JPH07243833A - Dimension measuring device - Google Patents
Dimension measuring deviceInfo
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- JPH07243833A JPH07243833A JP6035054A JP3505494A JPH07243833A JP H07243833 A JPH07243833 A JP H07243833A JP 6035054 A JP6035054 A JP 6035054A JP 3505494 A JP3505494 A JP 3505494A JP H07243833 A JPH07243833 A JP H07243833A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、濃淡値を有するディジ
タル画像上の寸法を測定する寸法測定装置に係り、特に
ＣＴスキャナなどで撮影した画像から所望の範囲の寸法
を測定する寸法測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a size measuring device for measuring a size on a digital image having a gray value, and more particularly to a size measuring device for measuring a size in a desired range from an image taken by a CT scanner or the like. .
【０００２】[0002]
【従来の技術】一般に、物体の欠陥や異常を検出する非
破壊検査用としてコンピュータを用いた断層像撮影装置
（ＣＴスキャナ）が用いられている。このＣＴスキャナ
には、Ｘ線やγ線や中性子線などの放射線を利用するも
のとＭＲＩや赤外線などの電磁波を利用するものがあ
る。いま、Ｘ線ＣＴスキャナを用いて物体の所望の位置
の寸法を測定する例について説明する。Ｘ線ＣＴスキャ
ナは、Ｘ線を使用し、このＸ線を物体に照射し、被検体
の各部のＸ線吸収度に応じた分布を断層像として得て欠
陥の検出を行っている。通常は、Ｘ線遮蔽箱の内で物体
を挟んでＸ線管とＸ線検出器が対向して配置されてお
り、Ｘ線管から照射されたＸ線は物体にて一部吸収さ
れ、残りが透過Ｘ線としてＸ線検出器に到達する。この
Ｘ線検出器にて検出されたＸ線は投影データとなる。得
られた投影データはデータ収集部から装置本体内の制御
部に送られ、ここでＣＰＵを含むコンピュータの制御の
下に再構成されて画像化され、また画像処理されてＣＲ
Ｔモニタなどの画像表示部に表示したり、画像メモリな
どの画像記憶部に格納したりする。そして、コンソール
に備わっているオペレーションパネル（操作部）からＸ
線照射条件などの撮影条件が入力され、この入力された
撮影条件により物体の断層像を得る。このようにして得
られたディジタル画像の所望の範囲の寸法を測定する
際、従来は次のようにして行っていた。2. Description of the Related Art Generally, a tomographic image capturing apparatus (CT scanner) using a computer is used for nondestructive inspection for detecting defects or abnormalities of an object. Some of these CT scanners use radiation such as X-rays, γ-rays and neutron rays, and others use electromagnetic waves such as MRI and infrared rays. Now, an example of measuring a dimension of a desired position of an object using an X-ray CT scanner will be described. The X-ray CT scanner uses X-rays, irradiates the object with the X-rays, obtains a distribution according to the X-ray absorption of each portion of the subject as a tomographic image, and detects defects. Usually, an X-ray tube and an X-ray detector are arranged to face each other with an object sandwiched between them in an X-ray shielding box, and the X-rays emitted from the X-ray tube are partially absorbed by the object and the rest remains. Reach the X-ray detector as transmitted X-rays. The X-ray detected by this X-ray detector becomes projection data. The obtained projection data is sent from the data collection unit to the control unit in the apparatus body, where it is reconstructed and imaged under the control of a computer including a CPU, and image processing is performed to perform CR.
It is displayed on an image display unit such as a T monitor or stored in an image storage unit such as an image memory. Then, from the operation panel (operation unit) provided on the console, X
Imaging conditions such as line irradiation conditions are input, and a tomographic image of the object is obtained based on the input imaging conditions. When measuring the dimensions of a desired range of the digital image obtained in this way, conventionally, it has been performed as follows.
【０００３】(1) ＣＴスキャナの操作部に備えられたト
ラックボールやマウスなどのポイント設定手段を使用し
て画像上の測定したい物体の両端をオペレータが目視で
指定することにより測定したい範囲の始点と終点の２点
を決定し、この２点を結ぶ直線の長さを計算することに
より行われていた。(1) The starting point of the range to be measured by the operator visually specifying both ends of the object to be measured on the image using a point setting means such as a trackball or a mouse provided in the operation unit of the CT scanner And the end point are determined, and the length of the straight line connecting these two points is calculated.
【０００４】(2) また、本出願人が出願した特開平５ー
６０５３９（特願平３ー２１９７８５）に開示したよう
に、寸法を測定しようとする所望の範囲を含む測定線を
設定し、この測定線上の画像の濃淡値（画像データ）か
らプロフィールを表示し、このプロフィール上に測定す
る所望の範囲を画定するために濃淡値のしきい値を設定
し、このしきい値に基づいて所望とする範囲の端部を決
定して、その間の寸法を計算することにより行われてい
る。(2) Further, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-60539 (Japanese Patent Application No. 3-219785) filed by the present applicant, a measuring line including a desired range for measuring dimensions is set, Display a profile from the gray value (image data) of the image on this measurement line, set a gray value threshold value to define the desired range to be measured on this profile, and based on this threshold value It is done by determining the end of the range and calculating the dimension between them.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種の寸法測定装置では、つぎのような問題がある。
即ち、上記(1) の方法では、画像をオペレータが目視で
判断しながら測定したい物体の両端位置を指定している
ので、１画素単位でしか両端位置を指定できず、また目
視での判断が入るために寸法誤差やバラツキが大きいと
いう欠点があった。また、上記(2) の方法では、しきい
値の選定はオペレータが判断して設定しているためしき
い値の選び方で寸法誤差が生じる。また所望の寸法測定
範囲の近傍に他の物体があり濃淡プロフィールに影響を
与える場合などには、単純にしきい値を設定するだけで
は寸法誤差が大きくなるという不具合があった。さら
に、量産品などの同一形状の物体の同一箇所について、
多数の品物の寸法測定を行う場合、同一位置および同一
条件で検査するときにその都度条件設定をしなければな
らず操作が面倒であるという問題もある。However, the conventional size measuring apparatus of this type has the following problems.
That is, in the above method (1), the operator visually specifies the both end positions of the object to be measured while visually judging the image, and therefore the both end positions can be specified only in units of one pixel. There was a drawback that there was a large dimensional error and variation due to entering. Further, in the method of (2) above, the threshold value is selected and set by the operator, so that a dimensional error occurs in the selection of the threshold value. Further, when another object is present in the vicinity of the desired size measurement range and affects the grayscale profile, there is a problem that the size error is increased by simply setting the threshold value. Furthermore, regarding the same location of the same shape object such as mass-produced product,
When measuring the dimensions of a large number of items, there is also a problem that the operation is troublesome because the conditions must be set each time when inspecting at the same position and under the same conditions.
【０００６】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、表示された画像の測定する所望の範
囲の寸法を高い精度で正確に測定可能な寸法測定装置を
提供することにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a dimension measuring apparatus capable of accurately measuring the dimension of a displayed image in a desired range to be measured with high accuracy. is there.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、寸法測定装置の構成を以下のようにし
た。即ち、濃淡値を有するディジタル画像上の１つの線
分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸法測
定装置において、予め測定する寸法が計測されていてこ
れを入力する手段と、この測定する寸法が予め計測され
ている基準物体のプロフィールから前記予め計測されて
いる寸法に基づいて寸法測定実行メニュー内の測定法に
応じて寸法測定用較正パラメータを求めてこれを登録す
る手段と、これから寸法を測定する物体のプロフィール
を表示する手段と、前記寸法測定実行メニュー内の測定
法の中から少なくとも１つを選択する手段と、選択した
寸法測定法に対応する寸法測定用較正パラメータを利用
して寸法を計算する手段とを具備することを要旨とする
ものである。In order to achieve the above object, the present invention has the following structure of the dimension measuring device. That is, in a size measuring device for measuring the size of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a size to be measured is measured in advance, a means for inputting the size, and a size to be measured. Means for obtaining and registering a calibration parameter for dimension measurement according to the measurement method in the dimension measurement execution menu based on the previously measured dimension from the profile of the reference object that has been previously measured, and the dimension from this. A means for displaying a profile of an object to be measured, a means for selecting at least one of the measurement methods in the dimension measurement execution menu, and a dimension measurement calibration parameter corresponding to the selected dimension measurement method. The gist is to have means for calculating
【０００８】また、濃淡値を有するディジタル画像上の
１つの線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定す
る寸法測定装置において、寸法を測定する物体のプロフ
ィールを表示する手段と、プロフィールの背景のＣＴ値
とこの物体の最大ＣＴ値を入力する手段と、入力された
背景のＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値からその中間の値
を算出する手段と、算出された中間の値をしきい値とし
て対象物の寸法を計算する手段とを有することを特徴と
するものである。Further, in a size measuring device for measuring the size of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a means for displaying a profile of an object whose size is to be measured and a background of the profile. A means for inputting the CT value and the maximum CT value of this object, a means for calculating an intermediate value from the input background CT value and the maximum CT value of this object, and a threshold for the calculated intermediate value. And means for calculating the size of the object.
【０００９】濃淡値を有するディジタル画像上の１つの
線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸法
測定装置において、寸法を測定する物体のプロフィール
を表示する手段と、このプロフィールの背景のＣＴ値と
この物体の最大ＣＴ値を入力する手段と、このプロフィ
ールの面積を算出する手段と、前記入力された背景のＣ
Ｔ値とこの物体の最大ＣＴ値から高さを定める手段と、
このプロフィールをこの定めた高さの矩形と想定して前
記算出した面積から対象物の寸法を計算する手段とを有
することを特徴とするものである。In a size measuring device for measuring the size of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a means for displaying the profile of the object whose size is to be measured, and the background CT of this profile. Means for inputting the value and the maximum CT value of this object, means for calculating the area of this profile, and C of the input background
Means for determining the height from the T value and the maximum CT value of this object,
It is characterized in that it has a means for calculating the dimension of the object from the calculated area by assuming that this profile is a rectangle of this defined height.
【００１０】濃淡値を有するディジタル画像上の１つの
線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸法
測定装置において、寸法を測定する物体のプロフィール
を表示する手段と、このプロフィールの背景のＣＴ値と
この物体の最大ＣＴ値を入力する手段と、このプロフィ
ールの極値（ピーク値）を算出する手段と、前記入力さ
れた背景のＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値と所定の係数
とピーク値の関係から対象物のピークの寸法を計算する
手段とを有することを特徴とするものである。In a size measuring device for measuring the size of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a means for displaying the profile of the object whose size is to be measured, and the CT of the background of this profile. Means for inputting a value and the maximum CT value of this object, means for calculating the extreme value (peak value) of this profile, said input CT value of the background, maximum CT value of this object, predetermined coefficient and peak And a means for calculating the size of the peak of the object from the relationship of the values.
【００１１】さらに、濃淡値を有するディジタル画像上
の１つの線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定
する寸法測定装置において、寸法を測定する物体の複数
のピークを有するプロフィールを表示する手段と、この
プロフィールの背景のＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値を
入力する手段と、このプロフィールを背景のＣＴ値また
はこの物体の最大ＣＴ値と極値から極大部または極小部
ごとの複数のプロフィールに分割してプロフィールを画
定する手段と、この画定したプロフィールに基づいて寸
法測定実行メニュー内の少なくとも１つを適用して寸法
を測定する手段とを具備することを特徴とするものであ
る。Further, in the dimension measuring device for measuring the dimension of the object from the profile on one line segment on the digital image having the gray value, means for displaying the profile having a plurality of peaks of the object whose dimension is to be measured. , A means for inputting the background CT value of this profile and the maximum CT value of this object, and this profile from the background CT value or the maximum CT value and extreme value of this object to a plurality of profiles for each maximum or minimum part It is characterized by comprising means for dividing and defining a profile, and means for applying the at least one of the dimension measurement execution menus to measure the dimension based on the defined profile.
【００１２】濃淡値を有するディジタル画像を２値化す
る手段と、この２値化により複数の領域が互いに異なる
値で表され寸法測定の対象物の境界上の１点を設定する
手段と、この設定された点から次の境界までの対向する
最も近い点または最も遠い点を２値化された画像上で求
める手段と、この求められた最も近い点または最も遠い
点に基づいて、対象物の境界上の１点と最も近い点から
最小長さを、または対象物の境界上の１点と最も遠い点
から最大長さを計算する手段を具備することを特徴とす
るものである。Means for binarizing a digital image having a gray value, means for setting a point on the boundary of an object of dimension measurement in which a plurality of regions are represented by different values by the binarization, and Means for finding the closest or farthest opposite point from the set point to the next boundary on the binarized image, and based on the found closest point or farthest point, the object It is characterized by comprising means for calculating the minimum length from the point closest to one point on the boundary or the maximum length from the point farthest from the point on the boundary of the object.
