JPH0758550B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JPH0758550B2 JPH0758550B2 JP61050130A JP5013086A JPH0758550B2 JP H0758550 B2 JPH0758550 B2 JP H0758550B2 JP 61050130 A JP61050130 A JP 61050130A JP 5013086 A JP5013086 A JP 5013086A JP H0758550 B2 JPH0758550 B2 JP H0758550B2
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Description
【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。
A 産業上の利用分野 B 発明の概要 C 従来の技術 D 発明が解決しようとする問題点 E 問題点を解決するための手段(第1図〜第3図) F 作用 G 実施例 G1第1の実施例 G2第2の実施例 H 発明の効果 A 産業上の利用分野 本発明は、ディスク上に光記録可能なディスク記録再生
装置に関する。
装置に関する。
B 発明の概要 本発明は、第1のプリグループとこの第1のプリグルー
ブからトラッキング方向に所定間隔離間して形成された
第2のプリグループとで挟まれたデータ記録エリアと、
第1のプリグルーブと第2のプリグループとの間に設け
られたウォーブルピットとから構成されるサンプルサー
ボエリアを備えてなる光ディスクを記録もしくは再生す
る光ディスク装置であって、光ディスクに照射した光の
反射光を検知するトラック方向に2分割された検知手段
と、検知手段の各検知出力を加算して再生信号を生成す
る加算手段と、2分割された検知手段の各々の検知出力
を減算する減算手段と、加算手段からの加算出力に基づ
いてデータエリアに対応する第1のサンプリングパルス
とサンプルサーボエリアに対応する第2のサンプリング
パルスと発生するタイミング発生手段と、減算手段から
減算結果を第1のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする第1のサンプルホールド手段と、減算手段からの
減算結果を第2のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする第2のサンプルホールド手段と、第1のサンプル
ホールド手段と第2のサンプルホールド手段からの出力
信号を減算し、減算結果をトラッキングエラー信号とし
て出力する第2の減算手段を備えたことにより、ラジア
ルスキュー、レンズ移動等があっても良好なトランキン
グエラー信号が常に得られ、このトラッキングエラー信
号により良好なトラッキングを行ないながら記録又は再
生を行なうことができるようにしたものである。
ブからトラッキング方向に所定間隔離間して形成された
第2のプリグループとで挟まれたデータ記録エリアと、
第1のプリグルーブと第2のプリグループとの間に設け
られたウォーブルピットとから構成されるサンプルサー
ボエリアを備えてなる光ディスクを記録もしくは再生す
る光ディスク装置であって、光ディスクに照射した光の
反射光を検知するトラック方向に2分割された検知手段
と、検知手段の各検知出力を加算して再生信号を生成す
る加算手段と、2分割された検知手段の各々の検知出力
を減算する減算手段と、加算手段からの加算出力に基づ
いてデータエリアに対応する第1のサンプリングパルス
とサンプルサーボエリアに対応する第2のサンプリング
パルスと発生するタイミング発生手段と、減算手段から
減算結果を第1のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする第1のサンプルホールド手段と、減算手段からの
減算結果を第2のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする第2のサンプルホールド手段と、第1のサンプル
ホールド手段と第2のサンプルホールド手段からの出力
信号を減算し、減算結果をトラッキングエラー信号とし
て出力する第2の減算手段を備えたことにより、ラジア
ルスキュー、レンズ移動等があっても良好なトランキン
グエラー信号が常に得られ、このトラッキングエラー信
号により良好なトラッキングを行ないながら記録又は再
生を行なうことができるようにしたものである。
C 従来の技術 従来、光磁気ディスク等に光記録可能なディスク記録再
生装置として種々のものが提案されている。この光記録
可能なディスク記録再生装置に使用されるトラッキング
エラー検出方法として、例えば、第10図に示す如きもの
が提案されている。この第10図において、(1)はレー
ザ光源としての半導体レーザ素子(レーザダイオード)
で、これよりの発散レーザビームはコリメータレンズ
(2)を通過することにより平行ビームになされ、ビー
ムスプリッタ(3)によって90度偏向せしめられた後、
レンズ(4)に入射する。このレンズ(4)よりの集束
ビームは、光学式記録媒体としての光ディスク(5)を
照射して、そこに焦点を結ぶ。光ディスク(5)よりの
出射ビーム、即ち反射ビームは再びレンズ(4)に入射
して平行ビームとなされ、ビームスプリッサ(3)を通
過して2分割光検出器(6)に入射する。
生装置として種々のものが提案されている。この光記録
可能なディスク記録再生装置に使用されるトラッキング
エラー検出方法として、例えば、第10図に示す如きもの
が提案されている。この第10図において、(1)はレー
ザ光源としての半導体レーザ素子(レーザダイオード)
で、これよりの発散レーザビームはコリメータレンズ
(2)を通過することにより平行ビームになされ、ビー
ムスプリッタ(3)によって90度偏向せしめられた後、
レンズ(4)に入射する。このレンズ(4)よりの集束
ビームは、光学式記録媒体としての光ディスク(5)を
照射して、そこに焦点を結ぶ。光ディスク(5)よりの
出射ビーム、即ち反射ビームは再びレンズ(4)に入射
して平行ビームとなされ、ビームスプリッサ(3)を通
過して2分割光検出器(6)に入射する。
この2分割光検出器(6)は、第11図に示すように2つ
の光検出部(6A),(6B)からなっており、レンズ
(4)からの平行ビームによる円形のスポットSPが2つ
の光検出部(6A),(6B)にわたって丁度半分ずつ位置
している場合は、レンズ(4)よりの集束ビームが光デ
ィスク(5)のトラックの丁度真中を走査していること
になる。従って、これら2つの光検出部(6A),(6B)
からの両検出出力を作動増幅器(7)に供給してその差
を採れば、出力端子(8)にトラッキングエラー信号が
得られる。
の光検出部(6A),(6B)からなっており、レンズ
(4)からの平行ビームによる円形のスポットSPが2つ
の光検出部(6A),(6B)にわたって丁度半分ずつ位置
している場合は、レンズ(4)よりの集束ビームが光デ
ィスク(5)のトラックの丁度真中を走査していること
になる。従って、これら2つの光検出部(6A),(6B)
からの両検出出力を作動増幅器(7)に供給してその差
を採れば、出力端子(8)にトラッキングエラー信号が
得られる。
しかしながら、かかる従来のトラッキングエラー検出方
式では、第10図に破線で示すように、レンズ(4)が光
ディスク(5)に対し平行に移動すると、2分割光検出
器(6)は固定されているため、その上のスポットSPの
位置が、第11図に破線で示すようにずれて、出力端子
(8)よりのトラッキング誤差信号に(第14図Aに示す
如く)直流変動が生じる。即ち、第10図に示す如く、レ
ンズ(4)の位置が変動すると、トラッキングエラー信
号は第14図Bに示す如く、その直流が変動してしまう。
式では、第10図に破線で示すように、レンズ(4)が光
ディスク(5)に対し平行に移動すると、2分割光検出
器(6)は固定されているため、その上のスポットSPの
位置が、第11図に破線で示すようにずれて、出力端子
(8)よりのトラッキング誤差信号に(第14図Aに示す
如く)直流変動が生じる。即ち、第10図に示す如く、レ
ンズ(4)の位置が変動すると、トラッキングエラー信
号は第14図Bに示す如く、その直流が変動してしまう。
又、第12図に示す如く、光ディスク(5)にラジアルス
キューが生じると、同様に2分割光検出器(6)は固定
されているため、その上のスポットSPの位置が、第13図
に破線で示すようにずれて、出力端子(8)よりのトラ
ッキングエラー信号に直流変動が生じる。従って、この
場合も、トラッキングエラー信号は第14図Bに示す如
く、その直流が変動してしまう。
キューが生じると、同様に2分割光検出器(6)は固定
されているため、その上のスポットSPの位置が、第13図
に破線で示すようにずれて、出力端子(8)よりのトラ
ッキングエラー信号に直流変動が生じる。従って、この
場合も、トラッキングエラー信号は第14図Bに示す如
