JPH0727585B2 - Self-tuning coin recognition device - Google Patents

Self-tuning coin recognition device

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JPH0727585B2
JPH0727585B2 JP60501328A JP50132885A JPH0727585B2 JP H0727585 B2 JPH0727585 B2 JP H0727585B2 JP 60501328 A JP60501328 A JP 60501328A JP 50132885 A JP50132885 A JP 50132885A JP H0727585 B2 JPH0727585 B2 JP H0727585B2
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JP
Japan
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coin
coins
sensor
microprocessor
acceptance
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JP60501328A
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Japanese (ja)
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ピー． ヘイマン，フレデリツク
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マ−ス インコ−ポレ−テッド
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    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
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    • G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation

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Abstract

A self-tuning coin testing apparatus having a coin sensor circuit which produces an output signal indicative of a parameter characteristic of the coins which are tested by the coin sensor and a programmed microprocessor which stores an initial acceptance limit, determines whether the output signal from the coin sensor is indicative of a valid coin, stores a signal based on the output signal for each valid coin, calculates a statistical function based on the stored signal, and finally computes and stores a new acceptance limit based on the stored signals for a predetermined number of previously accepted coins. The statistical function, is preferably weighted so that it is based upon values for only a predetermined number of the most recently accepted coins so that a recent average is maintained.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は硬貨の真偽および単位の検査に関し、特に、硬
貨試験のための無調整自己試験装置に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to coin authenticity and unit inspection, and more particularly to an unadjusted self-testing apparatus for coin testing.

背景技術 硬貨検査技術では、測定対象物と低周波電磁界との相互
作用によって該対象物の材質組成が受容可能な硬貨のも
のであるかが調べられる。もし受容可能であれば、その
額面についての認定がなされる。例えば、米国特許第3,
059,749号を参照されたい。また、この低周波試験は高
周波試験と組み合わされると都合がいいということも認
識されている。例えば、本願の譲受人に譲渡された米国
特許第3,870,137号を参照されたい。BACKGROUND ART In coin inspection technology, it is examined by interaction between a measurement object and a low-frequency electromagnetic field whether the material composition of the object is a coin that is acceptable. If acceptable, the par value is certified. For example, US Pat.
See 059,749. It has also been recognized that this low frequency test can be conveniently combined with a high frequency test. See, for example, US Pat. No. 3,870,137 assigned to the assignee of the present application.

大部分の公知の電子硬貨試験装置は、バラツキのある構
成部品を用いることの補償のために、そしてこの硬貨試
験装置の製作中に生ずる構成部品の位置決めのバラツキ
を補償するために、硬貨試験装置ごとの調整を必要とし
ている。例えば、ブリッジ回路は、通常、試験位置に公
知の受容可能な硬貨をおいてそのブリッジを平衡させる
ことにより工場で同調がとられる。硬貨試験技術でずっ
と以前から認識されているもう一つの問題は、構成素子
の老化、温度や湿度の変化のような硬貨試験装置の環境
の変化、および電子硬貨試験装置に使用される電子回路
の動作特性の望ましくない変化を如何に補償するかの問
題である。Most known electronic coin testing devices provide coin testing equipment to compensate for the use of variable components and to compensate for component positioning variations that occur during fabrication of the coin testing device. Needs adjustment for each. For example, a bridge circuit is usually tuned at the factory by placing a known acceptable coin in the test position to balance the bridge. Another problem that has long been recognized in coin testing technology is the aging of components, changes in the environment of coin testing equipment such as changes in temperature and humidity, and the electronic circuits used in electronic coin testing equipment. The question is how to compensate for unwanted changes in operating characteristics.

サービス・マンによる電子硬貨試験装置の再調整は構成
素子の老化の問題への一つの公知の答であるが、この再
調整は費用を要し、そしてその問題に対しては一時的な
解決しか与えない。一方、この環境補償問題解決のため
別の補償回路が開発された。例えば、1981年10月２日出
願で本発明の譲受人に譲渡された米国特許第4,493,411
号を参照されたい。更に、同調調整または別個の補償回
路の必要がなくなる改良になる送受信方法および装置が
開発された。これについては、本願の譲受人に譲渡され
た米国特許第4,493,411号を参照されたい。Reconditioning an electronic coin testing device by a service technician is one known answer to the component aging problem, but this reconditioning is costly and a temporary solution to that problem. Do not give. Meanwhile, another compensating circuit has been developed to solve this environmental compensation problem. For example, U.S. Pat. No. 4,493,411, filed Oct. 2, 1981 and assigned to the assignee of the present invention.
See issue. In addition, improved transmission / reception methods and devices have been developed that eliminate the need for tuning adjustments or separate compensation circuits. See U.S. Pat. No. 4,493,411 assigned to the assignee of the present application.

発明の開示 本発明は、硬貨受容限界を設定して補償問題を除くため
の簡単、かつ、価格の割に効果的な方法および装置に関
する。本発明は、硬貨の受容可能性を示すパラメータを
測定するための広範囲の電子硬貨試験に利用できる。本
発明によれば、硬貨試験用の硬貨受容限界が、所定数の
以前受容された硬貨に関する硬貨試験により測定された
パラメータについて計算された統計関数に基いて装置自
体により設定および再調整される。DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention relates to a simple and cost effective method and apparatus for setting coin acceptance limits to eliminate compensation problems. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used in a wide range of electronic coin tests for measuring a parameter indicating the acceptability of coins. According to the invention, the coin acceptance limits for the coin test are set and readjusted by the device itself on the basis of a statistical function calculated over the parameters measured by the coin test on a predetermined number of previously accepted coins.

本発明の一実施例の動作は以下のごとく要約できる。す
なわち、米国の５セント硬貨のような、試験されるべき
任意の硬貨の標準的な組の初期受容限界が本発明に従っ
て製作されたすべての硬貨試験装置内に最初記憶され
る。これらの初期受容限界は、全ての真正な５セント硬
貨のほぼ100％の受容が確保されるよに、かなり広範囲
に設定され。各個々の硬貨試験装置を工場で調整中、受
容可能な柄の硬貨がこの装置内へ挿入されて１個または
これ以上のセンサで試験される。各センサにより測定さ
れたパラメータの統計関数が計算される。例えば、この
パラメータの移動平均が計算される。一度所定数の受容
可能な硬貨が受容されると、新しい受容限界がこの電子
硬貨試験装置により自動的に確立される。例えば、この
新しい受容限界は、移動平均プラスまたはマイナス記憶
され予め確立された定数または移動平均の記憶され予め
確立された割合に設定できる。または、この代りに、標
準的な初期受容限界は記憶されず、装置が５セント硬貨
のような特定硬貨について同調されるべきであるという
命令信号を送ることにより同調が開始される。そして、
所定数の正当な５セント硬貨が挿入され試験される。平
均５セントの硬貨を表わす単一の試験硬貨も使用でき
る。そして統計関数が計算され受容限界がそれに基いて
設定される。同様に、受容されるべき硬貨の別の単位に
ついて以上の方法が繰返される。いずれの場合にも工場
での初期同調が所定数の真正な硬貨を単に挿入すること
により達成される。初期同調の完了後に、広い受容限界
範囲は狭い受容限界範囲に設定され直して、装置は出荷
される。装置が一度商売上動作されると、更に別の受容
可能な硬貨が挿入されるとき統計関数がこの電子硬貨試
験装置により連続的に計算される。多数の硬貨が受容さ
れた後に温度または湿度の変化のような環境変化を補償
するために、硬貨試験装置は、統計関数の計算が所定数
の最も新しく挿入され受容された硬貨のみに関する情報
に基くように計算に再度重みづけをする。The operation of the embodiment of the present invention can be summarized as follows. That is, the initial acceptance limits of a standard set of any coins to be tested, such as the US 5 cent coin, are initially stored in all coin testing equipment made in accordance with the present invention. These initial acceptance limits have been set fairly broadly to ensure nearly 100% acceptance of all authentic 5 cent coins. During factory adjustment of each individual coin testing device, an acceptable handle coin is inserted into the device and tested with one or more sensors. A statistical function of the parameters measured by each sensor is calculated. For example, a moving average of this parameter is calculated. Once a predetermined number of acceptable coins have been accepted, new acceptance limits are automatically established by the electronic coin tester. For example, this new acceptance limit can be set to a moving average plus or minus a stored and pre-established constant or a stored and pre-established percentage of the moving average. Alternatively, the standard initial acceptance limit is not stored and tuning is initiated by sending a command signal that the device should be tuned for a particular coin, such as a 5 cent coin. And
A predetermined number of valid 5-cent coins are inserted and tested. A single test coin representing an average 5 cent coin can also be used. Then a statistical function is calculated and the acceptance limit is set accordingly. Similarly, the above procedure is repeated for other units of coins to be accepted. In each case, the factory initial tuning is achieved by simply inserting a certain number of genuine coins. After completion of the initial tuning, the wide acceptance range is reset to the narrow acceptance range and the device is shipped. Once the device is in commercial operation, statistical functions are continuously calculated by the electronic coin testing device as additional acceptable coins are inserted. In order to compensate for environmental changes such as changes in temperature or humidity after a large number of coins have been received, the coin testing device is based on the fact that the calculation of the statistical function is based on information on only a predetermined number of the most recently inserted and received coins. To re-weight the calculation as

