JPH07131173A - 電子機器 - Google Patents

電子機器

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JPH07131173A
JPH07131173A JP27208693A JP27208693A JPH07131173A JP H07131173 A JPH07131173 A JP H07131173A JP 27208693 A JP27208693 A JP 27208693A JP 27208693 A JP27208693 A JP 27208693A JP H07131173 A JPH07131173 A JP H07131173A
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JP
Japan
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electronic circuit
circuit module
seal
lip
air
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JP27208693A
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Inventor
Yoshiaki Takahashi
由明 高橋
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 シャーシ内部での冷却空気の漏洩を防止する
とともに、電子回路モジュールの着脱力を軽減すること
により、信頼性、整備性および放熱効果の優れた電子機
器を得る。 【構成】 電子回路モジュール1をシャーシ10内部に
収納した際、ガイドブロック21のガイド溝23に設け
られたシールラバー30の第1のリップ31および第2
のリップ32が、電子回路モジュール1の両端部26に
冠着したシールキャップ33の第1のスライド面34、
第2のスライド面35および突起部36に圧縮変形され
密接するようにしたものであり、シールラバー30とシ
ールキャップ33との接触面積、つまりシールラバー3
0が圧縮変形を受ける面積は非常に少なくなっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、シャーシに収納され
る多数のプリント基板に実装される電子回路部品を間接
的に冷却する電子機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子回路部品の冷却方法として、従来よ
り最も一般的な方法は冷却空気を直接電子回路部品に吹
き付ける直接冷却方式である。しかしながら近年、電子
回路部品の集積度の向上と実装密度の向上により発熱密
度が大幅に増加し、直接冷却方式では対応しきれなくな
ってきている。また一方では、電子機器の分野における
機能の分散化が進むにつれて、電子機器そのものを比較
的環境条件の悪い場所へも設置したいという気運が高ま
ってきている。すなわち、電子機器は従来のように、温
度、湿度、塵等が制御されている部屋に設置されるとは
限らないのである。このような場合、電子回路部品に直
接冷却空気を吹き付ける直接冷却方式は、電子機器の信
頼性上好ましい方法ではない。何故なら、冷却空気中に
浮遊しているほこり、塵、水分等が電子回路部品に付着
し、その付着した部品が腐食したり、絶縁破壊する恐れ
があるからである。
【0003】このように、電子機器に要求される信頼性
が高く、また電子回路部品の発熱密度が大きく、さらに
その設置される場所の環境条件が厳しい場合には、上記
のようなほこり、塵、水分等による信頼性の低下を防
ぎ、発熱密度の増加に対応できるためのものとして、冷
却空気を直接電子回路部品に吹き付けない放熱効果に優
れた、間接冷却方式の電子回路モジュールを実装した電
子機器が多く採用されている。
【0004】まず従来のこの種の電子機器について説明
する。図19は従来の電子機器を示す外観図、図20は
図19における断面AAを示す図、図21は図20にお
けるガイド部の部分詳細図、図22は図19における断
面BBを示す図、図23は図22におけるガイド部の部
分断面図である。図において、1は一般にはヒートデシ
ペータモジュールと称されている間接冷却方式でしかも
放熱効果に優れた電子回路モジュールであり、コネクタ
9と、アルミニウム合金等の熱伝導性の良い金属薄膜を
波状に成形した冷却フィン2の上下端にスペーサ3を設
け、上記冷却フィン2、スペーサ3の両面に、熱伝導性
の良いアルミニウム合金等の矩形金属薄板からなるスキ
ン4をロウ付けまたは接着により接合し、通風ダクト5
を成形した熱交換器6と、上記熱交換器6の両面に設け
られた電子回路部品7(例えばICまたはLSI)を実
装したプリント基板8とによって構成されている。10
は上記電子回路モジュール1を収納するための箱状のシ
ャーシで、上面には上記電子回路モジュール1を着脱す
るための開口部11を有し、背面には冷却空気12を上
記シャーシ10内部に取り込むための供給口13が設け
られている。14は上記供給口13を上記シャーシ10
の内側から覆うように設けた箱状の第1のエアープレナ
ム、15は上記シャーシ10の内側に上記第1のエアー
プレナム14と直角をなすように設けられた箱状の第2
のエアープレナムで、上記第1のエアープレナム14と
空気流路16を形成している。17は上記第2のエアー
プレナム15と相対するように上記シャーシ10の内側
に設けられた箱状の第3のエアープレナムである。また
上記第2のエアープレナム15および上記第3のエアー
プレナム17の向かい合った面には、それぞれ相対した
通気口18が設けられている。19はコネクタ座20を
有するマザーボードで、上記シャーシ10の下部に上記
第1のエアープレナム14、第2のエアープレナム15
および第3のエアープレナム17と直角をなすようにね
じ等により固定されている。21は上記通風口18を覆
うように上記第2のエアープレナム15および上記第3
のエアープレナム17に接着されたガイドブロックで、
上記シャーシ10の上記開口部11と直角をなすように
上記電子回路モジュール1の挿入方向と同一方向に形成
され、かつ上部を挿入口22とするガイド溝23と、中
央には上記通風口18から上記冷却空気12を取り込む
ための第1の空気取入口24が設けられている。25は
上記シャーシ10の上記開口部11を覆うためのカバー
で、上記シャーシ10に対し周辺部でねじ等により固定
されている。
【0005】ここで、上記電子回路モジュール1はその
両端部26が、シャーシ10の第2のエアープレナム1
5および第3のエアープレナム17に設けられているガ
イドブロック21のガイド溝23に沿って上記シャーシ
10内に挿入され、マザーボード19上のコネクタ座2
0と上記電子回路モジュール1のコネクタ9が係合する
ようになっている。さらにカバー12を取り外すことに
