JPH07167954A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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JPH07167954A
JPH07167954A JP5342289A JP34228993A JPH07167954A JP H07167954 A JPH07167954 A JP H07167954A JP 5342289 A JP5342289 A JP 5342289A JP 34228993 A JP34228993 A JP 34228993A JP H07167954 A JPH07167954 A JP H07167954A
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JP
Japan
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signal
time
light
measured
emitted
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JP5342289A
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Inventor
Hisashi Yoshida
久 吉田
Yasuhiro Ito
保博 伊東
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 受信電気信号のSTC機能による利得変化に
伴う位相変化を減少させ、高い測距精度の距離測定装置
を提供する。 【構成】 放射され測定対象物で反射した光パルスは、
光電子増倍素子7によって受光され、受信信号増幅回路
部9の受信信号増幅率と、光電子増倍素子7のバイアス
電圧とが光パルスがタイミング制御部2からの信号によ
り、放射されてからの時間の関数に従って変化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、距離測定装置に関する
ものである。更に詳しくは測距対象物に対して光パルス
を射出し、測距対象物からの反射光を受光するまでの光
パルスの往復時間を計測することにより測距対象物まで
の距離を測定する距離測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、種々の分野で安全性の向上や自動
化を目的として、移動物体に測距装置を搭載して距離情
報を得る要求が増大している。例えば、ロボットや自動
車や電車に測距装置を搭載してこれらの移動物体の衝突
を防止したり、又は工場内で使用される搬送車に測距装
置を搭載して搬送車の停止位置を制御することに用いら
れている。このような距離測定装置としては、レーザ光
源から光パルスを測定対象物へ射出し、測定対象物によ
って反射した光パルスを受光し、測距対象物までの距離
を測定する装置が広く使用されている。これは短時間に
距離を測定できることから特に移動体等の衝突防止用セ
ンサとして使用されることが多い。
【0003】測定対象物の移動により測定距離が大きく
且つ急速に変化するのに対応して精度を維持する必要が
あり、従来より受信信号増幅回路部に利得制御機能を有
する光パルス受光装置が開示されている。これらは測定
対象物以外の不要物体、すなわち霧・雨・雪・煙・粉塵
当からの反射・散乱信号を計測しない目的で、レーザ光
パルスが発生する時刻(又は時間計測開始時刻)から、
時間の関数によって、受信信号増幅回路部に利得制御機
能を有する構成であった。ここで利得制御機能は、受信
信号増幅回路部に含まれる自動利得制御(AGC)回路
が使用されている。一般に広く使用されている利得制御
方法にはSTC(SensitivityTime C
ontrol)がある。これは近距離(レーザ光パルス
が発生する時刻又は時間計測開始時刻から比較的短い時
間に相当する距離)からの強い反射信号に対しては受信
感度を抑制し、遠距離(レーザ光パルスが発生する時刻
又は時間計測開始時刻から比較的長い時間に相当する距
離)になるに従って受信感度を上げていくようにしたも
のである。
【0004】図4に示すように、従来例においては、演
算制御部101からタイミング制御部102に指令信号
151が出力すると、タイミング制御部102はタイミ
