JPH0676366A - Disk for evaluation and exposure system for master disk for evaluation - Google Patents
Disk for evaluation and exposure system for master disk for evaluationInfo
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- JPH0676366A JPH0676366A JP25211992A JP25211992A JPH0676366A JP H0676366 A JPH0676366 A JP H0676366A JP 25211992 A JP25211992 A JP 25211992A JP 25211992 A JP25211992 A JP 25211992A JP H0676366 A JPH0676366 A JP H0676366A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ATIP同期規則の評
価を行うための評価用ディスク及び評価用ディスクの作
製を行う原盤露光システムに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an evaluation disk for evaluating an ATIP synchronization rule and a master exposure system for producing the evaluation disk.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、CDライター開発時には、以下の
(1)ATIP同期規則及び(2)一般的結合規則を満
足しているか否かの確認作業が必要である。この規則に
関する内容を提唱した周知のオレンジブックでは、以下
のことが定められている。 (1)ATIP同期規則 追記型ディスク全面にわたり、ATIP同期とサブコー
ド同期の位置ずれの許容誤差を±2EFMフレームとす
る。ただし、ATIP同期位置は同期パターン直後、サ
ブコード同期位置は同期パターンの開始位置とする。 (2)一般的結合規則 インクリメント書込み、すなわち、何回かに分けた書込
みでは結合位置は書込み開始位置及び終了位置ともに、
サブコード同期の開始後26EFMフレームとし、その
許容誤差±1EFMフレームとする。2. Description of the Related Art Conventionally, when developing a CD writer, it is necessary to confirm whether or not the following (1) ATIP synchronization rule and (2) general combining rule are satisfied. The well-known Orange Book, which advocated the content of this rule, defines the following. (1) ATIP synchronization rule A permissible error between ATIP synchronization and subcode synchronization is ± 2EFM frames over the entire surface of the write-once disc. However, the ATIP sync position is immediately after the sync pattern, and the subcode sync position is the start position of the sync pattern. (2) General combining rule In incremental writing, that is, in writing divided into several times, the combining position is the writing start position and the end position,
It is set to 26 EFM frames after the start of subcode synchronization, and its allowable error is ± 1 EFM frame.
【0003】この規則を満足させるにはATIP同期パ
ターンの位置と、サブコード同期パターンの位置とが検
出できれば良い。このためATIP復調、EFMデコー
ド等の信号処理によってATIP同期パターン及びサブ
コード同期パターンの位置を確認している。In order to satisfy this rule, the position of the ATIP sync pattern and the position of the subcode sync pattern may be detected. Therefore, the positions of the ATIP synchronization pattern and the subcode synchronization pattern are confirmed by signal processing such as ATIP demodulation and EFM decoding.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】このようにCDライタ
ー開発時には、信号処理によってATIP同期パターン
及びサブコード同期パターンの位置を確認している。こ
の場合、ATIP同期パターン及びサブコード同期パタ
ーンの検出に遅延が発生して正確に確認できないという
欠点があった。さらに、ATIP復調は追記型ディスク
の記録情報を再生したトラッキングエラー信号から得ら
れるが、ピットを書込んだ後のトラッキングエラー信号
波形が変形する場合があり、デコードが困難となる。す
なわち、ピット書込み後のATIP復調は正確性に欠け
るという欠点があった。また、ATIP同期パターン及
びサブコード同期パターンの物理的な位置の判断が視覚
的に容易にできないという欠点があった。Thus, when developing a CD writer, the positions of the ATIP sync pattern and the subcode sync pattern are confirmed by signal processing. In this case, there is a drawback that the detection of the ATIP synchronization pattern and the subcode synchronization pattern is delayed and cannot be confirmed accurately. Further, although ATIP demodulation can be obtained from a tracking error signal obtained by reproducing recorded information on a write-once disc, the tracking error signal waveform after writing pits may be deformed, which makes decoding difficult. That is, the ATIP demodulation after writing the pits has a drawback of lacking accuracy. In addition, there is a drawback that the physical positions of the ATIP sync pattern and the subcode sync pattern cannot be visually determined easily.