本発明による硬貨試験装置の自己同調の特徴により、本
装置を工場で最初同調するに要する時間と熟練が著しく
減らされ、それにより製造工程に使用される労賃が減ら
されるという利点を有している。更に、本装置は通常の
動作中連続的に自体を再三同調し、これによりパラメー
タの変動および環境変化を補償する。The self-tuning feature of the coin testing device according to the present invention has the advantage that the time and skill required to initially tune the device at the factory is significantly reduced, thereby reducing the labor costs used in the manufacturing process. . Further, the device continuously retunes itself during normal operation, thereby compensating for parameter variations and environmental changes.

図面の簡単な説明 第１図は本発明による電子硬貨試験装置の実施例のブロ
ック線図であり、 第２図は第１図の実施例に適した回路の詳細な図であ
り、 第３図は第１図の実施例のセンサに適する位置を示す図
式的な図式的な図であり、そして 第４図は第１図の実施例の動作のフローチャートであ
る。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of an electronic coin testing device according to the present invention, FIG. 2 is a detailed view of a circuit suitable for the embodiment of FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a schematic diagram showing suitable positions for the sensor of the embodiment of FIG. 1, and FIG. 4 is a flow chart of the operation of the embodiment of FIG.

本発明の硬貨検査方法および装置は、硬貨の受容可能性
を示すパラメータを測定するための広範囲の電子的な硬
貨試験、および、多くの国の硬貨の組から得られる任意
の数の硬貨の確認および受容に適用できるが、本発明は
米国の５セント硬貨を確認することへの本発明の適用の
説明により十分に説明される。特に、次の記載は米国の
５セント硬貨に対し高周波の直径試験に対する受容限界
を設定するための詳細に集中されているが、高周波によ
る厚さ試験のような、米国の５セント硬貨に関する他の
硬貨試験、および他の硬貨への本発明の適用は当業者に
明らかであろう。The coin inspection method and apparatus of the present invention provides a wide range of electronic coin tests for measuring parameters indicative of coin acceptability, and confirmation of any number of coins obtained from coin sets of many countries. Although applicable to and acceptance, the present invention is more fully explained by the description of the application of the present invention to identifying US five cent coins. In particular, the following discussion concentrates on details for setting acceptance limits for high frequency diameter tests for US 5 cent coins, but for other US 5 cent coins such as high frequency thickness tests. Coin testing and application of the invention to other coins will be apparent to those skilled in the art.

図面は具象的になるよう意図されているが、必ずしも一
定の比率で描かれているものではない。本明細書にわた
り、「硬貨」なる用語は、硬貨により作動される装置を
使用しようとして人により使用される可能性のある、真
正の硬貨、トークン、偽造硬貨、小さな金属塊、ワッシ
ャ、および任意の他の品目を含もうとするものである。
更に、時々本明細書においては簡単化のため硬貨の移動
が回転運動として記載される。しかしながら、そうでな
いと示される場合を除き、直線的なおよび他の種類の運
動も包含される。同様に、具体的な種類の論理回路が以
下に詳述した実施例に関して開示したが、同等な結果を
得るために本発明から逸脱せずに他の論理回路も使用で
きる。The drawings are intended to be concrete, but are not necessarily drawn to scale. Throughout this specification, the term "coin" is used to identify genuine coins, tokens, counterfeit coins, small metal chunks, washers, and any coins that may be used by a person in an attempt to use a coin-operated device. It is intended to include other items.
In addition, the movement of coins is sometimes referred to herein as rotational movement for simplicity. However, linear and other types of movement are also included, unless indicated otherwise. Similarly, although a specific type of logic circuit is disclosed with respect to the embodiments detailed below, other logic circuits may be used without departing from the invention to achieve equivalent results.

発明実施の最良形態 第１図は本発明による電子硬貨試験装置10の図式的なブ
ロック線図である。この電子硬貨試験装置10の機械的な
部分は第３図に示されている。この電子硬貨試験装置10
は２つの主要な部分を有している。すなわち、個々のセ
ンサ回路21、22および23を含む硬貨検査検出回路20と、
処理制御回路30である。この処理制御回路30はプログラ
ムされたマイクロプロセッサ35、アナログ−デジタル
（A/D）変換器40、信号整形回路45、比較器回路50、カ
ウンタ55、およびNORゲート61、62、63、64および65を
有している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION FIG. 1 is a schematic block diagram of an electronic coin testing device 10 according to the present invention. The mechanical portion of the electronic coin testing device 10 is shown in FIG. This electronic coin testing device 10
Has two main parts. That is, a coin inspection detection circuit 20 including individual sensor circuits 21, 22 and 23,
The processing control circuit 30. The processing control circuit 30 includes a programmed microprocessor 35, an analog-to-digital (A / D) converter 40, a signal shaping circuit 45, a comparator circuit 50, a counter 55, and NOR gates 61, 62, 63, 64 and 65. have.

センサ回路21、22は各々２面誘導型のセンサ24、25を有
し、これらのセンサ24、25はその直列接続したコイルを
硬貨通路の相対向する側壁の近くに配置している。第３
図に示すように、センサ24は、なるべくなら、広範囲に
わたる直径の硬貨を試験するために直径が大なる方がよ
い。センサ回路23は、なるべくなら第３図に示したよう
に配置されるべきである誘導センサ26を有する。Each of the sensor circuits 21, 22 has a two-sided induction type sensor 24, 25, and these sensors 24, 25 have their series-connected coils arranged near opposite side walls of the coin passage. Third
As shown, the sensor 24 preferably has a larger diameter for testing coins over a wide range of diameters. The sensor circuit 23 comprises an inductive sensor 26 which should preferably be arranged as shown in FIG.

