JPH0731221B2 - 試験プラグ及び試験装置 - Google Patents
試験プラグ及び試験装置Info
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- JPH0731221B2 JPH0731221B2 JP3593587A JP3593587A JPH0731221B2 JP H0731221 B2 JPH0731221 B2 JP H0731221B2 JP 3593587 A JP3593587 A JP 3593587A JP 3593587 A JP3593587 A JP 3593587A JP H0731221 B2 JPH0731221 B2 JP H0731221B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- plunger
- test
- housing
- slot
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/66—Structural association with built-in electrical component
- H01R13/70—Structural association with built-in electrical component with built-in switch
- H01R13/703—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part
- H01R13/7031—Shorting, shunting or bussing of different terminals interrupted or effected on engagement of coupling part, e.g. for ESD protection, line continuity
- H01R13/7034—Shorting, shunting or bussing of different terminals interrupted or effected on engagement of coupling part, e.g. for ESD protection, line continuity the terminals being in direct electric contact separated by double sided connecting element
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R29/00—Coupling parts for selective co-operation with a counterpart in different ways to establish different circuits, e.g. for voltage selection, for series-parallel selection, programmable connectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Connections Arranged To Contact A Plurality Of Conductors (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Structure Of Telephone Exchanges (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電気通信工業における試験設備に使用する試験
プラグに関し、より詳しくは電気通信用端子組立体の電
気的接続を試験する試験プラグ及び試験組立体に関す
る。
プラグに関し、より詳しくは電気通信用端子組立体の電
気的接続を試験する試験プラグ及び試験組立体に関す
る。
従来から電気通信の端子部材によって送りこまれて来た
電気通信ラインを分電或は交差結線することは公知であ
る。この種の端子部材の1例は特願昭61−125961号(19
86年6月2日出願)に示されている。上記の出願明細書
には向き合ったたれに設けた個々の端子を有するU形の
取付金具が開示されている。端子は平行に向き合った2
列のワイヤコネクタ組立体を有するブロックで、該ワイ
ヤコネクタはブロックに形成した溝孔及び開口を介して
接近することができる。第13図及び第14図から判るよう
に、向き合ったワイヤコネクタ即ちワイヤ端子(46)は
弾性指形コネクタの形状をした雌形コンタクト(50)に
よって電気的に接続されている。第2の対の向き合った
弾性指形コネクタ(68a),(68d)を有する第2の雌形
コンタクト(68)が第1の雌形コンタクトの横であって
ワイヤ端子(46)に向き合って配設されている。第2の
雌形コンタクト(68)は接地帯片(64)に電気的に接続
される。上記出願明細書の装置により、ワイヤ端子を分
離円筒形コネクタ(46)内に置くことによって電気設備
ライン及び交差結線ラインが設置される。上記出願明細
書に述べるように電気通信端子は、設備を破損しまた設
備の付近の電気通信端子の破損の怖れがあるサージ電圧
或はサージ電流を時折り受ける。このためこのような設
備には過負荷保護装置を設ける。上記出願明細書の符号
(32)の位置に保護装置はプリント回路板(33)を含
む。プリント回路板の両面には導体がメッキで形成され
ている。プリント回路板(33)の導体パターンは雌形コ
ンタクトを形成する夫々の弾性指形コネクタに接触する
導体メッキ部を含む。プリント回路板(33)の向き合っ
た面はメッキを施した貫通孔を介して電気的に接続して
いるので、プリント回路板(33)はコンタクト(50),
(68a),(68d)等の向き合った弾性指形コネクタ間の
電気的接続を中断することがない。保護装置は導体の回
路に電気的に接続したガス・ディスチャージ要素(14
0)を含む。過負荷保護装置のガス・チャージ要素及び
その他の回路によって第1の雌形コンタクトの弾性指形
コネクタ(50)に接触する導体に発生した過電圧状態を
検知する。過電圧状態になると保護装置の回路によって
導体を地面に向けて分路する。上記の出願明細書におい
てプリント配線板(33)の露出した端部の両面には電気
的接続点が設けられていて、該接触点は第1の雌形コン
タクトの夫々の弾性指形コネクタ(50)に接触する。
電気通信ラインを分電或は交差結線することは公知であ
る。この種の端子部材の1例は特願昭61−125961号(19
86年6月2日出願)に示されている。上記の出願明細書
には向き合ったたれに設けた個々の端子を有するU形の
取付金具が開示されている。端子は平行に向き合った2
列のワイヤコネクタ組立体を有するブロックで、該ワイ
ヤコネクタはブロックに形成した溝孔及び開口を介して
接近することができる。第13図及び第14図から判るよう
に、向き合ったワイヤコネクタ即ちワイヤ端子(46)は
弾性指形コネクタの形状をした雌形コンタクト(50)に
よって電気的に接続されている。第2の対の向き合った
弾性指形コネクタ(68a),(68d)を有する第2の雌形
コンタクト(68)が第1の雌形コンタクトの横であって
ワイヤ端子(46)に向き合って配設されている。第2の
雌形コンタクト(68)は接地帯片(64)に電気的に接続
される。上記出願明細書の装置により、ワイヤ端子を分
離円筒形コネクタ(46)内に置くことによって電気設備
ライン及び交差結線ラインが設置される。上記出願明細
書に述べるように電気通信端子は、設備を破損しまた設
備の付近の電気通信端子の破損の怖れがあるサージ電圧
或はサージ電流を時折り受ける。このためこのような設
備には過負荷保護装置を設ける。上記出願明細書の符号
(32)の位置に保護装置はプリント回路板(33)を含
む。プリント回路板の両面には導体がメッキで形成され
ている。プリント回路板(33)の導体パターンは雌形コ
ンタクトを形成する夫々の弾性指形コネクタに接触する
導体メッキ部を含む。プリント回路板(33)の向き合っ
た面はメッキを施した貫通孔を介して電気的に接続して
いるので、プリント回路板(33)はコンタクト(50),
(68a),(68d)等の向き合った弾性指形コネクタ間の
電気的接続を中断することがない。保護装置は導体の回
路に電気的に接続したガス・ディスチャージ要素(14
0)を含む。過負荷保護装置のガス・チャージ要素及び
その他の回路によって第1の雌形コンタクトの弾性指形
コネクタ(50)に接触する導体に発生した過電圧状態を
検知する。過電圧状態になると保護装置の回路によって
導体を地面に向けて分路する。上記の出願明細書におい
てプリント配線板(33)の露出した端部の両面には電気
的接続点が設けられていて、該接触点は第1の雌形コン
タクトの夫々の弾性指形コネクタ(50)に接触する。
前述したように電気通信端子ブロックは個々の端子ブロ
ックの安全及び電気通信設備の保護のために過負荷保護
装置を備えている。このような設備の他の必要要素は端
子に接続した各種ワイヤ間の電気的接続を時折り試験す
ることが要求される。この目的でワイヤ端子に電気的に
接続した雌形コンタクトに挿入する接触要素を備えた試
験プラグが開発されている。接触要素は試験リードに電
気的に接触されていて、該試験リードによって雌形コン
タクトからの信号を作業員のスピーカーホーン或は他の
