JPH07203593A - 薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器 - Google Patents
薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器Info
- Publication number
- JPH07203593A JPH07203593A JP28081794A JP28081794A JPH07203593A JP H07203593 A JPH07203593 A JP H07203593A JP 28081794 A JP28081794 A JP 28081794A JP 28081794 A JP28081794 A JP 28081794A JP H07203593 A JPH07203593 A JP H07203593A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- voltage
- bulk acoustic
- thin film
- acoustic resonator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 87
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 81
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 59
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical group [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical group [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/58—Multiple crystal filters
- H03H9/582—Multiple crystal filters implemented with thin-film techniques
- H03H9/583—Multiple crystal filters implemented with thin-film techniques comprising a plurality of piezoelectric layers acoustically coupled
- H03H9/585—Stacked Crystal Filters [SCF]
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02086—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02102—Means for compensation or elimination of undesirable effects of temperature influence
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H2009/02165—Tuning
- H03H2009/02173—Tuning of film bulk acoustic resonators [FBAR]
- H03H2009/02188—Electrically tuning
- H03H2009/02196—Electrically tuning operating on the FBAR element, e.g. by direct application of a tuning DC voltage
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
- Piezo-Electric Transducers For Audible Bands (AREA)
Abstract
的DCバイアス電圧を利用することによって広い周波数
範囲にわたり変えることができる薄膜電圧同調半導体バ
ルク音響共振器(SBAR)を提供する。 【構成】 薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器(SB
AR)を開示する。圧電膜は、第1の電極と第2の電極
の間に配置され、かつヴァイア・ホールを包含している
半導体基板に隣接して配置される。可変電圧源は、DC
バイアス電圧を電極に印加して、電界を圧電膜内の電極
間に生成される。結果として得られた電界は、圧電膜を
その非バイアス共振周波数とな異なる周波数で共振させ
る。DCバイアス電圧を変えるべく可変電圧源を調整す
ることによって、薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器
(SBAR)からの共振周波数は、変化させることがで
きる。
Description
響共振器(SBAR)に関し、特に薄膜電圧同調型半導
体バルク音響共振器に関する。
て、高周波数(即ち、1GHz以上)の電圧制御型発振
器(VCOs)を利用することが望ましい。よく理解さ
れているように、高周波数電圧制御型発振器は、音響共
振器によって安定化される単一周波数発振器よりもより
不完全な位相雑音比(poorer phase noise ratio)を一
般的に有する。これは、電圧制御型発振器が、出力周波
数を決定することを援助する、バラクタのような、高い
1/f雑音構成要素を包含することに起因する。バラク
タに固有な雑音問題を除去するために、バラクタは、相
対的に低い位相雑音を有する狭帯域VCOsを生成すべ
く高いQ(クオリティ・ファクタ)音響共振器と組み合
わせることができる。しかしながら、これらVCOsの
同調範囲は、一般的に数百ピー・ピー・エム(パーツ・
パー・ミリオン(ppm ))であり、かつ周波数制御直線
性(frequency control linearity )は、良好ではな
い。この位相雑音問題及び狭同調範囲を除去するため
に、発振器の電極間に電位を印加しかつ変えることによ
って水晶制御発振器の周波数を変えることが可能であ
る。これは、高い直線制御特性を有する同等単一周波数
発振器のように低い位相雑音比を有するVCOを生成す
ることに帰着する。不幸にも、VCOのこの形式は、周
波数を変えるためにかなり高い電圧が要求されるので、
実用的でない。例えば、1ミリメータの厚みを有する水
晶発振器は、1ミリボルト/メータ(V/m)の電界を
生成するために1,000ボルトを必要とする。そのよ
うに、この技術は、実用的でなく、かつ有用な周波数変
更を行うために過度に高い電圧が要求されるので水晶制
御発振器に利用できない。
れは、低位相雑音及び相対的線形特性を有している電圧
制御発振器を生成する。しかしながら、これら技術のそ
れぞれは、それらの実用性、コスト、サイズ、複雑性、
及び電力消費に影響を与えるそれらの使用に関連した多
くの欠点を有する。必要とされるものは、低位相雑音、