より上方(図19におけるC方向)に着脱することがで
きる。また上記シャーシ10に供給される冷却空気12
は、機体から外部ダクト27を介して供給口13から供
給され、第1のエアープレナム14と上記第2のエアー
プレナム15にて形成された空気流路16内を流れ、上
記第2のエアープレナム15に設けられた通風口18か
らガイドブロック21の第1の空気取入口24を通り、
上記電子回路モジュール1の通風ダクト5へと導かれ
る。この時、上記電子回路モジュール1の電子回路部品
7から発生する熱は、プリント基板8を介してスキン4
および冷却フィン2へと伝導された後、上記通風ダクト
5内を流れる上記冷却空気12に放熱される。暖められ
た上記冷却空気12は、上記第3のエアープレナム15
に設けられたガイドブロック21の第1の空気取入口2
4、通風口18を通り、最終的には上記シャーシ10に
設けられた排気口28から電子機器外部へと排出されて
いる。したがって、上記電子回路部品7には直接冷却空
気を吹き付けることなく上記電子回路部品7の冷却が可
能であり、さらに上記通風ダクト5内には上記冷却フィ
ン2が設けられていることから、上記冷却空気12によ
る放熱面積が大幅に増加し、上記電子回路モジュール1
の放熱効果を向上させている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の電
子機器においては次のような問題点があった。電子回路
モジュール1をシャーシ10から着脱する場合、上記シ
ャーシ10内部のガイドブロック21に設けられたガイ
ド溝23内を上記電子回路モジュール1の端部26がス
ライドする必要がある。このために上記ガイド溝23と
上記電子回路モジュール1の端部26との間には機械的
な隙間を設けなければならない。しかしながら、上記ガ
イド溝23と上記電子回路モジュール1の端部26との
間に隙間を設け上記電子回路モジュール1を上記シャー
シ10内部に収納した場合、上記ガイドブロック21の
第1の空気取入口24から上記電子回路モジュール1の
通風ダクト5に流れ込む冷却空気12が、この隙間から
上記シャーシ10内部に漏洩し上記通風ダクト5内に供
給される上記冷却空気12の流量が減少することにな
る。その結果として上記電子回路モジュール1の冷却効
率が低下してしまう問題点があった。さらに電子機器が
厳しい環境条件下に設置された場合には、上記シャーシ
10内部に上記冷却空気12が漏洩すると、電子回路部
品7に直接冷却空気を吹き付けることになり、上記冷却
空気12中に浮遊しているほこり、塵、水分等が上記電
子回路部品7に付着し、その付着した部分が腐食したり
絶縁破壊する恐れがある。また、上記電子回路モジュー
ル1の着脱の繰り返しおよび振動等によって発生する隙
間部でのがたつきにより、上記電子回路モジュール1の
端部26と上記ガイド溝23に機械的損傷が発生する問
題点があった。
【0007】一方、従来この種の電子機器の問題点を解
決するための一例として、ガイド溝23の内面にゴム系
材料からなるパッキン29を設ける方法があった。以下
それについて説明するが、説明の便宜上上記パッキン2
9に関することのみ記述することとしその他の構成につ
いては省略する。図24はパッキンを使用した従来の電
子機器を示す部分詳細図、図25は図24におけるガイ
ドブロックの詳細図である。図において、29はガイド
ブロック21に設けられているガイド溝23の内壁に周
設されたゴム系材料からなるパッキンである。このよう
に構成された電子機器においては、電子回路モジュール
1をシャーシ10内部に収納した際、上記パッキン29
を上記電子回路モジュール1の端部26が圧縮変形させ
密接することにより、上記電子回路モジュール1の端部
26と上記ガイド溝23の間に発生していた隙間がなく
なり、冷却空気12の上記シャーシ10内部への漏洩を
防止することができる。さらに上記電子回路モジュール
1の着脱の繰り返しおよび振動等によって発生する上記
電子回路モジュール1の端部26と上記ガイド溝23の
機械的損傷は上記パッキン29が緩衝材の機能を果たす
ことにより発生しなくなる。
【0008】しかし、上記のように構成された電子機器
においては、上記ガイド溝23の内周部は上記パッキン
29を上記電子回路モジュール1の端部26が圧縮変形
させ密接することにより上記冷却空気12の漏洩を防止
しているが、上記ガイド溝23の上部にある挿入口22
部分は、上記電子回路モジュール1の着脱方向が上記図
19に示すC方向であるため、上記パッキン29では上
記電子回路モジュール1の端部26と上記ガイド溝23
の間に発生する隙間をなくすことができず、その結果と
して上記挿入口22部に発生した隙間から上記冷却空気
12が上記シャーシ10内部へ漏洩することになる。ま
た、上記挿入口22部に発生する隙間からの上記冷却空
気12の漏洩は少量であり、従来の電子機器においては
電子回路部品の発熱密度および電子機器の設置場所の環
境条件から、この少量の冷却空気の漏洩は無視できるも
のであった。ところが、近年の電子回路部品の集積度の
向上と実装密度の向上による発熱密度の大幅な増加と、
電子機器の機能の分散化による厳しい環境条件下への設
置に対応するためには、この少量の冷却空気の漏洩が無
視できなくなってきている。
【0009】また、図26に示すようにパッキン29を
ガイド溝23の全内面部に設けた場合には、電子回路モ
ジュール1の端部26と上記ガイド溝23との間の隙間
は全方向でなくなり、冷却空気12のシャーシ10内部
への漏洩は防止できる。しかし、上記電子回路モジュー
ル1の端部26と上記パッキン29の接触面積が増加す
ることにより上記パッキン29を圧縮変形させる力がよ
り多く必要となる。その結果として上記電子回路モジュ
ール1の上記シャーシ10への着脱力が増加することに
なり電子機器の整備性低下をまねくばかりでなく、電子
回路モジュール着脱用専用工具が必要な場合すら発生し
かねない。
【0010】この発明は係る問題点を解決するためにな
されたもので、シャーシ内部での冷却空気の漏洩を防止
するとともに、電子回路モジュールの着脱力を軽減する
ことにより、信頼性、整備性および放熱効果の優れた電
子機器を得ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明に係る電子機器
の第1の実施例においては、電子回路モジュール挿入時
の案内に用いられるガイドブロックのガイド溝の内側
に、上記ガイド溝の内壁に周設され上記ガイド溝の内側
方向に突設した第1のリップと、上記第1のリップに連
結して上記ガイド溝の挿入口の内面を覆い、上記挿入口
の内周方向に突設した第2のリップを有するゴム系材料
からなるシールラバーを配し、さらに上記第1のリップ
の頂点が圧縮変形するように密接する第1のスライド面
を有し、かつ上記第2のリップの頂点が圧縮変形するよ
うに密接する第2のスライド面の中央には第2の空気取
入口を具備するとともに、上記第2のリップを形成して
いる斜面のうち電子回路モジュール挿入方向側の斜面が
圧縮変形するように密接する突起部を備えた箱状のシー
