JPH07139931A - レーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置 - Google Patents

レーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置

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JPH07139931A
JPH07139931A JP29046593A JP29046593A JPH07139931A JP H07139931 A JPH07139931 A JP H07139931A JP 29046593 A JP29046593 A JP 29046593A JP 29046593 A JP29046593 A JP 29046593A JP H07139931 A JPH07139931 A JP H07139931A
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JP
Japan
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laser
light
sample
laser beam
objective lens
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Application number
JP29046593A
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English (en)
Inventor
Shinichi Hirako
進一 平子
Muneo Tokita
宗雄 時田
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 試料に照射するレーザ光の光量を試料面上の
走査範囲内の全ての位置で一様とするレーザ走査顕微鏡
のレーザ照射装置を提供することである。 【構成】 レーザ発振器1と、そのレーザ光量を調整す
る光量調整器2と、レーザビームを偏向するレーザビー
ム偏向部3と、レーザビームを分割するビームスプリッ
タ4と、走査レーザビームをスライドグラス7上の試料
8上に集光照射する、瞳5を有する対物レンズ6と、ビ
ームスプリッタ4で分割された光を通過させる開口9
と、開口9を通過した光を受ける光検出手段10と、光
検出手段10からの電気信号が入力される制御部11と
を備える。 【作用】 光検出手段10に入射する光量がレーザビー
ムの偏向走査中も一定となるように、制御部11により
光量調整器2のレーザビームの透過率が調整される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ走査顕微鏡のレ
ーザ照射装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装
置の一例を図3に示す。図3において、光源であるレー
ザ発振器50から放射したレーザビーム70は、光偏向
素子である音響光学偏向素子(AOD)51により、図
3では紙面に平行に偏向光ビーム71,72のように一
次元方向に偏向され、リレーレンズ52、波長選択ミラ
ー53、リレーレンズ54を順に透過し、ガルバノ式偏
向用ミラー55に入射する。偏向用ミラー55は、図3
に示す例では紙面に平行な軸について回転可能になって
いる。偏向用ミラー55で偏向されたレーザビームは、
リレーレンズ56で結像面L上に結像した後、対物レン
ズ59の瞳58を経て、対物レンズ59でスライドグラ
ス上の試料60に集光照射される。なお、試料60とし
ては、通常蛍光染色した細胞等が用いられる。
【0003】二次元レーザスポットで走査された、スラ
イドグラス上の試料60からの蛍光は、対物レンズ59
で集光され、レーザビームと同じ経路を進行し、リレー
レンズ54を透過した後、波長選択ミラー53で反射さ
れて、蛍光検出器61で電気信号に変換される。なお、
この例において、対物レンズ59の瞳58、偏向用ミラ
ー55及びAOD51の位置は互いに共役である。従っ
て、AOD51、偏向用ミラー55で偏向されたレーザ
ビームは常に対物レンズ59の瞳58に入射する構成と
なっている。又、この例では、レーザビームの二次元の
偏向走査に音響光学偏向素子(AOD)51とガルバノ
式偏向用ミラー55を用いているが、偏向素子としてA
OD、ガルバノ式偏向ミラー、ポリゴンミラー、レゾナ
ント式偏向ミラー、ホログラム式スキャナー等を用いて