【００１３】濃淡値を有するディジタル画像を２値化す
る手段と、この２値化により複数の領域が互いに異なる
値で表され寸法測定の対象物の領域内に１点を設定する
手段と、この設定された点から隣接する他の領域との境
界までの最も近い点または最も遠い点を２値化された画
像上で求める手段と、求められた点と前記設定された点
との距離を算出し設定された点と最も近い点から最小長
さを、または設定された点と最も遠い点から最大長さを
計算する手段とを具備することを特徴とするものであ
る。Means for binarizing a digital image having a gray value, means for setting a point in the area of the object of dimension measurement in which a plurality of areas are represented by different values by this binarization, and Means for obtaining the closest point or the farthest point on the binarized image from the set point to the boundary with another adjacent area, and calculating the distance between the obtained point and the set point And a means for calculating the minimum length from the closest point to the set point or the maximum length from the set point and the farthest point.
【００１４】濃淡値を有するディジタル画像または濃淡
値を有するディジタル画像上の１つの線分上のプロフィ
ールを表示する手段と、この表示されたディジタル画像
またはプロフィールから自動的に前記ディジタル画像を
２値化する手段または前記プロフィールに基づいて寸法
測定実行メニュー内の少なくとも１つを選択する手段
と、２値化された画像または選択した寸法測定実行メニ
ューにより自動的に寸法を測定する手段とを具備するこ
とを特徴とするものである。Means for displaying a digital image having a gray value or a profile on a line segment on the digital image having a gray value, and automatically binarizing the digital image from the displayed digital image or profile. Means or a means for selecting at least one of the dimension measurement execution menus based on the profile, and a means for automatically measuring the dimensions by the binarized image or the selected dimension measurement execution menu. It is characterized by.
【００１５】さらにまた、濃淡値を有するディジタル画
像上に少なくともの１つの線分を設定する手段と、設定
された線分に応じて寸法測定実行メニュー内の１つを指
定する手段と、この線分の設定とこれに対応する寸法測
定実行メニューをこの画像の測定計画として登録する手
段と、登録されている測定計画の中から１つを呼び出す
手段と、呼び出された測定計画の前記設定されている線
分ごとに指定された寸法測定実行メニューに基づいて寸
法測定を実行する手段とを具備することを特徴とするも
のである。Furthermore, a means for setting at least one line segment on the digital image having a gray value, a means for designating one in the dimension measurement execution menu according to the set line segment, and this line Setting the minute and registering the dimension measurement execution menu corresponding to this as the measurement plan of this image, means for calling one of the registered measurement plans, and the setting of the called measurement plan And a means for performing dimension measurement based on a dimension measurement execution menu designated for each existing line segment.
【００１６】[0016]
【作用】上記構成によれば、予め測定する寸法が計測さ
れている基準物体のプロフィールから実測値に基づいて
寸法測定実行メニュー内の例えばしきい値や面積や極値
（ピーク値）などの測定法に応じて寸法測定用較正パラ
メータを求めてこれを登録しておき、測定対象物のプロ
フィールから寸法を測定するときこの登録されている較
正パラメータを利用して寸法を計算する。従って、実測
値に近い精度の高い寸法測定ができる。According to the above configuration, for example, a threshold value, an area, an extreme value (peak value) or the like in the dimension measurement execution menu is measured based on an actual measurement value from the profile of the reference object whose dimension to be measured is measured in advance. According to the method, a calibration parameter for dimension measurement is obtained and registered, and when the dimension is measured from the profile of the measurement object, the dimension is calculated using this registered calibration parameter. Therefore, highly accurate dimension measurement close to the actual measurement value can be performed.
【００１７】また、測定対象物のプロフィールのバック
グランドと物体の最大ＣＴ値からその中間の値を算出
し、この算出された中間の値をしきい値として対象物の
寸法を計算する。従って、比較的測定対象物の寸法が大
きいときは精度よく寸法測定ができる。Further, an intermediate value is calculated from the background of the profile of the object to be measured and the maximum CT value of the object, and the dimension of the object is calculated using the calculated intermediate value as a threshold value. Therefore, when the dimension of the object to be measured is relatively large, the dimension can be measured accurately.
【００１８】測定対象物のプロフィールとバックグラン
ドのレベルからこのプロフィールの面積を算出し、この
算出された面積をバックグランドと物体の最大ＣＴ値の
間を高さとする矩形のプロフィールと想定して長さを計
算して測定対象物の寸法を求める。従って、対象物の寸
法が小さいものでも精度よく寸法測定ができる。The area of this profile is calculated from the profile of the object to be measured and the level of the background, and the calculated area is assumed to be a rectangular profile whose height is between the maximum CT value of the background and the length of the object. To calculate the size of the object to be measured. Therefore, even if the size of the object is small, the size can be accurately measured.
【００１９】測定対象物のプロフィールとバックグラン
ドのレベルからこのプロフィールのピーク値を算出し、
この算出されたピーク値とバックグランドと物体の最大
ＣＴ値の間の係数との関係から対象物のピークの寸法を
計算する。従って、対象物の寸法が小さいものでも精度
よく寸法測定ができる。The peak value of this profile is calculated from the profile of the measurement object and the level of the background,
The dimension of the peak of the object is calculated from the relationship between the calculated peak value and the coefficient between the background and the maximum CT value of the object. Therefore, even if the size of the object is small, the size can be accurately measured.
【００２０】また、測定対象物のプロフィールが複数の
ピークを有する場合、バックグランドのレベルまたは物
体の最大ＣＴ値と極値の関係から複数のプロフィールに
分割してプロフィールを画定し、この画定したプロフィ
ールに基づいて寸法測定実行メニュー内のいずれかによ
り寸法測定を行う。従って、測定対象物の寸法を精度よ
く測定ができる。When the profile of the object to be measured has a plurality of peaks, the profile is divided into a plurality of profiles from the relationship between the background level or the maximum CT value of the object and the extreme value, and the defined profiles are defined. Based on the above, the dimension measurement is performed by any one of the dimension measurement execution menus. Therefore, the dimension of the measurement object can be measured with high accuracy.
【００２１】さらに、濃淡値を有するディジタル画像を
２値化して複数の領域を形成し、対象物の境界上の１点
を設定し、この境界上の１点から次の領域の境界までの
対向する最も近い点または最も遠い点を２値化された画
像上で求める。そして、この求められた最も近い点また
は最も遠い点から対象物の境界上の１点と最も近い点か
ら最小長さを、または対象物の境界上の１点と最も遠い
点から最大長さを計算する。従って、物体の厚さや最大
太さなどの寸法を測定することができる。Further, a digital image having a gray value is binarized to form a plurality of areas, one point on the boundary of the object is set, and one point on this boundary is opposed to the boundary of the next area. The closest point or farthest point to be obtained is found on the binarized image. Then, from the closest point or the farthest point thus obtained, the minimum length from one point on the boundary of the object and the closest point, or the maximum length from the one point on the boundary of the object and the farthest point. calculate. Therefore, dimensions such as the thickness and maximum thickness of the object can be measured.
【００２２】同様にディジタル画像を２値化して複数の
領域を形成し、測定対象物の領域内に１点を設定し、こ
の１点から隣接する境界の最も近い点または最も遠い点
から最小長さまたは最大長さを計算することもできる。Similarly, a digital image is binarized to form a plurality of areas, one point is set in the area of the object to be measured, and from this point, the shortest distance from the nearest point or the farthest point of the adjacent boundary. Or the maximum length can also be calculated.
【００２３】測定する対象物の画像を選択し寸法測定の
メニューにすると、装置本体の制御部が自動的に上記プ
ロフィールに基づく寸法測定かディジタル画像の２値化
による寸法測定かを判断して、２値化された画像または
プロフィールに基づいて寸法測定実行メニュー内のいず
れかにより自動的に寸法測定を行う。従って、測定対象
物やその測定部位により、または測定対象物の寸法の長
さなどに応じて自動的に寸法測定を行うことができる。When the image of the object to be measured is selected and displayed in the dimension measurement menu, the control unit of the apparatus body automatically determines whether the dimension measurement is based on the profile or the dimension measurement by binarizing the digital image. Dimension measurements are made automatically by either in the Dimension Perform menu based on the binarized image or profile. Therefore, it is possible to automatically perform the dimension measurement depending on the measurement object or the measurement site thereof, or according to the dimension length of the measurement object.
【００２４】さらにまた、ディジタル画像上に少なくと
もの１つの線分を設定し、各線分に応じて寸法測定法を
指定してこの画像の測定計画を作成して登録することが
できる。また、登録してある測定計画の中から１つの測
定計画を呼び出し、この測定計画の設定事項に応じて寸
法測定を実行する。従って、同一形状の多数の物体の同
一位置および同一条件を予め測定計画として登録してお
けば、これを呼び出して効率よく寸法測定できる。Furthermore, at least one line segment can be set on the digital image, and the dimension measurement method can be designated according to each line segment to create and register a measurement plan for this image. Also, one of the registered measurement plans is called, and dimension measurement is executed according to the setting items of this measurement plan. Therefore, if the same position and the same condition of a large number of objects having the same shape are registered in advance as a measurement plan, this can be called and the dimension can be measured efficiently.
【００２５】[0025]
【実施例】まず、本発明の概要を説明する。その後に図
面に基づいて本発明の実施例の構成および動作・作用を
説明することとする。First, the outline of the present invention will be described. After that, the configuration, operation, and action of the embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
【００２６】本発明は、Ｘ線ＣＴ装置などのＣＴスキャ
ナにより得られたディジタル画像から、例えば、タービ
ンのセラミックス・フィン(fin) 、アルミ材の長さ、ア
ルミ材中のボイド(void)、および材料の板厚や太さなど
の寸法を測定する寸法測定装置である。The present invention uses, for example, a ceramic fin of a turbine, a length of an aluminum material, a void in the aluminum material, and a void in an aluminum material from a digital image obtained by a CT scanner such as an X-ray CT apparatus. It is a dimension measuring device that measures the thickness and thickness of the material.
【００２７】本発明の寸法測定装置は、(a) 濃淡値を有
するディジタル画像上の１つの線分上のプロフィールか
ら対象物の寸法を測定する場合と、(b) 濃淡値を有する
ディジタル画像を２値化して対象物の寸法を測定する場
合とがある。The dimension measuring apparatus according to the present invention uses (a) a case of measuring a dimension of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, and (b) a digital image having a gray value. In some cases, the size of the object is measured by binarization.
【００２８】(A) 濃淡値を有するディジタル画像上の１
つの線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する
場合の寸法測定法には、以下のようなものがある。 (1) しきい値ＴＨを用いる方法 (2) 面積Ｓを用いる方法 (3) 極値（極大値または極小値）ＰＫを用いる方法 (4) フィッティング法 これら寸法測定法により所望の範囲の寸法を測定する場
合 (a) 予め測定する寸法が計測されている基準物体のプロ
フィールから計測されている寸法により各測定法に応じ
て寸法測定用較正パラメータを求めてこれを登録し、実
際に寸法を測定する物体のプロフィールに適用して計算
して寸法を求める場合と(b) 各寸法測定法において、寸
法測定法と寸法との関係を想定して計算して寸法を求め
る場合とがある。また、これらにより寸法測定を行うと
きプロフィールに複数の極値（山）が存在する場合は、
複数の山を分割してプロフィールを画定する分割法を示
す。(A) 1 on a digital image having a gray value
The dimension measuring method for measuring the dimension of an object from a profile on one line segment is as follows. (1) Method using threshold TH (2) Method using area S (3) Method using extreme value (maximum value or minimum value) PK (4) Fitting method The dimension in the desired range is determined by these dimension measuring methods. When measuring (a) Obtain the calibration parameter for dimension measurement according to each measurement method by the dimension measured from the profile of the reference object where the dimension to be measured in advance is measured, and register it to actually measure the dimension. There is a case where the dimension is calculated by applying it to the profile of the object to be measured, and (b) in each dimension measuring method, the dimension is calculated by assuming the relationship between the dimension measuring method and the dimension. Also, when there are multiple extreme values (peaks) in the profile when measuring dimensions with these,
3 illustrates a division method for dividing a plurality of mountains to define a profile.
