JPH07286974A - 濡れ性測定装置および方法 - Google Patents

濡れ性測定装置および方法

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JPH07286974A
JPH07286974A JP7773094A JP7773094A JPH07286974A JP H07286974 A JPH07286974 A JP H07286974A JP 7773094 A JP7773094 A JP 7773094A JP 7773094 A JP7773094 A JP 7773094A JP H07286974 A JPH07286974 A JP H07286974A
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JP7773094A
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English (en)
Inventor
Akishi Ida
晃史 井田
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Akihiko Nishide
明彦 西出
Kiyohide Tamaki
清英 玉木
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 指定領域内の分割領域毎に適切な2値化しき
い値を設定して、適切な2値化処理を行い、濡れ性を適
確に測定し得る濡れ性測定装置および方法を提供する。 【構成】 X線発生装置1から発生するX線2を被検体
3に照射し、該被検体3を透過したX線をX線イメージ
インテンシファイア5で検知し、これにより被検体3の
透過像を画像処理装置6を介してモニタ7に表示する。
この表示された被検体3の透過像において接着物質延在
領域を指定し、この領域を複数のサブ領域に分割し、こ
の複数のサブ領域の各々に対してそれぞれ独自の2値化
しきい値を設定し、各サブ領域の画素を2値化し、この
2値化された値の面積により接着物質延在領域の濡れ性
を評価する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、接着剤で接着された部
分を有する被検体に放射線を照射し、該被検体を透過し
た放射線を空間分解能をもって検出して得られたデータ
を透過像として表示するとともに、該透過像から前記接
着剤がどの程度確実に付着しているかを数値的に示す指
標である濡れ性を測定する濡れ性測定装置および方法に
関し、特に電子部品内部に存在する接着部分の濡れ性を
測定する濡れ性測定装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図15は、従来の濡れ性測定装置の構成
を示す図である。同図に示す従来の濡れ性測定装置にお
いては、X線管101から発生するX線102をXYテ
ーブル104上の被検体103に照射し、該被検体10
3を透過したX線をX線イメージインテンシファイア
(X線I.I.)からなるX線検出器105で検出し
て、電気信号に変換し、画像処理装置106に供給して
いる。画像処理装置106はX線検出器5からの電気信
号を画像処理して、電気信号の大小に応じた数値に変換
された画像データを作成し、モニタ107に被検体10
3のX線透過像を表示する。
【0003】そして、モニタ107上に表示された被検
体の接着物質延在部分の透視像に対して画像処理装置1
06により2値化しようとする領域の指定および2値化
しきい値の設定を行って、2値化処理を行い、この2値
化処理画像から濡れ性を判定している。
【0004】この2値化処理は、画像の指定領域に対す
る濃度ヒストグラムを制御部108において求め、この
濃度ヒストグラムから2値化しきい値を設定することに
より行われる。また、2値化しきい値をずらすことによ
り所望の2値化像を得ることができ、この2値化像から
次式のように濡れ性を算出することができる。
【0005】
【数1】濡れ性=S/S0 ×100(%) ここで、S0 は例えば図16の内部の矩形で囲まれて示
すような前記指定領域の面積(画素数)であり、Sは2
値化画像により接着剤が確実に付着していると判定され
た部分(例えば図16の斜線部分)の面積(画素数)で
ある。なお、図16において、点線で囲まれた部分は接
着剤が確実または不確実に付着している部分を示してい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の濡れ性
