JPH0654353A - Defect detection device for platelike display device - Google Patents
Defect detection device for platelike display deviceInfo
- Publication number
- JPH0654353A JPH0654353A JP22356892A JP22356892A JPH0654353A JP H0654353 A JPH0654353 A JP H0654353A JP 22356892 A JP22356892 A JP 22356892A JP 22356892 A JP22356892 A JP 22356892A JP H0654353 A JPH0654353 A JP H0654353A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display device
- image processing
- frame memory
- pixel
- address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は平板状の表示デバイスの
欠陥検出装置にかかわり、特に液晶表示装置（ＬＣＤ）
の欠陥検出装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display device defect detection apparatus, and more particularly to a liquid crystal display apparatus (LCD).
The present invention relates to a defect detection device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】近年、液晶パネルを利用した表示装置が
広く利用されており、特に薄型化が可能であるという利
点を生かして小型のテレビジョンモニタ装置やラップト
ップ型コンピュータシステム用モニタ装置として有効に
利用されているが、これらの液晶表示装置には、例えば
画素ごとにその画素を駆動する薄膜トランジスタ（ＴＦ
Ｔ）が配されているアクティブマトリクス方式が採用さ
れているものがある。2. Description of the Related Art In recent years, a display device using a liquid crystal panel has been widely used, and it is effective as a monitor device for a small television monitor or a laptop computer system by taking advantage of its thinness. In these liquid crystal display devices, for example, a thin film transistor (TF) that drives each pixel is used.
There is an active matrix system in which T) is arranged.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うなＴＦＴタイプの表示デバイスは高い解像度が要求さ
れるとＴＦＴ不良発生箇所が増加し、画素が正常に駆動
しない場合が多くなる。そのため例えば、ＴＦＴに電圧
が印加されない状態では白が表示されるノーマリーホワ
イトパネルの場合、電圧が印加された場合でも白表示の
ままであるドット点や、電圧が印加されない状態でも黒
が表示さているドット点が存在し、正常な画像表示が行
なわれなくなるようになる。However, in the TFT type display device as described above, when a high resolution is required, the number of locations where TFT defects occur increases and the pixels often do not operate normally. Therefore, for example, in the case of a normally white panel in which white is displayed when no voltage is applied to the TFT, dot points that remain white display even when voltage is applied, or black is displayed even when no voltage is applied. Some dot points are present, and normal image display will not be performed.
【０００４】そのため通常は製造段階で液晶パネルの検
査を行なう必要があるが、その方法として液晶パネルを
全白、又は全黒というように駆動して人間の目で観察
し、例えば白表示をしたにもかかわらず黒が表示されて
いる画素や、黒表示をしたにもかかわらず白が表示され
ている画素を検出する方法が採られていた。For this reason, it is usually necessary to inspect the liquid crystal panel at the manufacturing stage, but as a method therefor, the liquid crystal panel is driven in an all-white or all-black manner and observed by human eyes, for example, white display is performed. Nevertheless, a method of detecting a pixel in which black is displayed or a pixel in which white is displayed despite black display has been adopted.
【０００５】しかし特に白表示している場合に黒が表示
されている画素を見つけ出すことは、明るい中から小さ
な暗い点を見つけ出すということになり、人間の目で観
察することはかなり困難な作業になる。However, finding a pixel in which black is displayed, particularly when displaying white, means finding a small dark spot from a bright spot, which is a difficult task to observe with human eyes. Become.
【０００６】そこで、画素が配されている液晶パネルの
画像情報をＣＣＤカメラで画像処理装置に取り込み、例
えば画像処理装置内のフレームメモリの各画素の画像デ
ータを２値化することにより、０，１の信号に変換して
ラベリング処理を行なっていた。そして同一の番号が施
されている箇所をＬＣＤの画素があると認識し、画素の
各駆動状況はラベルを施したアドレスをスキャンして検
出するという処理が行なわれている。しかしアドレスの
スキャンには、かなりの時間を必要とし、また２値化を
行なっているために各画素のレベルデータ等は、保持す
ることができなかった。Therefore, the image information of the liquid crystal panel in which the pixels are arranged is taken into the image processing device by the CCD camera, and the image data of each pixel of the frame memory in the image processing device is binarized to obtain 0, The signal was converted into the signal of 1 and the labeling process was performed. Then, a process of recognizing that a pixel having the same number is present in a pixel of the LCD and scanning each address of the pixel by scanning the labeled address is performed. However, scanning an address requires a considerable amount of time, and since the binarization is performed, the level data of each pixel cannot be held.