ング信号152aを半導体レーザ駆動部103に出力
し、パルス信号153に駆動されて光源104からレー
ザ光パルスが発光する。レーザ光パルスは送信レンズ1
05を介して測定対象物(不図示)に向かって送信さ
れ、測定対象物で反射したレーザ光パルスは受光素子1
07に受信される。受光素子107はレーザ光パルスを
受信すると、光電変換し受信信号154を出力する。受
光素子107から出力した受信信号154は受信信号増
幅回路部109に入力し、増幅され、アナログ受信信号
156が出力する。この際受信信号増幅回路部109に
入力するタイミング信号152cのSTC動作により利
得が増加させられる。次いでA/D変換器110にアナ
ログ受信信号156が入力すると、A/D変換器用基準
電圧発生部111から入力する基準電圧を基準としてA
/D変換されてディジタル受信信号160が出力する。
ディジタル受信信号160は受信信号記憶部112に出
力され、次いで演算制御部101で時間を算出し、更に
その時間から測定対象物までの距離を演算し、測定対象
物までの距離が表示部114に表示されるものであっ
た。
【0005】又例えば、特公平3−1626号公報に開
示された技術は、利得可変増幅手段を有し、その利得を
時間の関数として制御し、利得をスイッチで切り換える
ものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし従来の技術にお
いては、STC機能を受信信号増幅部のみが負担してい
た。このために、利得を変化させることにより測定対象
物からの受信レーザ光パルス信号による受信電気信号の
信号振幅が変化すると共に、その位相は振幅を大きくす
ると遅れる方向に変化してしまう。位相が変化すると受
信電気信号の位相変化に対応した時間計測に誤差が発生
する。時間計測に誤差が発生すると計測した時間に基づ
き演算される距離測定に誤差が発生する。このようにS
TC機能を受信信号増幅部のみが負担することにより発
生する測距値の誤差が避けられないという問題があっ
た。
【0007】本発明は上記の課題に鑑み、受信電気信号
のSTC機能による利得変化に伴う位相変化を減少さ
せ、高い測距精度の距離測定装置を提供することを目的
とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1に記載の本発明は、発光タイミング信号を出
力するタイミング制御手段と、前記発光タイミング信号
が入力したとき光パルスを放射する発光手段と、前記発
光手段から放射され測定対象物で反射した前記光パルス
を受光して受光信号を出力する光電素子を有する受光手
段と、可変増幅器を有し、可変な受信信号増幅率で前記
受光信号を増幅してアナログ受信信号を出力する受信信
号増幅手段と、参照電圧発生器を有し、設定された参照
電圧で前記アナログ受信信号をディジタル受信信号に変
換するA/D変換手段と、前記光パルスが放射されてか
らの時間を計測する計時手段と、前記計時手段が前記光
パルスが放射されてから受光するまでに計測した時間に
基づき測定対象物までの距離を演算する演算手段とを具
備し、前記可変増幅器は、前記計時手段が計測した前記
光パルスが放射されてからの時間の関数に従って前記受
信信号増幅率を変更して前記アナログ受信信号を増幅す
る距離測定装置において、前記光電素子を増倍率可変な
光電子増倍素子によって構成し、該光電子増倍素子のバ
イアス電圧を前記計時手段が計測した前記光パルスが放
射されてからの時間の関数に従って変化させたものであ
る。
【0009】前記参照電圧発生器は前記参照電圧を変更
可能な可変参照電圧発生器であり、前記A/D変換手段
は、前記可変参照電圧発生器が前記計時手段が計測した
前記光パルスが放射されてからの時間の関数に従って変
更した前記参照電圧を参照して前記アナログ受信信号を
前記ディジタル受信信号に変換することが望ましい。
【0010】又請求項3に記載の本発明は、発光タイミ
ング信号を 発光タイミング信号を出力するタイミング
制御手段と、前記発光タイミング信号が入力したとき光
パルスを放射する発光手段と、前記発光手段から放射さ
れ測定対象物で反射した前記光パルスを受光して受光信
号を出力する光電素子を有する受光手段と、可変増幅器
を有し、可変な受信信号増幅率で前記受光信号を増幅し
てアナログ受信信号を出力する受信信号増幅手段と、し
きい値発生手段を有し、前記アナログ受信信号を前記し
きい値発生手段が発生するしきい値と比較する比較手段
