JPH0735532A - 路面のひび割れ長さの測定方法 - Google Patents
路面のひび割れ長さの測定方法Info
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- JPH0735532A JPH0735532A JP20043793A JP20043793A JPH0735532A JP H0735532 A JPH0735532 A JP H0735532A JP 20043793 A JP20043793 A JP 20043793A JP 20043793 A JP20043793 A JP 20043793A JP H0735532 A JPH0735532 A JP H0735532A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 路面のひび割れを表す２値画像から、ひび割
れを辿ることなく、短い処理時間でひび割れの長さを求
めること。 【構成】 中心画素が１（路面のひび割れ部分を表す）
である２値のＮ×Ｎ画素（Ｎは３以上の奇数）が取り得
る画素配列パターンを予め求めると共に、夫々の画素配
列パターンの中心画素がひび割れ長さに寄与する係数を
予め求めておく。次に、路面を撮影したアナログ画像に
画像処理を施して２値画像を求め、この２値画像中に単
位面積を特定し、路面のひび割れ部分を表す画素を中心
とするＮ×Ｎ画素を順次抽出し、予め求めた複数の画素
配列パターンと比較して一致するパターンのひび割れ長
さの係数を求めて加算する。
れを辿ることなく、短い処理時間でひび割れの長さを求
めること。 【構成】 中心画素が１（路面のひび割れ部分を表す）
である２値のＮ×Ｎ画素（Ｎは３以上の奇数）が取り得
る画素配列パターンを予め求めると共に、夫々の画素配
列パターンの中心画素がひび割れ長さに寄与する係数を
予め求めておく。次に、路面を撮影したアナログ画像に
画像処理を施して２値画像を求め、この２値画像中に単
位面積を特定し、路面のひび割れ部分を表す画素を中心
とするＮ×Ｎ画素を順次抽出し、予め求めた複数の画素
配列パターンと比較して一致するパターンのひび割れ長
さの係数を求めて加算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、路面のひび割れ長さの
測定方法に関し、特に、路面を撮影したアナログ画像か
ら画像処理を施してひび割れの有無を表す２値画像を求
め、この２値画像から単位面積当たりの路面のひび割れ
長さを求める測定方法に関する。
測定方法に関し、特に、路面を撮影したアナログ画像か
ら画像処理を施してひび割れの有無を表す２値画像を求
め、この２値画像から単位面積当たりの路面のひび割れ
長さを求める測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】舗装路面の状態を評価したり或いは舗装
路面の補修時期を特定するために、路面の“ひび割れ”
の長さを測定する方法がある。従来より、路面を写真撮
影してアナログ画像を求め、このアナログ画像に画像処
理を施して路面のひび割れを表す２値画像を求め、この
２値画像から路面のひび割れ長さを求めることが行われ
ている。
路面の補修時期を特定するために、路面の“ひび割れ”
の長さを測定する方法がある。従来より、路面を写真撮
影してアナログ画像を求め、このアナログ画像に画像処
理を施して路面のひび割れを表す２値画像を求め、この
２値画像から路面のひび割れ長さを求めることが行われ
ている。
【０００３】ひび割れの長さを測定しようとする路面
は、通常、長尺フィルムを用いて写真撮影されるが、ビ
デオカメラを用いて撮影してもよい。ビデオカメラを用
いて路面を撮影する場合には、撮影後にビデオデジタイ
ザによりアナログ画像をデジタル化したり、或いは、ビ
デオカメラの出力を直接デジタル化する方法が知られて
いる。本発明は、路面撮影の方法に限定されることな
く、上記何れの方法を用いて求めた２値画像に対しても
応用可能である。
は、通常、長尺フィルムを用いて写真撮影されるが、ビ
デオカメラを用いて撮影してもよい。ビデオカメラを用
いて路面を撮影する場合には、撮影後にビデオデジタイ
ザによりアナログ画像をデジタル化したり、或いは、ビ
デオカメラの出力を直接デジタル化する方法が知られて
いる。本発明は、路面撮影の方法に限定されることな
く、上記何れの方法を用いて求めた２値画像に対しても
応用可能である。
【０００４】本発明の実施例を説明する前に、路面を写
真撮影したアナログ画像に画像処理を施して２値画像を
求め、この２値画像から路面のひび割れ長さを求める従
来の画像処理方法を簡単に説明する。
真撮影したアナログ画像に画像処理を施して２値画像を
求め、この２値画像から路面のひび割れ長さを求める従
来の画像処理方法を簡単に説明する。
【０００５】先ず、路面をセンターラインを含むように
写真撮影してアナログ画像（図示せず）を作成する。
写真撮影してアナログ画像（図示せず）を作成する。
【０００６】(a) このアナログ画像から公知の手法を
用いて図１３に示すデジタル画像（多値画素から成る画
像）を求める。
