JPH0758550B2

JPH0758550B2 - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH0758550B2
Application number: JP61050130A
Authority: JP
Inventors: 潔大里; 亮安藤
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1986-03-07
Filing date: 1986-03-07
Publication date: 1995-06-21
Anticipated expiration: 2010-06-21
Also published as: JPS62208436A

Description

【発明の詳細な説明】以下の順序で本発明を説明する。

Ａ産業上の利用分野Ｂ発明の概要Ｃ従来の技術Ｄ発明が解決しようとする問題点Ｅ問題点を解決するための手段（第１図〜第３図）Ｆ作用Ｇ実施例 G₁第１の実施例 G₂第２の実施例Ｈ発明の効果Ａ産業上の利用分野本発明は、ディスク上に光記録可能なディスク記録再生
装置に関する。

Ｂ発明の概要本発明は、第１のプリグループとこの第１のプリグルー
ブからトラッキング方向に所定間隔離間して形成された
第２のプリグループとで挟まれたデータ記録エリアと、
第１のプリグルーブと第２のプリグループとの間に設け
られたウォーブルピットとから構成されるサンプルサー
ボエリアを備えてなる光ディスクを記録もしくは再生す
る光ディスク装置であって、光ディスクに照射した光の
反射光を検知するトラック方向に２分割された検知手段
と、検知手段の各検知出力を加算して再生信号を生成す
る加算手段と、２分割された検知手段の各々の検知出力
を減算する減算手段と、加算手段からの加算出力に基づ
いてデータエリアに対応する第１のサンプリングパルス
とサンプルサーボエリアに対応する第２のサンプリング
パルスと発生するタイミング発生手段と、減算手段から
減算結果を第１のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする第１のサンプルホールド手段と、減算手段からの
減算結果を第２のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする第２のサンプルホールド手段と、第１のサンプル
ホールド手段と第２のサンプルホールド手段からの出力
信号を減算し、減算結果をトラッキングエラー信号とし
て出力する第２の減算手段を備えたことにより、ラジア
ルスキュー、レンズ移動等があっても良好なトランキン
グエラー信号が常に得られ、このトラッキングエラー信
号により良好なトラッキングを行ないながら記録又は再
生を行なうことができるようにしたものである。

Ｃ従来の技術従来、光磁気ディスク等に光記録可能なディスク記録再
生装置として種々のものが提案されている。この光記録
可能なディスク記録再生装置に使用されるトラッキング
エラー検出方法として、例えば、第10図に示す如きもの
が提案されている。この第10図において、（１）はレー
ザ光源としての半導体レーザ素子（レーザダイオード）
で、これよりの発散レーザビームはコリメータレンズ
（２）を通過することにより平行ビームになされ、ビー
ムスプリッタ（３）によって90度偏向せしめられた後、
レンズ（４）に入射する。このレンズ（４）よりの集束
ビームは、光学式記録媒体としての光ディスク（５）を
照射して、そこに焦点を結ぶ。光ディスク（５）よりの
出射ビーム、即ち反射ビームは再びレンズ（４）に入射
して平行ビームとなされ、ビームスプリッサ（３）を通
過して２分割光検出器（６）に入射する。

この２分割光検出器（６）は、第11図に示すように２つ
の光検出部（6A），（6B）からなっており、レンズ
（４）からの平行ビームによる円形のスポットSPが２つ
の光検出部（6A），（6B）にわたって丁度半分ずつ位置
している場合は、レンズ（４）よりの集束ビームが光デ
ィスク（５）のトラックの丁度真中を走査していること
になる。従って、これら２つの光検出部（6A），（6B）
からの両検出出力を作動増幅器（７）に供給してその差
を採れば、出力端子（８）にトラッキングエラー信号が
得られる。

しかしながら、かかる従来のトラッキングエラー検出方
式では、第10図に破線で示すように、レンズ（４）が光
ディスク（５）に対し平行に移動すると、２分割光検出
器（６）は固定されているため、その上のスポットSPの
位置が、第11図に破線で示すようにずれて、出力端子
（８）よりのトラッキング誤差信号に（第14図Ａに示す
如く）直流変動が生じる。即ち、第10図に示す如く、レ
ンズ（４）の位置が変動すると、トラッキングエラー信
号は第14図Ｂに示す如く、その直流が変動してしまう。

又、第12図に示す如く、光ディスク（５）にラジアルス
キューが生じると、同様に２分割光検出器（６）は固定
されているため、その上のスポットSPの位置が、第13図
に破線で示すようにずれて、出力端子（８）よりのトラ
ッキングエラー信号に直流変動が生じる。従って、この
場合も、トラッキングエラー信号は第14図Ｂに示す如
く、その直流が変動してしまう。

