JPH0777036B2 - 光ディスク・ドライブを動作させるための装置 - Google Patents
光ディスク・ドライブを動作させるための装置Info
- Publication number
- JPH0777036B2 JPH0777036B2 JP3189602A JP18960291A JPH0777036B2 JP H0777036 B2 JPH0777036 B2 JP H0777036B2 JP 3189602 A JP3189602 A JP 3189602A JP 18960291 A JP18960291 A JP 18960291A JP H0777036 B2 JPH0777036 B2 JP H0777036B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- offset
- tes
- amplitude
- signal
- rpe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/085—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection
- G11B7/08505—Methods for track change, selection or preliminary positioning by moving the head
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0941—Methods and circuits for servo gain or phase compensation during operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0945—Methods for initialising servos, start-up sequences
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク・ドライブ
に関し、より具体的にはこのような光ディスク・ドライ
ブで使用されるサーボ位置決めシステムに関する。
に関し、より具体的にはこのような光ディスク・ドライ
ブで使用されるサーボ位置決めシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスク・ドライブの重要な部分は、
そのサーボ位置決めシステムで必要とされる精度であ
る。対物レンズと、光ディスク上の1組のトラックとの
関係から導き出されるトラッキング誤差信号は、サーボ
位置決め装置への独立の入力である。ディスク上のトラ
ックに対する光線(対物レンズ)の相対位置を示すこの
指示は、光検出器またはその他の要素の誤調整によるT
ES振幅及びオフセットの誤差の故に誤差を生じる可能
性がある。このような誤差は、サーボ位置決めシステム
の動作の精度を悪くする。光学的特性ならびに光ディス
ク上のトラック形状のばらつきも、このような誤差に寄
与する。したがって、本発明の目的は、サーボ位置決め
精度の維持を確保するために、光ディスク・ドライブの
このようなばらつきを補償または吸収する手段を提供す
ることである。
そのサーボ位置決めシステムで必要とされる精度であ
る。対物レンズと、光ディスク上の1組のトラックとの
関係から導き出されるトラッキング誤差信号は、サーボ
位置決め装置への独立の入力である。ディスク上のトラ
ックに対する光線(対物レンズ)の相対位置を示すこの
指示は、光検出器またはその他の要素の誤調整によるT
ES振幅及びオフセットの誤差の故に誤差を生じる可能
性がある。このような誤差は、サーボ位置決めシステム
の動作の精度を悪くする。光学的特性ならびに光ディス
ク上のトラック形状のばらつきも、このような誤差に寄
与する。したがって、本発明の目的は、サーボ位置決め
精度の維持を確保するために、光ディスク・ドライブの
このようなばらつきを補償または吸収する手段を提供す
ることである。
【0003】サーボ位置決めの精度に関する別の誤差要
因は、光線と、対物レンズの光学軸の位置関係の動的変
化である。シーク動作及びトラック追従動作中、光線の
中心は、対物レンズの光学軸から軸ずれする。このため
に屈折が起こり、位置指示誤差を生ずる。したがって、
本発明の目的は、対物レンズの光学軸に対する光線位置
のこのような動的変化を補償することである。
因は、光線と、対物レンズの光学軸の位置関係の動的変
化である。シーク動作及びトラック追従動作中、光線の
中心は、対物レンズの光学軸から軸ずれする。このため
に屈折が起こり、位置指示誤差を生ずる。したがって、
本発明の目的は、対物レンズの光学軸に対する光線位置
のこのような動的変化を補償することである。
【0004】
【発明の概要】本発明によれば、定常状態較正を実施す
るために、トラッキング誤差信号を光ディスク・ドライ
ブのばらつきに対して較正する。定常状態較正は、トラ
ッキング誤差信号の利得及びオフセットを含む。トラッ
キング誤差信号を較正した後、そのような誤差を補償す
るために、利得及びオフセットをサーボ位置決めシステ
ムに挿入する。定常状態較正と対物レンズの光学軸から
のレーザ光線のオフセットを吸収するための動的較正の
後で、測定システムが、軸に沿って対物レンズと基準位
置の位置関係を測定し、トラックの長さ方向に移動す
る。この動的変化を、信号振幅とオフセットの両方に関
して較正する。対物レンズの運動を正確に制御するた
め、すべての振幅利得とオフセットをサーボ位置決めシ
ステム内で組み合わせて、基準信号と比較する。
るために、トラッキング誤差信号を光ディスク・ドライ
ブのばらつきに対して較正する。定常状態較正は、トラ
ッキング誤差信号の利得及びオフセットを含む。トラッ
キング誤差信号を較正した後、そのような誤差を補償す
るために、利得及びオフセットをサーボ位置決めシステ
ムに挿入する。定常状態較正と対物レンズの光学軸から
のレーザ光線のオフセットを吸収するための動的較正の
後で、測定システムが、軸に沿って対物レンズと基準位
置の位置関係を測定し、トラックの長さ方向に移動す
る。この動的変化を、信号振幅とオフセットの両方に関
して較正する。対物レンズの運動を正確に制御するた
め、すべての振幅利得とオフセットをサーボ位置決めシ
ステム内で組み合わせて、基準信号と比較する。
【0005】
【実施例】具体的に添付の図面を参照すると、各図で同
様の番号は同様の部品及び構造的特徴を示す。本発明の
幅広い態様が図1に示されている。図1で、動的アクチ
ュエータ較正段階10では、レンズ45(図2)の光学
軸と、対物レンズを通過するレーザ光線の中心の位置関
係の動的変化の効果を最適化する。定常状態較正段階1
1の前に段階10で動的較正を行うと、光ディスク・ド
ライブのより正確な制御が実現できる。対物レンズとレ
ーザ光線の中心の位置関係は、オフセット値と利得値の
両方によって最もよく制御される。
様の番号は同様の部品及び構造的特徴を示す。本発明の
幅広い態様が図1に示されている。図1で、動的アクチ
ュエータ較正段階10では、レンズ45(図2)の光学
軸と、対物レンズを通過するレーザ光線の中心の位置関
係の動的変化の効果を最適化する。定常状態較正段階1
1の前に段階10で動的較正を行うと、光ディスク・ド
ライブのより正確な制御が実現できる。対物レンズとレ
ーザ光線の中心の位置関係は、オフセット値と利得値の
両方によって最もよく制御される。
【0006】定常状態較正段階11は、光ディスク・ド
ライブのトラッキング誤差信号(TES)をドライブに
固有の誤差誘発特性に対して最適化する。この較正の結
果、光ディスク・ドライブのサーボ位置決めシステムを
動作させるための利得値とオフセット値が共に生成され
る。このような定常状態較正で、光学要素、検出器など
の物理的位置決めのばらつきを補償し、光ディスクのあ