センサ回路21は、直径および材質のような硬貨パラメー
タを試験してマイクロプロセッサ35を「目ざめさせる」
ために使用される高周波低電力発振器である。硬貨が誘
導型のセンサ24を通るとき、センサ回路21の出力の周波
数と振幅はセンサ24と硬貨の相互作用の結果として変化
する。センサ回路21の出力は、整形回路45により整形さ
れて比較器回路50に送られる。整形回路45からの信号の
振幅変化が所定量を超えると、比較器回路50は、マイク
ロプロセッサ35の割込みピンに接続された線36に出力を
発生する。この線36の信号はマイクロプロセッサ35に命
令して「目ざめさせ」、または換言すれば、低電力休止
状態から全電力硬貨評価状態へ移行させる。好適な実施
例では、本電子硬貨試験装置10は、低電力動作が非常に
重要な硬貨作動電話機または他の環境で使用することが
できる。この環境では、上述の「目ざめさせ」る特徴が
特に有用である。上述の「目ざめさせ」ることは硬貨到
着を検出したときに電力供給を増大するための唯一の可
能な方法である。例えば、硬貨の到着を検出してマイク
ロプロセッサ35を目ざめさせるためには別々の到着検出
器を使用することもできよう。The sensor circuit 21 tests coin parameters such as diameter and material to "wake up" the microprocessor 35.
It is a high frequency low power oscillator used for. As the coin passes through the inductive sensor 24, the frequency and amplitude of the output of the sensor circuit 21 changes as a result of the interaction of the sensor 24 with the coin. The output of the sensor circuit 21 is shaped by the shaping circuit 45 and sent to the comparator circuit 50. When the change in amplitude of the signal from shaping circuit 45 exceeds a predetermined amount, comparator circuit 50 produces an output on line 36 connected to the interrupt pin of microprocessor 35. The signal on this line 36 commands the microprocessor 35 to "wake up," or in other words, transition from a low power dormant state to a full power coin valuation state. In the preferred embodiment, the electronic coin testing device 10 can be used in coin operated telephones or other environments where low power operation is very important. The "awakening" feature described above is particularly useful in this environment. "Awakening" as described above is the only possible way to increase the power supply when a coin arrival is detected. For example, separate arrival detectors could be used to detect the arrival of coins and wake up the microprocessor 35.

整形回路45からの出力も、入力点のアナログ信号をデジ
タル出力に変換するA/D変換回路40の入力に供給され
る。このデジタル出力は線42でマイクロプロセッサ35に
直列で供給される。このデジタル出力は、センサ回路21
の出力の振幅に対する通過硬貨の影響を検出するために
マイクロプロセッサ35により監視される。周波数シフト
情報と共に振幅情報は、マイクロプロセッサ35に、単一
のセンサ回路21を用いて広範囲にわたる直径の硬貨の特
に信頼性ある試験のための十分なデータを提供する。The output from the shaping circuit 45 is also supplied to the input of the A / D conversion circuit 40 that converts the analog signal at the input point into a digital output. This digital output is provided on line 42 to the microprocessor 35 in series. This digital output is the sensor circuit 21
Monitored by the microprocessor 35 to detect the effect of passing coins on the amplitude of the output of the. The amplitude information along with the frequency shift information provide the microprocessor 35 with sufficient data for a particularly reliable test of coins of a wide range of diameters using a single sensor circuit 21.

センサ回路21の出力もNORゲート61の１つの入力点に接
続され、このNORゲート61の出力はNORゲート62の入力点
に接続される。NORゲート62はNORゲート65の１入力とし
て接続され、NORゲート65はその出力をカウンタ55に接
続する。センサ回路21に関する周波数情報はNORゲート6
1,62および65を介してセンサ回路21の出力をカウンタ55
に選択的に接続することにより発生される。センサ回路
22と23に関する周波数情報は、それぞれのNORゲート63
または64およびNORゲート65を介していずれかのセンサ
回路22または23の出力をカウンタ55に選択的に接続する
ことにより同様に発生される。センサ回路22も高周波低
電力発振器で、硬貨の厚さ試験のために使用される。セ
ンサ回路23は自動販売機に普通見られるストローブ・セ
ンサである。第３図に示すように、センサ26は受容ゲー
ト71の後に配置されている。センサ回路23の出力は、ク
レジットの認定のような機能の制御、硬貨のつまりの検
出、ひもを用いて装置内へ受容可能な硬貨を下げるよう
な方法による顧客の詐欺行為の防止に使用される。The output of the sensor circuit 21 is also connected to one input point of the NOR gate 61, and the output of this NOR gate 61 is connected to the input point of the NOR gate 62. NOR gate 62 is connected as one input to NOR gate 65, which connects its output to counter 55. Frequency information for sensor circuit 21 is NOR gate 6
Counter 55 outputs the output of sensor circuit 21 via 1, 62 and 65.
Is generated by selectively connecting to. Sensor circuit
Frequency information for 22 and 23 is provided for each NOR gate 63.
Similarly, by selectively connecting the output of either sensor circuit 22 or 23 to counter 55 via 64 and NOR gate 65. The sensor circuit 22 is also a high frequency low power oscillator and is used for coin thickness testing. Sensor circuit 23 is a strobe sensor commonly found in vending machines. As shown in FIG. 3, the sensor 26 is located after the receiving gate 71. The output of the sensor circuit 23 is used to control functions such as credit authorization, detect clogging of coins, and prevent customer fraud by methods such as using strings to lower acceptable coins into the device. .

マイクロプロセッサ35は、後で述べるように、センサ回
路23からカウンタ55への出力の選択的な接続を制御す
る。センサ回路21,22および23の出力の発振周波数は、
所定のサンプリング時間内に生じる出力信号のスレッシ
ョルド・レベルのクロス回数をカウントすることにより
サンプリングされる。そのカウンティングは、カウンタ
55によりなされ、上記の所定のサンプリング時間の長さ
は、マイクロプロセッサ35により制御される。NORゲー
ト62,63および64の各々の１つの入力は、その関連する
センサ回路21,22および23の出力に接続されている。セ
ンサ回路21の出力は反転増幅器として接続されたNORゲ
ート61を介して接続される。NORゲート62,63および64の
各々の他の入力は、マイクロプロセッサ35からそれぞれ
の制御線37,38および39へ接続されている。制御線37,38
および39の信号はセンサ回路21,22および23の各々が呼
び掛けられ、すなわち、サンプリングされる時を、換言
すれば、センサ回路21,22および23の出力がカウンタ55
へ供給される時を制御する。例えば、マイクロプロセッ
サ35が高（論理「１」）の信号を線38と39に、そして、
低（論理「０」）の信号を線37に発生すると、センサ回
路21は呼び掛けられ、そして、NORゲート61の出力が低
となるたびに、NORゲート62は高の信号を発生する。こ
の高の信号はNORゲート65を介してカウンタ55の計数入
力点に送られ、カウンタ55によりカウントされる。カウ
ンタ55は出力カウント信号を発生し、このカウンタ55の
出力は線57によりマイクロプロセッサ35に接続される。
マイクロプロセッサ35は、カウンタ55とA/D変換回路40
の出力またはこれから計算された値（単数または複数）
が記憶された受容限界内にあるか否かを決定することに
より、カウンタ55からの出力カウント信号とA/D変換回
路40からのデジタル振幅情報が受容可能な直径の硬貨を
示すか否かを決定する。センサ回路22が呼び掛けられる
と、マイクロプロセッサ35はカウンタ出力が受容可能な
厚さの硬貨を示すか否かを決定する。最後に、センサ回
路23が呼び掛けられると、マイクロプロセッサ35はカウ
ンタ出力が硬貨の存在または不存在を示すか否かを決定
する。直径と厚さの試験が両方とも満足されると、真正
硬貨と偽造硬貨の識別精度は高くなる。Microprocessor 35 controls the selective connection of the output from sensor circuit 23 to counter 55, as described below. The oscillation frequencies of the outputs of the sensor circuits 21, 22 and 23 are
The sampling is performed by counting the number of times the threshold level of the output signal is crossed within a predetermined sampling time. The counting is a counter
The length of the predetermined sampling time made by 55 is controlled by the microprocessor 35. One input of each of NOR gates 62, 63 and 64 is connected to the output of its associated sensor circuit 21, 22 and 23. The output of the sensor circuit 21 is connected via a NOR gate 61 connected as an inverting amplifier. The other input of each of NOR gates 62, 63 and 64 is connected from microprocessor 35 to respective control lines 37, 38 and 39. Control line 37,38
And 39 signals when each of the sensor circuits 21, 22 and 23 is interrogated, i.e. sampled, in other words the output of the sensor circuits 21, 22 and 23 is a counter 55.
Control when it is delivered to. For example, microprocessor 35 sends a high (logical "1") signal to lines 38 and 39, and
When a low (logic "0") signal is generated on line 37, the sensor circuit 21 is interrogated, and NOR gate 62 generates a high signal each time the output of NOR gate 61 goes low. This high signal is sent to the counting input point of the counter 55 through the NOR gate 65 and is counted by the counter 55. Counter 55 produces an output count signal, the output of which is connected by line 57 to microprocessor 35.
The microprocessor 35 includes a counter 55 and an A / D conversion circuit 40.
Output or calculated value (s)
Is within the stored acceptance limit to determine whether the output count signal from the counter 55 and the digital amplitude information from the A / D conversion circuit 40 indicate a coin of acceptable diameter. decide. When the sensor circuit 22 is interrogated, the microprocessor 35 determines whether the counter output indicates a coin of acceptable thickness. Finally, when the sensor circuit 23 is interrogated, the microprocessor 35 determines whether the counter output indicates the presence or absence of coins. When both the diameter and thickness tests are satisfied, the accuracy of discriminating between genuine coins and counterfeit coins is high.

