂ方向（副走査
方向）に所定の速度で回転している。Reference numeral 8a denotes a folding mirror, which guides the light beam having a wavelength of 780 nm reflected by the separation dichroic mirror 7 to the first exposure position P1 on the surface of the photosensitive drum 9. Reference numerals 8b and 8c denote folding mirrors, which guide the light beam having a wavelength of 670 nm that has passed through the separation dichroic mirror 7 to the second exposure position P2 on the surface of the photosensitive drum 9. The photoconductor drum 9 is rotating at a predetermined speed in the direction of arrow B (sub-scanning direction) in the figure.

【００２３】本実施例においてはこのような構成により
各半導体レーザ１ａ，１ｂから画像信号により光変調さ
れて出射した波長６７０ｎｍの光ビームと波長７８０ｎ
ｍの光ビームとをそれぞれのコリメーターレンズ２ａ，
２ｂにより略平行な光ビームに変換し、合成用ダイクロ
イックミラー３により１つの光路に合成した後、シリン
ドリカルレンズ４に入射させている。シリンドリカルレ
ンズ４は入射した光ビームのうち主走査断面においては
そのまま平行光ビームの状態で射出させ、副走査断面内
においては集束して光偏向器５の偏向面５ａにほぼ線像
として結像させている。In this embodiment, with such a structure, a light beam having a wavelength of 670 nm emitted from each of the semiconductor lasers 1a and 1b after being optically modulated by an image signal and a wavelength of 780n.
m light beam and collimator lens 2a,
The light beam is converted into a substantially parallel light beam by 2b and is combined into one optical path by the combining dichroic mirror 3, and then is made incident on the cylindrical lens 4. The cylindrical lens 4 causes the incident light beam to be emitted as it is in the state of a parallel light beam in the main scanning cross section, and is focused in the sub scanning cross section to form a substantially linear image on the deflection surface 5a of the optical deflector 5. ing.

【００２４】本実施例においてはこのとき半導体レーザ
１ａから出射した波長６７０ｎｍの光ビームが主走査面
と垂直な面内（副走査面内）において光偏向器５の偏向
面５ａへ斜め方向から入射するように、該半導体レーザ
１ａをコリメーターレンズ２ａの光軸から所定量ズラし
て配置している。In this embodiment, at this time, the light beam having a wavelength of 670 nm emitted from the semiconductor laser 1a is incident on the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 from an oblique direction in the plane (in the sub-scanning plane) perpendicular to the main scanning plane. As described above, the semiconductor laser 1a is arranged with a predetermined shift from the optical axis of the collimator lens 2a.

【００２５】その後、光偏向器５の偏向面５ａによって
偏向反射した光ビームは結像レンズ６で集光され分離用
ダイクロイックミラー７に入射している。そして波長７
８０ｎｍの光ビームは分離用ダイクロイックミラー７に
より反射され折り返しミラー８ａを介して感光体ドラム
９面上の第１の露光位置Ｐ１に結像（集束）している。After that, the light beam deflected and reflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 is condensed by the imaging lens 6 and is incident on the separation dichroic mirror 7. And wavelength 7
The 80 nm light beam is reflected by the separating dichroic mirror 7 and is focused (focused) on the surface of the photosensitive drum 9 at the first exposure position P1 via the folding mirror 8a.

【００２６】一方、波長６７０ｎｍの光ビームは分離用
ダイクロイックミラー７を透過し２つの折り返しミラー
８ｂ，８ｃを介して感光体ドラム９面上の第２の露光位
置Ｐ２に結像（集束）している。On the other hand, the light beam having a wavelength of 670 nm passes through the separating dichroic mirror 7 and is imaged (focused) at the second exposure position P2 on the surface of the photosensitive drum 9 via the two folding mirrors 8b and 8c. There is.

【００２７】そして光偏向器５を矢印Ａ方向に回転させ
ることによって露光位置Ｐ１，Ｐ２の紙面に対して垂直
な方向（主走査方向）に光走査している。そして主走査
方向の露光と共に感光体ドラム９の矢印Ｂ方向（副走査
方向）の回転に伴ない露光位置Ｐ１，Ｐ２で感光体ドラ
ム９を順次露光し、各々に対応した現像器（不図示）に
より該感光体ドラム９面上に静電潜像を現像している。By rotating the optical deflector 5 in the direction of arrow A, the optical scanning is performed in the direction (main scanning direction) perpendicular to the paper surface at the exposure positions P1 and P2. Then, along with the exposure in the main scanning direction, the photosensitive drum 9 is sequentially exposed at the exposure positions P1 and P2 along with the rotation of the photosensitive drum 9 in the direction of the arrow B (sub scanning direction), and a developing device (not shown) corresponding to each is provided. Thus, the electrostatic latent image is developed on the surface of the photosensitive drum 9.

