JPH07234183A - 光散乱式粒子検知センサー - Google Patents
光散乱式粒子検知センサーInfo
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- JPH07234183A JPH07234183A JP2568194A JP2568194A JPH07234183A JP H07234183 A JPH07234183 A JP H07234183A JP 2568194 A JP2568194 A JP 2568194A JP 2568194 A JP2568194 A JP 2568194A JP H07234183 A JPH07234183 A JP H07234183A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検知室内壁に付着する粒子の影響を受けるこ
となく正確な粒子検出を行う。 【構成】 発光素子２１，２２から出た光の粒子による
散乱光を受光素子３１で検出する光散乱式粒子検知セン
サーにおいて、狭い光束の光を出力する発光素子２１と
拡散光を出力する発光素子２２とを備えるとともに、狭
い光束の光の出力時の受光素子出力と拡散光出力時の受
光素子出力とから粒子の有無の判断を行う演算回路４３
を備えている。拡散光とした場合の受光素子の出力を利
用して、迷光の影響を除去することができる。
となく正確な粒子検出を行う。 【構成】 発光素子２１，２２から出た光の粒子による
散乱光を受光素子３１で検出する光散乱式粒子検知セン
サーにおいて、狭い光束の光を出力する発光素子２１と
拡散光を出力する発光素子２２とを備えるとともに、狭
い光束の光の出力時の受光素子出力と拡散光出力時の受
光素子出力とから粒子の有無の判断を行う演算回路４３
を備えている。拡散光とした場合の受光素子の出力を利
用して、迷光の影響を除去することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は空気清浄器のような機器
に使用されて煙草の煙粒子や粉塵を検出したり、煙感知
器において煙を検知する光散乱式粒子検知センサーに関
するものである。
に使用されて煙草の煙粒子や粉塵を検出したり、煙感知
器において煙を検知する光散乱式粒子検知センサーに関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】光散乱式粒子検知センサーは、検知室内
に発光素子と受光素子とを互いの光軸が交差するように
配置し、発光素子からの光が検知室内に導入される空気
中の粉塵や煙粒子で散乱を起こす時、この散乱光を受光
素子で検出することで粉塵や煙粒子の検出信号を出力す
るもので、上記の両光軸は、通常、ほぼ直交するように
されているとともに、検知室における空気流路となって
いる部分において交差するようにされている。
に発光素子と受光素子とを互いの光軸が交差するように
配置し、発光素子からの光が検知室内に導入される空気
中の粉塵や煙粒子で散乱を起こす時、この散乱光を受光
素子で検出することで粉塵や煙粒子の検出信号を出力す
るもので、上記の両光軸は、通常、ほぼ直交するように
されているとともに、検知室における空気流路となって
いる部分において交差するようにされている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この時、検知室の内壁
は光を反射することがないように処理されているととも
に、発光素子から出る光は集光レンズによって絞られて
おり、検知室内での反射光、いわゆる迷光が受光素子に
入ることがないようにされているわけであるが、長期間
使用すると、検知室内壁にどうしても埃や煙粒子が付着
し、この付着した粒子による乱反射光である迷光が受光
素子で受光されることで、誤報を生じるようになってし
まう。
は光を反射することがないように処理されているととも
に、発光素子から出る光は集光レンズによって絞られて
おり、検知室内での反射光、いわゆる迷光が受光素子に
入ることがないようにされているわけであるが、長期間
使用すると、検知室内壁にどうしても埃や煙粒子が付着
し、この付着した粒子による乱反射光である迷光が受光
