JPH0650817A - 試料の光学特性測定装置 - Google Patents
試料の光学特性測定装置Info
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- JPH0650817A JPH0650817A JP4202568A JP20256892A JPH0650817A JP H0650817 A JPH0650817 A JP H0650817A JP 4202568 A JP4202568 A JP 4202568A JP 20256892 A JP20256892 A JP 20256892A JP H0650817 A JPH0650817 A JP H0650817A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料の分光反射率等光学特性の測定におい
て、器差を低減する。 【構成】 積分球１の内壁１ａを照明する第１，第２照
明光学系１０，２０と、開口部２に向けて配置された試
料３の反射光を受光する測定光学系４０を備える。第１
照明光学系１０の開口部１６は積分球１上部に、第２照
明光学系２０の開口部２６は開口部２がある積分球１の
下部に設けられている。そして、各光源を順次発光させ
て試料３の反射特性を測定し、予め求められ記憶された
各光源に対応する係数を得られたデータに乗算し、この
乗算結果を夫々加算して反射特性を求めるようにした。
て、器差を低減する。 【構成】 積分球１の内壁１ａを照明する第１，第２照
明光学系１０，２０と、開口部２に向けて配置された試
料３の反射光を受光する測定光学系４０を備える。第１
照明光学系１０の開口部１６は積分球１上部に、第２照
明光学系２０の開口部２６は開口部２がある積分球１の
下部に設けられている。そして、各光源を順次発光させ
て試料３の反射特性を測定し、予め求められ記憶された
各光源に対応する係数を得られたデータに乗算し、この
乗算結果を夫々加算して反射特性を求めるようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、積分球を用いた分光色
彩計等に適用される試料の光学特性測定装置に関するも
のである。
彩計等に適用される試料の光学特性測定装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】積分球を用いた拡散照明による分光色彩
計では、同一ジオメトリ（例えばｄ／８タイプ）で構成
されていても、異機種間はもちろん、同一機種間でも一
定の器差（測定器個体間の測定誤差）が生じる。
計では、同一ジオメトリ（例えばｄ／８タイプ）で構成
されていても、異機種間はもちろん、同一機種間でも一
定の器差（測定器個体間の測定誤差）が生じる。
【０００３】図４は従来の試料の光学特性測定装置の構
成及び配光特性を示す図である。積分球１の内壁１ａに
は、高拡散、高反射率を有する白色粉末がコーティング
されている。光源１１からの光束は、開口部１６から積
分球１内に入射し、まず積分球１の内壁１ａの開口部１
６に対向する照明域１７を照明し、ここで拡散反射され
た後、積分球１内で多重反射して、試料３用の開口部２
に配置された試料３を一様に照明する。
成及び配光特性を示す図である。積分球１の内壁１ａに
は、高拡散、高反射率を有する白色粉末がコーティング
されている。光源１１からの光束は、開口部１６から積
分球１内に入射し、まず積分球１の内壁１ａの開口部１
６に対向する照明域１７を照明し、ここで拡散反射され
た後、積分球１内で多重反射して、試料３用の開口部２
に配置された試料３を一様に照明する。
【０００４】試料３での反射光は、開口部４１を通過し
てレンズ４２により集束され、測定域規制板４３に結像
する。このときの光軸４９は、試料３の法線に対して８
°傾斜しており、いわゆるｄ／８ジオメトリになってい
る。測定域規制板４３に設けられた開口部４３ａは試料
３上の投影３ａを測定域として決定している。
てレンズ４２により集束され、測定域規制板４３に結像
する。このときの光軸４９は、試料３の法線に対して８
°傾斜しており、いわゆるｄ／８ジオメトリになってい
る。測定域規制板４３に設けられた開口部４３ａは試料
３上の投影３ａを測定域として決定している。
【０００５】この開口部４３ａを通過した光束は、レン
ズ４４によって集束され、光ファイバ４５の一端に入射
する。光ファイバ４５の他端は、図外の分光装置に接続
され、試料３の分光反射率が求められることとなる。
ズ４４によって集束され、光ファイバ４５の一端に入射
する。光ファイバ４５の他端は、図外の分光装置に接続