【００２８】次に分離用ダイクロイックミラーを透過し
た際に発生する光ビームの走査線の湾曲を補正する方法
について説明する。Next, a method of correcting the curvature of the scanning line of the light beam generated when the light beam is transmitted through the separation dichroic mirror will be described.

【００２９】一般に前述したように分離用ダイクロイッ
クミラーを透過した光ビームは該分離用ダイクロイック
ミラーへ入射する入射角及び該分離用ダイクロイックミ
ラーのミラー基板の厚みに応じ走査線の直線性が失われ
湾曲を生じてしまう。In general, as described above, the light beam transmitted through the separation dichroic mirror loses its linearity of the scanning line depending on the incident angle of incidence on the separation dichroic mirror and the thickness of the mirror substrate of the separation dichroic mirror, and thus is curved. Will occur.

【００３０】そこで本実施例においては図４、図５に示
す構成をとることによって分離用ダイクロイックミラー
を透過した際に発生する光ビームの走査線の湾曲を補正
している。ここで図４、図５は各々本発明の実施例１の
光源から光偏向器に至るまでの副走査断面図であり、図
４は半導体レーザ１ｂから光偏向器５に至るまでの副走
査断面図、図５は半導体レーザ１ａから光偏向器５に至
るまでの副走査断面図を示している。Therefore, in the present embodiment, by adopting the configuration shown in FIGS. 4 and 5, the curvature of the scanning line of the light beam generated when the light beam is transmitted through the separation dichroic mirror is corrected. 4 and 5 are sub-scanning sectional views from the light source to the optical deflector according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a sub-scanning section from the semiconductor laser 1b to the optical deflector 5. 5 and 5 show sub-scanning sectional views from the semiconductor laser 1a to the optical deflector 5.

【００３１】図４において半導体レーザ１ｂはコリメー
ターレンズ２ｂの光軸（不図示のｆθレンズの光軸に一
致）上に配置され、該半導体レーザ１ｂから出射した光
ビームを光偏向器５の偏向面５ａに垂直に入射させてい
る。一方図５において半導体レーザ１ａはコリメーター
レンズ２ａの光軸から図面上上方向にズラして配置さ
れ、該半導体レーザ１ａから出射した光ビームを光偏向
器５の偏向面５ａに角度θを持って入射（斜入射）させ
ている。In FIG. 4, the semiconductor laser 1b is arranged on the optical axis of the collimator lens 2b (corresponding to the optical axis of the fθ lens (not shown)), and the light beam emitted from the semiconductor laser 1b is deflected by the optical deflector 5. It is incident perpendicularly on the surface 5a. On the other hand, in FIG. 5, the semiconductor laser 1a is arranged so as to be shifted upward in the drawing from the optical axis of the collimator lens 2a, and the light beam emitted from the semiconductor laser 1a has an angle θ on the deflection surface 5a of the optical deflector 5. Incident (oblique incidence).

【００３２】このとき角度θで偏向面５ａに入射した半
導体レーザ１ａからの光ビームは該偏向面５ａで偏向反
射した後、ｆθレンズ６により感光体ドラム９面上に結
像するが、該光ビームは副走査断面内で偏向面５ａに対
して角度θをもって入射している為、該光偏向器５の回
転に応じて該偏向面５ａ上での反射点が上下にズレ、こ
の結果感光体ドラム９面上で該光ビームの走査線に湾曲
が発生する。At this time, the light beam from the semiconductor laser 1a incident on the deflecting surface 5a at the angle θ is deflected and reflected by the deflecting surface 5a and then focused on the surface of the photosensitive drum 9 by the fθ lens 6. Since the beam is incident on the deflecting surface 5a at an angle θ in the sub-scanning cross section, the reflection point on the deflecting surface 5a is vertically displaced according to the rotation of the optical deflector 5, and as a result, the photosensitive member is obtained. Curvature occurs on the scanning line of the light beam on the surface of the drum 9.

