JPH0627139A - コンタクトプローブおよびこれを用いた電気コネクタ - Google Patents

コンタクトプローブおよびこれを用いた電気コネクタ

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JPH0627139A
JPH0627139A JP28114292A JP28114292A JPH0627139A JP H0627139 A JPH0627139 A JP H0627139A JP 28114292 A JP28114292 A JP 28114292A JP 28114292 A JP28114292 A JP 28114292A JP H0627139 A JPH0627139 A JP H0627139A
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JP
Japan
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plunger
contact
connector
barrel
contact probe
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Pending
Application number
JP28114292A
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English (en)
Inventor
Giichi Kozu
義一 神津
Norihide Kawanami
紀英 川並
Kenji Katayose
賢二 片寄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOWA KOGYO KK
Hirose Electric Co Ltd
Original Assignee
TOWA KOGYO KK
Hirose Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by TOWA KOGYO KK, Hirose Electric Co Ltd filed Critical TOWA KOGYO KK
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Publication of JPH0627139A publication Critical patent/JPH0627139A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】回路検査用のコンタクトプローブ或いはプリン
ト基板間等の相互接続用のコネクタで低抵抗値でも精度
よく測定し、検知誤差を少なくすることと、プリント基
板等の撓みを少なくし取扱いの簡便化をはかる。 【構成】導電性プランジャ1をバレル3内に嵌挿し、該
プランジャ1を前記バレル3に対して回転モーメントを
発生させて、面接触圧を強化するプランジャトップ4を
プランジャ先端に備えていることで、プローブまたはコ
ネクタに求められる低抵抗値が得られ、かつ接触子の面
接触圧をも強化し、バネ荷重も大巾に小さくでき、プリ
ント基板の撓みを小さくして測定誤差もなく、取扱い簡
便でマルチタイプ化が容易にできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICチップ等に圧接さ
せて電気的接続を得て、該回路網の断線、ショートや集
積回路網の特定部分だけの抵抗値を測定したり、その他
デバイスの有無や装着方向等を検査するに適したコンタ
クトプローブおよび、小型電子機器等におけるプリント
基板(フレキシブル基板も含む)間等の相互接続に適す
るように、そのコンタクトプローブを絶縁性ハウジング
内に嵌挿固定した電気コネクタに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のコンタクトプローブは、図9に示
すようにコイルスプリングaと、このスプリングaによ
り押圧されるプランジャbとをバレルcに収納したトッ
プタッチコネクタの接続子が用いられている。また図1
0に示すように回路検査用プローブピンでは、プランジ
ャbの端面にボールdを挿入し、スプリングaの付勢に
よりプランジャbに横荷重を発生せしめて面接触を強め
る構造のものも知られている。さらに、従来のコネクタ
についても図11に示すように、小型電子機器等では図
9に示す接続子を絶縁性ハウジングe内に嵌挿固定した
電気コネクタが用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、この種のプ
ローブにおいてプランジャbと、スプリングaとの圧接
接続ではプローブまたはコネクタに求められる低抵抗値