ルキャップを、上記電子回路モジュールの両端部に冠着
したものである。
【0012】また、この発明に係る電子機器の第2の実
施例においては、上記第1の実施例における手段を施し
た電子機器の上記シールラバーの第1のリップを、上記
電子回路モジュールの挿入方向に沿ってテーパー部を形
成するように設け、さらに上記シールキャップの第1の
スライド面を上記第1のリップのテーパー部に適合する
ように形成したものである。
【0013】また、この発明に係る電子機器の第3の実
施例においては、上記第1の実施例もしくは上記第2の
実施例における手段を施した電子機器の上記シールキャ
ップを、低摩擦係数材料(例えばポリテトラフルオロエ
チレン)にて成形したものである。
【0014】また、この発明に係る電子機器の第4の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第3の実施例
のいずれかにおける手段を施した電子機器の上記シール
キャップを、低熱膨張材料にて成形するとともに上記第
1、第2のスライド面および突起部の表面に、低摩擦係
数となるような処理(例えば、硬質陽極酸化皮膜の微視
孔等にポリテトラフルオロエチレンを含浸する)を施し
たものである。
【0015】また、この発明に係る電子機器の第5の実
施例においては、上記第1の実施例もしくは上記第2の
実施例における手段を施した電子機器の上記シールキャ
ップを、導電性材料にて成形し、かつ上記シールラバー
をEMIシールド材料にて成形したものである。
【0016】また、この発明に係る電子機器の第6の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第5の実施例
のいずれかにおける手段を施した電子機器の上記ガイド
ブロックに、上記ガイド溝の内外壁を貫通する複数個の
第1の接合穴を設け、さらに上記ガイド溝の挿入口を形
成する第1の空気取入口を有する面の上部に複数個の第
2の接合穴を備えるとともに、上記シールラバーに、上
記第1のリップに連結するとともに上記ガイドブロック
の第1の接合穴に充填され、かつ上記ガイド溝の内外壁
を包み込むように配した第1の保護部と、上記第1の保
護部および上記第2のリップに連結するとともに上記ガ
イドブロックの上記第2の接合穴に充填され、さらに上
記ガイド溝の挿入口縁部を包み込むように配した第2の
保護部を設けたものである。
【0017】また、この発明に係る電子機器の第7の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第6の実施例
のいずれかにおける手段を施した電子機器の上記ガイド
ブロックに、その外周に取付部を設け、さらに上記ガイ
ドブロックの上記第2、第3のエアープレナムと接する
側の面には、上記第1の空気取入口の外周を囲むように
設けたシール溝を有し、かつ上記シール溝にはゴム系材
料からなるひだ状の突起を有するガスクシールを配し、
上記取付部において取付ねじにて上記第2、第3のエア
ープレナムに取り付けたものである。
【0018】さらに、この発明に係る電子機器の第8の
実施例においては、上記第1の実施例〜上記第7の実施
例のいずれかにおける手段を施した電子機器の上記電子
回路モジュールを形成する熱交換器を、制振合金材料に
て成形したものである。
【0019】
【作用】この発明に係る電子機器の第1の実施例におい
ては、電子回路モジュールをシャーシ内部に収納した
際、ガイドブロックのガイド溝に設けられたシールラバ
ーの第1、第2のリップが、電子回路モジュールの両端
部に冠着したシールキャップの第1、第2のスライド面
および突起部に圧縮変形され密接することにより、ガイ
ド溝における冷却空気のシャーシ内部への漏洩が防止で
きる。また電子回路モジュールのシャーシへの着脱時に
おいては、シールラバーとシールキャップとの接触面
積、つまりシールラバーが圧縮変形を受ける面積が非常
に少ないことから電子回路モジュールの着脱力が軽減で
きる。さらに電子回路モジュールの端部とガイド溝に発
生する機械的損傷はシールラバーが緩衝材の機能を果た
すことにより発生しなくなる。
【0020】また、この発明に係る電子機器の第2の実
施例においては、上記第1の実施例の構成に対してさら
に改善が施されている。すなわち、シールラバーの第1
のリップとシールキャップの第1のスライド面を、電子
回路モジュールの挿入方向に沿って狭まるテーパー部に
形成することにより、シールラバーを圧縮変形させる力
を電子回路モジュールの挿入初期時および抜脱後期には
なくすことができ、電子回路モジュールの着脱力をさら
に軽減できる。
【0021】また、この発明に係る電子機器の第3の実
施例においては、上記第1の実施例もしくは上記第2の
実施例の構成に対してさらに改善が施されている。すな
わち、シールキャップを低摩擦係数材料(例えばポリテ
トラフルオロエチレン)にて成形することにより、シー
ルラバーとシールキャップの接触面における摩擦抵抗を
低減することができ、電子回路モジュールの着脱力をさ
らに軽減できる。
【0022】また、この発明に係る電子機器の第4の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第3の実施例
のいずれかにおける構成に対しさらに改善が施されてい
る。すなわち、シールキャップを低熱膨張材料にて成形
するとともに、シールキャップの第1、第2のスライド
面および突起部の表面に、低摩擦係数となるような処理
(例えば、硬質陽極酸化皮膜の微視孔等にポリテトラフ
ルオロエチレンを含浸する)を施すことにより、シール
ラバーとシールキャップの接触面における摩擦抵抗を低
減することができ、電子回路モジュールの着脱力をさら
に軽減できる。さらに、電子回路モジュールに実装され
ている電子回路部品の修理、交換時における電子回路部
品の接着環境温度(120℃〜150℃)およびハンダ
付け環境温度(200℃〜230℃)等の高温環境に対
して、シールキャップの熱変形を防止することができ
る。
【0023】また、この発明に係る電子機器の第5の実
施例においては、上記第1の実施例もしくは上記第2の
実施例の構成に対しさらに改善が施されている。すなわ
ち、シールキャップを導電性材料にて成形し、かつ上記
シールラバーをEMIシールド材料にて成形することに
より、シールキャップとシールラバーとの接触部におけ
る電気的導通が得られ、電磁的な隙間がなくなり電磁エ
ネルギーの侵入や放射を防止することができる。
【0024】また、この発明に係る電子機器の第6の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第5の実施例
のいずれかにおける構成に対しさらに改善が施されてい
る。すなわち、ガイドブロックのガイド溝部に設けた複
数個の第1、第2の接合穴を充填するとともにガイド溝
部の内外壁および挿入口縁部を覆う、第1、第2の保護
部をシールラバーに設けることにより、電子回路モジュ