【００２９】(B) 濃淡値を有するディジタル画像を２値
化して対象物の寸法を測定する場合の寸法測定法には、
以下のようなものがある。 (a) 寸法測定の対象物の境界上の１点から次の境界まで
の対向する最も近い点または最も遠い点を２値化された
画像上で求め、求められた最も近い点または最も遠い点
から対象物の境界上の１点と最も近い点から最小長さ
を、または対象物の境界上の１点と最も遠い点から最大
長さを計算する場合と (b) (a) にて求めた対象物の境界上の１点から次の境界
までの対向する最も近い点または最も遠い点を結ぶ線分
のプロフィールを表示し、上記(A) の測定法を適用して
長さを計算する場合とがある。 (C) 対象物の画像を選択し寸法測定のメニューにする
と、上記(A) および(B)の寸法測定法を装置が自動的に
選択して最適の寸法測定実行メニューで自動的に所望の
範囲の寸法測定を行う場合を示す。 (D) 濃淡値を有するディジタル画像上に少なくともの１
つの線分を設定し、設定された線分に応じて寸法測定実
行メニューの内の１つを指定して測定計画を作成し、こ
れを登録可能とするとともに、登録されている測定計画
の中から１つを呼び出し、呼び出された測定計画の設定
されている線分ごとに指定された寸法測定実行メニュー
に基づいて寸法測定を実行することが可能である。(B) A dimension measuring method for measuring a dimension of an object by binarizing a digital image having a gray value includes
There are the following. (a) The closest point or the farthest point on the boundary between the one and the next points on the boundary of the dimension measurement target is found on the binarized image, and the closest point or the farthest point is found. Calculate the minimum length from one point on the boundary of the object to the closest point, or the maximum length from the point on the boundary of the object to the farthest point, and in (b) and (a). Display the profile of the line segment that connects the closest or farthest opposite points from one point on the boundary of the target object to the next boundary, and calculate the length by applying the measurement method of (A) above. There are cases. (C) When you select the image of the object and select it in the dimension measurement menu, the equipment automatically selects the dimension measurement method of (A) and (B) above, and automatically selects the desired dimension measurement execution menu. The case where the dimension measurement of the range is performed is shown. (D) at least 1 on the digital image with gray values
Set up two line segments, specify one of the dimension measurement execution menus according to the set line segment, create a measurement plan, and register it. It is possible to call one from the above and perform the dimension measurement based on the dimension measurement execution menu designated for each line segment set in the called measurement plan.
【００３０】以下に、本発明の実施例を図面に基づいて
説明する。図１は、本発明の寸法測定装置の一実施例を
示すシステムブロック構成図および実体図である。図１
（ａ）は実体図であり、図１（ｂ）はシステムブロック
構成図である。図１において、この実施例では、装置本
体１０内にこの装置を制御するＣＰＵ１を有し、このＣ
ＰＵ１は、バス２を介して上記ＣＴスキャナのデータ収
集部や画像再構成部と接続しており、収集したデータに
基づいて再構成されたディジタル画像を画像メモリ３に
記憶したり、ＣＲＴなどの表示部４に表示する。このバ
ス２を介してＣＰＵ１には、演算部５が接続しており、
この演算部５では各寸法測定法のパラメータを算出した
り、算出したパラメータにより所望の範囲の寸法を計算
したりする。この演算部５における演算処理は画像処理
の１種である。また、このバス２にはインタフェースI/
F ６ａおよび７ａを介してキーボード６やマウス７やト
ラックボールなどの入力装置が接続しており、これら入
力装置を用いてディジタル画像上のポイントの指定や線
分の設定やプロフィール上に必要な画像濃度即ちＣＴ値
の入力などを行う。また、このバス２にはメインメモリ
８も接続しており、画像メモリ３やこのメインメモリ８
は揮発性メモリである。さらに、このバス２にはインタ
フェースI/F １１ａを介して磁気ディスク１１などの外
部記憶装置が接続しており、ＣＰＵ１の制御下に画像デ
ータや数値データなどの各種の登録事項を恒久的に格納
しておくようになっている。従って、装置が起動すると
磁気ディスク１１中の画像データが画像メモリ３に伝送
され、その他の数値データなどはメインメモリ８に伝送
されて記憶され、画像処理中はこれらメモリからデータ
が供給される。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a system block configuration diagram and an entity diagram showing an embodiment of a dimension measuring apparatus of the present invention. Figure 1
1A is a physical diagram, and FIG. 1B is a system block configuration diagram. In FIG. 1, in this embodiment, a CPU 1 for controlling this apparatus is provided in the apparatus main body 10, and the CPU 1
The PU 1 is connected to the data acquisition unit and the image reconstruction unit of the CT scanner via the bus 2, and stores a digital image reconstructed based on the collected data in the image memory 3 or a CRT or the like. It is displayed on the display unit 4. An arithmetic unit 5 is connected to the CPU 1 via the bus 2.
The calculation unit 5 calculates parameters of each dimension measuring method, and calculates dimensions in a desired range by the calculated parameters. The arithmetic processing in the arithmetic unit 5 is one type of image processing. In addition, the interface I /
Input devices such as a keyboard 6, a mouse 7 and a trackball are connected via F 6a and 7a, and by using these input devices, designation of points on a digital image, setting of line segments, and necessary images on a profile are performed. The density, that is, the CT value is input. A main memory 8 is also connected to the bus 2, and the image memory 3 and the main memory 8 are also connected.
Is a volatile memory. Further, an external storage device such as a magnetic disk 11 is connected to the bus 2 via an interface I / F 11a, and various registered items such as image data and numerical data are permanently stored under the control of the CPU 1. It is supposed to be done. Therefore, when the apparatus is activated, the image data in the magnetic disk 11 is transmitted to the image memory 3, the other numerical data and the like are transmitted and stored in the main memory 8, and the data is supplied from these memories during the image processing.
【００３１】図１（ａ）に示すように、表示部４の画面
９は、右半分の画像エリア９ａと左半分のメニューエリ
ア９ｂとから成っており、画像エリア９ａには断層像や
プロフィールなどが表示可能であり、メニューエリア９
ｂには選択されるべき各種のメニューが表示される。各
メニューの選択は上記入力装置により行われる。画像エ
リア９ａには上記入力装置によりしきい値や最大ＣＴ値
などを示す横線や極値（ピーク）位置を示す縦線などを
表示することもできる。As shown in FIG. 1A, the screen 9 of the display unit 4 is composed of a right half image area 9a and a left half menu area 9b. The image area 9a has a tomographic image and a profile. Can be displayed in the menu area 9
Various menus to be selected are displayed in b. Selection of each menu is performed by the input device. In the image area 9a, a horizontal line indicating a threshold value, a maximum CT value, etc., a vertical line indicating an extreme value (peak) position, etc. can be displayed by the input device.
【００３２】以下に、上記本発明の概要で述べた(A) の
実施例について説明する。この実施例では、ディジタル
画像上の所望の範囲の寸法を測定する場合、次の手順で
行う。まず、(a) 予め測定する寸法が計測されている基
準物体のプロフィールから寸法の較正を行い登録する。
つぎに、(b) 測定すべきディジタル画像上の所望の範囲
の寸法を寸法測定実行メニューから選択して測定する。
これらを図２（ａ）および図２（ｂ）にフローチャート
にして示している。The embodiment (A) described in the outline of the present invention will be described below. In this embodiment, when measuring the dimensions of a desired range on a digital image, the following procedure is performed. First, (a) The dimension is calibrated from the profile of the reference object whose dimension to be measured in advance is measured and registered.
Next, (b) a desired range of dimensions on the digital image to be measured is selected from the dimension measurement execution menu and measured.
These are shown as a flow chart in FIGS. 2 (a) and 2 (b).
【００３３】(a) 予め測定する寸法が計測されている基
準物体のプロフィールから寸法の較正(Calibration) を
行い登録する場合、図２（ａ）において、ステップ１に
て、寸法の較正作業をスタートすると、まず、ステップ
２にて、予めマイクロメータなどで寸法が計測されてい
る基準物体の画像を図１における画像メモリ３から抽出
（読み出し）して表示部４の画像エリア９ａに表示す
る。つぎに、ステップ３にて、ＣＰＵ１が図３に示す
「寸法測定位置決めメニュー」をメニューエリア９ｂに
表示するので、上記入力装置によりこのメニューの中の
［２］測定線手動入力を選択する。そして、画像エリア
９ａに表示されている基準物体の画像上にマウスなどの
入力装置により２点を入力しこれを結ぶ線分を測定線と
して設定する。すると、ＣＰＵ１の制御により画像エリ
ア９ａにこの線分上の濃淡値のプロフィールが表示され
るので、「寸法測定位置決めメニュー」の中の［６］寸
法測定実行を入力する。そして、ステップ４にて、ＣＰ
Ｕ１の制御によりメニューエリア９ｂに図４に示す「寸
法測定実行メニュー」が表示されるので、「寸法測定実
行メニュー」の中の［１］〜［４］の寸法測定法の寸法
測定用の「較正パラメータ登録」のメニューを選択して
較正作業を行う。(A) When calibrating (registering) a dimension from a profile of a reference object whose dimension to be measured in advance is measured and registered, the dimension calibrating operation is started in step 1 in FIG. 2 (a). Then, first, in step 2, the image of the reference object, the dimensions of which are previously measured by a micrometer or the like, is extracted (read) from the image memory 3 in FIG. 1 and displayed in the image area 9 a of the display unit 4. Next, in step 3, since the CPU 1 displays the "dimension measurement positioning menu" shown in FIG. 3 in the menu area 9b, [2] manual input of measurement line in this menu is selected by the input device. Then, two points are input by an input device such as a mouse on the image of the reference object displayed in the image area 9a, and a line segment connecting the two points is set as a measurement line. Then, the profile of the gray value on this line segment is displayed in the image area 9a under the control of the CPU 1, and [6] Dimension measurement execution in the "Dimension measurement positioning menu" is input. Then, in step 4, CP
Since the "dimension measurement execution menu" shown in FIG. 4 is displayed in the menu area 9b under the control of U1, "1" to "4" in the "dimension measurement execution menu" for the dimension measurement of the dimension measurement method. Select the "Calibration parameter registration" menu to perform calibration work.
【００３４】［1.3 ］しきい値用較正パラメータ登録を
選択した場合 入力装置により［較正名］と予め計測されている実際の
寸法［Ｌ］を入力する。すると、図５（ａ）に示すよう
に、プロフィールより実測長［Ｌ］を与えるようなしき
い値ＴＨｒが上記演算部５により算出され、［較正名］
と合わせて磁気ディスク１１などの外部記憶装置に記憶
される。ここで、［較正名］とは測定対象の較正された
データ名のことをいう。[1.3] When the calibration parameter registration for the threshold value is selected: [Calibration name] and the actual dimension [L] measured in advance are input by the input device. Then, as shown in FIG. 5A, a threshold value THr that gives the measured length [L] is calculated from the profile by the calculation unit 5, and [calibration name]
It is also stored in an external storage device such as the magnetic disk 11. Here, the “calibration name” refers to the calibrated data name of the measurement target.
【００３５】［2.3 ］面積用較正パラメータ登録を選択
した場合 同様に入力装置により［較正名］と予め計測されている
実際の寸法［Ｌ］を入力する。加えて、背景（バックグ
ランド）のレベル（ＣＴ値）［ＢＧ］を入力すると図５
（ｂ）に示すように上記演算部５により面積Ｓｒが算出
され、［較正名］と合わせて面積用較正パラメータであ
る［Ｌ／Ｓｒ］が磁気ディスク１１に記憶される。[2.3] When Area Calibration Parameter Registration is Selected Similarly, the [calibration name] and the actual dimension [L] measured in advance are input by the input device. In addition, when the background (background) level (CT value) [BG] is input, FIG.
As shown in (b), the area Sr is calculated by the calculation unit 5, and the area calibration parameter [L / Sr] is stored in the magnetic disk 11 together with the [calibration name].
【００３６】［3.3 ］極値（ピーク値）用較正パラメー
タ登録を選択した場合 同様に入力装置により［較正名］と予め計測されている
実際の寸法［Ｌ］とバックグランドのレベル［ＢＧ］を
入力すると図５（ｃ）に示すように上記演算部５により
バックグランドレベル［ＢＧ］からのピーク値ＰＫｒが
算出され、［較正名］と合わせて極値用較正パラメータ
である［Ｌ／ＰＫｒ］が磁気ディスク１１に記憶され
る。[3.3] When Calibration Parameter Registration for Extreme Value (Peak Value) is Selected Similarly, [calibration name], actual dimension [L] previously measured by the input device, and background level [BG] are displayed. When input, the peak value PKr from the background level [BG] is calculated by the calculation unit 5 as shown in FIG. 5C, and is combined with the [calibration name] to be the extreme value calibration parameter [L / PKr]. Are stored in the magnetic disk 11.
