JPH07104563B2 - 露光装置用照明光学装置 - Google Patents

露光装置用照明光学装置

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JPH07104563B2
JPH07104563B2 JP61225163A JP22516386A JPH07104563B2 JP H07104563 B2 JPH07104563 B2 JP H07104563B2 JP 61225163 A JP61225163 A JP 61225163A JP 22516386 A JP22516386 A JP 22516386A JP H07104563 B2 JPH07104563 B2 JP H07104563B2
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JP
Japan
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excimer laser
laser light
illumination optical
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哲男 菊池
宏一 松本
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Light Sources And Details Of Projection-Printing Devices (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、レーザビームを照明光束としてマスクパター
ンを転写する半導体露光装置の照明光学装置、特に、エ
キシマレーザを照明光源とする半導体露光装置の露光用
照明光学装置に関する。
(従来の技術) IC、LSI等の微細なマスクパターンをウエハ面上に転写
する半導体露光装置においては、従来、例えば波長436n
mまたは365nmの光を主に発振する超高圧水銀灯が多く用
いられているが、さらに高密度で微細なパターンを得る
ためには、さらに短波長でしかも強力な光を発振する光
源を必要とする。そこで上記の紫外線波長域(350〜450
nm)を超えてさらに短い波長を発振するエキシマレーザ
を照明光源として備えた露光装置が、例えば特開昭57−
198631号公報によって開示され、既に公知である。
上記の公開公報によれば、照明光源(エキシマレーザ)
からの光は、マスクの全範囲を均一に照明するために集
束成分およびその他の光学成分を用いた照明光学系を介
してマスクに投射されることが開示されている。一方、
露光装置におけるマスクの平均照明のための光学系とし
ては、従来、例えばフライアイレンズのようなオプチカ
ルインテグレータとコンデンサーレンズとを組み合せた
ものが公知である。また、レーザ光束を所望の大きい径
の光束に拡大するために、焦点距離の異る2個の球面レ
ンズにて構成されたビーム・エキスパンダーを用いるこ
とも、レーザを使用する光学装置においては、周知の技
術である。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、エキシマレーザの出力断面は電極の形状
に依存し、例えば7mm×20mmのように縦と横の長さが異
なる断面矩形のビーム形状を有している。従って、上記
のオプチカルインテグレータを用いてマスク上での光強
度を均一化しても、レーザ光束の断面形状は依然として
矩形であるため、投影レンズを介してマスクのパターン
像を投影した場合、その像の解像力が縦と横とで異なっ
てしまう欠点が有った。また、ビームエキスパンダーで
光束径を拡大してもレーザ光束の断面形状は変らないの
で、絞りによって円形断面にビーム整形した場合には、
長手方向に大きくケラレを生じ、ややもすると、露光量
不足を来す恐れが有った。
本発明は、上記従来装置の問題点を解決し、極めて微細
なマスクパターンをも効率良く正しく転写できる半導体
露光装置の照明光学装置を提供することを目的とする。
〔発明の構成〕
(問題点を解決する為の手段) 上記の問題点を解決するために、本発明においては、一
方向にのみ互いに異なる屈折力を有する2個のアナモル
フィックレンズから成るビーム整形光学系を断面矩形の
レーザ光束を出力するエキシマレーザ光源からの照明光
路上に設け、これによって、そのレーザ光束をほぼ正方
形の断面形状にビーム整形した後にマスク上のパターン
を照明するように構成することを技術的要点とするもの
である。
(作用) 上記のビーム整形光学系3、13、23によって入射する断
面矩形のレーザ光束は、一方向のみの屈折力のために短
辺が拡大されるかあるいは長辺が縮小されてほぼ正方形
の断面形状にビーム整形されたレーザ光束となる。この
断面正方形に整形されたレーザ光束は、光軸のまわりに
回転対称な光学系に四隅の光束のみがカットされるため
にほぼ断面円形のレーザ光束となり、マスク6上のパタ