第２図は、次の構成素子を含む第１図の実施例に適した
回路の図式的な詳細図である。FIG. 2 is a schematic detailed view of a circuit suitable for the embodiment of FIG. 1 including the following components.

抵 抗 R1 820k R2 330k R3 43k R4，R9，R12 3.9k R5，R13，R28，R36 1k R6，R14，R18，R21， R27，R29，R30， R31，R34，R38 100k R7 510k R8 680k R10 470k R11 620k R15，R26 47k R16 180k R17 10k R20 390k R22，R23 150k R24，R37 6.8k R25，R39，R40 1M R35 1.5k 誘導型センサ 24 3.5mH 25 400μＨ 26 240μＨ コンデンサ C1，C2，C3，C4，C15， C16，C17，C22，C23， C34 .1μｆ C5 250pf C6，C33 510pf C7，C8 180pf C9，C10 100pf C11，C12，C13，C18 .01μｆ C14，C21 10μｆ C19，C20 30pf ダイオード D1，D2，D3，D4，D5， D6，D7，D8，D9 D11，D12，D13，D14， D17，D18，D20，D21， D22，D23 1N41448 D15，D16 HSCH 1001 ツエナー・ダイオード Ｚ 4.7v トランジスタ T1，T2，T3 2N5089 T4 2N3392 T5，T6 2N4356 電池 LB Saft LB2425 3 V リチウム 発 振 器 Ｏ ムラタ2MHzセラミック 共振器 比 較 器 Comp1,Comp2 LM2903 NORゲート 61,62,63,64 ナショナル セミコンダクタ4001 65 ナショナル セミコンダクタ4025 カウンタ 55 ナショナル セミコンダクタCD4520B 内部記憶装置 58 74C244 59 27C16 60 74C373 マイクロプロセッサ 35 インテル80C39 第１図の回路ブロックおよび素子に対応する第２図の回
路ブロックおよび素子は似た番号を付されている。第２
図に詳細に示した電子硬貨試験装置10で、ブロック15,1
6および17は、センサ回路21,22および23のトランジスタ
T1，T2およびT3へ、それぞれ適切なレベルのベース電流
を提供する。センサ回路21は、第３図に示した相対向す
る側壁36と38に置かれて直列接続された２つのコイルを
有する誘導型のセンサ24を備えた低電力発振器回路であ
る。センサ24の２つのコイルは約3.5mHの合成インダク
タンスを有し、センサ回路21は約170kHzのアイドリング
周波数で発振する。センサ回路21からの発振出力信号は
点Ａから取られて整形回路45を介してA/D変換器41と比
較器回路50へ接続される。点Ｂの信号はセンサ回路21の
発振出力信号の包絡線である。センサ回路21が硬貨の影
響を受けない場合、点Ｂの信号の振幅は約3.5vである。
硬貨がセンサ24に近づき、そしてこれを通り過ぎると、
点Ｂの電圧はセンサ24のコイル（複数）の間の中心に硬
貨が配置されるまで減少し、それから硬貨がセンサ24か
ら転動して去るにしたがって再び増大する。点Ｂの電圧
レベルが約0.2Vだけ変化すると、比較器回路50は線36に
出力を発生する。この出力はNORゲートおよびダイオー
ドを介してマイクロプロセッサ35の割込み端子に送られ
てマイクロプロセッサ35を目ざめさせる。そして、直径
検査に関する振幅と周波数の情報が上述のように発生さ
れて評価される。 Resistor R 1 820k R 2 330k R 3 43k R 4, R 9, R 12 3.9k R 5, R 13, R 28, R 36 1k R 6, R 14, R 18, R 21, R 27, R 29 , R 30 , R 31 , R 34 , R 38 100k R 7 510k R 8 680k R 10 470k R 11 620k R 15 , R 26 47k R 16 180k R 17 10k R 20 390k R 22 , R 23 150k R 24 , R 37 6.8k R 25 , R 39 , R 40 1M R 35 1.5k Inductive sensor 24 3.5mH 25 400μH 26 240μH Capacitor C 1 , C 2 , C 3 , C 4 , C 15 , C 16 , C 17 , C 22 , C 23, C 34 .1μf C 5 250pf C 6, C 33 510pf C 7, C 8 180pf C 9, C 10 100pf C 11, C 12, C 13, C 18 .01μf C 14, C 21 10μf C 19 , C 20 30pf diode D 1 , D 2 , D 3 , D 4 , D 5 , D 6 , D 7 , D 8 , D 9 D 11 , D 12 , D 13 , D 14 , D 17 , D 18 , D, 20 , D 21 , D 22 , D 23 1N41448 D 15 , D 16 HSCH 1001 Zener diode Z 4.7v Transistor T 1 , T 2 , T 3 2N5089 T 4 2N3392 T 5 , T 6 2N4356 Battery LB Saft LB2425 3 V Lithium Oscillator O Murata 2MHz ceramic resonator ratio Vessels Comp1, Comp2 LM2903 corresponding to the circuit blocks and elements of NOR gates 61, 62, 63, 64 of the National Semiconductor 4001 65 National Semiconductor 4025 counter 55 National Semiconductor CD4520B internal storage device 58 74C244 59 27C16 60 74C373 microprocessor 35 Intel 80C39 Figure 1 The circuit blocks and elements of FIG. 2 are similarly numbered. Second
In the electronic coin testing device 10 shown in detail in the figure, blocks 15,1
6 and 17 are transistors of the sensor circuits 21, 22 and 23
Providing an appropriate level of base current to T 1 , T 2 and T 3 , respectively. The sensor circuit 21 is a low power oscillator circuit with an inductive sensor 24 having two coils placed in opposite side walls 36 and 38 shown in FIG. 3 and connected in series. The two coils of sensor 24 have a combined inductance of about 3.5 mH and sensor circuit 21 oscillates at an idling frequency of about 170 kHz. The oscillation output signal from the sensor circuit 21 is taken from the point A and is connected to the A / D converter 41 and the comparator circuit 50 via the shaping circuit 45. The signal at the point B is the envelope of the oscillation output signal of the sensor circuit 21. If the sensor circuit 21 is not affected by coins, the signal amplitude at point B is about 3.5v.
When a coin approaches the sensor 24 and passes by,
The voltage at point B decreases until the coin is centered between the coils of the sensor 24 and then increases again as the coin rolls off the sensor 24. When the voltage level at point B changes by about 0.2V, the comparator circuit 50 produces an output on line 36. This output is sent to the interrupt terminal of the microprocessor 35 via a NOR gate and a diode to awaken the microprocessor 35. Amplitude and frequency information for diameter inspection is then generated and evaluated as described above.

