JPH0753049Y2 - フアイバユニツト - Google Patents
フアイバユニツトInfo
- Publication number
- JPH0753049Y2 JPH0753049Y2 JP1987072225U JP7222587U JPH0753049Y2 JP H0753049 Y2 JPH0753049 Y2 JP H0753049Y2 JP 1987072225 U JP1987072225 U JP 1987072225U JP 7222587 U JP7222587 U JP 7222587U JP H0753049 Y2 JPH0753049 Y2 JP H0753049Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat
- tube
- fiber unit
- optical sensor
- high temperature
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Description
【考案の詳細な説明】 [考案の目的] (産業上の利用分野) 本考案は、光ファイバを被う金属製の外被管の熱伝導を
抑制したファイバユニットに関する。
抑制したファイバユニットに関する。
(従来の技術) 従来、被検出部位たる高温処理室内の物品の検出例えば
熱処理直後の食品容器の通過を確認する光センサに用い
られるファイバユニットは、耐寒,耐熱用の光ファイバ
を金属製の可撓管からなる外被管で被った構成で、その
先端部を前記高温処理室の壁部に固定し、基端部を光セ
ンサに接続している。
熱処理直後の食品容器の通過を確認する光センサに用い
られるファイバユニットは、耐寒,耐熱用の光ファイバ
を金属製の可撓管からなる外被管で被った構成で、その
先端部を前記高温処理室の壁部に固定し、基端部を光セ
ンサに接続している。
(考案が解決しようとする問題点) 上述のファイバユニットにおいては、外被管を外力に対
する強度上から金属製としているが、金属製の外被管は
熱伝導率が大であるので、高温処理室の熱が外被管を通
り光センサに伝達されて光センサの温度を上昇させるよ
うになり、光センサの動作特性が変化して検出精度が低
下するという問題がある。
する強度上から金属製としているが、金属製の外被管は
熱伝導率が大であるので、高温処理室の熱が外被管を通
り光センサに伝達されて光センサの温度を上昇させるよ
うになり、光センサの動作特性が変化して検出精度が低
下するという問題がある。
そこで本考案の目的は、外被管の熱伝導を抑制し得、こ
の場合でも外力に対する強度を充分に確保し得るファイ
バユニットを提供するにある。
の場合でも外力に対する強度を充分に確保し得るファイ
バユニットを提供するにある。
[考案の構成] (問題点を解決するための手段) 本考案のファイバユニットは、耐熱性の光ファイバの先
端部を高温あるいは低温の被検出部位に配置すると共に
基端部を電子部品を搭載した検出器に接続して使用する
ものにおいて、前記光ファイバを可撓性を有する金属製
の外被管により被い、この外被管の一部に熱伝導率の低
い材料からなる熱伝導抑制管を用いた構成としたところ
に特徴を有する。
端部を高温あるいは低温の被検出部位に配置すると共に
基端部を電子部品を搭載した検出器に接続して使用する
ものにおいて、前記光ファイバを可撓性を有する金属製
の外被管により被い、この外被管の一部に熱伝導率の低
い材料からなる熱伝導抑制管を用いた構成としたところ
に特徴を有する。
(作用) 本考案のファイバユニットは、外被管の一部の熱伝導抑
制管が熱伝導を抑制し、外被管の残りの金属製部分が外
力に対する強度を確保する。
制管が熱伝導を抑制し、外被管の残りの金属製部分が外
力に対する強度を確保する。
(実施例) 以下、本考案を透過形光センサに適用した一実施例につ
き図面を参照して説明する。
き図面を参照して説明する。
第1図において、1はファイバユニットで、これは耐
寒,耐熱性の光ファイバ(例えば石英ガラスの多芯構
造)2の外周を外被管3により被って構成されている。
この外被管3は、可撓性を有する金属製の第1の管体5
と、可撓性を有する金属製の第2の管体6と、これらの
間に位置し熱伝導率の低い材料例えばシリコンゴムから
形成された熱伝導抑制管7とから構成されており、熱伝
導抑制管7はコネクタ8,8により管体5,6に連結されてい
る。この場合、第1の管体5の長さ寸法は第2の管体6
及び熱伝導抑制管7のそれよりも充分に大となるように
設定されている。そして、管体5及び6の部分の光ファ
イバ2はシリコンチューブ等で被覆されている。
寒,耐熱性の光ファイバ(例えば石英ガラスの多芯構
造)2の外周を外被管3により被って構成されている。
この外被管3は、可撓性を有する金属製の第1の管体5
と、可撓性を有する金属製の第2の管体6と、これらの
間に位置し熱伝導率の低い材料例えばシリコンゴムから
形成された熱伝導抑制管7とから構成されており、熱伝
導抑制管7はコネクタ8,8により管体5,6に連結されてい
る。この場合、第1の管体5の長さ寸法は第2の管体6
及び熱伝導抑制管7のそれよりも充分に大となるように
設定されている。そして、管体5及び6の部分の光ファ
イバ2はシリコンチューブ等で被覆されている。
