JPH07234183A - 光散乱式粒子検知センサー - Google Patents
光散乱式粒子検知センサーInfo
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- JPH07234183A JPH07234183A JP2568194A JP2568194A JPH07234183A JP H07234183 A JPH07234183 A JP H07234183A JP 2568194 A JP2568194 A JP 2568194A JP 2568194 A JP2568194 A JP 2568194A JP H07234183 A JPH07234183 A JP H07234183A
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- emitting element
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検知室内壁に付着する粒子の影響を受けるこ
となく正確な粒子検出を行う。 【構成】 発光素子21,22から出た光の粒子による
散乱光を受光素子31で検出する光散乱式粒子検知セン
サーにおいて、狭い光束の光を出力する発光素子21と
拡散光を出力する発光素子22とを備えるとともに、狭
い光束の光の出力時の受光素子出力と拡散光出力時の受
光素子出力とから粒子の有無の判断を行う演算回路43
を備えている。拡散光とした場合の受光素子の出力を利
用して、迷光の影響を除去することができる。
となく正確な粒子検出を行う。 【構成】 発光素子21,22から出た光の粒子による
散乱光を受光素子31で検出する光散乱式粒子検知セン
サーにおいて、狭い光束の光を出力する発光素子21と
拡散光を出力する発光素子22とを備えるとともに、狭
い光束の光の出力時の受光素子出力と拡散光出力時の受
光素子出力とから粒子の有無の判断を行う演算回路43
を備えている。拡散光とした場合の受光素子の出力を利
用して、迷光の影響を除去することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は空気清浄器のような機器
に使用されて煙草の煙粒子や粉塵を検出したり、煙感知
器において煙を検知する光散乱式粒子検知センサーに関
するものである。
に使用されて煙草の煙粒子や粉塵を検出したり、煙感知
器において煙を検知する光散乱式粒子検知センサーに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】光散乱式粒子検知センサーは、検知室内
に発光素子と受光素子とを互いの光軸が交差するように
配置し、発光素子からの光が検知室内に導入される空気
中の粉塵や煙粒子で散乱を起こす時、この散乱光を受光
素子で検出することで粉塵や煙粒子の検出信号を出力す
るもので、上記の両光軸は、通常、ほぼ直交するように
されているとともに、検知室における空気流路となって
いる部分において交差するようにされている。
に発光素子と受光素子とを互いの光軸が交差するように
配置し、発光素子からの光が検知室内に導入される空気
中の粉塵や煙粒子で散乱を起こす時、この散乱光を受光
素子で検出することで粉塵や煙粒子の検出信号を出力す
るもので、上記の両光軸は、通常、ほぼ直交するように
されているとともに、検知室における空気流路となって
いる部分において交差するようにされている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この時、検知室の内壁
は光を反射することがないように処理されているととも
に、発光素子から出る光は集光レンズによって絞られて
おり、検知室内での反射光、いわゆる迷光が受光素子に
入ることがないようにされているわけであるが、長期間
使用すると、検知室内壁にどうしても埃や煙粒子が付着
し、この付着した粒子による乱反射光である迷光が受光
素子で受光されることで、誤報を生じるようになってし
まう。
は光を反射することがないように処理されているととも
に、発光素子から出る光は集光レンズによって絞られて
おり、検知室内での反射光、いわゆる迷光が受光素子に
入ることがないようにされているわけであるが、長期間
使用すると、検知室内壁にどうしても埃や煙粒子が付着
し、この付着した粒子による乱反射光である迷光が受光
素子で受光されることで、誤報を生じるようになってし
まう。
【0004】これを防ぐために、例えば電源投入直後の
受光素子の最小出力を埃や煙粒子が無い状態として仮定
してこの値を記憶するとともに、最小出力値に応じて埃
や煙粒子があると判断する受光素子出力レベルを変更す
るようにしたものが提供されているが、この場合、最小
出力を記憶しておく手段が必要となるほか、上記仮定が
前提となっているために、この仮定が崩れている場合に