コンタクト等の試験源に送って交差結線を構成する。こ
のような試験プラグは例えば***ベルリン所在のクロー
ネ社(Krone GmbH)製で同社発行の設備表の注文番号第
301,833及び301,834番に示されている。クローネ社の設
備表に述べるように従来の試験プラグはプラグのハウジ
ングに固着した二つ以上のコンタクトを備え、該コンタ
クトは端子組立体の雌形コンタクトに挿入するだけのも
のである。
ックの安全及び電気通信設備の保護のために過負荷保護
装置を備えている。このような設備の他の必要要素は端
子に接続した各種ワイヤ間の電気的接続を時折り試験す
ることが要求される。この目的でワイヤ端子に電気的に
接続した雌形コンタクトに挿入する接触要素を備えた試
験プラグが開発されている。接触要素は試験リードに電
気的に接触されていて、該試験リードによって雌形コン
タクトからの信号を作業員のスピーカーホーン或は他の
コンタクト等の試験源に送って交差結線を構成する。こ
のような試験プラグは例えば***ベルリン所在のクロー
ネ社(Krone GmbH)製で同社発行の設備表の注文番号第
301,833及び301,834番に示されている。クローネ社の設
備表に述べるように従来の試験プラグはプラグのハウジ
ングに固着した二つ以上のコンタクトを備え、該コンタ
クトは端子組立体の雌形コンタクトに挿入するだけのも
のである。
過負荷保護装置を備えた従来の端子組立体では試験プラ
グを挿入する前に保護装置を取外さねばならない。その
ためそのようなプラグを用いての試験中には電気通信端
子設備が保護されない。端子ブロック内のすべての接続
部に該端子ブロック全体をカバーするマガジン形式の過
負荷保護装置を備えた端子構造においては上記は極めて
厄介な問題である。そのような保護装置の1例は前述し
たクローネの設備表に注文番号第301,811番で示されて
いる。上記はモジュール注文番号第301,221番に示すよ
うに10対のモジュール用のマガジンである。従って特定
の接続部を試験する際に特定の接続部が、その保護装置
の機能を失うだけでなく同一の端子ブロック内にあるす
べての接続部がその保護装置の機能を失うことになる。
グを挿入する前に保護装置を取外さねばならない。その
ためそのようなプラグを用いての試験中には電気通信端
子設備が保護されない。端子ブロック内のすべての接続
部に該端子ブロック全体をカバーするマガジン形式の過
負荷保護装置を備えた端子構造においては上記は極めて
厄介な問題である。そのような保護装置の1例は前述し
たクローネの設備表に注文番号第301,811番で示されて
いる。上記はモジュール注文番号第301,221番に示すよ
うに10対のモジュール用のマガジンである。従って特定
の接続部を試験する際に特定の接続部が、その保護装置
の機能を失うだけでなく同一の端子ブロック内にあるす
べての接続部がその保護装置の機能を失うことになる。
時折り電気的接続試験をすることができ該試験時にも過
負荷保護装置が使用できる端子組立体の提供が望まし
い。また過負荷保護装置の有無に拘らず十分汎用的に回
路を試験することのできる端子組立体の提供が望まし
い。さらに使用法が簡単でしかも製造費の安価な要素か
らできた端子組立体の提供が望ましい。しかし上述した
ような組立体及び要素は従来技術では得られなかった。
負荷保護装置が使用できる端子組立体の提供が望まし
い。また過負荷保護装置の有無に拘らず十分汎用的に回
路を試験することのできる端子組立体の提供が望まし
い。さらに使用法が簡単でしかも製造費の安価な要素か
らできた端子組立体の提供が望ましい。しかし上述した
ような組立体及び要素は従来技術では得られなかった。
本発明の目的は過負荷保護装置の有無に拘らず端子内の
回路を試験することのできる電気通信端子用試験プラグ
を提供することである。
回路を試験することのできる電気通信端子用試験プラグ
を提供することである。
本発明の別の目的は合理的な価格で容易に製造すること
ができかつ使用が容易な試験用プラグを提供することで
ある。
ができかつ使用が容易な試験用プラグを提供することで
ある。
本発明の好ましい実施例によれば、本発明の試験プラグ
は試験リードと端子組立体内の雌形電気コンタクトと過
負荷保護装置の露出した雄形電気コンタクトとを選択的
に電気的に接続する。本発明の試験プラグは手で掴むこ
とができる形状を有しかつハウジングの端部を貫通して
形成した溝孔と内部を通じたハウジングを含む。ハウジ
ングの表面に区画形成された溝孔は該溝孔内に収容され
る過負荷保護装置の露出状の電気コンタクトのために十
分に間隔をあけている。プランジヤはハウジング内に摺
動状に配設されていて、引出した位置と引込めた位置間
に亘って摺動可能である。プランジヤは溝孔を通して引
出すことができ又該プランジヤを引出した時に端子ブロ
ックの雌形コンタクト内に収まるような寸法を有する接
触部分を備える。上記のプランジヤは該プランジヤを引
込めた時にハウジング内に収まるような寸法を有する。
プランジヤが引込み位置にある時にハウジングを貫通す
る溝孔は妨げられない。電気コンタクトが溝孔内に配設
されかつ溝孔内に収容された雄形コンタクトを有する電
気コンタクトに弾発的に付勢される。プランジヤが引出
し位置に移動すると付勢された電気コントクトは溝孔か
ら押出され、該付勢されたコントクトはプランジヤの接
触部分に配設された導体に係合する。プランジヤ上の接
触部分は該接触部分が雌形コンタクトに収容されると端
子本体の雌形コンタクトに接触するような寸法に形成さ
れている。
は試験リードと端子組立体内の雌形電気コンタクトと過
負荷保護装置の露出した雄形電気コンタクトとを選択的
に電気的に接続する。本発明の試験プラグは手で掴むこ
とができる形状を有しかつハウジングの端部を貫通して
形成した溝孔と内部を通じたハウジングを含む。ハウジ
ングの表面に区画形成された溝孔は該溝孔内に収容され
る過負荷保護装置の露出状の電気コンタクトのために十
分に間隔をあけている。プランジヤはハウジング内に摺
動状に配設されていて、引出した位置と引込めた位置間
に亘って摺動可能である。プランジヤは溝孔を通して引
出すことができ又該プランジヤを引出した時に端子ブロ
ックの雌形コンタクト内に収まるような寸法を有する接
触部分を備える。上記のプランジヤは該プランジヤを引
込めた時にハウジング内に収まるような寸法を有する。
プランジヤが引込み位置にある時にハウジングを貫通す
る溝孔は妨げられない。電気コンタクトが溝孔内に配設
されかつ溝孔内に収容された雄形コンタクトを有する電
気コンタクトに弾発的に付勢される。プランジヤが引出
し位置に移動すると付勢された電気コントクトは溝孔か
ら押出され、該付勢されたコントクトはプランジヤの接
触部分に配設された導体に係合する。プランジヤ上の接
触部分は該接触部分が雌形コンタクトに収容されると端
子本体の雌形コンタクトに接触するような寸法に形成さ
れている。
図面について説明すると試験プラグ10は(第1図に示
す)試験リード12と端子ブロック16内に含まれた雌形電
気コンタクト14間の解除可能な電気接触を選択的に行な
う。また試験プラグ10は試験リード12と過負荷保護装置
18の雄形電気コンタクト17間の解除可能な電気接触を選
択的に行なうために使用される。本発明の試験プラグは
過負荷保護装置18と端子ブロック16と共に使用するもの
なので、後述する試験プラグ10の構造の理解を容易にす
るために過負荷保護装置18及び端子ブロック16を簡単に
説明する。
す)試験リード12と端子ブロック16内に含まれた雌形電
気コンタクト14間の解除可能な電気接触を選択的に行な
う。また試験プラグ10は試験リード12と過負荷保護装置
18の雄形電気コンタクト17間の解除可能な電気接触を選
択的に行なうために使用される。本発明の試験プラグは
過負荷保護装置18と端子ブロック16と共に使用するもの
なので、後述する試験プラグ10の構造の理解を容易にす
るために過負荷保護装置18及び端子ブロック16を簡単に
説明する。
端子ブロック16については前述した1986年6月2日出願
の特願昭61−125961号に詳細に示されている。端子ブロ
ック16は第9〜12図に想像線で示した端子本体20を含
む。端子本体20は絶縁材料で形成され、かつ一対の互に
向き合った分離円筒形コネクタの列を収容している。一
列に20個のコネクタが含まれ、また一つの例のうちの横
に並んだ2個のコネクタとそれに向き合った他の例のう
ちの2個のコネクタとによって1群を形成している。図
には4個のコネクタからなる1群のみが示されている。
各コネクタ22は夫々同一であって、ワイヤ収容端部26と
電気的接続端部28とを有する円筒形本体部分24を含む。
本体部分24にはワイヤ収容端部26から電気的接続端部28
に亘って軸線方向のスリット30が形成される。ワイヤ収
容端部26のスリット30と反対側にワイヤ成端ブレード32
を設ける。コネクタ22のような分離円筒形コネクタが、
絶縁物で囲んだ導電ワイヤからなる電気通信ワイヤのた
めに設けられることは当業界において公知である。ワイ
ヤ収容端部26上部にワイヤを置き、本体24の径に整合さ
せることによって分離円筒形コネクタ22にワイヤを接続
する。スリット30内にワイヤを挿入した状態でコネクタ
22内にワイヤを押込む。ワイヤをスリット30に通す時に
スリットを区画形成する本体部分24の縁部がワイヤの絶
縁物に突入してワイヤとコネクタ22とが電気的及び機械
