JPH08249275A - Data for high-speed data transfer between lsi - Google Patents

Data for high-speed data transfer between lsi

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JPH08249275A
JPH08249275A JP7049982A JP4998295A JPH08249275A JP H08249275 A JPH08249275 A JP H08249275A JP 7049982 A JP7049982 A JP 7049982A JP 4998295 A JP4998295 A JP 4998295A JP H08249275 A JPH08249275 A JP H08249275A
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JP
Japan
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lsi
clock
lsis
signal
time
Prior art date
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JP7049982A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Inagawa
隆 稲川
Michinori Naito
倫典 内藤
Junya Ide
淳也 井手
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Hitachi Ltd
Hitachi Asahi Electronics Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Asahi Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE: To operate with a clock frequency of higher speed by means or the same CMOS process. CONSTITUTION: In a system consisting of first and second LSIs 1 and 2 and a clock supply circuit 3 supplying a clock for these LSIs 1 and 2, signal transfer from first LSI 1 to second LSI 2 is executed by the synchronizing transfer of the latency of 1.5-clock and that from second LSI 2 to first LSI 1 is executed by the synchronizing transfer of the latency of 1.5 clock. In a system where the synchronizing transfer of the signal between LSIs 1 and 2 determines the upper limit of the frequency of a system clock, the upper limit of the frequency of the system clock can be improved to be 1.5-fold through the use of this method.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はLSI間における高速デ
−タ転送方法にかかり、特に2つのLSI間において
1.5クロックのレイテンシィ(ここで、レイテンシィ
とは第1のLSIが起動をかけてから第2のLSIが該
起動を受けるまでの時間を言う)でデータ転送すること
により、高速なデータ転送を可能にしたLSI間におけ
る高速データ転送方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-speed data transfer method between LSIs, and in particular, a latency of 1.5 clocks between two LSIs (where latency means that the first LSI starts up). The present invention relates to a high-speed data transfer method between LSIs that enables high-speed data transfer by performing data transfer in a time period from when the second LSI receives the activation).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来技術としては、LSIの遅延時間に
関して、1990年9月 株式会社日立製作所半導体事
業部発行「HG62S/Gシリ−ズデザインマニュア
ル」の62ぺ−ジに記載のごとく、CMOS LSIの
遅延時間は「使用条件(環境温度、電源電圧の変動)あ
るいはLSI製造上のバラツキ、計算値自体の誤差など
を考慮に入れる必要がある」ことが知られている。
2. Description of the Related Art As a conventional technique, regarding the delay time of an LSI, as described on page 62 of "HG62S / G Series Design Manual" issued by Hitachi Ltd., Semiconductor Division, September 1990, a CMOS LSI is described. It is known that the delay time of "is required to take into account the operating conditions (environmental temperature, fluctuation of power supply voltage), variations in LSI manufacturing, errors in calculated values themselves, etc."

【0003】又、上記マニュアル157から225ぺ−
ジに記載のごとく、「入出力バッファの遅延時間は内部
ゲ−トの遅延時間に比べ2から10倍のレンジで大き
い」ことが知られている。
Also, from the above manuals 157 to 225,
It is known that "the delay time of the input / output buffer is large in the range of 2 to 10 times the delay time of the internal gate" as described in the above.

【0004】さらに、1994年2月 INTEL C
ORPORATION発行「IntelDX4 Pro
cessor Data Book」の7−3ぺ−ジに
記載のごとく、IntelDX4(登録商標)では、L
SI内部のクロックの1/2以下の周波数でLSI外部
の信号の同期をとっている。この技術は、LSIの性能
を上げる為に、遅延時間の小さい内部ゲ−トはできるだ
け高速のクロックで動作させ、LSI外部の信号に対し
ては、内部クロックを分周したクロックを用いて入出力
バッファの遅延を補っている。
Further, in February 1994, INTEL C
Published by ORPORATION "Intel DX4 Pro
As described on page 7-3 of "Processor Data Book", in Intel DX4 (registered trademark), L
Signals external to the LSI are synchronized at a frequency of 1/2 or less of the clock inside the SI. In this technique, in order to improve the performance of the LSI, the internal gate with a small delay time is operated with the clock as fast as possible, and the signal outside the LSI is input / output using the clock obtained by dividing the internal clock. It compensates for the buffer delay.

