JPH08162332A - Wiring breaking test circuit for instrument current transformer - Google Patents
Wiring breaking test circuit for instrument current transformerInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は計器用変流器への配線断
線試験回路に関し、計器用変流器を備えている各種の製
品に適用して有用なものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit break test circuit for a current transformer for an instrument, which is useful when applied to various products equipped with a current transformer for an instrument.
【0002】[0002]
【従来の技術】計器用変流器(以下CTという)には例
えば三相の電線ラインに装備される零相変流器(以下Z
CTという)や三相変流器(以下3φCTという)など
があるが、何れも二次側がオープンになっていないかど
うかを確認するため、配線の断線試験が行われる。2. Description of the Related Art Current transformers for measuring instruments (hereinafter referred to as CT) are, for example, zero-phase current transformers (hereinafter referred to as Z
Although there is a CT) or a three-phase current transformer (hereinafter referred to as 3φCT), the disconnection test of the wiring is performed to confirm whether or not the secondary side is open.
【0003】図3は従来技術に係る配線断線試験回路の
回路図、図3はZCTの概略構成を示す説明図である。
ZCT11は、図4に示すように、三相の電線ライン1
3を取り囲む鉄心11と、この鉄心11に巻回された二
次巻線12とを有しており、電線ライン13の地絡が発
生すると、このときに流れる零相電流によって鉄心16
中に磁束を生じ、この磁束によって二次巻線12に電流
が流れるというものである。かかるZCT11の二次巻
線12には、図3に示すように、二次端子TB2に接続
された配線18を介して、抵抗R2が並列に接続されて
おり、この抵抗R2は、オペアンプ等を用いて構成され
た増幅回路であるアナログ回路14を介してマイクロコ
ンピュータ(以下マイコンともいう)15に接続されて
いる。そして、このZCT11には試験用巻線17が設
けられており、この試験用巻線17の試験用端子TB1
にはリレーRy及び抵抗R1を介して、本配線断線試験回
路を備えた製品の内部電源V1′が接続されている。FIG. 3 is a circuit diagram of a wiring disconnection test circuit according to the prior art, and FIG. 3 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of ZCT.
As shown in FIG. 4, ZCT11 is a three-phase electric wire line 1
3 has an iron core 11 surrounding the core 3, and a secondary winding 12 wound around the iron core 11. When a ground fault occurs in the electric wire line 13, the iron core 16 is caused by a zero-phase current flowing at this time.
A magnetic flux is generated therein, and the magnetic flux causes a current to flow in the secondary winding 12. As shown in FIG. 3, a resistor R 2 is connected in parallel to the secondary winding 12 of the ZCT 11 via a wiring 18 connected to the secondary terminal TB2. This resistor R 2 is an operational amplifier. It is connected to a microcomputer (hereinafter also referred to as a microcomputer) 15 through an analog circuit 14 which is an amplifier circuit configured by using the above. The ZCT 11 is provided with a test winding 17, and the test terminal TB1 of the test winding 17 is provided.
An internal power supply V 1 ′ of the product having the main wiring disconnection test circuit is connected to the relay R y and the resistor R 1 .
【0004】従って、抵抗R1やリレーRyを介して製品
内の電源V1′から試験用巻線17に電流I1を流すと、
配線18が断線していない場合には、二次巻線12に電
流I2が流れ抵抗R2の両端に電圧VRが発生するため、
この両端電圧VRがアナログ回路14を介してマイコン
15に検出され、その結果マイコン15は配線18が断
線していないと判断する。一方、配線18が断線してい
る場合には、二次巻線12に電流I2が流れず、従って
抵抗R2の両端電圧VRもゼロであるため、マイコン15
は配線18が断線していると判断する。かくして断線試
験が行われる。Therefore, when a current I 1 is made to flow from the power source V 1 ′ in the product to the test winding 17 via the resistor R 1 and the relay R y ,
Since the wiring 18 when not broken, the voltage V R generated across the resistor R 2 current I 2 flows through the secondary winding 12,
The end-to-end voltage V R is detected to the microcomputer 15 via the analog circuit 14, so that the microcomputer 15 determines that the wiring 18 is not broken. Meanwhile, since the wiring 18 when is broken, the secondary winding 12 current I 2 does not flow, hence also end-to-end voltage V R of the resistor R 2 is zero, the microcomputer 15
Determines that the wiring 18 is broken. Thus, the disconnection test is performed.