【００３３】そこで本実施例においてはこのときの湾曲
量が分離用ダイクロイックミラー７を透過する際に発生
する光ビームの湾曲量と略同量で湾曲する方向のみが異
なるように偏向面５ａに入射する光ビーム（波長６７０
ｎｍ）の入射角θを該分離用ダイクロイックミラー７へ
の入射角及び基板の厚み、又ｆθレンズの横倍率等に応
じて適宜設定することにより逆補正を掛けている。これ
により感光体ドラム９面を光走査する１ラインの走査線
の状態が図９に示す点線１７のように湾曲のない直線状
態となるように補正している。Therefore, in the present embodiment, the amount of bending at this time is approximately the same as the amount of bending of the light beam generated when passing through the separating dichroic mirror 7, and is incident on the deflecting surface 5a so that only the bending direction is different. Light beam (wavelength 670
Inverse correction is performed by appropriately setting the incident angle θ of (nm) according to the incident angle to the separation dichroic mirror 7, the thickness of the substrate, the lateral magnification of the fθ lens, and the like. As a result, the state of one scanning line for optically scanning the surface of the photosensitive drum 9 is corrected to be a straight line state without a curve as indicated by a dotted line 17 in FIG.

【００３４】尚、図９において実線１６は分離用ダイク
ロイックミラー７で反射した光ビームの走査線、点線１
７は分離用ダイクロイックミラー７で透過した光ビーム
の走査線の状態を示している。In FIG. 9, a solid line 16 is a scanning line of the light beam reflected by the separation dichroic mirror 7, and a dotted line 1
Reference numeral 7 indicates the state of the scanning line of the light beam transmitted by the separation dichroic mirror 7.

【００３５】このように本実施例においては分離用ダイ
クロイックミラー７を透過する際に発生する光ビームの
走査線の湾曲を前述の如く光偏向器５へ入射する際の光
ビームの入射角度を適切に設定することにより補正し、
これにより色ズレや混色等のない良質なる合成画像（複
写画像）を得ている。As described above, in the present embodiment, the curvature of the scanning line of the light beam generated when the light beam is transmitted through the separation dichroic mirror 7 is set to an appropriate incident angle of the light beam when the light beam is incident on the optical deflector 5 as described above. Correct by setting to
As a result, a high quality composite image (copy image) with no color shift or color mixture is obtained.

【００３６】尚、本実施例においては複数の光ビームの
うち一方の光ビームの波長を７８０ｎｍ、他方の光ビー
ムの波長を６７０ｎｍとしたが、これらの光ビームの波
長はビーム合成手段あるいはビーム分離手段で合成ある
いは分離できる波長であれば特に限定することはない。In this embodiment, one of the plurality of light beams has a wavelength of 780 nm and the other light beam has a wavelength of 670 nm. However, the wavelengths of these light beams are the beam combining means or the beam separating means. The wavelength is not particularly limited as long as it can be synthesized or separated by means.

【００３７】図６は本発明の実施例２の一部分の要部平
面図（主走査断面図）である。図６において図２に示し
た要素と同一要素には同符番を付している。FIG. 6 is a plan view (main scanning sectional view) of a main portion of a second embodiment of the present invention. 6, the same elements as those shown in FIG. 2 are designated by the same reference numerals.

【００３８】同図において１３はビーム合成手段であ
り、ダイクロイックミラー（合成用ダイクロイックミラ
ー）より成っており、図７に示す透過率特性を有してお
り、半導体レーザ１ａから出射した波長６７０ｎｍの光
ビームを反射させ、半導体レーザ１ｂから出射した波長
７８０ｎｍの光ビームを透過させ１つの光路に合成して
いる。In the figure, 13 is a beam combining means, which is composed of a dichroic mirror (combining dichroic mirror), has the transmittance characteristics shown in FIG. 7, and has a wavelength of 670 nm emitted from the semiconductor laser 1a. The beam is reflected, and the light beam with a wavelength of 780 nm emitted from the semiconductor laser 1b is transmitted and combined into one optical path.

【００３９】本実施例におけるビーム合成手段１３は後
述するように主走査面と垂直な面内（副走査面内）にお
いてコリメーターレンズ２ａの光軸に対して所定方向へ
傾けて配置しており、半導体レーザ１ａから出射した光
ビームが光偏向器５の偏向面５ａへ所定の角度θを持っ
て斜め方向から入射（斜入射）するようにしている。
尚、ビーム分離手段としての分離用ダイクロイックミラ
ー（不図示）は前述したように図３に示した透過率特性
を有し、入射した光ビームのうち波長６７０ｎｍの光ビ
ームを透過させ、波長７８０ｎｍの光ビームを反射させ
ることにより２つの光ビームに分離している。As will be described later, the beam synthesizing means 13 in this embodiment is arranged in a predetermined direction with respect to the optical axis of the collimator lens 2a in the plane perpendicular to the main scanning plane (in the sub scanning plane). The light beam emitted from the semiconductor laser 1a is incident on the deflection surface 5a of the optical deflector 5 at a predetermined angle θ from an oblique direction (oblique incidence).
Incidentally, the separation dichroic mirror (not shown) as the beam separation means has the transmittance characteristic shown in FIG. 3 as described above, and transmits the light beam of wavelength 670 nm among the incident light beams, and transmits the light beam of wavelength 780 nm. By reflecting the light beam, it is separated into two light beams.

