JPH08248078A - ジッタ伝達特性測定装置 - Google Patents

ジッタ伝達特性測定装置

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JPH08248078A
JPH08248078A JP7074409A JP7440995A JPH08248078A JP H08248078 A JPH08248078 A JP H08248078A JP 7074409 A JP7074409 A JP 7074409A JP 7440995 A JP7440995 A JP 7440995A JP H08248078 A JPH08248078 A JP H08248078A
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signal
jitter
frequency
level
measurement
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JP7074409A
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Kazuhiko Ishibe
和彦 石部
Tomohito Kirihara
智史 桐原
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Anritsu Corp
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Anritsu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 周波数の高い測定信号を用いる場合でも、測
定効率と測定精度を両立させることができるようにす
る。 【構成】 ネットワークアナライザ23の出力端子23
aから、被測定回路1のジッタ耐力規格特性の上限の変
調度にほぼ相当する所定レベルの信号を掃引出力すれ
ば、ジッタ耐力規格特性に近似したレベル周波数特性に
したがってレベルが変化する変調信号がレベル可変手段
24からジッタ信号発生手段21に入力されることにな
り、ジッタ耐力が高い領域では、大きな変調度で変調さ
れた測定信号が被測定回路1に入力され、ジッタ耐力が
低い領域では、小さな変調度で変調された測定信号が被
測定回路1に入力される。被測定回路1の出力信号の位
相変化成分は位相変化検出器22によって検出され、そ
の検出された信号のうち、変調信号と同一周波数の信号
レベルがネットワークアナライザ23で検出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、正弦波信号によりジッ
タ変調(位相変調)した入力信号をディジタル伝送装置
等の被測定回路に与えたとき、その被測定回路の出力信
号のジッタ量が入力信号のジッタ量に対してどの程度増
減するかを測定するために用いられるジッタ伝達特性測
定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ディジタル信号の中継伝送等を行う各種
のディジタル伝送装置では、入力されるディジタル信号
に信号処理を加えて出力するようにしている。
【0003】このような伝送装置を評価する場合、正弦
波信号により位相変調された入力信号を伝送装置に入力
し、伝送データの符号誤り率が基準値以上になる点を測
定していくジッタ耐力測定の他に、ジッタ耐力規格以下
で正弦波信号によりジッタ変調された入力信号に対し
て、伝送装置自身によるジッタ増加量がどの程度あるか
を表すジッタ伝達特性を測定する必要がある。
【0004】このジッタ伝達特性を測定するために、従
来では、図5に示す構成のジッタ伝達特性測定装置10
が用いられていた。
【0005】このジッタ伝達特性測定装置10は、正弦
波の変調信号を出力する変調信号発生器11と、所定周
波数f0 の信号を変調信号のレベルに応じた変調度で位
相変調して得た測定信号を出力するジッタ信号発生器1
2と、測定信号を受けた被測定回路1の出力信号の位相
変化成分を検出する位相変化検出器13と、位相変化検
出器13で検出される信号のレベルを検出するレベル検
出器14とで構成されている。
【0006】なお、位相変化検出器13は、一般に図6
に示すように、測定信号と同一周波数f0 の基準信号に
対する被測定回路1の出力信号の位相差を検出する位相
比較器13aと、図7に示す低域通過特性を有し、位相
比較器13aの出力信号から測定信号の周波数f0 のキ
ャリア成分を除去するキャリアフィルタ13bとによっ
て構成されている(なお、周波数fcut はキャリアフィ
ルタ13bのカットオフ周波数である)。
