JPH08111567A - 誘導ブリリュアン散乱を抑制する装置 - Google Patents
誘導ブリリュアン散乱を抑制する装置Info
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- JPH08111567A JPH08111567A JP7270711A JP27071195A JPH08111567A JP H08111567 A JPH08111567 A JP H08111567A JP 7270711 A JP7270711 A JP 7270711A JP 27071195 A JP27071195 A JP 27071195A JP H08111567 A JPH08111567 A JP H08111567A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、誘導ブリリュアン散乱(SBS)
を抑制するような同調可能な分散型ブラグリフレクタレ
ーザを提供する。 【解決手段】 本発明の半導体レーザ装置は、ディザー
信号に応答するチューナを有する半導体レーザを用い
て、光ファイバ内のSBSを抑制するものである。この
チューナは、ディザー信号である連続的なシヌソイド電
流に応答し、レーザ発振周波数を制御して半導体レーザ
を同調する。第1の実施例では、このチューナは、半導
体レーザの受動導波路に熱的に結合された抵抗を有し、
この抵抗は、ディザー信号に応答して半導体レーザの同
調を制御する受動導波路を加熱する。そして第2の実施
例では、このチューナは、ディザー信号に応答して半導
体レーザの受動導波路に連続的にバイアスを掛けて半導
体レーザの同調を制御している。このチューナは、バイ
アス電流を半導体レーザの受動導波路に連続的に注入し
て受動導波路に連続的にバイアスを掛けている。
を抑制するような同調可能な分散型ブラグリフレクタレ
ーザを提供する。 【解決手段】 本発明の半導体レーザ装置は、ディザー
信号に応答するチューナを有する半導体レーザを用い
て、光ファイバ内のSBSを抑制するものである。この
チューナは、ディザー信号である連続的なシヌソイド電
流に応答し、レーザ発振周波数を制御して半導体レーザ
を同調する。第1の実施例では、このチューナは、半導
体レーザの受動導波路に熱的に結合された抵抗を有し、
この抵抗は、ディザー信号に応答して半導体レーザの同
調を制御する受動導波路を加熱する。そして第2の実施
例では、このチューナは、ディザー信号に応答して半導
体レーザの受動導波路に連続的にバイアスを掛けて半導
体レーザの同調を制御している。このチューナは、バイ
アス電流を半導体レーザの受動導波路に連続的に注入し
て受動導波路に連続的にバイアスを掛けている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、同調可能なレー
ザ、特に誘導ブリリュアン散乱を抑制する連続的に同調
可能な分散型ブラグリフレクタレーザに関する。
ザ、特に誘導ブリリュアン散乱を抑制する連続的に同調
可能な分散型ブラグリフレクタレーザに関する。
【0002】
【従来の技術】誘導ブリリュアン散乱「Stimulated Bri
llouin Scattering (SBS)」を抑制するには、例えばノ
ンリターントゥゼロ「non-return-to-zero (NRZ)」信号
のような8−10dBmの平均パワーレベルで送信する
レーザのライン幅を広げる必要がある。このライン幅を
広げることはレーザの直接変調により行われている。大
きなライン幅拡張係数αは、受信機の感度に対し電力消
費を引き起こすような振幅変調(AM)を再評価するの
に好ましい。非常に高い出力パワーに対してはこの残留
AMは、高いαを有するレーザが採用されそのために数
dBの損失を伴う場合でも極めて大きいものとなる。
llouin Scattering (SBS)」を抑制するには、例えばノ
ンリターントゥゼロ「non-return-to-zero (NRZ)」信号
のような8−10dBmの平均パワーレベルで送信する
レーザのライン幅を広げる必要がある。このライン幅を