高い線形特性を有し、かつ実用的DCバイアス電圧を利
用することによって広い周波数範囲にわたり変えること
ができる電圧同調型音響共振器である。これは、結果と
して、電圧制御発振器と同様に同調可能フィルタのコス
ト、サイズ、複雑性、及び消費電力を縮小する。従っ
て、本発明の目的は、低位相雑音、高い線形特性を有
し、かつ実用的DCバイアス電圧を利用することによっ
て広い周波数範囲にわたり変えることができる方法及び
その方法を用いた薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器
(SBAR)を提供することである。
は、ヴァイア・ホールを含んでいる基板と、基板に隣接
するヴァイア・ホール上に配置された第1の電極と、第
1の電極に隣接するヴァイア・ホール上に配置され、複
数の周波数で共振する共振器手段と、共振器手段に隣接
して配置された第2の電極と、共振器手段内の第1の電
極と第2の電極の間に電界を生成すべく第1の電極及び
第2の電極にDCバイアス電圧を印加する可変電圧源手
段とを備え、電界は、共振器手段を共振器手段の非バイ
アス共振周波数とは異なる周波数で共振させ、DCバイ
アス電圧は、共振器手段を複数の周波数で共振させるた
めに電界を変化すべく調整可能である薄膜電圧同調型半
導体バルク音響共振器(SBAR)によって達成され
る。本発明では、基板は、半導体基板を備えるように構
成してもよい。本発明では、半導体基板は、ガリウム砒
素(GaAs)であるように構成してもよい。本発明で
は、半導体基板は、シリコン(Si)であるように構成
してもよい。本発明では、共振器手段は、圧電膜を備え
ているように構成してもよい。
(AlN)であるように構成してもよい。本発明では、
圧電膜は、酸化亜鉛(ZnO)であるように構成しても
よい。本発明では、圧電膜は、厚みが10マイクロメー
タ以下であるように構成してもよい。本発明では、第1
の電極及び第2の電極は、実質的にアルミニウム(A
l)から構成されるように構成してもよい。本発明で
は、ヴァイア・ホールは、基板を通って部分的にだけ延
伸し、第1の電極に隣接する基板の薄い領域を残してい
るように構成してもよい。本発明では、共振器手段は、
複数の電極によって分離された複数の圧電膜を備え、可
変電圧源手段は、少なくとも二つの電極間にDCバイア
ス電圧を印加するように構成してもよい。本発明では、
可変電圧源手段は、−30ボルトと+30ボルトの間で
DCバイアス電圧を変化すべく動作可能であるように構
成してもよい。本発明では、薄膜電圧同調半導体バルク
音響共振器(SBAR)は、可変電圧源手段からの電力
を実質的に消費しないように構成してもよい。
ス電圧を変化することによって実質的に線形特性で変化
させることができるように構成してもよい。また、本発
明の上記目的は、ヴァイア・ホールを含んでいる半導体
基板と、半導体基板に隣接するヴァイア・ホール上に配
置された第1の電極と、第1の電極に隣接するヴァイア
・ホール上に配置された圧電膜と、圧電膜に隣接する第
2の電極と、圧電膜内の第1の電極と第2の電極の間に
電界を生成すべく第1の電極及び第2の電極にDCバイ
アス電圧を印加する可変電圧源手段とを備え、電界は、
非バイアスされたときに圧電膜を圧電膜の共振周波数と
は異なる周波数で共振させるべく動作可能であり、DC
バイアス電圧は、圧電膜を複数の周波数で共振させるた
めに電界を変化すべく調整可能である薄膜電圧同調型半
導体バルク音響共振器(SBAR)によっても達成され
る。本発明では、半導体基板は、ガリウム砒素(GaA
s)であるように構成してもよい。本発明では、圧電膜
は、窒化アルミニウム(AlN)であるように構成して
もよい。
は、実質的にアルミニウム(Al)から構成されるよう
に構成してもよい。本発明では、複数の周波数は、DC
バイアス電圧を変化することによって実質的に線形特性
で変化させることができるように構成してもよい。本発
明では、ヴァイア・ホールは、半導体基板を通って部分
的にだけ延伸し、第1の電極に隣接する半導体基板の薄
い領域を残しているように構成してもよい。本発明で
は、圧電膜は、複数の電極によって分離された複数の圧
電膜を備えているように構成してもよい。更に、本発明
の上述した目的は、複数の電圧同調共振周波数を生成す
る方法であって、半導体基板内にヴァイア・ホールを有
している半導体基板を供給し、半導体基板に隣接するヴ
ァイア・ホール上に第1の電極を配置し、半導体基板に
隣接するヴァイア・ホール上に圧電膜を配置し、圧電膜
に隣接して第2の電極を配置し、圧電膜内の第1の電極
と第2の電極の間に電界を生成すべく第1の電極及び第
2の電極にDCバイアス電圧を印加し、電界は、圧電膜
を圧電膜の非バイアス共振周波数とは異なる周波数で共
振させるべく動作可能であり、圧電膜を複数の周波数で
共振させるように、電界を変化させるべくDCバイアス
電圧を変化する段階を具備する方法によっても達成され
る。
は、ガリウム砒素(GaAs)半導体基板を供給する段
階を含むように構成してもよい。本発明では、圧電膜を
配置する段階は、厚さが10マイクロメータ以下の窒化
アルミニウム(AlN)圧電膜を配置する段階を含むよ
うに構成してもよい。
バルク音響共振器(SBAR)が、高い線形特性を伴う
相対的に低い位相雑音を有している可変周波数共振器と
して開示される。これは、第1の電極と第2の電極の間
に位置決めされ、かつそれを貫通しているヴァイア・ホ
ール(via hole)を有している半導体基板の頂上に配置
された薄い(約1マイクロメータ)の圧電膜(piezoele
ctric film)を利用することによって基本的に達成され
る。一つの好ましい実施例において、半導体基板を貫通
しているヴァイア・ホールを有している半導体基板が提
供される。圧電膜は、第1の電極と半導体基板に隣接し
て配置されかつヴァイア・ホールを横切っている第2の
電極の間に位置決めされる。薄い圧電膜内の第1の電極
及び第2の電極の間に強い電界を生成するためにDCバ
イアス電圧が第1及び第2の電極に印加される。これ
は、適度なレベルにわたりDCバイアス電圧を調整する
ことによって電界を実質的に変えさせ、その結果、共振
している圧電膜の共振周波数を変える。
の電極間に電界を生成するためにDCバイアス電圧が第
1の電極から第2の電極へ印加される。この電界は、圧
電膜をそのバイアスされていない共振周波数よりも多少
異なる周波数で共振させる。DCバイアス電圧を調整す
ることによって、電界が変わり、共振周波数を同様に調
整させる。薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器(SB
AR)の以下の説明は、例示的なものであり、本発明や
そのアプリケーション或いは使用を限定することを企図
していない。
器(SBAR)10の一つの好ましい実施例の略ブロッ
ク図を示す。一般的なSBAR10のより詳細な説明
は、ここに参考文献として組み込まれた、アール.ビ
ー.ストークス(R. B. Stokes)及びジェー.ディー.
