JPH0829152A - 座標測定機の測定処理方法及びその装置 - Google Patents
座標測定機の測定処理方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH0829152A JPH0829152A JP6186615A JP18661594A JPH0829152A JP H0829152 A JPH0829152 A JP H0829152A JP 6186615 A JP6186615 A JP 6186615A JP 18661594 A JP18661594 A JP 18661594A JP H0829152 A JPH0829152 A JP H0829152A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- coordinate measuring
- measuring machine
- probe path
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 処理能力の小さい計算機1台で安価に構成で
きるとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容
易で作成時間が短く、さらに、測定結果をCAD図面に
書込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその
装置を提供する。 【構成】 CAD図面を用いてワークの1つの測定対象
ごとにプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプ
ローブ経路プログラムによって座標測定機でワークの1
つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結果をC
AD図面の指定された位置に自動的に書き込む。
きるとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容
易で作成時間が短く、さらに、測定結果をCAD図面に
書込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその
装置を提供する。 【構成】 CAD図面を用いてワークの1つの測定対象
ごとにプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプ
ローブ経路プログラムによって座標測定機でワークの1
つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結果をC
AD図面の指定された位置に自動的に書き込む。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は被測定物(以下、「ワー
ク」という)のCAD図面を用いて座標測定機のプロー
ブ経路プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プ
ログラムによって、座標測定機でワークを自動的に測定
する座標測定機の測定処理方法及びその装置に関する。
ク」という)のCAD図面を用いて座標測定機のプロー
ブ経路プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プ
ログラムによって、座標測定機でワークを自動的に測定
する座標測定機の測定処理方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】座標測定機ではプローブを二次元(互い
に直交する2軸方向)や三次元(互いに直交する3軸方
向)に移動自在に支持するとともにプローブの座標位置
を検出する位置検出手段を各軸に備え、ワークの測定対
象の測定位置にプローブを当接したときのプローブ座標
位置のデータ(測定データ)を演算することによって、
ワークの寸法を算出する。この場合、プローブに光学式
等の非接触式のものを用いてワークの平面上の寸法を測
定するだけであれば二次元座標測定機でもよいが、一般
的にはワークの立体的な寸法を測定する必要が多いので
三次元座標測定機が採用される。また、三次元座標測定
機のプローブ取付軸を回転自在にしたり、ワークの取付
部の位置や姿勢を調整できるようにしたものを「多次元
座標測定機」と呼ぶ例もあるが、本明細書ではこれらも
含めて「座標測定機」という。
に直交する2軸方向)や三次元(互いに直交する3軸方
向)に移動自在に支持するとともにプローブの座標位置
を検出する位置検出手段を各軸に備え、ワークの測定対
象の測定位置にプローブを当接したときのプローブ座標
位置のデータ(測定データ)を演算することによって、
ワークの寸法を算出する。この場合、プローブに光学式
等の非接触式のものを用いてワークの平面上の寸法を測
定するだけであれば二次元座標測定機でもよいが、一般
的にはワークの立体的な寸法を測定する必要が多いので
三次元座標測定機が採用される。また、三次元座標測定
機のプローブ取付軸を回転自在にしたり、ワークの取付
部の位置や姿勢を調整できるようにしたものを「多次元
座標測定機」と呼ぶ例もあるが、本明細書ではこれらも
含めて「座標測定機」という。
【0003】座標測定機は操作方法によって、作業者が
プローブの近傍を手で持って操作する手動座標測定機、
作業者がジョイスティックを操作することによって動く
ジョイスティック座標測定機、計算機により制御されて
自動的に動く自動座標測定機(一般的にはCNC座標測
定機と呼ばれている)に区分される。
プローブの近傍を手で持って操作する手動座標測定機、
作業者がジョイスティックを操作することによって動く
ジョイスティック座標測定機、計算機により制御されて
自動的に動く自動座標測定機(一般的にはCNC座標測
定機と呼ばれている)に区分される。
【0004】その中で自動座標測定機は測定能率の向上
や省人化が図られ、さらに測定精度が優れていること等
から急速に増加しているが、自動座標測定機でワークを
測定するためにはプローブを自動的に操作するプログラ
ム(プローブ経路プログラム)を作成する必要がある。
この場合、多くの例では作業者がジョイスティック(通
常、自動座標測定機はジョイスティック操作ができるよ
うになっている)でプローブを操作してワークを測定
し、その動きを計算機に記憶させることによってプロー
ブ経路プログラムを作成する。
や省人化が図られ、さらに測定精度が優れていること等
から急速に増加しているが、自動座標測定機でワークを
測定するためにはプローブを自動的に操作するプログラ
ム(プローブ経路プログラム)を作成する必要がある。
この場合、多くの例では作業者がジョイスティック(通
常、自動座標測定機はジョイスティック操作ができるよ
うになっている)でプローブを操作してワークを測定
し、その動きを計算機に記憶させることによってプロー
ブ経路プログラムを作成する。
【0005】しかし、ジョイスティック操作によってワ
ーク測定しプローブ経路プログラムを作成するには、多
くの時間を必要とし座標測定機が占有されるのでその間
ワーク測定ができない。座標測定機のうち特に自動座標
測定機は測定能率の向上や省人化のために設備されるこ
とが多く、そのような場合はできるだけワーク測定に使
用したい。また、ジョイスティック操作によってワーク
測定するのは作業者にとって負担の大きい作業である。
そこで、座標測定機を使用せずワークのCAD図面を利
用してプローブ経路プログラムを作成する方法が採用さ
れてきている。
ーク測定しプローブ経路プログラムを作成するには、多
くの時間を必要とし座標測定機が占有されるのでその間
ワーク測定ができない。座標測定機のうち特に自動座標
測定機は測定能率の向上や省人化のために設備されるこ
とが多く、そのような場合はできるだけワーク測定に使
用したい。また、ジョイスティック操作によってワーク
測定するのは作業者にとって負担の大きい作業である。
そこで、座標測定機を使用せずワークのCAD図面を利
用してプローブ経路プログラムを作成する方法が採用さ
れてきている。
【0006】なお、座標測定機は予め設定した測定座標
系(三次元座標測定機では原点と互いに直交するX・Y
・Zの3基準軸で構成される空間座標系)における測定
点を演算してワークの三次元寸法を算出する。測定座標
系は三次元座標測定機が持っている機械座標系そのもの
を使用する方法もあるが、ワークの姿勢を機械座標系に
厳密に合わせる必要があり作業能率がよくないため、通
常はワークを任意の姿勢にセットしワーク上に測定座標
系を設定する。
系(三次元座標測定機では原点と互いに直交するX・Y
・Zの3基準軸で構成される空間座標系)における測定
点を演算してワークの三次元寸法を算出する。測定座標
系は三次元座標測定機が持っている機械座標系そのもの
を使用する方法もあるが、ワークの姿勢を機械座標系に
