JPH06501779A

JPH06501779A - Measurement and evaluation method of relay inductance

Info

Publication number: JPH06501779A
Application number: JP5503177A
Authority: JP
Inventors: オローヴァ，　ヨーゼフ
Original assignee: ローベルトボツシユゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
Priority date: 1991-08-10
Filing date: 1992-07-29
Publication date: 1994-02-24
Also published as: DE4126534A1; WO1993003386A1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。 (57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】継電器のインダクタンスの測定及び評価方法本発明は請求の範囲第１項の上位概念による、電磁形継電器のインダクタンスの１定及び評価方法に関する。[Detailed description of the invention] A method for measuring and evaluating inductance of a relay The present invention resides in the general outline of claim 1. This article relates to a constant value and evaluation method for the inductance of an electromagnetic relay.

電磁形継電器の製造の際、いわゆる継電器の応働電圧及び復帰電圧は、実質的に磁気回路と、それに伴う当該磁気回路の製作事由に起因する許容偏差と、材料のばらつきと、継電器接極子とコイル鉄心との間の調整可能な磁気作用エアギャップとに依存している。さらに継電器の応働電圧の測定の際には戻しばねの許容偏差に伴う値もこれに加わるため、完成された継電器において、当該継電器の種々異なるデータが許容され得る偏差範囲内に収まっているかどうかを確かめることは比較的手間がかかる。とりわけ二のことは継電器接点においての焼損余裕度の測定に対しても当てはまる。この継電器接点は、いわゆるマイクロリレーにおいては制限された特性のためにもはや非破壊的に測定することはできず、そのため抜取り検査によってしか測定することができない。When manufacturing electromagnetic relays, the so-called response voltage and release voltage of the relay are essentially Magnetic circuits, tolerances due to manufacturing reasons for the magnetic circuits, and materials. variation and adjustable magnetic air gap between relay armature and coil core. It depends on the program. Furthermore, when measuring the response voltage of a relay, the permissible deviation of the return spring must be Since the values associated with the differences are also added to this, in the completed relay, the various values of the relay Checking whether different data are within acceptable deviation ranges is relatively time-consuming. The second thing in particular is the burnout margin at the relay contacts. This also applies to measurements. This relay contact is a so-called micro relay. can no longer be measured non-destructively due to their limited properties and therefore It can only be measured through random inspections.

本発明の手法によれば破壊を生ぜしのることのない継電器の新しい測定が可能になる。これにより、製造に基づく励磁系のばらつき及び場合によって継電器の焼損余裕度をめて所定の許容偏差と比較することができる。The method of the present invention enables new measurements of relays that do not cause damage. Become. This may result in variations in the excitation system due to manufacturing and possibly relay burn-out. The loss margin can be determined and compared with a predetermined tolerance.

発明の利点本発明による、電磁形継電器のインダクタンスの測定及び評価方法は有利には次のような認識に基づいている。すなわち当該部材の許容偏差範囲を所定のインダクタンス限界値により設定されるように構成することによって、接極子が押しこまれている際に、インダクタンスを測定することにより製造及び材料に起因する許容偏差を検出することができるという認識に基づいている。検出されたインダクタンス値を所定の限界値と比較することにより、唯一度の測定によって非常に間車な形式で迅速に次のようなことが検出され得る。Advantages of invention The method for measuring and evaluating the inductance of an electromagnetic relay according to the invention is advantageously as follows: It is based on such recognition. In other words, the permissible deviation range of the part concerned is set to a specified inductor. By configuring the armature to be set by a Due to manufacturing and materials, by measuring the inductance when It is based on the recognition that tolerance deviations can be detected. Detected Inda By comparing the ctance value with predetermined limit values, a very unique measurement can be made. The following can be quickly detected in a casual manner:

選別しなければならないか否かということが検出され得る。本発明によって得られる別の利点は、破壊の心配がない間車で信頼性の高い当該測定及び検査方法を用いることによって、従来のような個別の抜取り検査が行われるのではな（、完成品全体が当該方法により全て測定されるようになることである。それにより品買の確かさも向上する。It can be detected whether screening is required or not. obtained by the present invention Another advantage is that the measurement and testing method can be carried out reliably on the vehicle without the risk of damage. By using the The entire product can now be measured using this method. As a result, the quality It also improves the certainty of buying.

この方法は焼損余裕度の測定に対しても有効である。This method is also effective for measuring burnout margin.

この余裕度は本発明の従属請求項に記載された手段により、第２のインダクタンス測定によってめることが可能である。この第２のインダクタンス測定は接極子がひき外された際の継電器接点がちょうど開いた時点で行われなければならない。この場合記憶された複数の特性曲線から、最初に検出されたインダクタンス値と共にこの値に属する特性曲線を介して継電器の焼損に対する余裕度がめられ、さらにその許容限界値と比較される。This margin can be achieved by the measures described in the dependent claims of the invention. It can be determined by measuring the This second inductance measurement is performed on the armature shall be carried out at the point when the relay contacts have just opened when the relay is tripped. . In this case, the first detected inductance value from multiple memorized characteristic curves. The margin for relay burnout is determined through the characteristic curve belonging to this value. Furthermore, it is compared with its permissible limit value.

図面本発明の実施例は図面に示され、以下の明細書で詳細に説明される。drawing Embodiments of the invention are illustrated in the drawings and explained in detail in the following specification.

図１は、継電器のインダクタンスを測定及び評価のためのブロック回路図である。Figure 1 is a block circuit diagram for measuring and evaluating the inductance of a relay. .

図２は、図１によるブロック回路の放電回路中の電圧経過を示した図である。FIG. 2 shows the voltage profile in the discharge circuit of the block circuit according to FIG. 1;

図３は、ａｔ器のインダクタンスの許容！ｉ差フィールドを接極子の位ｉに依存して示した図である。Figure 3 shows the allowable inductance of the AT device! i difference field depends on the position i of the armature FIG.

図１では電磁形継１１Ｅ器のインダクタンスに対する測定回路の直流電圧源が符号１０で示されている。スイッチ１１を介してコンデンサ１２が直流電圧［１０に並列に接続されている。コンデンサ１２に並列して、別のスイ、ノチ１３を介して電磁形継電器１５の励磁コイル１４が設けられている。この電磁形継電器１５のコイル鉄心１６は接極子１７と共働する。この接極子１７は、戻しばね１８によってその静止位置に維持される。接極子１７に固定されている接点ばね１９は前方で継電器接点２０を支持する。この継電器接点２０は定置の接極子接点２１と共働する。ｎ定装置１２３の感知部２２によって接極子１７は、コイル鉄心１６に押しつけられるか又は連続的にコイル鉄心１６から戻しばね１８を用いて引きはずされる。この場合測定装置２３の測定回路２４は、継電器接点の開閉を検出するために継電器接点２０．２１に接続される。測定装置２３の別の測定回路２５は、励磁コイル１４に並列に接続される。スイッチ１１及び１３は、電気的かつ機械的に次のように相互でインターロックされる。すなわち該スイッチ１１及び１３が図中破線で示されているように交互にのみ開かれたり閉じられたりするようにインターロック（連動）される。In Figure 1, the DC voltage source of the measurement circuit for the inductance of the electromagnetic coupling 11E is in agreement. It is indicated by No. 10. The capacitor 12 is connected to the DC voltage [10 are connected in parallel. In parallel with the capacitor 12, another switch is connected through the notch 13. An excitation coil 14 of an electromagnetic relay 15 is provided. This electromagnetic relay 1 The coil core 16 of No. 5 cooperates with the armature 17. This armature 17 has a return spring 18 is maintained in its rest position by. Contact spring 19 fixed to armature 17 supports the relay contacts 20 at the front. This relay contact 20 is a fixed armature contact 2 Work together with 1. The armature 17 is detected by the sensing unit 22 of the n-determining device 123 as the coil core 16 or continuously from the coil core 16 using a spring 18 It gets pulled off. In this case, the measuring circuit 24 of the measuring device 23 controls the opening and closing of the relay contacts. Connected to relay contacts 20.21 for detection. Another measurement run of the measuring device 23 The line 25 is connected in parallel to the excitation coil 14 . Switches 11 and 13 are electrical physically and mechanically interlocked with each other as follows: That is, the switch 1 1 and 13 are only opened and closed alternately as shown by the broken lines in the figure. are interlocked (interlocked) so that

次に図２、図３に基づき図１による測定及び検査回路の作用を説明する。Next, the operation of the measurement and inspection circuit according to FIG. 1 will be explained based on FIGS. 2 and 3.

スイッチ１１が閉じられるとコンデンサ１２は直流電圧１１１０によって充電される。′ｌＩＡ定装置２３の感知部２２により接極子１７はコイル鉄心１６に押しつけられる。この場合継電器接点２０．２１は閉じられる。When switch 11 is closed, capacitor 12 is charged by DC voltage 1110. It will be done. The armature 17 is pressed against the coil core 16 by the sensing part 22 of the IA constant device 23. Disciplined. In this case relay contacts 20.21 are closed.

この状態でスイッチ１１及び１３は切換られる。それによりコンデンサ１２は継電器１５の励磁コイル１４を介して放電される。図２にはその際の励磁コイル１４に生じた電圧経過が示されている。この場合コンデンサ１２と励磁コイル１４は振動回路を形成する。この振動回路はオーム抵抗によって減衰され、急激に弱まっていく。測定装置２３では測定電流回路２５を介して励磁コイル１４における最初の完全な電圧振動が検出され、以下の２つの式、すなわちに従って、継電器１５の励磁系に対する最初のインダクタンスｆｉＭ１がめられる。このインダクタンス値Ｍｌは図３に示されている。Ｌｍｉｎ及びＬｍａｘからなる許容限界値は、測定装置１２３のメモリ２３ａ内の特性曲線と（。７てテーブルの形で含まれている。前記許容限界値は接極子１０が当接した場合の距離Ｓ＝０毎にメモリ２３ａから取り出され、測定装置２３の検査回路２３ｂ内で、当該検出されたインダクタンス値Ｍｌと比較される９図３に示されているように請求められた継電器１５のインダクタンス＃ＩＭ１は、２つの所定の値Ｍ　ｍ　ａ　ｘとＭｍｉｎとの間にある。従って継電器１５の応動電圧及び復帰電圧に関して磁気的許容偏差範囲内にある。In this state, switches 11 and 13 are switched. This causes the capacitor 12 to It is discharged through the excitation coil 14 of the electric appliance 15. Figure 2 shows the excitation coil 1 at that time. 4 is shown. In this case, the capacitor 12 and the excitation coil 14 forms an oscillating circuit. This oscillating circuit is damped by an ohmic resistor and suddenly weakens. I'm waiting. In the measuring device 23, a current is generated in the exciting coil 14 via the measuring current circuit 25. The first complete voltage oscillation is detected and the following two equations, i.e. Accordingly, the initial inductance fiM1 for the excitation system of the relay 15 is determined. Ru. This inductance value Ml is shown in FIG. Lmin and Lmax? The permissible limit values are based on the characteristic curve in the memory 23a of the measuring device 123 and (. included in the form of a cable. The allowable limit value is the distance when the armature 10 contacts It is taken out from the memory 23a every time S=0, and in the test circuit 23b of the measuring device 23, 9 is compared with the detected inductance value Ml, as shown in Figure 3. The requested inductance #IM1 of the relay 15 has two predetermined values M m It is between a x and Mmin. Therefore, regarding the response voltage and release voltage of the relay 15, and is within the magnetic tolerance range.

さらに図３からは次のようなことがわかる。すなわち継電器のインダクタンスＬが、距離Ｓに依存して実質的にａｔ器の作用エアギヤツブに依存する特性曲線に従って降下していることがわかる。前記路１ＩＩＳは、接極子１７の引きはずしにより当該継電器接点２０が定置接点２１から離れていく距離のことである。２つの限界値−特性曲線Ｌｍａｘ及びＬｍｉｎの他にもメモリ２３ａには多数の別の特性曲線がファイルされている。これらの特性曲線は、特性曲線ＬｍａｘとＬｍｉｎとの間に均一に分布している。それにより請求められたインダクタンス値Ｍｌは、開かれた接極子１７の移動距離に依存した当該特性曲線Ｋに割り当てられる。Furthermore, the following can be seen from FIG. In other words, the inductance L of the relay However, depending on the distance S, the characteristic curve substantially depends on the working air gear of the AT device. Therefore, it can be seen that it is descending. Said path 1IIS is the tripping of the armature 17. This is the distance that the relay contact 20 is away from the stationary contact 21. 2 In addition to the two limit value-characteristic curves Lmax and Lmin, the memory 23a also contains a number of Characteristic curves are filed. These characteristic curves are the characteristic curves Lmax and L It is uniformly distributed between min. The resulting inductance value Ml is assigned to the characteristic curve K in question depending on the travel distance of the opened armature 17. It will be done.

非破壊的に、図１による回路を用いて継電器１５の焼損に対する余裕度をめることも可能である。この目的のためにスイッチ１１と１３は新たに切換られ、コンデンサ１２が新たに直流電圧源ＩＯによって充電される。その後継電器接点２０．２１を有している測定電流回路２４を介して測定電流が印加され、感知部２２が当該接点２０．２１が開かれるまでキャンセルされる。継電器１５のこの状態において、スイッチ１１と１３の新たな切換によりコンデンサ１２が励磁コイル１４を介して新たに放電され、同じように測定装置２３により第２のインダクタンス値Ｍ２が測定装置２３においてめられる。この測定値は特性曲線に上にあるので、図３のようにメモリ２３ａにファイルされたテーブルから距離Ｓ２が、焼損に対する余裕度として得られる。この値Ｓ２は、メモリ２３ａにファイルされた上側及び下側の限界値Ｓｍａｘ、Ｓｍ１ｎとの比較によって定められる。焼損に対する余裕度としてめられた値Ｓ２が２つの限界値の間にあると、測定装置２３は良好−表示信号を出力する。前記値ｓ２が２つの限界値の外側にあると、測定装置２３は不良ＦＩＧ　１Non-destructively, the circuit shown in FIG. 1 can be used to increase the margin for burnout of the relay 15. Both are possible. For this purpose, switches 11 and 13 are newly switched and the Capacitor 12 is newly charged by DC voltage source IO. Its successor electrical contact 20 ．． A measuring current is applied via a measuring current circuit 24 having a sensor 22 . is canceled until the corresponding contact 20.21 is opened. This state of relay 15 , new switching of switches 11 and 13 causes capacitor 12 to switch to the excitation coil. 14 and is similarly discharged by the measuring device 23 into the second inductor. A value M2 is measured in the measuring device 23. This measurement is above the characteristic curve Therefore, the distance S2 from the table filed in the memory 23a as shown in FIG. It is obtained as a margin against losses. This value S2 is filed in the memory 23a. It is determined by comparison with the upper and lower limit values Smax and Sm1n. Burnt out If the value S2 determined as the margin for is between the two limit values, the measuring device 2 3 is good - outputs a display signal. If the value s2 is outside the two limits, the measurement The fixed device 23 is defective FIG. 1

Claims

【特許請求の範囲】[Claims]

１．電磁形継電器のインダクタンスを当該構成要素の許容偏差範囲に対する所定の値との比較により測定及び評価する方法であって、当該継電器は励磁コイルとコイル鉄心と継電器接点の操作のための接極子とを有している、電磁形継電器のインダクタンスの測定及び評価方法において、接極子（１７）が当該装置（２３）を用いて継電器（１５）のコイル鉄心（１６）に押しつけられ、コンデンサ（１２）が励磁コイル（１４）を介して放電され、この場合に放電電流回路中に生じた電圧振動（ＵＬ）から、測定装置（２３）により該電圧振動（ＵＬ）の周波数ないし周期期間（ｆ；Ｔ）を測定し、当該測定値から第１のインダクタンス値（Ｍ１）を検出し、所定の限界値（ＭｍａＸ，Ｍｍｉｎ）と比較し、前記求められたインダクタンス値（Ｍ１）が当該限界値によって定められた所定の許容偏差範囲外にある場合には、当該測定装置（２３）によって信号を出力することを特徴とする、電磁形継電器のインダクタンスの測定及び評価方法。1. The inductance of the electromagnetic relay is set to a specified value within the permissible deviation range of the relevant component. A method of measuring and evaluating by comparing the value of the relay with the excitation coil. An electromagnetic relay having a coil core and an armature for operating the relay contacts. In the inductance measurement and evaluation method, The armature (17) uses the device (23) to connect the coil core (16) of the relay (15). ), and the capacitor (12) is discharged via the excitation coil (14). , In this case, the voltage oscillation (UL) generated in the discharge current circuit causes the measuring device (23) to The frequency or period period (f; T) of the voltage oscillation (UL) is measured from detecting a first inductance value (M1) from the value; The obtained inductance is compared with predetermined limit values (MmaX, Mmin). If the value (M1) is outside the predetermined tolerance deviation range defined by the limit value, is an electromagnetic coupling characterized in that the measuring device (23) outputs a signal. Method for measuring and evaluating inductance of electrical appliances.

２．前記２つの限界値（Ｍｍａｘ，Ｍｍｉｎ）の間にある第１のインダクタンス値（Ｍ１）のそれぞれに、開放された接極子（１７）の移動距離（Ｓ）に依存する特性曲線（Ｋ）を割付け、継電器接点（２０，２１）が開かれている場合に第２のインダクタンス値（Ｍ２）を同様に測定装置（２３）によって求め、前記特性曲線（Ｋ）を介して、引きはずされた接極子の移動距離に比例する、当該継電器接極子（２０，２１）の焼損余裕度（Ｓ２）を求める、請求の範囲第１項記載の方法。2. a first inductance between the two limit values (Mmax, Mmin); For each value (M1), depending on the distance traveled (S) of the open armature (17), Assign the characteristic curve (K) to The second inductance value (M2 ) is similarly determined by the measuring device (23), Via said characteristic curve (K), a corresponding force proportional to the travel distance of the tripped armature is Claim 1 for determining the burnout margin (S2) of the relay armature (20, 21) The method described in section.

３．前記の求められた焼損余裕度の値（Ｓ２）を所定の上側及び下側の限界値（Ｓｍａｘ，Ｓｍｉｎ）と比較し、当該比較に依存して測定装置（２３）により、良好／不良−表示信号を出力する、請求の範囲第２項記載の方法。3. The above-determined burnout margin value (S2) is set to the predetermined upper and lower limit values ( Smax, Smin), Depending on the comparison, the measuring device (23) outputs a good/bad indication signal. , the method according to claim 2.