る種のばらつきを補償することができる。このようなば
らつきは、光ディスクを光ディスク・ドライブに取外し
可能に装着するとき、より頻繁に起こる。すなわち、デ
ィスクごとにディスク・パラメータが変わる。
ライブのトラッキング誤差信号(TES)をドライブに
固有の誤差誘発特性に対して最適化する。この較正の結
果、光ディスク・ドライブのサーボ位置決めシステムを
動作させるための利得値とオフセット値が共に生成され
る。このような定常状態較正で、光学要素、検出器など
の物理的位置決めのばらつきを補償し、光ディスクのあ
る種のばらつきを補償することができる。このようなば
らつきは、光ディスクを光ディスク・ドライブに取外し
可能に装着するとき、より頻繁に起こる。すなわち、デ
ィスクごとにディスク・パラメータが変わる。
【0007】最後に、機械実行段階12で、オフセット
及び利得の較正値を、光ディスク・ドライブのデータ記
憶及び取出し動作で使用する。
及び利得の較正値を、光ディスク・ドライブのデータ記
憶及び取出し動作で使用する。
【0008】本発明に従って利得値及びオフセット値の
較正及び使用がどのように行われるかの詳細に進む前
に、本発明が有利に利用される環境を図2に示す。光磁
気記録ディスク30が、モータ32によってスピンドル
31上で回転できるように装着されている。光学系部分
33は、フレーム35上に装着されている。ヘッドアー
ム・キャリッジ34は、ディスク30の半径方向に移動
して、対物レンズ45をトラック間で運搬する。レコー
ダのフレーム35は、半径方向の往復運動が可能なよう
にキャリッジ34を適切に装着する。キャリッジ34の
半径方向運動は、データをディスクに記録しディスクか
ら回収するために、複数の同心円トラックまたは螺旋ト
ラックの1つへのアクセスを可能にする。フレーム35
上に適切に装着された線形アクチュエータ36は、トラ
ックへのアクセスを可能にするためにキャリッジ34を
半径方向に移動する。レコーダは、1つまたは複数のホ
スト・プロセッサ37に適切に接続されている。このよ
うなホスト・プロセッサは、制御装置、パーソナル・コ
ンピュータ、大型コンピュータ、通信システム、画像信
号プロセッサなどでよい。接続回路38は、光レコーダ
と接続ホスト・プロセッサ37の間の論理的及び電気的
接続をもたらす。
較正及び使用がどのように行われるかの詳細に進む前
に、本発明が有利に利用される環境を図2に示す。光磁
気記録ディスク30が、モータ32によってスピンドル
31上で回転できるように装着されている。光学系部分
33は、フレーム35上に装着されている。ヘッドアー
ム・キャリッジ34は、ディスク30の半径方向に移動
して、対物レンズ45をトラック間で運搬する。レコー
ダのフレーム35は、半径方向の往復運動が可能なよう
にキャリッジ34を適切に装着する。キャリッジ34の
半径方向運動は、データをディスクに記録しディスクか
ら回収するために、複数の同心円トラックまたは螺旋ト
ラックの1つへのアクセスを可能にする。フレーム35
上に適切に装着された線形アクチュエータ36は、トラ
ックへのアクセスを可能にするためにキャリッジ34を
半径方向に移動する。レコーダは、1つまたは複数のホ
スト・プロセッサ37に適切に接続されている。このよ
うなホスト・プロセッサは、制御装置、パーソナル・コ
ンピュータ、大型コンピュータ、通信システム、画像信
号プロセッサなどでよい。接続回路38は、光レコーダ
と接続ホスト・プロセッサ37の間の論理的及び電気的
接続をもたらす。
【0009】マイクロプロセッサ40は、ホスト・プロ
セッサ37への接続を含めて、レコーダを制御する。制
御データ、状況データ、コマンドなどが、双方向バス4
3を介して接続回路38とマイクロプロセッサ40の間
で交換される。マイクロプロセッサ40内には、プログ
ラムまたはマイクロコードを記憶する読取り専用メモリ
(ROM)41、及びデータと制御信号を記憶するラン
ダム・アクセス・メモリ(RAM)42が含まれてい
る。
セッサ37への接続を含めて、レコーダを制御する。制
御データ、状況データ、コマンドなどが、双方向バス4
3を介して接続回路38とマイクロプロセッサ40の間
で交換される。マイクロプロセッサ40内には、プログ
ラムまたはマイクロコードを記憶する読取り専用メモリ
(ROM)41、及びデータと制御信号を記憶するラン
ダム・アクセス・メモリ(RAM)42が含まれてい
る。
【0010】レコーダの光学機構には、微動アクチュエ
ータ46によるヘッドアーム33上での焦結及び半径方
向トラック追従運動が可能なように装着された対物レン
ズまたは焦結レンズ45が含まれる。この微動アクチュ
エータは、焦結、及びキャリッジ34の運動と平行な半
径方向運動が可能なように、レンズ45をディスク30
に向う方向に及びディスク30から遠ざかる方向に移動
するための機構、現在アクセスされているトラックに隣
接するあるトラックにアクセスしようとするたびにキャ
リッジ34を作動させる必要がないように、100本の
トラックの範囲内でトラックを変更するための機構を含
む。番号47は、レンズ45とディスク30の間の双方
向光経路を示す。
ータ46によるヘッドアーム33上での焦結及び半径方
向トラック追従運動が可能なように装着された対物レン
ズまたは焦結レンズ45が含まれる。この微動アクチュ
エータは、焦結、及びキャリッジ34の運動と平行な半
径方向運動が可能なように、レンズ45をディスク30
に向う方向に及びディスク30から遠ざかる方向に移動
するための機構、現在アクセスされているトラックに隣
接するあるトラックにアクセスしようとするたびにキャ
リッジ34を作動させる必要がないように、100本の
トラックの範囲内でトラックを変更するための機構を含
む。番号47は、レンズ45とディスク30の間の双方
向光経路を示す。
【0011】光磁気記録では、構築された実施例の磁石
48(磁石48は電磁石)が、レンズ45からのレーザ
光によって照射されるディスク30上の小スポットの残
留磁化方向を変えるための、弱いステアリング磁界を形
成する。レーザ光は、記録ディスク上の照射されたスポ
ットを光磁気層(図示しないが、米国特許第39493
87号の教示する希土類元素と遷移金属の合金でよい)
のキュリー点を超える温度にまでスポット加熱する。こ
の加熱によって、そのスポットがキュリー点温度以下に
冷えたとき、磁石48は、残留磁化方向を所望の磁化方
向に変えることができる。図では、磁石48は、「書込
み」方向に向いている。すなわち、ディスク30上に記
録された2進1は通常「N極残留磁化」である。ディス
ク30を消去するには、S極がディスク30に隣接する
ように磁石48を回転させる。破線50で示されるよう
に回転可能な磁石48に動作可能に結合された磁石48
制御装置49が、書込み方向及び消去方向を制御する。
マイクロプロセッサ40は、記録方向の反転を実行する
ための制御信号を線51を介して制御装置49に供給す
る。
48(磁石48は電磁石)が、レンズ45からのレーザ
光によって照射されるディスク30上の小スポットの残
留磁化方向を変えるための、弱いステアリング磁界を形
成する。レーザ光は、記録ディスク上の照射されたスポ
ットを光磁気層(図示しないが、米国特許第39493
87号の教示する希土類元素と遷移金属の合金でよい)
のキュリー点を超える温度にまでスポット加熱する。こ
の加熱によって、そのスポットがキュリー点温度以下に
冷えたとき、磁石48は、残留磁化方向を所望の磁化方
向に変えることができる。図では、磁石48は、「書込
み」方向に向いている。すなわち、ディスク30上に記
録された2進1は通常「N極残留磁化」である。ディス
ク30を消去するには、S極がディスク30に隣接する
ように磁石48を回転させる。破線50で示されるよう
に回転可能な磁石48に動作可能に結合された磁石48
制御装置49が、書込み方向及び消去方向を制御する。
マイクロプロセッサ40は、記録方向の反転を実行する
