JPH074351B2 - Ｎｍｒスペクトル測定方法 - Google Patents
Ｎｍｒスペクトル測定方法Info
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- JPH074351B2 JPH074351B2 JP61183522A JP18352286A JPH074351B2 JP H074351 B2 JPH074351 B2 JP H074351B2 JP 61183522 A JP61183522 A JP 61183522A JP 18352286 A JP18352286 A JP 18352286A JP H074351 B2 JPH074351 B2 JP H074351B2
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、物体の選択された容積内のスピン共鳴信号の
周波数を測定する方法であって、この容積を均一な静磁
界内に置き、勾配磁界が存在する下で高周波電磁パルス
により励起し、スピン共鳴信号、所謂FID信号を得、こ
れから当該容積内に存在するスピンの周波数スペクトル
を導き出すNMRスペクトル測定方法に関するものであ
る。
周波数を測定する方法であって、この容積を均一な静磁
界内に置き、勾配磁界が存在する下で高周波電磁パルス
により励起し、スピン共鳴信号、所謂FID信号を得、こ
れから当該容積内に存在するスピンの周波数スペクトル
を導き出すNMRスペクトル測定方法に関するものであ
る。
このような方法は既知であり、例えば、「ジャーナル
オブ マグネティック レゾナンス」56巻350〜354頁
（1984年）にのっているダブリュー・ピー・アウエ（W.
P.Aue）他の論文に記載されている。この記載された方
法によれば、勾配磁界を順次にｘ方向、ｙ方向およびｚ
方向に印加し、このような勾配磁界の存在する所で毎回
合成高周波パルスを発生する。各合成高周波パルスは選
択性の45゜パルス、広帯域90゜パルスおよび選択性の45
゜パルスを具える。これらの３個の合成パルスの後に、
印加された勾配磁界の勾配の強さ、均一な磁界の強さお
よび選択性のパルスの周波数により決まる副容積がｚ方
向に負の磁化をとる。別の90゜パルス（広帯域、非選択
性）の後、選択された容積内の物質の正確なスペクトル
が測定すべきFID信号から求まる。
オブ マグネティック レゾナンス」56巻350〜354頁
（1984年）にのっているダブリュー・ピー・アウエ（W.
P.Aue）他の論文に記載されている。この記載された方
法によれば、勾配磁界を順次にｘ方向、ｙ方向およびｚ
方向に印加し、このような勾配磁界の存在する所で毎回
合成高周波パルスを発生する。各合成高周波パルスは選
択性の45゜パルス、広帯域90゜パルスおよび選択性の45
゜パルスを具える。これらの３個の合成パルスの後に、
印加された勾配磁界の勾配の強さ、均一な磁界の強さお
よび選択性のパルスの周波数により決まる副容積がｚ方
向に負の磁化をとる。別の90゜パルス（広帯域、非選択
性）の後、選択された容積内の物質の正確なスペクトル
が測定すべきFID信号から求まる。
２個の選択性の45゜パルスは単一の選択性の90゜パルス
と考えられ、この間は非選択性の90゜パルスは発生しな
い。必要な選択性のため勾配磁界を加え、非選択性の90
゜パルスも発生すべきであるから、非選択性の90゜パル
スは非常に大きな帯域幅（即ち、非常に短い）を有し、
僅かな選択性でも除去する必要がある。上述したことは
この非選択性の90゜パルスを発生するための高周波送信
機が非常に高い尖頭電力を必要とし、これは勿論欠点と
なる。
と考えられ、この間は非選択性の90゜パルスは発生しな
い。必要な選択性のため勾配磁界を加え、非選択性の90
゜パルスも発生すべきであるから、非選択性の90゜パル
スは非常に大きな帯域幅（即ち、非常に短い）を有し、
僅かな選択性でも除去する必要がある。上述したことは
この非選択性の90゜パルスを発生するための高周波送信
機が非常に高い尖頭電力を必要とし、これは勿論欠点と
なる。
この既知の方法は、それが種々の励起パルスにより生ず
る磁化の回転の和に基づいているという欠点を有してい
る。全対象物においても、また、対象物の選択された容
積においても、これらのパルスは270゜又は540゜の角度
だけ全スピン回転を行わねばならない。しかし、これは
全く真実ではない。これは（勾配磁界Gxおよび２個の45
゜選択パルスによる）選択されたｘ断層内のスピンが３
個の合成パルス時に360゜回転させられるためである
（但し、選択された容積内のスピンおよび選択されたｘ
断層と選択されたｙ断層又は選択されたｚ断層とに共通
スピン（450゜）を除く）。同じことは選択されたｙ断
層およびｚ断層内のスピンの回転にも妥当する（夫々、
GyおよびGzの存在下での２個の45゜パルスによる選
択）。３個の合成パルスの後発生すべき90゜パルスは、
