JPH0745853A - 光起電力装置及びその製造方法 - Google Patents

光起電力装置及びその製造方法

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JPH0745853A
JPH0745853A JP5187939A JP18793993A JPH0745853A JP H0745853 A JPH0745853 A JP H0745853A JP 5187939 A JP5187939 A JP 5187939A JP 18793993 A JP18793993 A JP 18793993A JP H0745853 A JPH0745853 A JP H0745853A
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photoelectric conversion
substrate
layers
type semiconductor
semiconductor layer
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Tatsuya Kura
達哉 倉
Seiichi Kiyama
精一 木山
Keisho Yamamoto
恵章 山本
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡易な構造で、かつ微小面積の光起電力素子
を接続することのできる光起電力装置及びその製造方法
を得る。 【構成】 レーザー照射等により部分的に除去加工して
複数の光電変換層10a,10bを形成し、隣接する光
電変換層10a,10bの対向する側面部を覆うように
レーザー照射による光CVD法で絶縁膜5を形成し、絶
縁膜5の上を通り光電変換層10aのn型半導体層3a
と光電変換層10bのp型半導体層2bを接続するよう
にレーザー照射による光CVD法等で導電性膜7を形成
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光起電力装置及びその
製造方法に関するものであり、特に、光起電力素子のユ
ニットを直列に接続するモジュール構造の改造に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】図13は、従来の光起電力装置における
モジュール構造の一例を示す断面図である。基板1上に
複数に分割された光起電力素子3が設けられており、基
板1と光起電力素子3の間には電極膜2が設けられ、光
起電力素子3の上には電極膜4が設けられている。隣接
する光起電力素子3間においては、電極膜4と電極膜2
の間をワイヤー5で接続することによって光起電力素子
3を直列に接続している。
【0003】図14は、従来の光起電力装置における他
のモジュール構造を示す側面図である。図14を参照し
て、この光起電力装置では、光起電力素子の一端に電極
9を設け、光起電力素子6の他方端と光起電力素子7の
一方端を接続し、光起電力素子7の他方端と光起電力素
子8の一方端を接触させ、光起電力素子8の他方端に電
極10を形成し、これによって光起電力素子6,7,8
を直列に接続している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光起電力装置では、電極間のワイヤーボンデ
ィングや光起電力素子の端部の接触固定等、製造工程が
複雑であるという問題があった。
【0005】さらに、一定の面積で高電圧の電力を発電
するためには、微小面積の光起電力素子を多数直列に接
続することが必要となるが、従来の接続構造では、この
ような微小面積の光起電力素子の接続が困難であるとい
う問題があった。
【0006】本発明の目的は、このような従来の問題点
を解消し、簡易なモジュール接続構造を有し、かつ微小
面積の光起電力素子を接続することのできる光起電力装
置及びその製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の光起電力装置
は、基板と、基板上に複数に分割して設けられる一導電
型半導体層及び他導電型半導体層を有する光電変換層で
あり隣接する光電変換層の対向する側面部が基板側に向
かうにつれて互いに近づく方向に傾斜している光電変換
層と、隣接する光電変換層の対向する側面部の一方及び
隣接する光電変換層の間の基板上を覆う絶縁膜と、絶縁
膜の上を通り、隣接する光電変換層の一方の一導電型半
導体層と他方の他導電型半導体層とを電気的に接続する
ように設けられる導電性膜とを備えることを特徴として