広げることはレーザの直接変調により行われている。大
きなライン幅拡張係数αは、受信機の感度に対し電力消
費を引き起こすような振幅変調(AM)を再評価するの
に好ましい。非常に高い出力パワーに対してはこの残留
AMは、高いαを有するレーザが採用されそのために数
dBの損失を伴う場合でも極めて大きいものとなる。
【0003】同調可能な半導体レーザは、特定のレーザ
発振周波数に選択的に同調されるものとして公知であ
る。S.L.ウッドワード他の著による「"A DBR Laser
Tunable by Resistive Heating", IEEE PHOTONICS TEC
H. LETTERS, Vol. 4, No. 12,December 1992, pp. 1330
-1332」によれば、DBRレーザの受動導波路領域及び
/またはプラグ領域を選択的に加熱することにより、レ
ーザを個別のレーザ発振周波数に同調できる旨が記載さ
れている。
発振周波数に選択的に同調されるものとして公知であ
る。S.L.ウッドワード他の著による「"A DBR Laser
Tunable by Resistive Heating", IEEE PHOTONICS TEC
H. LETTERS, Vol. 4, No. 12,December 1992, pp. 1330
-1332」によれば、DBRレーザの受動導波路領域及び
/またはプラグ領域を選択的に加熱することにより、レ
ーザを個別のレーザ発振周波数に同調できる旨が記載さ
れている。
【0004】さらに米国特許出願第08/268,39
4号(出願人AT&T)は、同調用にDBRレーザの温
度を選択するような抵抗に係る電流を選択できる個別の
同調可能なDBRレーザについて開示している。
4号(出願人AT&T)は、同調用にDBRレーザの温
度を選択するような抵抗に係る電流を選択できる個別の
同調可能なDBRレーザについて開示している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の目的
は、誘導ブリリュアン散乱を抑制するような同調可能な
分散型ブラグリフレクタレーザを提供することである。
は、誘導ブリリュアン散乱を抑制するような同調可能な
分散型ブラグリフレクタレーザを提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザ装置は、
誘導ブリリュアン散乱を低減するために半導体レーザを
連続的に同調するためにディザー信号に応答するチュー
ナを有する半導体レーザを用いて光ファイバ内のSBS
を抑制するものである。このチューナは、ディザー信号
である連続的に掛けられるシヌソイド電流に応答して、
レーザ発振周波数を制御することにより半導体レーザを
同調するものである。そしてこのチューナは、ディザー
信号を受信する入力領域を有する。
誘導ブリリュアン散乱を低減するために半導体レーザを
連続的に同調するためにディザー信号に応答するチュー
ナを有する半導体レーザを用いて光ファイバ内のSBS
を抑制するものである。このチューナは、ディザー信号
である連続的に掛けられるシヌソイド電流に応答して、
レーザ発振周波数を制御することにより半導体レーザを
同調するものである。そしてこのチューナは、ディザー
信号を受信する入力領域を有する。
【0007】本発明の第1の実施例においては、このチ
ューナは、半導体レーザの受動導波路に熱的に結合され
た抵抗を有し、そしてこの抵抗は、ディザー信号に応答
して半導体レーザの同調を制御する受動導波路を加熱す
る。そして第2の実施例においては、このチューナは、
ディザー信号に応答して半導体レーザの受動導波路に連
続的にバイアスを掛けて半導体レーザの同調を制御して
いる。このチューナは、バイアス電流を半導体レーザの
受動導波路に連続的に注入して受動導波路に連続的にバ
イアスを掛けている。
ューナは、半導体レーザの受動導波路に熱的に結合され
た抵抗を有し、そしてこの抵抗は、ディザー信号に応答
して半導体レーザの同調を制御する受動導波路を加熱す
る。そして第2の実施例においては、このチューナは、
ディザー信号に応答して半導体レーザの受動導波路に連