ための制御信号を線51を介して制御装置49に供給す
る。
【0012】トラックまたは渦線が忠実に追従され、か
つ所望のトラックまたは渦線が迅速かつ正確にアクセス
されるように、ビーム追従経路47の半径方向位置を制
御することが必要である。このために、焦結兼トラッキ
ング回路54が粗動アクチュエータ36と微動アクチュ
エータ46の両方を制御する。アクチュエータ36によ
るキャリッジ34の位置決めは、回路54から線55を
介してアクチュエータ36に供給される制御信号によっ
て正確に制御される。さらに、回路54による微動アク
チュエータ46の制御は、線57および58を介して微
動アクチュエータ46に送られる制御信号を用いて実行
される。線57と58は、それぞれ焦結及びトラック追
従動作とシーク動作を実行するためのものである。セン
サ56は、相対位置誤差(RPE)信号を発生するため
に、微動アクチュエータ46のヘッドアーム・キャリッ
ジ33に対する相対位置を検知する。線57は、2本の
信号導線から構成され、うち1本は焦点誤差信号を回路
54に伝えるためのものであり、2本目は回路54から
の焦点制御信号を微動アクチュエータ46内の焦結機構
に伝えるためのものである。
つ所望のトラックまたは渦線が迅速かつ正確にアクセス
されるように、ビーム追従経路47の半径方向位置を制
御することが必要である。このために、焦結兼トラッキ
ング回路54が粗動アクチュエータ36と微動アクチュ
エータ46の両方を制御する。アクチュエータ36によ
るキャリッジ34の位置決めは、回路54から線55を
介してアクチュエータ36に供給される制御信号によっ
て正確に制御される。さらに、回路54による微動アク
チュエータ46の制御は、線57および58を介して微
動アクチュエータ46に送られる制御信号を用いて実行
される。線57と58は、それぞれ焦結及びトラック追
従動作とシーク動作を実行するためのものである。セン
サ56は、相対位置誤差(RPE)信号を発生するため
に、微動アクチュエータ46のヘッドアーム・キャリッ
ジ33に対する相対位置を検知する。線57は、2本の
信号導線から構成され、うち1本は焦点誤差信号を回路
54に伝えるためのものであり、2本目は回路54から
の焦点制御信号を微動アクチュエータ46内の焦結機構
に伝えるためのものである。
【0013】焦点及びトラック追従位置の検知は、ディ
スク30から反射され経路47を経てレンズ45を通り
ハーフ・ミラー60を介しハーフ・ミラー61で反射さ
れ、いわゆる「カド検出器」62に届いたレーザ光を解
析することによって行われる。カド検出器62は4つの
光素子を有し、そのそれぞれが4本の線(一括して番号
63で示す)上の信号を焦結兼トラッキング回路54に
供給する。検出器62の1つの軸をトラック中心線と位
置合せすることによって、トラック追従動作がイネーブ
ルされる。焦結動作は、カド検出器62内の4つの光素
子によって検出される光の強度を比較することによって
行われれる。焦結兼トラッキング回路54は、線63上
の信号を解析して、焦結とトラック追従の両方を制御す
る。
スク30から反射され経路47を経てレンズ45を通り
ハーフ・ミラー60を介しハーフ・ミラー61で反射さ
れ、いわゆる「カド検出器」62に届いたレーザ光を解
析することによって行われる。カド検出器62は4つの
光素子を有し、そのそれぞれが4本の線(一括して番号
63で示す)上の信号を焦結兼トラッキング回路54に
供給する。検出器62の1つの軸をトラック中心線と位
置合せすることによって、トラック追従動作がイネーブ
ルされる。焦結動作は、カド検出器62内の4つの光素
子によって検出される光の強度を比較することによって
行われれる。焦結兼トラッキング回路54は、線63上
の信号を解析して、焦結とトラック追従の両方を制御す
る。
【0014】次に、ディスク上へのデータの記録または
書込みについて説明する。磁石48がデータを記録する
ために所望の位置まで回転されると仮定する。マイクロ
プロセッサ40は、記録動作をこれから行うことを指示
する制御信号を線65を介してレーザ制御装置66に供
給する。これは、レーザ67が記録用の高強度レーザ光
線を放出するために制御装置66によって付勢されたこ
とを意味する。これとは対照的に、読取りの場合は、デ
ィスク30上のレーザ照射スポットがキュリー点以上に
加熱されないように、レーザ67から発射されるレーザ
光線の強度が弱められる。制御装置66は、その制御信
号を線68を介してレーザ67に供給し、レーザ67か
ら放出される光の強度を示すフィードバック信号を線6
9を介して受け取る。制御信号68は、光強度を所望の
値に調整する。レーザ67は、ガリウムヒ素ダイオード
・レーザなどの半導体レーザであり、データ信号によっ
てこれを変調して、放出されたレーザ光線が強度変調に
よって記録されるデータを表すようにすることができ
る。この点に関して、データ回路75(後で説明する)
は、データ指示信号を線78を介してレーザ67に供給
して、このような変調を実施する。この変調された光線
は、偏光子70(光線を直線偏光する)を通り、次にコ
リメータ・レンズ71を通りハーフ・ミラー60で反射
されてレンズ45を通ってディスク30に向かう。デー
タ回路75は、マイクロプロセッサ40が線76を介し
て供給する適切な制御信号によって記録の準備がされ
る。回路75を準備する際、マイクロプロセッサ40
は、ホスト・プロセッサ37から接続回路38を介して
受け取った記録用コマンドに応答する。データ回路75
の準備ができると、接続回路38を介してホスト・プロ
セッサ37とデータ回路75の間でデータが転送され
る。データ回路75ならびに補助回路(図示せず)は、
ディスク30フォーマット信号、誤差検出・訂正などに
関係する。回路75は、読取りまたは回復動作中、読み
戻された信号から補助信号をはぎ取ってから、訂正済み
のデータ信号をバス77及び接続回路38を介してホス
ト・プロセッサ37に供給する。
書込みについて説明する。磁石48がデータを記録する
ために所望の位置まで回転されると仮定する。マイクロ
プロセッサ40は、記録動作をこれから行うことを指示
する制御信号を線65を介してレーザ制御装置66に供
給する。これは、レーザ67が記録用の高強度レーザ光
線を放出するために制御装置66によって付勢されたこ
とを意味する。これとは対照的に、読取りの場合は、デ
ィスク30上のレーザ照射スポットがキュリー点以上に
加熱されないように、レーザ67から発射されるレーザ
光線の強度が弱められる。制御装置66は、その制御信
号を線68を介してレーザ67に供給し、レーザ67か
ら放出される光の強度を示すフィードバック信号を線6
9を介して受け取る。制御信号68は、光強度を所望の
値に調整する。レーザ67は、ガリウムヒ素ダイオード
・レーザなどの半導体レーザであり、データ信号によっ
てこれを変調して、放出されたレーザ光線が強度変調に
よって記録されるデータを表すようにすることができ
る。この点に関して、データ回路75(後で説明する)
は、データ指示信号を線78を介してレーザ67に供給
して、このような変調を実施する。この変調された光線
は、偏光子70(光線を直線偏光する)を通り、次にコ
リメータ・レンズ71を通りハーフ・ミラー60で反射
されてレンズ45を通ってディスク30に向かう。デー
タ回路75は、マイクロプロセッサ40が線76を介し
て供給する適切な制御信号によって記録の準備がされ
る。回路75を準備する際、マイクロプロセッサ40
は、ホスト・プロセッサ37から接続回路38を介して
受け取った記録用コマンドに応答する。データ回路75
の準備ができると、接続回路38を介してホスト・プロ
セッサ37とデータ回路75の間でデータが転送され
る。データ回路75ならびに補助回路(図示せず)は、
ディスク30フォーマット信号、誤差検出・訂正などに
関係する。回路75は、読取りまたは回復動作中、読み
戻された信号から補助信号をはぎ取ってから、訂正済み