され、試料３の分光反射率が求められることとなる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の試料の光学
特性測定装置では、図４の下半部分に示すように、開口
部２での試料照明光の配光特性４は、完全拡散特性４ｉ
からかなりずれた傾向を示す。すなわち、完全拡散特性
４ｉからのずれの中で、凹部４ａは、測定のための開口
部４１に起因し、凸部４ｂは、光源１１からの光束が最
初に照明する直接照明域１７からの拡散反射が直接試料
３用の開口部２に到達することに起因するものである。
特性測定装置では、図４の下半部分に示すように、開口
部２での試料照明光の配光特性４は、完全拡散特性４ｉ
からかなりずれた傾向を示す。すなわち、完全拡散特性
４ｉからのずれの中で、凹部４ａは、測定のための開口
部４１に起因し、凸部４ｂは、光源１１からの光束が最
初に照明する直接照明域１７からの拡散反射が直接試料
３用の開口部２に到達することに起因するものである。
【０００７】また、試料面に対して浅い角度での入射強
度が完全拡散特性に比べて相対的に低いというような不
均一性も見られる。
度が完全拡散特性に比べて相対的に低いというような不
均一性も見られる。
【０００８】このように、試料用の開口部での照明光の
配光特性は、積分球を用いているにも拘らず完全拡散特
性からずれたものとなっており、しかもこのずれは、異
機種間乃至は同一機種でも個体間で、一様ではない。こ
れは、異機種間では積分球内部の開口部の配置や、内壁
のコーティング材料が異なる場合があるからであり、ま
た同一機種間でも開口部の寸法、配置のわずかなずれ
や、コーティングむら等が存在することが考えられるか
らである。
配光特性は、積分球を用いているにも拘らず完全拡散特
性からずれたものとなっており、しかもこのずれは、異
機種間乃至は同一機種でも個体間で、一様ではない。こ
れは、異機種間では積分球内部の開口部の配置や、内壁
のコーティング材料が異なる場合があるからであり、ま
た同一機種間でも開口部の寸法、配置のわずかなずれ
や、コーティングむら等が存在することが考えられるか
らである。
【０００９】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、試料の分光反射率等光学特性の測定において、器差
を低減する試料の光学特性測定装置を提供することを目
的とする。
で、試料の分光反射率等光学特性の測定において、器差
を低減する試料の光学特性測定装置を提供することを目
的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、光源用開口と試料用開口が形成された積
分球と、上記光源用開口に配設され上記積分球の内壁を
照明する光源と、上記試料用開口に置かれた試料の反射
あるいは透過光を受光する受光部と、この受光部からの
受光出力を用いて上記試料の反射あるいは透過特性を測
定する測定手段とを有し、上記光源は、上記積分球の異
なる箇所に複数配設され上記試料用開口において夫々異
なる配光特性を示すように照射し、上記測定手段は、上
記各配光特性の線形結合が所望の配光特性に近づくよう
に線形結合の係数を光源毎に予め求めて記憶しておき、
上記各光源の発光による各反射あるいは透過特性に対応
する光源の係数を乗算し、この乗算結果を夫々加算して
所望の配光特性での上記特性を求めるようにしたもので
ある。
に、本発明は、光源用開口と試料用開口が形成された積
分球と、上記光源用開口に配設され上記積分球の内壁を
照明する光源と、上記試料用開口に置かれた試料の反射
あるいは透過光を受光する受光部と、この受光部からの
受光出力を用いて上記試料の反射あるいは透過特性を測
定する測定手段とを有し、上記光源は、上記積分球の異
なる箇所に複数配設され上記試料用開口において夫々異
なる配光特性を示すように照射し、上記測定手段は、上
記各配光特性の線形結合が所望の配光特性に近づくよう
に線形結合の係数を光源毎に予め求めて記憶しておき、
上記各光源の発光による各反射あるいは透過特性に対応
する光源の係数を乗算し、この乗算結果を夫々加算して
所望の配光特性での上記特性を求めるようにしたもので
ある。
【００１１】
【作用】本発明によれば、一の光源により積分球の内壁
が照射されて試料の反射あるいは透過特性が測定され、
次に、他の光源により積分球の内壁が照射されて試料の
反射あるいは透過特性が測定される。そして、各光源の
特性データに、記憶されている各光源に対する係数が乗
算され、その乗算結果が加算されて、試料の反射あるい
は透過特性が求められる。