【0005】本発明は、このような従来の課題を解決す
るものであり、ATIP同期パターン及びインクリメン
トの書き込み結合位置を視覚的に容易に判断できるとと
もに、この評価用ディスクを容易に作製できる評価用デ
ィスク及び評価用ディスク原盤露光システムの提供を目
的とする。The present invention is intended to solve such a conventional problem, and makes it possible to easily visually judge the ATIP synchronization pattern and the write connection position of the increment and to easily manufacture the evaluation disk. The purpose of the present invention is to provide a disc and an evaluation disc master exposure system.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の評価用ディスクはグルーブの途中にAT
IP同期パターンの位置を物理的、かつ、視覚的に判断
するための同期パターン視覚的判断部を設けた構成であ
る。In order to achieve the above object, the evaluation disk according to claim 1 has an AT in the middle of the groove.
This is a configuration in which a synchronization pattern visual determination unit for physically and visually determining the position of the IP synchronization pattern is provided.
【0007】請求項2の評価用ディスクは、グルーブの
途中にインクリメント書込みの結合位置を視覚的に判断
するためのインクリメント書込み視覚的判断部を設けた
構成である。The evaluation disk according to a second aspect of the present invention has a configuration in which an increment writing visual determination unit for visually determining the joining position of increment writing is provided in the middle of the groove.
【0008】請求項3の評価用ディスクでは、これらの
同期パターン視覚的判断部及びインクリメント書込み視
覚的判断部として、グルーブの途中の所定区間に太い幅
のグルーブを設けた構成としている。In the evaluation disk according to the third aspect of the present invention, a groove having a large width is provided in a predetermined section in the middle of the groove as the synchronizing pattern visual judging section and the increment writing visual judging section.
【0009】請求項4の評価用ディスクでは、同期パタ
ーン視覚的判断部及びインクリメント書込み視覚的判断
部として、グルーブの途中の所定区間にグルーブが途切
れた不連続のギャップを設けた構成としている。In the disk for evaluation of claim 4, the sync pattern visual judgment portion and the incremental writing visual judgment portion are provided with discontinuous gaps in which grooves are interrupted at predetermined intervals in the middle of the groove.
【0010】請求項5の評価用ディスクでは、請求項3
における太い幅のグルーブを、ATIP同期規則許容誤
差範囲に設ける構成としている。According to the evaluation disk of claim 5, the evaluation disk of claim 3 is used.
The groove having a large width in is provided in the ATIP synchronization rule allowable error range.
【0011】請求項6は、グルーブの途中の所定区間に
太い幅のグルーブの評価用ディスクを作製するための評
価用ディスク原盤露光システムであって、ATIPエン
コーダとディスク原盤露光装置内に設けられる光量調整
用A/Oドライバとの間に同期パターンを検出するAT
IP同期パターン検出部と、同期パターンの検出後にパ
ルスを発生させるタイミングパルス発生部と、パルス幅
の間に光量調整用A/Oドライバに高い電圧を出力する
電圧切り換え部とを設け、ATIP同期パターンの位置
又はインクリメント書込みの結合位置を示す太いグルー
ブを形成する構成としている。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an evaluation disc master exposure system for producing an evaluation disc having a groove having a large width in a predetermined section in the middle of the groove, wherein an amount of light provided in the ATIP encoder and the disc master exposure device. AT that detects a synchronization pattern with the adjustment A / O driver
The IP sync pattern detection unit, the timing pulse generation unit that generates a pulse after the detection of the sync pattern, and the voltage switching unit that outputs a high voltage to the light amount adjustment A / O driver during the pulse width are provided. A thick groove is formed to indicate the position of or the combined position of increment writing.
【0012】請求項7は、グルーブの途中の所定区間に
グルーブが途切れた不連続のギャップを設けた評価用デ
ィスクを作製するための評価用ディスク原盤露光システ
ムであって、ATIPエンコーダとディスク原盤露光装
置中のレーザ光オン/オフ用A/Oドライバとの間に、
同期パターンを検出するATIP同期パターン検出部
と、同期パターンの検出後にレーザ光オン/オフ用A/
Oドライバをオフに設定するパルスを発生させるタイミ
ングパルス発生部とを設け、ATIP同期パターンの位
置又はインクリメント書込みの結合位置を示すグルーブ
の途中にグルーブが途切れた不連続のギヤップを形成す
る構成である。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an evaluation disk master exposure system for producing an evaluation disk having a discontinuous gap in which a groove is discontinued in a predetermined section in the middle of the groove. Between the laser light on / off A / O driver in the device,
An ATIP sync pattern detection unit for detecting a sync pattern, and A / A for laser light on / off after the sync pattern is detected.