続的にバイアスを掛けて半導体レーザの同調を制御して
いる。このチューナは、バイアス電流を半導体レーザの
受動導波路に連続的に注入して受動導波路に連続的にバ
イアスを掛けている。
【0008】
【発明の実施の形態】図1,2において、同調半導体D
BRレーザ10は、活性領域16と、受動導波路12
と、ブラグリフレクタ14と、変調機20とを有し、レ
ーザ出力を生成する。グレーティング領域を有するブラ
グリフレクタ14は、入力DC電流18が入力される活
性領域16と、入力データ信号22に応答してレーザ発
振出力を生成する変調機20との間に配置されている。
BRレーザ10は、活性領域16と、受動導波路12
と、ブラグリフレクタ14と、変調機20とを有し、レ
ーザ出力を生成する。グレーティング領域を有するブラ
グリフレクタ14は、入力DC電流18が入力される活
性領域16と、入力データ信号22に応答してレーザ発
振出力を生成する変調機20との間に配置されている。
【0009】表1は、20℃における入力DC電流18
の関数としての同調半導体DBRレーザ10の代表的な
出力パワーデータを表す。
の関数としての同調半導体DBRレーザ10の代表的な
出力パワーデータを表す。
【0010】
【表1】
【0011】ディザーソース24は、連続的なディザー
信号、例えば連続的シヌソイド信号を提供する。チュー
ナ26は、入力領域に結合して動作しディザー信号に応
答して高出力パワーを光ファイバに注入することによっ
て発生するSBSを低減するためにレーザ発振波長を連
続的に調節する。
信号、例えば連続的シヌソイド信号を提供する。チュー
ナ26は、入力領域に結合して動作しディザー信号に応
答して高出力パワーを光ファイバに注入することによっ
て発生するSBSを低減するためにレーザ発振波長を連
続的に調節する。
【0012】図1に示した第1の実施例においては、こ
のSBSの抑制は、抵抗30を用いて受動導波路への入
力領域28を局部的に加熱することによりDBRレーザ
を連続的に同調するチューナ26により行われる。別法
として、図2に示した、第2の実施例においては、この
連続的な同調は入力領域28の部分で受動導波路に電流
を注入することにより行う。同調半導体DBRレーザ1
0を連続的に同調する他の手段は、当業者には公知であ
ろう。
のSBSの抑制は、抵抗30を用いて受動導波路への入
力領域28を局部的に加熱することによりDBRレーザ
を連続的に同調するチューナ26により行われる。別法
として、図2に示した、第2の実施例においては、この
連続的な同調は入力領域28の部分で受動導波路に電流
を注入することにより行う。同調半導体DBRレーザ1
0を連続的に同調する他の手段は、当業者には公知であ
ろう。
【0013】この第1の実施例においては、波長のディ
ジタリングは受動導波路12に隣接して配置された47
Ohmの抵抗30に約10kHzでディザーソース24
からの入力シヌソイドディジタリング信号の振幅により
制御される。出力レーザをディザーするために入力シヌ
ソイド信号を用いることは同調半導体DBRレーザ10
の他の性能に大きな影響を与えるものではない。当業者
には、同調半導体DBRレーザ10をディザー(dit
her)するために他の連続的に変化するディザー信号
を与える手段は公知のものである。
ジタリングは受動導波路12に隣接して配置された47
Ohmの抵抗30に約10kHzでディザーソース24
からの入力シヌソイドディジタリング信号の振幅により
制御される。出力レーザをディザーするために入力シヌ
ソイド信号を用いることは同調半導体DBRレーザ10
の他の性能に大きな影響を与えるものではない。当業者
には、同調半導体DBRレーザ10をディザー(dit
her)するために他の連続的に変化するディザー信号
を与える手段は公知のものである。
【0014】同調半導体DBRレーザ10は、活性領域
16とブラグリフレクタ14とを有し、出力ファセット
34とブラグリフレクタ14によりキャビティが形成さ
れる。この47Onmの抵抗30は、この抵抗30に電
圧をかけることにより発生する局部加熱により、キャビ
ティ32内のレーザ発振エネルギの往復時間を制御する