用いて図１３に示すデジタル画像（多値画素から成る画
像）を求める。
【０００７】(b) 図１３の多値画素デジタル画像に含
まれる路面の微小凹凸に起因するノイズを、公知の手法
（ローパスフィルタを用いる手法）により除去して図１
４に示すデジタル画像を求める。
まれる路面の微小凹凸に起因するノイズを、公知の手法
（ローパスフィルタを用いる手法）により除去して図１
４に示すデジタル画像を求める。
【０００８】(c) 公知のゾーベル（Ｓｏｂｅｌ）オペ
レータを用いて、図１４のデジタル画像からエッジを検
出して図１５に示すデジタル画像を求める。
レータを用いて、図１４のデジタル画像からエッジを検
出して図１５に示すデジタル画像を求める。
【０００９】(d) 図１５のデジタル画像から２値画像
を求める。例えば、図１５の各画素が８ビットの多値画
素の場合、２値化のしきい値を１６として図１６に示す
２値画素画像を得る。
を求める。例えば、図１５の各画素が８ビットの多値画
素の場合、２値化のしきい値を１６として図１６に示す
２値画素画像を得る。
【００１０】(e) 図１６の２値画像のデータ量を減ら
すために、図１６の２値画像の５×５画素（合計２５画
素）を新たな１画素とする。このデータ量減少は、例え
ば、２５画素中で１（ひび割れ部分を表す）の値を持つ
画素の数が、１２個以上であれば新画素を１（ひび割れ
部分を表す）とし、１２個未満であれば新画素を０（ひ
び割れ部分でないことを示す）とする。得られた２値画
像を図１７に示す。
すために、図１６の２値画像の５×５画素（合計２５画
素）を新たな１画素とする。このデータ量減少は、例え
ば、２５画素中で１（ひび割れ部分を表す）の値を持つ
画素の数が、１２個以上であれば新画素を１（ひび割れ
部分を表す）とし、１２個未満であれば新画素を０（ひ
び割れ部分でないことを示す）とする。得られた２値画
像を図１７に示す。
【００１１】(f) 更に、上記のステップ(e)におけるデ
ータ量減少処理の際に欠落した欠落点を補間する。即
ち、図１７の画素画像から３×３画素（合計９画素）を
その中心画素を１画素づつずらしながら順次取り出す。
取り出した３×３画素の中心画素の値が０の場合に、周
囲８画素中で例えば４個以上の画素が１であれば中心画
素の値を１で置換し、周囲８画素の内で画素１の数が４
個未満であれば中心画素の値を０のままにする。欠落点
を補間した２値画像を図１８に示す。
ータ量減少処理の際に欠落した欠落点を補間する。即
ち、図１７の画素画像から３×３画素（合計９画素）を
その中心画素を１画素づつずらしながら順次取り出す。
取り出した３×３画素の中心画素の値が０の場合に、周
囲８画素中で例えば４個以上の画素が１であれば中心画
素の値を１で置換し、周囲８画素の内で画素１の数が４
個未満であれば中心画素の値を０のままにする。欠落点
を補間した２値画像を図１８に示す。
【００１２】(g) 最後に、図１８の画像から孤立点ノ
イズを除去する。即ち、５×５画素（合計２５画素）の
領域において、最外周の１６画素の値が全て０の場合、
内側の９画素の値を全て０にする。次に、７×７画素
（合計４９画素）の領域において、最外周の２４画素の
値が全て０の場合、内側の２５画素の値をすべて０にす
る。このような画像処理を各画素について行い、図１９
に示す２値画像を得る。
イズを除去する。即ち、５×５画素（合計２５画素）の
領域において、最外周の１６画素の値が全て０の場合、
内側の９画素の値を全て０にする。次に、７×７画素
（合計４９画素）の領域において、最外周の２４画素の
値が全て０の場合、内側の２５画素の値をすべて０にす
る。このような画像処理を各画素について行い、図１９
に示す２値画像を得る。
【００１３】上記の(a)乃至(g)の画像処理により得られ
た２値画像（図１９）から、路面のひび割れ長さを求め
る。
た２値画像（図１９）から、路面のひび割れ長さを求め
る。
【００１４】図１９の２値画像中のセンターラインを基
準にし、図１９の２値画像を複数の正方形の単位面積の
画素ブロック（例えば、一辺が５０ｃｍの正方形の画素
ブロック）に分割する。複数の単位面積の夫々の画素ブ
ロック内のひび割れ長さを測定し、夫々のブロックの合
計ひび割れ長さを計測結果として出力する。尚、路面の
センターラインを基準にして図１９の２値画像を複数の
画素ブロックに分割するので、道路の端部に相当する部
分では、単位面積に満たない画素ブロックが発生する。
この場合、単位面積に満たない画素ブロック内のひび割
れ長さを測定した後に、この測定値を単位面積のひび割
れ長さに換算すればよい。例えば、道路端部の画素ブロ
ックの面積が、単位面積の画素ブロックの１／２であれ
ば、この道路端部の画素ブロックのひび割れ長さを２倍
にする。
準にし、図１９の２値画像を複数の正方形の単位面積の
画素ブロック（例えば、一辺が５０ｃｍの正方形の画素
ブロック）に分割する。複数の単位面積の夫々の画素ブ
ロック内のひび割れ長さを測定し、夫々のブロックの合
計ひび割れ長さを計測結果として出力する。尚、路面の
センターラインを基準にして図１９の２値画像を複数の
画素ブロックに分割するので、道路の端部に相当する部