【0005】しかし、LSI外部のクロックが低下する
と、高速で動作するLSI内部の論理の性能を十分発揮
できないことがある。この状態をLSI内部に比べ、L
SI外部のスル−プットが少ないという。これを補う
為、IntelDX4(登録商標)では、LSI内にキ
ャッシュメモリを持ち、外部とのデ−タアクセスを少な
くし、LSI内部のスル−プットを保っている。又、こ
れを補う他の手法として、LSI内部のデ−タ幅より、
LSI外部のデ−タ幅を大きくし、LSI外部のスル−
プットを大きくする手法も存在する。しかし、LSI内
にキャッシュメモリを持つことでチップサイズが大きく
なり、コストが増したり、デ−タ幅を大きくすることで
ピン数が増すため、チップサイズ大による、コスト高、
LSIケ−ス代の増加を招いている。また、LSIの論
理によっては、キャッシュメモリを持てない物も存在す
る。
However, if the clock outside the LSI is lowered, the performance of the logic inside the LSI operating at high speed may not be sufficiently exhibited. Compare this state to the inside of the LSI
There is little throughput outside SI. To compensate for this, the Intel DX4 (registered trademark) has a cache memory in the LSI to reduce data access to the outside and maintain the output inside the LSI. As another method of compensating for this, from the data width inside the LSI,
Increase the data width outside the LSI to increase the throughput outside the LSI.
There are also methods to increase the put. However, having a cache memory in the LSI increases the chip size, which increases the cost and increases the data width to increase the number of pins.
This has led to an increase in LSI case costs. In addition, depending on the logic of the LSI, there are some which cannot have a cache memory.

【0006】次に、図3と図4を用いて、従来技術によ
るLSI間のデータ転送について、具体的に説明する。
図3は従来のLSI間におけるデータ転送を示すブロッ
ク図であり、図4は図3に示す従来例の動作の一例を示
すタイムチャートである。
Next, data transfer between LSIs according to the conventional technique will be specifically described with reference to FIGS. 3 and 4.
FIG. 3 is a block diagram showing data transfer between conventional LSIs, and FIG. 4 is a time chart showing an example of the operation of the conventional example shown in FIG.

【0007】図3において、11は第1のLSI、12
は第2のLSI、13は水晶発振器である。第1、第2
のLSI11,12は共に水晶発振器13から出力され
るクロック信号XTLCLK−Nをクロック入力とし、
第1、第2のLSI1,LSI2ともクロック信号XT
LCLK−Nの立上りでその内部の状態が変化する。
In FIG. 3, 11 is a first LSI and 12
Is a second LSI, and 13 is a crystal oscillator. First, second
The LSIs 11 and 12 both use the clock signal XTLCLK-N output from the crystal oscillator 13 as a clock input,
The clock signal XT is applied to both the first and second LSI1 and LSI2.
The internal state of LCLK-N changes at the rising edge of LCLK-N.

【0008】図4に示すように、第1のLSI11が出
力する3種類の信号(BS−N,READ−N,AD3
1〜00−P)は、クロック信号XTLCLK−Nの立
上りに対し最小0nsec,最大1クロック以内(即
ち、1クロック以内)に変化する。
As shown in FIG. 4, three types of signals (BS-N, READ-N, AD3) output from the first LSI 11 are used.
1 to 00-P) changes to 0 nsec at the minimum and 1 clock at the maximum (that is, 1 clock or less) with respect to the rise of the clock signal XTLCLK-N.

【0009】同様に、第2のLSI12が出力する2種
類の種類の(REDY−N,AD31〜00−P)もク
ロック信号XTLCLK−Nの立上りに対し最小0ns
ec,最大1クロック以内(即ち、1クロック以内)に
変化する必要がある。
Similarly, the two types of (REDY-N, AD31 to 00-P) output by the second LSI 12 have a minimum of 0 ns with respect to the rising edge of the clock signal XTLCLK-N.
ec, it is necessary to change within a maximum of 1 clock (that is, within 1 clock).