【0007】このような構成のジッタ伝達特性測定装置
で被測定回路1の測定を行う場合、測定信号のジッタ量
(変調度)が被測定回路1のジッタ耐力を越えない範囲
で行わなければ正しい評価が行えない。
【0008】このジッタ耐力の規格特性は、図8のAに
示すように、変調信号の周波数f1〜周波数f2 の範囲
では1.5UI(単位UIは、ユニットインタバルの略
で、1UIは、測定信号の周波数f0 の1周期時間に相
当する)、変調信号の周波数f3 〜周波数f4 の範囲で
は0.15UI、変調信号の周波数f2 〜周波数f3
範囲では1.5UIから0.15UIまで−20dB/
decの傾きで変化する特性をもっている。なお、各周
波数f1 〜f4 は、被測定回路および測定信号の周波数
0 によって規定されている。
【0009】そして、実際に被測定回路1のジッタ伝達
特性を測定する場合には、この規格特性Aより小さなジ
ッタ量の測定信号を、被測定回路1を介さずに直接位相
変化検出器13へ入力した時のレベル検出器14の出力
値R(測定信号自身のジッタ量)と、その測定信号を被
測定回路1へ入力して被測定回路1の出力を位相変化検
出器14へ入力したときのレベル検出器14の出力値M
(被測定回路1の出力信号のジッタ量)との比、即ち、 JT=20log(M/R) を求め、この比を、変調信号の周波数を変えながら測定
する。これによって、例えば図9に示すように、変調信
号の周波数(ジッタ周波数)に対する被測定回路1のジ
ッタ伝達特性Bが測定される。
【0010】なお、一般にディジタル伝送装置等では、
図9の特性Bに示したように、測定信号の変調周波数が
ある周波数(fc )を越えて高くなるほど、その装置は
ジッタ量を減少させる傾向がある。
【0011】このようなジッタ伝達特性が得られた場
合、測定者は、このジッタ伝達特性Bが、予めジッタ伝
達特性の上限値として規定されている規格特性C以下で
あるかを判定して、この被測定回路1を評価する。この
規格特性Cは、パスバンド以内(周波数fc 以下)では
+0.1dB以下で、パスバンドを越える範囲では+
0.1dBから−20dB/decの傾きで減少する特
性になっており、被測定回路1のジッタ伝達特性Bがこ
の規格特性Cより低ければ、この被測定回路1のジッタ
伝達特性は規格を満足していると判定することができ
る。なお、周波数fcは、図8のジッタ耐力の規格特性
Aで規定されている周波数f3 に近い周波数である。
【0012】ところが、このような構成の従来のジッタ
伝達特性測定装置10において、被測定回路1から出力
される信号に、変調信号の周波数成分以外で位相変化検
出器13のキャリアフィルタ13bを通過する位相揺ら
ぎ成分(例えば位相ノイズ)が含まれている場合、変調
信号の周波数に関係なくその位相揺らぎ成分の信号のレ
ベルもレベル検出器14で検出されてしまう。そして、
この位相揺らぎ成分の信号のレベルが、パスバンド以上
の周波数領域における被測定回路1のジッタ増加量に対
して無視できない値であれば、被測定回路1のジッタ伝
達特性の測定結果が、被測定回路1の本来のジッタ伝達
特性Bに対して、特性B′のように高い周波数域で一定
になって規格特性Cを越えてしまい、被測定回路に対す
る評価を誤ってしまう。
【0013】これを解決するために、レベル検出器14
の代わりに周波数選択性のあるレベル検出器を用い、そ
の選択周波数を変調信号の周波数と同一になるように手
動調整しながら変調信号と同一周波数の信号成分のレベ
ルのみを選択的に検出することが考えられるが、これで
は、周波数調整操作が煩雑となり、測定効率が著しく低
下するという問題がある。
【0014】そこで、例えば、ネットワークアナライザ
等のように、所定レベルの出力信号の周波数と入力信号
の受信周波数とを同一に維持したまま掃引し、入力信号
のレベルを周波数毎に検出する機能を有する装置を、変
調信号発生器11とレベル検出器14の代わりに用い
て、測定を効率的に行うことが考えられる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たように、ジッタ伝達特性の測定では、測定信号のジッ
タ量(変調信号のレベル)を図8の規格特性C以下の範
囲にする必要があるので、ネットワークアナライザのよ
うに、掃引中の出力信号のレベルが一定な装置を用いる
場合には、測定信号のジッタ量が、図8のDのように、
規格特性Aの低い方の値(0.15UI)より低い値と
なるように、変調信号のレベルを設定しなければなら
ず、これでは、測定信号の周波数が高い場合に正確なジ
ッタ伝達特性の測定が行えないという問題が生じてしま
う。
【0016】即ち、例えば周波数f0 が2.5GHzの
測定信号によってジッタ伝達特性を測定する場合、2.