【００４０】次に本実施例において前述の実施例１と異
なる点を中心に説明する。Next, this embodiment will be described focusing on the points different from the first embodiment.

【００４１】前述の実施例１では副走査断面内において
半導体レーザ１ａをコリメーターレンズ２ａの光軸に対
して所定量ズラすことにより光偏向器５の偏向面５ａに
入射する該半導体レーザ１ａからの光ビームを斜め方向
から入射させていたが、本実施例では合成用ダイクロイ
ックミラー３を副走査断面内においてコリメーターレン
ズ２ａの光軸に対して所定方向へ傾けることにより、光
偏向器５の偏向面５ａに入射する半導体レーザ１ａから
の光ビームを斜め方向から入射させている。これにより
前述の実施例１と同様に分離用ダイクロイックミラーを
透過する際に発生する光ビームの走査線の湾曲を効果的
に補正している。In the first embodiment, the semiconductor laser 1a is incident on the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 by shifting the semiconductor laser 1a by a predetermined amount with respect to the optical axis of the collimator lens 2a in the sub-scan section. In this embodiment, the synthesizing dichroic mirror 3 is tilted in a predetermined direction with respect to the optical axis of the collimator lens 2a in the sub-scanning cross section. The light beam from the semiconductor laser 1a which is incident on the deflection surface 5a is incident from an oblique direction. This effectively corrects the curvature of the scanning line of the light beam that occurs when passing through the separation dichroic mirror, as in the first embodiment.

【００４２】即ち、本実施例においては図６に示すｘ−
ｙ座標系において合成用ダイクロイックミラー１３をｙ
軸を回転軸として任意の角度αだけ傾けることにより半
導体レーザ１ａから出射した波長６７０ｎｍの光ビーム
のみを光偏向器５の偏向面５ａに対して斜め方向から入
射させ、前述の如くこのとき発生する走査線の湾曲量が
分離用ダイクロイックミラー（不図示）を透過する際に
発生する光ビームの走査線の湾曲量と略同量で湾曲する
方向のみが異なるように補正している。That is, in this embodiment, x- shown in FIG.
In the y-coordinate system, the combining dichroic mirror 13 is moved to the y-axis.
By tilting the axis about the axis of rotation by an arbitrary angle α, only the light beam having a wavelength of 670 nm emitted from the semiconductor laser 1a is obliquely incident on the deflecting surface 5a of the optical deflector 5, and is generated at this time as described above. The amount of curvature of the scanning line is corrected to be approximately the same as the amount of curvature of the scanning line of the light beam generated when passing through the separation dichroic mirror (not shown), and is corrected so as to differ only in the curving direction.

【００４３】このとき光偏向器５の偏向面５ａに入射す
る波長６７０ｎｍの光ビームの入射角度θは前述の実施
例１と同様に分離用ダイクロイックミラーへの入射角及
び基板の厚み、又ｆθレンズの横倍率等に応じて適宜設
定している。図８はこのときの様子を示した半導体レー
ザ１ａから光偏向器５に至るまでの副走査断面図であ
る。At this time, the incident angle θ of the light beam having a wavelength of 670 nm which is incident on the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 is the same as in the first embodiment, the incident angle to the separation dichroic mirror, the thickness of the substrate, and the fθ lens. It is appropriately set according to the lateral magnification and the like. FIG. 8 is a sub-scanning sectional view from the semiconductor laser 1a to the optical deflector 5 showing the situation at this time.

【００４４】このように本実施例においては前述の如く
合成用ダイクロイックミラー１３を副走査断面内におい
てコリメーターレンズ２ａの光軸に対して所定方向へ傾
けることにより、分離用ダイクロイックミラーを透過す
る際に発生する光ビームの走査線の湾曲を効果的に補正
することができ、これにより前述の実施例１と同様な効
果を得ている。As described above, in this embodiment, when the combining dichroic mirror 13 is tilted in the predetermined direction with respect to the optical axis of the collimator lens 2a in the sub-scanning section as described above, when passing through the separating dichroic mirror. It is possible to effectively correct the curvature of the scanning line of the light beam that occurs in 1), and thereby obtain the same effect as in the first embodiment.

【００４５】次に本発明の実施例３について説明する。Next, a third embodiment of the present invention will be described.

