JPH0627828B2 - 位置検出器 - Google Patents
位置検出器Info
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- JPH0627828B2 JPH0627828B2 JP3055830A JP5583091A JPH0627828B2 JP H0627828 B2 JPH0627828 B2 JP H0627828B2 JP 3055830 A JP3055830 A JP 3055830A JP 5583091 A JP5583091 A JP 5583091A JP H0627828 B2 JPH0627828 B2 JP H0627828B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/208—Circuits specially adapted for scintillation detectors, e.g. for the photo-multiplier section
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
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- Nuclear Medicine (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、位置検出器に係り、
特に、ポジトロンＣＴ装置での放射線の入射したシンチ
レータの位置を検出したりする場合に用いて好適な位置
検出器に関する。
特に、ポジトロンＣＴ装置での放射線の入射したシンチ
レータの位置を検出したりする場合に用いて好適な位置
検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の位置検出器としては、発
生した光を光電子増倍管で増幅すると共に、増倍された
光電子が入射する複数のアノード間を抵抗で結合し、そ
の両端の出力から、重心位置演算方式により発光位置を
検出するものがよく知られている。
生した光を光電子増倍管で増幅すると共に、増倍された
光電子が入射する複数のアノード間を抵抗で結合し、そ
の両端の出力から、重心位置演算方式により発光位置を
検出するものがよく知られている。
【０００３】又、位置演算を行わない方法としては、特
開昭６３−３００９８６号公報に開示されるような、光
又は放射線位置検出装置、特開昭６０−２１４２８７号
公報に開示されるようなポジトロンＣＴ装置の検出器が
ある。
開昭６３−３００９８６号公報に開示されるような、光
又は放射線位置検出装置、特開昭６０−２１４２８７号
公報に開示されるようなポジトロンＣＴ装置の検出器が
ある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記重心位置演算方式
による位置検出は、発光位置検出分解能を高めるために
は、アノードからの出力信号の積分及び重心演算等の回
路が必要となり、計数率特性及び回路の複雑さの点で問
題がある。又、端部における発光位置の分離が、中心付
近に比べて困難であるという問題点がある。
による位置検出は、発光位置検出分解能を高めるために
は、アノードからの出力信号の積分及び重心演算等の回
路が必要となり、計数率特性及び回路の複雑さの点で問
題がある。又、端部における発光位置の分離が、中心付
近に比べて困難であるという問題点がある。
【０００５】更に、前記特開昭６３−３００９８６号公
報に開示された装置は、計数率特性良好で位置検出の応
答が早いが、発光部（例えばディスクリートなシンチレ
ータ結晶）とアノードを１：１で対応させなければなら
ないために、位置検出の分解能がアノードの数で制限さ
れ、位置検出の分解能を向上させるべく、細かいシンチ
レータ結晶を用いたときこれらを分離しようとすると対
応するアノード数が増加して、信号を処理する回路数も
大幅に増大しなければならないという問題点がある。
報に開示された装置は、計数率特性良好で位置検出の応
答が早いが、発光部（例えばディスクリートなシンチレ
ータ結晶）とアノードを１：１で対応させなければなら
ないために、位置検出の分解能がアノードの数で制限さ
れ、位置検出の分解能を向上させるべく、細かいシンチ
レータ結晶を用いたときこれらを分離しようとすると対
応するアノード数が増加して、信号を処理する回路数も
大幅に増大しなければならないという問題点がある。
【０００６】又、前記特開昭６０−２１４２８７号公報
の検出器の場合も、分解能を向上させるべく細かくした
シンチレータ結晶に対応する細かな光電子増倍管が必要
になってしまうという問題点がある。
の検出器の場合も、分解能を向上させるべく細かくした
シンチレータ結晶に対応する細かな光電子増倍管が必要
になってしまうという問題点がある。
【０００７】この発明は、上記従来の問題点に鑑みてな
されたものであって、計数率特性が高く、より少ない数
のアノードで、且つ簡単な回路構成で、シンチレータ結
晶等の発光部の位置を検出することができるようにした
位置検出器を提供することを目的とする。
されたものであって、計数率特性が高く、より少ない数
のアノードで、且つ簡単な回路構成で、シンチレータ結
晶等の発光部の位置を検出することができるようにした
位置検出器を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、整列された
複数の発光部の隣接する２個に対応して１個ずつ配置さ
れた複数の光検出器と、これら光検出器のうち隣接する
光検出器の出力を順次比較する第１のコンパレータ群
と、前記光検出器のうち、１個の光検出器を間にして隣
接する一対の光検出器の出力を順次比較する第２のコン
パレータ群と、前記第１のコンパレータ群のうち他と異
なる出力のある１個のコンパレータの位置から出力のあ
った発光部に対応する１個の光検出器を特定すると共
に、該特定された光検出器の両隣りの光検出器の出力を
比較する第２のコンパレータの出力から、該両隣りの光
検出器のうち出力が大きい隣接光検出器を選定し、前記
特定された光検出器に対応する２つの発光部のうち、前
記選定された隣接光検出器側を出力のあった発光部とす
る選別回路と、を有してなる位置検出器により上記目的
を達成するものである。
複数の発光部の隣接する２個に対応して１個ずつ配置さ
れた複数の光検出器と、これら光検出器のうち隣接する
光検出器の出力を順次比較する第１のコンパレータ群
と、前記光検出器のうち、１個の光検出器を間にして隣
接する一対の光検出器の出力を順次比較する第２のコン
パレータ群と、前記第１のコンパレータ群のうち他と異
なる出力のある１個のコンパレータの位置から出力のあ
った発光部に対応する１個の光検出器を特定すると共
に、該特定された光検出器の両隣りの光検出器の出力を
比較する第２のコンパレータの出力から、該両隣りの光