この直流変動を防止するために、第15図に示した如きト
ラッキング制御部を有するディスク記録再生装置が提案
されている。このトラッキング制御装置は、半導体レー
ザで記録再生を行なう光磁気ディスクの記録再生装置に
使用されるもので、半導体レーザ素子（１）から発散レ
ーザビームをレンズ（４）を介して光ディスク（５）に
照射する。そして、光ディスク（５）よりの反射ビーム
を再びレンズ（４）を介すると共に、ビームスプリッタ
（３）により90度偏光された後、２分割光検出器（６）
に入射させる。この２分割光検出器（６）は、トラック
方向に２分割された２つの光検出部（6A），（6B）から
なっており、この２つの光検出部（6A），（6B）からの
検出出力信号を差動増幅器（７）に供給してその差信号
（トラッキングエラー信号）を差動増幅器（７）が出力
すると共に、この検出出力信号を第１の加算回路（９）
に供給しその加算信号を第１の加算回路（９）が出力す
る。そして、差動増幅器（７）が出力する差信号を第１
のサンプルホールド回路（11）に供給し、第１の加算回
路（９）が出力する加算信号を第２及び第３のサンプル
ホールド回路（12）及び（13）とタイミング発生器（1
0）に供給する。そして、このタイミング発生器（10）
は加算信号から同期信号を検出し、この同期信号に基づ
いて第１、第２、第３のサンプリングパルス信号を形成
し、第１のサンプリングパルス信号を第１のサンプルホ
ールド回路（11）に供給し、第２のサンプリングパルス
信号を第２のサンプルホールド回路（12）に供給し、第
３のサンプリングパルス信号を第３のサンプルホールド
回路（13）に供給する。そして、第１のサンプルホール
ド回路（11）の出力信号を第２の加算回路（16）に供給
し、第２のサンプルホールド回路（12）の出力信号と第
３のサンプルホールド回路（13）の出力信号とを減算回
路（14）に供給し、この減算回路（14）の減算出力信号
を可変利得調整器（15）を介して第２の加算回路（16）
に供給する。そして、この第２の加算回路（16）で第１
のサンプルホールド回路（11）の出力信号と可変利得調
整器（15）の出力信号とを加算し、第２の加算回路（1
6）の出力信号を出力端子（８）に供給し、この出力端
子（８）に得られる信号をトラッキングエラー信号とす
る。

次に、この回路構成にてトラッキングエラー信号を得る
光ディスク（５）の各トラックの構成について説明す
る。この光ディスク（５）は、例えば第16図に示す如
く、トラック形成領域Ｔの範囲内に円周方向に複数トラ
ックを形成し、この各トラックを第１〜第16のセグメン
トS₁〜S₁₆に分割する。この各セグメントS₁〜S₁₆は、ト
ラック毎にサンプルサーボエリアS_Aとサンプルサーボ及
びデータエリアS_Bとに分かれている。そして、各トラッ
クの１セグメントの具体的構成は、トラックが直線であ
るとすると第17図Ａに示す如く、１トラックピッチＰご
とにプリグルーブｇを連続的に設ける。このプリグルー
ブｇは、上述の半導体レザ素子（１）の発散レーザビー
ムの波長をλとすると、λ/8の深さとする。そして、こ
のトラックの所定長を１セグメントとし、この１セグメ
ントの前部をサンプルサーボエリアS_Aとし、残りの部分
をサンプルサーボ及びデータエリアS_Bとする。そして、
１本のプリグルーブｇと隣接したプリグルーブｇとの間
の領域をランドｌとし、このランドｌのサンプルサーボ
エリアS_Aに第１及び第２のウォブルピットw_A及びw_Bを設
ける。この第１及び第２のウォブルピットw_A及びw_Bは、
上述の発散レーザビーム波長λに対しλ/4の深さとし、
サンプルサーボエリアS_Aの前半部に第１のウォブルピッ
トw_Aを設け、後半部に第２のウォブルピットw_Bを設け、
トラックの中心線t_Cを境にしてラジアル方向に左右に第
１のウォブルピットw_Aと第２のウォブルピットw_Bとを振
り分けて構成する。そして、データの記録は例えばサン
プルサーボ及びデータエリアS_Bのランドｌにレーザビー
ムを照射して磁気を反転させて行なう。

このようにして構成されるプリグルーブｇとウォブルピ
ットw_A,w_Bの書き込みは、例えば第18図に示す如く、ラ
ジアル方向に１トラックピッチＰの半分Ｑだけ離した２
本のレーザビームにより行なう。即ち、１本のレーザビ
ームでλ/8の深さのプリグルーブｇを書き込むと共に、
もう１本のレーザビームでλ/4の深さのウォブルピット
w_A,w_Bを左右に振り分けて書き込む。このようにして２
本のレーザビームでの書き込みを繰り返し行なうこと
で、トラックが複数本連続して形成される。