的に接続する。余ったワイヤをブレード32に止める。
の特願昭61−125961号に詳細に示されている。端子ブロ
ック16は第9〜12図に想像線で示した端子本体20を含
む。端子本体20は絶縁材料で形成され、かつ一対の互に
向き合った分離円筒形コネクタの列を収容している。一
列に20個のコネクタが含まれ、また一つの例のうちの横
に並んだ2個のコネクタとそれに向き合った他の例のう
ちの2個のコネクタとによって1群を形成している。図
には4個のコネクタからなる1群のみが示されている。
各コネクタ22は夫々同一であって、ワイヤ収容端部26と
電気的接続端部28とを有する円筒形本体部分24を含む。
本体部分24にはワイヤ収容端部26から電気的接続端部28
に亘って軸線方向のスリット30が形成される。ワイヤ収
容端部26のスリット30と反対側にワイヤ成端ブレード32
を設ける。コネクタ22のような分離円筒形コネクタが、
絶縁物で囲んだ導電ワイヤからなる電気通信ワイヤのた
めに設けられることは当業界において公知である。ワイ
ヤ収容端部26上部にワイヤを置き、本体24の径に整合さ
せることによって分離円筒形コネクタ22にワイヤを接続
する。スリット30内にワイヤを挿入した状態でコネクタ
22内にワイヤを押込む。ワイヤをスリット30に通す時に
スリットを区画形成する本体部分24の縁部がワイヤの絶
縁物に突入してワイヤとコネクタ22とが電気的及び機械
的に接続する。余ったワイヤをブレード32に止める。
また端子本体20内には第1の雌形コンタクト14が設けら
れている。この雌形コンタクト14は第9図及び第10図に
示すような対向した分離円筒形コネクタ22を電気的に接
続するものである。図から判るように雌形コンタクト14
は弾性指形コネクタ34状をした1対の向き合ったコネク
タを備える。弾性指形コネクタ34は分離円筒形コネクタ
22の電気的接続端部28に固着した第1の端部36を有す
る。第9図及び第10図に示すように弾性指形コネクタ34
の断面形に略U字形をなし、接触指部38で終っている。
第11図及び第12図からよく判るように、接触指部38はス
リット40によって第1の半部38aとそれと平行に間隔を
あけた第2の半部38bに分離される。各半部38a及び38b
は対向した分離円筒形コネクタに向って出っぱった外方
突出部42を備える。弾性指形コネクタの自由端部44は突
外部42から外方に拡がっている。第9図及び第10図に示
すように、対向した分離円筒形コネクタ22の弾性指形コ
ネクタは該コネクタ34の突出部42が互に向き合うように
配列されている。また弾性指形コネクタ34は向き合った
突出部42間に邪魔物が存在しない時に両突出部42が互に
接触して、向き合った分離円筒形コネクタ22間が電気的
に接続するように弾発性が付与されている。
れている。この雌形コンタクト14は第9図及び第10図に
示すような対向した分離円筒形コネクタ22を電気的に接
続するものである。図から判るように雌形コンタクト14
は弾性指形コネクタ34状をした1対の向き合ったコネク
タを備える。弾性指形コネクタ34は分離円筒形コネクタ
22の電気的接続端部28に固着した第1の端部36を有す
る。第9図及び第10図に示すように弾性指形コネクタ34
の断面形に略U字形をなし、接触指部38で終っている。
第11図及び第12図からよく判るように、接触指部38はス
リット40によって第1の半部38aとそれと平行に間隔を
あけた第2の半部38bに分離される。各半部38a及び38b
は対向した分離円筒形コネクタに向って出っぱった外方
突出部42を備える。弾性指形コネクタの自由端部44は突
外部42から外方に拡がっている。第9図及び第10図に示
すように、対向した分離円筒形コネクタ22の弾性指形コ
ネクタは該コネクタ34の突出部42が互に向き合うように
配列されている。また弾性指形コネクタ34は向き合った
突出部42間に邪魔物が存在しない時に両突出部42が互に
接触して、向き合った分離円筒形コネクタ22間が電気的
に接続するように弾発性が付与されている。
第9〜12図に示すように、端子ブロックは端子本体20の
全長に亘って延びて図示せぬ適宜手段を介して地面に接
続した接地帯片44Aを含む。夫々の第1の雌形コンタク
ト14に隣接して、1対の弾性指形コネクタ48を含んだ第
2の雌形コンタクト46が設けられる。このコンタクト46
は向き合った突出部47を有する点でコネクタ34に類似で
ある。第2の雌形コンタクト46は第1の雌形コンタクト
14に直線状に整合している。
全長に亘って延びて図示せぬ適宜手段を介して地面に接
続した接地帯片44Aを含む。夫々の第1の雌形コンタク
ト14に隣接して、1対の弾性指形コネクタ48を含んだ第
2の雌形コンタクト46が設けられる。このコンタクト46
は向き合った突出部47を有する点でコネクタ34に類似で
ある。第2の雌形コンタクト46は第1の雌形コンタクト
14に直線状に整合している。
垂直方向平行方向に整列しかつ対向した平行列状した複
数の分離円筒形コネクタを有する端子ブロックは本発明
の部分を構成するものではない。また第1の雌形コンタ
クト14及びそれに直線状に整合した第2の雌形コンタク
ト46は本発明の部分を構成するものではない。しかし本
発明の試験プラグ10がその実施例において明瞭になるよ
うに簡単に説明しておく。
数の分離円筒形コネクタを有する端子ブロックは本発明
の部分を構成するものではない。また第1の雌形コンタ
クト14及びそれに直線状に整合した第2の雌形コンタク
ト46は本発明の部分を構成するものではない。しかし本
発明の試験プラグ10がその実施例において明瞭になるよ
うに簡単に説明しておく。
本発明に使用するために過負荷保護装置18が設けられて
いる。過負荷保護装置18はプリント回路(以下PC板と略
称する)50を含む。PC板は第1の面51とそれから平行に
間隔をあけた第2の面51aとを有して薄肉の幅が狹い長
い部材で形成される。過負荷保護装置18にPC板50で使用
することは新規性はないが、第1の面51上に配設された
導体52,54,56等のメッキで形成した導体を含む(第11
図、第12図)。夫々の導体52,56は第1の接触端部52a,5
6aから夫々第2の接触端部52b,56bに延びている。PC板5
0は該PC板の第1の端部52aを向き合った弾性指形コネク
タ48間に配設されて端子本体20内に挿入できるような長
い寸法を有する。PC板50は端部50aから端子本体20の長
手方向縁部20aから離隔した自由端部50bに向って延びて
いる。
いる。過負荷保護装置18はプリント回路(以下PC板と略
称する)50を含む。PC板は第1の面51とそれから平行に
間隔をあけた第2の面51aとを有して薄肉の幅が狹い長
い部材で形成される。過負荷保護装置18にPC板50で使用
することは新規性はないが、第1の面51上に配設された
導体52,54,56等のメッキで形成した導体を含む(第11
図、第12図)。夫々の導体52,56は第1の接触端部52a,5
6aから夫々第2の接触端部52b,56bに延びている。PC板5
0は該PC板の第1の端部52aを向き合った弾性指形コネク
タ48間に配設されて端子本体20内に挿入できるような長
い寸法を有する。PC板50は端部50aから端子本体20の長
手方向縁部20aから離隔した自由端部50bに向って延びて
いる。
PC板50の端部50aの位置には、PC板を貫通しかつ向き合
った弾性指形コネクタ48の向きあった突出部47に整合す
る切欠き58が形成される。突出部47が切欠き58に受入れ
られることによってPC板50が正確に位置決めされる。メ
ッキで形成した導体54は端部50aの位置に、弾性指形コ
ネクタ48に電気的に接触する第1の接触端部54aを備え
る。第9図及び第11図に示す位置にPC板50をもたらす
と、弾性指形コネクタ34の向き合った突出部分42に第1
及び第2の接触端部52a及び52bが当接する。
った弾性指形コネクタ48の向きあった突出部47に整合す
る切欠き58が形成される。突出部47が切欠き58に受入れ
られることによってPC板50が正確に位置決めされる。メ
ッキで形成した導体54は端部50aの位置に、弾性指形コ
ネクタ48に電気的に接触する第1の接触端部54aを備え
る。第9図及び第11図に示す位置にPC板50をもたらす
と、弾性指形コネクタ34の向き合った突出部分42に第1
及び第2の接触端部52a及び52bが当接する。
図に示さないがPC板50の第2の面51aも、弾性指形コネ
クタ22の突出部42に向き合った第1の端部から延びるよ
うに寸法決めした導体を含めてメッキで形成したいくつ
かの導体を備えている。これらの導体もPC板50の自由端
50bにある第2の端部まで延びている。PC板50の両面に
おいて導体52,56等のメッキで形成した導体の第1及び
第2の端部は、導体端部52bと56bの間隔が導体端部52a
と56aの間隔と等しくなるように平行でかつ直線状に整
合している。第1の面51上の導体と第2の面51a上の導
体は孔60のように貫通孔に施されたメッキ層によって電
気的に接続されている。
クタ22の突出部42に向き合った第1の端部から延びるよ
うに寸法決めした導体を含めてメッキで形成したいくつ
かの導体を備えている。これらの導体もPC板50の自由端
50bにある第2の端部まで延びている。PC板50の両面に
おいて導体52,56等のメッキで形成した導体の第1及び
第2の端部は、導体端部52bと56bの間隔が導体端部52a
