JPH077339B2 - Testing methods for portable electronic devices - Google Patents
Testing methods for portable electronic devicesInfo
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- JPH077339B2 JPH077339B2 JP61217218A JP21721886A JPH077339B2 JP H077339 B2 JPH077339 B2 JP H077339B2 JP 61217218 A JP61217218 A JP 61217218A JP 21721886 A JP21721886 A JP 21721886A JP H077339 B2 JPH077339 B2 JP H077339B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、不揮発性のデータメモリおよびCPUなどの制
御素子を有するICチップを内蔵した、いわゆるICカード
と称される携帯可能電子装置のテスト方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Industrial field of application) The present invention relates to a so-called IC card that has a built-in IC chip having a nonvolatile data memory and a control element such as a CPU. Method for testing possible electronic devices.
（従来の技術） 最近、新たな携帯可能なデータ記憶媒体として、不揮発
性のデータメモリおよびCPUなどの制御素子を有するIC
チップを内蔵したICカードが開発されている。この種の
ICカードは、内部の制御素子により内蔵するデータメモ
リに対してデータの読出しおよび書込みあるいは消去を
行なう。(Prior Art) Recently, as a new portable data storage medium, an IC having a nonvolatile data memory and a control element such as a CPU
IC cards with built-in chips have been developed. Of this kind
The IC card reads / writes / erases data from / into a built-in data memory by an internal control element.
ところで通常、上記制御素子は、内蔵する制御プログラ
ムにより種々の制御を行なうようになっている。ところ
が従来、この制御プログラムは、ICカードの製造時にマ
スクROMで構成されるプログラムメモリに書込まれてお
り、一度書込まれたプログラムメモリに新たなプログラ
ム、たとえばICカードのテストプログラムを追加するこ
とは不可能であった。このため、新たなプログラムを書
込むためにはプログラムメモリ（マスクROM）を作り直
さなければならず、費用と時間に大きなロスが生じてい
た。By the way, normally, the control element is designed to perform various controls by a control program incorporated therein. However, conventionally, this control program is written in the program memory configured by the mask ROM when the IC card is manufactured, and a new program, for example, an IC card test program, must be added to the program memory once written. Was impossible. Therefore, in order to write a new program, the program memory (mask ROM) had to be recreated, resulting in a large loss in cost and time.
（発明が解決しようとする問題点） 上記したように、従来は製造後に新たなテストプログラ
ムを書込み、これを実行させることができないという欠
点があった。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, conventionally, there is a drawback that a new test program cannot be written and executed after manufacturing.
そこで、本発明は以上の欠点を除去するもので、製造後
に新たなテストプログラムを任意に書込み、これを実行
させることができ、一度しか使用しないテストプログラ
ムをプログラムメモリ部に書込む必要がなく、プログラ
ムメモリ部を作り直す必要もなくなり、しかもこの一度
しか使用しないことを、データメモリ部に記憶されるフ
ラグ情報で規定でき、テストプログラムのロードが一度
しかできないようになっている携帯可能電子装置のテス
ト方法を提供することを目的とする。Therefore, the present invention eliminates the above-mentioned drawbacks, and it is possible to arbitrarily write a new test program after manufacturing and execute it, and it is not necessary to write a test program that is used only once in the program memory unit. It is no longer necessary to recreate the program memory part, and it is possible to specify that it will only be used once by the flag information stored in the data memory part, and the test program can be loaded only once. The purpose is to provide a method.