のデータ信号をバス77及び接続回路38を介してホス
ト・プロセッサ37に供給する。
【0015】ホスト・プロセッサへ送るべきデータをデ
ィスク30から読み取るまたは回復するためには、ディ
スク30からのレーザ光線の光学的及び電気的処理が必
要である。反射光の一部分(この部分は、偏光子70か
らの直線偏光がディスク30によって回転されたもの
で、カー効果を利用して記録を行う)は、双方向光経路
47に沿って進み、レンズ45及びハーフ・ミラー60
及び61を通りヘッドアーム33の光学系のデータ検出
部分79に達する。ハーフ・ミラーまたはビーム・スプ
リッタ80が、反射光線を、同じ反射回転された直線偏
光を有する等強度の2本の光線に分割する。ハーフ・ミ
ラー80で反射された光は、第1の偏光子81を通過す
る。第1の偏光子81は、アクセスされているディスク
30のスポットの残留磁化がNすなわち2進1を示すと
きに回転された反射光だけを透過するように設定されて
いる。この通過光がフォトセル82に当たって、適切な
指示信号が差動増幅器85に供給される。反射光がSす
なわち消去された磁極方向の残留磁化によって回転され
たとき、偏光子81は光を全くまたはほとんど通過させ
ず、したがってフォトセル82は活動信号を全く供給し
ない。反対の動作が偏光子83によって起こる。偏光子
83はSの回転されたレーザ光線だけをフォトセル84
へと通過させる。フォトセル84は、レーザ光を受け取
ったことを示す信号を差動増幅器85の第2の入力端に
供給する。増幅器85は、得られた差動信号(データを
表す)を検出のためにデータ回路75に供給する。検出
された信号は、記録されているデータを含むだけでな
く、すべてのいわゆる補助信号をも含む。ここで使用し
た「データ」という用語は、好ましくはディジタルすな
わち離散値タイプの、すべての情報搬送信号を含むもの
とする。
ィスク30から読み取るまたは回復するためには、ディ
スク30からのレーザ光線の光学的及び電気的処理が必
要である。反射光の一部分(この部分は、偏光子70か
らの直線偏光がディスク30によって回転されたもの
で、カー効果を利用して記録を行う)は、双方向光経路
47に沿って進み、レンズ45及びハーフ・ミラー60
及び61を通りヘッドアーム33の光学系のデータ検出
部分79に達する。ハーフ・ミラーまたはビーム・スプ
リッタ80が、反射光線を、同じ反射回転された直線偏
光を有する等強度の2本の光線に分割する。ハーフ・ミ
ラー80で反射された光は、第1の偏光子81を通過す
る。第1の偏光子81は、アクセスされているディスク
30のスポットの残留磁化がNすなわち2進1を示すと
きに回転された反射光だけを透過するように設定されて
いる。この通過光がフォトセル82に当たって、適切な
指示信号が差動増幅器85に供給される。反射光がSす
なわち消去された磁極方向の残留磁化によって回転され
たとき、偏光子81は光を全くまたはほとんど通過させ
ず、したがってフォトセル82は活動信号を全く供給し
ない。反対の動作が偏光子83によって起こる。偏光子
83はSの回転されたレーザ光線だけをフォトセル84
へと通過させる。フォトセル84は、レーザ光を受け取
ったことを示す信号を差動増幅器85の第2の入力端に
供給する。増幅器85は、得られた差動信号(データを
表す)を検出のためにデータ回路75に供給する。検出
された信号は、記録されているデータを含むだけでな
く、すべてのいわゆる補助信号をも含む。ここで使用し
た「データ」という用語は、好ましくはディジタルすな
わち離散値タイプの、すべての情報搬送信号を含むもの
とする。
【0016】スピンドル31の回転位置及び回転速度
は、適切なタコメータまたはエミッタ・センサ90によ
って検知される。センサ90は、スピンドル31のタコ
メータ・ホイール(図示せず)上の明暗スポットを検知
する光学的検知タイプのものであることが好ましく、
「タコ」信号(ディジタル信号)をRPS回路91に供
給する。RPS回路91は、スピンドル31の回転位置
を検出し、回転情報搬送信号をマイクロプロセッサ40
に供給する。マイクロプロセッサ40は、磁気データ記
憶ディスクにおいて広く実施されているように、このよ
うな回転信号を使ってディスク30上のデータ記憶セグ
メントへのアクセスを制御する。さらに、センサ90の
信号はまた、スピンドル速度制御回路93にも送られ
て、スピンドル31を一定の回転速度で回転させるよう
にモータ32を制御する。制御回路93は、周知のよう
に、モータ32の速度を制御するための水晶制御発振子
を含むことができる。マイクロプロセッサ40は、通常
の方法で制御信号を線94を介して制御回路93に供給
する。
は、適切なタコメータまたはエミッタ・センサ90によ
って検知される。センサ90は、スピンドル31のタコ
メータ・ホイール(図示せず)上の明暗スポットを検知
する光学的検知タイプのものであることが好ましく、
「タコ」信号(ディジタル信号)をRPS回路91に供
給する。RPS回路91は、スピンドル31の回転位置
を検出し、回転情報搬送信号をマイクロプロセッサ40
に供給する。マイクロプロセッサ40は、磁気データ記
憶ディスクにおいて広く実施されているように、このよ
うな回転信号を使ってディスク30上のデータ記憶セグ
メントへのアクセスを制御する。さらに、センサ90の
信号はまた、スピンドル速度制御回路93にも送られ
て、スピンドル31を一定の回転速度で回転させるよう
にモータ32を制御する。制御回路93は、周知のよう
に、モータ32の速度を制御するための水晶制御発振子
を含むことができる。マイクロプロセッサ40は、通常
の方法で制御信号を線94を介して制御回路93に供給
する。
【0017】次に、図3及び図4を参照しながら、TE
Sの発生について説明する。検出器62は、4つの独立
した光応答素子A、B、C、Dを有する。線63上にト
ラッキング誤差信号TESを発生するために、素子Aと
Dは、アナログ電流加算回路102に接続され、加算信
号A+Dを差動増幅器104の正の入力端に供給する。
同様に、素子BとCは、その出力信号を第2の電流加算
回路103に供給する。加算回路103は、その加算信
号B+Cを差動増幅器104の負の入力端に供給する。
電流合計A+DとB+Cの差が、線63上にトラッキン
グ誤差信号を与える。検出器62は、素子対AとDおよ
び素子対BとCを、追従されるトラック中心線、たとえ
ば図4のトラック中心線100に沿って分離する、線1
00を有する。記録トラックは、図4のように溝内また
はメサ上に配置することができる。メサ上に記録すると
き、トラック追従はメサ上で行われる。トラック追従の
際、トラック中心線100、110、または111の相
対位置が素子A、B、C、Dに関して移動し、それによ
って異なる光強度を素子対に与えて、追従されるトラッ
クに対するレーザ光線47の空間的関係を真に示すトラ
ッキング誤差信号を発生させる。たとえば、トラックの
中心では、検出器62に当たる反射レーザ光線100は
図3のように中心合せされる。トラック・シーク動作
中、図4Aを見るとよくわかるように、ライン63上の
TESは、正弦波信号114として発生する。
Sの発生について説明する。検出器62は、4つの独立
した光応答素子A、B、C、Dを有する。線63上にト
ラッキング誤差信号TESを発生するために、素子Aと
Dは、アナログ電流加算回路102に接続され、加算信
号A+Dを差動増幅器104の正の入力端に供給する。
同様に、素子BとCは、その出力信号を第2の電流加算
回路103に供給する。加算回路103は、その加算信
号B+Cを差動増幅器104の負の入力端に供給する。
電流合計A+DとB+Cの差が、線63上にトラッキン
グ誤差信号を与える。検出器62は、素子対AとDおよ
び素子対BとCを、追従されるトラック中心線、たとえ
ば図4のトラック中心線100に沿って分離する、線1
00を有する。記録トラックは、図4のように溝内また