と、前記光パルスが放射されてから、前記アナログ受信
信号が前記しきい値を超えるまでの時間を計測する計時
手段と、前記計時手段が前記光パルスが放射されてから
受光するまでに計測した時間に基づき測定対象物までの
距離を演算する演算手段とを具備し、前記可変増幅器
は、前記計時手段が計測した前記光パルスが放射されて
からの時間の関数に従って前記受信信号増幅率を変更し
て前記アナログ受信信号を増幅する距離測定装置におい
て、前記光電素子を増倍率可変な光電子増倍素子によっ
て構成し、該光電子増倍素子のバイアス電圧を前記計時
手段が計測した前記光パルスが放射されてからの時間の
関数に従って変化させたものである。
【0011】前記しきい値発生手段は、前記しきい値を
変更可能な可変しきい値発生手段であり、前記比較手段
は、前記可変しきい値発生手段が前記計時手段が計測し
た前記光パルスが放射されてからの時間の関数に従って
変更した前記しきい値と前記アナログ受信信号とを比較
することが好ましい。
【0012】
【作用】請求項1に記載の発明では、放射され測定対象
物で反射した光パルスは、光電子増倍素子によって受光
され、受信信号増幅手段の受信信号増幅率と、光電子増
倍素子のバイアス電圧とが光パルスが放射されてからの
時間の関数に従って変化する。請求項3に記載の発明で
は、A/D変換手段の参照電圧又は比較手段用のしきい
値が光パルスが放射されてからの時間の関数に従って変
化する。
【0013】
【実施例】本発明の一実施例を図1により説明する。演
算制御部1はタイミング制御部2に指令信号51を出力
するCPUである。タイミング制御部2は指令信号51
が入力するとタイミング信号52(52a、52b、5
2c、52d、52e、52f)を出力し、又サンプリ
ングクロック信号58を出力する回路である。半導体レ
ーザ駆動部3はタイミング信号52aを受けて、パルス
信号53を出力し、光源4はパルス信号53に駆動され
てレーザ光パルスを発光する半導体レーザである。
【0014】送信レンズ5はレーザ光パルスを所定のビ
ーム拡がり角で測定対象物(不図示)に向けて送信する
光学系、受信レンズ6は測定対象物(不図示)で反射し
たレーザ光パルスを集光し受信する光学系、受光素子7
は受信したレーザ光パルスを印加されたバイアス電圧に
よる増幅率で光電変換し、受信信号54を出力するAP
D(アバランシェ・フォト・ダイオード)である。AP
Dバイアス回路8はタイミング信号52bを受け、受光
素子7にタイミング信号52bにより可変のバイアス電
圧を印加して増倍率を可変にするためのバイアス電圧信
号55を出力する回路である。
【0015】受信信号増幅回路部9は受信信号54を受
け、これをタイミング信号52cにより可変の増幅率で
増幅し、利得を増加させてアナログ受信信号56を出力
する回路、A/D変換器10は入力するアナログ受信信
号56を、タイミング信号52dにより可変な基準電圧
信号57を出力するA/D変換器用基準電圧発生部11
から出力する基準電圧信号57を受けて設定された基準
電圧を基準としてディジタル受信信号60を受信信号記
憶部12に出力する回路である。
【0016】受信信号記憶部12はディジタル受信信号
60を受けて、受信信号レベルデータとして記憶する回
路、ゲート回路13はタイミング制御部2から出力する
サンプリングクロック信号58が入力し、タイミング信
号52eが入力した瞬間に、A/D変換器10及び受信
信号記憶部12にサンプリングクロック信号59(59
a、59b)を出力する回路である。演算制御部1は、
タイミング信号52fが入力した後、順次受信信号記憶
部12から受信信号レベルデータ信号61を受けて受信
信号レベルがピークを示すメモリアドレス(=光走行時
間)から距離を演算し、距離データ信号62を表示部1
4に出力する。表示部14は距離データを表示する表示
器である。
【0017】次に基本測距動作について図3を参照して
説明する。演算制御部1からタイミング制御部2に指令
信号51が出力すると、タイミング制御部2は図3
(a)に立ち上がりエッジとして示したタイミング信号
52aを半導体レーザ駆動部3に出力し、パルス信号5
3が駆動されて光源4からレーザ光パルスが発光する
(図3(b))。レーザ光パルスは送信レンズ5を介し
て測定対象物(不図示)に向かって送信される。測定対
象物(不図示)で反射したレーザ光パルスは受信レベル
6を通して受光素子7に受信される。受光素子7はレー