二次元走査する形式のレーザ顕微鏡もある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のレーザ走査
顕微鏡のレーザ照射装置では、特に光偏向素子としてA
OD51を用いる場合、AOD51の特性としてレーザ
ビームの回折効率が偏向角によって変化するため、スラ
イドグラス上の試料60に照射されるレーザ強度が走査
位置により変化するという問題がある。
【0005】図4は従来例でのスライドグラス上のレー
ザスポット強度を示す図である。図4において、Z軸は
レーザスポットの光強度、X軸はAODによる走査方向
位置、Y軸はガルバノ式偏向ミラーによる走査方向位置
を示す。図4から分かるように、X軸上の位置aに比べ
て位置bのレーザスポット強度が強いため、X=b軸の
近くにある細胞からの蛍光強度は、X=a軸の近くの細
胞より強くなり、細胞の発する蛍光量を正確に測定する
ことができないという問題点がある。
【0006】従って、本発明は、上記問題点に鑑みなさ
れたもので、レーザ走査顕微鏡において試料に照射する
レーザ光の光量を試料面上の走査範囲内の全ての位置で
一様とするレーザ照射装置を提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置は、光
源であるレーザ発振器と、このレーザ発振器からのレー
ザを走査するレーザビーム偏向部と、走査レーザビーム
を試料に集光照射する対物レンズとを備えたレーザ走査
顕微鏡のレーザ照射装置において、前記対物レンズに入
射するレーザビームの一部を取り出す光分割手段と、こ
の光分割手段によって取り出されたレーザビームの強度
をモニタするための光検出手段と、この光検出手段によ
るモニタ結果に基づいて前記対物レンズに入射するレー
ザビームの強度を調整するレーザ光量調整手段とを備え
ることを特徴とする。
【0008】
【作用】このレーザ照射装置によると、対物レンズに入
射するレーザビームの一部が光分割手段により取り出さ
れ、この取り出されたレーザビームの強度を光検出手段
でモニタし、モニタ出力が一定となるようにレーザ光量
調整手段によって、光検出手段に入射するレーザビーム
の強度、即ち対物レンズに入射するレーザビームの強度
を調整することにより、試料面上のレーザ走査範囲内の
全ての位置でのレーザ強度が一定となる。このため、測
定精度が高くなり、正確な画像が得られる。
【0009】
【実施例】以下、本発明のレーザ照射装置を実施例に基
づいて説明する。図1に、本発明の装置の原理図を示
す。図1において、レーザ発振器1からのレーザビーム
15は、光量調整器2に入射し、その後にレーザビーム
偏向部3により結像面Lで二次元走査されるように偏向
される。更に、レーザビーム15は、ビームスプリッタ
(光分割手段)4で分割され、ビームスプリッタ4を透
過したレーザビームは、対物レンズ6の瞳5に入射し、
対物レンズ6でスライドグラス7上の試料8上に集光走
査される。
【0010】一方、ビームスプリッタ4で反射したレー
ザビームは、開口9を経て、光検出手段10で電気信号
に変換される。光検出手段10の出力信号は制御部11
に入力され、光検出手段10に入射する光量がレーザビ
ームの偏向走査中も一定となるように、制御部11によ
り光量調整器2のレーザビームの透過率が調整される。
但し、ここでは、光量調整器2と制御部11でレーザ光
量調整手段が構成される。
【0011】ここで、開口9は、対物レンズ6の瞳5と
等価な位置、即ち対物レンズ6の瞳5に入射するレーザ
ビームの瞳5の面上の強度分布が、開口9の面上の強度
分布と絶対強度を除いて同じ形状となる位置に配置され
ているため、試料8上を照射するレーザスポットの強度
も走査中一定となる。上記構成で、光源であるレーザ発
振器1としては、He−Neレーザ、Arレーザ等のガ
スレーザ、Ne−YAGレーザのような固体レーザ、或
いは色素レーザ、レーザダイオード等を適用できる。光
源として半導体レーザを用いた場合は、直接変調が可能
となり、専用の光量調整器2が不要となるので、装置の
構成が簡略となる。光量調整器2としては、音響光度調
素子(AOM)、電気光学変調素子(EOM)、液晶を
利用した光変調素子等を適用できる。レーザビーム偏向
部3としては、AOD、ポリゴンミラー、ガルバノ式ミ
ラー、ホログラフィック素子、レゾナント式ミラー等を
適用できる。
【0012】又、ビームスプリッタ4、即ち光分割手段
としては、プレートビームスプリッタ、キュービックプ
リズム式ビームスプリッタ、ペリクル等を適用できる。