検出器のうち出力が大きい隣接光検出器を選定し、前記
特定された光検出器に対応する２つの発光部のうち、前
記選定された隣接光検出器側を出力のあった発光部とす
る選別回路と、を有してなる位置検出器により上記目的
を達成するものである。
【０００９】又、請求項１において、前記選別回路は、
前記第１のコンパレータ群のうち隣接する３個の光検出
器の中央と、その両隣りの光検出器出力を比較する一対
のコンパレータの出力が入力されるエクスクルーシブＯ
Ｒ回路と、前記３個のうち中央の光検出器出力が一定値
以上のときの信号及び前記エクスクルーシブＯＲ回路の
出力信号が入力される第１のＡＮＤ回路と、前記中央の
光検出器の両隣りの光検出器出力を比較する前記第２の
コンパレータの出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路出力
が入力される第２のＡＮＤ回路と、インバーターを経た
前記第２のコンパレータ出力、及び、前記第１のＡＮＤ
回路出力が入力される第３のＡＮＤ回路と、を有して構
成してもよい。
前記第１のコンパレータ群のうち隣接する３個の光検出
器の中央と、その両隣りの光検出器出力を比較する一対
のコンパレータの出力が入力されるエクスクルーシブＯ
Ｒ回路と、前記３個のうち中央の光検出器出力が一定値
以上のときの信号及び前記エクスクルーシブＯＲ回路の
出力信号が入力される第１のＡＮＤ回路と、前記中央の
光検出器の両隣りの光検出器出力を比較する前記第２の
コンパレータの出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路出力
が入力される第２のＡＮＤ回路と、インバーターを経た
前記第２のコンパレータ出力、及び、前記第１のＡＮＤ
回路出力が入力される第３のＡＮＤ回路と、を有して構
成してもよい。
【００１０】更に、第２発明は、整列された複数の発光
部の隣接する３個に対応して１個ずつ配置された複数の
光検出器と、これら光検出器のうち隣接する光検出器の
出力を順次比較する第１のコンパレータ群と、前記光検
出器のうち、１個の光検出器を間にして隣接する一対の
光検出器の出力を順次比較する第２のコンパレータ群
と、前記各光検出器に対応して設けられ、対応する光検
出器の出力と基準値信号とを比較する第３のコンパレー
タ群と、前記第１のコンパレータ群のうち他と異なる出
力のある１個のコンパレータの位置から出力のあった発
光部に対応する１個の光検出器を特定すると共に、該特
定された光検出器の両隣りの光検出器の出力を比較する
第２のコンパレータの出力から、該両隣りの光検出器の
うち出力が大きい隣接光検出器を選定し、前記特定され
た光検出器に対応する３個の発光部のうち、前記選定さ
れた隣接光検出器側及び中央の発光部を選び、これら発
光部から、前記特定された光検出器に対応する前記第３
のコンパレータ出力が大のときは中央の発光部、小のと
きは他の発光部が出力していると決定する選別回路と、
を有してなる位置検出器により上記目的を達成するもの
である。
部の隣接する３個に対応して１個ずつ配置された複数の
光検出器と、これら光検出器のうち隣接する光検出器の
出力を順次比較する第１のコンパレータ群と、前記光検
出器のうち、１個の光検出器を間にして隣接する一対の
光検出器の出力を順次比較する第２のコンパレータ群
と、前記各光検出器に対応して設けられ、対応する光検
出器の出力と基準値信号とを比較する第３のコンパレー
タ群と、前記第１のコンパレータ群のうち他と異なる出
力のある１個のコンパレータの位置から出力のあった発
光部に対応する１個の光検出器を特定すると共に、該特
定された光検出器の両隣りの光検出器の出力を比較する
第２のコンパレータの出力から、該両隣りの光検出器の
うち出力が大きい隣接光検出器を選定し、前記特定され
た光検出器に対応する３個の発光部のうち、前記選定さ
れた隣接光検出器側及び中央の発光部を選び、これら発
光部から、前記特定された光検出器に対応する前記第３
のコンパレータ出力が大のときは中央の発光部、小のと
きは他の発光部が出力していると決定する選別回路と、
を有してなる位置検出器により上記目的を達成するもの
である。
【００１１】又、請求項３において、前記選別回路は、
前記第１のコンパレータ群のうち隣接する３個の光検出
器出力を順次比較する一対のコンパレータの出力が入力
されるエクスクルーシブＯＲ回路と、前記３個のうち中
央の光検出器出力が一定値以上のときの信号及び前記エ
クスクルーシブＯＲ回路の出力信号が入力される第１の
ＡＮＤ回路と、前記中央の光検出器に対応する前記第３
のコンパレータ出力、及び前記第１のＡＮＤ回路出力が
入力される第３のＡＮＤ回路と、前記中央の光検出器の
両隣りの光検出器出力を比較する前記第２のコンパレー
タの出力、インバーターを経た前記対応する第３のコン
パレータの出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路出力が入
力される第２のＡＮＤ回路と、インバーターを経た前記
第２のコンパレータ出力、インバーターを経た前記対応
する第３のコンパレータ出力、及び、前記第１のＡＮＤ
回路出力が入力される第４のＡＮＤ回路と、を備えて構
成してもよい。
前記第１のコンパレータ群のうち隣接する３個の光検出
器出力を順次比較する一対のコンパレータの出力が入力
されるエクスクルーシブＯＲ回路と、前記３個のうち中
央の光検出器出力が一定値以上のときの信号及び前記エ
クスクルーシブＯＲ回路の出力信号が入力される第１の
ＡＮＤ回路と、前記中央の光検出器に対応する前記第３
のコンパレータ出力、及び前記第１のＡＮＤ回路出力が
入力される第３のＡＮＤ回路と、前記中央の光検出器の
両隣りの光検出器出力を比較する前記第２のコンパレー
タの出力、インバーターを経た前記対応する第３のコン
パレータの出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路出力が入
力される第２のＡＮＤ回路と、インバーターを経た前記
第２のコンパレータ出力、インバーターを経た前記対応
する第３のコンパレータ出力、及び、前記第１のＡＮＤ
回路出力が入力される第４のＡＮＤ回路と、を備えて構
成してもよい。
【００１２】
【作用及び効果】この発明においては、隣接する２又は
３個の発光部について１個の光検出器を配置し、隣接す
る光検出器の出力を順次比較する第１のコンパレータ群
の出力のうち、他と異なる出力のある１個のコンパレー
タの位置から、出力のあった発光部を含む１組の発光部
を特定し、この２又は３個の発光部のうちから、前記特
定された光検出器の両隣りの光検出器の出力を比較する
比較器出力に基づいて、出力の大きい隣接光検出器側の
１又は２の発光部を選定し、更に、発光部が３個１組の
場合は、対応する光検出器の出力の大小から、最終的に
出力のあった発光部を決定し、これによって位置検出を
行うものである。