5GHzに対する0.15UIのジッタ量は60ps
(p−p)となるが、前述したように、ジッタ伝達特性
の規格は図9のパスバンドの範囲で+0.1dB以下で
なければならないと規定されているので、60psの
0.1dBに相当する0.69psの分解能でジッタ伝
達特性を測定しなければならない。
【0017】したがって、ジッタ信号発生器12や位相
変化検出器13の直線性誤差が0.69ps以下でなけ
れば、精度の高い測定が行えないことになり、このよう
な直線性誤差の少ないジッタ信号発生器12や位相変化
検出器14を構成することは極めて困難である。
【0018】このため、測定信号の周波数が高い場合に
は、変調信号を周波数掃引する機能と、この周波数掃引
に連動して受信周波数を変化させながら受信信号のレベ
ルを検出する機能を有するネットワークアナライザ等を
用いた効率的な測定が行えなかった。
【0019】このように、従来の技術では、測定効率を
向上させるために変調信号発生器とレベル検出器の代わ
りにネットワークアナライザ等の装置を用いれば、測定
信号の周波数が高い場合に、ジッタ伝達特性の低い周波
数領域での測定精度が著しく低下し、測定精度を向上さ
せようとすれば、測定効率が著しく低下するという問題
があった。
【0020】本発明は、この問題を解決し、周波数の高
い測定信号を用いる場合でも、測定効率と測定精度を両
立させることができるジッタ伝送特性測定装置を提供す
ることを目的としている。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明のジッタ伝達特性測定装置は、入力される変
調信号のレベルに比例した変調度で位相変調した所定周
波数の測定信号を、被測定回路に入力するジッタ信号発
生手段(21)と、前記測定信号を受けた被測定回路か
ら出力される信号の位相変化成分を検出する位相変化検
出手段(22)と、所定周波数範囲の間で周波数掃引さ
れる信号を所定レベルで出力する掃引信号発生手段(2
3c)と、前記位相変化検出手段の出力信号を受けて、
前記掃引信号発生手段の周波数掃引に連動して該掃引信
号発生手段の出力信号と同一周波数の信号成分のレベル
を検出する選択レベル検出手段(23d)と、前記掃引
信号発生手段から掃引出力される信号を受け、予め規定
されている被測定回路のジッタ耐力規格特性に近似した
レベル周波数特性にしたがってレベルが変化する信号を
変調信号として前記ジッタ信号発生手段に入力するレベ
ル可変手段(24)とを備えている。
【0022】
【作用】このようにしたため、本発明のジッタ伝達特性
測定装置では、掃引信号発生手段から出力される信号
を、被測定回路のジッタ耐力規格特性の上限の変調度に
ほぼ相当するレベルにして掃引出力すれば、ジッタ耐力
規格特性に近似した周波数特性にしたがってレベルが変
化する変調信号がレベル可変手段からジッタ信号発生手
段に入力されることになり、ジッタ耐力の高い領域で
は、大きな変調度で変調された測定信号が被測定回路に
入力され、ジッタ耐力の低い領域では、小さな変調度で
変調された測定信号が被測定回路に入力される。被測定
回路の出力信号の位相変化成分は位相変化検出手段によ
って検出され、その検出された信号のうち、変調信号と
同一周波数の信号レベルが選択レベル検出手段によって
検出される。
【0023】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図1は、一実施例のジッタ伝達特性測定装置2
0の構成を示している。この図において、ジッタ信号発