いる。
【0008】本発明の製造方法は、上記光起電力装置を
製造することのできる方法であり、基板上に一導電型半
導体層及び他導電型半導体層を有する光電変換層を設け
る工程と、レーザー照射により光電変換層を部分的に除
去加工して複数に分割し、かつ隣接する光電変換層の対
向する側面部が基板側に向かうにつれて互いに近づく方
向に傾斜するように除去加工する工程と、分割された光
電変換層の隣接する光電変換層間において対向する側面
部の一方及び隣接する光電変換層の間の基板上を覆うよ
うにレーザー照射による光CVD法で絶縁膜を形成する
工程と、絶縁膜の上を通り隣接する光電変換層の一方の
一導電型半導体層と他方の他導電型半導体層と電気的に
接続するようにレーザー照射による光CVD法で導電性
膜を形成する工程とを備えることを特徴としている。
【0009】本発明において、光電変換層を構成する半
導体は、非晶質、多結晶、及び単結晶の何れの形態のも
のでもよく、材質としてはシリコン及びGaAs等の化
合物半導体を用いることができる。
【0010】
【作用】本発明の光起電力装置においては、隣接する光
電変換層の対向する側面部の一方及び隣接する光電変換
層の間の基板上を覆うように絶縁膜を形成し、この絶縁
膜の上を通り、隣接する光電変換層の一方の一導電型半
導体層と他方の他導電型半導体層とを電気的に接続する
ように導電性膜を形成している。本発明に従えば、絶縁
膜と導電性膜の形成により隣接する光電変換層を直列に
接続することができ、この絶縁膜及び導電性膜は微小な
領域に形成することができるので、微小面積の光電変換
層であっても、これらの光電変換層を簡易な構造で接続
することができる。
【0011】また、本発明に従えば、隣接する光電変換
層の間の基板上にも絶縁膜が形成されているので、光電
変換層と基板との間でのリーク電流の発生を防止するこ
とができる。
【0012】本発明の製造方法に従えば、レーザー照射
により光電変換層を部分的に除去加工して複数に分割
し、隣接する光電変換層において対向する側面部の一方
及び隣接する光電変換層の間の基板上を覆うようにレー
ザー照射による光CVD法で絶縁膜を形成し、形成した
絶縁膜の上を通り、隣接する光電変換層の一方の一導電
型半導体層と他方の他導電型半導体層とを電気的に接続
するように導電性膜をレーザー照射による光CVD法で
形成している。本発明に従えば、光電変換層の分割、絶
縁膜の形成及び導電性膜の形成を全てレーザー照射によ
り行っており、レーザー照射の雰囲気を切り換えること
により、これら全てのプロセスを連続して行うことがで
きる。
【0013】本発明において形成する絶縁膜としては、
SiO2 及びAl2 3 等を挙げることができる。これ
らの絶縁膜をレーザー照射による光CVD法で形成する
場合、例えば、表1に示すような条件で形成させること
ができる。
【0014】
【表1】
【0015】また、導電性膜をレーザー照射による光C
VD法で形成する場合、例えば、表2に示すような光源
及び原料ガスを用いることができる。
【0016】
【表2】
【0017】なお、本発明の光起電力装置は、本発明の
製造方法により製造されるものに限定されるものではな
いことをここに明らかにしておく。すなわち、本発明の
光起電力装置において、複数に分割して設けられる光電
変換層は、レーザー照射により部分的に除去加工して分
割されたものに限定されるものではなく、例えば、その
他の物理的または化学的エッチングにより除去加工され
分割されたものでもよいし、光電変換層の形成の際に選
択的に複数に分割して形成させたようなものであっても
よい。また、絶縁膜及び導電性膜は、レーザー照射によ
る光CVD法で形成されたものに限定されるものではな
く、例えば、マスクやレジスト等を用いた薄膜形成法に
より形成させたものでもよい。
【0018】
【実施例】図1は、本発明に従う実施例の光起電力装置
の一例を示す断面図である。図1を参照して、基板1の
上には、p型半導体層2a上にn型半導体層3aを積層
した光電変換層10aと、p型半導体層2b上にn型半
導体層3bを積層した光電変換層10bが隣接して設け
られている。p型半導体層2a,2b及びn型半導体層
3a,3bは、ともに、p型半導体層に、表面からドー
パントを拡散することによりn層を形成し、これによっ
てpn接合を形成させたものである。光電変換層10a
及び光電変換層10bの対向する側面部は、基板1側に
向かうにつれて互いに近づく方向に傾斜している。光電
変換層10aの側面部を覆うようにSiO2 からなる絶
縁膜5が形成されている。この絶縁膜5の下方端は基板
