JPH0792119A - 塗膜劣化測定用プローブ - Google Patents
塗膜劣化測定用プローブInfo
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- JPH0792119A JPH0792119A JP23706593A JP23706593A JPH0792119A JP H0792119 A JPH0792119 A JP H0792119A JP 23706593 A JP23706593 A JP 23706593A JP 23706593 A JP23706593 A JP 23706593A JP H0792119 A JPH0792119 A JP H0792119A
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- Japan
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- electrode
- coating film
- measuring
- guard
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液体中に浸っている機器の塗膜2のインピー
ダンスの測定を、塗膜欠陥部があっても正確にかつ精度
良く検出する。 【構成】 本体ケース15内の下部に測定用電極16を
設けるとともに、この測定用電極16の周囲に測定用電
極16と同電位となるガード電極18を設ける。このガ
ード電極18の外周囲に、塗膜2表面に接触しアース回
路に接続される接地電極29を設ける。液体中に存する
金属の塗膜2表面に測定用電極16を接触させて通電す
ることにより、測定用電極16に流れる電流から塗膜2
の劣化を測定する。この場合、測定用電極16に流れる
電流の漏れ電流はガード電極18の外側にある接地電極
29に流れ、塗膜欠陥部を通して下地金属1に流出・漏
洩しないようになる。
ダンスの測定を、塗膜欠陥部があっても正確にかつ精度
良く検出する。 【構成】 本体ケース15内の下部に測定用電極16を
設けるとともに、この測定用電極16の周囲に測定用電
極16と同電位となるガード電極18を設ける。このガ
ード電極18の外周囲に、塗膜2表面に接触しアース回
路に接続される接地電極29を設ける。液体中に存する
金属の塗膜2表面に測定用電極16を接触させて通電す
ることにより、測定用電極16に流れる電流から塗膜2
の劣化を測定する。この場合、測定用電極16に流れる
電流の漏れ電流はガード電極18の外側にある接地電極
29に流れ、塗膜欠陥部を通して下地金属1に流出・漏
洩しないようになる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体中に浸っている機
器の塗膜インピーダンスの測定を可能とした塗膜劣化測
定用プローブに関する。
器の塗膜インピーダンスの測定を可能とした塗膜劣化測
定用プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば変圧器や配電盤など屋外に配置さ
れる機器は、防蝕及び美観のために塗装がなされるが、
その塗膜の劣化を放置すれば、やがて塗膜が剥離したり
下地金属が腐蝕するようになるため、適切な時期に塗り
替えなどのメンテナンスが必要となる。そこで、塗膜の
劣化に伴い塗膜の電気抵抗値が小さくなって塗膜インピ
ーダンスが変化することを利用して、塗膜の劣化度を定
量的に診断することが行われている。
れる機器は、防蝕及び美観のために塗装がなされるが、
その塗膜の劣化を放置すれば、やがて塗膜が剥離したり
下地金属が腐蝕するようになるため、適切な時期に塗り
替えなどのメンテナンスが必要となる。そこで、塗膜の
劣化に伴い塗膜の電気抵抗値が小さくなって塗膜インピ
ーダンスが変化することを利用して、塗膜の劣化度を定
量的に診断することが行われている。
【0003】このような塗膜インピーダンスを測定する
ための装置として、従来では図4に示すものが供されて
いた。即ち、このものは下地金属1の表面の塗膜2に導
電性ゲル3を介してアルミ箔等の測定用電極4を宛てが
い、交流電源5を用いて下地金属1と測定用電極4との
間に電圧を印加し、電流測定器6により流れる電流を測
定すると共に、電圧測定器7により印加電圧を測定する
ようになっている。そして測定された電流値及び電圧値
から、各周波数についての塗膜インピーダンスを演算