【０００７】又、表示デバイスの表示面を形成する画素
列とこの表示デバイスを撮影するＣＣＤカメラの画素列
が異なると表示デバイスの画素をフレームメモリ内に静
止画として取り込むことができない。そのため従来の検
出装置で異なるテレビ方式に対応している液晶表示装置
を検査する場合は、そのテレビ方式に合致したＣＣＤカ
メラにより検査することが必要になり、検出装置を各テ
レビ方式に対応して複数台設けるため設備が大型化する
という問題があった。Further, if the pixel row forming the display surface of the display device and the pixel row of the CCD camera for photographing the display device are different, the pixels of the display device cannot be taken in the frame memory as a still image. Therefore, when inspecting a liquid crystal display device compatible with different television systems with a conventional detection device, it is necessary to inspect with a CCD camera that matches the television system, and the detection device is compatible with each television system. There is a problem that the equipment becomes large because a plurality of units are provided.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明はこのような問題
点を解決するためになされたもので、表示デバイスと対
向し、少なくとも表示デバイスの表示面を完全にとり込
むように配置され、前記表示デバイスの画素よりも多く
の画素が配されている撮影手段と、前記表示デバイスに
所定の映像パターン信号を供給する駆動手段と、前記撮
影手段が撮影した映像を前記表示デバイスの画素データ
として格納するフレームメモリを設けた画像処理手段
と、前記画像処理手段と、前記撮影手段と、前記駆動手
段に供給する同期信号を発生する同期信号発生手段を備
え、前記撮影手段が前記駆動手段により駆動されている
前記表示デバイスの画像データを画像処理手段に取り込
み、Ａ／Ｄ変換してフレームメモリに格納し、その格納
された画像データと前記表示デバイスの画素を多点対一
点で対応させ、フレームメモリ上の多点のアドレスを２
次元で比較し最大値を求めることにより、フレームメモ
リ上のアドレスに表示デバイスの画素を認識すると共
に、レベルデータも得ることができるように構成されて
いる。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and is arranged so as to face a display device and completely take in at least the display surface of the display device. Image capturing means in which more pixels are arranged than the device pixels, drive means for supplying a predetermined image pattern signal to the display device, and images captured by the image capturing means are stored as pixel data of the display device. An image processing means provided with a frame memory, the image processing means, the photographing means, and a synchronizing signal generating means for generating a synchronizing signal to be supplied to the driving means are provided, and the photographing means is driven by the driving means. The image data of the display device that is present is taken into the image processing means, A / D converted and stored in the frame memory, and the stored image data and Pixels of the serial display device in correspondence with the multi-point-to-one point, the address of the multi-point on the frame memory 2
By comparing the dimensions to obtain the maximum value, the pixel of the display device can be recognized at the address on the frame memory and the level data can be obtained.
【０００９】さらに複数の走査方式に対応する２以上の
撮影手段と、前記撮影手段、前記画像処理手段及び前記
駆動手段に複数の走査方式に対応するタイミング信号が
選択されて供給される同期信号発生手を備え、異なるテ
レビ方式の検査に対応できるように構成されている。Furthermore, two or more photographing means corresponding to a plurality of scanning methods, and timing signals corresponding to a plurality of scanning methods are selected and supplied to the photographing means, the image processing means and the driving means. It is equipped with a hand so that it can be used for inspections of different television systems.
【００１０】[0010]
【作用】液晶パネルの画素の欠陥のあるアドレスと、さ
らに欠陥のある画素のレベルデータを、液晶パネルの画
素列に一致する画像処理手段におけるフレームメモリア
ドレスデータとして得ることができるので、例えば全
白、全黒、又その中間色である灰色等を表示した場合
に、点だけではなく、面又は線で欠陥画素を検出するこ
とができる。Since the defective address of the pixel of the liquid crystal panel and the level data of the defective pixel can be obtained as the frame memory address data in the image processing means corresponding to the pixel column of the liquid crystal panel, for example, all white When displaying all black or gray which is an intermediate color thereof, defective pixels can be detected not only by points but also by planes or lines.
【００１１】[0011]
【実施例】以下本発明の平板状表示デバイスの欠陥検出
装置の実施例を説明する。図１は、本実施例の欠陥検出
装置の構成を示した図である。この図で１０ａは検査さ
れる液晶パネル、１０ｂは該液晶パネル１０ａの画素を
駆動するドライブ回路、１０ｃはバックライトの光源と
なる発光源、例えば蛍光灯を示す。１１は前記液晶パネ
ル１０ａを撮影するＣＣＤカメラを示し、このＣＣＤカ
メラ１１は前記液晶パネル１０ａの表示面を全て撮影で
きるように配置すると共に、少なくとも液晶パネルの画
素数より多い画素数を有するファインピッチのＣＣＤ基
板を備えている。Embodiments of the defect detecting apparatus for a flat panel display device according to the present invention will be described below. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of the defect detection apparatus of this embodiment. In this figure, 10a is a liquid crystal panel to be inspected, 10b is a drive circuit for driving the pixels of the liquid crystal panel 10a, and 10c is a light source serving as a light source of a backlight, for example, a fluorescent lamp. Reference numeral 11 denotes a CCD camera for photographing the liquid crystal panel 10a. The CCD camera 11 is arranged so that the entire display surface of the liquid crystal panel 10a can be photographed, and has a fine pitch having at least the number of pixels larger than that of the liquid crystal panel. It is equipped with a CCD substrate.
【００１２】１２は画像処理装置を示し、前記ＣＣＤカ
メラ１１から出力されるＲＧＢ信号をそれぞれデジタル
データに変換するＡ／Ｄ変換器１２ａ、画像処理部１２
ｂが設けられている。この画像処理部１２ｂ内に設けら
れているフレームメモリには前記ＣＣＤカメラ１１のＣ
ＣＤ１画素に対して１つのアドレスが対応している。１
２ｃは同期信号発生器を示し、前記したドライブ回路１
０ｂ、ＣＣＤカメラ１１、Ａ／Ｄ変換器１２ａ、画像処
理部１２ｂに同期信号を供給する。Reference numeral 12 denotes an image processing apparatus, which includes an A / D converter 12a for converting each of the RGB signals output from the CCD camera 11 into digital data, and an image processing section 12.
b is provided. The frame memory provided in the image processing unit 12b is provided with C of the CCD camera 11.