第２図に詳細に示したセンサ回路22も発振器回路てあっ
て、センサ25を通過する硬貨の幅に関する周波数試験情
報を発生する。第２図に示した発振器は、第３図に示し
た相対向する側壁36と38に配置されて直列接続された２
個のコイルを有する誘導型のセンサ25を備えている。セ
ンサ25の２個のコイルは約400μＨの合成インダクタン
スを有し、発振器回路は約750kHzのアイドリング周波数
を有している。The sensor circuit 22 shown in detail in FIG. 2 is also an oscillator circuit and generates frequency test information relating to the width of the coin passing through the sensor 25. The oscillator shown in FIG. 2 is arranged in series on the opposite side walls 36 and 38 shown in FIG.
An inductive sensor 25 having a number of coils is provided. The two coils of sensor 25 have a combined inductance of about 400 μH and the oscillator circuit has an idling frequency of about 750 kHz.

センサ回路23、すなわちストローブ・センサは、第３図
に示すように、硬貨ルート決めゲート71の後にその誘導
型のセンサ26を配置している。誘導型のセンサ26の単一
のコイルは約240μＨのインダクタンスを有し、センサ
回路23は約850Hzのアイドリング周波数を有している。
上記ストローブ・センサは硬貨の通貨の検出、硬貨のつ
まり、および顧客の詐欺行為の防止のために使用されて
いる。The sensor circuit 23, the strobe sensor, has its inductive sensor 26 located after the coin routing gate 71, as shown in FIG. The single coil of the inductive sensor 26 has an inductance of about 240 μH and the sensor circuit 23 has an idling frequency of about 850 Hz.
The strobe sensor is used for coin currency detection, coin blocking, and customer fraud prevention.

マイクロプロセッサ35は3vのリチウム電池LBによりバッ
クアップされているRAM電源80を有するCMOS装置であ
る。この電力装置により非揮発性記憶装置が提供され
る。同じ結果を達成するためにEEPROMおよびNOVRAM装置
を含む他の装置を使用することもできる。第２図に示す
ように、58,59および60と示した３個のチップは外部プ
ログラム記憶装置を構成する。インテル（Intel）社の8
0C49のような十分な内部記憶装置をもつマイクロプロセ
ッサ35が使用される場合は、チップ58,59および60を省
いても良い。Microprocessor 35 is a CMOS device with RAM power supply 80 backed by a 3v lithium battery LB. The power device provides a non-volatile storage device. Other devices can be used, including EEPROM and NOVRAM devices, to achieve the same result. As shown in FIG. 2, the three chips labeled 58, 59 and 60 constitute an external program storage device. 8 of Intel
Chips 58, 59 and 60 may be omitted if a microprocessor 35 with sufficient internal storage, such as the 0C49, is used.

好適な実施例では、電子硬貨試験装置10が硬貨作動電話
機に組み込まれている。この実施例では、装置10は電話
機がフックから離されるときに電力を増大されるのみで
ある。電話機がフックから上げられると、各センサ回路
が発振し始める。マイクロプロセッサ35はセンサ回路21
に関するアイドリングすなわち硬貨が無いときの振幅
（A0）と周波数（f0）の値とセンサ回路22と23に関する
周波数値をサンプリングして記憶する。そして、マイク
ロプロセッサ35は「眠り」、休止、または待受けモード
に入る。このモードでは、割込み信号か線36に発生され
て硬貨が挿入されたということを示してマイクロプロセ
ッサ35を目ざめさせるまでマイクロプロセッサ35はほと
んど電力を消費しない。マイクロプロセッサ35は目ざめ
させられると十分に電力を供給されてセンサ回路21と22
からの情報を評価し、そして、検出された硬貨が受容可
能な硬貨か否かを決定する。In the preferred embodiment, the electronic coin testing device 10 is incorporated into a coin operated telephone. In this embodiment, the device 10 is only powered up when the phone is removed from the hook. When the phone is lifted from the hook, each sensor circuit begins to oscillate. The microprocessor 35 has a sensor circuit 21.
The values of the amplitude (A 0 ) and the frequency (f 0 ) in the absence of idling, ie, no coin, and the frequency values of the sensor circuits 22 and 23 are sampled and stored. The microprocessor 35 then enters "sleep", sleep, or standby mode. In this mode, the microprocessor 35 consumes little power until it wakes up the microprocessor 35 indicating that an interrupt signal has been generated on line 36 and a coin has been inserted. Microprocessor 35 is fully powered when awakened to provide sensor circuits 21 and 22.
Evaluate the information from and determine if the detected coin is an acceptable coin.

本発明の方法を、センサ回路21からの周波数情報に基づ
いて硬貨受容限界を設定する場合において次に記載す
る。硬貨が誘導型のセンサ24に近づいてこれを通過する
に従って、その関連の発振器の周波数は、硬貨無しのア
イドリング周波数f0から変化し、従ってセンサ回路21の
出力は変化する。また、この出力信号の包絡線の振幅も
変化する。また、この出力信号の包絡線の振幅も変化す
る。この後者の変化が所定限界を超えると、マイクロプ
ロセッサ35は硬貨が挿入されたということを認識して目
ざめる。そして、マイクロプロセッサ35は周波数の最大
変化Δｆを計算する。ここでΔｆは、硬貨通過中に測定
された周波数とアイドリング周波数の最大の絶対差に等
しい。即ち、Δｆ＝（測定された周波数ｆ−アイドリン
グ周波数f0）の最大値である。次に、試験される硬貨に
関するこの値が真正な硬貨の受容可能な範囲に入るか否
かを知るために、Ｆ＝Δf/f0が計算されて、記憶された
受容限界値と比較される。以上の測定および計算の背景
としては、本願の譲受人に譲渡された米国特許第3,918,
564号を参照。この特許で述べられているように、この
種の測定技術も周波数以外のセンサ出力信号のパラメー
タ例えば振幅にあてはまる。同様に、本発明は、振幅お
よび周波数出力を提供する特定センサのための硬貨受容
限界の設定に特に適用されるが、任意のセンサにより測
定されたパラメータ（単数または複数）の以前受容され
た手数の硬貨に関する統計関数から得られる硬貨受容限
界の設定に一般的にも適用される。The method of the present invention will now be described in the case of setting the coin acceptance limit based on the frequency information from the sensor circuit 21. As the coin approaches and passes the inductive sensor 24, the frequency of its associated oscillator changes from the idling frequency f 0 without the coin, and thus the output of the sensor circuit 21 changes. The amplitude of the envelope of this output signal also changes. The amplitude of the envelope of this output signal also changes. When this latter change exceeds a predetermined limit, the microprocessor 35 recognizes that a coin has been inserted and awakens. Then, the microprocessor 35 calculates the maximum frequency change Δf. Here, Δf is equal to the maximum absolute difference between the frequency measured during passage of the coin and the idling frequency. That is, it is the maximum value of Δf = (measured frequency f−idling frequency f 0 ). F = Δf / f 0 is then calculated and compared with the stored acceptance limit to see if this value for the coin tested is within the acceptable range for authentic coins. . The background of the above measurement and calculation is that U.S. Patent No. 3,918, assigned to the assignee of the present application.
See issue 564. As described in this patent, this type of measurement technique also applies to parameters of the sensor output signal other than frequency, such as amplitude. Similarly, the present invention has particular application to the setting of coin acceptance limits for a particular sensor that provides amplitude and frequency outputs, but the previously accepted effort of the parameter (s) measured by any sensor. It is also generally applied to the setting of the coin acceptance limit obtained from the statistical function of coins.