測定装置では、2値化前の画像で濃淡レベルに差がある
ことが多い場合、例えば図4に示すようにエリアA,B
において濃度分布にかなりの差がある場合があったり、
または実際には同じ濃度になるべき位置がシェーディン
グや感度むら等のために濃度が異なってしまう場合があ
り、このため指定領域内において2値化しきい値を1つ
設定しただけでは、希望する2値化像を得ることが困難
であり、ひいては正確な濡れ性を測定することが困難で
あるという問題がある。
【0007】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、指定領域内の分割領域毎に適
切な2値化しきい値を設定して、適切な2値化処理を行
い、濡れ性を適確に測定し得る濡れ性測定装置および方
法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の濡れ性測定装置は、接着剤で接着された部
分を有する被検体に放射線を照射し、該被検体を透過し
た放射線を空間分解能をもって検出して得られたデータ
を透過像として表示するとともに、該透過像から前記接
着剤がどの程度確実に付着しているかを示す濡れ性を測
定する濡れ性測定装置であって、前記透過像上で被検体
内の接着物質延在領域を指定する指定手段と、該指定手
段で指定された領域を複数のサブ領域に分割する分割手
段と、該分割手段で分割された複数のサブ領域の各々に
対してそれぞれ独自の2値化しきい値を設定し、該2値
化しきい値により各サブ領域の画素を2値化する2値化
手段と、該2値化手段で2値化された値の面積により前
記接着物質延在領域の濡れ性を評価する評価手段とを有
することを要旨とする。
【0009】また、本発明の濡れ性測定装置は、前記分
割手段において、前記指定された領域を該領域の縁に沿
って直交する直線の組で分割することを要旨とする。更
に、本発明の濡れ性測定装置は、前記分割手段におい
て、矩形、多角形、円形および楕円形を含む独立形状で
前記指定された領域を部分的に分離するように囲んで分
割することを要旨とする。
【0010】本発明の濡れ性測定装置は、前記2値化手
段において、前記透過像を目視確認し、前記複数のサブ
領域の各々に対する2値化しきい値を再設定することが
可能であることを要旨とする。
【0011】また、本発明の濡れ性測定装置は、前記分
割手段において、前記各サブ領域における濃度ヒストグ
ラムを作成し、該濃度ヒストグラムに基づいて分割を行
うことを要旨とする。
【0012】更に、本発明の濡れ性測定装置は、前記2
値化手段において、前記各サブ領域における濃度ヒスト
グラムを作成し、該濃度ヒストグラムに基づいて2値化
しきい値を決定することを要旨とする。
【0013】本発明の濡れ性測定方法は、接着剤で接着
された部分を有する被検体に放射線を照射し、該被検体
を透過した放射線を空間分解能をもって検出して得られ
たデータを透過像として表示するとともに、該透過像か
ら前記接着剤がどの程度確実に付着しているかを示す濡
れ性を測定する濡れ性測定方法であって、前記透過像上
で被検体内の接着物質延在領域を指定し、この指定され
た領域を複数のサブ領域に分割し、この分割された複数
のサブ領域の各々に対してそれぞれ独自の2値化しきい
値を設定し、該2値化しきい値により各サブ領域の画素
を2値化し、この2値化された値の面積により前記接着
物質延在領域の濡れ性を評価することを要旨とする。
【0014】
【作用】本発明の濡れ性測定装置では、指定された接着
物質延在領域を複数のサブ領域に分割し、この複数のサ
ブ領域の各々に対してそれぞれ独自の2値化しきい値を
設定し、各サブ領域の画素を2値化し、この2値化され
た値の面積により接着物質延在領域の濡れ性を評価す
る。
【0015】また、本発明の濡れ性測定装置では、前記
指定された領域を該領域の縁に沿って直交する直線の組
で分割する。更に、本発明の濡れ性測定装置では、矩
形、多角形、円形および楕円形を含む独立形状で前記指
定された領域を部分的に分離するように囲んで分割す
る。
【0016】本発明の濡れ性測定装置では、透過像を目
視確認し、複数のサブ領域の各々に対する2値化しきい
値を再設定することが可能である。また、本発明の濡れ
性測定装置では、各サブ領域における濃度ヒストグラム
を作成し、該濃度ヒストグラムに基づいて分割を行う。
【0017】更に、本発明の濡れ性測定装置では、各サ
