JPH06307846A - ワークピース表面のデジタイジング方法 - Google Patents
ワークピース表面のデジタイジング方法Info
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- JPH06307846A JPH06307846A JP6076208A JP7620894A JPH06307846A JP H06307846 A JPH06307846 A JP H06307846A JP 6076208 A JP6076208 A JP 6076208A JP 7620894 A JP7620894 A JP 7620894A JP H06307846 A JPH06307846 A JP H06307846A
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/42—Recording and playback systems, i.e. in which the programme is recorded from a cycle of operations, e.g. the cycle of operations being manually controlled, after which this record is played back on the same machine
- G05B19/4202—Recording and playback systems, i.e. in which the programme is recorded from a cycle of operations, e.g. the cycle of operations being manually controlled, after which this record is played back on the same machine preparation of the programme medium using a drawing, a model
- G05B19/4207—Recording and playback systems, i.e. in which the programme is recorded from a cycle of operations, e.g. the cycle of operations being manually controlled, after which this record is played back on the same machine preparation of the programme medium using a drawing, a model in which a model is traced or scanned and corresponding data recorded
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/34—Director, elements to supervisory
- G05B2219/34101—Data compression, look ahead segment calculation, max segment lenght
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はワークピース表面をスキャンし、余
剰データを排除することのできるデジタイジング方法を
提供することを目的とする。 【構成】 ワークピース表面をプローブ５でスキャニン
グし、座標データをフィルタにかけて平らな表面の余剰
データを排除する。第１のポイントＰ１から始まり第２
のポイントＰ２の上下に許容誤差ｈだけ離れた、トップ
及びボトム許容誤差ベクトルＴＶ０、ＢＶ０を決定す
る。方向指示ベクトルＤＶ１をＰ１と第３のポイントＰ
３の間に定める。ベクトルＤＶ１がベクトルＴＶ０とＢ
Ｖ０の外にあるときは、Ｐ２が必要なのでフィルタで排
除せず他の場合は排除する。排除した場合はＰ１から始
まりＰ３の上下の許容誤差がｈ以内の、新たな許容誤差
ベクトルＴＶ１およびＢＶ１を決定する。ＴＶ０、ＴＶ
１、ＢＶ０、ＢＶ１からＤＶ１に近い一対のベクトルＴ
Ｖｎ、ＢＶｎを選択してその後の処理を行う。
剰データを排除することのできるデジタイジング方法を
提供することを目的とする。 【構成】 ワークピース表面をプローブ５でスキャニン
グし、座標データをフィルタにかけて平らな表面の余剰
データを排除する。第１のポイントＰ１から始まり第２
のポイントＰ２の上下に許容誤差ｈだけ離れた、トップ
及びボトム許容誤差ベクトルＴＶ０、ＢＶ０を決定す
る。方向指示ベクトルＤＶ１をＰ１と第３のポイントＰ
３の間に定める。ベクトルＤＶ１がベクトルＴＶ０とＢ
Ｖ０の外にあるときは、Ｐ２が必要なのでフィルタで排
除せず他の場合は排除する。排除した場合はＰ１から始
まりＰ３の上下の許容誤差がｈ以内の、新たな許容誤差
ベクトルＴＶ１およびＢＶ１を決定する。ＴＶ０、ＴＶ
１、ＢＶ０、ＢＶ１からＤＶ１に近い一対のベクトルＴ
Ｖｎ、ＢＶｎを選択してその後の処理を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、物質表面の輪郭をスキ
ャンすることにより物質を測定する方法に関する。
ャンすることにより物質を測定する方法に関する。
【０００２】なお、本明細書の記述は本件出願の優先権
の基礎たるイギリス国特許出願第ＧＢ ９３０７６９
７．４号の明細書の記載に基づくものであって、当該イ
ギリス国特許出願の番号を参照することによって当該イ
ギリス国特許出願の明細書の記載内容が本明細書の一部
分を構成するものとする。
の基礎たるイギリス国特許出願第ＧＢ ９３０７６９
７．４号の明細書の記載に基づくものであって、当該イ
ギリス国特許出願の番号を参照することによって当該イ
ギリス国特許出願の明細書の記載内容が本明細書の一部
分を構成するものとする。
【０００３】
【従来の技術】従来、適切なプローブを機械の工具、座
標値測定器械、または特別のスキャニング機械に取り付
けることにより物質表面の輪郭線をスキャンする方法が
知られている。プローブで物質の表面を横切ってスキャ
ンし、多くの数の座標位置を読みとる。次にこの座標位
置データをコンピュータに与える。このプロセスはデジ
タル化として知られている。
標値測定器械、または特別のスキャニング機械に取り付
けることにより物質表面の輪郭線をスキャンする方法が
知られている。プローブで物質の表面を横切ってスキャ
ンし、多くの数の座標位置を読みとる。次にこの座標位
置データをコンピュータに与える。このプロセスはデジ
タル化として知られている。
【０００４】このような目的に用いられるスキャニング
機械の一つの例は、本出願人の欧州特許出願ＥＰ５２８
５４１に示されている。表面の輪郭が判っていない物質
をスキャンするスキャニング方法の一例は、本出願人の
国際特許出願ＷＯ９１／２００２０に示されている。
機械の一つの例は、本出願人の欧州特許出願ＥＰ５２８
５４１に示されている。表面の輪郭が判っていない物質
をスキャンするスキャニング方法の一例は、本出願人の
国際特許出願ＷＯ９１／２００２０に示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のスキャニング方
法は、物質表面の個々のスキャン位置を表す多くの数の
座標データを生成する。コンピュータはこれらの全ての
データを、磁気ディスクなどに格納し、続いてそのデー
タを更に処理しなくてはならない。
法は、物質表面の個々のスキャン位置を表す多くの数の
座標データを生成する。コンピュータはこれらの全ての
データを、磁気ディスクなどに格納し、続いてそのデー
タを更に処理しなくてはならない。
【０００６】そこで本発明は、そのように更に処理を行
うに先立って、データをフィルタリングし、余分な情報
を除去して処理が必要なデータ量を減じることのできる
物質表面のスキャニング方法を提供することを目的とす
る。
うに先立って、データをフィルタリングし、余分な情報
を除去して処理が必要なデータ量を減じることのできる
物質表面のスキャニング方法を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、請求項１に記載の発明は、ワークピースの表
面をプローブによりスキャンし、前記ワークピース表面
上の複数のポイントの座標値を表すデジタル化された座
標データを生成し、当該データをフィルタリングして前
記ポイントのいくつかを表すデータを排除することによ
りワークピース表面をデジタイジングする方法であっ
て、前記フィルタリングは、前記表面上の第１、第２及
び第３のポイントを表すデータを受け取る受け取りステ
ップと、前記第１のポイントから前記第３のポイントへ
のベクトルを生成する生成ステップと、当該ベクトルが
前記第２のポイントに対する許容誤差内にあるか否かを
判断する判断ステップと、前記ベクトルが前記許容誤差
内にある場合は前記第２のポイントを表すデータを排除
する排除ステップとを備えたことを特徴とする。
るために、請求項１に記載の発明は、ワークピースの表
面をプローブによりスキャンし、前記ワークピース表面
上の複数のポイントの座標値を表すデジタル化された座
標データを生成し、当該データをフィルタリングして前
記ポイントのいくつかを表すデータを排除することによ
りワークピース表面をデジタイジングする方法であっ
て、前記フィルタリングは、前記表面上の第１、第２及
び第３のポイントを表すデータを受け取る受け取りステ
ップと、前記第１のポイントから前記第３のポイントへ
のベクトルを生成する生成ステップと、当該ベクトルが
前記第２のポイントに対する許容誤差内にあるか否かを
判断する判断ステップと、前記ベクトルが前記許容誤差
内にある場合は前記第２のポイントを表すデータを排除
する排除ステップとを備えたことを特徴とする。
【０００８】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
のデジタイジング方法であって、前記判断ステップは、
前記第１のポイントから始まり、前記第２のポイントの
どちらかのサイドに前記第２のポイントより許容値だけ
離れたポイントを通る、許容ベクトルを生成し、これに
より前記２つの許容誤差ベクトルの間の許容誤差幅を定
めるステップと、前記第１のポイントから前記第３のポ
イントへの前記ベクトルが、前記許容誤差幅の中にある
か否かを判断するステップとを有することを特徴とす
る。
のデジタイジング方法であって、前記判断ステップは、
前記第１のポイントから始まり、前記第２のポイントの
どちらかのサイドに前記第２のポイントより許容値だけ
離れたポイントを通る、許容ベクトルを生成し、これに
より前記２つの許容誤差ベクトルの間の許容誤差幅を定
めるステップと、前記第１のポイントから前記第３のポ
イントへの前記ベクトルが、前記許容誤差幅の中にある
か否かを判断するステップとを有することを特徴とす
る。
【０００９】請求項３に記載の発明は、請求項２に記載
のデジタイジング方法であって、前記第１のポイントか
ら前記第３のポイントへのベクトルの、前記許容誤差ベ
クトルによる外積を計算するステップを含むことを特徴
とする。
のデジタイジング方法であって、前記第１のポイントか
ら前記第３のポイントへのベクトルの、前記許容誤差ベ
クトルによる外積を計算するステップを含むことを特徴
とする。
【００１０】請求項４に記載の発明は、請求項１から３
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
第２のポイントを示すデータが排除されなかった場合
は、前記フィルタリングステップは、前記表面上の第４
のポイントを表すデータを受け取るステップと、前記第
２、前記第３及び前記第４のポイントを表すデータを、
それぞれ前記第１、前記第２及び前記第３のポイントを
表すデータに置き換えて、前記生成ステップ、前記判断
ステップ及び前記排除ステップを繰り返すステップとに
よって行うことを特徴とする。
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
第２のポイントを示すデータが排除されなかった場合
は、前記フィルタリングステップは、前記表面上の第４
のポイントを表すデータを受け取るステップと、前記第
２、前記第３及び前記第４のポイントを表すデータを、
それぞれ前記第１、前記第２及び前記第３のポイントを
表すデータに置き換えて、前記生成ステップ、前記判断
ステップ及び前記排除ステップを繰り返すステップとに
よって行うことを特徴とする。
【００１１】請求項５に記載の発明は、請求項１から３
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
第２のポイントを示すデータが排除された場合は、前記
フィルタリングステップは、前記表面上の第４のポイン
トを表すデータを受け取るステップと、前記第１のポイ
ントから前記第４のポイントへ向かうベクトルを生成す
るステップと、前記第１のポイントから前記第４のポイ
ントへ向かう前記ベクトルが、前記第３のポイントに対
する許容誤差の範囲内にあるか否かを判断するステップ
と、前記第１のポイントから前記第４のポイントへ向か
う前記ベクトルが、前記第３のポイントに対する許容誤
差の範囲内にあるときは前記第３のポイントを排除する
ステップとによって行うことを特徴とする。
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
第２のポイントを示すデータが排除された場合は、前記
フィルタリングステップは、前記表面上の第４のポイン
トを表すデータを受け取るステップと、前記第１のポイ
ントから前記第４のポイントへ向かうベクトルを生成す
るステップと、前記第１のポイントから前記第４のポイ
ントへ向かう前記ベクトルが、前記第３のポイントに対
する許容誤差の範囲内にあるか否かを判断するステップ
と、前記第１のポイントから前記第４のポイントへ向か
う前記ベクトルが、前記第３のポイントに対する許容誤
差の範囲内にあるときは前記第３のポイントを排除する
ステップとによって行うことを特徴とする。
【００１２】請求項６に記載の発明は、請求項５に記載
のデジタイジング方法であって、前記第３のポイントに
関する許容誤差は、前記第１のポイントから始まり、前
記第２のポイントのどちらかのサイドに、前記第２のポ
イントから許容誤差の値だけ離されたポイントを通る第
１の許容誤差ベクトルを生成するステップと、前記第１
のポイントから始まり、前記第３のポイントのどちらか
のサイドに、前記第３のポイントから許容誤差の値だけ
離されたポイントを通る第２の許容誤差ベクトルを生成
するステップと、前記第３のポイントのそれぞれのサイ
ド上に、前記第１及び前記第２の許容誤差ベクトルのか
ら、前記第１のポイントから前記第３のポイントへのベ
クトルに対して最も近い前記許容誤差ベクトルの、一対
のベクトルを選択するステップとにより決定されること
を特徴とする。
のデジタイジング方法であって、前記第３のポイントに
関する許容誤差は、前記第１のポイントから始まり、前
記第２のポイントのどちらかのサイドに、前記第２のポ
イントから許容誤差の値だけ離されたポイントを通る第
１の許容誤差ベクトルを生成するステップと、前記第１
のポイントから始まり、前記第３のポイントのどちらか
のサイドに、前記第３のポイントから許容誤差の値だけ
離されたポイントを通る第２の許容誤差ベクトルを生成
するステップと、前記第３のポイントのそれぞれのサイ
ド上に、前記第１及び前記第２の許容誤差ベクトルのか
ら、前記第１のポイントから前記第３のポイントへのベ
クトルに対して最も近い前記許容誤差ベクトルの、一対
のベクトルを選択するステップとにより決定されること
を特徴とする。
【００１３】請求項７に記載の発明は、請求項１から６
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
フィルタリングを、前記プローブで前記表面をリアルタ
イムにスキャニングする間に実行することを特徴とす
る。
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
フィルタリングを、前記プローブで前記表面をリアルタ
イムにスキャニングする間に実行することを特徴とす
る。
【００１４】請求項８に記載の発明は、請求項１から６
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
ポイントを表すデータを、前記プローブで前記表面をス
キャニングする間に格納し、前記フィルタリングを、当
該格納されたデータに対して実行することを特徴とす
る。
のいずれかに記載のデジタイジング方法であって、前記
ポイントを表すデータを、前記プローブで前記表面をス
キャニングする間に格納し、前記フィルタリングを、当
該格納されたデータに対して実行することを特徴とす
る。
【００１５】請求項９に記載の発明は、ワークピース表
面の複数のポイントの座標を表すデジタル化された座標
データを、前記ポイントのいくつかを表すデータを排除
するためにフィルタリングする方法であって、前記表面
上の第１、第２及び第３のポイントを表すデータを受け
取るステップと、前記第１のポイントから前記第３のポ
イントへ向かうベクトルを生成するステップと、当該ベ
クトルが前記第２のポイントに対して予め定めた許容誤
差の範囲内にあるか否かを判断するステップと、前記ベ
クトルが前記許容誤差の範囲内になければ前記第２のポ
イントを表す前記データを排除するステップとを備えた
ことを特徴とする。
面の複数のポイントの座標を表すデジタル化された座標
データを、前記ポイントのいくつかを表すデータを排除
するためにフィルタリングする方法であって、前記表面
上の第１、第２及び第３のポイントを表すデータを受け
取るステップと、前記第１のポイントから前記第３のポ
イントへ向かうベクトルを生成するステップと、当該ベ
クトルが前記第２のポイントに対して予め定めた許容誤
差の範囲内にあるか否かを判断するステップと、前記ベ
クトルが前記許容誤差の範囲内になければ前記第２のポ
イントを表す前記データを排除するステップとを備えた
ことを特徴とする。
【００１６】
【作用】本発明は、物質の表面をスキャンし又はデジタ
イズする。この方法においては新規なフィルタリングア
ルゴリズムを用いる。このアルゴリズムは、予め格納し
たデータをフィルタにかけてその後の処理を行う。ある
いは、このアルゴリズムをリアルタイムに用いて、デー
タが生成されるとそれを格納する前にすぐにフィルタリ
ングすることもできる。
イズする。この方法においては新規なフィルタリングア
ルゴリズムを用いる。このアルゴリズムは、予め格納し
たデータをフィルタにかけてその後の処理を行う。ある
いは、このアルゴリズムをリアルタイムに用いて、デー
タが生成されるとそれを格納する前にすぐにフィルタリ
ングすることもできる。
【００１７】フィルタリングすることにより、余分な情
報を除去して処理が必要なデータ量を減じることができ
る。特に、物質表面の特定の部分が平面または平らであ
る場合は多くの余剰データをフィルターで除去すること
ができる。これは急激に変化する輪郭と比較してそのよ
うな表面を表すには、明らかに少ないデータが必要とさ
れるからである。
報を除去して処理が必要なデータ量を減じることができ
る。特に、物質表面の特定の部分が平面または平らであ
る場合は多くの余剰データをフィルターで除去すること
ができる。これは急激に変化する輪郭と比較してそのよ
うな表面を表すには、明らかに少ないデータが必要とさ
れるからである。
【００１８】
【実施例】本発明の好適な実施例を添付図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１９】図１は本発明による好適な方法を用いるこ
とのできるスキャニングマシンを示す。しかしながら、
この方法はもちろん他のスキャニングマシン、および座
標値測定マシン及びマシンツールのような他のマシン上
で実行されるスキャニング方法にも等しく適用すること
ができる。
とのできるスキャニングマシンを示す。しかしながら、
この方法はもちろん他のスキャニングマシン、および座
標値測定マシン及びマシンツールのような他のマシン上
で実行されるスキャニング方法にも等しく適用すること
ができる。
【００２０】図１に示す機械は本出願人の欧州特許出願
Ｎｏ．ＥＰ５２８５４１に概略が示されている。詳細は
その出願を参照されたい。簡単には、このマシンはベー
ス１、このベースの一端の上に立つピラー２、およびこ
のピラーのトップの上に位置する二つのビーム３、４を
備える。ブリッジ６はビーム３、４に沿ってＹ方向にス
ライドすることができ、キャリッジ７はブリッジ６に沿
ってＸ方向にスライドすることができる。このキャリッ
ジ７は垂直方向Ｚに移動するスピンドル１１を支持する
ピラー０を保持する。その下端でスピンドル１１はプロ
ーブ５を搬送する。プローブ５は、反りのない、物質に
接触するスタイラス８を保持する。
Ｎｏ．ＥＰ５２８５４１に概略が示されている。詳細は
その出願を参照されたい。簡単には、このマシンはベー
ス１、このベースの一端の上に立つピラー２、およびこ
のピラーのトップの上に位置する二つのビーム３、４を
備える。ブリッジ６はビーム３、４に沿ってＹ方向にス
ライドすることができ、キャリッジ７はブリッジ６に沿
ってＸ方向にスライドすることができる。このキャリッ
ジ７は垂直方向Ｚに移動するスピンドル１１を支持する
ピラー０を保持する。その下端でスピンドル１１はプロ
ーブ５を搬送する。プローブ５は、反りのない、物質に
接触するスタイラス８を保持する。
【００２１】このマシンは汎用のモータドライブ（不図
示）を有し、ブリッジ６をビーム３、４上でＹ方向に駆
動し、キャリッジ７をブリッジ６上でＸ方向に駆動し、
またスピンドル１１をキャリッジの中でＺ方向に駆動す
る。このマシンは更に、マシンの移動空間内のプローブ
５の座標位置Ｘ，Ｙ，Ｚを示すスケール又は他の変換器
を有する。
示）を有し、ブリッジ６をビーム３、４上でＹ方向に駆
動し、キャリッジ７をブリッジ６上でＸ方向に駆動し、
またスピンドル１１をキャリッジの中でＺ方向に駆動す
る。このマシンは更に、マシンの移動空間内のプローブ
５の座標位置Ｘ，Ｙ，Ｚを示すスケール又は他の変換器
を有する。
【００２２】説明のために、ブローブ５はアナログタイ
プであり、ベース１の上に載せられた物質の表面に接触
したときに生じる、Ｘ、ＹおよびＺ方向のスタイラス８
のゆがみを測定する変換器を更に有すると仮定する。表
面上のポイントの座標を測定するために、これらの変換
器の出力をスケールの出力に加える。しかしながら、多
くの他のタイプのプローブを用いることもできる。その
ようなプローブには接触トリガープローブがあり、これ
は単に物質表面とスタイラスとの間に接触が生じたとき
にトリガーを発生し、座標の読み取り機にスケールから
取り込ませる。代替的には、プローブはレーザー三角測
量プローブのような非接触タイプであってもよい。
プであり、ベース１の上に載せられた物質の表面に接触
したときに生じる、Ｘ、ＹおよびＺ方向のスタイラス８
のゆがみを測定する変換器を更に有すると仮定する。表
面上のポイントの座標を測定するために、これらの変換
器の出力をスケールの出力に加える。しかしながら、多
くの他のタイプのプローブを用いることもできる。その
ようなプローブには接触トリガープローブがあり、これ
は単に物質表面とスタイラスとの間に接触が生じたとき
にトリガーを発生し、座標の読み取り機にスケールから
取り込ませる。代替的には、プローブはレーザー三角測
量プローブのような非接触タイプであってもよい。
【００２３】使用中にはモータドライブはコンピュータ
２０の中のプログラムによりコントロールされ、プロー
ブ５にベース１の上に置かれた物質の表面をスキャンさ
せる。コンピュータ２０の制御下で表面をスキャンする
には、多くの異なる方法がある。
２０の中のプログラムによりコントロールされ、プロー
ブ５にベース１の上に置かれた物質の表面をスキャンさ
せる。コンピュータ２０の制御下で表面をスキャンする
には、多くの異なる方法がある。
【００２４】例えば、スタイラス８を連続したラインの
それぞれに沿ってＸ方向にスキャンさせることができ
る。このラインはそれぞれわずかにＹ方向に離されてお
り、Ｘ−Ｙスキャニングラスターを形成する。図２は物
質表面３０上のそのようなラインの一つに沿ってスキャ
ンしているスタイラスを示す。スタイラスは操作するに
従ってＺ方向に上昇し、又は下降する。コンピュータ２
０は規則的な間隔で座標位置の読みを取り込む。これに
より一連のポイントＰ１- Ｐ６、およびこの物質の一つ
のＸ−Ｚスライスの中に置かれた多くの他のポイントの
デジタル化座標データが作られる。その結果多くの量の
データが作られ、その後の処理に先立って、同様の量を
有するラスター内の他のＸ- Ｚスライスの各データと共
に、コンピュータ２０により汎用的な方法でファイルに
格納される。明確にするために、図２においてはポイン
トＰ１- Ｐ６の間隔は誇張されている。実際はこれらの
ポイントは相互に遥かに近接している。
それぞれに沿ってＸ方向にスキャンさせることができ
る。このラインはそれぞれわずかにＹ方向に離されてお
り、Ｘ−Ｙスキャニングラスターを形成する。図２は物
質表面３０上のそのようなラインの一つに沿ってスキャ
ンしているスタイラスを示す。スタイラスは操作するに
従ってＺ方向に上昇し、又は下降する。コンピュータ２
０は規則的な間隔で座標位置の読みを取り込む。これに
より一連のポイントＰ１- Ｐ６、およびこの物質の一つ
のＸ−Ｚスライスの中に置かれた多くの他のポイントの
デジタル化座標データが作られる。その結果多くの量の
データが作られ、その後の処理に先立って、同様の量を
有するラスター内の他のＸ- Ｚスライスの各データと共
に、コンピュータ２０により汎用的な方法でファイルに
格納される。明確にするために、図２においてはポイン
トＰ１- Ｐ６の間隔は誇張されている。実際はこれらの
ポイントは相互に遥かに近接している。
【００２５】ラスタースキャニングプロセスは、物質の
仮定された形状に基づいて、スタイラス８に対して予め
定められたパスに沿って行われる。択一的には、例えば
本出願人の先の国際出願ＷＯ９１／２００２０に記載さ
れた、既知の形状を有する表面をスキャンするために考
案された技術を用いることができる。もちろん、要求さ
れた場合は、ラスタースキャニングは９０度回転するこ
とができる。従ってＹ- Ｚ方向の連続したスライスにつ
いての座標データを構築することもできる。適切なスキ
ャニングソフトウエアを用いれば、このスキャンのスラ
イスはどのような所望垂直平面に向けることもできる。
仮定された形状に基づいて、スタイラス８に対して予め
定められたパスに沿って行われる。択一的には、例えば
本出願人の先の国際出願ＷＯ９１／２００２０に記載さ
れた、既知の形状を有する表面をスキャンするために考
案された技術を用いることができる。もちろん、要求さ
れた場合は、ラスタースキャニングは９０度回転するこ
とができる。従ってＹ- Ｚ方向の連続したスライスにつ
いての座標データを構築することもできる。適切なスキ
ャニングソフトウエアを用いれば、このスキャンのスラ
イスはどのような所望垂直平面に向けることもできる。
【００２６】得られたデータは、以下に記載する新規な
データのフィルタリングアルゴリズムにかけられる。こ
のフィルタリングアルゴリズムは時間的に連続して、コ
ンピュータ２０又は別のコンピュータにより行うことが
できる。これらのコンピュータは、得られて格納された
座標データのファイルに対して処理を行う。しかしなが
らこのフィルタリングアルゴリズムは、データが得られ
た時それが格納される以前に、コンピュータ２０により
リアルタイムに実行されても良い。後者の方法は、デー
タを格納する以前に余分なデータを取り除き、必要な記
憶を減少するという長所がある。もしコンピュータ２０
の記憶容量が制限されている場合、例えば磁気ディスク
である場合、後者の方法によれば、他の方法では得るこ
とのできない密度で、物質からデータを得ることができ
る。
データのフィルタリングアルゴリズムにかけられる。こ
のフィルタリングアルゴリズムは時間的に連続して、コ
ンピュータ２０又は別のコンピュータにより行うことが
できる。これらのコンピュータは、得られて格納された
座標データのファイルに対して処理を行う。しかしなが
らこのフィルタリングアルゴリズムは、データが得られ
た時それが格納される以前に、コンピュータ２０により
リアルタイムに実行されても良い。後者の方法は、デー
タを格納する以前に余分なデータを取り除き、必要な記
憶を減少するという長所がある。もしコンピュータ２０
の記憶容量が制限されている場合、例えば磁気ディスク
である場合、後者の方法によれば、他の方法では得るこ
とのできない密度で、物質からデータを得ることができ
る。
【００２７】このアルゴリズムは、例えばコンピュータ
２０から問われた質問に対する応答としてプロセスが始
まる前にユーザにより示された許容誤差の値を用いる。
この許容誤差の値はコーダル（ｃｈｏｒｄａｌ）許容誤
差値として知られている。説明のために、図２のポイン
トＰ１からＰ６を表す座標データは、その順に得られる
と仮定する。アルゴリズムは、スキャニングが行われる
時に直接、またはコンピュータ２０により格納されたデ
ータのファイルから、これらのポイントの座標データを
順に受け取って、以下のステージに沿って進む。各種ス
テージを図３から図６に示す。これらの図は、図２に示
したのと同一のＸ−Ｚ平面内のデータを表している。ま
たアルゴリズムのステップを図８に示す。
２０から問われた質問に対する応答としてプロセスが始
まる前にユーザにより示された許容誤差の値を用いる。
この許容誤差の値はコーダル（ｃｈｏｒｄａｌ）許容誤
差値として知られている。説明のために、図２のポイン
トＰ１からＰ６を表す座標データは、その順に得られる
と仮定する。アルゴリズムは、スキャニングが行われる
時に直接、またはコンピュータ２０により格納されたデ
ータのファイルから、これらのポイントの座標データを
順に受け取って、以下のステージに沿って進む。各種ス
テージを図３から図６に示す。これらの図は、図２に示
したのと同一のＸ−Ｚ平面内のデータを表している。ま
たアルゴリズムのステップを図８に示す。
【００２８】（１）ステージ１ アルゴリズムは第１のポイントＰ１の座標データを受け
取る。これはベースポイントとして参照される。それは
自動的に要求された（すなわち、余剰でない）ポイント
として考えられ、従ってこのアルゴリズムの出力側へ渡
される。（図８のステップ４０） （２）ステージ２ 第２番目のポイントＰ２（テストポイントと呼ぶ）のデ
ータが受信されたとき、アルゴリズムは方向指示ベクト
ルＤＶ０、トップ許容誤差ベクトルＴＶ０、及びボトム
許容誤差ベクトルＢＶ０を、図３に示すように生成す
る。（図８のステップ４２及び４４）方向指示ベクトル
ＤＶ０は単にベースポイントＰ１及びテストポイントＰ
２の間のベクトルである。このトップ及びボトムの許容
誤差ベクトルＴＶ０、ＢＶ０は、ベースポイントＰ１か
ら始まり、テストポイントＰ２のどちらかのサイドにテ
ストポイントＰ２より距離ｈだけ離されたポイントを通
るベクトルである。この距離ｈは単に、ユーザが入力し
たコーダル許容誤差の半分の値である。
取る。これはベースポイントとして参照される。それは
自動的に要求された（すなわち、余剰でない）ポイント
として考えられ、従ってこのアルゴリズムの出力側へ渡
される。（図８のステップ４０） （２）ステージ２ 第２番目のポイントＰ２（テストポイントと呼ぶ）のデ
ータが受信されたとき、アルゴリズムは方向指示ベクト
ルＤＶ０、トップ許容誤差ベクトルＴＶ０、及びボトム
許容誤差ベクトルＢＶ０を、図３に示すように生成す
る。（図８のステップ４２及び４４）方向指示ベクトル
ＤＶ０は単にベースポイントＰ１及びテストポイントＰ
２の間のベクトルである。このトップ及びボトムの許容
誤差ベクトルＴＶ０、ＢＶ０は、ベースポイントＰ１か
ら始まり、テストポイントＰ２のどちらかのサイドにテ
ストポイントＰ２より距離ｈだけ離されたポイントを通
るベクトルである。この距離ｈは単に、ユーザが入力し
たコーダル許容誤差の半分の値である。
【００２９】（３）ステージ３ 次のポイントＰ３（カレントポイントと呼ぶ）が受け取
られたときに、新たなベクトルが生成される。このベク
トルはベースポイントＰ１から始まりカレントポイント
Ｐ３を通る（ステップ４６及び４８）。新たなベクトル
ＤＶ１に対して取り得る２つの状態がある。図４に示す
ように、トップ及びボトムの許容誤差ベクトルＴＶ０、
ＢＶ０によって区切られた許容誤差の幅の外側に位置す
るか、または図５に示したように許容誤差幅の中に位置
するかである。このアルゴリズムはこれらの２つのケー
スのどちらが生じたかを、新たな方向指示ベクトルＤＶ
１のトップ及びボトム許容誤差ベクトルＴＶ、ＢＶ０の
各々による外積（ベクトル積）を、それぞれ計算するこ
とにより判断する（ステップ５０）。
られたときに、新たなベクトルが生成される。このベク
トルはベースポイントＰ１から始まりカレントポイント
Ｐ３を通る（ステップ４６及び４８）。新たなベクトル
ＤＶ１に対して取り得る２つの状態がある。図４に示す
ように、トップ及びボトムの許容誤差ベクトルＴＶ０、
ＢＶ０によって区切られた許容誤差の幅の外側に位置す
るか、または図５に示したように許容誤差幅の中に位置
するかである。このアルゴリズムはこれらの２つのケー
スのどちらが生じたかを、新たな方向指示ベクトルＤＶ
１のトップ及びボトム許容誤差ベクトルＴＶ、ＢＶ０の
各々による外積（ベクトル積）を、それぞれ計算するこ
とにより判断する（ステップ５０）。
【００３０】新たな方向指示ベクトルＤＶ１が許容誤差
幅の外側に位置すると判断した場合（図４）は、テスト
ポイントＰ２が要求されていると考える。このアルゴリ
ズムは、ベースポイントＰ１に対する座標データの後の
テストポイントＰ２に対する、座標データを出力する
（ステップ５２）。このテストポイントＰ２は次に新た
なベースポイントとして扱われる。またカレントポイン
トＰ３は新たなテストポイントとして扱われる（ステッ
プ５４及び５６）。アルゴリズムが再度ステージ２から
始まり、これらの新たなベース及びテストポイントに基
づいて新たなトップ及びボトム許容誤差ベクトル（ＴＶ
０、ＢＶ０）を計算する。
幅の外側に位置すると判断した場合（図４）は、テスト
ポイントＰ２が要求されていると考える。このアルゴリ
ズムは、ベースポイントＰ１に対する座標データの後の
テストポイントＰ２に対する、座標データを出力する
（ステップ５２）。このテストポイントＰ２は次に新た
なベースポイントとして扱われる。またカレントポイン
トＰ３は新たなテストポイントとして扱われる（ステッ
プ５４及び５６）。アルゴリズムが再度ステージ２から
始まり、これらの新たなベース及びテストポイントに基
づいて新たなトップ及びボトム許容誤差ベクトル（ＴＶ
０、ＢＶ０）を計算する。
【００３１】新たな方向指示ベクトルＤＶ１がトップ及
びボトム許容誤差ベクトルＴＶ０、ＢＶ０の間の許容誤
差幅の中にある場合は（図５）、テストポイントＰ２は
排除される（すなわちフィルターにより除外される）。
これは、アルゴリズムによる許容誤差特性の中にあると
考えられるからである（ステップ５８）。すなわち、こ
の領域内では表面の輪郭は比較的平ら又は平面であるの
で、テストポイントＰ２は余剰データであり、廃棄する
ことができるからである。この場合は、アルゴリズムは
ポイントＰ１をベースポイントとして保ち、カレントポ
イントＰ３を新たなテストポイントとして再定義する
（ステップ６０）。しかしながら、この場合は古いテス
トベクトルＴＶ０、ＢＶ０は廃棄されない。
びボトム許容誤差ベクトルＴＶ０、ＢＶ０の間の許容誤
差幅の中にある場合は（図５）、テストポイントＰ２は
排除される（すなわちフィルターにより除外される）。
これは、アルゴリズムによる許容誤差特性の中にあると
考えられるからである（ステップ５８）。すなわち、こ
の領域内では表面の輪郭は比較的平ら又は平面であるの
で、テストポイントＰ２は余剰データであり、廃棄する
ことができるからである。この場合は、アルゴリズムは
ポイントＰ１をベースポイントとして保ち、カレントポ
イントＰ３を新たなテストポイントとして再定義する
（ステップ６０）。しかしながら、この場合は古いテス
トベクトルＴＶ０、ＢＶ０は廃棄されない。
【００３２】新たなトップ及びボトム許容誤差ベクトル
ＴＶ１、ＢＶ１が新たなテストポイントＰ３の回りにセ
ットされる（ステップ６２）。図６に示したように、こ
れは上述のステージ２と同様の方法で、コーダル許容誤
差から得られた距離ｈを用いて行われる。
ＴＶ１、ＢＶ１が新たなテストポイントＰ３の回りにセ
ットされる（ステップ６２）。図６に示したように、こ
れは上述のステージ２と同様の方法で、コーダル許容誤
差から得られた距離ｈを用いて行われる。
【００３３】次に、アルゴリズムは二つの許容誤差ベク
トルＴＶ０、ＢＶ０、ＴＶ１、ＢＶ１を選択し、そこか
ら続けて、常に一つのトップ許容誤差ベクトル及びボト
ム許容ベクトルをとる。このペアは、どの二つのベクト
ルが方向指示ベクトルＤＶ１に最も近いかということに
基づいて、上側及び下側のそれぞれに選択される（ステ
ップ６４）。通常は選択されたペアは旧いセット及び新
たなセットのそれぞれからの一つのベクトルを含む。図
６に示した例においては、新たなトップベクトルＴＶｎ
は、旧いセットからのトップベクトルＴＶ０であり、新
たなボトムベクトルＢＶｎは新たなセットからのボトム
ベクトルＢＶ１である。しかしながら、特に何度か繰り
返した後は、双方のベクトルを新たなセットから選択す
ることも可能である。図６から、選択されたベクトルＴ
Ｖｎ、ＢＶｎに関連づけられた許容誤差幅は、常にコー
ダル許容誤差２ｈより小さいか等しいことが判る。
トルＴＶ０、ＢＶ０、ＴＶ１、ＢＶ１を選択し、そこか
ら続けて、常に一つのトップ許容誤差ベクトル及びボト
ム許容ベクトルをとる。このペアは、どの二つのベクト
ルが方向指示ベクトルＤＶ１に最も近いかということに
基づいて、上側及び下側のそれぞれに選択される（ステ
ップ６４）。通常は選択されたペアは旧いセット及び新
たなセットのそれぞれからの一つのベクトルを含む。図
６に示した例においては、新たなトップベクトルＴＶｎ
は、旧いセットからのトップベクトルＴＶ０であり、新
たなボトムベクトルＢＶｎは新たなセットからのボトム
ベクトルＢＶ１である。しかしながら、特に何度か繰り
返した後は、双方のベクトルを新たなセットから選択す
ることも可能である。図６から、選択されたベクトルＴ
Ｖｎ、ＢＶｎに関連づけられた許容誤差幅は、常にコー
ダル許容誤差２ｈより小さいか等しいことが判る。
【００３４】アルゴリズムは次にステップ４６を繰り返
し、新たなポイントＰ４を受け取る（図２参照）。ステ
ージ３からの手続きは、Ｐ１をベースポイントとし、Ｐ
３をテストポイントとし、Ｐ４をカレントポイントとし
て、新たな許容誤差ベクトルＴＶｎ、ＢＶｎを用いて許
容誤差幅を定めて、繰り返し進められる。
し、新たなポイントＰ４を受け取る（図２参照）。ステ
ージ３からの手続きは、Ｐ１をベースポイントとし、Ｐ
３をテストポイントとし、Ｐ４をカレントポイントとし
て、新たな許容誤差ベクトルＴＶｎ、ＢＶｎを用いて許
容誤差幅を定めて、繰り返し進められる。
【００３５】従ってデータポイントが廃棄された場合
は、各連続したポイントのための許容誤差の要求は次第
に厳しくなることが分かるであろう。図７に示すよう
に、全ての廃棄されたポイントＰ２からＰ（ｎ−１）
は、それらの境界を定める二つの要求されたポイントＰ
１、Ｐｎを接続する、直線のコーダル許容誤差の範囲内
にある。
は、各連続したポイントのための許容誤差の要求は次第
に厳しくなることが分かるであろう。図７に示すよう
に、全ての廃棄されたポイントＰ２からＰ（ｎ−１）
は、それらの境界を定める二つの要求されたポイントＰ
１、Ｐｎを接続する、直線のコーダル許容誤差の範囲内
にある。
【００３６】アルゴリズムは、それが進むに従って、不
要なポイントを完全に排除するように用いることができ
る。または、後に格納するときに廃棄するという動作を
行うように、これらのポイントにフラグをつけても良
い。
要なポイントを完全に排除するように用いることができ
る。または、後に格納するときに廃棄するという動作を
行うように、これらのポイントにフラグをつけても良
い。
【００３７】このアルゴリズムは、カレントポイントの
運命を決定するために、それ以前のポイントのみしか用
いない点が重要である。全体のポイントのセットの振る
舞いを知る必要はない。このために、このアルゴリズム
は特にリアルタイム処理において、スキャンが行われて
いる間にどのポイントが必要であるかを判断することに
適している。他の長所としては、アルゴリズムの処理の
間に計算しなくてはならない式がシンプルであり、ある
一つの時点ではいくつかのデータのみしか含まないてん
があげられる。これは、このアルゴリズムがリアルタイ
ム処理に向いていることの他の理由である。このためそ
れ以前に格納されたデータファイルを処理している時で
あっても、スピード及びパフォーマンスを改善すること
ができる。更に、多くのポイントが動作中に廃棄されて
いる場合でも、廃棄されたポイントから得られたベクト
ルはなお、許容誤差の幅を狭めることにより、その後の
ポイントの運命を決定するために用いられる。従って廃
棄されたデータさえも、最終的な結果に対する影響を有
する。
運命を決定するために、それ以前のポイントのみしか用
いない点が重要である。全体のポイントのセットの振る
舞いを知る必要はない。このために、このアルゴリズム
は特にリアルタイム処理において、スキャンが行われて
いる間にどのポイントが必要であるかを判断することに
適している。他の長所としては、アルゴリズムの処理の
間に計算しなくてはならない式がシンプルであり、ある
一つの時点ではいくつかのデータのみしか含まないてん
があげられる。これは、このアルゴリズムがリアルタイ
ム処理に向いていることの他の理由である。このためそ
れ以前に格納されたデータファイルを処理している時で
あっても、スピード及びパフォーマンスを改善すること
ができる。更に、多くのポイントが動作中に廃棄されて
いる場合でも、廃棄されたポイントから得られたベクト
ルはなお、許容誤差の幅を狭めることにより、その後の
ポイントの運命を決定するために用いられる。従って廃
棄されたデータさえも、最終的な結果に対する影響を有
する。
【００３８】上記のアルゴリズムは本質的に２次元的で
あり、同一の平面（例えば、上記のラスタースキャニン
グ操作により生成されるＸ−Ｚ、またはＹ−Ｚ平面）内
に存在するポイントをスキャンするのに適している。し
かしながら、このアルゴリズムは、データポイントの全
ては同一平面内にない、３次元に対しても容易に拡張す
ることができる。この拡張は、図３から図６に示した２
次元の許容誤差幅の代わりに、３次元の許容誤差の円錐
（コーン）を定義することにより行うことができる。例
えば図３において、ベースポイントＰ１は円錐の頂点を
決定し、方向指示ベクトルＤＶ０は円錐の軸を決定す
る。
あり、同一の平面（例えば、上記のラスタースキャニン
グ操作により生成されるＸ−Ｚ、またはＹ−Ｚ平面）内
に存在するポイントをスキャンするのに適している。し
かしながら、このアルゴリズムは、データポイントの全
ては同一平面内にない、３次元に対しても容易に拡張す
ることができる。この拡張は、図３から図６に示した２
次元の許容誤差幅の代わりに、３次元の許容誤差の円錐
（コーン）を定義することにより行うことができる。例
えば図３において、ベースポイントＰ１は円錐の頂点を
決定し、方向指示ベクトルＤＶ０は円錐の軸を決定す
る。
【００３９】あるいは、データの処理を簡単にするため
に、Ｘ−Ｚ（またはＹ−Ｚ）平面における許容誤差幅と
同様の許容誤差幅があるＸ−Ｙ平面内で、単に上記２次
元の方法を繰り返しても良い。この場合、先に述べた許
容誤差の円錐という概念は、許容誤差の四角錐という概
念になる。ベースポイントＰ１が四角錐の頂点を決定
し、水平及び垂直の許容誤差２ｈが四角錐の正方形（又
は長方形）の底面を決定する。
に、Ｘ−Ｚ（またはＹ−Ｚ）平面における許容誤差幅と
同様の許容誤差幅があるＸ−Ｙ平面内で、単に上記２次
元の方法を繰り返しても良い。この場合、先に述べた許
容誤差の円錐という概念は、許容誤差の四角錐という概
念になる。ベースポイントＰ１が四角錐の頂点を決定
し、水平及び垂直の許容誤差２ｈが四角錐の正方形（又
は長方形）の底面を決定する。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ワークピース表面をスキャンして得られたデータをフィ
ルタリングすることにより、余分な情報を除去すること
ができる。特に、物質表面の特定の部分が平面または平
らである場合は多くの余剰データをフィルターで除去で
きる。
ワークピース表面をスキャンして得られたデータをフィ
ルタリングすることにより、余分な情報を除去すること
ができる。特に、物質表面の特定の部分が平面または平
らである場合は多くの余剰データをフィルターで除去で
きる。
【００４１】従って、コンピュータが磁気ディスクなど
に格納し、またはその後に処理する必要のあるデータの
量を減じることができる。
に格納し、またはその後に処理する必要のあるデータの
量を減じることができる。
【図１】本発明を適応することのできるスキャニング機
械の斜視図である。
械の斜視図である。
【図２】物質の表面をスキャンするプローブスタイラス
の概略図である。
の概略図である。
【図３】スキャンされたポイント及びこれらのポイント
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
【図４】スキャンされたポイント及びこれらのポイント
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
【図５】スキャンされたポイント及びこれらのポイント
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
【図６】スキャンされたポイント及びこれらのポイント
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
【図７】スキャンされたポイント及びこれらのポイント
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
を表すデータをフィルタにかけるアルゴリズムを示す説
明図である。
【図８】アルゴリズムを示すフローチャートである。
１ ベース ２ ピラー ３ ビーム ４ ビーム ５ プローブ ６ ブリッジ ７ キャリッジ ８ スタイラス １１ スピンドル ２０ コンピュータ ３０ 物質表面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アレクサンダー テナント サザーランド イギリス イーエイチ13 ０エヌエイ ス コットランド エディンバラ へイルズ アヴェニュ 15
Claims (9)
- 【請求項１】 ワークピースの表面をプローブによりス
キャンし、前記ワークピース表面上の複数のポイントの
座標値を表すデジタル化された座標データを生成し、当
該データをフィルタリングして前記ポイントのいくつか
を表すデータを排除することによりワークピース表面を
デジタイジングする方法であって、 前記フィルタリングは、 前記表面上の第１、第２及び第３のポイントを表すデー
タを受け取る受け取りステップと、 前記第１のポイントから前記第３のポイントへのベクト
ルを生成する生成ステップと、 当該ベクトルが前記第２のポイントに対する許容誤差内
にあるか否かを判断する判断ステップと、 前記ベクトルが前記許容誤差内にある場合は前記第２の
ポイントを表すデータを排除する排除ステップとを備え
たことを特徴とするワークピース表面のデジタイジング
方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載のデジタイジング方法で
あって、 前記判断ステップは、 前記第１のポイントから始まり、前記第２のポイントの
どちらかのサイドに前記第２のポイントより許容値だけ
離れたポイントを通る、許容ベクトルを生成し、これに
より前記２つの許容誤差ベクトルの間の許容誤差幅を定
めるステップと、 前記第１のポイントから前記第３のポイントへの前記ベ
クトルが、前記許容誤差幅の中にあるか否かを判断する
ステップとを有することを特徴とするデジタイジング方
法。 - 【請求項３】 請求項２に記載のデジタイジング方法で
あって、 前記第１のポイントから前記第３のポイントへのベクト
ルの、前記許容誤差ベクトルによる外積を計算するステ
ップを含むことを特徴とするデジタイジング方法。 - 【請求項４】 請求項１から３のいずれかに記載のデジ
タイジング方法であって、 前記第２のポイントを示すデータが排除されなかった場
合は、前記フィルタリングステップは、 前記表面上の第４のポイントを表すデータを受け取るス
テップと、 前記第２、前記第３及び前記第４のポイントを表すデー
タを、それぞれ前記第１、前記第２及び前記第３のポイ
ントを表すデータに置き換えて、前記生成ステップ、前
記判断ステップ及び前記排除ステップを繰り返すステッ
プとによって行うことを特徴とするデジタイジング方
法。 - 【請求項５】 請求項１から３のいずれかに記載のデジ
タイジング方法であって、 前記第２のポイントを示すデータが排除された場合は、
前記フィルタリングステップは、 前記表面上の第４のポイントを表すデータを受け取るス
テップと、 前記第１のポイントから前記第４のポイントへ向かうベ
クトルを生成するステップと、 前記第１のポイントから前記第４のポイントへ向かう前
記ベクトルが、前記第３のポイントに対する許容誤差の
範囲内にあるか否かを判断するステップと、 前記第１のポイントから前記第４のポイントへ向かう前
記ベクトルが、前記第３のポイントに対する許容誤差の
範囲内にあるときは前記第３のポイントを排除するステ
ップとによって行うことを特徴とするデジタイジング方
法。 - 【請求項６】 請求項５に記載のデジタイジング方法で
あって、 前記第３のポイントに関する許容誤差は、 前記第１のポイントから始まり、前記第２のポイントの
どちらかのサイドに、前記第２のポイントから許容誤差
の値だけ離されたポイントを通る第１の許容誤差ベクト
ルを生成するステップと、 前記第１のポイントから始まり、前記第３のポイントの
どちらかのサイドに、前記第３のポイントから許容誤差
の値だけ離されたポイントを通る第２の許容誤差ベクト
ルを生成するステップと、 前記第３のポイントのそれぞれのサイド上に、前記第１
及び前記第２の許容誤差ベクトルのから、前記第１のポ
イントから前記第３のポイントへのベクトルに対して最
も近い前記許容誤差ベクトルの、一対のベクトルを選択
するステップとにより決定されることを特徴とするデジ
タイジング方法。 - 【請求項７】 請求項１から６のいずれかに記載のデジ
タイジング方法であって、 前記フィルタリングを、前記プローブで前記表面をリア
ルタイムにスキャニングする間に実行することを特徴と
するデジタイジング方法。 - 【請求項８】 請求項１から６のいずれかに記載のデジ
タイジング方法であって、 前記ポイントを表すデータを、前記プローブで前記表面
をスキャニングする間に格納し、前記フィルタリング
を、当該格納されたデータに対して実行することを特徴
とするデジタイジング方法。 - 【請求項９】 ワークピース表面の複数のポイントの座
標を表すデジタル化された座標データを、前記ポイント
のいくつかを表すデータを排除するためにフィルタリン
グする方法であって、 前記表面上の第１、第２及び第３のポイントを表すデー
タを受け取るステップと、 前記第１のポイントから前記第３のポイントへ向かうベ
クトルを生成するステップと、 当該ベクトルが前記第２のポイントに対して予め定めた
許容誤差の範囲内にあるか否かを判断するステップと、 前記ベクトルが前記許容誤差の範囲内になければ前記第
２のポイントを表す前記データを排除するステップとを
備えたことを特徴とするデジタイジング方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB939307697A GB9307697D0 (en) | 1993-04-14 | 1993-04-14 | Method for scanning the surface of an object |
| GB9307697.4 | 1993-04-14 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06307846A true JPH06307846A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=10733805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6076208A Pending JPH06307846A (ja) | 1993-04-14 | 1994-04-14 | ワークピース表面のデジタイジング方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5499194A (ja) |
| JP (1) | JPH06307846A (ja) |
| DE (1) | DE4412961A1 (ja) |
| GB (2) | GB9307697D0 (ja) |
| IT (1) | IT1273630B (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5651104A (en) * | 1995-04-25 | 1997-07-22 | Evans & Sutherland Computer Corporation | Computer graphics system and process for adaptive supersampling |
| DE19603372C1 (de) * | 1995-12-21 | 1997-06-05 | Helmut Schindler | Gerät zum Übertragen von Umrißlinien eines Originals wahlweise auf ein beschreibbares Medium oder in einen Computer |
| US6094269A (en) * | 1997-12-31 | 2000-07-25 | Metroptic Technologies, Ltd. | Apparatus and method for optically measuring an object surface contour |
| US20030158786A1 (en) | 1999-02-26 | 2003-08-21 | Skyline Software Systems, Inc. | Sending three-dimensional images over a network |
| US7010457B2 (en) * | 2002-12-23 | 2006-03-07 | Kenneth Wargon | Apparatus and method for producing a numeric display corresponding to the volume of a selected segment of an item |
| CN100445692C (zh) * | 2004-12-28 | 2008-12-24 | 宝元科技股份有限公司 | 以多点迭代的三次元坐标定位方法 |
| US7891818B2 (en) | 2006-12-12 | 2011-02-22 | Evans & Sutherland Computer Corporation | System and method for aligning RGB light in a single modulator projector |
| WO2008109090A1 (en) * | 2007-03-06 | 2008-09-12 | Kenneth Wargon | Apparatus and method for determining and numerically displaying a volume |
| US8358317B2 (en) | 2008-05-23 | 2013-01-22 | Evans & Sutherland Computer Corporation | System and method for displaying a planar image on a curved surface |
| US8702248B1 (en) | 2008-06-11 | 2014-04-22 | Evans & Sutherland Computer Corporation | Projection method for reducing interpixel gaps on a viewing surface |
| US8077378B1 (en) | 2008-11-12 | 2011-12-13 | Evans & Sutherland Computer Corporation | Calibration system and method for light modulation device |
| US9641826B1 (en) | 2011-10-06 | 2017-05-02 | Evans & Sutherland Computer Corporation | System and method for displaying distant 3-D stereo on a dome surface |
| US9797715B2 (en) | 2013-07-23 | 2017-10-24 | Landau Gage, Inc. | Gage for verifying profile of part and method of verifying profile of part |
Family Cites Families (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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