【００３７】［4.2 ］フィッティング法用較正パラメー
タ登録を選択した場合 入力装置により［較正名］を入力し、予め測定線分を基
準物体のエッジ部分に選んでおく。すると、プロフィー
ルはエッジ部の形を示す関数ＥＰＦ(EdgeProfile Funct
ion) となっているので、図５（ｄ）に示すように上記
演算部５はこれを微分して画像の分解能を示すＰＳＦ(P
oint Spread Function) を算出し、［較正名］と合わせ
てフィッティング法用較正パラメータであるＰＳＦが磁
気ディスク１１に記憶される。[4.2] When Calibration Parameter Registration for Fitting Method is Selected [Calibration Name] is input by the input device and the measurement line segment is selected in advance as the edge portion of the reference object. Then, the profile is a function EPF (EdgeProfile Funct) that indicates the shape of the edge part.
ion), the calculation unit 5 differentiates this as shown in FIG. 5D, and PSF (P
oint Spread Function) is calculated, and the fitting method calibration parameter PSF is stored in the magnetic disk 11 together with the [calibration name].
【００３８】ステップ５にて、以上の較正作業を終了す
ると、図４に示す「寸法測定実行メニュー」の中の
［６］寸法測定位置決めメニューへもどり、を入力し、
図３に示す「寸法測定位置決めメニュー」を表示させ、
その中の［７］メインメニューへもどり、を選択してメ
インメニューに戻って寸法の較正作業を完了する。When the above calibration work is completed in step 5, return to [6] Dimension measurement positioning menu in "Dimension measurement execution menu" shown in FIG. 4 and input,
Display the "Dimension measurement positioning menu" shown in Fig. 3,
Return to the main menu of [7] and select to return to the main menu to complete the dimension calibration work.
【００３９】(b) 測定すべきディジタル画像上の所望の
範囲の寸法を「寸法測定実行メニュー」から選択して測
定する場合、図２（ｂ）において、ステップ１１にて、
寸法測定作業をスタートすると、まず、ステップ１２に
て、測定対象物の断層像を図１における画像メモリ３か
ら選択して表示部４の画像エリア９ａに表示する。つぎ
に、ステップ１３にて、ＣＰＵ１が図３に示す「寸法測
定位置決めメニュー」をメニューエリア９ｂに表示する
ので、上記入力装置によりこのメニューの中の［２］測
定線手動入力を選択する。そして、画像エリア９ａに表
示されている測定対象物の画像上にマウスなどの入力装
置により２点を入力しこれを結ぶ線分を測定線として設
定する。すると、ＣＰＵ１の制御により画像エリア９ａ
にこの線分上の濃淡値のプロフィールが表示される。そ
こで「寸法測定位置決めメニュー」の中の［６］寸法測
定実行を入力する。すると、ステップ１４にて、ＣＰＵ
１の制御によりメニューエリア９ｂに図４に示す「寸法
測定実行メニュー」が表示されるので、「寸法測定実行
メニュー」の中の寸法測定用の「較正パラメータ登録」
以外のメニューを選択して寸法の測定作業を行う。(B) When the size of a desired range on the digital image to be measured is selected from the "size measurement execution menu" and measured, in step 11 in FIG.
When the dimension measurement work is started, first, in step 12, a tomographic image of the measurement object is selected from the image memory 3 in FIG. 1 and displayed in the image area 9 a of the display unit 4. Next, in step 13, since the CPU 1 displays the "dimension measurement positioning menu" shown in FIG. 3 in the menu area 9b, the input device selects [2] manual input of measurement line in this menu. Then, two points are input by an input device such as a mouse on the image of the measurement object displayed in the image area 9a, and a line segment connecting the two points is set as a measurement line. Then, the image area 9a is controlled by the CPU 1.
The gray value profile on this line is displayed at. Then, enter [6] Dimension measurement execution in the "Dimension measurement positioning menu". Then, in step 14, the CPU
The "Dimension measurement execution menu" shown in FIG. 4 is displayed in the menu area 9b under the control of 1. Therefore, the "calibration parameter registration" for dimension measurement in the "Dimension measurement execution menu" is displayed.
Select a menu other than to perform the dimension measurement work.
【００４０】ステップ１５にて、以上の測定作業を終了
すると、図４に示す「寸法測定実行メニュー」の中の
［６］寸法測定位置決めメニューへもどり、を入力し、
図３に示す「寸法測定位置決めメニュー」を表示させ、
その中の［７］メインメニューへもどり、を選択してメ
インメニューに戻って寸法の較正作業を完了する。When the above measurement work is completed in step 15, return to [6] Dimension measurement positioning menu in "Dimension measurement execution menu" shown in FIG. 4 and input
Display the "Dimension measurement positioning menu" shown in Fig. 3,
Return to the main menu of [7] and select to return to the main menu to complete the dimension calibration work.
【００４１】「寸法測定実行メニュー」の中には以下の
ようなものがある。The "dimension measurement execution menu" includes the following.
【００４２】［１］しきい値を利用する方法にはつぎの
２通りがある。 ［1.1 ］中間しきい値法 キーボード６やマウス７などの入力装置によりプロフィ
ールのバックグランドレベル［ＢＧ］と測定対象物の最
大レベル（ＣＴ値）［ＭＡＴ］を入力する。すると、図
６（ａ）に示すように、［ＢＧ］と［ＭＡＴ］から上記
演算部５によりこれらの中間の値である中間しきい値Ｔ
Ｈｍを算出し、この中間しきい値ＴＨｍを利用してプロ
フィールより寸法を演算部５により計算して表示する。[1] There are the following two methods of using the threshold value. [1.1] Intermediate threshold method Input the background level [BG] of the profile and the maximum level (CT value) [MAT] of the object to be measured with an input device such as the keyboard 6 or the mouse 7. Then, as shown in FIG. 6A, the intermediate threshold value T, which is an intermediate value between [BG] and [MAT], is calculated by the calculation unit 5.
Hm is calculated, and the dimension is calculated from the profile by the calculation unit 5 using this intermediate threshold value THm and displayed.
【００４３】［1.2 ］登録しきい値を利用する方法 「寸法測定実行メニュー」の中からこのメニューを選択
すると、すでに登録されている［較正名］が表示される
ので、材質が同じで寸法がなるべく近い基準物体による
［較正名］を選択する。すると、図６（ｂ）に示すよう
に、記憶されているしきい値ＴＨｒを使用してプロフィ
ールより寸法を演算部５により計算して表示する。[1.2] Method of using registered threshold When this menu is selected from the "Dimension measurement execution menu", the already registered [Calibration name] is displayed. Select [Calibration Name] with a reference object that is as close as possible. Then, as shown in FIG. 6B, the calculation unit 5 calculates and displays the dimension from the profile using the stored threshold value THr.
【００４４】［２］面積を利用する方法にはつぎの２通
りがある。 ［2.1 ］通常面積法 入力装置によりプロフィールのバックグランドレベル
［ＢＧ］と測定対象物の最大ＣＴ値レベル［ＭＡＴ］を
入力する。すると、図７（ａ）に示すように、上記演算
部５はバックグランドレベルとプロフィールからこのプ
ロフィールの面積Ｓを算出する。そして、これと等しい
面積をもつ［ＢＧ］と［ＭＡＴ］の間の高さを一辺とす
る矩形のプロフィールを想定し、その長さを計算して寸
法を求めて表示する。図７（ｂ）に示すように、［ＭＡ
Ｔ］が［ＢＧ］より低い場合、例えばアルミ材中のボイ
ドなどの場合も同様にして寸法を求める。この場合、
［ＢＧ］をアルミ材のＣＴ値に合わせる。[2] There are the following two methods of utilizing the area. [2.1] Normal area method Input the background level [BG] of the profile and the maximum CT value level [MAT] of the measurement object using the input device. Then, as shown in FIG. 7A, the calculation unit 5 calculates the area S of this profile from the background level and the profile. Then, assuming a rectangular profile having a height between [BG] and [MAT] having an area equal to this as one side, the length is calculated and the dimension is obtained and displayed. As shown in FIG. 7B, [MA
When T] is lower than [BG], for example, in the case of a void in an aluminum material, the dimensions are similarly obtained. in this case,
Match [BG] with the CT value of the aluminum material.
【００４５】［2.2 ］登録面積を利用する方法 入力装置によりプロフィールのバックグランドレベル
［ＢＧ］を入力する。また、登録されている［較正名］
が表示されるので、材質が同じで寸法がなるべく近い基
準物体による［較正名］を選択する。すると、上記演算
部５は図７（ｃ）に示すように極値（山）ごとに区切っ
て面積を算出し、面積Ｓ1 、Ｓ2 、およびＳ3 に記憶し
ている面積用較正パラメータである［Ｌ／Ｓｒ］の値を
掛けることにより各山の寸法ｌ1 、ｌ2 、およびｌ3 を
計算して求める。また、各山のピーク位置をもとに山の
間隔ｄ1 およびｄ2 も計算して表示する。図７（ｄ）に
示すアルミ材中のボイドなどの場合も同様にして寸法を
求める。この場合も［ＢＧ］をアルミ材のＣＴ値に合わ
せる。[2.2] Method of utilizing registered area Input the background level [BG] of the profile with an input device. Also, the registered [calibration name]
Is displayed, select [Calibration Name] with the reference object that is made of the same material and whose dimensions are as close as possible. Then, the calculation unit 5 calculates the area by dividing each extreme value (mountain) as shown in FIG. 7C, and the area calibration parameters [L] are stored in the areas S1, S2, and S3. / Sr] to calculate and obtain the dimensions l1, l2, and l3 of each peak. Also, the distances d1 and d2 between the peaks are calculated and displayed based on the peak positions of the peaks. In the case of a void in the aluminum material shown in FIG. 7 (d), the dimensions are similarly obtained. Also in this case, [BG] is adjusted to the CT value of the aluminum material.
【００４６】［３］極値（ピーク値）を利用する方法に
はつぎの２通りがある。 ［3.1 ］通常ピーク値法 入力装置によりプロフィールのバックグランドレベル
［ＢＧ］と測定対象物の最大ＣＴ値レベル［ＭＡＴ］を
入力する。すると、図８（ａ）に示すように、上記演算
部５はバックグランドレベルとプロフィールからこのプ
ロフィールの各山のバックグランドレベルから測ったピ
ーク値ＰＫ1 、ＰＫ2 、およびＰＫ3を算出し、これに
係数ＢＷ／（［ＭＡＴ］−［ＢＧ］）を掛けて寸法ｌ1
、ｌ2、およびｌ3 を計算して求める。ここで、係数Ｂ
Ｗ(Beam Width)は、システムの空間分解能を示すシステ
ム特有の値であり、予め磁気ディスク１１に記憶されて
いて、必要に応じて取り出せるようになっている。さら
に、各山のピークの位置をもとにして、各山の間隔ｄ1
およびｄ2 も計算して求めて表示する。アルミ材中のボ
イドなどの場合も山の方向が逆になるだけで同様にして
求めることができる。[3] There are the following two methods for utilizing the extreme value (peak value). [3.1] Ordinary peak value method Input the background level [BG] of the profile and the maximum CT value level [MAT] of the measurement object using the input device. Then, as shown in FIG. 8 (a), the calculation unit 5 calculates peak values PK1, PK2, and PK3 measured from the background level and the background level of each mountain of this profile from the profile, and calculates the coefficients. BW / ([MAT]-[BG]) multiplied by dimension l1
, L2, and l3 are calculated. Where the coefficient B
W (Beam Width) is a system-specific value that indicates the spatial resolution of the system, is stored in the magnetic disk 11 in advance, and can be taken out as necessary. Furthermore, based on the position of the peak of each mountain, the distance d1 between each mountain
And d2 are also calculated and displayed. In the case of voids in aluminum material, the same can be obtained by only reversing the direction of the peaks.