ブ領域における濃度ヒストグラムを作成し、該濃度ヒス
トグラムに基づいて2値化しきい値を決定する。本発明
の濡れ性測定方法では、指定された接着物質延在領域を
複数のサブ領域に分割し、このサブ領域の各々に対して
それぞれ独自の2値化しきい値を設定し、各サブ領域の
画素を2値化し、この2値化された値の面積により接着
物質延在領域の濡れ性を評価する。
【0018】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1は、本発明の一実施例に係わる濡れ性測定装置
の構成を示す図である。同図に示す濡れ性測定装置は、
XYテーブル4上に載置された被検体3の内部に存在す
る接着物質延在部の濡れ性、すなわち被検体3内に存在
する接着剤で接着された部分が接着剤によりどの程度確
実に付着しているかを示す濡れ性を測定するものであ
り、前記被検体3に対してX線発生装置1からX線2を
照射し、被検体3を透過したX線をX線イメージインテ
ンシファイア5で検出するようになっている。X線イメ
ージインテンシファイア5は検出したX線を電気信号に
変換し、画像処理装置6に供給する。画像処理装置6は
制御部8の制御によりX線イメージインテンシファイア
5からの電気信号の大小に応じて数値に変換された画像
データを作成し、この画像データをモニタ7に供給して
表示するようになっている。なお、画像処理装置6は上
記処理に加えて積分処理、輪郭強調処理等の画像処理を
行う機能を有するとともに、また制御部8は前記濡れ性
を測定する機能を有する。
【0019】このように構成される濡れ性測定装置にお
いて、上述したように、X線発生装置1からのX線を被
検体3に照射した場合に、該被検体3を透過したX線を
X線イメージインテンシファイア5で検出した電気信号
に基づいて画像処理装置6において作成される被検体3
の透過像がモニタ7に表示されると、この透過像におい
て測定対象である接着評価を行う領域を目視により選定
し、この領域を制御部8を介して長方形の枠を使用して
指定する。図2は、この透過像を示しているものである
が、この図において符号21の枠で示すように領域が指
定される。
【0020】それから、この指定された領域内において
予め2値化しきい値を設定する。この2値化しきい値を
予備2値化しきい値と称する。これは、例えば図2にお
いて斜線部分の位置の濃淡レベル差が非常に小さい場合
に、予め決めた2値化しきい値である予備2値化しきい
値をその分割領域での2値化しきい値として採用するた
めである。
【0021】次に、上述したように指定された領域に対
して2値化処理を行う。これは、まず指定領域を複数の
サブ領域に分割し、この分割された各サブ領域毎に予備
2値化しきい値または適切な2値化しきい値を設定して
行われる。
【0022】ここでは、指定領域を2×2個に分割する
場合について説明する。なお、この指定領域の分割数m
×nは、m,nを制御部8のキーボードから入力するこ
とにより指定される。本例の場合には、2×2が指定さ
れることになる。
【0023】それから、分割位置を示す数値M1 ,N1
を制御部8から入力すると、図3に示すように指定領域
21は分割される。このように分割した後、分割された
各サブ領域について予備2値化しきい値を用いた2値化
像を形成して、これをモニタ7に表示する。そして、こ
の表示された2値化像を目視チェックを行いながら、適
切な2値化しきい値を設定し、この設定された2値化し
きい値で再度2値化処理を行うという処理を繰り返す。
このようにして各サブ領域に対して適切な2値化処理が
行われると、画像処理装置6は各サブ領域、本例では4
つのサブ領域の面積(画素数)S1 ,S2 ,S3 ,S4
と各2値化画像上の高レベル側の面積、すなわち接着剤
が確実に付着していると判断した部分の面積a1 ,a
2 ,a3 ,a4 をそれぞれ計算し、更に各サブ領域にお
ける濡れ性を次式により算出する。
【0024】
【数2】ai /Si ×100(%) ここで、iは本例の場合1〜4である。このように各サ
ブ領域の濡れ性が算出されると、前記指定領域全体の濡
れ性を次式のように算出する。
【0025】
【数3】 次に、図5に示すフローチャートを参照して、作用を説
明する。図5においては、まずモニタ7に表示された被
検体3のX線透過像において矩形の所定領域を指定する
ために矩形の対向する隅部に対応する2点(Pxs ,P
s ),(PxE ,PyE )を指定し、これにより図6
に矩形の枠22で示すような濡れ性測定領域を設定する