し、ボード線図やナイキスト線図を作成して塗膜2の劣
化の度合いを判定するものである。
ための装置として、従来では図4に示すものが供されて
いた。即ち、このものは下地金属1の表面の塗膜2に導
電性ゲル3を介してアルミ箔等の測定用電極4を宛てが
い、交流電源5を用いて下地金属1と測定用電極4との
間に電圧を印加し、電流測定器6により流れる電流を測
定すると共に、電圧測定器7により印加電圧を測定する
ようになっている。そして測定された電流値及び電圧値
から、各周波数についての塗膜インピーダンスを演算
し、ボード線図やナイキスト線図を作成して塗膜2の劣
化の度合いを判定するものである。
【0004】これに対し、近年では測定精度を向上させ
るために、図5に示す塗膜劣化測定用プローブを用いる
測定方法が考えられている。この塗膜劣化測定用プロー
ブ8は、下面が開口した略円筒状をなすプラスチック製
の本体ケース9内に、スポンジに導電性ゲルを含ませて
なり、下面が球面凸状をなす測定用電極10を収容して
構成されている。また本体ケース9の内壁面には、測定
用電極10の導電性ゲルに接触する錫箔11が設けら
れ、この錫箔11が接続端子12に接続されている。一
方、本体ケース9の外周部には雄ねじ部9aが形成さ
れ、この雄ねじ部9aに下面にマグネット13を有する
押えリング14が螺合されている。
るために、図5に示す塗膜劣化測定用プローブを用いる
測定方法が考えられている。この塗膜劣化測定用プロー
ブ8は、下面が開口した略円筒状をなすプラスチック製
の本体ケース9内に、スポンジに導電性ゲルを含ませて
なり、下面が球面凸状をなす測定用電極10を収容して
構成されている。また本体ケース9の内壁面には、測定
用電極10の導電性ゲルに接触する錫箔11が設けら
れ、この錫箔11が接続端子12に接続されている。一
方、本体ケース9の外周部には雄ねじ部9aが形成さ
れ、この雄ねじ部9aに下面にマグネット13を有する
押えリング14が螺合されている。
【0005】塗膜インピーダンスの測定時には、押えリ
ング14のマグネット13により塗膜劣化測定用プロー
ブ8を塗膜2上に固定させ、これにより測定用電極10
を塗膜2の一定面積分に密着させるようになっている。
ング14のマグネット13により塗膜劣化測定用プロー
ブ8を塗膜2上に固定させ、これにより測定用電極10
を塗膜2の一定面積分に密着させるようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この種の塗
膜2が設けられる機器のなかには、大気中ではなく液体
中(水中)に配置されるものがある。上述の塗膜劣化測
定用プローブ8は、大気中にて使用するには問題はない
が、水中に浸っている塗膜2のインピーダンスを測定す
るには適さないものであった。
膜2が設けられる機器のなかには、大気中ではなく液体
中(水中)に配置されるものがある。上述の塗膜劣化測
定用プローブ8は、大気中にて使用するには問題はない
が、水中に浸っている塗膜2のインピーダンスを測定す
るには適さないものであった。
【0007】即ち、従来の塗膜劣化測定用プローブ8を
用いた場合、水中では測定用電極10に接している所定
面積の塗膜2に流れる電流以外にも、測定用電極10の
周囲部分の塗膜に水を介して流れる電流(漏れ電流)も
測定されることになってしまうからである。塗膜劣化の
診断は、塗膜2の一定面積に対するインピーダンスに基
づいて行われるため、測定した電流値に測定用電極10
の周辺の漏れ電流が含まれれば測定しても無意味なこと
になり、正確な塗膜劣化の診断を行うことができなくな
ってしまう。また測定用電極10のスポンジに含まれて
いる導電性ゲルが、測定用電極10から漏れ出して水中
に拡散してしまう虞があり、液体の汚染や、液体の導電
度を高めてしまうといった不具合が生ずる。
用いた場合、水中では測定用電極10に接している所定
面積の塗膜2に流れる電流以外にも、測定用電極10の
周囲部分の塗膜に水を介して流れる電流(漏れ電流)も
測定されることになってしまうからである。塗膜劣化の
診断は、塗膜2の一定面積に対するインピーダンスに基
づいて行われるため、測定した電流値に測定用電極10
の周辺の漏れ電流が含まれれば測定しても無意味なこと
になり、正確な塗膜劣化の診断を行うことができなくな
ってしまう。また測定用電極10のスポンジに含まれて
いる導電性ゲルが、測定用電極10から漏れ出して水中
に拡散してしまう虞があり、液体の汚染や、液体の導電
度を高めてしまうといった不具合が生ずる。