次に、このようにして構成されたトラックで第15図例の
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子（１）からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク（５）の所定トラックに照射し、
この照射が完全にトラックの中央t_Cを走査したとする
と、この照射により得られる反射ビームの入射による２
分割光検出器（６）の出力信号電圧は、第17図Ｂに示す
如き状態となる。即ち、この第17図Ｂは２つの光検出部
（6A），（6B）の出力信号を加算したもので、サンプル
サーボ及びデータエリアS_Bでは、ランドｌの両側のプリ
グルーブｇによりディスク（５）が完全なミラー面であ
るよりわずかに少ない出力信号となり、サンプルサーボ
エリアS_Aでは、深さλ/4のウォブルピットw_A,w_Bにより
サンプルサーボ及びデータエリアS_Bの出力信号の略半分
の出力信号となり、第１のウォブルピットw_Aと第２のウ
ォブルピットw_Bの出力信号は同じになる。ここで、夫々
のサンプルホールド回路（11），（12），（13）のサン
プリングするタイミングは第17図Ｃに示す如く、第１の
サンプルホールド回路（11）がサンプリングパルス信号
p1によりサンプルサーボ及びデータエリアS_Bの期間全体
に亘ってゲートを開き、第２のサンプルホールド回路
（12）がサンプリングパルス信号p2によりサンプルサー
ボエリアS_Aの第１のウォブルピットw_Aの走査時（第17図
Ａのビームスポットb₂のとき）ゲートを開き、第３のサ
ンプルホールド回路（13）がサンプリングパルス信号p3
によりサンプルサーボエリアS_Aの第２のウォブルピット
w_Bの走査時（第17図Ａのビームスポットb₃のとき）ゲー
トを開く。このようにして夫々のサンプルホールド回路
（11），（12），（13）がサンプリングを行なうことに
より、第１のサンプルホールド回路（11）の出力信号は
差動増幅器（７）を介してサンプルサーボ及びデータエ
リアS_Bの区間のトラッキングエラー信号となり、第２及
び第３のサンプルホールド回路（12）及び（13）の出力
信号は、夫々第１及び第２のウォブルピットw_A及びw_Bの
区間の検出器（６）の検出信号となる。このため、ビー
ムスポットがトラックの中央t_Cを走査しているときには
第２と第３のサンプルホールド回路（12）と（13）の出
力信号は等しくなり、双方の出力信号を減算回路（14）
により減算した出力信号は０となり、中央t_Cからラジア
ル方向にずれて走査しているときにはずれに応じた出力
信号が得られる。この直流変動を含まない減算回路（1
4）の出力信号お第１のサンプルホールド回路（11）が
出力するトラックエラー信号とを第２の加算回路（16）
により加算することにより、サンプルサーボ及びデータ
エリアS_Bのトラッキングエラー信号が減算回路（14）の
出力信号により補正される。このとき、この補正を良好
に行なうために、減算回路（14）の出力信号は可変利得
調整器（15）により利得を調整してから第２の加算回路
（16）に供給する。そして、第２の加算回路（16）の出
力信号がトラッキングエラー信号となって出力端子
（８）に得られる。

このようにしてサンプルサーボエリアS_Aの区間で得られ
る検出器（６）の検出信号をホールドした信号によりサ
ンプルサーボ及びデータエリアS_Bのトラッキング誤差信
号を補正したトラッキングエラー信号が得られ、レンズ
（４）の位置の変動、光ディスク（５）のラジアルスキ
ュー等によるトラッキングエラー信号の直流変動が補正
される。

Ｄ発明が解決しようとする問題点ところが、上述の如くしてトラッキング誤差信号を得る
ものは、サンプルサーボ及びデータエリアS_Bのトラッキ
ングエラー信号に、検出器（６）の検出信号をホールド
した一定の信号を混合して直流変動を補正するものであ
るため、１区間のサンプルサーボ及びデータエリアS_B内
でのトラッキングずれが発生した場合等には直流変動を
完全には除去することができなくなってしまう。即ち、
直流変動を含まない減算回路（14）の出力信号と直流変
動を含むサンプルホールド回路（11）の出力信号をある
利得比で加算しているため、得られるエラー信号に含ま
れる直流変動は1/利得の比であり零にはならない。ま
た、可変利得調整器（15）は、利得の最適な調整状態が
光ディスク（５）の状態により異なるため、常時最適な
補正を行なうことが困難であった。