は誤報を生じることになる。
受光素子の最小出力を埃や煙粒子が無い状態として仮定
してこの値を記憶するとともに、最小出力値に応じて埃
や煙粒子があると判断する受光素子出力レベルを変更す
るようにしたものが提供されているが、この場合、最小
出力を記憶しておく手段が必要となるほか、上記仮定が
前提となっているために、この仮定が崩れている場合に
は誤報を生じることになる。
【0005】本発明はこのような点に鑑み為されたもの
であり、その目的とするところは検知室内壁に付着する
粒子の影響を受けることなく正確な粒子検出を行うこと
ができる光散乱式粒子検知センサーを提供するにある。
であり、その目的とするところは検知室内壁に付着する
粒子の影響を受けることなく正確な粒子検出を行うこと
ができる光散乱式粒子検知センサーを提供するにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】しかして本発明は、発光
素子から出た光の粒子による散乱光を受光素子で検出す
る光散乱式粒子検知センサーにおいて、狭い光束の光を
出力する発光素子と拡散光を出力する発光素子とを備え
るとともに、狭い光束の光の出力時の受光素子出力と拡
散光出力時の受光素子出力とから粒子の有無の判断を行
う演算回路を備えていることに第1の特徴を有し、上記
両発光素子に代えて、発光素子から出力される光を狭い
光束の光と拡散光とに切り換える切換手段を備えている
ことに第2の特徴を有しており、また発光素子に対して
対称位置に配された対の受光素子が、これらに対して非
対称形状の内壁を有する検知室内に納められているとと
もに、上記対の受光素子の出力から粒子の有無の判断を
行う演算回路を備えていることに第3の特徴を有し、更
に発光素子に対面する壁面を発光素子光軸と垂直な光反
射面としていることに第4の特徴を有している。
素子から出た光の粒子による散乱光を受光素子で検出す
る光散乱式粒子検知センサーにおいて、狭い光束の光を
出力する発光素子と拡散光を出力する発光素子とを備え
るとともに、狭い光束の光の出力時の受光素子出力と拡
散光出力時の受光素子出力とから粒子の有無の判断を行
う演算回路を備えていることに第1の特徴を有し、上記
両発光素子に代えて、発光素子から出力される光を狭い
光束の光と拡散光とに切り換える切換手段を備えている
ことに第2の特徴を有しており、また発光素子に対して
対称位置に配された対の受光素子が、これらに対して非
対称形状の内壁を有する検知室内に納められているとと
もに、上記対の受光素子の出力から粒子の有無の判断を
行う演算回路を備えていることに第3の特徴を有し、更
に発光素子に対面する壁面を発光素子光軸と垂直な光反
射面としていることに第4の特徴を有している。
【0007】
【作用】本発明の第1及び第2の特徴とするところによ
れば、拡散光とした場合の受光素子の出力を利用して、
迷光の影響を排除することができ、第3の特徴とすると
ころによれば、対の受光素子が迷光によって異なるレベ
ルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光のレベ
ルは検知室の形状によって定まっているために、この場
合においても、迷光の影響を排除することができ、更に
第4の特徴とするところによれば、対面する壁面からの
反射光によっても粒子が散乱光を出すことから検知すべ
き粒子による散乱光のレベルが大となるために、迷光の
影響を抑えることができ、この時、発光素子の前面に発
光素子光軸と垂直なハーフミラーを配置すれば、更に迷
光の影響を抑えることができる。
れば、拡散光とした場合の受光素子の出力を利用して、
迷光の影響を排除することができ、第3の特徴とすると
ころによれば、対の受光素子が迷光によって異なるレベ
ルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光のレベ
ルは検知室の形状によって定まっているために、この場
合においても、迷光の影響を排除することができ、更に
第4の特徴とするところによれば、対面する壁面からの
反射光によっても粒子が散乱光を出すことから検知すべ
き粒子による散乱光のレベルが大となるために、迷光の
影響を抑えることができ、この時、発光素子の前面に発
光素子光軸と垂直なハーフミラーを配置すれば、更に迷
光の影響を抑えることができる。
【0008】
【実施例】以下本発明を図示の実施例に基づいて詳述す
ると、図示の光散乱式粒子検知センサーは、空気清浄器
において埃や煙粒子の検出を行うためのものであって、
その器体1内は検知室10となっているとともに、器体
1の表裏面には夫々貫通孔としての煙用孔11,11が
明けられている。そして検知室10内には2つの発光素
子21,22と1つの受光素子31とが配設されてい
る。
ると、図示の光散乱式粒子検知センサーは、空気清浄器