【0008】このような不具合を解消するために、図6
に示すように、本体ケース15と、この本体ケース15
内に設けられ塗膜2の一定面積に接触されるスポンジ状
導電材からなる測定用電極16と、この測定用電極16
により検出した電流を増幅する増幅手段17と、測定用
電極16の周囲を取り囲むように塗膜2に接触されるガ
ード電極18と、このガード電極18の電位を測定用電
極16の電位と同一に保つための手段19とを具備した
塗膜劣化測定用プローブ20が提案(特願平5−410
29号)されている。
に示すように、本体ケース15と、この本体ケース15
内に設けられ塗膜2の一定面積に接触されるスポンジ状
導電材からなる測定用電極16と、この測定用電極16
により検出した電流を増幅する増幅手段17と、測定用
電極16の周囲を取り囲むように塗膜2に接触されるガ
ード電極18と、このガード電極18の電位を測定用電
極16の電位と同一に保つための手段19とを具備した
塗膜劣化測定用プローブ20が提案(特願平5−410
29号)されている。
【0009】この塗膜劣化測定用プローブ20を、実際
に水中に浸漬されている塗膜に宛てがい、塗膜のインピ
ーダンスを測定してみると、ガード電極18を設けたこ
とにより、測定用電極16に接している部分以外への漏
れ電流が少なくなり、その効果は顕著であることが判っ
た。しかしながら、測定個所近傍でプローブの外側に位
置する塗膜に下地金属が露出するような大きな塗膜欠陥
部が存在すると、測定電流の漏れ電流がその欠陥部を通
して下地金属に流れて測定誤差が大きくなり、測定精度
に影響を与えることが判った。
に水中に浸漬されている塗膜に宛てがい、塗膜のインピ
ーダンスを測定してみると、ガード電極18を設けたこ
とにより、測定用電極16に接している部分以外への漏
れ電流が少なくなり、その効果は顕著であることが判っ
た。しかしながら、測定個所近傍でプローブの外側に位
置する塗膜に下地金属が露出するような大きな塗膜欠陥
部が存在すると、測定電流の漏れ電流がその欠陥部を通
して下地金属に流れて測定誤差が大きくなり、測定精度
に影響を与えることが判った。
【0010】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は液体中に浸っている機器の塗膜インピー
ダンスの測定を、塗膜欠陥部があっても正確にかつ精度
良く検出することのできる塗膜劣化測定用プローブを提
供することにある。
で、その目的は液体中に浸っている機器の塗膜インピー
ダンスの測定を、塗膜欠陥部があっても正確にかつ精度
良く検出することのできる塗膜劣化測定用プローブを提
供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の塗膜劣化測定用プローブにおいては、液体
中に存する金属の塗膜表面に測定用電極を接触させて通
電することにより、その塗膜の劣化を測定する塗膜劣化
測定用プローブにおいて、測定用電極の周囲に測定用電
極と同電位となるガード電極を設けるとともに、このガ
ード電極と測定用電極との電位差を同一に保つための手
段を設け、さらにガード電極の外周囲に、塗膜表面に接
触しアース回路に接続される接地電極を設けたことを特
徴とする。また接地電極を導電性のOリングにより構成
し、ガード電極を塗膜表面に対してわずかな間隙を介し
て位置するように構成したことを特徴とする。
に、本発明の塗膜劣化測定用プローブにおいては、液体
中に存する金属の塗膜表面に測定用電極を接触させて通
電することにより、その塗膜の劣化を測定する塗膜劣化
測定用プローブにおいて、測定用電極の周囲に測定用電
極と同電位となるガード電極を設けるとともに、このガ
ード電極と測定用電極との電位差を同一に保つための手
段を設け、さらにガード電極の外周囲に、塗膜表面に接
触しアース回路に接続される接地電極を設けたことを特
徴とする。また接地電極を導電性のOリングにより構成
し、ガード電極を塗膜表面に対してわずかな間隙を介し
て位置するように構成したことを特徴とする。
【0012】
【作用】本発明の塗膜劣化測定用プローブによれば、イ
ンピーダンス測定個所近傍に下地金属露出部などの塗膜
欠陥部が生じていても、測定用電極に流れる電流の洩れ
電流がガード電極の外側にある接地電極に流れ、塗膜欠
陥部を通して下地金属に流出・漏洩することがなくなる
ので、電流の検出精度を向上させることができる。
ンピーダンス測定個所近傍に下地金属露出部などの塗膜