本発明は之等の点に鑑み、常に良好なトラッキングエラ
ー信号が得られる光記録可能なディスク記録再生装置を
提供することを目的とする。

Ｅ問題点を解決するための手段本発明の光ディスク装置は、例えば図１〜図３に示す如
く、第１のプリグループｇ（例えばg₂）とこの第１のプ
リグループからトラッキング方向に所定間隔離間して形
成された第２のプリグループｇ（例えばg₃）とで挟まれ
たデータ記録エリアSBと、上記第１のプリグループと上記第２のプリグループとの
間に設けられたウォーブルピットＷとから構成されるサ
ンプルサーボエリアSAを備えてなる光ディスクを記録も
しくは再生する光ディスク装置であって、光ディスク５に照射した光の反射光を検知するトラック
方向に２分割された検知手段6A,6Bと、検知手段6A,6Bの各検知出力を加算して再生信号を生成
する加算手段９と、２分割された検知手段6A,6Bの各々の検知出力を減算す
る減算手段７と、加算手段９からの加算出力に基づいてデータエリアに対
応する第１のサンプリングパルスとサンプルサーボエリ
アに対応する第２のサンプリングパルスとを発生するタ
イミング発生手段17と、減算手段７からの減算結果を第１のサンプリングパルス
でサンプルホールドする第１のサンプルホールド手段18
と、減算手段７からの減算結果を第２のサンプリングパルス
でサンプルホールドする第２のサンプルホールド手段19
と、第１のサンプルホールド手段18と第２のサンプルホール
ド手段19からの出力信号を減算し、減算結果をトラッキ
ングエラー信号として出力する第２の減算手段20を備え
てなるものである。

Ｆ作用本発明によると、データ記録エリアSBをビームが走査し
ているとき、各検知手段6A,6Bの出力差をサンプリング
し、このサンプリングされた第１の信号をホールドし、
サンプルサーボエリアSAをビームが走査しているとき、
各検知手段6A,6Bの出力差をサンプリングし、このサン
プリングされた第２の信号をホールドし、第１の信号と
第２の信号の出力の差信号によってトラッキグエラー信
号を得ることにより、ディスクのスキューやレンズの位
置の変動等があっても常時完全なトラッキングエラー信
号を得ることができる。

Ｇ実施例 G₁第１の実施例以下、本発明光ディスク装置の第１の実施例を、第１図
〜第４図を参照して説明しよう。この第１図〜第４図に
おいて、第10図〜第18図に対応する部分には同一符号を
付し、その詳細説明は省略する。

第１図は、本例のディスク記録再生装置の構成を示す図
である。この第１図において、（６）は２分割光検出器
を示し、この２分割光検出器（６）は２つの光検出部
（6A），（6B）からなっており、この２つの光検出部
（6A），（6B）からの検出出力信号を差動増幅器（７）
に供給してその差信号（トラッキングエラー信号）を差
動増幅器（７）が出力すると共に、この検出出力信号を
加算回路（９）に供給してその加算信号を加算回路
（９）が出力する。そして、差動増幅器（７）が出力す
る差信号を第１及び第２のサンプルホールド回路（18）
及び（19）に供給する。また、加算回路（９）が出力す
る加算信号をタイミング発生器（17）に供給し、このタ
イミング発生器（17）が加算信号から同期信号を検出
し、この同期信号に基づいて第１及び第２のサンプリン
グパルス信号を形成し、この第１のサンプリングパルス
信号を第１のサンプルホールド回路（18）に供給し、こ
の第２のサンプリングパルス信号を第２のサンプルホー
ルド回路（19）に供給する。この第１及び第２のサンプ
リングパルス信号は、例えば後述する第３図Ｃに示す如
き信号である。そして、第１のサンプルホールド回路
（18）の出力信号と第２のサンプルホールド回路（19）
の出力信号とを減算回路（20）に供給し、減算回路（2
0）の出力信号を出力端子（８）に供給し、この出力端
子（８）に得られる信号をトラッキングエラー信号とす
る。

