JPH0819166A - 地絡検出装置 - Google Patents
地絡検出装置Info
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- JPH0819166A JPH0819166A JP6143219A JP14321994A JPH0819166A JP H0819166 A JPH0819166 A JP H0819166A JP 6143219 A JP6143219 A JP 6143219A JP 14321994 A JP14321994 A JP 14321994A JP H0819166 A JPH0819166 A JP H0819166A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 テスト装置を連続して動作させてもテスト装
置が焼損することなく、かつ地絡装置の構成全体をテス
トできるテスト装置を得る。 【構成】 地絡検出回路３の電源供給回路に直列にイン
ピーダンス素子７を接続し、その両端からテストスイッ
チ８を介して零相変流器２のテスト巻線９に電流を供給
するようにしている。
置が焼損することなく、かつ地絡装置の構成全体をテス
トできるテスト装置を得る。 【構成】 地絡検出回路３の電源供給回路に直列にイン
ピーダンス素子７を接続し、その両端からテストスイッ
チ８を介して零相変流器２のテスト巻線９に電流を供給
するようにしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、地絡検出装置の動作
の異常の有無を点検するためのテスト装置を有する地絡
検出装置に関するものである。
の異常の有無を点検するためのテスト装置を有する地絡
検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図７、図８は従来の地絡検出装置の構成
を示す回路図であり、図７は地絡を検出して交流電路を
遮断する構成の地絡遮断器を、また図８は地絡を検出し
て接点信号あるいは表示を出力するだけで、交流電路の
遮断をしない構成の地絡警報器を示すものである。これ
らの図において、１は交流電路、２は零相変流器、２ａ
はその２次巻線、３は上記２次巻線２ａに接続された地
絡検出回路、４は上記地絡検出回路３の出力端子に接続
されたスイッチング素子、５はこのスイッチング素子４
により駆動される例えば電磁装置のような出力装置、６
は上記地絡検出回路３への電源供給回路に接続された電
圧降下回路、８はテストスイッチ、９は上記零相変流器
２に巻回されたテスト巻線、１０は整流回路、１１はコ
ンデンサ、１２は遮断器の接点、１３はテスト用抵抗で
ある。なお、図７においてはテストスイッチ８とテスト
巻線９とテスト用抵抗１３によって、また、図８におい
てはテストスイッチ８とテスト用抵抗１３によって、そ
れぞれテスト装置１４を構成している。
を示す回路図であり、図７は地絡を検出して交流電路を
遮断する構成の地絡遮断器を、また図８は地絡を検出し
て接点信号あるいは表示を出力するだけで、交流電路の
遮断をしない構成の地絡警報器を示すものである。これ
らの図において、１は交流電路、２は零相変流器、２ａ
はその２次巻線、３は上記２次巻線２ａに接続された地
絡検出回路、４は上記地絡検出回路３の出力端子に接続
されたスイッチング素子、５はこのスイッチング素子４
により駆動される例えば電磁装置のような出力装置、６
は上記地絡検出回路３への電源供給回路に接続された電
圧降下回路、８はテストスイッチ、９は上記零相変流器
２に巻回されたテスト巻線、１０は整流回路、１１はコ
ンデンサ、１２は遮断器の接点、１３はテスト用抵抗で
ある。なお、図７においてはテストスイッチ８とテスト
巻線９とテスト用抵抗１３によって、また、図８におい
てはテストスイッチ８とテスト用抵抗１３によって、そ
れぞれテスト装置１４を構成している。
【０００３】このように構成された従来の地絡検出装置
の動作について説明する。交流電路１に地絡が発生した
場合、零相変流器２はその２次巻線２ａに地絡検出信号
を発生し、この信号は地絡検出回路３へ入力される。地
絡検出回路３は地絡検出信号の大きさを判別し、所定の
大きさを超える場合はその出力でスイッチング素子４を
駆動し、出力装置５を作動させる。図７の回路において
は、出力装置５の作動により遮断器の接点１２が開路
し、地絡電流を遮断する。また図８の回路においては、
出力装置５の作動により接点出力などが出力される。
の動作について説明する。交流電路１に地絡が発生した
場合、零相変流器２はその２次巻線２ａに地絡検出信号
を発生し、この信号は地絡検出回路３へ入力される。地
