JPH0626986A - レンズ測定装置 - Google Patents

レンズ測定装置

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JPH0626986A
JPH0626986A JP8372693A JP8372693A JPH0626986A JP H0626986 A JPH0626986 A JP H0626986A JP 8372693 A JP8372693 A JP 8372693A JP 8372693 A JP8372693 A JP 8372693A JP H0626986 A JPH0626986 A JP H0626986A
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JP
Japan
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lens
diffraction grating
measuring device
light source
measured
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JP8372693A
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English (en)
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JP3255484B2 (ja
Inventor
Takayuki Iizuka
隆之 飯塚
Masato Noguchi
正人 野口
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 組付け後のレンズの偏心を容易に検出するこ
とができ、かつ、検出結果に基づいて偏心調整が可能な
レンズの偏心測定装置を提供することを目的とする。 【構成】 測定用のレーザー光源1と、被測定レンズと
してのテレセントリックなfθレンズ4の入射瞳位置に
設けられ、光源1から発した測定光束を回折させる回折
格子3と、fθレンズ4の焦点位置に配置され、回折格
子3により発生してfθレンズ4を透過した±1次回折
光を反射させるミラー5と、ミラー5で反射され、fθ
レンズ4、回折格子3を介して合成された±1次回折光
により形成される干渉縞を検出するテレビカメラ6とを
備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、複数のレンズ素子が
複合して構成される結像レンズの結像性能を測定する装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】複数のレンズ素子から構成される結像レ
ンズでは、そのなかの一部のレンズが偏心すると、像面
の倒れを生じ、かつ、諸収差のバランスが崩れ、結像性
能が劣化する。また、各レンズ素子の組み付け間隔が適
切でない場合には、像面の湾曲等が発生する。したがっ
て、各レンズ素子を鏡筒に対して正確に位置決めする必
要がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、組付け
の機械的な精度を向上させるためには、部品の精度や組
み付けの精度が高く要求され、コスト、時間がかかると
いう問題がある。したがって、組付け後の結像性能を容
易に測定できる装置が望まれている。
【0004】
【発明の目的】この発明は、上述した従来技術の課題に
鑑みてなされたものであり、組付け後のレンズの結像性
能を容易に検出することができ、かつ、検出結果に基づ
いて調整が可能なレンズ測定装置を提供することを目的
とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明にかかるレンズ
の偏心測定装置は、上記の目的を達成させるため、測定
光源と、測定光源と被測定レンズとの間の光路中に配置
され、測定光源から発した測定光束を回折させる回折格
子と、被測定レンズの焦点位置の近傍に配置され、回折
格子により発生して被測定レンズを透過した回折光を反
射させる基準反射平面と、基準反射面で反射され、被測
定レンズ、回折格子を介して合成された次数の異なる回
折光により形成される干渉縞を検出する検出手段とを備
えることを特徴とする。
【0006】
【実施例】以下、この発明の実施例を説明する。図1
は、実施例にかかるレンズ測定装置を模式的に示したも
のである。
【0007】実施例にかかるレンズ測定装置は、測定光
源としてのレーザー光源1から発したレーザー光をハー
フミラー2により反射させ、回折格子3に入射させる。
回折格子3は、被測定レンズとしてのテレセントリック
なfθレンズ4の前側焦点位置に配置される。
【0008】回折格子3は、fθレンズの光軸に沿って
回折格子3に入射する光束の±1次回折光がfθレンズ
4の有効径となるイメージサークルの両端をカバーでき
るよう、その空間周波数が定められている。これによ
り、イメージサークルの両端における焦点ズレを直接比
較できる。
【0009】fθレンズ4を透過した回折光は、fθレ
ンズ4の焦点位置に配置された基準反射平面としてのミ
ラー5により反射される。ミラー5は、fθレンズ4を
透過した±1次回折光のみを反射させる位置に設けら
れ、0次回折光は破線で示したようにミラー5の間を透
過する。
【0010】ミラー5で反射され、fθレンズ4を透過
した反射光は、入射時と同一の光路を通って回折格子3
により合成され、その一部がハーフミラーを透過して検
出手段としてのテレビカメラ6に達する。回折格子に対
する反射光の入射角度は、fθレンズへ向かう回折光の
回折角度と等しいため、合成された反射光はfθレンズ
の光軸に沿ってテレビカメラ6に入射する。
【0011】ミラー5がfθレンズの焦点に一致してい
る場合には反射光は図2(a)に示すように平面波とな
り、焦点がミラー5よりレンズ側に近い場合には図2
(b)、遠い場合には図2(c)に示すように球面波となる。
±1次回折光が共に平面波である場合、すなわち、ミラ
ー5が±1次回折光のいずれに対しても焦点に一致して
いる場合、あるいは曲率が等しい球面波の場合、すなわ
ち、焦点のズレが等しい場合には、反射光の干渉による
干渉縞は発生しない。反対に、両者の焦点ズレ量が異な
る場合には干渉縞が発生する。したがって、干渉縞に基
づいて焦点位置のズレを検出できる。
【0012】テレビカメラ6の出力は、図示せぬ信号処
理回路により処理されて画像としてモニター7に表示さ
れ、作業者はモニター7に表示される干渉縞を観察する
ことにより像面の倒れを検出することができる。
【0013】調整にあたっては、レンズ系の少なくとも
一部に偏心調整用の機構を設け、モニター7に表示され
る干渉縞を観察しつつ、干渉縞が一様になるように、す
なわち、像面の倒れがなくなるように偏心調整を行な
う。
【0014】また、干渉縞を画像処理して焦点ズレ、コ
マ収差等の各成分をベクトルとして検出すれば、各レン
ズの偏心による収差等に与える感度を設定しておくこと
により、レンズ系中の複数のレンズのうち、どのレンズ
をいずれの方向へどれだけの量調整すればよいかを計算
により求めることができる。
【0015】実施例の構成によれば、レンズの偏心を±
1次回折光の相対関係によって検出できるため、基準反
射面であるミラー5の位置がシフトしたとしても検出が
可能であり、基準反射面の設定誤差や振動等があった場
合にも安定して正確な測定が可能となる。また、同一の
効率の回折光を用いているため、コントラストの高い干
渉縞を得ることができる。
【0016】なお、上記の説明では、測定対象としてテ
レセントリックなレンズを用いているが、非テレセント
リックなレンズを測定する場合には、回折格子と被測定
レンズとの間にコンデンサレンズを配置し、コンデンサ
レンズと被測定レンズとを含めて全体としてテレセント
リックとなるよう構成し、その入射瞳位置に回折格子を
配置すればよい。
【0017】また、±1次回折光のいずれかと0次回折
光とを干渉させることにより、実施例の装置で像面湾曲
を測定することも可能となる。
【0018】図3は、上述した実施例の変形例を示すレ
ンズ測定装置の説明図である。上記の実施例のように回
折格子3を被測定レンズであるfθレンズ4の前側焦点
位置の近傍に配置できない場合、基準反射面を曲率を有
する凹面ミラー8とし、基準反射面への入射光と反射光
とが同一の光路を通るように設定することにより、前記
の実施例と同様の方法で像面の状態を検出することがで
きる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、レンズの像面の状態を干渉縞として検出すると共
に、検出された干渉縞を観察しながら良好な像面が得ら
れるように調整することができる。また、検査光束が被
測定レンズを往復2回透過するため、一回のみ透過する
ものと比較すると2倍の感度で検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例にかかるレンズ測定装置を示す説明図
である。
【図2】 実施例の装置における反射光の波面形状を示
す説明図である。
【図3】 実施例にかかるレンズ測定装置の変形例を示
す説明図である。
【符号の説明】
1…レーザー光源 3…回折格子 4…fθレンズ(被測定レンズ) 5…平面ミラー(基準反射面) 6…テレビカメラ(検出手段) 8…凹面ミラー(基準反射面)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定光源と、 測定光源と被測定レンズとの間の光路中に配置され、前
    記測定光源から発した測定光束を回折させる回折格子
    と、 前記被測定レンズの焦点位置の近傍に配置され、前記回
    折格子により発生して被測定レンズを透過した回折光を
    反射させる基準反射面と、 前記基準反射面で反射され、前記被測定レンズ、前記回
    折格子を介して合成された異なる次数の回折光により形
    成される干渉縞を検出する検出手段とを備えることを特
    徴とするレンズ測定装置。
  2. 【請求項2】前記回折格子は、被測定レンズの前側焦点
    位置の近傍に配置されていることを特徴とする請求項1
    に記載のレンズ測定装置。
JP08372693A 1992-05-14 1993-04-12 レンズ測定装置 Expired - Fee Related JP3255484B2 (ja)

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JP08372693A JP3255484B2 (ja) 1992-05-14 1993-04-12 レンズ測定装置

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JP12149692 1992-05-14
JP4-121496 1992-05-14
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JPH0626986A true JPH0626986A (ja) 1994-02-04
JP3255484B2 JP3255484B2 (ja) 2002-02-12

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6597451B1 (en) * 1999-10-14 2003-07-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Spectrometry measuring apparatus
CN106873122A (zh) * 2017-01-26 2017-06-20 西安应用光学研究所 一种用于大口径非球面反射镜定心装调的装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6597451B1 (en) * 1999-10-14 2003-07-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Spectrometry measuring apparatus
CN106873122A (zh) * 2017-01-26 2017-06-20 西安应用光学研究所 一种用于大口径非球面反射镜定心装调的装置及方法

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JP3255484B2 (ja) 2002-02-12

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