生器21は、後述するフィルタ回路24から出力される
変調信号のレベルに比例した変調度で位相変調された所
定周波数(例えば2.5GHz)の測定信号を、被測定
回路1へ出力する。
【0024】被測定回路1から出力される信号は位相変
化検出器22に入力される。位相変化検出器22は、前
記図6に示した位相変化検出器13と同様に構成され、
測定信号と同一周波数の基準信号と、被測定回路1から
出力される信号との位相差を検出し、その位相差に比例
した振幅の信号を出力する。
【0025】位相変化検出器22から出力される信号
は、ネットワークアナライザ23の入力端子23aに入
力される。
【0026】ネットワークアラナイザ23は、この実施
例の掃引信号発生手段および選択レベル検出手段を兼ね
るものであり、周波数掃引される信号を出力するための
出力端子23aと、位相変化検出器22の出力信号を入
力するための入力端子23bとを備えている。
【0027】図2は、ネットワークアナライザ23の内
部構成を示した図であり、正弦波の所定レベルの信号を
出力端子23aから掃引出力する掃引信号発生部23
c、この掃引信号発生部23cに連動して受信周波数を
変化させ、出力端子23aから出力される信号の周波数
と同一周波数の信号成分のみを所定の選択度で狭帯域に
受信してそのレベルを検出する選択レベル検出部23d
と、掃引信号発生部23cの掃引周波数範囲の設定や選
択レベル検出部23dで検出したレベルデータの記憶、
演算等の処理を行う制御部23eと、制御部23eの処
理結果等を表示する表示部23fとで構成されている。
【0028】なお、選択レベル検出部23dは、ミキサ
23g、中間周波フィルタ23hおよびレベル検出器2
3iによって構成されており、掃引信号発生部23c
は、出力端子23aから出力する信号の周波数fmより
中間周波フィルタ23hの中心周波数αだけ高い周波数
の信号を局発信号としてミキサ23gに入力する。ミキ
サ23gは、この局発信号と入力端子23bに入力され
る位相変化検出器22の出力信号(周波数fm)とを周
波数合成してその和と差の成分(2fm+α)とαを出
力する。したがって、中間周波フィルタ23hからは周
波数αを中心とし中間周波フィルタ23hの帯域幅の信
号成分、即ち、位相変化検出器22から出力される信号
のうち、出力端子23aから出力される信号の周波数と
同一周波数成分が出力され、そのレベルがレベル検出器
23iによって検出される。
【0029】このネットワークアナライザ23は、一回
の掃引に対して各周波数毎に検出した入力信号のレベル
をジッタ量として複数組記憶することができ、その一組
のジッタ量を基準量とし、基準量に対する他の組のジッ
タ量の比を、各周波数毎に画面に表示することができ
る。
【0030】ネットワークアナライザ23から掃引出力
される信号は、図1に示しているようにレベル可変回路
24に入力される。レベル可変回路24は、入力信号に
対する出力信号の振幅比が、被測定回路1および測定信
号の周波数に対して予め規定されているジッタ耐力の規
格特性(前記図8のA)に近似した周波数特性を有する
複数のラグリードフィルタ251 、252 、……、25
m と、選択スイッチ26、27とで構成されている。
【0031】複数のラグリードフィルタ251 、2
2 、……、25m は、抵抗とコンデンサのみで構成さ
れた受動型あるいは増幅器、抵抗およびコンデンサで構
成された能動型でもよい。
【0032】各ラグリードフィルタのうち、例えば2.