【0010】すなわち、クロック信号XTLCLK−N
の周波数が100MHzのとき、第1のLSI11と第
2のLSI12はクロック信号XTLCLK−Nの立ち
上がりに対して、1クロック以内に各信号を出力しなけ
ればならない。
That is, the clock signal XTLCLK-N
When the frequency is 100 MHz, the first LSI 11 and the second LSI 12 must output each signal within one clock with respect to the rising edge of the clock signal XTLCLK-N.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記したよう
に、LSIの遅延時間は使用条件、LSI製造上のばら
つき等で変化する。1クロックのレイテンシィで1デ−
タを転送するには、遅延時間は1クロック以内でなけれ
ばならない。
However, as described above, the delay time of the LSI changes depending on the use conditions, variations in the LSI manufacturing, and the like. 1-delay with 1-clock latency
To transfer the data, the delay time must be within 1 clock.

【0012】たとえば、外部クロックが100MHzの
場合、1クロックのレイテンシィでデ−タ転送しようと
すると、LSI間のクロックスキュ−、フリップフロッ
プのセットアップタイムも含めて、入出力バッファの遅
延時間は最大10nsec以下にする必要がある。遅延
時間を最大10nsec以下にするのは、0.8μmの
プロセスのCMOSでは、不可能である。
For example, if the external clock is 100 MHz and the data is transferred with a latency of 1 clock, the delay time of the input / output buffer including the clock skew between the LSIs and the setup time of the flip-flop is maximum. It should be 10 nsec or less. It is impossible to set the maximum delay time to 10 nsec or less in the CMOS having a process of 0.8 μm.

【0013】これに対して、たとえば外部クロック2ク
ロック分でデ−タ転送する場合は(2クロックのレイテ
ンシィでデ−タ転送する場合)、LSI間のクロックス
キュ−、フリップフロップのセットアップタイムも含め
て、入出力バッファの遅延時間を、最大20ns、最小
10nsとする必要がある。0.8μmのプロセスのC
MOSでは、最大20nsとすることは可能であるが、
最大20nsecを守りつつLSIの使用条件、LSI
の製造上のばらつきを含めて、最小時間10ns以上を
保証することは難しい。
On the other hand, for example, when data is transferred with two external clocks (when data is transferred with a latency of two clocks), clock skew between LSIs and setup time of flip-flops are also required. Including, it is necessary to set the delay time of the input / output buffer to a maximum of 20 ns and a minimum of 10 ns. 0.8 μm process C
With MOS, it is possible to have a maximum of 20 ns,
Use conditions of LSI while protecting maximum 20 nsec, LSI
It is difficult to guarantee the minimum time of 10 ns or more, including the manufacturing variation of

【0014】そこで本発明は、上記した従来技術の問題
点に鑑み成されたもので、LSI−LSI間の同期転送
において、入出力で生じるディレ−を1クロック以内に
収めることなく、かつ2クロック以上とすることなく、
信号が確定したタイミングで捕らえるように構成し、L
SIの外部クロックを落すことなく、LSI−LSI間
のデータ転送を行うものである。さらに、具体的に言え
ば、LSI間のクロックスキュ−、フリップフロップの
セットアップタイムも含めて、入出力バッファの遅延時
間を、最大時間と最小時間の双方において保証すること
が可能なLSI間における高速データ転送方法を提供す
ることにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art. In synchronous transfer between LSIs, the delay caused by input / output is kept within 1 clock and 2 clocks are kept. Without doing the above,
It is configured so that the signal can be captured at a fixed timing, and L
Data transfer between LSIs is performed without dropping the external clock of SI. More specifically, high-speed between LSIs that can guarantee the delay time of the input / output buffer, including the clock skew between LSIs and the setup time of flip-flops, both in the maximum time and the minimum time. It is to provide a data transfer method.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明のLSI間におけ
る高速デ−タ転送方法は、第1のLSIと第2のLSI
とこれらのLSIにクロックを供給するクロック供給回
路から成るシステムに適用されるものであり、特に第1
のLSIから第2のLSIへのデータ転送を1.5クロ
ックのレイテンシィの同期転送で行い、第2のLSIか
ら第1のLSIへのデータ転送を1.5クロックのレイ
テンシィの同期転送で行うことを特徴としている。
A high-speed data transfer method between LSIs according to the present invention includes a first LSI and a second LSI.
And a clock supply circuit for supplying a clock to these LSIs, particularly the first
The data transfer from the second LSI to the second LSI is performed by the 1.5-clock latency synchronous transfer, and the data transfer from the second LSI to the first LSI is the 1.5-clock latency synchronous transfer. It is characterized by doing.