(ステップ110)。なお、上述した2点は操作者が制
御部8のキーボード等から入力するものである。
【0026】指定領域が設定されると、予備2値化しき
い値を同様に操作者が入力して設定する(ステップ12
0)。次に、分割数m,nが同様に操作者により入力さ
れる(ステップ130)。この分割数は任意に指定で
き、濃淡レベルに比べて接着剤付着部のコントラストが
小さい場合には、分割数を大きく設定する。
【0027】それから、指定領域をm×n個のサブ領域
に分割するために図6に示すようにPxi (i=1〜m
−1),Pyj (j=1〜n−1)を設定する(ステッ
プ140)。図6は、m=3,n=2の6個に分割され
た例を示している。
【0028】次に、上述したように分割された複数のサ
ブ領域の各々に対してステップ170〜190の処理を
行うために、ステップ150,160,200,210
においてループ処理が行われる。
【0029】この処理において、まずステップ170に
おいては、複数のサブ領域のうちの1つのサブ領域に対
して予備2値化しきい値を採用するか否かをチェックす
る。予備2値化しきい値を採用する場合には、ステップ
190に進むが、予備2値化しきい値を採用しない場合
には、操作者の入力により2値化しきい値を設定し直し
てから(ステップ180)、ステップ190に進む。ス
テップ190では、採用された予備2値化しきい値また
は設定し直した2値化しきい値に基づいて2値化を行
い、該サブ領域の面積S(m,n)および濡れ性a
(m,n)を算出する。
【0030】このステップ170〜190の処理をすべ
てのサブ領域について行うと、ステップ220に進み、
各サブ領域について上述したように求めた面積S(m,
n)および濡れ性a(m,n)をそれぞれ加算して、指
定領域全体の濡れ性(a/S×100)を算出し、該濡
れ性を出力する(ステップ230)。
【0031】上述した実施例においては、画像中に濃淡
レベル差が存在しても、測定領域を複数のサブ領域に分
割して、各サブ領域に異なる2値化しきい値を設定し、
2値化処理を行うので、シェーディングやX線検出器系
の感度むらの影響を無視でき、濡れ性測定の信頼性を向
上することができる。また、領域の分割数を画像に合わ
せて設定できるので、種々の対象物に対して測定精度を
上げることができる。更に、分割状態や2値化状態を画
像上で確認できるので、設定の変更、再測定等の判断が
容易である。
【0032】図7は、本発明の他の実施例に係わる濡れ
性測定装置に使用される指定領域の分割方法を示す図で
ある。同図に示す実施例では、指定領域を分割するの
に、分割したい部分を円または矩形によって囲んで分離
するものである。例えば、図7(a),(b)は、それ
ぞれ対向する隅部の2点(Pxs ,Pys ),(P
E,PyE )で形成される枠で囲まれる指定領域内に
おいて面積S1 ,S2 で示される分割領域を円または矩
形で分離して複数のサブ領域を形成し、その他の領域の
面積をS0 としているものである。
【0033】そして、これらのサブ領域の面積S1 ,S
2 ,S0 において2値化画像により接着剤が確実に付着
していると判断した部分の面積a1 ,a2 ,a0 をそれ
ぞれ算出し、次式により各サブ領域の濡れ性を計算す
る。
【0034】
【数4】 ai /Si ×100(%) (i=0〜2) そして、このように算出した各サブ領域の濡れ性から指
定領域全体の濡れ性が次式のように算出され、表示され
る。
【0035】
【数5】 なお、この分割方法は、目視により特にコントラストが
悪かったり、画像むらがある部分を選択して2値化レベ
ルを修正できるので、きめ細かな精度のよい測定を行う
ことが可能である。
【0036】次に、本実施例の作用を図8に示すフロー
チャートを参照して説明する。図8においては、モニタ
7に表示された被検体3のX線透過像において矩形の領
域を指定するために矩形の対向する隅部に対応する2点
(Pxs ,Pys ),(PxE ,PyE )を指定し、こ
れにより図7に示すような矩形の濡れ性測定領域を操作
者が制御部8のキーボード等から指定する(ステップ3
10)。
【0037】指定領域が設定されると、予備2値化しき
い値を同様に操作者が入力して設定する(ステップ32
0)。次に、分割数nが同様に操作者により入力される
(ステップ330)。
【0038】それから、分割すべき形状が円であるのか
または長方形であるのかをチェックし(ステップ34
0)、円の場合には、該円の中心座標、半径を入力し