素子で受光されることで、誤報を生じるようになってし
まう。
【０００４】これを防ぐために、例えば電源投入直後の
受光素子の最小出力を埃や煙粒子が無い状態として仮定
してこの値を記憶するとともに、最小出力値に応じて埃
や煙粒子があると判断する受光素子出力レベルを変更す
るようにしたものが提供されているが、この場合、最小
出力を記憶しておく手段が必要となるほか、上記仮定が
前提となっているために、この仮定が崩れている場合に
は誤報を生じることになる。
受光素子の最小出力を埃や煙粒子が無い状態として仮定
してこの値を記憶するとともに、最小出力値に応じて埃
や煙粒子があると判断する受光素子出力レベルを変更す
るようにしたものが提供されているが、この場合、最小
出力を記憶しておく手段が必要となるほか、上記仮定が
前提となっているために、この仮定が崩れている場合に
は誤報を生じることになる。
【０００５】本発明はこのような点に鑑み為されたもの
であり、その目的とするところは検知室内壁に付着する
粒子の影響を受けることなく正確な粒子検出を行うこと
ができる光散乱式粒子検知センサーを提供するにある。
であり、その目的とするところは検知室内壁に付着する
粒子の影響を受けることなく正確な粒子検出を行うこと
ができる光散乱式粒子検知センサーを提供するにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】しかして本発明は、発光
素子から出た光の粒子による散乱光を受光素子で検出す
る光散乱式粒子検知センサーにおいて、狭い光束の光を
出力する発光素子と拡散光を出力する発光素子とを備え
るとともに、狭い光束の光の出力時の受光素子出力と拡
散光出力時の受光素子出力とから粒子の有無の判断を行
う演算回路を備えていることに第１の特徴を有し、上記
両発光素子に代えて、発光素子から出力される光を狭い
光束の光と拡散光とに切り換える切換手段を備えている
ことに第２の特徴を有しており、また発光素子に対して
対称位置に配された対の受光素子が、これらに対して非
対称形状の内壁を有する検知室内に納められているとと
もに、上記対の受光素子の出力から粒子の有無の判断を
行う演算回路を備えていることに第３の特徴を有し、更
に発光素子に対面する壁面を発光素子光軸と垂直な光反
射面としていることに第４の特徴を有している。
素子から出た光の粒子による散乱光を受光素子で検出す
る光散乱式粒子検知センサーにおいて、狭い光束の光を
出力する発光素子と拡散光を出力する発光素子とを備え
るとともに、狭い光束の光の出力時の受光素子出力と拡
散光出力時の受光素子出力とから粒子の有無の判断を行
う演算回路を備えていることに第１の特徴を有し、上記
両発光素子に代えて、発光素子から出力される光を狭い
光束の光と拡散光とに切り換える切換手段を備えている
ことに第２の特徴を有しており、また発光素子に対して
対称位置に配された対の受光素子が、これらに対して非
対称形状の内壁を有する検知室内に納められているとと
もに、上記対の受光素子の出力から粒子の有無の判断を
行う演算回路を備えていることに第３の特徴を有し、更
に発光素子に対面する壁面を発光素子光軸と垂直な光反
射面としていることに第４の特徴を有している。
【０００７】
【作用】本発明の第１及び第２の特徴とするところによ
れば、拡散光とした場合の受光素子の出力を利用して、
迷光の影響を排除することができ、第３の特徴とすると
ころによれば、対の受光素子が迷光によって異なるレベ
ルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光のレベ
ルは検知室の形状によって定まっているために、この場
合においても、迷光の影響を排除することができ、更に
第４の特徴とするところによれば、対面する壁面からの
反射光によっても粒子が散乱光を出すことから検知すべ
き粒子による散乱光のレベルが大となるために、迷光の
影響を抑えることができ、この時、発光素子の前面に発
光素子光軸と垂直なハーフミラーを配置すれば、更に迷
光の影響を抑えることができる。
れば、拡散光とした場合の受光素子の出力を利用して、
迷光の影響を排除することができ、第３の特徴とすると