絡検出回路３は地絡検出信号の大きさを判別し、所定の
大きさを超える場合はその出力でスイッチング素子４を
駆動し、出力装置５を作動させる。図７の回路において
は、出力装置５の作動により遮断器の接点１２が開路
し、地絡電流を遮断する。また図８の回路においては、
出力装置５の作動により接点出力などが出力される。
【０００４】整流回路１０は、交流電路１の電圧を整流
して地絡検出回路３の直流電源を得るものであり、ま
た、電圧降下回路６は交流電路１の高い電圧（例えば１
００Ｖ、２００Ｖ、４００Ｖ等）を地絡検出回路３の電
源に必要な低い電圧（例えば１２Ｖ、２４Ｖ等）に低下
させる回路であり、さらに、コンデンサ１１は整流回路
１０で得た脈流を地絡検出回路３の電源として必要な直
流に平滑するものである。
して地絡検出回路３の直流電源を得るものであり、ま
た、電圧降下回路６は交流電路１の高い電圧（例えば１
００Ｖ、２００Ｖ、４００Ｖ等）を地絡検出回路３の電
源に必要な低い電圧（例えば１２Ｖ、２４Ｖ等）に低下
させる回路であり、さらに、コンデンサ１１は整流回路
１０で得た脈流を地絡検出回路３の電源として必要な直
流に平滑するものである。
【０００５】図７において、テストスイッチ８を閉路す
ると、交流電路１の電圧によりテスト用抵抗１３を通し
てテスト巻線９に交流電流が流れ、この電流によって零
相変流器２を励磁して地絡検出回路３を働かせ、地絡検
出装置が正常に動作することを確認することができる。
図７の構成においては、テストスイッチ８を閉路した
後、直ちに遮断器の接点１２が作動して交流電路１を遮
断するので、テスト用抵抗１３に電力が印加される時間
は短時間であり、短時間だけ耐えられる小形の抵抗が用
いられている。
ると、交流電路１の電圧によりテスト用抵抗１３を通し
てテスト巻線９に交流電流が流れ、この電流によって零
相変流器２を励磁して地絡検出回路３を働かせ、地絡検
出装置が正常に動作することを確認することができる。
図７の構成においては、テストスイッチ８を閉路した
後、直ちに遮断器の接点１２が作動して交流電路１を遮
断するので、テスト用抵抗１３に電力が印加される時間
は短時間であり、短時間だけ耐えられる小形の抵抗が用
いられている。
【０００６】次に図８の構成について説明すると、この
回路構成では、地絡を検出して出力装置５が作動しても
交流電路１を遮断しないため、テスト装置１４は連続定
格で使用できる構成となっている。即ち、交流電路１か
ら交流信号を引き出し、テストスイッチ８とテスト用抵
抗１３を経由して地絡検出回路３の入力端子へ直接交流
信号を加える。地絡検出回路３の入力端子は微小信号を
供給することで動作可能であるので、テスト用抵抗１３
に印加される電力は微小であり、交流電路１を遮断しな
い図８の構成においてもテスト装置１４は許容電力内で
連続動作可能である。
回路構成では、地絡を検出して出力装置５が作動しても
交流電路１を遮断しないため、テスト装置１４は連続定
格で使用できる構成となっている。即ち、交流電路１か
ら交流信号を引き出し、テストスイッチ８とテスト用抵
抗１３を経由して地絡検出回路３の入力端子へ直接交流
信号を加える。地絡検出回路３の入力端子は微小信号を
供給することで動作可能であるので、テスト用抵抗１３
に印加される電力は微小であり、交流電路１を遮断しな
い図８の構成においてもテスト装置１４は許容電力内で
連続動作可能である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図７の構成
においては、テスト装置１４は短時間定格となっている
ため、地絡検出装置の電源側と負荷側（つまり図中アの
点とイの点）を誤って接続すると、テストスイッチ８を
連続して閉路した場合にテスト用抵抗１３に交流電路１
の電源側から連続して過大な電力が供給され、抵抗１３
が焼損するという問題点があった。
においては、テスト装置１４は短時間定格となっている
ため、地絡検出装置の電源側と負荷側（つまり図中アの
点とイの点）を誤って接続すると、テストスイッチ８を
連続して閉路した場合にテスト用抵抗１３に交流電路１
の電源側から連続して過大な電力が供給され、抵抗１３
が焼損するという問題点があった。
【０００８】また、図８の構成においては、テストのた
めの信号を地絡検出回路３へ直接入力するため、地絡検
出回路３以降の動作の検証は可能であるが、零相変流器
２の故障、例えば２次巻線２ａの断線のようなものの有
無は検証できず、テスト装置としての機能が不完全であ
るという問題点があった。
めの信号を地絡検出回路３へ直接入力するため、地絡検
出回路３以降の動作の検証は可能であるが、零相変流器