ザ光パルスを受信すると、APDバイアス回路8からの
バイアス電圧信号55に従ったバイアス電圧による増幅
率で光電変換し図3(c)に示す受信信号54を出力す
る。この際バイアス電圧信号55はAPDバイアス回路
8に入力するタイミング信号52bの後に詳述するST
C動作により変更され、バイアス電圧は図3(d)のよ
うにブレークダウン電圧に近付いている。
【0018】受光素子7から出力した受信信号54は受
信信号増幅回路部9に入力し、増幅され、アナログ受信
信号56が出力する。この際受信信号増幅回路部9の利
得は、タイミング信号52cが入力した時点から開始す
るSTC動作により図3(e)のように増加させられ
る。
【0019】次いでA/D変換器10にアナログ受信信
号56が入力すると、基準電圧を基準としてA/D変換
されてディジタル受信信号60が出力する。この際A/
D変換器用基準電圧発生部11にタイミング信号52d
が入力した時点から開始するSTC動作により基準電圧
は図3(f)に示すように時間経過に従って低下する。
【0020】ゲート回路13にはタイミング制御部2か
ら出力するサンプリングクロック信号58が常に入力し
ており、タイミング信号52eの入力によりゲートが開
く瞬間よりゲート回路13からサンプリングクロック信
号59a、59bがA/D変換器10及び受信信号記憶
部12に出力される。
【0021】A/D変換器10と受信信号記憶部12と
はそれぞれサンプリングクロック信号59a、59bを
受けて、それぞれA/D変換動作又は受信信号記憶動作
を開始する。なお受信信号記憶部12では、サンプリン
グクロック信号59bによってアドレスが順次更新され
る動作も同時に行われる。A/D変換器10はアナログ
受信信号56をサンプリングクロック信号59aが入力
した時点からサンプリングクロック周期でA/D変換し
てディジタル受信信号60を受信信号記憶部12に出力
する。受信信号記憶部12はディジタル受信信号60を
受けてサンプリングクロック信号59bが入力した時点
からサンプリングクロック周期でディジタル受信信号6
0を受信信号レベルとして記憶する。
【0022】ここでSTC動作について詳述する。タイ
ミング信号52aがタイミング制御部2から半導体レー
ザ駆動部3に出力する他に、APDバイアス回路8へタ
イミング信号52b、受信信号増幅回路部9へタイミン
グ信号52c、及びA/D変換器用基準電圧発生部11
へタイミング信号52dを出力する。そして、タイミン
グ信号52b、52c、52dがそれぞれに入力した時
刻から予め定められた時間特性を有するように、APD
バイアス回路8ではバイアス電圧信号55によってAP
Dのバイアス電圧をブレークダウン電圧に近づけて従っ
て光電変換の増幅率を増加させ、受信信号増幅回路部9
では増幅率を高めて利得を増加させ、A/D変換器用基
準電圧発生部11では基準電圧信号57によってA/D
変換器10の基準電圧を下げる(図3(d)、(e)、
(f))。従って小さいレベルの受信信号も高分解能で
検出できるようなSTC機能が動作する。このSTC機
能の動作で、予め定められた時間特性によって、次の
(a)及び(b)の両作用が同時に発生する。 (a)APDバイアス電圧をブレークダウン電圧に近づ
けることによって、APDの増倍率が大きくなり、従っ
てAPDの端子間容量が小さくなり、受信周波数帯域が
拡がり、受信信号の位相の遅れは小さくなる。 (b)受信信号増幅回路部9での利得を増加さることに
よって、受信信号の位相の遅れは大きくなる。 (a)と(b)の両者は位相に関する相反する事象であ
るから、両者により位相の変化は極めて小さく抑制さ
れ、位相の変化に伴い発生する受信信号伝達時間の変化
も極めて小さくなり、又は相殺される。
【0023】さて再び動作について説明する。タイミン
グ制御部2で予め定められた時間が経過すると、タイミ
ング制御部2から図3(a)の立ち下がりエッジとして
示したタイミング信号52′が出力し、信号52e′に
よりゲート回路13が閉じ(図3(g))、ゲート回路
13からはサンプリングクロック信号59の出力は停止
し、A/D変換器10でのA/D変換動作及び受信信号
記憶部12での記憶動作は終了する。
【0024】一方、このタイミング信号52′の出力に
より、信号52b′でAPDバイアス電圧をブレークダ
ウン電圧に近づける動作、信号52c′で受信信号増幅
回路部9での利得を増加さる動作、信号52d′でA/