分では、単位面積に満たない画素ブロックが発生する。
この場合、単位面積に満たない画素ブロック内のひび割
れ長さを測定した後に、この測定値を単位面積のひび割
れ長さに換算すればよい。例えば、道路端部の画素ブロ
ックの面積が、単位面積の画素ブロックの１／２であれ
ば、この道路端部の画素ブロックのひび割れ長さを２倍
にする。
【００１５】ところで、各画素ブロック内のひび割れ長
さを求める従来の方法は、画素ブロック内のひび割れ部
分を線として辿るという方法であった。
さを求める従来の方法は、画素ブロック内のひび割れ部
分を線として辿るという方法であった。
【００１６】しかし、ひび割れ部分を線として辿る従来
の方法は、次のような問題があった。即ち、 (a) ひび割れを線として辿り易くするための細線化処
理にかなりの時間を要する。 (b) ひび割れが網状の場合には非常に多くの処理時間
を必要とする。 (c) ひび割れを線として辿るには多くの分岐（判断）
条件が存在するので、ひび割れ長さの測定に膨大な処理
時間を必要とする 等である。
の方法は、次のような問題があった。即ち、 (a) ひび割れを線として辿り易くするための細線化処
理にかなりの時間を要する。 (b) ひび割れが網状の場合には非常に多くの処理時間
を必要とする。 (c) ひび割れを線として辿るには多くの分岐（判断）
条件が存在するので、ひび割れ長さの測定に膨大な処理
時間を必要とする 等である。
【００１７】このため、ひび割れ長さを線として辿る従
来の手法を用いないで、処理時間を大幅に減少させる測
定方法が望まれていた。
来の手法を用いないで、処理時間を大幅に減少させる測
定方法が望まれていた。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ひび
割れを線として辿る従来の方法を用いずに、極めて短い
処理時間で路面のひび割れ長さを求めることである。
割れを線として辿る従来の方法を用いずに、極めて短い
処理時間で路面のひび割れ長さを求めることである。
【００１９】
【課題を解決するための手段】本発明は、路面を撮影し
て路面のアナログ画像を求め、該アナログ画像に画像処
理を施してひび割れの有無を表す２値画像を求め、該２
値画像から路面の単位面積当たりのひび割れ長さを求め
る方法に関し、（ａ）中心画素がひび割れを表す２値の
Ｎ×Ｎ画素（Ｎは３以上の奇数）が取り得る複数個の画
素配列パターンを予め求め、該複数個の画素配列パター
ンの夫々に関して前記ひび割れを表す中心画素が寄与す
るひび割れの長さの係数を予め求め、（ｂ）上記ひび割
れを表す２値画像に単位面積を設定し、（ｃ）該単位面
積中の画素の内からひび割れを表す画素を中心としてＮ
×Ｎ画素を抽出し、（ｄ）抽出したＮ×Ｎ画素の画素配
列パターンを、上記予め求めた複数個の画素配列パター
ンと比較して同一の画素配列パターンを求め、該画素配
列パターンに与えられたひび割れ長さの係数を求め、
（ｅ）上記ステップ（ｃ）乃至（ｄ）を上記単位面積中
の各画素について繰り返して夫々求めた係数を加算し、
求めた係数の合計を基にして上記単位面積中のひび割れ
長さを測定することを特徴とする路面のひび割れ長さの
測定方法である。
て路面のアナログ画像を求め、該アナログ画像に画像処
理を施してひび割れの有無を表す２値画像を求め、該２
値画像から路面の単位面積当たりのひび割れ長さを求め
る方法に関し、（ａ）中心画素がひび割れを表す２値の
Ｎ×Ｎ画素（Ｎは３以上の奇数）が取り得る複数個の画
素配列パターンを予め求め、該複数個の画素配列パター
ンの夫々に関して前記ひび割れを表す中心画素が寄与す
るひび割れの長さの係数を予め求め、（ｂ）上記ひび割
れを表す２値画像に単位面積を設定し、（ｃ）該単位面
積中の画素の内からひび割れを表す画素を中心としてＮ
×Ｎ画素を抽出し、（ｄ）抽出したＮ×Ｎ画素の画素配
列パターンを、上記予め求めた複数個の画素配列パター
ンと比較して同一の画素配列パターンを求め、該画素配
列パターンに与えられたひび割れ長さの係数を求め、
（ｅ）上記ステップ（ｃ）乃至（ｄ）を上記単位面積中
の各画素について繰り返して夫々求めた係数を加算し、
求めた係数の合計を基にして上記単位面積中のひび割れ
長さを測定することを特徴とする路面のひび割れ長さの
測定方法である。
【００２０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図１２及
び図１９を参照して説明する。尚、図１９に示す２値画
像を求めるまでの画像処理は従来と同じである。
び図１９を参照して説明する。尚、図１９に示す２値画
像を求めるまでの画像処理は従来と同じである。
【００２１】通常、ひび割れの幅はその長さに比べて十
分に狭いと仮定することができる。したがって、図１９
におけるひび割れ部分（図面では黒色で示す）の輪郭線
の長さの１／２をひび割れの長さとして近似できる。つ
まり、ひび割れ部分の輪郭線の長さの１／２の合計をひ
び割れを辿ることなく求めればよいことになる。
分に狭いと仮定することができる。したがって、図１９
におけるひび割れ部分（図面では黒色で示す）の輪郭線
の長さの１／２をひび割れの長さとして近似できる。つ