One address corresponds to one CD pixel. 1
Reference numeral 2c indicates a synchronizing signal generator, which is the drive circuit 1 described above.
0b, the CCD camera 11, the A / D converter 12a, and the image processing unit 12b are supplied with synchronization signals.
【００１３】１３は上記各機能回路をコントロールバス
ＣＢを介して制御すると共に、画像データの変換等の処
理を行なう制御部を示し、表示部１４にその処理結果等
が表示される。Reference numeral 13 denotes a control section for controlling each of the above functional circuits via the control bus CB and for performing processing such as image data conversion, and the processing result and the like are displayed on the display section 14.
【００１４】上述したように画像処理装置１２はカラー
液晶パネルの時は、その発光色をそれぞれＲＧＢ信号と
して処理するが、ここではＲ信号の処理をする例で説明
する。図２（ａ）〜（ｄ）は前記液晶表示パネル１０ａ
の一部と前記画像処理部１２ｂのフレームメモリのアド
レスの一部を示した図である。この図でＤは液晶表示パ
ネル１０ａのＲ画素、Ｄm はフレームメモリに格納され
ている前記Ｒ画素Ｄのデータ、Ｍは前記データＤm の中
心アドレス、Ｗは前記データＤm に対応しているアドレ
ス領域を示す。As described above, when the image processing apparatus 12 is a color liquid crystal panel, it processes the light emission colors as RGB signals, but an example of processing the R signal will be described here. 2A to 2D show the liquid crystal display panel 10a.
FIG. 3 is a diagram showing a part of the above and a part of the address of the frame memory of the image processing unit 12b. In this figure, D is the R pixel of the liquid crystal display panel 10a, Dm is the data of the R pixel D stored in the frame memory, M is the center address of the data Dm, and W is the address area corresponding to the data Dm. Indicates.
【００１５】液晶パネル１０ａのＲ画素Ｄを円で示す
と、例えば図２（ａ）に示されているように配列されて
いる。なおＧ画素とＢ画素は省略されている。そして、
この液晶パネル１０ａをＣＣＤカメラ１１で撮影した場
合、Ｒ信号はＡ／Ｄ変換器１２ａでデジタル変換され、
図２（ｂ）に示されているように画像処理部１２ｃのフ
レームメモリに格納される。When the R pixels D of the liquid crystal panel 10a are indicated by circles, they are arranged as shown in FIG. 2 (a), for example. The G pixel and the B pixel are omitted. And
When the liquid crystal panel 10a is photographed by the CCD camera 11, the R signal is digitally converted by the A / D converter 12a,
It is stored in the frame memory of the image processing unit 12c as shown in FIG.
【００１６】図示されているように本実施例の場合は、
液晶パネル１０ａのＲ画素Ｄ１個に対してＣＣＤカメラ
１１の画素９個が対応しているので、フレームメモリの
９個のアドレスに画素データＤm として記憶される。As shown, in the case of this embodiment,
Since one pixel of the CCD camera 11 corresponds to one R pixel D of the liquid crystal panel 10a, it is stored as pixel data Dm at nine addresses of the frame memory.
【００１７】そして後で説明する検出方法によりその画
素データＤm が格納されているアドレス領域Ｗの各メモ
リセルのレベルを、図２（ｄ）に示されているようにＸ
方向、Ｙ方向の２次元で比較演算処理を行なう。その比
較演算処理により最大レベルのアドレスを検出し、アド
レス領域Ｗの中心となるアドレスＭが最大レベルである
場合に、その位置に液晶パネル１０ａのＲ画素Ｄが存在
するということをフレームメモリ上で認識するようにす
る。Then, the level of each memory cell in the address area W in which the pixel data Dm is stored by the detection method described later is set to X as shown in FIG. 2 (d).
The comparison calculation process is performed two-dimensionally in the directions Y and Y. The address of the maximum level is detected by the comparison calculation process, and when the address M at the center of the address area W is at the maximum level, the R pixel D of the liquid crystal panel 10a is present at that position on the frame memory. Be aware.
【００１８】つぎにＲ画素Ｄが存在するアドレスを認識
するための比較演算処理についてその概要を説明する。
図２（ｃ）に示されているように、アドレス領域Ｗをフ
レームメモリの一端からＸ方向に１アドレスずつシフト
させながら、画像処理部１２ｃのフレームメモリに記憶
されている液晶パネル１０ａのＲ画素Ｄのアドレスとレ
ベルを検出する。Next, the outline of the comparison calculation process for recognizing the address where the R pixel D exists will be described.
As shown in FIG. 2C, the R pixel of the liquid crystal panel 10a stored in the frame memory of the image processing unit 12c while shifting the address area W by one address from one end of the frame memory in the X direction. Detect D address and level.
【００１９】そして、アドレス領域Ｗ内の各メモリセル
のレベルを図２（ｄ）に示されているようにＸ方向、Ｙ
方向の２次元で比較演算処理を行ない、最大レベルのア
ドレスを検出しアドレス領域Ｗの中心となるアドレスＭ
が最大レベルである場合に、その位置に液晶パネル１０
ａのＲ画素Ｄが存在するということをフレームメモリ上
で認識するようにする。Then, the level of each memory cell in the address region W is set in the X direction and the Y direction as shown in FIG.