【0005】他の断線試験方法としては、製品内の電源
V1とは別の電源を用意し、この別電源からZCT11
の試験用巻線17に電流I1を流して前述の如く配線1
8の断線試験を行ったり、また試験用巻線のない3φC
Tを三相の電線ラインに装備する場合には、この電線ラ
インに前記別電源から電流を流して、3φCTの二次側
の配線の断線試験を行うという方法がある。As another disconnection test method, a power source different from the power source V 1 in the product is prepared, and the ZCT 11
A current I 1 is passed through the test winding 17 of the wiring 1 and the wiring 1
8 disconnection test and 3φC without test winding
When T is installed in a three-phase electric wire line, there is a method in which a current is applied to the electric wire line from the separate power source to perform a disconnection test on the secondary side wiring of 3φCT.
【0006】なお上記の内容は低圧用のCTの場合に限
定する。The above contents are limited to the case of CT for low pressure.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】以上のように、ZCT
には試験用巻線17を備えたものがあり、これによって
断線試験を行うことができるが、3φCTには特に試験
用巻線がないため、3φCTの断線試験を行うには、別
電源等を用意しなければならず、作業が面倒である。ま
た試験用巻線17を備えたZCT11は大型で高価であ
り、試験用巻線17に接続されるリレーRyも大型で高
価である。As mentioned above, ZCT
There is a test winding 17 in some of them, which allows a disconnection test to be performed. However, since there is no particular test winding in the 3φCT, a separate power supply or the like is required to perform the 3φCT disconnection test. You have to prepare it, and the work is troublesome. Further, the ZCT 11 having the test winding 17 is large and expensive, and the relay R y connected to the test winding 17 is also large and expensive.
【0008】なお、CTというのは二次側がオープンに
なると、このCTが動作したときに損傷してしまうた
め、CTを使用した製品が出荷された後も、作業員等に
よってCTの二次側がオープンになっていないかどうか
を確認する必要がある。またCT自体の特性は永い間使
用してもあまり変化がないため、前記製品の出荷後は、
大がかりな特性試験は必要がなく、断線試験という簡易
な試験が求められている。更には前記製品の小型化、低
価格化が求められている。[0008] Incidentally, since the CT is damaged when the CT is operated when the secondary side is opened, the secondary side of the CT is still operated by an operator or the like even after the product using the CT is shipped. Need to check if it is not open. In addition, the characteristics of CT itself do not change much even if it is used for a long time.
There is no need for a large-scale characteristic test, and a simple test called a disconnection test is required. Furthermore, there is a demand for downsizing and cost reduction of the above products.
【0009】従って本発明は上記従来技術に鑑み、CT
への配線の断線試験を簡単に行うことができると共に、
CTを使用した製品の小型化、低価格化を実現すること
ができるCTへの配線断線試験回路を提供することを目
的とする。Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned prior art.
It is possible to easily perform a disconnection test of the wiring to
An object of the present invention is to provide a wiring disconnection test circuit for a CT, which can realize downsizing and cost reduction of a product using the CT.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の構成は、計器用変流器の二次巻線に配線を介して並
列に接続された第1の抵抗と、トランジスタを有して構
成されこのトランジスタのベースに入力されるマイクロ
コンピュータからの指令信号によってONするトランジ
スタスイッチと、このトランジスタスイッチと前記第1
の抵抗との間に介設された第2の抵抗と、前記第1の抵
抗と前記トランジスタスイッチとに接続され、前記トラ
ンジスタのベースに指令信号を与えて前記トランジスタ
スイッチをONさせると共に、このときの前記第1の抵
抗の両端電圧に基づき前記配線が断線しているか否かを
判断するマイクロコンピュータとを備えたことを特徴と
する。The structure of the present invention which achieves the above object has a first resistor and a transistor which are connected in parallel to the secondary winding of an instrument current transformer via wiring. And a transistor switch which is turned on by a command signal from a microcomputer input to the base of the transistor, the transistor switch and the first switch.