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明の携帯可能電子装置のテスト方法は、データメモ
リ部とこのデータメモリ部に対してデータの読出しおよ
び書込みを行うための制御部とこの制御部が制御を行う
ための制御プログラムを記憶したプログラムメモリ部と
を有するものにおいて、テストプログラムが実行済みか
否かのフラグ情報を上記データメモリ部に記憶してお
き、外部装置からテストプログラムのロード命令を受信
した場合に上記フラグ情報に基づきテストプログラムが
実行済みでない場合にプログラムロード可能の応答出力
を外部装置に出力し、外部装置からテストプログラムの
ロード命令を受信した場合に上記フラグ情報に基づきテ
ストプログラムが実行済みの場合にテストプログラムの
プログラムロードの実行が不可能であることを外部装置
に出力し、プログラムロード可能の応答出力を行った後
に外部装置から受信したテストプログラムを上記データ
メモリ部に記憶し、上記データメモリ部に記憶されたテ
ストプログラムを実行して実行結果を上記外部装置に出
力し、上記テストプログラムを実行した後に上記データ
メモリ部のフラグ情報を実行済みである情報に更新する
ことを特徴とする。[Configuration of the Invention] (Means for Solving Problems) A portable electronic device testing method according to the present invention includes a data memory unit and a control unit for reading and writing data from and to the data memory unit. In this control unit having a program memory unit storing a control program for controlling, a flag information indicating whether or not the test program has been executed is stored in the data memory unit, and the test program is transmitted from an external device. When the load command of the above is received and the test program is not executed based on the above flag information, the response output of the program loadable is output to the external device, and the above flag information is received when the load command of the test program is received from the external device. The test program's program load if the test program has already been run based on Outputs that it is not possible to the external device, outputs the response that the program can be loaded, and then stores the test program received from the external device in the data memory unit and executes the test program stored in the data memory unit. Then, the execution result is output to the external device, and after the test program is executed, the flag information of the data memory unit is updated to the already executed information.
（作用） 本発明は、データメモリ部とこのデータメモリ部に対し
てデータの読出しおよび書込みを行うための制御部とこ
の制御部が制御を行うための制御プログラムを記憶した
プログラムメモリ部とを有するものにおいて、テストプ
ログラムが実行済みか否かのフラグ情報を上記データメ
モリ部に記憶しておき、外部装置からテストプログラム
のロード命令を受信した場合に上記フラグ情報に基づき
テストプログラムが実行済みでない場合にプログラムロ
ード可能の応答出力を外部装置に出力し、外部装置から
テストプログラムのロード命令を受信した場合に上記フ
ラグ情報に基づきテストプログラムが実行済みの場合に
テストプログラムのプログラムロードの実行が不可能で
あることを外部装置に出力し、プログラムロード可能の
応答出力を行った後に外部装置から受信したテストプロ
グラムを上記データメモリ部に記憶し、上記データメモ
リ部に記憶されたテストプログラムを実行して実行結果
を上記外部装置に出力し、上記テストプログラムを実行
した後に上記データメモリ部のフラグ情報を実行済みで
ある情報に更新するようにしたものである。(Operation) The present invention has a data memory unit, a control unit for reading and writing data from the data memory unit, and a program memory unit storing a control program for the control by the control unit. When the test program has not been executed based on the flag information when the load instruction of the test program is received from the external device by storing the flag information indicating whether the test program has been executed in the data memory unit. When a test program load command is output to an external device and a test program load command is received from the external device, and the test program has already been executed based on the above flag information, execution of the test program program load is impossible. Is output to an external device and a program loadable response output The test program received from the external device after performing the above is stored in the data memory unit, the test program stored in the data memory unit is executed, the execution result is output to the external device, and the test program is executed. After that, the flag information of the data memory unit is updated to the already executed information.
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。(Example) Hereinafter, one example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第４図は本発明に係る携帯可能電子装置としてのICカー
ドのテストシステムの構成例を示している。このテスト
システムは、製造されたICカードの良，不良を判定する
ためのテストプログラムをICカードにロードして実行さ
せるためのもので、ICカード１に対してデータの読出し
および書込みを行なうためのカードリーダ・ライタ２、
このカードリーダ・ライタ２が接続されるホストコンピ
ュータ３、このホストコンピュータ３に接続されるキー
ボード４、CRTディスプレイ装置５、およびフロッピィ
ディスク装置６から構成されている。ICカード１のテス
トプログラムは、ホストコンピュータ３からカードリー
ダ・ライタ２を介してICカード１へロードされるように
なっている。FIG. 4 shows a configuration example of a test system for an IC card as a portable electronic device according to the present invention. This test system is for loading and executing a test program for determining whether the manufactured IC card is good or bad, and for reading and writing data to and from the IC card 1. Card reader / writer 2,
It comprises a host computer 3 to which the card reader / writer 2 is connected, a keyboard 4 connected to the host computer 3, a CRT display device 5, and a floppy disk device 6. The test program for the IC card 1 is loaded from the host computer 3 to the IC card 1 via the card reader / writer 2.
