JPH08242292A - Subscriber line testing system for optical subscriber transmission system - Google Patents
Subscriber line testing system for optical subscriber transmission systemInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ＯＮＵとユーザ装置と
の間に接続されるメタリック加入者線路の試験を行う光
加入者伝送システムの加入者回線試験方式に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a subscriber line test system of an optical subscriber transmission system for testing a metallic subscriber line connected between an ONU and a user equipment.
【０００２】[0002]
【従来の技術】光加入者伝送システムは、ユーザ宅内あ
るいはユーザ宅内と電話交換局との間の適当な場所（例
えばき線）に設置されるＯＮＵと、電話交換局内に設置
されるＯＳＵとを光ファイバ伝送路で結ぶ構成をとる。
ＯＮＵは、電話交換局からの光信号を終端し、ユーザ側
に従来通りのメタリック加入者線路による既存電気（物
理）インタフェースによりアナログ電話サービス、ＩＳ
ＤＮ基本インタフェースサービスとともに映像伝送等の
新規のサービスを提供する。また、ユーザ側からの信号
を各サービスの所定の電気的インタフェース条件に従っ
て終端し、終端された電気信号を時分割多重化して光信
号に変換し、光ファイバ伝送路を介してＯＳＵに送出す
る。ＯＳＵは、交換機とＯＮＵとの間で光電気変換処理
および時分割多重分離処理を行う。2. Description of the Related Art An optical subscriber transmission system includes an ONU installed in a user's house or in an appropriate place (for example, a feeder) between the user's house and a telephone exchange, and an OSU installed in the telephone exchange. It is configured to connect with an optical fiber transmission line.
The ONU terminates the optical signal from the telephone exchange, and uses the existing electrical (physical) interface with the conventional metallic subscriber line on the user side for analog telephone service, IS.
Provide new services such as video transmission along with DN basic interface service. Further, the signal from the user side is terminated according to a predetermined electrical interface condition of each service, the terminated electrical signal is time-division multiplexed, converted into an optical signal, and sent to the OSU via the optical fiber transmission line. The OSU performs photoelectric conversion processing and time division demultiplexing processing between the exchange and the ONU.
【０００３】図１１は、従来の光加入者伝送システムの
加入者回線試験方式の構成例を示す。ここでは、説明の
簡易化のために、ＯＮＵ１００がＩＳＤＮ基本インタフ
ェースサービスおよびアナログ電話サービスをそれぞれ
１つ提供する場合を示す。また、１台のＯＳＵ３１０と
１台のＯＮＵ１００が光ファイバ伝送路２００を介して
ポイント−ポイントに接続される場合を示す。また、光
ファイバ伝送路２００上の光信号は、上り方向（ＯＮＵ
→ＯＳＵ）と下り方向（ＯＳＵ→ＯＮＵ）の伝送を光フ
ァイバ１心で双方向伝送されるものとする。これらの形
態はそれぞれ最も単純なものであり、それぞれ他の形態
をとる場合（ＯＮＵ１００が複数の端末を接続する場
合、ＯＳＵ３１０と複数のＯＮＵ１００がポイント−マ
ルチポイントに接続される場合、光ファイバ２心双方向
伝送の場合）でも以下の説明は適用される。FIG. 11 shows a configuration example of a subscriber line test system of a conventional optical subscriber transmission system. Here, for simplification of description, a case where the ONU 100 provides one ISDN basic interface service and one analog telephone service is shown. In addition, a case where one OSU 310 and one ONU 100 are connected point-to-point via the optical fiber transmission path 200 is shown. Further, the optical signal on the optical fiber transmission path 200 is transmitted in the upstream direction (ONU
→ OSU) and downlink (OSU → ONU) transmission is bidirectional transmission with one optical fiber. Each of these forms is the simplest, and when each takes another form (when the ONU 100 connects a plurality of terminals, when the OSU 310 and a plurality of ONUs 100 are connected point-to-multipoint, two optical fibers are used. The following description also applies to the case of bidirectional transmission).
【０００４】まず、各機能ブロックの配置および相互接
続について説明する。Ｉ端末（ＩＳＤＮ基本インタフェ
ース宅内機器）１０、ＩＤＳＵ（ＩＳＤＮ基本インタフ
ェース宅内回線終端装置）１１、Ａ端末（アナログ電話
回線端末）２０、Ｃ付ＭＪ（容量付モジュラージャッ
ク）２１はユーザ宅内に設置される。Ｉ端末１０とＩＤ
ＳＵ１１、Ａ端末２０とＣ付ＭＪ２１は、それぞれき紐
（メタリック線からなる端末接続用コード）３０で接続
される。First, the layout and interconnection of each functional block will be described. An I terminal (ISDN basic interface home equipment) 10, an IDSU (ISDN basic interface home line terminal) 11, an A terminal (analog telephone line terminal) 20, a C-equipped MJ (capacity modular jack) 21 are installed in the user's home. . I terminal 10 and ID
The SU 11, the A terminal 20, and the MJ 21 with C are connected by a cord (cord for terminal connection made of metallic wire) 30.
【０００５】ＯＮＵ１００は、ユーザ宅内またはき線等
に設置される。ＯＮＵ１００は、ＩＯＣＵ（ＩＳＤＮ基
本インタフェース局内回線終端装置）１１０、ＳＬＩＣ
（アナログ電話回線局内回線終端装置）１２０、媒体試
験器１４０、ＭＵＸａ（信号多重分離装置）１５０、光
ＬＴ（光電気変換回路）１６０により構成される。ＩＯ
ＣＵ１１０とＩＤＳＵ１１、ＳＬＩＣ１２０とＣ付ＭＪ
２１は、それぞれメタリック加入者線路４０で接続され
る。メタリック加入者線路４０の１対の２線をそれぞれ
Ａ線、Ｂ線とし、対地アースをＧと記述する。The ONU 100 is installed in a user's house or a feeder. ONU 100 includes IOCU (ISDN basic interface intra-station line terminating device) 110, SLIC
(Analog telephone line station internal line terminating device) 120, medium tester 140, MUXa (signal demultiplexing device) 150, optical LT (photoelectric conversion circuit) 160. IO
CU110 and IDSU11, SLIC120 and MJ with C
21 are connected by metallic subscriber lines 40, respectively. The pair of two lines of the metallic subscriber line 40 are referred to as A line and B line, respectively, and the ground is described as G.
【０００６】電話交換局３００には、ＯＳＵ３１０、交
換機３２０、試験制御装置ａ３３０が設置される。交換
機３２０は、ＭＵＸｂ（信号多重分離装置）３２１、通
話路装置３２４、呼制御装置３２５により構成される。
ＯＳＵ３１０とＯＮＵ１００は、光ファイバ伝送路２０
０で接続される。次に、各機能ブロックの作用について
説明する。The telephone exchange 300 is provided with an OSU 310, an exchange 320 and a test controller a330. The exchange 320 is composed of a MUXb (signal demultiplexing device) 321, a speech path device 324, and a call control device 325.
The OSU 310 and the ONU 100 are the optical fiber transmission line 20.
Connected with 0. Next, the operation of each functional block will be described.
【０００７】Ｉ端末１０は、例えばＧ４ファクシミリ装
置である。ＩＤＳＵ１１は、Ｉ端末１０側のインタフェ
ース（Ｔ点）をＩＯＣＵ１１０側のインタフェース（Ｕ
点）に変換する。Ｉ端末１０は、ＩＤＳＵ１１を介して
ＩＯＣＵ１１０との間でＩユーザ情報１１１ａを送受す
る。Ａ端末２０は、例えばアナログ電話機である。ＳＬ
ＩＣ１２０は、Ａ端末２０側のアナログ（音声帯域）信
号をディジタル信号に変換する。このＡ端末２０とＳＬ
ＩＣ１２０との間で送受されるアナログ信号がディジタ
ル化された信号をＡユーザ情報１２１ａという。The I terminal 10 is, for example, a G4 facsimile machine. The IDSU 11 replaces the interface (point T) on the I terminal 10 side with the interface (U on the IOCU 110 side).
Point). The I terminal 10 transmits / receives I user information 111a to / from the IOCU 110 via the IDSU 11. The A terminal 20 is, for example, an analog telephone. SL
The IC 120 converts an analog (voice band) signal on the A terminal 20 side into a digital signal. This A terminal 20 and SL
A signal obtained by digitizing an analog signal transmitted / received to / from the IC 120 is referred to as A user information 121a.
【０００８】Ｃ付ＭＪ２１は、ユーザと網の責任分界点
を形成するものであり、メタリック加入者線路４０の線
間（Ａ線−Ｂ線間）に規定された電気的インタフェース
条件に支障がない程度の容量（0.27μＦ程度）が接続さ
れる。この所定の容量値が媒体試験器１４０からの線間
容量値測定試験により確認できれば、ＳＬＩＣ１２０か
らＣ付ＭＪ２１までのメタリック加入者線路４０は正常
に接続されているとする。なお、容量が接続されない通
常のモジュラージャックが使用される場合には、Ａ端末
２０内に接続されている線間容量（通常、アナログ電話
機１台当たり１μＦ程度、あるいはそれ以下）を測定す
ることになる。The C-equipped MJ 21 forms a responsibility demarcation point between the user and the network, and does not interfere with the electrical interface condition defined between the metallic subscriber line 40 lines (between the A line and the B line). A capacitance of about 0.27 μF is connected. If this predetermined capacitance value can be confirmed by the line capacitance value measurement test from the medium tester 140, it is assumed that the metallic subscriber line 40 from the SLIC 120 to the MJ 21 with C is normally connected. If a normal modular jack to which no capacity is connected is used, it is necessary to measure the line capacity (usually about 1 μF or less per analog telephone) connected in the A terminal 20. Become.
【０００９】媒体試験器１４０は、ＩＯＣＵ１１０また
はＳＬＩＣ１２０内の接続引込スイッチからＬＴ線１３
０を介して引き込まれたメタリック加入者線路４０の試
験を実施する。なお、ＩＯＣＵ１１０またはＳＬＩＣ１
２０内の接続引込スイッチがオンとなり、ＬＴ線１３０
にメタリック加入者線路４０を接続した場合には、ＩＯ
ＣＵ１１０またはＳＬＩＣ１２０内の回路は切り離さ
れ、メタリック加入者線路４０のみがＬＴ線１３０に延
長された構成となる。媒体試験器１４０は、Ａ線−Ｂ線
間、Ａ線−Ｇ間、Ｂ線−Ｇ間の絶縁抵抗試験、容量試
験、その他を実施する。媒体試験器１４０の制御および
試験結果表示（報告）は、媒体試験信号１４１で伝達さ
れる。The medium tester 140 operates from the connection pull-in switch in the IOCU 110 or the SLIC 120 to the LT line 13.
Perform a test of the metallic subscriber line 40 drawn through 0. In addition, IOCU110 or SLIC1
The connection pull-in switch in 20 turns on, and the LT line 130
When the metallic subscriber line 40 is connected to
The circuit in the CU 110 or the SLIC 120 is disconnected, and only the metallic subscriber line 40 is extended to the LT line 130. The medium tester 140 performs an insulation resistance test between A line and B line, between A line and G, between B line and G, capacity test, and others. The control of the media tester 140 and the test result display (report) are transmitted by the media test signal 141.
【００１０】ここで、メタリック加入者線路４０の絶縁
抵抗測定の一方法を示す。媒体試験器１４０からメタリ
ック加入者線路４０の測定対象の線間に、媒体試験器１
４０に内蔵の直流定電圧源から定電圧Ｅ0 を印加する。
そのとき流れる電流値ＩMESを媒体試験器１４０に内蔵
の直流電流計で測定し、Ｅ0／ＩMES＝ＲMES を測定され
た抵抗値ＲMES とする。Here, a method for measuring the insulation resistance of the metallic subscriber line 40 will be described. Between the medium tester 140 and the measurement target line of the metallic subscriber line 40, the medium tester 1
A constant voltage E 0 is applied from a DC constant voltage source built in 40.
The current value I MES flowing at that time is measured by a DC ammeter built in the medium tester 140, and E 0 / I MES = R MES is set to the measured resistance value R MES .
【００１１】さらに、メタリック加入者線路４０の容量
測定の一方法を示す。媒体試験器１４０は、メタリック
加入者線路４０に何らかの要因で充電されている既充電
電荷を媒体試験器１４０内のスイッチを短絡して放電さ
せる。次に、媒体試験器１４０からメタリック加入者線
路４０の測定対象の線間に、媒体試験器１４０に内蔵の
定電流源から直流定電流Ｊ0 を流し、所定の電圧Ｖthに
充電されるまでの時間ＴMES を媒体試験器１４０内の時
間計測回路で測定し、Ｊ0ＴMES／Ｖth＝ＣMESを測定さ
れた容量値ＣMES とする。なお、容量測定用の定電流源
は、定電圧源＋高出力抵抗で構成される場合もあり、理
想定電流源からの測定時間Ｔの偏差を予め較正しておく
手段を用いることもできる。Further, a method of measuring the capacitance of the metallic subscriber line 40 will be shown. The medium tester 140 short-circuits the switch in the medium tester 140 to discharge the already-charged electric charge charged in the metallic subscriber line 40 due to some cause. Next, a DC constant current J 0 is made to flow from the medium tester 140 to the measurement target line of the metallic subscriber line 40 from the constant current source built in the medium tester 140 until the battery is charged to a predetermined voltage V th. The time T MES is measured by the time measuring circuit in the medium tester 140, and J 0 T MES / V th = C MES is set to the measured capacitance value C MES . The constant current source for capacitance measurement may be composed of a constant voltage source + high output resistance, and a means for calibrating the deviation of the measurement time T from the ideal constant current source in advance may be used.
【００１２】ＩＯＣＵ１１０は、ＭＵＸａ１５０との間
でＩＯＣＵ信号１１１を送受する。ＩＯＣＵ信号１１１
は、Ｉ端末１０と交換機３２０内の通話路装置３２４と
の間で送受されるＩユーザ情報１１１ａと、ＩＯＣＵ１
１０と交換機３２０内の呼制御装置３２５との間で送受
されるＩ制御信号１１１ｂとからなる。ＳＬＩＣ１２０
は、ＭＵＸａ１５０との間でＳＬＩＣ信号１２１を送受
する。ＳＬＩＣ信号１２１は、Ａ端末２０と交換機３２
０内の通話路装置３２４との間で送受されるＡユーザ情
報１２１ａと、ＳＬＩＣ１２０と交換機３２０内の呼制
御装置３２５との間で送受されるＡ制御信号１２１ｂと
からなる。ＭＵＸａ１５０は、ＩＯＣＵ信号１１１，Ｓ
ＬＩＣ信号１２１，媒体試験信号１４１を時分割多重化
し、多重化信号ハイウェイａ１５１を形成する。多重化
信号ハイウェイａ１５１上の時分割多重化信号（ＩＯＣ
Ｕ信号１１１＋ＳＬＩＣ信号１２１＋媒体試験信号１４
１）は、光ＬＴ１６０で光時分割多重化信号に変換さ
れ、光ファイバ伝送路２００を介してＯＳＵ３１０に伝
達される。The IOCU 110 transmits / receives an IOCU signal 111 to / from the MUXa 150. IOCU signal 111
Is the I user information 111a transmitted and received between the I terminal 10 and the communication path device 324 in the exchange 320, and the IOCU1.
10 and the call control device 325 in the exchange 320. The I control signal 111b is transmitted and received. SLIC120
Transmits and receives the SLIC signal 121 to and from the MUXa 150. The SLIC signal 121 is transmitted to the A terminal 20 and the exchange 32.
It is composed of A user information 121a transmitted / received to / from the communication path device 324 in 0, and an A control signal 121b transmitted / received between the SLIC 120 and the call control device 325 in the exchange 320. The MUXa 150 uses the IOCU signals 111, S
The LIC signal 121 and the medium test signal 141 are time division multiplexed to form a multiplexed signal highway a151. Time division multiplexed signal (IOC) on the multiplexed signal highway a151.
U signal 111 + SLIC signal 121 + medium test signal 14
1) is converted into an optical time division multiplexed signal by the optical LT 160 and transmitted to the OSU 310 via the optical fiber transmission line 200.
【００１３】ＯＳＵ３１０は、ＯＮＵ１００からの光時
分割多重化信号を電気時分割多重化信号に変換して多重
分離する。多重分離されたＩＯＣＵ信号１１１とＳＬＩ
Ｃ信号１２１は、多重化信号ハイウェイｂ３１１を介し
て交換機３２０内のＭＵＸｂ３２１に伝達され、媒体試
験信号１４１は試験信号ハイウェイａ３１２を介して試
験制御装置ａ３３０に伝達される。ＭＵＸｂ３２１は、
多重化信号ハイウェイｂ３１１上のＩＯＣＵ信号１１１
内のＩユーザ情報１１１ａと、ＳＬＩＣ信号１２１内の
Ａユーザ情報１２１ａを多重化信号ハイウェイｃ３２２
を介して通話路装置３２４に伝達する。また、ＭＵＸｂ
３２１は、多重化信号ハイウェイｂ３１１上のＩＯＣＵ
信号１１１内のＩ制御信号１１１ｂと、ＳＬＩＣ信号１
２１内のＡ制御信号１２１ｂを多重化信号ハイウェイｄ
３２３を介して呼制御装置３２５に伝達する。下り方向
の動作は、上述の動作の逆となる。The OSU 310 converts the optical time division multiplexed signal from the ONU 100 into an electrical time division multiplexed signal for demultiplexing. Demultiplexed IOCU signal 111 and SLI
The C signal 121 is transmitted to the MUX b321 in the exchange 320 via the multiplexed signal highway b311, and the medium test signal 141 is transmitted to the test controller a330 via the test signal highway a312. MUXb321 is
IOCU signal 111 on multiplexed signal highway b311
I user information 111a in SLIC signal 121 and A user information 121a in SLIC signal 121 are multiplexed signal highway c322.
Is transmitted to the communication path device 324 via the. Also, MUXb
321 is an IOCU on the multiplexed signal highway b311.