ールの着脱を繰り返すことによって発生する、シールラ
バーのガイド溝部からの剥離を防止することができる。
【0025】また、この発明に係る電子機器の第7の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第6の実施例
のいずれかにおける構成に対しさらに改善が施されてい
る。すなわち、ガイドブロックの第2、第3のエアープ
レナムと接する側の面にガスクシールを設け、さらにガ
イドブロックの外周に取付部を設けることにより、ガイ
ドブロックは取付ねじによる着脱が可能となり、シール
ラバーの損傷等によるガイドブロックの交換作業が容易
に行える。さらに、ガイドブロックの交換作業が容易に
おこなえることから、ガイドブロックに設けられている
第1の空気取入口の開口寸法を、電子回路モジュールの
発熱量の大小に応じて変化させたガイドブロックを使用
することにより、電子回路モジュールに供給される冷却
空気の流量を調整することができる。
【0026】また、この発明に係る電子機器の第8の実
施例においては、上記第1の実施例〜上記第7の実施例
のいずれかにおける構成に対しさらに改善が施されてい
る。すなわち、電子回路モジュールの熱交換器をアルミ
−亜鉛合金等の内部摩擦の大きい特性を有する制振合金
材料にて成形することにより、電子回路モジュールの共
振周波数における応答倍率が小さくなり、電子回路モジ
ュールに実装されている電子回路部品にかかる振動スト
レスを低下させることができる。
【0027】
【実施例】実施例1.図1〜図7はこの発明に係る電子
機器の第1の実施例を示すものであり、図1は外観図、
図2は図1における断面DDを示す図、図3は図2にお
けるガイド部の部分詳細図、図4は図2における断面E
Eを示す図、図5は図4におけるガイド部の部分断面
図、図6はガイドブロックの詳細図、図7はシールキャ
ップの詳細図であり、図において1〜20,22〜28
は従来の電子機器と同一のものである。30はガイドブ
ロック21のガイド溝23の内側に配したゴム系材料か
らなるシールラバーで、上記ガイド溝23の内壁に周設
され上記ガイド溝23の内側方向に突設した第1のリッ
プ31と、上記第1のリップ31に連結して上記ガイド
溝23の挿入口22内面を覆い、上記挿入口22の内周
方向に突設した第2のリップ32を有している。33は
電子回路モジュール1の両端部26に冠着された箱状の
シールキャップで、上記シールラバー30の上記第1の
リップ31の頂点が圧縮変形するように密接する第1の
スライド面34と、上記第2のリップ32の頂点が圧縮
変形するように密接する第2のスライド面35と、上記
第2のリップ32を形成している斜面のうち、上記電子
回路モジュール1の挿入方向側の斜面が圧縮変形するよ
うに密接する突起部37を有し、さらに上記第2のスラ
イド面35の中央には、上記ガイドブロック21の第1
の空気取入口24から冷却空気12を取り込むための第
2の空気取入口37が設けられている。
【0028】上記のように構成された電子機器において
は、電子回路モジュール1をシャーシ10内部に収納し
た際、上記電子回路モジュール1の両端部26に冠着さ
れているシールキャップ33の第1のスライド面34
が、ガイドブロック21のガイド溝23に設けられたシ
ールラバー30の第1のリップ31の頂点を圧縮変形さ
せ密接することにより、上記ガイド溝23の内周部に発
生していた上記電子回路モジュール1の端部26との隙
間をなくしている。さらに上記シールキャップ33の第
2のスライド面35が上記シールラバー30の第2のリ
ップ32の頂点を、上記シールキャップ33の突起部3
6が上記シールラバー30の第2のリップ32を形成す
る斜面のうち上記電子回路モジュール1挿入方向側の斜
面を圧縮変形させ密接することにより、上記ガイド溝2
3の挿入口22部分に発生していた上記電子回路モジュ
ール1の端部26との隙間をなくしている。したがって
上記電子回路モジュール1の端部26と上記ガイド溝と
の隙間は全方向でなくなり、上記ガイドブロック21の
第1の空気取入口24から供給される上記冷却空気12
は、上記ガイド溝23部でシャーシ10内部へ漏洩する
ことなく上記シールキャップ33の第2のスライド面3
5に設けられた第2の空気取入口37を通り、上記電子
回路モジュール1の通風ダクト5に流れる。
【0029】また上記電子回路モジュール1の上記シャ
ーシ10への着脱時において、上記シールキャップ33
の第1のスライド面34、第2のスライド面35および
突起部36と上記シールラバー30が接触する部分は、
上記第1のリップ31および上記第2のリップ32の頂
点と上記第2のリップ32の片斜面であることからその
接触面積は非常に少なくなる。つまり上記シールラバー
30が上記シールキャップ33によって圧縮変形を受け
る面積が非常に少なくてすむことになり、上記電子回路
モジュール1の着脱力が軽減され上記シャーシ10への
着脱を容易に行える。さらに、上記シールラバー30が
ゴム系材料から形成されていることから上記シールラバ
ー30の第1のリップ31が緩衝材の機能を有すること
になり、上記電子回路モジュール1の着脱の繰り返しお
よび振動等により発生していた、上記電子回路モジュー
ル1の端部26と上記ガイド溝との隙間部でのがたつき
による機械的損傷は発生しなくなる。
【0030】実施例2.図8、図9は上記実施例1をさ
らに改善した第2の実施例を示す部分詳細図で、図8は
ガイドブロックの詳細図、図9はシールキャップの詳細
図であり、上記ガイドブロック21のガイド溝23の内
壁に周設された上記シールラバー30の第1のリップ3
1が、上記電子回路モジュール1の挿入方向に沿って狭
まるテーパー部38をなすように形成され、さらに上記
電子回路モジュール1の両端部26に冠着された上記シ
ールキャップ33の第1のスライド面34は上記テーパ
ー部38に適合するように形成されている。このような
実施態様によれば、上記電子回路モジュール1の上記シ
ャーシ10への着脱時において上記電子回路モジュール
1の挿入初期および抜脱後期には、上記シールキャップ
33の第1のスライド面34と上記シールラバー30の
第1のリップ31の頂点が上記テーパー部38により接
触しなくなり、その結果上記シールキャップ33の第1
のスライド面34が上記シールラバー30の第1のリッ
プ31の頂点を圧縮変形させるための力が発生しなくな
る。したがって上記電子回路モジュール1の着脱力がさ
らに軽減され上記シャーシ10への着脱を容易に行え
る。
【0031】実施例3.本実施例は、上記実施例1もし
くは上記実施例2をさらに改善した第3の実施例を示す
ものであり、上記電子回路モジュール1の両端部26に
冠着されている、上記シールキャップ33を低摩擦係数
材料にて成形したものである。ここで、上記電子回路モ
ジュール1の上記シャーシ10内部への着脱時におい
て、上記シールキャップ33と上記シールラバー30の
接触面にはすべり摩擦が発生している。この接触面に発
生する摩擦抵抗は接触面で押し合う力(シールラバーの