ころによれば、対の受光素子が迷光によって異なるレベ
ルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光のレベ
ルは検知室の形状によって定まっているために、この場
合においても、迷光の影響を排除することができ、更に
第４の特徴とするところによれば、対面する壁面からの
反射光によっても粒子が散乱光を出すことから検知すべ
き粒子による散乱光のレベルが大となるために、迷光の
影響を抑えることができ、この時、発光素子の前面に発
光素子光軸と垂直なハーフミラーを配置すれば、更に迷
光の影響を抑えることができる。
【０００８】
【実施例】以下本発明を図示の実施例に基づいて詳述す
ると、図示の光散乱式粒子検知センサーは、空気清浄器
において埃や煙粒子の検出を行うためのものであって、
その器体１内は検知室１０となっているとともに、器体
１の表裏面には夫々貫通孔としての煙用孔１１，１１が
明けられている。そして検知室１０内には２つの発光素
子２１，２２と１つの受光素子３１とが配設されてい
る。
ると、図示の光散乱式粒子検知センサーは、空気清浄器
において埃や煙粒子の検出を行うためのものであって、
その器体１内は検知室１０となっているとともに、器体
１の表裏面には夫々貫通孔としての煙用孔１１，１１が
明けられている。そして検知室１０内には２つの発光素
子２１，２２と１つの受光素子３１とが配設されてい
る。
【０００９】検知室１０の隅部に配設された２つの発光
素子２１，２２は、共にその前方にレンズ２３，２４が
配されているのであるが、一方のレンズ２３は発光素子
２１から出た光を収束させることで細い光束となるよう
にしているのに対して、他方のレンズ２４は発光素子２
２から出た光を拡散させるものとなっている。そして、
受光素子３１は検知室１０における両発光素子２１，２
２が配された隅の隣に位置する隅に配設されているとと
もに、その光軸は、両発光軸２１，２２の光軸に対し
て、上記煙用孔１１，１１付近においてほぼ９０°の角
度で交差するようにされて、発光素子２１，２２から出
た光が直接受光素子３１に入ることがないようにされて
いる。
素子２１，２２は、共にその前方にレンズ２３，２４が
配されているのであるが、一方のレンズ２３は発光素子
２１から出た光を収束させることで細い光束となるよう
にしているのに対して、他方のレンズ２４は発光素子２
２から出た光を拡散させるものとなっている。そして、
受光素子３１は検知室１０における両発光素子２１，２
２が配された隅の隣に位置する隅に配設されているとと
もに、その光軸は、両発光軸２１，２２の光軸に対し
て、上記煙用孔１１，１１付近においてほぼ９０°の角
度で交差するようにされて、発光素子２１，２２から出
た光が直接受光素子３１に入ることがないようにされて
いる。
【００１０】また、両発光素子２１，２２はこの両者を
図３に示すように交互にパルス発光させる駆動回路４１
に接続され、受光素子３１は増幅回路４２を介して演算
回路４３に接続されている。この演算回路４３は、駆動
回路４１における発光素子２１，２２の駆動パルスに同
期して受光素子３１の受光増幅信号のサンプリング及び
サンプリング値の保持を行うサンプルアンドホールド回
路と、後述する演算を行う演算部とからなり、その演算
結果である粒子検知出力は出力回路４４を介して出力さ
れる。
図３に示すように交互にパルス発光させる駆動回路４１
に接続され、受光素子３１は増幅回路４２を介して演算
回路４３に接続されている。この演算回路４３は、駆動
回路４１における発光素子２１，２２の駆動パルスに同
期して受光素子３１の受光増幅信号のサンプリング及び
サンプリング値の保持を行うサンプルアンドホールド回
路と、後述する演算を行う演算部とからなり、その演算
結果である粒子検知出力は出力回路４４を介して出力さ
れる。
【００１１】ここにおいて、演算回路４３の演算部は、
発光素子２１が発光する時の受光素子３１の出力をＰＤ
１、発光素子２２が発光する時の受光素子３１の出力を
ＰＤ２とし、また発光素子２１が発光する時に生ずる迷
光による受光素子３１の出力Ｎ１と発光素子２２が発光
する時の迷光による受光素子３１の出力Ｎ２との比（Ｎ