欠陥部が生じていても、測定用電極に流れる電流の洩れ
電流がガード電極の外側にある接地電極に流れ、塗膜欠
陥部を通して下地金属に流出・漏洩することがなくなる
ので、電流の検出精度を向上させることができる。
【0013】また接地電極を導電性のOリングにより構
成した場合には、Oリングがアースと液体のシールを兼
ねることができ、ガード電極の内外に液体の流動を生じ
て測定誤差を生じることがないことから、ガード電極を
塗膜表面に対してわずかな間隙を介して位置するように
構成することができ、これによりガード電極による塗膜
の損傷を防止することができる。
成した場合には、Oリングがアースと液体のシールを兼
ねることができ、ガード電極の内外に液体の流動を生じ
て測定誤差を生じることがないことから、ガード電極を
塗膜表面に対してわずかな間隙を介して位置するように
構成することができ、これによりガード電極による塗膜
の損傷を防止することができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の第1実施例につき図1を参照
して説明する。塗膜劣化測定用プローブ30の構成は大
きく分けて本体ケース15、測定用電極16、増幅手段
17、ガード電極18およびガード電極18の電位を測
定用電極16の電位と同一に保つための手段19から構
成されており、その基本的構成は図6のものとほぼ同じ
である。
して説明する。塗膜劣化測定用プローブ30の構成は大
きく分けて本体ケース15、測定用電極16、増幅手段
17、ガード電極18およびガード電極18の電位を測
定用電極16の電位と同一に保つための手段19から構
成されており、その基本的構成は図6のものとほぼ同じ
である。
【0015】即ち、本体ケース15は、例えばアクリル
樹脂等のプラスチックよりなり、全体として円筒容器状
をなしている。この本体ケース15内の下部には、下面
に向けて開口する電極収容部15aが設けられ、上部に
は回路収容部15bが設けられている。電極収容部15
aの内面には、錫箔や白金等の分極性の小さい金属から
なる導電被膜21がメッキや接着等の方法により設けら
れている。また本体ケース15の上端部には電圧印加用
の端子22と電流測定信号出力用の端子23とが設けら
れ、図示しない診断装置本体に接続されるコネクタ24
が設けられている。
樹脂等のプラスチックよりなり、全体として円筒容器状
をなしている。この本体ケース15内の下部には、下面
に向けて開口する電極収容部15aが設けられ、上部に
は回路収容部15bが設けられている。電極収容部15
aの内面には、錫箔や白金等の分極性の小さい金属から
なる導電被膜21がメッキや接着等の方法により設けら
れている。また本体ケース15の上端部には電圧印加用
の端子22と電流測定信号出力用の端子23とが設けら
れ、図示しない診断装置本体に接続されるコネクタ24
が設けられている。
【0016】そして、この本体ケース15の電極収容部
15a内に、測定用電極16が収容されている。この測
定用電極16は、カーボンスポンジあるいは導電性スポ
ンジと称される導電性ウレタンフォーム(表面抵抗1M
Ω以下)からなり、電極収容部15a内に密に収容され
て導電被膜21に密着すると共に、球面凸状をなす下面
が電極収容部15aの下面開口部よりも若干下方に突出
する形状とされている。これによりプローブ30が塗膜
2に宛てがわれると、測定用電極16は塗膜2表面の一
定面積部分に密着状態で接触するようになる。
15a内に、測定用電極16が収容されている。この測
定用電極16は、カーボンスポンジあるいは導電性スポ
ンジと称される導電性ウレタンフォーム(表面抵抗1M
Ω以下)からなり、電極収容部15a内に密に収容され
て導電被膜21に密着すると共に、球面凸状をなす下面
が電極収容部15aの下面開口部よりも若干下方に突出
する形状とされている。これによりプローブ30が塗膜
2に宛てがわれると、測定用電極16は塗膜2表面の一
定面積部分に密着状態で接触するようになる。
【0017】この測定用電極16は、導電被膜21を介
して端子22,23に接続されるが、それらの間に回路
収容部15b内に位置して増幅手段17が設けられてい
る。この増幅手段17は、電流−電圧変換抵抗25及び
その両端に発生した電圧を増幅するプログラマブルゲイ
ンアンプ26等から構成され、塗膜2を通じて測定用電
極16に流れる電流を検出し、その電流値に応じた電圧
信号を増幅して出力するようになっている。プログラマ