次に、本例の装置にてトラッキングエラー信号を得る光
ディスク（５）の各トラックの構成について説明する。
この光ディスク（５）は、例えば第２図に示す如く、ト
ラック形成領域Ｔの範囲内に円周方向に複数トラックを
形成し、この各トラックを例えば1000の区間に分割す
る。そして、夫々の分割区間毎にサンプルサーボエリア
S_Aとサンプルサーボ及びデータエリアS_Bとに分かれてい
る。このため、サンプルサーボエリアS_Aは各トラック毎
にS_A1〜S_A1000の1000個設けてある。そして、各トラッ
クの具体的構成は、トラックが直線であるとすると第３
図Ａに示す如く、１トラックピッチＰ（例えば1.6μ
ｍ）ごとにサンプルサーボ及びデータエリアS_Bの全区間
とサンプルサーボエリアS_Aの区間に最初にプリグルーブ
ｇを設ける。このプリグルーブｇは、上述の半導体レー
ザ素子（１）の発散レーザビームの波長をλとすると、
λ/8の深さとする。そして、サンプルサーボエリアS_Aの
プリグルーブｇのない区間は、前半にだけウォブルピッ
トｗを設ける。このウォブルピットｗは、１トラックの
ピッチＰの半分だけプリグルーブｇとラジアル方向にず
らして形成し、深さはλ/8とする。また、ウォブルピッ
トｗの前部のサンプルサーボエリアS_Aにクロックピット
ｃを設ける。このクロックピットｃの深さはλ/4とす
る。そして、サンプルサーボ及びデータエリアS_Bの隣接
しあうプリグルーブｇの間の領域をランドｌとし、この
ランドｌにレーザビームを照射して磁気を反転させるこ
とによりデータの記録が行なわれる。

このようにして構成されるプリグルーブｇとウォブルピ
ットｗとクロックピットｃの書き込みは、例えば第４図
に示す如く、ラジアル方向に１トラックピッチＰの半分
Ｑだけ離した２本のレーザビームにより行なう。即ち、
１本のレーザビームでプリグルーブｇを書き込むと共
に、もう１本のレーザビームでクロックピットｃ及びウ
ォブルピットｗを書き込む。このようにすることによ
り、２本のビームにより同一工程で書き込んだプリグル
ーブｇとウォブルピットｗとが、正確に上述の間隔Ｑで
形成される。

このようにして２本のレーザビームでの書き込みを繰り
返し行なうことで、第３図Ａに示す如く、トラックが複
数本連続して形成される。即ち、ディスク（５）上に
は、例えば１回目に書き込んだプリグルーブg₁に隣接し
て２回目に書き込んだプリグルーブg₂及びウォブルピッ
トw₂が形成され、このようにして順次複数トラックが形
成される。

次に、このようにして形成されたトラックで第１図例の
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子（１）からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク（５）の所定トラックに照射し、
この照射が完全に所定トラックの中央即ち、隣接するプ
リグルーブｇ間の中央t_Cを走査したとすると、この照射
により得られる反射ビームの入射による２分割光検出器
（６）の出力信号電圧は、第３図Ｂに示す如き状態とな
る。即ち、この第３図Ｂは２つの光検出部（6A），（6
B）の出力信号を加算したもので、サンプルサーボ及び
データエリアS_Bでは、ランドｌの両側のプリグルーブｇ
により、ウォブルピットｗの後端からサンプルサーボ及
びデータエリアS_Bの始端迄の出力が最大出力となり、こ
の最大出力よりわずかに少ない出力信号となる。また、
サンプルサーボエリアS_Aでは、最初のクロックピットｃ
の区間ではほとんど出力信号がなく、ウォブルピットｗ
の区間では最大出力の略半分の出力信号が得られる。こ
こで、夫々のサンプルホールド回路（18），（19）のサ
ンプリングするタイミングは第３図Ｃに示す如く、第１
のサンプルホールド回路（18）がサンプリングパルス信
号p1によりサンプルサーボ及びデータエリアS_Bの期間全
体に亘ってゲートを開き、第２のサンプルホールド回路
（19）がサンプリングパルス信号p2によりサンプリング
サーボエリアS_Aのウォブルピットｗの走査時（第３図Ａ
のビームスポットb₂のとき）ゲートを開く。このように
して夫々のサンプルホールド回路（18），（19）がサン
プリングを行なうことにより、第１のサンプルホールド
回路（18）の出力信号は差動増幅器（７）を介したサン
プルサーボ及びデータエリアS_Bの区間のトラッキングエ
ラー信号となり、第２のサンプルホールド回路（19）の
出力信号は差動増幅器（７）を介したウォブルピットｗ
走査時のトラッキングエラー信号となる。このため、ビ
ームスポットが隣接するプリグルーブｇ間の中央t_Cを走
査しているときには、第１のサンプルホールド回路（1
8）と第２のサンプルホールド回路（19）の出力信号は
逆相になり、双方の出力信号を減算回路（20）により減
算した信号は０となり、このトラックがとれていること
を示す減算信号が出力端子（８）に供給される。また、
中央t_Cからラジアル方向にずれて走査しているときには
ずれに応じたトラッキングエラー信号が出力端子（８）
に供給される。

次に、この出力端子（８）に得られるトラッキングエラ
ー信号が全く直流変動がないことを、数式を用いて説明
しよう。

まず、第１のサンプルホールド回路（18）が出力するト
ラッキングエラー信号TE1及び第２のサンプルホールド
回路（19）が出力するトラッキングエラー信号TE2は、
次式のように表わされる。