第３図はICカード１の構成例を概略的に示すもので、制
御手段としての制御素子（たとえばCPU）11、メモリ部1
2、およびカードリーダ・ライタ２との電気的接触を得
るためのコンタクト部13によって構成されていて、これ
らのうち破線内の部分（制御素子11、メモリ部12）は１
つのICチップで構成されており、このICチップはICカー
ド１内に埋設されている。FIG. 3 schematically shows an example of the configuration of the IC card 1, which includes a control element (for example, CPU) 11 serving as control means, a memory unit
2 and a contact portion 13 for obtaining electrical contact with the card reader / writer 2, of which the portion within the broken line (control element 11, memory portion 12) is 1
It is composed of two IC chips, and this IC chip is embedded in the IC card 1.
第１図はメモリ部12の構成（メモリマップ）を示してい
る。すなわち、０番地からＡ−１番地までが制御素子11
の制御プログラムが書込まれているマスクROM部（プロ
グラムメモリ部）21、Ａ番地からＢ−１番地までがICカ
ード１の運用時にデータを記憶するEEPROM部（データメ
モリ部）22、Ｂ番地からＣ番地までがICカード１の動作
時に一時的なデータを記憶するRAM部（作業用メモリ
部）23となっている。そして、ICカード１の製造段階で
その良，不良を判定するテストプログラムをEEPROM部22
の所定のエリア24に外部からロードし、そのテストプロ
グラムを実行するようになっている。すなわち、EEPROM
部22のエリア24はプログラムメモリ部の一部として割り
付けられている。これにより、テスト後は上記エリア24
をデータ用として使用でき、また一度しか使用しないテ
ストプログラムをマスクROM部21に書込まずにすむ。な
お、EEPROM部22の特定エリア内には照合情報として暗証
番号があらかじめ書込まれているものとする。また、上
記エリア24の部分はEPROMあるいはRAMであってもよい。FIG. 1 shows the configuration (memory map) of the memory section 12. That is, the control element 11 is from address 0 to address A-1.
The mask ROM section (program memory section) 21 in which the control program is written, the EEPROM section (data memory section) 22 for storing data from address A to address B-1 when the IC card 1 is in operation, from address B Up to the address C is a RAM section (working memory section) 23 for storing temporary data when the IC card 1 is operating. Then, a test program for judging whether the IC card 1 is good or bad is manufactured in the EEPROM section 22.
It is designed to be loaded from the outside into a predetermined area 24 and to execute its test program. Ie EEPROM
Area 24 of section 22 is allocated as part of the program memory section. As a result, after the test, the above area 24
Need not be written in the mask ROM section 21 and can be used only for data. It is assumed that a personal identification number is previously written as collation information in the specific area of the EEPROM section 22. The area 24 may be EPROM or RAM.
また、EEPROM部22内にはフラグ部25が設けられており、
このフラグ部25は一度テストプログラムをロードして実
行したか否かを判別するためのものである。フラグ部25
の内容は、テストプログラムの実行前は製造後のEEPROM
部22の初期状態の「FF」（16進）であり、テストプログ
ラムの実行後は「０」に書換える。フラグ部25の内容が
「０」のときは、テストプログラムをロードして実行す
る機能を使用できないようにする。これにより、一度テ
ストの終了したICカード１に対してはテストプログラム
をロードして実行することができなくなり、運用時のIC
カード１の内部データを保護することが可能となる。Further, a flag section 25 is provided in the EEPROM section 22,
The flag unit 25 is for determining whether or not the test program has been loaded and executed once. Flag part 25
The contents of the are EEPROM after manufacturing before the execution of the test program.
It is "FF" (hexadecimal) in the initial state of the section 22, and is rewritten to "0" after the test program is executed. When the content of the flag portion 25 is "0", the function of loading and executing the test program is disabled. As a result, it is no longer possible to load and execute the test program for the IC card 1 that has been tested.
It becomes possible to protect the internal data of the card 1.
