JPH07104224B2 - 洩れ検査装置 - Google Patents
洩れ検査装置Info
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- JPH07104224B2 JPH07104224B2 JP3326267A JP32626791A JPH07104224B2 JP H07104224 B2 JPH07104224 B2 JP H07104224B2 JP 3326267 A JP3326267 A JP 3326267A JP 32626791 A JP32626791 A JP 32626791A JP H07104224 B2 JPH07104224 B2 JP H07104224B2
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Description
洩れの有無を検査することに用いられる洩れ検査装置に
関する。
ーあるいは容器に納められたリレー等の電子部品、腕時
計等の密封容器に洩れが有るか否かを検査する装置の一
例として図2に示す容積差検出型の洩れ検査装置が用い
られている。図2に示した洩れ検査装置は一定の空気圧
を発生する空気圧源1と、この空気圧源1が発生する空
気圧を遮断操作する3方電磁弁2と、この3方電磁弁2
の出力側Bに接続されて空気圧源1の空気圧を2本の通
路3A,3Bに分岐する分岐管3Cと、この分岐管3C
で分岐された2本の通路3A,3Bに挿入され、この通
路3A,3Bに分岐された空気圧を断続操作する2方電
磁弁4A,4Bと、この2方電磁弁4A,4Bの出力側
に設けられ、互いに等しい内容積を持つタンクTN1,
TN2と、このタンクTN1およびTN2の出力側に設
けられた2方電磁弁5A、5Bと、この2方電磁弁5
A,5Bの各出力側に接続されたワークカプセル6A,
マスタカプセル6Bと、これらワークカプセル6Aとマ
スタカプセル6Bとの間の圧力差を測定する差圧検出器
7とによって構成される。
間が連通する状態に制御すると共に2方電磁弁4Aと4
Bを開き、空気圧源1の空気圧をタンクTN1とTN2
に与える。この場合、2方電磁弁5Aと5Bは閉じられ
ている。従ってタンクTN1とTN2には空気圧源1か
ら出力される圧力が蓄えられる。タンクTN1とTN2
の空気圧が安定した時点で2方電磁弁4Aと4Bを閉に
制御し、代わって2方電磁弁5Aと5Bを開に制御す
る。2方電磁弁5Aと5Bが開の状態に制御されること
により、タンクTN1とTN2に蓄えられた空気圧はワ
ークカプセル6Aとマスタカプセル6Bに与えられる。
6Bは特に図示していないが、蓋が開閉自在に設けられ
る。マスタカプセル6Bには予めワーク8と同一の容積
を持つマスタ容器9が挿入されており、ワークカプセル
6Aの蓋を開閉してワーク8の入れ替えを行う。ワーク
カプセル6Aにワーク8を挿入することによりワークカ
プセル6A側とマスタカプセル6B側の空隙内容積(カ
プセルと配管を含む全内容積)が等しくなる。
にタンクTN1とTN2から一定の容量の空気圧を放出
させたとき、ワーク8に大きな洩れが無ければワークカ
プセル6Aとマスタカプセル6Bとの間には差圧が発生
しない。また、その後徐々に差圧が発生しなければ小さ
な洩れもないことが解る。従ってこの場合、判定装置1
0はワーク8を良品と判定する。
クカプセル6Aとマスタカプセル6Bに一定容量の空気
圧を与えたとき、差圧検出器7によって差圧が検出され
た場合には、判定装置10はワーク8に大きな洩れがあ
ると判定する。つまりワークカプセル6Aとマスタカプ
セル6Bに空気圧を与えた直後に差圧が発生した場合
は、比較的大きい洩れがあることが判る。また空気圧の
供給後、ある時間経過した時点で電磁弁5A,5Bを閉
じ、この状態で徐々に差圧値が上昇する場合は、判定装
置10は小さな洩れがあると判定する。
を開け、更に3方電磁弁2をB−Cが連通する状態に切
替え、空気通路3Aと3Bを大気に開放し、ワークカプ
セル6Aとマスタカプセル6Bの差圧を大気圧に戻す。
ワークカプセル6Aの蓋を開け、ワーク8を交換し、再
び上述と同様の過程を経てワーク8の検査を行う。
ワーク8の容積が小さくなると、その洩れの有無を検出
できない欠点がある。つまり、ワークカプセルおよびこ
れに通じる配管、電磁弁等の内容積(空隙内容積)は有
限であり、微小値にすることはできない。このためにワ
ーク8の内容積が小さくなると、空隙内容積とワーク8
の内容積との比が大きくなり、差圧の発生感度が低くな
るからである。従って、従来の技術により差圧発生感度
を高めるためには、空隙内容積を限りなく小さくしなけ
ればならない。このために電磁弁5A,5Bを閉じてタ
ンクTN1,TN2を切り離す等して空隙内容積を小さ
くする工夫を施しているが、それには限度がある。この
結果従来の技術で検査が可能なワーク8の容積は1cc程
度までで、これ以下の容積のワークに対しては洩れ検査
を行うことができない不都合がある。
んである。特に電子部品の分野では各種の部品、例えば
リードリレー、水晶発振子等は小型化されており、微小
容積の部品の洩れの有無を検査できる技術が要求されて
いる。
プセルおよびマスタカプセルに第1の空気圧源から直接
空気圧を与えると共に、ワークカプセルおよびマスタカ
プセルに通じる空気圧供給路に2方空気圧制御式の制御
弁と、第2の空気圧源から3方電磁弁を通じて空気圧の
与えられる第1と第2容積可変手段とを設ける。ワーク
カプセルおよびマスタカプセルに所定圧力の空気圧を与
えた後に2方制御弁を閉じ、空圧源とワークカプセルお