ことができる。この方法は、温度を変えることにより、
そしてその結果、レーザ発振波長を変えることにより、
同調半導体DBRレーザ10の屈折率を変えるという公
知の原理を利用している。
16とブラグリフレクタ14とを有し、出力ファセット
34とブラグリフレクタ14によりキャビティが形成さ
れる。この47Onmの抵抗30は、この抵抗30に電
圧をかけることにより発生する局部加熱により、キャビ
ティ32内のレーザ発振エネルギの往復時間を制御する
ことができる。この方法は、温度を変えることにより、
そしてその結果、レーザ発振波長を変えることにより、
同調半導体DBRレーザ10の屈折率を変えるという公
知の原理を利用している。
【0015】次に第3の実施例においては、活性領域を
加熱してレーザ発振波長に影響を与えるものである。別
法として、同調半導体DBRレーザ10のブラグリフレ
クタ14を局部的に加熱することは、キャビティ32の
往復時間を大きく変化させることなくレーザ発振モード
を選択することにより同調性を与えるものである。した
がって、一定の出力パワーを有する連続的な同調は、抵
抗30及び/または受動導波路の入力領域28をブラグ
リフレクタ14に最小距離だけ離して配置することによ
り得ることができる。
加熱してレーザ発振波長に影響を与えるものである。別
法として、同調半導体DBRレーザ10のブラグリフレ
クタ14を局部的に加熱することは、キャビティ32の
往復時間を大きく変化させることなくレーザ発振モード
を選択することにより同調性を与えるものである。した
がって、一定の出力パワーを有する連続的な同調は、抵
抗30及び/または受動導波路の入力領域28をブラグ
リフレクタ14に最小距離だけ離して配置することによ
り得ることができる。
【0016】別法として、図2に示したように、この波
長は、入力領域28で受動導波路層に電流を注入するこ
とにより、順方向バイアスあるいは逆方向バイアスを掛
けるチューナ26により同調される。
長は、入力領域28で受動導波路層に電流を注入するこ
とにより、順方向バイアスあるいは逆方向バイアスを掛
けるチューナ26により同調される。
【0017】図1−2は、モノシリカルに集積された電
磁吸収の変調機20と共に用いられる代表的な同調可能
なDBRレーザ装置を表す。ここに開示された同調可能
な同調半導体DBRレーザ10の性能は、例えば、変調
機20のような装置を持って測定されここに開示する。
図1−2の実施例に示したように、生成されたレーザ光
は、出力ファセット34から出力され外部のNRZ変調
機を用いて入力データ信号22を符号化する。
磁吸収の変調機20と共に用いられる代表的な同調可能
なDBRレーザ装置を表す。ここに開示された同調可能
な同調半導体DBRレーザ10の性能は、例えば、変調
機20のような装置を持って測定されここに開示する。
図1−2の実施例に示したように、生成されたレーザ光
は、出力ファセット34から出力され外部のNRZ変調
機を用いて入力データ信号22を符号化する。
【0018】活性領域16を加熱する第3の実施例にお
いては、図3−10に示すような出力性能データを有す
る。同図に開示したように、波長ディザリングを伴う残
留AMは、この場合10GHzまで、特に拡張した場合
でも1%以下である。図3−4は、レーザ発振波長の変
化をGHzで表したもので、第1の実施例の抵抗30に
かかる入力DC電流18対出力パワーのパーセント変化
を表している。かくして10GHzの周波数変化は、同
調半導体DBRレーザ10の光学出力パワーのわずか1
%の変化だけでもって得られる。
いては、図3−10に示すような出力性能データを有す
る。同図に開示したように、波長ディザリングを伴う残
留AMは、この場合10GHzまで、特に拡張した場合
でも1%以下である。図3−4は、レーザ発振波長の変
化をGHzで表したもので、第1の実施例の抵抗30に
かかる入力DC電流18対出力パワーのパーセント変化
を表している。かくして10GHzの周波数変化は、同
調半導体DBRレーザ10の光学出力パワーのわずか1
%の変化だけでもって得られる。