【００４６】前述の実施例１，２では光源として別個の
半導体レーザを２つ用いたが、本実施例においては波長
の異なる複数の光ビームを出射するモノリシックなマル
チレーザアレイ（複数の発光部をアレイ状に並置した光
源）を用いている。Although two separate semiconductor lasers are used as the light source in the above-described first and second embodiments, in the present embodiment, a monolithic multi-laser array (a plurality of light emitting portions are provided to emit a plurality of light beams having different wavelengths). The light sources are arranged side by side in an array.

【００４７】即ち、本実施例ではマルチレーザアレイを
構成する発光部のうち分離用ダイクロイックミラーで反
射する光ビームを出射する発光部をコリメーターレンズ
の光軸上に配置し、該分離用ダイクロイックミラーで透
過する光ビームを出射する発光部を該コリメーターレン
ズの光軸に対して所定量ズラして配置している。これに
より前述の実施例１，２と同様に分離用ダイクロイック
ミラーで透過する光ビームを副走査断面内で光偏向器の
偏向面へ斜め方向から入射させることによって、該分離
用ダイクロイックミラーを透過した際に発生する光ビー
ムの走査線の湾曲を効果的に補正している。That is, in the present embodiment, among the light emitting parts constituting the multi-laser array, the light emitting part for emitting the light beam reflected by the separating dichroic mirror is arranged on the optical axis of the collimator lens, and the separating dichroic mirror is arranged. The light emitting portion for emitting the light beam that is transmitted is disposed by being shifted by a predetermined amount with respect to the optical axis of the collimator lens. As a result, as in the first and second embodiments described above, the light beam transmitted through the separation dichroic mirror is obliquely incident on the deflection surface of the optical deflector within the sub-scanning cross section, and is transmitted through the separation dichroic mirror. The curvature of the scanning line of the light beam generated at that time is effectively corrected.

【００４８】本実施例においてはこのように光源として
マルチレーザアレイを用いることによってコリメーター
レンズを共用することができ、かつ合成用ダイクロイッ
クミラーを用いずに光学系を構成することができる為、
装置全体の小型化及び低コスト化が図れるといった利点
がある。In this embodiment, since the multi-laser array is used as the light source in this way, the collimator lens can be shared and the optical system can be constructed without using the dichroic mirror for synthesis.
There are advantages that the overall size of the device can be reduced and the cost can be reduced.

【００４９】尚、以上の各実施例においてはビーム分離
手段を透過した際に生じた波長６７０ｎｍの光ビームの
走査線の湾曲を補正したが、例えばその逆に該ビーム分
離手段で反射した波長７８０ｎｍの光ビームに該波長６
７０ｎｍの光ビームの湾曲量と同量で、かつ同一方向に
湾曲が発生するように構成しても本発明は２つの光ビー
ム間の相対的な湾曲量のズレを補正することができる。In each of the above embodiments, the curvature of the scanning line of the light beam having a wavelength of 670 nm that occurs when the light beam is transmitted through the beam separating means is corrected. However, conversely, for example, the wavelength of 780 nm reflected by the beam separating means is corrected. The light beam of the wavelength 6
The present invention can correct the relative deviation of the curving amount between two light beams even if the curving occurs in the same direction as the curving amount of the 70 nm light beam.

【００５０】即ち、ビーム分離手段で反射する波長７８
０ｎｍの光ビームの走査線の状態を図１０の点線１９で
示すようにビーム分離手段で透過する波長６７０ｎｍの
光ビームの走査線の状態（湾曲状態）と略同一の状態に
なるように、例えば副走査断面内において該波長７８０
ｎｍの光ビームを出射する半導体レーザの位置をコリメ
ーターレンズの光軸よりズラして配置したり、あるいは
合成用ダイクロイックミラーを光軸に対して所定方向へ
傾けたりすることによって湾曲を発生させ、これにより
波長６７０ｎｍの光ビームの走査線の状態（湾曲状態）
と略同一の状態となるようにしている。That is, the wavelength 78 reflected by the beam separating means.
The scanning line state of the 0 nm light beam is set to be substantially the same as the scanning line state (curved state) of the light beam having a wavelength of 670 nm which is transmitted by the beam separating means, as indicated by a dotted line 19 in FIG. The wavelength of 780 in the sub-scan section
The position of the semiconductor laser that emits a light beam of nm is displaced from the optical axis of the collimator lens, or the dichroic mirror for synthesis is tilted in a predetermined direction with respect to the optical axis to generate curvature, As a result, the state of the scanning line of the light beam with a wavelength of 670 nm (curved state)
The condition is almost the same as.