5GHzの測定信号周波数に対応したラグリードフィル
タの特性Eは、図3に示すように、規定された周波数f
1 〜f4 に対して、周波数f1 〜f2 までの低周波域で
は減衰量が少なく且つ一定で、周波数f3 〜f4 までの
高周波領域では減衰量が低周波領域より20dB大きく
一定で、周波数f2 〜f3 までの領域では減衰量がほぼ
−20dB/decの傾きで増加する特性となり、且
つ、その低周波領域における減衰量は、ネットワークア
ナライザ23から所定レベルの信号が入力されたとき
に、測定信号のジッタ量が前記図8の規格特性Aより僅
かに少なくなる値に予め設定されている。
【0033】なお、被測定回路のジッタ耐力の規格特性
は、測定信号の周波数によって異なるので、被測定回路
と測定信号の周波数に応じて選択スイッチ26、27を
操作して、ラグリードフィルタのいずれか選択して用い
る。
【0034】次に、このジッタ伝達特性測定装置20に
よる測定動作を説明する。予めレベル可変回路24の複
数のラグリードフィルタ251 、252 、……、25m
のうち、被測定回路1と測定信号の周波数(ここでは、
2.5GHz)に対応したジッタ耐力の規格特性に近似
した特性をもつフィルタを選択しておくとともに、ネッ
トワークアナライザ23の出力信号のレベルを所定レベ
ルに設定する。
【0035】次に、ジッタ信号発生器21から出力され
る測定信号を位相変化検出器22に直接入力した状態
で、ネットワークアナライザ23の出力信号の周波数を
1 以下からf4 以上まで掃引する。
【0036】この掃引によって、レベル可変回路24か
らは、図3の特性にしたがって振幅が変化する変調信号
が出力され、その変調信号の振幅に比例した変調度で位
相変調された測定信号がジッタ信号発生器21から出力
される。この測定信号のジッタ量は、図3のFに示すよ
うに、レベル可変回路24の周波数特性、即ち、ジッタ
耐力の規格特性(図8のA)にしたがって、その規格よ
り常に僅かに低い値となる。
【0037】この測定信号は周波数位相変化検出器22
に入力され、測定信号自身の位相変化成分が位相変化検
出器22で検出され、その検出信号の各周波数毎のレベ
ルR1 、R2 、R3 、……、RN が測定信号自身のジッ
タ量としてネットワークアナライザ23に記憶される。
【0038】次に、ジッタ信号発生器21から出力され
る測定信号が被測定回路1に入力され、測定回路1の出
力信号が位相変化検出器22へ入力するようにして、ネ
ットワークアナライザ23の出力信号の周波数を前記同
様の範囲で掃引する。
【0039】この掃引によって、レベル可変回路24か
らは、前記同様に図3の特性にしたがって振幅が変化す
る変調信号が出力され、その変調信号の振幅に比例した
変調度で位相変調された測定信号が被測定回路1へ入力
される。
【0040】そして、被測定回路1の出力信号の位相変
動成分が位相変化検出器22で検出され、その検出信号
の各周波数毎のレベルL1 、L2 、L3 、……、LN
被測定回路1の出力信号のジッタ量としてネットワーク
アナライザ23に記憶される。
【0041】このとき、測定信号自身のジッタ量は、前
述したように、レベル可変回路24の周波数特性によっ
て、変調信号周波数がf1 〜f4 の範囲でジッタ耐力の
規格特性より僅かに少ない量になっている。つまり、周
波数f1 〜f4 までの低周波領域のジッタ量はほぼ1.