D変換器用基準電圧発生部11でのA/D変換器10の
基準電圧を下げる動作、即ち一連のSTC機能動作が終
了する。なお、今回のタイミング信号52′の出力によ
る信号52a′は半導体レーザ駆動部3に何の影響もな
い。
【0025】又演算制御部1はタイミング信号52fの
出力による信号52f′を受けて、受信信号記憶部12
からサンプリングクロック信号59をトリガとして記憶
された一連の受信信号レベルデータとそのアドレスを受
信信号レベル信号61として受け、受け取った受信信号
レベルデータから測定対象物を判断し、又判断された受
信信号レベルデータを与えるアドレスから時間を算出
し、更にその時間から測定対象物までの距離を演算す
る。
【0026】演算制御部1は演算された距離を距離デー
タ信号62として表示部14に出力する。表示部14は
測定対象物までの距離を表示する。以下、上記の一連の
動作を一定周期ごとに繰り返す。
【0027】上述した基本測距動作において、受信信号
の伝達時間の変化が極めて小さくなるため、受信信号記
憶部12で記憶された受信信号波形データとそのアドレ
スから算出された時間の正確さが増大し、高精度の距離
測定が可能となる。
【0028】尚、本実施例においてA/D変換器用基準
電圧発生部11から出力する基準電圧を固定しても、受
信信号増幅回路部9から出力するアナログ受信信号56
と、受光素子7から出力する受信信号54の両者がタイ
ミング信号52b、52cにより変更されるので問題な
い。
【0029】次に本発明の他の実施例を図2により説明
する。一実施例と同一又は類似の点の説明は詳述を省略
する。演算制御部1は時間計測回路部21に指令信号5
1を出力するCPUである。時間計測回路部21は指令
信号51が入力するとタイミング信号52(52a、5
2b、52c、52g)を出力する回路である。半導体
レーザ駆動部3はタイミング信号52aを受けて、パル
ス信号53を出力し、光源4はパルス信号53に駆動さ
れてレーザ光パルスを発光する半導体レーザである。
【0030】送信レンズ5はレーザ光パルスを所定ビー
ム拡がり角度で測定対象物(不図示)に向けて送信する
光学系、受信レンズ6は測定対象物(不図示)で反射し
たレーザ光パルスを集光し受信する光学系、受光素子7
は受信したレーザ光パルスを印加されたバイアス電圧に
よる増幅率で光電変換し、受信信号54を出力するAP
D(アバランシェ・フォト・ダイオード)である。AP
Dバイアス回路8はタイミング信号52bを受け、受光
素子7にタイミング信号52bにより可変のバイアス電
圧を印加して増倍率を可変にするためのバイアス電圧信
号55を出力する回路である。
【0031】受信信号増幅回路部9は、受信信号54を
受け、これをタイミング信号52cにより可変の増幅率
で増幅し、利得を増加させてアナログ受信信号56を出
力する回路である。
【0032】比較器22は入力するアナログ受信信号5
6を、タイミング信号52gにより可変なしきい値信号
71を出力する比較器用しきい値発生部23から出力す
るしきい値信号71を受けて、設定されたしきい値と比
較して其を超える入力があったとき受信信号検知信号7
2を時間計測回路部21に出力する回路である。時間計
測回路部21は受信信号検知信号72を受けて、時間を
計測し、得られた時間データを時間データ信号73とし
て演算制御部1に出力する回路、演算制御部1は時間デ
ータ信号73を受けて距離を演算し、距離データ信号6
2を表示部14に出力する。表示部14は距離データを
表示する表示器である。
【0033】次に基本測距動作について説明する。演算
制御部1から時間計測回路部21に指令信号51が入力
するとタイミング信号52aが半導体レーザ駆動部3に
出力し、パルス信号53が駆動されて光源4からレーザ
光パルスが発光する。レーザ光パルスは送信レンズ5を
介して測定対象物(不図示)に向かって送信される。
【0034】測定対象物(不図示)で反射したレーザ光
パルスは受信レンズ6を通して受光素子7に受信され
る。受光素子7はレーザ光パルスを受信すると、APD
バイアス回路8からのバイアス電圧信号55に従ったバ
イアス電圧による増幅率でで光電変換し受信信号54を
出力する。この際バイアス電圧信号55はAPDバイア
ス回路8に入力するタイミング信号52bの後に詳述す
るSTC動作により変更され、バイアス電圧はブレーク
ダウン電圧に近づくように変化する(図3(d))。