硬貨が受容可能と判別されると、新しい受容限界の計算
のためＦの値は記憶されてマイクロプロセッサ35により
使用される情報の記憶部に加えられる。例えば、記憶さ
れたＦの値の移動平均は、所定数の以前に受容された硬
貨について計算され、そして、受容限界が移動平均プラ
スまたはマイナス記憶された定数または移動平均の記憶
された割合として確立される。なるべくなら、広狭の両
受容限界値がマイクロプロセッサ35に記憶された方が良
い。また、この代わりに、これらの限界値はRAMまたはR
OMに記憶することもできる。図示の実施例では、新しい
受容限界が広いまたは狭い値に設定されるか否かは、デ
ータ通信バスを介してマイクロプロセッサ35に供給され
る外部情報により制御される。または、この代わりに、
マイクロプロセッサ35の１つの入力に接続される選択ス
イッチを使用することもできる。この後者の構成では、
マイクロプロセッサ35はその選択スイッチの状態を、す
なわち、選択スイッチが開いているか閉じているかを試
験して、この選択スイッチの状態に依存して硬貨受容限
界を調整する。硬貨受容限界が狭い範囲であれば、小金
属塊を受容しないような非常に良好な保護を達成でき
る。しかしながら、こうすると、摩耗または損傷してい
る受容可能な硬貨が拒否されることがある。広狭の受容
限界のいずれかを選ぶことができるため、装置の所有者
は自分の経営上の経験にしたがって硬貨受容限界を調整
することができる。If the coin is determined to be acceptable, the value of F is stored and added to the memory of the information used by the microprocessor 35 for the calculation of the new acceptance limit. For example, a moving average of stored F values is calculated for a given number of previously received coins, and an acceptance limit is established as a moving average plus or minus a stored constant or a stored percentage of the moving average. To be done. If possible, both wide and narrow acceptance limits should be stored in the microprocessor 35. Also, instead of these, the limits are RAM or R
It can also be stored in OM. In the illustrated embodiment, whether the new acceptance limit is set to a wide or narrow value is controlled by external information provided to the microprocessor 35 via the data communication bus. Or instead of this,
A select switch connected to one input of the microprocessor 35 can also be used. In this latter configuration,
The microprocessor 35 tests the state of the select switch, i.e. whether the select switch is open or closed, and adjusts the coin acceptance limit depending on the state of the select switch. If the coin accepting range is narrow, very good protection that does not accept small metal lumps can be achieved. However, this may result in rejecting worn or damaged acceptable coins. The choice of wide or narrow acceptance limits allows the owner of the device to adjust the coin acceptance limits according to his business experience.

マイクロプロセッサ35の他のポートは、第３図に示した
ゲート71,クロック75,電源回路80,インタフエース線81,
82,83およびデバック線85を制御するためのリレー制御
回路70に接続されている。マイクロプロセッサ35は、受
容できない硬貨から受容可能な硬貨を分離するため、ま
たは他の硬貨ルート決めタスクを行なうためのゲートを
動作させるリレー回路70を制御するよう容易にプログラ
ムできる。しかしながら、このようなゲートの特に詳細
な説明は本発明の一部をも構成するものではない。代表
的なゲート動作のさらに詳細な説明は、例えば、本発明
の譲受人に譲渡された米国特許第4,106,610号を参照さ
れたし。また、本発明に関連して使用されるに適した好
適なゲートの詳細については、本願と同時に出願されて
本発明の譲受人に譲渡されたプレスコ（Plesko）による
「ロウ パワー コイン ルーチング ゲート（Low Po
wer Coin Routing Gate）」の名称の米国出願第585,252
号を参照されたし。The other ports of the microprocessor 35 are the gate 71, clock 75, power supply circuit 80, interface line 81,
It is connected to a relay control circuit 70 for controlling 82, 83 and debug line 85. Microprocessor 35 can be easily programmed to control a relay circuit 70 which operates a gate to separate acceptable coins from unacceptable coins, or to perform other coin routing tasks. However, the particularly detailed description of such gates does not form part of the present invention. For a more detailed description of an exemplary gate operation, see, for example, US Pat. No. 4,106,610 assigned to the assignee of the present invention. Also, for details of suitable gates suitable for use in connection with the present invention, see “Low Power Coin Routing Gate (Low) by Plesko, filed concurrently with this application and assigned to the assignee of the present invention. Po
application 585,252 entitled "Wer Coin Routing Gate)"
See the issue.

クロック75と電源80は、マイクロプロセッサ35により要
求されるクロック入力とクロック入力を供給する。イン
タフエース線81,82,83および84は、電子硬貨試験装置10
を有する硬貨作動自動販売装置に含ませることができる
他の装置または回路に電子硬貨試験装置10を接続するた
めの手段を提供する。今述べた他の装置およびこれへの
接続の詳細は、本発明の一部を構成するものではない。
デバッグ線85は監視動作およびデバッギングのために試
験接続を与える。Clock 75 and power supply 80 provide the clock inputs and clock inputs required by microprocessor 35. The interface wires 81, 82, 83 and 84 are used for the electronic coin testing device 10
Means are provided for connecting the electronic coin testing device 10 to other devices or circuits that may be included in a coin operated vending machine having a. The details of the other devices mentioned and their connections to them do not form part of the invention.
Debug line 85 provides a test connection for monitoring operations and debugging.

第３図は、２つの相離れた側壁36,38および硬貨軌道33,
33aにより明確に定められた硬貨路の近くにセンサ24,25
および26を適当に位置決めできる一つの方法と電子硬貨
試験装置10の機械部分を示す。硬貨取扱装置11は従来の
硬貨受けカップ31,従来の蝶番・ばね組立体34により結
合された２つの相離れた側壁36と38,および硬貨軌道33,
33aを有している。硬貨軌道33,33aおよび側壁36,38は硬
貨受けカップ31から硬貨センサ24,25を通る硬貨路を形
成している。第３図はまたゲート71の後に置かれたセン
サ26をしめすが、第３図に示したゲート71は受容可能な
硬貨から受容できない硬貨を分離するためのものであ
る。FIG. 3 shows two separated sidewalls 36, 38 and a coin track 33,
Sensors 24, 25 near the coin path clearly defined by 33a
One method by which the and 26 can be properly positioned and the mechanical portion of the electronic coin testing device 10 is shown. The coin handling device 11 comprises a conventional coin receiving cup 31, two separate side walls 36 and 38 joined by a conventional hinge and spring assembly 34, and a coin track 33,
Has 33a. The coin tracks 33, 33a and the side walls 36, 38 form a coin path from the coin receiving cup 31 to the coin sensors 24, 25. 3 also shows the sensor 26 placed after the gate 71, the gate 71 shown in FIG. 3 being for separating unacceptable coins from acceptable coins.

なお、センサの他の位置決めも有利であろうし、他の硬
貨路構成も期待され、そして他の硬貨試験のために別の
センサも使用できよう。It should be noted that other positioning of the sensor may be advantageous, other coin path configurations are expected, and another sensor could be used for other coin tests.