第1、第2のリップを圧縮変形させる力)が同じ場合、
接触する物の材質および接触面の状態にだけ関係し接触
面の大きさには無関係であり、接触面における摩擦係数
に比例することになる。したがって上記シールキャップ
33を図10に示すような低摩擦係数材料、特にポリテ
トラフルオロエチレン(一般にはテフロン)にて成形す
れば、上記シールキャップ33と上記シールラバー30
の接触面における摩擦抵抗を低減することができ、上記
電子回路モジュール1の着脱力がさらに軽減され上記シ
ャーシ10への着脱を容易に行える。
【0032】実施例4.本実施例は、上記実施例1〜上
記実施例3のいずれかの実施例をさらに改善した第4の
実施例を示すものであり、上記電子回路モジュール1の
両端部26に冠着されている、上記シールキャップ33
を低熱膨張材料にて成形し、さらに上記シールキャップ
33の上記シールラバー30の接触面である第1のスラ
イド面34、第2のスライド面35および突起部36の
表面が、低摩擦係数となるような処理を施したものであ
る。このような実施態様によれば、上記シールキャップ
33の第1のスライド面34、第2のスライド面35お
よび突起部36には硬質陽極酸化皮膜の微視孔等にポリ
テトラフルオロエチレンを含浸するまたは、二硫化モリ
ブデンの電解析出する等の、その表面が低摩擦係数とな
るような処理が施されており、上記実施例3に記述した
ように上記シールキャップ33と上記シールラバー30
の接触面における摩擦抵抗を低減することができ、上記
電子回路モジュール1の着脱力がさらに軽減され上記シ
ャーシ10への着脱を容易に行える。
【0033】また上記電子回路モジュール1に実装され
ている電子回路部品7の修理、交換時において、上記シ
ールキャップ33は上記電子回路部品7の接着環境温度
(120℃〜150℃)およびバンダ付け環境温度(2
00℃〜230℃)にさらされることになる。しかしな
がら、上記シールキャップ33をこのような高温環境下
にさらした場合、温度変化にともなう熱変形を発生し上
記シールキャップ33の寸法形状が損なわれてしまうこ
とになる。例えば上記シールキャップ33をポリアミド
(一般にはナイロン)にて成形した場合、その線膨張係
数は8.3×10-5/℃であり、さらにポリアミドは6
6℃〜79℃で熱変形を生じてしまう。さらに上記電子
回路モジュール1の着脱力を軽減するために、上記シー
ルキャップ33と上記シールラバー30との接触面積を
非常に少なくしており、この温度変化にともなう上記シ
ールキャップ33の熱変形により、上記シールラバー3
0との接触部に隙間が発生する可能性があり、上記電子
回路部品7の修理、交換時においては、上記電子回路モ
ジュール1から上記シールキャップ33を取り外すか、
または修理完了後交換する必要がある。したがって上記
シールキャップ33をインバー(0.1×10-5/℃)
や超インバー(0.001×10-5/℃)等の低熱膨張
材料にて成形することにより、上記電子回路部品7の修
理、交換時における高温環境にさらされても、上記シー
ルキャップ33の熱変形がなくなり、上記電子回路部品
7の修理、交換時に上記電子回路モジュール1から上記
シールキャップ33を着脱したりまたは交換する必要が
なくなる。
【0034】実施例5.本実施例は、上記実施例1もし
くは上記実施例2をさらに改善した第5の実施例を示す
ものであり、上記電子回路モジュール1の両端部26に
冠着されている、上記シールキャップ33を導電性材料
にて成形し、さらに上記ガイドブロック21のガイド溝
23に設けられた上記シールラバー30をEMIシール
ド材料にて形成したものである。ここで、上記電子回路
モジュール1を上記ケース10内部に収納した際、上記
シールキャップ33と上記シールラバー30との接触部
が電気的な不連続部(非導電部)である場合、この接触
部において上記シャーシ10の内外における電磁的な隙
間、貫通部ができてしまうことになり、この電磁的な隙
間、貫通部からの電磁エネルギーの侵入や放射を発生す
ることになる。したがって上記シールキャップ33を導
電性プラスチックなどの導電性材料にて成形し、上記シ
ールラバー30を導電性ガスケット等のEMIシールド
材料にて形成することにより、上記シールキャップ33
と上記シールラバー30との接触部での電気的連続性、
密閉性を確保することができる。したがってこの接触部
において電磁的な隙間、貫通部がなくなり、上記シャー
シ10内外からの電磁エネルギーの侵入や放射を防止す
ることができる。
【0035】実施例6.図11、図12は上記実施例1
〜上記実施例5のいずれかの実施例をさらに改善した第
6の実施例を示すもので、図11は図2におけるガイド
部の詳細図、図12は図4におけるガイド部の詳細断面
図であり、上記ガイドブロック21には、ガイド溝23
の内外壁を貫通する複数個の第1の接合穴39と、上記
ガイド溝23の上記挿入口22を形成する上記第1の空
気取入口24を有する面の上部に設けた複数個の第2の
接合穴40を備えている。また上記シールラバー30に
は、上記第1のリップ31に連結するとともに上記ガイ
ドブロック21の上記第1の接合穴39に充填され、か
つ上記ガイド溝23の内外壁を包み込むように配した第
1の保護部41と、上記第1の保護部41および上記第
2のリップ32に連結するとともに上記ガイドブロック
21の上記第2の接合穴40に充填され、さらに上記ガ
イド溝23の上記挿入口22縁部を包み込むように配し
た第2の保護部42を備えている。
【0036】ここで、上記電子回路モジュール1の上記
シャーシ10への着脱時において、図13に示すように
上記シールラバー30を上記ガイドブロック21の上記
ガイド溝23から剥離しようとする力が、上記ガイド溝
23内側にある上記挿入口22縁部などの上記シールラ
バー30と上記ガイド溝23部との取り付け端部に直接
作用し、上記電子回路モジュール1の着脱の繰り返し状
況によっては、上記シールラバー30が剥離する可能性
がある。したがって本実施例に示すような実施態様によ
れば、上記シールラバー30と上記ガイド溝23部の取
り付け端部に直接作用する上記シールラバー30を剥離
しようとする力は、上記シールラバー30に設けられた
上記第1の保護部41や上記第2の保護部42により、
上記ガイド溝23部と上記シールラバー30の取り付け
端部が、上記ガイド溝23の内側になくなることによ
り、上記シールラバー30の取り付け端部に直接作用す
ることがなくなり、上記電子回路モジュール1の着脱に
よる上記シールラバー30を上記ガイド溝23から剥離
しようとする力の影響を軽減できる。さらに上記シール
ラバー30の第1の保護部41および第2の保護部42
は、上記ガイドブロック21の上記ガイド溝23部の内
外壁および上記挿入口22の縁部を包み込むように設け
られていることから、上記シールラバー30と上記ガイ
ド溝23部との接着面積が増加している上に、上記ガイ
ド溝23部に設けられた複数個の第1の接合穴39およ
び第2の接合穴40にも充填されており、上記第1の保