【0035】受光素子7から出力した受信信号54は受
信信号増幅回路部9に入力し、増幅され、アナログ受信
信号56が出力する。この際受信信号増幅回路部9に入
力するタイミング信号52cのSTC動作により利得が
増加させられる(図3(e)。
【0036】次いで比較器22にアナログ受信信号56
が入力すると、比較器用しきい値発生部23からのしき
い値信号71により設定されたしきい値と比較して、ア
ナログ受信信号56が初めてしきい値信号71を超えた
とき受信信号検知信号72を出力する。この際比較器用
しきい値発生部23に入力するタイミング信号52gの
STC動作によりしきい値は引き下げられる(図3
(h)。
【0037】タイミング信号52aの出力と同時に受信
信号検知信号72は時間計測回路部21に入力可能とな
り、時間計測が開始される。得られた時間データは時間
データ信号73として演算制御部1に入力し、演算制御
部1で距離が演算され、距離データが表示部14に表示
される。
【0038】ここでSTC動作について詳述する。タイ
ミング信号52aがタイミング制御部2から半導体レー
ザ駆動部3に出力する他に、APDバイアス回路8へタ
イミング信号52b、受信信号増幅回路部9へタイミン
グ信号52c及び比較器用しきい値発生部23へタイミ
ング信号52gを出力する。そして、タイミング信号5
2b、52c、52dがそれぞれに入力した時刻から予
め定められた時間特性を有するように、APDバイアス
回路8ではバイアス電圧信号55によってAPDのバイ
アス電圧をブレークダウン電圧に近づけ、従って光電変
換の増幅率を増加させ、受信信号増幅回路部9では増幅
率を高めて利得を増加させ、比較器用しきい値発生部2
3ではしきい値信号71によってしきい値を下げる(図
3(d)、(e)、(h))。したがって、小さいレン
ズの受信信号でも検知できるようなSTC機能が動作す
る。このSTC機能の動作で、APDのバイアス電圧を
ブレークダウン電圧に近づけ、且つ受信信号増幅回路部
9では増幅率を高めて利得を増加させることにより、位
相の変化に伴い発生する受信信号伝達時間の変化も極め
て小さくなり、又は相殺される。
【0039】さて再び動作について説明する。タイミン
グ制御部2で予め定められた時間が経過すると、タイミ
ング制御部2からタイミング信号52b′、52c′、
52g′が出力し、APDバイアス電圧をブレークダウ
ン電圧に近づける動作、受信信号増幅回路部9での利得
を増加さる動作、比較器用しきい値発生部23でのしき
い値を下げる動作、即ち一連のSTC機能動作が終了す
る。なお、今回のタイミング信号52b′、52c′、
52g′の出力は半導体レーザ駆動部3に何の影響もな
い。
【0040】又演算制御部1は指令信号51を出力する
時点から時間データ信号73の入力を待つ状態となり、
時間データ信号73の入力により、その時間から測定対
象物までの距離を演算する。以下、上記の一連の動作を
一定周期ごとに繰り返す。
【0041】上述した基本測距動作において、受信信号
の伝達時間の変化が極めて小さくなるため、時間計測回
路部21で計測された時間の正確さが増大し、高精度の
距離測定が可能となる。
【0042】尚、本実施例において比較器用しきい値発
生部23から出力するしきい値を固定しても、受信信号
増幅回路部9から出力するアナログ受信信号56と、受
光素子7から出力する受信信号54の両者がタイミング
信号52b、52cにより変更されるので問題ない。
【0043】
【発明の効果】本発明の距離測定装置により、放射され
測定対象物で反射した光パルスは、光電子増倍素子によ
って受光され、受信信号増幅手段の受信信号増幅率と、
光電子増倍素子のバイアス電圧による増幅率と、併せ
て、A/D変換手段の参照電圧又は比較手段用のしきい
値のいずれかが光パルスが放射されてからの時間の関数
に従ってSTC動作により変更される。受信信号増幅手
段の受信信号増幅率の変更による位相の変化と、光電子
増倍素子のバイアス電圧の変更による位相の変化とが互
いに反対の方向の変化であり、合成した位相の変化は減
少し、又は相殺されることにより、受信電気信号のST
C機能による利得変化に伴う位相変化は減少し、高い測
距精度の距離測定装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図。
【図2】本発明の他の実施例のブロック図。
【図3】本発明の各実施例における動作のタイムチャー
ト。