【0016】さらに、本発明のLSI間における高速デ
−タ転送方法は、前記クロック供給回路が供給するクロ
ックの位相が第1のLSIと第2のLSIで逆相である
ことを特徴としている。
Further, the high-speed data transfer method between LSIs of the present invention is characterized in that the phases of the clocks supplied by the clock supply circuit are opposite to each other between the first LSI and the second LSI.

【0017】[0017]

【作用】本発明によれば、クロックデユ−ティが50%
で、前述した100MHzのクロックの場合、1.5ク
ロックのレイテンシィの同期転送を行うためには、LS
I間のクロックスキュ−、フリップフロップのセットア
ップタイムを含めて、入出力バッファの遅延時間を、最
大15nsec、最小5nsecとする必要がある。
0.8μmのプロセスのCMOSでは、最大15nse
cにすることは、十分注意した設計をすれば可能であ
る。又、最小値を5nsecとすることも、可能であ
る。これにより、LSI間のクロックスキュ−、フリッ
プフロップのセットアップタイムも含めて、入出力バッ
ファの遅延時間を、最大時間と最小時間の双方において
保証することが可能なLSI間における高速データ転送
方法を提供するができる。
According to the present invention, the clock duty is 50%.
In the case of the 100 MHz clock described above, in order to perform the latency transfer of 1.5 clocks, the LS
Including the clock skew between I and the setup time of the flip-flop, the delay time of the input / output buffer needs to be 15 nsec at the maximum and 5 nsec at the minimum.
In CMOS of 0.8 μm process, maximum 15 nse
Setting to c is possible if the design is performed with sufficient care. It is also possible to set the minimum value to 5 nsec. This provides a high-speed data transfer method between LSIs that can guarantee the delay time of the input / output buffer, including the clock skew between LSIs and the setup time of flip-flops, in both the maximum time and the minimum time. You can do it.

【0018】さらに、クロックの立上りで内部の状態を
変化させる2つのLSIの間で同期転送を行うとき、2
つのLSIのクロックを逆相にし、各LSIが出力する
信号の遅延時間をクロック周期の0.5倍以上にコント
ロ−ルすることで、同期転送可能な遅延時間を1.5倍
にできる。言い換えると、同じ遅延時間のプロセスのL
SIを用いても、本発明を使用することで、LSIの外
部クロックを1.5倍にすることができる。
Furthermore, when performing synchronous transfer between two LSIs whose internal states are changed at the rising edge of the clock, 2
By setting the clocks of one LSI to be in opposite phases and controlling the delay time of the signal output from each LSI to be 0.5 times or more of the clock cycle, the delay time capable of synchronous transfer can be increased to 1.5 times. In other words, L of processes with the same delay time
Even if SI is used, the external clock of the LSI can be multiplied by 1.5 by using the present invention.

【0019】[0019]