ブルゲインアンプ26の出力線は端子23に接続されて
いる。
して端子22,23に接続されるが、それらの間に回路
収容部15b内に位置して増幅手段17が設けられてい
る。この増幅手段17は、電流−電圧変換抵抗25及び
その両端に発生した電圧を増幅するプログラマブルゲイ
ンアンプ26等から構成され、塗膜2を通じて測定用電
極16に流れる電流を検出し、その電流値に応じた電圧
信号を増幅して出力するようになっている。プログラマ
ブルゲインアンプ26の出力線は端子23に接続されて
いる。
【0018】一方、本体ケース15の下部には、測定用
電極16の外側に位置して下面が開口する環状の凹部1
5cが形成されており、この凹部15c内に例えばアル
ミニウム、銅等の金属材料よりなるリング状のガード電
極18が設けられている。そしてこのガード電極18も
測定用電極16と同様に端子22に接続されて交流電圧
が印加されるのであるが、これらガード電極18と端子
22との間には、ガード電極18の電位を測定用電極1
6の電位と同一に保つためのガード回路19が、回路収
容部15b内に位置して設けられている。このガード回
路19は、例えば乾電池などの直流電源27及び可変抵
抗器28等を備えて構成されている。
電極16の外側に位置して下面が開口する環状の凹部1
5cが形成されており、この凹部15c内に例えばアル
ミニウム、銅等の金属材料よりなるリング状のガード電
極18が設けられている。そしてこのガード電極18も
測定用電極16と同様に端子22に接続されて交流電圧
が印加されるのであるが、これらガード電極18と端子
22との間には、ガード電極18の電位を測定用電極1
6の電位と同一に保つためのガード回路19が、回路収
容部15b内に位置して設けられている。このガード回
路19は、例えば乾電池などの直流電源27及び可変抵
抗器28等を備えて構成されている。
【0019】このガード回路19は、プローブ30を水
中等の液体中で使用する場合、測定用電極16とガード
電極18とが異なる材質により構成されているため、夫
々固有の電位を呈することになり、両電極16,18間
に電位差が生ずることになるので、その電位差をキャン
セルするために設けられたものである。予め実使用と同
一の条件で、どれだけの電圧をガード電極18に付加す
れば電位差をキャンセルすることができるかを測定し、
可変抵抗器28を調節しておくようにする。ガード電極
18が例えばアルミニウム製の場合、0.5V程度とな
る。
中等の液体中で使用する場合、測定用電極16とガード
電極18とが異なる材質により構成されているため、夫
々固有の電位を呈することになり、両電極16,18間
に電位差が生ずることになるので、その電位差をキャン
セルするために設けられたものである。予め実使用と同
一の条件で、どれだけの電圧をガード電極18に付加す
れば電位差をキャンセルすることができるかを測定し、
可変抵抗器28を調節しておくようにする。ガード電極
18が例えばアルミニウム製の場合、0.5V程度とな
る。
【0020】そしてさらに本実施例においては、本体ケ
ース15の外周面に、例えば銅箔などの導電性材料から
なる接地電極29が設けられており、その一部からリー
ド線が引き出され、コネクタ24を介して図示しないア
ース回路に接続されている。この接地電極29は、ガー
ド電極18の外周囲に位置し、プローブ30が塗膜2に
宛てがわれた際に下端が塗膜2の表面に接触するように
設けられている。
ース15の外周面に、例えば銅箔などの導電性材料から
なる接地電極29が設けられており、その一部からリー
ド線が引き出され、コネクタ24を介して図示しないア
ース回路に接続されている。この接地電極29は、ガー
ド電極18の外周囲に位置し、プローブ30が塗膜2に
宛てがわれた際に下端が塗膜2の表面に接触するように
設けられている。
【0021】尚、図示はしないが、回路収容部15b内
に設けられたプリアンプ26及びガード回路19を構成
する各電装部品は、例えばエポキシ樹脂等の耐水性の高
い絶縁材料にてモールドされている。
に設けられたプリアンプ26及びガード回路19を構成
する各電装部品は、例えばエポキシ樹脂等の耐水性の高
い絶縁材料にてモールドされている。
【0022】このように構成した塗膜劣化測定用プロー
ブ30によれば、測定用電極16の外周囲にガード電極
18を設けたので、液体中にあっても、測定用電極16
に接している部分以外の漏れ電流が測定電流に流れるこ
とをガード電極18により阻止することができ、塗膜イ