２の故障、例えば２次巻線２ａの断線のようなものの有
無は検証できず、テスト装置としての機能が不完全であ
るという問題点があった。
【０００９】また、図７、図８のいずれの構成において
も、テスト装置１４の発生する信号の大きさは交流電路
１の電圧に比例する依存性を持つ。例えば、地絡検出装
置をＡＣ２００ＶとＡＣ４００Ｖの電路に共用できる仕
様である場合、ＡＣ２００Ｖでの使用では感度電流に適
合した適正なレベルの信号で動作の検証ができるが、Ａ
Ｃ４００Ｖで使用した場合は、ＡＣ２００Ｖのときの２
倍の、過大なレベルの信号で動作の検証を行うこととな
り、地絡検出装置の感度電流が鈍い方向へドリフトして
いる不具合を発見することができないという問題点もあ
った。
も、テスト装置１４の発生する信号の大きさは交流電路
１の電圧に比例する依存性を持つ。例えば、地絡検出装
置をＡＣ２００ＶとＡＣ４００Ｖの電路に共用できる仕
様である場合、ＡＣ２００Ｖでの使用では感度電流に適
合した適正なレベルの信号で動作の検証ができるが、Ａ
Ｃ４００Ｖで使用した場合は、ＡＣ２００Ｖのときの２
倍の、過大なレベルの信号で動作の検証を行うこととな
り、地絡検出装置の感度電流が鈍い方向へドリフトして
いる不具合を発見することができないという問題点もあ
った。
【００１０】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、零相変流器２から最終の出力装
置５、あるいは遮断器の接点１２までの地絡検出装置全
体の動作の検証が可能であり、電源側と負荷側を逆接続
して使用した場合でもテストスイッチの連続閉路によっ
て焼損することがなく、また、交流電路１の各種の電圧
に対してテストに用いる信号レベルが過大となることが
なく、適正なレベルの信号での動作の検証ができるテス
ト装置を得ることを目的としている。
ためになされたもので、零相変流器２から最終の出力装
置５、あるいは遮断器の接点１２までの地絡検出装置全
体の動作の検証が可能であり、電源側と負荷側を逆接続
して使用した場合でもテストスイッチの連続閉路によっ
て焼損することがなく、また、交流電路１の各種の電圧
に対してテストに用いる信号レベルが過大となることが
なく、適正なレベルの信号での動作の検証ができるテス
ト装置を得ることを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係る地絡検出
装置は、交流電路に挿入された零相変流器と、この変流
器の２次巻線からの電流により動作する上記交流電路の
地絡検出回路と、上記交流電路の電圧を整流して上記地
絡検出回路に電源を供給する整流回路と、上記地絡検出
回路に供給される電源電圧を所定値に調整する電圧降下
回路と、上記整流回路の入力側に直列に接続されたイン
ピーダンス素子と、上記零相変流器に巻回され、テスト
スイッチを介して上記インピーダンス素子の両端に接続
されたテスト巻線とを備えたものである。また、電圧降
下回路が、整流回路の出力側に挿入され、上記電圧降下
回路とインピーダンス素子との間にサージ吸収コンデン
サが接続されている。また、電圧降下回路が、整流回路
の入力側のインピーダンス素子よりもさらに交流電路に
近い側に挿入されている。また、電圧降下回路が、電圧
−電流特性が非直線となる回路または素子で構成されて
いる。
装置は、交流電路に挿入された零相変流器と、この変流
器の２次巻線からの電流により動作する上記交流電路の
地絡検出回路と、上記交流電路の電圧を整流して上記地
絡検出回路に電源を供給する整流回路と、上記地絡検出
回路に供給される電源電圧を所定値に調整する電圧降下
回路と、上記整流回路の入力側に直列に接続されたイン
ピーダンス素子と、上記零相変流器に巻回され、テスト
スイッチを介して上記インピーダンス素子の両端に接続
されたテスト巻線とを備えたものである。また、電圧降
下回路が、整流回路の出力側に挿入され、上記電圧降下
回路とインピーダンス素子との間にサージ吸収コンデン
サが接続されている。また、電圧降下回路が、整流回路
の入力側のインピーダンス素子よりもさらに交流電路に
近い側に挿入されている。また、電圧降下回路が、電圧
−電流特性が非直線となる回路または素子で構成されて
いる。
【００１２】
【作用】この発明における地絡検出装置は、地絡検出回
路の電源回路に直列に挿入されたインピーダンス素子の
両端電圧により、テストスイッチとテスト巻線により零
相変流器を励磁してテスト信号を得る。従って、零相変
流器から出力装置にいたる地絡検出装置全体のテストを
行うことができ、また繰り返しのテストにおいてもテス
ト用抵抗が焼損する心配はない。
路の電源回路に直列に挿入されたインピーダンス素子の