1上を被覆し、さらに隣接する光電変換層10bのp型
半導体層2bの下方部分にまで延びている。このように
絶縁膜5によって光電変換層10a,10b間の基板1
上を覆うことにより、リーク電流の発生が防止される。
【0019】絶縁膜5の上を通り、Alからなる導電性
膜7が光電変換層10aのn型半導体層3aと、光電変
換層10bのp型半導体層2bとを電気的に接続するよ
うに形成されている。この導電性膜7によって、隣接す
る光電変換層10a,10bが直列に接続されたモジュ
ール構造が形成されている。
【0020】以下、図1に示す実施例の光電変換装置を
製造する実施例について説明する。図2を参照して、ま
ず基板1上に例えばシリコンからなるp型半導体層を形
成する。p型半導体層の厚みとしては、例えば、0.1
〜1mm程度となるように形成する。次に、ドーパント
の拡散により、例えば、厚さ1μm以下のn型半導体層
3を形成する。これによってp型半導体層2とn型半導
体層3が接合した光電変換層10が形成される。なお、
基板1としては、例えば、SUSステンレス等の金属基
板、ガラスや石英等の透明基板、及びポリマー等からな
る樹脂基板を用いることができる。ガラス基板の場合、
例えば、厚み1〜3mmのものが用いられる。また金属
基板や樹脂基板の場合には、例えば、厚さ0.01〜1
mmのものを用い、フレキシブルな基板とすることがで
きる。
【0021】図3を参照して、次にレーザービーム4を
照射して、光電変換層を部分的に除去し、光電変換層1
0a及び10bに分割する。光電変換層10aは、p型
半導体層2a及びn型半導体層3aから構成され、光電
変換層10bはp型半導体層2b及びn型半導体層3b
から構成される。レーザービーム4としては、例えば波
長0.6μm以下、エネルギー密度0.01〜10J/
cm2 のレーザービームが用いられる。この実施例で
は、レーザービーム用としてArFエキシマレーザー
(波長193nm、エネルギー10J/cm2 、パルス
幅30nsec)を用いた。レーザービーム4のビーム
強度分布を、台形状のプロファイルとし、中央部の強度
を周辺部より高めることにより、図3に示すように光電
変換層10a,10bの対向する側面部が傾斜面を形成
するように除去加工した。また、このように傾斜面を形
成する方法としては、化学的なレーザーエッチングを用
いてもよい。
【0022】図4を参照して、次に、光電変換層10a
の側面部に絶縁膜5を形成した。絶縁膜5の形成は、レ
ーザービーム6の照射による光CVD法を用いた。図4
に示すように、絶縁膜5の上方端部が光電変換層10a
の側面部の上方部を覆い、下方端部が光電変換層10
a,10bの間の基板1上を覆いかつ光電変換層10b
のp型半導体層2bの下方部を覆うように、レーザービ
ーム6を選択的に照射し、絶縁膜5を形成した。レーザ
ービーム6の照射は、SiH4 +N2 Oガス雰囲気中で
行い、レーザービーム6としてはArFエキシマレーザ
ーを用い、絶縁膜5としてSiO2 薄膜を形成した。
【0023】図5を参照して、次に、レーザービーム8
の照射により導電性膜7を光CVD法により形成した。
導電性膜7の上方端が光電変換層10aのn型半導体層
3aの上端面に接触し、下方端が光電変換層10bのp
型半導体層2bに接触するような領域に選択的にレーザ
ービーム8を照射し、Alからなる導電性膜7を形成し
た。レーザービーム8の照射は、Al(CH3 3 ガス
雰囲気中で行い、レーザービーム8としはArFエキシ
マレーザーを照射した。
【0024】レーザービーム照射による光CVD法にお
いては、レーザービームのエネルギー密度は3J/cm
2 以下が一般的であり、この実施例では0.1〜1J/
cm 2 のエネルギー密度とした。
【0025】以上のようにして、図1に示す構造の光起
電力装置を製造することができる。図1〜図5に示す実
施例においては、集電極が形成されていない構造となっ
ている。これは、通常キャリアの移動距離が0.1〜5
mm程度であるため、微小な面積に分割された光電変換
層に本発明に従う構造を適用すれば、集電極等が不要と
なるからである。
【0026】図6は、このような微小面積の光電変換層
を有する光起電力装置の一例を示す斜視図である。図6
を参照して、光電変換層10aと光電変換層10bの間
にはこれらを接続するための導電性膜が設けられる。図
6において、ハッチングで示された領域は、導電性膜が
形成される導電性膜形成領域9a,9bである。このよ
うな光起電力装置のサイズの一例としては、光電変換層
の上端面の幅0.1mm〜4mm程度、下端面の幅0.