ーン領域を照明した後、投影対物レンズ7の入射瞳を通
ってウエハ8上にマスク6のパターン像を結像させる。
従って、エキシマレーザ光源から出力されるレーザ光束
は、無駄にカットされることなく、充分な光量で投影露
光のために利用される。
(実施例) 次に、本発明の実施例を添付の図面に基づいて詳しく説
明する。
第1図は本発明の実施例を示す光学系構成図で、エキシ
マレーザ光源1から発振するレーザ光束は、ミラー2に
て下方へ反射転向され、後で詳しく述べられる一対のシ
リンドリカルレンズの如きアナモルフィック光学系3A、
3Bから成るビーム整形光学系3により断面が所定の形状
にビーム整形される。このビーム整形されたレーザ光束
は、例えば特開昭56−81813号公報に開示されているよ
うに、フライアイレンズの如きオプチカルインテグレー
タ4によって多数の発散光束に分割され、さらに、コン
デンサーレンズ5にて集束されてレチクル6を均一に照
明する。この場合、オプチカルインテグレータ4は、多
数の微小光源を一平面上に作り、二次光源として作用す
る。このレーザ光束によって一様に照明されたレチクル
6上の回路パターンは、投影対物レンズ7によってステ
ージ9に載置されたウエハ8上に投影される。
エキシマレーザ光源1は、封入されたレーザ媒質の雰囲
気中に設けられた、第2図に示すような細長いカマボコ
型の放電電極E1、E2を有し、レーザ光は、その主放電電
極E1,E2間に高電圧が印加されて放電する際に生じる閃
光が電極の長手方向に共振して矢印Lの方向に発光する
ものである。その際、レーザビームの断面形状は、電極
E1、E2の形状に大きく左右される特質を有しているが、
現在市販されているエキシマレーザでは、放電方向が長
辺(x)で、これに直角な方向が短辺(y)の、第3図
に示すような長方形の断面形状を有しているものが多
い。第1図のエキシマレーザ光源1においては、主放電
電極E1、E2が第2図の如く上下に並設されているので、
発振されるレーザ光束の断面は上下に長い長方形であ
る。このレーザ光束は、ミラー2によって下方へ転向さ
れた後は、第4図(a)に示すように左右に長い長方形
の断面形状となって、本発明の要部を構成するビーム整
形光学系3に入射する。
このビーム整形光学系3は、発散性のシリンドリカルレ
ンズ3Aと収斂性のシリンドリカルレンズ3Bとから成り、
第5図に示すように両シリンドリカルレンズ3A、3Bの母
線は互いに平行となるように構成されている。すなわ
ち、母線を含む面内の光線は、第5図(a)に示すよう
に屈折することなく、そのまま通過し、この母線に垂直
な面内の光線は第5図(b)に示す如く屈折する。この
場合、双方のシリンドリカルレンズ3A、3Bの各焦点を点
O1で合致するように配置すれば、両シリンドリカルレン
ズによってアフォーカル系が形成され、一方のシリンド
リカルレンズ3Aに入射する母線に平行な平行光束は、他
方のシリンドリカルレンズ3Bからも平行光束として射出
され、その際、母線に垂直な面内の光線のみ、第5図
(b)に示すように光束幅が拡大されて再び平行光束と
なって射出される。
いま、一方のシリンドリカルレンズ3Aの焦点距離をf1
他方のシリンドリカルレンズ3Bの焦点距離をf2とし、エ
キシマレーザ光束の長辺の長さをx、短辺の長さをyと
し、|f1|<|f2|とすると |f2/f1|=x/y……(1) の式を満足するように両焦点距離を選べば、断面長方形
のエキシマレーザ光束を断面正方形にビーム整形するこ
とができる。
第1図において、シリンドリカルレンズ3A、3Bの母線を
含む面(紙面に平行な面)内の光線を実線で、また、母
線に垂直な面(紙面に垂直な面)内の光線を破線にて示
す。ミラー2で反射された断面形状が第4図(a)の如
く長辺がx、短辺がyの長方形断面のエキシマレーザ光
束は、発散性のシリンドリカルレンズ3Aによって短辺y
のみが拡大されて長辺xと等しくなり、吸斂性のシリン
ドリカルレンズ3Bにて平行光束となって射出される。従
って、ビーム整形光学系3を通過した光束は、第4図
(b)に示すように一辺がxの正方形断面にビーム整形
される。このビーム整形されたレーザ光束は、オプチカ
ルインテグレータ4と、このオプチカルインテグレータ
4による二次光源結像面またはこれに近接して設けられ
た円形の開口を有する絞り(以下「α絞り」と称す
る。)4Aおよびコンデンサーレンズ5を介して、マスク
6のパターン領域を均一に照明する。その際、オプチカ
ルインテグレータ4によって多数の輝点の集合に形成さ
れた二次光源も一辺xのほぼ正方形の断面形状となって
おり、α絞り4Aによって四隅がカットされてほぼ円形に
形成され第4図(c)に示す如き形状となる。
マスク6上にパターンを照明したレーザ光束は、投影対
物レンズ7の入射瞳(第1図では実質的な絞りに担当す
る。)Pを通りウエハ8上にパターン像を結像する。こ
の場合、α絞り4Aは投影対物レンズ7の入射瞳Pと共役
な位置に設けられており、α絞り4Aの開口の像Iが第4