クロフォード(J. D. Crawford)共著、“ガリウム砒素
のX帯域薄膜音響フィルタ(X-Band Thin Film Acousti
c Filters on GaAs )”、IEEE MTT Symposium 1992 に
示されている。SBAR10は、それを通って延伸して
いるヴァイア・ホール14を有している半導体基板12
を含む。半導体基板12は、厚さ4ミル(mils)でガリ
ウム砒素(GaAs)で作られていることが好ましいが、シ
リコンのような、他の半導体材料を用いることもでき
る。約800〜2,000オングストロームの間の厚さ
を有しかつ好ましくはアルミニウム(Al)で作られた第
1の電極16は、半導体基板12及びヴァイア・ホール
14の頂部またはそれらに隣接して配置されている。約
4,000オングストローム〜4ミクロンの間である厚
さを有している薄い圧電膜18は、ヴァイア・ホール1
4上に、第1の電極16に隣接して配置されている。こ
れは、圧電膜18を自由に共振または振動させる。圧電
膜18は、窒化アルミニウム(AlN )で作られるのが好
ましい。しかしながら、圧電膜18は、酸化亜鉛のよう
な、他の適当な圧電材料で構成することもできる。約8
00〜2,000オングストロームの間の厚さを有しか
つ好ましくはアルミニウム(Al)で作られた第2の電極
20は、SBAR10の活性領域を備えている第1の電
極16と第2の電極20の間に平行板構造を生成すべく
圧電膜18に隣接して配置される。
6に取付けられ、第2の電気コネクタ24は、第2の電
極20に取付けられている。可変電圧源26は、RFチ
ョーク28を介して第1及び第2の電気コネクタ22,
24に接続されている。可変電圧源26は、第1の電極
16及び第2の電極20に、第1及び第2の電気コネク
タ22,24を介して、好ましくは−30ボルトから+
30ボルトの間の可変DC(直流)バイアス電圧を印加
することが可能である。加えて、SBAR10が絶縁体
であるので、本質的に電力が可変電圧源26から消費さ
れない。動作において、可変電圧源26によって印加さ
れたDCバイアス電圧は、圧電膜18内の第1の電極1
6と第2の電極20の間に電界(V/m)を生成する。
電界は、圧電膜18の厚さ又は第1の電極16と第2の
電極20の間の距離で割ったバイアス電圧に等しい。電
界は、ヴァイア・ホール14の回りのそのエッジによっ
て支持される圧電膜18がバイアスなしの共振周波数と
は異なる特定の周波数で機械的共振を有する原因とな
る。結果として、DCバイアス電圧を変化すべく可変電
圧源26を調整することによって、第1の電極16と第
2の電極20の間の電界は、変化しかつ圧電膜18が異
なる周波数で共振する原因となる。
電圧が印加されるときにSBAR10は、4.8GHz
(基本)で共振するものと想定する。この周波数は、も
しDCバイアス電圧が−30ボルトと+30ボルトの間
で変化するならば、1,000ピー・ピー・エム(part
s per million (ppm) )で変えることができる。これ
は、図2に明確に示されているように、高い線形周波数
変化対電圧特性を有するSBAR10を提供する。SB
AR10は、100ボルトDCまで耐えることもでき、
それゆえに3,000ピー・ピー・エム(parts per mi
llion (ppm) )の同調範囲をそれに与える。加えて、1
マイクロメータの圧電膜18に対して、1ミリオンV/
mの電界がほんの1ボルトのDCバイアス電圧で達成で
きるということも注目すべきである。この高い線形及び
センシティブ周波数変化対SBAR10の電圧特性は、
高周波低位相雑音電圧制御発振器或いは同調可能フィル
タを構築するために利用できる。加えて、この効果は、
SBAR10に固有の温度感度(temperature sensitiv
ity )を訂正しかつ補正するために用いることができ
る。これは、第1の電極16から第2の電極20へSB
AR10の動作温度に対応する修正電圧(correction v
oltage)を単に印加することによって達成できる。
す。この実施例では、ヴァイア・ホール14は、半導体
基板12を通って延伸しないが、半導体基板12の薄い
領域(thinned region)30を残す。この薄い領域30
は、1マイクロメータの厚みが好ましく、かつSBAR
10活性領域の底部層を形成する。薄い領域30は、厚
みがほんの約1マイクロメータなので、圧電膜18は、
共振或いは振動できることを抑制されない。図4は、S
BAR10の更に別の好ましい実施例を示す。図4のS
BAR10は、同調可能一極フィルタ(tunable one-po
le filter )としてもサーブできる二ポート(two-por
t)共振器である。このSBAR10は、二つの圧電膜
18、第1の電極16、第2の電極20、そして第3の
電気コネクタ34を有している第3の電極32を備えて
いる。第3の電極32は、第1の電極16を第2の電極
20から保護することを援助すべく接地されるのが好ま
しい。電圧同調可能二ポート共振器或いは一極フィルタ
として動作するために、可変電圧源26は、第1の電極
16と第2の電極20のような、少なくとも二つの電極
間にDCバイアス電圧を印加する。この分野における技
術者(当業者)は、SBAR10は、高次共振器及び同
調フィルタ構築すべく追加の圧電層と同様に追加の電極
層を包含できるということを容易に認識するということ
にも注目すべきである。
特性を有している薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振
器(SBAR)の生成に帰着する。その結果、低位相雑
音及び高い線形VCOsを行う現行アプローチに関連し
た上述した問題は、実質的に除去される。上述の説明
は、本発明の例示的実施例を単に開示しかつ記述したに
過ぎない。当業者は、種々の変化、変更、及び変形が、
特許請求の範囲に規定された本発明の精神及び範囲から
逸脱することなく成されうるということを、その説明、
添付した図面及び特許請求の範囲から容易に認識するで
あろう。
共振器(SBAR)は、ヴァイア・ホールを含んでいる
基板と、基板に隣接するヴァイア・ホール上に配置され
た第1の電極と、第1の電極に隣接するヴァイア・ホー
ル上に配置され、複数の周波数で共振する共振器手段
と、共振器手段に隣接して配置された第2の電極と、共
振器手段内の第1の電極と第2の電極の間に電界を生成
すべく第1の電極及び第2の電極にDCバイアス電圧を
印加する可変電圧源手段とを備え、電界は、共振器手段
を共振器手段の非バイアス共振周波数とは異なる周波数
で共振させ、DCバイアス電圧は、共振器手段を複数の
周波数で共振させるために電界を変化すべく調整可能で
あるので、低位相雑音、高い線形特性を有し、かつ実用
的DCバイアス電圧を利用することによって広い周波数
範囲にわたり変えることができ、その結果、電圧制御発
振器と同様に同調可能フィルタのコスト、サイズ、複雑
性、及び消費電力を縮小することができる。また、本発
明の薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器(SBAR)
は、ヴァイア・ホールを含んでいる半導体基板と、半導
体基板に隣接するヴァイア・ホール上に配置された第1
の電極と、第1の電極に隣接するヴァイア・ホール上に
配置された圧電膜と、圧電膜に隣接する第2の電極と、
圧電膜内の第1の電極と第2の電極の間に電界を生成す
べく第1の電極及び第2の電極にDCバイアス電圧を印
加する可変電圧源手段とを備え、電界は、非バイアスさ
れたときに圧電膜を圧電膜の共振周波数とは異なる周波
数で共振させるべく動作可能であり、DCバイアス電圧
は、圧電膜を複数の周波数で共振させるために電界を変
化すべく調整可能であるので、低位相雑音、高い線形特
性を有し、かつ実用的DCバイアス電圧を利用すること
によって広い周波数範囲にわたり変えることができ、そ
の結果、電圧制御発振器と同様に同調可能フィルタのコ
スト、サイズ、複雑性、及び消費電力を縮小することが
できる。
を生成する方法は、半導体基板内にヴァイア・ホールを
有している半導体基板を供給し、半導体基板に隣接する
ヴァイア・ホール上に第1の電極を配置し、半導体基板
に隣接するヴァイア・ホール上に圧電膜を配置し、圧電
膜に隣接して第2の電極を配置し、圧電膜内の第1の電
極と第2の電極の間に電界を生成すべく第1の電極及び
第2の電極にDCバイアス電圧を印加し、電界は、圧電
膜を圧電膜の非バイアス共振周波数とは異なる周波数で
共振させるべく動作可能であり、圧電膜を複数の周波数
で共振させるように、電界を変化させるべくDCバイア
ス電圧を変化する段階を具備するので、低位相雑音、高
い線形特性を有し、かつ実用的DCバイアス電圧を利用
することによって広い周波数範囲にわたり変えることが
でき、その結果、電圧制御発振器と同様に同調可能フィ