護部41および上記第2の保護部42の内外部が連結さ
れていることから、上記電子回路モジュール1の着脱に
よる上記シールラバー30を上記ガイド溝23から剥離
しようとする力に対し強度が向上している。したがって
上記電子回路モジュール1の上記シャーシ10への着脱
を繰り返すことによって発生する、上記シールラバー3
0の上記ガイド溝23部からの剥離を防止することがで
きる。
【0037】実施例7.図14、図15、図16は上記
実施例1〜上記実施例6のいずれかの実施例をさらに改
善した第7の実施例を示すもので、図14は図2におけ
るガイド部の詳細図、図15は図4におけるFの方向か
ら見たガイドブロックの詳細図、図16は図4における
G方向から見たガイドブロックの取付状態図であり、4
3は上記ガイドブロック21の上記第2のエアープレナ
ム15および上記第3のエアープレナム17と接する面
に、上記第1の空気取入口24の外周を囲むように設け
たシール溝、44は上記シール溝43に配したひだ状の
突起45を有するゴム系材料からなるガスクシール、4
6は上記ガイドブロック21の外周に設けられた取付
部、47は上記ガイドブロック21を上記取付部46に
おいて上記第2のエアープレナム15および上記第3の
エアープレナム17に取り付けるための取付ねじであ
る。
【0038】ここで、電子回路モジュール1に実装され
た上記電子回路部品7の冷却のための冷却空気12は、
上記シャーシ10内部の上記通風口18から上記ガイド
ブロック21の上記第1の空気取入口24を通り、上記
電子回路モジュール1の通風ダクト5内に供給される。
しかし上記ガイドブロック21に設けてある上記第1の
空気取入口24の開口寸法をそれぞれ同一に設けた場
合、上記電子回路モジュール1の発熱量の大小とは無関
係に、上記電子回路モジュール1の上記シャーシ10内
部における収納位置や上記空気流路16の形状および状
態に左右され、個々の上記電子回路モジュール1の発熱
量に対応した上記冷却空気12が供給されない可能性が
ある。また上記電子回路モジュール1の上記シャーシ1
0内部への着脱時において、上記シールキャップ33と
上記シールラバー30の接触部で、上記シールキャップ
33による上記シールラバー30の上記第1のリップ3
1および上記第2のリップ32の頂点を圧縮変形する力
が発生していることから、上記電子回路モジュール1の
着脱の繰り返し状況によっては、上記シールラバー30
の上記第1のリップ31および上記第2のリップ32が
損傷する可能性がある。
【0039】しかしながら上記シールラバー30は上記
ガイドブロック21のガイド溝23部に接着されてお
り、さらに上記ガイドブロック21は上記シャーシ10
の上記第2のエアープレナム15および上記第3のエア
ープレナム17に接着されていることから、上記シール
ラバー30の上記第1のリップ31および上記第2のリ
ップ32が損傷した場合、その修理、交換は非常に困難
であり最悪の場合上記シャーシ10まるごと交換する必
要さえありうる。したがって本実施例に示すような実施
態様によれば、上記ガイドブロック21は上記取付部4
6において、上記取付ねじ47にて上記第2のエアープ
レナム15および上記第3のエアープレナム17に着脱
可能であり、また上記ガイドブロック21はそのシール
溝43にガスクシール44を有しており、上記ガイドブ
ロック21の取り付けにおける上記冷却空気12の上記
シャーシ10内部への漏洩は、上記ガスクシール44の
ひだ状の突起45が上記第2のエアープレナム15およ
び上記第3のエアープレナム17に密接することにより
防止している。その結果上記シールラバー30の上記第
1のリップ31および上記第2のリップ32が損傷した
場合でも、損傷した上記シールラバー30を有する上記
ガイドブロック21だけを交換すればよくその交換作業
も容易にできる。さらに個々の上記電子回路モジュール
1の発熱量に対応し、上記第1の空気取入口24の開口
寸法のことなる上記ガイドブロック21をそれぞれに取
り付けることにより、個々の上記電子回路モジュール1
の発熱量に対応した上記冷却空気12の供給が調整可能
である。
【0040】実施例8.本実施例は、上記実施例1〜上
記実施例7のいずれかの実施例をさらに改善した第8の
実施例を示すものであり、上記電子回路モジュール1の
熱交換器6を形成する冷却フィン2、スペーサ3および
スキン4をアルミ−亜鉛合金などの内部摩擦の大きい特
性を有する制振合金材料にて成形したものである。ここ
で、図17は上記実施例1に示す電子機器を、電子回路
モジュール1の強度的に弱い方向である電子回路部品7
実装面と垂直(図18に示すX軸方向)な方向に加振し
た時の、電子回路モジュール1の各周波数における応答
倍率および位相のデータである。このデータに示すよう
に電子回路モジュール1の共振周波数は160Hzで、
その時の応答倍率は8.6倍である。上記シャーシ10
から上記電子回路モジュール1に伝達される振動レベル
は、上記シールラバー30がゴム系材料から成形されて
いることからアイソレータの機能を果たし幾分減衰され
て、入力加振のレベル8.6倍(シールラバー等のゴム
系材料がない場合、通常応答倍率は20倍程度)の振動
レベルが電子回路モジュール1に印加されることにな
り、電子回路モジュール1に実装されている電子回路部
品7はこの振動レベルに耐えることが必要となる。この
ことは上記電子回路部品7の市場性を狭め、コスト高を
招くことになる。また上記電子回路部品7の実装状態に
よっては、この振動ストレスにより、リード破断やハン
ダ付け部のクラック等を発生する可能性がある。ここ
で、上記電子回路モジュール1の共振周波数における応
答倍率は下の式(1)により求めることができる。
【0041】
【数1】
【0042】ここで、 A=応答倍率 ω=入力角振動数(rad/s) ωn=電子回路モジュールの角振動数(rad/s) ζ=減衰比
【0043】電子回路モジュールの共振時においては、
ωとωnは等しいことから
【0044】
【数2】
【0045】また、減衰比ζは下の式(3)により求め
られる。
【0046】
【数3】
【0047】ここでδは対数減衰率であり、下の式
(4)により求められる。
【0048】
【数4】
【0049】この一連の式は、上記電子回路モジュール
1の内部摩擦Q-1を大きくすれば、共振周波数における
応答倍率Aを小さくすることができることを示してお
り、上記式(4)より、内部摩擦Q-1を大きくすると対
数減衰率δが大きくなりかつ、上記式(3)より対数減
衰率δガイド溝大きくなると減衰比ζが大きくなる。さ
らに、減衰比ζが大きくなると上記式(2)より応答倍
率Aが小さくすることができる。例えば、減衰比0.0
3の場合の応答倍率は16.7倍となるのに対して、減
衰比0.07の場合の応答倍率は7.2倍となり、応答
倍率を小さくすることができる。したがって本実施例に
示すような実施態様によれば、上記電子回路モジュール
1の熱交換器6を形成する上記冷却フィン2、上記スペ
ーサ3および上記スキン4を内部摩擦(一般的な構造用