ンピーダンスの測定を正確に行うことができ、ひいては
信頼性の高い塗膜劣化の診断を行うことが可能となるも
のである。
ブ30によれば、測定用電極16の外周囲にガード電極
18を設けたので、液体中にあっても、測定用電極16
に接している部分以外の漏れ電流が測定電流に流れるこ
とをガード電極18により阻止することができ、塗膜イ
ンピーダンスの測定を正確に行うことができ、ひいては
信頼性の高い塗膜劣化の診断を行うことが可能となるも
のである。
【0023】また塗膜劣化測定部分の近傍でプローブ3
0の外側に、下地金属1が露出する塗膜欠陥部があった
場合、測定用電極16に流れる電流の漏れ電流がガード
電極18を越えて塗膜欠陥部を通して下地金属1に流れ
ようとするが、本実施例のように、プローブ30の最外
周部に接地電極29が設けられているために、測定用電
極16に流れる電流の漏れ電流が塗膜欠陥部を通して下
地金属1に流れるのを阻止することができ、測定誤差の
少ないインピーダンス測定が可能となる。
0の外側に、下地金属1が露出する塗膜欠陥部があった
場合、測定用電極16に流れる電流の漏れ電流がガード
電極18を越えて塗膜欠陥部を通して下地金属1に流れ
ようとするが、本実施例のように、プローブ30の最外
周部に接地電極29が設けられているために、測定用電
極16に流れる電流の漏れ電流が塗膜欠陥部を通して下
地金属1に流れるのを阻止することができ、測定誤差の
少ないインピーダンス測定が可能となる。
【0024】尚、上記実施例における接地電極29は銅
箔等の金属に代えて導電性塗料を塗布して構成すること
もできる。図2は本発明の他の実施例による塗膜劣化測
定用プローブ40を示すもので、本体ケース15の下部
外周に、進退可能なリング部材31を設け、このリング
部材31にガード電極18および接地電極29を設けた
ものである。即ち本体ケース15の下部外周には、雄ね
じ部15dが形成され、この雄ねじ部15dに、例えば
本体ケース15と同じ材質(アクリル樹脂)からなるリ
ング部材31が螺合されている。このリング部材31の
下面には環状の凹部31aが形成され、この凹部31a
内に例えばアルミニウム、銅等の金属材料よりなるリン
グ状のガード電極18が設けられている。またリング部
材31の最外周部には導電性材料、例えば銅箔、導電性
塗料等からなる接地電極29が設けられており、その一
部からリード線が引き出され、図示しないアース回路に
接続されている。これにて、リング部材31を本体ケー
ス15に対して螺進させることにより、ガード電極18
および接地電極29が測定用電極16を取り囲むように
塗膜2の表面に接触されるようになっている。
箔等の金属に代えて導電性塗料を塗布して構成すること
もできる。図2は本発明の他の実施例による塗膜劣化測
定用プローブ40を示すもので、本体ケース15の下部
外周に、進退可能なリング部材31を設け、このリング
部材31にガード電極18および接地電極29を設けた
ものである。即ち本体ケース15の下部外周には、雄ね
じ部15dが形成され、この雄ねじ部15dに、例えば
本体ケース15と同じ材質(アクリル樹脂)からなるリ
ング部材31が螺合されている。このリング部材31の
下面には環状の凹部31aが形成され、この凹部31a
内に例えばアルミニウム、銅等の金属材料よりなるリン
グ状のガード電極18が設けられている。またリング部
材31の最外周部には導電性材料、例えば銅箔、導電性
塗料等からなる接地電極29が設けられており、その一
部からリード線が引き出され、図示しないアース回路に
接続されている。これにて、リング部材31を本体ケー
ス15に対して螺進させることにより、ガード電極18
および接地電極29が測定用電極16を取り囲むように
塗膜2の表面に接触されるようになっている。
【0025】図3は本発明のさらに他の実施例による塗
膜劣化測定用プローブ50を示すもので、基本的には図
1のものと同じであるが、この実施例ではガード電極1
8を塗膜2の表面に対してわずかな間隙を介して位置す
るように構成する一方、接地電極を導電性ゴムからなる
Oリング39により構成したものである。即ち、本体ケ
ース15の下面のガード電極18よりも外周囲に導電性
のOリング39を嵌め込み、このOリング39の下端部
を本体ケース15の下面よりも突出させて設けたもので
ある。この塗膜劣化測定用プローブ50を塗膜2の表面
に宛てがうと、ガード電極18は塗膜2表面に対してわ