【００４７】［3.2 ］登録ピーク値を利用する方法 入力装置によりプロフィールのバックグランドレベル
［ＢＧ］を入力する。また、登録されている［較正名］
が表示されるので、材質が同じで寸法がなるべく近い基
準物体による［較正名］を選択する。すると、上記演算
部５は図８（ｂ）に示すように、［ＢＧ］から測った各
山のピーク値ＰＫ1 、ＰＫ2 、およびＰＫ3 を算出し、
ピーク値ＰＫ1 、ＰＫ2 、およびＰＫ3 に記憶されてい
る極値用較正パラメータである［Ｌ／ＰＫｒ］を掛けて
寸法ｌ1 、ｌ2 、およびｌ3 を計算して求める。さら
に、この場合も各山のピークの位置をもとにして、各山
の間隔ｄ1 およびｄ2 も計算して求めて表示する。ま
た、アルミ材中のボイドなどの場合も山の方向が逆にな
るだけで同様にして求めることができる。[3.2] Method of using registered peak value Input the background level [BG] of the profile with the input device. Also, the registered [calibration name]
Is displayed, select [Calibration Name] with the reference object that is made of the same material and whose dimensions are as close as possible. Then, the calculation unit 5 calculates peak values PK1, PK2, and PK3 of the respective peaks measured from [BG] as shown in FIG.
The dimensions l1, l2, and l3 are calculated by multiplying the peak values PK1, PK2, and PK3 by the stored calibration parameter [L / PKr] for extreme values. Also in this case, the distances d1 and d2 between the peaks are calculated and displayed based on the peak positions of the peaks. Also, in the case of a void in the aluminum material, it can be similarly obtained by only reversing the direction of the peaks.
【００４８】ここで、上記３つの測定法の特長につい
て、図９を用いて説明する。図９は、同一材質例えばア
ルミ材の長さが異なるもののプロフィールを示す。長い
ものはプロフィールの上部（ピーク）がフラットとなり
ピーク値はアルミ材のＣＴ値を示している。長さが短く
なるにしたがってプロフィールの半値幅ＨＭは減少して
いき（図中左から右側に）、ピークのフラット部分がだ
んだん少なくなっていく。この半値幅ＨＭは、上記［1.
1 ］中間しきい値法の中間しきい値ＴＨｍにより得られ
る長さである。そして、長さが分解能を下まわってくる
と半値幅ＨＭは変化せず、一定となりピーク値が下がっ
てゆき、また面積が減少していく。従って、測定対象物
の寸法が分解能を下まわる場合は、プロフィールの半値
幅ＨＭつまり中間しきい値法では寸法測定はできず、上
記［２］面積法や［３］極値ピーク値法を用いれば精度
よく寸法を求めることができる。よって、比較的大きな
寸法のときは［１］しきい値法によりしきい値の設定を
することなく一定の高い精度で寸法測定できる。The features of the above three measuring methods will be described with reference to FIG. FIG. 9 shows profiles of the same material, for example, aluminum material having different lengths. The longer one has a flat upper part (peak) of the profile and the peak value indicates the CT value of the aluminum material. The half-width HM of the profile decreases as the length decreases (from left to right in the figure), and the flat portion of the peak gradually decreases. This half-width HM is the same as the above [1.
1] The length obtained by the intermediate threshold value THm of the intermediate threshold method. Then, as the length becomes lower than the resolution, the half width HM does not change and becomes constant, the peak value decreases, and the area decreases. Therefore, when the dimension of the measuring object is lower than the resolution, the dimension half width HM of the profile, that is, the intermediate threshold method cannot be used for dimension measurement, and the above [2] area method or [3] extremum peak value method is used. If so, the dimensions can be accurately determined. Therefore, when the size is relatively large, it is possible to measure the size with a constant high accuracy without setting the threshold value by the [1] threshold method.
【００４９】また、基準物体による実測寸法から、最適
のしきい値を定めプロフィールの面積やピーク値と実測
寸法の関係を求めて寸法を計算しているので、測定精度
が高くなる。Further, since the optimum threshold value is determined from the actually measured dimension of the reference object and the relationship between the profile area or the peak value and the actually measured dimension is calculated to calculate the dimension, the measurement accuracy is improved.
【００５０】［４］フィッティング法を利用する場合は
つぎのようになる。[4] The case of using the fitting method is as follows.
【００５１】［4.1]登録パラメータを利用する方法 入力装置によりプロフィールのバックグランドレベル
［ＢＧ］および測定対象物の最大ＣＴ値レベル［ＭＡ
Ｔ］を入力する。また、登録されている［較正名］が表
示されるので、材質が同じで寸法がなるべく近い基準物
体による［較正名］を選択する。図１０に示すように、
上記演算部５は各山の極大位置即ち極１および極２を求
め、それぞれに対してその位置に幅ｌ高さｈの矩形のプ
ロフィールを当てはめる（ｌ1,ｈ1 およびｌ2,ｈ2 の矩
形のプロフィール）。この矩形の集合としての新プロフ
ィールをフィッティング法用較正パラメータとして登録
してあるＰＳＦでコンボリューションして元のプロフィ
ールとの比較を行う。そして、最もよく一致する（ｌ，
ｈ）の組み合わせを繰り返し演算部５にて計算して求め
る。これにより各山に対応する測定対象物の寸法ｌを求
めることができる。プロフィールが山の重ね合わせでな
い、例えばアルミ材中のボイドなどの場合も極小の重ね
合わせと考えることにより同様にして求めることができ
る。この場合は［ＢＧ］をアルミ材のＣＴ値に合わせ
る。[4.1] Method of using registration parameter With the input device, the background level [BG] of the profile and the maximum CT value level [MA of the measuring object]
Enter T]. In addition, since the registered [calibration name] is displayed, select the [calibration name] based on the reference object having the same material and the dimensions as close as possible. As shown in FIG.
The calculation unit 5 finds the maximum position of each mountain, that is, the pole 1 and the pole 2, and applies a rectangular profile of width l height h to each position (rectangular profile of l1, h1 and l2, h2). . The new profile as a set of rectangles is convoluted with the PSF registered as the calibration parameter for the fitting method and compared with the original profile. And the best match (l,
The combination of h) is calculated by the iterative calculation unit 5 and obtained. As a result, the dimension 1 of the measuring object corresponding to each mountain can be obtained. Even when the profile is not a pile of mountains, for example, a void in an aluminum material, it can be obtained in the same manner by considering it as a minimal pile. In this case, adjust [BG] to the CT value of the aluminum material.
【００５２】または、フィッティング法の代わりに元の
プロフィールを公知であるデコンボリューション法
（「画像解析ハンドブック」＜東京大学出版会＞に開示
されている）でボケを取り寸法ｌを求めてもよい。Alternatively, instead of the fitting method, the original profile may be defocused by a known deconvolution method (disclosed in "Image Analysis Handbook"<The University of Tokyo Press>) and the dimension 1 may be obtained.
【００５３】このフィッティング法を用いることによ
り、画像のＰＳＦを考慮した、さらに丁寧な精度の高い
寸法測定が可能になる。このフィッティング法の場合は
異なる材質のものが混ざっているときの寸法測定も可能
である。By using this fitting method, more careful and highly accurate dimension measurement can be performed in consideration of the PSF of the image. In the case of this fitting method, it is possible to measure dimensions when different materials are mixed.
【００５４】次に、上記のような寸法測定を実行すると
きプロフィールに複数の極値（山）が存在する場合は、
プロフィールの複数の山を分割してプロフィールを画定
する分割法を示す。これは「寸法測定実行メニュー」の
中の［５］として設けられている。Next, when there are a plurality of extreme values (peaks) in the profile when performing the dimension measurement as described above,
3 illustrates a splitting method for splitting multiple peaks of a profile to define the profile. This is provided as [5] in the "Dimension measurement execution menu".
【００５５】［５］分割法を利用する方法にはつぎの２
通りがある。 ［5.1 ］手動分割法 入力装置によりプロフィールのバックグランドレベル
［ＢＧ］と測定対象物の最大ＣＴ値レベル［ＭＡＴ］を
入力する。さらにマウス７を使ってプロフィール上に極
小値の位置を示す縦実線を入力し設定する。プロフィー
ルに２つの極大部（山）がある場合を図１１（ａ）に示
す。図１１（ａ）において、上記演算部５は、入力され
た極小値の位置から極小点と［ＢＧ］よりその中間点Ｍ
と、この中間点Ｍを通る横線（バックグランドレベルと
平行な線）がプロフィールを横切る点Ｍ1 ´およびＭ2
´を求める。そして、まず線分Ｍ−Ｍ1 ´の垂直二等分
線（一点鎖線）に対して左側のプロフィールを折り返す
ことにより新しいプロフィールｐ1 （左側図中では点線
で示す）を求める。つぎに線分Ｍ−Ｍ2 ´の垂直二等分
線（一点鎖線）に対して右側のプロフィールを折り返す
ことにより新しいプロフィールｐ2 （左側図中では点線
で示す）を求める。このようにしてプロフィールｐを２
つのプロフィールｐ1 およびｐ2 に分離し、それぞれの
プロフィールｐ1 およびｐ2 に上記「寸法測定実行メニ
ュー」の中の少くとも１つを選択して実行することによ
り寸法の測定を行う。[5] For the method using the division method, the following 2
There is a street. [5.1] Manual division method Input the background level [BG] of the profile and the maximum CT value level [MAT] of the measurement object using the input device. Further, the mouse 7 is used to input and set a vertical solid line indicating the position of the minimum value on the profile. FIG. 11A shows the case where the profile has two maximum portions (mountains). In FIG. 11A, the calculation unit 5 calculates the minimum point from the position of the input minimum value and the intermediate point M from [BG].
And a horizontal line (a line parallel to the background level) passing through the intermediate point M crosses the profile at points M1 'and M2.
Ask for ´. Then, first, a new profile p1 (shown by a dotted line in the left figure) is obtained by folding back the profile on the left side with respect to the vertical bisector (dashed line) of the line segment M-M1 '. Next, a new profile p2 (indicated by a dotted line in the left side diagram) is obtained by folding back the profile on the right side with respect to the perpendicular bisector (dashed line) of the line segment M-M2 '. In this way, the profile p is 2
The dimensions are measured by separating into two profiles p1 and p2, and selecting and executing at least one of the "dimension measurement execution menus" for each of the profiles p1 and p2.
【００５６】図１１（ｂ）は、極大部（山）が３つ以上
ある場合であり、この場合極値位置は極小として極1 と
極2 を、極大として極3 を入力し縦実線をそれぞれ設定
する。FIG. 11 (b) shows the case where there are three or more local maxima (mountains). In this case, the extreme points are poles 1 and 2 as the minima and pole 3 as the maxima and the vertical solid lines are respectively entered. Set.
【００５７】上記演算部５は、まず端に近い部分からプ
ロフィール分離を行ってゆく。極1について、極小点と
［ＢＧ］より、その中間点Ｍ1 と、この中間点Ｍ1 を通
る横線がプロフィールを横切る点Ｍ1 ´を求める。そし
て、線分Ｍ−Ｍ1 ´の垂直二等分線（一点鎖線）に対し
て左側のプロフィールを折り返すことにより新しいプロ
フィールｐ1 （左側図中では点線で示す）を求める。つ
ぎに、上記演算部５は、極2 について、極小点と［Ｂ
Ｇ］より、その中間点Ｍ2 を求める。そして、元のプロ
フィールｐよりｐ1 を減算して新しいプロフィールｐ2
の左側部分を求める。このプロフィールｐ2 の左側部分
と中間点Ｍ2 を通る横線がプロフィールｐを横切る点Ｍ
2 ´を求める。ついで線分Ｍ2 −Ｍ2 ´の垂直二等分線
（一点鎖線）に対して左側のプロフィールを折り返すこ
とにより新しいプロフィールｐ2 （左側図中では点線で
示す）を求める。さらに、上記演算部５は、極3 につい
て極大であるので、［ＭＡＴ］を用いて極大点とこの
［ＭＡＴ］の中間点Ｍ3 を求める。Ｍ3 を通る横線がプ
ロフィールｐと交わる点Ｍ3 ´を求め、線分Ｍ3 −Ｍ3
´の垂直二等分線に対して右側部分を折り返すことによ
り新しいプロフィールｐ4 （右側の図参照）を求める。
元のプロフィールｐからプロフィールｐ2 とｐ4 を減算
して残りの新しいプロフィールｐ3 が得られる。極大部
（山）が上記の例以上である場合でも同様にしてプロフ
ィールの分離は可能である。また、アルミ材中のボイド
などのようにバックグランドに対し山が下側にできる場
合でも、バックグランドに対し上下を反転して考えれば
全く同様にしてプロフィールの分離ができる。The computing unit 5 first separates the profile from the portion near the edge. For pole 1, the minimum point and [BG] are used to determine the intermediate point M1 and the point M1 'at which the horizontal line passing through the intermediate point M1 crosses the profile. Then, a new profile p1 (shown by a dotted line in the left figure) is obtained by folding back the profile on the left side with respect to the vertical bisector (one-dot chain line) of the line segment M-M1 '. Next, the calculation unit 5 calculates the minimum point and [B
G], the intermediate point M2 is obtained. Then, p1 is subtracted from the original profile p to obtain a new profile p2
Find the left part of. A horizontal line passing through the left part of the profile p2 and the middle point M2 crosses the profile p.