The comparison operation processing is performed two-dimensionally in the direction, the address of the maximum level is detected, and the address M at the center of the address area W is detected.
Is at the maximum level, the liquid crystal panel 10 is placed at that position.
The presence of the R pixel D of a is recognized on the frame memory.
【００２０】そしてＸ方向のシフトを終えると再び前記
一端に戻り、Ｙ方向に１アドレスだけシフトさせ、先程
と同様にＸ方向にシフトさせながら検出を行なう。この
ようにして全ての画素毎のアドレスとレベルデータを求
める。When the shift in the X direction is completed, the process returns to the one end again, shifts by one address in the Y direction, and the detection is performed while shifting in the X direction in the same manner as described above. In this way, the address and level data for every pixel are obtained.
【００２１】図３は上述したアドレス領域Ｗの中から最
大値となるメモリセルのレベルを検出し、その最大値を
中央のアドレスＭのレベルと比較する重心位置検出回路
のブロック図を示したものである。この図で１は水平線
毎の（Ｙ方向）のディレイ、２は水平ピッチ（Ｘ方向）
毎のディレイを示す。ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、
ｈ、ｉは、読み出した画素のレベルデータを記憶するラ
ッチ回路で、図２（ｃ）で説明したアドレス領域Ｗの９
個のメモリセルに対応している。FIG. 3 is a block diagram of a barycentric position detecting circuit for detecting the maximum value of the memory cell level in the address area W and comparing the maximum value with the level of the central address M. Is. In this figure, 1 is a delay for each horizontal line (Y direction), 2 is a horizontal pitch (X direction)
Each delay is shown. a, b, c, d, e, f, g,
Reference numerals h and i are latch circuits for storing the read level data of the pixels, which are 9 in the address area W described with reference to FIG.
It corresponds to the number of memory cells.
【００２２】３は前記各ラッチ回路ａ〜ｉに記憶されて
いる画素のレベルデータの最大値を検出し出力する最大
値検出器、４は前記各ラッチ回路ａ〜ｉの中央に位置
し、図２（ｃ）で説明したアドレスＭに相当するラッチ
回路ｅのレベルデータと、前記最大値検出器３の出力デ
ータを比較しその比較結果を出力する比較器、５は前記
比較器４が出力する比較結果に基づいて、例えば前記比
較器４の出力レベルが１の場合に前記ラッチ回路ｅのデ
ータをアドレス変換器６に出力するゲート回路を示す。Reference numeral 3 is a maximum value detector for detecting and outputting the maximum value of the level data of the pixel stored in each of the latch circuits a to i. Reference numeral 4 is located in the center of each of the latch circuits a to i. The comparator 5 compares the level data of the latch circuit e corresponding to the address M described in 2 (c) with the output data of the maximum value detector 3 and outputs the comparison result. The comparator 5 outputs the comparator 5. A gate circuit for outputting the data of the latch circuit e to the address converter 6 when the output level of the comparator 4 is 1 based on the comparison result is shown.
【００２３】フレームメモリに格納された画像データを
バッファアンプＢＡを介して前記重心位置検出回路に順
次読み込み、前記各ラッチ回路ａ〜ｉにラッチさせなが
らＸ方向にシフトさせ画素のデータを読む。９個のデー
タがメモリされた時点で、最大値検出器３が前記各ラッ
チ回路ａ〜ｉの内で最大レベルのものを検出する。The image data stored in the frame memory is sequentially read into the center-of-gravity position detection circuit via the buffer amplifier BA, and is shifted in the X direction while being latched by each of the latch circuits a to i, and the pixel data is read. When the 9 pieces of data are stored, the maximum value detector 3 detects the maximum level among the latch circuits a to i.
【００２４】そして、比較器３が前記ラッチ回路ｅのレ
ベルと最大値検出器３の出力レベルを比較して、中央に
位置している前記ラッチ回路ｅのレベルの方が大きい場
合、比較器４の出力を”１”レベルとしてゲート回路５
をオープンし、そのアドレスに画素があることを認識す
ると共に、その画素のデータをゲート回路５を介してア
ドレス変換器５供給する。そして次に述べるアドレスの
再変換処理が行なわれる。Then, the comparator 3 compares the level of the latch circuit e with the output level of the maximum value detector 3, and if the level of the latch circuit e located at the center is higher, the comparator 4 Gate circuit 5 with the output of "1" level
Is opened, the pixel at the address is recognized, and the data of the pixel is supplied through the gate circuit 5 to the address converter 5. Then, the address re-translation process described below is performed.
【００２５】上述したＲ画素の検出処理と同様に、Ｇ画
素，Ｂ画素の検出処理を行なった後に、例えば次に示す
数式等により１次変換を行ない、Ｒ，Ｇ，Ｂの各フレー
ムメモリ上に記憶されている各画素のデータを同一メモ
リ上のアドレスにＲＧＢ毎に縦一線にそろうように再配
置する。 Ｘ＝ａｘ＋ｂ Ｙ＝ｃｙ＋ｄSimilar to the above-described R pixel detection processing, after the G pixel and B pixel detection processing is performed, primary conversion is performed by using, for example, the following mathematical formulas, etc., and the R, G, and B frame memories are stored. The data of each pixel stored in 1 is rearranged so as to be aligned in a vertical line for each RGB at the address on the same memory. X = ax + b Y = cy + d
【００２６】この式に示したＸ，Ｙは変換されたアドレ
スの座標、ｘ、ｙは画像処理装置１２ｂのフレームメモ
リに記憶されている画素のアドレスの座標を示す。図４
（ａ），（ｂ）はこれらの数式等により、アドレス変換
を行なう場合の説明図であり、図４（ａ）は変換前の例
えばＲ画素データのフレームメモリ、図４（ｂ）はＲ，
Ｇ，Ｂの各画素データのアドレス変換後のデータのアド
レスが示されている。In the equation, X and Y represent the coordinates of the converted address, and x and y represent the coordinates of the address of the pixel stored in the frame memory of the image processing device 12b. Figure 4
FIGS. 4A and 4B are explanatory views in the case of performing address conversion by using these mathematical expressions and the like. FIG. 4A is a frame memory of, for example, R pixel data before conversion, and FIG.
The address of the data after the address conversion of each pixel data of G and B is shown.
【００２７】まずフレームメモリの奇数行のデータのア
ドレス変換を行なう場合は、図４（ａ）に示した画素の
アドレスは上記した数式等において、ａ＝ａ1 ，ｂ＝ｂ
1 ，ｃ＝ｃ1 ，ｄ＝ｄ1 として、フレームメモリの行又
は列の各アドレスはａ1 、ｃ1 の値により決定される。
そしてｂ1 の値だけｘ方向に、またｄ1 の値だけｙ方向
にシフトさせる。First, when the address conversion of the data of the odd-numbered rows of the frame memory is performed, the address of the pixel shown in FIG. 4A is a = a 1 and b = b in the above equations.
Each address of the row or column of the frame memory is determined by the values of a 1 and c 1 where 1 , c = c 1 and d = d 1 .
Then, the value of b 1 is shifted in the x direction, and the value of d 1 is shifted in the y direction.
【００２８】同じくフレームメモリの偶数行のデータの
アドレス変換は、上記した数式等においてａ＝ａ2 ，ｂ
＝ｂ2 ，ｃ＝ｃ2 ，ｄ＝ｄ2 として、各行及び列のアド
レスはａ2 、ｃ2 の値により決定され、ｂ2 の値だけｘ
方向に、またｄ2 の値だけｙ方向にシフトさせる。Similarly, the address conversion of the data of the even-numbered rows of the frame memory is carried out by a = a 2 , b
= B 2 , c = c 2 and d = d 2 , the address of each row and column is determined by the values of a 2 and c 2 , and only the value of b 2 is x.
Direction and by the value of d 2 in the y direction.
【００２９】このような１次変換処理をＲ，Ｇ，Ｂそれ
ぞれのフィールドメモリに対して行ない、図４（ｂ）に
示されているようにそれぞれ同一メモリ上に縦一線にそ
ろうように再配置される。Such primary conversion processing is performed for each of the R, G, and B field memories, and as shown in FIG. 4 (b), rearranged so as to be aligned in a vertical line on the same memory. To be done.
【００３０】そしてこの変換されたデータにより、液晶
パネル１０ａの各画素のアドレスとレベルデータを得る
ことができ、ＣＣＤ液晶表示板のドット点の重心位置
を、面または線、及び明るさで欠陥検出等を行なうこと
ができるようにする。From the converted data, the address and level data of each pixel of the liquid crystal panel 10a can be obtained, and the barycentric position of the dot point of the CCD liquid crystal display panel can be detected as a defect by the surface or line and the brightness. And so on.
【００３１】次に、本発明の欠陥検出装置を走査線の異
なる、ＮＴＳＣ方式（走査線５２５本／６０フィール
ド）と、ＰＡＬ，ＳＥＣＡＭ方式（走査線６２５本／５
０フィールド）に対応できるようにした実施例を図５で
示す。Next, the defect detecting apparatus of the present invention is applied to the NTSC system (525 scanning lines / 60 fields) and the PAL, SECAM system (625 scanning lines / 5) with different scanning lines.
FIG. 5 shows an embodiment capable of supporting 0 fields).
【００３２】この図で、２０ａは走査線５２５本／６０
フィールドの走査タイミングのＮＴＳＣ方式のＣＣＤカ
メラ、２１ａは同じくＮＴＳＣ方式の液晶パネル、２２
ａは該液晶パネル２１ａを駆動するドライブ回路を示
す。２０ｂは走査線６２５本／５０フィールドの走査タ
イミングのＰＡＬ方式のＣＣＤカメラ、２１ｂは同じく
ＰＡＬ方式の液晶パネル、２２ｂは該液晶パネル２１ｂ
を駆動するドライブ回路、２３は前記液晶パネル２１
ａ、２１ｂのバックライトの光源となる蛍光灯を示す。In this figure, 20a is 525 scanning lines / 60
A field-scan timing NTSC CCD camera, 21a is also an NTSC liquid crystal panel, 22
Reference numeral a denotes a drive circuit for driving the liquid crystal panel 21a. 20b is a PAL CCD camera with a scanning timing of 625 scanning lines / 50 fields, 21b is a PAL liquid crystal panel, and 22b is the liquid crystal panel 21b.
Drive circuit for driving the liquid crystal panel 21
The fluorescent lamp used as the light source of the backlight of a and 21b is shown.