は、満足した状態では得られないし、プランジャbとバ
レルcとの嵌合隙間において、プランジャbの倒れに伴
うプランジャbとバレルcとの面接触で要求される抵抗
値が得られるように設計されていたために、振動・衝撃
によるプリント基板間の瞬断が発生し易く、抵抗値も変
化しやすく精度上問題があるし、これを防ぐために厚メ
ッキを施すなどの処置を採るとコスト高となるし、プラ
ンジャbとバレルcとの面接触を強めるボール入の図1
0に示す回路検査用コンタクトプローブの構造では、ス
ペース的にトップタッチコネクタには採用できないし、
接触安定させるためにバネ荷重も大きなものにしなけれ
ばならなくなるし、そうした場合コネクタなどのマルチ
タイプとする際に、プリント基板などに撓みが生じ接触
性能に支障となる不便があった。本発明は、これら従来
の欠点を的確に排除しようとするもので、プローブまた
はコネクタに求められる安定した抵抗値が得られ、かつ
接触子のプランジャとバレルとの面接触圧をも強化さ
れ、且つプランジャと接続するプリント基板のパターン
とのバネ荷重も大巾に小さくでき、基板の撓みを小さく
することができ、コンタクトプローブによる測定誤差も
なく、コネクタ接続によるプリント基板間の瞬断がなく
なり取扱い簡便で、しかもマルチタイプ化が容易にでき
るコンパクトなコンタクトプローブ或いはコネクタを安
価な形態で提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、導電性プラン
ジャをスプリングで一方向に付勢して導電性バレルに摺
動自在に配備したコンタクトプローブにおいて、前記導
電性プランジャをバレル内に嵌挿し、該プランジャを前
記バレルに対して、回転モーメントを発生させて面接触
圧を強化させるため、プランジャのセンター軸芯から外
れた位置に接触部を有するプランジャトップをプランジ
ャ先端に備えていることを特徴とするコンタクトプロー
ブであり、また、そのコンタクトプローブを絶縁性ハウ
ジングに嵌挿固定したコネクタである。
【0005】
【作用】導電性プランジャ1は、導電性バレル3内のス
プリング2により伸縮自在に保持されており、検査点へ
の接触はプランジャトップ4で行い、その圧力やストロ
ークはスプリング2によるものであって、該プランジャ
トップ4の形状でプランジャ1をバレル3に対して回転
モーメントを発生させて面接触圧を強化できるので、低
抵抗値でも精度よく測定でき、回路網の断線やショート
などの検査も簡便に行え、しかもスプリングのバネ荷重
も大巾に小さくできるほか、プリント基板等の撓みを小
さくし、多芯化も容易にできるコンタクトプローブ或い
はコネクタとして用いられるものである。
【0006】
【実施例】本発明の実施例を図1および図2の例で説明
すると、導電性プランジャ1をスプリング2で一方向に
付勢して導電性バレル3に摺動自在に配備してコンタク
トプローブとするのに、前記導電性プランジャ1を中空
筒状体から構成して前記バレル3内に嵌挿し、該プラン
ジャ1を前記バレル3に対して回転モーメントを発生さ
せて面接触圧を強化するプランジャトップ4をプランジ
ャ先端に備えて、コンタクトプローブ6としてある。
【0007】この場合、前記プランジャトップ4として
は、プランジャ1のセンター軸芯0から外れた位置に湾
曲したトップ面、例えば小球状面或いは傾斜端面を形成
した形状に構成して、プランジャ1に回転モーメントを
発生せしめて積極的にプランジャ1とバレル3との面接
触圧を強化できるようにしてある。即ち、例えば図1に
示すようにコンタクトプローブの相手としてプリント基
板13のパターン14にプランジャ1を接触した場合、
プランジャ1をスプリング2で矢印Pの方向に付勢する
ことにより、図1の傾斜端面4a或いは図2の小球状面
4bを支点として、図1の矢印Qの方向へ、プランジャ
1に回転モーメントを発生せしめて積極的にプランジャ
1とバレル3との摺動接触部4cにての面接触圧を強化
できるようにしてある。さらには、このようにプリント
基板13のパターン14にプランジャ1と接続をくり返
す度にプランジャ1に発生する回転モーメントにより、
パターン14および傾斜端面4a或は小球上面4bに
は、接触としてのクリーニング効果が生ずることにな
る。即ち、接続をくり返す度に各接続面は、酸化皮膜や
塵埃が取り除かれてより接触抵抗値が低くなり安定化さ
れることになる。又さらには、前記の例はコンタクトプ
ローブの相手をプリント基板にての実施例で説明してい
るが、相手として接触平面を有するコンタクトを含む相
手コネクタでもよい。
【0008】図3の実施例では、プランジャ1の中空筒
状体の先端部を小径に絞ったプランジャトップ4を有
し、その径変化の段差部5をなだらかに折曲させて、か
つ食い違い的に傾斜したリング部分にしてあって、前記
プランジャトップ4の先端面は水平面に対して5〜10