１／Ｎ２）をα（０＜α＜１）とすると、 Ｓｏｕｔ＝（ＰＤ１−α×ＰＤ２）／（１−α） の演算を行う。なお、αの値は実測値を用いる。
発光素子２１が発光する時の受光素子３１の出力をＰＤ
１、発光素子２２が発光する時の受光素子３１の出力を
ＰＤ２とし、また発光素子２１が発光する時に生ずる迷
光による受光素子３１の出力Ｎ１と発光素子２２が発光
する時の迷光による受光素子３１の出力Ｎ２との比（Ｎ
１／Ｎ２）をα（０＜α＜１）とすると、 Ｓｏｕｔ＝（ＰＤ１−α×ＰＤ２）／（１−α） の演算を行う。なお、αの値は実測値を用いる。
【００１２】上記ＰＤ１，ＰＤ２は、検知すべき粒子に
よる散乱光と迷光とからなることから、検知すべき粒子
による散乱光によるものをＳ１，Ｓ２、迷光によるもの
をＮ１，Ｎ２（発光素子２２の光は拡散光となるために
Ｎ１＜＜Ｎ２）とすると、ＰＤ１＝Ｓ１＋Ｎ１、ＰＤ２
＝Ｓ２＋Ｎ２となるが、上記両発光素子２１，２２の各
発光量を、Ｓ１＝Ｓ２＝Ｓとなるように調整しておけ
ば、ＰＤ１＝Ｓ＋α×Ｎ２、ＰＤ２＝Ｓ＋Ｎ２となるこ
とから、上記式は Ｓｏｕｔ＝（Ｓ−αＳ）／（１−α） となり、この演算結果を演算回路４３は出力回路４３を
介して出力するものである。
よる散乱光と迷光とからなることから、検知すべき粒子
による散乱光によるものをＳ１，Ｓ２、迷光によるもの
をＮ１，Ｎ２（発光素子２２の光は拡散光となるために
Ｎ１＜＜Ｎ２）とすると、ＰＤ１＝Ｓ１＋Ｎ１、ＰＤ２
＝Ｓ２＋Ｎ２となるが、上記両発光素子２１，２２の各
発光量を、Ｓ１＝Ｓ２＝Ｓとなるように調整しておけ
ば、ＰＤ１＝Ｓ＋α×Ｎ２、ＰＤ２＝Ｓ＋Ｎ２となるこ
とから、上記式は Ｓｏｕｔ＝（Ｓ−αＳ）／（１−α） となり、この演算結果を演算回路４３は出力回路４３を
介して出力するものである。
【００１３】たとえば、α＝０．１の時、新品に近い状
態で迷光による受光素子出力Ｎ１，Ｎ２が共に０であ
り、且つ検知すべき粒子が存在していないためにＳ＝０
であれば、上記演算結果はＳｏｕｔ＝０となり、検知出
力は出さないが、新品に近い状態で迷光による受光素子
出力Ｎ１，Ｎ２が共に０であり、且つ検知すべき粒子が
存在しているためにＳ＝１であれば、上記演算結果はＳ
ｏｕｔ＝１となる。そして、長期間の使用により迷光に
よる出力Ｎ１が０．１、Ｎ２が１である場合には、検知
すべき粒子が存在してしない時はＳ＝０であるために上
記演算結果はＳｏｕｔ＝０となって検知出力は出さない
が、検知すべき粒子が存在している時にはＳ＝１となる
ことから上記演算結果はＳｏｕｔ＝１となって検知出力
が出る。
態で迷光による受光素子出力Ｎ１，Ｎ２が共に０であ
り、且つ検知すべき粒子が存在していないためにＳ＝０
であれば、上記演算結果はＳｏｕｔ＝０となり、検知出
力は出さないが、新品に近い状態で迷光による受光素子
出力Ｎ１，Ｎ２が共に０であり、且つ検知すべき粒子が
存在しているためにＳ＝１であれば、上記演算結果はＳ
ｏｕｔ＝１となる。そして、長期間の使用により迷光に
よる出力Ｎ１が０．１、Ｎ２が１である場合には、検知
すべき粒子が存在してしない時はＳ＝０であるために上
記演算結果はＳｏｕｔ＝０となって検知出力は出さない
が、検知すべき粒子が存在している時にはＳ＝１となる
ことから上記演算結果はＳｏｕｔ＝１となって検知出力
が出る。
【００１４】すなわち、検知室１０内壁に付着した粒子
によって生じる迷光が存在しても、この迷光の量は狭い
光束の時と拡散光の時とで迷光の量が異なることを利用
して、迷光の影響分を排除してしまっているものであ
り、迷光の有無にかかわらず、正確な粒子検出を行える
ものである。図４に示す実施例においては、上記狭い光
束の光と拡散光とを異なる発光素子２１，２２で得るの
ではなく、拡散光を発する発光素子２２及びレンズ２４
の前方に、スリットを有するチョッパー５を発光素子２
２の発光間隔に同期して位置させることができるように
することで、チョッパー５のスリットを通じて検知室１
０内に狭い光束の光が出力される状態と、チョッパー５
が図中破線で示すように、発光素子２２及びレンズ２４
前方から退去して拡散光がそのまま出力される状態とを
切り替えることができるようにしたものを示している。
図５に示すように、チョッパー５が入るために狭い光束
となる状態と、チョッパー５が出るために拡散光となる
状態とを交互に得ることで、上記実施例における２つの
発光素子２１，２２を用いた場合と同じ状況を得られる
ようにしているわけである。尚、演算回路４３において
は上記実施例の時と同じ演算を行う。図５中の４５はチ
ョッパー駆動回路である。チョッパー５に代えて、異な
るレンズの出し入れによって上記の光切り換えを行うよ
うにしてもよい。
によって生じる迷光が存在しても、この迷光の量は狭い
光束の時と拡散光の時とで迷光の量が異なることを利用
して、迷光の影響分を排除してしまっているものであ
り、迷光の有無にかかわらず、正確な粒子検出を行える
ものである。図４に示す実施例においては、上記狭い光
束の光と拡散光とを異なる発光素子２１，２２で得るの
ではなく、拡散光を発する発光素子２２及びレンズ２４
の前方に、スリットを有するチョッパー５を発光素子２
２の発光間隔に同期して位置させることができるように
することで、チョッパー５のスリットを通じて検知室１
０内に狭い光束の光が出力される状態と、チョッパー５
が図中破線で示すように、発光素子２２及びレンズ２４
前方から退去して拡散光がそのまま出力される状態とを
切り替えることができるようにしたものを示している。
図５に示すように、チョッパー５が入るために狭い光束
となる状態と、チョッパー５が出るために拡散光となる
状態とを交互に得ることで、上記実施例における２つの
発光素子２１，２２を用いた場合と同じ状況を得られる
ようにしているわけである。尚、演算回路４３において
は上記実施例の時と同じ演算を行う。図５中の４５はチ
ョッパー駆動回路である。チョッパー５に代えて、異な
るレンズの出し入れによって上記の光切り換えを行うよ
うにしてもよい。
【００１５】図６及び図７に他の実施例を示す。ここで
は狭い光束の光を出力する単一の発光素子２１及びレン
ズ２２を設けるとともに、一対の受光素子３１，３２を
検知室１０内に配置している。これら受光素子３１，３
２は、発光素子２１に対して対称位置に配されている
が、検知室１０そのものは、両受光素子３１，３２に対
して非対称形状の内壁を有するものとされている。つま
り、発光素子２１が発光する時、検知すべき粒子による
反射光は両受光素子３１，３２において同じとなるもの
の、検知室１０内壁に付着した粒子９０で乱反射したこ
とによって生じる迷光は、検知室１０内壁が非対称とな
っていることから、両受光素子３１，３２に至るまでの
距離や反射回数が異なる。両受光素子３１，３２に迷光
が異なる比率αで入射ようにしているわけである。この
場合においても、前記演算を行うことで迷光の影響を受
けない粒子検知を行うことができる。
は狭い光束の光を出力する単一の発光素子２１及びレン
ズ２２を設けるとともに、一対の受光素子３１，３２を
検知室１０内に配置している。これら受光素子３１，３
２は、発光素子２１に対して対称位置に配されている
が、検知室１０そのものは、両受光素子３１，３２に対
して非対称形状の内壁を有するものとされている。つま
り、発光素子２１が発光する時、検知すべき粒子による
反射光は両受光素子３１，３２において同じとなるもの
の、検知室１０内壁に付着した粒子９０で乱反射したこ
とによって生じる迷光は、検知室１０内壁が非対称とな
っていることから、両受光素子３１，３２に至るまでの
距離や反射回数が異なる。両受光素子３１，３２に迷光
が異なる比率αで入射ようにしているわけである。この
場合においても、前記演算を行うことで迷光の影響を受
けない粒子検知を行うことができる。
【００１６】図８及び図９に別の実施例を示す。このも
のでは、発光素子２１及び受光素子３１は夫々１つだけ
であるが、検知室１０内壁における発光素子２１と対面
する面を光軸と垂直な光反射面１５としてある。この場
合、発光素子２１から出力された狭い光束の光は、上記
光軸と垂直な光反射面１５で反射して発光素子２１側に
戻るために、煙用孔１１，１１を通過する検知すべき粒
子９は、発光素子２１から出た光と、上記光反射面１５
で反射して戻ってくる光を共に散乱させることになり、
検知室１０の内壁全面が光吸収面となるように処理され
ている場合に比して、検知すべき粒子９によって散乱し
て受光素子３１に入る光の量が多くなるものであり、従
って、粒子検知の判断レベルとなるスレッショルドレベ
ルを少々の迷光の存在では得ることができない高いレベ
ルに設定することができて、迷光の影響を小さくするこ
とができる。
のでは、発光素子２１及び受光素子３１は夫々１つだけ
であるが、検知室１０内壁における発光素子２１と対面
する面を光軸と垂直な光反射面１５としてある。この場
合、発光素子２１から出力された狭い光束の光は、上記
光軸と垂直な光反射面１５で反射して発光素子２１側に
戻るために、煙用孔１１，１１を通過する検知すべき粒
子９は、発光素子２１から出た光と、上記光反射面１５
で反射して戻ってくる光を共に散乱させることになり、
検知室１０の内壁全面が光吸収面となるように処理され
ている場合に比して、検知すべき粒子９によって散乱し
て受光素子３１に入る光の量が多くなるものであり、従
って、粒子検知の判断レベルとなるスレッショルドレベ
ルを少々の迷光の存在では得ることができない高いレベ
ルに設定することができて、迷光の影響を小さくするこ
とができる。
【００１７】この時、図１０及び図１１に示すように、
発光素子２１及びレンズ２２の前方に光軸と垂直なハー
フミラー６を配置し、発光素子２１と対面する内壁の光
反射面１５から発光素子２１側に戻る光をハーフミラー
６で再度光反射面１５側へ戻すようにすれば、検知すべ
き粒子９による散乱光がさらに多くなるために、スレッ
ショルドレベルを更に高くとることができて迷光の影響
をより小さくすることができる。
発光素子２１及びレンズ２２の前方に光軸と垂直なハー
フミラー６を配置し、発光素子２１と対面する内壁の光
反射面１５から発光素子２１側に戻る光をハーフミラー
６で再度光反射面１５側へ戻すようにすれば、検知すべ
き粒子９による散乱光がさらに多くなるために、スレッ
ショルドレベルを更に高くとることができて迷光の影響
をより小さくすることができる。
【００１８】ところで、発光素子２１，２２の発光はパ
ルス発光であるために、演算回路４３においては前述の
ように発光素子２１，２２の駆動パルスと同期してサン
プリングを行うサンプルアンドホールド回路を備えてい
るが、上記駆動パルスと同間隔（たとえば１サイクル
０．５秒）のサンプルホールド制御信号をサンプルアン
ドホールド回路に加えていては、電源投入時にサンプル
アンドホールド回路が安定するまで（図示例の場合、動
作ポイントとなる３Ｖに達するまで）に５秒以上かかっ
てしまうことになる。この時間を短縮するには、図１２
及び図１３に示すように、電源投入時に所要時間ｔだけ
連続したサンプルホールド制御信号をサンプルアンドホ
ールド回路７に加えたり、図１４及び図１５に示すよう
に、電源投入時に所要時間ｔだけ断続的で且つ速いサン
プルホールド制御信号（たとえば１サイクル０．０５
秒）を加えるとよい。電源投入時のサンプルアンドホー
ルド回路７の安定化を早期に得ることができるものとな
る。尚、上記時間ｔの経過後は、駆動回路４１による発
光素子２１，２２駆動パルスと同間隔でサンプルホール
ド制御信号を加える。図中７１はホールド用コンデン
サ、７２は耐ノイズ用の電流制限抵抗、８は制御信号制
御部である。
ルス発光であるために、演算回路４３においては前述の
ように発光素子２１，２２の駆動パルスと同期してサン
プリングを行うサンプルアンドホールド回路を備えてい
るが、上記駆動パルスと同間隔（たとえば１サイクル
０．５秒）のサンプルホールド制御信号をサンプルアン
ドホールド回路に加えていては、電源投入時にサンプル
アンドホールド回路が安定するまで（図示例の場合、動
作ポイントとなる３Ｖに達するまで）に５秒以上かかっ
てしまうことになる。この時間を短縮するには、図１２
及び図１３に示すように、電源投入時に所要時間ｔだけ
連続したサンプルホールド制御信号をサンプルアンドホ
ールド回路７に加えたり、図１４及び図１５に示すよう
に、電源投入時に所要時間ｔだけ断続的で且つ速いサン
プルホールド制御信号（たとえば１サイクル０．０５
秒）を加えるとよい。電源投入時のサンプルアンドホー
ルド回路７の安定化を早期に得ることができるものとな
る。尚、上記時間ｔの経過後は、駆動回路４１による発
光素子２１，２２駆動パルスと同間隔でサンプルホール