光検出手段10としては、シリコンフォトダイオード、
アバランチフォトダイオード等の半導体光検出素子が安
価で望ましい。更に、図1においては、開口9の大きさ
は特に限定していないが、対物レンズ6の瞳5に入射す
るレーザビームの径が瞳5の大きさより大きい場合は、
開口9の大きさは対物レンズ6の瞳5の大きさと等価で
あることが望ましい。又、開口9と光検出手段10の検
出面とは、密着又はできるだけ接近していることが望ま
しい。
【0013】次に、図2を参照してより具体的な実施例
を説明する。但し、この実施例では、試料として蛍光染
色した細胞を用いる。図2において、レーザ発振器(こ
の実施例では空冷Arレーザ)20からのレーザビーム
47は、光量調整器としての音響光度調素子22を経
て、ビームエキスパンダー23に入射し、ビーム径が適
正な寸法に拡大される。更に、レーザビーム47は、シ
リンドリカルレンズ24、音響光偏向素子25、補正シ
リンドリカルレンズ26、シリンドリカルレンズ27、
及び球面レンズ28より構成される一次元偏向光学系に
より、図2の矢印m方向に集光且つ一次元走査される。
続いて、レーザビーム47は、波長選択ミラー29、リ
レーレンズ30を透過し、ガルバノ式偏向用ミラー31
に入射する。
【0014】偏向用ミラー31はガルバノメータ32に
連結されており、ガルバノメータ32の駆動により矢印
pの方向に回転可能である。偏向用ミラー31で偏向走
査されたレーザビームは、リレーレンズ33で結像面L
上に結像された後、ビームスプリッタ(この実施例では
プリズムビームスプリッタ)34に入射する。この実施
例では、ビームスプリッタ34は、これに入射するレー
ザビームの80%を透過するものである。ビームスプリ
ッタ34を透過したレーザビームの成分は、対物レンズ
36の瞳35に入射し、対物レンズ36でスライドグラ
ス37上の試料38上に集光走査される。
【0015】一方、ビームスプリッタ34で反射された
レーザビームは、開口39を経て、光減衰用フィルタ4
0で光量が減衰された後、光検出手段(この実施例では
シリコンフォトダイオード)41に入射し、電気信号に
変換される。シリコンフォトダイオード41の出力電気
信号は制御部42に入力される。この制御部42によ
り、音響光度調素子22のレーザビーム透過率が調節さ
れ、シリコンフォトダイオード41に入射する光量、即
ち試料38上に集光されるレーザスポットの強度が走査
中一定となるように制御される。この実施例では、レー
ザスポットは試料38を二次元走査している。
【0016】試料38の発する蛍光は対物レンズ36で
集光され、ビームスプリッタ34を透過した成分は、結
像面Lで結像した後、偏向用ミラー31で反射され、波
長選択ミラー29で蛍光成分が選択透過され、透過され
た蛍光成分が蛍光検出器43で電気信号に変換される。
この実施例では、蛍光成分は蛍光検出器43上を図2の
矢印n方向に一次元走査される。
【0017】蛍光検出器43からの出力電気信号は、デ
ータ処理装置(図示せず)のメモリにレーザスポットの
走査位置に対応して記憶され、データ処理後にCRT等
に蛍光画像として表示される。図2に示す構成におい
て、対物レンズ36の瞳35とガルバノ式偏向用ミラー
31は、リレーレンズ33について互いに共役な位置に
あり、また偏向用ミラー31と音響光偏向素子25も、
コリメートレンズ28,30について互いに共役な位置
にある。従って、音響光偏向素子25、ガルバノ式偏向
用ミラー31、対物レンズ36の瞳35を通るレーザビ
ームの位置は、レーザビームを走査しても不動である。
【0018】又、この実施例では、対物レンズ36で集
光した蛍光のうち、ビームスプリッタ34で反射した成
分は、試料38から反射したレーザビームをカットする
フィルタ44を透過し、接眼レンズ45に入射して、肉
眼で蛍光像を観察するのに供されている。勿論、蛍光像
は肉眼ではなく、TVカメラ等で観察してもよいし、ビ
ームスプリッタ34は波長選択性を有していても差し支
えない。
【0019】なお、上記実施例では、蛍光信号は蛍光検
出器43上を一次元走査されるが、蛍光検出器43の検
出面上に、一次元走査する蛍光信号のみを通過させるス
リットを設置して、一次元共焦点レーザ顕微鏡の構成と
する場合は、より高分解能の蛍光画像を得ることができ
る。
【0020】
【発明の効果】本発明のレーザ照射装置は、以上説明し
たように光分割手段、光検出手段及びレーザ光量調整手
段を備えるため、下記の効果を有する。 (1)試料に照射するレーザスポット強度が走査位置に