と56aの間隔と等しくなるように平行でかつ直線状に整
合している。第1の面51上の導体と第2の面51a上の導
体は孔60のように貫通孔に施されたメッキ層によって電
気的に接続されている。
過負荷保護装置18は過負荷保護要素、殊に通常型式のガ
ス過電圧保護要素(PC板50に連結したガス・ディスチャ
ージ要素62であってもよい)を備える。ガス・ディスチ
ャージ要素62がその一部分であるPC板50の回路によって
導体52,56上に過電圧状態を検知し、過電圧を生ずると
導体を接地コネクタ54に分路する。上述した導体とガス
・ディスチャージ要素62を有するPC板50状の過負荷保護
装置18は本発明の要部ではなく、またその作動方法は本
発明の試験プラグの構造及び作動を理解するのには不必
要である。しかし面51及び51aの自由端部上の接触点が
弾性指形コネクタ34の突出部42間の間隔に等しい間隔を
おけた端子本体20の外側から、PC板50のメッキで形成し
た両側の導体をその第1の接触点(例えば52a,56a)か
ら第2の接触点(例えば52b,52b)に電気的に接続する
ことは極めて重要である。
ス過電圧保護要素(PC板50に連結したガス・ディスチャ
ージ要素62であってもよい)を備える。ガス・ディスチ
ャージ要素62がその一部分であるPC板50の回路によって
導体52,56上に過電圧状態を検知し、過電圧を生ずると
導体を接地コネクタ54に分路する。上述した導体とガス
・ディスチャージ要素62を有するPC板50状の過負荷保護
装置18は本発明の要部ではなく、またその作動方法は本
発明の試験プラグの構造及び作動を理解するのには不必
要である。しかし面51及び51aの自由端部上の接触点が
弾性指形コネクタ34の突出部42間の間隔に等しい間隔を
おけた端子本体20の外側から、PC板50のメッキで形成し
た両側の導体をその第1の接触点(例えば52a,56a)か
ら第2の接触点(例えば52b,52b)に電気的に接続する
ことは極めて重要である。
別々の試験リードを有する夫々の弾性指形コネクタ34を
電気的に接続して時折の所望の試験を行なうために本発
明の試験プラグが使用される。またPC板50の自由端部50
bを囲んで新規のハウジング64が設けられる。このハウ
ジングは後述するように過負荷保護装置18を有する試験
プラグ10の使用を容易にするものである。
電気的に接続して時折の所望の試験を行なうために本発
明の試験プラグが使用される。またPC板50の自由端部50
bを囲んで新規のハウジング64が設けられる。このハウ
ジングは後述するように過負荷保護装置18を有する試験
プラグ10の使用を容易にするものである。
第1〜8図に本発明の試験プラグ10を示す。第1,2図は
試験プラグ10を組立てた状態である。試験プラグ10はプ
ラグ内部空間72を区画形成するハウジング70を含む。ハ
ウジング70は同一の要素からなる同一の二つの半割り体
71から形成される。第6〜8図は夫々ハウジング半割り
体71の平面図、側面図及び端面図を示す。第6〜8図に
は完全なハウジングの外形をあらわすために第2の半割
り体の位置が想像線で示されている。
試験プラグ10を組立てた状態である。試験プラグ10はプ
ラグ内部空間72を区画形成するハウジング70を含む。ハ
ウジング70は同一の要素からなる同一の二つの半割り体
71から形成される。第6〜8図は夫々ハウジング半割り
体71の平面図、側面図及び端面図を示す。第6〜8図に
は完全なハウジングの外形をあらわすために第2の半割
り体の位置が想像線で示されている。
第6〜8図に示すように、ハウジング70は手で係合でき
るように形成されると共に本体部分76の周囲には作業員
が該本体部分76を掴み易いように平行に並んだ多数の隆
起74が形成されている。各半割り体71はハウジング70の
前端面80に対して略直角に延びた挿入板78を備える。半
割り体71の側壁82に1対の掛止クリップ84(第8図)を
設ける。このクリップ84を完全なハウジング70を区画形
成するために連結する他方の半割り体71のクリップに受
け切欠86(第6図)に収容される寸法に形成されてい
る。
るように形成されると共に本体部分76の周囲には作業員
が該本体部分76を掴み易いように平行に並んだ多数の隆
起74が形成されている。各半割り体71はハウジング70の
前端面80に対して略直角に延びた挿入板78を備える。半
割り体71の側壁82に1対の掛止クリップ84(第8図)を
設ける。このクリップ84を完全なハウジング70を区画形
成するために連結する他方の半割り体71のクリップに受
け切欠86(第6図)に収容される寸法に形成されてい
る。
二つの半割り体71を連結すると向き合った挿入板78は互
にある間隔をへだてて、夫々向き合った挿入板78及び前
端面80の間を通ってプラグ内部空間72内に向って延びる
溝孔88が形成される。挿入板78の表面に形成された向き
合った溝孔の間隔は面51と面51a間で測ったPC板50の厚
さに略等しい。溝孔88の側縁77から側縁79までの幅(第
6図)は側縁53と第2の側縁55間で測ったPC板の幅に略
等しい。
にある間隔をへだてて、夫々向き合った挿入板78及び前
端面80の間を通ってプラグ内部空間72内に向って延びる
溝孔88が形成される。挿入板78の表面に形成された向き
合った溝孔の間隔は面51と面51a間で測ったPC板50の厚
さに略等しい。溝孔88の側縁77から側縁79までの幅(第
6図)は側縁53と第2の側縁55間で測ったPC板の幅に略
等しい。
ハウジングの内部空間72には摺動状にプランジヤ90が設
けられる。第3〜5図に示すようにプランジヤ90は基端
部93から自由端部95に向って延びた平坦な接触部分92を
含む。接触部分92の厚さと幅はPC板の厚さと幅に略等し
いので接触部分92は溝孔88内を摺動可能である。接触部
分92の両側縁94,96には自由端部付近に逃し100が形成さ
れている。基端部93から延びて持揚げられた幅の狹いプ
ランジヤ端部106,108で終端するように形成された1対
のフォーク部102,104が側縁94,96に対して直線状に整合
して配設される。夫々のプランジヤ端部106,108には幅
の狹い***面110,112が形成されていて、***面110と11
2間の距離は互に連結された半割り体71の外面114間の距
離よりも大きい。
けられる。第3〜5図に示すようにプランジヤ90は基端
部93から自由端部95に向って延びた平坦な接触部分92を
含む。接触部分92の厚さと幅はPC板の厚さと幅に略等し
いので接触部分92は溝孔88内を摺動可能である。接触部
分92の両側縁94,96には自由端部付近に逃し100が形成さ
れている。基端部93から延びて持揚げられた幅の狹いプ
ランジヤ端部106,108で終端するように形成された1対
のフォーク部102,104が側縁94,96に対して直線状に整合
して配設される。夫々のプランジヤ端部106,108には幅
の狹い***面110,112が形成されていて、***面110と11
2間の距離は互に連結された半割り体71の外面114間の距
離よりも大きい。
第6図に示すように、各半割り体にプランジヤ端部106,
108の幅に略等しい幅を有する溝孔118が形成されてい
る。この溝孔118は後述するようにプランジヤの側部の
方向に略平行に長手方向に延びている。
108の幅に略等しい幅を有する溝孔118が形成されてい
る。この溝孔118は後述するようにプランジヤの側部の
方向に略平行に長手方向に延びている。
第1図及び第2図に示すように、プランジヤ90は***面
110,112を溝孔118を通して突出させてハウジング70の内
部空間72に配設される。接触部分92は自由端部95を溝孔
88内に収めた状態でハウジング70の内部空間72の内部中
心を延びている。各プランジヤ端部106,108は内側に突
出しかつハウジング壁114の内面114a付近に配設された
内向き突出状のたれ120,122を備える。各内面114aには
たれ120,122の外形に合わせて形成された切欠き116と11
7とが互に間隔をあけて設けられている。切欠116と117
間の距離は第1図に示す引込んだ位置から第2図に示す
引出した位置間に亘るプランジヤ90の所望のストローク
に等しく選ばれている。
110,112を溝孔118を通して突出させてハウジング70の内
部空間72に配設される。接触部分92は自由端部95を溝孔
88内に収めた状態でハウジング70の内部空間72の内部中
心を延びている。各プランジヤ端部106,108は内側に突
出しかつハウジング壁114の内面114a付近に配設された
内向き突出状のたれ120,122を備える。各内面114aには
たれ120,122の外形に合わせて形成された切欠き116と11
7とが互に間隔をあけて設けられている。切欠116と117
間の距離は第1図に示す引込んだ位置から第2図に示す
引出した位置間に亘るプランジヤ90の所望のストローク
に等しく選ばれている。
***面110,112を掴むことにより、作業員は***面に力
をかけてたれ120,122を切欠116から外すことができる。
この時点でプランジヤ90を引き出した位置に向けて移動
し、次いで作業員が***面110,112にかけていた力を弛
め、片持ばり形のフォーク部102,104の弾発性を利用し
てたれ120,122を別の切欠117に押込む。プランジヤ90を
完全引込み位置(第1図)に引込むには上記と丁度反対
のやり方で行なう。