【００５１】このように光学系を構成することによって
も２つの光ビーム間の相対的な湾曲量のズレは補正され
るので、本発明が解決しようとしている課題については
適応された構成をとることができる。Even by configuring the optical system in this way, the deviation of the relative bending amount between the two light beams can be corrected. Therefore, an adapted configuration should be adopted for the problem to be solved by the present invention. You can

【００５２】尚、以上の各実施例においては互いに波長
の異なる２つの光ビームを用いて例えば２色画像を得る
ように構成したが、これに限定されることなく、例えば
互いに波長の異なる３つ以上の光ビームを用いて多色画
像を得るようにした走査光学装置においても本発明は前
述の実施例と同様に適用することができる。In each of the above embodiments, two light beams having different wavelengths are used to obtain, for example, a two-color image, but the present invention is not limited to this. For example, three light beams having different wavelengths are used. The present invention can be applied to the scanning optical device which is configured to obtain a multicolor image by using the above light beams, similarly to the above-described embodiments.

【００５３】[0053]

【発明の効果】本発明によれば前述の如くビーム分離手
段で分離される複数の光ビームのうち透過する光ビーム
が主走査面と垂直な面内（副走査断面内）で光偏向器の
偏向面に対して斜め方向から入射（斜入射）するように
各要素を構成することにより、該ビーム分離手段を透過
する際に発生する被走査面上での走査線の湾曲を効果的
に補正することができ、これにより色ズレや混色等のな
い良質なる合成（多色）画像を得ることができるマルチ
ビーム走査光学装置を達成することができる。According to the present invention, of the plurality of light beams separated by the beam separating means as described above, the transmitted light beam is in the plane perpendicular to the main scanning plane (in the sub-scanning section) of the optical deflector. By configuring each element so as to be incident on the deflecting surface in an oblique direction (oblique incidence), it is possible to effectively correct the curvature of the scanning line on the surface to be scanned which occurs when the beam is transmitted through the beam separating means. Therefore, it is possible to achieve a multi-beam scanning optical device that can obtain a high quality composite (multicolor) image without color shift or color mixture.

【００５４】又、本発明によれば前述の如くビーム分離
手段で分離した複数の光ビームのうち少なくとも１つの
光ビームを主走査面と垂直な面内で光偏向器の偏向面に
対して斜め方向から入射するように各要素を構成するこ
とにより、被走査面上を光走査する複数の光ビームの走
査線の状態をそれぞれ略一致させることができ、これに
より色ズレや混色等のない良質なる合成（多色）画像を
得ることができるマルチビーム走査光学装置を達成する
ことができる。Further, according to the present invention, at least one light beam among the plurality of light beams separated by the beam separating means as described above is oblique to the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane. By configuring each element so that light is incident from the direction, the states of the scanning lines of a plurality of light beams that optically scan the surface to be scanned can be made to substantially coincide with each other, and as a result, good quality without color misregistration or color mixture can be obtained. It is possible to achieve a multi-beam scanning optical device capable of obtaining a composite (multicolor) image of

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】 本発明の実施例１の要部側面図FIG. 1 is a side view of a main part of a first embodiment of the present invention.

【図２】 本発明の実施例１の要部平面図FIG. 2 is a plan view of a main part of the first embodiment of the present invention.

【図３】 本発明の実施例１の分離用ダイクロイックミ
ラーの特性図FIG. 3 is a characteristic diagram of the separation dichroic mirror according to the first embodiment of the present invention.

【図４】 本発明の実施例１の要部側面図FIG. 4 is a side view of a main part of the first embodiment of the present invention.

【図５】 本発明の実施例１の要部側面図FIG. 5 is a side view of a main part of the first embodiment of the present invention.

【図６】 本発明の実施例２の要部側面図FIG. 6 is a side view of a main part of the second embodiment of the present invention.

【図７】 本発明の実施例２の分離用ダイクロイックミ
ラーの特性図FIG. 7 is a characteristic diagram of a dichroic mirror for separation according to a second embodiment of the present invention.

【図８】 本発明の実施例２の要部平面図FIG. 8 is a plan view of the essential parts of Embodiment 2 of the present invention.

【図９】 本発明の実施例１の感光体ドラム面上での走
査線の状態を示した説明図FIG. 9 is an explanatory diagram showing a state of scanning lines on the surface of the photosensitive drum according to the first embodiment of the present invention.