【0019】表2は、温度T=20℃でDC電流ILD=
53.3mAにおける図3−4に対応するチューニング
データを表す。
53.3mAにおける図3−4に対応するチューニング
データを表す。
【0020】図3は、表2の第4列対第1列を表したも
ので、第4列の各値は、第4列の第1の値192.40
89だけ減算して図3にプロットしてある。図4は、表
2の第2列対第1列を表したもので、第2列の各値は、
第2列の第1値2.20だけ減算し、そしてこの減算し
た値を2.2で除算して図4にプロットしたものであ
る。
ので、第4列の各値は、第4列の第1の値192.40
89だけ減算して図3にプロットしてある。図4は、表
2の第2列対第1列を表したもので、第2列の各値は、
第2列の第1値2.20だけ減算し、そしてこの減算し
た値を2.2で除算して図4にプロットしたものであ
る。
【0021】
【表2】
【0022】図5は、周波数シフトの関数として振幅変
調をプロットしたものである。ここに開示した実施例に
おいては、最適の線形フィットは0.083%/GHz
の傾斜を有する。図6は、同調半導体DBRレーザ10
の代表的な最適スペクトルを表し、この最適スペクトル
は、電流が50mAのチューニング範囲全体に亘ってシ
ングルモードを維持している。
調をプロットしたものである。ここに開示した実施例に
おいては、最適の線形フィットは0.083%/GHz
の傾斜を有する。図6は、同調半導体DBRレーザ10
の代表的な最適スペクトルを表し、この最適スペクトル
は、電流が50mAのチューニング範囲全体に亘ってシ
ングルモードを維持している。
【0023】表3は、温度が20℃で、DC電流ILDが
62mAで、10kHzで動作する同調半導体DBRレ
ーザ10のディザーデータを表す。1.5dBm損失の
アイソレータを用いて反射を防止している。SBSの抑
制には、7kHz以上のディザー周波数が必要であり、
4.97GHzに対しての構成値は957μsである。
62mAで、10kHzで動作する同調半導体DBRレ
ーザ10のディザーデータを表す。1.5dBm損失の
アイソレータを用いて反射を防止している。SBSの抑
制には、7kHz以上のディザー周波数が必要であり、
4.97GHzに対しての構成値は957μsである。
【0024】
【表3】
【0025】図7は、表3のデータを表し第3列対第1
列がプロットされており、ディザーソースからのディザ
ー信号として10kHzのシヌソイド信号のピーク間電
流の関数として範値全幅「full width at half maximum
(FWHM)」 のスペクトルを表す。14.4GHzのスペ
クトル幅は、40mAのピーク間(pp)電流に対し測
定された。10kHzのシヌソイド変調に対し測定され
たスペクトル幅は、熱拡散時定数のために、抵抗30を
流れる入力DC電流18での波長の変化よりも約3dB
小さい。しかし、同調半導体DBRレーザ10の屈折率
とゲイン(あるいは損失)の両方は、1ピコ秒(ps)
以下の時間スケールで材料の温度に局部的に反応する。
したがって、周波数と周波数の変動と振幅の変動との間
の比率は、ディザー周波数から独立しているものと考え
られる。
列がプロットされており、ディザーソースからのディザ
ー信号として10kHzのシヌソイド信号のピーク間電
流の関数として範値全幅「full width at half maximum
(FWHM)」 のスペクトルを表す。14.4GHzのスペ
クトル幅は、40mAのピーク間(pp)電流に対し測
定された。10kHzのシヌソイド変調に対し測定され
たスペクトル幅は、熱拡散時定数のために、抵抗30を
流れる入力DC電流18での波長の変化よりも約3dB
小さい。しかし、同調半導体DBRレーザ10の屈折率
とゲイン(あるいは損失)の両方は、1ピコ秒(ps)
以下の時間スケールで材料の温度に局部的に反応する。
したがって、周波数と周波数の変動と振幅の変動との間
の比率は、ディザー周波数から独立しているものと考え
られる。
【0026】図8は、1.3VPPの電圧でもってディザ
ーソース24からのディザー信号として、27.7mA
PPで得られた6.7GHz幅のスペクトルを表す。図5