それ故、選択された容積からの共鳴信号だけではなく、
選択されたx,yおよびｚ断層の（ずっと大きい）容積か
らの共鳴信号も生ずる。
る磁化の回転の和に基づいているという欠点を有してい
る。全対象物においても、また、対象物の選択された容
積においても、これらのパルスは270゜又は540゜の角度
だけ全スピン回転を行わねばならない。しかし、これは
全く真実ではない。これは（勾配磁界Gxおよび２個の45
゜選択パルスによる）選択されたｘ断層内のスピンが３
個の合成パルス時に360゜回転させられるためである
（但し、選択された容積内のスピンおよび選択されたｘ
断層と選択されたｙ断層又は選択されたｚ断層とに共通
スピン（450゜）を除く）。同じことは選択されたｙ断
層およびｚ断層内のスピンの回転にも妥当する（夫々、
GyおよびGzの存在下での２個の45゜パルスによる選
択）。３個の合成パルスの後発生すべき90゜パルスは、
それ故、選択された容積からの共鳴信号だけではなく、
選択されたx,yおよびｚ断層の（ずっと大きい）容積か
らの共鳴信号も生ずる。
明らかにこれらの（ずっと大きな）容積では位相がずれ
るが、この容積内の核スピンにより発生する信号は不所
望なものであり、雑音信号と考えるべきである。
るが、この容積内の核スピンにより発生する信号は不所
望なものであり、雑音信号と考えるべきである。
本発明の目的は、選択された容積、特に、横緩和定数T2
（横緩和時間T2）が比較的短い物質の周波数スペクトル
を改良する方法を提供するにある。
（横緩和時間T2）が比較的短い物質の周波数スペクトル
を改良する方法を提供するにある。
この目的を達成するため、本発明方法は、周波数スペク
トルを決める信号を少なくとも２個の別個の共鳴信号間
又はそれらのフーリエ変換間の差から導き出し、一方の
共鳴信号は広帯域90゜高周波パルスにより励起した後測
定し、他方の共鳴信号は勾配磁界の存在下で選択性の18
0゜高周波パルスを印加し、勾配磁界を不活性化し、広
帯域90゜高周波パルスを発生させた後測定することを特
徴とする。本発明の方法によれば全対象物が選択された
容積の磁化と反対の磁化をとる。次の90゜（広帯域）高
周波励起の後、全対象物からの信号を含むFID信号が受
け取られる。選択された容積からの信号の寄与は負であ
る。次に90゜（広帯域）高周波パルスだけにより発生さ
せられたFID信号を測定し、全対象物からの信号を受け
取ると、これらの２個のFID信号の差から選択された容
積の周波数スペクトルを求めることができる。２個の信
号間の差はフーリエ変換できる。また、各信号のフーリ
エ変換間の差を求めることもできる。
トルを決める信号を少なくとも２個の別個の共鳴信号間
又はそれらのフーリエ変換間の差から導き出し、一方の
共鳴信号は広帯域90゜高周波パルスにより励起した後測
定し、他方の共鳴信号は勾配磁界の存在下で選択性の18
0゜高周波パルスを印加し、勾配磁界を不活性化し、広
帯域90゜高周波パルスを発生させた後測定することを特
徴とする。本発明の方法によれば全対象物が選択された
容積の磁化と反対の磁化をとる。次の90゜（広帯域）高
周波励起の後、全対象物からの信号を含むFID信号が受
け取られる。選択された容積からの信号の寄与は負であ
る。次に90゜（広帯域）高周波パルスだけにより発生さ
せられたFID信号を測定し、全対象物からの信号を受け
取ると、これらの２個のFID信号の差から選択された容
積の周波数スペクトルを求めることができる。２個の信
号間の差はフーリエ変換できる。また、各信号のフーリ
エ変換間の差を求めることもできる。
本発明方法の一実施例は、４個の共鳴信号から前記信号
を導き出し、第１の共鳴信号を準備なしに非選択性の90
゜高周波パルスにより励起し、準備の後第１の方向に勾
配を有する勾配磁界および選択性の180゜高周波パルス
により励起することにより測定し、第２の共鳴信号を次
の非選択性の90゜高周波パルスにより励起し、準備の後
第１の方向と直角な第２の方向に勾配を有する勾配磁界
および選択性の180゜高周波パルスにより励起すること
により測定し、第３の共鳴信号を次の非選択性の90゜高
周波パルスの後測定し、第４の共鳴信号を準備の後順次
の第１および第２の勾配磁界により測定し、これらの第
１および第２の勾配磁界を印加している時各々次の非選
択性の90゜高周波パルスの後選択性の180゜高周波パル
スを発生し、第１および第４の共鳴信号が前記信号に正
の寄与をし、第２および第３の共鳴信号が負の寄与をす
ることを特徴とする。この方法を用いると、対象物のロ
ッド状容積の周波数スペクトルを求めることができる。
「ロッド」は２個の勾配磁界および選択性の180゜高周
波パルスの周波数レンジを適当に選べば対象物内の任意
の位置にとることができる。
を導き出し、第１の共鳴信号を準備なしに非選択性の90
゜高周波パルスにより励起し、準備の後第１の方向に勾
配を有する勾配磁界および選択性の180゜高周波パルス