が照射されて試料の反射あるいは透過特性が測定され、
次に、他の光源により積分球の内壁が照射されて試料の
反射あるいは透過特性が測定される。そして、各光源の
特性データに、記憶されている各光源に対する係数が乗
算され、その乗算結果が加算されて、試料の反射あるい
は透過特性が求められる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明に係る試料の光学特性測定装置
の第１実施例について、図面を参照しながら説明する。
図１は本発明に係る試料の光学特性測定装置の構成図で
ある。積分球１は、その内壁１ａに酸化マグネシウムや
硫酸バリウム等の白色拡散反射塗料がコーティングされ
た中空の球で、主に光源の全光束（全ての方向に出る光
束の和）の測定に用いられるものである。
の第１実施例について、図面を参照しながら説明する。
図１は本発明に係る試料の光学特性測定装置の構成図で
ある。積分球１は、その内壁１ａに酸化マグネシウムや
硫酸バリウム等の白色拡散反射塗料がコーティングされ
た中空の球で、主に光源の全光束（全ての方向に出る光
束の和）の測定に用いられるものである。
【００１３】また、積分球１には、第１照明光学系１０
からの光束を入射させるべく頂部近傍に設けられた開口
部１６、第２照明光学系２０からの光束を入射させるべ
く下部近傍に設けられた開口部２６、測定対象である試
料３を照明すべく底部に設けられた開口部２及び試料３
からの反射光を測定光学系に入射すべく頂部近傍に設け
られた開口部４１が形成されている。
からの光束を入射させるべく頂部近傍に設けられた開口
部１６、第２照明光学系２０からの光束を入射させるべ
く下部近傍に設けられた開口部２６、測定対象である試
料３を照明すべく底部に設けられた開口部２及び試料３
からの反射光を測定光学系に入射すべく頂部近傍に設け
られた開口部４１が形成されている。
【００１４】第１照明光学系１０は、開口部１６に配設
され、光源１１、レンズ１３，１５、マスク板１４等か
ら構成されており、積分球１内の開口部２近傍を最初の
直接照明域１７とするものである。
され、光源１１、レンズ１３，１５、マスク板１４等か
ら構成されており、積分球１内の開口部２近傍を最初の
直接照明域１７とするものである。
【００１５】光源１１は、Ｘｅフラッシュ等が使用さ
れ、積分球１内に光束を供給するものである。マスク板
１４は、レンズ１３の積分球１側に配設され、光源１１
による照明域を規制するためのものである。マスク板１
４の中央部には、遮光部１４ａが形成されており、これ
により、遮光域１７ａを設けてドーナツ状の直接照明域
１７を形成し、試料２を直接照明しないようにしてい
る。
れ、積分球１内に光束を供給するものである。マスク板
１４は、レンズ１３の積分球１側に配設され、光源１１
による照明域を規制するためのものである。マスク板１
４の中央部には、遮光部１４ａが形成されており、これ
により、遮光域１７ａを設けてドーナツ状の直接照明域
１７を形成し、試料２を直接照明しないようにしてい
る。
【００１６】そして、光源１１からの光束は、レンズ１
３によって集束され、さらに開口部１６上の焦点位置に
配置されるレンズ１５によってマスク板１４の像が内壁
１ａの開口部２近傍に結像されるようになっている。
３によって集束され、さらに開口部１６上の焦点位置に
配置されるレンズ１５によってマスク板１４の像が内壁
１ａの開口部２近傍に結像されるようになっている。
【００１７】第２照明光学系２０は、開口部２６に配設
され、光源２１、レンズ２３，２５、マスク板２４等か
ら構成されており、積分球１内の頂部近傍を最初の直接
照明域２７とするものである。
され、光源２１、レンズ２３，２５、マスク板２４等か
ら構成されており、積分球１内の頂部近傍を最初の直接
照明域２７とするものである。
【００１８】光源２１は、Ｘｅフラッシュ等が使用さ
れ、積分球１内に光束を供給するものである。マスク板
２４は、レンズ２３の積分球１側に配設され、光源２１
による照明域を規制するためのものである。マスク板２
４の中央部には、遮光部２４ａが形成されており、これ
により、遮光域２７ａを設けて開口部４１を直接照明し
ないようにしている。
れ、積分球１内に光束を供給するものである。マスク板
２４は、レンズ２３の積分球１側に配設され、光源２１
による照明域を規制するためのものである。マスク板２
４の中央部には、遮光部２４ａが形成されており、これ
により、遮光域２７ａを設けて開口部４１を直接照明し
ないようにしている。
【００１９】そして、光源２１からの光束は、レンズ２
３によって集束され、さらに開口部２６上の焦点位置に
