JPH07127394A - 吸排気装置 - Google Patents

吸排気装置

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JPH07127394A
JPH07127394A JP27844293A JP27844293A JPH07127394A JP H07127394 A JPH07127394 A JP H07127394A JP 27844293 A JP27844293 A JP 27844293A JP 27844293 A JP27844293 A JP 27844293A JP H07127394 A JPH07127394 A JP H07127394A
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intake
exhaust device
corrosion
environment
measuring means
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JP27844293A
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Shinobu Okido
忍 大城戸
Yuichi Ishikawa
雄一 石川
Toshihiko Yoshimura
敏彦 吉村
Nobuyoshi Hosaka
信義 保坂
Yasushi Takatsu
恭 高津
Makoto Hayashi
眞琴 林
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 腐食環境中にある吸排気装置の環境のモニタ
リングを行うと同時に、吸排気装置内の材料の劣化状況
をリアルタイムで把握する。 【構成】 実機中の材料の劣化状況、腐食環境を評価す
るための材料劣化検出手段及びまたは環境測定手段を有
した材料劣化測定装置1と、材料劣化測定装置1から得
られたデータを保存するメモリ部2と、材料劣化測定装
置1から得られたデータを評価する際基準となるデータ
を格納するデータベース3と、メモリ部2及びデータベ
ース3に接続されメモリー部2のデータとデータベース
3のデータを用いて演算する制御装置4と、制御装置4
の演算結果を表示するディスプレイ5と、制御装置4の
出力信号を伝送用に変換するモデム6と、モデム6に接
続されたデータ転送用回線7と、回線7に接続された遠
隔地側の制御装置4’と、制御装置4’に接続されたデ
ィスプレイ5’とを含んで構成されている腐食モニタ装
置を備えた吸排気装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動車、ボイラ、トン
ネル、発電プラントなどで使用されている吸排気装置の
材料の劣化状況、さらにその環境の監視を行う装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の吸排気装置における環境評価方法
は山崎弘朗編著工業調査会発行の「異常の検出と予知」
第61項から第65項に記されている。これは、腐食に
よる減肉に伴う電気抵抗の変化から腐食量をモニタリン
グする技術である。しかしこの測定法はリアルタイムの
センサとしては応答が遅い欠点がある。
【0003】交流インピーダンス法を利用した技術に
は、特開昭62−102148号公報、特開昭63−1
49549号公報、特開昭63−222253号公報に
開示された、塗装膜の欠陥部の診断方法、コンクリート
中の鉄筋、配管等の腐食評価方法がある。これらは塗装
膜の評価、コンクリート中の鉄鋼材料評価に留まってお
り、吸排気装置に応用した例は存在しなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】発電プラントなどで使
用されている吸排気装置、例えばボイラと排気筒を結ぶ
煙路内やボイラと排煙脱硫装置を結ぶ煙路内の環境で
は、温度差による濡れ乾きが繰返し起こり、さらに燃焼
によって生じた硫化物を含むダストが常に浮遊してい
る。このような環境に材料が長時間曝されると、腐食に
より材料が劣化、減肉し装置の運転効率を悪化させるだ
けでなく、操業に支障をきたす場合もでてくる。プラン
トの安全操業を考えると、腐食環境中で使用している材
料の劣化評価および環境評価は必要不可欠である。
【0005】腐食環境中の個々の元素濃度は、化学反応
を利用して検出することが可能である。しかし個々の元
素濃度から予測する材料の劣化度は実際と大きく異なっ
ている。個々の元素が組合さった総合的な腐食環境の評
価は、上記個々の元素濃度から材料の劣化度を予測する
技術では不可能であり、さらに腐食環境の変化、材料の
劣化度を連続的に評価することは非常に困難である。
【0006】本発明の目的は、実環境がどのように変化
したか、またその環境中の材料がどれだけ腐食したかを