により励起することにより測定し、第２の共鳴信号を次
の非選択性の90゜高周波パルスにより励起し、準備の後
第１の方向と直角な第２の方向に勾配を有する勾配磁界
および選択性の180゜高周波パルスにより励起すること
により測定し、第３の共鳴信号を次の非選択性の90゜高
周波パルスの後測定し、第４の共鳴信号を準備の後順次
の第１および第２の勾配磁界により測定し、これらの第
１および第２の勾配磁界を印加している時各々次の非選
択性の90゜高周波パルスの後選択性の180゜高周波パル
スを発生し、第１および第４の共鳴信号が前記信号に正
の寄与をし、第２および第３の共鳴信号が負の寄与をす
ることを特徴とする。この方法を用いると、対象物のロ
ッド状容積の周波数スペクトルを求めることができる。
「ロッド」は２個の勾配磁界および選択性の180゜高周
波パルスの周波数レンジを適当に選べば対象物内の任意
の位置にとることができる。
本発明方法の好適な一実施例は、前記信号を８個の共鳴
信号から導き出し、一方の共鳴信号を非選択性の90゜高
周波パルスの後測定し、７個の他方の共鳴信号を準備後
互いに直角な方向の勾配を有する３個の勾配磁界により
測定し、７個の共鳴信号を準備するために、７個の異な
る準備期間において第1,第2,第３の勾配磁界を活性化
し、第１と第２の勾配磁界を順次に、第１と第３の勾配
磁界を順次に、第２と第３の勾配磁界を順次に、夫々、
行い、各勾配磁界の存在下で選択性の180゜高周波パル
スを発生させ、準備なし又は２個の180゜高周波パルス
が発生させられる準備期間を伴う共鳴信号は、前記信号
に正の寄与をし、奇数個の180゜高周波パルスが発生さ
せられる準備期間を伴う共鳴信号は負の寄与をすること
を特徴とする。この方法は対象物内の任意の位置にある
「球状」容積の周波数を求められるようにする。この方
法はまた横緩和時間T2が短い物質を含む対象物に対して
も使用できる。
信号から導き出し、一方の共鳴信号を非選択性の90゜高
周波パルスの後測定し、７個の他方の共鳴信号を準備後
互いに直角な方向の勾配を有する３個の勾配磁界により
測定し、７個の共鳴信号を準備するために、７個の異な
る準備期間において第1,第2,第３の勾配磁界を活性化
し、第１と第２の勾配磁界を順次に、第１と第３の勾配
磁界を順次に、第２と第３の勾配磁界を順次に、夫々、
行い、各勾配磁界の存在下で選択性の180゜高周波パル
スを発生させ、準備なし又は２個の180゜高周波パルス
が発生させられる準備期間を伴う共鳴信号は、前記信号
に正の寄与をし、奇数個の180゜高周波パルスが発生さ
せられる準備期間を伴う共鳴信号は負の寄与をすること
を特徴とする。この方法は対象物内の任意の位置にある
「球状」容積の周波数を求められるようにする。この方
法はまた横緩和時間T2が短い物質を含む対象物に対して
も使用できる。
図面につき本発明を詳細に説明する。
第1a図および第1b図は、本発明方法を略式図示したもの
である。第1a図は、オランダ国特許願第82-03519号に記
載されているような適当にプログラムを組まれた位置に
より行なえる測定サイクルを示す。この測定サイクルは
３個の期間tv,TIおよびTIIに分けられる。準備期間tvに
おいて、勾配磁界GseLを活性化し、選択性の180゜高周
波パルスを発生させる。勾配磁界GseLは、本例では、夫
々、x,yおよびｚ方向に磁界の強さの勾配を有する勾配
磁界Gx,Gy又はGzの一つである。準備期間tv（これはで
きるだけ短くする）の経過後、非選択性の90゜励起パル
スP90-Iと共に第１の測定期間TIが開始する。この90゜
励起パルスP90-Iにより発生させられた共鳴信号FIDI（F
ID信号）をサンプリングする。この期間の後に待ち期間
が続く。この待ち期間は被検体の縦緩和時間T1より長く
し、180゜パルスにより反転されたスピンが（印加され
た均一な静磁界B0内で）熱平衡状態を回復できるように
する。測定サイクルの最後の期間TIIは非選択性の励起
パルスP90-IIと共に始まる。これは第２の共鳴信号FID
IIを発生させる。この第２の共鳴信号FIDIIは第２の測
定期間TIIの時にサンプリングする。
である。第1a図は、オランダ国特許願第82-03519号に記
載されているような適当にプログラムを組まれた位置に
より行なえる測定サイクルを示す。この測定サイクルは
３個の期間tv,TIおよびTIIに分けられる。準備期間tvに
おいて、勾配磁界GseLを活性化し、選択性の180゜高周
波パルスを発生させる。勾配磁界GseLは、本例では、夫
々、x,yおよびｚ方向に磁界の強さの勾配を有する勾配
磁界Gx,Gy又はGzの一つである。準備期間tv（これはで
きるだけ短くする）の経過後、非選択性の90゜励起パル
スP90-Iと共に第１の測定期間TIが開始する。この90゜
励起パルスP90-Iにより発生させられた共鳴信号FIDI（F
ID信号）をサンプリングする。この期間の後に待ち期間