ルタのコスト、サイズ、複雑性、及び消費電力を縮小す
ることができる。本発明の他の利点は、この分野の技術
者にとって、添付した図面を参照して上述した実施例を
読むことにより明らかになるであろう。
である。
電圧を示すグラフである。
ある。
図である。
R) 12 半導体基板 14 ヴァイア・ホール 16 第1の電極 18 圧電膜 20 第2の電極 22 第1の電気コネクタ 24 第2の電気コネクタ 26 可変電圧源 28 RFチョーク
Claims (24)
- 【請求項1】 ヴァイア・ホールを含んでいる基板と、
前記基板に隣接する前記ヴァイア・ホール上に配置され
た第1の電極と、前記第1の電極に隣接する前記ヴァイ
ア・ホール上に配置され、複数の周波数で共振する共振
器手段と、前記共振器手段に隣接して配置された第2の
電極と、前記共振器手段内の前記第1の電極と前記第2
の電極の間に電界を生成すべく該第1の電極及び該第2
の電極にDCバイアス電圧を印加する可変電圧源手段と
を備え、前記電界は、前記共振器手段を該共振器手段の
非バイアス共振周波数とは異なる周波数で共振させ、前
記DCバイアス電圧は、前記共振器手段を前記複数の周
波数で共振させるために前記電界を変化すべく調整可能
であることを特徴とする薄膜電圧同調型半導体バルク音
響共振器(SBAR)。 - 【請求項2】 前記基板は、半導体基板を備えることを
特徴とする請求項1に記載の薄膜電圧同調半導体バルク
音響共振器。 - 【請求項3】 前記半導体基板は、ガリウム砒素(Ga
As)であることを特徴とする請求項2に記載の薄膜電
圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項4】 前記半導体基板は、シリコン(Si)で
あることを特徴とする請求項2に記載の薄膜電圧同調半
導体バルク音響共振器。 - 【請求項5】 前記共振器手段は、圧電膜を備えている
ことを特徴とする請求項1に記載の薄膜電圧同調半導体
バルク音響共振器。 - 【請求項6】 前記圧電膜は、窒化アルミニウム(Al
N)であることを特徴とする請求項5に記載の薄膜電圧
同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項7】 前記圧電膜は、酸化亜鉛(ZnO)であ
ることを特徴とする請求項5に記載の薄膜電圧同調半導
体バルク音響共振器。 - 【請求項8】 前記圧電膜は、厚みが10マイクロメー
タ以下であることを特徴とする請求項5に記載の薄膜電
圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項9】 前記第1の電極及び前記第2の電極は、
実質的にアルミニウム(Al)から構成されることを特
徴とする請求項1に記載の薄膜電圧同調半導体バルク音
響共振器。 - 【請求項10】 前記ヴァイア・ホールは、前記基板を
通って部分的にだけ延伸し、前記第1の電極に隣接する
該基板の薄い領域を残していることを特徴とする請求項
1に記載の薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項11】 前記共振器手段は、複数の電極によっ
て分離された複数の圧電膜を備え、前記可変電圧源手段
は、少なくとも二つの前記電極間に前記DCバイアス電
圧を印加することを特徴とする請求項1に記載の薄膜電
圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項12】 前記可変電圧源手段は、−30ボルト
と+30ボルトの間で前記DCバイアス電圧を変化すべ
く動作可能であることを特徴とする請求項1に記載の薄
膜電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項13】 前記薄膜電圧同調半導体バルク音響共
振器(SBAR)は、前記可変電圧源手段からの電力を
実質的に消費しないことを特徴とする請求項1に記載の
薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項14】 前記複数の周波数は、前記DCバイア
ス電圧を変化することによって実質的に線形特性で変化
させることができることを特徴とする請求項1に記載の
薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項15】 ヴァイア・ホールを含んでいる半導体
基板と、前記半導体基板に隣接する前記ヴァイア・ホー
ル上に配置された第1の電極と、前記第1の電極に隣接
する前記ヴァイア・ホール上に配置された圧電膜と、前
記圧電膜に隣接する第2の電極と、前記圧電膜内の前記
第1の電極と前記第2の電極の間に電界を生成すべく該
第1の電極及び該第2の電極にDCバイアス電圧を印加
する可変電圧源手段とを備え、前記電界は、非バイアス
されたときに前記圧電膜を該圧電膜の共振周波数とは異
なる周波数で共振させるべく動作可能であり、前記DC
バイアス電圧は、前記圧電膜を前記複数の周波数で共振
させるために前記電界を変化すべく調整可能であること
を特徴とする薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器
(SBAR)。 - 【請求項16】 前記半導体基板は、ガリウム砒素(G
aAs)であることを特徴とする請求項16に記載の薄
膜電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項17】 前記圧電膜は、窒化アルミニウム(A
lN)であることを特徴とする請求項16に記載の薄膜
電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項18】 前記第1の電極及び前記第2の電極
は、実質的にアルミニウム(Al)から構成されること
を特徴とする請求項17に記載の薄膜電圧同調半導体バ
ルク音響共振器。 - 【請求項19】 前記複数の周波数は、前記DCバイア
ス電圧を変化することによって実質的に線形特性で変化
させることができることを特徴とする請求項15に記載
の薄膜電圧同調半導体バルク音響共振器。 - 【請求項20】 前記ヴァイア・ホールは、前記半導体
基板を通って部分的にだけ延伸し、前記第1の電極に隣
接する該半導体基板の薄い領域を残していることを特徴
とする請求項15に記載の薄膜電圧同調半導体バルク音
響共振器。 - 【請求項21】 前記圧電膜は、複数の電極によって分
離された複数の圧電膜を備えていることを特徴とする請
求項15に記載の薄膜電圧同調半導体バルク音響共振
器。 - 【請求項22】 複数の電圧同調共振周波数を生成する
方法であって、 半導体基板内にヴァイア・ホールを有している半導体基
板を供給し、 前記半導体基板に隣接する前記ヴァイア・ホール上に第
1の電極を配置し、 前記半導体基板に隣接する前記ヴァイア・ホール上に圧
電膜を配置し、 前記圧電膜に隣接して第2の電極を配置し、 前記圧電膜内の前記第1の電極と前記第2の電極の間に
電界を生成すべく該第1の電極及び該第2の電極にDC
バイアス電圧を印加し、 前記電界は、前記圧電膜を該圧電膜の非バイアス共振周
波数とは異なる周波数で共振させるべく動作可能であ
り、 前記圧電膜を前記複数の周波数で共振させるように、前
記電界を変化させるべく前記DCバイアス電圧を変化す
る段階を具備することを特徴とする方法。 - 【請求項23】 前記半導体基板を供給する段階は、ガ
リウム砒素(GaAs)半導体基板を供給する段階を含
むことを特徴とする請求項22に記載の方法。 - 【請求項24】 前記圧電膜を配置する段階は、厚さが
10マイクロメータ以下の窒化アルミニウム(AlN)
圧電膜を配置する段階を含むことを特徴とする請求項2
2に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/166,338 US5446306A (en) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | Thin film voltage-tuned semiconductor bulk acoustic resonator (SBAR) |
US08/166338 | 1993-12-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07203593A true JPH07203593A (ja) | 1995-08-04 |
JP2872054B2 JP2872054B2 (ja) | 1999-03-17 |
Family
ID=22602850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28081794A Expired - Lifetime JP2872054B2 (ja) | 1993-12-13 | 1994-11-15 | 薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5446306A (ja) |