但し、Ａは振幅、Ｂは直流変動分、Ｘはディスク（５）
上の光スポットの位置である。

このため、減算回路（20）の出力信号、即ち出力端子
（８）に得られるトラッキングエラー信号TEは、次式の
ように表わされる。

この式から、正確にとすれば、ΔＱ＝０であり第１図の出力端子（８）に得
られるトラッキングエラー信号には、直流変動分Ｂが含
まれないことになる。

このようにして直流変動分が含まれないトラッキングエ
ラー信号が得られることにより、プリグルーブの形状、
ビームスポットの形状等に不均一があってもスキューや
レンズシフトによる直流変動分を完全に除去することが
出来る。そして、この良好なトラッキングエラー信号に
より良好なトラッキングをとりながらランドｌにデータ
の記録を行ない、またランドｌからのデータの再生を行
なう。なお、この再生時においては記録時に比べてレー
ザビームのパワーを下げると共にトラッキングサーボ、
フォーカスサーボ等のサーボゲインを上げることで、よ
り良好なトラッキングが行なえる。

また、本例においては、サンプルホールド及びデータエ
リアS_Bのトラッキングエラー信号を逆相となるピットを
設けたエリアのトラッキングエラー信号と減算して良好
なトラッキングエラー信号とするため、サンプルサーボ
エリアで得られる信号を利得調整器等により調整する必
要がない。このため、ディスクの状態等により調整器等
を調整する必要がなく、ディスクの状態にかかわらず常
に良好なトラッキングエラー信号が得られる。

なお上述実施例では、サンプルホールド及びデータエリ
アS_Bのランドｌをデータ記録部としたか、第５図に示す
如く、サンプルサーボ及びデータエリアS_Bのプリグルー
ブｇをデータ記録部としてもよい。この場合には、例え
ばクロックピットｃをプリグルーブｇに連続してサンプ
ルサーボエリアS_Aに設け、ビームスポットによる走査を
プリグルーブｇを中心にして行なうようにすればよい。
この場合にも上述実施例と同様の作用・効果が得られる
ことは容易に理解出来よう。

G₂第２の実施例次に、本発明光ディスク装置の第２の実施例を、第６図
〜第８図を参照して説明しよう。この第６図〜第８図に
おいて第１図〜第４図、第10図〜第18図に対応する部分
には同一符号を付し、その詳細説明は省略する。

第６図は、本例のディスク記録再生装置の構成を示す図
である。この第６図において、（６）は２分割光検出器
を示し、この２分割光検出器（６）は２つの光検出部
（6A），（6B）からなっており、この２つの光検出部
（6A），（6B）からの検出出力信号を差動増幅器（７）
に供給してその差信号（トラッキングエラー信号）を差
動増幅器（７）が出力すると共に、この検出出力信号を
第１の加算回路（９）に供給してその加算信号を第１の
加算回路（９）が出力する。そして、差動増幅器（７）
が出力する差信号を第１、第２及び第３のサンプルホー
ルド回路（22），（23）及び（24）に供給する。また、
第１の加算回路（９）が出力する加算信号をタイミング
発生器（21）に供給し、このタイミング発生器（21）が
加算信号から同期信号を検出し、この同期信号に基づい
て第１、第２及び第３のサンプリングパルス信号を形成
し、第１のサンプリングパルス信号を第１のサンプルホ
ールド回路（22）に供給し、第２のサンプリングパルス
信号を第２のサンプルホールド回路（23）に供給し、第
３のサンプリングパルス信号を第３のサンプルホールド
回路（24）に供給する。この第１、第２及び第３のサン
プリングパルス信号は、例えば後述する第７図Ｃに示す
如き信号である。そして、第２のサンプルホールド回路
（23）の出力信号と第３のサンプルホールド回路（24）
の出力信号とを第２の加算回路（25）に供給し、第２の
加算回路（25）の出力信号を1/2分圧器（26）に供給す
る。そして、この1/2分圧器（26）の出力信号と第１の
サンプルホールド回路（22）の出力信号とを減算回路
（20）に供給し、減算回路（20）の出力信号を出力端子
（８）に供給し、この出力端子（８）に得られる信号を
トラッキングエラー信号とする。