厳密に合わせる必要があり作業能率がよくないため、通
常はワークを任意の姿勢にセットしワーク上に測定座標
系を設定する。
【0007】座標測定機を使用しないでプローブ経路プ
ログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラム
によって座標測定機でワークを測定する場合の、従来の
測定処理装置例のブロック図を図6に示す。図6に示す
従来の測定処理装置は、測定制御/データ演算装置80
と図面処理装置90から構成されている。この場合の座
標測定機11は自動測定が可能な座標測定機で、プロー
ブを二次元や三次元に移動自在に支持する構造を持ち、
自動駆動手段、プローブ座標位置検出手段等が内蔵され
ている。プローブはワークに当接した瞬間に信号が発生
する電子プローブである。
ログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラム
によって座標測定機でワークを測定する場合の、従来の
測定処理装置例のブロック図を図6に示す。図6に示す
従来の測定処理装置は、測定制御/データ演算装置80
と図面処理装置90から構成されている。この場合の座
標測定機11は自動測定が可能な座標測定機で、プロー
ブを二次元や三次元に移動自在に支持する構造を持ち、
自動駆動手段、プローブ座標位置検出手段等が内蔵され
ている。プローブはワークに当接した瞬間に信号が発生
する電子プローブである。
【0008】測定制御/データ演算装置80は、座標測
定機11の測定動作を制御する測定制御部81、測定さ
れた測定データを演算し測定結果を出力する測定データ
演算部82、作業者が測定指示操作をする入力部83、
測定結果を表示する表示部84から主として構成されて
いるが、図面処理装置90からのデータを受信するため
にデータを変換するデータ変換部85及び図面処理装置
90へデータを送信するためにデータを変換するデータ
変換部86が備えられている。
定機11の測定動作を制御する測定制御部81、測定さ
れた測定データを演算し測定結果を出力する測定データ
演算部82、作業者が測定指示操作をする入力部83、
測定結果を表示する表示部84から主として構成されて
いるが、図面処理装置90からのデータを受信するため
にデータを変換するデータ変換部85及び図面処理装置
90へデータを送信するためにデータを変換するデータ
変換部86が備えられている。
【0009】また、図面処理装置90はCAD図面を記
憶する図面記憶部91、プローブ経路作成プログラムを
作成するとともに作成されたプローブ経路の干渉をチェ
ックするプローブ経路作成部92、測定結果の処理をす
る測定結果処理部93、作業者が各種の指示操作をする
入力部94、CAD図面を表示するとともに測定結果の
処理結果を表示する表示部95から主として構成されて
いるが、測定制御/データ演算装置80からのデータを
受信するためにデータを変換するデータ変換部96が備
えられている。なお、測定制御/データ演算装置80へ
送信するデータはプローブ経路作成部92でプローブ経
路作成プログラムを作成するときに変換されるのでそれ
用のデータ変換部は必要ない。
憶する図面記憶部91、プローブ経路作成プログラムを
作成するとともに作成されたプローブ経路の干渉をチェ
ックするプローブ経路作成部92、測定結果の処理をす
る測定結果処理部93、作業者が各種の指示操作をする
入力部94、CAD図面を表示するとともに測定結果の
処理結果を表示する表示部95から主として構成されて
いるが、測定制御/データ演算装置80からのデータを
受信するためにデータを変換するデータ変換部96が備
えられている。なお、測定制御/データ演算装置80へ
送信するデータはプローブ経路作成部92でプローブ経
路作成プログラムを作成するときに変換されるのでそれ
用のデータ変換部は必要ない。
【0010】図7・図8・図9に従来の座標測定機の測
定処理方法のフローチャートを示す。図7はプローブ経
路プログラム作成、図8は測定、図9は測定結果処理の
フローチャートである。
定処理方法のフローチャートを示す。図7はプローブ経
路プログラム作成、図8は測定、図9は測定結果処理の
フローチャートである。
【0011】図7において、作業者が図面記憶部91に
記憶されたCAD図面の中から該当する図面を入力部9
4から指示すると(ステップ101)、表示部95に該
当する図面が表示される(ステップ102)。表示され
た図面を見ながら作業者が該当する投影図の測定座標系
を指示する(ステップ103)とともに、すべての測定
対象の測定内容を入力部94から指示すると(ステップ
104)、プローブ経路作成部92ですべての測定対象
のプローブ経路プログラムが作成されるとともに(ステ
ップ105)、作成されたプローブ経路の干渉がチェツ
クされ(ステップ106)、干渉チェツクの結果が表示
部95に表示される(ステップ107)。 作業者は、
表示部95に表示された内容を見て干渉箇所がないかど
うか確認し(ステップ108)、干渉箇所がある場合は
入力部94から干渉部分を修正する(ステップ10
9)。こうして、すべてのプローブ経路プログラムの作
成が完了する。
記憶されたCAD図面の中から該当する図面を入力部9
4から指示すると(ステップ101)、表示部95に該
当する図面が表示される(ステップ102)。表示され
た図面を見ながら作業者が該当する投影図の測定座標系
を指示する(ステップ103)とともに、すべての測定
対象の測定内容を入力部94から指示すると(ステップ
104)、プローブ経路作成部92ですべての測定対象
のプローブ経路プログラムが作成されるとともに(ステ
ップ105)、作成されたプローブ経路の干渉がチェツ
クされ(ステップ106)、干渉チェツクの結果が表示
部95に表示される(ステップ107)。 作業者は、
表示部95に表示された内容を見て干渉箇所がないかど
うか確認し(ステップ108)、干渉箇所がある場合は
入力部94から干渉部分を修正する(ステップ10
9)。こうして、すべてのプローブ経路プログラムの作
成が完了する。
【0012】図8において、作業者がワークの測定座標
系を設定した(ステップ111)後、図面処理装置90
で作成されたプローブ経路プログラムの取り込みを作業
者が入力部83から指示すると(ステップ112)、図
面処理装置90で作成されたプローブ経路プログラムが
データ変換部85によって変換された後、測定制御部8
1に入力される(ステップ113)。次に、作業者が入
力部83から測定を指示すると(ステップ114)、入
力されたプローブ経路プログラムによって座標測定機1
1でワークが測定され(ステップ115)、測定データ
演算部82で測定データが演算されて測定結果が表示部
84に表示される(ステップ116)。
系を設定した(ステップ111)後、図面処理装置90
で作成されたプローブ経路プログラムの取り込みを作業
者が入力部83から指示すると(ステップ112)、図
面処理装置90で作成されたプローブ経路プログラムが
データ変換部85によって変換された後、測定制御部8
1に入力される(ステップ113)。次に、作業者が入
力部83から測定を指示すると(ステップ114)、入
力されたプローブ経路プログラムによって座標測定機1
1でワークが測定され(ステップ115)、測定データ
演算部82で測定データが演算されて測定結果が表示部
84に表示される(ステップ116)。
【0013】図9において、測定制御/データ演算装置
80から出力された測定結果の取り込みを作業者が入力
部94から指示すると(ステップ121)、ワークの測
定結果がデータ変換部96によって変換された後、測定
結果処理部93に入力される(ステップ122)。次
に、作業者が入力部94から測定結果処理内容を指示す
ると(ステップ123)、指示された内容に従って測定
結果が処理され(ステップ124)、処理された測定結
果が表示部95に表示されるとともに、図面記憶部91
に記憶される(ステップ125)。
80から出力された測定結果の取り込みを作業者が入力
部94から指示すると(ステップ121)、ワークの測
定結果がデータ変換部96によって変換された後、測定
結果処理部93に入力される(ステップ122)。次
に、作業者が入力部94から測定結果処理内容を指示す
ると(ステップ123)、指示された内容に従って測定
結果が処理され(ステップ124)、処理された測定結
果が表示部95に表示されるとともに、図面記憶部91
に記憶される(ステップ125)。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の測定処理装置は次の問題がある。 (イ)座標測定機を使用しないでプローブ経路プログラ
ムを作成する方法であるので、座標測定機で使用されて
いる計算機とは別に専用の計算機が必要であり、測定処
理装置として2台の計算機が必要となる。したがって、