【図１０】 従来のマルチビーム走査光学装置の感光体
ドラム面上での走査線の状態を示した説明図FIG. 10 is an explanatory view showing a state of scanning lines on a surface of a photosensitive drum of a conventional multi-beam scanning optical device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ａ，１ｂ 光源（半導体レーザ） ２ａ，２ｂ コリメーターレンズ ３，１３ ビーム合成手段 ４ シリンドリカルレンズ ５ 光偏向器 ６ 結像手段 ７ ビーム分離手段 ８ａ，８ｂ，８ｃ 折り返しミラー ９ 被走査面（感光体ドラム） １６，１７ 走査線 1a, 1b Light source (semiconductor laser) 2a, 2b Collimator lens 3,13 Beam combining means 4 Cylindrical lens 5 Optical deflector 6 Image forming means 7 Beam separating means 8a, 8b, 8c Folding mirror 9 Scanned surface (photosensitive drum) ) 16,17 scanning lines

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 複数の光源から出射した波長の異なる複
数の光ビームを各々対応する光学部材を通してビーム合
成手段で合成し、該合成した光ビームを偏向反射する複
数の偏向面を有する光偏向器を介して結像手段で集光
し、該合成した光ビームを波長領域に応じて反射及び透
過させるビーム分離手段で複数の光ビームに分離した
後、被走査面上の異なった複数の領域に導光し、該複数
の光ビームで該被走査面上を光走査する際、 該ビーム分離手段を透過する光ビームが主走査面と垂直
な面内で該光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射
するように各要素を構成して、該光ビームが該ビーム分
離手段を透過する際に発生する被走査面上での走査線の
湾曲を補正したことを特徴とするマルチビーム走査光学
装置。1. An optical deflector having a plurality of deflecting surfaces for combining a plurality of light beams having different wavelengths emitted from a plurality of light sources by beam combining means through corresponding optical members and deflecting and reflecting the combined light beams. After the light is condensed by the image forming means through the beam splitting means, it is separated into a plurality of light beams by the beam separating means for reflecting and transmitting the combined light beam according to the wavelength region, When the light beam is guided and optically scanned on the surface to be scanned by the plurality of light beams, the light beam transmitted through the beam separating means is directed to the deflection surface of the light deflector in a plane perpendicular to the main scanning surface. Multi-beam scanning, characterized in that each element is configured to be incident from an oblique direction, and the curvature of the scanning line on the surface to be scanned that occurs when the light beam passes through the beam separating means is corrected. Optical device. 【請求項２】 前記複数の光源のうち少なくとも１つの
光源を主走査面と垂直な面内において前記対応する光学
部材の光軸からズラして配置することにより、前記ビー
ム分離手段で透過する光ビームを主走査面と垂直な面内
で前記光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射させ
たことを特徴とする請求項１のマルチビーム走査光学装
置。2. Light transmitted by the beam separating means by arranging at least one light source of the plurality of light sources in a plane perpendicular to the main scanning plane so as to be offset from the optical axis of the corresponding optical member. 2. The multi-beam scanning optical device according to claim 1, wherein the beam is made incident on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from an oblique direction. 【請求項３】 前記ビーム合成手段を主走査面と垂直な
面内において前記光学部材の光軸に対して傾けて配置す
ることにより、前記ビーム分離手段で透過する光ビーム
を主走査面と垂直な面内で前記光偏向器の偏向面に対し
て斜め方向から入射させたことを特徴とする請求項１の
マルチビーム走査光学装置。3. The light beam transmitted by the beam splitting means is perpendicular to the main scanning surface by arranging the beam combining means in a plane perpendicular to the main scanning surface with respect to the optical axis of the optical member. 2. The multi-beam scanning optical device according to claim 1, wherein the light is made incident on the deflection surface of the optical deflector in a slanting direction within a certain plane. 【請求項４】 前記ビーム分離手段はダイクロイックミ
ラーより成っていることを特徴とする請求項１のマルチ
ビーム走査光学装置。4. The multi-beam scanning optical apparatus according to claim 1, wherein the beam separating means is a dichroic mirror. 【請求項５】 複数の発光部をアレイ状に並置した光源
より出射した波長の異なる複数の光ビームを光学部材を
通して複数の偏向面を有する光偏向器に導光し、該光偏
向器で偏向反射させ、結像手段で集光した後に、該複数
の光ビームを波長領域に応じて反射及び透過させるビー
ム分離手段により反射光と透過光の光ビームに分離した
後、被走査面上の異なった複数の領域に各々導光し、該
複数の光ビームで該被走査面上を光走査する際、 該ビーム分離手段を透過する光ビームが主走査面と垂直
な面内で該光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射
するように各要素を構成して、該光ビームが該ビーム分
離手段を透過する際に発生する被走査面上での走査線の
湾曲を補正したことを特徴とするマルチビーム走査光学