３個の発光部について１個の光検出器を配置し、隣接す
る光検出器の出力を順次比較する第１のコンパレータ群
の出力のうち、他と異なる出力のある１個のコンパレー
タの位置から、出力のあった発光部を含む１組の発光部
を特定し、この２又は３個の発光部のうちから、前記特
定された光検出器の両隣りの光検出器の出力を比較する
比較器出力に基づいて、出力の大きい隣接光検出器側の
１又は２の発光部を選定し、更に、発光部が３個１組の
場合は、対応する光検出器の出力の大小から、最終的に
出力のあった発光部を決定し、これによって位置検出を
行うものである。
【００１３】従って、発光部の数よりも少ない光検出器
によって、出力のあった発光部の位置を容易に検出する
ことができる。又、その回路構成も簡単である。
によって、出力のあった発光部の位置を容易に検出する
ことができる。又、その回路構成も簡単である。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【００１５】第１発明の実施例に係る位置検出器１０
は、図１に示されるように、γ線出射源（図示省略）に
対向して、１方向に配置された（実際は２次元方向にマ
トリックス状に配置されているが説明を簡単にするため
１列のみとしている）１６個のシンチレータ結晶１２Ａ
〜１２Ｐからなるシンチレータアレイ１２と、このシン
チレータアレイ１２の光出射側に配置された２次元マル
チアノード光電子増倍管１４と、前記アノード１６Ａ〜
１６Ｈのうちの、隣接する２個ずつの出力を順次比較す
る７個の第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇと、前記ア
ノード１６Ａ〜１６Ｈのうちの１つおきのアノード出力
を順次比較する８個の第２のコンパレータ２２Ａ〜２２
Ｈと、前記各アノード１６Ａ〜１６Ｈの出力と基準値信
号とを比較し、低いレベルの信号を除去するための８個
の第４のコンパレータ２４Ａ〜２４Ｈと、前記第１、第
２、第４のコンパレータの出力に基づいて、シンチレー
タアレイ１２のうちから発光のあったシンチレータ結晶
を選別する選別回路２６とから構成したものである。
は、図１に示されるように、γ線出射源（図示省略）に
対向して、１方向に配置された（実際は２次元方向にマ
トリックス状に配置されているが説明を簡単にするため
１列のみとしている）１６個のシンチレータ結晶１２Ａ
〜１２Ｐからなるシンチレータアレイ１２と、このシン
チレータアレイ１２の光出射側に配置された２次元マル
チアノード光電子増倍管１４と、前記アノード１６Ａ〜
１６Ｈのうちの、隣接する２個ずつの出力を順次比較す
る７個の第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇと、前記ア
ノード１６Ａ〜１６Ｈのうちの１つおきのアノード出力
を順次比較する８個の第２のコンパレータ２２Ａ〜２２
Ｈと、前記各アノード１６Ａ〜１６Ｈの出力と基準値信
号とを比較し、低いレベルの信号を除去するための８個
の第４のコンパレータ２４Ａ〜２４Ｈと、前記第１、第
２、第４のコンパレータの出力に基づいて、シンチレー
タアレイ１２のうちから発光のあったシンチレータ結晶
を選別する選別回路２６とから構成したものである。
【００１６】前記第２のコンパレータ２２Ａ〜２２Ｈの
うち、両端のコンパレータ２２Ａと２２Ｈのアノード１
６Ｂ及び１６Ｇの出力と比較されるべき信号は、両端の
シンチレータ結晶１２Ａ又は１２Ｐを弁別するためのス
レッシュホールド信号とされている。
うち、両端のコンパレータ２２Ａと２２Ｈのアノード１
６Ｂ及び１６Ｇの出力と比較されるべき信号は、両端の
シンチレータ結晶１２Ａ又は１２Ｐを弁別するためのス
レッシュホールド信号とされている。
【００１７】次に、前記選別回路２６の詳細について説
明する。
明する。
【００１８】この選別回路２６は、前記第１、第２、第
４のコンパレータの出力を、信号が入ったタイミングで
各コンパレータ出力の状態をラッチするラッチ回路２８
と、前記第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇのうち、隣
接する３個のアノードの中央とその両隣りのアノード出
力を比較する一対のコンパレータの出力が入力されるエ
クスクルーシブＯＲ回路３０と、前記３個のうち中央の
アノード出力が一定値以上のときの信号及び前記エクス
クルーシブＯＲ回路３０の出力信号が入力される第１の
ＡＮＤ回路３２と、前記中央の光検出器の両隣りの光検
出器出力を比較する第２のコンパレータ２２（２２Ａ〜
２２Ｈ全体を示す）の出力、及び、前記第１のＡＮＤ回
路３２出力が入力される第２のＡＮＤ回路３４と、イン
バーター３６を経た前記第２のコンパレータ２２の出
力、及び前記第１のＡＮＤ回路３２の出力が入力される
第３のＡＮＤ回路３８と、前記第２及び第３のＡＮＤ回
路３４、３８の出力を４ビットのアドレス信号に変換す
るエンコーダ４０と、この信号を４ビットのアドレス信
号として出力するラッチ回路４２と、を備えて構成され
ている。
４のコンパレータの出力を、信号が入ったタイミングで
各コンパレータ出力の状態をラッチするラッチ回路２８
と、前記第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇのうち、隣
接する３個のアノードの中央とその両隣りのアノード出
力を比較する一対のコンパレータの出力が入力されるエ
クスクルーシブＯＲ回路３０と、前記３個のうち中央の
アノード出力が一定値以上のときの信号及び前記エクス
クルーシブＯＲ回路３０の出力信号が入力される第１の
ＡＮＤ回路３２と、前記中央の光検出器の両隣りの光検
出器出力を比較する第２のコンパレータ２２（２２Ａ〜
２２Ｈ全体を示す）の出力、及び、前記第１のＡＮＤ回
路３２出力が入力される第２のＡＮＤ回路３４と、イン
バーター３６を経た前記第２のコンパレータ２２の出
力、及び前記第１のＡＮＤ回路３２の出力が入力される
第３のＡＮＤ回路３８と、前記第２及び第３のＡＮＤ回
路３４、３８の出力を４ビットのアドレス信号に変換す
るエンコーダ４０と、この信号を４ビットのアドレス信
号として出力するラッチ回路４２と、を備えて構成され
ている。
【００１９】前記エクスクルーシブＯＲ回路３０は、第
１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇの隣接する出力が入力
するように６個設けられ、第１〜第３のＡＮＤ回路３
２、３４、３８及びインバーター３６は１組の第２及び
第４のコンパレータ２２、２４につき１組設けられてい
る。
１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇの隣接する出力が入力
するように６個設けられ、第１〜第３のＡＮＤ回路３
２、３４、３８及びインバーター３６は１組の第２及び
第４のコンパレータ２２、２４につき１組設けられてい
る。