Is connected to the first resistor and the transistor switch, the second resistor interposed between the first resistor and the second resistor, and a command signal is applied to the base of the transistor to turn on the transistor switch. And a microcomputer that determines whether or not the wiring is disconnected based on the voltage across the first resistor.
【0011】[0011]
【作用】上記構成の本発明によれば、マイクロコンピュ
ータからの指令信号によってトランジスタスイッチがO
Nすると、二次巻線と第1の抵抗とを接続する配線が断
線していない場合には、第1の抵抗の両端電圧がほぼゼ
ロとなり、その結果マイクロコンピュータは前記配線が
断線していないと判断する。一方、前記配線が断線して
いる場合には、第1の抵抗の両端電圧が、この第1の抵
抗と第2の抵抗との比に応じた電圧となり、その結果マ
イクロコンピュータは前記配線が断線していると判断す
る。According to the present invention having the above structure, the transistor switch is turned on by the command signal from the microcomputer.
Then, if the wiring connecting the secondary winding and the first resistor is not broken, the voltage across the first resistor becomes almost zero, and as a result, the microcomputer does not break the wiring. To judge. On the other hand, when the wiring is disconnected, the voltage across the first resistor becomes a voltage according to the ratio of the first resistance and the second resistance, and as a result, the microcomputer disconnects the wiring. Judge that you are doing.
【0012】[0012]
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説
明する。Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.
【0013】図1は、本発明の実施例に係る断線試験回
路の回路図である。同図に示すように、ZCT1には試
験用の巻線がなく、二次巻線2のみが設けられている。
この二次巻線2には、二次端子TB2に接続された配線
6を介して、並列に抵抗Rが接続されている。この抵抗
Rは、オペアンプ等を用いて構成された増幅回路である
アナログ回路4を介して、マイコン5に接続されてお
り、二次巻線2に流れる電流ICT(流れる方向は電線ラ
イン13に流れる電流による)を電圧に変換すると共
に、後述する抵抗RLとの比によって断線検出レベルを
決定している。FIG. 1 is a circuit diagram of a disconnection test circuit according to an embodiment of the present invention. As shown in the figure, the ZCT 1 does not have a test winding, and only the secondary winding 2 is provided.
A resistor R is connected in parallel to the secondary winding 2 via a wire 6 connected to the secondary terminal TB2. The resistor R is connected to the microcomputer 5 via an analog circuit 4 which is an amplifier circuit configured by using an operational amplifier or the like, and a current I CT flowing in the secondary winding 2 (the flowing direction is the wire line 13). (Depending on the flowing current) is converted into a voltage, and the disconnection detection level is determined by the ratio with a resistance R L described later.
【0014】そして、この配線断線試験回路にはトラン
ジスタスイッチ7及び抵抗RLが設けられている。トラ
ンジスタスイッチ7は、PNP型のトランジスタT
rと、トランジスタTrのベースBとエミッタEとの間及
びベースBとマイコン5との間に各々介設されてトラン
ジスタTrの動作レベルを決定する抵抗RBE及びRBと、
トランジスタTrのコレクタCとエミッタEとの間に接
続されたダイオードDとによって構成されている。抵抗
RLは、コレクタCと抵抗Rとの間に介設されており、
トランジスタTrのコレクタ電流ICの値を決定してい
る。なおエミッタEには、本配線断線試験回路を備えた
製品の内部直流電源V1が接続されている。またマイコ
ン5の電源は0V−5Vであり、COMは0V、指令は
5V(トランジスタTrOFF)→0V(トランジスタ
TrON)である。The wiring disconnection test circuit is provided with a transistor switch 7 and a resistor R L. The transistor switch 7 is a PNP transistor T.
