JPH0648574Y2 - 光ピックアップ検査装置 - Google Patents

光ピックアップ検査装置

Info

Publication number
JPH0648574Y2
JPH0648574Y2 JP12896188U JP12896188U JPH0648574Y2 JP H0648574 Y2 JPH0648574 Y2 JP H0648574Y2 JP 12896188 U JP12896188 U JP 12896188U JP 12896188 U JP12896188 U JP 12896188U JP H0648574 Y2 JPH0648574 Y2 JP H0648574Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
optical pickup
inspection device
light
small hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP12896188U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0250823U (ja
Inventor
彰 大矢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP12896188U priority Critical patent/JPH0648574Y2/ja
Publication of JPH0250823U publication Critical patent/JPH0250823U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0648574Y2 publication Critical patent/JPH0648574Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、光ディスク装置などに使用される光ピックア
ップにおいて、その電流感度や周波数特性などを測定す
るために、対物レンズの変位量を検出する光ピックアッ
プ検査装置の改良に関するものである。
〈従来の技術〉 第5図は従来の光ピックアップ検査装置の一例を示す構
成図である。図において、1は光ピックアップ、2はそ
の対物レンズである。3は対物レンズ2(鏡筒)の上部
に平行光を照射する光源、4はこの平行光を受ける受光
素子、5は受光素子4の出力電流を変位信号に変換する
変換回路である。
このように構成された光ピックアップ検査装置では、光
源3から出射された平行光が対物レンズ2により遮ら
れ、その変位量に応じて受光素子4に入射する光の量が
変化する。図の状態においては、対物レンズ2における
フォーカス方向Fの変位量が検出されるが、対物レンズ
2の側壁部に光を当てるようにすれば、トラッキング方
向の変位量を検出することもできる。
また、第6図は従来の光ピックアップ検査装置の他の例
を示す構成図である。図に示す装置は、対物レンズ2の
上部に反射シート6などを貼り付け、対物レンズ2の変
位量を反射式の変位変換器7を使用して測定するように
したものである。
〈考案が解決しようとする課題〉 しかしながら、第5図の装置では、対物レンズ2の鏡筒
に光を当てなければならないので、対物レンズ2が光ピ
ックアップ1の中に入り込んだ状態では、変位量の検出
を行なうことができず、測定できる光ピックアップ1の
種類および測定範囲が限られてしまう。
また、第6図の装置では、対物レンズ2に反射シート6
などを貼り付ける必要があるので、レンズ表面を汚して
しまう恐れがあるとともに、その重さがレンズ駆動系の
負荷になり、正確な特性を測定することができない。ま
た、対物レンズ2におけるトラッキング方向の変位を検
出することはできない。
本考案は、上記のような従来装置の欠点をなくし、光ピ
ックアップの種類にかかわらず、対物レンズの全移動範
囲に渡って、その変位量を正確に検出することのできる
光ピックアップ検査装置を簡単な構成により実現するこ
とを目的としたものである。
〈課題を解決するための手段〉 本考案の光ピックアップ検査装置は、光ピックアップの
対物レンズから出射される光を遮る位置に配置されると
ともにこの対物レンズの中心から偏心した位置に***を
有する絞りと、この***を通過した光を受けその入射位
置を検出する位置検出器とを具備するようにしたもので
ある。
〈作用〉 このように、対物レンズの中心から偏心した位置に***
を有する絞りを通過した光を、位置検出器により受ける
ように構成すると、対物レンズの変位に応じて、位置検
出器への光の入射位置が変化するので、その入射位置か
ら対物レンズの変位量を検出することができる。また、
この入射位置の変化は、対物レンズのフォーカス方向お
よびトラッキング方向のいずれの変位に対しても感度を
有するので、一つの検出器により、対物レンズのフォー
カス方向およびトラッキング方向の変位量を同時に測定
することができる。
〈実施例〉 第1図は本考案の光ピックアップ検査装置の一実施例を
示す構成図である。図において、前記第5図と同様のも
のは同一符号を付して示す。8は対物レンズ2から出射
される光を遮る位置に配置された絞りであり、この絞り
8には、対物レンズ2の中心(光軸)から偏心した位置
に***(ピンホール)9が設けられている。10はこの小
穴9を通過した光を受け、その入射位置を検出する位置
検出器である。
また、第2図はこの位置検出器10による検出感度を上げ
るために、絞り8との間に凸レンズ11を挿入したもので
ある。
このように構成された装置では、対物レンズ2がフォー
カス方向Fおよびトラッキング方向Tに変位すると、位
置検出器10における***9を通過した光の入射位置が変
化するので、この入射位置に応じた位置検出器10の出力
信号から、対物レンズ2の変位量を検出することができ
る。
例えば、第3図に示すように、対物レンズ2がフォーカ
ス方向Fに、P1からP2に変位したとすると、位置検出器
10における入射位置は、p1からp2に移動する。
また、第4図に示すように、***9の位置が対物レンズ
2におけるトラッキング方向Tと直交する軸上に定めら
れていると、対物レンズ2がトラッキング方向Tに変位
したときの位置検出器10における入射位置は、T′の方
向に移動する。これは、フォーカス方向Fに対する移動
方向とは、直交する方向である。したがって、位置検出
器10における2軸方向の出力成分をそれぞれ検出すれ
ば、対物レンズ2のフォーカス方向Fおよびトラッキン
グ方向Tの変位を容易に検出することができる。
このように、光ピックアップ1から出射される光を利用
して対物レンズ2の変位量を検出すると、検出用の光源
を必要とせず、対物レンズ2の全移動範囲に渡って、そ
の変位量を検出することができる。
〈考案の効果〉 以上説明したように、本考案の光ピックアップ検査装置
では、光ピックアップの対物レンズから出射される光を
遮る位置に配置されるとともにこの対物レンズの中心か
ら偏心した位置に***を有する絞りと、この***を通過
した光を受けその入射位置を検出する位置検出器とを具
備するようにしているので、対物レンズの変位に応じ
て、位置検出器への光の入射位置が変化し、光ピックア
ップの種類にかかわらず、対物レンズの全移動範囲に渡
って、その変位量を正確に検出することのできる光ピッ
クアップ検査装置を簡単な構成により実現することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は本考案の光ピックアップ検査装置の一
実施例を示す構成図、第5図および第6図は従来の光ピ
ックアップ検査装置の一例を示す構成図である。 1……光ピックアップ、2……対物レンズ、3……光
源、4……受光素子、5……変換回路、6……反射シー
ト、7……変位変換器、8……絞り、9……***、10…
…位置検出器、11……凸レンズ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】光ピックアップの対物レンズから出射され
    る光を遮る位置に配置されるとともにこの対物レンズの
    中心から偏心した位置に***を有する絞りと、この***
    を通過した光を受けその入射位置を検出する位置検出器
    とを具備してなる光ピックアップ検査装置。
JP12896188U 1988-09-30 1988-09-30 光ピックアップ検査装置 Expired - Lifetime JPH0648574Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12896188U JPH0648574Y2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30 光ピックアップ検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12896188U JPH0648574Y2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30 光ピックアップ検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0250823U JPH0250823U (ja) 1990-04-10
JPH0648574Y2 true JPH0648574Y2 (ja) 1994-12-12

Family

ID=31382787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12896188U Expired - Lifetime JPH0648574Y2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30 光ピックアップ検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0648574Y2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5153582B2 (ja) * 2008-02-20 2013-02-27 三洋電機株式会社 対物レンズ駆動装置の検査方法、検査装置
WO2011158920A1 (ja) * 2010-06-16 2011-12-22 三洋電機株式会社 対物レンズ駆動装置の検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0250823U (ja) 1990-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5229836A (en) Position detecting apparatus for a moving body
US4534645A (en) Automatic lens meter
KR910020668A (ko) 광 빔 제어용 트래킹 제어장치
JPH0648574Y2 (ja) 光ピックアップ検査装置
US3317739A (en) Microscope with photoelectric scanner for accurately determining the position of a line
KR970011144B1 (ko) 반도체 레이저를 이용한 센서
JPS6266111A (ja) 光学的距離検出装置
JPS57166530A (en) Color measuring device
JPH0752618Y2 (ja) 探針走査型顕微鏡
JP2551276B2 (ja) 光学式位置検出装置
JPH08334309A (ja) 光学式変位検出装置
JPS61240103A (ja) 光学式微小変位計
JPH0310729Y2 (ja)
JPS5836052Y2 (ja) レンズの曲率測定装置
JPH04246Y2 (ja)
RU1803728C (ru) Устройство дл измерени угловых и линейных перемещений вращающегос объекта
JPH0395906U (ja)
JPH0558483B2 (ja)
JPS6217607A (ja) 光学式傾き検出装置
JPH03216512A (ja) 微小対象物変位量検出方法
JPS6275309A (ja) 変位変換器
JPS6131147A (ja) 眼屈折計
JPH0359404A (ja) 光ビームの位置測定装置
JPS6281522A (ja) 距離測定装置
JPH06129840A (ja) 表面測定装置