が続く。この待ち期間は被検体の縦緩和時間T1より長く
し、180゜パルスにより反転されたスピンが（印加され
た均一な静磁界B0内で）熱平衡状態を回復できるように
する。測定サイクルの最後の期間TIIは非選択性の励起
パルスP90-IIと共に始まる。これは第２の共鳴信号FID
IIを発生させる。この第２の共鳴信号FIDIIは第２の測
定期間TIIの時にサンプリングする。
こうして上述した測定サイクルより下記のことが達成さ
れる。第２の共鳴信号FIDIIは、90゜高周波励起パルスP
90-IIにより励起された全対象物０からの信号を含む。
これを第1b図の左端に示す。第１の測定サイクルTI時に
対象物０の容積Ｓ（層、即ち、断層）内のスピンが選択
性の180゜高周波パルスP180により反転させられる。非
選択性の90゜高周波パルスP90-Iにより全対象物０を励
起した後も全対象物０からの信号を受け取る。但し、選
択された層Ｓ内の反転されたスピンの信号は反対の符号
を有する。選択された層Ｓは画像の中心部にあり、−符
号を有する。選択された層Ｓの外部に位置する物体は＋
符号を有する。明らかに、信号FIDIIから信号FIDIを減
算した後には選択された容積Ｓのみにより発生させられ
た信号が残る。（振幅はこの容積からのスピンだけによ
り生ずる場合の２倍の高さを有するが、これはS/N比に
とって好適である。）選択された容積Ｓ内に存在する物
体の周波数スペクトルは２個の共鳴信号FIDIIとFIDIと
の差信号をフーリエ変換することにより求めることがで
きる。明らかにこの周波数スペクトルは、信号FIDIおよ
びFIDIIのフーリエ変換の差からも求めることができ
る。
れる。第２の共鳴信号FIDIIは、90゜高周波励起パルスP
90-IIにより励起された全対象物０からの信号を含む。
これを第1b図の左端に示す。第１の測定サイクルTI時に
対象物０の容積Ｓ（層、即ち、断層）内のスピンが選択
性の180゜高周波パルスP180により反転させられる。非
選択性の90゜高周波パルスP90-Iにより全対象物０を励
起した後も全対象物０からの信号を受け取る。但し、選
択された層Ｓ内の反転されたスピンの信号は反対の符号
を有する。選択された層Ｓは画像の中心部にあり、−符
号を有する。選択された層Ｓの外部に位置する物体は＋
符号を有する。明らかに、信号FIDIIから信号FIDIを減
算した後には選択された容積Ｓのみにより発生させられ
た信号が残る。（振幅はこの容積からのスピンだけによ
り生ずる場合の２倍の高さを有するが、これはS/N比に
とって好適である。）選択された容積Ｓ内に存在する物
体の周波数スペクトルは２個の共鳴信号FIDIIとFIDIと
の差信号をフーリエ変換することにより求めることがで
きる。明らかにこの周波数スペクトルは、信号FIDIおよ
びFIDIIのフーリエ変換の差からも求めることができ
る。
第2a,b,c,dおよびｅ図は、本発明方法の別の変形例を略
式図示したものである。第1a図および第1b図につき述べ
た方法を用いても、３次元物体内の任意の位置の一つの
層からの共鳴信号を測定できる。第2a図ないしｅに示さ
れた方法は、３次元物体の任意の位置の断面積が小さい
細長い（棒状の）容積からの共鳴信号を測定できる。測
定サイクルは今度は４個の期間M1,M2,M3,M4を具える。
これは第2a図につき説明する。期間M1は第1a図の測定期
間TIIに対応する。この期間M1では勾配磁界Gx,Gy又はGz
が活性化されることはない。これは第2a図の表で（0,0,
0）により示されている。第２の期間M2は測定期間TIに
対応し、勾配磁界Gyを発生する。関連する選択性の180
゜高周波パルスを準備期間tvにおいて発生する。これを
第2a図の表では（0,1,0）により示す。第３の期間M3は
第２の期間M2とほぼ同じであり、勾配磁界Gyではなく、
勾配磁界Gxが活性化される点だけが異なる。これを表で
は（1,0,0）により示す。第４の期間は、その準備期間t
vにおいて、先ず一方の勾配磁界（例えば、Gx）がしば
らく活性化され、その後で他方の勾配磁界（Gy）がしば
らく活性化され、一方の勾配磁界（Gx）が存在しない場
合および他方の勾配磁界（Gy）が存在する場合選択性の
180゜高周波パルスが発生する。
式図示したものである。第1a図および第1b図につき述べ
た方法を用いても、３次元物体内の任意の位置の一つの
層からの共鳴信号を測定できる。第2a図ないしｅに示さ
れた方法は、３次元物体の任意の位置の断面積が小さい
細長い（棒状の）容積からの共鳴信号を測定できる。測
定サイクルは今度は４個の期間M1,M2,M3,M4を具える。
これは第2a図につき説明する。期間M1は第1a図の測定期
間TIIに対応する。この期間M1では勾配磁界Gx,Gy又はGz
が活性化されることはない。これは第2a図の表で（0,0,
0）により示されている。第２の期間M2は測定期間TIに