く、その直流が変動してしまう。
この直流変動を防止するために、第15図に示した如きト
ラッキング制御部を有するディスク記録再生装置が提案
されている。このトラッキング制御装置は、半導体レー
ザで記録再生を行なう光磁気ディスクの記録再生装置に
使用されるもので、半導体レーザ素子(1)から発散レ
ーザビームをレンズ(4)を介して光ディスク(5)に
照射する。そして、光ディスク(5)よりの反射ビーム
を再びレンズ(4)を介すると共に、ビームスプリッタ
(3)により90度偏光された後、2分割光検出器(6)
に入射させる。この2分割光検出器(6)は、トラック
方向に2分割された2つの光検出部(6A),(6B)から
なっており、この2つの光検出部(6A),(6B)からの
検出出力信号を差動増幅器(7)に供給してその差信号
(トラッキングエラー信号)を差動増幅器(7)が出力
すると共に、この検出出力信号を第1の加算回路(9)
に供給しその加算信号を第1の加算回路(9)が出力す
る。そして、差動増幅器(7)が出力する差信号を第1
のサンプルホールド回路(11)に供給し、第1の加算回
路(9)が出力する加算信号を第2及び第3のサンプル
ホールド回路(12)及び(13)とタイミング発生器(1
0)に供給する。そして、このタイミング発生器(10)
は加算信号から同期信号を検出し、この同期信号に基づ
いて第1、第2、第3のサンプリングパルス信号を形成
し、第1のサンプリングパルス信号を第1のサンプルホ
ールド回路(11)に供給し、第2のサンプリングパルス
信号を第2のサンプルホールド回路(12)に供給し、第
3のサンプリングパルス信号を第3のサンプルホールド
回路(13)に供給する。そして、第1のサンプルホール
ド回路(11)の出力信号を第2の加算回路(16)に供給
し、第2のサンプルホールド回路(12)の出力信号と第
3のサンプルホールド回路(13)の出力信号とを減算回
路(14)に供給し、この減算回路(14)の減算出力信号
を可変利得調整器(15)を介して第2の加算回路(16)
に供給する。そして、この第2の加算回路(16)で第1
のサンプルホールド回路(11)の出力信号と可変利得調
整器(15)の出力信号とを加算し、第2の加算回路(1
6)の出力信号を出力端子(8)に供給し、この出力端
子(8)に得られる信号をトラッキングエラー信号とす
る。
ラッキング制御部を有するディスク記録再生装置が提案
されている。このトラッキング制御装置は、半導体レー
ザで記録再生を行なう光磁気ディスクの記録再生装置に
使用されるもので、半導体レーザ素子(1)から発散レ
ーザビームをレンズ(4)を介して光ディスク(5)に
照射する。そして、光ディスク(5)よりの反射ビーム
を再びレンズ(4)を介すると共に、ビームスプリッタ
(3)により90度偏光された後、2分割光検出器(6)
に入射させる。この2分割光検出器(6)は、トラック
方向に2分割された2つの光検出部(6A),(6B)から
なっており、この2つの光検出部(6A),(6B)からの
検出出力信号を差動増幅器(7)に供給してその差信号
(トラッキングエラー信号)を差動増幅器(7)が出力
すると共に、この検出出力信号を第1の加算回路(9)
に供給しその加算信号を第1の加算回路(9)が出力す
る。そして、差動増幅器(7)が出力する差信号を第1
のサンプルホールド回路(11)に供給し、第1の加算回
路(9)が出力する加算信号を第2及び第3のサンプル
ホールド回路(12)及び(13)とタイミング発生器(1
0)に供給する。そして、このタイミング発生器(10)
は加算信号から同期信号を検出し、この同期信号に基づ
いて第1、第2、第3のサンプリングパルス信号を形成
し、第1のサンプリングパルス信号を第1のサンプルホ
ールド回路(11)に供給し、第2のサンプリングパルス
信号を第2のサンプルホールド回路(12)に供給し、第
3のサンプリングパルス信号を第3のサンプルホールド
回路(13)に供給する。そして、第1のサンプルホール
ド回路(11)の出力信号を第2の加算回路(16)に供給
し、第2のサンプルホールド回路(12)の出力信号と第
3のサンプルホールド回路(13)の出力信号とを減算回
路(14)に供給し、この減算回路(14)の減算出力信号
を可変利得調整器(15)を介して第2の加算回路(16)
に供給する。そして、この第2の加算回路(16)で第1
のサンプルホールド回路(11)の出力信号と可変利得調
整器(15)の出力信号とを加算し、第2の加算回路(1
6)の出力信号を出力端子(8)に供給し、この出力端
子(8)に得られる信号をトラッキングエラー信号とす
る。
次に、この回路構成にてトラッキングエラー信号を得る
光ディスク(5)の各トラックの構成について説明す
る。この光ディスク(5)は、例えば第16図に示す如
く、トラック形成領域Tの範囲内に円周方向に複数トラ
ックを形成し、この各トラックを第1〜第16のセグメン
トS1〜S16に分割する。この各セグメントS1〜S16は、ト
ラック毎にサンプルサーボエリアSAとサンプルサーボ及
びデータエリアSBとに分かれている。そして、各トラッ
クの1セグメントの具体的構成は、トラックが直線であ
るとすると第17図Aに示す如く、1トラックピッチPご
とにプリグルーブgを連続的に設ける。このプリグルー
ブgは、上述の半導体レザ素子(1)の発散レーザビー
ムの波長をλとすると、λ/8の深さとする。そして、こ
のトラックの所定長を1セグメントとし、この1セグメ
ントの前部をサンプルサーボエリアSAとし、残りの部分
をサンプルサーボ及びデータエリアSBとする。そして、
1本のプリグルーブgと隣接したプリグルーブgとの間
の領域をランドlとし、このランドlのサンプルサーボ
エリアSAに第1及び第2のウォブルピットwA及びwBを設
ける。この第1及び第2のウォブルピットwA及びwBは、
上述の発散レーザビーム波長λに対しλ/4の深さとし、
サンプルサーボエリアSAの前半部に第1のウォブルピッ
トwAを設け、後半部に第2のウォブルピットwBを設け、
トラックの中心線tCを境にしてラジアル方向に左右に第
1のウォブルピットwAと第2のウォブルピットwBとを振
り分けて構成する。そして、データの記録は例えばサン
プルサーボ及びデータエリアSBのランドlにレーザビー
ムを照射して磁気を反転させて行なう。
光ディスク(5)の各トラックの構成について説明す
る。この光ディスク(5)は、例えば第16図に示す如
く、トラック形成領域Tの範囲内に円周方向に複数トラ
ックを形成し、この各トラックを第1〜第16のセグメン
トS1〜S16に分割する。この各セグメントS1〜S16は、ト
ラック毎にサンプルサーボエリアSAとサンプルサーボ及
びデータエリアSBとに分かれている。そして、各トラッ
クの1セグメントの具体的構成は、トラックが直線であ
るとすると第17図Aに示す如く、1トラックピッチPご
とにプリグルーブgを連続的に設ける。このプリグルー
ブgは、上述の半導体レザ素子(1)の発散レーザビー
ムの波長をλとすると、λ/8の深さとする。そして、こ
のトラックの所定長を1セグメントとし、この1セグメ
ントの前部をサンプルサーボエリアSAとし、残りの部分
をサンプルサーボ及びデータエリアSBとする。そして、
1本のプリグルーブgと隣接したプリグルーブgとの間
の領域をランドlとし、このランドlのサンプルサーボ
エリアSAに第1及び第2のウォブルピットwA及びwBを設
ける。この第1及び第2のウォブルピットwA及びwBは、
上述の発散レーザビーム波長λに対しλ/4の深さとし、
サンプルサーボエリアSAの前半部に第1のウォブルピッ
トwAを設け、後半部に第2のウォブルピットwBを設け、
トラックの中心線tCを境にしてラジアル方向に左右に第
1のウォブルピットwAと第2のウォブルピットwBとを振
り分けて構成する。そして、データの記録は例えばサン
プルサーボ及びデータエリアSBのランドlにレーザビー
ムを照射して磁気を反転させて行なう。
このようにして構成されるプリグルーブgとウォブルピ
ットwA,wBの書き込みは、例えば第18図に示す如く、ラ
ジアル方向に1トラックピッチPの半分Qだけ離した2
本のレーザビームにより行なう。即ち、1本のレーザビ
ームでλ/8の深さのプリグルーブgを書き込むと共に、
もう1本のレーザビームでλ/4の深さのウォブルピット
wA,wBを左右に振り分けて書き込む。このようにして2
本のレーザビームでの書き込みを繰り返し行なうこと
で、トラックが複数本連続して形成される。
ットwA,wBの書き込みは、例えば第18図に示す如く、ラ
ジアル方向に1トラックピッチPの半分Qだけ離した2
本のレーザビームにより行なう。即ち、1本のレーザビ
ームでλ/8の深さのプリグルーブgを書き込むと共に、
もう1本のレーザビームでλ/4の深さのウォブルピット
wA,wBを左右に振り分けて書き込む。このようにして2
本のレーザビームでの書き込みを繰り返し行なうこと
で、トラックが複数本連続して形成される。
次に、このようにして構成されたトラックで第15図例の