I control signal 111b in signal 111 and SLIC signal 1
A control signal 121b in 21 is multiplexed signal highway d
It is transmitted to the call control device 325 via 323. The operation in the down direction is the reverse of the operation described above.
【００１４】次に、各信号の流れについて説明する。Ｉ
ユーザ情報１１１ａは、Ｉ端末１０から送出され、き紐
３０、ＩＤＳＵ１１、メタリック加入者線路４０、ＩＯ
ＣＵ１１０、ＭＵＸａ１５０、多重化信号ハイウェイａ
１５１、光ＬＴ１６０、光ファイバ伝送路２００、ＯＳ
Ｕ３１０、多重化信号ハイウェイｂ３１１、ＭＵＸｂ３
２１、多重化信号ハイウェイｃ３２２を経由して通話路
装置３２４に伝達される。下り方向は、逆の経路とな
る。このＩユーザ情報１１１ａを伝達するために割り当
てられたタイムスロットをＩユーザ情報チャネルと呼
ぶ。Next, the flow of each signal will be described. I
The user information 111a is sent from the I terminal 10, and the string 30, the IDSU 11, the metallic subscriber line 40, the IO.
CU110, MUXa150, multiplexed signal highway a
151, optical LT 160, optical fiber transmission line 200, OS
U310, multiplexed signal highway b311, MUXb3
21 and is transmitted to the communication path device 324 via the multiplexed signal highway c322. The downward direction is the reverse route. The time slot allocated for transmitting this I user information 111a is called an I user information channel.
【００１５】Ａユーザ情報１２１ａは、Ａ端末２０から
送出され、き紐３０、Ｃ付ＭＪ２１、メタリック加入者
線路４０、ＳＬＩＣ１２０、ＭＵＸａ１５０、多重化信
号ハイウェイａ１５１、光ＬＴ１６０、光ファイバ伝送
路２００、ＯＳＵ３１０、多重化信号ハイウェイｂ３１
１、ＭＵＸｂ３２１、多重化信号ハイウェイｃ３２２を
経由して通話路装置３２４に伝達される。下り方向は、
逆の経路となる。このＡユーザ情報１２１ａを伝達する
ために割り当てられたタイムスロットをＡユーザ情報チ
ャネルと呼ぶ。なお、ＩＯＣＵ信号１１１およびＳＬＩ
Ｃ信号１２１を伝達するために割り当てられたタイムス
ロットは、それぞれＩＯＣＵ信号チャネルおよびＳＬＩ
Ｃ信号チャネルと呼ばれる。The A user information 121a is sent from the A terminal 20, and the string 30, the CJ MJ 21, the metallic subscriber line 40, the SLIC 120, the MUX a 150, the multiplexed signal highway a 151, the optical LT 160, the optical fiber transmission line 200, the OSU 310. , Multiplexed signal highway b31
1, the MUXb 321, and the multiplexed signal highway c322 to be transmitted to the speech path device 324. The down direction is
It will be the opposite route. The time slot allocated for transmitting this A user information 121a is called an A user information channel. Note that IOCU signal 111 and SLI
The time slots assigned to carry the C signal 121 are IOCU signaling channel and SLI respectively.
Called the C signal channel.
【００１６】Ｉ制御信号１１１ｂは、ＩＯＣＵ１１０か
ら送出され、ＭＵＸａ１５０、多重化信号ハイウェイａ
１５１、光ＬＴ１６０、光ファイバ伝送路２００、ＯＳ
Ｕ３１０、多重化信号ハイウェイｂ３１１、ＭＵＸｂ３
２１、多重化信号ハイウェイｄ３２３を経由して呼制御
装置３２５に伝達される。下り方向は、逆の経路とな
る。このＩ制御信号１１１ｂを伝達するために割り当て
られたタイムスロットをＩ制御信号チャネルと呼ぶ。The I control signal 111b is sent from the IOCU 110, and is sent to the MUXa 150 and the multiplexed signal highway a.
151, optical LT 160, optical fiber transmission line 200, OS
U310, multiplexed signal highway b311, MUXb3
21 and is transmitted to the call control device 325 via the multiplexed signal highway d323. The downward direction is the reverse route. The time slot allocated for transmitting this I control signal 111b is called an I control signal channel.
【００１７】Ａ制御信号１２１ｂは、ＳＬＩＣ１２０か
ら送出され、ＭＵＸａ１５０、多重化信号ハイウェイａ
１５１、光ＬＴ１６０、光ファイバ伝送路２００、ＯＳ
Ｕ３１０、多重化信号ハイウェイｂ３１１、ＭＵＸｂ３
２１、多重化信号ハイウェイｄ３２３を経由して呼制御
装置３２５に伝達される。下り方向は、逆の経路とな
る。このＡ制御信号１２１ｂを伝達するために割り当て
られたタイムスロットをＡ制御信号チャネルと呼ぶ。呼
制御装置３２５は、呼の生起（発信・着信）および終了
に対応して、Ｉ制御信号１１１ｂおよびＡ制御信号１２
１ｂの下り方向の信号を用いてＩＯＣＵ１１０およびＳ
ＬＩＣ１２０の起動および停止を制御し、上り方向の信
号を用いて発信監視、起動完了・起動異常等の監視を実
施する。The A control signal 121b is sent from the SLIC 120 and is sent to the MUXa 150 and the multiplexed signal highway a.
151, optical LT 160, optical fiber transmission line 200, OS
U310, multiplexed signal highway b311, MUXb3
21 and is transmitted to the call control device 325 via the multiplexed signal highway d323. The downward direction is the reverse route. The time slot allocated for transmitting this A control signal 121b is called an A control signal channel. The call control device 325 responds to the origination (call origination / termination) and termination of a call by controlling the I control signal 111b and the A control signal 12 respectively.
IOCU110 and S using the downstream signal of 1b
The start and stop of the LIC 120 is controlled, and transmission monitoring, start completion, start abnormality, and the like are performed using an upstream signal.
【００１８】媒体試験信号１４１は、下り方向の制御信
号が試験制御装置ａ３３０から送出され、試験信号ハイ
ウェイ３１２、ＯＳＵ３１０、光ファイバ伝送路２０
０、光ＬＴ１６０、ＭＵＸａ１５０を経由して媒体試験
器１４０に伝達される。媒体試験器１４０は、この媒体
試験信号１４１（下り制御信号）によって要求された媒
体試験を実施し、その測定数値等による試験結果を逆経
路の媒体試験信号１４１で試験制御装置ａ３３０に返送
する。この媒体試験信号１４１を伝達するために割り当
てられたタイムスロットを媒体試験信号チャネルと呼
ぶ。As the medium test signal 141, a control signal in the downward direction is sent from the test controller a330, and the test signal highway 312, the OSU 310, and the optical fiber transmission line 20.
0, the optical LT 160, and the MUXa 150 to be transmitted to the medium tester 140. The medium tester 140 performs the medium test requested by the medium test signal 141 (downlink control signal), and returns the test result based on the measured numerical value and the like to the test control device a 330 as the medium test signal 141 of the reverse path. The time slot allocated for transmitting the medium test signal 141 is called a medium test signal channel.
【００１９】ここで、ＩＯＣＵ１１０，ＳＬＩＣ１２０
および呼制御装置３２５は、従来、電話交換局３００と
ユーザ宅とを直接に１対のメタリック加入者線路４０で
結び、ＩＯＣＵ１１０およびＳＬＩＣ１２０を電話交換
局３００内に設置して動作させるように設計されてい
る。すなわち、ＩＯＣＵ１１０，ＳＬＩＣ１２０および
呼制御装置３２５の相互間で、Ｉ制御信号１１１ｂおよ
びＡ制御信号１２１ｂを伝達するＩ制御信号チャネルお
よびＡ制御信号チャネルは、ともに局内または装置内に
あるために信号断となることは想定されていなかった。Here, IOCU 110 and SLIC 120
The call control device 325 is conventionally designed to directly connect the telephone switching center 300 and a user's home with a pair of metallic subscriber lines 40, and to install and operate the IOCU 110 and the SLIC 120 in the telephone switching center 300. ing. That is, since the I control signal channel and the A control signal channel for transmitting the I control signal 111b and the A control signal 121b among the IOCU 110, the SLIC 120 and the call control device 325 are both in the station or in the device, signal disconnection occurs. It was not expected to become.
【００２０】一方、光加入者伝送システムでは、ＩＯＣ
Ｕ１１０，ＳＬＩＣ１２０を有するＯＮＵ１００が電話
交換局３００の外に置かれることになる。すなわち、そ
の間を接続する光ファイバ伝送路が局外区間に敷設され
るので、ケーブル障害等によるＩ制御信号チャネルおよ
びＡ制御信号チャネルの信号断が生じることがある。こ
のとき、ＩＯＣＵ１１０およびＳＬＩＣ１２０が、信号
断直前の動作状態で無制御デッドロック状態になること
を避けるために、ＭＵＸａ１５０およびＭＵＸｂ３２１
には以下の機能が付与されている。On the other hand, in the optical subscriber transmission system, the IOC
The ONU 100 having U110 and SLIC120 will be placed outside the telephone exchange 300. That is, since the optical fiber transmission line connecting between them is laid in the out-of-station section, signal disconnection of the I control signal channel and the A control signal channel may occur due to a cable failure or the like. At this time, in order to prevent the IOCU 110 and the SLIC 120 from entering the uncontrolled deadlock state in the operating state immediately before the signal disconnection, the MUXa 150 and the MUXb 321 are provided.
Has the following functions.
【００２１】ＯＮＵ１００側では、光ＬＴ１６０が下り
方向の光伝送信号の受信異常を検出し、伝送路異常表示
ａ１６１でＭＵＸａ１５０に通達すると、ＭＵＸａ１５
０は、Ｉ制御信号１１１ｂおよびＡ制御信号１２１ｂの
下り信号にＩＯＣＵ１１０およびＳＬＩＣ１２０がリセ
ット状態（通信断で動作停止状態）となるような制御情
報を挿入する。同様に、電話交換局３００側では、ＯＳ
Ｕ３１０が上り方向の光伝送信号の受信異常を検出し、
伝送路異常表示ｂ３１６でＭＵＸｂ３２１に通達する
と、ＭＵＸｂ３２１は、Ｉ制御信号１１１ｂおよびＡ制
御信号１２１ｂの上り信号にＩＯＣＵ１１０およびＳＬ
ＩＣ１２０がリセット状態となったことを表示する状態
表示情報を挿入する。これにより、呼制御装置３２５は
そのときの動作状態で前状態保持となり、課金継続等を
行うことを回避できる。なお、受信異常の検出には、通
常は同期はずれが用いられるが、ＣＲＣ情報、あるいは
ＣＲＣ情報を時間累積監視して求められる伝送路平均符
号誤り率の監視結果等を用いることもある。On the side of the ONU 100, when the optical LT 160 detects an abnormal reception of an optical transmission signal in the downstream direction and notifies the MUXa 150 with a transmission path abnormality display a 161, the MUXa 15
0 inserts control information into the down signals of the I control signal 111b and the A control signal 121b so that the IOCU 110 and the SLIC 120 are in a reset state (operation stopped state due to communication interruption). Similarly, on the telephone exchange 300 side, the OS
U310 detects an abnormal reception of the upstream optical transmission signal,
When the MUXb 321 is notified by the transmission path abnormality display b316, the MUXb 321 causes the IOCU 110 and SL to receive the upstream signals of the I control signal 111b and the A control signal 121b.
The state display information indicating that the IC 120 is in the reset state is inserted. As a result, the call control device 325 retains the previous state in the operating state at that time, and avoids continuing the charging. Although out-of-synchronization is usually used for detection of reception abnormality, CRC information or a monitoring result of a channel average code error rate obtained by time-accumulating monitoring of CRC information may be used.
【００２２】[0022]
【発明が解決しようとする課題】ところで、電話交換局
３００とユーザ宅が直接に１対のメタリック加入者線路
４０で結ばれるシステムでは、媒体試験器１４０を交換
機３２０に対して１台設置すれば、交換機３２０に収容
される数千〜数万のメタリック加入者線路４０の媒体試
験が可能であった。By the way, in a system in which the telephone exchange 300 and the user's home are directly connected by a pair of metallic subscriber lines 40, if one medium tester 140 is installed for the exchange 320. It was possible to carry out a media test of thousands to tens of thousands of metallic subscriber lines 40 accommodated in the exchange 320.
【００２３】しかし、ＯＮＵ１００をユーザ宅あるいは
き線等に設置する光加入者伝送システムでは、媒体試験
器１４０をＯＮＵ１００ごとに１台設置する必要が生じ
る。一方、ＯＮＵ１台当たりに収容されるユーザ数は、
例えばＯＮＵ１００を一般家庭宅に設置すると１程度、
ビルに設置すると百程度、き線に設置しても数百程度で
ある。したがって、多数のＯＮＵ１００が必要になると
ともに、それぞれに１台設置される媒体試験器１４０の
数も膨大になり、極めて不経済な構成にならざるを得な
かった。However, in the optical subscriber transmission system in which the ONU 100 is installed in the user's house or feeder, it is necessary to install one medium tester 140 for each ONU 100. On the other hand, the number of users accommodated per ONU is
For example, if the ONU 100 is installed in a general home, it will be about 1,
It is about 100 when installed in a building and several hundred when installed on a feeder. Therefore, a large number of ONUs 100 are required, and the number of medium testers 140 installed in each is enormous, resulting in an extremely uneconomical configuration.
【００２４】また、従来からのシステムでは信号断とな
ることを想定していなかった制御信号チャネルが、光加
入者伝送システムでは上述したように信号断となる可能
性があった。これに対処するためにＭＵＸａ１５１およ
びＭＵＸｂ３２１には、伝送路異常を検出したときにＩ
ＯＣＵ１１０およびＳＬＩＣ１２０をリセット状態に制
御し、またリセット状態になったことを表示するＩ制御
信号１１１ｂおよびＡ制御信号１２１ｂの挿入機能が付
与されていた。Further, there is a possibility that the control signal channel, which has not been assumed to be out of signal in the conventional system, may be out of signal in the optical subscriber transmission system as described above. In order to cope with this, the MUXa 151 and MUXb 321 have I
The ICU signal 111b and the A control signal 121b for inserting the OCU 110 and the SLIC 120 into the reset state and indicating that the OCU 110 and the SLIC 120 are in the reset state are provided.
【００２５】このＩ制御信号１１１ｂおよびＡ制御信号
１２１ｂは、８ｋbit/s のバイト同期（オクテット同
期）が確保された64ｋbit/s で構成される。この１バイ
ト中の特定の１ビット（例えば第８番目のビット）を、
連続するＮバイト（Ｎは２以上の整数）によって構成さ
れる１マルチフレームを定義するための認識ビットであ
るマルチフレームビットとして使用し、連続するＮバイ
トでＮビットからなるオール“０”あるいはオール
“１”以外のマルチフレームビットパタンを定義するこ
とにより、連続するＮバイトを１つのマルチフレームと
する。この連続するＮバイトを構成する８×Ｎビットの
うち、上記マルチフレームビットを除く７×Ｎビットを
用いて、呼制御に係る各種制御命令、状態表示内容を定
義するように構成されている場合には、ＭＵＸａ１５１
およびＭＵＸｂ３２１でマルチフレームに対する処理が
必要となる。すなわち、バイト単位の処理のみでなくビ
ット単位の処理が各ユーザ対応に課せられることにな
り、回路規模が増大しコストの上昇が避けられなかっ
た。The I control signal 111b and the A control signal 121b are composed of 64 kbit / s in which byte synchronization (octet synchronization) of 8 kbit / s is secured. A specific 1 bit (eg 8th bit) in this 1 byte is
It is used as a multi-frame bit, which is a recognition bit for defining one multi-frame composed of consecutive N bytes (N is an integer of 2 or more), and all “0” or all consisting of N bits in consecutive N bytes. By defining a multi-frame bit pattern other than "1", consecutive N bytes are treated as one multi-frame. Of the 8 × N bits forming the continuous N bytes, 7 × N bits excluding the multi-frame bit are used to define various control commands related to call control and status display contents In the MUXa 151
Further, the MUXb 321 requires processing for multi-frame. That is, not only byte-wise processing but also bit-wise processing is imposed on each user, which inevitably leads to an increase in circuit scale and an increase in cost.
【００２６】本発明は、以上の問題点を解決するもので
あり、ＯＮＵごとの媒体試験器の設置を不要として経済
的なシステムを構成することができる光加入者伝送シス
テムの加入者回線試験方式を提供することを目的とす
る。The present invention solves the above-mentioned problems, and a subscriber line test method for an optical subscriber transmission system which does not require installation of a medium tester for each ONU and can constitute an economical system. The purpose is to provide.
【００２７】[0027]
【課題を解決するための手段】本発明は、ユーザ宅内あ
るいはき線等に設置されるＯＮＵと、電話交換局内に設
置されるＯＳＵとを光ファイバ伝送路で結び、ＯＮＵに
接続されるメタリック加入者線路の絶縁抵抗値および容
量値を測定する光加入者伝送システムの加入者回線試験
方式において、ＯＮＵのインタフェース回路内に、メタ
リック加入者線路の絶縁抵抗値および容量値をインタフ
ェース回路の直流による局給電機能を用いて測定する手
段を備える（請求項１）。SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, an ONU installed in a user's house or a feeder and an OSU installed in a telephone exchange are connected by an optical fiber transmission line to connect to an ONU. In the subscriber line test method of the optical subscriber transmission system for measuring the insulation resistance value and the capacitance value of the subscriber line, the insulation resistance value and the capacitance value of the metallic subscriber line are set in the interface circuit of the ONU by the direct current of the interface circuit. A means for measuring using the power supply function is provided (Claim 1).
【００２８】この手段として、被測定絶縁抵抗の判定し
きい値または被測定容量の判定しきい値に対応する電流
しきい値、電圧しきい値、時間しきい値をプリセット
し、測定される電流、電圧、時間と各しきい値との大小
関係をそれぞれ判定し、被測定絶縁抵抗値または被測定
容量値の良／否を表示する判定手段を備える（請求項
２）。As this means, a current threshold value, a voltage threshold value, and a time threshold value corresponding to the judgment threshold value of the insulation resistance to be measured or the judgment threshold value of the capacitance to be measured are preset, and the measured current is set. Further, there is provided a judging means for judging the magnitude relationship between the voltage, the time and each threshold value and displaying whether the measured insulation resistance value or the measured capacitance value is good or bad (claim 2).