次に、本例の装置にてトラッキングエラー信号を得る光
ディスク（５）の各トラックの構成について説明する。
この光ディスク（５）は、上述の第１の実施例と同様
に、第２図に示す如く各トラックが例えば1000個のサン
プルサーボエリアS_Aと1000個のサンプルサーボ及びデー
タエリアS_Bとに分かれている。そして、各トラックの具
体的構成は、トラックが直線であるとすると第７図Ａに
示す如く、１トラックピックＰごとにサンプルサーボ及
びデータエリアS_Bの全区間にプリグルーブｇを設ける。
このプリグルーブｇは、上述の半導体レーザ素子（１）
の発散レーザビームの波長をλとすると、λ/8の深さと
する。そして、サンプルサーボエリアS_Aは、最初から順
にクロックピットＣ、第１のウォブルピットw_A、第２の
ウォブルピットw_Bを設ける。このクロックピットＣ、第
１のウォブルピットw_A及び第２のウォブルピットw_Bは、
１トラックピッチＰの半分だけプリグルーブｇとラジア
ル方向にずらして形成する。そして、クロックピットｃ
の深さはλ/4とし、第１及び第２のウォブルピットw_A及
びw_Bの深さはλ/8とする。そして、サンプルサーボ及び
データエリアS_Bの隣接しあうプリグルーブｇの間の領域
をランドｌとし、このランドｌにレーザビームを照射し
て磁気を反転させることによりデータの記録が行なわれ
る。

このようにして構成されるプリグルーブｇと第１及び第
２のウォブルピットw_A及びw_Bとクロックピットｃの書き
込みは、例えば第８図に示す如く、１本のレーザビーム
を振り分けて行なう。即ち、例えばプリグルーブｇを中
心とすると、このプリグルーブｇから１トラックピッチ
Ｐの半分の間隔Ｑだけ一方のラジアル方向にずらしてク
ロックピットｃと第２のウォブルピットw_Bを形成し、プ
リグルーブｇから間隔Ｑだけ他方のラジアル方向にずら
して第１のウォブルピットw_Aを形成する。このようにす
ることにより同一ビームにより書き込んだ第１のウォブ
ルピットw_Aとプリグルーブｇと第２のウォブルピットw_B
とが正確に上述の間隔Ｑごとに形成される。

このようにして１本のレーザビームでの書き込みを繰り
返し行なうことで、第７図Ａに示す如く、トラックが複
数本連続して形成される。即ち、ディスク（５）上に
は、例えば１回目のビームで書き込んだプリグルーブg1
及び第１のウォブルピットw_A1に隣接して２回目のビー
ムで書き込んだプリグルーブg2及び第１、第２のウォブ
ルピットw_A2,w_B2が形成され、このようにして順次複数
トラックが形成される。

次に、このようにして形成されたトラックで第６図例の
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子（１）からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク（５）の所定トラックに照射し、
この照射が完全に所定トラックの中央即ち、隣接するプ
リグルーブｇ間の中央t_Cを走査したとすると、この照射
により得られる反射ビームの入射による２分割光検出器
（６）の出力信号電圧は、第７図Ｂに示す如き状態とな
る。即ち、この第７図Ｂは２つの光検出部（6A），（6
B）の出力信号を加算したもので、サンプルサーボ及び
データエリアS_Bでは、ランドｌの両側のプリグルーブｇ
によりウォブルピットw_Bの後端からサンプルサーボ及び
データエリアS_Bの始端迄の出力が最大出力となり、この
最大出力よりわずかに少ない出力信号となる。また、サ
ンプルサーボエリアS_Aでは、最初のクロックピットｃの
区間ではほとんど出力信号がなく、第１及び第２のウォ
ブルピットw_A及びw_Bの区間では最大出力の略半分の出力
信号が得られる。ここで、夫々のサンプルホールド回路
（22），（23），（24）のサンプリングするタイミング
は第７図Ｃに示す如く、第１のサンプルホールド回路
（22）がサンプリングパルス信号p1によりサンプルサー
ボ及びデータエリアS_Bの期間全体に亘ってゲートを開
き、第２のサンプルホールド回路（23）がサンプリング
パルス信号p2によりサンプルサーボエリアS_Aの第１のウ
ォブルピットw_Aの走査時（第７図Ａのビームスポットb₂
のとき）ゲートを開き、第３のサンプルホールド回路
（24）がサンプリングパルス信号p3によりサンプルサー
ボエリアS_Aの第２のウォブルピットw_Bの走査時（第７図
Ａのビームスポットb₃のとき）ゲートを開く。このよう
にして夫々のサンプルホールド回路（22），（23），
（24）がサンプリングを行なうことにより、第１のサン
プルホールド回路（22）の出力信号は差動増幅器（７）
を介したサンプルサーボ及びデータエリアS_Bの区間のト
ラッキングエラー信号となり、第２のサンプルホールド
回路（23）の出力信号は差動増幅器（７）を介した第１
のウォブルピットw_A走査時のトラッキングエラー信号と
なり、第３のサンプルホールド回路（24）の出力信号は
差動増幅器（７）を介した第２のウォブルピットw_B走査
時のトラッキングエラー信号となる。このため、第２の
サンプルホールド回路（23）の出力信号と第３のサンプ
ルホールド回路（24）の出力信号とを第２の加算回路
（25）により加算した後、1/2分圧器（26）により1/2に
分圧することで双方の出力信号の平均値をとることが出
来、この平均値をとることで本当のトラックの中央t_Cを
示す信号となる。そして、ビームスポットが各トラック
の中央t_Cを走査しているときには、この1/2分圧器（2
6）の出力信号と第１のサンプルホールド回路（22）の
出力信号は逆相になり、双方の出力信号を減算回路（2
0）により減算した信号は０となり、このトラッキング
がとれていることを示す減算信号が出力端子（８）に供
給される。また、中央t_Cからラジアル方向にずれて走査
しているときにはずれに応じたトラッキングエラー信号
が出力端子（８）に供給される。