r and resistors R BE and R B, which are respectively provided between the base B and the emitter E of the transistor T r and between the base B and the microcomputer 5 to determine the operating level of the transistor T r ,
Is constituted by a diode connected D between the collector C and the emitter E of the transistor T r. The resistor R L is provided between the collector C and the resistor R,
The value of the collector current I C of the transistor T r is determined. The emitter E is connected to the internal DC power supply V 1 of the product provided with the wiring disconnection test circuit. The power source of the microcomputer 5 is 0V-5V, COM is 0V, and the command is 5V (transistor Tr off) → 0V (transistor Tr on ).
【0015】従って上記実施例によれば、通常は電線ラ
イン13が地絡して零相電流が流れると、この零相電流
に対応した電流ICTが流れ、この電流ICTが抵抗Rによ
って電圧VRに変換されると共にアナログ回路4に増さ
れてマイコン5に検出される。その結果マイコン5は電
線ライン13が地絡したと判断し、この判断に基づいて
図示しない保護回路が動作する。Therefore, according to the above-described embodiment, normally, when the wire line 13 is ground-faulted and a zero-phase current flows, a current I CT corresponding to this zero-phase current flows, and this current I CT flows through the resistor R to a voltage. is masa the analog circuit 4 is detected to the microcomputer 5 while being converted into V R. As a result, the microcomputer 5 determines that the electric wire line 13 is grounded, and the protection circuit (not shown) operates based on this determination.
【0016】これに対し、断線試験時には、マイコン5
からトランジスタTrのベースBへ低レベルの指令信号
が出力され、この指令信号によってトランジスタスイッ
チ7(トランジスタTr)がONする。トランジスタス
イッチ7がONすると、配線6が断線していない場合に
は、抵抗RLによって決まる値のコレクタ電流ICが流
れ、二次巻線2の電圧降下がほぼゼロであることから、
抵抗Rの両端電圧VRがほぼゼロとなるため、マイコン
5は配線6が断線していないと判断する。一方、配線6
が断線している場合には、トランジスタスイッチ7がO
Nしたときに抵抗RLとRとによって決まる値のコレク
タ電流ICが流れ、抵抗Rの両端電圧VRが、抵抗RとR
Lとの比によって決まる値となるため、マイコン5は配
線6が断線していると判断する。On the other hand, during the disconnection test, the microcomputer 5
Outputs a low-level command signal from the transistor B to the base B of the transistor T r , and this command signal turns on the transistor switch 7 (transistor T r ). When the transistor switch 7 is turned on, if the wiring 6 is not broken, a collector current I C having a value determined by the resistance R L flows and the voltage drop of the secondary winding 2 is almost zero.
Since the end-to-end voltage V R is almost zero resistance R, the microcomputer 5 determines that the wire 6 is not broken. On the other hand, wiring 6
Is disconnected, the transistor switch 7 turns off.
When N, a collector current I C having a value determined by the resistors R L and R flows, and the voltage V R across the resistor R changes to the resistors R and R.
Since the value is determined by the ratio with L , the microcomputer 5 determines that the wiring 6 is broken.
【0017】以上のように上記実施例によれば、マイコ
ン5からの指令信号によってトランジスタスイッチ7を
作動させることにより、簡単に配線6の断線試験を行う
ことができる。またリレーRyのかわりに面実装のトラ
ンジスタTr等の部品からなるトランジスタスイッチ7
を用いるため、配線断線試験回路の小型化、低価格化を
実現することができ、延いてはかかる配線断線試験回路
を備えた製品の小型化、低価格化を実現することができ
る。またZCTには試験用巻線が不要となるため、ZC
Tの小型化、低価格化を実現することもできる。As described above, according to the above embodiment, the disconnection test of the wiring 6 can be easily performed by operating the transistor switch 7 in response to the command signal from the microcomputer 5. Further, instead of the relay R y , a transistor switch 7 including components such as a surface-mount transistor T r
Therefore, it is possible to realize downsizing and cost reduction of the wiring disconnection test circuit, and further it is possible to realize downsizing and cost reduction of a product including such a wiring disconnection test circuit. Since ZCT does not require a test winding, ZC
It is also possible to reduce the size and cost of the T.