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子(1)からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク(5)の所定トラックに照射し、
この照射が完全にトラックの中央tCを走査したとする
と、この照射により得られる反射ビームの入射による2
分割光検出器(6)の出力信号電圧は、第17図Bに示す
如き状態となる。即ち、この第17図Bは2つの光検出部
(6A),(6B)の出力信号を加算したもので、サンプル
サーボ及びデータエリアSBでは、ランドlの両側のプリ
グルーブgによりディスク(5)が完全なミラー面であ
るよりわずかに少ない出力信号となり、サンプルサーボ
エリアSAでは、深さλ/4のウォブルピットwA,wBにより
サンプルサーボ及びデータエリアSBの出力信号の略半分
の出力信号となり、第1のウォブルピットwAと第2のウ
ォブルピットwBの出力信号は同じになる。ここで、夫々
のサンプルホールド回路(11),(12),(13)のサン
プリングするタイミングは第17図Cに示す如く、第1の
サンプルホールド回路(11)がサンプリングパルス信号
p1によりサンプルサーボ及びデータエリアSBの期間全体
に亘ってゲートを開き、第2のサンプルホールド回路
(12)がサンプリングパルス信号p2によりサンプルサー
ボエリアSAの第1のウォブルピットwAの走査時(第17図
Aのビームスポットb2のとき)ゲートを開き、第3のサ
ンプルホールド回路(13)がサンプリングパルス信号p3
によりサンプルサーボエリアSAの第2のウォブルピット
wBの走査時(第17図Aのビームスポットb3のとき)ゲー
トを開く。このようにして夫々のサンプルホールド回路
(11),(12),(13)がサンプリングを行なうことに
より、第1のサンプルホールド回路(11)の出力信号は
差動増幅器(7)を介してサンプルサーボ及びデータエ
リアSBの区間のトラッキングエラー信号となり、第2及
び第3のサンプルホールド回路(12)及び(13)の出力
信号は、夫々第1及び第2のウォブルピットwA及びwBの
区間の検出器(6)の検出信号となる。このため、ビー
ムスポットがトラックの中央tCを走査しているときには
第2と第3のサンプルホールド回路(12)と(13)の出
力信号は等しくなり、双方の出力信号を減算回路(14)
により減算した出力信号は0となり、中央tCからラジア
ル方向にずれて走査しているときにはずれに応じた出力
信号が得られる。この直流変動を含まない減算回路(1
4)の出力信号お第1のサンプルホールド回路(11)が
出力するトラックエラー信号とを第2の加算回路(16)
により加算することにより、サンプルサーボ及びデータ
エリアSBのトラッキングエラー信号が減算回路(14)の
出力信号により補正される。このとき、この補正を良好
に行なうために、減算回路(14)の出力信号は可変利得
調整器(15)により利得を調整してから第2の加算回路
(16)に供給する。そして、第2の加算回路(16)の出
力信号がトラッキングエラー信号となって出力端子
(8)に得られる。
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子(1)からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク(5)の所定トラックに照射し、
この照射が完全にトラックの中央tCを走査したとする
と、この照射により得られる反射ビームの入射による2
分割光検出器(6)の出力信号電圧は、第17図Bに示す
如き状態となる。即ち、この第17図Bは2つの光検出部
(6A),(6B)の出力信号を加算したもので、サンプル
サーボ及びデータエリアSBでは、ランドlの両側のプリ
グルーブgによりディスク(5)が完全なミラー面であ
るよりわずかに少ない出力信号となり、サンプルサーボ
エリアSAでは、深さλ/4のウォブルピットwA,wBにより
サンプルサーボ及びデータエリアSBの出力信号の略半分
の出力信号となり、第1のウォブルピットwAと第2のウ
ォブルピットwBの出力信号は同じになる。ここで、夫々
のサンプルホールド回路(11),(12),(13)のサン
プリングするタイミングは第17図Cに示す如く、第1の
サンプルホールド回路(11)がサンプリングパルス信号
p1によりサンプルサーボ及びデータエリアSBの期間全体
に亘ってゲートを開き、第2のサンプルホールド回路
(12)がサンプリングパルス信号p2によりサンプルサー
ボエリアSAの第1のウォブルピットwAの走査時(第17図
Aのビームスポットb2のとき)ゲートを開き、第3のサ
ンプルホールド回路(13)がサンプリングパルス信号p3
によりサンプルサーボエリアSAの第2のウォブルピット
wBの走査時(第17図Aのビームスポットb3のとき)ゲー
トを開く。このようにして夫々のサンプルホールド回路
(11),(12),(13)がサンプリングを行なうことに
より、第1のサンプルホールド回路(11)の出力信号は
差動増幅器(7)を介してサンプルサーボ及びデータエ
リアSBの区間のトラッキングエラー信号となり、第2及
び第3のサンプルホールド回路(12)及び(13)の出力
信号は、夫々第1及び第2のウォブルピットwA及びwBの
区間の検出器(6)の検出信号となる。このため、ビー
ムスポットがトラックの中央tCを走査しているときには
第2と第3のサンプルホールド回路(12)と(13)の出
力信号は等しくなり、双方の出力信号を減算回路(14)
により減算した出力信号は0となり、中央tCからラジア
ル方向にずれて走査しているときにはずれに応じた出力
信号が得られる。この直流変動を含まない減算回路(1
4)の出力信号お第1のサンプルホールド回路(11)が
出力するトラックエラー信号とを第2の加算回路(16)
により加算することにより、サンプルサーボ及びデータ
エリアSBのトラッキングエラー信号が減算回路(14)の
出力信号により補正される。このとき、この補正を良好
に行なうために、減算回路(14)の出力信号は可変利得
調整器(15)により利得を調整してから第2の加算回路
(16)に供給する。そして、第2の加算回路(16)の出
力信号がトラッキングエラー信号となって出力端子
(8)に得られる。
このようにしてサンプルサーボエリアSAの区間で得られ
る検出器(6)の検出信号をホールドした信号によりサ
ンプルサーボ及びデータエリアSBのトラッキング誤差信
号を補正したトラッキングエラー信号が得られ、レンズ
(4)の位置の変動、光ディスク(5)のラジアルスキ
ュー等によるトラッキングエラー信号の直流変動が補正
される。
る検出器(6)の検出信号をホールドした信号によりサ
ンプルサーボ及びデータエリアSBのトラッキング誤差信
号を補正したトラッキングエラー信号が得られ、レンズ
(4)の位置の変動、光ディスク(5)のラジアルスキ
ュー等によるトラッキングエラー信号の直流変動が補正
される。
D 発明が解決しようとする問題点 ところが、上述の如くしてトラッキング誤差信号を得る
ものは、サンプルサーボ及びデータエリアSBのトラッキ
ングエラー信号に、検出器(6)の検出信号をホールド
した一定の信号を混合して直流変動を補正するものであ
るため、1区間のサンプルサーボ及びデータエリアSB内
でのトラッキングずれが発生した場合等には直流変動を
完全には除去することができなくなってしまう。即ち、
直流変動を含まない減算回路(14)の出力信号と直流変
動を含むサンプルホールド回路(11)の出力信号をある
利得比で加算しているため、得られるエラー信号に含ま
れる直流変動は1/利得の比であり零にはならない。ま
た、可変利得調整器(15)は、利得の最適な調整状態が
光ディスク(5)の状態により異なるため、常時最適な
補正を行なうことが困難であった。
ものは、サンプルサーボ及びデータエリアSBのトラッキ
ングエラー信号に、検出器(6)の検出信号をホールド
した一定の信号を混合して直流変動を補正するものであ
るため、1区間のサンプルサーボ及びデータエリアSB内
でのトラッキングずれが発生した場合等には直流変動を
完全には除去することができなくなってしまう。即ち、
直流変動を含まない減算回路(14)の出力信号と直流変
動を含むサンプルホールド回路(11)の出力信号をある
利得比で加算しているため、得られるエラー信号に含ま
れる直流変動は1/利得の比であり零にはならない。ま
た、可変利得調整器(15)は、利得の最適な調整状態が
光ディスク(5)の状態により異なるため、常時最適な
補正を行なうことが困難であった。
本発明は之等の点に鑑み、常に良好なトラッキングエラ
ー信号が得られる光記録可能なディスク記録再生装置を
提供することを目的とする。
ー信号が得られる光記録可能なディスク記録再生装置を
提供することを目的とする。
E 問題点を解決するための手段 本発明の光ディスク装置は、例えば図1〜図3に示す如
く、第1のプリグループg(例えばg2)とこの第1のプ