アルミ合金の内部摩擦は0.5〜2×10-3)の大きい
特性を有する例えばアルミ−亜鉛合金(5×10-3)等
の制振合金材料にて成形することにより、上記電子回路
モジュール1から上記電子回路部品7に伝達される振動
レベルは、上記電子回路モジュール1内部で減衰され、
上記電子回路モジュール1の共振周波数における応答倍
率が小さくなり、上記電子回路部品7に印加される振動
ストレスを低下させることができる。
【0050】
【発明の効果】この発明による電子機器は、以上説明し
たように構成されているので、以下に記載されるような
効果がある。
【0051】この発明においては、電子回路モジュール
をシャーシ内部に収納した際、ガイドブロックのガイド
溝に設けられたシールラバーの第1、第2のリップが、
電子回路モジュールの両端部に冠着したシールキャップ
の第1、第2のスライド面および突起部に圧縮変形され
密接することにより、ガイド溝部における冷却空気のシ
ャーシ内部への漏洩を防止し、電子回路モジュールの放
熱効果を向上させることができる。また電子回路モジュ
ールのシャーシへの着脱時においては、シールラバーと
シールキャップとの接触面積、つまりシールラバーが圧
縮変形を受ける面積が非常に少ないことから電子回路モ
ジュールの着脱力が軽減し電子回路モジュールの着脱が
容易に行え、整備性の向上を図ることができる。さらに
電子回路モジュールの端部とガイド溝に発生する機械的
損傷はシールラバーが緩衝材の機能を果たすことにより
防止できる。よって、シャーシ内部での冷却空気の漏洩
を防止し、電子回路モジュールの着脱力を軽減した、信
頼性、整備性および放熱効果に優れた電子機器を得るこ
とができる。
【0052】また、この発明においては、上記と同様の
効果を得ることができるだけでなく、シールラバーの第
1のリップとシールキャップの第1のスライド面を、電
子回路モジュールの挿入方向に沿って狭まるテーパー部
に形成することにより、シールラバーを圧縮変形させる
力が電子回路モジュールの挿入初期時および抜脱後期に
おいて発生しなくなるため、電子回路モジュールの着脱
力をさらに軽減でき、電子回路モジュールの着脱がさら
に容易に行え、整備性の向上した電子機器を得ることが
できる。
【0053】さらにこの発明においては、上記と同様の
効果を得ることができるだけでなく、シールキャップを
低摩擦係数材料にて成形することにより、シールラバー
とシールキャップの接触面における摩擦抵抗がさらに低
減するため、電子回路モジュールの着脱力をさらに軽減
でき、電子回路モジュールの着脱がさらに容易に行え、
整備性の向上した電子機器を得ることができる。
【0054】また、この発明においては、上記と同様の
効果を得ることができるだけでなく、シールキャップを
低熱膨張材料にて成形するとともに、シールキャップの
第1、第2のスライド面および突起部の表面に、低摩擦
係数となるような処理を施しているため、電子回路モジ
ュールに実装された電子回路部品の修理、交換時に受け
る高温環境に対して、シールキャップの熱変形を防止す
ることができ、電子回路部品の修理、交換時におけるシ
ールキャップの着脱、交換が不要になり、整備性の向上
した電子機器を得ることができる。
【0055】さらにこの発明においては、上記と同様の
効果を得ることができるだけでなく、シールキャップを
導電性材料にて成形し、さらにシールラバーをEMIシ
ールド材料にて成形することにより、シールキャップと
シールラバーとの接触部での電気的連続性、密閉性を確
保することができ、シャーシ内外からの電磁エネルギー
の侵入や放射を防止することができため、電磁シールド
効果に優れた電子機器を得ることができる。
【0056】また、この発明においては、上記と同様の
効果を得ることができるだけでなく、ガイドブロックの
ガイド溝部に設けた複数個の第1、第2の接合穴を充填
するとともにガイド溝部の内外壁および挿入口縁部を覆
う、第1、第2の保護部がシールラバーに設けられてい
るため、電子回路モジュールの着脱によるシールラバー
をガイド溝部から剥離しようとする力に対し強度が向上
し、電子回路モジュールの着脱を繰り返すことによって
発生するシールラバーのガイド溝部からの剥離を防止す
ることができ、信頼性を有する電子機器を得ることがで
きる。
【0057】さらにこの発明においては、上記と同様の
効果を得ることができるだけでなく、ガイドブロックの
第2、第3のエアープレナムと接する側の面にガスクシ
ールを設け、さらにガイドブロックの外周に取付部を設
けることにより、ガイドブロックの着脱が可能となるた
め、シールラバーの損傷等によるガイドブロックの交換
作業が容易に行え、整備性の向上を図ることができる。
さらにガイドブロックに設けられている第1の空気取入
口の開口寸法を、電子回路モジュールの発熱量の大小に
応じて変化させたガイドブロックを使用することによ
り、電子回路モジュールに供給される冷却空気の流量を
調整することができる。よって、信頼性、整備性および
放熱効果に優れた電子機器を得ることができる。
【0058】またこの発明においては、上記と同様の効
果を得ることができるだけでなく、電子回路モジュール
の熱交換器を形成する冷却フィン、スペーサおよびスキ
ンをアルミ−亜鉛合金等の内部摩擦の大きい特性を有す
る制振合金材料にて成形することにより、電子回路モジ
ュールの共振周波数における応答倍率が小さくなり、電
子回路モジュールに実装されている電子回路部品にかか
る振動ストレスを低下させることができるため、電子回
路部品の市場性が拡大し、低コストで耐振性に優れた電
子機器を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例による電子機器を示す
外観図である。
【図2】図1における断面DDを示す図である。
【図3】図2におけるガイド部の部分詳細図である。
【図4】図2における断面EEを示す図である。
【図5】図4におけるガイド部の部分断面図である。
【図6】この発明の第1の実施例によるガイドブロック
の詳細図である。
【図7】この発明の第1の実施例によるシールキャップ
の詳細図である。
【図8】この発明の第2の実施例によるガイドブロック
の詳細図である。
【図9】この発明の第2の実施例によるシールキャップ
の詳細図である。
【図10】各材料の摩擦係数を示した表である。
【図11】この発明の第6の実施例によるガイド部の詳
細図である。
【図12】この発明の第6の実施例によるガイド部の詳
細断面図である。
【図13】この発明の第1〜第5の実施例によるガイド
部に作用するシールラバーの剥離状態を示す図である。
【図14】この発明の第7の実施例によるガイド部の詳
細図である。
【図15】この発明の第7の実施例による図4に示すF
の方向から見たガイドブロックの詳細図である。
【図16】この発明の第7の実施例による図4に示すG
の方向から見たガイドブロックの取付状態である。
【図17】この発明の第1の実施例による電子機器をX
軸方向に加振した時の電子回路モジュールの振動状況を