A timing pulse generating unit for generating a pulse for setting the O driver to OFF is provided, and a discontinuous gap having a discontinuous groove is formed in the middle of the groove indicating the position of the ATIP synchronization pattern or the combined position of the increment write. .
【0013】[0013]
【作用】このような構成により、請求項1〜5の本発明
の評価用ディスクは、同期パターン視覚的判断部及びイ
ンクリメント書込み視覚的判断部として、グルーブの途
中の所定区間に太い幅のグルーブ又はグルーブの途中の
所定区間にグルーブが途切れた不連続のギャップを設け
ており、これによって、ATIP同期パターン及びイン
クリメント書込みの結合位置を視覚的に容易、かつ正確
に判断できる。With such a structure, the evaluation disk of the present invention according to any one of claims 1 to 5 can be used as a synchronization pattern visual judgment unit and an increment writing visual judgment unit as a groove having a wide width in a predetermined section in the middle of the groove. A discontinuous gap in which the groove is interrupted is provided in a predetermined section in the middle of the groove, whereby the ATIP synchronization pattern and the combined position of increment writing can be visually and easily determined.
【0014】さらに、請求項6,7の評価用ディスク原
盤露光システムは、同期パターンを検出して所定長のパ
ルスを発生させ、このパルス幅の間に高電圧を光量調整
用A/Oドライバに出力しているため、所定区間に太い
幅のグルーブを設けた評価用ディスクを容易に作製でき
る。また、パルス幅の間にレーザ光オン/オフ用A/O
ドライバをオフに設定しているため、グルーブの途中の
所定区間にグルーブが途切れた不連続のギャップを設け
た評価用ディスクを容易に作製できる。Further, the evaluation disk master exposure system according to the sixth and seventh aspects detects a synchronization pattern and generates a pulse of a predetermined length, and a high voltage is applied to the light quantity adjusting A / O driver during this pulse width. Since the data is output, it is possible to easily manufacture an evaluation disk having a groove having a large width in a predetermined section. Also, during the pulse width, the A / O for turning the laser light on / off
Since the driver is set off, it is possible to easily manufacture an evaluation disk having a discontinuous gap in which a groove is discontinued in a predetermined section in the groove.
【0015】[0015]
【実施例】次に、本発明の評価用ディスク及び評価用デ
ィスク原盤露光システムの実施例を図面を参照して詳細
に説明する。図1は第1の実施例に係る評価用ディスク
原盤露光システムの構成を示すブロック図である。な
お、この第1の実施例は請求項6に対応する。図1にお
いて、この例は、ATIPエンコーダ2と、光ディスク
原盤露光機20を有している。ATIPエンコーダ2に
は、周知のATIP同期パターン発生部4と、バイフェ
ーズ変調部6と、FM変調部8とが設けられている。光
ディスク原盤露光機20は周知のアナログA/Oドライ
バ21と、スウィープオシレータ22と、デジタルA/
Oドライバ23と、光量調整用アナログA/O24と、
ウォブル用アナログA/O25と、レーザ光オン(O
N)/オフ(OFF)用デジタルA/O26とを有して
いる。さらに、ATIPエンコーダ2内のFM変調部8
と、光ディスク原盤露光機20内のスウィープオシレー
タ22との間に接続されるウォブル振幅電圧調整部10
を有している。また、ATIPエンコーダ2内のFM変
調部8と、光ディスク原盤露光機20内のアナログA/
Oドライバ21との間にATIP同期パターン検出部1
2と、タイミングパルス発生部14と、電圧切り換え部
16とが連接して設けられている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the evaluation disk and the evaluation disk master exposure system of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the arrangement of an evaluation disk master exposure system according to the first embodiment. The first embodiment corresponds to claim 6. In FIG. 1, this example has an ATIP encoder 2 and an optical disc master exposure device 20. The ATIP encoder 2 is provided with a well-known ATIP synchronization pattern generator 4, a bi-phase modulator 6, and an FM modulator 8. The optical disk master exposure device 20 includes a well-known analog A / O driver 21, a sweep oscillator 22, and a digital A / O driver.