【００２９】ＯＮＵに配備されている定電圧源の定電圧
値をＥ0 とし、判定手段には被測定絶縁抵抗値ＲMES に
対する判定しきい値をＲthとしたときに、Ｉth＝Ｅ0 ／
Ｒthで求まる電流しきい値Ｉthがプリセットされ、絶縁
抵抗測定時に定電圧源から流れる測定電流ＩMES と電流
しきい値Ｉthとの大小関係を２値判定し、被測定絶縁抵
抗値の良／否を表示する電流判定信号を出力する電流比
較器を備える（請求項３）。When the constant voltage value of the constant voltage source installed in the ONU is E 0 and the judgment threshold value for the insulation resistance value R MES to be measured is R th in the judging means, I th = E 0 /
The current threshold I th obtained by R th is preset, and the magnitude relation between the measured current I MES flowing from the constant voltage source and the current threshold I th at the time of measuring the insulation resistance is binary-determined to determine the insulation resistance value to be measured. A current comparator for outputting a current determination signal indicating pass / fail is provided (claim 3).
【００３０】ＯＮＵに配備されている定電圧源の定電圧
値をＥ0 とし、判定手段には、被測定容量値ＣMES に対
する判定しきい値をＣthとしたときに、メタリック加入
者線路の直流ループ抵抗よりも十分に大きく、絶縁抵抗
の判定しきい値Ｒthよりも小さい抵抗値Ｒ0 をもち、容
量測定時に定電圧源に直列に接続される抵抗と、インタ
フェース回路とメタリック加入者線路との測定対象接続
点間に接続され、定電圧値Ｅ0 以下の所定の電圧しきい
値Ｖthがプリセットされ、容量測定時に被測定接続点間
の測定電圧ＶMES が電圧しきい値Ｖthを上回ったときに
電圧判定信号を出力する電圧比較器と、容量測定開始時
に被測定容量の既充電電荷を放電させる手段と、Ｔth＝
−ＣthＲ0 ln(1−Ｖth／Ｅ0)で求まる時間しきい値Ｔth
がプリセットされ、放電後の容量測定開始から電圧比較
器の電圧判定信号が入力されるまでの測定時間ＴMES と
時間しきい値Ｔthとの大小関係を２値判定し、被測定容
量値の良／否を表示する時間比較器とを備える（請求項
４）。When the constant voltage value of the constant voltage source provided in the ONU is E 0 and the judgment threshold is C th for the measured capacitance value C MES , the judgment means determines the metallic subscriber line of the metallic subscriber line. A resistor having a resistance value R 0 that is sufficiently larger than the DC loop resistance and smaller than the insulation resistance judgment threshold value R th , and is connected in series to a constant voltage source during capacitance measurement, an interface circuit, and a metallic subscriber line. And a predetermined voltage threshold value V th of a constant voltage value E 0 or less is preset, and the measured voltage V MES between the measured connection points at the time of capacitance measurement is the voltage threshold value V th. A voltage comparator that outputs a voltage determination signal when the voltage exceeds the threshold, means for discharging the already-charged electric charge of the measured capacitance at the start of the capacitance measurement, and T th =
-C th R 0 ln (1-V th / E 0 ) Time threshold T th
Is preset, and the magnitude relationship between the measurement time T MES from the start of capacitance measurement after discharge to the input of the voltage determination signal of the voltage comparator and the time threshold value T th is binary-determined, and the measured capacitance value And a time comparator for displaying pass / fail (claim 4).
【００３１】ＯＮＵに、被測定絶縁抵抗値ＲMES に対す
る判定しきい値をＲthとしたときに、電圧値ＪMES Ｒth
が最大出力電圧値Ｅ0 以下となる任意の定電流値ＪMES
を出力定電流値とする定電流源が配備され、判定手段に
は、Ｖth＝ＪMES Ｒthで求まる電圧しきい値Ｖthがプリ
セットされ、絶縁抵抗測定時に定電流源の出力端子間に
生じる測定電圧ＶMES と電圧しきい値Ｖthとの大小関係
を２値判定し、被測定絶縁抵抗値の良／否を表示する電
圧判定信号を出力する電圧比較器を備える（請求項
５）。When the judgment threshold value for the measured insulation resistance value R MES is set to R th in the ONU, the voltage value J MES R th
Is a constant current value J MES at which the maximum output voltage value E 0 or less
Is provided as the output constant current value, and the determination means is preset with a voltage threshold V th obtained by V th = J MES R th , and between the output terminals of the constant current source when measuring the insulation resistance. A voltage comparator is provided which makes a binary decision on the magnitude relationship between the generated measurement voltage V MES and the voltage threshold value V th and outputs a voltage decision signal indicating whether the measured insulation resistance value is good or bad (claim 5). .
【００３２】ＯＮＵに同様の定電流源が配備され、判定
手段には被測定容量値ＣMES に対する判定しきい値をＣ
thとし、インタフェース回路とメタリック加入者線路と
の測定対象接続点間に接続され、最大出力電圧値Ｅ0 以
下の所定の電圧しきい値Ｖthがプリセットされ、容量測
定時に被測定接続点間の測定電圧ＶMES が電圧しきい値
Ｖthを上回ったときに電圧判定信号を出力する電圧比較
器と、容量測定開始時に被測定容量の既充電電荷を放電
させる手段と、Ｔth＝ＣthＶth／ＪMES で求まる時間し
きい値Ｔthがプリセットされ、放電後の容量測定開始か
ら電圧比較器の電圧判定信号が入力されるまでの測定時
間ＴMES と時間しきい値Ｔthとの大小関係を２値判定
し、被測定容量値の良／否を表示する時間比較器とを備
える（請求項６）。A similar constant current source is provided in the ONU, and the judgment threshold value for the measured capacitance value C MES is C.
is set to th and is connected between the connection points of the interface circuit and the metallic subscriber line to be measured, and a predetermined voltage threshold V th of the maximum output voltage value E 0 or less is preset, and between the connection points to be measured at the time of capacitance measurement. A voltage comparator that outputs a voltage determination signal when the measured voltage V MES exceeds the voltage threshold V th , a means for discharging the already-charged electric charge of the measured capacitance at the start of the capacitance measurement, and T th = C th V The time threshold T th calculated by th / J MES is preset, and the measurement time T MES from the start of capacitance measurement after discharge to the input of the voltage judgment signal of the voltage comparator and the time threshold T th are large or small. And a time comparator for judging whether the measured capacitance value is good or bad, according to a binary decision (claim 6).
【００３３】ＯＮＵのインタフェース回路内に、被測定
絶縁抵抗の判定しきい値に対応する抵抗値を有する参照
抵抗または被測定容量の判定しきい値に対応する容量値
を有する参照容量を備え、媒体試験開始時に、試験対象
のメタリック加入者線路をインタフェース回路から切り
離し、参照抵抗に流れる電流値を電流しきい値として、
また参照抵抗の端子間電圧を電圧しきい値として、また
参照容量の端子間電圧が所定の電圧しきい値を越えた時
間を時間しきい値として設定し、その後に試験対象のメ
タリック加入者線路とインタフェース回路とを接続し、
被測定絶縁抵抗値または被測定容量値の良／否判定に移
行する手段を備える（請求項７）。The interface circuit of the ONU is provided with a reference resistance having a resistance value corresponding to the judgment threshold value of the measured insulation resistance or a reference capacitance having a capacitance value corresponding to the judgment threshold value of the measured capacity, At the start of the test, disconnect the metallic subscriber line to be tested from the interface circuit and set the current value flowing in the reference resistor as the current threshold,
The voltage between the terminals of the reference resistor is set as the voltage threshold, and the time when the voltage between the terminals of the reference capacitor exceeds the specified voltage threshold is set as the time threshold, and then the metallic subscriber line to be tested is set. And interface circuit,
Means for shifting to the pass / fail judgment of the measured insulation resistance value or the measured capacitance value is provided (Claim 7).
【００３４】また、請求項３〜６に示す構成において、
媒体試験開始時に、試験対象のメタリック加入者線路を
インタフェース回路から切り離し、参照抵抗に流れる電
流値を電流しきい値として、また参照抵抗の端子間電圧
を電圧しきい値として、また参照容量の端子間電圧が所
定の電圧しきい値を越えた時間を時間しきい値として設
定し、その後に試験対象のメタリック加入者線路とイン
タフェース回路とを接続し、被測定絶縁抵抗値または被
測定容量値の良／否判定に移行する手段を備える（請求
項８〜１１）。Further, in the constitutions according to claims 3 to 6,
At the start of the medium test, the metallic subscriber line to be tested is disconnected from the interface circuit, the current value flowing in the reference resistance is used as the current threshold, the voltage between the terminals of the reference resistance is used as the voltage threshold, and the reference capacitance terminal is used. The time during which the inter-voltage exceeds the specified voltage threshold is set as the time threshold, and then the metallic subscriber line to be tested and the interface circuit are connected, and the measured insulation resistance value or measured capacitance value is Means for shifting to pass / fail judgment is provided (claims 8 to 11).
【００３５】ＯＮＵのインタフェース回路とＯＳＵに接
続される交換機との間で、呼制御のためにインタフェー
ス回路ごとに個別に常時設定されている制御チャネル内
に、インタフェース回路の局給電機能を用いて媒体試験
を行う手段の制御および結果表示する試験制御信号を付
加する（請求項１２）。交換機内の呼制御装置に、制御
チャネル内の試験制御信号を送受信する手段を備える
（請求項１３）。Between the ONU interface circuit and the exchange connected to the OSU, a medium is provided in the control channel which is always set individually for each interface circuit for call control by using the station power supply function of the interface circuit. A control means for performing the test and a test control signal for displaying the result are added (claim 12). The call control device in the exchange is provided with means for transmitting and receiving the test control signal in the control channel (claim 13).
【００３６】ＯＳＵと交換機との間に、時分割多重化信
号にチャネル単位でアクセス可能なチャネルアクセス装
置を接続し、媒体試験時にはＯＳＵと交換機間の時分割
多重化信号に割り込み、試験制御装置に接続して制御チ
ャネル内の試験制御信号を送受信する（請求項１４）。
チャネルアクセス装置が媒体試験時にＯＳＵと交換機間
の時分割多重化信号に割り込みを行ったときに、引き抜
かれた試験制御信号のタイムスロットにアイドルパタン
を挿入して交換機に伝達する（請求項１５）。A channel access device capable of accessing the time division multiplexed signal on a channel-by-channel basis is connected between the OSU and the exchange, and interrupts the time division multiplexed signal between the OSU and the exchange at the time of medium testing to cause the test control device to interrupt. The test control signal in the control channel is transmitted and received by connecting (claim 14).
When the channel access device interrupts the time division multiplexing signal between the OSU and the exchange during the medium test, the idle pattern is inserted into the time slot of the extracted test control signal and transmitted to the exchange (claim 15). .
【００３７】[0037]
【作用】本発明の光加入者伝送システムの加入者回線試
験方式では、インタフェース回路（ＩＯＣＵおよびＳＬ
ＩＣ）に、局給電機能（通信に必要な電力を信号を伝達
する通信線に重畳して直流で端末側に供給する機能）を
利用した媒体試験機能を付加する。これにより、ＯＮＵ
に個別に媒体試験器を備えなくても、メタリック加入者
線路の絶縁抵抗値および容量値を測定することができ
る。In the subscriber line test method of the optical subscriber transmission system of the present invention, the interface circuits (IOCU and SL
The IC) is provided with a medium test function using a station power supply function (a function of superimposing power necessary for communication on a communication line for transmitting a signal and supplying DC to the terminal side). This enables ONU
It is possible to measure the insulation resistance value and the capacitance value of the metallic subscriber line without separately providing a medium tester.
【００３８】インタフェース回路では、被測定絶縁抵抗
の判定しきい値または被測定容量の判定しきい値に対応
する電流しきい値、電圧しきい値、時間しきい値をプリ
セットし、測定される電流、電圧、時間と各しきい値と
の大小関係をそれぞれ判定する。これにより、判定しき
い値に対する被測定絶縁抵抗値または被測定容量値の良
／否を２値表示させることができる（請求項２〜６）。The interface circuit presets a current threshold value, a voltage threshold value, and a time threshold value corresponding to the judgment threshold value of the insulation resistance to be measured or the judgment threshold value of the capacitance to be measured, and measures the measured current. , Voltage, time and each threshold value are compared. This makes it possible to display the pass / fail of the measured insulation resistance value or the measured capacitance value with respect to the determination threshold in two values (claims 2 to 6).
【００３９】また、インタフェース回路内に、被測定絶
縁抵抗の判定しきい値に対応する抵抗値を有する参照抵
抗または被測定容量の判定しきい値に対応する容量値を
有する参照容量を備え、媒体試験開始時にそれらを測定
することにより、比較動作に用いる電流しきい値、電圧
しきい値、時間しきい値を学習記憶する。これにより、
インタフェース回路の定電圧源、定電流源の変動・偏
差、インタフェース回路の製造偏差による影響を回避で
き、被測定絶縁抵抗値または被測定容量値の良／否判定
精度を高めることができる。（請求項７〜１１）。Further, the interface circuit is provided with a reference resistance having a resistance value corresponding to the judgment threshold value of the insulation resistance to be measured or a reference capacitance having a capacitance value corresponding to the judgment threshold value of the measured capacitance, By measuring them at the start of the test, the current threshold value, the voltage threshold value, and the time threshold value used for the comparison operation are learned and stored. This allows
It is possible to avoid the influence of the fluctuations / deviations of the constant voltage source and the constant current source of the interface circuit and the manufacturing deviation of the interface circuit, and it is possible to improve the pass / fail determination accuracy of the measured insulation resistance value or the measured capacitance value. (Claims 7 to 11).
【００４０】呼制御のための制御チャネル内に、媒体試
験を行う手段の制御および結果表示する試験制御信号を
付加することにより、制御信号の送受および処理を容易
に行うことができる（請求項１２〜１５）。By adding the control of the means for performing the medium test and the test control signal for displaying the result in the control channel for the call control, the transmission and reception and the processing of the control signal can be easily performed. ~ 15).
【００４１】[0041]
（請求項１の説明）図１は、本発明の加入者回線試験方
式の第１実施例の構成を示す。図において、ＯＮＵ１０
０は、ＩＯＣＵ１１０およびＳＬＩＣ１２０にそれぞれ
媒体試験機能を付加したＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩ
Ｃｔ１２２を備える。また、ＩＯＣＵｔ信号１１３およ
びＳＬＩＣｔ信号１２３と多重化信号ハイウェイｔａ１
５３との間の多重分離処理を行うＭＵＸｃ１５２を備え
る。ＩＯＣＵｔ信号１１３はＩユーザ情報１１１ａとＩ
ｔ制御信号１１３ｂからなり、ＳＬＩＣｔ信号１２３は
Ａユーザ情報１２１ａとＡｔ制御信号１２３ｂからな
る。なお、ＭＵＸｃ１５２は、ＭＵＸａ１５０から媒体
試験信号１４１の多重分離機能と、伝送路異常表示ａ１
６１受信時のＩ制御信号１１１ｂおよびＡ制御信号１２
１ｂの下り信号への処理機能を削除したものである。(Explanation of Claim 1) FIG. 1 shows a configuration of a first embodiment of a subscriber line test system of the present invention. In the figure, ONU10
0 indicates IOCUt 112 and SLI which are obtained by adding a medium test function to IOCU 110 and SLIC 120, respectively.
Ct122 is provided. In addition, IOCUt signal 113 and SLICt signal 123 and multiplexed signal highway ta1
The MUXc 152 for performing the demultiplexing processing with the MUX 53 is provided. The IOCUt signal 113 includes the I user information 111a and the I user information 111a.
t control signal 113b, and SLICt signal 123 includes A user information 121a and At control signal 123b. The MUXc 152 has a function of demultiplexing the medium test signal 141 from the MUXa 150 and a transmission line abnormality display a1.
61 I control signal 111b and A control signal 12 upon reception
The processing function for the downlink signal of 1b is deleted.
【００４２】電話交換局３００は、試験制御装置ａ３３
０と交換機３２０内の呼制御装置３２５に代えて、交換
機３２０内に、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２
２に内蔵される媒体試験機能の制御・結果受信機能を有
する媒体試験制御機能付呼制御装置３２８を備える。ま
た、ＩＯＣＵｔ信号１１３およびＳＬＩＣｔ信号１２３
が時分割多重化される多重化信号ハイウェイｔｂ３１３
と、多重化信号ハイウェイｃ３２２および多重化信号ハ
イウェイｔｄ３２６との間の多重分離処理を行うＭＵＸ
ｄ３２７を備える。多重化信号ハイウェイｔｄ３２６
は、Ｉｔ制御信号１１３ｂとＡｔ制御信号１２３ｂを時
分割多重化し、媒体試験制御機能付呼制御装置３２８に
接続される。なお、ＭＵＸｄ３２７は、ＭＵＸｂ３２１
から伝送路異常表示ｂ３１６受信時のＩ制御信号１１１
ｂおよびＡ制御信号１２１ｂの上り信号への処理機能を
削除したものである。The telephone exchange 300 has a test controller a33.
0 and the call control device 325 in the exchange 320, instead of the IOCUt 112 and the SLICt 12 in the exchange 320.
2 is provided with a call control device 328 with a medium test control function, which has a control function and a result receiving function of the medium test function. In addition, IOCUt signal 113 and SLICt signal 123
Multiplexed highway tb 313 in which is time-division multiplexed.
And MUX that performs demultiplexing processing between the multiplexed signal highway c322 and the multiplexed signal highway td326.
d327 is provided. Multiplexed signal highway td326
Is time-division multiplexed with the It control signal 113b and the At control signal 123b, and is connected to the call control device 328 with the medium test control function. The MUXd327 is the MUXb321.
From the transmission path error display b316 from the I control signal 111
The processing function for processing the upstream signals of the b and A control signals 121b is deleted.