測定処理装置が高価になる。 (ロ)座標測定機を使用しないでプローブ経路プログラ
ムを作成するのでプローブ経路の干渉チェックを計算機
内で行う必要があり、また、一度に多くのプローブ経路
プログラムを作成するので、処理能力の大きい計算機が
必要であり、測定処理装置が高価になる。 (ハ)処理能力の大きい計算機を用いたとしてもプロー
ブ経路の干渉チェックに多くの時間がかかる。 (ニ)プローブ経路プログラムの作成の指示操作はCA
D図面のみを見ながら行うので、指示ミスを起こしやす
い。 (ホ)プローブ経路プログラムの作成に多くの時間を要
するので、少数生産のワークのように同一内容の測定回
数の少ない場合や、ワークの一部を測定する場合等には
作業効率が悪い。 (ヘ)測定結果をCAD図面に書込む場合は、多くの測
定結果の中から該当する内容を作業者が一つずつ判断し
て処理しなければならず、測定結果をCAD図面へ書込
む作業に多くの時間がかかる。 (ト)一般的に、測定制御/データ演算装置80の計算
機で用いるデータ形式と図面処理装置90の計算機で用
いるデータ形式とが異なるため、データを送受信するた
めにはデータの変換が必要であり、そのためのプログラ
ムの開発が必要となる。
うな従来の測定処理装置は次の問題がある。 (イ)座標測定機を使用しないでプローブ経路プログラ
ムを作成する方法であるので、座標測定機で使用されて
いる計算機とは別に専用の計算機が必要であり、測定処
理装置として2台の計算機が必要となる。したがって、
測定処理装置が高価になる。 (ロ)座標測定機を使用しないでプローブ経路プログラ
ムを作成するのでプローブ経路の干渉チェックを計算機
内で行う必要があり、また、一度に多くのプローブ経路
プログラムを作成するので、処理能力の大きい計算機が
必要であり、測定処理装置が高価になる。 (ハ)処理能力の大きい計算機を用いたとしてもプロー
ブ経路の干渉チェックに多くの時間がかかる。 (ニ)プローブ経路プログラムの作成の指示操作はCA
D図面のみを見ながら行うので、指示ミスを起こしやす
い。 (ホ)プローブ経路プログラムの作成に多くの時間を要
するので、少数生産のワークのように同一内容の測定回
数の少ない場合や、ワークの一部を測定する場合等には
作業効率が悪い。 (ヘ)測定結果をCAD図面に書込む場合は、多くの測
定結果の中から該当する内容を作業者が一つずつ判断し
て処理しなければならず、測定結果をCAD図面へ書込
む作業に多くの時間がかかる。 (ト)一般的に、測定制御/データ演算装置80の計算
機で用いるデータ形式と図面処理装置90の計算機で用
いるデータ形式とが異なるため、データを送受信するた
めにはデータの変換が必要であり、そのためのプログラ
ムの開発が必要となる。
【0015】本発明はこのような事情を鑑みてなされた
もので、処理能力の小さい計算機1台で安価に構成でき
るとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容易
で作成時間が短く、さらに、測定結果をCAD図面に書
込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその装
置を提供することを目的とする。
もので、処理能力の小さい計算機1台で安価に構成でき
るとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容易
で作成時間が短く、さらに、測定結果をCAD図面に書
込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその装
置を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、ワークのCAD図面を用いて座標測定機
のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
ブ経路プログラムを用いて、座標測定機でワークを自動
的に測定する座標測定機の測定処理方法を、ワークの1
つの測定対象ごとにプローブ経路プログラムを作成し
て、作成されたプローブ経路プログラムによって1つの
測定対象ごとに測定し、その測定結果をCAD図面の指
定された位置に自動的に書き込むようにした。
成するために、ワークのCAD図面を用いて座標測定機
のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
ブ経路プログラムを用いて、座標測定機でワークを自動
的に測定する座標測定機の測定処理方法を、ワークの1
つの測定対象ごとにプローブ経路プログラムを作成し
て、作成されたプローブ経路プログラムによって1つの
測定対象ごとに測定し、その測定結果をCAD図面の指
定された位置に自動的に書き込むようにした。
【0017】また、本発明は、ワークのCAD図面を用
いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作
成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機
でワークを自動的に測定する座標測定機の測定処理方法
を、 (イ)ワークのCAD図面の中から、1つの測定対象に
ついてプローブ経路プログラムの作成を作業者が指示す
る。 (ニ)指示された内容に従って1つの測定対象について
プローブ経路プログラムが作成される。 (ホ)作業者が測定を指示する。 (ヘ)測定が指示されると、作成されたプローブ経路プ
ログラムによってワークの1つの測定対象が測定され、
測定データが演算されて測定結果が出力される。 (ト)測定結果のCAD図面への書込み位置を作業者が
指示する。 (チ)測定結果がCAD図面の指定された位置に自動的
に書込まれる。以上のようにした。
いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作
成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機
でワークを自動的に測定する座標測定機の測定処理方法
を、 (イ)ワークのCAD図面の中から、1つの測定対象に
ついてプローブ経路プログラムの作成を作業者が指示す
る。 (ニ)指示された内容に従って1つの測定対象について
プローブ経路プログラムが作成される。 (ホ)作業者が測定を指示する。 (ヘ)測定が指示されると、作成されたプローブ経路プ
ログラムによってワークの1つの測定対象が測定され、
測定データが演算されて測定結果が出力される。 (ト)測定結果のCAD図面への書込み位置を作業者が
指示する。 (チ)測定結果がCAD図面の指定された位置に自動的
に書込まれる。以上のようにした。
【0018】また、本発明は、ワークのCAD図面を用
いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作
成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機
でワークを自動的に測定する座標測定機の測定処理装置
を、(イ)ワークのCAD図面を記憶する図面記憶部1
6と、(ロ)作業者が、プローブ経路プログラムの作成
を指示するとともに、座標測定機11による測定を指示
し、さらに測定結果の書込み位置を指示する入力部17
と、(ハ)ワークのCAD図面を用いて入力部17から
入力された指示内容に従ってプローブ経路プログラムを
作成するプローブ経路作成部14と、(ニ)作成された
プローブ経路プログラムによって座標測定機11の測定
動作を制御する測定制御部12と、(ホ)座標測定機1
1で測定された測定データを演算し測定結果を出力する
測定データ演算部13と、(ヘ)入力部17から入力さ
れた指示内容に従って測定結果をCAD図面に書込む測
定結果書込み部15と、(ト)ワークのCAD図面を表
示するとともに、測定結果を表示する表示部18と、か
ら構成した。
いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作
成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機
でワークを自動的に測定する座標測定機の測定処理装置
を、(イ)ワークのCAD図面を記憶する図面記憶部1
6と、(ロ)作業者が、プローブ経路プログラムの作成
を指示するとともに、座標測定機11による測定を指示
し、さらに測定結果の書込み位置を指示する入力部17
と、(ハ)ワークのCAD図面を用いて入力部17から
入力された指示内容に従ってプローブ経路プログラムを
作成するプローブ経路作成部14と、(ニ)作成された
プローブ経路プログラムによって座標測定機11の測定
動作を制御する測定制御部12と、(ホ)座標測定機1
1で測定された測定データを演算し測定結果を出力する
測定データ演算部13と、(ヘ)入力部17から入力さ