度の角度で傾斜し、外周囲をアール41 をつけた先端形
状にし、段差部5が先端部位に接近した側に、頂点部分
が位置する先端面とし、プランジャ1が回転モーメント
を発生しやすくしてある。
【0009】図4の実施例では、プランジャ1のセンタ
ー軸芯0を中心とした半径90〜120度の開き角度で
形成した球面の先端面をプランジャトップ4として持
ち、センター軸芯0より所定角度θ、例えば1〜5度好
ましくは3度一方に倒れ方向に偏位する先端接触子と
し、プランジャ1が回転モーメントを発生しやすくして
ある。この場合、段差部5はテーパー状のリング部とし
て先端部を小径に絞ったプランジャトップ4として備え
てある。
【0010】なお前記導電性プランジャ1としては、プ
ランジャトップ4を突設した円柱体を用い、他端面に小
径、円柱突部を設けて、スプリング受部を形成したもの
を使用することもできるし、コンタクトプローブに限ら
ず、前記導電性プランジャのある導電性バレル3を付設
したコネクタとして用いることもできる。また、前記導
電性バレル3は、必要に応じソケット(図示せず)に嵌
挿して用いられ、接触圧力やストロークを変えたい時
は、ソケットからバレルを引き抜いて、他の所望圧力等
を有するバレルに差し換え交換すれば良い。また、プラ
ンジャトップ4の違ったプランジャ1の交換は、ソケッ
トからバレルを取り出したのち、プランジャ1を抜き出
して取り換えるだけもよい。
【0011】図5乃至図7の実施例では、図1例のコン
タクトプローブ6を絶縁性ハウジング7に複数嵌挿固定
して多芯としたコネクタであって、嵌挿用穴8を備えた
絶縁性ハウジング7内に、そのコンタクトプローブ6を
嵌挿固定してコネクタ9としてある。そのコネクタ9の
使用例を図7に示すが、コネクタ9の端子部12を一方
のプリント基板10の基板穴11に挿入し、半田付け等
によりプリント基板10とコネクタ9との電気的接続を
可能としている。他方のプリント基板13に、コンタク
トプローブ6のプランジャ4との相対する位置に接触パ
ターン14が配置されており、図8に示すようにそのプ
ランジャ4の可動方向にプリント基板13を圧接させる
ことにより、プランジャ4を介してプリント基板10と
プリント基板11との電気的接続ができる構成としてい
る。
【0012】
【発明の効果】本発明は、導電性プランジャをバレル内
に嵌挿し、該プランジャを前記バレルに対して、回転モ
ーメントを発生させて面接触圧を強化するプランジャト
ップをプランジャ先端に備えていることにより、プロー
ブまたはコネクタに求められる安定した低抵抗値が得ら
れ、かつ接触子のプランジャとバレルとの面接触圧をも
強化され、かつプランジャと接続するプリント基板のパ
ターンとのバネ荷重も大巾に小さくでき、基板の撓みを
小さくして、コンタクトプローブによる測定誤差もな
く、コネクタ接続による基板間瞬断がなくなり取扱い簡
便でしかもマルチタイプ化が容易にできるコンパクトな
コンタクトプローブ或いはコネクタを安価な状態で生産
することができる。さらには、前記回転モーメントの発
生により各接触面にクリーニング効果が生じ、より接触
抵抗値が低く、安定化されて信頼性の高いプローブまた
はコネクタとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す縦断面図である。
【図2】実施例の接触子の拡大縦断面図である。
【図3】他の実施例の接触子の拡大縦断面図である。
【図4】さらに他の実施例の接触子の拡大縦断面図であ
る。
【図5】本発明の他の実施例の一部切欠した分離状態の
斜視図である。
【図6】図5の組立状態を示す斜視図である。
【図7】図6の例の使用状態を示す分離斜視図である。
【図8】図7の例の接続状態を示す縦断面図である。
【図9】従来のコンタクトプローブの縦断面図である。
【図10】従来のコンタクトプローブの他例の縦断面図
である。
【図11】従来のコネクタの縦断面図である。
【符号の説明】
1 プランジャ 2 スプリング 3 バレル 4 プランジャトップ 5 段差部 6 コンタクトプローブ 7 絶縁性ハウジング 8 嵌挿用穴 9 コネクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 片寄 賢二 東京都品川区大崎5−5−23 ヒロセ電機 株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性プランジャをスプリングで一方向
    に付勢して導電性バレルに摺動自在に配備したコンタク
    トプローブにおいて、前記導電性プランジャの先端に、
    プランジャのセンター軸芯から外れた位置に接触部を有
    するプランジャトップを備えていることを特徴とするコ
    ンタクトプローブ。
  2. 【請求項2】 前記プランジャトップが、プランジャの