をかけてたれ120,122を切欠116から外すことができる。
この時点でプランジヤ90を引き出した位置に向けて移動
し、次いで作業員が***面110,112にかけていた力を弛
め、片持ばり形のフォーク部102,104の弾発性を利用し
てたれ120,122を別の切欠117に押込む。プランジヤ90を
完全引込み位置(第1図)に引込むには上記と丁度反対
のやり方で行なう。
第1図及び第2図に示すように、接触部分92はプランジ
ヤ90を第2図の位置に引出した時に自由端部95がハウジ
ング70の外方に露出するような長さに形成されている。
引込んだ位置において自由端部95は挿入板78の端部81か
ら距離をあけ、従って溝孔88の中にかくれる。接触部分
92は前端壁80と逃し100間の距離が、端子ブロック20の
上縁部20aと第1の雌形コネクタ14の突出部42間の距離
に略等しくなるように形成されている。
ヤ90を第2図の位置に引出した時に自由端部95がハウジ
ング70の外方に露出するような長さに形成されている。
引込んだ位置において自由端部95は挿入板78の端部81か
ら距離をあけ、従って溝孔88の中にかくれる。接触部分
92は前端壁80と逃し100間の距離が、端子ブロック20の
上縁部20aと第1の雌形コネクタ14の突出部42間の距離
に略等しくなるように形成されている。
第3〜5図からよく判るように、プランジヤ90には接触
部分92の両側に1対の平行な導体帯片124が設けられて
いる。この導体帯片124は普通に利用されている方法に
よって非導電性の接触部分92上に銅等の導電性金属を配
設することが好ましく、通常は接触部分92にマスクをか
けて導体帯片124用に必要な部分だけを露出させ、接着
工程中に該部分に銅を付着させる。導体帯片124は第1
の雌形コンタクト14の隣接した弾性指形コネクタ34の間
隔に等しい間隔で接触部分92上に間隔をあけて平行に配
設される。
部分92の両側に1対の平行な導体帯片124が設けられて
いる。この導体帯片124は普通に利用されている方法に
よって非導電性の接触部分92上に銅等の導電性金属を配
設することが好ましく、通常は接触部分92にマスクをか
けて導体帯片124用に必要な部分だけを露出させ、接着
工程中に該部分に銅を付着させる。導体帯片124は第1
の雌形コンタクト14の隣接した弾性指形コネクタ34の間
隔に等しい間隔で接触部分92上に間隔をあけて平行に配
設される。
次に第6,1,2図について述べると、夫々の半割り体71は
1対の円筒状柱部128を備える。柱部128は内部空間72内
に配設されて夫々導電金属製クリップ132を支持する。
クリップ132はねじ136等の適宜手段によって柱部128に
固着される。クリップ132は挿入板78で形成された溝孔8
8内に延びている。挿入板78にはクリップに向き合った
位置にクリップ132を収容可能な寸法に形成された溝138
及び開口139が設けられている。第1図に示すようにク
リップ132は突出部140を備えていて、クリップ132を向
き合わせると向き合った突出部が互に押し合うようにな
っている。第2図に示すように、プランジヤ90が移動し
て引出した位置に達するとプランジヤ90の接触部分92は
クリップ132の固有の弾発性に抗してクリップを溝138内
に押付ける。この時クリップ132の自由端は開口139を通
して延びている。プランジヤ90が引出した位置にあると
クリップ132は接触部分92の両側において互に平行にな
るので夫々のクリップ132は接触部分92の導体帯片124の
一つにしっかりと係合して電気的に接触する。
1対の円筒状柱部128を備える。柱部128は内部空間72内
に配設されて夫々導電金属製クリップ132を支持する。
クリップ132はねじ136等の適宜手段によって柱部128に
固着される。クリップ132は挿入板78で形成された溝孔8
8内に延びている。挿入板78にはクリップに向き合った
位置にクリップ132を収容可能な寸法に形成された溝138
及び開口139が設けられている。第1図に示すようにク
リップ132は突出部140を備えていて、クリップ132を向
き合わせると向き合った突出部が互に押し合うようにな
っている。第2図に示すように、プランジヤ90が移動し
て引出した位置に達するとプランジヤ90の接触部分92は
クリップ132の固有の弾発性に抗してクリップを溝138内
に押付ける。この時クリップ132の自由端は開口139を通
して延びている。プランジヤ90が引出した位置にあると
クリップ132は接触部分92の両側において互に平行にな
るので夫々のクリップ132は接触部分92の導体帯片124の
一つにしっかりと係合して電気的に接触する。
4本ワイヤ用試験リード12がハウジング70の側壁81に形
成した半円形切欠によって区画形成した開口150を通し
て延びている。4本ワイヤ152が試験リード12から夫々
のクリップ132に向って延びて、適宜手段によってクリ
ップ132にしっかりと固着される。ハウジング70内に試
験リード12を保持するために内部空間72側にある試験リ
ード12の周りに熱収縮性材153を配設する。該熱収縮性
材が試験リード12の周りで熱収縮して試験リード12がハ
ウジング70から抜け出すのを防止する。
成した半円形切欠によって区画形成した開口150を通し
て延びている。4本ワイヤ152が試験リード12から夫々
のクリップ132に向って延びて、適宜手段によってクリ
ップ132にしっかりと固着される。ハウジング70内に試
験リード12を保持するために内部空間72側にある試験リ
ード12の周りに熱収縮性材153を配設する。該熱収縮性
材が試験リード12の周りで熱収縮して試験リード12がハ
ウジング70から抜け出すのを防止する。
試験プラグ70は挿入板78及び端壁80に対して略直角に延
びた1対の支持用隅板154,155を含む。隅板155には切欠
156が形成されておるがその機能については後述する。
びた1対の支持用隅板154,155を含む。隅板155には切欠
156が形成されておるがその機能については後述する。
以上、試験プラグ10の構造を説明したが、試験リード12
の各ワイヤ154と第1の雌形コンタクト14の弾性指形コ
ネクタ34との間のすぐれた電気的接続をするために試験
プラグ10がどのように使用されるかは容易に理解できる
であろう。第10図及び第12図に示すように、プランジヤ
90が移動して十分に引出された位置にあって、第1の端
壁80が端子本体20の縁部20aに当接した状態で端子本体2
0内に挿入されている。このように配設するとプランジ
ヤ90の接触部分92が向き合った弾性指形コネクタ34の間
に突入し、逃げ100に向き合った突出部42が収まって試
験プラグ10が所定の位置に固定される。また突出部42が
それに向き合った導体帯片124に接触する。引出した位
置においてクリップ132が導体帯片124に押付けられてい
るので、弾性指形コネクタ34と試験リード12のワイヤ15
2間の連続した電気的接続が得られる。
の各ワイヤ154と第1の雌形コンタクト14の弾性指形コ
ネクタ34との間のすぐれた電気的接続をするために試験
プラグ10がどのように使用されるかは容易に理解できる
であろう。第10図及び第12図に示すように、プランジヤ
90が移動して十分に引出された位置にあって、第1の端
壁80が端子本体20の縁部20aに当接した状態で端子本体2
0内に挿入されている。このように配設するとプランジ
ヤ90の接触部分92が向き合った弾性指形コネクタ34の間
に突入し、逃げ100に向き合った突出部42が収まって試
験プラグ10が所定の位置に固定される。また突出部42が
それに向き合った導体帯片124に接触する。引出した位
置においてクリップ132が導体帯片124に押付けられてい
るので、弾性指形コネクタ34と試験リード12のワイヤ15
2間の連続した電気的接続が得られる。
もし、試験リード12のワイヤ152を弾性指形コネクタと
を接触状にし、しかも過負荷保護装置18を使用したい場
合には、試験プラグ10の別の使い方としてプランジヤ90
を第1図に示す十分に引込んだ位置に引込める。このよ
うにプランジヤ90を引込めると該プランジヤはもはやク
リップ132を溝138に向けて付勢しなくなる。従ってクリ
ップ132は溝孔88内ではね返える。従ってクリップ132は
溝孔88内ではね返える。クリップ132が溝孔88内に配設
されると第9図及び第11図に示すように、試験プラグ10
はPC板50の自由端部50bの位置において雄形コンタクト1
7上に付勢される。(第11図は比較のためにプラグ10を
有する保護装置18とプラグ10を有しない保護装置18′を
示す。保護装置18′の構成要素及び関連コネクタは保護
装置18の構成要素及び関連コネクタにダッシュを付けて
示した。)夫々の4個のクリップ132はPC板50の両面51,
51aにメッキで形成した導体の第2の接触端部52b,56bと
しっかりと電気的に接触する。同様にPC板50のメッキで
形成した導体の第1の接触端部52a,56aは夫々4個の弾
性指形コネクタ34にしっかりと電気的に接触する。その
結果、夫々の弾性指形コネクタ34は試験リード12の4本
のワイヤ152のうちの一つとしっかりと電気的に接触す
る。
を接触状にし、しかも過負荷保護装置18を使用したい場
合には、試験プラグ10の別の使い方としてプランジヤ90
を第1図に示す十分に引込んだ位置に引込める。このよ
うにプランジヤ90を引込めると該プランジヤはもはやク