次に、上記のような構成において第２図に示すフローチ
ャートを参照して動作を説明する。まず、テストすべき
ICカード１をカードリーダ・ライタ２にセットし、その
後キーボード４で暗証番号を入力する。この入力された
暗証番号は、ホストコンピュータ３からカードリーダ・
ライタ２を介してICカード１の制御素子11へ送られる。
すると、制御素子11は、メモリ部12のEEPROM部22に記憶
されている暗証番号と上記入力された暗証番号とを照合
する。照合結果が正しくなければ（暗証番号が不一致の
とき）、制御素子11は照合エラーを意味する応答データ
を出力して処理を終了し、照合結果が正しければ（暗証
番号が一致のとき）、制御素子11は命令データの入力を
待機する。ここで、ホストコンピュータ３から命令デー
タが入力されると、制御素子11はテストプログラムのロ
ード命令か否かを判別し、テストプログラムのロード命
令以外のものであれば、制御素子11は他の命令処理を行
なうか、無効な命令であればエラーを意味する応答デー
タを出力して処理を終了する。テストプログラムのロー
ド命令であれば、制御素子11はEEPROM部22のフラグ部25
を読出して「０」でないことを確認する。フラグ部25が
「０」であった場合、制御素子11は命令実行不能を意味
する応答データを出力して処理を終了し、フラグ部25が
「０」でなければ、制御素子11はテストプログラムのロ
ードが可能であることを意味する応答データを出力す
る。この応答データを受取ると、ホストコンピュータ３
はテストプログラムを制御素子11へ転送する。すると、
制御素子11は、転送されてきたテストプログラムをEEPR
OM部22のエリア24へ書込み、その後テストプログラムを
正しくロードできたか否かをチェックする。正しくロー
ドできなかった場合、制御素子11はプログラムロードエ
ラーを意味する応答データを出力して処理を終了する。
正しくロードできた場合、制御素子11はそのテストプロ
グラムを実行する。テストプログラムの実行が終了する
と、制御素子11はEEPROM部22のフラグ部25を「０」に書
換えてテスト結果を出力し、全ての処理を終了する。Next, the operation of the above configuration will be described with reference to the flowchart shown in FIG. First you should test
Set the IC card 1 in the card reader / writer 2, and then enter the password with the keyboard 4. The entered personal identification number is sent from the host computer 3 to the card reader /
It is sent to the control element 11 of the IC card 1 via the writer 2.
Then, the control element 11 collates the personal identification number stored in the EEPROM unit 22 of the memory unit 12 with the personal identification number input above. If the verification result is not correct (when the personal identification numbers do not match), the control element 11 outputs response data indicating a verification error and ends the process. If the verification result is correct (when the personal identification numbers match), control is performed. The element 11 waits for the input of command data. Here, when the command data is input from the host computer 3, the control element 11 determines whether or not it is a load instruction of the test program. If the instruction is invalid, response data indicating an error is output and the processing ends. If it is the load instruction of the test program, the control element 11 causes the flag section 25 of the EEPROM section 22.
And confirm that it is not "0". If the flag unit 25 is "0", the control element 11 outputs the response data indicating that the instruction cannot be executed and ends the process. If the flag unit 25 is not "0", the control element 11 outputs the test program. Output response data which means that can be loaded. When this response data is received, the host computer 3
Transfers the test program to the control element 11. Then,
The control element 11 uses the transferred test program as an EEPR
Write to the area 24 of the OM section 22, and then check whether the test program was loaded correctly. If the data cannot be loaded correctly, the control element 11 outputs response data indicating a program load error and terminates the processing.
If it loads correctly, the control element 11 executes its test program. When the execution of the test program ends, the control element 11 rewrites the flag section 25 of the EEPROM section 22 to "0", outputs the test result, and ends all processing.
以上説明したICカードによれば、製造後にテストプログ
ラムを書込み、これを実行させることができる。したが
って、一度しか使用しないテストプログラムをマスクRO
M部に書込む必要がなく、またテストプログラムを書込
むためにマスクROM部を作り直す必要もなくなる。According to the IC card described above, the test program can be written and executed after manufacturing. Therefore, mask RO test programs that are used only once.
There is no need to write to the M section, and there is no need to remake the mask ROM section to write the test program.
なお、前記実施例では、携帯可能電子装置としてICカー
ドを例示したが、本発明はカード状のものに限定される
ものでなく、たとえばブロック状あるいはペンシル状の
ものでもよい。また、携帯可能電子装置のハード構成も
その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能である。In the above-mentioned embodiment, the IC card is illustrated as the portable electronic device, but the present invention is not limited to the card-shaped one, and may be a block-shaped or pencil-shaped one, for example. Further, the hardware configuration of the portable electronic device can be variously modified without departing from the spirit of the invention.