れた指示内容に従って測定結果をCAD図面に書込む測
定結果書込み部15と、(ト)ワークのCAD図面を表
示するとともに、測定結果を表示する表示部18と、か
ら構成した。
【0019】また、測定処理装置のプローブ経路作成部
14、測定制御部12、測定データ演算部13、及び測
定結果書込み部15を1台の計算機で構成した。
14、測定制御部12、測定データ演算部13、及び測
定結果書込み部15を1台の計算機で構成した。
【0020】
【作用】本発明によれば、作業者が図面記憶部16に記
憶されたCAD図面の中から該当する図面を入力部17
から指示すると、表示部18に該当するCAD図面が表
示される。表示されたCAD図面の中から1つの測定対
象を作業者が入力部17から指示すると、1つの測定対
象のプローブ経路プログラムがプローブ経路作成部14
で作成され、表示部18にプローブ経路が表示される。
作業者が、表示部18に表示されプローブ経路を見て問
題がないかどうか確認し、問題がなければ入力部17か
ら測定を指示する。測定が指示されると、作成されたプ
ローブ経路プログラムが測定制御部12に入力され、プ
ローブ経路プログラムによって座標測定機11でワーク
の1つの測定対象が測定される。ワークの1つの測定対
象が測定されると測定データ演算部13で測定データが
演算されて測定結果が出力されるが、ワークが測定され
ている間に、作業者が入力部17から測定結果の書込み
位置を指示すると、測定結果書込み部15で測定結果が
CAD図面の指定された位置に自動的に書込まれる。
憶されたCAD図面の中から該当する図面を入力部17
から指示すると、表示部18に該当するCAD図面が表
示される。表示されたCAD図面の中から1つの測定対
象を作業者が入力部17から指示すると、1つの測定対
象のプローブ経路プログラムがプローブ経路作成部14
で作成され、表示部18にプローブ経路が表示される。
作業者が、表示部18に表示されプローブ経路を見て問
題がないかどうか確認し、問題がなければ入力部17か
ら測定を指示する。測定が指示されると、作成されたプ
ローブ経路プログラムが測定制御部12に入力され、プ
ローブ経路プログラムによって座標測定機11でワーク
の1つの測定対象が測定される。ワークの1つの測定対
象が測定されると測定データ演算部13で測定データが
演算されて測定結果が出力されるが、ワークが測定され
ている間に、作業者が入力部17から測定結果の書込み
位置を指示すると、測定結果書込み部15で測定結果が
CAD図面の指定された位置に自動的に書込まれる。
【0021】
【実施例】図1に本発明に係る測定処理装置の実施例の
ブロック図を示す。図1に示すように、本発明に係る測
定処理装置は、ワークのCAD図面を記憶する図面記憶
部16、作業者が、プローブ経路プログラムの作成を指
示するとともに、座標測定機11による測定を指示し、
さらに測定結果の書込み位置を指示する入力部17、ワ
ークのCAD図面を用いて入力部17から入力された指
示内容に従ってプローブ経路プログラムを作成するプロ
ーブ経路作成部14、作成されたプローブ経路プログラ
ムによって座標測定機11の測定動作を制御する測定制
御部12、座標測定機11で測定された測定データを演
算し測定結果を出力する測定データ演算部13、入力部
17から入力された指示内容に従って測定結果をCAD
図面に書込む測定結果書込み部15、ワークのCAD図
面を表示するとともに、測定結果を表示する表示部18
から構成されている。
ブロック図を示す。図1に示すように、本発明に係る測
定処理装置は、ワークのCAD図面を記憶する図面記憶
部16、作業者が、プローブ経路プログラムの作成を指
示するとともに、座標測定機11による測定を指示し、
さらに測定結果の書込み位置を指示する入力部17、ワ
ークのCAD図面を用いて入力部17から入力された指
示内容に従ってプローブ経路プログラムを作成するプロ
ーブ経路作成部14、作成されたプローブ経路プログラ
ムによって座標測定機11の測定動作を制御する測定制
御部12、座標測定機11で測定された測定データを演
算し測定結果を出力する測定データ演算部13、入力部
17から入力された指示内容に従って測定結果をCAD
図面に書込む測定結果書込み部15、ワークのCAD図
面を表示するとともに、測定結果を表示する表示部18
から構成されている。
【0022】この場合、測定制御部12、測定データ演
算部13、プローブ経路作成部14、及び測定結果書込
み部15は1つの計算機内に構成されている。したがっ
て、従来の技術で説明したものに比べて、データの流れ
は同様であるが計算機が1つでありデータの変換が不要
なのでデータ変換部がない。また、入力部17と表示部
18がそれぞれ1つであることはいうまでもない。な
お、座標測定機11は従来の技術で説明したものと同じ
である。
算部13、プローブ経路作成部14、及び測定結果書込
み部15は1つの計算機内に構成されている。したがっ
て、従来の技術で説明したものに比べて、データの流れ
は同様であるが計算機が1つでありデータの変換が不要
なのでデータ変換部がない。また、入力部17と表示部
18がそれぞれ1つであることはいうまでもない。な
お、座標測定機11は従来の技術で説明したものと同じ
である。
【0023】 図2及び図3に本発明に係る測定処理
方法の実施例のフローチャートを示す。図2が基本フロ
ーチャートで、図3が詳細フローチャートである。
方法の実施例のフローチャートを示す。図2が基本フロ
ーチャートで、図3が詳細フローチャートである。
【0024】図2において、まず、ワークのCAD図面
の中から1つの測定対象についてプローブ経路プログラ
ムの作成を作業者が指示すると(ステップ41)、指示
された内容に従って1つの測定対象についてプローブ経
路プログラムが作成される(ステップ42)。次に、作
業者が測定を指示すると(ステップ43)、作成された
プローブ経路プログラムによってワークの1つの測定対
象が測定され測定データが演算されて測定結果が出力さ
れる(ステップ44)が、測定中に作業者が測定結果の
書込み位置を指示しておくと(ステップ45)と、測定
結果がCAD図面の指示された位置に自動的に書込まれ
る(ステップ46)。
の中から1つの測定対象についてプローブ経路プログラ
ムの作成を作業者が指示すると(ステップ41)、指示
された内容に従って1つの測定対象についてプローブ経
路プログラムが作成される(ステップ42)。次に、作
業者が測定を指示すると(ステップ43)、作成された
プローブ経路プログラムによってワークの1つの測定対
象が測定され測定データが演算されて測定結果が出力さ
れる(ステップ44)が、測定中に作業者が測定結果の
書込み位置を指示しておくと(ステップ45)と、測定
結果がCAD図面の指示された位置に自動的に書込まれ
る(ステップ46)。
【0025】図3において、作業者がワークの測定座標
系を設定した(ステップ51)後、図面記憶部16に記
憶されたCAD図面の中から該当する図面を入力部17
から指示すると(ステップ52)、表示部18に該当す
る図面が表示される(ステップ53)。表示された図面
を見ながら作業者がCAD図面の中から該当する投影図
の測定座標系を入力部17から指示すると(ステップ5
5)、プローブ経路作成部14で該当する投影図の測定
座標系が設定される(ステップ56)。次に、測定座標
系が設定された投影図に表示されている部分の中から1
つの測定対象を作業者が入力部17から指示すると(ス
テップ58)、1つの測定対象のプローブ経路プログラ
ムがプローブ経路作成部14で作成され(ステップ5
9)、表示部18にプローブ経路が表示される(ステッ
プ60)。作業者が、表示部18に表示されたプローブ
経路を見て問題がないかどうか確認し(ステップ6
1)、問題がなければ入力部17から測定を指示する
(ステップ63)。
系を設定した(ステップ51)後、図面記憶部16に記
憶されたCAD図面の中から該当する図面を入力部17
から指示すると(ステップ52)、表示部18に該当す
る図面が表示される(ステップ53)。表示された図面
を見ながら作業者がCAD図面の中から該当する投影図
の測定座標系を入力部17から指示すると(ステップ5
5)、プローブ経路作成部14で該当する投影図の測定
座標系が設定される(ステップ56)。次に、測定座標
系が設定された投影図に表示されている部分の中から1
つの測定対象を作業者が入力部17から指示すると(ス
テップ58)、1つの測定対象のプローブ経路プログラ
ムがプローブ経路作成部14で作成され(ステップ5
9)、表示部18にプローブ経路が表示される(ステッ
プ60)。作業者が、表示部18に表示されたプローブ
経路を見て問題がないかどうか確認し(ステップ6
1)、問題がなければ入力部17から測定を指示する
(ステップ63)。
【0026】測定が指示されると、作成されたプローブ