O driver 23, analog A / O 24 for adjusting light quantity,
Wobble analog A / O 25 and laser light on (O
N) / off (OFF) digital A / O 26. Further, the FM modulator 8 in the ATIP encoder 2
And the wobble amplitude voltage adjustment unit 10 connected between the optical disc master exposure device 20 and the sweep oscillator 22 in the optical disc master exposure device 20.
have. In addition, the FM modulator 8 in the ATIP encoder 2 and the analog A /
The ATIP synchronization pattern detection unit 1 is connected to the O driver 21.
2, the timing pulse generation unit 14, and the voltage switching unit 16 are connected to each other.
【0016】この第1の実施例の構成における動作につ
いて説明する。ここではATIP同期パターン検出部1
2、タイミングパルス発生部14、電圧切り換え部16
によって、図示しないディスクにATIP同期パターン
の位置又はインクリメント書込みの結合位置を示すグル
ーブの途中の特定区間に太い幅のグルーブを形成する処
理を行っている。先ず、ATIP同期パターン検出部1
2では、ATIPエンコーダ2内のFM変調部8からの
ウォブル信号を復調し、同期パターンを検出すると同期
パターン検出信号を出力する。タイミングパルス発生部
14では、同期パターン検出信号が入力されると所定時
間後に所定長のパルスを発生させる。電圧切り換え部1
6では、そのパルスがロー(L)レベルのときに通常の
幅のグルーブが形成される電圧値を出力する。そして、
ハイ(H)レベルのときに太い幅のグルーブが形成され
る高い電圧を出力する。この電圧値はグルーブの途中の
所定区間の太い幅のグルーブを、ATIP同期規則又は
インクリメント書込みの結合規則の許容誤差範囲に設け
る値に設定する。The operation of the configuration of the first embodiment will be described. Here, the ATIP synchronization pattern detection unit 1
2, timing pulse generation unit 14, voltage switching unit 16
Thus, a process of forming a groove having a large width in a specific section in the middle of the groove indicating the position of the ATIP synchronization pattern or the combined position of the incremental writing is performed on the disk (not shown). First, the ATIP synchronization pattern detector 1
In 2, the wobble signal from the FM modulator 8 in the ATIP encoder 2 is demodulated, and when a sync pattern is detected, a sync pattern detection signal is output. The timing pulse generator 14 generates a pulse of a predetermined length after a predetermined time when the sync pattern detection signal is input. Voltage switching unit 1
In 6, the voltage value at which a groove having a normal width is formed is output when the pulse is at the low (L) level. And
At the time of high (H) level, a high voltage for forming a wide groove is output. This voltage value is set to a value that provides a wide groove in a predetermined section in the middle of the groove within the allowable error range of the ATIP synchronization rule or the combination rule of increment writing.
【0017】図2は第2の実施例に係る評価用ディスク
原盤露光システムの構成を示すブロック図である。な
お、この第2の実施例は請求項7に対応する。図2にお
いて、この例は、ATIPエンコーダ2と、光ディスク
原盤露光機20を有している。ATIPエンコーダ2
は、周知のATIP同期パターン発生部4と、バイフェ
ーズ変調部6と、FM変調部8とが設けられている。光
ディスク原盤露光機20は周知のアナログA/Oドライ
バ21と、スウィープオシレータ22と、デジタルA/
Oドライバ23と、光量調整用アナログA/O24と、
ウォブル用アナログA/O25と、レーザ光ON/OF
F用デジタルA/O26とを有している。また、ATI
Pエンコーダ2内のFM変調部8と、光ディスク原盤露
光機20内のスウィープオシレータ22との間にウォブ
ル振幅電圧調整部10が設けられている。さらに、AT
IPエンコーダ2内のFM変調部8と、光ディスク原盤
露光機20内のデジタルA/Oドライバ23との間にA
TIP同期パターン検出部12、タイミングパルス発生
部14とが連接して設けられている。FIG. 2 is a block diagram showing the arrangement of an evaluation disk master exposure system according to the second embodiment. The second embodiment corresponds to claim 7. In FIG. 2, this example has an ATIP encoder 2 and an optical disc master exposure device 20. ATIP encoder 2
Is provided with a well-known ATIP synchronization pattern generator 4, a bi-phase modulator 6, and an FM modulator 8. The optical disk master exposure device 20 includes a well-known analog A / O driver 21, a sweep oscillator 22, and a digital A / O driver.