はメサ上に配置することができる。メサ上に記録すると
き、トラック追従はメサ上で行われる。トラック追従の
際、トラック中心線100、110、または111の相
対位置が素子A、B、C、Dに関して移動し、それによ
って異なる光強度を素子対に与えて、追従されるトラッ
クに対するレーザ光線47の空間的関係を真に示すトラ
ッキング誤差信号を発生させる。たとえば、トラックの
中心では、検出器62に当たる反射レーザ光線100は
図3のように中心合せされる。トラック・シーク動作
中、図4Aを見るとよくわかるように、ライン63上の
TESは、正弦波信号114として発生する。
【0018】図4は、ディスク30の一部分を示す。こ
の図でトラックは溝付き媒体の溝と位置合せされてい
る。溝は、ディスク30上では同心円であるが、図では
直線として示してある。トラック中心線は、それぞれの
溝の中心に沿っている。光線が媒体30に当たり、溝中
のトラックに焦結されたとき、破線の円101で示す最
大反射光強度が検出器62に供給される(図3)。レー
ザ光線がトラックを交差して移動するにつれて、光の強
度は弱まり、溝及びメサ中の垂直境界線でゼロ軸と交差
して、溝とメサの境界線115で正のピーク117及び
負のピーク116に達する。
の図でトラックは溝付き媒体の溝と位置合せされてい
る。溝は、ディスク30上では同心円であるが、図では
直線として示してある。トラック中心線は、それぞれの
溝の中心に沿っている。光線が媒体30に当たり、溝中
のトラックに焦結されたとき、破線の円101で示す最
大反射光強度が検出器62に供給される(図3)。レー
ザ光線がトラックを交差して移動するにつれて、光の強
度は弱まり、溝及びメサ中の垂直境界線でゼロ軸と交差
して、溝とメサの境界線115で正のピーク117及び
負のピーク116に達する。
【0019】本発明によれば、正のピーク117の振幅
と負のピーク116の振幅の差を、各トラック内の複数
の点で、かつ異なるトラックに沿って比較する。この絶
対振幅差をTESオフセットと呼ぶ。TES振幅は2つ
のピークの和である。TESオフセットを最小にし、T
ES振幅を所定の値以下かつ第2の所定の値以上に保つ
ことが望ましい。
と負のピーク116の振幅の差を、各トラック内の複数
の点で、かつ異なるトラックに沿って比較する。この絶
対振幅差をTESオフセットと呼ぶ。TES振幅は2つ
のピークの和である。TESオフセットを最小にし、T
ES振幅を所定の値以下かつ第2の所定の値以上に保つ
ことが望ましい。
【0020】図2の光ディスク・ドライブにおける利得
制御信号及びオフセット制御信号の適用を、図5に省略
した形で示す。トラッキング誤差信号(TES)は線6
3を介して受け取られる。通常の加算回路120が、ト
ラック追従動作またはシーク動作のために基準信号とT
ESを比較し、誤差信号を発生する。この誤差信号は、
駆動信号を生成し、再び基準信号とTESを比較するた
めに使用される。通常の設計の補償器121が、加算回
路120を積分器122に、さらに電力増幅器123に
結合する。電力増幅器123は、その信号を微動アクチ
ュエータ46に供給する(図2)。後述する加算回路1
33の出力信号が、調整済みRPE信号として粗動アク
チュエータのサーボ回路124に供給される。このRP
E信号は、ヘッド・キャリッジ34が微動アクチュエー
タ46の運動に追従するようにする駆動信号をアクチュ
エータ36に供給する。この動作で、RPE信号がゼロ
にサーボされる。
制御信号及びオフセット制御信号の適用を、図5に省略
した形で示す。トラッキング誤差信号(TES)は線6
3を介して受け取られる。通常の加算回路120が、ト
ラック追従動作またはシーク動作のために基準信号とT
ESを比較し、誤差信号を発生する。この誤差信号は、
駆動信号を生成し、再び基準信号とTESを比較するた
めに使用される。通常の設計の補償器121が、加算回
路120を積分器122に、さらに電力増幅器123に
結合する。電力増幅器123は、その信号を微動アクチ
ュエータ46に供給する(図2)。後述する加算回路1
33の出力信号が、調整済みRPE信号として粗動アク
チュエータのサーボ回路124に供給される。このRP
E信号は、ヘッド・キャリッジ34が微動アクチュエー
タ46の運動に追従するようにする駆動信号をアクチュ
エータ36に供給する。この動作で、RPE信号がゼロ
にサーボされる。
【0021】本発明によれば、TES利得入力及びオフ
セット入力が、加算回路120に供給される。加算回路
120は多くの形をとることができ、個々の加算回路に
対する制限は意図されていないことを理解されたい。可
変利得増幅器(VGA)125が、線63を加算回路1
20に結合する。TES利得信号は、レジスタ(RE
G)127に記憶された数値によって制御されるディジ
タル−アナログ変換器(DAC)126から供給され
る。マイクロプロセッサ40が、情報をケーブル59を
介してレジスタ127に供給する。レジスタ127内の
値は、後で明らかになるように、後述の較正中に生成さ
れた値である。TESオフセットは、DAC128によ
って加算回路120に直接供給される。DAC128
は、マイクロプロセッサ40がレジスタ129に記憶し
た数値に対応する振幅値を供給する。DAC126及び
128は、図1の段階10で生成された利得値及びオフ
セット値の使用を実現する。本発明の趣旨から逸脱する
ことなく、オフセット値及び利得値に後で他の変更を加
えることが可能なことを理解されたい。
セット入力が、加算回路120に供給される。加算回路
120は多くの形をとることができ、個々の加算回路に
対する制限は意図されていないことを理解されたい。可
変利得増幅器(VGA)125が、線63を加算回路1
20に結合する。TES利得信号は、レジスタ(RE
G)127に記憶された数値によって制御されるディジ
タル−アナログ変換器(DAC)126から供給され
る。マイクロプロセッサ40が、情報をケーブル59を
介してレジスタ127に供給する。レジスタ127内の
値は、後で明らかになるように、後述の較正中に生成さ
れた値である。TESオフセットは、DAC128によ
って加算回路120に直接供給される。DAC128
は、マイクロプロセッサ40がレジスタ129に記憶し
た数値に対応する振幅値を供給する。DAC126及び
128は、図1の段階10で生成された利得値及びオフ
セット値の使用を実現する。本発明の趣旨から逸脱する
ことなく、オフセット値及び利得値に後で他の変更を加
えることが可能なことを理解されたい。
【0022】RPEセンサ56から出力されたRPE信
号が、図1の段階11で較正される。その較正の結果
が、RPEセンサ56から線119を介して供給される
RPE信号に適用される。可変利得増幅器(VGA)1
30は、マイクロプロセッサ40がレジスタ136に記
憶した数値に従って動作する、DAC135から供給さ
れる利得制御信号に従ってRPE信号を増幅する。加算
回路133は、利得調整済みのRPE信号を受け取り、
それを、マイクロプロセッサ40から供給されレジスタ
138に記憶された数値に従ってDAC137から供給
されるRPE信号と結合する。加算回路133は、VG
A130及びDAC137からの2つの入力の加算値
を、レベル・シフト回路または利得回路134を介して
加算回路120に供給する。
号が、図1の段階11で較正される。その較正の結果
が、RPEセンサ56から線119を介して供給される
RPE信号に適用される。可変利得増幅器(VGA)1
30は、マイクロプロセッサ40がレジスタ136に記
憶した数値に従って動作する、DAC135から供給さ
れる利得制御信号に従ってRPE信号を増幅する。加算
回路133は、利得調整済みのRPE信号を受け取り、
それを、マイクロプロセッサ40から供給されレジスタ
138に記憶された数値に従ってDAC137から供給
されるRPE信号と結合する。加算回路133は、VG