示すグラフである。
【図18】図17における電子回路モジュールの加振軸
を示す図である。
【図19】従来の電子機器を示す外観図である。
【図20】図19における断面AAを示す図である。
【図21】図20におけるガイド部の詳細図である。
【図22】図19における断面BBを示す図である。
【図23】図22におけるガイド部の部分断面図であ
る。
【図24】従来の電子機器の問題点を解決するための一
実施例を示すガイド部の詳細図である。
【図25】図24におけるガイドブロックの詳細図であ
る。
【図26】従来の電子機器の問題点を解決するための他
の一実施例を示すガイド部の詳細図である。
【符号の説明】
1 電子回路モジュール 2 冷却フィン 3 スペーサ 4 スキン 5 通風ダクト 6 熱交換器 7 電子回路部品 8 プリント基板 9 コネクタ 10 シャーシ 11 開口部 12 冷却空気 13 供給口 14 第1のエアープレナム 15 第2のエアープレナム 16 空気流路 17 第3のエアープレナム 18 通風口 19 マザーボード 20 コネクタ座 21 ガイドブロック 22 挿入口 23 ガイド溝 24 第1の空気取入口 25 カバー 26 端部 27 外部ダクト 28 排気口 29 パッキン 30 シールラバー 31 第1のリップ 32 第2のリップ 33 シールキャップ 34 第1のスライド面 35 第2のスライド面 36 突起部 37 第2の空気取入口 38 テーパー部 39 第1の接合穴 40 第2の接合穴 41 第1の保護部 42 第2の保護部 43 シール溝 44 ガスクシール 45 ひだ状の突起 46 取付部 47 取付ねじ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 開口部を有する第1の面、冷却空気の供
    給口を有し、上記第1の面と直角をなす第2の面、上記
    冷却空気供給口を内側から覆設した箱状の第1のエアー
    プレナム、上記第1の面および上記第2の面と直角をな
    す第3の面の内側に設けられ、上記第1のエアープレナ
    ムと空気流路を形成し、かつ上記第1のエアープレナム
    と直角をなすように配した箱状の第2のエアープレナ
    ム、上記第3の面と相対する第4の面の内側に設けら
    れ、上記第2のエアープレナムと相対する箱状の第3の
    エアープレナム、上記第2、第3のエアープレナムの相
    対面にそれぞれ相対して設けられた通風口とを具備した
    箱状のシャーシと、上記シャーシ内部に上記開口部から
    挿入し収納される、通風ダクトを有する熱交換器に電子
    回路部品を実装したプリント基板を配した電子回路モジ
    ュールと、上記シャーシ内部に上記通風口を覆うように
    配され、中央に第1の空気取入口を有し、かつ上記第1
    の空気取入口を囲むように設けられ、上記開口部と直角
    をなすように上記電子回路モジュールの挿入方向と同一
    方向に成形された、上部を挿入口とするガイド溝を具備
    した矩形状のガイドブロックと、上記ガイド溝の内壁に
    周設され上記ガイド溝の内側方向に突設した第1のリッ
    プを有し、かつ上記第1のリップに連続して上記挿入口
    の内面を覆い、上記挿入口の内周方向に突設した第2の
    リップを有するゴム系材料からなるシールラバーと、上
    記電子回路モジュールの両端部に冠着され、上記第1の
    リップの頂点が圧縮変形するように密接する第1のスラ
    イド面を有し、かつ上記第2のリップの頂点が圧縮変形
    するように密接する第2のスライド面の中央には第2の
    空気取入口を具備するとともに、上記第2のリップを形
    成する上記電子回路モジュール挿入方向側の斜面が圧縮
    変形するように密接する突起部を備えた箱状のシールキ
    ャップと、上記シャーシに対し上記開口部を外側から覆
    うように配したカバーとで構成されたことを特徴とする
    電子機器。
  2. 【請求項2】 上記シールラバーの第1のリップを上記
    電子回路モジュール挿入方向に沿って狭まるテーパー部
    を形成するように配し、さらに上記シールキャップの第
    1のスライド面を上記テーパー部に適合するように形成
    したことを特徴とする請求項1記載の電子機器。
  3. 【請求項3】 上記シールキャップを低摩擦係数材料
    (例えばポリテトラフルオロエチレン)にて成形したこ
    とを特徴とする、請求項1もしくは請求項2記載の電子
    機器。
  4. 【請求項4】 上記シールキャップを低熱膨張材料にて
    成形し、上記第1、第2のスライド面および突起部の表
    面を、低摩擦係数となるように処理(例えば、硬質陽極
    酸化皮膜の微視孔等にポリテトラフルオロエチレンを含
    浸する)を施したことを特徴とする、請求項1〜請求項
    3いずれか記載の電子機器。
  5. 【請求項5】 上記シールキャップを導電性材料にて成
    形し、かつ上記シールラバーをEMI(Electro
    Magnetic Interference)シー
    ルド材料にて成形したことを特徴とする、請求項1もし
    くは請求項2記載の電子機器。
  6. 【請求項6】 上記ガイドブロックに、上記ガイド溝の
    内外壁を貫通する複数個の第1の接合穴を設け、さらに
    上記ガイド溝の挿入口を形成する上記第1の空気取入口
    を有する面の上部に複数個の第2の接合穴を備えるとと
    もに、上記シールラバーに、上記第1のリップに連結す
    るとともに上記ガイドブロックの上記第1の接合穴に充
    填され、かつ上記ガイド溝の内外壁を包み込むように配
    した第1の保護部と、上記第1の保護部および上記第2
    のリップに連結するとともに上記ガイドブロックの上記
    第2の接合穴に充填され、さらに上記ガイド溝の挿入口
    縁部を包み込むように配した第2の保護部を設けたこと
    を特徴とする、請求項1〜請求項5いずれか記載の電子
    機器。
  7. 【請求項7】 上記ガイドブロックの外周に取付部を設
    けるとともに、上記ガイドブロックの上記第2、第3の
    エアープレナムと接する側の面には、上記第1の空気取
    入口の外周を囲むように設けたシール溝を有し、さらに
    上記シール溝にはゴム系材料からなるひだ状の突起を有
    するガスクシールを配するとともに、上記取付部におい
    て取付ねじにて上記第2、第3のエアープレナムに取り
    付けたことを特徴とする、請求項1〜請求項6いずれか
    記載の電子機器。
  8. 【請求項8】 上記電子回路モジュールの熱交換器を制
    振合金材料にて成形したことを特徴とする、請求項1〜
    請求項7いずれか記載の電子機器。
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