【００２０】次に、上記実施例の位置検出器１０の作用
について説明する。
について説明する。
【００２１】例えば、左から７番目のシンチレータ結晶
１２Ｇにγ線が入射し、これが発光したとする。
１２Ｇにγ線が入射し、これが発光したとする。
【００２２】シンチレータ結晶１２Ｇの発光に基づく光
電子は、光電子増倍管１４によって増倍され、左から３
番目のアノード１６Ｃ及び４番目のアノード１６Ｄに到
達し、場合によっては、５番目のアノード１６Ｅも光電
子入力によって出力信号が生じる。
電子は、光電子増倍管１４によって増倍され、左から３
番目のアノード１６Ｃ及び４番目のアノード１６Ｄに到
達し、場合によっては、５番目のアノード１６Ｅも光電
子入力によって出力信号が生じる。
【００２３】隣接するアノード１６Ａ〜１６Ｈの出力を
比較する第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇへの入力
は、各コンパレータの図において左側がマイナス、右側
がプラスとされているので、左側から３個の第１のコン
パレータ２０Ａ〜２０Ｃの出力は「１」、その他の第１
のコンパレータ２０Ｄ〜２０Ｇの出力は「０」となる。
比較する第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇへの入力
は、各コンパレータの図において左側がマイナス、右側
がプラスとされているので、左側から３個の第１のコン
パレータ２０Ａ〜２０Ｃの出力は「１」、その他の第１
のコンパレータ２０Ｄ〜２０Ｇの出力は「０」となる。
【００２４】従って、出力が「１」から「０」になる境
界上のアノード１６Ｄに対応するシンチレータ結晶１２
Ｇ又は１２Ｈにγ線が入射したことがわかる。
界上のアノード１６Ｄに対応するシンチレータ結晶１２
Ｇ又は１２Ｈにγ線が入射したことがわかる。
【００２５】但し、コンパレータ２０Ａ、２０Ｆ、２０
Ｇの出力は、信号入力がほとんどない所のアノードを比
較しているため、出力は「０」あるいは「１」になるか
はわからない。これは、後述する第４のコンパレータ出
力により、第１のＡＮＤ回路３２で除去される。
Ｇの出力は、信号入力がほとんどない所のアノードを比
較しているため、出力は「０」あるいは「１」になるか
はわからない。これは、後述する第４のコンパレータ出
力により、第１のＡＮＤ回路３２で除去される。
【００２６】この場合、コンパレータ２０Ｃと２０Ｄの
出力が入力されるエクスクルーシブＯＲ回路３０に、
「１」及び「０」の異なる信号が入力するので、エクス
クルーシブＯＲ回路３０から「１」の出力が得られる。
他のエクスクルーシブＯＲ回路には、「１」、「１」又
は「０」、「０」の信号が入力するので出力信号は
「０」となる。
出力が入力されるエクスクルーシブＯＲ回路３０に、
「１」及び「０」の異なる信号が入力するので、エクス
クルーシブＯＲ回路３０から「１」の出力が得られる。
他のエクスクルーシブＯＲ回路には、「１」、「１」又
は「０」、「０」の信号が入力するので出力信号は
「０」となる。
【００２７】次に、図に示されるように、アノード１６
Ｄに入力する光電子の分布の山が、アノード１６Ｃ側に
偏っているので、アノード１６Ｃの出力が、アノード１
６Ｅの出力よりも大きくなる。従って、アノード１６Ｄ
の両側のアノード１６Ｃと１６Ｅの出力を比較する第２
のコンパレータ２２Ｄの出力は「０」となる。
Ｄに入力する光電子の分布の山が、アノード１６Ｃ側に
偏っているので、アノード１６Ｃの出力が、アノード１
６Ｅの出力よりも大きくなる。従って、アノード１６Ｄ
の両側のアノード１６Ｃと１６Ｅの出力を比較する第２
のコンパレータ２２Ｄの出力は「０」となる。
【００２８】第４のコンパレータ２４Ａ〜２４Ｈは、ア
ノード１６Ａ〜１６Ｈの出力がスレッシュホールドレベ
ル以上であるか否かを判定するものであり、対応するシ
ンチレータ結晶１２Ｇから光が入力していることによっ
て、アノード１６Ｄの出力のみがスレッシュホールドレ
ベル以上となり、第３のコンパレータ２４Ｄの出力のみ
が「１」となる。
ノード１６Ａ〜１６Ｈの出力がスレッシュホールドレベ
ル以上であるか否かを判定するものであり、対応するシ
ンチレータ結晶１２Ｇから光が入力していることによっ
て、アノード１６Ｄの出力のみがスレッシュホールドレ
ベル以上となり、第３のコンパレータ２４Ｄの出力のみ
が「１」となる。
【００２９】従って、第１のＡＮＤ回路３２には、エク
スクルーシブＯＲ回路３０及び第３のコンパレータ２４
Ｄから共に「１」の信号が入力し、該第１のＡＮＤ回路
３２は「１」の信号を出力する。
スクルーシブＯＲ回路３０及び第３のコンパレータ２４
Ｄから共に「１」の信号が入力し、該第１のＡＮＤ回路
３２は「１」の信号を出力する。
【００３０】前記第２のコンパレータ２２Ｄの出力は
「０」であるので、この出力と第１のＡＮＤ回路３２の
出力が入力される第２のＡＮＤ回路３４の出力は
「０」、となる。又、第２のコンパレータ２２Ｄの出力
がインバーター３６を経て反転され、第１のＡＮＤ回路
３２の出力と共に入力する第３のＡＮＤ回路３８には、
共に「１」の信号が入力するので、該第３のＡＮＤ回路
３８の出力は「１」となる。
「０」であるので、この出力と第１のＡＮＤ回路３２の
出力が入力される第２のＡＮＤ回路３４の出力は
「０」、となる。又、第２のコンパレータ２２Ｄの出力
がインバーター３６を経て反転され、第１のＡＮＤ回路
３２の出力と共に入力する第３のＡＮＤ回路３８には、
共に「１」の信号が入力するので、該第３のＡＮＤ回路
３８の出力は「１」となる。
【００３１】これらの信号は、エンコーダ４０で４ビッ
トのアドレス信号に変換され、ラッチ回路４２で４ビッ
トのアドレス信号として出力され、シンチレータ結晶１
２Ｇにγ線の入力があったことが検出される。
トのアドレス信号に変換され、ラッチ回路４２で４ビッ
トのアドレス信号として出力され、シンチレータ結晶１
２Ｇにγ線の入力があったことが検出される。
【００３２】なお、この実施例において、アノード１６
Ａ〜１６Ｈに、プリアンプを各々設け、各アノード出力
のゲインを調整するとよい。
Ａ〜１６Ｈに、プリアンプを各々設け、各アノード出力
のゲインを調整するとよい。
【００３３】図３は、アノードピッチ８mmの２次元マル
チアノード光電子増倍管に４mmピッチのＢＧＯシンチレ
ータアレイを結合した検出器に本発明の回路構成図１を
適用して得られた位置弁別結果例を示す図である。
チアノード光電子増倍管に４mmピッチのＢＧＯシンチレ
ータアレイを結合した検出器に本発明の回路構成図１を
適用して得られた位置弁別結果例を示す図である。
【００３４】次に、図２に示される第２発明の実施例に
係る位置検出器１１について説明する。
係る位置検出器１１について説明する。
【００３５】この第２発明は、２４個のシンチレータ結
晶４２Ａ〜４２Ｘに対して８個のアノード４６Ａ〜４６
Ｈ、即ち３個のシンチレータ結晶について１つのアノー
ドを用いた場合であって、より少ないアノード数で、入
力のあったシンチレータ結晶の位置検出を行うものであ
る。
晶４２Ａ〜４２Ｘに対して８個のアノード４６Ａ〜４６
Ｈ、即ち３個のシンチレータ結晶について１つのアノー
ドを用いた場合であって、より少ないアノード数で、入
力のあったシンチレータ結晶の位置検出を行うものであ
る。
【００３６】この実施例は、前記図１の実施例と比較し
て、アノード４６Ａ〜４６Ｈが、上記のように各々３個
の水晶に対応して設けられている点と、第３のコンパレ
ータ４８Ａ〜４８Ｈが設けられている点、及び、選別回
路５０の内容がより複雑になっている点を除いて、図１
の実施例と同一であるので、同一部分は同一符号を付す
ることにより説明を省略するものとする。
て、アノード４６Ａ〜４６Ｈが、上記のように各々３個
の水晶に対応して設けられている点と、第３のコンパレ
ータ４８Ａ〜４８Ｈが設けられている点、及び、選別回
路５０の内容がより複雑になっている点を除いて、図１
の実施例と同一であるので、同一部分は同一符号を付す
ることにより説明を省略するものとする。
【００３７】前記第３のコンパレータ４８Ａ〜４８Ｈ
は、アノード４６Ａ〜４６Ｈの出力を、スレッシュホー
ルドレベル信号と比較するものである。このスレッシュ
ホールドレベル信号は、各アノード１６に対応するシン
チレータ結晶のうち中央に出力があったときのアノード
出力よりも小さく、且つ、中央に対して片側に対応する
位置のシンチレータ結晶に出力があったときのアノード
出力よりも大きくされている。
は、アノード４６Ａ〜４６Ｈの出力を、スレッシュホー
ルドレベル信号と比較するものである。このスレッシュ
ホールドレベル信号は、各アノード１６に対応するシン
チレータ結晶のうち中央に出力があったときのアノード
出力よりも小さく、且つ、中央に対して片側に対応する
位置のシンチレータ結晶に出力があったときのアノード
出力よりも大きくされている。
【００３８】前記選別回路５０は、前記図１の選別回路
２６におけると同様のラッチ回路２８と、エクスクルー
シブＯＲ回路３０と第１のＡＮＤ回路３２と、を備えて
いる。
２６におけると同様のラッチ回路２８と、エクスクルー
シブＯＲ回路３０と第１のＡＮＤ回路３２と、を備えて
いる。
【００３９】又、この選別回路５０は、３個の水晶のい
ずれに出力があったかを判別するため、第２〜第４のＡ
ＮＤ回路５４、５６、５８を備えている。
ずれに出力があったかを判別するため、第２〜第４のＡ
ＮＤ回路５４、５６、５８を備えている。
【００４０】前記第４のＡＮＤ回路５８には、前記第１
のＡＮＤ回路３２の出力信号、及び、第２のコンパレー
タ２２Ｄの出力信号がインバータ３６を経て、更に、第
３のコンパレータ４８Ｄの信号がインバータ３６を介し
て、それぞれ入力するようになっている。
のＡＮＤ回路３２の出力信号、及び、第２のコンパレー
タ２２Ｄの出力信号がインバータ３６を経て、更に、第
３のコンパレータ４８Ｄの信号がインバータ３６を介し
て、それぞれ入力するようになっている。
【００４１】第３のＡＮＤ回路５６には、前記第１のＡ
ＮＤ回路３２の出力信号、及び、第３のコンパレータ４
８Ｄの出力信号がそれぞれ入力するようになっている。
ＮＤ回路３２の出力信号、及び、第３のコンパレータ４
８Ｄの出力信号がそれぞれ入力するようになっている。
【００４２】更に、第２のＡＮＤ回路５４には、前記第
１のＡＮＤ回路３２の出力信号と、第２のコンパレータ
２２Ｄの出力信号と、第３のコンパレータ４８Ｄから、
インバータ３６を経た信号がそれぞれ入力するようにな
っている。
１のＡＮＤ回路３２の出力信号と、第２のコンパレータ
２２Ｄの出力信号と、第３のコンパレータ４８Ｄから、
インバータ３６を経た信号がそれぞれ入力するようにな
っている。
【００４３】次に、上記図２の実施例の作用について説
明する。
明する。
【００４４】例えば左から１０番目のシンチレータ結晶
４２Ｊにγ線が入射し、これが発光したとする。
４２Ｊにγ線が入射し、これが発光したとする。
【００４５】シンチレータ結晶４２Ｊの発光に基づく光
電子は、光電子増倍管１４によって増倍され、左から３
番目のアノード４６Ｃ及び４番目のアノード４６Ｄに到
達し、それぞれアノード出力が生じる。場合によって
は、５番目のアノード４６Ｅと光電子入力によって出力
信号が生じる。
電子は、光電子増倍管１４によって増倍され、左から３
番目のアノード４６Ｃ及び４番目のアノード４６Ｄに到
達し、それぞれアノード出力が生じる。場合によって
は、５番目のアノード４６Ｅと光電子入力によって出力
信号が生じる。
【００４６】隣接するアノード４６Ａ〜４６Ｈの出力を
比較する第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇへの入力
は、各コンパレータの図において左側がマイナス、右側
がプラスとされているので、左側から３個の第１のコン
パレータ２０Ａ〜２０Ｃの出力は「１」、その他の第１
のコンパレータ２０Ｄ〜２０Ｇの出力は「０」となる。
比較する第１のコンパレータ２０Ａ〜２０Ｇへの入力
は、各コンパレータの図において左側がマイナス、右側
がプラスとされているので、左側から３個の第１のコン
パレータ２０Ａ〜２０Ｃの出力は「１」、その他の第１
のコンパレータ２０Ｄ〜２０Ｇの出力は「０」となる。
【００４７】従って、出力が「１」から「０」になる境
界上のアノード４６Ｄに対応するシンチレータ結晶４２
Ｊ、４２Ｋ、４２Ｌのいずれかにγ線が入射したことが
わかる。
界上のアノード４６Ｄに対応するシンチレータ結晶４２
Ｊ、４２Ｋ、４２Ｌのいずれかにγ線が入射したことが
わかる。
【００４８】但し、コンパレータ２０Ａ、２０Ｆ、２０
Ｇの出力は、信号入力がほとんどない時のアノードを比
較しているため、出力は「１」あるいは「０」になるか
はわからない。これは、後述する第４のコンパレータ出
力により、第１のＡＮＤ回路３２で除去される。
Ｇの出力は、信号入力がほとんどない時のアノードを比
較しているため、出力は「１」あるいは「０」になるか
はわからない。これは、後述する第４のコンパレータ出
力により、第１のＡＮＤ回路３２で除去される。
【００４９】この場合、上記２つの第１のコンパレータ
２０Ｃと２０Ｄの出力が入力されるエクスクルーシブＯ
Ｒ回路３０に、「１」及び「０」の異なる信号が入力す
るので、エクスクルーシブＯＲ回路３０から「１」の出
力が得られる。
２０Ｃと２０Ｄの出力が入力されるエクスクルーシブＯ
Ｒ回路３０に、「１」及び「０」の異なる信号が入力す
るので、エクスクルーシブＯＲ回路３０から「１」の出
力が得られる。
【００５０】他のエクスクルーシブＯＲ回路には、
「１」、「１」又は「０」、「０」の信号が入力するの
で、出力信号は「０」となる。
「１」、「１」又は「０」、「０」の信号が入力するの
で、出力信号は「０」となる。
【００５１】次に、図に示されるように、アノード４６
Ｄに入力する光電子の分布の山が、アノード４６Ｃ側に
偏っているので、アノード４６Ｃの出力が、アノード４
６Ｅの出力よりも大きくなる。従って、アノード４６Ｄ
の両側のアノード４６Ｃ、４６Ｅの出力を比較する第２
のコンパレータ２２Ｄの出力は「０」となる。又、アノ
ード４６Ｄの出力をスレッシュホールドレベル信号と比
較する第４のコンパレータ２４Ｄは、該アノード４６Ｄ
に入力光電子の分布の山があるので、「１」の信号を第
１のＡＮＤ回路３２に出力する。
Ｄに入力する光電子の分布の山が、アノード４６Ｃ側に
偏っているので、アノード４６Ｃの出力が、アノード４
６Ｅの出力よりも大きくなる。従って、アノード４６Ｄ
の両側のアノード４６Ｃ、４６Ｅの出力を比較する第２
のコンパレータ２２Ｄの出力は「０」となる。又、アノ
ード４６Ｄの出力をスレッシュホールドレベル信号と比
較する第４のコンパレータ２４Ｄは、該アノード４６Ｄ
に入力光電子の分布の山があるので、「１」の信号を第
１のＡＮＤ回路３２に出力する。
【００５２】この第１のＡＮＤ回路３２には、前記エク
スクルーシブＯＲ回路３０からの信号も入力するので、
該第１のＡＮＤ回路３２は、「１」の信号を、第２、第
３及び第４のＡＮＤ回路５４、５６、５８に出力する。
スクルーシブＯＲ回路３０からの信号も入力するので、
該第１のＡＮＤ回路３２は、「１」の信号を、第２、第
３及び第４のＡＮＤ回路５４、５６、５８に出力する。
【００５３】アノード４６Ｄの中央に入力光電子の分布
の山があるか否かを判別する第３のコンパレータ４８Ｄ
は、「０」の信号を出力する。従って、この出力信号と
第１のＡＮＤ回路３２からの信号が入力される第３のＡ
ＮＤ回路５６は出力しない（「０」の出力となる）。こ
れにより、アノード４６Ｄに対応する３つの水晶のう
ち、中央の水晶４２Ｋに出力がなかったことが確認され
る。
の山があるか否かを判別する第３のコンパレータ４８Ｄ
は、「０」の信号を出力する。従って、この出力信号と
第１のＡＮＤ回路３２からの信号が入力される第３のＡ
ＮＤ回路５６は出力しない（「０」の出力となる）。こ
れにより、アノード４６Ｄに対応する３つの水晶のう
ち、中央の水晶４２Ｋに出力がなかったことが確認され
る。
【００５４】次に、アノード４６Ｄの両側のアノード４
６Ｃ、４６Ｅの出力を比較する第２のコンパレータ２２
Ｄは、アノード４６Ｄへ入力する光電子の分布の山がア
ノード４６Ｃ側に偏っているので、出力は「０」とな
る。
６Ｃ、４６Ｅの出力を比較する第２のコンパレータ２２
Ｄは、アノード４６Ｄへ入力する光電子の分布の山がア
ノード４６Ｃ側に偏っているので、出力は「０」とな
る。
【００５５】従って、この信号が、インバータ３６によ
って反転して入力される第４のＡＮＤ回路５８には
「１」の信号が入力される。又、第３のコンパレータ４
８Ｄの出力信号もインバータ３６を介して反転されて入
力されるので、第４のＡＮＤ回路５８には全て「１」の
信号が入力し、該第４のＡＮＤ回路５８は「１」の信号
を出力する。
って反転して入力される第４のＡＮＤ回路５８には
「１」の信号が入力される。又、第３のコンパレータ４
８Ｄの出力信号もインバータ３６を介して反転されて入
力されるので、第４のＡＮＤ回路５８には全て「１」の
信号が入力し、該第４のＡＮＤ回路５８は「１」の信号
を出力する。
【００５６】一方、第２のＡＮＤ回路５４には、前記第
２のコンパレータ２２Ｄの「０」の信号が入力するの
で、この第２のＡＮＤ回路５４は信号を出力しない
（「０」の出力となる）。
２のコンパレータ２２Ｄの「０」の信号が入力するの
で、この第２のＡＮＤ回路５４は信号を出力しない
（「０」の出力となる）。
【００５７】以上より、第４のＡＮＤ回路５８のみが信
号「１」を出力し、これによって、アノード４６に対応
する３個のシンチレータ結晶のうち左側の水晶４２Ｊか
らの発光があったことが検知される。
号「１」を出力し、これによって、アノード４６に対応
する３個のシンチレータ結晶のうち左側の水晶４２Ｊか
らの発光があったことが検知される。
【００５８】なお、この実施例において、第３のコンパ
レータ群４８に、共通のスレッシュホールドレベル信号
を入れているが、それぞれのコンパレータ４８Ａ〜４８
Ｈ毎に独立にスレッシュホールドレベル信号を入れても
よい。
レータ群４８に、共通のスレッシュホールドレベル信号
を入れているが、それぞれのコンパレータ４８Ａ〜４８
Ｈ毎に独立にスレッシュホールドレベル信号を入れても
よい。
【００５９】なお、上記実施例では、ディスクリートな
シンチレータ結晶１２Ａ〜１２Ｐ及び４２Ａ〜４２Ｘの
発光に基づく光電子が、光電子増倍管によって増倍さ
れ、アノードに入力するように構成されているが、本発
明はこれに限定されるものでなく、発光部からの光に基
づく光電子が、複数の光検出器に入力するものであれば
よい。
シンチレータ結晶１２Ａ〜１２Ｐ及び４２Ａ〜４２Ｘの
発光に基づく光電子が、光電子増倍管によって増倍さ
れ、アノードに入力するように構成されているが、本発
明はこれに限定されるものでなく、発光部からの光に基
づく光電子が、複数の光検出器に入力するものであれば
よい。
【００６０】従って、光電子増倍管は、複数のアノード
に入力するような光電変換器、又、光電子増倍管とアノ
ードは、半導体ディテクタによって構成する等の変形例
が考えられる。
に入力するような光電変換器、又、光電子増倍管とアノ
ードは、半導体ディテクタによって構成する等の変形例
が考えられる。
【００６１】又、前記選別回路は、実施例の構成に限定
されるものでなく、エンコーダに入力する前のＡＮＤ回
路の出力１６個又は２４個を、直接別々のカウンター回
路に入力することにより、例えばγ線入射位置分布を計
測する装置として用いることができる。
されるものでなく、エンコーダに入力する前のＡＮＤ回
路の出力１６個又は２４個を、直接別々のカウンター回
路に入力することにより、例えばγ線入射位置分布を計
測する装置として用いることができる。
【００６２】又、上記実施例は、ポジトロンＣＴ装置に
用いる位置検出器についてのものであるが、この発明は
上記実施例に限定されるものでなく、配列された複数の
発光部のどの位置の発光部から出力があったかを検出す
る位置検出器に一般的に適用されるものである。
用いる位置検出器についてのものであるが、この発明は
上記実施例に限定されるものでなく、配列された複数の
発光部のどの位置の発光部から出力があったかを検出す
る位置検出器に一般的に適用されるものである。
【００６３】従って、一般的な光又は放射線入射位置検
出器、シンチレーションカメラのような検出器に適用さ
れ得るものである。
出器、シンチレーションカメラのような検出器に適用さ
れ得るものである。
【図１】図１は、第１発明の実施例を示す回路図であ
る。
る。
【図２】図２は、第２発明の実施例を示す回路図であ
る。
る。
【図３】図３は、第１発明の実際に適用した時の位置弁
別結果を示す線図である。
別結果を示す線図である。
１０、１１…位置検出器、 １２Ａ〜１２Ｐ、４２Ａ〜４２Ｘ…シンチレータ結晶、 １４…２次元マルチアノード光電子増倍管、 １６Ａ〜１６Ｈ、４６Ａ〜４６Ｈ…アノード、 １８…プリアンプ、 ２０Ａ〜２０Ｇ…第１のコンパレータ、 ２２Ａ〜２２Ｈ…第２のコンパレータ、 ２４Ａ〜２４Ｈ…第４のコンパレータ、 ２６、５０…選別回路、 ３０…エクスクルーシブＯＲ回路、 ３２Ａ〜３２Ｈ…第１のＡＮＤ回路、 ３４Ａ〜３４Ｈ、５４…第２のＡＮＤ回路、 ３６…インバーター、 ３８Ａ〜３８Ｈ、５６…第３のＡＮＤ回路、 ４８Ａ〜４８Ｈ…第３のコンパレータ、 ５８…第４のＡＮＤ回路。
Claims (4)
- 【請求項１】整列された複数の発光部の隣接する２個に
対応して１個ずつ配置された複数の光検出器と、これら
光検出器のうち隣接する光検出器の出力を順次比較する
第１のコンパレータ群と、前記光検出器のうち、１個の
光検出器を間にして隣接する一対の光検出器の出力を順
次比較する第２のコンパレータ群と、前記第１のコンパ
レータ群のうち他と異なる出力のある１個のコンパレー
タの位置から出力のあった発光部に対応する１個の光検
出器を特定すると共に、該特定された光検出器の両隣り
の光検出器の出力を比較する第２のコンパレータの出力
から、該両隣りの光検出器のうち出力が大きい隣接光検
出器を選定し、前記特定された光検出器に対応する２つ
の発光部のうち、前記選定された隣接光検出器側を出力
のあった発光部とする選別回路と、を有してなる位置検
出器。 - 【請求項２】請求項１において、前記選別回路は、前記
第１のコンパレータ群のうち隣接する３個の光検出器の
中央と、その両隣りの光検出器出力を比較する一対のコ
ンパレータの出力が入力されるエクスクルーシブＯＲ回
路と、前記３個のうち中央の光検出器出力が一定値以上
のときの信号及び前記エクスクルーシブＯＲ回路の出力
信号が入力される第１のＡＮＤ回路と、前記中央の光検
出器の両隣りの光検出器出力を比較する前記第２のコン
パレータの出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路出力が入
力される第２のＡＮＤ回路と、インバーターを経た前記
第２のコンパレータ出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路
出力が入力される第３のＡＮＤ回路と、を有してなるこ
とを特徴とする位置検出器。 - 【請求項３】整列された複数の発光部の隣接する３個に
対応して１個ずつ配置された複数の光検出器と、これら
光検出器のうち隣接する光検出器の出力を順次比較する
第１のコンパレータ群と、前記光検出器のうち、１個の
光検出器を間にして隣接する一対の光検出器の出力を順
次比較する第２のコンパレータ群と、前記各光検出器に
対応して設けられ、対応する光検出器の出力と基準値信
号とを比較する第３のコンパレータ群と、前記第１のコ
ンパレータ群のうち他と異なる出力のある１個のコンパ
レータの位置から出力のあった発光部に対応する１個の
光検出器を特定すると共に、該特定された光検出器の両
隣りの光検出器の出力を比較する第２のコンパレータの
出力から、該両隣りの光検出器のうち出力が大きい隣接
光検出器を選定し、前記特定された光検出器に対応する
３個の発光部のうち、前記選定された隣接光検出器側及
び中央の発光部を選び、これら発光部から、前記特定さ
れた光検出器に対応する前記第３のコンパレータ出力が
大のときは中央の発光部、小のときは他の発光部が出力
していると決定する選別回路と、を有してなる位置検出
器。 - 【請求項４】請求項３において、前記選別回路は、前記
第１のコンパレータ群のうち隣接する３個の光検出器出
力を順次比較する一対のコンパレータの出力が入力され
るエクスクルーシブＯＲ回路と、前記３個のうち中央の
光検出器出力が一定値以上のときの信号及び前記エクス
クルーシブＯＲ回路の出力信号が入力される第１のＡＮ
Ｄ回路と、前記中央の光検出器に対応する前記第３のコ
ンパレータ出力、及び前記第１のＡＮＤ回路出力が入力
される第３のＡＮＤ回路と、前記中央の光検出器の両隣
りの光検出器出力を比較する前記第２のコンパレータの
出力、インバーターを経た前記対応する第３のコンパレ
ータの出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路出力が入力さ
れる第２のＡＮＤ回路と、インバーターを経た前記第２
のコンパレータ出力、インバーターを経た前記対応する
第３のコンパレータ出力、及び、前記第１のＡＮＤ回路
出力が入力される第４のＡＮＤ回路と、を有してなるこ
とを特徴とする位置検出器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3055830A JPH0627828B2 (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 位置検出器 |
| GB9204109A GB2253274B (en) | 1991-02-27 | 1992-02-26 | Position detector |
| US07/842,488 US5187357A (en) | 1991-02-27 | 1992-02-27 | Position detector using two dimensional multi-anode photomultiplier tube and a plurality of comparators |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3055830A JPH0627828B2 (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 位置検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04270984A JPH04270984A (ja) | 1992-09-28 |
| JPH0627828B2 true JPH0627828B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=13009892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3055830A Expired - Fee Related JPH0627828B2 (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 位置検出器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5187357A (ja) |
| JP (1) | JPH0627828B2 (ja) |