【0018】なお上記実施例では、ZCTの場合につい
て示したが、勿論、3φCTや単相CTについても上記
実施例と同様の断線試験回路を適用することができる。
また上記実施例ではPNP型のトランジスタTrを用い
てトランジスタスイッチを構成したが、NPN型のトラ
ンジスタTrを用いてトランジスタスイッチを構成して
もよい。但しNPN型のトランジスタTrを用いる場合
には図2に示すような回路構成とする。即ちトランジス
タTrのコレクタCを抵抗RLを介して電源V1に接続し
エミッタEを抵抗Rの一端に接続すると共に、抵抗Rの
他端とマイコン5との間にアナログ回路4を介設する。
またマイコン5の指令は0V(トランジスタTrOF
F)→5V(トランジスタTrON)とする。In the above embodiment, the case of ZCT is shown, but of course the same disconnection test circuit as in the above embodiment can be applied to 3φ CT and single phase CT.
Further, in the above embodiment, the PNP type transistor T r is used to form the transistor switch, but the NPN type transistor T r may be used to form the transistor switch. However, when the NPN type transistor Tr is used, the circuit configuration is as shown in FIG. That is, the collector C of the transistor T r is connected to the power source V 1 via the resistor R L , the emitter E is connected to one end of the resistor R, and the analog circuit 4 is provided between the other end of the resistor R and the microcomputer 5. To do.
The command of the microcomputer 5 is 0 V (transistor T r OF
F) → 5V (transistor Tr ON).
【0019】[0019]
【発明の効果】以上実施例と共に具体的に説明したよう
に本発明によれば、マイクロコンピュータからの指令信
号によってトランジスタスイッチを動作させることによ
り、簡単に配線の断線試験を行うことができる。また従
来のリレーのかわりにトランジスタスイッチを用いるた
め、配線断線試験回路の小型化、低価格化を実現するこ
とができ、延いてはこの配線断線試験回路を備えた製品
の小型化、低価格化を実現することができる。またZC
Tに適用する場合には、ZCTに試験用巻線を設ける必
要がなくなり、ZCTの小型化、低価格化を実現するこ
ともできる。According to the present invention as specifically described in connection with the above embodiments, the disconnection test of the wiring can be easily performed by operating the transistor switch according to the command signal from the microcomputer. Since a transistor switch is used instead of the conventional relay, the wiring disconnection test circuit can be downsized and the price can be reduced, and the product equipped with the wiring disconnection test circuit can be downsized and reduced in price. Can be realized. Also ZC
When applied to the T, it is not necessary to provide a test winding on the ZCT, and the ZCT can be downsized and the cost can be reduced.
【図1】本発明の実施例に係る配線断線試験回路の回路
図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a wiring disconnection test circuit according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の他の実施例に係る配線断線試験回路の
回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a wiring disconnection test circuit according to another embodiment of the present invention.
【図3】従来技術に係る配線断線試験回路の回路図であ
る。FIG. 3 is a circuit diagram of a wiring disconnection test circuit according to a conventional technique.
【図4】ZCTの概略構成を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of ZCT.