Ask for 2 '. Then, a new profile p2 (indicated by a dotted line in the left figure) is obtained by folding back the profile on the left side with respect to the vertical bisector (dashed line) of the line segment M2-M2 '. Further, since the arithmetic unit 5 has the maximum value with respect to the pole 3, the maximum point and the intermediate point M3 of the [MAT] are obtained using [MAT]. A point M3 'at which the horizontal line passing through M3 intersects the profile p is obtained, and the line segment M3-M3
A new profile p4 (see right figure) is obtained by folding back the right part with respect to the vertical bisector of '.
The profiles p2 and p4 are subtracted from the original profile p to obtain the remaining new profile p3. Even when the maximum part (mountain) is more than the above example, the profiles can be separated in the same manner. Further, even when a mountain is formed on the lower side with respect to the background such as a void in an aluminum material, the profiles can be separated in exactly the same manner by reversing the upper and lower sides with respect to the background.
【００５８】［5.2 ］自動的分割法 この場合は、オペレータは極値を入力しなくてもプロフ
ィールのバックグランドレベル［ＢＧ］と測定対象物の
最大ＣＴ値レベル［ＭＡＴ］を入力するだけで、上記演
算部５はプロフィールから自動的に極値位置を計算す
る。例えば、プロフィールを微分することにより変曲点
を求めて極大位置または極小位置を定めて上記［5.1 ］
に示したのと同様にして自動的にプロフィールを分離し
て新しいプロフィールを画定する。[5.2] Automatic division method In this case, the operator need only input the background level [BG] of the profile and the maximum CT value level [MAT] of the measuring object without inputting the extreme value. The calculation unit 5 automatically calculates the extreme value position from the profile. For example, the inflection point is obtained by differentiating the profile, and the maximum position or the minimum position is determined and the above [5.1]
The profiles are automatically separated and new profiles are defined in the same manner as shown in FIG.
【００５９】このようにして、プロフィールが複数の極
値（ピーク）を有する場合、分割法によりそれぞれのプ
ロフィールに分離することにより図１１（ｃ）に示すよ
うな効果が得られる。即ち、２つの物体が接近してある
場合、一方のプロフィールの裾が他方のプロフィールの
裾に重なり合うため、従来のプロフィールによる寸法測
定では２つの物体の寸法ｌ1 ´およびｌ2 ´を大き目
に、その間隔ｄ1 ´を小さ目に測定してしまう。これに
対して本実施例のようにプロフィールを分離し、それぞ
れについて独立に寸法ｌ1 およびｌ2 その間隔ｄ1 を測
定することにより精度の高い寸法測定が可能になる。In this way, when the profile has a plurality of extreme values (peaks), the effect shown in FIG. 11 (c) can be obtained by separating each profile by the division method. That is, when two objects are close to each other, the hem of one profile overlaps the hem of the other profile. Therefore, in the dimension measurement by the conventional profile, the dimensions l1 'and l2' of the two objects are large and the distance between them is large. Measure d1 'small. On the other hand, as in the present embodiment, the profile is separated, and the dimensions l1 and l2 and the distance d1 between them are measured independently of each other, which enables highly accurate dimension measurement.
【００６０】次に、上記本発明の概要に示す(B) 濃淡値
を有するディジタル画像を２値化して対象物の寸法を測
定する場合の寸法測定の実施例について、図１２を用い
て説明する。図１２（ａ）および図１２（ｂ）は、板厚
の測定の場合などの最短長さを測定する方法を説明する
ためのものである。図１２（ａ）において、まず、オペ
レータは物体の厚さを測定する所望の位置の表面近くに
点Ａを設定する。つぎに、上記演算部５は画像の各領域
のデータ（ＣＴ値）から２値化を行い領域のラベル付け
をする。そして、上記演算部５は点Ａに近い画素から順
に円形に遠い側へサーチしてゆき点Ａの含まれる領域で
ない最初の点を求め、この点をＡ´とする。即ち、図１
２（ａ）で領域２内で点Ａに最も近い点をＡ´とする。
この点Ａ´は領域１と領域２の境界上の点である。同様
にして点Ａ´に最も近い領域３内の点Ｂを求める。この
点Ｂは領域２と領域３の境界上の点である。このように
して点Ａ´と点Ｂの距離を計算して厚さを求める。Next, (B) an outline of the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 12 in which the dimension of an object is measured by binarizing a digital image having a gray value. . 12 (a) and 12 (b) are for explaining a method for measuring the shortest length in the case of measuring the plate thickness. In FIG. 12A, first, the operator sets a point A near the surface of a desired position where the thickness of the object is measured. Next, the calculation unit 5 binarizes the data (CT value) of each area of the image to label the area. Then, the arithmetic unit 5 sequentially searches from the pixel closer to the point A to the far side in a circle, finds the first point which is not the region including the point A, and sets this point as A '. That is, FIG.
In 2 (a), the point closest to the point A in the area 2 is A ′.
The point A ′ is a point on the boundary between the area 1 and the area 2. Similarly, the point B in the region 3 closest to the point A'is obtained. This point B is a point on the boundary between the area 2 and the area 3. In this way, the distance between the point A ′ and the point B is calculated to obtain the thickness.
【００６１】この場合、ディジタル画像を２値化して領
域のラベル付けを行い、オペレータが対象物の境界内ま
たは境界上の１点から対向する別の境界上の１点を指定
して測定線を設定するようにしてもよい。また図１２
（ｂ）に示すように、対象物の領域２内の中央部に点Ａ
を設定し、この点Ａから最も近い境界上の点Ａ´および
点Ｂを求めてもよい。In this case, the digital image is binarized to label the regions, and the operator designates one point on the boundary of the object from another point on the boundary to determine a measurement line. It may be set. Also in FIG.
As shown in (b), a point A is placed at the center of the region 2 of the object.
May be set and points A ′ and B on the boundary closest to this point A may be obtained.
【００６２】また、点Ａ´と点Ｂにより決まる測定線か
ら直接寸法を計算せずに、線分Ａ´−Ｂを新たに測定線
として２値化前の画像上で上記(A) にて説明したプロフ
ィールを用いた寸法測定を行うこともできる。Further, without directly calculating the dimension from the measurement line determined by the points A'and B, the line segment A'-B is newly set as the measurement line on the image before binarization in the above (A). It is also possible to make dimensional measurements using the profile described.
【００６３】従って、この方法は上記(A) における図３
に示す「寸法測定位置決めメニュー」の中に「最短長測
定」として追加することも可能である。Therefore, this method is shown in FIG.
It is also possible to add it as "shortest length measurement" in the "dimension measurement positioning menu" shown in.
【００６４】図１２（ｃ）は、同様にして物体の最大長
さを求める場合の測定法を示している。まず、オペレー
タは物体の所望の測定始点の近くに点Ａを設定する。つ
ぎに、上記演算部５は画像の各領域のデータ（ＣＴ値）
から２値化を行い領域のラベル付けをする。そして、上
記演算部５は点Ａに近い画素から順に円形に遠い側へサ
ーチしてゆき点Ａの含まれる領域でない最初の点を求
め、この点をＡ´とする。即ち、図１２（ｃ）で領域２
内で点Ａに最も近い点をＡ´とする。この点Ａ´は領域
１と領域２の境界上の点である。同様にして点Ａ´に最
も遠い領域１内の点Ｂを求める。この点Ｂは領域２と領
域１の境界上の点である。このようにして点Ａ´と点Ｂ
の距離を計算して対象物の最大長さを求める。FIG. 12C shows a measuring method for obtaining the maximum length of the object in the same manner. First, the operator sets the point A near the desired measurement starting point of the object. Next, the calculation unit 5 uses the data (CT value) of each area of the image.
The binarization is performed to label the area. Then, the arithmetic unit 5 sequentially searches from the pixel closer to the point A to the far side in a circle, finds the first point which is not the region including the point A, and sets this point as A '. That is, the area 2 in FIG.
The point closest to the point A is defined as A ′. The point A ′ is a point on the boundary between the area 1 and the area 2. Similarly, a point B in the region 1 farthest from the point A'is obtained. This point B is a point on the boundary between the area 2 and the area 1. In this way, point A'and point B
The maximum length of the object is calculated by calculating the distance of.
【００６５】この場合もディジタル画像を２値化して領
域のラベル付けを行い、オペレータが対象物の境界内ま
たは境界上の１点から対向する別の境界上の１点を指定
して測定線を設定するようにしてもよい。また図１２
（ｂ）に示すように、対象物の領域２内の中央部に点Ａ
を設定し、この点Ａから最も遠い境界上の点Ａ´および
点Ｂを求めてもよい。Also in this case, the digital image is binarized to label the region, and the operator designates one point within or on the boundary of the object from another point on the opposite boundary to form a measurement line. It may be set. Also in FIG.
As shown in (b), a point A is placed at the center of the region 2 of the object.
May be set, and points A ′ and B on the boundary farthest from this point A may be obtained.
【００６６】また、点Ａ´と点Ｂにより決まる測定線か
ら直接寸法を計算せずに、線分Ａ´−Ｂを新たに測定線
として２値化前の画像上で上記(A) にて説明したプロフ
ィールを用いた寸法測定を行うこともできる。よって、
上記「最短長測定」の場合と同様に上記(A) における図
３に示す「寸法測定位置決めメニュー」の中に「最大長
測定」として追加することも可能である。Further, without directly calculating the dimension from the measurement line determined by the points A'and B, the line segment A'-B is newly set as the measurement line on the image before binarization in the above (A). It is also possible to make dimensional measurements using the profile described. Therefore,
Similar to the case of "shortest length measurement", "maximum length measurement" can be added to the "dimension measurement positioning menu" shown in FIG. 3 in (A) above.
【００６７】さらに、図１３は、上記本発明の概要に示
す(C) 対象物の画像を選択し寸法測定のメニューにする
と、上記(A) および(B) の寸法測定法を装置が自動的に
選択して図４に示す「寸法測定実行メニュー」の中から
最適のメニューで自動的に所望の範囲の寸法測定を行う
場合を説明するためのフローチャートである。図１３に
おいて、寸法測定のメニューにし、スタート( ステップ
300 ）すると、まず、測定対象物が複数の材質から構成
されているか否かを判断( ステップ301 ）する。判断の
結果、YES の場合は［４．１］のフィッティング法を適
用して寸法測定を実行( ステップ302 ）する。NOの場合
はプロフィールｐのピーク（極値）が複数であるか否か
を判断( ステップ303 ）する。判断の結果、複数である
（＞２）の場合は、まず［５］の分割法によりプロフィ
ールの画定( ステップ304 ）をする。ピークが単数か分
割法によりプロフィールの画定が終わったものに対し
て、つぎにピークの幅の大小を判断( ステップ305 ）す
る。判断の結果、ピークの幅が大の場合は測定対象物の
寸法の大小を判断( ステップ306 ）する。判断の結果、
寸法が大の場合は［１．１］の中間しきい値法を適用し
て寸法測定を実行( ステップ307 ）する。寸法が小の場
合は較正されたしきい値登録が有るか否かを判断( ステ
ップ308 ）する。判断の結果、有る場合は［１．２］の
登録しきい値法を適用して寸法測定を実行( ステップ30
9 ）し、無い場合は［１．１］の中間しきい値法を適用
する。上記ステップ305 の判断の結果、ピークの幅が小
の場合は画像のＳ／Ｎ比の大小を判断( ステップ310 ）
する。判断の結果、Ｓ／Ｎ比が小の場合は面積法の較正
用登録が有るか否かを判断( ステップ311 ）する。そし
て、有る場合は［２．２］の登録面積法を適用して寸法
測定を実行( ステップ312）し、無い場合は［２．１］
の通常面積法を適用して寸法測定を実行( ステップ313
）する。上記ステップ310 でＳ／Ｎ比が大の場合はピ
ーク値法の較正用登録が有るか否かを判断( ステップ31
4 ）する。そして、有る場合は［３．２］の登録ピーク
値法を適用して寸法測定を実行( ステップ315 ）し、無
い場合は［３．１］の通常ピーク値法を適用して寸法測
定を実行( ステップ316 ）する。以上のような手順で装
置は自動的に寸法測定法を判定して実行する。Further, FIG. 13 shows that when the image of the object (C) shown in the outline of the present invention is selected and the menu for dimension measurement is selected, the apparatus automatically performs the dimension measurement methods of (A) and (B) above. 6 is a flowchart for explaining a case in which dimension measurement in a desired range is automatically performed by an optimum menu selected from the "Dimension measurement execution menu" shown in FIG. In Fig. 13, go to the dimension measurement menu and start (step
Then, first, it is judged whether or not the measuring object is composed of a plurality of materials (step 301). If the result of determination is YES, the fitting method of [4.1] is applied and dimension measurement is executed (step 302). If NO, it is judged whether or not the profile p has a plurality of peaks (extreme values) (step 303). As a result of the judgment, when there are a plurality of (> 2), first, the profile is defined by the division method of [5] (step 304). For a single peak or for which the profile has been defined by the division method, the size of the peak width is next determined (step 305). As a result of the judgment, when the peak width is large, the size of the measurement object is judged (step 306). As a result of the judgment,
When the size is large, the intermediate threshold method of [1.1] is applied to measure the size (step 307). If the size is small, it is judged whether or not there is a calibrated threshold value registration (step 308). As a result of the judgment, if there is, the registration threshold method of [1.2] is applied to execute the dimension measurement (step 30
9) If not, apply the intermediate threshold method of [1.1]. As a result of the judgment in step 305, if the width of the peak is small, it is judged whether the S / N ratio of the image is large or small (step 310).