ド制御信号を加える。図中７１はホールド用コンデン
サ、７２は耐ノイズ用の電流制限抵抗、８は制御信号制
御部である。
【００１９】
【発明の効果】以上のように本発明においては、拡散光
とした場合の受光素子の出力を利用して、迷光の影響を
排除することができるものであり、また第３の特徴とす
るところによれば、対の受光素子が迷光によって異なる
レベルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光の
レベルは検知室の形状によって定まっているために、こ
の場合においても、迷光の影響を排除することができる
ものであって、このために検知室内壁に付着した粒子に
起因する迷光の影響のない検知出力を出力することがで
きて、長期間にわたる使用にも誤報を出力してしまうこ
とがないものを得ることができる。
とした場合の受光素子の出力を利用して、迷光の影響を
排除することができるものであり、また第３の特徴とす
るところによれば、対の受光素子が迷光によって異なる
レベルの出力を出すとともに対の受光素子に入る迷光の
レベルは検知室の形状によって定まっているために、こ
の場合においても、迷光の影響を排除することができる
ものであって、このために検知室内壁に付着した粒子に
起因する迷光の影響のない検知出力を出力することがで
きて、長期間にわたる使用にも誤報を出力してしまうこ
とがないものを得ることができる。
【００２０】また第４の特徴とするところによれば、対
面する壁面からの反射光によっても粒子が散乱光を出す
ことから検知すべき粒子による散乱光のレベルが大とな
るために、粒子検知の判断レベルを高くとることがで
き、この結果、迷光の影響を抑えることができる。この
時、発光素子の前面に発光素子光軸と垂直なハーフミラ
ーを配置すれば、検知すべき粒子による散乱光のレベル
が更に大となるために、迷光の影響をより小さくするこ
とができる。
面する壁面からの反射光によっても粒子が散乱光を出す
ことから検知すべき粒子による散乱光のレベルが大とな
るために、粒子検知の判断レベルを高くとることがで
き、この結果、迷光の影響を抑えることができる。この
時、発光素子の前面に発光素子光軸と垂直なハーフミラ
ーを配置すれば、検知すべき粒子による散乱光のレベル
が更に大となるために、迷光の影響をより小さくするこ
とができる。
【図１】一実施例のブロック図である。
【図２】同上の外観を示す斜視図である。
【図３】同上の一対の発光素子の発光状態を示す説明図
である。
である。
【図４】他の実施例のブロック図である。
【図５】同上の発光素子とチョッパーの動作説明図であ
る。
る。
【図６】別の実施例のブロック図である。
【図７】同上の動作説明図である。
【図８】更に他の実施例のブロック図である。
【図９】同上の動作説明図である。
【図１０】更に別の実施例のブロック図である。
【図１１】同上の動作説明図である。
【図１２】サンプルアンドホールド回路の早期安定化を
得ることができる例の回路図である。
得ることができる例の回路図である。
【図１３】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図１４】サンプルアンドホールド回路の早期安定化を
得ることができる別の例の回路図である。
得ることができる別の例の回路図である。
【図１５】同上の動作を示すタイムチャートである。
１０ 検知室 ２１ 発光素子 ２２ 発光素子 ３１ 受光素子 ４３ 演算回路
Claims (5)
- 【請求項１】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、狭い光束の光を出力する発光素子と拡散光を出力す
る発光素子とを備えるとともに、狭い光束の光の出力時
の受光素子出力と拡散光出力時の受光素子出力とから粒
子の有無の判断を行う演算回路を備えていることを特徴
とする光散乱式粒子検知センサー。 - 【請求項２】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、発光素子から出力される光を狭い光束の光と拡散光
とに切り換える切換手段を備えるとともに、狭い光束の
光の出力時の受光素子出力と拡散光出力時の受光素子出