5UI(p−p)、即ち、1.5UI/2.5GHz=
600ps(p−p)となり、このジッタ量の0.1d
Bは、6.9ps(p−p)になる。
【0042】この6.9ps(p−p)という値は、周
波数f3 〜f4 までのジッタ量0.15UIの0.1d
Bに相当する0.69ps(p−p)に対して20dB
も大きい。
【0043】したがって、ジッタ信号発生器21および
位相変化検出器22の直線性誤差が6.9ps(p−
p)に対して無視できれば、この低周波領域における伝
達特性を高い精度で測定できる。これは、低周波域にお
いてジッタ信号発生器21および位相変化検出器22の
直線性誤差が見かけ上20dB減少したことと等価であ
る。
【0044】また、変調信号周波数がf2 〜f3 までの
周波数領域においても、0.15UI以上のジッタ量で
測定しているので、ジッタ信号発生器21や位相変化検
出器22の直線性誤差が見かけ上減少する。
【0045】したがって、変調信号の周波数の低域から
中域にかけて、被測定回路1の出力信号のジッタ量を、
伝達特性の規格値である0.1dBの分解能で十分に検
出することができる。前述したように、周波数f3 とジ
ッタ伝達特性の評価のための規格特性(図4のC)のパ
スバンドの上限周波数fc とは近いので、このパスバン
ド域での測定結果は、十分な精度を有している。
【0046】被測定回路1を接続した状態での掃引が終
了すると、ネットワークアナライザ23は、被測定回路
1を接続しないで測定したときに得られた測定信号自身
の各周波数毎のジッタ量(R1 、R2 、……RN )と、
被測定回路1から出力される信号の各周波数毎のジッタ
量(L1 、L2 、……LN )の比、即ち、 JT1 =20log(L1 /R1 )、 JT2 =20log(L2 /R2 )、 ………… JTN =20log(LN /RN ) を求め、その結果を、被測定回路1のジッタ伝達特性G
として図4に示すように各周波数毎に画面に表示する。
なお、この演算処理および表示処理は、変調信号の周波
数が1ステップ変化する毎に行うようにしてもよい。
【0047】測定者はこの特性Gが、規格特性Cを越え
ているか否かを判定し、被測定回路1の特性を評価す
る。
【0048】なお、測定信号自身のジッタ量は、ネット
ワークアナライザ23に記憶されているので、次の被測
定回路を測定する場合には、測定信号を直ちに被測定回
路へ入力して、前記同様の測定を行う。
【0049】
【他の実施例】なお、前記実施例では、掃引信号発生手
段と選択レベル検出手段とが一体に形成されているネッ
トワークアナライザを用いていたが、出力信号の周波数
と選択周波数とが同一な状態を維持して、その周波数を
掃引することができるように連動できるものであれば、
掃引信号発生手段と選択レベル検出手段がそれぞれ別体
に形成されていてもよい。
【0050】また、前記実施例では、ジッタ信号発生器
から出力される測定信号を直接位相変化検出器に入力し
た状態で変調信号の掃引を行ってから、被測定回路1の
ジッタ伝達特性を測定するようにしていたが、変調信号
の周波数を変化させる毎に、測定信号自身のジッタ量と
被測定回路1の出力信号のジッタ量を検出して、その比
を検出してもよい。
【0051】また、前記実施例のレベル可変回路24は
ラグリードフィルタとスイッチによって構成していた
が、このフィルタの前段あるいは後段にフィルタの周波
数特性に影響を与えない広帯域の増幅器または減衰器を
設けて、この増幅器または減衰器の増幅度や減衰量を予
め、ジッタ信号発生器21に対する変調信号のレベル
が、被測定回路1のジッタ耐力規格特性より僅かに低く
なるように設定するようにしてもよい。このようにすれ
ば、ネットワークアナライザ23から掃引出力される信
号のレベルが低い場合や高すぎる場合に対応することが
できる。
【0052】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のジッタ伝
達特性測定装置は、掃引信号発生手段から所定レベルで
掃引出力される信号を、被測定回路のジッタ耐力の規格
特性に近似したレベル周波数特性を有するレベル可変回
路を介してジッタ信号発生手段に入力しているので、ジ
ッタ耐力の高い低周波領域では、大きな変調度で変調さ
れた測定信号が被測定回路に入力され、ジッタ耐力の低
い高周波領域では、小さな変調度で変調された測定信号
が被測定回路に入力される。
【0053】このため、レベルが一定の信号を掃引出力
するネットワークアナライザを用いることができ、しか
も、そのレベルを被測定回路の低周波領域のジッタ耐力
に相当する所定レベルに合わせておけば、この低周波領
域におけるジッタ信号発生手段や位相変化検出手段の直
線性誤差の影響が極めて少ない測定を行うことができ、
測定信号の周波数が高い場合でも、測定効率と測定精度
を両立させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図
【図2】一実施例の要部の構成を示すブロック図
【図3】一実施例のレベル可変回路の特性図
【図4】一実施例による測定結果を示す図
【図5】従来装置の構成を示す図
【図6】従来装置の要部の構成を示すブロック図
【図7】従来装置の要部の特性図
【図8】ジッタ耐力の規格特性と測定信号のジッタ量の
関係を示す図
【図9】従来装置による測定結果を示す図
【符号の説明】