To do. As a result of the judgment, if the S / N ratio is small, it is judged whether or not there is registration for calibration of the area method (step 311). Then, if there is, the dimension measurement is executed by applying the registered area method of [2.2] (step 312), and if not, [2.1]
Perform the dimensional measurement by applying the normal area method of
) Do. If the S / N ratio is large in step 310, it is judged whether or not there is a registration for calibration of the peak value method (step 31
4) Do. If there is, the dimension measurement is performed by applying the registered peak value method of [3.2] (step 315), and if not, the dimension measurement is performed by applying the normal peak value method of [3.1]. (Step 316) The apparatus automatically determines and executes the dimension measurement method in the above procedure.
【００６８】また、上記(A) における寸法測定におい
て、画像のノイズが大きい場合、測定線に沿って微小な
幅をもった領域を重ね合わせることでプロフィールのノ
イズを下げてから寸法測定を行うようにすることもでき
る。Further, in the dimension measurement in (A) above, if the image noise is large, the dimension noise should be reduced before the profile noise is reduced by overlapping the regions having a minute width along the measurement line. You can also
【００６９】最後に、上記本発明の概要で述べた(D) の
測定計画を作成し登録したり、登録されているものの中
から１つを呼び出し、測定計画どおりに寸法測定を実行
する場合について説明する。測定計画登録および測定計
画呼び出しは図３に示す「寸法測定位置決めメニュー」
の中の１つのメニューとして設けられている。Finally, in the case where the measurement plan of (D) described in the outline of the present invention is created and registered, or one of the registered plans is called and the dimension measurement is executed according to the measurement plan. explain. Registration of measurement plan and call of measurement plan are shown in Fig.3 "Dimension measurement positioning menu"
It is provided as one menu in.
【００７０】図１４は、測定計画登録の実施例を示す図
である。測定計画登録時、まず、画面９ａに測定対象物
の断層像を表示させる。つぎに、寸法測定位置決めをス
タートさせると図３に示す「寸法測定位置決めメニュ
ー」が画面９ｂに表示される。この中の［４］測定計画
登録を選択すると図１４に示す画面が表示される。図１
４において、［４］測定計画登録のメニューには、［4.
1 ］新規登録、［4.2 ］測定線の追加、［4.3 ］修正登
録、［4.4 ］ＥＮＤのメニューがある。そこで、［4.1
］新規登録を選択し計画名を入力して測定計画を作成
する。測定計画は、濃淡値を有するディジタル画像上に
少なくともの１つの線分を測定線として設定し、設定さ
れた測定線に応じて図４に示す「寸法測定実行メニュ
ー」の内の１つを指定して作成する。図中では、マウス
７などの入力装置で画像上に２点を入力し、最初の測定
線LINE1 を設定する。このLINE1 は図４に示す「寸法測
定実行メニュー」内の［1.2 ］登録されているしきい値
を用いる方法が測定法として設定されている。このメニ
ューと測定条件のインプットを終り、図４に示す「寸法
測定実行メニュー」の［６］寸法測定位置決めメニュー
へもどり、を入力すると第１の測定線LINE1 のみを含む
計画が登録される。引き続き［４］測定計画登録のメニ
ューにして、［4.2 ］測定線の追加を選択し画像上に２
点を入力し、つぎの測定線LINE2 を設定する。ここで、
同様に図４に示す「寸法測定実行メニュー」が表示され
るので、メニューを選択し測定条件のインプットを行
う。そして、最初の測定線LINE1 と同様にしてこの測定
線LINE2 を登録する。図中では、同じようにして測定線
LINE1 〜測定線LINE5 までを測定計画として登録してい
る。最後に、［4.4 ］ＥＮＤを入力して測定計画の登録
を完了する。なお、［4.3 ］修正登録は一旦登録したも
のを測定線LINEや測定条件を修正して登録したい時にこ
のメニューを選択する。FIG. 14 is a diagram showing an embodiment of measurement plan registration. When registering the measurement plan, first, a tomographic image of the measurement object is displayed on the screen 9a. Next, when the dimension measurement positioning is started, the "dimension measurement positioning menu" shown in FIG. 3 is displayed on the screen 9b. When [4] Measurement plan registration in this is selected, the screen shown in FIG. 14 is displayed. Figure 1
4, the menu of [4] Measurement plan registration shows [4.
There are 1) new registration, [4.2] measurement line addition, [4.3] correction registration, and [4.4] END menu. Therefore, [4.1
] Select New registration and enter the plan name to create a measurement plan. In the measurement plan, at least one line segment is set as a measurement line on the digital image having a gray value, and one of the “dimension measurement execution menu” shown in FIG. 4 is designated according to the set measurement line. To create. In the figure, input two points on the image with an input device such as a mouse 7 and set the first measurement line LINE1. This LINE1 is set as a measurement method by using the threshold value registered in [1.2] in the "Dimension measurement execution menu" shown in Fig. 4. After finishing the input of this menu and the measurement conditions, and returning to [6] Dimension measurement positioning menu of the "Dimension measurement execution menu" shown in FIG. 4, the plan including only the first measurement line LINE1 is registered. Continue to [4] Measurement plan registration menu, select [4.2] Add measurement line, and select 2 on the image.
Enter a point and set the next measurement line LINE2. here,
Similarly, the “dimension measurement execution menu” shown in FIG. 4 is displayed, and the menu is selected to input measurement conditions. Then, register this measurement line LINE2 in the same way as the first measurement line LINE1. In the figure, the measurement line
LINE1 to measurement line LINE5 are registered as the measurement plan. Finally, enter [4.4] END to complete the registration of the measurement plan. For [4.3] Correction registration, select this menu when you want to correct the registered measurement line LINE or measurement condition once registered.
【００７１】図１５は、測定計画呼び出しの実施例を示
す図である。測定計画呼び出し時、まず、画面９ａに測
定対象物の断層像を表示させる。つぎに、寸法測定位置
決めをスタートさせると図３に示す「寸法測定位置決め
メニュー」が画面９ｂに表示される。この中の［３］測
定計画呼び出しを選択すると図１５に示す画面が表示さ
れる。図１５において、［３］測定計画呼び出しのメニ
ューには、［3.1 ］呼び出し、［3.2 ］実行、［3.3 ］
ＥＮＤのメニューがある。図中の［3.1 ］呼び出しを選
択し入力すると計画名のリストが表示されるので、所望
の測定計画を選択する。すると図１５のような画面とな
り、その測定計画の測定線LINEが画像に重なって表示さ
れ、その測定線LINEの測定条件も表示される。このま
ま、［3.2］実行を選択し入力するとこの測定計画に沿
って設定された条件で寸法測定が実行され表示される。
もし、測定条件の修正をしたい場合はマウス７などの入
力装置で修正をして［3.2 ］実行を選択し入力する。こ
の場合は、この測定線LINEのみの修正となり、測定計画
そのものの登録は変化しない。寸法測定が終了して［3.
3 ］ＥＮＤを入力して測定計画の呼び出しおよび寸法測
定の実行を完了する。FIG. 15 is a diagram showing an example of calling the measurement plan. When calling the measurement plan, first, a tomographic image of the measurement object is displayed on the screen 9a. Next, when the dimension measurement positioning is started, the "dimension measurement positioning menu" shown in FIG. 3 is displayed on the screen 9b. When [3] Measurement plan call is selected, the screen shown in FIG. 15 is displayed. In FIG. 15, in the menu of [3] Measurement plan call, [3.1] call, [3.2] execute, [3.3]
There is an END menu. Select [3.1] call in the figure and enter it to display a list of plan names. Select the desired measurement plan. Then, the screen as shown in FIG. 15 is displayed, and the measurement line LINE of the measurement plan is displayed overlapping the image, and the measurement conditions of the measurement line LINE are also displayed. If [3.2] Execute is selected and input as it is, dimension measurement is executed and displayed under the conditions set according to this measurement plan.
If you want to modify the measurement conditions, modify them with an input device such as mouse 7 and select [3.2] Execute to enter. In this case, only this measurement line LINE will be modified and the registration of the measurement plan itself will not change. After dimension measurement is completed, [3.
3] Enter END to complete the call up of the measurement plan and execution of dimensional measurements.
【００７２】このように測定計画を作成し登録でき、登
録したものの中から所望の測定計画を呼び出して、設定
された測定計画に従って寸法測定を実行できるので、量
産品などの同一形状の物体の同一箇所について、多数の
品物の寸法測定を行う場合、同一位置および同一条件で
検査するときに、最初に測定計画をたて登録しておき、
この登録してある測定計画をそれ以降の測定対象物に適
用することにより、その都度測定条件を設定しなくても
よくなる。従って、同一形状の多数の物体を効率よく同
一条件で測定できるようになる。Since a measurement plan can be created and registered in this way, a desired measurement plan can be called from the registered ones, and dimension measurement can be executed according to the set measurement plan. When measuring the dimensions of many items at a location, first make a measurement plan and register it when inspecting at the same position and under the same conditions.
By applying the registered measurement plan to the subsequent measurement object, it is not necessary to set the measurement condition each time. Therefore, it becomes possible to efficiently measure many objects having the same shape under the same conditions.
【００７３】なお、上記実施例における図３に示す「寸
法測定位置決めメニュー」内の［１］通常２点間距離で
示されるメニューは、従来技術の欄の(1) に記載の測定
方法であって、断層像上でオペレータが２点を指定する
と、その任意の２点間の距離を測定するというものであ
る。また、従来技術の欄の(2) に記載の測定方法即ち特
開平５ー６０５３９（特願平３ー２１９７８５）に開示
したような寸法を測定しようとする所望の範囲を含む測
定線を設定し、この測定線上の画像のプロフィールを表
示し、このプロフィール上に測定する所望の範囲を画定
するためのしきい値をオペレータが設定し、このしきい
値に基づいて測定する範囲の端部を決定して、その間の
寸法を計算する方法を図４に示す「寸法測定実行メニュ
ー」内の［１］しきい値法のうちの一つのメニューとし
て加えることもできる。The menu indicated by the distance between two points [1] in the "dimension measurement positioning menu" shown in FIG. 3 in the above embodiment is the measurement method described in (1) in the section of the prior art. Then, when the operator specifies two points on the tomographic image, the distance between the two arbitrary points is measured. Further, the measuring method described in (2) of the section of the prior art, that is, a measuring line including a desired range for measuring a dimension as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-60539 (Japanese Patent Application No. 3-219785) is set. , Displaying the profile of the image on this measurement line, setting the threshold value for defining the desired range to be measured on this profile by the operator, and determining the end of the range to be measured based on this threshold value Then, the method of calculating the dimension between them can be added as one of the menus of the [1] threshold method in the "dimension measurement execution menu" shown in FIG.