両端電圧により、テストスイッチとテスト巻線により零
相変流器を励磁してテスト信号を得る。従って、零相変
流器から出力装置にいたる地絡検出装置全体のテストを
行うことができ、また繰り返しのテストにおいてもテス
ト用抵抗が焼損する心配はない。
【００１３】
実施例１．以下この発明の実施例を図について説明す
る。図１において、１、２ａ、３、４、５、６、１０、
１１、１２は上記従来の装置と同様である。７は交流電
路１と地絡検出回路３への電源供給用の整流回路１０と
の間に直列に挿入されたインピーダンス素子、８はテス
トスイッチで、これは上記インピーダンス素子７の両端
とテスト巻線９とを結ぶ回路に直列に挿入されていて、
これらインピーダンス素子７、テストスイッチ８、及び
テスト巻線９でテスト装置１４を構成している。２１は
コンデンサで、上記インピーダンス素子７とＬ形フィル
タを構成するよう整流回路１０の出力側で、電圧降下回
路６とインピーダンス素子７との間に接続されている。
る。図１において、１、２ａ、３、４、５、６、１０、
１１、１２は上記従来の装置と同様である。７は交流電
路１と地絡検出回路３への電源供給用の整流回路１０と
の間に直列に挿入されたインピーダンス素子、８はテス
トスイッチで、これは上記インピーダンス素子７の両端
とテスト巻線９とを結ぶ回路に直列に挿入されていて、
これらインピーダンス素子７、テストスイッチ８、及び
テスト巻線９でテスト装置１４を構成している。２１は
コンデンサで、上記インピーダンス素子７とＬ形フィル
タを構成するよう整流回路１０の出力側で、電圧降下回
路６とインピーダンス素子７との間に接続されている。
【００１４】次にその動作を説明する。図１において、
地絡が発生した場合の地絡電流の検出から出力装置５の
動作までは従来の装置と同じである。また、電圧降下回
路６、整流回路１０、コンデンサ１１により地絡検出回
路３に電源を供給する動作も従来のものと同じである。
地絡が発生した場合の地絡電流の検出から出力装置５の
動作までは従来の装置と同じである。また、電圧降下回
路６、整流回路１０、コンデンサ１１により地絡検出回
路３に電源を供給する動作も従来のものと同じである。
【００１５】テスト装置１４の動作について説明する。
インピーダンス素子７には地絡検出回路３に電源を供給
するための交流消費電流が流れている。テストスイッチ
８を閉じると、インピーダンス素子７に流れていた上記
交流電流の一部がテスト巻線９に分流し、零相変流器２
を励磁し、模擬的な信号を発生する。従って、インピー
ダンス素子７のインピーダンスとテスト巻線９の巻数を
適切に設定することにより、零相変流器２を励磁し、地
絡検出回路３にテスト信号を供給し、地絡検出装置の動
作のテストを行うことができる。
インピーダンス素子７には地絡検出回路３に電源を供給
するための交流消費電流が流れている。テストスイッチ
８を閉じると、インピーダンス素子７に流れていた上記
交流電流の一部がテスト巻線９に分流し、零相変流器２
を励磁し、模擬的な信号を発生する。従って、インピー
ダンス素子７のインピーダンスとテスト巻線９の巻数を
適切に設定することにより、零相変流器２を励磁し、地
絡検出回路３にテスト信号を供給し、地絡検出装置の動
作のテストを行うことができる。
【００１６】一般的に、地絡検出回路３の消費電流は数
ｍＡであり、インピーダンス素子７を例えば１ＫΩと設
定しても消費電力は数１０ｍＷであり、小形の抵抗器を
用いて、テストスイッチ８を閉路し続けた場合でも消費
電力に耐え得る。また、テスト巻線９に分流させること
の可能な電流は数ｍＡであるが、テスト巻線９の巻数を
増すことで十分なテスト用の必要なアンペアターンを得
ることができる。
ｍＡであり、インピーダンス素子７を例えば１ＫΩと設
定しても消費電力は数１０ｍＷであり、小形の抵抗器を
用いて、テストスイッチ８を閉路し続けた場合でも消費
電力に耐え得る。また、テスト巻線９に分流させること
の可能な電流は数ｍＡであるが、テスト巻線９の巻数を
増すことで十分なテスト用の必要なアンペアターンを得
ることができる。
【００１７】実施例２．なお、上記実施例１において、
整流回路１０、電圧降下回路６、スイッチング素子４を
サージから保護するためのコンデンサ２１を上記インピ
ーダンス素子７とＬ形の回路構成になるように接続する
ことにより、テスト用のインピーダンス素子７をサージ
吸収用素子に共用でき、部品点数を低減することができ
る。
整流回路１０、電圧降下回路６、スイッチング素子４を
サージから保護するためのコンデンサ２１を上記インピ
ーダンス素子７とＬ形の回路構成になるように接続する
ことにより、テスト用のインピーダンス素子７をサージ