【００４３】その他の構成は、図１１に示す従来の光加
入者伝送システムの各部と同様である。従来の媒体試験
器１４０による測定動作は、上述したように直流を用い
た単純な原理に基づいている。一方、ＩＯＣＵ１１０お
よびＳＬＩＣ１２０が局給電機能（通信に必要な電力を
信号を伝達する通信線に重畳して直流で端末側（ＩＤＳ
Ｕ１１またはＡ端末２０側）に供給する機能）を有して
いる場合には、媒体試験に必要とされるハードウェアの
主要部分、すなわちメタリック加入者線路４０への直流
電流供給機能、直流電流が流れていることの判定機能、
それらの機能実現に必要なスイッチ回路等は具備されて
いる。したがって、ＩＯＣＵ１１０およびＳＬＩＣ１２
０に、媒体試験制御機能付呼制御装置３２８との間でＩ
ｔ制御信号１１３ｂ、Ａｔ制御信号１２３ｂを送受し、
媒体試験に必要な各機能を制御する媒体試験機能を付加
することにより、媒体試験器１４０をＯＮＵ１００に設
置する必要がなくなる。ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩ
Ｃｔ１２２はこのような媒体試験機能を内蔵するもので
ある。Other configurations are the same as those of the conventional optical subscriber transmission system shown in FIG. The measurement operation by the conventional medium tester 140 is based on the simple principle using direct current as described above. On the other hand, the IOCU 110 and the SLIC 120 have a station power feeding function (power necessary for communication is superposed on a communication line for transmitting a signal, and DC power is applied to the terminal side (IDS
U11 or A terminal 20 side)), the main part of the hardware required for the medium test, that is, the direct current supply function to the metallic subscriber line 40, the direct current is Flowing judgment function,
A switch circuit and the like necessary for realizing those functions are provided. Therefore, IOCU110 and SLIC12
0 to the call control device with media test control function 328.
The t control signal 113b and At control signal 123b are transmitted and received,
By adding the medium test function for controlling each function required for the medium test, it is not necessary to install the medium tester 140 in the ONU 100. IOCUt112 and SLI
The Ct 122 incorporates such a medium test function.
【００４４】図２は、本発明の加入者回線試験方式の第
２実施例の構成を示す。図において、ＯＮＵ１００は第
１実施例と同様であり、媒体試験機能を付加したＩＯＣ
Ｕｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２が備えられる。電話
交換局３００の構成が第１実施例と異なる。すなわち、
ＯＳＵ３１０とＭＵＸｄ３２７との間にチャネルアクセ
ス装置３４０を配置し、チャネルアクセス装置３４０に
接続される試験制御装置ｂ３３１を備える。FIG. 2 shows the configuration of the second embodiment of the subscriber line test system of the present invention. In the figure, the ONU 100 is the same as that of the first embodiment, and an IOC with a medium test function added.
A Ut 112 and a SLICt 122 are provided. The configuration of the telephone exchange 300 is different from that of the first embodiment. That is,
The channel access device 340 is arranged between the OSU 310 and the MUXd 327, and the test control device b331 connected to the channel access device 340 is provided.
【００４５】チャネルアクセス装置３４０は、多重化信
号ハイウェイｔｂ３１３から、ＩＯＣＵｔ信号１１３ま
たはＳＬＩＣｔ信号１２３を試験信号ハイウェイｂ３１
４に多重分離して試験制御装置ｂ３３１に接続する機
能、ＩＯＣＵｔ信号１１３またはＳＬＩＣｔ信号１２３
が抜けたタイムスロットにアイドルパタンを挿入する機
能、試験命令がない場合には多重化信号ハイウェイｂ３
１３の全信号と多重化信号ハイウェイｅ３１５をトラン
スペアレントにコネクトスルーする機能を有する。The channel access device 340 sends the IOCUt signal 113 or the SLICt signal 123 from the multiplexed signal highway tb313 to the test signal highway b31.
A function of demultiplexing into 4 and connecting to the test control device b331, IOCUt signal 113 or SLICt signal 123
Function to insert an idle pattern into a time slot that has been missed, multiplexed signal highway b3 if there is no test instruction
It has a function of transparently connecting all 13 signals and the multiplexed signal highway e315.
【００４６】（請求項２の説明）ＩＯＣＵｔ１１２およ
びＳＬＩＣｔ１２２に比較器を備え、被測定絶縁抵抗の
判定しきい値または被測定容量の判定しきい値に対応し
てプリセットされる電流しきい値、電圧しきい値、時間
しきい値と、測定される電流、電圧、時間との大小関係
を判定する。これにより、被測定絶縁抵抗値または被測
定容量値の良／否を判定することができる。このような
２値判定の場合には比較器で対応できるので、ＩＯＣＵ
ｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２に付加するハードウェ
ア規模の増加を最小限に抑えることができる。(Explanation of Claim 2) IOCUt 112 and SLICt 122 are provided with comparators, and the current threshold value and voltage preset corresponding to the judgment threshold value of the insulation resistance to be measured or the judgment threshold value of the capacitance to be measured are preset. The magnitude relationship between the threshold value and the time threshold value and the measured current, voltage, and time is determined. Thereby, it is possible to determine whether the measured insulation resistance value or the measured capacitance value is good or bad. The comparator can handle such binary judgment, so IOCU
It is possible to minimize an increase in the scale of hardware added to t112 and SLICt122.
【００４７】（請求項３の説明）図３は、絶縁抵抗試験
に対応する判定手段の第１実施例の構成を示す。図にお
いて、局給電のために定電圧値Ｅ0 とした定電圧源４０
０が、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２に配備
されているものとする。これは内蔵または外部供給のい
ずれの形態でもよい。なお、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳ
ＬＩＣｔ１２２内に局給電のための定電流源が配備され
ているときに、定電流源をその最大出力電圧に保持して
試験を実施する場合、または高抵抗負荷のために結果と
して最大出力電圧状態で試験が実施される場合には、こ
の定電流源の最大出力電圧値をＥ0 として定電圧源によ
る媒体試験と見なすことができる。(Explanation of Claim 3) FIG. 3 shows the structure of a first embodiment of the judging means corresponding to the insulation resistance test. In the figure, a constant voltage source 40 having a constant voltage value E 0 for station power feeding.
0 is deployed in IOCUt 112 and SLICt 122. It may be either internal or externally supplied. IOCUt 112 and S
When a test is carried out with the constant current source held at its maximum output voltage when a constant current source for station power supply is provided in the LICt 122, or as a result of the high resistance load, the maximum output voltage condition occurs. When the test is carried out in (1), the maximum output voltage value of this constant current source can be regarded as a medium test by the constant voltage source with E 0 .
【００４８】ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２
と、メタリック加入者線路４０の測定対象となるＡ線−
Ｂ線間、Ａ線−Ｇ間、Ｂ線−Ｇ間との接続点を測定対象
接続点４３とする。なお、Ａ線−Ｂ線間が測定対象とな
る場合には通信時と同一の接続形態でよいが、Ａ線−Ｇ
間、Ｂ線−Ｇ間を測定する場合には、測定対象接続点４
３に図では省略されている切替スイッチを設け、測定対
象の線を接続変更する機能が必要となる。以下に示す各
実施例においても同様である。IOCUt 112 and SLICt 122
And the A line to be measured on the metallic subscriber line 40-
The connection points between the B lines, between the A lines and G, and between the B lines and G are referred to as measurement target connection points 43. In addition, when the measurement target is between the A line and the B line, the same connection form as that at the time of communication may be used.
Measuring point, when measuring between line B and line G
3, a changeover switch not shown in the figure is provided, and a function of changing the connection of the line to be measured is required. The same applies to each of the examples described below.
【００４９】所定の電流しきい値Ｉthがプリセットされ
る電流比較器ａ４０３は、定電圧源４００と測定対象接
続点４３との間に挿入され、絶縁抵抗試験時に定電圧源
４００からメタリック加入者線路４０に流れる測定電流
ＩMES を判定する。ここで、メタリック加入者線路４０
の被測定絶縁抵抗値をＲMES とし、その判定しきい値を
Ｒthとしたときに、ＲMES ＞Ｒthの場合を良判定、Ｒ
MES ＜Ｒthの場合を否判定とする。なお、Ａ線−Ｂ線
間、Ａ線−Ｇ間、Ｂ線−Ｇ間の試験で異なる判定しきい
値Ｒthを設定してもよい。The current comparator a 403, to which a predetermined current threshold value I th is preset, is inserted between the constant voltage source 400 and the connection point 43 to be measured, and is connected from the constant voltage source 400 to the metallic subscriber during the insulation resistance test. The measured current I MES flowing in the line 40 is determined. Here, the metallic subscriber line 40
When the measured insulation resistance value of R MES is R MES and the judgment threshold value thereof is R th , a good judgment is made when R MES > R th , R
The case of MES <R th is determined as a failure determination. Note that different determination threshold values Rth may be set in the tests between the A line and the B line, between the A line and the G, and between the B line and the G.
【００５０】電流比較器ａ４０３にプリセットされる電
流しきい値ＩthはＩth＝Ｅ0 ／Ｒthで求まる値である。
絶縁抵抗測定時には、定電圧源４００からメタリック加
入者線路４０に流れる測定電流ＩMES と電流しきい値Ｉ
thとの大小関係を２値判定する。ここで、電流比較信号
４０４は、ＩMES ＜Ｉthのときには例えば“１”を出力
して良判定（ＲMES ＞Ｒth）を表示する。また、ＩMES
＞Ｉthのときには例えば“０”を出力して否判定（Ｒ
MES ＜Ｒth）を表示する。The current threshold value I th preset in the current comparator a403 is a value obtained by I th = E 0 / R th .
At the time of measuring the insulation resistance, the measurement current I MES flowing from the constant voltage source 400 to the metallic subscriber line 40 and the current threshold I
Binary decision is made on the magnitude relationship with th . Here, the current comparison signal 404 outputs, for example, “1” when I MES <I th to display a good judgment (R MES > R th ). Also, I MES
When> I th , for example, "0" is output to determine whether or not the
Display MES <R th ).
【００５１】（請求項４の説明）図４は、容量試験に対
応する判定手段の第１実施例の構成を示す。図におい
て、定電圧値Ｅ0 の定電圧源４００は、図３の場合と同
様にＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２に局給電
のために配備されているものとする。抵抗（Ｒ0)４１１
は、定電圧源４００とメタリック加入者線路４０との間
に直列に挿入され、かつ抵抗４１１をバイパスする短絡
スイッチ４１２が接続される。抵抗値Ｒ0 は、メタリッ
ク加入者線路４０の直流ループ抵抗（例えば０〜1500
Ω）よりも十分に大きく、かつ絶縁抵抗の判定しきい値
Ｒth（例えば 100ｋΩ）よりも小さい値（例えば数10ｋ
Ω）設定される。(Explanation of Claim 4) FIG. 4 shows the construction of a first embodiment of the judging means corresponding to the capacity test. In the figure, it is assumed that the constant voltage source 400 having a constant voltage value E 0 is provided in the IOCUt 112 and the SLICt 122 for local power supply, as in the case of FIG. Resistance (R 0 ) 411
Is connected in series between the constant voltage source 400 and the metallic subscriber line 40, and is connected to a short circuit switch 412 that bypasses the resistor 411. The resistance value R 0 is the DC loop resistance (for example, 0 to 1500) of the metallic subscriber line 40.
Ω) and a value (eg several tens of k) smaller than the insulation resistance judgment threshold value R th (eg 100 kΩ).
Ω) is set.
【００５２】電圧比較器ａ４１０は、抵抗４１１の出力
点で測定対象接続点４３間に接続される。電圧比較器ａ
４１０には定電圧値Ｅ0 以下の所定の電圧しきい値Ｖth
がプリセットされ、容量測定時に被測定接続点４０間の
測定電圧（被測定容量の端子間電圧）ＶMES が電圧しき
い値Ｖthを上回ったときに電圧比較信号４０７を出力す
る。The voltage comparator a410 is connected between the measurement object connection points 43 at the output point of the resistor 411. Voltage comparator a
At 410, a predetermined voltage threshold value V th of a constant voltage value E 0 or less
Is preset, and the voltage comparison signal 407 is output when the measured voltage (voltage between terminals of the measured capacitance) V MES between the measured connection points 40 exceeds the voltage threshold V th during capacitance measurement.
【００５３】所定の時間しきい値Ｔthがプリセットされ
る時間比較器ａ４０５は、測定対象接続点４３間を短絡
する放電スイッチ４０９に放電スイッチ駆動信号４０６
を送出し、電圧比較器ａ４１０から出力される電圧比較
信号４０７を入力し、時間比較信号４０８を出力する。
なお、時間比較器ａ４０５は、ＩＯＣＵｔ１１２および
ＳＬＩＣｔ１２２に内蔵させてもよく、また図１の構成
では媒体試験制御機能付呼制御装置３２８、図２の構成
では試験制御装置ｂ３３１に備えてもよい。The time comparator a 405, to which the predetermined time threshold value T th is preset, supplies the discharge switch drive signal 406 to the discharge switch 409 which short-circuits the connection points 43 to be measured.
, The voltage comparison signal 407 output from the voltage comparator a410 is input, and the time comparison signal 408 is output.
The time comparator a405 may be incorporated in the IOCUt 112 and the SLICt 122, or may be provided in the medium test control function-equipped call control device 328 in the configuration of FIG. 1 and the test control device b331 in the configuration of FIG.
【００５４】ここで、メタリック加入者線路４０の被測
定容量値をＣMES とし、その判定しきい値をＣthとした
ときに、ＣMES ＞Ｃthの場合を良判定、ＣMES ＜Ｃthの
場合を否判定とする。なお、Ａ線−Ｂ線間、Ａ線−Ｇ
間、Ｂ線−Ｇ間の試験で異なる判定しきい値Ｃthを設定
してもよい。定電圧源４００から抵抗（Ｒ0)４１１を介
して流れる測定電流ＩMES により被測定容量ＣMES を充
電する場合に、測定電圧ＶMES が０〔Ｖ〕からＶ
th〔Ｖ〕に充電されるまでの時間をＴMES とすると、 ＣMES ＝−ＴMES／｛Ｒ0 ln(１−Ｖth／Ｅ0)｝ の関係がある。したがって、時間比較器ａ４０５にプリ
セットされる時間しきい値Ｔthは、 Ｔth＝−ＣthＲ0 ln(１−Ｖth／Ｅ0) により求められる。Here, when the measured capacitance value of the metallic subscriber line 40 is C MES and the judgment threshold value is C th , a good judgment is made when C MES > C th , and C MES <C th In the case of, the judgment is made. In addition, between A line-B line, A line-G
Alternatively, different judgment threshold values C th may be set in the B line-G test. When the measured capacitance C MES is charged by the measurement current I MES flowing from the constant voltage source 400 through the resistor (R 0 ) 411, the measurement voltage V MES changes from 0 [V] to V.
Letting T MES be the time until charging to th [V], there is a relationship of C MES = −T MES / {R 0 ln (1-V th / E 0 )}. Therefore, the time threshold value T th preset in the time comparator a405 is calculated by T th = −C th R 0 ln (1-V th / E 0 ).
【００５５】容量測定時には、短絡スイッチ４１２をオ
フさせることにより抵抗４１１を定電圧源４００に直列
に接続する。電圧比較器ａ４１０は、抵抗４１１の出力
点で測定対象接続点４３間の測定電圧ＶMES を監視す
る。時間比較器ａ４０５は、放電スイッチ駆動信号４０
６で測定対象接続点４３間に接続される放電スイッチ４
０９をオンさせ、被測定容量ＣMES の既充電電荷を放電
させて測定ＶMES を０〔Ｖ〕とする。その後、時間比較
器ａ４０５は放電スイッチ駆動信号４０６で放電スイッ
チ４０９をオフさせ、この時点から時間計測を開始す
る。一方、被測定容量ＣMES は、メタリック加入者線路
４０に流れる測定電流ＩMES により充電が開始される。At the time of capacitance measurement, the short-circuit switch 412 is turned off to connect the resistor 411 to the constant voltage source 400 in series. The voltage comparator a410 monitors the measurement voltage V MES between the measurement object connection points 43 at the output point of the resistor 411. The time comparator a405 has a discharge switch drive signal 40
Discharge switch 4 connected between measurement object connection points 43 at 6
09 is turned on to discharge the already-charged electric charge of the measured capacitance C MES and set the measured V MES to 0 [V]. After that, the time comparator a405 turns off the discharge switch 409 by the discharge switch drive signal 406, and starts the time measurement from this point. On the other hand, the measured capacitance C MES is started to be charged by the measurement current I MES flowing through the metallic subscriber line 40.
【００５６】時間比較器ａ４０５は、電圧比較器４１０
から出力される電圧比較信号４０７により、測定電圧Ｖ
MES が電圧しきい値Ｖthを上回ったことを通知された時
点で時間計測を停止し、この時間を測定時間ＴMES とし
て時間しきい値Ｔthとの大小関係を２値判定する。ここ
で時間比較信号４０８は、ＴMES ＞Ｔthのときには例え
ば“１”を出力して良判定（ＣMES ＞Ｃth）を表示す
る。また、ＴMES ＜Ｔthのときには例えば“０”を出力
して否判定（ＣMES ＜Ｃth）を表示する。The time comparator a 405 is a voltage comparator 410.
From the voltage comparison signal 407 output from the
When it is notified that MES has exceeded the voltage threshold value V th , the time measurement is stopped, and this time is used as the measurement time T MES , and the magnitude relationship with the time threshold value T th is binary-determined. Here, the time comparison signal 408 outputs, for example, "1" when T MES > T th to display a good judgment (C MES > C th ). Further, when T MES <T th , for example, “0” is output to display the rejection judgment (C MES <C th ).