    センター軸芯から外れた位置に湾曲したトップ面或いは
    傾斜端面に形成された接触部を有する請求項1記載のコ
    ンタクトプローブ。
  3. 【請求項3】 前記プランジャトップが、プランジャの
    センター軸芯を中心とした半径で形成した球面形状を持
    ち、センター軸芯より所定角度、倒れ方向に偏位した接
    触部を有する請求項1記載のコンタクトプローブ。
  4. 【請求項4】 請求項1,2または3記載のコンタクト
    プローブを単芯または複芯状態下に絶縁性ハウジング内
    に嵌挿固定したことを特徴とする電気コネクタ。
JP28114292A 1992-04-13 1992-09-28 コンタクトプローブおよびこれを用いた電気コネクタ Pending JPH0627139A (ja)

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JP11853192 1992-04-13
JP4-118531 1992-04-13
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000346872A (ja) * 1999-06-03 2000-12-15 Kiyota Seisakusho:Kk 両端摺動型コンタクトプローブ
EP1172658A2 (en) * 2000-07-14 2002-01-16 Interconnect Devices Inc Probe and test socket assembly
JP2003511704A (ja) * 1999-10-12 2003-03-25 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 高周波電圧振動を検出するセンサとセンサ配置構成
JP2003100374A (ja) * 2001-09-26 2003-04-04 Yokowo Co Ltd スプリングコネクタ
KR100647494B1 (ko) * 2006-03-29 2006-11-23 주식회사 엠디플렉스 전자회로 검사장치 및 그 검사방법
KR100823873B1 (ko) * 2006-11-01 2008-04-21 주식회사 아이에스시테크놀러지 테스트 소켓
JP2008275421A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Sensata Technologies Massachusetts Inc プローブピンおよびそれを用いたソケット
JP2017037021A (ja) * 2015-08-11 2017-02-16 山一電機株式会社 検査用コンタクト端子、および、それを備える電気接続装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000346872A (ja) * 1999-06-03 2000-12-15 Kiyota Seisakusho:Kk 両端摺動型コンタクトプローブ
JP2003511704A (ja) * 1999-10-12 2003-03-25 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 高周波電圧振動を検出するセンサとセンサ配置構成
EP1172658A2 (en) * 2000-07-14 2002-01-16 Interconnect Devices Inc Probe and test socket assembly
EP1172658A3 (en) * 2000-07-14 2003-09-03 Interconnect Devices Inc Probe and test socket assembly
JP2003100374A (ja) * 2001-09-26 2003-04-04 Yokowo Co Ltd スプリングコネクタ
KR100647494B1 (ko) * 2006-03-29 2006-11-23 주식회사 엠디플렉스 전자회로 검사장치 및 그 검사방법
KR100823873B1 (ko) * 2006-11-01 2008-04-21 주식회사 아이에스시테크놀러지 테스트 소켓
JP2008275421A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Sensata Technologies Massachusetts Inc プローブピンおよびそれを用いたソケット
JP2017037021A (ja) * 2015-08-11 2017-02-16 山一電機株式会社 検査用コンタクト端子、および、それを備える電気接続装置

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