吸収用素子に共用でき、部品点数を低減することができ
る。
【００１８】実施例３．また、上記実施例１では、電圧
降下回路６はインピーダンス素子７より地絡検出回路３
寄りに位置していたが、図２に示すごとく、電圧降下回
路６をインピーダンス素子７より交流電路１に近い側に
接続しても同様の作用が得られる。
降下回路６はインピーダンス素子７より地絡検出回路３
寄りに位置していたが、図２に示すごとく、電圧降下回
路６をインピーダンス素子７より交流電路１に近い側に
接続しても同様の作用が得られる。
【００１９】図２の構成の場合、電圧降下回路６により
交流電路１の電圧は十分降下しており、テスト装置１４
に印加される電圧は地絡検出回路３、２次巻線２ａの電
位に近いレベルまで降下している。従ってこの実施例に
おいては、２次巻線２ａとテスト巻線９の電気的絶縁が
容易であり、テスト巻線９を含めた零相変流器全体を安
価に、より小さくすることが可能となる。なお、図２の
実施例では電圧降下回路６を単なる回路素子としてとら
えたが、図３に示す如く、電圧降下回路として変圧器１
５を用いても同等の効果を発揮できる。
交流電路１の電圧は十分降下しており、テスト装置１４
に印加される電圧は地絡検出回路３、２次巻線２ａの電
位に近いレベルまで降下している。従ってこの実施例に
おいては、２次巻線２ａとテスト巻線９の電気的絶縁が
容易であり、テスト巻線９を含めた零相変流器全体を安
価に、より小さくすることが可能となる。なお、図２の
実施例では電圧降下回路６を単なる回路素子としてとら
えたが、図３に示す如く、電圧降下回路として変圧器１
５を用いても同等の効果を発揮できる。
【００２０】実施例４．図４には電圧降下回路６として
直列制御方式の定電圧回路を用いた実施例を示す。図４
において、１６はトランジスタ、１７は抵抗、１８はツ
ェナーダイオードであり、これらで電圧降下回路６を構
成している。電圧降下回路６は交流電路１の電圧値の変
化に対して非直線の特性を示す。
直列制御方式の定電圧回路を用いた実施例を示す。図４
において、１６はトランジスタ、１７は抵抗、１８はツ
ェナーダイオードであり、これらで電圧降下回路６を構
成している。電圧降下回路６は交流電路１の電圧値の変
化に対して非直線の特性を示す。
【００２１】図５に交流電路１の電圧変化に対してイン
ピーダンス素子７に流れる電流の変化を示す。図中
（ａ）は電圧降下回路６が直線特性をもった回路（例え
ば抵抗器）の場合であり、（ｂ）は図４に示すような非
直線の特性をもつ直列制御方式の定電圧回路の場合を示
す。図４の構成においても、実施例１の場合と同じテス
ト装置の作用を得られる訳であるが、さらに図４の構成
においては、図５に示すように、交流電路１の電圧が種
々の値をとる場合でもインピーダンス素子７を流れる電
流はほぼ一定である。従って、テスト巻線９に流れる電
流も種々の電圧に対してほぼ一定の値とすることが可能
となり、交流電路１の電圧が高い場合に過大なテスト用
の電流をテスト巻線９に流して地絡検出装置の所定の感
度電流より大きな点でのテストをするという不都合がな
く、交流電路１の電圧値に関わらず所定の感度電流に近
い電流値による正しい動作テストが可能となる。
ピーダンス素子７に流れる電流の変化を示す。図中
（ａ）は電圧降下回路６が直線特性をもった回路（例え
ば抵抗器）の場合であり、（ｂ）は図４に示すような非
直線の特性をもつ直列制御方式の定電圧回路の場合を示
す。図４の構成においても、実施例１の場合と同じテス
ト装置の作用を得られる訳であるが、さらに図４の構成
においては、図５に示すように、交流電路１の電圧が種
々の値をとる場合でもインピーダンス素子７を流れる電
流はほぼ一定である。従って、テスト巻線９に流れる電
流も種々の電圧に対してほぼ一定の値とすることが可能
となり、交流電路１の電圧が高い場合に過大なテスト用
の電流をテスト巻線９に流して地絡検出装置の所定の感
度電流より大きな点でのテストをするという不都合がな
く、交流電路１の電圧値に関わらず所定の感度電流に近
い電流値による正しい動作テストが可能となる。
【００２２】図４では電圧降下回路として、トランジス
タ１６を基準電圧を発生するツェナーダイオード１８で
アナログ的に制御する回路を示したが、図６に示すよう
に、電圧降下回路の代わりに定電流ダイオード１９を用
いても同様の効果を得ることができる。
タ１６を基準電圧を発生するツェナーダイオード１８で
アナログ的に制御する回路を示したが、図６に示すよう
に、電圧降下回路の代わりに定電流ダイオード１９を用
いても同様の効果を得ることができる。
【００２３】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、テスト