【００５７】（請求項５の説明）図５は、絶縁抵抗試験
に対応する判定手段の第２実施例の構成を示す。図にお
いて、局給電のために定電流値Ｊ0 、最大出力電圧値Ｅ
0 とした定電流源５００が、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳ
ＬＩＣｔ１２２に配備（内蔵または外部供給）されてい
るものとする。所定の電圧しきい値Ｖthがプリセットさ
れる電圧比較器ｂ５０３は、測定対象接続点４３間（定
電流源５００の出力端子間）に接続される。(Explanation of Claim 5) FIG. 5 shows the construction of a second embodiment of the judging means corresponding to the insulation resistance test. In the figure, a constant current value J 0 and a maximum output voltage value E for station power supply
The constant current source 500 set to 0 is IOCUt 112 and S
It is assumed that the LICt 122 is installed (built-in or externally supplied). The voltage comparator b503 to which a predetermined voltage threshold value V th is preset is connected between the measurement target connection points 43 (between the output terminals of the constant current source 500).
【００５８】ここで、メタリック加入者線路４０の被測
定絶縁抵抗値をＲMES とし、その判定しきい値をＲthと
したときに、ＲMES ＞Ｒthの場合を良判定、ＲMES ＜Ｒ
thの場合を否判定とする。なお、Ａ線−Ｂ線間、Ａ線−
Ｇ間、Ｂ線−Ｇ間の試験で異なる判定しきい値Ｒthを設
定してもよい。定電流源５００は、電圧値ＪMES Ｒthが
最大出力電圧値Ｅ0 以下となる任意の定電流値ＪMES を
出力定電流値とする。すなわち、絶縁抵抗試験時に、定
電流源５００の出力定電流値がＪ0 からＪMES に変更さ
れるようにする。このＪMES を測定電流とする。電圧比
較器ｂ５０３には、Ｖth＝ＪMES Ｒthで求まる電圧しき
い値Ｖthがプリセットされる。絶縁抵抗測定時には、定
電流源５００の出力端子間電圧である測定対象接続点４
３間の測定電圧ＶMES を監視し、測定電流ＪMESが流れ
ているときに、電圧しきい値Ｖthとの大小関係を２値判
定する。ここで、電圧比較信号４０７は、ＶMES ＞Ｖth
のときには例えば“１”を出力して良判定（ＲMES ＞Ｒ
th）を表示する。また、ＶMES ＜Ｖthのときには例えば
“０”を出力して否判定（ＲMES ＜Ｒth）を表示する。Here, when the measured insulation resistance value of the metallic subscriber line 40 is R MES and the judgment threshold value thereof is R th , a good judgment is made when R MES > R th , and R MES <R
The case of th is determined as a rejection . In addition, between A line-B line, A line-
Different judgment threshold values R th may be set in the G test and the B line-G test. The constant current source 500 sets an arbitrary constant current value J MES at which the voltage value J MES R th is the maximum output voltage value E 0 or less as an output constant current value. That is, during the insulation resistance test, the output constant current value of the constant current source 500 is changed from J 0 to J MES . This J MES is the measured current. The voltage comparator b503 is preset with a voltage threshold V th obtained by V th = J MES R th . At the time of measuring the insulation resistance, the measured connection point 4 which is the voltage between the output terminals of the constant current source 500
The measurement voltage V MES between 3 is monitored, and when the measurement current J MES is flowing, the magnitude relation with the voltage threshold V th is binary-determined. Here, the voltage comparison signal 407 is V MES > V th
In the case of, for example, "1" is output and a good judgment (R MES > R
th ) is displayed. When V MES <V th , for example, “0” is output to display the rejection determination (R MES <R th ).
【００５９】（請求項６の説明）図６は、容量試験に対
応する判定手段の第２実施例の構成を示す。図におい
て、定電流源５００は、図５の場合と同様に測定電流Ｊ
MES への定電流値変更機能をもち、ＩＯＣＵｔ１１２お
よびＳＬＩＣｔ１２２に局給電のために配備されている
ものとする。(Explanation of Claim 6) FIG. 6 shows the structure of a second embodiment of the judging means corresponding to the capacity test. In the figure, the constant current source 500 is the same as the case of FIG.
It has a function of changing the constant current value to MES , and is assumed to be provided for IOCUt 112 and SLICt 122 for station power supply.
【００６０】電圧比較器ａ４１０は測定対象接続点４３
間に接続される。電圧比較器ａ４１０には、定電流源５
００の最大出力電圧値Ｅ0 以下の所定の電圧しきい値Ｖ
th（電圧比較器ｂ５０３の電圧しきい値Ｖthでもよい）
がプリセットされ、容量測定時に被測定接続点４０間の
測定電圧（被測定容量の端子間電圧）ＶMES が電圧しき
い値Ｖthを上回ったときに電圧比較信号４０７を出力す
る。The voltage comparator a410 is connected to the connection point 43 of the measuring object.
Connected in between. The voltage comparator a410 includes a constant current source 5
A predetermined voltage threshold value V that is less than or equal to the maximum output voltage value E 0 of 00
th (may be the voltage threshold V th of the voltage comparator b503)
Is preset, and the voltage comparison signal 407 is output when the measured voltage (voltage between terminals of the measured capacitance) V MES between the measured connection points 40 exceeds the voltage threshold V th during capacitance measurement.
【００６１】所定の時間しきい値Ｔth（＝ＣthＶth／Ｊ
MES ）がプリセットされる時間比較器ｂ５０４は、測定
対象接続点４３間を短絡する放電スイッチ４０９に放電
スイッチ駆動信号４０６を送出し、電圧比較器ａ４１０
から出力される電圧比較信号４０７を入力し、時間比較
信号４０８を出力する。なお、時間比較器ｂ５０４は、
ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２に内蔵させて
もよく、また図１の構成では媒体試験制御機能付呼制御
装置３２８、図２の構成では試験制御装置ｂ３３１に備
えてもよい。Predetermined time threshold value T th (= C th V th / J
The time comparator b504 in which MES ) is preset sends the discharge switch drive signal 406 to the discharge switch 409 that short-circuits the connection points 43 to be measured, and the voltage comparator a410.
The voltage comparison signal 407 output from is input and the time comparison signal 408 is output. The time comparator b504 is
It may be incorporated in the IOCUt 112 and the SLICt 122, or may be provided in the call control device with medium test control function 328 in the configuration of FIG. 1 and the test control device b331 in the configuration of FIG.
【００６２】ここで、メタリック加入者線路４０の被測
定容量値をＣMES とし、その判定しきい値をＣthとした
ときに、ＣMES ＞Ｃthの場合を良判定、ＣMES ＜Ｃthの
場合を否判定とする。なお、Ａ線−Ｂ線間、Ａ線−Ｇ
間、Ｂ線−Ｇ間の試験で異なる判定しきい値Ｃthを設定
してもよい。容量測定時の動作は図４に示す第１実施例
と同様であり、時間比較器ｂ５０４の測定時間ＴMES と
時間しきい値Ｔthとの大小関係が２値判定される。ここ
で時間比較信号４０８は、ＴMES ＞Ｔthのときには例え
ば“１”を出力して良判定（ＣMES ＞Ｃth）を表示す
る。また、ＴMES ＜Ｔthのときには例えば“０”を出力
して否判定（ＣMES ＜Ｃth）を表示する。Here, when the measured capacitance value of the metallic subscriber line 40 is C MES and the judgment threshold value is C th , a good judgment is made when C MES > C th , and C MES <C th In the case of, the judgment is made. In addition, between A line-B line, A line-G
Alternatively, different judgment threshold values C th may be set in the B line-G test. The operation at the time of capacitance measurement is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 4, and the magnitude relation between the measurement time T MES of the time comparator b504 and the time threshold value T th is binary-determined. Here, the time comparison signal 408 outputs, for example, "1" when T MES > T th to display a good judgment (C MES > C th ). Further, when T MES <T th , for example, “0” is output to display the rejection judgment (C MES <C th ).
【００６３】（請求項７の説明）図３〜図６に示す構成
では、電流しきい値Ｉth、電圧しきい値Ｖth、時間しき
い値Ｔthが各比較器にプリセットされる。この場合、Ｉ
ＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２に配備される定
電圧源の電圧変動・偏差、定電流源の場合には電流値の
変動・偏差、さらにＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ
１２２の製造偏差等により、プリセットのしきい値に偏
差が生じ、これが原因で結果評定に十分な精度が得られ
ない場合がある。(Explanation of Claim 7) In the structure shown in FIGS. 3 to 6, the current threshold value I th , the voltage threshold value V th and the time threshold value T th are preset in each comparator. In this case, I
Voltage fluctuations / deviations of constant voltage sources provided in the OCUt 112 and SLICt 122, fluctuations / deviations of current values in the case of a constant current source, and IOCUt 112 and SLICt.
There may be a deviation in the preset threshold value due to the manufacturing deviation of 122 or the like, and due to this, sufficient accuracy may not be obtained for the result evaluation.
【００６４】これに対処するために、被測定絶縁抵抗の
判定しきい値に対応する抵抗値を有する参照抵抗または
被測定容量の判定しきい値に対応する容量値を有する参
照容量をＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２に内
蔵する。そして、上述したメタリック加入者線路４０に
対する測定方法と同様の方法で、参照抵抗に流れる電流
値、参照抵抗の端子間電圧、参照容量の端子間電圧が所
定の電圧しきい値を越えた時間をそれぞれ測定する。こ
の測定結果をもとに電流しきい値Ｉth、電圧しきい値Ｖ
th、時間しきい値Ｔthを設定することにより、各種変動
・偏差に対応することができる。To deal with this, a reference resistance having a resistance value corresponding to the judgment threshold value of the measured insulation resistance or a reference capacitor having a capacitance value corresponding to the judgment threshold value of the measured capacitance is used as IOCUt 112 and SLICt 122. Built in. Then, the time when the current value flowing through the reference resistance, the terminal voltage of the reference resistance, and the terminal voltage of the reference capacitor exceeds a predetermined voltage threshold value is measured by the same method as the above-described measuring method for the metallic subscriber line 40. Measure each. Based on this measurement result, the current threshold I th and the voltage threshold V
By setting th and time threshold value T th , it is possible to deal with various fluctuations and deviations.
【００６５】以下、各しきい値の学習機能を有する比較
器を用いる構成について説明する。図７に示す電流比較
器ｂ６０５は、図３に示す電流比較器ａ４０３に対応
し、図８に示す時間比較器ｃ６０９は、図４に示す時間
比較器ａ４０５に対応し、図９に示す電圧比較器ｃ７０
０は、図５に示す電流比較器ｂ５０３に対応し、図１０
に示す時間比較器ｃ６０９は、図６に示す時間比較器ｂ
５０４に対応する。The configuration using the comparator having the learning function for each threshold will be described below. The current comparator b605 shown in FIG. 7 corresponds to the current comparator a403 shown in FIG. 3, the time comparator c609 shown in FIG. 8 corresponds to the time comparator a405 shown in FIG. 4, and the voltage comparison shown in FIG. Bowl c70
0 corresponds to the current comparator b503 shown in FIG.
The time comparator c609 shown in FIG. 6 is the time comparator b shown in FIG.
Corresponding to 504.
【００６６】（請求項８の説明）図７は、絶縁抵抗試験
に対応する判定手段の第３実施例の構成を示す。図にお
いて、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２内に、
電流比較器ｂ６０５から出力されるスイッチ駆動信号６
０１によりメタリック加入者線路４０を切り離すための
スイッチ６００が設けられる。また、被測定絶縁抵抗Ｒ
MES の判定しきい値Ｒthに等しい抵抗値を有する参照抵
抗６０４と、電流比較器ｂ６０５から出力されるスイッ
チ駆動信号６０３により参照抵抗６０４を測定系（測定
対象接続点４３間）に接続するためのスイッチ６０２が
設けられる。(Explanation of Claim 8) FIG. 7 shows the construction of a third embodiment of the judging means corresponding to the insulation resistance test. In the figure, in IOCUt 112 and SLICt 122,
Switch drive signal 6 output from the current comparator b605
A switch 600 for disconnecting the metallic subscriber line 40 by 01 is provided. Also, the measured insulation resistance R
To connect the reference resistor 604 having a resistance value equal to the MES determination threshold value R th and the reference resistor 604 to the measurement system (between the connection points 43 to be measured) by the switch drive signal 603 output from the current comparator b605. Switch 602 is provided.
【００６７】絶縁抵抗試験開始時に、スイッチ６００を
オフさせてメタリック加入者線路４０を測定系から切り
離し、かつスイッチ６０２をオンさせて参照抵抗６０４
を測定系に接続する。ここで、電流比較器ｂ６０５は、
図３（第１実施例）で説明した手順に従って動作し、参
照抵抗６０４に流れる電流値を測定して電流しきい値Ｉ
thとして学習記憶する。その後、スイッチ６０２をオフ
させて参照抵抗６０４を測定系から切り離し、スイッチ
６００をオンさせてメタリック加入者線路４０を測定系
に接続する。以上の手順により、電流比較器ｂ６０５に
参照抵抗６０４の抵抗値Ｒthに対応する電流しきい値Ｉ
thを設定することができる。At the start of the insulation resistance test, the switch 600 is turned off to disconnect the metallic subscriber line 40 from the measurement system, and the switch 602 is turned on to turn on the reference resistance 604.
To the measurement system. Here, the current comparator b605 is
It operates according to the procedure described in FIG. 3 (first embodiment), the value of the current flowing through the reference resistor 604 is measured, and the current threshold I
Learn and memorize as th . After that, the switch 602 is turned off to disconnect the reference resistor 604 from the measurement system, and the switch 600 is turned on to connect the metallic subscriber line 40 to the measurement system. Through the above procedure, the current threshold value I th corresponding to the resistance value R th of the reference resistor 604 is applied to the current comparator b605.
You can set th .
【００６８】その後の絶縁抵抗試験は図３（第１実施
例）で説明した手順に従って行われ、定電圧源４００か
らメタリック加入者線路４０に流れる測定電流ＩMES と
電流しきい値Ｉthとの大小関係を２値判定し、被測定絶
縁抵抗ＲMES の良／否が判定される。なお、参照抵抗６
０４は、被測定絶縁抵抗ＲMES の判定しきい値Ｒthに等
しい抵抗値を有するとしたが、電流比較器ｂ６０５で電
流しきい値Ｉthの比例関係を利用する場合には、参照抵
抗６０４の抵抗値はその比例関係をもって設定される。The subsequent insulation resistance test is performed according to the procedure described in FIG. 3 (first embodiment), and the measured current I MES flowing from the constant voltage source 400 to the metallic subscriber line 40 and the current threshold I th are measured. The magnitude relationship is binary-determined to determine whether the measured insulation resistance R MES is good or bad . The reference resistor 6
04 has a resistance value equal to the judgment threshold value R th of the measured insulation resistance R MES , but when the proportional relationship of the current threshold value I th is used in the current comparator b605, the reference resistance 604 is used. The resistance value of is set in the proportional relationship.
【００６９】また、図７の構成では、スイッチ駆動信号
６０１，６０３が電流比較器ｂ６０５から発せられる場
合を示したが、下り方向のＩｔ制御信号１１３ｂおよび
Ａｔ制御信号１２３ｂを用いて、図１の構成では媒体試
験制御機能付呼制御装置３２８から、図２に示す構成で
は試験制御装置ｂ３３１から発せられるようにしてもよ
い。Further, in the configuration of FIG. 7, the case where the switch drive signals 601 and 603 are issued from the current comparator b605 is shown, but the It control signal 113b and At control signal 123b in the down direction are used to output the signal of FIG. In the configuration, the call control device 328 with the medium test control function may be used, and in the configuration shown in FIG. 2, the test control device b331 may be used.
【００７０】（請求項９の説明）図８は、容量試験に対
応する判定手段の第３実施例の構成を示す。図におい
て、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２内に、時
間比較器ｃ６０９から出力されるスイッチ駆動信号６０
１によりメタリック加入者線路４０を切り離すためのス
イッチ６００が設けられる。また、被測定容量ＣMES の
判定しきい値Ｃthに等しい容量値を有する参照容量６０
８と、時間比較器ｃ６０９から出力されるスイッチ駆動
信号６０７により参照容量６０８を測定系（測定対象接
続点４３間）に接続するためのスイッチ６０６が設けら
れる。(Explanation of Claim 9) FIG. 8 shows a structure of a third embodiment of the judging means corresponding to the capacity test. In the figure, the switch drive signal 60 output from the time comparator c609 is included in IOCUt 112 and SLICt 122.
1 provides a switch 600 for disconnecting the metallic subscriber line 40. Further, the reference capacitance 60 having a capacitance value equal to the determination threshold C th of the measured capacitance C MES.
8 and a switch drive signal 607 output from the time comparator c609, a switch 606 for connecting the reference capacitor 608 to the measurement system (between the measurement object connection points 43) is provided.
【００７１】容量試験開始時に、スイッチ６００をオフ
させてメタリック加入者線路４０を測定系から切り離
し、かつスイッチ６０６をオンさせて参照容量６０８を
測定系に接続する。ここで、短絡スイッチ４１２、放電
スイッチ４０９、電圧比較器ａ４１０、時間比較器ｃ６
０９は、図４（第１実施例）で説明した手順に従って動
作し、時間比較器ｃ６０９は電圧比較器ａ４１０から電
圧比較信号４０７が入力されるまでの時間を時間しきい
値Ｔthとして学習記憶する。その後、スイッチ６０６を
オフさせて参照容量６０８を測定系から切り離し、スイ
ッチ６００をオンさせてメタリック加入者線路４０を測
定系に接続する。以上の手順により、時間比較器ｃ６０
９に参照容量６０８の容量値Ｃthに対応する時間しきい
値Ｔthを設定することができる。 その後の容量試験は
図４（第１実施例）で説明した手順に従って行われ、時
間比較器ｃ６０９で測定される測定時間ＴMES と時間し
きい値Ｔthとの大小関係を２値判定し、被測定容量Ｃ
MES の良／否が判定される。At the start of the capacity test, the switch 600 is turned off to disconnect the metallic subscriber line 40 from the measuring system, and the switch 606 is turned on to connect the reference capacitor 608 to the measuring system. Here, the short circuit switch 412, the discharge switch 409, the voltage comparator a410, and the time comparator c6.
09 operates according to the procedure described in FIG. 4 (first embodiment), and the time comparator c609 learns and stores the time until the voltage comparison signal 407 is input from the voltage comparator a410 as the time threshold value T th. To do. After that, the switch 606 is turned off to disconnect the reference capacitance 608 from the measurement system, and the switch 600 is turned on to connect the metallic subscriber line 40 to the measurement system. By the above procedure, the time comparator c60
9, the time threshold value T th corresponding to the capacitance value C th of the reference capacitance 608 can be set. The subsequent capacity test is performed according to the procedure described in FIG. 4 (first embodiment), and the magnitude relationship between the measurement time T MES measured by the time comparator c609 and the time threshold T th is binary-determined, Measured capacity C
The quality of MES is judged.
【００７２】なお、参照容量６０８は、被測定容量Ｃ
MES の判定しきい値Ｃthに等しい容量値を有するとした
が、時間比較器ｃ６０９で時間しきい値Ｔthの比例関係
を利用する場合には、参照容量６０８の容量値はその比
例関係をもって設定される。また、図８の構成では、ス
イッチ駆動信号６０１，６０７が時間比較器ｃ６０９か
ら発せられる場合を示したが、下り方向のＩｔ制御信号
１１３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂを用いて、図１の
構成では媒体試験制御機能付呼制御装置３２８から、図
２に示す構成では試験制御装置ｂ３３１から発せられる
ようにしてもよい。The reference capacitance 608 is the measured capacitance C.
Although it is assumed that the capacitance value is equal to the MES determination threshold value C th, when the proportional relationship of the time threshold value T th is used in the time comparator c609, the capacitance value of the reference capacitor 608 has the proportional relationship. Is set. Further, in the configuration of FIG. 8, the case where the switch drive signals 601 and 607 are issued from the time comparator c609 is shown. However, the It control signal 113b and the At control signal 123b in the downward direction are used to configure the medium in the configuration of FIG. The call control device with test control function 328 may be issued from the test control device b331 in the configuration shown in FIG.
【００７３】（請求項１０の説明）図９は、絶縁抵抗試
験に対応する判定手段の第４実施例の構成を示す。図に
おいて、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２内
に、電圧比較器ｃ７００から出力されるスイッチ駆動信
号６０１によりメタリック加入者線路４０を切り離すた
めのスイッチ６００が設けられる。また、被測定絶縁抵
抗ＲMES の判定しきい値Ｒthに等しい抵抗値を有する参
照抵抗６０４と、電圧比較器ｃ７００から出力されるス
イッチ駆動信号６０３により参照抵抗６０４を測定系
（測定対象接続点４３間）に接続するためのスイッチ６
０２が設けられる。(Explanation of Claim 10) FIG. 9 shows the construction of a fourth embodiment of the judging means corresponding to the insulation resistance test. In the figure, a switch 600 for disconnecting the metallic subscriber line 40 by a switch drive signal 601 output from a voltage comparator c700 is provided in IOCUt 112 and SLICt 122. Further, the reference resistor 604 having a resistance value equal to the judgment threshold value R th of the measured insulation resistance R MES and the switch drive signal 603 output from the voltage comparator c700 are used to measure the reference resistor 604 in a measurement system (measurement target connection point). Switch 6 to connect (between 43)
02 is provided.
【００７４】絶縁抵抗試験開始時に、スイッチ６００を
オフさせてメタリック加入者線路４０を測定系から切り
離し、かつスイッチ６０２をオンさせて参照抵抗６０４
を測定系に接続する。ここで、電圧比較器ｃ７００は、
図５（第２実施例）で説明した手順に従って動作し、参
照抵抗６０４の端子間電圧値を電圧しきい値Ｖthとして
学習記憶する。その後、スイッチ６０２をオフさせて参
照抵抗６０４を測定系から切り離し、スイッチ６００を
オンさせてメタリック加入者線路４０を測定系に接続す
る。以上の手順により、電圧比較器ｃ７００に参照抵抗
６０４の抵抗値Ｒthに対応する電圧しきい値Ｖthを設定
することができる。At the start of the insulation resistance test, the switch 600 is turned off to disconnect the metallic subscriber line 40 from the measurement system, and the switch 602 is turned on to turn on the reference resistance 604.
To the measurement system. Here, the voltage comparator c700 is
The operation is performed according to the procedure described in FIG. 5 (second embodiment), and the inter-terminal voltage value of the reference resistor 604 is learned and stored as the voltage threshold V th . After that, the switch 602 is turned off to disconnect the reference resistor 604 from the measurement system, and the switch 600 is turned on to connect the metallic subscriber line 40 to the measurement system. Through the above procedure, the voltage threshold V th corresponding to the resistance value R th of the reference resistor 604 can be set in the voltage comparator c700.
【００７５】その後の絶縁抵抗試験は図５（第２実施
例）で説明した手順に従って行われ、測定対象接続点４
３間の測定電圧ＶMES と電圧しきい値Ｖthとの大小関係
を２値判定し、被測定絶縁抵抗ＲMES の良／否が判定さ
れる。なお、参照抵抗６０４は、被測定絶縁抵抗ＲMES
の判定しきい値Ｒthに等しい抵抗値を有するとしたが、
電圧比較器ｃ７００で電圧しきい値Ｖthの比例関係を利
用する場合には、参照抵抗６０４の抵抗値はその比例関
係をもって設定される。The subsequent insulation resistance test is performed according to the procedure described in FIG. 5 (second embodiment), and the connection point 4 to be measured is measured.
The magnitude relationship between the measured voltage V MES and the voltage threshold value V th between the three is binary-determined to determine whether the measured insulation resistance R MES is good or bad . The reference resistance 604 is a measured insulation resistance R MES.
The resistance value is equal to the judgment threshold value R th of
When the voltage comparator c700 uses the proportional relationship of the voltage threshold V th , the resistance value of the reference resistor 604 is set in the proportional relationship.
【００７６】また、図９の構成では、スイッチ駆動信号
６０１，６０３が電圧比較器ｃ７００から発せられる場
合を示したが、下り方向のＩｔ制御信号１１３ｂおよび
Ａｔ制御信号１２３ｂを用いて、図１の構成では媒体試
験制御機能付呼制御装置３２８から、図２に示す構成で
は試験制御装置ｂ３３１から発せられるようにしてもよ
い。In the configuration of FIG. 9, the switch drive signals 601 and 603 are issued from the voltage comparator c700. However, the It control signal 113b and the At control signal 123b in the down direction are used in FIG. In the configuration, the call control device 328 with the medium test control function may be used, and in the configuration shown in FIG. 2, the test control device b331 may be used.
【００７７】（請求項１１の説明）図１０は、容量試験
に対応する判定手段の第４実施例の構成を示す。図にお
いて、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２内に、
時間比較器ｃ６０９から出力されるスイッチ駆動信号６
０１によりメタリック加入者線路４０を切り離すための
スイッチ６００が設けられる。また、被測定容量ＣMES
の判定しきい値Ｃthに等しい容量値を有する参照容量６
０８と、時間比較器ｃ６０９から出力されるスイッチ駆
動信号６０７により参照容量６０８を測定系（測定対象
接続点４３間）に接続するためのスイッチ６０６が設け
られる。(Explanation of Claim 11) FIG. 10 shows the structure of a fourth embodiment of the judging means corresponding to the capacity test. In the figure, in IOCUt 112 and SLICt 122,
Switch drive signal 6 output from the time comparator c609
A switch 600 for disconnecting the metallic subscriber line 40 by 01 is provided. Also, the measured capacitance C MES
Reference capacitance 6 having a capacitance value equal to the determination threshold value C th of
08 and a switch drive signal 607 output from the time comparator c609, a switch 606 is provided for connecting the reference capacitor 608 to the measurement system (between the measurement object connection points 43).
【００７８】容量試験開始時に、スイッチ６００をオフ
させてメタリック加入者線路４０を測定系から切り離
し、かつスイッチ６０６をオンさせて参照容量６０８を
測定系に接続する。ここで、放電スイッチ４０９、電圧
比較器ａ４１０、時間比較器ｃ６０９は、図６（第２実
施例）で説明した手順に従って動作し、時間比較器ｃ６
０９は電圧比較器ａ４１０から電圧比較信号４０７が入
力されるまでの時間を時間しきい値Ｔthとして学習記憶
する。その後、スイッチ６０６をオフさせて参照容量６
０８を測定系から切り離し、スイッチ６００をオンさせ
てメタリック加入者線路４０を測定系に接続する。以上
の手順により、時間比較器ｃ６０９に参照容量６０８の
容量値Ｃthに対応する時間しきい値Ｔthを設定すること
ができる。At the start of the capacity test, the switch 600 is turned off to disconnect the metallic subscriber line 40 from the measuring system, and the switch 606 is turned on to connect the reference capacitor 608 to the measuring system. Here, the discharge switch 409, the voltage comparator a410, and the time comparator c609 operate according to the procedure described in FIG. 6 (second embodiment), and the time comparator c6
In 09, the time until the voltage comparison signal 407 is input from the voltage comparator a410 is learned and stored as the time threshold T th . After that, the switch 606 is turned off to turn the reference capacitor 6
08 is disconnected from the measurement system and the switch 600 is turned on to connect the metallic subscriber line 40 to the measurement system. Through the above procedure, the time threshold value T th corresponding to the capacitance value C th of the reference capacitance 608 can be set in the time comparator c609.
【００７９】その後の容量試験は図６（第２実施例）で
説明した手順に従って行われ、時間比較器ｃ６０９で測
定される測定時間ＴMES と時間しきい値Ｔthとの大小関
係を２値判定し、被測定容量ＣMES の良／否が判定され
る。なお、参照容量６０８は、被測定容量ＣMES の判定
しきい値Ｃthに等しい容量値を有するとしたが、時間比
較器ｃ６０９で時間しきい値Ｔthの比例関係を利用する
場合には、参照容量６０８の容量値はその比例関係をも
って設定される。The subsequent capacity test is performed according to the procedure described in FIG. 6 (second embodiment), and the magnitude relationship between the measurement time T MES measured by the time comparator c609 and the time threshold value T th is binary. It is determined whether the measured capacitance C MES is good or bad . The reference capacitor 608 is assumed to have a capacitance value equal to the determination threshold value C th of the measured capacitance C MES . However, when the time comparator c609 uses the proportional relationship of the time threshold value T th , The capacitance value of the reference capacitance 608 is set in the proportional relationship.
【００８０】また、図１０の構成では、スイッチ駆動信
号６０１，６０７が時間比較器ｃ６０９から発せられる
場合を示したが、下り方向のＩｔ制御信号１１３ｂおよ
びＡｔ制御信号１２３ｂを用いて、図１の構成では媒体
試験制御機能付呼制御装置３２８から、図２に示す構成
では試験制御装置ｂ３３１から発せられるようにしても
よい。Further, in the configuration of FIG. 10, the case where the switch drive signals 601 and 607 are issued from the time comparator c609 is shown, but the It control signal 113b and the At control signal 123b in the down direction are used, and the switch drive signals of FIG. In the configuration, the call control device 328 with the medium test control function may be used, and in the configuration shown in FIG. 2, the test control device b331 may be used.
【００８１】（請求項１２の説明）ＩＯＣＵｔ１１２お
よびＳＬＩＣｔ１２２に内蔵された試験機能を制御する
ための信号を伝達するリンク（チャネル）として、呼制
御のために定義されているＩ制御信号チャネルおよびＡ
制御信号チャネルを用いる。図１，図２に示す実施例構
成では、Ｉｔ制御信号１１３ｂを伝達するＩｔ制御信号
チャネル、およびＡｔ制御信号１２３ｂを伝達するＡｔ
制御信号チャネルを用いる。(Explanation of Claim 12) As a link (channel) for transmitting a signal for controlling a test function built in the IOCUt 112 and the SLICt 122, an I control signal channel and an A control signal channel defined for call control are provided.
The control signal channel is used. 1 and 2, the It control signal channel for transmitting the It control signal 113b and the At signal for transmitting the At control signal 123b are used.
The control signal channel is used.
【００８２】（請求項１３の説明）Ｉｔ制御信号チャネ
ルおよびＡｔ制御信号チャネルを用いて、ＩＯＣＵｔ１
１２およびＳＬＩＣｔ１２２に内蔵された試験機能を制
御するには、交換機３２０内の呼制御装置３２５に媒体
試験制御機能を付加することが最も簡単である。図１に
示す実施例構成では、これを媒体試験制御機能付呼制御
装置３２８として示している。(Explanation of Claim 13) Using the It control signal channel and the At control signal channel, IOCUt1
The simplest way to control the test functions built into the 12 and SLICt 122 is to add a media test control function to the call controller 325 in the switch 320. In the configuration of the embodiment shown in FIG. 1, this is shown as a call control device 328 with a medium test control function.
【００８３】（請求項１４の説明）Ｉｔ制御信号チャネ
ルおよびＡｔ制御信号チャネルを用いて、ＩＯＣＵｔ１
１２およびＳＬＩＣｔ１２２に内蔵された試験機能を制
御する方法として、図２に示すチャネルアクセス装置３
４０および試験制御装置ｂ３３１を用いる構成が可能で
ある。チャネルアクセス装置３４０は、多重化信号ハイ
ウェイｔｂ３１３の時分割多重化信号から、試験制御に
用いるＩｔ制御信号チャネルまたはＡｔ制御信号チャネ
ルを分離して試験制御装置ｂ３３１に接続する。なお、
Ｉｔ制御信号チャネルまたはＡｔ制御信号チャネルに加
えて、それと対をなすＩユーザ情報チャネルまたはＡユ
ーザ情報チャネルも併せて分離し、試験制御装置ｂ３３
１に接続することにより、Ｉユーザ情報チャネルまたは
Ａユーザ情報チャネルを併用した他の試験項目への発展
に有効である。図２では、それに対応してＩＯＣＵｔ信
号１１３またはＳＬＩＣｔ信号１２３が試験信号ハイウ
ェイｂ３１４に分離されることを示している。(Explanation of Claim 14) Using the It control signal channel and the At control signal channel, IOCUt1
12 and the channel access device 3 shown in FIG. 2 as a method for controlling the test function built in the SLICt 122.
A configuration using 40 and the test control device b331 is possible. The channel access device 340 separates the It control signal channel or At control signal channel used for test control from the time division multiplexed signal of the multiplexed signal highway tb313 and connects it to the test control device b331. In addition,
In addition to the It control signal channel or At control signal channel, the I user information channel or the A user information channel paired therewith is also separated, and the test control device b33
Connecting to 1 is effective for development to other test items that also use the I user information channel or the A user information channel. FIG. 2 shows that the IOCUt signal 113 or the SLICt signal 123 is separated into the test signal highway b314 correspondingly.
【００８４】（請求項１５の説明）チャネルアクセス装
置３４０で分離されたＩＯＣＵｔ信号１１３またはＳＬ
ＩＣｔ信号１２３のうち、交換機３２０側への転送部分
である多重化信号ハイウェイｅ３１５上の該当タイムス
ロット、特に多重化信号ハイウェイｔｄ３２６上の該当
のＩｔ制御信号チャネルおよびＡｔ制御信号チャネルに
対して、分離後の後処理として、アイドルパタンを挿入
することが好ましい。アイドルパタンとしては、例えば
ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２がリセット状
態（通信断で動作停止状態）であることを表示する情報
を挿入し、呼制御装置３２５のＩＯＣＵｔ１１２および
ＳＬＩＣｔ１２２に関する制御状態管理を初期値にリセ
ットする。併せて、多重化信号ハイウェイｃ３２２上の
該当のＩユーザ情報値およびＡユーザ情報値には、固定
パタンとして最も生成の容易なオール“１”またはオー
ル“０”を挿入転送しておくことが有利である。(Explanation of Claim 15) IOCUt signal 113 or SL separated by the channel access device 340
Of the ICt signal 123, the corresponding time slot on the multiplexed signal highway e315, which is the transfer portion to the exchange 320 side, in particular, the corresponding It control signal channel and At control signal channel on the multiplexed signal highway td326 are separated. It is preferable to insert an idle pattern as a subsequent post-treatment. As the idle pattern, for example, information indicating that the IOCUt 112 and the SLICt 122 are in a reset state (operation stopped state due to communication interruption) is inserted, and the control state management regarding the IOCUt 112 and the SLICt 122 of the call control device 325 is reset to the initial value. At the same time, it is advantageous to insert and transfer all “1” or all “0”, which is the easiest fixed pattern, into the corresponding I user information value and A user information value on the multiplexed signal highway c322. Is.
【００８５】Ｉ制御チャネルおよびＡ制御チャネルは64
ｋbit/s で構成する。この制御チャネルを８ｋbit/s の
オクテット（バイト）同期によってバイト位相を確保し
つつ伝達し、１バイト中の特定の１ビットを連続するＮ
バイト（Ｎは２以上の整数）により構成される１マルチ
フレームを定義するための認識ビットであるマルチフレ
ームビットとして使用する。そして、連続するＮバイト
でＮビットからなるオール“０”またはオール“１”以
外のマルチフレームビットパタンＭＦA を定義すること
により、連続するＮバイトを１つのマルチフレームと
し、この連続するＮバイトを構成する８×Ｎビットのう
ち、マルチフレームビットを除く７×Ｎビット内に、Ｉ
ｔ制御信号１１３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂを呼制
御用では未使用のパタンまたはビットを用いて定義す
る。There are 64 I and A control channels.
It consists of kbit / s. This control channel is transmitted while maintaining a byte phase by octet (byte) synchronization of 8 kbit / s, and a specific 1 bit in 1 byte is consecutive N
It is used as a multi-frame bit which is a recognition bit for defining one multi-frame composed of bytes (N is an integer of 2 or more). Then, by defining a multi-frame bit pattern MF A other than all “0” or all “1” consisting of N bits in consecutive N bytes, consecutive N bytes are made into one multi-frame, and these consecutive N bytes are Among the 8 × N bits that make up the
The t control signal 113b and the At control signal 123b are defined by using an unused pattern or bit for call control.