JP (1) | JP2872054B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002101923A1 (fr) * | 2001-06-11 | 2002-12-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lame vibrante piezo-electrique et filtre utilisant cette derniere |
JP2003530750A (ja) * | 2000-04-06 | 2003-10-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 共振器を有するチューニング可能なフィルタ構成 |
JP2005528010A (ja) * | 2002-02-13 | 2005-09-15 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | 同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器 |
JP2007535883A (ja) * | 2004-06-30 | 2007-12-06 | インテル・コーポレーション | 温度ドリフトに対して周波数が安定性を有するfbarデバイス |
WO2008016075A1 (fr) * | 2006-08-03 | 2008-02-07 | Panasonic Corporation | Résonateur à films acoustiques variable en fréquence, filtre et appareil de communication utilisant celui-ci |
JP2011525045A (ja) * | 2008-06-18 | 2011-09-08 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | 圧電素子の共振周波数の調整方法 |
JP2012204870A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Toshiba Corp | 音響半導体装置 |
Families Citing this family (63)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5801476A (en) * | 1996-08-09 | 1998-09-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Thickness mode acoustic wave resonator |
US5760663A (en) * | 1996-08-23 | 1998-06-02 | Motorola, Inc. | Elliptic baw resonator filter and method of making the same |
US5714917A (en) * | 1996-10-02 | 1998-02-03 | Nokia Mobile Phones Limited | Device incorporating a tunable thin film bulk acoustic resonator for performing amplitude and phase modulation |
US6051907A (en) * | 1996-10-10 | 2000-04-18 | Nokia Mobile Phones Limited | Method for performing on-wafer tuning of thin film bulk acoustic wave resonators (FBARS) |
US5873154A (en) * | 1996-10-17 | 1999-02-23 | Nokia Mobile Phones Limited | Method for fabricating a resonator having an acoustic mirror |
DE69739289D1 (de) * | 1996-10-17 | 2009-04-16 | Avago Technologies Wireless Ip | Chtoberflächenwellenresonatoren |
US5872493A (en) * | 1997-03-13 | 1999-02-16 | Nokia Mobile Phones, Ltd. | Bulk acoustic wave (BAW) filter having a top portion that includes a protective acoustic mirror |
US5910756A (en) * | 1997-05-21 | 1999-06-08 | Nokia Mobile Phones Limited | Filters and duplexers utilizing thin film stacked crystal filter structures and thin film bulk acoustic wave resonators |
US5883575A (en) * | 1997-08-12 | 1999-03-16 | Hewlett-Packard Company | RF-tags utilizing thin film bulk wave acoustic resonators |
US6081171A (en) * | 1998-04-08 | 2000-06-27 | Nokia Mobile Phones Limited | Monolithic filters utilizing thin film bulk acoustic wave devices and minimum passive components for controlling the shape and width of a passband response |
FI108583B (fi) | 1998-06-02 | 2002-02-15 | Nokia Corp | Resonaattorirakenteita |
US6339276B1 (en) * | 1999-11-01 | 2002-01-15 | Agere Systems Guardian Corp. | Incremental tuning process for electrical resonators based on mechanical motion |
US6441539B1 (en) * | 1999-11-11 | 2002-08-27 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric resonator |
US6746577B1 (en) | 1999-12-16 | 2004-06-08 | Agere Systems, Inc. | Method and apparatus for thickness control and reproducibility of dielectric film deposition |
US6524971B1 (en) | 1999-12-17 | 2003-02-25 | Agere Systems, Inc. | Method of deposition of films |
US6323744B1 (en) | 2000-02-04 | 2001-11-27 | Agere Systems Guardian Corp. | Grounding of TFR ladder filters |
US6377136B1 (en) | 2000-02-04 | 2002-04-23 | Agere Systems Guardian Corporation | Thin film resonator filter having at least one component with different resonant frequency sets or electrode capacitance |
US6306313B1 (en) | 2000-02-04 | 2001-10-23 | Agere Systems Guardian Corp. | Selective etching of thin films |