O driver 23, analog A / O 24 for adjusting light quantity,
Wobble analog A / O25 and laser light ON / OF
It has a digital A / O 26 for F. Also, ATI
A wobble amplitude voltage adjuster 10 is provided between the FM modulator 8 in the P encoder 2 and the sweep oscillator 22 in the optical disk master exposure device 20. Furthermore, AT
Between the FM modulator 8 in the IP encoder 2 and the digital A / O driver 23 in the optical disc master exposure device 20,
The TIP synchronization pattern detection unit 12 and the timing pulse generation unit 14 are provided so as to be connected to each other.
【0018】この第2の実施例の構成における動作につ
いて説明する。ウォブル振幅電圧調整部10、ATIP
同期パターン検出部12、タイミングパルス発生部14
とによって、図示していない評価用ディスク原盤にAT
IP同期パターンの位置又はインクリメント書込みの結
合位置を示すグルーブの途中にギャップ、すなわち、露
光しない部分を設けている。先ず、ATIP同期パター
ン検出部12では、ATIPエンコーダ2からのウォブ
ル信号を復調し、同期パターンを検出すると同期パター
ン検出信号が出力される。タイミングパルス発生部14
では、同期パターン検出信号が入力されると所定時間後
に所定長のパルスを発生させる。デジタルA/Oドライ
バ23では、このパルスを受け、レーザ光ON/OFF
用デジタルA/O26をON/OFFする。例えば、タ
イミングパルス発生部14からのパルスがハイ(H)レ
ベル時にデジタルA/Oドライバ23を通じてレーザ光
ON/OFF用デジタルA/O26をオフ(OFF)と
すればグルーブが途切れてギャップが形成される。The operation of the configuration of the second embodiment will be described. Wobble amplitude voltage adjustment unit 10, ATIP
Synchronization pattern detection unit 12, timing pulse generation unit 14
AT to the evaluation disc master (not shown)
A gap, that is, an unexposed portion is provided in the middle of the groove indicating the position of the IP synchronization pattern or the combined position of the incremental writing. First, the ATIP sync pattern detector 12 demodulates the wobble signal from the ATIP encoder 2 and outputs a sync pattern detection signal when a sync pattern is detected. Timing pulse generator 14
Then, when the synchronization pattern detection signal is input, a pulse having a predetermined length is generated after a predetermined time. The digital A / O driver 23 receives this pulse and turns on / off the laser light.
ON / OFF the digital A / O 26 for use. For example, when the pulse from the timing pulse generator 14 is at a high (H) level, if the digital A / O 26 for laser light ON / OFF is turned off (OFF) through the digital A / O driver 23, the groove is interrupted and a gap is formed. It
【0019】次に、第1の実施例の評価用ディスク原盤
露光システムで作成された請求項1,3,5に対応する
評価用ディスクについて説明する。図5は太い幅のグル
ーブを設けた評価用ディスクの表面状態を示す図であ
る。図5において、この例は通常幅のグルーブPと、太
い幅のグルーブBを有している。太い幅のグルーブBは
ATIP同期位置を開始位置としている。このようにし
て従前に示したオレンジブックにおける(1)ATIP
同期規則に対応している。この評価用ディスクに通常の
書込み動作を行い、光学顕微鏡等で観察して、そのサブ
コードの同期パターン開始位置が、太い幅のグルーブB
の開始位置から±2EFMフレームの範囲内にあればオ
レンジブックのATIP同期規則を満たしていることに
なる。さらに、図1中のタイミングパルス発生部14か
らのパルス幅の時間長の設定を変更して図3に示すよう
にATIP同期±2EFMフレーム(合計4EFMフレ
ーム)の範囲を太い幅のグルーブBとした場合、通常幅
のパターン直後に太い幅のグルーブBにあるか否かを判
定すれば良く、光学顕微鏡等での観察による確認作業
が、より迅速に行える。Next, description will be given of an evaluation disk corresponding to claims 1, 3 and 5 created by the evaluation disk master exposure system of the first embodiment. FIG. 5 is a diagram showing a surface state of an evaluation disk provided with a groove having a wide width. In FIG. 5, this example has a groove P having a normal width and a groove B having a large width. The thick groove B has the ATIP synchronization position as the start position. Thus, (1) ATIP in the Orange Book previously shown
It corresponds to the synchronization rule. A normal writing operation is performed on this evaluation disk, and when observed with an optical microscope or the like, the sync pattern start position of the sub-code shows a groove B with a thick width.