から予測残留AM信号は、0.7%以下である。図9に
示したように、27.7mAPPディザー信号においての
同調半導体DBRレーザ10の性能のアイパターンでは
特に可視できるAMを表していない。これに対し、比較
例として抵抗30に入力されるいかなるディザー信号も
有さない場合に測定されたアイパターンを図10に示
す。図9−10は、ほぼ同一であるが、ここに開示した
ような連続的なディザーリングによりSBSを抑制する
ことは、レーザ出力のAMには何等寄与しない。
ーソース24からのディザー信号として、27.7mA
PPで得られた6.7GHz幅のスペクトルを表す。図5
から予測残留AM信号は、0.7%以下である。図9に
示したように、27.7mAPPディザー信号においての
同調半導体DBRレーザ10の性能のアイパターンでは
特に可視できるAMを表していない。これに対し、比較
例として抵抗30に入力されるいかなるディザー信号も
有さない場合に測定されたアイパターンを図10に示
す。図9−10は、ほぼ同一であるが、ここに開示した
ような連続的なディザーリングによりSBSを抑制する
ことは、レーザ出力のAMには何等寄与しない。
【0027】
【発明の効果】以上述べたように本発明は、誘導ブリリ
ュアン散乱を抑制するような同調可能な分散型ブラグリ
フレクタレーザを提供する。このレーザ装置は、誘導ブ
リリュアン散乱を低減するために半導体レーザを連続的
に同調するために、ディザー信号に応答するチューナを
有する半導体レーザを用いて、光ファイバ内のSBSを
抑制するものである。このチューナは、ディザー信号で
ある連続的に掛けられるシヌソイド電流に応答し、レー
ザ発振周波数を制御する事により半導体レーザを同調す
るものである。そしてこのチューナは、ディザー信号を
受信する入力領域を有する。第1の実施例においては、
このチューナは、半導体レーザの受動導波路に熱的に結
合された抵抗を有し、そしてこの抵抗は、ディザー信号
に応答して半導体レーザの同調を制御する受動導波路を
加熱する。そして第2の実施例においては、このチュー
ナは、ディザー信号に応答して半導体レーザの受動導波
路に連続的にバイアスを掛けて半導体レーザの同調を制
御している。このチューナは、バイアス電流を半導体レ
ーザの受動導波路に連続的に注入して受動導波路に連続
的にバイアスを掛けている。
ュアン散乱を抑制するような同調可能な分散型ブラグリ
フレクタレーザを提供する。このレーザ装置は、誘導ブ
リリュアン散乱を低減するために半導体レーザを連続的
に同調するために、ディザー信号に応答するチューナを
有する半導体レーザを用いて、光ファイバ内のSBSを
抑制するものである。このチューナは、ディザー信号で
ある連続的に掛けられるシヌソイド電流に応答し、レー
ザ発振周波数を制御する事により半導体レーザを同調す
るものである。そしてこのチューナは、ディザー信号を
受信する入力領域を有する。第1の実施例においては、
このチューナは、半導体レーザの受動導波路に熱的に結
合された抵抗を有し、そしてこの抵抗は、ディザー信号
に応答して半導体レーザの同調を制御する受動導波路を
加熱する。そして第2の実施例においては、このチュー
ナは、ディザー信号に応答して半導体レーザの受動導波
路に連続的にバイアスを掛けて半導体レーザの同調を制
御している。このチューナは、バイアス電流を半導体レ
ーザの受動導波路に連続的に注入して受動導波路に連続
的にバイアスを掛けている。
【図1】本発明に係る局部加熱用の抵抗を有する連続的
に同調可能なDBRレーザを表す図
に同調可能なDBRレーザを表す図
【図2】受動導波路のバイアスを用いたDBRレーザの
他の実施例を表す図
他の実施例を表す図
【図3】DC抵抗電流の関数としてレーザ発振周波数の
変化を表すグラフ
変化を表すグラフ
【図4】DC抵抗電流の関数として出力パワーの変化を
表すグラフ
表すグラフ
【図5】レーザ発振周波数と光学出力パワーとの関係を
表すグラフ
表すグラフ
【図6】光学スペクトルアナライザで測定された光学ス
ペクトルを表す波長と出力パワーとの関係を表すグラフ
ペクトルを表す波長と出力パワーとの関係を表すグラフ