【図4】従来例のブロック図。
【符号の説明】
1・・・・演算制御部 2・・・・タイミング制御部 3・・・・半導体レーザ駆動部 4・・・・光源 5・・・・送信レンズ 6・・・・受信レンズ 7・・・・受光素子 8・・・・APDバイアス回路 9・・・・受信信号増幅回路部 10・・・・A/D変換器 11・・・・A/D変換器用基準電圧発生部 12・・・・受信信号記憶部 13・・・・ゲート回路 14・・・・表示部 22・・・・比較器 23・・・・比較器用しきい値発生部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】発光タイミング信号を出力するタイミング
    制御手段と、前記発光タイミング信号が入力したとき光
    パルスを放射する発光手段と、前記発光手段から放射さ
    れ測定対象物で反射した前記光パルスを受光して受光信
    号を出力する光電素子を有する受光手段と、可変増幅器
    を有し、可変な受信信号増幅率で前記受光信号を増幅し
    てアナログ受信信号を出力する受信信号増幅手段と、参
    照電圧発生器を有し、設定された参照電圧で前記アナロ
    グ受信信号をディジタル受信信号に変換するA/D変換
    手段と、前記光パルスが放射されてからの時間を計測す
    る計時手段と、前記計時手段が前記光パルスが放射され
    てから受光するまでに計測した時間に基づき測定対象物
    までの距離を演算する演算手段とを具備し、前記可変増
    幅器は、前記計時手段が計測した前記光パルスが放射さ
    れてからの時間の関数に従って前記受信信号増幅率を変
    更して前記アナログ受信信号を増幅する距離測定装置に
    おいて、前記光電素子を増倍率可変な光電子増倍素子に
    よって構成し、該光電子増倍素子のバイアス電圧を前記
    計時手段が計測した前記光パルスが放射されてからの時
    間の関数に従って変化させたことを特徴とする距離測定
    装置。
  2. 【請求項2】前記参照電圧発生器は前記参照電圧を変更
    可能な可変参照電圧発生器であり、前記A/D変換手段
    は、前記可変参照電圧発生器が前記計時手段が計測した
    前記光パルスが放射されてからの時間の関数に従って変
    更した前記参照電圧を参照して前記アナログ受信信号を
    前記ディジタル受信信号に変換することを特徴とする請
    求項1に記載の距離測定装置。
  3. 【請求項3】発光タイミング信号を出力するタイミング
    制御手段と、前記発光タイミング信号が入力したとき光
    パルスを放射する発光手段と、前記発光手段から放射さ
    れ測定対象物で反射した前記光パルスを受光して受光信
    号を出力する光電素子を有する受光手段と、可変増幅器
    を有し、可変な受信信号増幅率で前記受光信号を増幅し
    てアナログ受信信号を出力する受信信号増幅手段と、し
    きい値発生手段を有し、前記アナログ受信信号を前記し
    きい値発生手段が発生するしきい値と比較する比較手段
    と、前記光パルスが放射されてから、前記アナログ受信
    信号が前記しきい値を超えるまでの時間を計測する計時
    手段と、前記計時手段が前記光パルスが放射されてから
    受光するまでに計測した時間に基づき測定対象物までの
    距離を演算する演算手段とを具備し、前記可変増幅器
    は、前記計時手段が計測した前記光パルスが放射されて
    からの時間の関数に従って前記受信信号増幅率を変更し
    て前記アナログ受信信号を増幅する距離測定装置におい
    て、前記光電素子を増倍率可変な光電子増倍素子によっ
    て構成し、該光電子増倍素子のバイアス電圧を前記計時
    手段が計測した前記光パルスが放射されてからの時間の
    関数に従って変化させたことを特徴とする距離測定装
    置。
  4. 【請求項4】前記しきい値発生手段は、前記しきい値を
    変更可能な可変しきい値発生手段であり、前記比較手段
    は、前記可変しきい値発生手段が前記計時手段が計測し
    た前記光パルスが放射されてからの時間の関数に従って
    変更した前記しきい値と前記アナログ受信信号とを比較
    することを特徴とする請求項3に記載の距離測定装置。
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