よらず一定となるため、蛍光染色した試料を観測する場
合、試料本来の強度分布の蛍光画像を得ることができ
る。 (2)試料の観察面上を等しいレーザスポット強度で走
査するため、試料の蛍光画像は試料本来の蛍光強度を正
確に反映している。従って、レーザ照射の不均一さを補
正するための標準サンプルの測定と蛍光画像取得後の補
正が不要になり、最終画像を得るまでの時間が短縮され
る。 (3)特に細胞の蛍光像から個々の細胞に含まれるDN
A量を求める等の試料の蛍光量を測定する場合は、精度
の高い測定結果を得ることができる。 (4)蛍光色素がレーザ励起強度に依存して退色した
り、蛍光強度がレーザ励起に対し飽和を示したりする場
合でも、レーザ照射強度が走査範囲内で一定であるの
で、試料の蛍光物質の分布を正確に反映した画像を得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザ照射装置の原理を説明するため
の図である。
【図2】一実施例に係るレーザ照射装置の構成図であ
る。
【図3】従来例に係るレーザ照射装置の構成図である。
【図4】従来のレーザ照射装置における試料上の走査レ
ーザスポットの強度分布を示す図である。
【符号の説明】
1 レーザ発振器 2 光量調整器 3 レーザビーム偏向部 4 ビームスプリッタ(光分割手段) 5 対物レンズの瞳 6 対物レンズ 8 試料 9 開口 10 光検出手段 11 制御部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源であるレーザ発振器と、このレーザ発
    振器からのレーザを走査するレーザビーム偏向部と、走
    査レーザビームを試料に集光照射する対物レンズとを備
    えたレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置において、 前記対物レンズに入射するレーザビームの一部を取り出
    す光分割手段と、この光分割手段によって取り出された
    レーザビームの強度をモニタするための光検出手段と、
    この光検出手段によるモニタ結果に基づいて前記対物レ
    ンズに入射するレーザビームの強度を調整するレーザ光
    量調整手段とを備えることを特徴とするレーザ走査顕微
    鏡のレーザ照射装置。
  2. 【請求項2】前記光分割手段は、前記レーザビーム偏向
    部と対物レンズの瞳との間に配置されていることを特徴
    とする請求項1記載のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装
    置。
  3. 【請求項3】前記対物レンズの瞳と等価な位置に開口を
    備え、この開口は前記光分割手段と光検出手段との間に
    配置されていることを特徴とする請求項1又は請求項2
    記載のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置。
JP29046593A 1993-11-19 1993-11-19 レーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置 Pending JPH07139931A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000029876A3 (de) * 1998-11-16 2001-01-04 Leica Microsystems Verfahren zum betrieb eines vorzugsweise konfokalen laser scanning mikroskops
JP2007025646A (ja) * 2005-06-13 2007-02-01 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡装置
JP2008175884A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Olympus Corp レーザ顕微鏡
JP2010066575A (ja) * 2008-09-11 2010-03-25 Yokogawa Electric Corp 共焦点光スキャナ
JP2012113188A (ja) * 2010-11-26 2012-06-14 Olympus Corp 光強度測定ユニット、及びそれを備えた顕微鏡

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