において埃や煙粒子の検出を行うためのものであって、
その器体1内は検知室10となっているとともに、器体
1の表裏面には夫々貫通孔としての煙用孔11,11が
明けられている。そして検知室10内には2つの発光素
子21,22と1つの受光素子31とが配設されてい
る。
【0009】検知室10の隅部に配設された2つの発光
素子21,22は、共にその前方にレンズ23,24が
配されているのであるが、一方のレンズ23は発光素子
21から出た光を収束させることで細い光束となるよう
にしているのに対して、他方のレンズ24は発光素子2
2から出た光を拡散させるものとなっている。そして、
受光素子31は検知室10における両発光素子21,2
2が配された隅の隣に位置する隅に配設されているとと
もに、その光軸は、両発光軸21,22の光軸に対し
て、上記煙用孔11,11付近においてほぼ90°の角
度で交差するようにされて、発光素子21,22から出
た光が直接受光素子31に入ることがないようにされて
いる。
素子21,22は、共にその前方にレンズ23,24が
配されているのであるが、一方のレンズ23は発光素子
21から出た光を収束させることで細い光束となるよう
にしているのに対して、他方のレンズ24は発光素子2
2から出た光を拡散させるものとなっている。そして、
受光素子31は検知室10における両発光素子21,2
2が配された隅の隣に位置する隅に配設されているとと
もに、その光軸は、両発光軸21,22の光軸に対し
て、上記煙用孔11,11付近においてほぼ90°の角
度で交差するようにされて、発光素子21,22から出
た光が直接受光素子31に入ることがないようにされて
いる。
【0010】また、両発光素子21,22はこの両者を
図3に示すように交互にパルス発光させる駆動回路41
に接続され、受光素子31は増幅回路42を介して演算
回路43に接続されている。この演算回路43は、駆動
回路41における発光素子21,22の駆動パルスに同
期して受光素子31の受光増幅信号のサンプリング及び
サンプリング値の保持を行うサンプルアンドホールド回
路と、後述する演算を行う演算部とからなり、その演算
結果である粒子検知出力は出力回路44を介して出力さ
れる。
図3に示すように交互にパルス発光させる駆動回路41
に接続され、受光素子31は増幅回路42を介して演算
回路43に接続されている。この演算回路43は、駆動
回路41における発光素子21,22の駆動パルスに同
期して受光素子31の受光増幅信号のサンプリング及び
サンプリング値の保持を行うサンプルアンドホールド回
路と、後述する演算を行う演算部とからなり、その演算
結果である粒子検知出力は出力回路44を介して出力さ
れる。
【0011】ここにおいて、演算回路43の演算部は、
発光素子21が発光する時の受光素子31の出力をPD
1、発光素子22が発光する時の受光素子31の出力を
PD2とし、また発光素子21が発光する時に生ずる迷
光による受光素子31の出力N1と発光素子22が発光
する時の迷光による受光素子31の出力N2との比(N
1/N2)をα(0<α<1)とすると、 Sout=(PD1−α×PD2)/(1−α) の演算を行う。なお、αの値は実測値を用いる。
発光素子21が発光する時の受光素子31の出力をPD
1、発光素子22が発光する時の受光素子31の出力を
PD2とし、また発光素子21が発光する時に生ずる迷
光による受光素子31の出力N1と発光素子22が発光
する時の迷光による受光素子31の出力N2との比(N
1/N2)をα(0<α<1)とすると、 Sout=(PD1−α×PD2)/(1−α) の演算を行う。なお、αの値は実測値を用いる。
【0012】上記PD1,PD2は、検知すべき粒子に
よる散乱光と迷光とからなることから、検知すべき粒子
による散乱光によるものをS1,S2、迷光によるもの
をN1,N2(発光素子22の光は拡散光となるために
N1<<N2)とすると、PD1=S1+N1、PD2
=S2+N2となるが、上記両発光素子21,22の各
発光量を、S1=S2=Sとなるように調整しておけ
ば、PD1=S+α×N2、PD2=S+N2となるこ
とから、上記式は Sout=(S−αS)/(1−α) となり、この演算結果を演算回路43は出力回路43を
介して出力するものである。
よる散乱光と迷光とからなることから、検知すべき粒子
による散乱光によるものをS1,S2、迷光によるもの
をN1,N2(発光素子22の光は拡散光となるために
N1<<N2)とすると、PD1=S1+N1、PD2
=S2+N2となるが、上記両発光素子21,22の各
発光量を、S1=S2=Sとなるように調整しておけ
ば、PD1=S+α×N2、PD2=S+N2となるこ
とから、上記式は Sout=(S−αS)/(1−α) となり、この演算結果を演算回路43は出力回路43を
介して出力するものである。
【0013】たとえば、α=0.1の時、新品に近い状
態で迷光による受光素子出力N1,N2が共に0であ
り、且つ検知すべき粒子が存在していないためにS=0
であれば、上記演算結果はSout=0となり、検知出
力は出さないが、新品に近い状態で迷光による受光素子
出力N1,N2が共に0であり、且つ検知すべき粒子が
存在しているためにS=1であれば、上記演算結果はS
out=1となる。そして、長期間の使用により迷光に
よる出力N1が0.1、N2が1である場合には、検知
すべき粒子が存在してしない時はS=0であるために上
記演算結果はSout=0となって検知出力は出さない
が、検知すべき粒子が存在している時にはS=1となる
ことから上記演算結果はSout=1となって検知出力
が出る。
態で迷光による受光素子出力N1,N2が共に0であ
り、且つ検知すべき粒子が存在していないためにS=0
であれば、上記演算結果はSout=0となり、検知出
力は出さないが、新品に近い状態で迷光による受光素子
出力N1,N2が共に0であり、且つ検知すべき粒子が
存在しているためにS=1であれば、上記演算結果はS
out=1となる。そして、長期間の使用により迷光に
よる出力N1が0.1、N2が1である場合には、検知
すべき粒子が存在してしない時はS=0であるために上
記演算結果はSout=0となって検知出力は出さない
が、検知すべき粒子が存在している時にはS=1となる
ことから上記演算結果はSout=1となって検知出力
が出る。
【0014】すなわち、検知室10内壁に付着した粒子
によって生じる迷光が存在しても、この迷光の量は狭い
光束の時と拡散光の時とで迷光の量が異なることを利用
して、迷光の影響分を排除してしまっているものであ
り、迷光の有無にかかわらず、正確な粒子検出を行える
ものである。図4に示す実施例においては、上記狭い光
束の光と拡散光とを異なる発光素子21,22で得るの
ではなく、拡散光を発する発光素子22及びレンズ24
の前方に、スリットを有するチョッパー5を発光素子2
2の発光間隔に同期して位置させることができるように
することで、チョッパー5のスリットを通じて検知室1
0内に狭い光束の光が出力される状態と、チョッパー5
が図中破線で示すように、発光素子22及びレンズ24
前方から退去して拡散光がそのまま出力される状態とを
切り替えることができるようにしたものを示している。
図5に示すように、チョッパー5が入るために狭い光束
となる状態と、チョッパー5が出るために拡散光となる
状態とを交互に得ることで、上記実施例における2つの
発光素子21,22を用いた場合と同じ状況を得られる
ようにしているわけである。尚、演算回路43において
は上記実施例の時と同じ演算を行う。図5中の45はチ
ョッパー駆動回路である。チョッパー5に代えて、異な
るレンズの出し入れによって上記の光切り換えを行うよ
うにしてもよい。
によって生じる迷光が存在しても、この迷光の量は狭い
光束の時と拡散光の時とで迷光の量が異なることを利用
して、迷光の影響分を排除してしまっているものであ
り、迷光の有無にかかわらず、正確な粒子検出を行える
ものである。図4に示す実施例においては、上記狭い光
束の光と拡散光とを異なる発光素子21,22で得るの
ではなく、拡散光を発する発光素子22及びレンズ24
の前方に、スリットを有するチョッパー5を発光素子2
2の発光間隔に同期して位置させることができるように
することで、チョッパー5のスリットを通じて検知室1
0内に狭い光束の光が出力される状態と、チョッパー5
が図中破線で示すように、発光素子22及びレンズ24
前方から退去して拡散光がそのまま出力される状態とを
切り替えることができるようにしたものを示している。
図5に示すように、チョッパー5が入るために狭い光束
となる状態と、チョッパー5が出るために拡散光となる
状態とを交互に得ることで、上記実施例における2つの
発光素子21,22を用いた場合と同じ状況を得られる
ようにしているわけである。尚、演算回路43において
は上記実施例の時と同じ演算を行う。図5中の45はチ
ョッパー駆動回路である。チョッパー5に代えて、異な
るレンズの出し入れによって上記の光切り換えを行うよ
うにしてもよい。
【0015】図6及び図7に他の実施例を示す。ここで
は狭い光束の光を出力する単一の発光素子21及びレン
ズ22を設けるとともに、一対の受光素子31,32を
検知室10内に配置している。これら受光素子31,3
2は、発光素子21に対して対称位置に配されている
が、検知室10そのものは、両受光素子31,32に対
して非対称形状の内壁を有するものとされている。つま
り、発光素子21が発光する時、検知すべき粒子による
反射光は両受光素子31,32において同じとなるもの
の、検知室10内壁に付着した粒子90で乱反射したこ
とによって生じる迷光は、検知室10内壁が非対称とな
っていることから、両受光素子31,32に至るまでの
距離や反射回数が異なる。両受光素子31,32に迷光
が異なる比率αで入射ようにしているわけである。この
場合においても、前記演算を行うことで迷光の影響を受
けない粒子検知を行うことができる。
は狭い光束の光を出力する単一の発光素子21及びレン
ズ22を設けるとともに、一対の受光素子31,32を
検知室10内に配置している。これら受光素子31,3
2は、発光素子21に対して対称位置に配されている
が、検知室10そのものは、両受光素子31,32に対
して非対称形状の内壁を有するものとされている。つま
り、発光素子21が発光する時、検知すべき粒子による
反射光は両受光素子31,32において同じとなるもの
の、検知室10内壁に付着した粒子90で乱反射したこ
とによって生じる迷光は、検知室10内壁が非対称とな
っていることから、両受光素子31,32に至るまでの
距離や反射回数が異なる。両受光素子31,32に迷光
が異なる比率αで入射ようにしているわけである。この
場合においても、前記演算を行うことで迷光の影響を受
けない粒子検知を行うことができる。
【0016】図8及び図9に別の実施例を示す。このも
のでは、発光素子21及び受光素子31は夫々1つだけ
であるが、検知室10内壁における発光素子21と対面
する面を光軸と垂直な光反射面15としてある。この場
合、発光素子21から出力された狭い光束の光は、上記
光軸と垂直な光反射面15で反射して発光素子21側に
戻るために、煙用孔11,11を通過する検知すべき粒
子9は、発光素子21から出た光と、上記光反射面15
で反射して戻ってくる光を共に散乱させることになり、
検知室10の内壁全面が光吸収面となるように処理され
ている場合に比して、検知すべき粒子9によって散乱し
て受光素子31に入る光の量が多くなるものであり、従
って、粒子検知の判断レベルとなるスレッショルドレベ
ルを少々の迷光の存在では得ることができない高いレベ
ルに設定することができて、迷光の影響を小さくするこ
とができる。
のでは、発光素子21及び受光素子31は夫々1つだけ
であるが、検知室10内壁における発光素子21と対面
する面を光軸と垂直な光反射面15としてある。この場
合、発光素子21から出力された狭い光束の光は、上記
光軸と垂直な光反射面15で反射して発光素子21側に
戻るために、煙用孔11,11を通過する検知すべき粒
子9は、発光素子21から出た光と、上記光反射面15
で反射して戻ってくる光を共に散乱させることになり、
検知室10の内壁全面が光吸収面となるように処理され
ている場合に比して、検知すべき粒子9によって散乱し
て受光素子31に入る光の量が多くなるものであり、従
って、粒子検知の判断レベルとなるスレッショルドレベ
ルを少々の迷光の存在では得ることができない高いレベ
ルに設定することができて、迷光の影響を小さくするこ
とができる。
【0017】この時、図10及び図11に示すように、
発光素子21及びレンズ22の前方に光軸と垂直なハー
フミラー6を配置し、発光素子21と対面する内壁の光
反射面15から発光素子21側に戻る光をハーフミラー
6で再度光反射面15側へ戻すようにすれば、検知すべ
き粒子9による散乱光がさらに多くなるために、スレッ
ショルドレベルを更に高くとることができて迷光の影響
をより小さくすることができる。
発光素子21及びレンズ22の前方に光軸と垂直なハー
フミラー6を配置し、発光素子21と対面する内壁の光
反射面15から発光素子21側に戻る光をハーフミラー
6で再度光反射面15側へ戻すようにすれば、検知すべ
き粒子9による散乱光がさらに多くなるために、スレッ
ショルドレベルを更に高くとることができて迷光の影響
をより小さくすることができる。
【0018】ところで、発光素子21,22の発光はパ
ルス発光であるために、演算回路43においては前述の
ように発光素子21,22の駆動パルスと同期してサン
プリングを行うサンプルアンドホールド回路を備えてい
るが、上記駆動パルスと同間隔(たとえば1サイクル
0.5秒)のサンプルホールド制御信号をサンプルアン
ドホールド回路に加えていては、電源投入時にサンプル
アンドホールド回路が安定するまで(図示例の場合、動
作ポイントとなる3Vに達するまで)に5秒以上かかっ
てしまうことになる。この時間を短縮するには、図12
及び図13に示すように、電源投入時に所要時間tだけ
連続したサンプルホールド制御信号をサンプルアンドホ
ールド回路7に加えたり、図14及び図15に示すよう
に、電源投入時に所要時間tだけ断続的で且つ速いサン
プルホールド制御信号(たとえば1サイクル0.05
秒)を加えるとよい。電源投入時のサンプルアンドホー
ルド回路7の安定化を早期に得ることができるものとな
る。尚、上記時間tの経過後は、駆動回路41による発
光素子21,22駆動パルスと同間隔でサンプルホール