【００８６】すなわち、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩ
Ｃｔ１２２に追加された試験機能の制御（下り方向）お
よび結果表示（上り方向）に関する信号は、マルチフレ
ームビットパタンＭＦA で構成される呼制御用のＩ制御
チャネルおよびＡ制御チャネルの空きが十分であればこ
れに定義追加する。図１，図２に示す実施例構成では、
このＩ制御チャネルおよびＡ制御チャネルに試験制御機
能を追加したチャネルをＩｔ制御チャネルおよびＡｔ制
御チャネルと呼び、そのチャネル内の信号をＩｔ制御信
号１１３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂと呼んでいる。That is, IOCUt 112 and SLI
Regarding the signals related to the control of the test function (downward direction) and the result display (upward direction) added to the Ct122, the I control channel and the A control channel for call control composed of the multi-frame bit pattern MF A have sufficient free space. If any, add the definition to this. In the configuration of the embodiment shown in FIGS. 1 and 2,
A channel obtained by adding a test control function to the I control channel and the A control channel is called an It control channel and an At control channel, and signals in the channel are called an It control signal 113b and an At control signal 123b.
【００８７】また、Ｎバイトからなるマルチフレームに
対し、マルチフレームビットパタンＭＦA と異なるオー
ル“０”またはオール“１”以外のマルチフレームビッ
トパタンＭＦB を新規に定義し、このマルチフレーム内
にＩｔ制御信号１１３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂを
定義してもよい。このとき、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳ
ＬＩＣｔ１２２は、マルチフレームビットパタンＭＦB
で構成されるマルチフレームからなるＩｔ制御信号１１
３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂを受信するために、呼
制御用のマルチフレームビットパタンＭＦA に加え、試
験制御専用のマルチフレームビットパタンＭＦB の検出
機能を備える。Also, for a multi-frame consisting of N bytes, a multi-frame bit pattern MF B other than all "0" or all "1" different from the multi-frame bit pattern MF A is newly defined, and this multi-frame bit pattern MF B is defined in this multi-frame. The It control signal 113b and At control signal 123b may be defined. At this time, IOCUt112 and S
LICt122 is a multi-frame bit pattern MF B.
It control signal 11 consisting of a multi-frame
In order to receive the 3b and At control signal 123b, the multi-frame bit pattern MF A for call control and the multi-frame bit pattern MF B for test control are provided.
【００８８】また、１以上の整数Ｍおよび２以上の整数
Ｎを用い、連続する（Ｎ＋Ｍ）バイトからなる１マルチ
フレームを構成し、このときの（Ｎ＋Ｍ）ビットからな
るオール“０”またはオール“１”以外のマルチフレー
ムビットパタンＭＦC を新規に定義し、連続する（Ｎ＋
Ｍ）バイトの最初のＮバイト内の７×Ｎビットを呼制御
用とし、続いて連続するＭバイト内の７×Ｍビットに試
験制御信号を定義してもよい。Further, by using an integer M of 1 or more and an integer N of 2 or more, one multi-frame consisting of consecutive (N + M) bytes is constructed, and at this time, all "0" or all "consisting of (N + M) bits. A multi-frame bit pattern MF C other than 1 "is newly defined and consecutive (N +
The 7 × N bits in the first N bytes of the M) byte may be used for call control, and subsequently the test control signal may be defined in the 7 × M bits in consecutive M bytes.
【００８９】このとき、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩ
Ｃｔ１２２は、マルチフレームビットパタンＭＦC で構
成されるマルチフレームからなるＩｔ制御信号１１３ｂ
およびＡｔ制御信号１２３ｂを受信するために、呼制御
用のマルチフレームビットパタンＭＦA に加え、試験制
御専用のマルチフレームビットパタンＭＦC の検出機能
を備える。At this time, IOCUt 112 and SLI
The Ct 122 is an It control signal 113b composed of a multiframe composed of a multiframe bit pattern MF C.
In addition to the multi-frame bit pattern MF A for call control, a function for detecting a multi-frame bit pattern MF C dedicated to test control is provided in order to receive the At control signal 123b.
【００９０】また、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ
１２２は、あらかじめ設定されている下り方向のマルチ
フレームビットパタンおよびマルチフレームを検出する
と、それと対をなして定義されている上り方向のマルチ
フレームビットパタンおよびマルチフレームを送出す
る。これにより、下り方向のマルチフレームの送信装置
（呼制御装置３２５、媒体試験制御機能付呼制御装置３
２８、試験制御装置ｂ３３１）に対して、ＩＯＣＵｔ１
１２およびＳＬＩＣｔ１２２がその時点のコマンドに対
応して動作していることを表示することができる。In addition, IOCUt112 and SLICt
When detecting a preset downlink multi-frame bit pattern and multi-frame, the unit 122 sends out the uplink multi-frame bit pattern and multi-frame defined as a pair. As a result, a downlink multi-frame transmitting device (call control device 325, call control device with medium test control function 3
28, the test controller b331) to the IOCUt1
12 and SLICt 122 can be displayed to be operating in response to the current command.
【００９１】また、光伝送区間での伝送誤りは不可避の
現象であるので、下り方向のマルチフレームビットパタ
ン検出の保護に以下の３つを定義し、それぞれに対応し
てＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２の内部動作
制御、上り方向のＩｔ制御信号１１３ｂおよびＡｔ制御
信号１２３ｂの送出を定義する。 前方保護（マルチフレーム同期中にマルチフレームパ
タンが検出できなくなる） 同期はずれ中（マルチフレームパタンが検出でき
ず）、および後方保護中（同期はずれ中にマルチフレー
ムパタンの検出が発生） 同期はずれ中が時間τ連続する 前方保護中は、直前まで検出されていたものと同一の下
り方向のマルチフレームビットパタンが検出されなくて
も伝送誤りに起因していると考え、直前のマルチフレー
ムビットパタンが検出されていたときの最後の状態を保
持し続けるようにＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１
２２を動作させる。さらに、上り方向のＩｔ制御信号１
１３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂについても、正常に
下り方向のマルチフレームビットパタンが検出されてい
たときと同一のマルチフレームビットパタンおよび現状
態を反映したマルチフレームビット内容を送出する。Further, since transmission error in the optical transmission section is an unavoidable phenomenon, the following three are defined to protect the detection of the multi-frame bit pattern in the downstream direction, and the internal operation of IOCUt 112 and SLICt 122 is correspondingly defined. Control, transmission of the upstream It control signal 113b and At control signal 123b are defined. Forward protection (multi-frame pattern cannot be detected during multi-frame synchronization) Out of sync (multi-frame pattern cannot be detected), and backward protection (multi-frame pattern detection occurs during out-of-sync) During forward protection that continues for time τ, even if the same downlink multi-frame bit pattern that was detected immediately before is not detected, it is considered that the error is due to a transmission error, and the immediately preceding multi-frame bit pattern is detected. IOCUt112 and SLICt1 to keep the last state when
22 is operated. Further, the Up control signal 1
Also for 13b and the At control signal 123b, the same multi-frame bit pattern as when the downlink multi-frame bit pattern was normally detected and the multi-frame bit contents reflecting the current state are transmitted.
【００９２】また、前方保護時間を越えても下り方向の
マルチフレーム同期が復旧せずに同期はずれ状態になる
と、一時的な障害と判断し、速やかにＩＯＣＵｔ１１２
およびＳＬＩＣｔ１２２をリセット状態（通信断で動作
停止状態）に自己制御する。さらに、上り方向のＩｔ制
御信号１１３ｂおよびＡｔ制御信号１２３ｂで、正常に
下り方向のマルチフレームビットパタンが検出されてい
たときと同一のマルチフレームビットパタンを用いてこ
のリセット状態を通達する。Further, if the downlink multi-frame synchronization is not recovered and the synchronization is lost even after the forward protection time is exceeded, it is judged to be a temporary failure and the IOCUt 112 is promptly set.
And the SLICt 122 is self-controlled to the reset state (operation stopped state due to communication interruption). Further, the reset state is notified using the same multi-frame bit pattern as when the downlink multi-frame bit pattern is normally detected by the upstream It control signal 113b and the At control signal 123b.
【００９３】また、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ
１２２はタイマ回路を有し、同期はずれ状態が所定の時
間τ以上連続した場合には、ＩＯＣＵｔ１１２およびＳ
ＬＩＣｔ１２２をリセット状態とし、上り方向のマルチ
フレームビットパタンおよびマルチフレームビット内容
を含めたすべてをオール“０”またはオール“１”とし
て過去の履歴を絶つ。これは、マルチフレームビットパ
タンが変更される場合、例えば呼制御モードＭＦA から
媒体試験モードＭＦB ，ＭＦC に変更される場合に有効
である。In addition, IOCUt112 and SLICt
122 has a timer circuit, and when the out-of-synchronization state continues for a predetermined time τ or longer, IOCUt 112 and S
The LICt 122 is set to the reset state and all the past including the multi-frame bit pattern and the multi-frame bit contents in the up direction are set to all “0” or all “1” to break the past history. This is effective when the multi-frame bit pattern is changed, for example, when the call control mode MF A is changed to the medium test modes MF B and MF C.
【００９４】また、交換機３２０内の呼制御装置３２５
は、通常、上り方向のマルチフレームビットパタンは同
期中として動作する。しかし、何らかの要因により所定
のマルチフレームビットパタンが検出されなくなり、こ
の状態が所定の時間以上連続した場合に、ＩＯＣＵｔ１
１２およびＳＬＩＣｔ１２２の状態管理を前状態保持と
してしまうと、誤課金等の望ましくない現象が発生する
場合がある。その場合には、呼制御装置３２５内のＩＯ
ＣＵｔ１１２およびＳＬＩＣｔ１２２の状態管理を初期
値にリセットし、待機状態とすることがフェールセーフ
であり有効である。The call control device 325 in the exchange 320 is also included.
Usually operates while the upstream multi-frame bit pattern is in synchronization. However, if the predetermined multi-frame bit pattern is not detected for some reason and this state continues for a predetermined time or longer, IOCUt1
If the state management of the S12 and SLICt 122 is held in the previous state, an undesired phenomenon such as incorrect charging may occur. In that case, the IO in the call control device 325
It is fail-safe and effective to reset the state management of the CUt 112 and the SLICt 122 to the initial value and set them in the standby state.
【００９５】[0095]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＩＯＣＵ
およびＳＬＩＣに、局給電機能（通信に必要な電力を信
号を伝達する通信線に重畳して直流で端末側に供給する
機能）を利用した媒体試験機能を付加することにより、
ＯＮＵに個別に媒体試験器を備える必要がなくなる。し
たがって、光加入者伝送システムの加入者回線試験方式
を経済的に実現することができる。As described above, the present invention provides the IOCU.
And by adding to SLIC, a medium test function using a station power supply function (function of superimposing power necessary for communication on a communication line for transmitting a signal and supplying DC to the terminal side),
Eliminates the need for a separate media tester on the ONU. Therefore, the subscriber line test system of the optical subscriber transmission system can be economically realized.
【図１】本発明の加入者回線試験方式の第１実施例の構
成を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a first embodiment of a subscriber line test system of the present invention.
【図２】本発明の加入者回線試験方式の第２実施例の構
成を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a second embodiment of the subscriber line test system of the present invention.
【図３】絶縁抵抗試験に対応する判定手段の第１実施例
の構成を示すブロック図。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a first embodiment of a determination unit corresponding to an insulation resistance test.
【図４】容量試験に対応する判定手段の第１実施例の構
成を示すブロック図。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a first embodiment of a determination unit that supports a capacity test.
【図５】絶縁抵抗試験に対応する判定手段の第２実施例
の構成を示すブロック図。FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of a second embodiment of the determination means corresponding to the insulation resistance test.
【図６】容量試験に対応する判定手段の第２実施例の構
成を示すブロック図。FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a second embodiment of a determination unit that supports a capacity test.
【図７】絶縁抵抗試験に対応する判定手段の第３実施例
の構成を示すブロック図。FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of a third embodiment of the determination means corresponding to the insulation resistance test.
【図８】容量試験に対応する判定手段の第３実施例の構
成を示すブロック図。FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of a third embodiment of the determination means corresponding to the capacity test.
【図９】絶縁抵抗試験に対応する判定手段の第４実施例
の構成を示すブロック図。FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a fourth embodiment of a determination unit corresponding to an insulation resistance test.
【図１０】容量試験に対応する判定手段の第４実施例の
構成を示すブロック図。FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of a fourth embodiment of the determination means corresponding to the capacity test.
【図１１】従来の光加入者伝送システムの加入者回線試
験方式の構成例を示すブロック図。FIG. 11 is a block diagram showing a configuration example of a subscriber line test method of a conventional optical subscriber transmission system.
【符号の説明】 １０ Ｉ端末（ＩＳＤＮ基本インタフェース宅内機器） １１ ＩＤＳＵ（ＩＳＤＮ基本インタフェース宅内回線
終端装置） ２０ Ａ端末（アナログ電話回線端末） ２１ Ｃ付ＭＪ（容量付モジュラージャック） ３０ き紐 ４０ メタリック加入者線路 ４３ 測定対象接続点 １００ ＯＮＵ（光加入者網終端装置） １１０ ＩＯＣＵ（ＩＳＤＮ基本インタフェース局内回
線終端装置） １１２ ＩＯＣＵｔ １２０ ＳＬＩＣ（アナログ電話回線局内回線終端装
置） １２２ ＳＬＩＣｔ １３０ 媒体試験器 １５０ ＭＵＸａ（信号多重分離装置） １５２ ＭＵＸｃ １６０ 光ＬＴ（光電気変換回路） ２００ 光ファイバ伝送路 ３００ 電話交換局 ３１０ ＯＳＵ（局内光終端装置） ３２０ 交換機 ３２１ ＭＵＸｂ ３２４ 通話路装置 ３２５ 呼制御装置 ３２７ ＭＵＸｄ ３２８ 媒体試験制御機能付呼制御装置 ３３０ 試験制御装置ａ ３３１ 試験制御装置ｂ ３４０ チャネルアクセス装置 ４００ 定電圧源 ４０３ 電流比較器ａ ４０５ 時間比較器ａ ４０９ 放電スイッチ ４１０ 電圧比較器ａ ４１１ 抵抗 ４１２ 短絡スイッチ ５００ 定電流源 ５０３ 電圧比較器ｂ ５０４ 時間比較器ｂ ６００，６０２，６０６ スイッチ ６０２ スイッチ ６０４ 参照抵抗 ６０５ 電流比較器ｂ ６０８ 参照容量 ６０９ 時間比較器ｃ ７００ 電圧比較器ｃ[Explanation of Codes] 10 I Terminal (ISDN Basic Interface Home Equipment) 11 IDSU (ISDN Basic Interface Home Line Termination Device) 20 A Terminal (Analog Telephone Line Terminal) 21 CJ with MJ (Capacity Modular Jack) 30 String 40 Metallic Subscriber line 43 Measurement target connection point 100 ONU (Optical subscriber network terminating device) 110 IOCU (ISDN basic interface intra-station line terminating device) 112 IOCUt 120 SLIC (Analog telephone line intra-station line terminating device) 122 SLICt 130 Medium tester 150 MUXa (Signal demultiplexing device) 152 MUXc 160 Optical LT (photoelectric conversion circuit) 200 Optical fiber transmission line 300 Telephone switching center 310 OSU (intra-station optical terminating device) 320 Switching device 321 MUXb 324 Speech path device 325 Call control Device 327 MUXd 328 Call control device with medium test control function 330 Test control device a 331 Test control device b 340 Channel access device 400 Constant voltage source 403 Current comparator a 405 Time comparator a 409 Discharge switch 410 Voltage comparator a 411 Resistance 412 Short circuit switch 500 Constant current source 503 Voltage comparator b 504 Time comparator b 600, 602, 606 Switch 602 Switch 604 Reference resistance 605 Current comparator b 608 Reference capacity 609 Time comparator c 700 Voltage comparator c
Claims (15)
光加入者網終端装置（以下「ＯＮＵ」という）と、電話
交換局内に設置される局内光終端装置（以下「ＯＳＵ」
という）とを光ファイバ伝送路で結び、ＯＮＵは、電話
交換局からの光信号を終端してユーザ側にメタリック加
入者線路を介して各種サービスを提供し、ユーザ側から
の信号を終端して時分割多重化して光信号に変換し、光
ファイバ伝送路を介してＯＳＵに伝達するインタフェー
ス回路を備え、メタリック加入者線路の絶縁抵抗値およ
び容量値を測定する光加入者伝送システムの加入者回線
試験方式において、 前記インタフェース回路内に、前記メタリック加入者線
路の絶縁抵抗値および容量値を前記インタフェース回路
の直流による局給電機能を用いて測定する手段を備えた
ことを特徴とする光加入者伝送システムの加入者回線試
験方式。1. An optical subscriber network terminating device (hereinafter referred to as "ONU") installed in a user's house or feeder and an intra-office optical terminating device (hereinafter referred to as "OSU") installed in a telephone exchange.
The ONU terminates the optical signal from the telephone exchange, provides various services to the user side through the metallic subscriber line, and terminates the signal from the user side. A subscriber line of an optical subscriber transmission system having an interface circuit for time division multiplexing, converting into an optical signal, and transmitting the optical signal to an OSU through an optical fiber transmission line, and measuring an insulation resistance value and a capacitance value of a metallic subscriber line. In the test system, the optical subscriber transmission characterized in that the interface circuit is provided with means for measuring an insulation resistance value and a capacitance value of the metallic subscriber line by using a direct current station feeding function of the interface circuit. System subscriber line test method.
の加入者回線試験方式において、 被測定絶縁抵抗の判定しきい値または被測定容量の判定
しきい値に対応する電流しきい値、電圧しきい値、時間
しきい値をプリセットし、測定される電流、電圧、時間
と各しきい値との大小関係をそれぞれ判定し、被測定絶
縁抵抗値または被測定容量値の良／否を表示する判定手
段を備えたことを特徴とする光加入者伝送システムの加
入者回線試験方式。2. A subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 1, wherein a current threshold value corresponding to a judgment threshold value of a measured insulation resistance or a judgment threshold value of a measured capacitance, Preset voltage threshold value and time threshold value, judge the magnitude relationship between measured current, voltage, time and each threshold value, and judge whether the measured insulation resistance value or measured capacitance value is good or bad. A subscriber line test system for an optical subscriber transmission system, characterized in that it is provided with a judging means for displaying.