US7296329B1 (en) | 2000-02-04 | 2007-11-20 | Agere Systems Inc. | Method of isolation for acoustic resonator device |
US6437667B1 (en) | 2000-02-04 | 2002-08-20 | Agere Systems Guardian Corp. | Method of tuning thin film resonator filters by removing or adding piezoelectric material |
WO2001059812A2 (de) * | 2000-02-11 | 2001-08-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Satz umfassend viele erzeugnisse mit jeweils einem abstimmbaren elektronischen bauelement, sowie satz von anordnungen umfassend jeweils ein solches erzeugnis |
DE10007577C1 (de) | 2000-02-18 | 2001-09-13 | Infineon Technologies Ag | Piezoresonator |
JP5175016B2 (ja) | 2000-04-06 | 2013-04-03 | トライクイント・セミコンダクター・インコーポレイテッド | チューニング可能なフィルタ構成 |
US6603241B1 (en) | 2000-05-23 | 2003-08-05 | Agere Systems, Inc. | Acoustic mirror materials for acoustic devices |
US6355498B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-03-12 | Agere Systems Guartian Corp. | Thin film resonators fabricated on membranes created by front side releasing |
US6377137B1 (en) | 2000-09-11 | 2002-04-23 | Agilent Technologies, Inc. | Acoustic resonator filter with reduced electromagnetic influence due to die substrate thickness |
DE10047379B4 (de) * | 2000-09-25 | 2004-07-15 | Siemens Ag | Bauelement mit akustisch aktivem Material |
US6486751B1 (en) | 2000-09-26 | 2002-11-26 | Agere Systems Inc. | Increased bandwidth thin film resonator having a columnar structure |
US6674291B1 (en) * | 2000-10-30 | 2004-01-06 | Agere Systems Guardian Corp. | Method and apparatus for determining and/or improving high power reliability in thin film resonator devices, and a thin film resonator device resultant therefrom |
US6587212B1 (en) | 2000-10-31 | 2003-07-01 | Agere Systems Inc. | Method and apparatus for studying vibrational modes of an electro-acoustic device |
US6743731B1 (en) | 2000-11-17 | 2004-06-01 | Agere Systems Inc. | Method for making a radio frequency component and component produced thereby |
US6424237B1 (en) | 2000-12-21 | 2002-07-23 | Agilent Technologies, Inc. | Bulk acoustic resonator perimeter reflection system |
US7435613B2 (en) * | 2001-02-12 | 2008-10-14 | Agere Systems Inc. | Methods of fabricating a membrane with improved mechanical integrity |
DE60225795T2 (de) * | 2001-04-25 | 2009-04-16 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Anordnung mit zwei piezoelektrischen schichten und verfahren zum betreiben einer filtereinrichtung |
KR100541895B1 (ko) * | 2001-09-21 | 2006-01-16 | 가부시끼가이샤 도시바 | 고주파 필터 |
KR20030058061A (ko) * | 2001-12-29 | 2003-07-07 | 엘지전자 주식회사 | 용적 탄성파 공진기를 이용한 모노-다이 무선설비 밴드패스 필터 제조 방법 |
US6741147B2 (en) * | 2002-09-30 | 2004-05-25 | Agere Systems Inc. | Method and apparatus for adjusting the resonant frequency of a thin film resonator |
US20040227578A1 (en) * | 2003-05-14 | 2004-11-18 | Miikka Hamalainen | Acoustic resonance-based frequency synthesizer using at least one bulk acoustic wave (BAW) or thin film bulk acoustic wave (FBAR) device |
US6965274B2 (en) * | 2003-06-23 | 2005-11-15 | Lg Electronics Inc. | Thin film bulk acoustic resonator for controlling resonance frequency and voltage controlled oscillator using the same |
FR2864727B1 (fr) * | 2003-12-29 | 2007-05-11 | St Microelectronics Sa | Circuit electronique comportant un resonateur destine a etre integre dans un produit semi-conducteur |
US7202560B2 (en) | 2004-12-15 | 2007-04-10 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Wafer bonding of micro-electro mechanical systems to active circuitry |
FR2883432B1 (fr) * | 2005-03-18 | 2008-02-22 | St Microelectronics Sa | Circuit de filtrage accordable en frequence integrable, comportant un jeu de resonateurs baw |
FR2888060A1 (fr) * | 2005-07-01 | 2007-01-05 | St Microelectronics Sa | Circuit de filtrage passe-bande dote de resonateurs acoustiques |
US7486003B1 (en) * | 2005-09-22 | 2009-02-03 | Sei-Joo Jang | Polymer bulk acoustic resonator |