ド制御信号を加える。図中71はホールド用コンデン
サ、72は耐ノイズ用の電流制限抵抗、8は制御信号制
御部である。
ルス発光であるために、演算回路43においては前述の
ように発光素子21,22の駆動パルスと同期してサン
プリングを行うサンプルアンドホールド回路を備えてい
るが、上記駆動パルスと同間隔(たとえば1サイクル
0.5秒)のサンプルホールド制御信号をサンプルアン
ドホールド回路に加えていては、電源投入時にサンプル
アンドホールド回路が安定するまで(図示例の場合、動
作ポイントとなる3Vに達するまで)に5秒以上かかっ
てしまうことになる。この時間を短縮するには、図12
及び図13に示すように、電源投入時に所要時間tだけ
連続したサンプルホールド制御信号をサンプルアンドホ
ールド回路7に加えたり、図14及び図15に示すよう
に、電源投入時に所要時間tだけ断続的で且つ速いサン
プルホールド制御信号(たとえば1サイクル0.05
秒)を加えるとよい。電源投入時のサンプルアンドホー
ルド回路7の安定化を早期に得ることができるものとな
る。尚、上記時間tの経過後は、駆動回路41による発
光素子21,22駆動パルスと同間隔でサンプルホール
ド制御信号を加える。図中71はホールド用コンデン
サ、72は耐ノイズ用の電流制限抵抗、8は制御信号制
御部である。
【0019】
【発明の効果】以上のように本発明においては、拡散光
とした場合の受光素子の出力を利用して、迷光の影響を
排除することができるものであり、また第3の特徴とす
るところによれば、対の受光素子が迷光によって異なる
レベルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光の
レベルは検知室の形状によって定まっているために、こ
の場合においても、迷光の影響を排除することができる
ものであって、このために検知室内壁に付着した粒子に
起因する迷光の影響のない検知出力を出力することがで
きて、長期間にわたる使用にも誤報を出力してしまうこ
とがないものを得ることができる。
とした場合の受光素子の出力を利用して、迷光の影響を
排除することができるものであり、また第3の特徴とす
るところによれば、対の受光素子が迷光によって異なる
レベルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光の
レベルは検知室の形状によって定まっているために、こ
の場合においても、迷光の影響を排除することができる
ものであって、このために検知室内壁に付着した粒子に
起因する迷光の影響のない検知出力を出力することがで
きて、長期間にわたる使用にも誤報を出力してしまうこ
とがないものを得ることができる。
【0020】また第4の特徴とするところによれば、対
面する壁面からの反射光によっても粒子が散乱光を出す
ことから検知すべき粒子による散乱光のレベルが大とな
るために、粒子検知の判断レベルを高くとることがで
き、この結果、迷光の影響を抑えることができる。この
時、発光素子の前面に発光素子光軸と垂直なハーフミラ
ーを配置すれば、検知すべき粒子による散乱光のレベル
が更に大となるために、迷光の影響をより小さくするこ
とができる。
面する壁面からの反射光によっても粒子が散乱光を出す
ことから検知すべき粒子による散乱光のレベルが大とな
るために、粒子検知の判断レベルを高くとることがで
き、この結果、迷光の影響を抑えることができる。この
時、発光素子の前面に発光素子光軸と垂直なハーフミラ
ーを配置すれば、検知すべき粒子による散乱光のレベル
が更に大となるために、迷光の影響をより小さくするこ
とができる。
【図1】一実施例のブロック図である。
【図2】同上の外観を示す斜視図である。
【図3】同上の一対の発光素子の発光状態を示す説明図
である。
である。
【図4】他の実施例のブロック図である。
【図5】同上の発光素子とチョッパーの動作説明図であ
る。
る。
【図6】別の実施例のブロック図である。
【図7】同上の動作説明図である。
【図8】更に他の実施例のブロック図である。
【図9】同上の動作説明図である。
【図10】更に別の実施例のブロック図である。
【図11】同上の動作説明図である。
【図12】サンプルアンドホールド回路の早期安定化を
得ることができる例の回路図である。
得ることができる例の回路図である。
【図13】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図14】サンプルアンドホールド回路の早期安定化を
得ることができる別の例の回路図である。
得ることができる別の例の回路図である。
【図15】同上の動作を示すタイムチャートである。
10 検知室 21 発光素子 22 発光素子 31 受光素子 43 演算回路
Claims (5)