て、分割場所を決定し(ステップ350)、また長方形
の場合には、該長方形の左上と右下の座標を入力し、分
割場所を決定する(ステップ360)。
【0039】分割場所が決定すると、このように分割さ
れた複数のサブ領域のうちの1つのサブ領域に対して予
備2値化しきい値を採用するか否かをチェックする(ス
テップ370)。予備2値化しきい値を採用する場合に
は、ステップ390に進むが、予備2値化しきい値を採
用しない場合には、操作者の入力により2値化しきい値
を設定し直してから(ステップ380)、ステップ39
0に進む。ステップ390では、採用された予備2値化
しきい値または設定し直した2値化しきい値に基づいて
2値化を行い、該サブ領域の面積Si および濡れ性ai
(i=1〜n)を算出し、分割数を示す変数nをデクレ
メントし(ステップ400)、該変数nが0でない場合
には、上述した動作をすべてのサブ領域について繰り返
し行う。
【0040】すべてのサブ領域について上述した処理が
行われると、ステップ420に進み、分割領域でない残
りの領域S0 についても同様に面積S0 および濡れ性a
0 を算出し、それから各面積Si および濡れ性ai をそ
れぞれ加算して、指定領域全体の濡れ性(a/S×10
0)を算出し、該濡れ性を出力する(ステップ430,
440)。
【0041】図9は、本発明の更に他の実施例に係わる
濡れ性測定装置の作用を示すフローチャートである。同
図に示す実施例は、上述した各実施例において手入力の
部分を制御部8によって自動的に判断・決定し、濡れ性
を算出するものであり、図9に示す処理は図5に示した
処理において点線で囲まれた部分の処理を示すものであ
る。
【0042】図9においては、図5のステップ110で
示すように矩形の指定領域が設定されると、まず初期分
割が設定され(ステップ510)、この分割された各領
域でそれぞれ図10に示すような濃度ヒストグラムを作
成する(ステップ520)。そして、この作成された濃
度ヒストグラムにおいて山が2つ存在する領域があるか
否かをチェックする(ステップ530)。山が2つ存在
する領域がない場合には、その領域を分割して、分割数
を2倍にし(ステップ550)、ステップ520に戻
り、同様の処理を繰り返すが、山が2つ存在する領域が
ある場合には、その領域において2つの山に分かれたヒ
ストグラムのコントラスト値が次式を満足するか否かを
チェックする(ステップ540)。
【0043】
【数6】(hk +hk+2 −2hk+1 )/(hk +h
k+2 )>0.5 なお、hk ,hk+2 ,hk+1 はそれぞれ図10に示すよ
うに2つの山の画素数、この2つの山の間の谷部の画素
数である。
【0044】上式が満足されない場合には、その領域を
分割して、分割数を2倍にし(ステップ550)、ステ
ップ520に戻り、同様の処理を繰り返すが、満足する
場合には、ステップ560に進む。ステップ560で
は、2つの山に分かれた領域については2つの山の中間
の濃度をしきい値レベルに、2つの山に分かれなかった
領域は2山の領域からの補間によりしきい値レベルを決
める。以下の処理は図5と同様に行われる。
【0045】図11は、本発明の別の実施例に係わる濡
れ性測定装置の作用を示すフローチャートである。同図
に示す実施例は、上述した各実施例において手入力の部
分を制御部8によって自動的に判断・決定し、濡れ性を
算出するものであり、図11に示す処理は図5に示した
処理において1点鎖線で囲まれた部分の処理を示すもの
である。
【0046】図11においては、分割された各領域でそ
れぞれ図12に示すような濃度ヒストグラムを作成する
(ステップ610)。そして、この作成された濃度ヒス
トグラムにおいて濃度kの画素数を配列F(k)に保持
し(ステップ620)、また濃度ヒストグラム上で山お
よび谷の位置となる濃度を調べ、配列M(i)に保持す
る(ステップ630)。
【0047】それから、濃度ヒストグラム上で山が2つ
以上あるか否かをチェックする(ステップ640)。山
が2つ以上ない場合には、ステップ650に進んで、近
隣の分割領域のしきい値を補間することでしきい値を決
め、図5の処理に進むが、山が2つ以上ある場合には、
ステップ660以降に進み、上述した配列M(i)に保
持された山および谷のすべてに対してステップ670の
処理を行うべきループ処理をステップ660,680,
690で行う。ステップ670の処理では、次式により
傾きの積の絶対値P(i)を求める。
【0048】
【数7】 そして、この絶対値P(i)が最小となるときのM