さて、第2図に示すように、2本のファイバユニット1,
1は、管体5,5の右端部側が検出器たる透過形光センサ9
に接続され、管体6,6側の先端部が夫々対向するように
被検出部位たる高温処理室10内の挿入されて夫々の基部
が高温処理室10の壁部に固定されている。而して、光セ
ンサ9の投光素子から一方のファイバユニット1の光フ
ァイバ2の基端部に投光されると、その光は高温処理室
10内において光ファイバ2の先端部から他方のファイバ
ユニット1の光ファイバ2の先端部に投光され、その光
は光ファイバ2の基端部から光センサ9の受光素子によ
って受光される。従って、高温処理室10内においてファ
イバユニット1,1の先端部間に物品が位置すると、この
物品により光が遮断されて光センサ9の受光信号が変化
するようになり、以て、物品の検出が行なわれる。
1は、管体5,5の右端部側が検出器たる透過形光センサ9
に接続され、管体6,6側の先端部が夫々対向するように
被検出部位たる高温処理室10内の挿入されて夫々の基部
が高温処理室10の壁部に固定されている。而して、光セ
ンサ9の投光素子から一方のファイバユニット1の光フ
ァイバ2の基端部に投光されると、その光は高温処理室
10内において光ファイバ2の先端部から他方のファイバ
ユニット1の光ファイバ2の先端部に投光され、その光
は光ファイバ2の基端部から光センサ9の受光素子によ
って受光される。従って、高温処理室10内においてファ
イバユニット1,1の先端部間に物品が位置すると、この
物品により光が遮断されて光センサ9の受光信号が変化
するようになり、以て、物品の検出が行なわれる。
上記実施例の場合、高温処理室10の熱は第2の管体6,6
に伝達されるが、熱伝導抑制管7,7により抑制されて第
1の管体5,5にはそれほど伝達されない。従って、透過
形光センサ9が高温になることがなく、光センサ9の動
作特性が変化して検出精度が低下するということもな
い。また、光ファイバ2の大部分を第1及び第2の管体
5及び6で被っているので、強度を充分に確保でき、光
ファイバ2が外力により破損する虞もない。
に伝達されるが、熱伝導抑制管7,7により抑制されて第
1の管体5,5にはそれほど伝達されない。従って、透過
形光センサ9が高温になることがなく、光センサ9の動
作特性が変化して検出精度が低下するということもな
い。また、光ファイバ2の大部分を第1及び第2の管体
5及び6で被っているので、強度を充分に確保でき、光
ファイバ2が外力により破損する虞もない。
ところで、高温処理室10としては例えばICハンドラと称
されるIC検査装置の高温部保温室が考えられる。この高
温部保温室は高温度に保温された状態において内部にIC
を収納して各種の特性の検査を行なうのであるが、一般
に高温部保温室は小さく且つ保温能力も小さいので、従
来の様なファイバユニットを用いたのでは、光センサの
検出精度を低下させることは勿論のこと、高温部保温室
の熱がファイバユニットの外被管を介して放散されて熱
損失が大となり高温部保温室の保温効果が損われる問題
がある。これに対して、本実施例の如きファイバユニッ
ト1を用いれば、前述したようにして光センサ9の検出
精度の低下を防止し得、又、熱伝導抑制管7が高温処理
室(高温部保温室)10側に位置して外被管3を介する熱
放散が少なくなるので、熱損失を極力少なくすることが
できる。
されるIC検査装置の高温部保温室が考えられる。この高
温部保温室は高温度に保温された状態において内部にIC
を収納して各種の特性の検査を行なうのであるが、一般
に高温部保温室は小さく且つ保温能力も小さいので、従
来の様なファイバユニットを用いたのでは、光センサの
検出精度を低下させることは勿論のこと、高温部保温室
の熱がファイバユニットの外被管を介して放散されて熱
損失が大となり高温部保温室の保温効果が損われる問題
がある。これに対して、本実施例の如きファイバユニッ
ト1を用いれば、前述したようにして光センサ9の検出
精度の低下を防止し得、又、熱伝導抑制管7が高温処理
室(高温部保温室)10側に位置して外被管3を介する熱
放散が少なくなるので、熱損失を極力少なくすることが
できる。
又、被検出部位としては高温処理室10の代りに例えばIC
検査装置の低温部保冷室も考えられる。この低温部保冷
室は低温度に保冷された状態において内部にICを収納し
て各種の特性の検査を行なうのであるが、この場合にも
一般に低温部保冷室は小さく且つ保冷能力も小さいの
で、従来の様なファイバユニットを用いたのでは、光セ
ンサの熱がファイバユニットの外被管を介して低温部保
冷室に伝達され、結果として光センサ側の温度を必要以
上に低下させることになって光センサの検出精度が低く
なる問題が生じ、又、光センサ側の熱が低温部保冷室に
伝達されることにより低温部保冷室が熱を吸収して熱損
失が大となり、低温部保冷室の保冷効果が損われる問題
がある。これに対して、本実施例のファイバユニット1
を用いれば、熱伝達を抑制し得ることから上述したよう
な問題を解消することができる。
検査装置の低温部保冷室も考えられる。この低温部保冷
室は低温度に保冷された状態において内部にICを収納し
て各種の特性の検査を行なうのであるが、この場合にも
一般に低温部保冷室は小さく且つ保冷能力も小さいの
で、従来の様なファイバユニットを用いたのでは、光セ
ンサの熱がファイバユニットの外被管を介して低温部保