If it is within ± 2EFM frames from the start position of, the ATIP synchronization rule of Orange Book is satisfied. Furthermore, the setting of the time length of the pulse width from the timing pulse generating unit 14 in FIG. 1 is changed so that the range of the ATIP synchronization ± 2EFM frames (total 4EFM frames) is set to the groove B having a large width as shown in FIG. In this case, it is sufficient to determine whether or not there is a groove B having a large width immediately after the pattern having a normal width, and the confirmation work by observation with an optical microscope or the like can be performed more quickly.
【0020】次に、第2の実施例の評価用ディスク原盤
露光システムで作成された請求項2,4に対応する評価
用ディスクについて説明する。図4はグルーブにギャッ
プを設けた評価用ディスクの表面状態を示す図である。
図4において、グルーブRにギャップGが設けられてい
る。このギャップはインクリメント書込みの結合位置す
なわちサブコード同期位置から26EFMフレーム後の
位置を、開始位置としている。このように従前に説明し
たオレンジブックにおける(2)一般的結合規則に対応
している。この評価用ディスクにインクリメント書込
み、すなわち、何回かに分けた書込み動作を行い、光学
顕微鏡で観察し、それぞれの書込み部分の開始点(もし
くは終了点)が、ギャップGの開始位置から±2EFM
フレームの範囲にあり(すなわち、ATIP同期規則を
満足していること)、かつ隣合った書込み部分の重なり
が、±1EFMフレームの範囲内であれば、一般的結合
規則を満足していることになる。Next, a description will be given of an evaluation disk corresponding to claims 2 and 4, which is produced by the evaluation disk master exposure system of the second embodiment. FIG. 4 is a view showing a surface state of an evaluation disk having a groove provided with a gap.
In FIG. 4, a groove G is provided in the groove R. This gap has a start position at a combined position of increment writing, that is, a position 26 EFM frames after the subcode synchronization position. This corresponds to (2) general combining rule in the Orange Book described above. Incremental writing, that is, writing operation divided into several times, is performed on this evaluation disk, and observed with an optical microscope. The starting point (or ending point) of each writing portion is ± 2 EFM from the starting position of the gap G.
If the frame is within the range (that is, the ATIP synchronization rule is satisfied) and the overlap between the adjacent write portions is within ± 1EFM frame, it means that the general combining rule is satisfied. Become.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の評価用ディスク及び評価用ディスク原盤露光システム
にあって、請求項1では、グルーブ途中にATIP同期
パターンの位置を視覚的に判断するための同期パターン
視覚的判断部を設けているため、ピット書込みを行った
際のオレンジブックにおけるATIP同期規則を満足し
ているか否かの確認作業が、光学的顕微鏡程度の観察
で、容易にかつ正確にできるという効果を有する。請求
項2では、グルーブ中にインクリメント書込みの結合位
置を視覚的に判断するためのインクリメント書込み視覚
的判断部を設けているため、インクリメント書込みを行
う際のオレンジブックにおける一般的結合規則を満足し
ているか否かの確認作業が光学的顕微鏡程度の観察で容
易かつ正確にできるという効果を有する。請求項3で
は、所定区間に太い幅のグルーブを設けたので、ATI
P情報を損なうことなく、ATIP同期パターン位置が
容易に判断できるという効果を有する。請求項4では、
グルーブの途中の所定区間にグルーブが途切れた不連続
のギャップを設けているため、ATIP同期パターン位
置の判断が明確にできるという効果を有する。請求項5
では、グルーブの途中の所定区間に太い幅のグルーブ
を、ATIP同期規則許容誤差範囲に設けているため、
瞬時にこの規則を満足しているか否かの判断が可能にな
るという効果を有する。請求項6では、同期パターンを
検出して所定長のパルスを発生させ、このパルス幅の間
に高い電圧を光量調整用A/Oドライバに出力している
ため、グルーブの途中の所定区間に太い幅のグルーブを
設けた評価用ディスクを容易に作製できるという効果を
有する。請求項7では、パルス幅の間にレーザ光オン/
オフ用A/Oドライバをオフに設定しているため、グル
ーブの途中の所定区間にグルーブが途切れた不連続のギ
ャップを設けた評価用ディスクを容易に作製できるとい
う効果を有する。As is apparent from the above description, in the evaluation disc and the evaluation disc master exposure system of the present invention, in claim 1, the position of the ATIP synchronization pattern is visually judged during the groove. Since a synchronization pattern visual judgment unit is provided for checking whether or not the ATIP synchronization rule in Orange Book is satisfied when pit writing is performed, it is possible to easily and easily by observing with an optical microscope. It has the effect of being accurate. According to the present invention, since the increment writing visual judgment unit for visually judging the joining position of the increment writing is provided in the groove, the general joining rule in the Orange Book when performing the increment writing is satisfied. This has the effect that the work of checking whether or not it can be easily and accurately performed by observing with an optical microscope. In the third aspect, since the groove having a large width is provided in the predetermined section, the ATI