リアルタイムで監視(モニタリング)するにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】腐食による材料の重量変
化は、腐食環境の変化とよく対応している。すなわち、
材料の重量変化から腐食環境の評価が可能である。ま
た、腐食による材料の電気化学的特性も腐食環境の変化
とよく対応しているため、上記重量変化と組み合わせる
ことにより、より正確な評価が可能となる。
【0008】上記の目的は、気体流路と、該気体流路を
流れる気体を駆動する送風手段とを含んでなる吸排気装
置に、前記気体流路もしくは送風手段の中の前記気体に
接する位置に配置された検知部を備え材料の腐食量を検
知して出力する材料劣化測定手段及びまたは前記気体中
の腐食因子を検知して出力する環境測定手段と、前記気
体流路および送風手段の外に配置され前記材料劣化測定
手段及びまたは環境測定手段に接続されて該材料劣化測
定手段及びまたは環境測定手段の出力信号を記憶する記
憶手段と、該記憶手段の記憶内容を読み出し演算処理し
て出力する制御手段と、該制御手段の出力信号を表示す
る表示装置とを含んでなる腐食モニタ装置を備えること
によって達成される。
【0009】上記材料劣化測定手段は、材料の試料の共
振周波数変化を検知するものとしてもよい。共振周波数
変化を検知するものとして、水晶マイクロバランス法を
利用し、水晶振動子表面に試料として気体流路もしくは
送風手段と同一の材料が固着されているものがある。ま
た、材料劣化測定手段が表面弾性波法を利用したもので
あり、圧電基板の表面に試料として気体流路もしくは送
風手段と同一の材料が固着されているものでもよい。
【0010】上記環境測定手段が、水晶マイクロバラン
ス法を用いたものであり、水晶振動子の上に気体中の粒
子を堆積させ、粒子が堆積した状態での水晶振動子の振
動数を検知して出力するものでもよい。また、環境測定
手段が、交流インピーダンス法を用いたものであり、絶
縁物中に互いに対向して配置され、該絶縁物の表面と同
一面もしくは該絶縁物の表面から突出した端面を持つ一
対の電極と、該一対の電極に交流電圧を印加する手段
と、前記一対の電極間に流れる電流及び電圧を測定する
手段とを含んでなるものとしてもよい。さらに、互いに
対向して配置された前記一対の電極がそれぞれその一方
の端部のみが気体流路を流れる気体に曝露されるように
配置され、かつ環境測定手段は該電極を、周囲の絶縁物
に対して相対的に、前記一方の端部に向かって移動させ
る手段を含んで構成されているものとしてもよい。
【0011】上記の目的は、環境測定手段として水晶マ
イクロバランス法を用いた吸排気装置において、水晶振
動子表面に所定の間隔をおいて一対の電極が形成され、
該一対の電極に交流電圧を印加する手段と、前記一対の
電極間に流れる電流及び電圧を測定する手段とを含んで
なる吸排気装置によっても達成される。
【0012】上記の目的は、また、請求項1乃至11の
いずれかに記載の吸排気装置において、材料劣化測定手
段及びまたは環境測定手段のうちの少なくとも検知部
が、ガス導入部とガス排出部を備えて部分的に気体流路
を形成するホルダに内装され、前記ガス導入部に、腐食
因子を振り分けるフィルタとフィルタ表面に付着した腐
食因子を機械的振動によって除去する装置とが設けられ
ている吸排気装置によっても達成される。
【0013】上記の目的は、また、請求項1に記載の吸
排気装置において、制御手段がモデム及び通信回線を介
して遠隔地の制御装置及び表示装置に接続され、制御手
段の出力信号が該遠隔地の制御装置及び表示装置に伝送
可能に構成されている吸排気装置によっても達成され
る。
【0014】上記の目的はさらに、腐食環境に配置され
た材料の共振周波数変化を測定し、予め求めておいた該
材料の周波数特性と腐食速度、または周波数特性と環境
の腐食性との関係を示すデータベースから、共振周波数
変化測定時における腐食速度および環境の腐食性を評価
することによっても達成される。
【0015】
【作用】腐食環境中の材料は、腐食されて質量が時間と
ともに変化し、質量の変化につれて共振周波数も変化す
る。したがって、腐食性の気体が流れる気体流路中に、
この流路を構成する材料と同一材質の試料を配置し、そ
の状態で該試料の共振周波数もしくは共振周波数変化量
を検出することにより、試料の減量、つまり腐食量(材
料劣化量)をリアルタイムで知ることができる。腐食量
が判れば、その腐食量から逆にその試料が曝された気体
の腐食性を定量的、あるいは定性的に知ることができ
る。
【0016】また、腐食性の気体には腐食因子として、
固体あるいは液体の粒子が含まれることが多く、これら
固体あるいは液体の粒子を検知部に堆積させ、その状態
で検知部の重量変化あるいはインピーダンス変化を検出
することにより、気体に含まれる腐食因子をリアルタイ
ムで定量的に把握することができる。