まず、第１のサンプルホールド回路（22）が出力するト
ラッキングエラー信号TE1、第２のサンプルホールド回
路（23）が出力するトラッキングエラー信号TE2及び第
３のサンプルホールド回路（24）が出力するトラッキン
グエラー信号TE3は、次式のように表わされる。

この式から、第６図の出力端子（８）に得られるトラッ
キングエラー信号には、ΔＱ≠０であっても直流変動分
が含まれていないことが分かる。

このようにして直流変動分が含まれないトラッキングエ
ラー信号が得られることにより、上述の第１の実施例と
同様に良好なトラッキングを行ないながらデータの記録
又は再生を行なうことが出来る。

なお、上述実施例には、サンプルサーボ及びデータエリ
アS_Bのランドｌをデータ記録部としたが、この第２の実
施例においても第９図に示す如く、サンプルサーボ及び
データエリアS_Bのプリグルーブｇをデータ記録部として
もよい。この場合には、例えばクロックピットｃをプリ
グルーブｇに連続してサンプルサーボエリアS_Aに設け、
ビームスポットによる走査をプリグルーブｇを中心にし
て行なうようにすればよい。この場合にも上述実施例と
同様の作用・効果が得られることは用意に理解出来よ
う。

さらに、本発明は上述実施例に限らず、本発明の要旨を
逸脱することなく、その他種々の構成が取り得ることは
勿論である。

Ｈ発明の効果本発明光ディスク装置によると、ディスクのスキューや
レンズの位置の変動等があっても常時完全なトラッキン
グエラー信号を得ることができ、このトラッキングエラ
ー信号により良好なトラッキングを行ないながらデータ
の記録又は再生を行なうことかできる利益である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明光ディスク装置の第１実施例を示す構成
図、第２図〜第５図は夫々第１図例の説明に供する線
図、第６図は本発明の第２実施例を示す構成図、第７図
〜第９図は夫々第６図例の説明に供する線図、第10図〜
第14図は夫々従来のトラッキング制御装置の説明に供す
る線図、第15図は従来のトラッキング制御装置の一例を
示す構成図、第16図〜第18図は夫々第15図例の説明に供
する線図である。（１）は半導体レーザ素子、（３）はビームスプリッ
タ、（４）はレンズ、（５）は光ディスク、（６）は２
分割光検出器、（6A），（6B）は夫々光検出部である。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１のプリグループと上記第１のプリグル
ープからトラッキング方向に所定間隔離間して形成され
た第２のプリグループとで挟まれたデータ記録エリア
と、上記第１のプリグループと上記第２のプリグループとの
間に設けられたウォーブルピットとから構成されるサン
プルサーボエリアを備えてなる光ディスクを記録もしく
は再生する光ディスク装置であって、上記光ディスクに照射した光の反射光を検知するトラッ
ク方向に２分割された検知手段と、上記検知手段の各検知出力を加算して再生信号を生成す
る加算手段と、上記２分割された検知手段の各々の検知出力を減算する
減算手段と、上記加算手段からの加算出力に基づいて上記データエリ
アに対応する第１のサンプリングパルスと上記サンプル
サーボエリアに対応する第２のサンプリングパルスと発
生するタイミング発生手段と、上記減算手段から減算結果を上記第１のサンプリングパ
ルスでサンプルホールドする第１のサンプルホールド手
段と、上記減算手段からの減算結果を上記第２のサンプリング
パルスでサンプルホールドする第２のサンプルホールド
手段と、上記第１のサンプルホールド手段と上記第２のサンプル
ホールド手段からの出力信号を減算し、上記減算結果を
トラッキングエラー信号として出力する第２の減算手段
を備えてなる光ディスク装置。