ずかな間隙を介して位置するようになる。これにより例
えばSnなどの金属材料で形成されたガード電極18に
よる塗膜2の損傷を防止することができる。またOリン
グ39はアースのみならず、液体のシールを兼ねること
ができるので、ガード電極18の内外に液体の流動を生
じることがなく、液体の流動による測定誤差を生じるよ
うなことがない。
膜劣化測定用プローブ50を示すもので、基本的には図
1のものと同じであるが、この実施例ではガード電極1
8を塗膜2の表面に対してわずかな間隙を介して位置す
るように構成する一方、接地電極を導電性ゴムからなる
Oリング39により構成したものである。即ち、本体ケ
ース15の下面のガード電極18よりも外周囲に導電性
のOリング39を嵌め込み、このOリング39の下端部
を本体ケース15の下面よりも突出させて設けたもので
ある。この塗膜劣化測定用プローブ50を塗膜2の表面
に宛てがうと、ガード電極18は塗膜2表面に対してわ
ずかな間隙を介して位置するようになる。これにより例
えばSnなどの金属材料で形成されたガード電極18に
よる塗膜2の損傷を防止することができる。またOリン
グ39はアースのみならず、液体のシールを兼ねること
ができるので、ガード電極18の内外に液体の流動を生
じることがなく、液体の流動による測定誤差を生じるよ
うなことがない。
【0026】
【発明の効果】以上の説明にて明らかなように、本発明
の請求項1の塗膜劣化測定用プローブによれば、測定用
電極の周囲に測定用電極と同電位となるガード電極を設
けるとともに、このガード電極と測定用電極との電位差
を同一に保つための手段を設け、さらにガード電極の外
周囲に、塗膜表面に接触する接地電極を設けたことによ
り、インピーダンス測定個所近傍に下地金属露出部など
の塗膜欠陥部が生じていても、測定用電極に流れる電流
の漏れ電流がガード電極の外側にある接地電極に流れ、
塗膜欠陥部を通して下地金属に流出・漏洩することがな
いので、塗膜インピーダンスの測定を正確にかつ精度良
く検出することができる。
の請求項1の塗膜劣化測定用プローブによれば、測定用
電極の周囲に測定用電極と同電位となるガード電極を設
けるとともに、このガード電極と測定用電極との電位差
を同一に保つための手段を設け、さらにガード電極の外
周囲に、塗膜表面に接触する接地電極を設けたことによ
り、インピーダンス測定個所近傍に下地金属露出部など
の塗膜欠陥部が生じていても、測定用電極に流れる電流
の漏れ電流がガード電極の外側にある接地電極に流れ、
塗膜欠陥部を通して下地金属に流出・漏洩することがな
いので、塗膜インピーダンスの測定を正確にかつ精度良
く検出することができる。
【0027】また請求項2記載の塗膜劣化測定用プロー
ブによれば、接地電極を導電性のOリングにより構成
し、ガード電極を塗膜表面に対してわずかな間隙を介し
て位置するように構成したことにより、上記効果に加え
て液体の流動による測定誤差を生じることなく、ガード
電極による塗膜の損傷を防止することができる効果があ
る。
ブによれば、接地電極を導電性のOリングにより構成
し、ガード電極を塗膜表面に対してわずかな間隙を介し
て位置するように構成したことにより、上記効果に加え
て液体の流動による測定誤差を生じることなく、ガード
電極による塗膜の損傷を防止することができる効果があ
る。
【図1】本発明の第1の実施例を示す塗膜劣化測定用プ
ローブの縦断面図
ローブの縦断面図
【図2】本発明の第2の実施例を示す図1相当図
【図3】本発明の第3の実施例を示す図1相当図
【図4】従来例を示す図1相当図
【図5】異なる従来例を示す図1相当図
【図6】先に提案されている塗膜劣化測定用プローブを
示す図1相当図
示す図1相当図
1は下地金属、2は塗膜、8,20,30,40,50
は塗膜劣化測定用プローブ、15は本体ケース、15a
は電極収容部、15bは回路収容部、16は測定用電
極、17は増幅手段、18はガード電極、19はガード
回路、21は導電被膜、22,23は端子、24はコネ
クタ、29は接地電極、39はOリングを示す。
は塗膜劣化測定用プローブ、15は本体ケース、15a
は電極収容部、15bは回路収容部、16は測定用電
極、17は増幅手段、18はガード電極、19はガード
回路、21は導電被膜、22,23は端子、24はコネ
クタ、29は接地電極、39はOリングを示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 成瀬 佳宏 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内