【0017】ATカットで作製された板状の水晶の両側
に電極を取付け、厚み方向に交流電圧をかけると、水晶
の圧電的性質により剪断方向に共振振動をおこす。この
共振周波数は水晶板の厚さの微小変化、さらにこの厚さ
の微小変化に対応する質量に比例する。この原理を利用
した微小質量変化検出方法が水晶マイクロバランス法
(Quartz Crystal Microbalance)QCMである。
【0018】QCMは常時水晶振動子に電圧を印加して
測定する手段であるので、該水晶振動子上に対象気体中
の腐食因子(固体粒子、液体粒子)を堆積させ、堆積物
を含む水晶振動子の周波数変化の微分値を求めると、そ
の時点での腐食環境の変化をモニタリングすることが可
能である。また水晶振動子の表面に試料を配置し、試料
を対象気体に曝すとともに水晶振動子への堆積物の影響
を除いて測定開始時からの周波数変化の積分値を求める
と、その時点までの試料の腐食量を求めることが可能で
ある。
【0019】表面弾性波法(Surface Acoustic Wav
e)SAWは、圧電基板上に形成された一対のくし状電
極に電気信号を付加すると、基板表面に歪みが生じ、そ
の歪みが前記一対のくし状電極に対向して該圧電基板上
に配置された他方の電極に伝わって該他方の電極から再
び電気信号として取り出されることを利用したものであ
る。この基板表面を伝わる表面弾性波の伝搬速度は、伝
搬面の弾性的性質を敏感に反映する。圧電基板上に金属
試料膜を形成しておき、腐食環境に曝すと、表面弾性波
の伝搬速度は金属試料膜の腐食量に伴って変化するか
ら、この特性を利用して腐食検知手段として使用され
る。
【0020】交流インピーダンス法は、被測定系に微小
振幅の正弦交流電圧を与え、系に流れる電流を測定する
方法である。この特徴は系の時間的変化の特徴を周波数
の関数として求められる点にある。またインピーダンス
は実数部成分と虚数部成分に分けられ、これらをCole−
Coleプロットすることにより電極反応抵抗、電気2重層
容量、液抵抗が求まる。絶縁物を挟んで一対の電極を対
向配置した検知部を設け、該検知部を腐食性を測定すべ
き対象気体中に配置して電極の間の絶縁物表面に気体中
に含まれる腐食因子であるダストや液体粒子を堆積させ
ると、電極間のインピーダンスが堆積の状況に応じて変
化する。この変化を検出すれば、気体中に含まれる腐食
因子を定量的あるいは定性的に知ることができる。
【0021】上記マイクロバランス法や表面弾性波法、
あるいは交流インピーダンス法を用いる検知部を単独
で、あるいは組み合わせて吸排気装置の気体流路もしく
は送風手段のなかの腐食性気体中に配置し、所定の時間
間隔で測定し、得られたデータを予め用意されたデータ
ベースに基づいて制御手段で演算処理することにより、
試料の減量に基づく腐食量、腐食因子の堆積量に基づく
気体(環境)の腐食性をリアルタイムで検出することが
できる。
【0022】また、制御手段をモデム及び通信回線を介
して遠隔地の他の制御装置や演算装置に接続しておけ
ば、例えば複数の自動車道トンネルの吸排気装置の状況
を1ヶ所の管理所で容易に掌握できる。
【0023】
【実施例】以下、本発明の実施例を図に従って詳細に説
明する。図1に本発明の実施例である吸排気装置の腐食
モニタ装置の一例を示す。図示の腐食モニタ装置は、実
機中の材料の劣化状況、腐食環境を評価するための材料
劣化検出手段及びまたは環境測定手段を有した材料劣化
測定装置1と、材料劣化測定装置1に接続され材料劣化
測定装置1から得られたデータを一時的に保存するメモ
リー部2と、材料劣化測定装置1から得られたデータを
評価する際基準となるデータを格納しているデータベー
ス3と、メモリー部2及びデータベース3に接続されメ
モリー部2のデータとデータベース3のデータを総合的
に演算または評価する制御装置4と、制御装置4に接続
され演算/評価結果を表示するディスプレイ5と、制御
装置4に接続され制御装置4の出力信号を伝送用に変換
するモデム装置6と、モデム装置6に接続されたデータ
転送用の回線7と、回線7に接続された遠隔地側の制御
装置4’と、制御装置4’に接続されたディスプレイ
5’とを含んで構成されている。遠隔地から評価を行う
必要がない場合には、モデム装置6、データ転送用の回
線7、制御装置4’、及びディスプレイ5’は不必要で
ある。基本的には以上の構成であるが、材料劣化測定装
置1以外は操作する遠隔地に設置しても、プラントのあ
る現地に設置しても問題はない。
【0024】材料劣化測定装置1は、測定対象の装置の
腐食環境中に設置され環境の変化、または腐食量の変化
を検出し、検出値に応じた信号をメモリー部2に送信す
る。メモリー部2では材料劣化測定装置1から送信され
た信号を保存し、さらに制御装置4にそれらのデータを
転送する。制御装置4はメモリー部2からデータの転送
を受けたら、データベース3からメモリー部2から転送
されたデータに関係するデータを読みだす。制御装置4
は、メモリー部2とデータベース3からのデータを演算
または評価し、材料の劣化状況、環境の変化、次のとる
べき行動など一連の結果をディスプレイ5に表示する。
また遠隔地から腐食状況を監視したい場合には、制御装
置4から出力された結果をモデム装置6、回線7を介し
て遠隔地の制御装置4’まで転送し、ディスプレイ5’
に制御装置4の出力を表示して評価する。
【0025】材料劣化測定装置1の材料劣化検出手段及
びまたは環境測定手段としては、水晶マイクロバランス
法(Quartz Crystal Microbalance、以下QCMとい
う)、表面弾性波法(Surface Acoustic Wave、以下
SAWという)、交流インピーダンス法などを利用した
装置が用いられる。
【0026】図2に、QCMの構成の一例を示す。QC
Mは固有周波数を有する水晶板8、水晶板8の上下に蒸
着された蒸着膜9からなる電極、この電極に電圧を印加
させる発振回路10、発振回路10を周りの環境因子か
ら隔離するためのホルダ11、水晶の振動数を測定する
ための周波数カウンタ12を含んで構成される。水晶板
8と電極が検知部を構成し、水晶板8に蒸着する蒸着膜
9の材質は目的に応じて変えられる。湿度をモニタリン
グする場合には金、銀など耐食性に優れた材料が蒸着さ
れ、ある材料の実環境中での特性を調べる場合にはその
材料が蒸着される。この水晶振動子(蒸着膜を備えた水
晶板)に電圧を印加するための発振回路10には、マイ
ルドな環境ではC−MOS型発振回路が、過酷な環境で
はTTL発振回路が用いられる。水晶振動子の振動数測
定は周波数カウンタ12で行われ、測定結果はメモリー
部2に転送、格納される。
【0027】発振回路10が長時間腐食環境に曝される
と、発振回路10の故障の原因、もしくはデータのノイ
ズの原因となるため、発振回路10は耐食性と加工性に
優れた樹脂で作製したホルダ11で腐食環境から隔離さ
れる。マイルドな環境では、水晶振動子は実環境中に露
出していても問題はないが、大量の腐食因子を含む環境
中では水晶板8上に腐食因子が堆積してしまい、その重
みで水晶板8が振動しなくなってしまう。従って、水晶
板8も腐食環境からある程度隔離するのが望ましい。
【0028】図3に上記環境中でも水晶振動子で測定可
能なホルダの構成の一例を示す。図示のホルダ13は、
両端が端壁13A,Bで閉じられた断面四角形の角筒状
に形成されている。内部は長手方向軸線に直交する仕切
壁13Cで測定の目的に応じていくつかの部屋に区画さ
れ、端壁13Aには腐食環境を形成するガスを内部に導
くためのガス導入窓14、端壁13Bにはガスを排出す
るためのガス排出窓15、仕切壁13Cにはガスを次の
区画に導くガス通過窓14Aが、それぞれ設けられてい
る。ガス導入窓14、ガス通過窓14A,ガス排出窓1
5には、ホルダ13に入った腐食因子の振り分けを行う
フィルタ16、17、18、19がそれぞれ装着され、
それらのフィルタにそれぞれ機械的振動を与える振動装
置20が配置されている。ホルダ13内の各々の部屋の
底部に水晶振動子21が設置され、水晶振動子21には
それぞれホルダ外部に配置された発振回路10が接続さ
れている。図示の例では、発振回路10はホルダ13底
部外面の底部壁面を挟んで水晶振動子21に対向する位
置に装着されている。
【0029】これらホルダ13は加工性と耐食性に優れ
た樹脂材料で作られていて、腐食環境内のガスの流れの
方向とホルダ長手方向軸線が平行になるように設置され
ている。フィルタ16、17、18、19の目の粗さは
ガス導入窓14から排出窓15に向かうに従って細かく
してあり、ホルダ13内に流入するガス中のダストはフ
ィルタ16、17、18、19で振り分けられ、ホルダ
13の各々の部屋の底部に設置された水晶振動子21の
上に堆積する。腐食因子(ダスト)を振り分けるフィル
タ16、17、18、19は、その表面に腐食因子が付
着して目詰まりを起こさないように、振動装置20によ
って常に振動が与えられる。
【0030】水晶振動子21には発振回路10によって
高周波電圧が与えられ、高周波電圧を印加された水晶振
動子の振動数は水晶振動子の上に堆積するダストの量に
よって変化する。したがって、所定の時間間隔での振動
数の変化を測定すれば、その間に当該水晶振動子が配置
された部屋を通過したガスに含まれていた特定サイズの
ダストの量が検出され、ホルダ内の各部屋の水晶振動子
で検出されたダストの量を合計すれば、ガスの中に含ま
れる測定対象の腐食因子(ダスト)の量を知ることがで
きる。
【0031】図4に交流インピーダンス法を用いる装置
の構成の一例を示す。図示の装置は、絶縁体からなる円
柱状の電極固定部23と、この電極固定部23に互いに
所定の間隔を置いて埋め込まれた一対の板状の交流イン
ピーダンス測定電極22と、交流インピーダンス測定電
極22(以下、電極22という)にリード線24で接続
され該電極22に交流電圧を印加するポテンシオスタッ
ト25と、印加された電圧に対応する電圧、電流の値を
読み取る電圧・電流測定装置26とを含んで構成されて
いる。ポテンシオスタット25は、印加する交流電圧の
周波数を制御できるようになっている。
【0032】電極22は、電極固定部23内部に、板状
の電極22の端面が表面に露出するように埋め込まれて
いる。また、蒸着によって電極22を作製する場合には
電極固定部23の表面に蒸着膜を形成して電極とする。
電極22相互間の間隔は、環境に応じて100μm〜1
0mm程度まで変化させる。電極の材料も目的に応じ
て、環境中の腐食因子の特性を調べたいときには耐食性
に優れた材料を使用し、実機中の材料のその環境での腐
食特性を評価したいような場合には実機中の材料と同じ
材料で電極22を作製する。
【0033】電極固定部23は、その電極22の端面を
含む上端面で形成される検知部が腐食環境に露出するよ
うに配置され、電極22にポテンシオスタット25から
交流電圧がリード線24を介して印加される。電極22
の端面を含む電極固定部23の上端面は、腐食環境に曝
されていて、腐食環境を通過するガス中の腐食因子や水
分などが付着する。このため、電極22に電圧が印加さ
れると、腐食因子や水分などの付着の程度や電極の腐食
の程度に応じて、電極22の間に電流が流れる。流れる
電流の電圧値、電流値がそれぞれ電圧・電流測定装置2
6で読み取られ、メモリー部2に転送される。流れる電
流の電圧値、電流値に基づいて、ガス中の腐食因子や水
分などの量や電極の腐食量が定量される。なお交流イン
ピーダンス法においても、電極22表面に腐食因子が堆
積しないよう、図3に示すホルダー13との併用も有効
である。さらに図5に示すように、水晶板上27に電極
28を蒸着することによってQCMとインピーダンスを
同時に測定できるようにしてもよい。
【0034】実機中の材料と同じ材料で作製した電極2
2は、腐食因子によって時間とともに腐食、減肉してい
く。そのため電極間の距離に大きなずれを生じ、測定条
件が測定開始からの経過時間によって変化し、最悪の場
合には測定不能になるという問題が生じる。
【0035】そこで図6に上記問題の対応策の一例を示
す。図示の装置は、一端面が平滑に、それと垂直な端面
の下部には溝30が切ってある板状の一対の交流インピ
ーダンス測定電極29と、この交流インピーダンス測定
電極29(以下単に電極29という)が内部に上下動可
能に嵌めこまれている電極固定部31と、電極29と図
示されていないポテンシオスタット25を結ぶリード線
32と、電極29相互間に充填された電極シール33
と、前記溝30に係合する歯車を備えて電極29を上下
させる駆動装置34と、露出された電極表面を清浄する
ための研磨装置36と、研磨装置36を回転させるモー
タ37と、研磨装置36およびモータ37を駆動させる
駆動アーム38とを含んで構成されている。
【0036】電極29は平滑面(上端面)が表面に露出
するように電極固定部31にはめこまれる。電極29は
電極固定部31に嵌めこまれた状態で、下部の溝30が
充分電極固定部31から露出する長さにしてある。また
電極29相互の間には滑りをよくするための電極シール
33が間に挟まれている。リード線32は電極29の最
下部に取り付けられている。以上の測定部が駆動装置3
4の上部に設置されている。電極29の下部に取り付け
てある溝30に駆動装置34内のモータ34Aに取り付
けられた歯車35を係合させ、モータ34Aを回転させ
ることによって電極29を上下動させる。これによって
腐食で電極29の露出された表面が減肉しても、駆動装
置34で電極29を押し上げ再び露出させることにより
正確な測定が可能となる。さらに露出した電極29表面
を清浄面にするため、駆動アーム38を操作し、研磨装
置36を露出した電極29表面に接触させ、モータ37
を作動させることにより電極29表面を清浄面とする。
【0037】図7にSAWの構成の一例を示す。図示の
SAWは、圧電基板41と、この圧電基板41上にプリ
ントされ電気信号を基板上に付加または検出するくし状
電極40A,40Bと、該くし状電極40Aに電気信号
を印加する電源39と、くし状電極40Bで検出された
電気信号を増幅するアンプ43と、増幅された電気信号
をデータとして取り込む周波数カウンタ44とを含んで
構成されている。
【0038】圧電基板41の上に間隔をおいて一対のく
し状電極40Aがプリントされており、その間に測定試
料42を均一な膜状にして接着する。圧電基板41とこ
の圧電基板41の面上に形成された電極40A,B及び
測定試料42が検知部を構成する。電源39よりくし状
電極40Aに高周波電圧信号を印加し、圧電基板41上
に歪を生じさせる。印加される高周波は、測定資料42
の材質や腐食環境を形成するガスの種類によっても異な
るが、通常1〜10KHzの範囲のものが使用される。
圧電基板41の歪に伴う圧電基板41の振動の周波数の
変化が、くし状電極40Aにそれぞれ対向させてプリン
トされたくし状電極40Bから検出され、アンプ43を
経由してカウンター44に転送される。接着されている
測定試料42が腐食されて減肉すると、圧電基板41上
に生じる歪量が変化し、くし状電極40Bから検出され
る周波数が変化する。この周波数変化に基づいて測定試
料42の腐食量もしくは腐食量の変化量が定量される。
これらSAWの回路では、回路上に腐食因子が堆積しな
いように、例えば図3に示すホルダー13の最後尾の部
屋に配置し、上流側の部屋でダストを捕獲したあとのガ
スを対象とするのが望ましい。
【0039】図8に、QCM、SAW、交流インピーダ
ンス法を用いる装置の検知部を一つの基板に埋め込ん
で、測定装置の検知部の設置をより簡略化したカード式
検知部の一例を示す。この基板は、QCMの水晶振動子
やSAW回路、交流インピーダンス測定用の電極を埋め
込むためのカード基板45と、このカード基板45に埋
め込まれるQCMの水晶振動子46,交流インピーダン
ス測定電極47,SAW回路48と、同じくカード基板
45に配置され水晶振動子46と交流インピーダンス測
定用電極47とSAW回路48のデータを出力、転送す
る出力端49とを含んで構成されている。また出力端4
9からの出力方法によって、リード線50、発光・発信
素子51と受光・受信素子52、多ピン出力端53とソ
ケット54のいずれかを含む。
【0040】水晶振動子46、交流インピーダンス測定
電極47、SAW回路48は、カード基板上に埋め込ま
れている。測定する際には、それらが埋め込まれたカー
ド基板45がそのまま測定する腐食環境に設置される。
もし信頼性のあるデータを必要とする場合には、その程
度に応じて複数個の電極や回路を埋め込むようにすれば
よい。測定されたデータは出力端49からメモリー部2
に転送される。出力端49からメモリー部2への転送方
法は、水晶振動子46、電極47、SAW48それぞれ
からリード線50を引く方法、また出力端49に発光素
子52を取付け水晶振動子46、電極47、SAW48
のそれぞれのデータを光、もしくは電波によって転送、
受光素子52によって感知しメモリー部2に転送する方
法、また出力端49を、ピンを基盤上に接着した多ピン
出力端53とし、この多ピン出力端53をメモリー部2
と接続されているソケット54に差し込むことによって
データを転送する方法がある。
【0041】図9に、ボイラプラントに本発明を適用し
た例を示す。図示の装置は、外気を吸い込み加圧して送
り出す押し込みファン55と、押し込みファン55の下
流側に接続され送りこまれた空気を加熱して火炉57に
送り出すエアーヒータ56と、該火炉57を出た燃焼ガ
スを脱硝処理する脱硝装置58と、脱硝された排ガスを
再加熱するエアーヒータ59と、再加熱された排ガスを
加圧する誘引ファン60と、該誘引ファンの吐出側に接
続された脱硫装置61と、これら各層値の間を結ぶ気体
流路62G〜62Hとを含んで構成されている。これら
気体流路には、それぞれ先に述べたQCM,SAW,交
流インピーダンス法を用いた検知部を単独または組み合
わせて装着した材料劣化測定装置1が配置されている。
気体流路62G〜62Hに流れる気体は、成分、温度、
湿度のいずれかが異なり、したがって腐食性も異なると
考えられるので、気体流路ごとに材料劣化測定装置1が
配置され、腐食量及びまたは腐食環境リアルタイムでが
モニタされる。なお、材料劣化測定装置1には、図1に
示されるメモリー部2、制御装置4などが接続されてい
るが、図示は省略した。
【0042】図10は、本発明に係る吸排気装置を自動
車道トンネルに装着した例を示す。図示の装置は、トン
ネル天井部下面63に吊り金具64で取付けられたトン
ネル用ジェットファン65と、該トンネル用ジェットフ
ァン65の吸い込み側と吐出側それぞれに装着された材
料劣化測定装置1と、トンネル天井部下面63に装着さ
れた材料劣化測定装置1を含んで構成されている。本実
施例においては、トンネル天井部下面63に装着された
材料劣化測定装置1はQCMによる環境測定手段を備
え、トンネル用ジェットファン65に装着された材料劣
化測定装置1はSAWによる材料劣化検出手段を備えた
ものとしてある。本実施例によれば、トンネル天井部下
面63に装着された環境測定手段により空気中のダスト
量を計測し、得られた値が予め設定されている値を超え
た場合にトンネル用ジェットファン65を起動する等の
制御が可能になるとともに、測定困難なトンネル用ジェ
ットファン及び吊り金具の腐食を常時監視することが容
易である。なお、本図においても、材料劣化測定装置1
には、図1に示されるメモリー部2、制御装置4などが
接続され、トンネル用ジェットファン65の制御装置の
設置場所に配置されているが、図示は省略した。
【0043】
【発明の効果】腐食環境中にある吸排気装置の環境のモ
ニタリング、また吸排気装置内の材料の劣化状況をリア
ルタイムで把握することができ、予防保全の実施が可能
となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示すブロック図である。
【図2】QCMの原理を示す概念図である。
【図3】本発明の実施例の部分を示す斜視透視図であ
る。
【図4】交流インピーダンス法の原理を示す概念図であ
る。
【図5】本発明の実施例のQCM・交流インピーダンス
法同時測定素子を示す斜視図である。
【図6】本発明の実施例である露出制御可能なインピー
ダンス測定用電極の概念を示す斜視図である。
【図7】SAWの原理を示す概念図である。
【図8】本発明の実施例の材料劣化測定装置のカード式
検知部の構成の概念を示す斜視図である。
【図9】本発明をボイラプラントに適用した例を示すブ
ロック図である。
【図10】本発明を自動車トンネルに適用した例を示す
斜視図である。
【符号の説明】
1 材料劣化測定装置 2 メモリー部 3 データベース 4 制御装置 5 ディスプレイ 6 モデム装置 7 データ転送用回線 8 水晶板 9 蒸着膜 10 発振回路 11 QCMホルダ 12 周波数カ
ウンタ 13 過酷環境下用QCMホルダ 13A,B 端
壁 13C 仕切壁 14 ガス導入
窓 15 ガス排出窓 16、17、1
8、19 フィルタ 20 振動装置 21 水晶振動
子 22 交流インピーダンス測定電極 23 電極固定
部 24 リード線 25 ポテンシ
オスタット 26 電圧・電流測定装置 27 水晶板 28 交流インピーダンス測定用電極 29 交流イン
ピーダンス測定電極 30 溝 31 電極固定
部 32 リード線 33 電極シー
ル 34 駆動装置 34A モータ 35 歯車 36 研磨装置 37 モータ 38 駆動アー
ム 39 電源 40A,B く
し状電極 41 圧電基板 42 測定試料 43 アンプ 44 周波数カ
ウンタ 45 カード基板 46 水晶振動
子 47 交流インピーダンス測定電極 48 SAW 49 データ出力端 50 リード線 51 発光・発信素子 52 受光・受
信素子 53 多ピン出力端 54 ソケット 55 押し込みファン 56 エアヒー
タ 57 火炉 58脱硝装置 59 エアヒータ 60 誘引ファ
ン 61 脱硫装置 63 トンネル
天井部下面 64 吊り金具 65 トンネル
用ジェットファン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 保坂 信義 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 高津 恭 茨城県土浦市神立町603番地 株式会社日 立製作所土浦工場内 (72)発明者 林 眞琴 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気体流路と、該気体流路を流れる気体を
    駆動する送風手段とを含んでなる吸排気装置において、
    前記気体流路もしくは送風手段の中の前記気体に接する
    位置に配置された検知部を備え材料の腐食量を検知して
    出力する材料劣化測定手段及びまたは前記気体中の腐食
    因子を検知して出力する環境測定手段と、前記気体流路
    および送風手段の外に配置され前記材料劣化測定手段及
    びまたは環境測定手段に接続されて該材料劣化測定手段
    及びまたは環境測定手段の出力信号を記憶する記憶手段
    と、該記憶手段の記憶内容を読み出し演算処理して出力
    する制御手段と、該制御手段の出力信号を表示する表示
    装置とを含んでなる腐食モニタ装置を備えたことを特徴
    とする吸排気装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の吸排気装置において、
    材料劣化測定手段が試料の共振周波数変化を検知するも
    のであることを特徴とする吸排気装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の吸排気装置において、
    材料劣化測定手段が水晶マイクロバランス法を利用した
    ものであり、水晶振動子表面に試料として気体流路もし
    くは送風手段と同一の材料が固着されていることを特徴
    とする吸排気装置。
  4. 【請求項4】 請求項2に記載の吸排気装置において、
    材料劣化測定手段が表面弾性波法を利用したものであ
    り、圧電基板の表面に試料として気体流路もしくは送風
    手段と同一の材料が固着されていることを特徴とする吸
    排気装置。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の吸排気装置において、
    環境測定手段が、水晶マイクロバランス法を用いたもの
    であり、水晶振動子の上に気体中の粒子を堆積させ、粒
    子が堆積した状態での水晶振動子の振動数を検知して出
    力するものであることを特徴とする吸排気装置。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の吸排気装置において、
    環境測定手段が、交流インピーダンス法を用いたもので
    あり、絶縁物中に互いに対向して配置され、該絶縁物の
    表面と同一面もしくは該絶縁物の表面から突出した端面
    を持つ一対の電極と、該一対の電極に交流電圧を印加す
    る手段と、前記一対の電極間に流れる電流及び電圧を測
    定する手段とを含んでなることを特徴とする吸排気装
    置。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載の吸排気装置において、
    互いに対向して配置された一対の電極がそれぞれその一
    方の端部のみが気体流路を流れる気体に曝露されるよう
    に配置され、かつ環境測定手段は該電極を、周囲の絶縁
    物に対して相対的に、前記一方の端部に向かって移動さ
    せる手段を含んで構成されていることを特徴とする吸排
    気装置。
  8. 【請求項8】 請求項5に記載の吸排気装置において、
    水晶振動子表面に所定の間隔をおいて一対の電極が形成
    され、該一対の電極に交流電圧を印加する手段と、前記
    一対の電極間に流れる電流及び電圧を測定する手段とを
    含んでなることを特徴とする吸排気装置。
  9. 【請求項9】 請求項5に記載の吸排気装置において、
    水晶マイクロバランス法を用いた環境子測定手段に加
    え、交流インピーダンス法を用いた請求項6に記載の環
    境測定手段が設けられていることを特徴とする吸排気装
    置。
  10. 【請求項10】 請求項3に記載の吸排気装置におい
    て、水晶マイクロバランス法を用いた材料劣化測定手段
    に加え、交流インピーダンス法を用いた請求項6に記載
    の環境測定手段が設けられていることを特徴とする吸排
    気装置。
  11. 【請求項11】 請求項10に記載の吸排気装置におい
    て、交流インピーダンス法用の電極が、水晶マイクロバ
    ランス法に用いられる水晶振動子表面に配置されている
    ことを特徴とする吸排気装置。
  12. 【請求項12】 請求項1乃至11のいずれかに記載
    の吸排気装置において、材料劣化測定手段及びまたは環
    境測定手段のうちの少なくとも検知部が、ガス導入部と
    ガス排出部を備えて部分的に気体流路を形成するホルダ
    に内装され、前記ガス導入部に、腐食因子を振り分ける
    フィルタとフィルタ表面に付着した腐食因子を機械的振
    動によって除去する装置とが設けられていることを特徴
    とする吸排気装置。
  13. 【請求項13】 請求項1に記載の吸排気装置におい
    て、制御手段がモデム及び通信回線を介して遠隔地の制
    御装置及び表示装置に接続され、制御手段の出力信号が
    該遠隔地の制御装置及び表示装置に伝送可能に構成され
    ていることを特徴とする吸排気装置。
  14. 【請求項14】 腐食環境に配置された材料の共振周波
    数変化を測定し、予め求めておいた該材料の周波数特性
    と腐食速度、または周波数特性と環境の腐食性との関係
    を示すデータベースから、共振周波数変化測定時におけ
    る腐食速度および環境の腐食性を評価することを特徴と
    する腐食評価方法。
JP27844293A 1993-11-08 1993-11-08 吸排気装置 Pending JPH07127394A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010530072A (ja) * 2007-06-15 2010-09-02 エクソンモービル リサーチ アンド エンジニアリング カンパニー 所定の状態によって作動または停止する機械的振動体
JP2012233715A (ja) * 2011-04-28 2012-11-29 Fujitsu Ltd 水晶マイクロバランス腐食センサ、腐食センサシステム及び腐食ガス測定方法
JP2015055037A (ja) * 2013-09-10 2015-03-23 エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社 ジェットファン脱落監視システム
JP2018074378A (ja) * 2016-10-28 2018-05-10 マツダ株式会社 無線送信装置及び車両

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