装置。5. A plurality of light beams having different wavelengths emitted from light sources in which a plurality of light emitting portions are arranged in parallel are guided through an optical member to an optical deflector having a plurality of deflecting surfaces and deflected by the optical deflector. After being reflected and condensed by the image forming means, after being separated into a reflected light beam and a transmitted light beam by the beam separating means for reflecting and transmitting the plurality of light beams according to the wavelength region, the difference on the surface to be scanned is obtained. When a plurality of light beams are respectively guided to optically scan the surface to be scanned with the plurality of light beams, the light beam transmitted through the beam separating means is in the plane perpendicular to the main scanning surface. Each element is configured so as to be obliquely incident on the deflecting surface, and the curvature of the scanning line on the surface to be scanned that occurs when the light beam passes through the beam separating means is corrected. Characteristic multi-beam scanning optical device. 【請求項６】 前記複数の発光部のうち少なくとも１つ
の発光部を主走査面と垂直な面内において前記光学部材
の光軸からズラして配置することにより、前記ビーム分
離手段で透過する光ビームを主走査面と垂直な面内で前
記光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射させたこ
とを特徴とする請求項５のマルチビーム走査光学装置。6. The light transmitted by the beam separating means by arranging at least one light emitting portion of the plurality of light emitting portions in a plane perpendicular to a main scanning surface so as to be offset from the optical axis of the optical member. 6. The multi-beam scanning optical device according to claim 5, wherein the beam is made incident on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from an oblique direction. 【請求項７】 前記ビーム分離手段はダイクロイックミ
ラーより成っていることを特徴とする請求項５のマルチ
ビーム走査光学装置。7. The multi-beam scanning optical apparatus according to claim 5, wherein the beam separating means is a dichroic mirror. 【請求項８】 複数の光源から出射した波長の異なる複
数の光ビームを各々対応する光学部材を通してビーム合
成手段で合成し、該合成した光ビームを偏向反射する複
数の偏向面を有する光偏向器を介して結像手段で集光
し、該合成した光ビームを波長領域に応じて反射及び透
過させるビーム分離手段で複数の光ビームに分離した
後、被走査面上の異なった複数の領域に導光し、該複数
の光ビームで該被走査面上を光走査する際、 該被走査面上を光走査する複数の光ビームの走査線の状
態がそれぞれ略一致するように該複数の光ビームのうち
少なくとも１つの光ビームを主走査面と垂直な面内で該
光偏向器の偏向面に対して斜め方向から入射するように
各要素を構成したことを特徴とするマルチビーム走査光
学装置。8. An optical deflector having a plurality of deflecting surfaces for combining a plurality of light beams having different wavelengths emitted from a plurality of light sources by beam combining means through corresponding optical members and deflecting and reflecting the combined light beams. After the light is condensed by the image forming means through the beam splitting means, it is separated into a plurality of light beams by the beam separating means for reflecting and transmitting the combined light beam according to the wavelength region, When light-guided and optically scanning the surface to be scanned with the plurality of light beams, the plurality of light beams are arranged so that the states of the scanning lines of the plurality of light beams optically scanning the surface to be scanned are substantially the same. Each element is configured so that at least one of the light beams is incident on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from an oblique direction. . 【請求項９】 前記複数の光源のうち少なくとも１つの
光源を主走査面と垂直な面内において前記対応する光学
部材の光軸からズラして配置することにより、前記複数
の光ビームのうち少なくとも１つの光ビームを主走査面
と垂直な面内で前記光偏向器の偏向面に対して斜め方向
から入射させたことを特徴とする請求項８のマルチビー
ム走査光学装置。9. At least one of the plurality of light beams is arranged by arranging at least one light source of the plurality of light sources in a plane perpendicular to a main scanning surface so as to be offset from the optical axis of the corresponding optical member. 9. The multi-beam scanning optical device according to claim 8, wherein one light beam is made incident on the deflection surface of the light deflector in a plane perpendicular to the main scanning plane from an oblique direction. 【請求項１０】 前記ビーム合成手段を主走査面と垂直
な面内において前記光学部材の光軸に対して傾けて配置
することにより、前記複数の光ビームのうち少なくとも
１つの光ビームを主走査面と垂直な面内で前記光偏向器
の偏向面に対して斜め方向から入射させたことを特徴と
する請求項８のマルチビーム走査光学装置。10. The beam synthesizing means is arranged tilted with respect to the optical axis of the optical member in a plane perpendicular to the main scanning plane, so that at least one light beam of the plurality of light beams is main-scanned. 9. The multi-beam scanning optical device according to claim 8, wherein the light is made incident on the deflection surface of the optical deflector in a plane perpendicular to the plane from an oblique direction. 【請求項１１】 前記ビーム分離手段はダイクロイック
ミラーより成っていることを特徴とする請求項８のマル
チビーム走査光学装置。11. The multi-beam scanning optical apparatus according to claim 8, wherein the beam separating means is a dichroic mirror.