【実施例】図1は本発明の一実施例を示すブロック図で
あり、図2は図1に示す実施例の動作の一例を示すタイ
ムチャートである。図1において、1は第1のLSI、
2は第2のLSI、3は水晶発振器(図中、XTLと示
す)、4は非反転型クロックドライバ、5は反転型クロ
ックドライバである。水晶発振器3は、図2に示すよう
なクロック信号XTLCLK−Nを出力する。非反転型
クロックドライバ4はクロック信号XTLCLK−Nを
入力とし、図2に示すように、90度位相のずれたクロ
ック信号SYSCLK1−Nを出力する。反転型クロッ
クドライバ5はクロック信号XTLCLK−Nを入力と
し、図2に示すように、クロック信号SYSCLK1−
Nと逆相の関係にあるクロック信号SYSCLK2−N
を出力する。第1のLSI1はSYSCLK1−Nをク
ロック入力とし、第2のLSI2はSYSCLK2−N
をクロック入力とする。第1のLSI1は第2のLSI
2に対して、起動信号BS−Nとリ−ド/ライトを示す
信号READ−Nを出力する。信号READ−Nは、
“L”のときリ−ド(デ−タがLSI2からLSI1へ
流れる)を示し、“H”のときライト(デ−タがLSI
1からLSI2へ流れる)を示す。また、第1のLSI
1と第2のLSI2間に設けられているバスAD31〜
00−Pは、アドレス・デ−タ用マルチプレックスバス
である。さらに、第2のLSI2は第1のLSI1に対
して信号REDY−Nを出力する。この信号REDY−
Nは、第2のLSI2が第1のLSI1に出力する終了
信号であり、“L”の時終了を示す。リ−ドに対する終
了の場合は、終了信号REDY−Nが“L”のとき、バ
スAD31〜00−Pにリ−ドデ−タが出力されたこと
を意味する。
1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a time chart showing an example of the operation of the embodiment shown in FIG. In FIG. 1, 1 is the first LSI,
Reference numeral 2 is a second LSI, 3 is a crystal oscillator (shown as XTL in the drawing), 4 is a non-inverting clock driver, and 5 is an inverting clock driver. The crystal oscillator 3 outputs a clock signal XTLCLK-N as shown in FIG. The non-inverting clock driver 4 receives the clock signal XTLCLK-N as an input, and outputs the clock signals SYSCLK1-N that are 90 degrees out of phase with each other, as shown in FIG. The inverting clock driver 5 receives the clock signal XTLCLK-N and receives the clock signal SYSCLK1- as shown in FIG.
A clock signal SYSCLK2-N having a phase opposite to that of N
Is output. The first LSI 1 receives SYSCLK1-N as a clock input, and the second LSI 2 receives SYSCLK2-N.
Is the clock input. The first LSI 1 is the second LSI
2, a start signal BS-N and a signal READ-N indicating read / write are output. The signal READ-N is
When "L", a read (data flows from LSI2 to LSI1) is shown, and when "H", a write (data is LSI)
Flow from 1 to LSI2). Also, the first LSI
Buses AD31 to AD31 provided between the first and second LSIs 2
00-P is a multiplex bus for address data. Further, the second LSI 2 outputs the signal REDY-N to the first LSI 1. This signal REDY-
N is an end signal output from the second LSI 2 to the first LSI 1, and indicates an end when it is "L". In the case of the end for the read, it means that the read data is output to the buses AD31 to 00-P when the end signal REDY-N is "L".