まり、ひび割れ部分の輪郭線の長さの１／２の合計をひ
び割れを辿ることなく求めればよいことになる。
【００２２】本実施例では、図１９の２値画像を、従来
と同様に、例えば、センターラインを基準として一辺が
５０cmの正方形の単位面積に分割し、各単位面積内の各
画素を順を追って０（ひび割れ部分に属さない（白色で
表す））か１（ひび割れ部分に属する（黒色で表す））
かを判断する。画素が０の場合にはその画素を無視し、
画素が１の場合には周囲の８画素から成る画素配列パタ
ーンを、予め求めた複数の画素配列パターンと比較して
一致するパターンを求める。次に、一致するパターンの
中心画素が寄与するひび割れの長さの係数（予め求めて
おく）を加算していく。最後に、係数の総計を基に単位
面積中のひび割れ長さを求める。
と同様に、例えば、センターラインを基準として一辺が
５０cmの正方形の単位面積に分割し、各単位面積内の各
画素を順を追って０（ひび割れ部分に属さない（白色で
表す））か１（ひび割れ部分に属する（黒色で表す））
かを判断する。画素が０の場合にはその画素を無視し、
画素が１の場合には周囲の８画素から成る画素配列パタ
ーンを、予め求めた複数の画素配列パターンと比較して
一致するパターンを求める。次に、一致するパターンの
中心画素が寄与するひび割れの長さの係数（予め求めて
おく）を加算していく。最後に、係数の総計を基に単位
面積中のひび割れ長さを求める。
【００２３】このため、図１乃至図８に示すように、３
×３の２値画素の中心画素が１である画素配列パターン
（即ち２(9-1)＝２５６通り）を予め全て求める。但
し、複数の相似形のパターンが存在するので、相似形の
画素配列パターンを省略すれば、準備する画素配列パタ
ーンの数を少なくすることができる。図１乃至図８にお
いて、画素配列パターンの枠外の上部の括弧内の数字
（１〜２５６）は２５６個の画素配列パターンの番号を
示す。
×３の２値画素の中心画素が１である画素配列パターン
（即ち２(9-1)＝２５６通り）を予め全て求める。但
し、複数の相似形のパターンが存在するので、相似形の
画素配列パターンを省略すれば、準備する画素配列パタ
ーンの数を少なくすることができる。図１乃至図８にお
いて、画素配列パターンの枠外の上部の括弧内の数字
（１〜２５６）は２５６個の画素配列パターンの番号を
示す。
【００２４】次に、３×３画素群の中心画素が周囲８画
素の状態に応じてひび割れの長さ（即ちひび割れの輪郭
の１／２）に寄与する係数を近似する。図１乃至図８の
画素配列パターンの枠外の下部の数値は、中心画素の周
囲８画素の状態に応じて中心画素が寄与するひび割れの
長さの係数を示す。
素の状態に応じてひび割れの長さ（即ちひび割れの輪郭
の１／２）に寄与する係数を近似する。図１乃至図８の
画素配列パターンの枠外の下部の数値は、中心画素の周
囲８画素の状態に応じて中心画素が寄与するひび割れの
長さの係数を示す。
【００２５】図１乃至図８の各画素の大きさが例えば路
面上で２cm×２cmに相当すれば、第２番目の画素パター
ンの中心画素が寄与するひび割れの長さは、その係数が
１なので約２cmであり、一方、第３番目の画素パターン
の中心画素が寄与するひび割れ長さは、その係数が約
１．４なので、約２．８cmに相当する。以下同様であ
る。
面上で２cm×２cmに相当すれば、第２番目の画素パター
ンの中心画素が寄与するひび割れの長さは、その係数が
１なので約２cmであり、一方、第３番目の画素パターン
の中心画素が寄与するひび割れ長さは、その係数が約
１．４なので、約２．８cmに相当する。以下同様であ
る。
【００２６】画素パターンの中心画素が寄与するひび割
れ長さの係数は、次のようにして求める。中心画素を中
心とする３×３の画素群（イメージ）を図９に示す６通
りのパターンに近似して分類する。尚、これらのパター
ンに対して回転対称及び線対称のパターンも同一パター
ンとする。図９の６通りのパターンの何れにも属さない
パターンは、夫々妥当性を考慮して係数を定める。 (1) 第１のパターン（図９の（１））：このパターン
では、水平方向のひびの片方（上側）が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は０．５画素分（即ち係数０．５）とする。 (2) 第２のパターン（図９の（２））：このパターン
では、水平方向のひびの上下両側が観測されているもの
と考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄
与は１画素分（即ち係数１）とする。 (3) 第３のパターン（図９の（３））：このパターン
では、傾き１（４５度）のひびの片側が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は√２／２画素分（即ち係数√２／２）とする。 (4) 第４のパターン（図９の（４））：このパターン
では、傾き１（４５度）のひびの両側が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は√２画素分（即ち係数√２）とする。 (5) 第５のパターン（図１の（５））：このパターン