The ATIP synchronization pattern position can be easily determined without damaging the P information. In claim 4,
Since a discontinuous gap in which the groove is interrupted is provided in a predetermined section in the middle of the groove, there is an effect that the ATIP synchronization pattern position can be clearly determined. Claim 5
Then, since a groove having a large width is provided in the ATIP synchronization rule permissible error range in a predetermined section in the middle of the groove,
This has the effect of making it possible to instantly determine whether or not this rule is satisfied. According to the sixth aspect of the present invention, the synchronization pattern is detected, a pulse of a predetermined length is generated, and a high voltage is output to the light amount adjusting A / O driver during this pulse width. The effect is that an evaluation disk provided with a groove having a width can be easily manufactured. In claim 7, the laser light is turned on / on during the pulse width.
Since the off A / O driver is set to off, there is an effect that it is possible to easily manufacture an evaluation disk having a discontinuous gap in which a groove is discontinued in a predetermined section in the middle of the groove.
【図1】本発明の第1の実施例に係る評価用ディスク原
盤露光システムの構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an evaluation disk master exposure system according to a first embodiment of the present invention.
【図2】第2の実施例に係る評価用ディスク原盤露光シ
ステムの構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an evaluation disk master disc exposure system according to a second embodiment.
【図3】実施例にあってグルーブの途中に太い幅のグル
ーブを設けた評価用ディスクの表面状態を示す図であ
る。FIG. 3 is a diagram showing a surface state of an evaluation disk in which a groove having a large width is provided in the groove in the example.
【図4】実施例にあってグルーブの途中にギャップを設
けた評価用ディスクの表面状態を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a surface state of an evaluation disk having a gap in the groove in the example.
【図5】実施例にあってグルーブの途中に太い幅のグル
ーブを設けた評価用ディスクの表面状態を示す図であ
る。FIG. 5 is a diagram showing a surface state of an evaluation disk in which a groove having a large width is provided in the middle of the groove in the example.
2 ATIPエンコーダ 4 ATIP同期パターン発生部 6 バイフェーズ変調部 8 FM変調部 10 ウォブル振幅電圧調整部 12 ATIP同期パターン検出部 14 タイミングパルス発生部 16 電圧切り換え部 20 光ディスク原盤露光機 21 アナログA/Oドライバ 22 スウィープオシレータ 23 デジタルA/Oドライバ 24 光量調整用アナログA/O 25 ウォブル用アナログA/O 26 レーザ光ON/OFF用デジタルA/O 2 ATIP encoder 4 ATIP sync pattern generator 6 Bi-phase modulator 8 FM modulator 10 Wobble amplitude voltage adjuster 12 ATIP sync pattern detector 14 Timing pulse generator 16 Voltage switcher 20 Optical disc master exposure machine 21 Analog A / O driver 22 Sweep Oscillator 23 Digital A / O Driver 24 Light Amount Adjustment Analog A / O 25 Wobble Analog A / O 26 Laser Light ON / OFF Digital A / O
Claims (7)
の位置を視覚的に判断するための同期パターン視覚的判
断部を設けたことを特徴とする評価用ディスク。1. An evaluation disk, comprising a sync pattern visual judgment section for visually judging the position of an ATIP sync pattern in the middle of a groove.
の結合位置を視覚的に判断するためのインクリメント書
込み視覚的判断部を設けたことを特徴とする評価用ディ
スク。2. An evaluation disk, comprising an increment writing visual determination unit for visually determining the joining position of increment writing in the middle of the groove.
び請求項2のインクリメント書込み視覚的判断部とし
て、グルーブの途中の所定区間に太い幅のグルーブを設
けたことを特徴とする評価用ディスク。3. An evaluation disk, wherein a groove having a large width is provided in a predetermined section in the middle of the groove as the synchronizing pattern visual judging section of claim 1 and the incremental writing visual judging section of claim 2. .
び請求項2のインクリメント書込み視覚的判断部とし
て、グルーブの途中の所定区間にグルーブが途切れた不
連続のギャップを設けたことを特徴とする評価用ディス
ク。4. The synchronization pattern visual judgment unit according to claim 1 and the increment writing visual judgment unit according to claim 2 are characterized in that a discontinuous gap in which the groove is interrupted is provided in a predetermined section in the middle of the groove. Evaluation disk to be used.
ATIP同期規則許容誤差範囲に設けることを特徴とす
る評価用ディスク。5. A groove having a large width according to claim 3,
An evaluation disk characterized by being provided within an ATIP synchronization rule allowable error range.
作製するための評価用ディスク原盤露光システムであっ
て、ATIPエンコーダとディスク原盤露光装置内に設
けられる光量調整用A/Oドライバとの間に同期パター
ンを検出するATIP同期パターン検出部と、上記同期
パターンの検出後にパルスを発生させるタイミングパル
ス発生部と、上記パルス幅の間に上記光量調整用A/O
ドライバに高い電圧を出力する電圧切り換え部とを設
け、ATIP同期パターンの位置又はインクリメント書
込みの結合位置を示す太いグルーブを形成することを特
徴とする評価用ディスク原盤露光システム。6. An evaluation disk master exposure system for producing the evaluation disk according to claim 3, comprising an ATIP encoder and a light amount adjusting A / O driver provided in the disk master exposure apparatus. An ATIP sync pattern detecting section for detecting a sync pattern in the meantime, a timing pulse generating section for generating a pulse after the sync pattern is detected, and the light quantity adjusting A / O between the pulse widths.
A disc master exposure system for evaluation, wherein a driver is provided with a voltage switching unit for outputting a high voltage, and a thick groove is formed to indicate a position of an ATIP synchronization pattern or a combination position of increment writing.
るための評価用ディスク原盤露光システムであって、A
TIPエンコーダとディスク原盤露光装置中のレーザ光
オン/オフ用A/Oドライバとの間に、同期パターンを
検出するATIP同期パターン検出部と、上記同期パタ
ーンの検出後に上記レーザ光オン/オフ用A/Oドライ
バをオフに設定するパルスを発生させるタイミングパル
ス発生部とを設け、ATIP同期パターンの位置又はイ
ンクリメント書込みの結合位置を示すグルーブの途中に
グルーブが途切れた不連続のギヤップを形成することを
特徴とする評価用ディスク原盤露光システム。7. An evaluation disk master exposure system for producing the evaluation disk according to claim 4, comprising:
An ATIP sync pattern detector for detecting a sync pattern between the TIP encoder and the laser light on / off A / O driver in the disc master exposure device, and the laser light on / off A after detecting the sync pattern. And a timing pulse generator for generating a pulse for setting the / O driver off, and forming a discontinuous gap in which the groove is discontinued in the middle of the groove indicating the position of the ATIP synchronization pattern or the combined position of the increment write. Characteristic disk master exposure system for evaluation.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25211992A JPH0676366A (en) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Disk for evaluation and exposure system for master disk for evaluation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25211992A JPH0676366A (en) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Disk for evaluation and exposure system for master disk for evaluation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0676366A true JPH0676366A (en) | 1994-03-18 |
Family
ID=17232739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25211992A Pending JPH0676366A (en) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Disk for evaluation and exposure system for master disk for evaluation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0676366A (en) |
-
1992
- 1992-08-27 JP JP25211992A patent/JPH0676366A/en active Pending
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