【図7】10kHzシヌソイドのピーク間抵抗電流対ス
ペクトルFWHMとの関係を表すグラフ
ペクトルFWHMとの関係を表すグラフ
【図8】10kHzでディザーする27.7mAPPの時
間平均スペクトルを表す図
間平均スペクトルを表す図
【図9】10kHzにおいて27.7mAPPディザー電
流に対し6.7GHzの波長のディザリングを持ったア
イパターンを表す図
流に対し6.7GHzの波長のディザリングを持ったア
イパターンを表す図
【図10】波長のディザリングがない場合のアイパター
ンを表す図
ンを表す図
10 同調半導体DBRレーザ 12 受動導波路 14 ブラグリフレクタ 16 活性領域 18 入力DC電流 20 変調機 22 入力データ信号 24 ディザーソース 26 チューナ 28 入力領域 30 抵抗 32 キャビティ 34 出力ファセット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウジール コーレン アメリカ合衆国,07704 ニュージャージ ー,フェア ヘイブン,フォレスト アヴ ェニュー 26
Claims (12)
- 【請求項1】 ディザー信号ソース(24)と、 前記ディザー信号に応答して、半導体レーザ(16,1
2,20)から発生する誘導ブリリュアン散乱を低減す
るために半導体レーザ(16,12,20)を連続的に
同調するチューナ(26)とからなることを特徴とする
誘導ブリリュアン散乱を抑制する装置。 - 【請求項2】 前記チューナ(26)は、ディザー信号
としての連続的に入力される電流に応答してレーザ発振
波長を制御することによりレーザを同調させることを特
徴とする請求項1の装置。 - 【請求項3】 レーザ発振出力から引き起こされる誘導
ブリリュアン散乱を抑制する同調可能な分散型ブラグリ
フレクタレーザにおいて、 レーザ発振出力を生成する半導体構成部と、 連続的なディザー信号を提供するディザーソースと、 前記ディザー信号に応答してレーザ発振出力の誘導ブリ
リュアン散乱を低減するために前記半導体構成部を連続
的に同調するチューナとからなることを特徴とする同調
可能な分散型ブラグリフレクタレーザ装置。 - 【請求項4】 前記ディザーソースは、レーザ発振波長
を制御することにより半導体構成部を同調するためにデ
ィザー信号として連続的に電流を与えることを特徴とす
る請求項11のレーザ。 - 【請求項5】 前記連続的に印加される電流は、連続シ
ヌソイド電流であることを特徴とする請求項2または4
の装置。 - 【請求項6】 前記チューナは、前記ディザー信号を受
信する入力領域を有することを特徴とする請求項1また
は3の装置。 - 【請求項7】 前記チューナは、前記半導体レーザの一
部に熱的結合された抵抗を有し、 前記抵抗は、ディザー信号に応答して半導体レーザの同
調を制御するために連続的に加熱されることを特徴とす
る請求項1または3の装置。 - 【請求項8】 前記抵抗は、連続的に加熱するために半
導体レーザの受動導波路(12)に熱的結合されている
ことを特徴とする請求項7の装置。 - 【請求項9】 前記抵抗は、連続的に加熱するために半
導体レーザの活性領域(16)に熱的結合されているこ
とを特徴とする請求項7の装置。 - 【請求項10】 前記抵抗は、連続的に加熱するために
半導体レーザのブラグリフレクタ領域(14)に熱的結
合されていることを特徴とする請求項7の装置。 - 【請求項11】 前記チューナは、半導体レーザの同調
を制御するためにレーザの受動導波路に連続的にバイア
スを掛けるために前記ディザー信号に応答することを特
徴とする請求項1または3の装置。 - 【請求項12】 前記チューナは、前記受動導波路を連
続的にバイアスを掛けるために半導体レーザの受動導波
路にバイアス電流を連続的に注入することを特徴とする
請求項1まはた3の装置。
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US313519 | 1994-09-26 | ||
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