経路プログラムが測定制御部12に送られ、プローブ経
路プログラムによって座標測定機11でワークの1つの
測定対象が測定される(ステップ64)。ワークの1つ
の測定対象が測定されると測定データ演算部13で測定
データが演算されて測定結果が出力されるが、ワークが
測定されている間に、作業者が入力部17から測定結果
の書込み位置を指示しておくと(ステップ65)、測定
結果書込み部15で測定結果がCAD図面の指示された
位置に自動的に書込まれる(ステップ66)。
経路プログラムが測定制御部12に送られ、プローブ経
路プログラムによって座標測定機11でワークの1つの
測定対象が測定される(ステップ64)。ワークの1つ
の測定対象が測定されると測定データ演算部13で測定
データが演算されて測定結果が出力されるが、ワークが
測定されている間に、作業者が入力部17から測定結果
の書込み位置を指示しておくと(ステップ65)、測定
結果書込み部15で測定結果がCAD図面の指示された
位置に自動的に書込まれる(ステップ66)。
【0027】 さらに、作業者がすべての測定対象の
測定が完了したかどうか判断し(ステップ67)、完了
していなければ、ステップ54(新たな投影図の測定座
標系設定が必要な場合)またはステップ57(新たな投
影図の測定座標系設定が不要な場合)へ戻って同様に進
める。なお、ステップ61で作業者が、表示部18に表
示されプローブ経路を見て問題があると判断した場合は
入力部17から不具合箇所を修正する(ステップ6
2)。
測定が完了したかどうか判断し(ステップ67)、完了
していなければ、ステップ54(新たな投影図の測定座
標系設定が必要な場合)またはステップ57(新たな投
影図の測定座標系設定が不要な場合)へ戻って同様に進
める。なお、ステップ61で作業者が、表示部18に表
示されプローブ経路を見て問題があると判断した場合は
入力部17から不具合箇所を修正する(ステップ6
2)。
【0028】 なお、ワークの多数の測定対象を連続
して測定する場合は、1つの測定対象ごとに作成したプ
ローブ経路プログラムを計算機に記憶しておいてそれを
つなぎ合わせたプログラムを作成すればよい。
して測定する場合は、1つの測定対象ごとに作成したプ
ローブ経路プログラムを計算機に記憶しておいてそれを
つなぎ合わせたプログラムを作成すればよい。
【0029】 次に具体的なプローブ経路プログラム
作成の指示方法(測定座標系の指示及び測定対象の指
示)の例を説明する。図4は測定座標系の指示方法を説
明するための図で、右下に示された形状のワークの、平
面図(左上)、正面図(左下)、傾斜面(右上)が表さ
れている。図5は測定対象の指示方法を説明するための
図で、平面図(上)と正面図(下)のみが表されてい
る。
作成の指示方法(測定座標系の指示及び測定対象の指
示)の例を説明する。図4は測定座標系の指示方法を説
明するための図で、右下に示された形状のワークの、平
面図(左上)、正面図(左下)、傾斜面(右上)が表さ
れている。図5は測定対象の指示方法を説明するための
図で、平面図(上)と正面図(下)のみが表されてい
る。
【0030】 始めに、穴10dの内径を測定する例
について説明する。まず、投影図の測定座標系を次の順
に指示して設定する。 (イ)測定対象の測定方向の形状が表示されている投影
図を指示する。投影図の指示は、投影図を枠で囲むとと
もに、その投影図の名称を指定する。この例では、穴1
0dの測定方向の形状(円)が表示されている投影図は
平面図であるので、平面図を枠21で囲み、「XY平
面」と指定している。 (ロ)投影図の座標軸を設定する。1つ目の点を指示す
るとその点が原点に設定され、2つ目の点を指示する
と、XY平面では1つ目の点と2つ目の点を結ぶ方向が
X軸に設定されるとともに、1つ目の点(原点)を通り
X軸に垂直な方向がY軸に設定される。この例では1つ
目に点22を、2つ目に面(投影上は線)10c上の任
意の点23を指示している。 (ハ)投影図の高さを設定する。投影図の高さを入力す
ると、ワークの最上面10bの高さが、あらかじめ設定
されたXY平面の基準位置(Z軸座標0)からの高さと
して設定される。この例であらかじめ設定されたXY平
面の基準位置がワークの下面10aであったと仮定した
場合、投影図の高さを「150」と入力すると、ワーク
の最大高さが「150」であるから投影図の高さは「1
50」に設定される。
について説明する。まず、投影図の測定座標系を次の順
に指示して設定する。 (イ)測定対象の測定方向の形状が表示されている投影
図を指示する。投影図の指示は、投影図を枠で囲むとと
もに、その投影図の名称を指定する。この例では、穴1
0dの測定方向の形状(円)が表示されている投影図は
平面図であるので、平面図を枠21で囲み、「XY平
面」と指定している。 (ロ)投影図の座標軸を設定する。1つ目の点を指示す
るとその点が原点に設定され、2つ目の点を指示する
と、XY平面では1つ目の点と2つ目の点を結ぶ方向が
X軸に設定されるとともに、1つ目の点(原点)を通り
X軸に垂直な方向がY軸に設定される。この例では1つ
目に点22を、2つ目に面(投影上は線)10c上の任
意の点23を指示している。 (ハ)投影図の高さを設定する。投影図の高さを入力す
ると、ワークの最上面10bの高さが、あらかじめ設定
されたXY平面の基準位置(Z軸座標0)からの高さと
して設定される。この例であらかじめ設定されたXY平
面の基準位置がワークの下面10aであったと仮定した
場合、投影図の高さを「150」と入力すると、ワーク
の最大高さが「150」であるから投影図の高さは「1
50」に設定される。
【0031】 投影図の測定座標系が設定されると、
測定対象の指示作業に入るが、まず、測定条件の初期値
を入力しておく。これは、各測定対象に共通する測定条
件をあらかじめ入力しておくことによって、個々の測定
対象の指示作業を簡単にするためのもので、次のような
項目を入力する。 (イ)プローブ逃げ量を指示する。これには測定前と測
定後におけるプローブ接触子(プローブの中でワークに
当接する部分)の投影図の高さからの距離(例えば図5
でA)と、プローブ接触子が測定位置に当接した後に測
定位置から離れる量(例えば図5でC)の2つがある。 (ロ)測定高さを指示する。これは投影図の高さから測
定位置までの距離で、例えば図5のBである。 (ハ)測定点数を入力する。 (ニ)測定断面数を入力する。これは平面・円筒等の場
合に適用される。 (ホ)測定範囲を指示する。これは線や円弧等の測定範
囲で、線や円弧等の長さに対する比率を入力する。 (ヘ)測定方向を指示する。これは投影形状が円の場合
に穴か軸か等を指示するもので、ワークによって多い方
を指示しておく。この例では内側に指示したと仮定して
説明する。なお、入力した測定条件の初期値で都合が悪
い場合は、個々のプローブ経路確認時に修正する。
測定対象の指示作業に入るが、まず、測定条件の初期値
を入力しておく。これは、各測定対象に共通する測定条
件をあらかじめ入力しておくことによって、個々の測定
対象の指示作業を簡単にするためのもので、次のような
項目を入力する。 (イ)プローブ逃げ量を指示する。これには測定前と測
定後におけるプローブ接触子(プローブの中でワークに
当接する部分)の投影図の高さからの距離(例えば図5
でA)と、プローブ接触子が測定位置に当接した後に測
定位置から離れる量(例えば図5でC)の2つがある。 (ロ)測定高さを指示する。これは投影図の高さから測
定位置までの距離で、例えば図5のBである。 (ハ)測定点数を入力する。 (ニ)測定断面数を入力する。これは平面・円筒等の場
合に適用される。 (ホ)測定範囲を指示する。これは線や円弧等の測定範
囲で、線や円弧等の長さに対する比率を入力する。 (ヘ)測定方向を指示する。これは投影形状が円の場合
に穴か軸か等を指示するもので、ワークによって多い方
を指示しておく。この例では内側に指示したと仮定して
説明する。なお、入力した測定条件の初期値で都合が悪
い場合は、個々のプローブ経路確認時に修正する。
【0032】次に、測定対象を次の順に指示する。 (イ)入力部17から測定項目の指示を行う。この例で
は「円測定」を入力する。 (ロ)穴10aの円の一部(この例では図5に示す点3
1)を指示する。
は「円測定」を入力する。 (ロ)穴10aの円の一部(この例では図5に示す点3
1)を指示する。
【0033】以上で、プローブ経路プログラム作成のた
めの指示が完了したので、プローブ経路作成部14では
次のようにプローブ経路プログラムが作成される。 (イ)プローブ接触子を指示された測定前の位置に移動
する。この例ではXY座標が穴10dの中心、Z座標が
「150+A」(図5で32の位置)となる。 (ロ)プローブ接触子を指示された測定高さに移動す
る。この例ではZ座標が「150−B」の位置。 (ハ)プローブの接触子をXY方向に穴10dに当接す