リップ132を溝138に向けて付勢しなくなる。従ってクリ
ップ132は溝孔88内ではね返える。従ってクリップ132は
溝孔88内ではね返える。クリップ132が溝孔88内に配設
されると第9図及び第11図に示すように、試験プラグ10
はPC板50の自由端部50bの位置において雄形コンタクト1
7上に付勢される。(第11図は比較のためにプラグ10を
有する保護装置18とプラグ10を有しない保護装置18′を
示す。保護装置18′の構成要素及び関連コネクタは保護
装置18の構成要素及び関連コネクタにダッシュを付けて
示した。)夫々の4個のクリップ132はPC板50の両面51,
51aにメッキで形成した導体の第2の接触端部52b,56bと
しっかりと電気的に接触する。同様にPC板50のメッキで
形成した導体の第1の接触端部52a,56aは夫々4個の弾
性指形コネクタ34にしっかりと電気的に接触する。その
結果、夫々の弾性指形コネクタ34は試験リード12の4本
のワイヤ152のうちの一つとしっかりと電気的に接触す
る。
過負荷保護装置18と共に使用中の試験プラグ10を所定位
置に保持するために過負荷保護装置18は端子本体20の外
方にハウジング64を備える。ハウジング64はガス・ディ
スチャージ要素62とPC板50の露出部分とを包囲した本体
部分162を含む。PC板50の雄形コンタクト17の自由端部5
0bはハウジング64を貫通して延びている。雄形コンタク
ト17は保護遮蔽物164によって囲まれている。この遮蔽
物164は第9図に示すように向き合った挿入板78間には
さまれたPC板50の挿入板78の部分が侵入するのに十分な
距離をあけている。保護遮蔽物164の一部分は隅板155に
形成された切欠156内に嵌るような寸法の端部166を有す
る片持ばり状クリップ165に形成されている。片持ばり
状クリップ165が隅板155に固着されるので試験プラグ10
を電気的接触状態に保持させたまゝで作業員は他の仕事
に従事することができる。
置に保持するために過負荷保護装置18は端子本体20の外
方にハウジング64を備える。ハウジング64はガス・ディ
スチャージ要素62とPC板50の露出部分とを包囲した本体
部分162を含む。PC板50の雄形コンタクト17の自由端部5
0bはハウジング64を貫通して延びている。雄形コンタク
ト17は保護遮蔽物164によって囲まれている。この遮蔽
物164は第9図に示すように向き合った挿入板78間には
さまれたPC板50の挿入板78の部分が侵入するのに十分な
距離をあけている。保護遮蔽物164の一部分は隅板155に
形成された切欠156内に嵌るような寸法の端部166を有す
る片持ばり状クリップ165に形成されている。片持ばり
状クリップ165が隅板155に固着されるので試験プラグ10
を電気的接触状態に保持させたまゝで作業員は他の仕事
に従事することができる。
上記から本発明の目的がうまく達成されることが判る。
本発明の試験プラグは試験リード12の4本のワイヤ152
と端子本体20内の雌形コネクタ14との間の電気的接触に
使用できるので極めて有益である。また試験プラグ10は
試験リード12のワイヤ152とPC板50の雄形コンタクト17
の自由端部50bとの間の電気的接触に使用するように変
更することができる。後者のように接続すると、PC板の
構造に起因して試験リード12のワイヤ152は雌形コンタ
クト14の夫々の弾性指形コネクタ34と依然として接触を
保つことができる。その結果、試験プラグ10は過負荷保
護装置18の使用の有無に拘らず電気接触試験に使用する
ことができ、従って汎用性が増し又電気通信設備の安全
性を増大する。尚、上述の説明では4本の導体帯片124
を有して4個の弾性指形コネクタ34と試験リード150の
4本のワイヤ151を電気的に接続する試験プラグについ
て述べたが、本発明が例えば試験リードの2本のワイヤ
と端子本体内の2個のコネクタとの間の電気的接続等の
別の型式に適用できることは容易に理解できるであろ
う。
本発明の試験プラグは試験リード12の4本のワイヤ152
と端子本体20内の雌形コネクタ14との間の電気的接触に
使用できるので極めて有益である。また試験プラグ10は
試験リード12のワイヤ152とPC板50の雄形コンタクト17
の自由端部50bとの間の電気的接触に使用するように変
更することができる。後者のように接続すると、PC板の
構造に起因して試験リード12のワイヤ152は雌形コンタ
クト14の夫々の弾性指形コネクタ34と依然として接触を
保つことができる。その結果、試験プラグ10は過負荷保
護装置18の使用の有無に拘らず電気接触試験に使用する
ことができ、従って汎用性が増し又電気通信設備の安全
性を増大する。尚、上述の説明では4本の導体帯片124
を有して4個の弾性指形コネクタ34と試験リード150の
4本のワイヤ151を電気的に接続する試験プラグについ
て述べたが、本発明が例えば試験リードの2本のワイヤ
と端子本体内の2個のコネクタとの間の電気的接続等の
別の型式に適用できることは容易に理解できるであろ
う。
当業者が容易に想起できる事項等の本発明の上記及び他
の変形及び均等物は本発明の請求の範囲に含まれるもの
である。従って本発明の範囲はその請求の範囲に限定さ
れるものではない。
の変形及び均等物は本発明の請求の範囲に含まれるもの
である。従って本発明の範囲はその請求の範囲に限定さ
れるものではない。
第1図は組立てた本発明の試験プラグの部分破断側面図
でプランジヤを引込んだ状態を示し、第2図は第1図の
プランジヤを引出した状態を示す部分破断側面図、第3
図は本発明の試験プラグ用プランジヤの平面図、第4図
は第3図のプランジヤの側面図、第5図は第4図のプラ
ンジヤの端面図、第6図は本発明の試験プラグのハウジ
ング部分の平面図、第7図は第6図のハウジング部分の
側面図、第8図は第6図及び第7図のハウジング部分の
端面図、第9図は本発明の試験プラグを有する端子ブロ
ックに取付けた過負荷保護装置の側面図で、試験プラグ
が過負荷保護装置に作動的に接続していることを示し、
第10図は端子ブロックに挿入された本発明の試験プラグ
を示す側面図、第11図は第9図の正面図、第12図は第10
図の正面図、第13図は従来装置の正面図、第14図は従来
装置の側面図である。 10……試験プラグ、12……試験リード、 14……雌形コンタクト、17……雄形コンタクト、 18……過負荷保護装置、34……電気コネクタ、 42……突出部、52,56……導体、 70……ハウジング、72……内部空間、 84……掛止め部材、86……切欠、 88……溝孔、90……プランジヤ、 92……接触部分、100……逃し、 102,104……フォーク部、118……溝孔、 120,122……たれ、124……導電部材、 132……弾発性付勢手段、138……溝、 140……第1の電気的接触点、 152……導電手段。
でプランジヤを引込んだ状態を示し、第2図は第1図の
プランジヤを引出した状態を示す部分破断側面図、第3
図は本発明の試験プラグ用プランジヤの平面図、第4図
は第3図のプランジヤの側面図、第5図は第4図のプラ
ンジヤの端面図、第6図は本発明の試験プラグのハウジ
ング部分の平面図、第7図は第6図のハウジング部分の
側面図、第8図は第6図及び第7図のハウジング部分の
端面図、第9図は本発明の試験プラグを有する端子ブロ
ックに取付けた過負荷保護装置の側面図で、試験プラグ
が過負荷保護装置に作動的に接続していることを示し、
第10図は端子ブロックに挿入された本発明の試験プラグ
を示す側面図、第11図は第9図の正面図、第12図は第10
図の正面図、第13図は従来装置の正面図、第14図は従来
装置の側面図である。 10……試験プラグ、12……試験リード、 14……雌形コンタクト、17……雄形コンタクト、 18……過負荷保護装置、34……電気コネクタ、 42……突出部、52,56……導体、 70……ハウジング、72……内部空間、 84……掛止め部材、86……切欠、 88……溝孔、90……プランジヤ、 92……接触部分、100……逃し、 102,104……フォーク部、118……溝孔、 120,122……たれ、124……導電部材、 132……弾発性付勢手段、138……溝、 140……第1の電気的接触点、 152……導電手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−58477(JP,A) 実開 昭54−62031(JP,U)
Claims (12)
- 【請求項1】試験リードと定寸法の第1の雌形コンタク
トと定寸法の第2の雄形コンタクト間に亘って解除可能
な電気的接続を選択的に行なうための試験用プラグにお
いて、 ハウジング(70)は内部空間(72)を有して手で掴み得
る寸法に形成されかつ上記ハウジングの一端には上記内
部空間(72)に連通した溝孔(88)が形成され、該溝孔
(88)を区画形成する上記ハウジング(70)の両表面は
上記雄形コンタクト(17)が上記両面間の上記溝孔(8
8)に収まるように互に間隔をあけ、 プランジヤ(90)は上記ハウジング(70)の内部空間
(72)に配設されて引出し位置と引込み位置間に亘って
摺動移動可能に形成され、上記プランジヤ(90)は該プ
ランジヤ(90)が上記引出し位置にある時に上記溝孔
(88)を通して延びて上記雌形コンタクト(14)内に収
まるような寸法に形成され、また上記プランジヤ(90)
が上記溝孔(88)による上記雄形コンタクト(17)の挿
入を邪魔されることなく上記ハウジング(70)内の上記