対応し、勾配磁界Gyを発生する。関連する選択性の180
゜高周波パルスを準備期間tvにおいて発生する。これを
第2a図の表では（0,1,0）により示す。第３の期間M3は
第２の期間M2とほぼ同じであり、勾配磁界Gyではなく、
勾配磁界Gxが活性化される点だけが異なる。これを表で
は（1,0,0）により示す。第４の期間は、その準備期間t
vにおいて、先ず一方の勾配磁界（例えば、Gx）がしば
らく活性化され、その後で他方の勾配磁界（Gy）がしば
らく活性化され、一方の勾配磁界（Gx）が存在しない場
合および他方の勾配磁界（Gy）が存在する場合選択性の
180゜高周波パルスが発生する。
第１の期間M1においては、全対象物０からのスピンによ
り発生させられた共鳴信号f1（FID信号）を測定する。
これを第２図のｂ（第1b図と類似している。）に示す。
明らかに、夫々、期間M2およびM3時に勾配磁界Gyおよび
Gx並びに選択性の高周波パルスを印加する結果として、
夫々、選択されたｙ断層およびｘ断層内のスピンが反転
され、従って、夫々、測定すべき共鳴信号f2およびf3に
負の寄与をする。上述したことは、第２図のｃおよびｄ
に略式図示されている。第２図のｃではｙ方向層S1、第
２図のｄではｘ方向層S2に−符号が付され、他方対象物
０のそれらを取り囲む部分に＋符号が付されている。第
２図のｅは期間M4時に行われる測定の結果を示す。勾配
磁界（例えば、Gy）が存在する時第１の選択性の180゜
パルスを用いて、第１の層（例えば、S1）内のスピンを
反転する。その後で（勾配磁界Gxが存在する時）第２の
選択性の180゜パルスによりｘ層（S2）内のスピンを反
転する。この結果、ｙ層S1とｘ層S2が交わる点のスピン
は360゜回転させられ、従って、「非反転」となる。こ
うしてS1とS2の交点のスピンは、第４の期間M4において
測定すべき共鳴信号f4において正の寄与をし、これらの
層S1およびS2の他の部分は負の寄与をする。
り発生させられた共鳴信号f1（FID信号）を測定する。
これを第２図のｂ（第1b図と類似している。）に示す。
明らかに、夫々、期間M2およびM3時に勾配磁界Gyおよび
Gx並びに選択性の高周波パルスを印加する結果として、
夫々、選択されたｙ断層およびｘ断層内のスピンが反転
され、従って、夫々、測定すべき共鳴信号f2およびf3に
負の寄与をする。上述したことは、第２図のｃおよびｄ
に略式図示されている。第２図のｃではｙ方向層S1、第
２図のｄではｘ方向層S2に−符号が付され、他方対象物
０のそれらを取り囲む部分に＋符号が付されている。第
２図のｅは期間M4時に行われる測定の結果を示す。勾配
磁界（例えば、Gy）が存在する時第１の選択性の180゜
パルスを用いて、第１の層（例えば、S1）内のスピンを
反転する。その後で（勾配磁界Gxが存在する時）第２の
選択性の180゜パルスによりｘ層（S2）内のスピンを反
転する。この結果、ｙ層S1とｘ層S2が交わる点のスピン
は360゜回転させられ、従って、「非反転」となる。こ
うしてS1とS2の交点のスピンは、第４の期間M4において
測定すべき共鳴信号f4において正の寄与をし、これらの
層S1およびS2の他の部分は負の寄与をする。
明らかに、４個の共鳴信号f1,f2,f3およびf4から、層S1
とS2の交点だけを励起したとすると得られるであろう信
号Δｆに比例する差信号を導くことができる。Δｆ＝
（f1−f2）−（f3−f4）。信号Δｆ自体は交わりだけを
励起したら発生するであろう共鳴信号の４倍だけ大きい
が、これはS/N比にとって好適である。
とS2の交点だけを励起したとすると得られるであろう信
号Δｆに比例する差信号を導くことができる。Δｆ＝
（f1−f2）−（f3−f4）。信号Δｆ自体は交わりだけを
励起したら発生するであろう共鳴信号の４倍だけ大きい
が、これはS/N比にとって好適である。
明らかに、各共鳴信号f1,f2,f3,f4のフーリエ交換F1,F
2,F3,F4を求めることができる。従って、差信号Δｆの
フーリエ変換を求める代わりに、選択された容積（層S1
とS2の交わり）のスペクトルＦをΔＦ＝（F1−F2）−
（F3−F4）から求めることができる。
2,F3,F4を求めることができる。従って、差信号Δｆの
フーリエ変換を求める代わりに、選択された容積（層S1
とS2の交わり）のスペクトルＦをΔＦ＝（F1−F2）−
（F3−F4）から求めることができる。
明らかに同じようにして、選択された容積の外部の物質
が周波数スペクトルに影響することなく、大きな物体内
の有限な３次元要素（小さい「球」:mm3ないしcm3のオ
ーダー）から周波数スペクトルを求めることができる。
が周波数スペクトルに影響することなく、大きな物体内
の有限な３次元要素（小さい「球」:mm3ないしcm3のオ
ーダー）から周波数スペクトルを求めることができる。
第３図は期間M1,M2,……M8においてどの勾配磁界GX,GY
およびGz又はそのいずれか一方を活性化するかを示す表