1〜5mm程度、高さ0.1〜1mm程度、光電変換層
間の下端部における距離0.1mm程度が挙げられる。
また導電性膜形成領域9a,9b間の距離は、キャリア
移動距離の2倍とすれば、光電変換層の全面積をほぼカ
バーすることができる。キャリア移動距離は、上述のよ
うに0.1〜5mm程度であるので、導電性膜形成領域
9a,9b間の距離は0.2〜10mm程度とすればよ
い。
【0027】本発明に従えば、以上のように微小面積の
セルを直列接続することができる。従って、後述するよ
うなマイクロマシンの光起電力装置として好適なもので
ある。また、広い面積を有するセルを多数に分割し、分
割したセルを直列に接続して高電圧を取り出す光起電力
装置としても適した構造である。例えば、支持板上に載
せたシリコンウエハにドーパント拡散法や薄膜形成法等
によりpn接合を形成して光電変換層とし、これをレー
ザービーム等によって複数に分割し、分割した光電変換
層を本発明に従って直列に接続したような構造の光起電
力装置とすることができる。
【0028】図7は、マイクロマシンに用いられる本発
明に従う光起電力装置を示す斜視図である。図7を参照
して、ポリイミドなどの可撓性基板20の上に複数の光
起電力素子21が分割して設けられている。図7に示す
光起電力素子は、可撓性基板20の部分で曲げて円錐台
形状にし、図8に示すようにマイクロマシン22の頭部
に載置することができ、マイクロマシン用の光起電力装
置とすることができる。
【0029】以下、このマイクロマシン用の光起電力装
置の製造工程の一例について説明する。まず、図9に示
すようなポリイミド等の樹脂フィルムからなる基板31
を用意し、この上に結晶系のp型半導体を設け、これに
ドーパントを拡散させることにより、n型半導体層を形
成して、図10に示すように基板31の上に、p型半導
体層32及びn型半導体層33からなる光起電力素子3
4が設けられた構造とする。
【0030】図11を参照して、次に、レーザービーム
照射により光起電力素子を複数に分割する。分割された
光起電力素子34a,34bは、それぞれp型半導体層
32a,32b及びn型半導体層33a,33bから構
成される。
【0031】次に、上述の実施例と同様にしてレーザー
ビーム照射による光CVD法により、光起電力素子34
a,34b間に、絶縁膜及び導電性膜を順次形成する。
図12は、光起電力素子34a,34b間に、絶縁膜3
5及び導電性膜37を形成した後、基板31の部分で曲
げマイクロマシンに搭載したときの状態を示す断面図で
ある。
【0032】なお、この実施例ではマイクロマシンへの
搭載前に各光起電力素子間に絶縁膜及び導電性膜を形成
し電気的に接続しているが、マイクロマシンに搭載した
後に、各光起電力素子間に絶縁膜及び導電性膜を形成し
電気的に接続してもよい。
【0033】上記実施例では、光起電力素子に集電極を
形成していない構造のものを例にして説明したが、本発
明は集電極を形成しない構造に限定されるものではな
い。
【0034】
【発明の効果】本発明の光起電力装置は、隣接する光電
変換層の側面部の一方及び隣接する光電変換層の間の基
板上を覆うように絶縁膜を形成し、この絶縁膜の上を通
り一方の光電変換層の一導電型半導体層と他方の光電変
換層の他導電型半導体層とを電気的に接続するように導
電性膜を形成することによって、光起電力素子となる各
光電変換層を直列に接続している。従って、従来のよう
なワイヤーボンディング等の煩雑な工程が不要となり、
簡易にモジュール接続構造を形成することができる。
【0035】また、本発明の光起電力装置においては、
隣接する光電変換層の間の基板上の部分を絶縁膜で覆っ
ているので、光電変換層と基板との間でのリークの発生
を防止することができる。
【0036】本発明の製造方法に従えば、レーザービー
ム照射により、光電変換層を複数に分割し、隣接する光
電変換層の対向する側面部が基板側に向かうにつれて互
いに近づく方向に傾斜するように除去加工している。こ
のように光電変換層の側面部を傾斜させているので、次