引込み位置に収まるような寸法に形成された接触部分
(92)を有し、 上記雄形コンタクト(17)が上記溝孔(88)内に収まっ
た時に第1の電気的接触点(140)は上記溝孔(88)内
にあって弾発性付勢手段(132)によって該雄形コンタ
クトに電気的に接続し、また上記プランジヤ(90)が上
記引出し位置に向って移動した時に上記第1の電気的接
触点(140)は上記溝孔(88)から外方に移動して上記
弾発性付勢手段(132)によって上記第1の電気的接触
点(140)を上記プランジヤ(90)の上記接触部分(9
2)に対して接触状に付勢し、 導電手段(152)は上記第1の電気的接触点(140)と上
記試験リード(12)を電気的に接続し、 導電部材(124)は上記プランジヤの接触部分(92)上
に配設され、かつ該接触部分(92)が上記雌形コンタク
ト(14)内に収められた時に該雌形コンタクト(14)に
電気的に接続し、また上記プランジヤ(90)が上記引出
し位置にある時に上記導電部材(124)が上記第1の電
気的接触点(140)と電気的に接続したことを特徴とす
る試験プラグ。 - 【請求項2】上記プランジヤ(90)は非導電性材料から
なりかつ該非導電性材料の上に導電性材料が配設された
ものであり、また上記引出し位置から引込み位置に亘っ
た上記プランジヤ(90)の移動方向に平行に略直線状に
延びた特許請求の範囲第1項記載の試験プラグ。 - 【請求項3】上記プランジヤ(90)は上記ハウジング
(70)に上記引込み位置に相当する位置に形成した第1
の順応面及び上記引出し位置に形成した第2の順応面内
に夫々収め得る寸法の掛止め部材(84)と、該掛止め部
材(84)を上記順応面に弾発的に付勢する手段と、上記
掛止め部材を係合させる手段とを、備え、上記係合手段
を上記付勢手段に付勢して掛止め部材を解除して第1及
び第2の順応面間に亘って移動させ、それによって上記
プランジヤを上記引込み位置と引出し位置間に亘って移
動させた特許請求の範囲第1項記載の試験プランジヤ。 - 【請求項4】導電性の弾発性部材(132)は上記ハウジ
ング(70)内に固着されかつ上記試験リード(12)に電
気的に接続された第1の端部を有すると共に上記雄形コ
ンタクト17を上記溝孔(88)内に配設した時に上記溝孔
(88)内に配設されて上記雄形コンタクト(17)と電気
的に接続される第2の端部を有し、上記弾発発生部材
(132)と向き合った溝孔(88)の内面には上記弾発性
部材(132)を収める溝(138)が形成されていて、上記
プランジヤ(90)が上記引出し位置に向って移動するの
につれて上記弾発性部材(132)が上記溝(138)内に付
勢され、上記弾発性部材(132)の弾性によって該弾発
性部材を上記プランジヤ上の導電性部材に対して電気的
に接触させた特許請求の範囲第2項記載の試験プラグ。 - 【請求項5】上記プランジヤ(90)は上記接触部分(9
2)から延びた1対の片持ばり状のフォーク部(102,10
4)を備え、該フォーク部は上記接触部分の反対側の隆
起部材で終端し、該***部材はそれに向き合った上記ハ
ウジング(70)に形成されたたれ受け切欠(86)に係合
するような寸法に形成したたれ(120,122)を含み、上
記ハウジング(70)は上記***部材が係合する長い溝孔
(118)を有し、該溝孔は上記プランジヤ(90)の移動
方向に略平行に延びた特許請求の範囲第1項記載の試験
プラグ。 - 【請求項6】上記雌形コンタクト(14)は上記プランジ
ヤ(90)の接触部分(92)に向けて付勢されるクリップ
状コネクタ(34)を含み、また上記接触部分(92)に形
成された逃し(100)に収まるような寸法に形成された
突出部(42)を有して上記接触部分を解除可能に保持し
た特許請求の範囲第1項記載の試験プラグ。 - 【請求項7】第1の雌形コンタクトによって電気的に接
続された複数の対をなしたワイヤコネクタを有する配線
端子の試験装置であって上記雌形コンタクトは互に電気
的に接触するように弾発的に付勢された向き合った第1
の対の電気コネクタを有するものにおいて、 過負荷保護装置(18)は上記の向き合った第1の対の電
気コネクタ(34)間に着脱自在に収められる寸法に形成
された露出終端部を有し、第1の対の導体(52,56)が
上記の露出終端部に固着されていて、上記第1の対の導
体の一方が上記第1の対の電気コネクタ(34)の一方に
電気的に接続しまた第1の対の導体の他方が第1の対の
電気コネクタ(34)の他方に接続するように形成され、
又過負荷保護装置(18)は雄形コンタクト(17)上に配
設した第2の対の導体を備え、 試験プラグ(10)は試験リード(12)と上記第1の雌形
コンタクト(14)及び第2の雄形コンタクト(17)のい
ずれか一方間に亘って解除可能な電気的接続を選択的に
行ない、上記試験プラグ(10)は手で掴み得る寸法に形
成されたハウジング(70)を有し、上記ハウジングの一
端には内部空間(72)に連通する溝孔(88)が形成さ
れ、上記ハウジング(70)の溝孔(88)を区画形成する
両表面には上記溝孔(88)内に上記雄形コンタクト(1
7)を収めるのに十分な間隔が設けられ、 プランジヤ(90)は上記ハウジング(70)の内部空間
(72)に配設されて引出し位置と引込み位置間に亘って
摺動移動可能に形成され、上記プランジヤ(90)は該プ
ランジヤが上記引出し位置にある時に上記溝孔(88)を
通して延びて上記雌形コンタクト(14)内に収まるよう
な寸法に形成され、また上記プランジヤ(90)が上記溝
孔(88)による上記雄形コンタクト(17)の挿入を邪魔
されることなく上記引込み位置に収まるような寸法に形
成された接触部分(92)を有し、 第1の対の電気的試験接触点(140)は、上記雄形コン
タクト(17)が上記溝孔(88)内に収まった時に上記溝
孔(88)内にあって弾発的付勢手段によって上記夫々の
試験接触点(140)は第2の導体を介して上記雄形コン
タクト(17)に電気的に接続し、また上記プランジヤ
(90)が上記引出し位置に向って移動した時に上記弾発
付勢手段(132)によって上記試験接触点(140)を上記
の接触部分に向って接触状に付勢し、 導電手段(152)は上記試験接触点(140)を上記試験リ
ード(12)に電気的に接続し、 1対の導電部材(124)は上記プランジヤの接触部分(9
2)上に配設され、上記接触部分(92)が上記雌形コン
タクト(14)内に収められた時に上記雌形コンタクト
(14)の第1の対のコネクタを夫々電気的に接続し、又
上記導電部材(124)を上記第1の電気的接触点(140)
に電気的に接続したことを特徴とする試験装置。 - 【請求項8】上記プランジヤ(90)は非電導性材料から
なりかつ該非電導性材料の上に導電性材料が配設された
ものであり、また上記引出し位置から引込み位置に亘っ
た上記プランジヤ(90)の移動方向に平行に略直線状に
延びた特許請求の範囲第7項記載の試験装置。 - 【請求項9】上記プランジヤ(90)は上記ハウジング
(70)に上記引込み位置に相当する位置に形成した第1
の順応面及び上記引出し位置に形成した第2の順応面内
に夫々収め得る寸法の掛止め部材(84)と、該掛止め部
材(84)を上記順応面に弾発的に付勢する手段と、上記
掛止め部材を係合させる手段とを備え、上記係合手段を
上記付勢手段に付勢して掛止め部材を解除して第1及び
第2の順応面間に亘って移動させ、それによって上記プ
ランジヤを上記引込み位置と引出し位置間に亘って移動
させた特許請求の範囲第7項記載の試験装置。 - 【請求項10】導電性の弾発性部材(132)は上記ハウ
ジング(70)内に固着されかつ上記試験リード(12)に
電気的に接続された第1の端部を有すると共に上記雄形
コンタクト17を上記溝孔(88)内に配設した時に上記溝
孔(88)内に配設されて上記雄形コンタクト(17)と電
気的に接続される第2の端部を有し、上記弾発性部材
(132)と向き合った溝孔(88)の内面には上記弾発性
部材(132)を収める溝(138)が形成されていて、上記
プランジヤ(90)が上記引出し位置に向って移動するの
につれて上記弾発性部材(132)が上記溝(138)内に付
勢され、上記弾発性部材(132)の弾性によって該弾発
性部材を上記プランジヤ上の導電性材料に対して電気的
に接触させた特許請求の範囲第8項記載の試験装置。 - 【請求項11】上記プランジヤ(90)は上記接触部分
(92)から延びた1対の片持ばり状のフォーク部(102,
104)を備え、該フォーク部は上記接触部分の反対側の
***部材で終端し、該***部材はそれに向き合った上記
ハウジング(70)に形成されたたれ受け切欠(86)に係
合するような寸法に形成したたれ(120,122)を含み、
上記ハウジング(70)は上記***部材が係合する長い溝
孔(118)を有し、該溝孔は上記プランジヤ(90)の移
動方向に略平行に延びた特許請求の範囲第7項記載の試
験装置。 - 【請求項12】上記雌形コンタクト(14)は上記プラン
ジヤ(90)の接触部分(92)に向けて付勢されるクリッ
プ状コネクタ(34)を含み、また上記接触部分(92)に
形成された逃し(100)に収まるような寸法に形成され
た突出部(42)を有して上記接触部分を解除可能に保持
した特許請求の範囲第7項記載の試験装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US831641 | 1986-02-21 | ||