である。注意すべきことは、期間M1,M2,M3,およびM4は
第2a図につき述べた方法の期間M1,M2,M3,およびM4に対
応する。明らかに期間M5（第３図;M5,0,0,1）において
も、準備期間tvにおいて（第1a図参照）勾配磁界Gzを印
加し、選択性の180゜高周波パルスを発生させ、その後
で非選択性の90゜高周波パルスの後共鳴信号f5（FID信
号）を測定する。期間M6およびM7においては、夫々、勾
配磁界GxおよびGz,GyおよびGzを準備期間tvにおいて順
次に印加する（各フィールドは関連する選択性の180゜
高周波パルスを伴う。期間M8（第３図;M8:1,1,1）にお
いては準備期間tvにおいて（関連する180゜高周波パル
スと共に）勾配磁界Gx,GyおよびGzを順次に印加する。
８個の期間M1,M2,M3,……M8からの測定された共鳴信号f
1,f2,……f8から差信号Δｆ（Δｆ＝f1−f2−f3＋f4−f
5＋f6＋f7−f8）を計算できる。この差信号は180゜パル
スにより選択された３個の対象物層x,yおよびｚの交わ
りにより決まる３次元要素内で発生した信号と、勾配磁
界Gx,GyおよびGzだけに依存する。この差信号をフーリ
エ交換すると間接的に選択された容積の周波数スペクト
ルΔＦを得られる。明らかに、周波数スペクトルΔＦは
８個の信号のフーリエ変換を加減算することによっても
求まる。ΔＦ＝F1−F2−F3＋F4−F5＋F6＋F7−F8。F1,F
2,……F8は信号f1,f2,……f8のフーリエ変換である。注
意すべきことは、差信号Δｆの強さは所望の容積だけを
励起したならば測定されるであろう信号の８倍大きい。
およびGz又はそのいずれか一方を活性化するかを示す表
である。注意すべきことは、期間M1,M2,M3,およびM4は
第2a図につき述べた方法の期間M1,M2,M3,およびM4に対
応する。明らかに期間M5（第３図;M5,0,0,1）において
も、準備期間tvにおいて（第1a図参照）勾配磁界Gzを印
加し、選択性の180゜高周波パルスを発生させ、その後
で非選択性の90゜高周波パルスの後共鳴信号f5（FID信
号）を測定する。期間M6およびM7においては、夫々、勾
配磁界GxおよびGz,GyおよびGzを準備期間tvにおいて順
次に印加する（各フィールドは関連する選択性の180゜
高周波パルスを伴う。期間M8（第３図;M8:1,1,1）にお
いては準備期間tvにおいて（関連する180゜高周波パル
スと共に）勾配磁界Gx,GyおよびGzを順次に印加する。
８個の期間M1,M2,M3,……M8からの測定された共鳴信号f
1,f2,……f8から差信号Δｆ（Δｆ＝f1−f2−f3＋f4−f
5＋f6＋f7−f8）を計算できる。この差信号は180゜パル
スにより選択された３個の対象物層x,yおよびｚの交わ
りにより決まる３次元要素内で発生した信号と、勾配磁
界Gx,GyおよびGzだけに依存する。この差信号をフーリ
エ交換すると間接的に選択された容積の周波数スペクト
ルΔＦを得られる。明らかに、周波数スペクトルΔＦは
８個の信号のフーリエ変換を加減算することによっても
求まる。ΔＦ＝F1−F2−F3＋F4−F5＋F6＋F7−F8。F1,F
2,……F8は信号f1,f2,……f8のフーリエ変換である。注
意すべきことは、差信号Δｆの強さは所望の容積だけを
励起したならば測定されるであろう信号の８倍大きい。
注意すべきことは、本発明の範囲を逸脱せずに、上述し
た方法の修正例を考え得ることである。例えば、期間M1
（第2a図又は第３図）後、２個の勾配磁界（例えば、GX
およびGy）を準備期間tvにおいて同時に印加し、同時に
選択性の180゜高周波パルスを発生させる。こうすると
（x0,0），（y0,0）および（−X0,0）（−y0,0）を通っ
て延在するｚ軸に平衡な面により限られる容積内のスピ
ンが反転させられる。次に発生すべき共鳴信号を期間M1
の信号f1から減算すると、昔に指示された容積に対する
差信号が見つかる。しかし、この容積は第2a図ないしｄ
図につき述べた方法により測定される容積からずれてい
る。（x0,y0），（−x0,y0），（x0,−y0），（−x0,−
y0）を通って延在するｚ軸に平衡な面間容積と、上記座
標により決まる容積とを比較する。
た方法の修正例を考え得ることである。例えば、期間M1
（第2a図又は第３図）後、２個の勾配磁界（例えば、GX
およびGy）を準備期間tvにおいて同時に印加し、同時に
選択性の180゜高周波パルスを発生させる。こうすると
（x0,0），（y0,0）および（−X0,0）（−y0,0）を通っ
て延在するｚ軸に平衡な面により限られる容積内のスピ
ンが反転させられる。次に発生すべき共鳴信号を期間M1
の信号f1から減算すると、昔に指示された容積に対する
差信号が見つかる。しかし、この容積は第2a図ないしｄ
図につき述べた方法により測定される容積からずれてい