1 被測定回路 20 ジッタ伝達特性測定装置 21 ジッタ信号発生器 22 位相変化検出器 23 ネットワークアナライザ 23c 掃引信号発生部 23d 選択レベル検出部 24 レベル可変回路 251 〜25m ラグリードフィルタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力される変調信号のレベルに比例した変
    調度で位相変調した所定周波数の測定信号を、被測定回
    路に入力するジッタ信号発生手段(21)と、 前記測定信号を受けた被測定回路から出力される信号の
    位相変化成分を検出する位相変化検出手段(22)と、 所定周波数範囲の間で周波数掃引される信号を所定レベ
    ルで出力する掃引信号発生手段(23c)と、 前記位相変化検出手段の出力信号を受けて、前記掃引信
    号発生手段の周波数掃引に連動して該掃引信号発生手段
    の出力信号と同一周波数の信号成分のレベルを検出する
    選択レベル検出手段(23d)と、 前記掃引信号発生手段から掃引出力される信号を受け、
    予め規定されている被測定回路のジッタ耐力規格特性に
    近似したレベル周波数特性にしたがってレベルが変化す
    る信号を変調信号として前記ジッタ信号発生手段に入力
    するレベル可変手段(24)とを備えたジッタ伝達特性
    測定装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003073115A1 (fr) * 2002-02-26 2003-09-04 Advantest Corporation Instrument et procede de mesure
WO2003093846A1 (fr) * 2002-04-29 2003-11-13 Advantest Corporation Dispositif et procede de mesure
JP2007127645A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2008501933A (ja) * 2004-06-07 2008-01-24 株式会社アドバンテスト 広帯域信号解析装置、広帯域周期ジッタ解析装置、広帯域スキュー解析装置、広帯域信号解析方法、及び試験装置システム
JPWO2006129491A1 (ja) * 2005-06-01 2008-12-25 株式会社アドバンテスト ジッタ発生回路
US7636387B2 (en) 2002-02-26 2009-12-22 Advantest Corporation Measuring apparatus and measuring method
JP5022359B2 (ja) * 2006-03-28 2012-09-12 株式会社アドバンテスト ジッタ増幅器、ジッタ増幅方法、電子デバイス、試験装置、及び試験方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003073115A1 (fr) * 2002-02-26 2003-09-04 Advantest Corporation Instrument et procede de mesure
US7305025B2 (en) 2002-02-26 2007-12-04 Advantest Corporation Measurement instrument and measurement method
JP2009103717A (ja) * 2002-02-26 2009-05-14 Advantest Corp 測定装置、及び測定方法
US7636387B2 (en) 2002-02-26 2009-12-22 Advantest Corporation Measuring apparatus and measuring method
WO2003093846A1 (fr) * 2002-04-29 2003-11-13 Advantest Corporation Dispositif et procede de mesure
US7054358B2 (en) 2002-04-29 2006-05-30 Advantest Corporation Measuring apparatus and measuring method
JP2008501933A (ja) * 2004-06-07 2008-01-24 株式会社アドバンテスト 広帯域信号解析装置、広帯域周期ジッタ解析装置、広帯域スキュー解析装置、広帯域信号解析方法、及び試験装置システム
JPWO2006129491A1 (ja) * 2005-06-01 2008-12-25 株式会社アドバンテスト ジッタ発生回路
JP4806679B2 (ja) * 2005-06-01 2011-11-02 株式会社アドバンテスト ジッタ発生回路
JP2007127645A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP5022359B2 (ja) * 2006-03-28 2012-09-12 株式会社アドバンテスト ジッタ増幅器、ジッタ増幅方法、電子デバイス、試験装置、及び試験方法

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