US06/831,641 US4676568A (en) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | Terminal test plug |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62203068A JPS62203068A (ja) | 1987-09-07 |
JPH0731221B2 true JPH0731221B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=25259529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3593587A Expired - Lifetime JPH0731221B2 (ja) | 1986-02-21 | 1987-02-20 | 試験プラグ及び試験装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4676568A (ja) |
EP (1) | EP0238819A3 (ja) |
JP (1) | JPH0731221B2 (ja) |
KR (1) | KR960008200B1 (ja) |
AU (1) | AU580904B2 (ja) |
CA (1) | CA1258491A (ja) |
IL (1) | IL81453A (ja) |
NZ (1) | NZ219071A (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE3841083C1 (ja) * | 1988-12-02 | 1990-02-01 | Krone Ag, 1000 Berlin, De | |
US5106327A (en) * | 1990-12-07 | 1992-04-21 | Mcanelly Michael L | On-line drawout case relay and meter test device |
DE9112178U1 (de) * | 1991-09-30 | 1992-07-16 | Siemens AG, 8000 München | Steckverbinder mit Kurzschlußbrücke |
WO1994008365A2 (en) * | 1992-09-30 | 1994-04-14 | Porta Systems Corp. | Wiring connection system including crosstalk compensating connector |
GB9302586D0 (en) | 1993-02-10 | 1993-03-24 | Egerton A C Ltd | Transmission line connectors and assemblies thereof |
AU3245500A (en) * | 1999-02-25 | 2000-09-14 | Minimed, Inc. | Test plug and cable for a glucose monitor |
FR2799890B1 (fr) * | 1999-10-19 | 2002-05-31 | Fci France | Connecteur comportant des contacts shuntables et configurables |
US10080529B2 (en) | 2001-12-27 | 2018-09-25 | Medtronic Minimed, Inc. | System for monitoring physiological characteristics |
US7399277B2 (en) * | 2001-12-27 | 2008-07-15 | Medtronic Minimed, Inc. | System for monitoring physiological characteristics |
US7022072B2 (en) * | 2001-12-27 | 2006-04-04 | Medtronic Minimed, Inc. | System for monitoring physiological characteristics |
US20080255438A1 (en) * | 2001-12-27 | 2008-10-16 | Medtronic Minimed, Inc. | System for monitoring physiological characteristics |
US20050027182A1 (en) * | 2001-12-27 | 2005-02-03 | Uzair Siddiqui | System for monitoring physiological characteristics |
JP4895377B2 (ja) * | 2007-01-26 | 2012-03-14 | 谷岡 隆文 | 個人情報保護用フィルムシート |
EP2715872A1 (de) * | 2011-06-03 | 2014-04-09 | Weidmüller Interface GmbH & Co. KG | Prüf- und anschlussvorrichtungsanordnung und prüfvorrichtung |
CN108957216A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-07 | 深圳市潜力创新科技有限公司 | 用于在线测量fpc接口参数的fpc连接器及其方法 |
CN109217038B (zh) * | 2018-08-14 | 2020-08-11 | 武汉船用机械有限责任公司 | 铜排和铜排组件 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4151462A (en) * | 1977-04-13 | 1979-04-24 | Teyler A Lee | Electrical test probe having a spring biased clip with an extendable and retractable tip movable within the clip |
US4597622A (en) * | 1985-03-25 | 1986-07-01 | Qa Technology Company | Electrical connector for electrical circuit test probe and connector |
NZ216143A (en) * | 1985-06-03 | 1989-04-26 | Adc Telecommunications Inc | Distribution frame wire connection module with insertable overvoltage protector |
-
1986
- 1986-02-21 US US06/831,641 patent/US4676568A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-01-27 NZ NZ219071A patent/NZ219071A/xx unknown
- 1987-01-29 AU AU68108/87A patent/AU580904B2/en not_active Ceased
- 1987-02-02 IL IL81453A patent/IL81453A/xx unknown
- 1987-02-05 CA CA000529086A patent/CA1258491A/en not_active Expired
- 1987-02-07 EP EP87101716A patent/EP0238819A3/en not_active Ceased
- 1987-02-20 JP JP3593587A patent/JPH0731221B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1987-02-21 KR KR1019870001470A patent/KR960008200B1/ko not_active IP Right Cessation
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---|---|
AU580904B2 (en) | 1989-02-02 |
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CA1258491A (en) | 1989-08-15 |
EP0238819A3 (en) | 1990-01-24 |
AU6810887A (en) | 1987-08-27 |
KR960008200B1 (ko) | 1996-06-20 |
IL81453A0 (en) | 1987-09-16 |
KR870008191A (ko) | 1987-09-24 |
US4676568A (en) | 1987-06-30 |
NZ219071A (en) | 1989-04-26 |
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