る。（x0,y0），（−x0,y0），（x0,−y0），（−x0,−
y0）を通って延在するｚ軸に平衡な面間容積と、上記座
標により決まる容積とを比較する。
第1a図および第1b図は本発明方法を示す説明図、 第2a,b,c,dおよびｅ図は別の本発明方法を示す説明図、 第３図は本発明方法の好適な変形例を示す説明図であ
る。 tv……準備期間 TI……第１の測定期間 TII……第２の測定期間 Ｇ……勾配磁界 Ｍ……測定期間
る。 tv……準備期間 TI……第１の測定期間 TII……第２の測定期間 Ｇ……勾配磁界 Ｍ……測定期間
Claims (4)
- 【請求項１】物体の選択された容積内のスピン共鳴信号
の周波数を測定する方法であって、この容積を均一な静
磁界内に置き、勾配磁界が存在する下で高周波電磁パル
スにより励起し、スピン共鳴信号、所謂FID信号を得、
これから当該容積内に存在するスピンの周波数スペクト
ルを導き出すNMRスペクトル測定方法において、周波数
スペクトルを決める信号を少なくとも２個の別個の共鳴
信号間又はそれらのフーリエ変換間の差から導き出し、
一方の共鳴信号は広帯域90゜高周波パルスにより励起し
た後測定し、他方の共鳴信号は勾配磁界の存在下で選択
性の180゜高周波パルスを印加し、勾配磁界を不活性化
し、広帯域90゜高周波パルスを発生させた後測定するこ
とを特徴とするNMRスペクトル測定方法。 - 【請求項２】４個の共鳴信号から前記信号を導き出し、
第１の共鳴信号を準備なしに非選択性の90゜高周波パル
スにより励起し、準備の後第１の方向に勾配を有する勾
配磁界および選択性の180゜高周波パルスにより励起す
ることにより測定し、第２の共鳴信号を次の非選択性の
90゜高周波パルスにより励起し、準備の後第１の方向と
直角な第２の方向に勾配を有する勾配磁界および選択性
の180゜高周波パルスにより励起することにより測定
し、第３の共鳴信号を次の非選択性の90゜高周波パルス
の後測定し、第４の共鳴信号を準備の後順次の第１およ
び第２の勾配磁界により測定し、これらの第１および第
２の勾配磁界を印加している時各々次の非選択性の90゜
高周波パルスの後選択性の180゜高周波パルスを発生
し、第１および第４の共鳴信号が前記信号に正の寄与を
し、第２および第３の共鳴信号が負の寄与をすることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のNMRスペクトル
測定方法。 - 【請求項３】前記信号を８個の共鳴信号から導き出し、
一方の共鳴信号を非選択性の90゜高周波パルスの後測定
し、７個の他方の共鳴信号を準備後互いに直角な方向の
勾配を有する３個の勾配磁界により測定し、７個の共鳴
信号を準備するために、７個の異なる準備期間において
第1,第2,第３の勾配磁界を活性化し、第１と第２の勾配
磁界を順次に、第１と第３の勾配磁界を順次に、第２と
第３の勾配磁界を順次に、夫々、行い、各勾配磁界の存
在下で選択性の180゜高周波パルスを発生させ、準備な
し又は２個の180゜高周波パルスが発生させられる準備
期間を伴う共鳴信号は、前記信号に正の寄与をし、奇数
個の180゜高周波パルスが発生させられる準備期間を伴
う共鳴信号は負の寄与をすることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載のNMRスペクトル測定方法。 - 【請求項４】勾配磁界が少なくとも２個の勾配の方向が
互いに直角に延在する勾配磁界を具えることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載のNMRスペクトル測定方
法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8502205 | 1985-08-08 | ||
| NL8502205A NL8502205A (nl) | 1985-08-08 | 1985-08-08 | Werkwijze voor het bepalen van een n.m.r. spectrum. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6290145A JPS6290145A (ja) | 1987-04-24 |
| JPH074351B2 true JPH074351B2 (ja) | 1995-01-25 |
Family
ID=19846400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61183522A Expired - Lifetime JPH074351B2 (ja) | 1985-08-08 | 1986-08-06 | Ｎｍｒスペクトル測定方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0212734B1 (ja) |
| JP (1) | JPH074351B2 (ja) |