Claims (2)
- 【請求項1】 液体中に存する金属の塗膜表面に測定用
電極を接触させて通電することにより、その塗膜の劣化
を測定する塗膜劣化測定用プローブにおいて、前記測定
用電極の周囲に測定用電極と同電位となるガード電極を
設けるとともに、このガード電極と前記測定用電極との
電位差を同一に保つための手段を設け、さらに前記ガー
ド電極の外周囲に、前記塗膜表面に接触しアース回路に
接続される接地電極を設けたことを特徴とする塗膜劣化
測定用プローブ。 - 【請求項2】 接地電極を導電性のOリングにより構成
し、ガード電極を塗膜表面に対してわずかな間隙を介し
て位置するように構成したことを特徴とする請求項1記
載の塗膜劣化測定用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23706593A JPH0792119A (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 塗膜劣化測定用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23706593A JPH0792119A (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 塗膜劣化測定用プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0792119A true JPH0792119A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=17009905
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23706593A Pending JPH0792119A (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 塗膜劣化測定用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0792119A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006214869A (ja) * | 2005-02-03 | 2006-08-17 | Toshiba Corp | 塗膜劣化診断装置、塗膜劣化診断システムおよび測定プローブ |
JP2012078209A (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 被膜劣化評価方法および装置 |
JP2019032251A (ja) * | 2017-08-09 | 2019-02-28 | 富士電機株式会社 | 絶縁特性測定装置及び絶縁特性測定装置の固定方法 |
JP2020071148A (ja) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 三菱重工業株式会社 | コーティング劣化検出システム、コーティング劣化検出方法およびプログラム |
-
1993
- 1993-09-24 JP JP23706593A patent/JPH0792119A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006214869A (ja) * | 2005-02-03 | 2006-08-17 | Toshiba Corp | 塗膜劣化診断装置、塗膜劣化診断システムおよび測定プローブ |
JP2012078209A (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 被膜劣化評価方法および装置 |
JP2019032251A (ja) * | 2017-08-09 | 2019-02-28 | 富士電機株式会社 | 絶縁特性測定装置及び絶縁特性測定装置の固定方法 |
JP2020071148A (ja) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 三菱重工業株式会社 | コーティング劣化検出システム、コーティング劣化検出方法およびプログラム |
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