【0020】前記したように、図2は本実施例の動作を
説明するためのタイムチャ−トであり、特に第1のLS
I1が第2のLSI2にデ−タリ−ドを行った場合を示
す図である。第1のLSI1はクロック信号SYSCL
K1−Nの立上りを機に内部の状態が変化し、第2のL
SI2はSYSCLK2−Nの立上りを機に内部の状態
が変化する。いま、クロック信号SYSCLK1−Nの
立ち上がりにおいて(時刻t1)、第1のLSI1の内
部状態が変化し、第2のLSI2に対して起動信号BS
−Nを出力し、第2のLSI2に起動をかけたとする。
このとき、起動信号BS−Nは、図2に示すように、第
1のLSI1のクロック入力SYSCLK1−Nが立ち
上がってから0.5〜1.5クロック経過する間に反転
して“L”(起動信号有効)となる。この関係を、図
中、BS−N(min)とBS−N(max)で示す
(但し、ここで、0.5クロックと1.5クロックちょ
うどのタイミングで反転して“L”となることは除
く)。即ち、第1のLSI1が出力する起動信号BS−
Nは最少(min)でもクロック信号SYSCLK1−
Nが立上がってから0.5クロックの間は変化しない。
また、最大(max)でもクロック信号SYSCLK1
−Nが立上がってから1.5クロック後には変化し終わ
っている。よって、第2のLSI2は、時刻t1から
1.5クロック経過した時点におけるSYSCLK2−
Nの立ち上がりのタイミング(時刻t2)で、第1のL
SI1からの3種類の信号BS−N,READ−N,A
D31〜00を検出する。時刻t1から0.5クロック
経過した時点において、クロック信号SYSCLK2−
Nの立ち上がりのタイミングとなるが、この時点では、
第2のLSI2が3種類の信号BS−N,READ−
N,AD31〜00を検出することはない。 さらに、
図2から明らかなように、起動信号BS−Nが“L”の
時、リ−ド/ライトを示す信号READ−Nが“H”か
ら“L”(リード)に変化し、かつバスAD31〜00
−Pを介してアドレスが出力されている。なお、信号R
EAD−N及びバスAD31〜00−Pについても、起
動信号BS−N(min)とBS−N(max)にそれ
ぞれ対応する、信号READ−N(min)とREAD
−N(max)、及びバスAD31〜00−P(mi
n)とAD31〜00−P(max)を図2に示す。
As described above, FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of this embodiment, and particularly the first LS.
FIG. 11 is a diagram showing a case where I1 performs data reading on the second LSI2. The first LSI 1 is a clock signal SYSCL
The internal state changes at the rise of K1-N, and the second L
The internal state of SI2 changes at the rising edge of SYSCLK2-N. Now, at the rising edge of the clock signal SYSCLK1-N (time t1), the internal state of the first LSI 1 changes, and the activation signal BS is sent to the second LSI 2.
It is assumed that -N is output and the second LSI 2 is activated.
At this time, as shown in FIG. 2, the activation signal BS-N is inverted to "L" (0.5 to 1.5 clocks after the clock input SYSCLK1-N of the first LSI 1 rises). The start signal is valid). This relationship is shown by BS-N (min) and BS-N (max) in the figure (however, here, it is inverted to 0.5 at the timing of 0.5 clock and just at 1.5 clock). Except). That is, the start signal BS- output from the first LSI 1
Even if N is the minimum (min), the clock signal SYSCLK1-
It does not change for 0.5 clocks after N rises.
Further, even at the maximum (max), the clock signal SYSCLK1
-It has finished changing 1.5 clocks after N rises. Therefore, the second LSI 2 receives the SYSCLK2- at the time point when 1.5 clocks have passed from the time t1.
At the rising edge of N (time t2), the first L
Three kinds of signals BS-N, READ-N, A from SI1
D31 to 00 are detected. When 0.5 clocks have elapsed from the time t1, the clock signal SYSCLK2-
It is the rising timing of N, but at this point,
The second LSI 2 has three types of signals BS-N, READ-
N, AD31 to 00 are not detected. further,
As is apparent from FIG. 2, when the activation signal BS-N is "L", the signal READ-N indicating read / write changes from "H" to "L" (read) and the buses AD31 to AD31. 00
The address is output via -P. The signal R
Also for the EAD-N and the buses AD31 to 00-P, the signals READ-N (min) and READ corresponding to the start signals BS-N (min) and BS-N (max), respectively.
-N (max), and buses AD31 to 00-P (mi
n) and AD31-00-P (max) are shown in FIG.

【0021】バスAD31〜00−Pを介して、第1の
LSI1から第2のLSI2に対してアドレスの送出が
終了すると(時刻t3,t3′)、終了信号REDY−
Nは時刻4においてクロック信号SYSCLK2−Nが
立ち上がってから0.5〜1.5クロック経過する間に
反転して“L”(有効)となる。この関係を、図中、R
EDY−N(min)とREDY−N(max)で示す
(但し、ここで、時刻t4から0.5クロックと1.5
クロックちょうどのタイミングで反転して“L”となる
ことは除く)。終了信号REDY−Nが“L”となる時
点において、バスAD31〜00を介して、第2のLS
I2から第1のLSI1へリードデータが出力される。
When the transmission of the address from the first LSI 1 to the second LSI 2 is completed via the buses AD31 to 00-P (time t3, t3 '), the end signal REDY-.
N is inverted to become "L" (valid) during 0.5 to 1.5 clocks after the clock signal SYSCLK2-N rises at time 4. This relationship is represented by R in the figure.
It is indicated by EDY-N (min) and REDY-N (max) (however, from time t4, 0.5 clock and 1.5
Except that it is inverted to "L" at the exact timing of the clock). At the time when the end signal REDY-N becomes “L”, the second LS is transmitted via the buses AD31 to 00.
Read data is output from I2 to the first LSI 1.

【0022】第1のLSI1は、時刻t4から0.5ク
ロック後のSYSCLK1−N(7)の立上りでは、終
了信号REDY−Nが“L”であることを検出できず、
時刻t4から1.5クロック後の時刻t5において確実
に“L”を検出し、バスAD31〜00−Pに出力され
たリ−ドデ−タを読み取ることができる。
The first LSI 1 cannot detect that the end signal REDY-N is "L" at the rising edge of SYSCLK1-N (7) 0.5 clocks after the time t4.
At time t5, which is 1.5 clocks after time t4, "L" can be surely detected, and the read data output to the buses AD31 to 00-P can be read.