では、傾き１／２のひびの片方が観測されているものと
考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄与
は√５／４画素分（即ち係数√５／４）とする。 (6) 第６のパターン（図１の（６））：このパターン
では、傾き１／２のひびの片方が観測されているものと
考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄与
は√５／２画素（即ち係数√５／２）とする。
れ長さの係数は、次のようにして求める。中心画素を中
心とする３×３の画素群（イメージ）を図９に示す６通
りのパターンに近似して分類する。尚、これらのパター
ンに対して回転対称及び線対称のパターンも同一パター
ンとする。図９の６通りのパターンの何れにも属さない
パターンは、夫々妥当性を考慮して係数を定める。 (1) 第１のパターン（図９の（１））：このパターン
では、水平方向のひびの片方（上側）が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は０．５画素分（即ち係数０．５）とする。 (2) 第２のパターン（図９の（２））：このパターン
では、水平方向のひびの上下両側が観測されているもの
と考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄
与は１画素分（即ち係数１）とする。 (3) 第３のパターン（図９の（３））：このパターン
では、傾き１（４５度）のひびの片側が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は√２／２画素分（即ち係数√２／２）とする。 (4) 第４のパターン（図９の（４））：このパターン
では、傾き１（４５度）のひびの両側が観測されている
ものと考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対す
る寄与は√２画素分（即ち係数√２）とする。 (5) 第５のパターン（図１の（５））：このパターン
では、傾き１／２のひびの片方が観測されているものと
考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄与
は√５／４画素分（即ち係数√５／４）とする。 (6) 第６のパターン（図１の（６））：このパターン
では、傾き１／２のひびの片方が観測されているものと
考えられるので、中心画素のひび割れ長さに対する寄与
は√５／２画素（即ち係数√５／２）とする。
【００２７】このように、図１乃至図８に示した画素配
列パターンの中心画素が寄与するひび割れ長さの係数を
求め、全パターン及び係数を適当な記憶手段に記憶して
おく。
列パターンの中心画素が寄与するひび割れ長さの係数を
求め、全パターン及び係数を適当な記憶手段に記憶して
おく。
【００２８】以下、図１乃至図８、及び図１０乃至図１
２を参照して単位面積内のひび割れ長さを測定する方法
を説明する。
２を参照して単位面積内のひび割れ長さを測定する方法
を説明する。
【００２９】図１０はひび割れ長さを測定するために、
図１９に示す２値画像をセンターラインを基準として複
数の単位面積の画素領域３０ａ〜３０ｆに分割した様子
を模式的に表した図である。図１１は、図１０の画素領
域３０ｄの斜線部分３２の拡大図である。図１１におい
て、複数の正方形は夫々１画素を表し、網掛け部分の画
素（１の値を有する）はひび割れ部分を示し、白色の画
素（０の値を有する）はひび割れに属さない部分を示
す。
図１９に示す２値画像をセンターラインを基準として複
数の単位面積の画素領域３０ａ〜３０ｆに分割した様子
を模式的に表した図である。図１１は、図１０の画素領
域３０ｄの斜線部分３２の拡大図である。図１１におい
て、複数の正方形は夫々１画素を表し、網掛け部分の画
素（１の値を有する）はひび割れ部分を示し、白色の画
素（０の値を有する）はひび割れに属さない部分を示
す。
【００３０】単位面積の画素領域の端部の画素は他の画
素で周囲を囲まれていないので、画素Ｐ１から矢印Ｙ１
の方向に右端の画素の内側の画素（図示せず）まで、画
素毎に０か１かのチェックを行う。
素で周囲を囲まれていないので、画素Ｐ１から矢印Ｙ１
の方向に右端の画素の内側の画素（図示せず）まで、画
素毎に０か１かのチェックを行う。
【００３１】上述したように、画素が０の場合にはひび
割れ部分でないため無視し、画素が１の場合には周囲の
８画素の状態によって定まる画素パターンを、予め適当
な記憶手段に記憶してある図１乃至図８に示す２５６個
の画素パターンと比較し、一致した画素パターンの中心
画素が寄与するひび割れの長さの係数を求め、加算して
いく。
割れ部分でないため無視し、画素が１の場合には周囲の
８画素の状態によって定まる画素パターンを、予め適当
な記憶手段に記憶してある図１乃至図８に示す２５６個
の画素パターンと比較し、一致した画素パターンの中心
画素が寄与するひび割れの長さの係数を求め、加算して
いく。
【００３２】次に、第３行の画素Ｐ２から矢印Ｙ２に沿
って右端の端部画素（図示せず）の内側の画素まで、上
述と同様に処理する。更に、第４行に属する画素につい
ても、画素Ｐ３から矢印Ｙ３に沿って、同様の処理を行
う。このように、単位面積の画素領域中の最外周の画素
を除く全ての画素について上述の処理を行えば、単位面
積中のひび割れ長さの係数の値の総和が求まる。図１９
の画素の一辺の長さと実際の路面上の長さとの対応は既
知なので、係数の総和が求まれば、単位面積中の実際の
ひび割れ長さを近似的に求めることができる。
って右端の端部画素（図示せず）の内側の画素まで、上
述と同様に処理する。更に、第４行に属する画素につい
ても、画素Ｐ３から矢印Ｙ３に沿って、同様の処理を行
う。このように、単位面積の画素領域中の最外周の画素
を除く全ての画素について上述の処理を行えば、単位面
積中のひび割れ長さの係数の値の総和が求まる。図１９
の画素の一辺の長さと実際の路面上の長さとの対応は既
知なので、係数の総和が求まれば、単位面積中の実際の
ひび割れ長さを近似的に求めることができる。
【００３３】図１２は上述の動作を更に詳しく説明する
図である。画素Ｐ１はひび割れ部分を表す画素なので、
Ｐ１を中心画素とする３×３画素の配列パターン（図１
２の（Ａ）の太線で囲った部分）を、図１乃至図８に示
した複数の画素配列パターンと比較する。本実施例の場
合、図７の第２４９番のパターンと合致するので、第２
４６番のひび割れ長さの係数を適当な記憶箇所に記憶す
る。画素Ｐ１の右隣の画素Ｐ１（１）もひび割れ部分を
表す画素なので、図１２の（Ｂ）の太線で囲った画素配
列パターンを図１乃至図８の複数のパターンと比較す
る。この場合、図６の第２０６番のパターンと合致する
ので、該パターンに割り当てられたひび割れ長さの係数
を求め、既に求めた係数に加算する。図１２の（Ｃ）の
場合は、画素Ｐ１（２）はひび割れ部分の画素でないの
でこの画素を無視して次の画素に処理を移す。図１２の
（Ｅ）、（Ｆ）及び（Ｉ）については、注目する画素Ｐ
２（１）、Ｐ２（２）及びＰ３（２）が夫々ひび割れを
表す画素なので、太線で囲った画素パターンを図１乃至
図８の画素配列パターンと比較し、求めた係数を加算し
ていく。一方、図１２の（Ｄ）、（Ｇ）及び（Ｈ）では
注目する画素Ｐ２、Ｐ３及びＰ３（１）は夫々ひび割れ
部分の画素でないため無視される。
図である。画素Ｐ１はひび割れ部分を表す画素なので、
Ｐ１を中心画素とする３×３画素の配列パターン（図１
２の（Ａ）の太線で囲った部分）を、図１乃至図８に示
した複数の画素配列パターンと比較する。本実施例の場
合、図７の第２４９番のパターンと合致するので、第２
４６番のひび割れ長さの係数を適当な記憶箇所に記憶す
る。画素Ｐ１の右隣の画素Ｐ１（１）もひび割れ部分を
表す画素なので、図１２の（Ｂ）の太線で囲った画素配
列パターンを図１乃至図８の複数のパターンと比較す
る。この場合、図６の第２０６番のパターンと合致する
ので、該パターンに割り当てられたひび割れ長さの係数
を求め、既に求めた係数に加算する。図１２の（Ｃ）の
場合は、画素Ｐ１（２）はひび割れ部分の画素でないの
でこの画素を無視して次の画素に処理を移す。図１２の
（Ｅ）、（Ｆ）及び（Ｉ）については、注目する画素Ｐ
２（１）、Ｐ２（２）及びＰ３（２）が夫々ひび割れを
表す画素なので、太線で囲った画素パターンを図１乃至
図８の画素配列パターンと比較し、求めた係数を加算し
ていく。一方、図１２の（Ｄ）、（Ｇ）及び（Ｈ）では
注目する画素Ｐ２、Ｐ３及びＰ３（１）は夫々ひび割れ
部分の画素でないため無視される。
【００３４】本発明に係る方法を実施するための装置
（ハードウエア）自体は、当業者にとって自明なので図
示及び説明を省略する。
（ハードウエア）自体は、当業者にとって自明なので図
示及び説明を省略する。
【００３５】上述の説明では、測定対象の単位面積中の
端部の画素については、その画素を囲む画素が存在しな
いため無視された。しかし、測定対象の単位面積中の端
部の画素が他の測定領域の画素に隣接する場合は、この
隣接する画素を利用して３×３画素の配列パターンを図
１乃至図８の画素配列パターンと比較するようにしても
よい。
端部の画素については、その画素を囲む画素が存在しな
いため無視された。しかし、測定対象の単位面積中の端
部の画素が他の測定領域の画素に隣接する場合は、この
隣接する画素を利用して３×３画素の配列パターンを図
１乃至図８の画素配列パターンと比較するようにしても
よい。
【００３６】更に、本実施例では、処理対象の画素がひ
び割れ部分を表す場合、周囲８個の画素（即ち３×３画
素）を抽出して図１のパターンと比較しているが、５×
５画素を抽出するようにしてもよい。この場合、予め準
備する画素配列パターンは２(25-1)個となる。勿論、相
似形のパターンについては画素配列パターンの作成・記
憶を省略できることは３×３画素の場合と同様である。
び割れ部分を表す場合、周囲８個の画素（即ち３×３画
素）を抽出して図１のパターンと比較しているが、５×
５画素を抽出するようにしてもよい。この場合、予め準
備する画素配列パターンは２(25-1)個となる。勿論、相
似形のパターンについては画素配列パターンの作成・記
憶を省略できることは３×３画素の場合と同様である。
【００３７】
【発明の効果】本発明によれば、ひび割れ部分の画素を
中心とする所定の画素群を、予め用意した複数の画素配
列パターンと比較する。この比較動作をひび割れ部分の
画素について順次繰り返すことにより、単位面積中のひ
び割れ長さを求めることができる。特に、本発明に係る
方法は極めて簡単なソフトウェアで実施できるので、ひ
び割れを線として辿る従来の方法と比較して極めて短時
間で路面のひび割れ長さの測定ができるという顕著な効
果を有する。
中心とする所定の画素群を、予め用意した複数の画素配
列パターンと比較する。この比較動作をひび割れ部分の
画素について順次繰り返すことにより、単位面積中のひ
び割れ長さを求めることができる。特に、本発明に係る
方法は極めて簡単なソフトウェアで実施できるので、ひ
び割れを線として辿る従来の方法と比較して極めて短時
間で路面のひび割れ長さの測定ができるという顕著な効
果を有する。
【図１】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図２】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図３】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図４】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図５】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図６】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図７】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図８】本発明を実施するため必要な３×３画素の画素
配列パターンを示す図。
配列パターンを示す図。
【図９】本発明の画素配列パターンの中心画素が寄与す
るひび割れ長さの係数を求めるための基本パターンを示
す図。
るひび割れ長さの係数を求めるための基本パターンを示
す図。
【図１０】本発明の実施を説明するために、２値画像を
複数の“単位面積の画素領域”に分割する様子を示す
図。
複数の“単位面積の画素領域”に分割する様子を示す
図。
【図１１】図１０の単位面積の画素領域３０ｄの斜線部
分の詳細を示し、本発明の実施を説明する図。
分の詳細を示し、本発明の実施を説明する図。
【図１２】本発明の実施例を説明するための図。
【図１３】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
【図１４】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
【図１５】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
【図１６】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
【図１７】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
【図１８】本発明に利用するデジタル画像を得るための
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
デジタル画像処理過程のデジタル画像。
【図１９】本発明に用いるデジタル画像。
３０ａ 単位面積の画素領域 ３０ｂ 単位面積の画素領域 ３０ｃ 単位面積の画素領域 ３０ｄ 単位面積の画素領域 ３０ｅ 単位面積の画素領域 ３０ｆ 単位面積の画素領域 Ｐ１ 画素 Ｐ２ 画素 Ｐ３ 画素
Claims (4)
- 【請求項１】 路面を撮影して路面のアナログ画像を求
め、該アナログ画像に画像処理を施してひび割れの有無
を表す２値画像を求め、該２値画像から路面の単位面積
当たりのひび割れ長さを求める方法に関し、 （ａ）中心画素がひび割れを表す２値のＮ×Ｎ画素（Ｎ
は３以上の奇数）が取り得る複数個の画素配列パターン
を予め求め、該複数個の画素配列パターンの夫々に関し
て前記ひび割れを表す中心画素が寄与するひび割れの長
さの係数を予め求め、 （ｂ）上記ひび割れを表す２値画像に単位面積を設定
し、 （ｃ）該単位面積中の画素の内からひび割れを表す画素
を中心としてＮ×Ｎ画素を抽出し、 （ｄ）抽出したＮ×Ｎ画素の画素配列パターンを、上記
予め求めた複数個の画素配列パターンと比較して同一の
画素配列パターンを求め、該画素配列パターンに与えら
れたひび割れ長さの係数を求め、 （ｅ）上記ステップ（ｃ）乃至（ｄ）を上記単位面積中
の各画素について繰り返して夫々求めた係数を加算し、 求めた係数の合計を基にして上記単位面積中のひび割れ
長さを測定することを特徴とする路面のひび割れ長さの
測定方法。 - 【請求項２】 上記Ｎは３である請求項１に記載の路面
のひび割れ長さの測定方法。 - 【請求項３】 上記複数の画素配列パターンは２
(N・N-1)個である請求項１に記載の路面のひび割れ長さ
の測定方法。 - 【請求項４】 上記複数の画素配列パターンは２