る距離だけ移動する。この例では測定点数を4点として
いるので、例えば図5に示したような矢印の方向に移動
し、4点目の測定が終了すると穴10dの中心付近を経
由して測定前の位置32へ戻る。
めの指示が完了したので、プローブ経路作成部14では
次のようにプローブ経路プログラムが作成される。 (イ)プローブ接触子を指示された測定前の位置に移動
する。この例ではXY座標が穴10dの中心、Z座標が
「150+A」(図5で32の位置)となる。 (ロ)プローブ接触子を指示された測定高さに移動す
る。この例ではZ座標が「150−B」の位置。 (ハ)プローブの接触子をXY方向に穴10dに当接す
る距離だけ移動する。この例では測定点数を4点として
いるので、例えば図5に示したような矢印の方向に移動
し、4点目の測定が終了すると穴10dの中心付近を経
由して測定前の位置32へ戻る。
【0034】 なお、穴10dを円筒として測定する
場合は、測定項目を「円筒測定」と入力し、穴10aの
円の一部を指示すればよい。入力されている測定断面数
の数だけ穴10dが測定される。
場合は、測定項目を「円筒測定」と入力し、穴10aの
円の一部を指示すればよい。入力されている測定断面数
の数だけ穴10dが測定される。
【0035】 次に、側面10eを測定する(面10
cに対する直角度等)場合の例を説明する。この場合も
測定対象の測定方向の形状が表示されている投影図は平
面図であるので、前述した例の穴10dの後に測定する
と仮定すると、測定座標系の設定は改めて行う必要がな
い。すぐに、測定対象の指示を行う。 (イ)入力部17から測定項目として「端面測定」を入
力する。 (ロ)面(投影上は線)10eの一部(この例では図5
に示す点33)を指示する。 (ハ)測定するワークの方向が指示された面10eの左
側か右側かを指示する。この例では右側にあるので右側
を指示する。
cに対する直角度等)場合の例を説明する。この場合も
測定対象の測定方向の形状が表示されている投影図は平
面図であるので、前述した例の穴10dの後に測定する
と仮定すると、測定座標系の設定は改めて行う必要がな
い。すぐに、測定対象の指示を行う。 (イ)入力部17から測定項目として「端面測定」を入
力する。 (ロ)面(投影上は線)10eの一部(この例では図5
に示す点33)を指示する。 (ハ)測定するワークの方向が指示された面10eの左
側か右側かを指示する。この例では右側にあるので右側
を指示する。
【0036】以上で、プローブ経路プログラム作成のた
めの指示が完了したので、プローブ経路作成部14では
次のようにプローブ経路プログラムが作成される。 (イ)プローブ接触子を指示された測定前の位置に移動
する。この例ではX座標が「−C」、Z座標が「150
+A」(図5で34の位置)となる。 (ロ)プローブ接触子をY方向に面10eに当接する距
離移動する。この例では測定点数を4点としているの
で、例えば図5に示したような矢印の方向に移動し、4
点目の測定が終了すると4点目から離れた後、測定前の
高さ(Z座標が「150+A」)に戻って停止する。
めの指示が完了したので、プローブ経路作成部14では
次のようにプローブ経路プログラムが作成される。 (イ)プローブ接触子を指示された測定前の位置に移動
する。この例ではX座標が「−C」、Z座標が「150
+A」(図5で34の位置)となる。 (ロ)プローブ接触子をY方向に面10eに当接する距
離移動する。この例では測定点数を4点としているの
で、例えば図5に示したような矢印の方向に移動し、4
点目の測定が終了すると4点目から離れた後、測定前の
高さ(Z座標が「150+A」)に戻って停止する。
【0037】 なお、面10eの平面度を測定する場
合は、測定項目を「平面測定」と入力し、面(投影上は
線)10eの一部を指示すればよい。入力された測定断
面数の数だけ面10eのZ方向の位置が測定される。
合は、測定項目を「平面測定」と入力し、面(投影上は
線)10eの一部を指示すればよい。入力された測定断
面数の数だけ面10eのZ方向の位置が測定される。
【0038】また、穴10fのように測定対象の測定方
向の形状が正面図に表示されている部分を測定する場合
は、正面図の測定座標系を設定した後、測定指示する。
この例では、正面図を枠24で囲んで「XZ平面」と指
定し、1つ目の点として点25を、2つ目の点として面
(投影上は線)10a上の任意の点26を指示している
ので、点25が原点、点25と点26を結ぶ方向がX軸
に設定されるとともに、点25を通りX軸に垂直な方向
がZ軸に設定される。さらに、あらかじめ設定されたX
Z平面の基準位置からの距離を入力すると、正面図のY
方向の位置が設定される。穴10fの測定については穴
10dと同様であるので説明は省略する。
向の形状が正面図に表示されている部分を測定する場合
は、正面図の測定座標系を設定した後、測定指示する。
この例では、正面図を枠24で囲んで「XZ平面」と指
定し、1つ目の点として点25を、2つ目の点として面
(投影上は線)10a上の任意の点26を指示している
ので、点25が原点、点25と点26を結ぶ方向がX軸
に設定されるとともに、点25を通りX軸に垂直な方向
がZ軸に設定される。さらに、あらかじめ設定されたX
Z平面の基準位置からの距離を入力すると、正面図のY
方向の位置が設定される。穴10fの測定については穴
10dと同様であるので説明は省略する。
【0039】 また、傾斜面10hの測定座標系を設
定する方法を説明する。 (イ)入力部17から「傾斜面設定」を入力する。 (ロ)傾斜面上にある3点の座標値を入力する。 この例の場合は傾斜面10hは三角形であるので点27
・点28・点29各々の座標値を指示する。ただし、3
点の座標値を1つの平面座標で表すことはできないの
で、傾斜面の測定座標系を設定するためには事前に2つ
の投影図の測定座標系を設定しておくことが必要であ
る。
定する方法を説明する。 (イ)入力部17から「傾斜面設定」を入力する。 (ロ)傾斜面上にある3点の座標値を入力する。 この例の場合は傾斜面10hは三角形であるので点27
・点28・点29各々の座標値を指示する。ただし、3
点の座標値を1つの平面座標で表すことはできないの
で、傾斜面の測定座標系を設定するためには事前に2つ
の投影図の測定座標系を設定しておくことが必要であ
る。
【0040】 なお、実施例のブロック図で説明した
ように、本発明に係る測定処理装置は測定制御部12、
測定データ演算部13、プローブ経路作成部14、測定
結果書込み部15は1つの計算機内に構成されている
が、この場合、装置を動かすプログラムの構成としては
2つの方法がある。第一は1本のプログラムで装置全体
を動かす方法。第二は測定制御部12と測定データ演算
部13を1つのプログラムで動かし、プローブ経路作成
部14と測定結果書込み部15を別のプログラムで動か
すとともに、2つのプログラムを通信プログラムで接続
する方法である。この中で、第二の方法は各々既存のプ
ログラムを改良して用いることが可能であるので装置を
短い期間で開発しやすい。この場合、2つのプログラム
のOS(オペレーティングシステム)が同じものを用い
ればデータの変換は必要ない。もちろん、従来の測定処
理装置のように、2台の計算機を用いて例えば測定制御
部12と測定データ演算部13を1つの計算機に載せ、
プローブ経路作成部14と測定結果書込み部15を別の
計算機に載せることもできる。
ように、本発明に係る測定処理装置は測定制御部12、
測定データ演算部13、プローブ経路作成部14、測定
結果書込み部15は1つの計算機内に構成されている
が、この場合、装置を動かすプログラムの構成としては
2つの方法がある。第一は1本のプログラムで装置全体
を動かす方法。第二は測定制御部12と測定データ演算
部13を1つのプログラムで動かし、プローブ経路作成
部14と測定結果書込み部15を別のプログラムで動か
すとともに、2つのプログラムを通信プログラムで接続
する方法である。この中で、第二の方法は各々既存のプ
ログラムを改良して用いることが可能であるので装置を
短い期間で開発しやすい。この場合、2つのプログラム
のOS(オペレーティングシステム)が同じものを用い
ればデータの変換は必要ない。もちろん、従来の測定処
理装置のように、2台の計算機を用いて例えば測定制御
部12と測定データ演算部13を1つの計算機に載せ、
プローブ経路作成部14と測定結果書込み部15を別の
計算機に載せることもできる。
【0041】 また、プローブ経路プログラム作成の
指示方法は実施例で説明した方法に限定されず、他の方
法でも本発明は適用できる。
指示方法は実施例で説明した方法に限定されず、他の方
法でも本発明は適用できる。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る座標
測定機の測定処理方法及びその装置によれば、CAD図