【0023】たとえば、クロック信号XTLCLK−N
の周波数が100MHzのとき、L第1のLSI1と第
2のLSI2は、クロック信号SYSCLK1−Nとク
ロック信号SYSCLK2−Nに対し、その立ち上がり
から5nsecから15nsecのタイミングで各信号
を出力する必要がある。
For example, the clock signal XTLCLK-N
When the frequency is 100 MHz, the L first LSI 1 and the second LSI 2 need to output the respective signals with respect to the clock signal SYSCLK1-N and the clock signal SYSCLK2-N at a timing of 5 nsec to 15 nsec from the rising edge thereof. .

【0024】以上に説明した実施例では、第1のLSI
1と第2のLSI2に逆相のクロックを供給した場合を
述べたが、クロックは同相のままで、第1のLSI1は
クロックの立上りを(又は立ち下がり)、第2のLSI
2はクロックの立下がりを(又は立ち上がり)、それぞ
れLSIの状態変化の機会としても、同様の効果を得る
ことができる。
In the embodiment described above, the first LSI
The case where the clocks of opposite phases are supplied to the first and second LSIs 2 has been described, but the clocks remain in the same phase and the first LSI 1 rises (or falls) the clock and the second LSI
In the case of 2, the falling edge (or rising edge) of the clock is used as an opportunity to change the state of each LSI, and the same effect can be obtained.

【0025】さらに、以上に説明した実施例では、第1
のLSI1と第2のLSI2のクロック入力を逆相(1
80度位相変化)としたが、第1のLSI1と第2のL
SI2の入出力ゲ−トの遅延時間が等しくない場合は、
PLL内蔵型クロックドライバを用い、2つのLSIの
クロックを最適の位相差に調整してシステムを構築する
こともできる。この場合には、2つのLSI間における
レイテンシィが1.5クロックに限定されることなく、
PLL内蔵型クロックドライバの設定に応じて、任意の
値に設定する事ができる。
Further, in the embodiment described above, the first
The clock inputs of the LSI1 and the second LSI2 of
80 degree phase change), but the first LSI 1 and the second L
If the delay time of SI2 input / output gate is not equal,
It is also possible to use a PLL built-in clock driver to adjust the clocks of the two LSIs to an optimum phase difference to construct a system. In this case, the latency between the two LSIs is not limited to 1.5 clocks,
It can be set to an arbitrary value according to the setting of the PLL built-in clock driver.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明によれば、LSI間のクロックス
キュ−、フリップフロップのセットアップタイムも含め
て、入出力バッファの遅延時間を、最大時間と最小時間
の双方において保証することが可能なLSI間における
高速データ転送方法を提供するができる。
According to the present invention, it is possible to guarantee the delay time of the input / output buffer including the clock skew between the LSIs and the setup time of the flip-flops in both the maximum time and the minimum time. It is possible to provide a high-speed data transfer method between the two.

【0027】また、本発明によれば、クロックのデュ−
テが50%ならば、従来技術に比べLSIの状態変化の
タイミングからLSIの出力する信号の最大遅延時間を
1.5倍にすることができる。
Further, according to the present invention, the clock du
When the TE is 50%, the maximum delay time of the signal output from the LSI can be increased by 1.5 times from the timing of the state change of the LSI as compared with the conventional technique.

【0028】また、第1のLSIと第2のLSI間の信
号の同期転送がシステムクロックの周波数の上限を決定
しているシステムにおいて、本発明を用いることで、シ
ステムクロックの周波数の上限を1.5倍まで向上する
ことができる。例えば、出力バッファの最大遅延時間が
15nsecのLSIを使用した場合、従来技術(1ク
ロックのレイテンシィ)では66MHzでしか動作でき
ないが、本発明を用いることにより100MHzまで動
作可能になる。
Further, by using the present invention in a system in which the synchronous transfer of signals between the first LSI and the second LSI determines the upper limit of the frequency of the system clock, the upper limit of the frequency of the system clock is set to 1. It can be improved up to 5 times. For example, when an LSI having a maximum delay time of 15 nsec of the output buffer is used, the conventional technique (latency of 1 clock) can operate only at 66 MHz, but by using the present invention, it is possible to operate up to 100 MHz.