第４図は、第１図〜第３図の実施例の動作のフローチャ
ートである。本発明の方法の一実施例によれば、受容さ
れるべき硬貨の単位ごとに、各試験ごとの初期受容限界
が電子硬貨試験装置10のマイクロプロセッサ35に記憶さ
れている。これらの初期受容限界は、かなり広く設定さ
れて受容可能な硬貨をほぼ100％確実に受容する。これ
らの受容限界は初期調整においてのみ使用される。電子
硬貨試験装置10を同調するために、各単位をもつ所定数
の公知の受容可能な硬貨が挿入される。例えば、８個の
受容可能な５セント硬貨が挿入される。これらの挿入さ
れた硬貨はセンサ回路21により検出され、マイクロプロ
セッサ35が目ざめさせられ、センサ回路21を用いて各硬
貨ごとに振幅および周波数試験が行なわれ、そして、セ
ンサ回路22を用いて第２の周波数試験が行なわれる。そ
して、上記８個の受容可能な硬貨に関する試験情報に基
づいて新らしい受容限界が計算される。これらの新らし
い受容限界は、さらに挿入される硬貨の試験に使用され
る。例えば、センサ回路21を用いる周波数試験をさらに
述べるが、同様な処理が硬貨確認過程で行なわれる各試
験ごとに行なわれる。FIG. 4 is a flow chart of the operation of the embodiment shown in FIGS. According to one embodiment of the method of the present invention, an initial acceptance limit for each test is stored in the microprocessor 35 of the electronic coin testing device 10 for each unit of coin to be accepted. These initial acceptance limits are set fairly wide to ensure almost 100% acceptance of acceptable coins. These acceptance limits are used only in the initial adjustment. To tune the electronic coin testing device 10, a predetermined number of known acceptable coins with each unit are inserted. For example, eight acceptable 5 cent coins are inserted. These inserted coins are detected by the sensor circuit 21, the microprocessor 35 is awakened, an amplitude and frequency test is performed for each coin using the sensor circuit 21, and a second is used using the sensor circuit 22. Frequency test is performed. A new acceptance limit is then calculated based on the test information for the eight acceptable coins. These new acceptance limits will be used to test further inserted coins. For example, a frequency test using the sensor circuit 21 will be further described, but similar processing is performed for each test performed in the coin confirmation process.

第４図のフローチャートは、硬貨電話機の場合に関連す
る方法を示す。しかしながら、本発明の方法および装置
は、他の場合にも使用できる。第４図の一般的な方法
は、任意の硬化試験ごとに周波数、振幅等のような試験
をすることができる任意の機能を表わすものと全てのｆ
変数を考えることにより理解される。以下の具体的な記
載は米国の５セント硬貨の周波数試験に関するものであ
る。The flow chart of FIG. 4 illustrates the method involved in the case of a coin phone. However, the method and apparatus of the present invention can be used in other cases. The general method of FIG. 4 is to represent any function that allows testing such as frequency, amplitude, etc. for any curing test and all f
It is understood by considering the variables. The following specific description pertains to the frequency testing of US 5 cent coins.

電話機のフックからの外し状態が検出されると、マイク
ロプロセッサ35は供給電力を増大され、アイドリング周
波数f0は測定されて記憶され、そして、マイクロプロセ
ッサ35はその低電力休止状態に入る。初期の較正および
同調のため、電話機のフック外し信号は人工的にシミュ
レートすることもできる。そして、一つの実施例では、
一連の８個の受容可能な５セント硬貨が、装置を５セン
ト硬貨について同調するために、挿入される。マイクロ
プロセッサ35は、最初の５セント硬貨が検出されるまで
その休止状態に留まる。センサ回路21の出力の周波数は
繰返しサンプリングされて周波数ｆ測定されたが得られ
る。そして最初の５セント硬貨の通過中に、測定された
周波数ｆとアイドリング周波数f0との差の最大の値Δｆ
が計算される。すなわち、Δｆ＝（測定された周波数ｆ
−アイドリング周波数f0）の最大値。When the off-hook condition of the phone is detected, the microprocessor 35 is powered up, the idling frequency f 0 is measured and stored, and the microprocessor 35 enters its low power sleep state. The telephone unhook signal can also be artificially simulated for initial calibration and tuning. And in one embodiment,
A series of eight acceptable 5-cent coins are inserted to tune the device for 5-cent coins. Microprocessor 35 remains dormant until the first five cent coin is detected. The frequency of the output of the sensor circuit 21 is obtained by repeatedly sampling and measuring the frequency f. Then, during the passage of the first 5-cent coin, the maximum value Δf of the difference between the measured frequency f and the idling frequency f 0.
Is calculated. That is, Δf = (measured frequency f
The maximum value of the idling frequency f 0 ).

次に、ＦがΔｆをf0で割る計算により得られる。すなわ
ち、Ｆ＝Δf/f0。最初の５セント硬貨について計算され
たＦは、記憶された受容限界内にあるか否かを見るため
に、その記憶した受容限界と比較される。最初の５セン
ト硬貨は受容可能な５セント硬貨であるので、そのＦの
値は記憶の受容限界内にある。従って、最初の５セント
硬貨は受容され、マイクロプロセッサ35はその硬貨に関
する硬貨カウントＣを得る。Next, F is obtained by the calculation of Δf divided by f 0 . That is, F = Δf / f 0 . The F calculated for the first 5 cents coin is compared to the stored acceptance limit to see if it is within the stored acceptance limit. Since the first 5 cent coin is an acceptable 5 cent coin, its F value is within the acceptance limit of memory. Therefore, the first five cent coin is accepted and the microprocessor 35 obtains the coin count C for that coin.

最初の硬貨については、硬貨カウントＣは零に等しい。
すなわち、Ｃ＝０。この硬貨カウントは次に１だけ増加
される。そして、硬貨カウントＣ＝１が数32と比較され
る。すなわち、Ｃ＝32? Ｃは32に等しくないから、次
の段階ではＣが大きいか、または８に等しいかを見るた
めにＣが比較される。すなわち、Ｃ≧8? Ｃは８より大
きくなく、８に等しくないので、次の段階で５セント硬
貨について新しい平均値下、すなわち、Ｆ新平均を計算
する。すなわち、Ｆ新平均＝（（Ｃ−１）×Ｆ旧平均）
＋F/C。最初の硬貨に関するＦ旧平均は零に等しい。従
って、Ｆ新平均＝F/C＝Ｆ。次に、Ｆ新平均がＦ旧平均
として記憶される。すなわちＦ旧平均＝Ｆ新平均。この
段階により最初の５セント硬貨の処理が完了する。For the first coin, the coin count C is equal to zero.
That is, C = 0. This coin count is then incremented by 1. Then, the coin count C = 1 is compared with the number 32. That is, C = 32? C is not equal to 32, so in the next step C is compared to see if C is greater or equal to 8. That is, C ≧ 8? C is not greater than 8 and is not equal to 8, so the next step is to calculate the new mean below the 5-cent coin, ie, the F new mean. That is, F new average = ((C-1) × F old average)
＋ F / C. The F old mean for the first coin is equal to zero. Therefore, F new average = F / C = F. Next, the F new average is stored as the F old average. That is, F old average = F new average. This stage completes the processing of the first 5 cent coin.