冷室に伝達され、結果として光センサ側の温度を必要以
上に低下させることになって光センサの検出精度が低く
なる問題が生じ、又、光センサ側の熱が低温部保冷室に
伝達されることにより低温部保冷室が熱を吸収して熱損
失が大となり、低温部保冷室の保冷効果が損われる問題
がある。これに対して、本実施例のファイバユニット1
を用いれば、熱伝達を抑制し得ることから上述したよう
な問題を解消することができる。
本考案は上記し且つ図面に示す実施例にのみ限定される
ものではなく、例えば、熱伝導抑制管7としてはシリコ
ンゴムに限らずポリエステルエストラマ等の耐熱樹脂で
形成しても良く、又、透過形に限らず反射形の光センサ
に適用しても良い等、要旨を逸脱しない範囲で適宜実施
できる。
ものではなく、例えば、熱伝導抑制管7としてはシリコ
ンゴムに限らずポリエステルエストラマ等の耐熱樹脂で
形成しても良く、又、透過形に限らず反射形の光センサ
に適用しても良い等、要旨を逸脱しない範囲で適宜実施
できる。
[考案の効果] 以上の説明から明らかなように本考案は、光ファイバを
被う可撓性を有する金属製の外被管の一部に熱伝導率の
低い材料からなる熱伝導抑制管を用いたので、外被管に
よる熱伝導を抑制でき、この場合でも外力に対する強度
を充分に確保し得るという効果を奏する。
被う可撓性を有する金属製の外被管の一部に熱伝導率の
低い材料からなる熱伝導抑制管を用いたので、外被管に
よる熱伝導を抑制でき、この場合でも外力に対する強度
を充分に確保し得るという効果を奏する。
図面は本考案を透過形光電スイッチに適用した一実施例
を示すもので、第1図はファイバユニットの縦断面図、
第2図は全体の斜視図である。 図中、1はファイバユニット、2は光ファイバ、3は外
被管、7は熱伝導抑制管、9は光センサ(検出器)、10
は高温処理室(被検出部位)を示す。
を示すもので、第1図はファイバユニットの縦断面図、
第2図は全体の斜視図である。 図中、1はファイバユニット、2は光ファイバ、3は外
被管、7は熱伝導抑制管、9は光センサ(検出器)、10
は高温処理室(被検出部位)を示す。
Claims (1)
- 【請求項1】耐熱性の光ファイバの先端部を高温あるい
は低温の被検出部位に配置すると共に基端部を電子部品
を搭載した検出器に接続して使用するものにおいて、前
記光ファイバを可撓性を有する金属製の外被管により被
い、この外被管の一部に熱伝導率の低い材料からなる熱
伝導抑制管を用いた構成としたことを特徴とするファイ
バユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987072225U JPH0753049Y2 (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | フアイバユニツト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987072225U JPH0753049Y2 (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | フアイバユニツト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63180814U JPS63180814U (ja) | 1988-11-22 |
JPH0753049Y2 true JPH0753049Y2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=30915495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987072225U Expired - Lifetime JPH0753049Y2 (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | フアイバユニツト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0753049Y2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56170817U (ja) * | 1980-05-21 | 1981-12-17 | ||
JPS573210U (ja) * | 1980-06-04 | 1982-01-08 | ||
JPS5735805A (en) * | 1980-08-13 | 1982-02-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Submarine optical cable |
JPH0746897Y2 (ja) * | 1985-05-27 | 1995-10-25 | 三菱電線工業株式会社 | 光フアイバスコ−プ |
-
1987
- 1987-05-14 JP JP1987072225U patent/JPH0753049Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63180814U (ja) | 1988-11-22 |
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