【0029】一般的には、LSIの状態変化のタイミン
グに対して、LSIの出力する信号の最大遅延時間はL
SIのプロセスで決まる。したがって、同じプロセスの
LSIでも、本発明を用いることで、1.5倍のクロッ
クで動作可能になる。
Generally, the maximum delay time of the signal output from the LSI is L with respect to the timing of the state change of the LSI.
Determined by SI process. Therefore, even LSIs having the same process can operate with a clock 1.5 times higher by using the present invention.

【0030】又、最小遅延時間が0.5クロック以上で
あるため、LSI内部がクロックの立上りで動作するL
SIはLSIの外部インタフェ−スとしてはクロックの
立下がりで動作すると考えればよく、LSI内部がクロ
ックの立下がりで動作するLSIは、LSIの外部イン
ターフェイスとしては立上りで動作すると考えればよ
い。
Further, since the minimum delay time is 0.5 clocks or more, the inside of the LSI operates at the rising edge of the clock L.
It can be considered that the SI operates as the external interface of the LSI at the falling edge of the clock, and the LSI whose inside of the LSI operates at the falling edge of the clock operates as the external interface of the LSI at the rising edge.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は本発明の一実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図2は図1に示す実施例の動作の一例を示すタ
イムチャート。
FIG. 2 is a time chart showing an example of the operation of the embodiment shown in FIG.

【図3】図3は従来技術によるLSI間におけるデータ
転送機構を示すブロック図。
FIG. 3 is a block diagram showing a data transfer mechanism between LSIs according to a conventional technique.

【図4】図4は図3に示す従来例の動作の一例を示すタ
イムチャート。
FIG. 4 is a time chart showing an example of the operation of the conventional example shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…第1のLSI、2…第2のLSI、3…水晶発振
器、4…非反転型クロックドライバ、5…反転型クロッ
クドライバ、XTLCLK−N,SYSCLK1−N,
SYSCLK2−N…クロック信号、BS−N…起動信
号、READ−N…リード/ライトを示す信号、AD3
1〜00−P…バス、終了信号…REDY−N。
1 ... 1st LSI, 2 ... 2nd LSI, 3 ... Crystal oscillator, 4 ... Non-inversion type clock driver, 5 ... Inversion type clock driver, XTLCLK-N, SYSCLK1-N,
SYSCLK2-N ... Clock signal, BS-N ... Activation signal, READ-N ... Signal indicating read / write, AD3
1-00-P ... Bus, end signal ... REDY-N.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井手 淳也 愛知県尾張旭市晴丘町池上1番地 株式会 社日立製作所オフィスシステム事業部内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Junya Ide 1 Ikegami, Haruoka-cho, Owariasahi-shi, Aichi Stock Company Hitachi Office Systems Division

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1のLSIと第2のLSIとこれらの
LSIにクロックを供給するクロック供給回路から成る
システムにおいて、 第1のLSIから第2のLSIへのデータ転送を1.5
クロックのレイテンシィの同期転送で行い、第2のLS
Iから第1のLSIへのデータ転送を1.5クロックの
レイテンシィの同期転送で行うことを特徴とするLSI
間における高速デ−タ転送方法。
1. A system comprising a first LSI, a second LSI, and a clock supply circuit for supplying a clock to these LSIs, wherein data transfer from the first LSI to the second LSI is 1.5.
The second LS is performed by synchronous transfer of clock latency.
An LSI characterized in that data transfer from I to the first LSI is performed by a synchronous transfer with a latency of 1.5 clocks.
High-speed data transfer method between the two.
【請求項2】 前記クロック供給回路が供給するクロッ
クの位相が第1のLSIと第2のLSIで逆相であるこ
とを特徴とする請求項1記載のLSI間における高速デ
ータ転送方法。
2. The high-speed data transfer method between LSIs according to claim 1, wherein the phases of the clocks supplied by the clock supply circuit are opposite phases in the first LSI and the second LSI.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007293845A (en) * 2006-04-26 2007-11-08 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Method and device for reading data from serial data source in parallel format
US8266467B2 (en) 2007-07-24 2012-09-11 Nec Corporation Data transfer device and data transfer method

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