CN100552706C (zh) * | 2006-04-30 | 2009-10-21 | 中国科学院声学研究所 | 一种非接触无源射频标签及其阅读*** |
DE102006023165B4 (de) * | 2006-05-17 | 2008-02-14 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Herstellung eines akustischen Spiegels aus alternierend angeordneten Schichten hoher und niedriger akustischer Impedanz |
FR2904492A1 (fr) * | 2006-07-28 | 2008-02-01 | St Microelectronics Sa | Circuit de filtrage dote de resonateurs acoustiques |
FR2905207B1 (fr) * | 2006-08-28 | 2009-01-30 | St Microelectronics Sa | Filtre commutable a resonateurs. |
US8925163B2 (en) | 2006-09-18 | 2015-01-06 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt | Method of manufacturing laterally coupled BAW thin films |
FI121722B (fi) * | 2006-09-18 | 2011-03-15 | Valtion Teknillinen | Levykondensaattori- tai levyresonaattorijärjestely |
FR2920612B1 (fr) * | 2007-09-03 | 2009-12-04 | St Microelectronics Sa | Circuit d'accord en frequence pour filtre treillis |
US8291559B2 (en) * | 2009-02-24 | 2012-10-23 | Epcos Ag | Process for adapting resonance frequency of a BAW resonator |
DE102010036257A1 (de) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Epcos Ag | Verfahren zur Kontrolle von Biegeschwingungen eines Piezoaktuators |
US8910355B2 (en) | 2011-12-12 | 2014-12-16 | International Business Machines Corporation | Method of manufacturing a film bulk acoustic resonator with a loading element |
US20130264309A1 (en) * | 2012-04-05 | 2013-10-10 | Ian J. Kenworthy | Acoustic energy utilization in plasma processing |
FR2996061B1 (fr) * | 2012-09-27 | 2015-12-25 | Commissariat Energie Atomique | Structure acoustique comportant au moins un resonateur et au moins une capacite cointegree dans une meme couche piezoelectrique ou ferroelectrique |
KR101712976B1 (ko) * | 2013-06-26 | 2017-03-22 | 인텔 아이피 코포레이션 | 벌크 음향파 공진기 튜너 회로 |
US20150358740A1 (en) * | 2014-06-04 | 2015-12-10 | Invensense, Inc. | Electrical tuning of parameters of piezoelectric actuated transducers |
US10312882B2 (en) * | 2015-07-22 | 2019-06-04 | Cindy X. Qiu | Tunable film bulk acoustic resonators and filters |
US10205436B2 (en) * | 2016-09-30 | 2019-02-12 | Qorvo Us, Inc. | High-voltage converter based tuning of acoustic filters |
US10263601B2 (en) * | 2016-10-31 | 2019-04-16 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | Tunable bulk acoustic resonator device with improved insertion loss |
FR3077161B1 (fr) * | 2018-01-22 | 2021-09-03 | Commissariat Energie Atomique | Transducteur acoustique piezoelectrique accordable |
US11063558B2 (en) * | 2018-08-28 | 2021-07-13 | Texas Instruments Incorporated | Direct-current tuning of bulk acoustic wave resonator devices |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4922893A (ja) * | 1972-06-20 | 1974-02-28 | ||
JPS5733888A (en) * | 1980-08-07 | 1982-02-24 | Nec Corp | Time division exchange system |
JPS60126907A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一応答複合圧電振動素子 |
JPS60187116A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜振動共振子の共振周波数調整方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5233259A (en) * | 1991-02-19 | 1993-08-03 | Westinghouse Electric Corp. | Lateral field FBAR |
-
1993
- 1993-12-13 US US08/166,338 patent/US5446306A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-11-15 JP JP28081794A patent/JP2872054B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4922893A (ja) * | 1972-06-20 | 1974-02-28 | ||
JPS5733888A (en) * | 1980-08-07 | 1982-02-24 | Nec Corp | Time division exchange system |
JPS60126907A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一応答複合圧電振動素子 |
JPS60187116A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜振動共振子の共振周波数調整方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003530750A (ja) * | 2000-04-06 | 2003-10-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 共振器を有するチューニング可能なフィルタ構成 |
WO2002101923A1 (fr) * | 2001-06-11 | 2002-12-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lame vibrante piezo-electrique et filtre utilisant cette derniere |