配置されるレンズ２５によってマスク板２４の像が内壁
１ａの頂部近傍に結像されるようになっている。
３によって集束され、さらに開口部２６上の焦点位置に
配置されるレンズ２５によってマスク板２４の像が内壁
１ａの頂部近傍に結像されるようになっている。
【００２０】測定光学系４０は、試料３からの反射光を
集束するもので、レンズ４２，４４、マスク板４３から
構成されている。この測定光学系４０の光軸４９は、試
料３表面の法線に対して８°だけ傾斜した方向に設定さ
れている。マスク板４３は、その中央に開口部４３ａが
形成され、測定域を規制するものである。この開口部４
３ａにより試料３表面への投影３ａが測定域となるよう
に設定されている。
集束するもので、レンズ４２，４４、マスク板４３から
構成されている。この測定光学系４０の光軸４９は、試
料３表面の法線に対して８°だけ傾斜した方向に設定さ
れている。マスク板４３は、その中央に開口部４３ａが
形成され、測定域を規制するものである。この開口部４
３ａにより試料３表面への投影３ａが測定域となるよう
に設定されている。
【００２１】第１，第２照明光学系１０，２０から開口
部１６，２６を通って入射した光束は、積分球１の内壁
１ａで多重反射した後、試料３を照明する。そして、試
料３表面の法線に対して８°だけ傾斜した方向成分の反
射光が、開口部４１を通り、レンズ４２によって集束さ
れてマスク板４３上に結像する。そして、開口部４３ａ
を通り抜けた反射光は、さらにレンズ４４によって集束
され、光ファイバ４５の一端に入射し、分光装置４６等
の測定部に導かれる。
部１６，２６を通って入射した光束は、積分球１の内壁
１ａで多重反射した後、試料３を照明する。そして、試
料３表面の法線に対して８°だけ傾斜した方向成分の反
射光が、開口部４１を通り、レンズ４２によって集束さ
れてマスク板４３上に結像する。そして、開口部４３ａ
を通り抜けた反射光は、さらにレンズ４４によって集束
され、光ファイバ４５の一端に入射し、分光装置４６等
の測定部に導かれる。
【００２２】分光装置４６は、光ファイバ４５の他端に
接続され、光ファイバ４５から導かれた光を分光するも
のである。マイクロコンピュータ４８は、この試料の光
学特性測定装置の動作を制御するもので、測定のための
制御プログラム、データや後述の係数等を記憶する記憶
部、データに基づいて演算を実行する演算部等を内蔵し
ている。
接続され、光ファイバ４５から導かれた光を分光するも
のである。マイクロコンピュータ４８は、この試料の光
学特性測定装置の動作を制御するもので、測定のための
制御プログラム、データや後述の係数等を記憶する記憶
部、データに基づいて演算を実行する演算部等を内蔵し
ている。
【００２３】発光回路１２，２２は、光源１１，２１を
発光させるもので、マイクロコンピュータ４８からの指
示により動作している。そして、分光装置４６から出力
される分光データは、Ａ／Ｄ変換器４７によってディジ
タル値に変換され、マイクロコンピュータ４８に取り込
まれるようになっている。
発光させるもので、マイクロコンピュータ４８からの指
示により動作している。そして、分光装置４６から出力
される分光データは、Ａ／Ｄ変換器４７によってディジ
タル値に変換され、マイクロコンピュータ４８に取り込
まれるようになっている。
【００２４】次に、測定手順について図１，図２を用い
て説明する。図２は第１実施例における配光特性を示す
図で、（ａ）は第１照明光学系による開口部２中心での
配光特性Ｆ１、（ｂ）は第２照明光学系による開口部２
中心での配光特性Ｆ２を示す。まず、配光特性を補正す
る係数の設定について説明する。このとき、開口部２に
は高指向性の受光センサが配置され、これにより配光特
性を測定するようにしている。
て説明する。図２は第１実施例における配光特性を示す
図で、（ａ）は第１照明光学系による開口部２中心での
配光特性Ｆ１、（ｂ）は第２照明光学系による開口部２
中心での配光特性Ｆ２を示す。まず、配光特性を補正す
る係数の設定について説明する。このとき、開口部２に
は高指向性の受光センサが配置され、これにより配光特
性を測定するようにしている。
【００２５】発光回路１２を動作させ、光源１１を発光
させる。第１照明光学系１０は、最初に積分球１の内壁
１ａの直接照明域１７を照明するので、これによる開口
部２での配光特性Ｆ１は、図２（ａ）に示すように、理
想特性Ｆに比べて浅い角度の入射光が強調されている。
させる。第１照明光学系１０は、最初に積分球１の内壁
１ａの直接照明域１７を照明するので、これによる開口
部２での配光特性Ｆ１は、図２（ａ）に示すように、理
想特性Ｆに比べて浅い角度の入射光が強調されている。
【００２６】続いて、発光回路２２を動作させ、光源２
１を発光させる。このとき、第２照明光学系２０は、最
初に積分球１の内壁１ａの直接照明域２７を照明するの
で、これによる開口部２での配光特性Ｆ２は、図２
（ｂ）に示すように、理想特性Ｆに比べて垂直に近い入
射光が強調されている。
１を発光させる。このとき、第２照明光学系２０は、最
初に積分球１の内壁１ａの直接照明域２７を照明するの
で、これによる開口部２での配光特性Ｆ２は、図２
（ｂ）に示すように、理想特性Ｆに比べて垂直に近い入
射光が強調されている。
【００２７】そして、第１，第２照明光学系１０，２０
の照射によって得られた受光データに基づいて各配光特
性Ｆ１，Ｆ２を各波長毎に測定する。
の照射によって得られた受光データに基づいて各配光特
性Ｆ１，Ｆ２を各波長毎に測定する。
【００２８】今、第１照明光学系１０の係数をＣ
（λ），第２照明光学系２０の係数をＤ（λ）としたと
き、 Ｃ（λ）・Ｆ１（λ）＋Ｄ（λ）・Ｆ２（λ） が理想配光特性Ｆ（λ）に最も近づくようにＣ（λ），
Ｄ（λ）を波長毎に決定する。
（λ），第２照明光学系２０の係数をＤ（λ）としたと
き、 Ｃ（λ）・Ｆ１（λ）＋Ｄ（λ）・Ｆ２（λ） が理想配光特性Ｆ（λ）に最も近づくようにＣ（λ），
Ｄ（λ）を波長毎に決定する。
【００２９】このようにして得られた係数Ｃ（λ），Ｄ
（λ）をマイクロコンピュータ４８の記憶部に記憶して
おく。
（λ）をマイクロコンピュータ４８の記憶部に記憶して
おく。
【００３０】次に、試料の測定について説明する。ま
ず、マイクロコンピュータ４８からの指示により発光回
路１２を動作させ、光源１１を発光させる。そして、試
料３からの反射光は、分光装置４６に入力される。この
分光データは、Ａ／Ｄ変換器４７でディジタル値に変換
され、マイクロコンピュータ４８によって分光反射率が
求められ、その記憶部に記憶される。このとき得られた
試料３の分光反射率をＲ１（λ）とする。
ず、マイクロコンピュータ４８からの指示により発光回
路１２を動作させ、光源１１を発光させる。そして、試
料３からの反射光は、分光装置４６に入力される。この
分光データは、Ａ／Ｄ変換器４７でディジタル値に変換
され、マイクロコンピュータ４８によって分光反射率が
求められ、その記憶部に記憶される。このとき得られた
試料３の分光反射率をＲ１（λ）とする。
【００３１】続いて、マイクロコンピュータ４８からの
指示により発光回路２２を動作させ、光源２１を発光さ
せる。そして、試料３からの反射光は、分光装置４６に
入力される。この分光データは、Ａ／Ｄ変換器４７でデ
ィジタル値に変換され、マイクロコンピュータ４８によ
って分光反射率が求められ、その記憶部に記憶される。
このとき得られた試料３の分光反射率をＲ２（λ）とす
る。
指示により発光回路２２を動作させ、光源２１を発光さ
せる。そして、試料３からの反射光は、分光装置４６に
入力される。この分光データは、Ａ／Ｄ変換器４７でデ
ィジタル値に変換され、マイクロコンピュータ４８によ
って分光反射率が求められ、その記憶部に記憶される。
このとき得られた試料３の分光反射率をＲ２（λ）とす
る。
【００３２】次に、マイクロコンピュータ４８の記憶部
に記憶されている係数Ｃ（λ），Ｄ（λ）に基づいて、
マイクロコンピュータ４８の演算部で、 Ｒ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｒ１（λ）＋Ｄ（λ）・Ｒ２
（λ） の計算を行う。
に記憶されている係数Ｃ（λ），Ｄ（λ）に基づいて、
マイクロコンピュータ４８の演算部で、 Ｒ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｒ１（λ）＋Ｄ（λ）・Ｒ２
（λ） の計算を行う。
【００３３】このようにして、完全拡散特性に近い照明
条件の下での試料３の分光反射率を求めることができ、
これによって器差を低減することができる。
条件の下での試料３の分光反射率を求めることができ、
これによって器差を低減することができる。
【００３４】なお、これらの係数は、配光特性を完全拡
散特性に近づけるためではなく、特定の測定器と同一特
性を有するように決めてもよい。この場合、異機種間で
も計算によって等しい拡散特性を有するようにできるの
で、他機種の測定器によって蓄積された測定データを無
駄にすることなく、データの互換性を向上させることが
できる。
散特性に近づけるためではなく、特定の測定器と同一特
性を有するように決めてもよい。この場合、異機種間で
も計算によって等しい拡散特性を有するようにできるの
で、他機種の測定器によって蓄積された測定データを無
駄にすることなく、データの互換性を向上させることが
できる。
【００３５】次に、本発明に係る試料の光学特性測定装
置の第２実施例について図３を用いて説明する。なお、
第１実施例と同一物については同一符号を付し、説明を
省略する。本実施例は、積分球１の拡散特性を、より完
全拡散特性に近づけようとするものである。
置の第２実施例について図３を用いて説明する。なお、
第１実施例と同一物については同一符号を付し、説明を
省略する。本実施例は、積分球１の拡散特性を、より完
全拡散特性に近づけようとするものである。
【００３６】積分球１において、開口部２近傍の第１照
明光学系１０による直接照明域１７が、球面ではなくテ
ーパ状に形成されている。従って、開口部２での配光特
性は、図２（ａ）で示した第１照明光学系１０の第１実
施例における特性に比べて、浅い角度の入射光が更に強
調されることとなる。
明光学系１０による直接照明域１７が、球面ではなくテ
ーパ状に形成されている。従って、開口部２での配光特
性は、図２（ａ）で示した第１照明光学系１０の第１実
施例における特性に比べて、浅い角度の入射光が更に強
調されることとなる。
【００３７】補助拡散板２８は、開口部２６の端部から
積分球１の外側に延設して形成され、光源２１からの光
束がレンズ２３により補助拡散板２８上に結像するよう
になっている。そして、第２照明光学系２０の光源２１
からの光束は、レンズ２３によって補助拡散板２８上に
結像した後、補助拡散板２８で拡散反射されて積分球１
内に入射する。
積分球１の外側に延設して形成され、光源２１からの光
束がレンズ２３により補助拡散板２８上に結像するよう
になっている。そして、第２照明光学系２０の光源２１
からの光束は、レンズ２３によって補助拡散板２８上に
結像した後、補助拡散板２８で拡散反射されて積分球１
内に入射する。
【００３８】従って、積分球１の内壁１ａの上面が広く
照明されることとなり、直接照明域２７がより広く形成
される。これにより、開口部２での配光特性は、図２
（ｂ）で示した第２照明光学系２０の第１実施例におけ
る特性よりも、深い角度の入射光が低減され、完全拡散
特性に近づけることができる。
照明されることとなり、直接照明域２７がより広く形成
される。これにより、開口部２での配光特性は、図２
（ｂ）で示した第２照明光学系２０の第１実施例におけ
る特性よりも、深い角度の入射光が低減され、完全拡散
特性に近づけることができる。
【００３９】本実施例では、測定光学系４０を積分球１
から充分離して配置し、補助拡散板２８からの直接反射
光が開口部４１を直接照明しないようにして測定光学系
４０に影響を及ぼさないようにしている。
から充分離して配置し、補助拡散板２８からの直接反射
光が開口部４１を直接照明しないようにして測定光学系
４０に影響を及ぼさないようにしている。
【００４０】なお、本発明は、試料の反射特性の測定に
限られず、透過特性の測定にも適用することができる。
限られず、透過特性の測定にも適用することができる。
【００４１】
【発明の効果】以上、本発明は、積分球の異なる箇所に
複数配設され、試料用開口において夫々異なる配光特性
を示すように照射する光源を備え、各配光特性の線形結
合が所望の配光特性に近づくように線形結合の係数を光
源毎に予め求めて記憶しておき、各光源の発光による各
反射あるいは透過特性に対応する光源の係数を乗算し、
この乗算結果を夫々加算して所望の配光特性での反射あ
るいは透過特性を求めるようにしたので、器差を低減す
ることができる。
複数配設され、試料用開口において夫々異なる配光特性
を示すように照射する光源を備え、各配光特性の線形結
合が所望の配光特性に近づくように線形結合の係数を光
源毎に予め求めて記憶しておき、各光源の発光による各
反射あるいは透過特性に対応する光源の係数を乗算し、
この乗算結果を夫々加算して所望の配光特性での反射あ
るいは透過特性を求めるようにしたので、器差を低減す
ることができる。
【図１】本発明に係る試料の光学特性測定装置の第１実
施例における構成図である。
施例における構成図である。
【図２】第１実施例における配光特性を示す図で、
（ａ）は第１照明光学系による開口部２中心での配光特
性、（ｂ）は第２照明光学系による開口部２中心での配
光特性を示す。
（ａ）は第１照明光学系による開口部２中心での配光特
性、（ｂ）は第２照明光学系による開口部２中心での配
光特性を示す。
【図３】本発明に係る試料の光学特性測定装置の第２実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図４】従来の試料の光学特性測定装置の構成及び配光
特性を示す図である。
特性を示す図である。
１ 積分球 １ａ 内壁 ２，１６，２６，４１，４３ａ 開口部 ３ 試料 １０ 第１照明光学系 １１，２１ 光源 １２，２２ 発光回路 １３，１５，２３，２５，４２，４４ レンズ １４，２４ マスク板 １４ａ，２４ａ 遮光部 １７，２７ 直接照明域 ２０ 第２照明光学系 ４０ 測定光学系 ４３ 測定域規制板 ４５ 光ファイバ ４６ 分光装置 ４７ Ａ／Ｄ変換器 ４８ マイクロコンピュータ ４９ 光軸
Claims (1)
- 【請求項１】 光源用開口と試料用開口が形成された積
分球と、上記光源用開口に配設され上記積分球の内壁を
照明する光源と、上記試料用開口に置かれた試料の反射
あるいは透過光を受光する受光部と、この受光部からの
受光出力を用いて上記試料の反射あるいは透過特性を測
定する測定手段とを有し、上記光源は、上記積分球の異
なる箇所に複数配設され上記試料用開口において夫々異
なる配光特性を示すように照射し、上記測定手段は、上
記各配光特性の線形結合が所望の配光特性に近づくよう
に線形結合の係数を光源毎に予め求めて記憶しておき、
上記各光源の発光による各反射あるいは透過特性に対応
する光源の係数を乗算し、この乗算結果を夫々加算して
所望の配光特性での上記特性を求めるようにしたことを
特徴とする試料の光学特性測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4202568A JPH0650817A (ja) | 1992-07-29 | 1992-07-29 | 試料の光学特性測定装置 |
| US08/098,630 US5384641A (en) | 1992-07-29 | 1993-07-28 | Color measuring instrument with multiple inputs of light |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4202568A JPH0650817A (ja) | 1992-07-29 | 1992-07-29 | 試料の光学特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0650817A true JPH0650817A (ja) | 1994-02-25 |
Family
ID=16459658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4202568A Pending JPH0650817A (ja) | 1992-07-29 | 1992-07-29 | 試料の光学特性測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5384641A (ja) |
| JP (1) | JPH0650817A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0961243A (ja) * | 1995-08-24 | 1997-03-07 | Minolta Co Ltd | 反射特性測定装置 |
| JP2003232683A (ja) * | 2002-01-11 | 2003-08-22 | X-Rite Inc | 標的設定を改良した卓上分光光度計 |
| WO2011055432A1 (ja) * | 2009-11-04 | 2011-05-12 | ダックエンジニアリング株式会社 | ワーク検査装置 |
| JP2020085640A (ja) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | 株式会社マルコム | Ｌｅｄ用封止材料の発光特性測定装置 |
| US11977285B2 (en) * | 2020-08-07 | 2024-05-07 | Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | Reflection rate detection device and reflection rate detection method for liquid crystal panel |
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| US5745234A (en) * | 1995-07-31 | 1998-04-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Variable angle reflectometer employing an integrating sphere and a light concentrator |
| DE19528855A1 (de) * | 1995-08-05 | 1997-02-06 | Leybold Ag | Verfahren und Vorrichtung zur spektralen Remissions- und Transmissionsmessung |
| US5831725A (en) * | 1996-10-16 | 1998-11-03 | Atlas Electric Devices Co. | Two-mode surface defect testing system |
| JP3555400B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2004-08-18 | ミノルタ株式会社 | 反射特性測定装置 |
| JPH11118603A (ja) * | 1997-10-15 | 1999-04-30 | Minolta Co Ltd | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 |
| JPH11241949A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-09-07 | Minolta Co Ltd | 反射特性測定装置 |
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| CN102967604B (zh) * | 2012-11-06 | 2014-11-05 | 广州标旗电子科技有限公司 | 一种用于宝石检测的反射光谱测量取样***及方法 |
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| EP3605066A4 (en) * | 2017-03-21 | 2020-03-18 | Konica Minolta, Inc. | METHOD FOR MEASURING SPECTRAL RADIATION CHARACTERISTICS OF A FLUORESCENT BLANCHED SAMPLE AND DEVICE FOR MEASURING SPECTRAL RADIATION CHARACTERISTICS OF A FLUORESCENCE BLANCHED SAMPLE |
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| WO1982003914A1 (en) * | 1981-05-07 | 1982-11-11 | Taniuchi Tetsuo | A temperature detector |
| JPS61233328A (ja) * | 1985-04-01 | 1986-10-17 | Tokyo Denshiyoku Kk | 測色色差計 |
| US4932779A (en) * | 1989-01-05 | 1990-06-12 | Byk Gardner, Inc. | Color measuring instrument with integrating sphere |
-
1992
- 1992-07-29 JP JP4202568A patent/JPH0650817A/ja active Pending
-
1993
- 1993-07-28 US US08/098,630 patent/US5384641A/en not_active Expired - Lifetime
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| CN102597751A (zh) * | 2009-11-04 | 2012-07-18 | Dac工程株式会社 | 制品检查装置 |
| JPWO2011055432A1 (ja) * | 2009-11-04 | 2013-03-21 | ダックエンジニアリング株式会社 | ワーク検査装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5384641A (en) | 1995-01-24 |
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