(i)をMMIN に保持し、このMMIN をしきい値とする
(ステップ700)。以降の処理は図5に示した処理と
同じである。
【0049】図13は、本発明の更に別の実施例に係わ
る濡れ性測定装置の作用を示すフローチャートである。
同図に示す実施例は、上述した各実施例において手入力
の部分を制御部8によって自動的に判断・決定し、濡れ
性を算出するものであり、図13に示す処理は図5に示
した処理において1点鎖線で囲まれた部分の処理を示す
ものである。
【0050】図13においては、分割された各領域でそ
れぞれ図14に示すような濃度ヒストグラムを作成する
(ステップ810)。そして、この作成された濃度ヒス
トグラムにおいて濃度kの画素数を配列F(k)に保持
し(ステップ820)、また濃度ヒストグラム上で最初
と最後の山となる濃度をA,Bとして保持し、A,B間
で谷となる位置の濃度をT(i)に保持する(ステップ
830)。
【0051】それから、濃度ヒストグラム上で山が2つ
以上あるか否かをチェックする(ステップ840)。山
が2つ以上ない場合には、ステップ850に進んで、近
隣の分割領域のしきい値を補間することでしきい値を決
め、図5の処理に進むが、山が2つ以上ある場合には、
ステップ860以降に進み、上述したように保持した谷
となる位置の濃度T(i)のすべてに対してステップ8
70の処理を行うべきループ処理をステップ860,8
80,890で行う。ステップ870の処理では、次式
によりP(i)を求める。
【0052】
【数8】P(i)=F(T(i)−1)+F(T(i)
+F(T(i)+1) そして、この値P(i)が最小となるときのT(i)を
TMIN に保持し、このTMIN をしきい値とする(ステッ
プ900)。以降の処理は図5に示した処理と同じであ
る。
【0053】上述した図9、図11、図13の実施例に
おいては、自動化することにより、各種項目の設定の手
間を省くことができ、検査を高速化することができる。
また、操作者のオペレーティングの熟練度によらない一
定した検査および評価を行うことができる。
【0054】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
指定された接着物質延在領域を複数のサブ領域に分割
し、この複数のサブ領域の各々に対してそれぞれ独自の
2値化しきい値を設定し、各サブ領域の画素を2値化
し、この2値化された値の面積により接着物質延在領域
の濡れ性を評価するので、従来のようにシェーディング
や感度むらにより画像に濃淡レベル差がある場合でも、
適切な2値化しきい値を設定して、高い精度で濡れ性を
測定することができる。
【0055】また、本発明によれば、矩形、多角形、円
形および楕円形を含む独立形状で指定領域を部分的に分
離するように囲んで分割するので、画像むらがあるよう
な部分を部分的に選択して2値化レベルを修正でき、き
め細かく精度の高い測定を行うことができる。
【0056】更に、本発明によれば、各サブ領域におけ
る濃度ヒストグラムを作成し、該濃度ヒストグラムに基
づいて分割を行ったり、2値化しきい値を決定するの
で、各種項目の設定を自動化することができ、手間を省
け、検査の高速化を達成できるとともに、操作者の熟練
度によらない一定した検査および評価を行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係わる濡れ性測定装置の構
成を示す図である。
【図2】図1に示す実施例における被検体のX線透過像
の2値化処理で予備2値化しきい値が採用される場合を
示す図である。
【図3】図1に示す実施例における濡れ性測定のための
領域分割方法を示す図である。
【図4】場所によって濃度分布にかなりの差がある場合
の濃度ヒストグラムを示す図である。
【図5】図1に示す実施例の作用を示すフローチャート
である。
【図6】図5の作用における分割領域を示す図である。
【図7】本発明の他の実施例に係わる濡れ性測定装置に
使用される指定領域の分割方法を示す図である。
【図8】図7に示す実施例の作用を示すフローチャート
である。
【図9】本発明の更に他の実施例に係わる濡れ性測定装
置の作用を示すフローチャートである。
【図10】図9に示す実施例において分割された各領域
における濃度ヒストグラムを示す図である。
【図11】本発明の別の実施例に係わる濡れ性測定装置
の作用を示すフローチャートである。
【図12】図11に示す実施例において分割された各領