装置を連続して作動させても過電力によりテスト装置が
焼損することなく、よって地絡遮断器の逆接続の保護に
もなり、また地絡警報器にも適用でき、さらに零相変流
器を含む地絡検出装置全体の動作のテストが可能とな
る。
装置を連続して作動させても過電力によりテスト装置が
焼損することなく、よって地絡遮断器の逆接続の保護に
もなり、また地絡警報器にも適用でき、さらに零相変流
器を含む地絡検出装置全体の動作のテストが可能とな
る。
【００２４】また、テスト用インピーダンス素子をサー
ジ吸収回路素子と兼用することもでき、またテスト装置
に印加される電圧を地絡検出用変流器の２次巻線の電位
に近い値にすることにより、装置の部品点数の低減、装
置の小形化が図れる。
ジ吸収回路素子と兼用することもでき、またテスト装置
に印加される電圧を地絡検出用変流器の２次巻線の電位
に近い値にすることにより、装置の部品点数の低減、装
置の小形化が図れる。
【００２５】さらにまた、地絡検出装置の電源を得るた
めの電圧降下回路を、電圧に対して非直線の特性をもつ
構成とすることにより、交流電路の電圧値の違いによら
ず一定のテスト電流で適正な動作のテストが可能となる
効果がある。
めの電圧降下回路を、電圧に対して非直線の特性をもつ
構成とすることにより、交流電路の電圧値の違いによら
ず一定のテスト電流で適正な動作のテストが可能となる
効果がある。
【図１】 この発明の実施例１に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
す回路構成図である。
【図２】 この発明の実施例２に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
す回路構成図である。
【図３】 実施例２の変形を示す地絡検出装置を示す回
路構成図である。
路構成図である。
【図４】 この発明の実施例３に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
す回路構成図である。
【図５】 実施例３の動作を説明するための特性図であ
る。
る。
【図６】 この発明の実施例４に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
す回路構成図である。
【図７】 従来の地絡検出装置を示す回路構成図であ
る。
る。
【図８】 従来の地絡検出装置を示す回路構成図であ
る。
る。
１ 交流電路、２ 零相変流器、２ａ ２次巻線、３
地絡検出回路、４ スイッチング素子、５ 出力装置、
６ 電圧降下回路、７ インピーダンス素子、８ テス
トスイッチ、９ テスト巻線、１０ 整流回路、１１
コンデンサ、１２ 遮断器の接点、１３ テスト用抵
抗、１４ テスト装置、１５ 変圧器、１６ トランジ
スタ、１７ 抵抗、１８ ツェナーダイオード、１９
定電流ダイオード、２１ コンデンサ。
地絡検出回路、４ スイッチング素子、５ 出力装置、
６ 電圧降下回路、７ インピーダンス素子、８ テス
トスイッチ、９ テスト巻線、１０ 整流回路、１１
コンデンサ、１２ 遮断器の接点、１３ テスト用抵
抗、１４ テスト装置、１５ 変圧器、１６ トランジ
スタ、１７ 抵抗、１８ ツェナーダイオード、１９
定電流ダイオード、２１ コンデンサ。
Claims (4)
- 【請求項１】 交流電路に挿入された零相変流器、この
零相変流器の２次巻線からの電流により動作する上記交
流電路の地絡検出回路、上記交流電路の電圧を整流して
上記地絡検出回路に電源を供給する整流回路、上記地絡
検出回路に供給される電源電圧を所定値に調整する電圧
降下回路、上記整流回路の入力側に直列に接続されたイ
ンピーダンス素子、上記零相変流器に巻回され、テスト
スイッチを介して上記インピーダンス素子の両端に接続
されたテスト巻線を備えたことを特徴とする地絡検出装
置。 - 【請求項２】 電圧降下回路が整流回路の出力側に挿入
され、上記電圧降下回路とインピーダンス素子との間に
サージ吸収コンデンサが接続されていることを特徴とす
る請求項１記載の地絡検出装置。 - 【請求項３】 電圧降下回路が、整流回路の入力側のイ
ンピーダンス素子よりもさらに交流電路に近い側に挿入
されていることを特徴とする請求項１記載の地絡検出装
置。 - 【請求項４】 電圧降下回路が、電圧−電流特性が非直
線となる回路または素子で構成されていることを特徴と