リグループからトラッキング方向に所定間隔離間して形
成された第2のプリグループg(例えばg3)とで挟まれ
たデータ記録エリアSBと、 上記第1のプリグループと上記第2のプリグループとの
間に設けられたウォーブルピットWとから構成されるサ
ンプルサーボエリアSAを備えてなる光ディスクを記録も
しくは再生する光ディスク装置であって、 光ディスク5に照射した光の反射光を検知するトラック
方向に2分割された検知手段6A,6Bと、 検知手段6A,6Bの各検知出力を加算して再生信号を生成
する加算手段9と、 2分割された検知手段6A,6Bの各々の検知出力を減算す
る減算手段7と、 加算手段9からの加算出力に基づいてデータエリアに対
応する第1のサンプリングパルスとサンプルサーボエリ
アに対応する第2のサンプリングパルスとを発生するタ
イミング発生手段17と、 減算手段7からの減算結果を第1のサンプリングパルス
でサンプルホールドする第1のサンプルホールド手段18
と、 減算手段7からの減算結果を第2のサンプリングパルス
でサンプルホールドする第2のサンプルホールド手段19
と、 第1のサンプルホールド手段18と第2のサンプルホール
ド手段19からの出力信号を減算し、減算結果をトラッキ
ングエラー信号として出力する第2の減算手段20を備え
てなるものである。
く、第1のプリグループg(例えばg2)とこの第1のプ
リグループからトラッキング方向に所定間隔離間して形
成された第2のプリグループg(例えばg3)とで挟まれ
たデータ記録エリアSBと、 上記第1のプリグループと上記第2のプリグループとの
間に設けられたウォーブルピットWとから構成されるサ
ンプルサーボエリアSAを備えてなる光ディスクを記録も
しくは再生する光ディスク装置であって、 光ディスク5に照射した光の反射光を検知するトラック
方向に2分割された検知手段6A,6Bと、 検知手段6A,6Bの各検知出力を加算して再生信号を生成
する加算手段9と、 2分割された検知手段6A,6Bの各々の検知出力を減算す
る減算手段7と、 加算手段9からの加算出力に基づいてデータエリアに対
応する第1のサンプリングパルスとサンプルサーボエリ
アに対応する第2のサンプリングパルスとを発生するタ
イミング発生手段17と、 減算手段7からの減算結果を第1のサンプリングパルス
でサンプルホールドする第1のサンプルホールド手段18
と、 減算手段7からの減算結果を第2のサンプリングパルス
でサンプルホールドする第2のサンプルホールド手段19
と、 第1のサンプルホールド手段18と第2のサンプルホール
ド手段19からの出力信号を減算し、減算結果をトラッキ
ングエラー信号として出力する第2の減算手段20を備え
てなるものである。
F 作用 本発明によると、データ記録エリアSBをビームが走査し
ているとき、各検知手段6A,6Bの出力差をサンプリング
し、このサンプリングされた第1の信号をホールドし、
サンプルサーボエリアSAをビームが走査しているとき、
各検知手段6A,6Bの出力差をサンプリングし、このサン
プリングされた第2の信号をホールドし、第1の信号と
第2の信号の出力の差信号によってトラッキグエラー信
号を得ることにより、ディスクのスキューやレンズの位
置の変動等があっても常時完全なトラッキングエラー信
号を得ることができる。
ているとき、各検知手段6A,6Bの出力差をサンプリング
し、このサンプリングされた第1の信号をホールドし、
サンプルサーボエリアSAをビームが走査しているとき、
各検知手段6A,6Bの出力差をサンプリングし、このサン
プリングされた第2の信号をホールドし、第1の信号と
第2の信号の出力の差信号によってトラッキグエラー信
号を得ることにより、ディスクのスキューやレンズの位
置の変動等があっても常時完全なトラッキングエラー信
号を得ることができる。
G 実施例 G1第1の実施例 以下、本発明光ディスク装置の第1の実施例を、第1図
〜第4図を参照して説明しよう。この第1図〜第4図に
おいて、第10図〜第18図に対応する部分には同一符号を
付し、その詳細説明は省略する。
〜第4図を参照して説明しよう。この第1図〜第4図に
おいて、第10図〜第18図に対応する部分には同一符号を
付し、その詳細説明は省略する。
第1図は、本例のディスク記録再生装置の構成を示す図
である。この第1図において、(6)は2分割光検出器
を示し、この2分割光検出器(6)は2つの光検出部
(6A),(6B)からなっており、この2つの光検出部
(6A),(6B)からの検出出力信号を差動増幅器(7)
に供給してその差信号(トラッキングエラー信号)を差
動増幅器(7)が出力すると共に、この検出出力信号を
加算回路(9)に供給してその加算信号を加算回路
(9)が出力する。そして、差動増幅器(7)が出力す
る差信号を第1及び第2のサンプルホールド回路(18)
及び(19)に供給する。また、加算回路(9)が出力す
る加算信号をタイミング発生器(17)に供給し、このタ
イミング発生器(17)が加算信号から同期信号を検出
し、この同期信号に基づいて第1及び第2のサンプリン
グパルス信号を形成し、この第1のサンプリングパルス
信号を第1のサンプルホールド回路(18)に供給し、こ
の第2のサンプリングパルス信号を第2のサンプルホー
ルド回路(19)に供給する。この第1及び第2のサンプ
リングパルス信号は、例えば後述する第3図Cに示す如
き信号である。そして、第1のサンプルホールド回路
(18)の出力信号と第2のサンプルホールド回路(19)
の出力信号とを減算回路(20)に供給し、減算回路(2
0)の出力信号を出力端子(8)に供給し、この出力端
子(8)に得られる信号をトラッキングエラー信号とす
る。
である。この第1図において、(6)は2分割光検出器
を示し、この2分割光検出器(6)は2つの光検出部
(6A),(6B)からなっており、この2つの光検出部
(6A),(6B)からの検出出力信号を差動増幅器(7)
に供給してその差信号(トラッキングエラー信号)を差
動増幅器(7)が出力すると共に、この検出出力信号を
加算回路(9)に供給してその加算信号を加算回路
(9)が出力する。そして、差動増幅器(7)が出力す
る差信号を第1及び第2のサンプルホールド回路(18)
及び(19)に供給する。また、加算回路(9)が出力す
る加算信号をタイミング発生器(17)に供給し、このタ
イミング発生器(17)が加算信号から同期信号を検出
し、この同期信号に基づいて第1及び第2のサンプリン
グパルス信号を形成し、この第1のサンプリングパルス
信号を第1のサンプルホールド回路(18)に供給し、こ
の第2のサンプリングパルス信号を第2のサンプルホー
ルド回路(19)に供給する。この第1及び第2のサンプ
リングパルス信号は、例えば後述する第3図Cに示す如
き信号である。そして、第1のサンプルホールド回路
(18)の出力信号と第2のサンプルホールド回路(19)
の出力信号とを減算回路(20)に供給し、減算回路(2
0)の出力信号を出力端子(8)に供給し、この出力端
子(8)に得られる信号をトラッキングエラー信号とす
る。
次に、本例の装置にてトラッキングエラー信号を得る光
ディスク(5)の各トラックの構成について説明する。
この光ディスク(5)は、例えば第2図に示す如く、ト
ラック形成領域Tの範囲内に円周方向に複数トラックを
形成し、この各トラックを例えば1000の区間に分割す
る。そして、夫々の分割区間毎にサンプルサーボエリア
SAとサンプルサーボ及びデータエリアSBとに分かれてい
る。このため、サンプルサーボエリアSAは各トラック毎
にSA1〜SA1000の1000個設けてある。そして、各トラッ
クの具体的構成は、トラックが直線であるとすると第3
図Aに示す如く、1トラックピッチP(例えば1.6μ
m)ごとにサンプルサーボ及びデータエリアSBの全区間
とサンプルサーボエリアSAの区間に最初にプリグルーブ
gを設ける。このプリグルーブgは、上述の半導体レー
ザ素子(1)の発散レーザビームの波長をλとすると、
λ/8の深さとする。そして、サンプルサーボエリアSAの
プリグルーブgのない区間は、前半にだけウォブルピッ
トwを設ける。このウォブルピットwは、1トラックの
ピッチPの半分だけプリグルーブgとラジアル方向にず
らして形成し、深さはλ/8とする。また、ウォブルピッ
トwの前部のサンプルサーボエリアSAにクロックピット
cを設ける。このクロックピットcの深さはλ/4とす
る。そして、サンプルサーボ及びデータエリアSBの隣接
しあうプリグルーブgの間の領域をランドlとし、この
ランドlにレーザビームを照射して磁気を反転させるこ
とによりデータの記録が行なわれる。
ディスク(5)の各トラックの構成について説明する。
この光ディスク(5)は、例えば第2図に示す如く、ト
ラック形成領域Tの範囲内に円周方向に複数トラックを
形成し、この各トラックを例えば1000の区間に分割す
る。そして、夫々の分割区間毎にサンプルサーボエリア
SAとサンプルサーボ及びデータエリアSBとに分かれてい
る。このため、サンプルサーボエリアSAは各トラック毎
にSA1〜SA1000の1000個設けてある。そして、各トラッ
クの具体的構成は、トラックが直線であるとすると第3
図Aに示す如く、1トラックピッチP(例えば1.6μ
m)ごとにサンプルサーボ及びデータエリアSBの全区間
とサンプルサーボエリアSAの区間に最初にプリグルーブ
gを設ける。このプリグルーブgは、上述の半導体レー
ザ素子(1)の発散レーザビームの波長をλとすると、
λ/8の深さとする。そして、サンプルサーボエリアSAの
プリグルーブgのない区間は、前半にだけウォブルピッ
トwを設ける。このウォブルピットwは、1トラックの
ピッチPの半分だけプリグルーブgとラジアル方向にず
らして形成し、深さはλ/8とする。また、ウォブルピッ
トwの前部のサンプルサーボエリアSAにクロックピット
cを設ける。このクロックピットcの深さはλ/4とす
る。そして、サンプルサーボ及びデータエリアSBの隣接
しあうプリグルーブgの間の領域をランドlとし、この
ランドlにレーザビームを照射して磁気を反転させるこ
とによりデータの記録が行なわれる。
このようにして構成されるプリグルーブgとウォブルピ
ットwとクロックピットcの書き込みは、例えば第4図
に示す如く、ラジアル方向に1トラックピッチPの半分
Qだけ離した2本のレーザビームにより行なう。即ち、
1本のレーザビームでプリグルーブgを書き込むと共
に、もう1本のレーザビームでクロックピットc及びウ
ォブルピットwを書き込む。このようにすることによ
り、2本のビームにより同一工程で書き込んだプリグル
ーブgとウォブルピットwとが、正確に上述の間隔Qで
形成される。
ットwとクロックピットcの書き込みは、例えば第4図
に示す如く、ラジアル方向に1トラックピッチPの半分
Qだけ離した2本のレーザビームにより行なう。即ち、
1本のレーザビームでプリグルーブgを書き込むと共
に、もう1本のレーザビームでクロックピットc及びウ
ォブルピットwを書き込む。このようにすることによ
り、2本のビームにより同一工程で書き込んだプリグル
ーブgとウォブルピットwとが、正確に上述の間隔Qで
形成される。
このようにして2本のレーザビームでの書き込みを繰り
返し行なうことで、第3図Aに示す如く、トラックが複
数本連続して形成される。即ち、ディスク(5)上に
は、例えば1回目に書き込んだプリグルーブg1に隣接し
て2回目に書き込んだプリグルーブg2及びウォブルピッ
トw2が形成され、このようにして順次複数トラックが形
成される。
返し行なうことで、第3図Aに示す如く、トラックが複
数本連続して形成される。即ち、ディスク(5)上に
は、例えば1回目に書き込んだプリグルーブg1に隣接し
て2回目に書き込んだプリグルーブg2及びウォブルピッ
トw2が形成され、このようにして順次複数トラックが形
成される。
次に、このようにして形成されたトラックで第1図例の
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子(1)からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク(5)の所定トラックに照射し、
この照射が完全に所定トラックの中央即ち、隣接するプ
リグルーブg間の中央tCを走査したとすると、この照射
により得られる反射ビームの入射による2分割光検出器
(6)の出力信号電圧は、第3図Bに示す如き状態とな
る。即ち、この第3図Bは2つの光検出部(6A),(6
B)の出力信号を加算したもので、サンプルサーボ及び
データエリアSBでは、ランドlの両側のプリグルーブg
により、ウォブルピットwの後端からサンプルサーボ及
びデータエリアSBの始端迄の出力が最大出力となり、こ
の最大出力よりわずかに少ない出力信号となる。また、
サンプルサーボエリアSAでは、最初のクロックピットc
の区間ではほとんど出力信号がなく、ウォブルピットw
の区間では最大出力の略半分の出力信号が得られる。こ
こで、夫々のサンプルホールド回路(18),(19)のサ
ンプリングするタイミングは第3図Cに示す如く、第1
のサンプルホールド回路(18)がサンプリングパルス信
号p1によりサンプルサーボ及びデータエリアSBの期間全
体に亘ってゲートを開き、第2のサンプルホールド回路
(19)がサンプリングパルス信号p2によりサンプリング
サーボエリアSAのウォブルピットwの走査時(第3図A
のビームスポットb2のとき)ゲートを開く。このように
して夫々のサンプルホールド回路(18),(19)がサン
プリングを行なうことにより、第1のサンプルホールド
回路(18)の出力信号は差動増幅器(7)を介したサン
プルサーボ及びデータエリアSBの区間のトラッキングエ
ラー信号となり、第2のサンプルホールド回路(19)の
出力信号は差動増幅器(7)を介したウォブルピットw
走査時のトラッキングエラー信号となる。このため、ビ
ームスポットが隣接するプリグルーブg間の中央tCを走
査しているときには、第1のサンプルホールド回路(1
8)と第2のサンプルホールド回路(19)の出力信号は
逆相になり、双方の出力信号を減算回路(20)により減
算した信号は0となり、このトラックがとれていること
を示す減算信号が出力端子(8)に供給される。また、
中央tCからラジアル方向にずれて走査しているときには
ずれに応じたトラッキングエラー信号が出力端子(8)
に供給される。
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子(1)からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク(5)の所定トラックに照射し、
この照射が完全に所定トラックの中央即ち、隣接するプ
リグルーブg間の中央tCを走査したとすると、この照射
により得られる反射ビームの入射による2分割光検出器
(6)の出力信号電圧は、第3図Bに示す如き状態とな
る。即ち、この第3図Bは2つの光検出部(6A),(6
B)の出力信号を加算したもので、サンプルサーボ及び
データエリアSBでは、ランドlの両側のプリグルーブg
により、ウォブルピットwの後端からサンプルサーボ及
びデータエリアSBの始端迄の出力が最大出力となり、こ
の最大出力よりわずかに少ない出力信号となる。また、
サンプルサーボエリアSAでは、最初のクロックピットc
の区間ではほとんど出力信号がなく、ウォブルピットw
の区間では最大出力の略半分の出力信号が得られる。こ
こで、夫々のサンプルホールド回路(18),(19)のサ
ンプリングするタイミングは第3図Cに示す如く、第1
のサンプルホールド回路(18)がサンプリングパルス信
号p1によりサンプルサーボ及びデータエリアSBの期間全
体に亘ってゲートを開き、第2のサンプルホールド回路
(19)がサンプリングパルス信号p2によりサンプリング
サーボエリアSAのウォブルピットwの走査時(第3図A
のビームスポットb2のとき)ゲートを開く。このように
して夫々のサンプルホールド回路(18),(19)がサン
プリングを行なうことにより、第1のサンプルホールド
回路(18)の出力信号は差動増幅器(7)を介したサン
プルサーボ及びデータエリアSBの区間のトラッキングエ
ラー信号となり、第2のサンプルホールド回路(19)の
出力信号は差動増幅器(7)を介したウォブルピットw
走査時のトラッキングエラー信号となる。このため、ビ
ームスポットが隣接するプリグルーブg間の中央tCを走
査しているときには、第1のサンプルホールド回路(1
8)と第2のサンプルホールド回路(19)の出力信号は
逆相になり、双方の出力信号を減算回路(20)により減
算した信号は0となり、このトラックがとれていること
を示す減算信号が出力端子(8)に供給される。また、
中央tCからラジアル方向にずれて走査しているときには
ずれに応じたトラッキングエラー信号が出力端子(8)
に供給される。
次に、この出力端子(8)に得られるトラッキングエラ
ー信号が全く直流変動がないことを、数式を用いて説明
しよう。
ー信号が全く直流変動がないことを、数式を用いて説明
しよう。
まず、第1のサンプルホールド回路(18)が出力するト
ラッキングエラー信号TE1及び第2のサンプルホールド
回路(19)が出力するトラッキングエラー信号TE2は、
次式のように表わされる。
ラッキングエラー信号TE1及び第2のサンプルホールド
回路(19)が出力するトラッキングエラー信号TE2は、
次式のように表わされる。
但し、Aは振幅、Bは直流変動分、Xはディスク(5)
上の光スポットの位置である。
上の光スポットの位置である。
このため、減算回路(20)の出力信号、即ち出力端子
(8)に得られるトラッキングエラー信号TEは、次式の
ように表わされる。
(8)に得られるトラッキングエラー信号TEは、次式の
ように表わされる。
この式から、正確に とすれば、ΔQ=0であり第1図の出力端子(8)に得
られるトラッキングエラー信号には、直流変動分Bが含
まれないことになる。
られるトラッキングエラー信号には、直流変動分Bが含
まれないことになる。
このようにして直流変動分が含まれないトラッキングエ
ラー信号が得られることにより、プリグルーブの形状、
ビームスポットの形状等に不均一があってもスキューや
レンズシフトによる直流変動分を完全に除去することが
出来る。そして、この良好なトラッキングエラー信号に
より良好なトラッキングをとりながらランドlにデータ
の記録を行ない、またランドlからのデータの再生を行
なう。なお、この再生時においては記録時に比べてレー
ザビームのパワーを下げると共にトラッキングサーボ、
フォーカスサーボ等のサーボゲインを上げることで、よ
り良好なトラッキングが行なえる。
ラー信号が得られることにより、プリグルーブの形状、
ビームスポットの形状等に不均一があってもスキューや
レンズシフトによる直流変動分を完全に除去することが
出来る。そして、この良好なトラッキングエラー信号に
より良好なトラッキングをとりながらランドlにデータ
の記録を行ない、またランドlからのデータの再生を行
なう。なお、この再生時においては記録時に比べてレー
ザビームのパワーを下げると共にトラッキングサーボ、
フォーカスサーボ等のサーボゲインを上げることで、よ
り良好なトラッキングが行なえる。
また、本例においては、サンプルホールド及びデータエ
リアSBのトラッキングエラー信号を逆相となるピットを
設けたエリアのトラッキングエラー信号と減算して良好
なトラッキングエラー信号とするため、サンプルサーボ
エリアで得られる信号を利得調整器等により調整する必
要がない。このため、ディスクの状態等により調整器等
を調整する必要がなく、ディスクの状態にかかわらず常
に良好なトラッキングエラー信号が得られる。
リアSBのトラッキングエラー信号を逆相となるピットを
設けたエリアのトラッキングエラー信号と減算して良好
なトラッキングエラー信号とするため、サンプルサーボ
エリアで得られる信号を利得調整器等により調整する必
要がない。このため、ディスクの状態等により調整器等
を調整する必要がなく、ディスクの状態にかかわらず常
に良好なトラッキングエラー信号が得られる。
なお上述実施例では、サンプルホールド及びデータエリ
アSBのランドlをデータ記録部としたか、第5図に示す
如く、サンプルサーボ及びデータエリアSBのプリグルー
ブgをデータ記録部としてもよい。この場合には、例え
ばクロックピットcをプリグルーブgに連続してサンプ
ルサーボエリアSAに設け、ビームスポットによる走査を
プリグルーブgを中心にして行なうようにすればよい。
この場合にも上述実施例と同様の作用・効果が得られる
ことは容易に理解出来よう。
アSBのランドlをデータ記録部としたか、第5図に示す
如く、サンプルサーボ及びデータエリアSBのプリグルー
ブgをデータ記録部としてもよい。この場合には、例え
ばクロックピットcをプリグルーブgに連続してサンプ
ルサーボエリアSAに設け、ビームスポットによる走査を
プリグルーブgを中心にして行なうようにすればよい。
この場合にも上述実施例と同様の作用・効果が得られる
ことは容易に理解出来よう。
G2第2の実施例 次に、本発明光ディスク装置の第2の実施例を、第6図
〜第8図を参照して説明しよう。この第6図〜第8図に
おいて第1図〜第4図、第10図〜第18図に対応する部分
には同一符号を付し、その詳細説明は省略する。
〜第8図を参照して説明しよう。この第6図〜第8図に
おいて第1図〜第4図、第10図〜第18図に対応する部分
には同一符号を付し、その詳細説明は省略する。
第6図は、本例のディスク記録再生装置の構成を示す図
である。この第6図において、(6)は2分割光検出器
を示し、この2分割光検出器(6)は2つの光検出部
(6A),(6B)からなっており、この2つの光検出部
(6A),(6B)からの検出出力信号を差動増幅器(7)
に供給してその差信号(トラッキングエラー信号)を差
動増幅器(7)が出力すると共に、この検出出力信号を
第1の加算回路(9)に供給してその加算信号を第1の
加算回路(9)が出力する。そして、差動増幅器(7)
が出力する差信号を第1、第2及び第3のサンプルホー
ルド回路(22),(23)及び(24)に供給する。また、
第1の加算回路(9)が出力する加算信号をタイミング
発生器(21)に供給し、このタイミング発生器(21)が
加算信号から同期信号を検出し、この同期信号に基づい
て第1、第2及び第3のサンプリングパルス信号を形成
し、第1のサンプリングパルス信号を第1のサンプルホ
ールド回路(22)に供給し、第2のサンプリングパルス
信号を第2のサンプルホールド回路(23)に供給し、第
3のサンプリングパルス信号を第3のサンプルホールド
回路(24)に供給する。この第1、第2及び第3のサン
プリングパルス信号は、例えば後述する第7図Cに示す
如き信号である。そして、第2のサンプルホールド回路
(23)の出力信号と第3のサンプルホールド回路(24)
の出力信号とを第2の加算回路(25)に供給し、第2の
加算回路(25)の出力信号を1/2分圧器(26)に供給す
る。そして、この1/2分圧器(26)の出力信号と第1の
サンプルホールド回路(22)の出力信号とを減算回路
(20)に供給し、減算回路(20)の出力信号を出力端子
(8)に供給し、この出力端子(8)に得られる信号を
トラッキングエラー信号とする。
である。この第6図において、(6)は2分割光検出器
を示し、この2分割光検出器(6)は2つの光検出部
(6A),(6B)からなっており、この2つの光検出部
(6A),(6B)からの検出出力信号を差動増幅器(7)
に供給してその差信号(トラッキングエラー信号)を差
動増幅器(7)が出力すると共に、この検出出力信号を
第1の加算回路(9)に供給してその加算信号を第1の
加算回路(9)が出力する。そして、差動増幅器(7)
が出力する差信号を第1、第2及び第3のサンプルホー
ルド回路(22),(23)及び(24)に供給する。また、
第1の加算回路(9)が出力する加算信号をタイミング
発生器(21)に供給し、このタイミング発生器(21)が
加算信号から同期信号を検出し、この同期信号に基づい
て第1、第2及び第3のサンプリングパルス信号を形成
し、第1のサンプリングパルス信号を第1のサンプルホ
ールド回路(22)に供給し、第2のサンプリングパルス
信号を第2のサンプルホールド回路(23)に供給し、第
3のサンプリングパルス信号を第3のサンプルホールド
回路(24)に供給する。この第1、第2及び第3のサン
プリングパルス信号は、例えば後述する第7図Cに示す
如き信号である。そして、第2のサンプルホールド回路
(23)の出力信号と第3のサンプルホールド回路(24)
の出力信号とを第2の加算回路(25)に供給し、第2の
加算回路(25)の出力信号を1/2分圧器(26)に供給す
る。そして、この1/2分圧器(26)の出力信号と第1の
サンプルホールド回路(22)の出力信号とを減算回路
(20)に供給し、減算回路(20)の出力信号を出力端子
(8)に供給し、この出力端子(8)に得られる信号を
トラッキングエラー信号とする。
次に、本例の装置にてトラッキングエラー信号を得る光
ディスク(5)の各トラックの構成について説明する。
この光ディスク(5)は、上述の第1の実施例と同様
に、第2図に示す如く各トラックが例えば1000個のサン
プルサーボエリアSAと1000個のサンプルサーボ及びデー
タエリアSBとに分かれている。そして、各トラックの具
体的構成は、トラックが直線であるとすると第7図Aに
示す如く、1トラックピックPごとにサンプルサーボ及
びデータエリアSBの全区間にプリグルーブgを設ける。
このプリグルーブgは、上述の半導体レーザ素子(1)
の発散レーザビームの波長をλとすると、λ/8の深さと
する。そして、サンプルサーボエリアSAは、最初から順
にクロックピットC、第1のウォブルピットwA、第2の
ウォブルピットwBを設ける。このクロックピットC、第
1のウォブルピットwA及び第2のウォブルピットwBは、
1トラックピッチPの半分だけプリグルーブgとラジア
ル方向にずらして形成する。そして、クロックピットc
の深さはλ/4とし、第1及び第2のウォブルピットwA及
びwBの深さはλ/8とする。そして、サンプルサーボ及び
データエリアSBの隣接しあうプリグルーブgの間の領域
をランドlとし、このランドlにレーザビームを照射し
て磁気を反転させることによりデータの記録が行なわれ
る。
ディスク(5)の各トラックの構成について説明する。
この光ディスク(5)は、上述の第1の実施例と同様
に、第2図に示す如く各トラックが例えば1000個のサン
プルサーボエリアSAと1000個のサンプルサーボ及びデー
タエリアSBとに分かれている。そして、各トラックの具
体的構成は、トラックが直線であるとすると第7図Aに
示す如く、1トラックピックPごとにサンプルサーボ及
びデータエリアSBの全区間にプリグルーブgを設ける。
このプリグルーブgは、上述の半導体レーザ素子(1)
の発散レーザビームの波長をλとすると、λ/8の深さと
する。そして、サンプルサーボエリアSAは、最初から順
にクロックピットC、第1のウォブルピットwA、第2の
ウォブルピットwBを設ける。このクロックピットC、第
1のウォブルピットwA及び第2のウォブルピットwBは、
1トラックピッチPの半分だけプリグルーブgとラジア
ル方向にずらして形成する。そして、クロックピットc
の深さはλ/4とし、第1及び第2のウォブルピットwA及
びwBの深さはλ/8とする。そして、サンプルサーボ及び
データエリアSBの隣接しあうプリグルーブgの間の領域
をランドlとし、このランドlにレーザビームを照射し
て磁気を反転させることによりデータの記録が行なわれ
る。
このようにして構成されるプリグルーブgと第1及び第
2のウォブルピットwA及びwBとクロックピットcの書き
込みは、例えば第8図に示す如く、1本のレーザビーム
を振り分けて行なう。即ち、例えばプリグルーブgを中
心とすると、このプリグルーブgから1トラックピッチ
Pの半分の間隔Qだけ一方のラジアル方向にずらしてク
ロックピットcと第2のウォブルピットwBを形成し、プ
リグルーブgから間隔Qだけ他方のラジアル方向にずら
して第1のウォブルピットwAを形成する。このようにす
ることにより同一ビームにより書き込んだ第1のウォブ
ルピットwAとプリグルーブgと第2のウォブルピットwB
とが正確に上述の間隔Qごとに形成される。
2のウォブルピットwA及びwBとクロックピットcの書き
込みは、例えば第8図に示す如く、1本のレーザビーム
を振り分けて行なう。即ち、例えばプリグルーブgを中
心とすると、このプリグルーブgから1トラックピッチ
Pの半分の間隔Qだけ一方のラジアル方向にずらしてク
ロックピットcと第2のウォブルピットwBを形成し、プ
リグルーブgから間隔Qだけ他方のラジアル方向にずら
して第1のウォブルピットwAを形成する。このようにす
ることにより同一ビームにより書き込んだ第1のウォブ
ルピットwAとプリグルーブgと第2のウォブルピットwB
とが正確に上述の間隔Qごとに形成される。
このようにして1本のレーザビームでの書き込みを繰り
返し行なうことで、第7図Aに示す如く、トラックが複
数本連続して形成される。即ち、ディスク(5)上に
は、例えば1回目のビームで書き込んだプリグルーブg1
及び第1のウォブルピットwA1に隣接して2回目のビー
ムで書き込んだプリグルーブg2及び第1、第2のウォブ
ルピットwA2,wB2が形成され、このようにして順次複数
トラックが形成される。
返し行なうことで、第7図Aに示す如く、トラックが複
数本連続して形成される。即ち、ディスク(5)上に
は、例えば1回目のビームで書き込んだプリグルーブg1
及び第1のウォブルピットwA1に隣接して2回目のビー
ムで書き込んだプリグルーブg2及び第1、第2のウォブ
ルピットwA2,wB2が形成され、このようにして順次複数
トラックが形成される。
次に、このようにして形成されたトラックで第6図例の
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子(1)からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク(5)の所定トラックに照射し、
この照射が完全に所定トラックの中央即ち、隣接するプ
リグルーブg間の中央tCを走査したとすると、この照射
により得られる反射ビームの入射による2分割光検出器
(6)の出力信号電圧は、第7図Bに示す如き状態とな
る。即ち、この第7図Bは2つの光検出部(6A),(6
B)の出力信号を加算したもので、サンプルサーボ及び
データエリアSBでは、ランドlの両側のプリグルーブg
によりウォブルピットwBの後端からサンプルサーボ及び
データエリアSBの始端迄の出力が最大出力となり、この
最大出力よりわずかに少ない出力信号となる。また、サ
ンプルサーボエリアSAでは、最初のクロックピットcの
区間ではほとんど出力信号がなく、第1及び第2のウォ
ブルピットwA及びwBの区間では最大出力の略半分の出力
信号が得られる。ここで、夫々のサンプルホールド回路
(22),(23),(24)のサンプリングするタイミング
は第7図Cに示す如く、第1のサンプルホールド回路
(22)がサンプリングパルス信号p1によりサンプルサー
ボ及びデータエリアSBの期間全体に亘ってゲートを開
き、第2のサンプルホールド回路(23)がサンプリング
パルス信号p2によりサンプルサーボエリアSAの第1のウ
ォブルピットwAの走査時(第7図Aのビームスポットb2
のとき)ゲートを開き、第3のサンプルホールド回路
(24)がサンプリングパルス信号p3によりサンプルサー
ボエリアSAの第2のウォブルピットwBの走査時(第7図
Aのビームスポットb3のとき)ゲートを開く。このよう
にして夫々のサンプルホールド回路(22),(23),
(24)がサンプリングを行なうことにより、第1のサン
プルホールド回路(22)の出力信号は差動増幅器(7)
を介したサンプルサーボ及びデータエリアSBの区間のト
ラッキングエラー信号となり、第2のサンプルホールド
回路(23)の出力信号は差動増幅器(7)を介した第1
のウォブルピットwA走査時のトラッキングエラー信号と
なり、第3のサンプルホールド回路(24)の出力信号は
差動増幅器(7)を介した第2のウォブルピットwB走査
時のトラッキングエラー信号となる。このため、第2の
サンプルホールド回路(23)の出力信号と第3のサンプ
ルホールド回路(24)の出力信号とを第2の加算回路
(25)により加算した後、1/2分圧器(26)により1/2に
分圧することで双方の出力信号の平均値をとることが出
来、この平均値をとることで本当のトラックの中央tCを
示す信号となる。そして、ビームスポットが各トラック
の中央tCを走査しているときには、この1/2分圧器(2
6)の出力信号と第1のサンプルホールド回路(22)の
出力信号は逆相になり、双方の出力信号を減算回路(2
0)により減算した信号は0となり、このトラッキング
がとれていることを示す減算信号が出力端子(8)に供
給される。また、中央tCからラジアル方向にずれて走査
しているときにはずれに応じたトラッキングエラー信号
が出力端子(8)に供給される。
装置が行なうトラッキングについて説明する。まず、半
導体レーザ素子(1)からの波長λのレーザビームの光
スポットを光ディスク(5)の所定トラックに照射し、
この照射が完全に所定トラックの中央即ち、隣接するプ
リグルーブg間の中央tCを走査したとすると、この照射
により得られる反射ビームの入射による2分割光検出器
(6)の出力信号電圧は、第7図Bに示す如き状態とな
る。即ち、この第7図Bは2つの光検出部(6A),(6
B)の出力信号を加算したもので、サンプルサーボ及び
データエリアSBでは、ランドlの両側のプリグルーブg
によりウォブルピットwBの後端からサンプルサーボ及び
データエリアSBの始端迄の出力が最大出力となり、この
最大出力よりわずかに少ない出力信号となる。また、サ
ンプルサーボエリアSAでは、最初のクロックピットcの
区間ではほとんど出力信号がなく、第1及び第2のウォ
ブルピットwA及びwBの区間では最大出力の略半分の出力
信号が得られる。ここで、夫々のサンプルホールド回路
(22),(23),(24)のサンプリングするタイミング
は第7図Cに示す如く、第1のサンプルホールド回路
(22)がサンプリングパルス信号p1によりサンプルサー
ボ及びデータエリアSBの期間全体に亘ってゲートを開
き、第2のサンプルホールド回路(23)がサンプリング
パルス信号p2によりサンプルサーボエリアSAの第1のウ
ォブルピットwAの走査時(第7図Aのビームスポットb2
のとき)ゲートを開き、第3のサンプルホールド回路
(24)がサンプリングパルス信号p3によりサンプルサー
ボエリアSAの第2のウォブルピットwBの走査時(第7図
Aのビームスポットb3のとき)ゲートを開く。このよう
にして夫々のサンプルホールド回路(22),(23),
(24)がサンプリングを行なうことにより、第1のサン
プルホールド回路(22)の出力信号は差動増幅器(7)
を介したサンプルサーボ及びデータエリアSBの区間のト
ラッキングエラー信号となり、第2のサンプルホールド
回路(23)の出力信号は差動増幅器(7)を介した第1
のウォブルピットwA走査時のトラッキングエラー信号と
なり、第3のサンプルホールド回路(24)の出力信号は
差動増幅器(7)を介した第2のウォブルピットwB走査
時のトラッキングエラー信号となる。このため、第2の
サンプルホールド回路(23)の出力信号と第3のサンプ
ルホールド回路(24)の出力信号とを第2の加算回路
(25)により加算した後、1/2分圧器(26)により1/2に
分圧することで双方の出力信号の平均値をとることが出
来、この平均値をとることで本当のトラックの中央tCを
示す信号となる。そして、ビームスポットが各トラック
の中央tCを走査しているときには、この1/2分圧器(2
6)の出力信号と第1のサンプルホールド回路(22)の
出力信号は逆相になり、双方の出力信号を減算回路(2
0)により減算した信号は0となり、このトラッキング
がとれていることを示す減算信号が出力端子(8)に供
給される。また、中央tCからラジアル方向にずれて走査
しているときにはずれに応じたトラッキングエラー信号
が出力端子(8)に供給される。
次に、この出力端子(8)に得られるトラッキングエラ
ー信号が全く直流変動がないことを、数式を用いて説明
しよう。
ー信号が全く直流変動がないことを、数式を用いて説明
しよう。
まず、第1のサンプルホールド回路(22)が出力するト
ラッキングエラー信号TE1、第2のサンプルホールド回
路(23)が出力するトラッキングエラー信号TE2及び第
3のサンプルホールド回路(24)が出力するトラッキン
グエラー信号TE3は、次式のように表わされる。
ラッキングエラー信号TE1、第2のサンプルホールド回
路(23)が出力するトラッキングエラー信号TE2及び第
3のサンプルホールド回路(24)が出力するトラッキン
グエラー信号TE3は、次式のように表わされる。
このため、減算回路(20)の出力信号、即ち出力端子
(8)に得られるトラッキングエラー信号TEは、次式の
ように表わされる。
(8)に得られるトラッキングエラー信号TEは、次式の
ように表わされる。
この式から、第6図の出力端子(8)に得られるトラッ
キングエラー信号には、ΔQ≠0であっても直流変動分
が含まれていないことが分かる。
キングエラー信号には、ΔQ≠0であっても直流変動分
が含まれていないことが分かる。
このようにして直流変動分が含まれないトラッキングエ
ラー信号が得られることにより、上述の第1の実施例と
同様に良好なトラッキングを行ないながらデータの記録
又は再生を行なうことが出来る。
ラー信号が得られることにより、上述の第1の実施例と
同様に良好なトラッキングを行ないながらデータの記録
又は再生を行なうことが出来る。
なお、上述実施例には、サンプルサーボ及びデータエリ
アSBのランドlをデータ記録部としたが、この第2の実
施例においても第9図に示す如く、サンプルサーボ及び
データエリアSBのプリグルーブgをデータ記録部として
もよい。この場合には、例えばクロックピットcをプリ
グルーブgに連続してサンプルサーボエリアSAに設け、
ビームスポットによる走査をプリグルーブgを中心にし
て行なうようにすればよい。この場合にも上述実施例と
同様の作用・効果が得られることは用意に理解出来よ
う。
アSBのランドlをデータ記録部としたが、この第2の実
施例においても第9図に示す如く、サンプルサーボ及び
データエリアSBのプリグルーブgをデータ記録部として
もよい。この場合には、例えばクロックピットcをプリ
グルーブgに連続してサンプルサーボエリアSAに設け、
ビームスポットによる走査をプリグルーブgを中心にし
て行なうようにすればよい。この場合にも上述実施例と
同様の作用・効果が得られることは用意に理解出来よ
う。
さらに、本発明は上述実施例に限らず、本発明の要旨を
逸脱することなく、その他種々の構成が取り得ることは
勿論である。
逸脱することなく、その他種々の構成が取り得ることは
勿論である。
H 発明の効果 本発明光ディスク装置によると、ディスクのスキューや
レンズの位置の変動等があっても常時完全なトラッキン
グエラー信号を得ることができ、このトラッキングエラ
ー信号により良好なトラッキングを行ないながらデータ
の記録又は再生を行なうことかできる利益である。
レンズの位置の変動等があっても常時完全なトラッキン
グエラー信号を得ることができ、このトラッキングエラ
ー信号により良好なトラッキングを行ないながらデータ
の記録又は再生を行なうことかできる利益である。
第1図は本発明光ディスク装置の第1実施例を示す構成
図、第2図〜第5図は夫々第1図例の説明に供する線
図、第6図は本発明の第2実施例を示す構成図、第7図
〜第9図は夫々第6図例の説明に供する線図、第10図〜
第14図は夫々従来のトラッキング制御装置の説明に供す
る線図、第15図は従来のトラッキング制御装置の一例を
示す構成図、第16図〜第18図は夫々第15図例の説明に供
する線図である。 (1)は半導体レーザ素子、(3)はビームスプリッ
タ、(4)はレンズ、(5)は光ディスク、(6)は2
分割光検出器、(6A),(6B)は夫々光検出部である。
図、第2図〜第5図は夫々第1図例の説明に供する線
図、第6図は本発明の第2実施例を示す構成図、第7図
〜第9図は夫々第6図例の説明に供する線図、第10図〜
第14図は夫々従来のトラッキング制御装置の説明に供す
る線図、第15図は従来のトラッキング制御装置の一例を
示す構成図、第16図〜第18図は夫々第15図例の説明に供
する線図である。 (1)は半導体レーザ素子、(3)はビームスプリッ
タ、(4)はレンズ、(5)は光ディスク、(6)は2
分割光検出器、(6A),(6B)は夫々光検出部である。
Claims (1)
- 【請求項1】第1のプリグループと上記第1のプリグル
ープからトラッキング方向に所定間隔離間して形成され
た第2のプリグループとで挟まれたデータ記録エリア
と、 上記第1のプリグループと上記第2のプリグループとの
間に設けられたウォーブルピットとから構成されるサン
プルサーボエリアを備えてなる光ディスクを記録もしく
は再生する光ディスク装置であって、 上記光ディスクに照射した光の反射光を検知するトラッ
ク方向に2分割された検知手段と、 上記検知手段の各検知出力を加算して再生信号を生成す
る加算手段と、 上記2分割された検知手段の各々の検知出力を減算する
減算手段と、 上記加算手段からの加算出力に基づいて上記データエリ
アに対応する第1のサンプリングパルスと上記サンプル
サーボエリアに対応する第2のサンプリングパルスと発
生するタイミング発生手段と、 上記減算手段から減算結果を上記第1のサンプリングパ
ルスでサンプルホールドする第1のサンプルホールド手
段と、 上記減算手段からの減算結果を上記第2のサンプリング
パルスでサンプルホールドする第2のサンプルホールド
手段と、 上記第1のサンプルホールド手段と上記第2のサンプル
ホールド手段からの出力信号を減算し、上記減算結果を
トラッキングエラー信号として出力する第2の減算手段
を備えてなる光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61050130A JPH0758550B2 (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61050130A JPH0758550B2 (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 光ディスク装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29791994A Division JP2733026B2 (ja) | 1994-11-07 | 1994-11-07 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62208436A JPS62208436A (ja) | 1987-09-12 |
JPH0758550B2 true JPH0758550B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=12850553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61050130A Expired - Fee Related JPH0758550B2 (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0758550B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2523347B1 (fr) * | 1982-03-12 | 1988-11-04 | Thomson Csf | Support d'information mobile pregrave et dispositif optique de suivi de piste mettant en oeuvre un tel support |
JPH0680535B2 (ja) * | 1982-08-27 | 1994-10-12 | 株式会社日立製作所 | 情報の記録再生方法 |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP61050130A patent/JPH0758550B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62208436A (ja) | 1987-09-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |