JPH07323025A - Ｘ線吸収フィルタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】散乱線による影響の少ないサブトラクション画
像を得ることのできるＸ線吸収フィルタを提供する。 【構成】１ショット・デュアルエネルギ・サブトラクシ
ョン法によりＸ線のサブトラクション画像を得るときに
被写体を挟んでＸ線源と対向する１枚目のＸ線フィルム
と２枚目のＸ線フィルムとの間に配置されるフィルタ要
素１を、タングテン（Ｗ）または鉛（Ｐｂ）から構成し
たことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は１ショット・エネルギ
・サブトラクション法において用いられるＸ線吸収フィ
ルタに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線のサブトラクション画像を得る方法
として、２ショット・エネルギ・サブトラクション法と
称される撮影方法が知られている。この方法は被写体に
対して高電圧撮影と低電圧撮影をそれぞれ行なって同一
部位のサブトラクション画像を得る方法であるが、Ｘ線
管に印加する電圧を高電圧から低電圧または低電圧から
高電圧に切り換えたり、あるいはカセッテチェンジャ等
を用いてカセッテ交換を行なう必要がある。このため、
カセッテの交換時間や撮影条件の設定に時間がかかり、
患者の体動によりサブトラクション画像の画質が劣化す
るという問題がある。特に胸部撮影の場合は呼吸の位相
合せや心拍の同期をとることが困難なため、モーション
・アーチファクトが発生し易いという問題がある。

【０００３】そこで、被写体を挟んでＸ線源と対向する
フィルムカセッテに感度の異なる複数の増感紙と２枚の
Ｘ線フィルムを重ね合せて収納し、１枚目のＸ線フィル
ムと２枚目のＸ線フィルムとの間に配置されたＸ線吸収
フィルタにより２枚目のＸ線フィルムに露光するＸ線の
エネルギスペクトルを１枚目のＸ線フィルムに露光する
Ｘ線のエネルギスペクトルと異ならせてサブトラクショ
ン画像を得る方法（以下、１ショット・エネルギ・サブ
トラクション法と称す）が提案されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述した１ショット・
エネルギ・サブトラクション法は、２ショット・エネル
ギ・サブトラクション法のように、患者の体動によりサ
ブトラクション画像の画質が劣化するようなことはない
が、１枚目のＸ線フィルムと２枚目のＸ線フィルムとの
間に配置されるＸ線吸収フィルタとして銅板を使用して
いた。このため、Ｘ線吸収フィルタを透過したＸ線の一
部が散乱線となって２枚目のＸ線フィルムに入射し、２
枚目のＸ線フィルムに写し込まれる画像の画質が散乱線
の影響により劣化するという問題があった。

【０００５】この発明は上記のような問題点に鑑みてな
されたもので、その目的は１ショット・エネルギ・サブ
トラクション法によりサブトラクション画像を得る際に
散乱線による影響の少ないサブトラクション画像を得る
ことのできるＸ線吸収フィルタを提供しようとするもの
である。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、この発明のＸ線吸収フィルタは、銀（Ａｇ）、カ
ドミウム（Ｃｄ）、インジウム（Ｉｎ）、アンチモン
（Ｓｂ）、テルル（Ｔｅ）、よう素（Ｉ）、キセノン
（Ｘｅ）、セシウム（Ｃｓ）、バリウム（Ｂａ）、ラン
タン（Ｌａ）、セリウム（Ｃｅ）、プラセオジム（Ｐ
ｒ）、ネオジム（Ｎｄ）、プロメシウム（Ｐｍ）、サマ
リウム（Ｓｍ）、ユウロピウム（Ｅｕ）、ガドリウム
（Ｇｄ）、テルビウム（Ｔｂ）、ジスプロシウム（Ｄ
ｙ）、ホルミウム（Ｈｏ）、エルビウム（Ｅｒ）、ツリ
ウム（Ｔｍ）、イッテルビウム（Ｙｂ）、ルテチウム
（Ｌｕ）、ハフニウム（Ｈｆ）、タンタル（Ｔａ）、タ
ングステン（Ｗ）、レニウム（Ｒｅ）、オスミウム（Ｏ
ｓ）、イリジウム（Ｉｒ）、白金（Ｐｔ）、金（Ａ
ｕ）、水銀（Ａｇ）、タリウム（Ｔｌ）、鉛（Ｐｂ）の
うちいずれか１つの物質を主成分とするシート状のフィ
ルタ要素を具備してなることを特徴とするものである。

【０００７】

【作用】この発明では、銀（Ａｇ）、カドミウム（Ｃ
ｄ）、インジウム（Ｉｎ）、アンチモン（Ｓｂ）、テル
ル（Ｔｅ）、よう素（Ｉ）、キセノン（Ｘｅ）、セシウ
ム（Ｃｓ）、バリウム（Ｂａ）、ランタン（Ｌａ）、セ
リウム（Ｃｅ）、プラセオジム（Ｐｒ）、ネオジム（Ｎ
ｄ）、プロメシウム（Ｐｍ）、サマリウム（Ｓｍ）、ユ
ウロピウム（Ｅｕ）、ガドリウム（Ｇｄ）、テルビウム
（Ｔｂ）、ジスプロシウム（Ｄｙ）、ホルミウム（Ｈ
ｏ）、エルビウム（Ｅｒ）、ツリウム（Ｔｍ）、イッテ
ルビウム（Ｙｂ）、ルテチウム（Ｌｕ）、ハフニウム
（Ｈｆ）、タンタル（Ｔａ）、タングステン（Ｗ）、レ
ニウム（Ｒｅ）、オスミウム（Ｏｓ）、イリジウム（Ｉ
ｒ）、白金（Ｐｔ）、金（Ａｕ）、水銀（Ａｇ）、タリ
ウム（Ｔｌ）、鉛（Ｐｂ）のうちいずれか１つの物質を
主成分とするシート状のフィルタ要素を具備することに
より、散乱線の発生割合が低減される。

【０００８】

【実施例】以下、この発明の一実施例を図面を参照して
説明する。図１および図２はこの発明の一実施例を示す
図で、この発明の一実施例に係る１ショット・エネルギ
・サブトラクション法に用いられるＸ線吸収フィルタ
は、図１および図２に示すように、シート状のフィルタ
要素１と、このフィルタ要素１の周縁部を保持するフィ
ルタ要素保持体２とで構成されている。

【０００９】前記フィルタ要素１は、銀（Ａｇ）、カド
ミウム（Ｃｄ）、インジウム（Ｉｎ）、アンチモン（Ｓ
ｂ）、テルル（Ｔｅ）、よう素（Ｉ）、キセノン（Ｘ
ｅ）、セシウム（Ｃｓ）、バリウム（Ｂａ）、ランタン
（Ｌａ）、セリウム（Ｃｅ）、プラセオジム（Ｐｒ）、
ネオジム（Ｎｄ）、プロメシウム（Ｐｍ）、サマリウム
（Ｓｍ）、ユウロピウム（Ｅｕ）、ガドリウム（Ｇ
ｄ）、テルビウム（Ｔｂ）、ジスプロシウム（Ｄｙ）、
ホルミウム（Ｈｏ）、エルビウム（Ｅｒ）、ツリウム
（Ｔｍ）、イッテルビウム（Ｙｂ）、ルテチウム（Ｌ
ｕ）、ハフニウム（Ｈｆ）、タンタル（Ｔａ）、タング
ステン（Ｗ）、レニウム（Ｒｅ）、オスミウム（Ｏ
ｓ）、イリジウム（Ｉｒ）、白金（Ｐｔ）、金（Ａ
ｕ）、水銀（Ａｇ）、タリウム（Ｔｌ）、鉛（Ｐｂ）の
うちいずれか１つの物質からなり、０．１ｍｍ〜０．５
ｍｍ程度の厚さｔを有している。なお、加工性等を考慮
すると、フィルタ要素１は鉛またはタングステンからな
ることが好ましい一方、前記フィルタ要素保持体２は、
例えばステンレス鋼等からなり、中央にＸ線入射窓を形
成する開口部２ａを有している。

【００１０】このような構成のＸ線吸収フィルタを用い
てＸ線のサブトラション画像を得る場合には、図３に示
すように、まずフィルタ要素１の表側に増感紙を介して
１枚目のＸ線フィルム３を配置するとともに、フィルタ
要素１の裏側に増感紙を介して２枚目のＸ線フィルム４
を配置する。そして、１枚目のＸ線フィルム３を図示し
ないＸ線源に被写体を挟んで対向させ、Ｘ線源より被写
体にＸ線を曝射する。

【００１１】このとき、被写体を透過したＸ線はフィル
タ要素１の表側に配置された１枚目のＸ線フィルム３に
入射し、このＸ線フィルム３を透過してフィルタ要素１
に入射する。そして、フィルタ要素１に入射したＸ線は
そのエネルギスペクトルをフィルタ要素１によってシフ
トされ、軟部組織を除去した画像が２枚目のＸ線フィル
ム４に写し込まれる。

【００１２】このようにして２枚のＸ線フィルム３，４
に撮影されたＸ線画像に差分処理を施すことにより、エ
ネルギサブトラクション画像が得られる。表１は、Ｘ線
管電圧が６０ｋＶのときの銅（Ｃｕ）、銀（Ａｇ）、カ
ドミウム（Ｃｄ）、インジウム（Ｉｎ）、アンチモン
（Ｓｂ）、テルル（Ｔｅ）、よう素（Ｉ）、キセノン
（Ｘｅ）、セシウム（Ｃｓ）、バリウム（Ｂａ）、ラン
タン（Ｌａ）、セリウム（Ｃｅ）、プラセオジム（Ｐ
ｒ）、ネオジム（Ｎｄ）、プロメシウム（Ｐｍ）、サマ
リウム（Ｓｍ）、ユウロピウム（Ｅｕ）、ガドリウム
（Ｇｄ）、テルビウム（Ｔｂ）、ジスプロシウム（Ｄ
ｙ）、ホルミウム（Ｈｏ）、エルビウム（Ｅｒ）、ツリ
ウム（Ｔｍ）、イッテルビウム（Ｙｂ）、ルテチウム
（Ｌｕ）、ハフニウム（Ｈｆ）、タンタル（Ｔａ）、タ
ングステン（Ｗ）、レニウム（Ｒｅ）、オスミウム（Ｏ
ｓ）、イリジウム（Ｉｒ）、白金（Ｐｔ）、金（Ａ
ｕ）、水銀（Ａｇ）、タリウム（Ｔｌ）および鉛（Ｐ
ｂ）のＸ線吸収係数を示している。

【００１３】

【表１】

【００１４】また、図４の実線Ａは表１に示した物質の
Ｘ線吸収割合を示し、図４の破線Ｂは表１に示した物質
の散乱線発生割合を示している。表１および図４から明
らかなように、Ｘ線吸収フィルタのフィルタ要素１を銀
（Ａｇ）、カドミウム（Ｃｄ）、インジウム（Ｉｎ）、
アンチモン（Ｓｂ）、テルル（Ｔｅ）、よう素（Ｉ）、
キセノン（Ｘｅ）、セシウム（Ｃｓ）、バリウム（Ｂ
ａ）、ランタン（Ｌａ）、セリウム（Ｃｅ）、プラセオ
ジム（Ｐｒ）、ネオジム（Ｎｄ）、サマリウム（Ｓ
ｍ）、ユウロピウム（Ｅｕ）、ガドリウム（Ｇｄ）、テ
ルビウム（Ｔｂ）、ジスプロシウム（Ｄｙ）、ホルミウ
ム（Ｈｏ）、エルビウム（Ｅｒ）、ツリウム（Ｔｍ）、
イッテルビウム（Ｙｂ）、ルテチウム（Ｌｕ）、ハフニ
ウム（Ｈｆ）、タンタル（Ｔａ）、タングステン
（Ｗ）、レニウム（Ｒｅ）、オスミウム（Ｏｓ）、イリ
ジウム（Ｉｒ）、白金（Ｐｔ）、金（Ａｕ）、水銀（Ａ
ｇ）、タリウム（Ｔｌ）、鉛（Ｐｂ）のいずれか１つで
形成することにより、銅板からなる従来のＸ線吸収フィ
ルタに比べて散乱線の発生割合が低減されるので、散乱
線による影響の少ない画像を２枚目のＸ線フィルム４に
写し込むことができ、散乱線による影響の少ないサブト
ラクション画像を１ショット・エネルギ・サブトラクシ
ョン法にて得ることができる。

【００１５】また、この発明の一実施例に係るＸ線吸収
フィルタは、従来に比べてフィルタ要素１の厚さを薄く
することができるので、１枚目のＸ線フィルム３と２枚
目のＸ線フィルム４に撮影された画像の位置ずれが発生
し難くなる。

【００１６】なお、フィルタ要素１の厚さｔは銅板から
なる従来のＸ線吸収フィルタの厚さをＣｕ＝１．０ｍｍ
とすると、フィルタ要素１をタングステン（Ｗ）で形成
した場合はｔ＝０．１８９８ｍｍが６０ｋｅＶのＸ線を
同等に吸収することのできる厚さであり、フィルタ要素
１を鉛（Ｐｂ）で形成した場合はｔ＝０．２４１７ｍｍ
が６０ｋｅＶのＸ線を同等に吸収することのできる厚さ
である。また、フィルタ要素１をタングステン（Ｗ）ま
たは鉛（Ｐｂ）で形成することにより、シート状のフィ
ルタ要素１を比較的容易に作成することができる。

【００１７】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、１ショット・エネルギ・サブトラクション法により
サブトラクション画像を得る際に散乱線による影響の少
ないサブトラクション画像を得ることのできるＸ線吸収
フィルタを提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係るＸ線吸収フィルタの
斜視図。

【図２】同実施例に係るＸ線吸収フィルタの断面図。

【図３】同実施例に係るＸ線吸収フィルタを用いてＸ線
のサブトラクション画像を得る場合の説明図。

【図４】表１に示した物質のＸ線吸収割合と散乱線発生
割合を示す図。

【符号の説明】

１…フィルタ要素 ２…フィルタ要素保持体 ３，４…Ｘ線フィルム

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線のサブトラクション画像を１ショッ
   ト・エネルギ・サブトラクション法で得るとき用いられ
   るものであって、銀（Ａｇ）、カドミウム（Ｃｄ）、イ
   ンジウム（Ｉｎ）、アンチモン（Ｓｂ）、テルル（Ｔ
   ｅ）、よう素（Ｉ）、キセノン（Ｘｅ）、セシウム（Ｃ
   ｓ）、バリウム（Ｂａ）、ランタン（Ｌａ）、セリウム
   （Ｃｅ）、プラセオジム（Ｐｒ）、ネオジム（Ｎｄ）、
   プロメシウム（Ｐｍ）、サマリウム（Ｓｍ）、ユウロピ
   ウム（Ｅｕ）、ガドリウム（Ｇｄ）、テルビウム（Ｔ
   ｂ）、ジスプロシウム（Ｄｙ）、ホルミウム（Ｈｏ）、
   エルビウム（Ｅｒ）、ツリウム（Ｔｍ）、イッテルビウ
   ム（Ｙｂ）、ルテチウム（Ｌｕ）、ハフニウム（Ｈ
   ｆ）、タンタル（Ｔａ）、タングステン（Ｗ）、レニウ
   ム（Ｒｅ）、オスミウム（Ｏｓ）、イリジウム（Ｉ
   ｒ）、白金（Ｐｔ）、金（Ａｕ）、水銀（Ａｇ）、タリ
   ウム（Ｔｌ）、鉛（Ｐｂ）のうちいずれか１つの物質を
   主成分とするシート状のフィルタ要素を具備してなるこ
   とを特徴とするＸ線吸収フィルタ。
2. 【請求項２】 前記フィルタ要素は、０．１ｍｍ〜０．
   ５ｍｍの厚さを有することを特徴とする請求項１記載の
   Ｘ線吸収フィルタ。
3. 【請求項３】 前記フィルタ要素は、その周縁部を中央
   に開口部を有するフィルタ要素保持体に保持されている
   ことを特徴とする請求項１記載のＸ線吸収フィルタ。