［発明の効果］ 以上詳述したように本発明によれば、製造後に新たなテ
ストプログラムを任意に書込み、これを実行させること
ができ、一度しか使用しないテストプログラムをプログ
ラムメモリ部に書込む必要がなく、プログラムメモリ部
を作り直す必要もなくなり、しかもこの一度しか使用し
ないことを、データメモリ部に記憶されるフラグ情報で
規定でき、テストプログラムのロードが一度しかできな
いようになっている携帯可能電子装置のテスト方法を提
供できる。[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, a new test program can be arbitrarily written and executed after manufacturing, and it is necessary to write a test program that is used only once in the program memory unit. There is no need to recreate the program memory section, and the fact that it is used only once can be specified by the flag information stored in the data memory section, and the test program can be loaded only once. A method of testing the device can be provided.
図は本発明の一実施例を説明するためのもので、第１図
はICカードのメモリ部の構成を示す図、第２図はICカー
ドのテスト動作を説明するフローチャート、第３図はIC
カードの構成例を概略的に示すブロック図、第４図はIC
カードのテストシステムの構成例を示すブロック図であ
る。 １……ICカード（携帯可能電子装置）、11……制御素子
（制御部）、12……メモリ部、21……マスクROM部（プ
ログラムメモリ部）、22……EEPROM部（データメモリ
部）、24……テストプログラムを書込むエリア、25……
フラグ部。FIG. 1 is a diagram for explaining one embodiment of the present invention. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a memory section of an IC card, FIG. 2 is a flow chart for explaining a test operation of the IC card, and FIG. 3 is an IC.
Block diagram schematically showing an example of card configuration, Fig. 4 shows IC
It is a block diagram which shows the structural example of the test system of a card. 1 ... IC card (portable electronic device), 11 ... control element (control section), 12 ... memory section, 21 ... mask ROM section (program memory section), 22 ... EEPROM section (data memory section) , 24 …… area for writing test program, 25 ……
Flag part.
Claims (1)
してデータの読出しおよび書込みを行うための制御部と
この制御部が制御を行うための制御プログラムを記憶し
たプログラムメモリ部とを有する携帯可能電子装置のテ
スト方法において、 テストプログラムが実行済みか否かのフラグ情報を上記
データメモリ部に記憶しておき、 外部装置からテストプログラムのロード命令を受信した
場合に上記フラグ情報に基づきテストプログラムが実行
済みでない場合にプログラムロード可能の応答出力を外
部装置に出力し、 外部装置からテストプログラムのロード命令を受信した
場合に上記フラグ情報に基づきテストプログラムが実行
済みの場合にテストプログラムのプログラムロードの実
行が不可能であることを外部装置に出力し、 プログラムロード可能の応答出力を行った後に外部装置
から受信したテストプログラムを上記データメモリ部に
記憶し、 上記データメモリ部に記憶されたテストプログラムを実
行して実行結果を上記外部装置に出力し、 上記テストプログラムを実行した後に上記データメモリ
部のフラグ情報を実行済みである情報に更新する ことを特徴とする携帯可能電子装置のテスト方法。1. A portable device having a data memory section, a control section for reading and writing data from and to the data memory section, and a program memory section storing a control program for the control by the control section. In the electronic device test method, flag information indicating whether or not the test program has been executed is stored in the data memory unit, and when a load command of the test program is received from an external device, the test program is based on the flag information. Outputs a response that the program can be loaded when it has not been executed and outputs the load command of the test program based on the above flag information when the load instruction of the test program is received from the external device based on the above flag information. Output to the external device that execution is impossible, and program The test program received from the external device after the loadable response is output is stored in the data memory unit, the test program stored in the data memory unit is executed, and the execution result is output to the external device. A method of testing a portable electronic device, comprising: updating the flag information of the data memory unit to information that has been executed after executing a test program.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61217218A JPH077339B2 (en) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | Testing methods for portable electronic devices |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61217218A JPH077339B2 (en) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | Testing methods for portable electronic devices |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6373339A JPS6373339A (en) | 1988-04-02 |
| JPH077339B2 true JPH077339B2 (en) | 1995-01-30 |
Family
ID=16700708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61217218A Expired - Lifetime JPH077339B2 (en) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | Testing methods for portable electronic devices |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPH077339B2 (en) |
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1986
- 1986-09-17 JP JP61217218A patent/JPH077339B2/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|
| JPS6373339A (en) | 1988-04-02 |
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