A130及びDAC137からの2つの入力の加算値
を、レベル・シフト回路または利得回路134を介して
加算回路120に供給する。
【0023】以上のことからわかるように、光ディスク
・ドライブ内で精密なサーボ位置決め動作を行うため
に、TES較正及びRPE較正が、微動アクチュエータ
46に適用されるだけでなく、粗動アクチュエータ36
にも伝達される。
・ドライブ内で精密なサーボ位置決め動作を行うため
に、TES較正及びRPE較正が、微動アクチュエータ
46に適用されるだけでなく、粗動アクチュエータ36
にも伝達される。
【0024】次に、図6を参照して、定常状態較正にお
けるTESの使用について説明する。機械実行段階14
0で、微動アクチュエータ46が移動して、レーザ光線
に較正領域を走査させる。較正領域は、非データ領域で
もデータ領域でもよい。機械実行段階141で、光線4
7が、比較的短い距離にわたって半径方向にディザされ
る。この比較的短い距離は、微動アクチュエータ46の
半径方向の移動範囲よりずっと小さく、たとえばその半
径方向移動の10パーセント以下である。これは、ディ
ザが中心トラックから10トラック未満の走査、好まし
くは3〜4トラックの走査に限定されることを意味す
る。ディザ操作中、機械実行段階142で、TESのピ
ークが測定され記憶される。これについては、図8に関
して後で説明する。適切な1組のピーク振幅測定値を得
るには、複数の円周位置で走査されるそれぞれのトラッ
クから複数のサンプルをとることが必要なことがある。
利得補償値及びオフセット補償値の計算に使用される
「測定」値は、負のピークの絶対振幅から正のピークの
絶対振幅を引き算することによって得られる。この引き
算で信号オフセット値が得られ、その符号はどちらのピ
ークの絶対振幅がより大きいかを示す。この計算の結
果、図5のDAC128をセットするために使用される
オフセットが得られる。同様に、正のピークと負のピー
クの絶対振幅値を加算するとTES利得係数が得られ
る。各ディスク・ドライブの設計は、望ましいTES振
幅値をもつ。したがって、測定されたTES振幅を所望
の振幅と比較し、測定されたTES振幅と所望の振幅の
符号付きの差を使って、サーボ位置決め動作中にVGA
125の利得を制御する。レジスタ127の内容は、所
望のTES振幅と測定されたTES振幅の差を反映す
る。
けるTESの使用について説明する。機械実行段階14
0で、微動アクチュエータ46が移動して、レーザ光線
に較正領域を走査させる。較正領域は、非データ領域で
もデータ領域でもよい。機械実行段階141で、光線4
7が、比較的短い距離にわたって半径方向にディザされ
る。この比較的短い距離は、微動アクチュエータ46の
半径方向の移動範囲よりずっと小さく、たとえばその半
径方向移動の10パーセント以下である。これは、ディ
ザが中心トラックから10トラック未満の走査、好まし
くは3〜4トラックの走査に限定されることを意味す
る。ディザ操作中、機械実行段階142で、TESのピ
ークが測定され記憶される。これについては、図8に関
して後で説明する。適切な1組のピーク振幅測定値を得
るには、複数の円周位置で走査されるそれぞれのトラッ
クから複数のサンプルをとることが必要なことがある。
利得補償値及びオフセット補償値の計算に使用される
「測定」値は、負のピークの絶対振幅から正のピークの
絶対振幅を引き算することによって得られる。この引き
算で信号オフセット値が得られ、その符号はどちらのピ
ークの絶対振幅がより大きいかを示す。この計算の結
果、図5のDAC128をセットするために使用される
オフセットが得られる。同様に、正のピークと負のピー
クの絶対振幅値を加算するとTES利得係数が得られ
る。各ディスク・ドライブの設計は、望ましいTES振
幅値をもつ。したがって、測定されたTES振幅を所望
の振幅と比較し、測定されたTES振幅と所望の振幅の
符号付きの差を使って、サーボ位置決め動作中にVGA
125の利得を制御する。レジスタ127の内容は、所
望のTES振幅と測定されたTES振幅の差を反映す
る。
【0025】機械実行段階143で測定値を解析した
後、段階144でマイクロプロセッサ40は、測定され
た振幅及び測定されたオフセットが所望の値にあるか否
かを判断する。イエスの場合、プログラム経路145を
たどって、TES利得及びオフセットの両方に測定オフ
セット値を使用する。しかし、値が所望のレベルにない
とき(これは実験的に判断できる)は、機械実行段階1
46で、DAC128とDAC126の両方について新
しい利得及びオフセット値が生成される。機械実行段階
147で、利得及びオフセットの計算値がレジスタ12
6及び128にロードされる。次いで、DAC126及
び128内の値が共に、許容できる値の範囲内に収まる
最小オフセット及び振幅を有するTESをもたらすま
で、機械実行段階141−144を繰り返す。この時点
で、この較正にとって、経路47(図2)を通るレーザ
光線が実質的に対物レンズ45の光学軸上にあると見な
せるのに十分なほどディザリングが小さいことに留意さ
れたい。
後、段階144でマイクロプロセッサ40は、測定され
た振幅及び測定されたオフセットが所望の値にあるか否
かを判断する。イエスの場合、プログラム経路145を
たどって、TES利得及びオフセットの両方に測定オフ
セット値を使用する。しかし、値が所望のレベルにない
とき(これは実験的に判断できる)は、機械実行段階1
46で、DAC128とDAC126の両方について新
しい利得及びオフセット値が生成される。機械実行段階
147で、利得及びオフセットの計算値がレジスタ12
6及び128にロードされる。次いで、DAC126及
び128内の値が共に、許容できる値の範囲内に収まる
最小オフセット及び振幅を有するTESをもたらすま
で、機械実行段階141−144を繰り返す。この時点
で、この較正にとって、経路47(図2)を通るレーザ
光線が実質的に対物レンズ45の光学軸上にあると見な
せるのに十分なほどディザリングが小さいことに留意さ
れたい。
【0026】次に図7を参照して、図1の段階10の動
的較正について説明する。機械実行段階150で、経路
47上のレーザ光線が、較正領域にまだない場合、そこ
に移動させる。次に機械実行段階151で、光線47が
レンズ45を通過する際に屈折が最大になるように、光
線47が微動アクチュエータ46の移動限界(たとえば
130トラック)の間で半径方向にディザされる。ディ
ザリング中、機械実行段階152で、図8に示すように
TESの絶対値を測定し記憶する。機械実行段階153
で、測定値を機械実行段階143について述べたのと同
様にして解析する。機械実行段階154で、利得値及び
オフセット値を実験的に決定されたしきい値と比較し
て、それらの値が、RPEに、満足できる信号を供給さ
せるか否かを判定する。測定結果が満足できるものであ
る場合、経路155で示されるように、そのRPEオフ
セット及び利得の値が使用される。否の場合は、DAC
135と137の新しい値を生成し、それぞれレジスタ
136と138に挿入する。次に、満足な結果が得られ
るまで、段階151−154を繰り返す。
的較正について説明する。機械実行段階150で、経路
47上のレーザ光線が、較正領域にまだない場合、そこ
に移動させる。次に機械実行段階151で、光線47が
レンズ45を通過する際に屈折が最大になるように、光
線47が微動アクチュエータ46の移動限界(たとえば
130トラック)の間で半径方向にディザされる。ディ
ザリング中、機械実行段階152で、図8に示すように
TESの絶対値を測定し記憶する。機械実行段階153
で、測定値を機械実行段階143について述べたのと同
様にして解析する。機械実行段階154で、利得値及び
オフセット値を実験的に決定されたしきい値と比較し
て、それらの値が、RPEに、満足できる信号を供給さ
せるか否かを判定する。測定結果が満足できるものであ
る場合、経路155で示されるように、そのRPEオフ