よびマスタカプセルを切り離す。この状態で差圧が徐々
に発生するか否かを見てワーク8の微小な洩れの有無を
判定する。微小な洩れがないと判定すれば3方電磁弁を
開いて第1の空気圧源よりも高圧の第2の空気圧源の空
気を容積可変手段に供給して容積可変手段内に第1の空
気圧源から供給されていた空気をワークカプセル側およ
びマスタカプセル側に送り出すと共に、両カプセル側に
接続されていた容積可変手段の容積を0にして両カプセ
ル側の空隙内容積を等量ずつ減少させるように構成す
る。
がある場合は、空気圧を与えた時点で瞬時にワークの内
容積がワークカプセルの内容積に加えられる。このため
ワークカプセル側とマスタカプセル側との間に内容積に
差が発生し、この容積差によって差圧が発生する。ワー
クに洩れが無ければ容積可変手段を可変制御しても差圧
は発生しない。
品でも、洩れの有無を検査することができる。
第1の空気圧源、2は3方電磁弁、4A,4Bは2方制
御弁、6Aはワークカプセル、6Bはマスタカプセル、
7は差圧検出器を示す点は従来の技術の説明と同じであ
る。この発明では、ワークカプセル6Aおよびマスタカ
プセル6Bに連通させて第1及び第2の容積可変手段1
2A,12Bを設ける。この例では、この第1及び第2
の容積可変手段12A,12BをダイヤフラムDFによ
って構成した場合を示す。ダイヤフラムDFによって仕
切られた一方の室C2 をワークカプセル6Aおよびマス
タカプセル6Bに連通させ、他方の室C1 を3方電磁弁
13を通じて第2の空気圧源14に接続する。
圧力より高い正圧を発生するが、検査開始時は3方電磁
弁13はB−C間を連通させる。従って検査開始時点で
は、第2の空気圧源14の圧力はダイヤフラムDFに与
えられず、ダイヤフラムDFで仕切られた一方の室C1
は大気に開放されている。この状態で、ワークカプセル
6Aおよびマスタカプセル6Bに第1の空気圧源1から
空気圧Pを与える。よって、このとき空気圧Pによって
ダイヤフラムDFは、室C1 の壁に圧接される。空気圧
Pが安定するに必要な時間を経て、2方制御弁4A,4
Bを閉じる。この状態で差圧検出器7の検出感度を電気
的に高め差圧の発生の有無を見る。差圧が発生した場合
は、微小な洩れがあることが解る。ワーク8に瞬時に空
気が侵入するような大きな洩れが存在する場合は、第1
の空気圧源1から与えられた空気が瞬時にワーク8に侵
入してしまうため、差圧の発生はない。
るか否かを検査する。このため、この発明では第2の空
気圧源14側に挿入した3方電磁弁13のA−B間を連
通させる状態に切替え、ダイヤフラムDFで仕切られた
室C1 に第2の空気圧源14の圧力を与える。第2の空
気圧源14の圧力はテスト圧Pより大きく採っているか
ら、ダイヤフラムDFは室C2 の壁に圧接される。この
ダイヤフラムDFの移動により、ワークカプセル6Aお
よびマスタカプセル6Bの見かけの内容積は、室C1 と
C2 の内容積を加えた量だけ小さくなる。この容積変化
により、仮にワークカプセル6A側とマスタカプセル6
B側とで容積に差がある場合は差圧が発生し、その差圧
は差圧検出器7で検出され、判定装置10で大きい洩れ
があると判定される。
B側との間で配管を含めて容積を合致させておき、マス
タカプセル6Bにワーク8と同容量の洩れのないマスタ
容器9を挿入しておくことにより、ワーク8に洩れがな
ければワークカプセル6A側とマスタカプセル6B側と
で容積は等しい。従ってこの場合には、第1及び第2の
容積可変手段12Aと12Bとで容積を変化させても両
者間に差圧は発生しない。
には、ワーク8の内容積がワークカプセル6Aの内容積
に加わるため、ワークカプセル6A側とマスタカプセル
6B側との間に内容積の差が発生する。この結果、容積
可変手段12Aと12Bで容積変化を与えると容積差に
比例した差圧が発生する。これを数式を用いて説明す
る。ここで使うワーク8の条件として比較的大きい洩れ
があり、短時間にワーク8内に空気が侵入する。ワーク
8及びマスタ容器9の内容積はΔV,ワークカプセル6
Aおよびマスタカプセル6Bの内容積(ワーク8および
マスタ容器9の内容積ΔVを含まず)はV,第1及び第
2の容積可変手段12A,12Bの容積変化量をΔV
1 ,第1の空気圧源1から与えられる空気圧(テスト圧
力)をP,第1及び第2の容積可変手段12A,12B
の容積がΔV1 変化したときのワークカプセル側の圧力
変化をΔP1 ,マスタカプセル側の圧力変化をΔP2 と
すると、 ワーク側 P(V+ΔV+ΔV1)=(P+ΔP1)(V+ΔV−ΔV1) ……(1) マスタ側 P(V+ΔV1)=(P+ΔP2)(V−ΔV1 ) ……(2) (1)式から ΔP1 =2P×ΔV1 /(V+ΔV−ΔV1 ) ……(3) (2)式から ΔP2 =2P×ΔV1 /(V−ΔV1 ) ……(4) ΔP2−ΔP1=2P×ΔV1×ΔV/(V−ΔV1)(V+ΔV−ΔV1) ……(5) (5)式より、容積差の感度はテスト圧力Pと容積変化
ΔV1 に比例し、カプセル6A,6Bの内容積Vの2乗
にほゞ反比例する。
定可能である。
ワーク8として内容積が例えば0.01cc程度の微小な物
でも、その洩れの有無、特に大きな洩れの有無を検知す
ることができる。よって電子部品あるいは腕時計等の微
小容積の密封容器の洩れを検査することができる大きな
効果が得られる。また、この発明では制御弁4A,4B
を空気作動型の弁を用いたから、動作時に電磁弁のよう
に発熱を伴わないから、空気回路に温度変化を与えるお
それがない。よって安定して検査を実行することがで
き、信頼性の高い検査を行うことができる。
積可変手段12A,12BとしてダイヤフラムDFを用
いた例を説明したが、他の要素として、例えばシリンダ
あるいはペローズ等の要素を用いることもできる。また
第1及び第2の容積可変手段12A,12Bを大きい洩
れの有無を検査する際に空隙内容積を小さくする方向に
変化させたが、空隙内容積を大きくする方向に変化させ
ても、大きい洩れの有無を検査することができる。
図。
Claims (1)
- 【請求項1】 A.一定圧力の空気圧を発生する第1の
空圧源と、 B.上記第1空圧源が発生する上記空気圧がそれぞれ与
えられるワークカプセルおよびマスタカプセルと、 C.上記第1空圧源から上記ワークカプセルおよび上記
マスタカプセルに通じる各通路にそれぞれ挿入され、通
路を開閉する第1、第2制御弁と、 D.上記ワークカプセルとマスタカプセルとの間の圧力
差を測定する差圧検出器と、 E.上記第1制御弁より上記ワークカプセル側において
上記ワークカプセル内と連通され、空気圧により容積を
一定量変化させることができる第1容積可変手段と、 F.上記第2制御弁より上記マスタカプセル側において
上記マスタカプセル内と連通され、空気圧により容積を
上記一定量 変化させることができる第2容積可変手段
と、G.上記第1、第2容積可変手段に対しそれぞれ容積変
化を与える空気圧を発生する第2空圧源と、 H.上記第2空圧源から上記第1、第2容積可変手段に
通じる共通の通路に挿入され、通路を開閉する第3制御
弁と、 I.上記第1、第2制御弁を閉じた状態で上記第1、第
2容積可変手段の各容積を一定量減少させて上記ワーク
カプセル内及び上記マスタカプセル内の各圧力を高める
制御手段と、 によって構成した洩れ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3326267A JPH07104224B2 (ja) | 1991-12-11 | 1991-12-11 | 洩れ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3326267A JPH07104224B2 (ja) | 1991-12-11 | 1991-12-11 | 洩れ検査装置 |
Publications (2)
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JPH0611408A JPH0611408A (ja) | 1994-01-21 |
JPH07104224B2 true JPH07104224B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=18185864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3326267A Expired - Fee Related JPH07104224B2 (ja) | 1991-12-11 | 1991-12-11 | 洩れ検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07104224B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009145991A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-12-03 | Levtech, Inc. | Apparatus and method for the integrity testing of flexible containers |
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JP3920426B2 (ja) * | 1996-12-20 | 2007-05-30 | 株式会社コスモ計器 | 洩れ検査装置 |
US8534120B1 (en) | 2012-09-14 | 2013-09-17 | Advanced Scientifics, Inc. | Test system and method for flexible containers |
US10519415B2 (en) | 2013-12-10 | 2019-12-31 | Abec, Inc. | Attachment device for single use containers |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH02306133A (ja) * | 1989-05-19 | 1990-12-19 | Kanebo Ltd | 漏れ検査装置 |
-
1991
- 1991-12-11 JP JP3326267A patent/JPH07104224B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2009145991A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-12-03 | Levtech, Inc. | Apparatus and method for the integrity testing of flexible containers |
Also Published As
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JPH0611408A (ja) | 1994-01-21 |
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