(N・N-1)個の画素配列パターンから相似形の画素パター
ンを除いた画素配列パターンからなる請求項１に記載の
路面のひび割れ長さの測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20043793A JPH0735532A (ja) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | 路面のひび割れ長さの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20043793A JPH0735532A (ja) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | 路面のひび割れ長さの測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0735532A true JPH0735532A (ja) | 1995-02-07 |
Family
ID=16424282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20043793A Pending JPH0735532A (ja) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | 路面のひび割れ長さの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0735532A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1139471A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Kagawa Univ | 線分要素抽出方式及びその装置 |
| KR100443667B1 (ko) * | 2002-01-23 | 2004-08-09 | 주식회사 비젼넷 | 포장도로의 균열검출방법 |
| JP2009103720A (ja) * | 2009-02-10 | 2009-05-14 | Keisoku Kensa Kk | 微細ひび割れ幅検量方法 |
| JP2011179874A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | East Nippon Expressway Co Ltd | 舗装路面のクラックの抽出と損傷レベルの評価方法 |
| CN105572329A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-05-11 | 大连理工大学 | 混凝土裂纹标距自适应监测方法 |
| JP2018021375A (ja) * | 2016-08-03 | 2018-02-08 | 株式会社東芝 | 舗装ひび割れ解析装置、舗装ひび割れ解析方法及び舗装ひび割れ解析プログラム |
| JP2018128316A (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 大成建設株式会社 | ひび割れ検出方法 |
-
1993
- 1993-07-20 JP JP20043793A patent/JPH0735532A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1139471A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Kagawa Univ | 線分要素抽出方式及びその装置 |
| KR100443667B1 (ko) * | 2002-01-23 | 2004-08-09 | 주식회사 비젼넷 | 포장도로의 균열검출방법 |
| JP2009103720A (ja) * | 2009-02-10 | 2009-05-14 | Keisoku Kensa Kk | 微細ひび割れ幅検量方法 |
| JP2011179874A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | East Nippon Expressway Co Ltd | 舗装路面のクラックの抽出と損傷レベルの評価方法 |
| CN105572329A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-05-11 | 大连理工大学 | 混凝土裂纹标距自适应监测方法 |
| JP2018021375A (ja) * | 2016-08-03 | 2018-02-08 | 株式会社東芝 | 舗装ひび割れ解析装置、舗装ひび割れ解析方法及び舗装ひび割れ解析プログラム |
| JP2018128316A (ja) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 大成建設株式会社 | ひび割れ検出方法 |
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