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵに定電圧値Ｅ0 の定電圧源が配備され、 判定手段には、被測定絶縁抵抗値ＲMES に対する判定し
きい値をＲthとしたときに、Ｉth＝Ｅ0 ／Ｒthで求まる
電流しきい値Ｉthがプリセットされ、絶縁抵抗測定時に
前記定電圧源から流れる測定電流ＩMES と電流しきい値
Ｉthとの大小関係を２値判定し、被測定絶縁抵抗値の良
／否を表示する電流判定信号を出力する電流比較器を備
えたことを特徴とする光加入者伝送システムの加入者回
線試験方式。3. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 2, wherein the ONU is provided with a constant voltage source having a constant voltage value E 0 , and the judging means has a measured insulation resistance value R. the decision threshold for MES when the R th, the current threshold I th the obtained in I th = E 0 / R th is preset, measurement current I MES and the current flowing from the constant voltage source at the insulation resistance measurement An optical subscriber transmission system characterized by including a current comparator for making a binary decision on a magnitude relationship with a threshold value I th and outputting a current decision signal indicating whether the measured insulation resistance value is good or bad. Subscriber line test method.
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵに定電圧値Ｅ0 の定電圧源が配備され、 判定手段には、被測定容量値ＣMES に対する判定しきい
値をＣthとしたときに、 メタリック加入者線路の直流ループ抵抗よりも十分に大
きく、絶縁抵抗の判定しきい値Ｒthよりも小さい抵抗値
Ｒ0 をもち、容量測定時に定電圧源に直列に接続される
抵抗と、 インタフェース回路とメタリック加入者線路との測定対
象接続点間に接続され、定電圧値Ｅ0 以下の所定の電圧
しきい値Ｖthがプリセットされ、容量測定時に被測定接
続点間の測定電圧ＶMES が電圧しきい値Ｖthを上回った
ときに電圧判定信号を出力する電圧比較器と、 容量測定開始時に被測定容量の既充電電荷を放電させる
手段と、 Ｔth＝−ＣthＲ0 ln(1−Ｖth／Ｅ0)で求まる時間しきい
値Ｔthがプリセットされ、前記放電後の容量測定開始か
ら前記電圧比較器の電圧判定信号が入力されるまでの測
定時間ＴMES と時間しきい値Ｔthとの大小関係を２値判
定し、被測定容量値の良／否を表示する時間比較器とを
備えたことを特徴とする光加入者伝送システムの加入者
回線試験方式。4. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 2, wherein the ONU is provided with a constant voltage source having a constant voltage value E 0 , and the judging means has a measured capacitance value C MES. Where C th is a threshold value for determination, a resistance value R 0 that is sufficiently larger than the DC loop resistance of the metallic subscriber line and smaller than the determination threshold value R th for the insulation resistance is set to a constant value during capacitance measurement. It is connected between a resistor connected in series with a voltage source and a connection point of the interface circuit and the metallic subscriber line to be measured, and a predetermined voltage threshold value V th of a constant voltage value E 0 or less is preset to measure the capacitance. Sometimes a voltage comparator that outputs a voltage determination signal when the measured voltage V MES between the measured connection points exceeds a voltage threshold value V th , and a means for discharging the already-charged electric charge of the measured capacitance at the start of capacity measurement. , T th = -C th R 0 The time threshold T th obtained by ln (1−V th / E 0 ) is preset, and the measurement time T MES from the start of the capacitance measurement after the discharge to the input of the voltage judgment signal of the voltage comparator and the time A subscriber line test method for an optical subscriber transmission system, comprising: a time comparator for judging whether the measured capacity value is good or bad by binary judgment of the magnitude relationship with a threshold value T th .
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵに、被測定絶縁抵抗値ＲMES に対する判定しきい
値をＲthとしたときに、電圧値ＪMES Ｒthが最大出力電
圧値Ｅ0 以下となる任意の定電流値ＪMES を出力定電流
値とする定電流源が配備され、 判定手段には、Ｖth＝ＪMES Ｒthで求まる電圧しきい値
Ｖthがプリセットされ、絶縁抵抗測定時に前記定電流源
の出力端子間に生じる測定電圧ＶMES と電圧しきい値Ｖ
thとの大小関係を２値判定し、被測定絶縁抵抗値の良／
否を表示する電圧判定信号を出力する電圧比較器を備え
たことを特徴とする光加入者伝送システムの加入者回線
試験方式。5. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 2, wherein the ONU has a voltage value J when the judgment threshold value for the measured insulation resistance value R MES is R th. A constant current source having an output constant current value that is an arbitrary constant current value J MES at which MES R th is less than or equal to the maximum output voltage value E 0 is provided, and the determination unit determines the voltage determined by V th = J MES R th. The threshold value V th is preset, and the measurement voltage V MES and the voltage threshold V V generated between the output terminals of the constant current source when measuring the insulation resistance.
The value of the measured insulation resistance is judged to be
A subscriber line test method for an optical subscriber transmission system, comprising a voltage comparator that outputs a voltage determination signal that indicates whether or not there is a failure.
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵに、被測定絶縁抵抗値ＲMES に対する判定しきい
値をＲthとしたときに、電圧値ＪMES Ｒthが最大出力電
圧値Ｅ0 以下となる任意の定電流値ＪMES を出力定電流
値とする定電流源が配備され、 判定手段には、被測定容量値ＣMES に対する判定しきい
値をＣthとしたときに、 インタフェース回路とメタリック加入者線路との測定対
象接続点間に接続され、前記最大出力電圧値Ｅ0 以下の
所定の電圧しきい値Ｖthがプリセットされ、容量測定時
に被測定接続点間の測定電圧ＶMES が電圧しきい値Ｖth
を上回ったときに電圧判定信号を出力する電圧比較器
と、 容量測定開始時に被測定容量の既充電電荷を放電させる
手段と、 Ｔth＝ＣthＶth／ＪMES で求まる時間しきい値Ｔthがプ
リセットされ、前記放電後の容量測定開始から前記電圧
比較器の電圧判定信号が入力されるまでの測定時間Ｔ
MES と時間しきい値Ｔthとの大小関係を２値判定し、被
測定容量値の良／否を表示する時間比較器とを備えたこ
とを特徴とする光加入者伝送システムの加入者回線試験
方式。6. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 2, wherein the ONU has a voltage value J when the judgment threshold value for the measured insulation resistance value R MES is R th. A constant current source whose output constant current value is an arbitrary constant current value J MES at which MES R th is equal to or less than the maximum output voltage value E 0 is provided, and the determination means is a determination threshold value for the measured capacitance value C MES . Where C th is C th , it is connected between the connection points of the interface circuit and the metallic subscriber line to be measured, and a predetermined voltage threshold value V th that is equal to or less than the maximum output voltage value E 0 is preset. The measured voltage V MES between the measured connection points is the voltage threshold V th
A voltage comparator which outputs a voltage judgment signal when the voltage exceeds the voltage, means for discharging the already-charged electric charge of the capacitance to be measured at the time of starting the capacitance measurement, and a time threshold T determined by T th = C th V th / J MES th is preset, the from the capacitive measurement start after discharge until the voltage decision signal of the voltage comparator is inputted measurement time T
A subscriber line of an optical subscriber transmission system, comprising: a time comparator which judges whether the MES and the time threshold value T th are binary or not, and indicates whether the measured capacity value is good or bad. Test method.
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵのインタフェース回路内に、被測定絶縁抵抗の判
定しきい値に対応する抵抗値を有する参照抵抗または被
測定容量の判定しきい値に対応する容量値を有する参照
容量を備え、 媒体試験開始時に、試験対象のメタリック加入者線路を
前記インタフェース回路から切り離し、前記参照抵抗に
流れる電流値を電流しきい値として、また前記参照抵抗
の端子間電圧を電圧しきい値として、また前記参照容量
の端子間電圧が所定の電圧しきい値を越えた時間を時間
しきい値として設定し、その後に試験対象のメタリック
加入者線路と前記インタフェース回路とを接続し、被測
定絶縁抵抗値または被測定容量値の良／否判定に移行す
る手段を備えたことを特徴とする光加入者伝送システム
の加入者回線試験方式。7. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 2, wherein a reference resistance having a resistance value corresponding to a judgment threshold value of a measured insulation resistance is provided in an interface circuit of the ONU or A reference capacitor having a capacitance value corresponding to the judgment threshold value of the measured capacitance is provided, and at the start of the medium test, the metallic subscriber line to be tested is disconnected from the interface circuit, and the current value flowing in the reference resistor is determined by the current threshold. The voltage between the terminals of the reference resistor is set as a voltage threshold, and the time when the voltage between the terminals of the reference capacitor exceeds a predetermined voltage threshold is set as a time threshold. Is connected to the interface circuit and the metallic subscriber line, and means for determining whether the measured insulation resistance value or measured capacitance value is good or not is provided. Optical subscriber transmission subscriber line test system of systems.
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵのインタフェース回路内に、被測定絶縁抵抗の判
定しきい値Ｒthに対応する抵抗値を有する参照抵抗と、 媒体試験開始時に、試験対象のメタリック加入者線路を
前記インタフェース回路から切り離して代わりに前記参
照抵抗を接続し、その後、前記参照抵抗を前記インタフ
ェース回路から切り離して代わりに前記メタリック加入
者線路を接続するスイッチとを備え、 電流比較器は、前記参照抵抗に流れる電流値を電流しき
い値Ｉthとして学習記憶する手段を含むことを特徴とす
る光加入者伝送システムの加入者回線試験方式。8. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 3, wherein the ONU interface circuit has a resistance value corresponding to a judgment threshold value R th of a measured insulation resistance. Resistance and at the start of the medium test, the metallic subscriber line to be tested is disconnected from the interface circuit and the reference resistor is connected instead, and then the reference resistor is disconnected from the interface circuit and the metallic subscriber line is replaced instead. And a switch for connecting the current comparator, and the current comparator includes means for learning and storing a current value flowing in the reference resistor as a current threshold value I th , a subscriber line test method for an optical subscriber transmission system. .
の加入者回線試験方式において、 ＯＮＵのインタフェース回路内に、被測定容量の判定し
きい値Ｃthに対応する容量値を有する参照容量と、 媒体試験開始時に、試験対象のメタリック加入者線路を
前記インタフェース回路から切り離して代わりに前記参
照容量を接続し、その後、前記参照容量を前記インタフ
ェース回路から切り離して代わりに前記メタリック加入
者線路を接続するスイッチとを備え、 時間比較器は、前記参照容量の端子間電圧が所定の電圧
しきい値を越えた時間を時間しきい値Ｔthとして学習記
憶する手段を含むことを特徴とする光加入者伝送システ
ムの加入者回線試験方式。9. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 4, wherein a reference capacity having a capacity value corresponding to a determination threshold value C th of the measured capacity is provided in the interface circuit of the ONU. At the start of the medium test, the metallic subscriber line to be tested is disconnected from the interface circuit and the reference capacitor is connected instead, and then the reference capacitor is disconnected from the interface circuit and the metallic subscriber line is replaced instead. And a switch for connection, wherein the time comparator includes means for learning and storing a time when the voltage across the reference capacitor exceeds a predetermined voltage threshold as a time threshold T th. Subscriber line test method for subscriber transmission system.
ムの加入者回線試験方式において、 ＯＮＵのインタフェース回路内に、被測定絶縁抵抗の判
定しきい値Ｒthに対応する抵抗値を有する参照抵抗と、 媒体試験開始時に、試験対象のメタリック加入者線路を
前記インタフェース回路から切り離して代わりに前記参
照抵抗を接続し、その後、前記参照抵抗を前記インタフ
ェース回路から切り離して代わりに前記メタリック加入
者線路を接続するスイッチとを備え、 電圧比較器は、前記参照抵抗に流れる電流ＪMES によっ
て参照抵抗間に生じる電圧を電圧しきい値Ｖthとして学
習記憶する手段を含むことを特徴とする光加入者伝送シ
ステムの加入者回線試験方式。10. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 5, wherein the interface circuit of the ONU has a resistance value corresponding to a judgment threshold value R th of the insulation resistance to be measured. Resistance and at the start of the medium test, the metallic subscriber line to be tested is disconnected from the interface circuit and the reference resistor is connected instead, and then the reference resistor is disconnected from the interface circuit and the metallic subscriber line is replaced instead. An optical subscriber, wherein the voltage comparator includes means for learning and storing a voltage generated between the reference resistors by the current J MES flowing in the reference resistor as a voltage threshold value V th. Subscriber line test method for transmission system.
ムの加入者回線試験方式において、 ＯＮＵのインタフェース回路内に、被測定容量の判定し
きい値Ｃthに対応する容量値を有する参照容量と、 媒体試験開始時に、試験対象のメタリック加入者線路を
前記インタフェース回路から切り離して代わりに前記参
照容量を接続し、その後、前記参照容量を前記インタフ
ェース回路から切り離して代わりに前記メタリック加入
者線路を接続するスイッチとを備え、 時間比較器は、前記参照容量の端子間電圧が所定の電圧
しきい値を越えた時間を時間しきい値Ｔthとして学習記
憶する手段を含むことを特徴とする光加入者伝送システ
ムの加入者回線試験方式。11. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 6, wherein a reference capacity having a capacity value corresponding to a determination threshold C th of the measured capacity is provided in an interface circuit of the ONU. At the start of the medium test, the metallic subscriber line to be tested is disconnected from the interface circuit and the reference capacitor is connected instead, and then the reference capacitor is disconnected from the interface circuit and the metallic subscriber line is replaced instead. And a switch for connection, wherein the time comparator includes means for learning and storing a time when the voltage across the reference capacitor exceeds a predetermined voltage threshold as a time threshold T th. Subscriber line test method for subscriber transmission system.
ムの加入者回線試験方式において、 ＯＮＵのインタフェース回路とＯＳＵに接続される交換
機との間で、呼制御のためにインタフェース回路ごとに
個別に常時設定されている制御チャネル内に、インタフ
ェース回路の局給電機能を用いて媒体試験を行う手段の
制御および結果表示する試験制御信号を付加する構成で
あることを特徴とする光加入者伝送システムの加入者回
線試験方式。12. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 1, wherein an interface circuit for an ONU and an exchange connected to an OSU are individually provided for each interface circuit for call control. An optical subscriber transmission system characterized in that a control of means for carrying out a medium test by using a station power supply function of an interface circuit and a test control signal for displaying the result are added to a control channel which is always set to Subscriber line test method.
テムの加入者回線試験方式において、 交換機内の呼制御装置に、制御チャネル内の試験制御信
号を送受信する手段を備えたことを特徴とする光加入者
伝送システムの加入者回線試験方式。13. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 12, wherein the call control device in the exchange is provided with means for transmitting and receiving a test control signal in the control channel. Subscriber line test method for optical subscriber transmission system.
テムの加入者回線試験方式において、 ＯＳＵと交換機との間に、時分割多重化信号にチャネル
単位でアクセス可能なチャネルアクセス装置を接続し、
媒体試験時にはＯＳＵと交換機間の時分割多重化信号に
割り込み、試験制御装置に接続して制御チャネル内の試
験制御信号を送受信する構成であることを特徴とする光
加入者伝送システムの加入者回線試験方式。14. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 12, wherein a channel access device capable of accessing the time division multiplexed signal in units of channel is connected between the OSU and the exchange. ,
A subscriber line of an optical subscriber transmission system characterized by interrupting a time division multiplexed signal between an OSU and a switch during a medium test, and connecting to a test controller to transmit / receive a test control signal in a control channel. Test method.
テムの加入者回線試験方式において、 チャネルアクセス装置が媒体試験時にＯＳＵと交換機間
の時分割多重化信号に割り込みを行ったときに、引き抜
かれた試験制御信号のタイムスロットにアイドルパタン
を挿入して交換機に伝達する構成であることを特徴とす
る光加入者伝送システムの加入者回線試験方式。15. The subscriber line test method for an optical subscriber transmission system according to claim 14, wherein when the channel access device interrupts the time division multiplexed signal between the OSU and the switch during the medium test, the pulling is performed. A subscriber line test method for an optical subscriber transmission system, characterized in that an idle pattern is inserted into a time slot of a removed test control signal and transmitted to a switch.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07092095A JP3204484B2 (en) | 1995-03-04 | 1995-03-04 | Subscriber line test method for optical subscriber transmission system. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07092095A JP3204484B2 (en) | 1995-03-04 | 1995-03-04 | Subscriber line test method for optical subscriber transmission system. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08242292A true JPH08242292A (en) | 1996-09-17 |
| JP3204484B2 JP3204484B2 (en) | 2001-09-04 |
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ID=13445432
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07092095A Expired - Fee Related JP3204484B2 (en) | 1995-03-04 | 1995-03-04 | Subscriber line test method for optical subscriber transmission system. |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3204484B2 (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030024032A (en) * | 2001-09-15 | 2003-03-26 | 주식회사 옵텔콤 | optical comnucation system for learning |
| KR100465094B1 (en) * | 2000-12-29 | 2005-01-05 | 엘지전자 주식회사 | Subscriber Channel Test Method of Fiber Loop Carrier System |
| WO2005124376A1 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-29 | Daeha Cable Co., Ltd. | Method for detecting cable disconnection and apparatus thereof |
| WO2024034081A1 (en) * | 2022-08-10 | 2024-02-15 | 日本電信電話株式会社 | Subscriber accommodation module testing machine, subscriber accommodation module testing machine system, and subscriber accommodation module testing method |
-
1995
- 1995-03-04 JP JP07092095A patent/JP3204484B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100465094B1 (en) * | 2000-12-29 | 2005-01-05 | 엘지전자 주식회사 | Subscriber Channel Test Method of Fiber Loop Carrier System |
| KR20030024032A (en) * | 2001-09-15 | 2003-03-26 | 주식회사 옵텔콤 | optical comnucation system for learning |
| WO2005124376A1 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-29 | Daeha Cable Co., Ltd. | Method for detecting cable disconnection and apparatus thereof |
| WO2024034081A1 (en) * | 2022-08-10 | 2024-02-15 | 日本電信電話株式会社 | Subscriber accommodation module testing machine, subscriber accommodation module testing machine system, and subscriber accommodation module testing method |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3204484B2 (en) | 2001-09-04 |
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