面を用いてワークの1つの測定対象ごとにプローブ経路
プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラ
ムによって座標測定機でワークの1つの測定対象ごとに
自動的に測定し、その測定結果をCAD図面の指定され
た位置に自動的に書き込むようにした。
測定機の測定処理方法及びその装置によれば、CAD図
面を用いてワークの1つの測定対象ごとにプローブ経路
プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラ
ムによって座標測定機でワークの1つの測定対象ごとに
自動的に測定し、その測定結果をCAD図面の指定され
た位置に自動的に書き込むようにした。
【0043】 この場合、作業者は測定座標系の指示
や測定対象の指示をワークとプローブの位置を見ながら
できるとともに、1つの測定対象ごとに行うので、操作
が容易で指示ミスが発生しにくい。このため、プローブ
経路の干渉が起きることも極めて少なくなり、例えプロ
グラム上で干渉が発生したとしても、表示部18で容易
にチェックでき、ワークを見ながら簡単に修正ができ
る。また、測定結果のCAD図面への書込みも1つの測
定対象ごとに行うので、指示が容易であり、書込み結果
もすぐに確認できる。さらに、一度に多くのプローブ経
路プログラムを作成する必要がなく、計算機によるプロ
ーブ経路干渉チェツクが不要であるので、処理能力の小
さい計算機で処理できる。
や測定対象の指示をワークとプローブの位置を見ながら
できるとともに、1つの測定対象ごとに行うので、操作
が容易で指示ミスが発生しにくい。このため、プローブ
経路の干渉が起きることも極めて少なくなり、例えプロ
グラム上で干渉が発生したとしても、表示部18で容易
にチェックでき、ワークを見ながら簡単に修正ができ
る。また、測定結果のCAD図面への書込みも1つの測
定対象ごとに行うので、指示が容易であり、書込み結果
もすぐに確認できる。さらに、一度に多くのプローブ経
路プログラムを作成する必要がなく、計算機によるプロ
ーブ経路干渉チェツクが不要であるので、処理能力の小
さい計算機で処理できる。
【0044】したがって、処理能力の小さい計算機1台
で安価に構成できるとともに、プローブ経路プログラム
作成の指示が容易で作成時間が短く、さらに、測定結果
をCAD図面に書込むことが容易な座標測定機の測定処
理方法及びその装置を提供することができる。特に、少
数生産のワークのように同一内容の測定回数の少ない場
合や、ワークの一部を測定する場合等に有効である。
で安価に構成できるとともに、プローブ経路プログラム
作成の指示が容易で作成時間が短く、さらに、測定結果
をCAD図面に書込むことが容易な座標測定機の測定処
理方法及びその装置を提供することができる。特に、少
数生産のワークのように同一内容の測定回数の少ない場
合や、ワークの一部を測定する場合等に有効である。
【図1】本発明に係る座標測定機の測定処理装置の実施
例のブロック図
例のブロック図
【図2】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の実施
例の基本フローチャート
例の基本フローチャート
【図3】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の実施
例の詳細フローチャート
例の詳細フローチャート
【図4】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の測定
座標系設定の指示方法を説明するための図
座標系設定の指示方法を説明するための図
【図5】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の測定
対象の指示方法を説明するための図
対象の指示方法を説明するための図
【図6】従来の座標測定機の測定処理装置例のブロック
図
図
【図7】従来の座標測定機の測定処理方法例のプローブ
経路プログラム作成のフローチャート
経路プログラム作成のフローチャート
【図8】従来の座標測定機の測定処理方法例の測定のフ
ローチャート
ローチャート
【図9】従来の座標測定機の測定処理方法例の測定結果
処理のフローチャート
処理のフローチャート
11……座標測定機 12……測定制御部 13……測定データ演算部 14……プローブ経路作成部 15……測定結果書込み部 16……図面記憶部 17……入力部 18……表示部 41……プローブ経路作成指示ステップ 42……プローブ経路作成ステップ 43……測定指示ステップ 44……測定ステップ 45……書込み位置指示ステップ 46……測定結果書込みステップ
Claims (4)
- 【請求項1】被測定物のCAD図面を用いて座標測定機
のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
ブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自
動的に測定する座標測定機の測定処理方法において、 被測定物の1つの測定対象ごとにプローブ経路プログラ
ムを作成して、作成されたプローブ経路プログラムによ
って1つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結
果をCAD図面の指定された位置に自動的に書き込むこ
とを特徴とする座標測定機の測定処理方法。 - 【請求項2】被測定物のCAD図面を用いて座標測定機
のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
ブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自
動的に測定する座標測定機の測定処理方法において、 被測定物のCAD図面の中から、1つの測定対象につい
てプローブ経路プログラムの作成を作業者が指示するプ
ローブ経路作成指示ステップと、 指示された内容に従って1つの測定対象についてプロー
ブ経路プログラムが作成されるプローブ経路作成ステッ
プと、 作業者が測定を指示する測定指示ステップと、 測定が指示されると、作成された前記プローブ経路プロ
グラムによって被測定物の1つの測定対象が測定され、
測定データが演算されて測定結果が出力される測定ステ
ップと、 前記測定結果のCAD図面への書込み位置を作業者が指
示する書込み位置指示ステップと、 CAD図面の指示された位置に前記測定結果が書込まれ
る測定結果書込みステップと、 から成ることを特徴とする座標測定機の測定方法。 - 【請求項3】被測定物のCAD図面を用いて座標測定機
のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
ブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自
動的に測定する座標測定機の測定処理装置において、 被測定物のCAD図面を記憶する図面記憶部と、 作業者が、前記プローブ経路プログラムの作成を指示す
るとともに、前記座標測定機による測定を指示し、さら
に測定結果のCAD図面への書込み位置を指示する入力
部と、 被測定物の前記CAD図面を用いて前記入力部から入力
された指示内容に従って前記プローブ経路プログラムを
作成するプローブ経路作成部と、 作成された前記プローブ経路プログラムによって前記座
標測定機の測定動作を制御する測定制御部と、 前記座標測定機で測定された測定データを演算し前記測
定結果を出力する測定データ演算部と、 前記入力部から入力された指示内容に従って前記測定結
果を前記CAD図面に書込む測定結果書込み部と、 被測定物の前記CAD図面を表示するとともに、前記測
定結果を表示する表示部と、 から構成されたことを特徴とする座標測定機の測定処理
装置。 - 【請求項4】前記プローブ経路作成部と前記測定制御部
と前記測定データ演算部と前記測定結果書込み部とが1
台の計算機で構成されたことを特徴とする請求項3に記