| DE (1) | DE3671523D1 (ja) |
| IL (1) | IL79632A (ja) |
| NL (1) | NL8502205A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003093127A1 (fr) | 2002-04-30 | 2003-11-13 | Yoshino Kogyosho Co.,Ltd. | Contenant de distribution |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8523673D0 (en) * | 1985-09-25 | 1985-10-30 | Picker Int Ltd | Nuclear magnetic resonance methods |
| GB8711379D0 (en) * | 1987-05-14 | 1987-06-17 | Nat Res Dev | Echo planar imaging systems |
| GB2217847B (en) * | 1988-04-27 | 1993-02-03 | Nat Res Dev | Improvements in or relating to nmr imaging systems |
| JPH024357A (ja) * | 1988-06-14 | 1990-01-09 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 核磁気共鳴画像診断装置の領域制限方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4318043A (en) * | 1978-07-20 | 1982-03-02 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for rapid NMR imaging of nuclear densities within an object |
| DE2936465A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-06-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur erstellung von kernresonanzbildern |
| DE3209264A1 (de) * | 1982-03-13 | 1983-09-22 | Bruker Medizintechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten | Verfahren zum messen der magnetischen kernresonanz fuer die nmr-tomographie |
-
1985
- 1985-08-08 NL NL8502205A patent/NL8502205A/nl not_active Application Discontinuation
-
1986
- 1986-08-01 EP EP86201356A patent/EP0212734B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-08-01 DE DE8686201356T patent/DE3671523D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-08-05 IL IL79632A patent/IL79632A/xx unknown
- 1986-08-06 JP JP61183522A patent/JPH074351B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003093127A1 (fr) | 2002-04-30 | 2003-11-13 | Yoshino Kogyosho Co.,Ltd. | Contenant de distribution |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0212734B1 (de) | 1990-05-23 |
| IL79632A0 (en) | 1986-11-30 |
| EP0212734A1 (de) | 1987-03-04 |
| JPS6290145A (ja) | 1987-04-24 |
| IL79632A (en) | 1990-07-26 |
| NL8502205A (nl) | 1987-03-02 |
| DE3671523D1 (de) | 1990-06-28 |
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