| GB (1) | GB2253274B (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5309357A (en) * | 1992-01-28 | 1994-05-03 | Independent Scintillation Imaging Systems (Isis) Inc. | Scintillation data collecting apparatus and method |
| US5410153A (en) * | 1993-07-27 | 1995-04-25 | Park Medical Systems, Inc. | Position calculation in a scintillation camera |
| US5576547A (en) * | 1993-07-27 | 1996-11-19 | Park Medical Systems Inc. | Position calculation and energy correction in the digital scintillation camera |
| US5448054A (en) * | 1994-06-27 | 1995-09-05 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Circuit for use in determining the position of light incident on a position sensing detector |
| US5719400A (en) * | 1995-08-07 | 1998-02-17 | The Regents Of The University Of California | High resolution detector array for gamma-ray imaging |
| CA2212196A1 (en) | 1997-08-01 | 1999-02-01 | Is2 Research Inc. | Medical diagnostic apparatus and method |
| US6495966B2 (en) | 1999-09-08 | 2002-12-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Field emission display including a resistor |
| GB2357835A (en) * | 1999-09-13 | 2001-07-04 | Michael P Geissler | Detecting the incident angle of an optical light beam |
| DE19950919B4 (de) * | 1999-10-21 | 2004-06-17 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Auswerteeinheit zum Auswerten von Detektorereignissen |
| JP4178232B2 (ja) * | 2003-02-28 | 2008-11-12 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | 入射位置検出装置 |
| DE102005055656B3 (de) * | 2005-11-22 | 2007-01-18 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Verarbeitung von Detektorsignalen |
| JP4920329B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2012-04-18 | シャープ株式会社 | 復調回路、ｉｃ、および通信機 |
| CN105182396B (zh) | 2015-06-29 | 2018-04-24 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种探测器信号读出的通道复用方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4501366A (en) * | 1982-12-14 | 1985-02-26 | Adolph Coors Company | Photomultiplier tube assembly |
| IL71948A0 (en) * | 1984-05-29 | 1984-12-31 | Elco Ass R D | Optical system for control of a tool position in a frequency interference environment |
| US4703168A (en) * | 1985-07-22 | 1987-10-27 | Princeton Applied Research Corporation | Multiplexed wedge anode detector |
| JPH0749925B2 (ja) * | 1989-03-01 | 1995-05-31 | 浜松ホトニクス株式会社 | ２次元入射位置検出装置 |
| JPH0623670B2 (ja) * | 1989-09-14 | 1994-03-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光電子増倍管 |
-
1991
- 1991-02-27 JP JP3055830A patent/JPH0627828B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-02-26 GB GB9204109A patent/GB2253274B/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-02-27 US US07/842,488 patent/US5187357A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5187357A (en) | 1993-02-16 |
| JPH04270984A (ja) | 1992-09-28 |
| GB9204109D0 (en) | 1992-04-08 |
| GB2253274B (en) | 1995-04-12 |
| GB2253274A (en) | 1992-09-02 |
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| S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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