図(d)に示すように入射瞳P内に結像される。このα
絞り4Aの開口の像I(すなわち入射瞳Pを通る光束の断
面)の大きさが入射瞳Pに対して0.5〜0.7となるように
すると、ウエハ8上で解像力およびコントラストが共に
良好なパターン像を得ることができる。従って、α絞り
4Aによりレーザ光束をわずかにカットするのみで、エキ
シマレーザ光源からのレーザ光束を最大限に利用して投
影露光を行うことが可能となる。
ビーム整形光学系3は、第5図に示す発散性(負)のシ
リンドリカルレンズ3Aと収斂性(正)のシリンドリカル
レンズ3Bとから成るアナモルフィック系ビーム整形光学
系の代りに、第6図に示すように正のシリンドリカルレ
ンズ13A、13Bのみを用いてアナモルフィック系ビーム整
形光学系13を構成してもよい。この場合、両レンズ13
A、13Bの焦点距離f1、f2は、前述の(1)式を用いて決
定される。また、両レンズ13A、13Bは第6図に示すよう
に点O2において焦点が合致するように配置される。
第7図は、ビーム整形光学系3、13を構成するミリンド
リカルレンズ3A、3B、13A、13の母線の方向とエキシマ
レーザ光源1の電極E1、E2の方向との関係を示す説明図
である。各シリンドリカルレンズ3A、3B、13A、13Bは、
第7図(a)に示すように母線の方向(矢印S1にて示
す。)が、電極E1、E2の並びの方向、すなわちレーザビ
ームの矩形断面の長手方向に平行するように設置され
る。これによりレーザ光束は、母線の方向には第7図
(a)に示すように屈折することなくシリンドリカルレ
ンズ3A(13A)および3B(13B)を通って直進するが、第
7図(b)および第7図(c)に示すように母線に垂直
な方向(矢印S2にて示す。)に対しては、一方のシリン
ドリカルレンズ3A、13Aによって光束幅が拡大された
後、他方のシリンドリカルレンズ3B、13Bによって再び
平行光束となる。従って、このビーム整形光学系3、13
を構成するシリンドリカルレンズの母線の方向を、エキ
シマレーザ光源の放電電極E1、E2の放電方向と平行させ
ることによって、断面矩形のレーザ光束の短辺の方向の
みを拡大することができる。
また、第5図および第6図に示すアナモルフィック系の
ビーム整形光学系3A、3B、13A、13Bに、左方から光を通
すと、母線に垂直な方向のみの光束幅を短縮することが
可能である。従って、エキシマレーザ光源1の出力断面
での光束が、例えば第3図中でy方向が適当で、x方向
が長すぎる場合には、x方向を縮小するために、拡大型
のビーム整形光学系が逆向きにすると共に、母線の方向
を放電電極の放電方向に対して直角に設置すれば、縮小
型ビーム整形光学系として用いることができる。
第8図は、断面矩形のレーザ光束の長手方向を縮小して
断面正方形の光束にビーム整形して、マスク6を照明す
るように構成した本発明の第2の実施例を示す投影露光
装置の光学系配置図で、第9図の(a)、(b)、
(c)、(d)はそれぞれ、第8図の光束のA−A、B
−B、C−C、D−D断面図である。なお、第1図と同
じ機能を有する部分には第1図と同じ符号を付し、その
構成についての詳しい説明は省略する。
第8図において、エキシマレーザ光源1からのレーザ光
束はミラー2によって反射され縮小型のビーム整形光学
系23に入射する。その際のレーザ光束の断面形状は、第
9図(a)に示す如く左右方向に長い矩形状となってい
る。ビーム整形光学系23は、紙面に垂直方向に母線を持
つ正のシリンドリカルレンズ23Aと負のシリンドリカル
レンズ23Bとから成り、このビーム整形光学系23を通過
したレーザ光束は、第9図(b)に示すように左右方向
のみが縮小されて入射光束の矩形断面の短辺yを一辺と
するほぼ正方形にビーム整形される。この断面正方形の
レーザ光束は、オプチカルインテグレータ4および円形
の開口を有するα絞り4Aとにより多数の輝点の集合から
成る円形の二次光源に形成される。この二次光源からの
光束はコンデンサーレンズ5を介してマスク6を均一に
照明する。第9図(c)は、α絞り4Aの開口を通過した
光束の断面形状を示す。マスク6を照明したレーザ光束
は、投影対物レンズ7の入射瞳Pを通り、ステージ9上
のウエハ8の面に結像する。この場合も、入射瞳P上に
第9図(d)に示すように入射瞳Pに対して適当な大き
さでα絞り4Aの像Iが形成される。従って、エキシマレ
ーザ光源1からの光束を最も有効に利用することができ
る。なおこの第2実施例において、正のシリンドリカル
レンズ23Aの焦点距離をf2、負のシリンドリカルレンズ2
3Bをf1として、前述の(1)式を満足するようにアフォ
ーカル系として構成されているので、断面矩形のエキシ
マレーザ光束の長辺xが短辺yに等しくなる。
第1図および第8図に実施例においてビーム整形された
エキシマレーザ光束の正方形断面をさらにそのまま比例
的に拡大または縮小して適当な大きさにする場合には、
アフォーカル系からなる一般のビームエキスパンダー又