の工程において絶縁膜及び導電性膜をレーザービーム照
射による光CVD法で形成させることができる。このた
め、本発明の製造方法に従えば、レーザービーム照射に
より、光電変換層の分割、及び絶縁膜と導電性膜の形成
を行うことができる。従って、レーザービーム照射の雰
囲気を切り換えることにより、連続してこれらの工程を
行うことができ、生産性良く製造することができる。ま
たレーザービーム照射により選択的に絶縁膜及び導電性
膜を形成させるものであるため、微小面積の光電変換層
の接続にも適用させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に従う一実施例を示す断面図。
【図2】基板上に光電変換層を形成した状態を示す断面
図。
【図3】光電変換層にレーザービームを照射し分割した
状態を示す断面図。
【図4】隣接する光電変換層間に絶縁膜を形成した状態
を示す断面図。
【図5】隣接する光電変換層間に導電性膜を形成した状
態を示す断面図。
【図6】微小面積の光起電力素子間を本発明に従い接続
する実施例を示す斜視図。
【図7】マイクロマシン用の光起電力素子を示す斜視
図。
【図8】図7に示す光起電力素子をマイクロマシンに搭
載した状態を示す斜視図。
【図9】図7に示す光起電力装置に用いる基板を示す断
面図。
【図10】基板上に光起電力素子を形成した状態を示す
断面図。
【図11】基板上の光起電力素子をレーザー照射により
分割した状態を示す断面図。
【図12】図11に示す光起電力装置をマイクロマシン
に搭載した後、各光起電力素子間を本発明に従い接続し
た状態を示す断面図。
【図13】従来の光起電力素子のモジュール接続構造の
一例を示す断面図。
【図14】従来の光起電力素子のモジュール接続構造の
他の例を示す側面図。
【符号の説明】
1…基板 2,2a,2b…p型半導体層 3,3a,3b…n型半導体層 4,6,8…レーザービーム 5…絶縁膜 7…導電性膜 9a,9b…導電性膜形成領域 10,10a,10b…光電変換層 20…基板 21…光起電力素子 22…マイクロマシン 31…基板 32,32a,32b…p型半導体層 33,33a,33b…n型半導体層 34,33a,34b…光電変換層 35…絶縁膜 37…導電性膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と;前記基板上に複数に分割して設
    けられる、一導電型半導体層及び他導電型半導体層を有
    する光電変換層であり、隣接する光電変換層の対向する
    側面部が基板側に向かうにつれて互いに近づく方向に傾
    斜している光電変換層と;前記隣接する光電変換層の対
    向する側面部の一方及び隣接する光電変換層の間の基板
    上を覆う絶縁膜と;前記絶縁膜の上を通り、前記隣接す
    る光電変換層の一方の一導電型半導体層と他方の他導電
    型半導体層とを電気的に接続するように設けられる導電
    性膜とを備える、光起電力装置。
  2. 【請求項2】 光起電力装置を製造する方法であって;
    基板上に一導電型半導体層及び他導電型半導体層を有す
    る光電変換層を設ける工程と;レーザー照射により前記
    光電変換層を部分的に除去加工して複数に分割し、かつ
    隣接する光電変換層の対向する側面部が基板側に向かう
    につれて互いに近づく方向に傾斜するように除去加工す
    る工程と;前記分割された光電変換層の隣接する光電変
    換層間において対向する側面部の一方及び隣接する光電
    変換層の間の基板上を覆うようにレーザー照射による光
    CVD法で絶縁膜を形成する工程と;前記絶縁膜の上を
    通り、前記隣接する光電変換層の一方の一導電型半導体
    層と他方の他導電型半導体層を電気的に接続するように
    レーザー照射による光CVD法で導電性膜を形成する工
    程とを備える、光起電力装置の製造方法。
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