【００７４】[0074]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、表
示された画像の測定する所望の範囲の寸法を高い精度で
正確に測定できる。As described above, according to the present invention, it is possible to accurately measure the size of a desired range of a displayed image with high accuracy.
【図１】本発明の寸法測定装置の一実施例を示すシステ
ムブロック構成図および実体図である。FIG. 1 is a system block configuration diagram and an entity diagram showing an embodiment of a dimension measuring apparatus of the present invention.
【図２】寸法測定を実行する場合の手順を説明するフロ
ーチャートを示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a flowchart for explaining a procedure for executing dimension measurement.
【図３】寸法測定位置決めメニューを示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a dimension measurement positioning menu.
【図４】寸法測定実行メニューを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a dimension measurement execution menu.
【図５】寸法測定用較正パラメータ登録を説明するため
の図である。FIG. 5 is a diagram for explaining calibration parameter registration for dimension measurement.
【図６】しきい値を利用して寸法測定を行う場合を説明
するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a case where dimension measurement is performed using a threshold value.
【図７】面積を利用して寸法測定を行う場合を説明する
ための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a case where dimension measurement is performed using an area.
【図８】極値（ピーク値）を利用して寸法測定を行う場
合を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining a case where dimension measurement is performed using an extreme value (peak value).
【図９】測定法の特長について説明するための図であ
る。FIG. 9 is a diagram for explaining the features of the measuring method.
【図１０】フィッティング法を利用して寸法測定を行う
場合を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining a case where dimension measurement is performed using a fitting method.
【図１１】分割法を利用して寸法測定を行う場合を説明
するための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining a case where dimension measurement is performed using a division method.
【図１２】ディジタル画像を２値化して対象物の寸法を
測定する場合を説明するための図である。FIG. 12 is a diagram for explaining a case where a dimension of an object is measured by binarizing a digital image.
【図１３】自動的に所望の範囲の寸法測定を行う場合を
説明するためのフローチャートを示す図である。FIG. 13 is a diagram showing a flowchart for explaining a case where dimension measurement in a desired range is automatically performed.
【図１４】本発明における測定計画登録の実施例を示す
図である。FIG. 14 is a diagram showing an example of measurement plan registration in the present invention.
【図１５】本発明における測定計画呼び出しの実施例を
示す図である。FIG. 15 is a diagram showing an example of calling up a measurement plan according to the present invention.
１ ＣＰＵ ２ バス ３ 画像メモリ ４ 表示部 ５ 演算部 ６ キーボード ７ マウス ８ メインメモリ ９ 表示部の画面 １０ 装置本体 １１ 磁気ディスクなどの外部記憶装置 1 CPU 2 Bus 3 Image Memory 4 Display Section 5 Computing Section 6 Keyboard 7 Mouse 8 Main Memory 9 Screen of Display Section 10 Device Main Body 11 External Storage Device such as Magnetic Disk
Claims (11)
の線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸
法測定装置において、予め測定する寸法が計測されてい
てこれを入力する手段と、この測定する寸法が予め計測
されている基準物体のプロフィールから前記予め計測さ
れている寸法に基づいて寸法測定実行メニュー内の測定
法に応じて寸法測定用較正パラメータを求めてこれを登
録する手段と、これから寸法を測定する物体のプロフィ
ールを表示する手段と、前記寸法測定実行メニュー内の
測定法の中から少なくとも１つを選択する手段と、選択
した寸法測定法に対応する寸法測定用較正パラメータを
利用して寸法を計算する手段とを具備することを特徴と
する寸法測定装置。1. A dimension measuring device for measuring the dimension of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a dimension to be measured in advance is measured, and a means for inputting the dimension. Means for obtaining and registering a dimension measurement calibration parameter according to the measurement method in the dimension measurement execution menu based on the previously measured dimension from the profile of the reference object whose dimension to be measured is previously measured, Utilizing means for displaying a profile of an object whose dimensions are to be measured, means for selecting at least one of the measurement methods in the dimension measurement execution menu, and calibration parameters for dimension measurement corresponding to the selected dimension measurement method. And a means for calculating dimensions, the dimension measuring apparatus.
して、しきい値、面積、極値（ピーク値）、およびフィ
ッティング法を備えていることを特徴とする請求項１に
記載の寸法測定装置。2. The dimension measuring apparatus according to claim 1, wherein a threshold, an area, an extreme value (peak value), and a fitting method are provided as the measuring methods in the dimension measuring execution menu. .
の線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸
法測定装置において、寸法を測定する物体のプロフィー
ルを表示する手段と、プロフィールの背景のＣＴ値とこ
の物体の最大ＣＴ値を入力する手段と、入力された背景
のＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値からその中間の値を算
出する手段と、算出された中間の値をしきい値として対
象物の寸法を計算する手段とを有することを特徴とする
寸法測定装置。3. A dimension measuring device for measuring the dimension of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a means for displaying a profile of an object whose dimension is to be measured, and a background of the profile. A means for inputting the CT value and the maximum CT value of this object, a means for calculating an intermediate value from the input background CT value and the maximum CT value of this object, and a threshold for the calculated intermediate value. And a means for calculating the dimensions of the object as a dimension measurement device.
の線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸
法測定装置において、寸法を測定する物体のプロフィー
ルを表示する手段と、このプロフィールの背景のＣＴ値
とこの物体の最大ＣＴ値を入力する手段と、このプロフ
ィールの面積を算出する手段と、前記入力された背景の
ＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値から高さを定める手段
と、このプロフィールをこの定めた高さの矩形と想定し
て前記算出した面積から対象物の寸法を計算する手段と
を有することを特徴とする寸法測定装置。4. A dimension measuring device for measuring a dimension of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a means for displaying a profile of an object whose dimension is to be measured, and a background of this profile. Means for inputting the CT value and the maximum CT value of this object, means for calculating the area of this profile, means for determining the height from the input background CT value and the maximum CT value of this object, A dimension measuring device, characterized in that the dimension of the object is calculated from the calculated area assuming that the profile is a rectangle having the determined height.
の線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸
法測定装置において、寸法を測定する物体のプロフィー
ルを表示する手段と、このプロフィールの背景のＣＴ値
とこの物体の最大ＣＴ値を入力する手段と、このプロフ
ィールの極値（ピーク値）を算出する手段と、前記入力
された背景のＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値と所定の係
数とピーク値の関係から対象物のピークの寸法を計算す
る手段とを有することを特徴とする寸法測定装置。5. A dimension measuring device for measuring a dimension of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, a means for displaying a profile of an object whose dimension is to be measured, and a background of this profile. Means for inputting the CT value of the object and the maximum CT value of this object, means for calculating the extreme value (peak value) of this profile, the input CT value of the background, the maximum CT value of this object and a predetermined coefficient. And a means for calculating the dimension of the peak of the object from the relationship between the peak value and the peak value.
の線分上のプロフィールから対象物の寸法を測定する寸
法測定装置において、寸法を測定する物体の複数のピー
クを有するプロフィールを表示する手段と、このプロフ
ィールの背景のＣＴ値とこの物体の最大ＣＴ値を入力す
る手段と、このプロフィールを背景のＣＴ値またはこの
物体の最大ＣＴ値と極値から極大部または極小部ごとの
複数のプロフィールに分割してプロフィールを画定する
手段と、この画定したプロフィールに基づいて寸法測定
実行メニュー内の少なくとも１つを適用して寸法を測定
する手段とを具備することを特徴とする寸法測定装置。6. A dimension measuring device for measuring a dimension of an object from a profile on one line segment on a digital image having a gray value, and means for displaying a profile having a plurality of peaks of an object whose dimension is to be measured. , A means for inputting the background CT value of this profile and the maximum CT value of this object, and this profile from the background CT value or the maximum CT value and extreme value of this object to a plurality of profiles for each maximum or minimum part A dimension measuring device comprising: means for dividing to define a profile; and means for applying the at least one of the dimension measurement execution menus to measure the dimension based on the defined profile.
する手段と、この２値化により複数の領域が互いに異な
る値で表され寸法測定の対象物の境界上の１点を設定す
る手段と、この設定された点から次の境界までの対向す
る最も近い点または最も遠い点を２値化された画像上で
求める手段と、この求められた最も近い点または最も遠
い点に基づいて、対象物の境界上の１点と最も近い点か
ら最小長さを、または対象物の境界上の１点と最も遠い
点から最大長さを計算する手段とを具備することを特徴
とする寸法測定装置。7. A means for binarizing a digital image having a gray value, and a means for setting one point on the boundary of an object of dimension measurement in which a plurality of regions are represented by different values by the binarization. , A means for finding the closest or farthest opposite point from this set point to the next boundary on the binarized image, and the object based on the obtained closest point or farthest point A dimension measuring device, comprising means for calculating a minimum length from a point closest to one point on the boundary of an object or a maximum length from one point on the boundary of an object and the farthest point. .
する手段と、この２値化により複数の領域が互いに異な
る値で表され寸法測定の対象物の領域内に１点を設定す
る手段と、この設定された点から隣接する他の領域との
境界までの最も近い点または最も遠い点を２値化された
画像上で求める手段と、求められた点と前記設定された
点との距離を算出し設定された点と最も近い点から最小
長さを、または設定された点と最も遠い点から最大長さ
を計算する手段とを具備することを特徴とする寸法測定
装置。8. Means for binarizing a digital image having a gray value, and means for setting one point in a region of an object of dimension measurement in which a plurality of regions are represented by different values by this binarization. , Means for obtaining the closest point or the farthest point on the binarized image from the set point to the boundary with another adjacent area, and the distance between the obtained point and the set point And a means for calculating the minimum length from the closest point to the set point or the maximum length from the set point and the farthest point.
対象物の境界上の最も遠い点間を結ぶ線分のプロフィー
ルを表示する手段と、このプロフィールに基づいて寸法
測定実行メニュー内の少なくとも１つを適用して寸法を
測定する手段とを有することを特徴とする請求項７また
は８に記載の寸法測定装置。9. A means for displaying a profile of a line segment connecting between points closest to each other on the boundary of the object or points farthest from each other on the boundary of the object, and a means for displaying a profile in the dimension measurement execution menu based on the profile. 9. A dimension measuring device according to claim 7, further comprising means for applying at least one to measure a dimension.
濃淡値を有するディジタル画像上の１つの線分上のプロ
フィールを表示する手段と、この表示されたディジタル
画像またはプロフィールから自動的に前記ディジタル画
像を２値化する手段または前記プロフィールに基づいて
寸法測定実行メニュー内の少なくとも１つを選択する手
段と、２値化された画像または選択した寸法測定実行メ
ニューにより自動的に寸法を測定する手段とを具備する
ことを特徴とする寸法測定装置。10. A means for displaying a digital image having a gray value or a profile on a line segment on the digital image having a gray value, and automatically displaying the digital image from the displayed digital image or profile. Means for binarizing or selecting at least one in the dimension measurement execution menu based on the profile, and means for automatically measuring the dimension by the binarized image or the selected dimension measurement execution menu A dimension measuring device characterized by:
なくともの１つの線分を設定する手段と、設定された線
分に応じて寸法測定実行メニュー内の１つを指定する手
段と、この線分の設定とこれに対応する寸法測定実行メ
ニューをこの画像の測定計画として登録する手段と、登
録されている測定計画の中から１つを呼び出す手段と、
呼び出された測定計画の前記設定されている線分ごとに
指定された寸法測定実行メニューに基づいて寸法測定を
実行する手段とを具備することを特徴とする寸法測定装
置。11. A means for setting at least one line segment on a digital image having a gray value, a means for designating one in a dimension measurement execution menu according to the set line segment, and this line segment. And a means for registering the corresponding dimension measurement execution menu as a measurement plan for this image, and a means for calling one from the registered measurement plans,
A dimension measuring device, comprising means for performing dimension measurement based on a dimension measurement execution menu designated for each of the set line segments of the called measurement plan.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6035054A JPH07243833A (en) | 1994-03-04 | 1994-03-04 | Dimension measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6035054A JPH07243833A (en) | 1994-03-04 | 1994-03-04 | Dimension measuring device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07243833A true JPH07243833A (en) | 1995-09-19 |
Family
ID=12431330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6035054A Pending JPH07243833A (en) | 1994-03-04 | 1994-03-04 | Dimension measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07243833A (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN107076550A (en) * | 2014-09-12 | 2017-08-18 | 国际烟草机械波兰有限责任公司 | Measuring apparatus and measuring method for the Multi sectional bar-type article of tobacco business |
-
1994
- 1994-03-04 JP JP6035054A patent/JPH07243833A/en active Pending
Cited By (8)
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