- 【請求項1】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、狭い光束の光を出力する発光素子と拡散光を出力す
る発光素子とを備えるとともに、狭い光束の光の出力時
の受光素子出力と拡散光出力時の受光素子出力とから粒
子の有無の判断を行う演算回路を備えていることを特徴
とする光散乱式粒子検知センサー。 - 【請求項2】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、発光素子から出力される光を狭い光束の光と拡散光
とに切り換える切換手段を備えるとともに、狭い光束の
光の出力時の受光素子出力と拡散光出力時の受光素子出
力とから粒子の有無の判断を行う演算回路を備えている
ことを特徴とする光散乱式粒子検知センサー。 - 【請求項3】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、発光素子に対して対称位置に配された対の受光素子
が、これらに対して非対称形状の内壁を有する検知室内
に納められているとともに、上記対の受光素子の出力か
ら粒子の有無の判断を行う演算回路を備えていることを
特徴とする光散乱式粒子検知センサー。 - 【請求項4】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、発光素子に対面する壁面を発光素子光軸と垂直な光
反射面としていることを特徴とする光散乱式粒子検知セ
ンサー。 - 【請求項5】 発光素子の前面に発光素子光軸と垂直な
ハーフミラーを配置していることを特徴とする請求項4
記載の光散乱式粒子検知センサー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2568194A JPH07234183A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光散乱式粒子検知センサー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2568194A JPH07234183A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光散乱式粒子検知センサー |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07234183A true JPH07234183A (ja) | 1995-09-05 |
Family
ID=12172535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2568194A Withdrawn JPH07234183A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光散乱式粒子検知センサー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07234183A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002082053A (ja) * | 2000-09-05 | 2002-03-22 | Japan Tobacco Inc | 喫煙物品の可視副流煙量測定装置 |
JP2006515431A (ja) * | 2003-01-25 | 2006-05-25 | バレオ・シャルター・ウント・ゼンゾーレン・ゲーエムベーハー | 霧状の媒体を検出するセンサ |
WO2014199417A1 (ja) * | 2013-06-13 | 2014-12-18 | 日本板硝子株式会社 | 光信号検出回路および計測装置 |
-
1994
- 1994-02-23 JP JP2568194A patent/JPH07234183A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002082053A (ja) * | 2000-09-05 | 2002-03-22 | Japan Tobacco Inc | 喫煙物品の可視副流煙量測定装置 |
JP2006515431A (ja) * | 2003-01-25 | 2006-05-25 | バレオ・シャルター・ウント・ゼンゾーレン・ゲーエムベーハー | 霧状の媒体を検出するセンサ |
WO2014199417A1 (ja) * | 2013-06-13 | 2014-12-18 | 日本板硝子株式会社 | 光信号検出回路および計測装置 |
JP6082108B2 (ja) * | 2013-06-13 | 2017-02-15 | 日本板硝子株式会社 | 光信号検出回路および計測装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010508 |