する請求項１〜請求項３のいずれか一項記載の地絡検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14321994A JP3157386B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 地絡検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14321994A JP3157386B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 地絡検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0819166A true JPH0819166A (ja) | 1996-01-19 |
| JP3157386B2 JP3157386B2 (ja) | 2001-04-16 |
Family
ID=15333667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14321994A Expired - Fee Related JP3157386B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 地絡検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3157386B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006187150A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Omron Corp | パワーコンディショナおよびその自己診断方法 |
| JP2009089574A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-23 | Mitsubishi Electric Corp | 漏電遮断器 |
| JP2009225643A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-01 | Tempearl Ind Co Ltd | テスト装置を備えた漏電検出器 |
| KR100981845B1 (ko) * | 2003-11-27 | 2010-09-13 | 후지 덴키 기기세이교 가부시끼가이샤 | 누전 차단기 |
| JP2014063993A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-04-10 | Kyocera Corp | 零相変流器、地絡電流検出装置、パワーコンディショナ、及び零相変流器の故障検出方法 |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP14321994A patent/JP3157386B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100981845B1 (ko) * | 2003-11-27 | 2010-09-13 | 후지 덴키 기기세이교 가부시끼가이샤 | 누전 차단기 |
| JP2006187150A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Omron Corp | パワーコンディショナおよびその自己診断方法 |
| JP2009089574A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-23 | Mitsubishi Electric Corp | 漏電遮断器 |
| JP2009225643A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-01 | Tempearl Ind Co Ltd | テスト装置を備えた漏電検出器 |
| JP2014063993A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-04-10 | Kyocera Corp | 零相変流器、地絡電流検出装置、パワーコンディショナ、及び零相変流器の故障検出方法 |
| CN104603894A (zh) * | 2012-08-29 | 2015-05-06 | 京瓷株式会社 | 零相序变流器、接地故障电流检测装置、电力调节器及用于检测零相序变流器的故障的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3157386B2 (ja) | 2001-04-16 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |