JPH0720563Y2 - 曲げ試験装置 - Google Patents
曲げ試験装置Info
- Publication number
- JPH0720563Y2 JPH0720563Y2 JP1989011262U JP1126289U JPH0720563Y2 JP H0720563 Y2 JPH0720563 Y2 JP H0720563Y2 JP 1989011262 U JP1989011262 U JP 1989011262U JP 1126289 U JP1126289 U JP 1126289U JP H0720563 Y2 JPH0720563 Y2 JP H0720563Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bending
- movable body
- test piece
- bending test
- fixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本考案は、曲げ試験を行うとともに、その際の試験片の
撓み量を検出する曲げ試験装置に関する。
撓み量を検出する曲げ試験装置に関する。
B.従来の技術 従来、試験片を高温炉内に挿入し、高温雰囲気中でその
曲げ試験を行なうことがある。このとき試験片の撓み量
を測定する方法として、例えば試験片に曲げ荷重を与え
るために駆動されるクロスヘッドの変位量を検出し、こ
れを試験片の撓み量として計測する方法がある。しか
し、この方法では試験片の撓み量を間接的に測定してい
るため正確な撓み量が検出できない。
曲げ試験を行なうことがある。このとき試験片の撓み量
を測定する方法として、例えば試験片に曲げ荷重を与え
るために駆動されるクロスヘッドの変位量を検出し、こ
れを試験片の撓み量として計測する方法がある。しか
し、この方法では試験片の撓み量を間接的に測定してい
るため正確な撓み量が検出できない。
そこで、例えば差動トランス等の変位測定器にて試験片
の変位を直接測定する方法が用いられている。これは、
試験片に当接される検出棒に鉄心を接続し、この鉄心を
差動トランスのコア側に挿入させ、試験片の撓みに伴う
コア内での鉄心の移動量に基づいて試験片の撓み量を測
定するものである C.考案が解決しようとする課題 しかしながら、高温雰囲気中で試験を行なうため上述の
検出棒が膨張し、これにより鉄心のコア内への挿入量が
増加し、場合によっては差動トランスの測定範囲を超え
るおそれがある。そこで差動トランスのコア側の位置を
調節可能に構成することも考えられるが、機構が複雑と
なるとともに、コア側の位置決めおよび零点調節が煩雑
となる。また、検出棒の膨張を見込んで測定範囲の広い
差動トランスを使用することも考えられるが、この場合
には測定精度が悪化する。
の変位を直接測定する方法が用いられている。これは、
試験片に当接される検出棒に鉄心を接続し、この鉄心を
差動トランスのコア側に挿入させ、試験片の撓みに伴う
コア内での鉄心の移動量に基づいて試験片の撓み量を測
定するものである C.考案が解決しようとする課題 しかしながら、高温雰囲気中で試験を行なうため上述の
検出棒が膨張し、これにより鉄心のコア内への挿入量が
増加し、場合によっては差動トランスの測定範囲を超え
るおそれがある。そこで差動トランスのコア側の位置を
調節可能に構成することも考えられるが、機構が複雑と
なるとともに、コア側の位置決めおよび零点調節が煩雑
となる。また、検出棒の膨張を見込んで測定範囲の広い
差動トランスを使用することも考えられるが、この場合
には測定精度が悪化する。
本考案の技術的課題は、高温雰囲気中において、試験片
の膨張後に検出器を容易に装着する構成とすることにあ
る。
の膨張後に検出器を容易に装着する構成とすることにあ
る。
D.課題を解決するための手段 本考案は、試験機本体側に固定される固定体と、下端が
固定体に摺動可能に挿入される可動体と、この可動体の
上端が曲げ試験治具に装着された試験片裏面に当接する
よう付勢する弾性体とを備え、曲げ試験治具を高温炉に
挿通した状態で試験片の撓み量を可動体の摺動によって
検出するようにした曲げ試験装置に適用される。
固定体に摺動可能に挿入される可動体と、この可動体の
上端が曲げ試験治具に装着された試験片裏面に当接する
よう付勢する弾性体とを備え、曲げ試験治具を高温炉に
挿通した状態で試験片の撓み量を可動体の摺動によって
検出するようにした曲げ試験装置に適用される。
そして、可動体が貫通される冷却筒と、高温炉の外側で
前記可動体の上下位置を調節する調節手段とを備えると
ともに、固定体および可動体に一対のレバーをそれぞれ
掛止し、この一対のレバーの相対変位を歪ゲージで検出
するようにし、これにより上記問題点を解決する。
前記可動体の上下位置を調節する調節手段とを備えると
ともに、固定体および可動体に一対のレバーをそれぞれ
掛止し、この一対のレバーの相対変位を歪ゲージで検出
するようにし、これにより上記問題点を解決する。
E.作用 高温雰囲気中で試験片の曲げ試験を行う場合、所定温度
に達した後、つまり可動体の膨張後に検出器を固定体と
可動体との間に取付ける。すなわち一方のレバーを固定
体に、他方のレバーを可動体にそれぞれ係止する。この
状態で試験片に曲げ荷重を与えると、試験片の撓みに応
じて可動体が固定体に挿入されるので、一対のレバーが
相対変位し、その変位量が歪ゲージにより試験片の撓み
量として検出される。このように、可動体の膨張後にゲ
ージ式の検出器を取付ける構成としたので、機構を複雑
にすることなく簡単な操作で精度よく試験片の撓み量を
測定できる。
に達した後、つまり可動体の膨張後に検出器を固定体と
可動体との間に取付ける。すなわち一方のレバーを固定
体に、他方のレバーを可動体にそれぞれ係止する。この
状態で試験片に曲げ荷重を与えると、試験片の撓みに応
じて可動体が固定体に挿入されるので、一対のレバーが
相対変位し、その変位量が歪ゲージにより試験片の撓み
量として検出される。このように、可動体の膨張後にゲ
ージ式の検出器を取付ける構成としたので、機構を複雑
にすることなく簡単な操作で精度よく試験片の撓み量を
測定できる。
F.実施例 第1図および第2図に基づいて本考案の一実施例を説明
する。
する。
第1図は本考案に係る曲げ試験装置の変位測定装置を示
している。材料試験機本体のテーブル21上に取付けられ
る枠体1上には冷却筒2が螺着され、冷却筒2の上部に
固定ロッド3が接続されている。固定ロッド3の上部に
は、一対の支点4aを有する支点台4が取付けられ、一対
の支点4a間に試験片TPが横架される。この支点台4は高
温炉40内に挿入される。
している。材料試験機本体のテーブル21上に取付けられ
る枠体1上には冷却筒2が螺着され、冷却筒2の上部に
固定ロッド3が接続されている。固定ロッド3の上部に
は、一対の支点4aを有する支点台4が取付けられ、一対
の支点4a間に試験片TPが横架される。この支点台4は高
温炉40内に挿入される。
枠体1の両側壁に両端が固定された板部材1aには、第2
図に示すように下部スピンドル(固定体)5のねじ部5a
が螺合され、ロックナット6により固定されている。こ
の下部スピンドル5に形成された貫通孔5bには、下方か
ら調節ねじ7が螺合されるとともにばね(弾性体)8が
挿入され、さらに上部から上部スピンドル9の下端軸部
9aが摺動可能に挿入される。上部スピンドル9の上端に
は撓み検出棒10の下端が接続され、この撓み検出棒10は
固定ロッド3の内部を上方に延在し、上端が支点台4の
上部に突出している。ここで、上部スピンドル9および
撓み検出棒10が可動体を構成する。なお調節ねじ7は、
上部スピンドル9の下端軸部9aの位置を調節して撓み検
出棒10の先端位置を微調整するためのものである。
図に示すように下部スピンドル(固定体)5のねじ部5a
が螺合され、ロックナット6により固定されている。こ
の下部スピンドル5に形成された貫通孔5bには、下方か
ら調節ねじ7が螺合されるとともにばね(弾性体)8が
挿入され、さらに上部から上部スピンドル9の下端軸部
9aが摺動可能に挿入される。上部スピンドル9の上端に
は撓み検出棒10の下端が接続され、この撓み検出棒10は
固定ロッド3の内部を上方に延在し、上端が支点台4の
上部に突出している。ここで、上部スピンドル9および
撓み検出棒10が可動体を構成する。なお調節ねじ7は、
上部スピンドル9の下端軸部9aの位置を調節して撓み検
出棒10の先端位置を微調整するためのものである。
22は、材料試験機本体側のクロスヘッド(不図示)にロ
ードセルを介して接続された負荷ロッドであり、支点台
4の上方に固定ロッド3と同軸で位置している。この負
荷ロッド22の下端に負荷ポンチ23が支点台4と対向して
取付けられ、クロスヘッドの昇降により負荷ポンチ23が
支点台4に対して離接する。ここで、この負荷ポンチ23
および支点台4が曲げ試験治具を構成する。
ードセルを介して接続された負荷ロッドであり、支点台
4の上方に固定ロッド3と同軸で位置している。この負
荷ロッド22の下端に負荷ポンチ23が支点台4と対向して
取付けられ、クロスヘッドの昇降により負荷ポンチ23が
支点台4に対して離接する。ここで、この負荷ポンチ23
および支点台4が曲げ試験治具を構成する。
30は、一対のレバー31,32を有するストレンゲージ式の
撓み検出器であり、上部レバー31が上部スピンドル9
に、下部レバー32が下部スピンドル5にそれぞれ掛止さ
れる。これらのレバー31,32は、本体33内部で接続さ
れ、その接続部に両レバー31,32の相対変位量を検出す
るストレンゲージ(歪ゲージ:不図示)が設けられてい
る。
撓み検出器であり、上部レバー31が上部スピンドル9
に、下部レバー32が下部スピンドル5にそれぞれ掛止さ
れる。これらのレバー31,32は、本体33内部で接続さ
れ、その接続部に両レバー31,32の相対変位量を検出す
るストレンゲージ(歪ゲージ:不図示)が設けられてい
る。
次に、実施例の動作を説明する。
まず、上述した変位測定装置を撓み検出器30を取外した
状態で材料試験機本体のテーブル21上に取付け、支点台
4の一対の支点4a間に試験片TPを横架する。このとき、
検出棒10の先端が試験片TPの裏面に当接していないとき
には、調節ねじ7を適宜調節して撓み検出棒10の先端を
試験片TPの裏面に軽く当接させる。次いでクロスヘッド
を下降して負荷軸22先端の負荷ポンチ23を試験片TPの表
面に当接させる。その後、高温炉40内の温度を約1500℃
まで上昇させると、上部スピンドル9の下端は、検出棒
10の熱膨張あるいは自身の熱膨張により例えば第2図に
破線で示す位置に変化する。これにより検出棒10の先端
が試験片TPの裏面を押圧し、試験片TPにばね8の付勢力
による荷重が働き、これが試験機側のロードセル(不図
示)によって検出される。そこで、クロスヘッドを上昇
させてロードセルの出力を零点調節する。
状態で材料試験機本体のテーブル21上に取付け、支点台
4の一対の支点4a間に試験片TPを横架する。このとき、
検出棒10の先端が試験片TPの裏面に当接していないとき
には、調節ねじ7を適宜調節して撓み検出棒10の先端を
試験片TPの裏面に軽く当接させる。次いでクロスヘッド
を下降して負荷軸22先端の負荷ポンチ23を試験片TPの表
面に当接させる。その後、高温炉40内の温度を約1500℃
まで上昇させると、上部スピンドル9の下端は、検出棒
10の熱膨張あるいは自身の熱膨張により例えば第2図に
破線で示す位置に変化する。これにより検出棒10の先端
が試験片TPの裏面を押圧し、試験片TPにばね8の付勢力
による荷重が働き、これが試験機側のロードセル(不図
示)によって検出される。そこで、クロスヘッドを上昇
させてロードセルの出力を零点調節する。
この状態で撓み検出器30を両スピンドル5,9間に装着す
る。すなわち、掛止金具34を用いて上部レバー31を上部
スピンドル9に、下部レバー32を下部スピンドル5にそ
れぞれ掛止する。この掛止に際しては、両レバー31,32
の間隔をGL設定金具35を用いて所定値に維持する。撓み
検出器30のセット終了後、GL設定金具35を取外して試験
を開始する。
る。すなわち、掛止金具34を用いて上部レバー31を上部
スピンドル9に、下部レバー32を下部スピンドル5にそ
れぞれ掛止する。この掛止に際しては、両レバー31,32
の間隔をGL設定金具35を用いて所定値に維持する。撓み
検出器30のセット終了後、GL設定金具35を取外して試験
を開始する。
まず、クロスヘッドを下降させ、負荷ロッド22下端の負
荷ポンチ23を介して試験片TPに曲げ荷重を与える。これ
により試験片TPが撓み、撓み検出棒10およびこれに接続
された上部スピンドル9がその撓み量に応じた量だけ下
降する。これに伴って撓み検出器30の上部レバー31が下
部レバー32に対して相対変位し、不図示のストレンゲー
ジからその変位量に応じた電気信号が出力され、これが
試験片TPの撓み量として計測される。
荷ポンチ23を介して試験片TPに曲げ荷重を与える。これ
により試験片TPが撓み、撓み検出棒10およびこれに接続
された上部スピンドル9がその撓み量に応じた量だけ下
降する。これに伴って撓み検出器30の上部レバー31が下
部レバー32に対して相対変位し、不図示のストレンゲー
ジからその変位量に応じた電気信号が出力され、これが
試験片TPの撓み量として計測される。
以上によれば、撓み検出棒10の膨張後にゲージ式撓み検
出器30を容易に取付けられるようにしたので、煩わしい
位置調整や零点調節を行なうことなく、しかも高精度に
撓み量の測定が行なえる。
出器30を容易に取付けられるようにしたので、煩わしい
位置調整や零点調節を行なうことなく、しかも高精度に
撓み量の測定が行なえる。
G.考案の効果 本考案は以上のように構成したから、従来のように機構
を複雑にすることなく簡単な操作で精度よく試験片の撓
み量を測定できる。
を複雑にすることなく簡単な操作で精度よく試験片の撓
み量を測定できる。
第1図および第2図は本考案の一実施例を示し、第1図
は本考案に係る曲げ試験装置の変位測定装置を示す正面
断面図、第2図は上部スピンドルと下部スピンドルとの
接続関係を説明する拡大断面図である。 4:曲げ支点台、5:下部スピンドル 8:ばね、9:上部スピンドル 10:撓み検出棒、23:負荷ポンチ 30:撓み検出器、31:上部レバー 32:下部レバー、TP:試験片
は本考案に係る曲げ試験装置の変位測定装置を示す正面
断面図、第2図は上部スピンドルと下部スピンドルとの
接続関係を説明する拡大断面図である。 4:曲げ支点台、5:下部スピンドル 8:ばね、9:上部スピンドル 10:撓み検出棒、23:負荷ポンチ 30:撓み検出器、31:上部レバー 32:下部レバー、TP:試験片
Claims (1)
- 【請求項1】試験機本体側に固定される固定体と、下端
が前記固定体に摺動可能に挿入される可動体と、この可
動体の上端が曲げ試験治具に装着された試験片裏面に当
接するよう付勢する弾性体とを備え、前記曲げ試験治具
を高温炉に挿通した状態で試験片の撓み量を前記可動体
の摺動によって検出するようにした曲げ試験装置におい
て、前記可動体が貫通される冷却筒と、前記高温炉の外
側で前記可動体の上下位置を調節する調節手段とを備え
るとともに、前記固定体および可動体に一対のレバーを
それぞれ掛止し、この一対のレバーの相対変位を歪ゲー
ジで検出するようにしたことを特徴とする曲げ試験装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1989011262U JPH0720563Y2 (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 曲げ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1989011262U JPH0720563Y2 (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 曲げ試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02103208U JPH02103208U (ja) | 1990-08-16 |
JPH0720563Y2 true JPH0720563Y2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=31219661
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1989011262U Expired - Lifetime JPH0720563Y2 (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 曲げ試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0720563Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6011486B2 (ja) * | 2013-08-06 | 2016-10-19 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6179254U (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-27 | ||
JPS6218603U (ja) * | 1985-07-17 | 1987-02-04 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP1989011262U patent/JPH0720563Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02103208U (ja) | 1990-08-16 |
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