セット及び利得の値が使用される。否の場合は、DAC
135と137の新しい値を生成し、それぞれレジスタ
136と138に挿入する。次に、満足な結果が得られ
るまで、段階151−154を繰り返す。
【0027】図6及び図7に示した各較正の始めに、図
5に示したそれぞれのDACについて初期名目値がレジ
スタに挿入されることに留意されたい。図7の較正は、
図6に記述された較正の微調整を行う。図2の光ディス
ク・ドライブで異なる結果を得るために、さらに較正を
実行することもできる。
5に示したそれぞれのDACについて初期名目値がレジ
スタに挿入されることに留意されたい。図7の較正は、
図6に記述された較正の微調整を行う。図2の光ディス
ク・ドライブで異なる結果を得るために、さらに較正を
実行することもできる。
【0028】次に図8には、較正回路及びプログラム制
御が示されている。スイッチ160は、複数の入力のい
ずれか1つを較正回路に切り替える。線119は、図7
の較正を実施するためのRPE信号を搬送する。線63
は、図6の較正を実施するためのTES信号を搬送す
る。線159は、光ディスク・ドライブのその他のパラ
メータの較正を実施するための他の入力を搬送すること
ができる。第4の端子158は、図8の回路の較正に使
用できる大地基準電位に接続される。較正される信号
は、スイッチ160から低域フィルタ161を通過す
る。線162上の信号は、フィルタ出力信号のそれぞれ
正及び負のピークを測定するために、その信号の極性を
選択する。ピーク検出器164は、ADC165によっ
てディジタル値に変換するためにピークを捕捉するよう
に、線166上の信号によってタイミング調整される。
ADC165は、通常のアナログ−ディジタル変換器で
ある。捕捉されたピーク値をマイクロプロセッサ40に
読み込むため、マイクロプロセッサ40から受け取った
読出し信号167によって、ADC165のディジタル
値がケーブル168上に供給される。マイクロプロセッ
サ40は、極性信号162を知っており、ADC165
から受け取った正のピーク値はコンピュータ・テーブル
170の正ピーク値列に記憶され、負のピーク値はコン
ピュータ・テーブル170の負ピーク値列に記憶され
る。テーブル170内のすべての正及び負のピーク値を
累計して、それぞれのピーク値の平均値を得る。平均ピ
ーク値を得る際には、機械実行段階143または機械実
行段階153で、オフセット値及び利得振幅値を上述の
ように計算する。
御が示されている。スイッチ160は、複数の入力のい
ずれか1つを較正回路に切り替える。線119は、図7
の較正を実施するためのRPE信号を搬送する。線63
は、図6の較正を実施するためのTES信号を搬送す
る。線159は、光ディスク・ドライブのその他のパラ
メータの較正を実施するための他の入力を搬送すること
ができる。第4の端子158は、図8の回路の較正に使
用できる大地基準電位に接続される。較正される信号
は、スイッチ160から低域フィルタ161を通過す
る。線162上の信号は、フィルタ出力信号のそれぞれ
正及び負のピークを測定するために、その信号の極性を
選択する。ピーク検出器164は、ADC165によっ
てディジタル値に変換するためにピークを捕捉するよう
に、線166上の信号によってタイミング調整される。
ADC165は、通常のアナログ−ディジタル変換器で
ある。捕捉されたピーク値をマイクロプロセッサ40に
読み込むため、マイクロプロセッサ40から受け取った
読出し信号167によって、ADC165のディジタル
値がケーブル168上に供給される。マイクロプロセッ
サ40は、極性信号162を知っており、ADC165
から受け取った正のピーク値はコンピュータ・テーブル
170の正ピーク値列に記憶され、負のピーク値はコン
ピュータ・テーブル170の負ピーク値列に記憶され
る。テーブル170内のすべての正及び負のピーク値を
累計して、それぞれのピーク値の平均値を得る。平均ピ
ーク値を得る際には、機械実行段階143または機械実
行段階153で、オフセット値及び利得振幅値を上述の
ように計算する。
【発明の効果】本発明によれば、サーボ位置決め精度の
維持を確保するために、光ディスク・ドライブにおける
トラック形状のばらつきを補償または吸収する手段が提
供される。
維持を確保するために、光ディスク・ドライブにおける
トラック形状のばらつきを補償または吸収する手段が提
供される。
【図1】図1は、本発明を実施する際に実行される機能
を示す単純化したブロック図である。
を示す単純化したブロック図である。
【図2】本発明が有利に実施できる光ディスク・ドライ
ブを単純化した形で示す図である。
ブを単純化した形で示す図である。
【図3】光ディスク・ドライブにおけるトラッキング誤
差信号(TES)の発生を示す図である。
差信号(TES)の発生を示す図である。
【図4】溝付き光ディスク記録部材と、図3の回路によ
って発生されるTESの間の空間的関係を示す図であ
る。
って発生されるTESの間の空間的関係を示す図であ
る。
【図4A】溝付き光ディスク記録要素と、図3の回路に
よって発生されるTESの間の空間的関係を示す図であ
る。
よって発生されるTESの間の空間的関係を示す図であ
る。
【図5】図2の光ディスク・ドライブで使用可能なサー
ボ位置決めシステムを示し、本発明の利得及びオフセッ
ト制御の適用を示す単純化したブロック図である。
ボ位置決めシステムを示し、本発明の利得及びオフセッ
ト制御の適用を示す単純化したブロック図である。
【図6】TESの較正を示す機械操作図である。
【図7】図2の光ディスク・ドライブにおけるレーザ光
線と対物レンズの光学軸の軸ずれを示す相対位置誤差の
較正を示す機械操作図である。
線と対物レンズの光学軸の軸ずれを示す相対位置誤差の
較正を示す機械操作図である。
【図8】図6及び図7の機械操作図で使用される較正測
定技法を示すブロック図及び概略流れ図である。
定技法を示すブロック図及び概略流れ図である。
Claims (6)
- 【請求項1】光記録部材上の信号トラックに対するシー
ク動作及びトラック追従動作のために対物レンズが光デ
ィスク・ドライブ内に移動可能に装着された光ディスク
・ドライブを作動させるための装置において、 対物レンズのシーク動作及びトラック追従動作が可能な
ように対物レンズに結合された光ディスク・ドライブ内
のサーボ位置決め手段と、 対物レンズを介して記録部材に光学的に結合され、記録
部材上のトラックに対する対物レンズの相対位置を検知
し、そのような相対位置を示すトラッキングエラー信号
(TES)を供給するためのTES手段と、 前記サーボ位置決め手段にあって、TESを受け取っ
て、前記サーボ位置決め手段が前記のシーク動作及びト
ラック追従動作を制御するための駆動信号を発生させる
ためのサーボ駆動手段と、 前記サーボ位置決め手段内にあって、前記TES手段と
前記サーボ駆動手段の間に電気的に挿入されたTESオ
フセット及び利得制御手段であって、定常状態振幅補償
信号と定常状態オフセット補償信号とを生成し、それを
前記サーボ駆動手段に供給するための、および前記補償
信号をTESに加算してそれぞれTES振幅及びオフセ
ットを修正するためのTESオフセット及び利得制御手
段と、 光ディスク・ドライブ内にあって、記録部材に対してト
ラック交差方向に相対的に移動可能な、対物レンズと記
録要素の間でトラック追従動作を実行するためのヘッド
・キャリッジと、 前記ヘッド・キャリッジに対してトラック交差方向に相
対的に移動できるように前記ヘッド・キャリッジ上に装
着され、対物レンズを支持する微動アクチュエータと、 前記ヘッド・キャリッジ上に装着され、前記ヘッド・キ
ャリッジに対する前記トラック交差方向の微動アクチュ
エータの相対位置を相対位置誤差(RPE)信号で検知し
電気的に指示するためのRPE検知手段と、 前記サーボ駆動手段は、前記RPE検知手段から供給さ