1 ZCT 2 二次巻線 4 アナログ回路 5 マイコン 6 配線 7 トランジスタスイッチ 13 電線ライン D ダイオード R,RB,RBE,RL 抵抗 TB2 二次端子 Tr トランジスタ V1 直流電源1 ZCT 2 secondary windings 4 analog circuit 5 microcomputer 6 lines 7 transistor switch 13 wire line D diodes R, R B, R BE, R L the resistance TB2 secondary terminal T r transistor V 1 DC power source
Claims (1)
並列に接続された第1の抵抗と、 トランジスタを有して構成されこのトランジスタのベー
スに入力されるマイクロコンピュータからの指令信号に
よってONするトランジスタスイッチと、 このトランジスタスイッチと前記第1の抵抗との間に介
設された第2の抵抗と、 前記第1の抵抗と前記トランジスタスイッチとに接続さ
れ、前記トランジスタのベースに指令信号を与えて前記
トランジスタスイッチをONさせると共に、このときの
前記第1の抵抗の両端電圧に基づき前記配線が断線して
いるか否かを判断するマイクロコンピュータとを備えた
ことを特徴とする計器用変流器への配線断線試験回路。1. A first resistor connected in parallel to a secondary winding of a current transformer for an instrument via a wiring, and a microcomputer having a transistor, which is input to a base of the transistor. A transistor switch that is turned on by a command signal, a second resistor provided between the transistor switch and the first resistor, a first resistor and the transistor switch, and a base of the transistor. A microcomputer for determining whether or not the wiring is broken based on the voltage across the first resistor at this time while applying a command signal to the transistor switch. Wiring disconnection test circuit to current transformer for instrument.
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---|---|---|---|
JP30339494A JP3149711B2 (en) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | Circuit disconnection test circuit for current transformer for instrument |
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002044856A (en) * | 2000-07-25 | 2002-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | Leakage current relay |
JP2007110889A (en) * | 2005-09-16 | 2007-04-26 | Schneider Electric Industries Sas | Electronic trip device equipped with monitoring means, circuit breaker equipped with such trip device, and monitoring method |
JP2008206360A (en) * | 2007-02-22 | 2008-09-04 | Mitsubishi Electric Corp | Earth leakage relay |
JP2009142021A (en) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Mitsubishi Electric Corp | Leakage relay |
WO2014034117A1 (en) * | 2012-08-29 | 2014-03-06 | 京セラ株式会社 | Zero-phase-sequence current transformer, ground-fault current detection device, power conditioner, and method of detecting malfunction of zero-phase-sequence current transformer |
JP2020197396A (en) * | 2019-05-31 | 2020-12-10 | アイシン精機株式会社 | Current detection device |
-
1994
- 1994-12-07 JP JP30339494A patent/JP3149711B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002044856A (en) * | 2000-07-25 | 2002-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | Leakage current relay |
JP2007110889A (en) * | 2005-09-16 | 2007-04-26 | Schneider Electric Industries Sas | Electronic trip device equipped with monitoring means, circuit breaker equipped with such trip device, and monitoring method |
JP2008206360A (en) * | 2007-02-22 | 2008-09-04 | Mitsubishi Electric Corp | Earth leakage relay |
JP2009142021A (en) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Mitsubishi Electric Corp | Leakage relay |
WO2014034117A1 (en) * | 2012-08-29 | 2014-03-06 | 京セラ株式会社 | Zero-phase-sequence current transformer, ground-fault current detection device, power conditioner, and method of detecting malfunction of zero-phase-sequence current transformer |
JP2014063993A (en) * | 2012-08-29 | 2014-04-10 | Kyocera Corp | Zero-phase current transformer, ground-fault current detector, power conditioner, and fault detection method of zero-phase current transformer |
CN104603894A (en) * | 2012-08-29 | 2015-05-06 | 京瓷株式会社 | Zero-phase-sequence current transformer, ground-fault current detection device, power conditioner, and method of detecting malfunction of zero-phase-sequence current transformer |
US9928955B2 (en) | 2012-08-29 | 2018-03-27 | Kyocera Corporation | Zero-phase-sequence current transformer, ground fault current detection device, power conditioner, and method for detecting malfunction of zero-phase-sequence current transformer |
JP2020197396A (en) * | 2019-05-31 | 2020-12-10 | アイシン精機株式会社 | Current detection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP3149711B2 (en) | 2001-03-26 |
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