域における濃度ヒストグラムを示す図である。
【図13】本発明の更に別の実施例に係わる濡れ性測定
装置の作用を示すフローチャートである。
【図14】図13に示す実施例において分割された各領
域における濃度ヒストグラムを示す図である。
【図15】従来の濡れ性測定装置の構成を示す図であ
る。
【図16】従来の2値化処理を示す図である。
【符号の説明】
1 X線発生装置 2 X線 3 被検体 4 XYテーブル 5 X線イメージインテンシファイア 6 画像処理装置 7 モニタ 8 制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 玉木 清英 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 接着剤で接着された部分を有する被検体
    に放射線を照射し、該被検体を透過した放射線を空間分
    解能をもって検出して得られたデータを透過像として表
    示するとともに、該透過像から前記接着剤がどの程度確
    実に付着しているかを示す濡れ性を測定する濡れ性測定
    装置であって、 前記透過像上で被検体内の接着物質延在領域を指定する
    指定手段と、 該指定手段で指定された領域を複数のサブ領域に分割す
    る分割手段と、 該分割手段で分割された複数のサブ領域の各々に対して
    それぞれ独自の2値化しきい値を設定し、該2値化しき
    い値により各サブ領域の画素を2値化する2値化手段
    と、 該2値化手段で2値化された値の面積により前記接着物
    質延在領域の濡れ性を評価する評価手段とを有すること
    を特徴とする濡れ性測定装置。
  2. 【請求項2】 前記分割手段は、前記指定された領域を
    該領域の縁に沿って直交する直線の組で分割することを
    特徴とする請求項1記載の濡れ性測定装置。
  3. 【請求項3】 前記分割手段は、矩形、多角形、円形お
    よび楕円形を含む独立形状で前記指定された領域を部分
    的に分離するように囲んで分割することを特徴とする請
    求項1記載の濡れ性測定装置。
  4. 【請求項4】 前記2値化手段は、前記透過像を目視確
    認し、前記複数のサブ領域の各々に対する2値化しきい
    値を再設定することが可能であることを特徴とする請求
    項1記載の濡れ性測定装置。
  5. 【請求項5】 前記分割手段は、前記各サブ領域におけ
    る濃度ヒストグラムを作成し、該濃度ヒストグラムに基
    づいて分割を行うことを特徴とする請求項1記載の濡れ
    性測定装置。
  6. 【請求項6】 前記2値化手段は、前記各サブ領域にお
    ける濃度ヒストグラムを作成し、該濃度ヒストグラムに
    基づいて2値化しきい値を決定することを特徴とする請
    求項1記載の濡れ性測定装置。
  7. 【請求項7】 接着剤で接着された部分を有する被検体
    に放射線を照射し、該被検体を透過した放射線を空間分
    解能をもって検出して得られたデータを透過像として表
    示するとともに、該透過像から前記接着剤がどの程度確
    実に付着しているかを示す濡れ性を測定する濡れ性測定
    方法であって、 前記透過像上で被検体内の接着物質延在領域を指定し、 この指定された領域を複数のサブ領域に分割し、 この分割された複数のサブ領域の各々に対してそれぞれ
    独自の2値化しきい値を設定し、該2値化しきい値によ
    り各サブ領域の画素を2値化し、 この2値化された値の面積により前記接着物質延在領域
    の濡れ性を評価することを特徴とする濡れ性測定方法。
JP7773094A 1994-04-18 1994-04-18 濡れ性測定装置および方法 Pending JPH07286974A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163279A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Toshiba It & Control Systems Corp X線透視検査装置及びx線透視検査装置の較正方法
JP2009229100A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute 食品用x線異物検査装置およびその方法

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