れるRPE信号を受け取って、前記トラッキング動作を
実行するようにされており、 前記RPE検知手段と前記サーボ駆動手段の間に電気的
に挿入された、利得及びオフセットに関するRPE信号
の振幅及びオフセットを変更すべくRPE利得及びオフ
セット信号を供給するためのRPEオフセット手段と、 前記光ディスク・ドライブ内にあって、上記の手段すべ
てに結合され、所定の振幅及び信号オフセットの範囲内
にある振幅及びオフセットを有するTESを得るため
に、振幅補償信号、オフセット補償信号、RPE振幅及
びオフセットを較正するための較正手段と、 前記較正手段は、TESの正及び負のピーク振幅値を計
測、指示する手段を有しており、 前記較正手段内にあって、前記較正手段に接続され、か
つ前記TESオフセット及び利得制御手段に接続され
た、前記のTESを受け取り、TESの負のピークから
正のピークの振幅値を引き算してオフセットを計算し、
正のピークの振幅値と負のピークの振幅値を加算してT
ES振幅を計算するためのディジタル・コンピュータで
あって、それらの計算に応答してそれぞれの可変利得増
幅器内のTESを、所定の振幅範囲内の最大ピーク振幅
及び所定のオフセット範囲内のオフセットをもつように
修正する、TES振幅とRPE信号振幅及びオフセット
に対するオフセット値を生成する手段を有するディジタ
ル・コンピュータと、 を併せ含む装置。 - 【請求項2】光記録部材上の信号トラックに対するシー
ク動作及びトラック追従動作のために対物レンズが光デ
ィスク・ドライブ内に移動可能に装着された光ディスク
・ドライブを作動させるための装置において、 対物レンズのシーク動作及びトラック追従動作が可能な
ように対物レンズに結合された光ディスク・ドライブ内
のサーボ位置決め手段と、 対物レンズを介して記録部材に光学的に結合され、記録
部材上のトラックに対する対物レンズの相対位置を検知
し、そのような相対位置を示すトラッキングエラー信号
(TES)を供給するためのTES手段と、 前記サーボ位置決め手段にあって、TESを受け取っ
て、前記サーボ位置決め手段が前記のシーク動作及びト
ラック追従動作を制御するための駆動信号を発生させる
ためのサーボ駆動手段と、 前記サーボ位置決め手段内にあって、前記TES手段と
前記サーボ駆動手段の間に電気的に挿入されたTESオ
フセット及び利得制御手段であって、定常状態振幅補償
信号と定常状態オフセット補償信号とを生成し、それを
前記サーボ駆動手段に供給するための、および前記補償
信号をTESに加算してそれぞれTES振幅及びオフセ
ットを修正するためのTESオフセット及び利得制御手
段と、 光ディスク・ドライブ内にあって、上記の手段のすべて
に結合され、所定の振幅及びオフセットを有するTES
を得るために、補償信号を較正するための較正手段と、 前記サーボ位置決め手段は、可変利得増幅手段とアナロ
グ加算手段を含み、該可変利得増幅手段は、前記アナロ
グ加算手段に修正されたTESを供給するためにTES
を受け取るようになされ、 前記TESオフセット及び利得制御手段は、前記可変利
得増幅手段と前記アナログ加算手段に接続され、振幅補
償信号を前記可変利得増幅手段に、オフセット補償信号
を前記アナログ加算手段に供給するようにされており、 前記較正手段は、TESの正及び負のピーク振幅値を測
定、指示する手段を有しており、 前記較正手段内にあって、前記較正手段に接続され、か
つ前記TESオフセット及び利得制御手段に接続され
た、前記のTESを受け取り、TESの負のピークから
正のピークの振幅値を引き算してオフセットを計算し、
正のピークの振幅値と負のピークの振幅値を加算してT
ES振幅を計算するためのディジタル・コンピュータで
あって、それらの計算に応答してそれぞれの可変利得増
幅器内のTESを、所定の振幅範囲内の最大ピーク振幅
及び所定のオフセット範囲内のオフセットをもつように
修正する、TES振幅とRPE信号振幅及びオフセット
に対するオフセット値を生成する手段を有するディジタ
ル・コンピュータと、 を併せ含む装置。 - 【請求項3】さらに、前記RPEオフセット手段は、前
記RPE信号及びRPEオフセット利得信号を受け取っ
てRPE信号の振幅を変化させる可変利得増幅器手段
と、振幅が変化させられたRPE信号及び前記RPEオ
フセット信号を受け取って加算されオフセットが変化さ
せられたRPE信号を発生するように前記可変利得増幅
器手段に接続された加算手段とを含み、前記サーボ駆動
手段に接続され、該手段に前記加算されオフセットが変
化させられたRPE信号を供給する加算された、オフセ
ットが変化させられたRPE信号をそこに供給するよう
した、 請求項1に記載の装置。 - 【請求項4】さらに、前記のサーボ位置決め手段が、T
ESを受け取って修正されたTESをアナログ加算手段
に供給するための可変利得増幅器手段と、アナログ加算
手段とを含み、 前記のTESオフセット及び利得制御手段が、TES振
幅オフセット信号をTES可変利得増幅器に供給し、オ
フセット信号をアナログ加算手段に供給するように前記
のTES可変利得増幅器とアナログ加算手段の両方に接
続され、 前記RPEオフセット手段が、前記の加算された、オフ
セットが変化させられたRPE信号をそこに供給するよ
うにアナログ加算手段に接続されている、 請求項3に記載の装置。 - 【請求項5】さらに、前記RPEオフセット手段が、R
PEオフセット手段の加算手段とアナログ加算手段の間
に電気的に挿入された振幅レベル・シフト手段をも含
む、 請求項4に記載の装置。 - 【請求項6】2つの相対的に移動可能な手段をもち、そ
のうちの1つは第1の方向に延びる複数の平行な信号ト
ラックを有する記録部材のトラック交差方向に対物レン
ズを支持し移動させる手段である、レンズ担持手段を有
する光ディスク・ドライブの位置決めサーボを動作させ
るための装置において、 最も近接するトラックに対する対物レンズの相対位置を
示すトラッキング誤差信号(TES)を供給するためのT
ES手段と、 レンズ担持手段内の前記の2つの相対的に移動可能な部
材の相対位置を示す相対位置誤差(RPE)信号を供給す
るためのRPE手段と、 前記TES手段及び前記RPE手段に接続され、最初
に、それぞれ第1の所定の値の範囲内にあり、TESに
影響を与える定常状態誤差状態を補償する働きをする振
幅及びオフセットをもつようにTESを較正し、次に、
RPE信号が、前記のそれぞれの第1の所定の値の範囲
内の振幅及びオフセットをもつTESに作用を及ぼし
て、動的誤差を補償する働きをする、所定の振幅及びオ
フセットをもつように、前記RPE手段を較正するため
の較正手段と、 前記較正手段は、TESの正及び負のピーク振幅値を測
定、指示する手段を有しており、 さらに、前記較正手段内にあって、前記較正手段に接続
され、かつ前記TESオフセット及び利得制御手段に接
続された、前記のTESを受け取り、TESの負のピー
クから正のピークの振幅値を引き算してオフセットを計
算し、正のピークの振幅値と負のピークの振幅値を加算
してTES振幅を計算するためのディジタル・コンピュ
ータであって、それらの計算に応答してそれぞれの可変
利得増幅器内のTESを、所定の振幅範囲内の最大ピー
ク振幅及び所定のオフセット範囲内のオフセットをもつ
ように修正する、TES振幅とRPE信号振幅及びオフ
セットに対するオフセット値を生成する手段を有するデ
ィジタル・コンピュータと、 を併せ含む装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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- 1991-07-04 JP JP3189602A patent/JPH0777036B2/ja not_active Expired - Lifetime
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