US6836055B2 (en) | 2001-06-11 | 2004-12-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Piezoelectric vibrator and filter using the same |
US7592739B2 (en) | 2002-02-13 | 2009-09-22 | Commissariat A L'energie Atomique | Tunable bulk acoustic wave MEMS micro-resonator |
JP2005528010A (ja) * | 2002-02-13 | 2005-09-15 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | 同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器 |
JP2007535883A (ja) * | 2004-06-30 | 2007-12-06 | インテル・コーポレーション | 温度ドリフトに対して周波数が安定性を有するfbarデバイス |
WO2008016075A1 (fr) * | 2006-08-03 | 2008-02-07 | Panasonic Corporation | Résonateur à films acoustiques variable en fréquence, filtre et appareil de communication utilisant celui-ci |
JPWO2008016075A1 (ja) * | 2006-08-03 | 2009-12-24 | パナソニック株式会社 | 周波数可変音響薄膜共振器、フィルタ、及びそれを用いた通信装置 |
JP4691163B2 (ja) * | 2006-08-03 | 2011-06-01 | パナソニック株式会社 | 周波数可変音響薄膜共振器、フィルタ、及びそれを用いた通信装置 |
US7986198B2 (en) | 2006-08-03 | 2011-07-26 | Panasonic Corporation | Frequency-variable acoustic thin film resonator, filter and communication apparatus using the same |
JP2011525045A (ja) * | 2008-06-18 | 2011-09-08 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | 圧電素子の共振周波数の調整方法 |
JP2012204870A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Toshiba Corp | 音響半導体装置 |
US8648431B2 (en) | 2011-03-23 | 2014-02-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Acoustic semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5446306A (en) | 1995-08-29 |
JP2872054B2 (ja) | 1999-03-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2872054B2 (ja) | 薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器 | |
US5023503A (en) | Super high frequency oscillator/resonator | |
US7511870B2 (en) | Highly tunable low-impedance capacitive micromechanical resonators, oscillators, and processes relating thereto | |
US20130234559A1 (en) | Piezoelectric resonator | |
JP2003298351A (ja) | 電圧制御発振器 | |
US6605849B1 (en) | MEMS analog frequency divider | |
US4176030A (en) | Method for forming a quartz crystal vibrator | |
US20070057734A1 (en) | Oscillatory circuit having two oscillators | |
US4336510A (en) | Oscillator with a feedback circuit employing a pre-polarized ceramic piezoelectric oscillating unit | |
KR860000750A (ko) | 신호 변환기 | |
US6741147B2 (en) | Method and apparatus for adjusting the resonant frequency of a thin film resonator | |
US6348846B1 (en) | Filter circuit including system for tuning resonant structures to change resonant frequencies thereof | |
CA1203860A (en) | Trapped energy resonator for oscillator and multiple resonator applications | |
US3432773A (en) | Emitter-follower oscillator employing ferroelectric ceramic feedback network | |
US3129346A (en) | Frequency and time control | |
US4326142A (en) | Piezoelectric resonators | |
JP2001016039A (ja) | 可変周波数発振回路 | |
US6448699B1 (en) | Octagonal electrode for crystals | |
US20090027132A1 (en) | Varactor Device with Reduced Temperature Dependence | |
WO2004038915A1 (en) | Tunable acoustic wave device | |
JPH0255407A (ja) | ストリップライン共振器の共振周波数の微調方式 | |
JPH08274541A (ja) | 温度補償型発振器 | |
Toda et al. | A Lamb wave frequency modulator with three interdigital transducers | |
JPS62258504A (ja) | マイクロ波発振器 | |
JPH0715238A (ja) | 電圧制御発振器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090108 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090108 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090108 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090108 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100108 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110108 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110108 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120108 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108 Year of fee payment: 14 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |