JPH07109328A - 高純度低粘度固形エポキシ樹脂及びその製造方法 - Google Patents

高純度低粘度固形エポキシ樹脂及びその製造方法

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JPH07109328A
JPH07109328A JP28183893A JP28183893A JPH07109328A JP H07109328 A JPH07109328 A JP H07109328A JP 28183893 A JP28183893 A JP 28183893A JP 28183893 A JP28183893 A JP 28183893A JP H07109328 A JPH07109328 A JP H07109328A
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epoxy resin
bisphenol
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purity
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Masashi Kaji
正史 梶
Takanori Aramaki
隆範 荒牧
Kazuhiko Nakahara
和彦 中原
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Nippon Steel Chemical and Materials Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 流動性、低吸湿性に優れ、かつ、機械的特
性、電気特性及びはんだ耐熱性に優れた硬化物を与える
半導体素子等の電子部品封止用に好適に使用される高純
度固形低粘度エポキシ樹脂を提供することを目的とす
る。 【構成】 ビスフェノールF化合物とエピクロルヒドリ
ンとを反応させて得られる下記一般式(1) 【化1】 で表されるエポキシ樹脂であって、加水分解塩素が0.
15%以下であるとともにエポキシ当量が200以下で
あり、さらに融点が70〜85℃であることを特徴とす
る高純度低粘度固形エポキシ樹脂。合成方法としては、
下記一般式(2) 【化2】 で表されるビスフェノールF化合物とエピクロルヒドリ
ンを反応させる際に、ビスフェノールF化合物中のフェ
ノール性水酸基1モルに対して0.95〜1.1当量の
金属水酸化化合物を用い、90℃以下の温度で反応させ
ることにより製造される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、流動性、低吸湿性に優
れ、かつ、機械的特性、電気特性及びはんだ耐熱性に優
れた硬化物を与え半導体素子等の封止用に好適に使用さ
れる、高純度、低粘度固形エポキシ樹脂に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体封止材料には、エポキ
シ樹脂を主剤とする樹脂組成物が広く用いられてきてい
るが、近年、プリント基板への部品の実装の方法とし
て、従来の挿入方式から表面実装方式への移行が進展し
ている。表面実装方式においては、パッケージ全体がは
んだ温度まで加熱される。その際、吸湿した水分の急激
な体積膨張により引き起こされるパッケージクラックが
大きな問題となってきている。さらに、近年、半導体素
子の高集積化、素子サイズの大型化、配線幅の微細化が
急速に進展しており、パッケージクラックの問題が一層
深刻化している。パッケージクラックを防止する方法と
して樹脂構造の強靱化、シリカの高充填化による高強度
化、低吸水率化等の方法がある。
【0003】したがって、上記問題点を解決するため、
低吸湿性であり、かつ、低粘度であるエポキシ樹脂が望
まれている。低粘度エポキシ樹脂としては、ビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂等が一般に広く用いられているが、これらのエポキシ
樹脂において低粘度のものは常温で液状であり、トラン
スファー成形用の樹脂組成物とすることは困難である。
さらに、これらのエポキシ樹脂は、耐熱性、機械的強
度、耐湿性の点で十分でない。
【0004】一方、下記一般式(1)
【化4】 で表されるエポキシ樹脂は、従来よりビスフェノールF
型エポキシ樹脂の耐熱性を改良したものとして知られて
おり、例えば、工業材料,35(10),P81に81
℃の融点を持つ固形樹脂と記載されている。しかし、高
純度なものは知られておらず、半導体等の電子部品の封
止分野の使用に耐えうるもは知られていなかった。
【0005】半導体等の電子部品の封止分野において、
高純度のエポキシ樹脂が要求される理由として、特に加
水分解性塩素による回路の腐食、あるいは、吸湿水分に
よる短絡が問題となっている。従って、低粘度で、しか
も常温で固形で取り扱いが容易で、高純度で電気特性に
優れた信頼性の高いエポキシ樹脂が切に要望されてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は流動性、低吸湿性に優れ、かつ、機械的特性、電気特
性及びはんだ耐熱性に優れた硬化物を与える半導体素子
等の電子部品封止用に好適に使用される高純度固形低粘
度エポキシ樹脂を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、ビス
フェノールF化合物とエピクロルヒドリンとを反応させ
て得られる下記一般式(1)
【化5】 で表されるエポキシ樹脂であって、加水分解塩素が15
00ppm以下であるとともにエポキシ当量が200以
下であり、さらに融点が70〜85℃であることを特徴
とする高純度低粘度固形エポキシ樹脂であり、また、下
記一般式(2)
【化6】 で表されるビスフェノールF化合物とエピクロルヒドリ
ンを反応させて下記一般式(1)
【化7】 で表されるエポキシ樹脂を製造する方法において、ビス
フェノールF化合物中のフェノール性水酸基1モルに対
して0.95〜1.1当量の金属水酸化化合物を用い、
90℃以下の温度で反応させることを特徴とする高純度
低粘度固形エポキシ樹脂の製造方法である。
【0008】上記一般式(1)で表されるエポキシ樹脂
は、上記一般式(2)で表されるビスフェノールF化合
物と過剰のエピクロルヒドリンとを反応させることによ
り製造される。この反応には、ビスフェノールF化合物
中の水酸基1モルに対して0.95〜1.1倍当量の水
酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のアルカリ金属水酸
化物が用いられる。これより少ないと残存加水分解性塩
素の量が多くなり、これより多いとエポキシ樹脂の高分
子量化が起こり、樹脂粘度が高くなるとともに、樹脂の
結晶化が困難になり好ましくない。金属水酸化物しとて
は、水溶液又は固体状態で使用される。
【0009】また、本反応は90℃以下の温度て行われ
る。反応の際、温度が高いといわゆる難加水分解性塩素
量が多くなり高純度化が困難になる。好ましくは80℃
以下であり、さらに好ましくは75℃以下である。
【0010】反応の際、四級アンモニウム塩あるいはジ
メチルスルホキシド等の極性溶媒を用いることができ
る。四級アンモニウム塩としては、例えばテトラメチル
アンモニウムクロライド、テトラブチルアンモニウムク
ロライド、ベンジルトリエチルアンモニウムクロライド
等があり、その添加量としては、ビスフェノールF化合
物に対して0.1〜2重量%の範囲が好ましい。これよ
り少ないと四級アンモニウム塩添加の効果がなく、これ
より多いと難加水分解性塩素の生成量が多くなり、高純
度化が困難になる。また、ジメチルスルホキシドの添加
量としては、ビスフェノールF化合物に対して10〜2
00重量%の範囲が好ましい。これより少ないと添加の
効果がなく、これより多いと容積効率が低下し、経済上
好ましくない。
【0011】四級アンモニウム塩を使用により、得られ
る樹脂のエポキシ当量を下げることができ、結晶化が容
易になるという作用を有する。また、ジメチルスルホキ
シド等の極性溶媒の使用は、加水分解性塩素の除去に効
果がある。
【0012】反応終了後、過剰のエピクロルヒドリン及
び溶媒を除去し、残留物をトルエン、メチルイソブチル
ケトン等の溶剤に溶解し、濾過し、水洗して無機塩又は
残存ジメチルスルホキシドを除去し、次いで溶剤を留去
することによりエポキシ樹脂とすることができる。
【0013】さらに好ましくは、得られたエポキシ樹脂
をさらに残存する加水分解性塩素に対して1〜30倍量
の水酸化ナトリウム又は水酸化カリウム等のアルカリ金
属水酸化物を加え、再閉環反応が行われる。
【0014】通常、上記反応により得られる前記一般式
(1)で表されるエポキシ樹脂は、常温においても液状
である場合が多く、必要に応じて結晶化を行う必要があ
る。結晶化の方法としては、溶媒を用いての結晶化、あ
るいはあらかじめ調製した種結晶を加えることによる結
晶化等の方法がある。溶媒を用いる方法において、溶媒
種としては、メタノール、エタノール、イソプロピルア
ルコール等のアルコール類、ペンタン、ヘキサン、ヘプ
タン等の炭化水素溶媒が好適に用いられる。その使用量
としては、エポキシ樹脂に対して5〜800重量%であ
る。
【0015】本発明の固形エポキシ樹脂の融点範囲は7
0〜85℃であり、好ましくは75〜85℃の範囲であ
る。上記融点範囲より低いものは二量体以上のオリゴマ
ー成分が多く、粘度上昇及び耐熱性低下等の問題点があ
り好ましくない。また、エポキシ当量としては、200
以下であることが好ましく、この範囲を超えると結晶化
が困難となる。
【0016】なお、本発明でいう加水分解性塩素とは、
以下の方法により測定された値をいう。すなわち、試料
0.5gをジオキサン30mlに溶解後、1N水酸化カ
リウム、10mlを加え30分間煮沸還流した後、室温
まで冷却し、さらに80%アセトン水100mlを加
え、0.002N硝酸銀水溶液で電位差滴定により求め
る。また、融点とは、キャピラリー法により昇温速度2
℃/分で得られる値である。
【0017】加水分解性塩素の許容範囲としては、最も
厳しい条件が要求される半導体素子の封止分野に使用に
耐えうるためには、1500ppm以下であることが好
ましい。この範囲を超えると体積抵抗が低下し、半導体
素子の信頼性が低下する。すなわち、回路の腐食、短絡
の発生原因となる。
【0018】
【実施例】以下、実施例により本発明をさらに具体的に
説明する。 実施例1 3,3’,5,5’−テトラメチル−4,4’−ジヒド
ロキシジフェニルメタン180gをエピクロルヒドリン
1440gに溶解し、さらにベンジルトリエチルアンモ
ニウムクロライド0.45gを加え、減圧下(約150
mmHg)、70℃にて48%水酸化ナトリウム水溶液
122gを4時間かけて滴下した。この間、生成する水
はエピクロルヒドリンとの共沸により系外に除き、留出
したエピクロルヒドリンは系内に戻した。滴下終了後、
さらに水洗したのちエピクロルヒドリンを留去し、淡黄
色液状の粗製エポキシ樹脂247.5gを得た。エポキ
シ当量は196であり、加水分解性塩素は5500pp
mであった。得られたエポキシ樹脂100gをメチルイ
ソブチルケトン400mlに溶解し、15%水酸化カリ
ウムのメタノール溶液8.7gを加え、75℃で1.5
時間反応させた。反応後、濾過、水洗を行った後、溶媒
であるメチルイソブチルケトンを減圧留去し、淡黄色液
状のエポキシ樹脂94gを得た。得られた液状のエポキ
シ樹脂に別途調製した3,3’,5,5’−テトラメチ
ル−4,4’−ジヒドロキシジフェニルメタンのジグリ
シジルエーテルの微粉末結晶1gを加えた後、30℃で
静置し樹脂の結晶化を行った。得られた結晶の融点は8
0℃であった。また、得られたエポキシ樹脂のエポキシ
当量は189であり、加水分解塩素は280ppmであ
った。また、m−クレゾール中(固形分;30重量%)
での25℃における溶融粘度は45cPsであった。
【0019】実施例2 3,3’5,5’−テトラメチル−4,4’−ジヒドロ
キシジフェニルメタン120gをエピクロルヒドリン9
60gに溶解し、さらにジメチルスルホキシド100g
及びベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.3
gを加え、減圧下(約150mmHg)、70℃にて4
8%水酸化ナトリウム水溶液81.3gを4時間かけて
滴下した。この間、生成する水はエピクロルヒドリンと
の共沸により系外に除き、留出したエピクロルヒドリン
は系内に戻した。滴下終了後、さらに1時間反応を継続
した。その後、減圧上流により過剰のエピクロルヒドリ
ン及びジメチルスルホキシドを留去したのち、濾過によ
り生成した塩を除き、さらに水洗により残存する塩を除
去したのち、メチルイソブチルケトン400mlを加
え、溶解し、水洗を行いエポキシ樹脂溶液を得た。これ
に、15%水酸化カリウムのメタノール溶液7.5gを
加え、75℃で1.5時間反応させた。反応後、濾過、
水洗を行った後、溶媒であるメチルイソブチルケトンを
減圧留去し、淡黄色液状のエポキシ樹脂138gを得
た。得られた液状のエポキシ樹脂に別途調製した3,
3’5,5’−テトラメチル−4,4’−ジヒドロキシ
ジフェニルメタンのジクリシジルエーテル化合物の微粉
末結晶1gを加えた後、30℃で静置し、樹脂の結晶化
を行った。得られた結晶の融点は81℃であった。ま
た、得られたエポキシ樹脂のエポキシ当量は186であ
り、加水分解静塩素は160ppmであった。
【0020】比較例1 3,3’5,5’−テトラメチル−4,4’−ジヒドロ
キシジフェニルメタン120gをエピクロルヒドリン9
60gに溶解し、減圧下、115〜120℃にて48%
水酸化ナトリウム水溶液81gを4時間かけて滴下し
た。この間、生成する水はエピクロルヒドリンとの共沸
により系外に除き、留出したエピクロルヒドリンは系内
に戻した。滴下終了後、さらに1時間反応を継続した。
その後、濾過により生成した塩を除き、さらに水洗した
のちエピクロルヒドリンを留去し、淡黄色液状の粗製エ
ポキシ樹脂165gを得た。エポキシ当量は202であ
り、加水分解性塩素は9600ppmであった。得られ
た液状のエポキシ樹脂に別途調製した3,3’5,5’
−テトラメチル−4,4’−ジヒドロキシジフェニルメ
タンのジクリシジルエーテル化合物の微粉末結晶1gを
加えた後、30℃で静置し、樹脂の結晶化を行った。得
られた結晶の融点は76℃であった。
【0021】参考例1、2及び比較参考例1 エポキシ樹脂成分として実施例1、2及び比較例1で得
られたエポキシ樹脂を用い、硬化剤としてフェノールノ
ボラック樹脂(群栄化学(株)製、PSF−430
0)、充填剤として破砕シリカ(平均粒径16μm)又
は球状シリカ(平均粒径22μm)、硬化促進剤として
トリフェニルホスフィン、シランカップリング剤として
γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン及びその
他の添加剤を表1に示す配合で混練しエポキシ樹脂組成
物を得た。このエポキシ樹脂組成物を用いて175℃に
て成形し、175℃にて12時間ポストキュアを行い、
硬化物試験片を得た後、各種物性測定に供した。また、
本エポキシ樹脂組成物を用いて84ピンICを成形し、
ポストキュア後85℃、85%RHの条件で24時間、
48時間及び72時間吸湿させ、260℃のはんだ浴に
10秒間浸漬させパッケージのクラックを観察した。結
果を表2に示す。
【0022】比較参考例2 エポキシ樹脂成分としてo−クレゾールノボラック型エ
ポキシ樹脂(軟化点71℃、加水分解性塩素180pp
m)を用い、参考例1と同様に配合、混練、成形し評価
した。結果を表2に示す。
【0023】
【表1】
【0024】
【表2】
【0025】
【発明の効果】本発明のエポキシ樹脂は加水分解性塩素
の含有量が少なく高純度であるため、半導体素子の信頼
性が大幅に向上し、さらに、溶融状態において極めて低
粘度であるため、充填材の高充填化が可能であり、半導
体封止材に応用した場合、耐クラック性が大幅に改善す
る。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ビスフェノールF化合物とエピクロルヒ
    ドリンとを反応させて得られる下記一般式(1) 【化1】 で表されるエポキシ樹脂であって、加水分解塩素が15
    00ppm以下であるとともにエポキシ当量が200以
    下であり、さらに融点が70〜85℃であることを特徴
    とする高純度低粘度固形エポキシ樹脂。
  2. 【請求項2】 ビスフェノールF化合物とエピクロルヒ
    ドリンとを反応させて得られる下記一般式(1) 【化1】で表されるエポキシ樹脂であって、加水分解塩
    素が1500ppm以下であるとともにエポキシ当量が
    200以下であり、さらに融点が70〜85℃であるこ
    とを特徴とする半導体封止組成物用エポキシ樹脂。
  3. 【請求項3】 下記一般式(2) 【化2】 で表されるビスフェノールF化合物とエピクロルヒドリ
    ンを反応させて下記一般式(1) 【化3】 で表されるエポキシ樹脂を製造する方法において、ビス
    フェノールF化合物中のフェノール性水酸基1モルに対
    して0.95〜1.1当量の金属水酸化物を用い、90
    ℃以下の温度で反応させることを特徴とする高純度低粘
    度固形エポキシ樹脂の製造方法。
  4. 【請求項4】 四級アンモニウム塩又はジメチルスルホ
    キシドの存在下に反応させることを特徴とする請求項3
    記載の高純度高純度低粘度固形エポキシ樹脂の製造方
    法。
JP28183893A 1993-10-15 1993-10-15 高純度低粘度固形エポキシ樹脂及びその製造方法 Pending JPH07109328A (ja)

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