はそのを逆向きにしたものを、シリンドリカルレンズか
ら成るビーム整形光学系13、23とオプチカルインテグレ
ータ4との間の光路上に付加すればよい。また、第1図
および第2図に示すシリンドリカルレンズの円筒面とは
反対側の平面を適当な曲率の球面(正または負)に形成
することによって、正方形にビーム整形された光束をさ
らに全体に拡大あるいは縮小して、投影対物レンズの入
射瞳に対して適当な大きさにビーム整形することも可能
である。
〔発明の効果〕
以上の如く本発明によれば、アナモルフィックレンズに
よって構成されたレーザビーム整形光学系を用いること
により、エキシマレーザ光源からの光束の光量損失を最
小限にとどめて、、投影されるパターン像の解像力に方
向性が無いようにビーム整形が可能となり、しかも、、
構成が簡単で、光源からの光束を最も有効に投影レンズ
へ導き、コントラストと解像力に優れたパターン像を形
成させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示す投影露光装置の光
学系配置図、第2図は、第1図の実施例に用いられるエ
キシマレーザ光源の放電電極部の斜視図、第3図は第2
図の放電電極部から出力されるエキシマレーザ光束の断
面形状を示す平面図、第4図は第1図の実施例における
エキシマレーザ光束断面形状の変化を示す説明図で、
(a)、(b)、(c)、(d)は、それぞれ第1図に
おけるA−A、B−B、C−C、D−D断面のエキシマ
レーザ光束断面図、第5図は、本発明の要部をなす第1
図中のビーム整形光学系の説明図で(a)は母線に平行
な横断面図(b)は(a)の縦断面図、第6図は第5図
とは異なる実施例を示すビーム整形光学系の構成図、第
7図は、第5図および第6図に示すビーム整形光学系と
エキシマレーザ光源の放電電極間の放電方向との関係を
示す説明図、第8図は第2の実施例を示す投影露光装置
の光学系配置図、第9図は第8図中のエキシマレーザ光
束の断面形状の変化を示す説明図で、(a)、(b)、
(c)、(d)はそれぞれ第8図のA−A、B−B、C
−C、D−D断面におけるエキシマレーザ光束断面図で
ある。 (主要部分の符号の説明) 1…エキシマレーザ光源 3、13、23…ビーム整形光学系 3A、3B、13A、13B、23A、23B…シリンドリカルレンズ
(アナモルフィックレンズ) 4…オプチカルインテグレータ 4A…α絞り 5…コンデンサーレンズ 6…マスク 7…投影対物レンズ 8…ウエハ(感光基板) E1、E2…主放電電極 P…入射瞳

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】エキシマレーザを露光用照明光源としてマ
    スク上のパターンの像を感光基板上に投影する投影露光
    装置において、 一方向にのみ異なる屈折力を有する少なくとも2個のア
    ナモルフィックレンズから成るビーム整形光学系を、エ
    キシマレーザ光源からの照明光路上に設け、前記エキシ
    マレーザ光源の光束断面をほぼ正方形にビーム整形した
    後に前記マスクを照明する如く構成し、 前記ビーム整形光学系は、一方のレンズの前記一方向に
    おける焦点距離をf1、他方のレンズの前記一方向におけ
    る焦点距離をf2、矩形断面の前記エキシマレンズ光束の
    長辺をx、短辺をyとし、|f1|<|f2|とするとき、 |f2/f1|=x/y の関係をほぼ満足するように構成したことを特徴とする
    露光装置用照明光学装置。
  2. 【請求項2】前記ビーム整形光学系は、焦点距離の互い
    に異なるシリンドリカルレンズにて形成されることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の露光装置用照明光
    学装置。
  3. 【請求項3】前記ビーム整形光学系は、母線に垂直な屈
    折面が前記エキシマレーザ光源(1)の放電電極(E1,E
    2)間の放電方向と平行するように設置されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の
    露光装置用照明光学装置。
  4. 【請求項4】前記露光装置用照明光学装置は、前記ビー
    ム整形光学系の射出側光路中に配置されたオプティカル
    インテグレータ及びコンデンサーレンズを有し、 前記オプティカルインテグレータによる二次光源形成面
    には円形の開口を有する絞りが配置されることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項乃至第3項の何れか一項記載
    の露光装置用照明光学装置。
JP61225163A 1986-09-24 1986-09-24 露光装置用照明光学装置 Expired - Lifetime JPH07104563B2 (ja)

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