【００３３】２４は画像処理装置全体を示し、２５は
Ｒ，Ｇ，ＢそれぞれのＡ／Ｄ変換器を示し、前記ＣＣＤ
カメラ２０ａまたは２０ｂの映像信号をスイッチＳＷ1
を介して入力しデジタル信号に変換する。２６はＲ，
Ｇ，Ｂそれぞれの画像処理部を示す。Reference numeral 24 denotes the entire image processing apparatus, 25 denotes A / D converters for each of R, G and B, and the CCD
Switch the video signal from the camera 20a or 20b to switch SW1.
It is input via and converted into a digital signal. 26 is R,
The image processing units of G and B are shown.
【００３４】２７は走査線５２５本／６０フィールド、
走査線６２５本／５０フィールドの各走査タイミングの
同期信号を発生する同期信号発生器を示し、ＳＷ2 を介
して前記Ａ／Ｄ変換器２５、映像処理部２６に供給する
と共に、またＳＷ3 を介して前記ＣＣＤカメラ２０ａ，
２０ｂ、ドライブ回路２２ａ，２２ｂに同期信号を供給
する。２８は制御部を示し、コントロールバスＣＢを介
して上記各機能回路と各スイッチＳＷ1 ，ＳＷ2 ，ＳＷ
3 を制御すると共に、画像データの変換等の処理を行な
い、表示部２９にその処理結果等が表示される。27 is a scanning line of 525 lines / 60 fields,
A synchronization signal generator for generating a synchronization signal at each scanning timing of 625 scanning lines / 50 fields is shown, which is supplied to the A / D converter 25 and the image processing unit 26 via SW2 and also via SW3. The CCD camera 20a,
A synchronization signal is supplied to 20b and the drive circuits 22a and 22b. Reference numeral 28 denotes a control unit, which includes the functional circuits and the switches SW1, SW2, SW via the control bus CB.
3 is controlled, processing such as image data conversion is performed, and the processing result and the like are displayed on the display unit 29.
【００３５】前述したように、ＮＴＳＣ方式とＰＡＬ，
ＳＥＣＡＭの各方式では走査タイミングが異なるため
に、撮影カメラ、及び画像処理装置は専用のものがそれ
ぞれ必要である。しかしながら本実施例の欠陥検出装置
によれば、１台でＮＴＳＣ方式（走査線５２５本／６０
フィールド）とＰＡＬ，ＳＥＣＡＭ方式（走査線６２５
本／５０フィールド）の欠陥検出処理を行なうことがで
きる。As described above, the NTSC system and PAL,
Since the scanning timing is different in each SECAM method, a dedicated photographing camera and dedicated image processing apparatus are required. However, according to the defect detecting apparatus of the present embodiment, one unit is NTSC system (525 scanning lines / 60 lines).
Field), PAL, SECAM method (scan line 625
It is possible to perform defect detection processing for (50 fields / book).
【００３６】ＮＴＳＣ方式の液晶パネル２１ａの欠陥検
出を行なう場合は、制御部２８の制御によりスイッチＳ
Ｗ1 をＣＣＤカメラ２０ａに切替えると同時に、スイッ
チＳＷ2 ，ＳＷ3 を切替え同期信号発生器２７は走査線
５２５本／６０フィールドのタイミングの同期信号を前
記Ａ／Ｄ変換器２５、画像処理部２６、ＣＣＤカメラ２
０ａ，ドライブ回路２２ａに同期信号を供給しそれぞれ
の同期をとり、前記画像処理部２６は先の実施例で説明
したように液晶パネル２１ａの欠陥検出等の処理を行な
うことができる。When a defect of the NTSC type liquid crystal panel 21a is detected, the switch S is controlled by the control unit 28.
At the same time when W1 is switched to the CCD camera 20a, switches SW2 and SW3 are switched, and the sync signal generator 27 sends the sync signal at the timing of 525 scanning lines / 60 fields to the A / D converter 25, the image processing unit 26, the CCD camera. Two
0a, a synchronizing signal is supplied to the drive circuit 22a to synchronize with each other, and the image processing unit 26 can perform processing such as defect detection of the liquid crystal panel 21a as described in the previous embodiment.
【００３７】また、ＰＡＬ方式の液晶パネル２１ｂの欠
陥検出を行なう場合は、制御部２８の制御によりスイッ
チＳＷ1 をＣＣＤカメラ２０ｂに切替えると同時に、ス
イッチＳＷ2 ，ＳＷ3 を切替え同期信号発生器２７は走
査線６２５本／５０フィールドのタイミングの同期信号
を前記Ａ／Ｄ変換器２５、画像処理部２６、ＣＣＤカメ
ラ２０ｂ，ドライブ回路２２ｂに同期信号を供給しそれ
ぞれの同期をとる。When detecting a defect of the PAL type liquid crystal panel 21b, the switch SW1 is switched to the CCD camera 20b under the control of the control unit 28, and at the same time, the switches SW2 and SW3 are switched, and the synchronizing signal generator 27 is a scanning line. A synchronization signal having a timing of 625 lines / 50 fields is supplied to the A / D converter 25, the image processing unit 26, the CCD camera 20b, and the drive circuit 22b to synchronize them.
【００３８】そして前記画像処理部２６はＮＴＳＣ方式
の液晶パネル２１ａの場合と同様に、液晶パネル２１ｂ
の欠陥検出等の処理を行なうことができる。なお画像処
理部２６のフレームメモリは走査線６２５本／５０フィ
ールド分のデータがメモリされる容量が設けられてい
る。Then, the image processing section 26 has a liquid crystal panel 21b similar to the case of the NTSC liquid crystal panel 21a.
It is possible to perform processing such as defect detection. The frame memory of the image processing unit 26 has a capacity for storing data for 625 scanning lines / 50 fields.
【００３９】このように欠陥検出装置を共用することに
より、１台のハードウエアでＮＴＳＣ方式、ＰＡＬ，Ｓ
ＥＣＡＭ方式等複数の走査方式に対応する表示デバイス
の欠陥検出を行なうことができるようになる。By thus sharing the defect detection device, the NTSC system, PAL, S
It becomes possible to detect defects in a display device compatible with a plurality of scanning methods such as the ECAM method.
【００４０】[0040]
【発明の効果】以上説明したように本発明の平板状表示
デバイスの欠陥検出装置は、液晶表示装置の各画素のア
ドレスとレベルデータを得ることができるので、黒表示
を行なったにもかかわらず光っている画素、白表示を行
なったにもかかわらず光っていない画素、またその中間
色である灰色表示を行なったにもかかわらず、明るすぎ
る、又は暗すぎる画素のアドレスを欠陥相互の位置が近
すぎる場合でも検出することが可能になる。そして、こ
のような欠陥が点ではなく、線状又は面状のエリアに対
応して検出することができるので製造工程において欠陥
発生原因の解明が容易に行なわれるという利点がある。As described above, the defect detection apparatus for a flat panel display device according to the present invention can obtain the address and level data of each pixel of the liquid crystal display device, so that the black display is performed. The address of a pixel that is shining, a pixel that is not shining despite white display, or is too bright or too dark despite being grayed out, which is an intermediate color between them, is defective. It becomes possible to detect even when it passes. Since such defects can be detected not in the points but in the linear or planar areas, there is an advantage that the cause of the defects can be easily clarified in the manufacturing process.
【図１】本発明の画像処理装置の実施例の構成を示した
図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of an image processing apparatus of the present invention.
【図２】画素データを取り込む場合の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram when pixel data is captured.
【図３】画素データのアドレスの検出の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of detection of an address of pixel data.
【図４】画素データのアドレス変換の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of address conversion of pixel data.
【図５】本発明の応用例を示した図である。FIG. 5 is a diagram showing an application example of the present invention.
１０ａ， 液晶パネル １０ｂ，２２ａ ドライブ回路 １０ｃ，２３ 蛍光灯 １１ ＣＣＤカメラ １２ａ，２５ Ａ／Ｄ変換器 １２ｂ，２６ 画像処理部 １２ｃ，２７ 同期信号発生器 １３，２８ 制御部 １４ ディスプレイ ２０ａ ＣＣＤカメラ（ＮＴＳＣ） ２０ｂ ＣＣＤカメラ（ＰＡＬ，ＳＥＣＡＭ） ２１ａ 液晶パネル（ＮＴＳＣ） ２１ｂ 液晶パネル（ＰＡＬ，ＳＥＣＡＭ） ２２ａ ドライブ回路（ＮＴＳＣ） ２２ｂ ドライブ回路（ＰＡＬ，ＳＥＣＡＭ） 10a, liquid crystal panel 10b, 22a drive circuit 10c, 23 fluorescent lamp 11 CCD camera 12a, 25 A / D converter 12b, 26 image processing unit 12c, 27 synchronization signal generator 13, 28 control unit 14 display 20a CCD camera (NTSC) ) 20b CCD camera (PAL, SECAM) 21a Liquid crystal panel (NTSC) 21b Liquid crystal panel (PAL, SECAM) 22a Drive circuit (NTSC) 22b Drive circuit (PAL, SECAM)
Claims (8)
デバイスの表示面を完全にとり込むように配置され、前
記表示デバイスの画素よりも多くの画素が配されている
撮影手段と、 前記表示デバイスに所定の映像パターン信号を供給する
駆動手段と、 前記撮影手段が撮影した映像を前記表示デバイスの画素
データとして格納するフレームメモリを設けた画像処理
手段と、 前記画像処理手段と、前記撮影手段と、前記駆動手段に
供給する同期信号を発生する同期信号発生手段と、 を備えたことを特徴とする平板状表示デバイスの欠陥検
出装置。1. A photographing unit, which is arranged so as to face the display device so as to completely take in at least the display surface of the display device and has more pixels than the pixels of the display device, and a predetermined unit for the display device. Drive means for supplying a video pattern signal of the above, image processing means provided with a frame memory for storing the video captured by the capturing means as pixel data of the display device, the image processing means, the capturing means, and A defect detection apparatus for a flat panel display device, comprising: a synchronization signal generating means for generating a synchronization signal supplied to a driving means.
黒、全白と、その中間色が表示される駆動信号を供給す
ることを特徴とする請求項１に記載の平板状表示デバイ
スの欠陥検出装置。2. The defect detection for a flat panel display device according to claim 1, wherein the drive means supplies a drive signal for displaying all black, all white, and intermediate colors to the display device. apparatus.
処理手段に設けられているフレームメモリの数画素が対
応するように上記撮影手段が配置されていることを特徴
とする請求項１に記載の平板状表示デバイスの欠陥検出
装置。3. The image pickup means is arranged so that one pixel of the display device corresponds to several pixels of a frame memory provided in the image processing means. Of flat panel display device.
走査しながら３以上の奇数値で正方形状のアドレス領域
内から順次画素データを読み込み、前記アドレス領域内
の中心となるメモリセルのレベルデータとその周囲のメ
モリセルのレベルデータをその都度比較し、前記中心と
なるメモリセルのレベルデータが最大値である場合のレ
ベルデータを検出する重心位置検出回路が設けられてい
ることを特徴とする請求項１に記載の平板状表示デバイ
スの欠陥検出装置。4. The image processing means sequentially reads pixel data from an address area of a square shape with an odd value of 3 or more while scanning a frame memory, and outputs level data of a central memory cell in the address area. A center-of-gravity position detection circuit is provided which compares the level data of the memory cells around it with each other and detects the level data when the level data of the central memory cell is the maximum value. Item 2. A defect detection apparatus for a flat panel display device according to Item 1.
れＲ、Ｇ、Ｂ毎に、それぞれ縦１列に再配置されること
を特徴とする請求項１に記載の平板状表示デバイスの欠
陥検出装置。5. The defect detection of a flat panel display device according to claim 1, wherein the address of the pixel data is linearly converted and rearranged for each of R, G and B in a vertical column. apparatus.
毎に行なわれることを特徴とする請求項１に記載の平板
状表示デバイスの欠陥検出装置。6. The defect detecting apparatus for a flat panel display device according to claim 1, wherein the primary conversion is performed for every even and odd rows of addresses.
デバイスの表示面を完全にとり込むように配置されてい
る以上の走査方式に対応する撮影手段と、 前記表示デバイスに２以上の走査方式で所定の映像パタ
ーン信号を供給する駆動手段と、 前記撮影手段が撮影した映像を前記表示デバイスの画素
データとして格納するフレームメモリを設けた画像処理
手段と、 前記画像処理手段と、前記撮影手段と、前記駆動手段に
２以上の走査方式に対応する同期信号を選択的に供給す
ることができる同期信号発生手段とを備えていることを
特徴とする平板状表示デバイスの欠陥検出装置。7. A photographing unit corresponding to the above scanning method, which is arranged so as to face the display device and at least completely take in the display surface of the display device, and a predetermined scanning method for the display device by two or more scanning methods. Drive means for supplying a video pattern signal, image processing means provided with a frame memory for storing the video image captured by the image capturing means as pixel data of the display device, the image processing means, the image capturing means, and the drive A defect detection apparatus for a flat panel display device, characterized in that the means is provided with a synchronizing signal generating means capable of selectively supplying a synchronizing signal corresponding to two or more scanning methods.
ＰＡＬ方式であることを特徴とする請求項７に記載の平
板状表示デバイスの欠陥検出装置。8. The two or more scanning methods are NTSC methods,
The defect detection apparatus for a flat panel display device according to claim 7, wherein the defect detection apparatus is a PAL system.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22356892A JPH0654353A (en) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Defect detection device for platelike display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22356892A JPH0654353A (en) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Defect detection device for platelike display device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0654353A true JPH0654353A (en) | 1994-02-25 |
Family
ID=16800207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22356892A Pending JPH0654353A (en) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Defect detection device for platelike display device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0654353A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7971990B2 (en) | 2006-08-03 | 2011-07-05 | Seiko Epson Corporation | Transported medium transporting apparatus and recording apparatus |
-
1992
- 1992-07-31 JP JP22356892A patent/JPH0654353A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7971990B2 (en) | 2006-08-03 | 2011-07-05 | Seiko Epson Corporation | Transported medium transporting apparatus and recording apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3230629B2 (en) | Image display device | |
| US5285286A (en) | Apparatus for testing image sensors that simultaneously output multiple image blocks | |
| JPH10243347A (en) | Image recording and reproducing device | |
| JP4143660B2 (en) | Image analysis method, image analysis apparatus, inspection apparatus, image analysis program, and computer-readable recording medium | |
| US20080106631A1 (en) | Imaging unit | |
| JPH09101236A (en) | Method and apparatus for detecting defect of display | |
| KR20210016247A (en) | Spot detecting apparatus, method of detecting spot, and display device | |
| JPH0654353A (en) | Defect detection device for platelike display device | |
| JP4139485B2 (en) | Display image evaluation method and display image evaluation system | |
| JP2003330423A (en) | Liquid crystal display device and its driving control method | |
| JP3358331B2 (en) | Color filter inspection device | |
| JP3408879B2 (en) | Display defect extraction method for flat panel display and apparatus therefor | |
| US5956082A (en) | Video signal processing apparatus | |
| JPH0979946A (en) | Inspection device for display device | |
| JPH0293871A (en) | Uniformity checking method | |
| JPH0654352A (en) | Testing device for picture display device | |
| JP2001083474A (en) | Method for inspecting liquid crystal display panel | |
| JP3800076B2 (en) | Conversion of display panel drive signals | |
| JP3258794B2 (en) | Convergence adjustment device | |
| JPH0418593A (en) | Discharge panel display device | |
| JP3201007B2 (en) | Inspection apparatus and inspection method for liquid crystal display device | |
| JPH09168158A (en) | Drive method for solid state image pickup element and image pickup device | |
| KR100240165B1 (en) | Photographing device | |
| JPH0611455A (en) | Optical failure inspection device for color liquid crystal display | |
| JPH05308580A (en) | Image display system |