更に５セント硬貨が装置同調のために挿入されるに従っ
て、第８番目の５セント硬貨が挿入されるまで上記方法
が繰り返される。第８番目の５セント硬貨については硬
貨カウントＣ＝７であり、これが１だけ増加されると、
硬貨カウントＣは８に等しくなる。次に、Ｃが８と比較
されると、８に等しいことがわかる。その結果、フラグ
が設定されて、計算されたＦ新平均値を用いて受容限界
を決定する。Ｆ新平均値は前述のように計算されるが、
これは今度は続いて挿入された５セント硬貨の受容限界
を決定するために使用される。最初に記憶された受容限
界は、もはや使用されない。新しい受容限界は、Ｆ新平
均値プラスまたはマイナス一定値、すなわち、上限＝Ｆ
新平均値＋X,下限＝Ｆ新平均−X;あるいは、Ｆ新平均値
プラスまたはマイナスＦ新平均値の一定割合、上限＝
（Ｆ新平均値）（１＋Ｘ），下限＝（Ｆ新平均値）×
（１−Ｘ）；あるいは任意の論理的な仕方でＦ新平均値
から計算することができる。上述のように、装置は一度
同調されると、実際の動作環境で使用することができ
る。As more 5 cent coins are inserted for device tuning, the above method is repeated until the eighth 5 cent coin is inserted. For the eighth 5 cent coin, the coin count C = 7, which is incremented by 1,
The coin count C equals eight. Then, when C is compared to 8, it can be seen that it is equal to 8. As a result, a flag is set to determine the acceptance limit using the calculated F new average value. The F new average value is calculated as described above,
This in turn is used to determine the acceptance limit for the subsequently inserted 5 cent coin. The first remembered acceptance limit is no longer used. The new acceptance limit is F new average value plus or minus constant value, that is, upper limit = F
New average value + X, lower limit = F new average -X; or F new average value plus or minus a certain percentage of new average value, upper limit =
(F new average value) (1 + X), lower limit = (F new average value) x
(1-X); or can be calculated from the F new average value in any logical way. As mentioned above, the device, once tuned, can be used in a real operating environment.

更に５セント硬貨が挿入されると、Ｆ新平均値と新しい
受容限界が連続的に再三計算される。受容可能な５セン
ト硬貨以外の硬貨が挿入されると、そのＦの値は受容限
界内に存在しないので、その硬貨は拒否される。この
後、新しいアイドリング周波数f0が測定されてマイクロ
プロセッサ35は休止状態に戻って硬貨の到着を待つ。If another 5 cents coin is inserted, the new F average value and the new acceptance limit are continuously calculated again and again. When a coin other than an acceptable 5 cent coin is inserted, the F value is not within the acceptance limit and the coin is rejected. After this, a new idling frequency f 0 is measured and the microprocessor 35 returns to a dormant state waiting for the arrival of coins.

第８番目の後の各受容可能な５セント硬貨に関するＦ新
平均値と受容限界の計算により本発明の装置は自己同調
して自体を再較正し、かくして、パラメータのドリフ
ト、温度、および環境の変化等を補償することができ
る。この有利な補償が達成するためには、Ｆ新平均値が
前に受容された硬貨により過度な重み付けをされないこ
とが重要である。従って、第32番目の５セント硬貨が挿
入されると、カウントは増加されてＣ＝32となり、プロ
セスは異なった具合に分岐する。Ｃ＝32のとき、硬貨カ
ウントＣは16にリセットされる。すなわち、Ｃ＝16。次
に、硬貨カウント値Ｃ＝16はＦ新平均値計算のために使
用される。第33番目の硬貨が受けられると、硬貨カウン
トＣ＝16が後でのプロセス段階で使用されるように増加
される。上述のプロセスは、５セント硬貨が更に挿入さ
れるに従って無期限に続く。By calculating the F new average value and acceptance limit for each acceptable 5-cent coin after the eighth, the device of the present invention self-tunes to recalibrate itself, thus parameter drift, temperature, and environmental Changes and the like can be compensated. In order for this advantageous compensation to be achieved, it is important that the F new mean value is not overweighted by the previously accepted coins. Therefore, when the 32nd five cent coin is inserted, the count is incremented to C = 32 and the process branches differently. When C = 32, the coin count C is reset to 16. That is, C = 16. The coin count value C = 16 is then used for the F new average value calculation. When the 33rd coin is received, the coin count C = 16 is incremented for use in a later process step. The process described above continues indefinitely as more 5 cent coins are inserted.

上述のように、本発明の方法は周波数に基礎を置く試験
に限定されない。また、統計関数は単に移動平均に限定
されない。更に、上述のフローチャートの具体例は計算
過程で数8,16および32を使用しているが、本発明から逸
脱せずに他の所定数も使用できる。値8,16および32が選
択されたのは、ａ）８個の硬貨が受容された後にＦ新平
均値がかなり良く決定され、ｂ）受容可能な硬貨が更に
挿入されてもほとんど影響を与えないように32個の硬貨
が挿入された後にＦ新平均値が大いに重み付けをされ、
そしてｃ）数16が８と32の間にあるからである。As mentioned above, the method of the present invention is not limited to frequency-based testing. Further, the statistical function is not limited to the moving average. Furthermore, while the specific example of the flow chart above uses the numbers 8, 16 and 32 in the calculation process, other predetermined numbers could be used without departing from the invention. The values 8, 16 and 32 were chosen because a) the F new mean was determined fairly well after 8 coins were accepted, and b) there was little effect if more acceptable coins were inserted. The new F average is heavily weighted after 32 coins have been inserted so that
And c) the number 16 is between 8 and 32.

この好適な実施例では、マイクロプロセッサ35は添付の
プリントアウトに従ってプログラムされているが、電子
硬貨試験装置10の動作は上述の記載から当業者に明らか
であろう。In the preferred embodiment, the microprocessor 35 is programmed according to the accompanying printout, but the operation of the electronic coin test apparatus 10 will be apparent to those skilled in the art from the foregoing description.

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−75998（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−60390（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−214990（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−72290（ＪＰ，Ａ)Continuation of front page (56) Reference JP-A-53-75998 (JP, A) JP-A-58-60390 (JP, A) JP-A-58-214990 (JP, A) JP-A-58-72290 (JP , A)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】真贋性と額面に関し複数の額面の硬貨を試
験し、該試験結果から硬貨が受容可能かどうかについて
決定している硬貨認識装置であって、 硬貨の真贋性と額面とについての一つまたはそれ以上の
特性を示す試験データを得る手段、 所定の受容基準を用いて該試験が受容可能硬貨を示すも
のかどうかを決定する手段、及び 受容可能であると先に決定された複数の硬貨の試験デー
タに依存してその後に試験される硬貨に用いられる受容
基準を自動修正する手段を含み、 該受容基準の修正は、該複数の硬貨の最近に受容された
硬貨が該複数の硬貨のそれより前に受容された硬貨によ
るよりもより強く影響するような重み付けでなされてい
る硬貨認識装置において、 該試験装置の受容基準を初期調整する際に該所定の受容
限界を広い第１の範囲に設定し、予め選定された所定数
の許容硬貨を該装置に順次投入して前記試験データを得
る手段、決定する手段及び修正する手段を用い該受容基
準を修正した後に該所定の受容限界を該第１の範囲より
狭い第２の範囲に設定し直す手段を含むことを特徴とす
る硬貨認識装置。1. A coin recognition device for testing coins having a plurality of face values for authenticity and face value, and determining from the test results whether or not the coins are acceptable. Means for obtaining test data exhibiting one or more characteristics, means for determining whether the test indicates acceptable coins using predetermined acceptance criteria, and a plurality previously determined to be acceptable Means for automatically correcting acceptance criteria used for coins subsequently tested depending on the coin's test data of the plurality of coins, the recently accepted coins of the plurality of coins being In a coin recognition device, which is weighted so that it has a stronger effect than coins received earlier than that of coins, the predetermined acceptance limit is set to a wide range when initially adjusting the acceptance criteria of the test device. Set in the range of, and a predetermined number of permissible coins are sequentially inserted into the device to obtain the test data, the determining means and the correcting means are used to correct the acceptance criteria, and then the predetermined acceptance A coin recognition device including means for resetting a limit to a second range narrower than the first range.
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