力とから粒子の有無の判断を行う演算回路を備えている
ことを特徴とする光散乱式粒子検知センサー。 - 【請求項３】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、発光素子に対して対称位置に配された対の受光素子
が、これらに対して非対称形状の内壁を有する検知室内
に納められているとともに、上記対の受光素子の出力か
ら粒子の有無の判断を行う演算回路を備えていることを
特徴とする光散乱式粒子検知センサー。 - 【請求項４】 発光素子から出た光の粒子による散乱光
を受光素子で検出する光散乱式粒子検知センサーにおい
て、発光素子に対面する壁面を発光素子光軸と垂直な光
反射面としていることを特徴とする光散乱式粒子検知セ
ンサー。 - 【請求項５】 発光素子の前面に発光素子光軸と垂直な
ハーフミラーを配置していることを特徴とする請求項４
記載の光散乱式粒子検知センサー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2568194A JPH07234183A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光散乱式粒子検知センサー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2568194A JPH07234183A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光散乱式粒子検知センサー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07234183A true JPH07234183A (ja) | 1995-09-05 |
Family
ID=12172535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2568194A Withdrawn JPH07234183A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光散乱式粒子検知センサー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07234183A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002082053A (ja) * | 2000-09-05 | 2002-03-22 | Japan Tobacco Inc | 喫煙物品の可視副流煙量測定装置 |
| JP2006515431A (ja) * | 2003-01-25 | 2006-05-25 | バレオ・シャルター・ウント・ゼンゾーレン・ゲーエムベーハー | 霧状の媒体を検出するセンサ |
| WO2014199417A1 (ja) * | 2013-06-13 | 2014-12-18 | 日本板硝子株式会社 | 光信号検出回路および計測装置 |
-
1994
- 1994-02-23 JP JP2568194A patent/JPH07234183A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002082053A (ja) * | 2000-09-05 | 2002-03-22 | Japan Tobacco Inc | 喫煙物品の可視副流煙量測定装置 |
| JP2006515431A (ja) * | 2003-01-25 | 2006-05-25 | バレオ・シャルター・ウント・ゼンゾーレン・ゲーエムベーハー | 霧状の媒体を検出するセンサ |
| WO2014199417A1 (ja) * | 2013-06-13 | 2014-12-18 | 日本板硝子株式会社 | 光信号検出回路および計測装置 |
| JP6082108B2 (ja) * | 2013-06-13 | 2017-02-15 | 日本板硝子株式会社 | 光信号検出回路および計測装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010508 |