載の座標測定機の測定処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6186615A JPH0829152A (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 座標測定機の測定処理方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6186615A JPH0829152A (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 座標測定機の測定処理方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0829152A true JPH0829152A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=16191684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6186615A Pending JPH0829152A (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 座標測定機の測定処理方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0829152A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001311616A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-11-09 | Faro Technol Inc | 座標測定システムに実行可能プログラムを提供する方法、システム、および記憶媒体 |
WO2003095943A1 (en) * | 2002-05-14 | 2003-11-20 | Rolls-Royce Plc | Method of generating an inspection program and method of generating a visual display |
US7069175B2 (en) | 2002-09-17 | 2006-06-27 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for supporting measurement of object to be measured |
CN102865847A (zh) * | 2012-10-10 | 2013-01-09 | 北京精雕科技有限公司 | 基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法 |
TWI427267B (zh) * | 2007-11-23 | 2014-02-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 非球面鏡面測量系統及方法 |
WO2024102623A1 (en) * | 2022-11-07 | 2024-05-16 | Applied Materials, Inc. | Determining substrate characteristics by virtual substrate measurement |
-
1994
- 1994-07-15 JP JP6186615A patent/JPH0829152A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001311616A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-11-09 | Faro Technol Inc | 座標測定システムに実行可能プログラムを提供する方法、システム、および記憶媒体 |
JP2011174937A (ja) * | 2000-02-01 | 2011-09-08 | Faro Technologies Inc | 座標測定システムに実行可能プログラムを提供する方法、システム、および記憶媒体 |
WO2003095943A1 (en) * | 2002-05-14 | 2003-11-20 | Rolls-Royce Plc | Method of generating an inspection program and method of generating a visual display |
US7146291B2 (en) | 2002-05-14 | 2006-12-05 | Rolls-Royce Plc | Method of generating an inspection program and method of generating a visual display |
US7069175B2 (en) | 2002-09-17 | 2006-06-27 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for supporting measurement of object to be measured |
TWI427267B (zh) * | 2007-11-23 | 2014-02-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 非球面鏡面測量系統及方法 |
CN102865847A (zh) * | 2012-10-10 | 2013-01-09 | 北京精雕科技有限公司 | 基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法 |
WO2024102623A1 (en) * | 2022-11-07 | 2024-05-16 | Applied Materials, Inc. | Determining substrate characteristics by virtual substrate measurement |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4737668B2 (ja) | 3次元計測方法および3次元計測システム | |
EP0482672B1 (en) | Co-ordinate measuring | |
US6161079A (en) | Method and apparatus for determining tolerance and nominal measurement values for a coordinate measuring machine | |
EP1607194B1 (en) | Robot system comprising a plurality of robots provided with means for calibrating their relative position | |
US20030090483A1 (en) | Simulation apparatus for working machine | |
CN101249618A (zh) | 具有通过接触检测进行工件参考位置设置功能的机床 | |
US6502056B2 (en) | Method and apparatus for measuring geometry elements | |
JPH03213251A (ja) | ワーク位置検知装置 | |
JPH09128549A (ja) | ロボット装置の相対位置姿勢検出方法 | |
JPH0829152A (ja) | 座標測定機の測定処理方法及びその装置 | |
CA1310092C (en) | Method for determining position within the measuring volume of a coordinate measuring machine and the like and system therefor | |
JP3927699B2 (ja) | 測定機における測定経路選定方法 | |
US11409258B2 (en) | Information processing device and information processing method | |
JPH03287343A (ja) | 機械座標系補正装置 | |
JPH09304003A (ja) | 接触式3次元計測方法およびそのシステム | |
JP2015222196A (ja) | 三次元測定機、及びこれを用いた形状測定方法 | |
JP4652011B2 (ja) | 三次元座標測定システム及びそれに用いるパートプログラム | |
JP2745881B2 (ja) | 数値制御装置およびcad/cam装置 | |
JP7347834B2 (ja) | 機械加工装置の加工支援システム | |
US20240004366A1 (en) | Numerical control device having machine tool setup function and storage medium | |
JP2585992B2 (ja) | 電動プロ−ブのプロ−ブ角度制御装置 | |
KR100418179B1 (ko) | 오프라인 프로그램을 이용한 5축 3차원 측정기의 차체패널의 심 부위 측정 방법 | |
JPH09250920A (ja) | 座標測定機のプローブ駆動制御装置およびプローブ駆動制御方法 | |
CN118140117A (zh) | 来自坐标定位机器的传感器误差数据图 | |
JPS62152645A (ja) | 工作機械の座標修正装置 |