JPH06265585A - 開閉検出回路 - Google Patents
開閉検出回路Info
- Publication number
- JPH06265585A JPH06265585A JP5331993A JP5331993A JPH06265585A JP H06265585 A JPH06265585 A JP H06265585A JP 5331993 A JP5331993 A JP 5331993A JP 5331993 A JP5331993 A JP 5331993A JP H06265585 A JPH06265585 A JP H06265585A
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- Japan
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- photocoupler
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- light emitting
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 接点の開閉状態検出に用いられるフォトカプ
ラの発光素子の品質保全性を向上し、開閉検出の信頼性
を向上する。 【構成】 回線１０と回線１１間の接点ＣＲが閉じてい
る時、ライン電流Ｉ10は、フォトカプラ３の発光素子３
ａに流れるフォトカプラ電流Ｉ11と、トランジスタ４の
コレクタ電流Ｉ12とに分かれる。トランジスタ４のベー
ス−エミッタ間に接続された抵抗Ｒ4 を調整することに
より、フォトカプラ電流Ｉ11が所定の値を越えと、所定
の値を越えた大部分の電流がトランジスタ４のコレクタ
にバイパスされる。又、フォトカプラ電流Ｉ11が所定値
以下の場合、コレクタ電流Ｉ12は流れない。
ラの発光素子の品質保全性を向上し、開閉検出の信頼性
を向上する。 【構成】 回線１０と回線１１間の接点ＣＲが閉じてい
る時、ライン電流Ｉ10は、フォトカプラ３の発光素子３
ａに流れるフォトカプラ電流Ｉ11と、トランジスタ４の
コレクタ電流Ｉ12とに分かれる。トランジスタ４のベー
ス−エミッタ間に接続された抵抗Ｒ4 を調整することに
より、フォトカプラ電流Ｉ11が所定の値を越えと、所定
の値を越えた大部分の電流がトランジスタ４のコレクタ
にバイパスされる。又、フォトカプラ電流Ｉ11が所定値
以下の場合、コレクタ電流Ｉ12は流れない。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、異なる端末や回線間
等、電線中に電流が流れているか否かを検知し、接点の
開閉状態を検出する回路に適用される開閉検出回路に関
する。
等、電線中に電流が流れているか否かを検知し、接点の
開閉状態を検出する回路に適用される開閉検出回路に関
する。
【０００２】
【従来の技術】異なる回線間や端末間等において、フォ
トカプラを用いて電流が流れているか否かを検出するこ
とにより、接点の開閉状態を検出する従来の開閉検出回
路を図３に示す。この開閉検出回路は、回線１と回線２
との間に設けられ、これら回線間に電流が流れているか
否かを検知することにより、回線間の接点ＣＲの開閉状
態を検出する。即ち、上記開閉検出回路は、回線１と回
線２との間に、抵抗Ｒ1、フォトカプラ３、接点ＣＲか
らなる直列回路を設け、フォトカプラ３の発光素子３ａ
にダイオードＤ1 ，Ｄ2 の直列回路を並列に接続してい
る。そして、フォトカプラ３の受光素子３ｂには、抵抗
Ｒ2 を介して＋５Ｖの動作電圧を供給している。
トカプラを用いて電流が流れているか否かを検出するこ
とにより、接点の開閉状態を検出する従来の開閉検出回
路を図３に示す。この開閉検出回路は、回線１と回線２
との間に設けられ、これら回線間に電流が流れているか
否かを検知することにより、回線間の接点ＣＲの開閉状
態を検出する。即ち、上記開閉検出回路は、回線１と回
線２との間に、抵抗Ｒ1、フォトカプラ３、接点ＣＲか
らなる直列回路を設け、フォトカプラ３の発光素子３ａ
にダイオードＤ1 ，Ｄ2 の直列回路を並列に接続してい
る。そして、フォトカプラ３の受光素子３ｂには、抵抗
Ｒ2 を介して＋５Ｖの動作電圧を供給している。
【０００３】上記の構成において、接点ＣＲが閉じられ
ている時、回線１を流れるライン電流Ｉ1 は抵抗Ｒ1 を
介し、フォトカプラ３の発光素子３ａに流れる電流Ｉ2
と、ダイオードＤ1 ，Ｄ2 に流れる電流Ｉ3 に分かれ
る。これは、ライン電流Ｉ1 全てが発光素子３ａに流れ
ることにより、発光素子３ａに定格値以上の電流が流れ
ることを防止するためである。
ている時、回線１を流れるライン電流Ｉ1 は抵抗Ｒ1 を
介し、フォトカプラ３の発光素子３ａに流れる電流Ｉ2
と、ダイオードＤ1 ，Ｄ2 に流れる電流Ｉ3 に分かれ
る。これは、ライン電流Ｉ1 全てが発光素子３ａに流れ
ることにより、発光素子３ａに定格値以上の電流が流れ
ることを防止するためである。
【０００４】上記発光素子３ａは、供給される電流Ｉ2
により発光する。フォトカプラ３の受光素子３ｂは、発
光素子３ａの発光を受けて読み返し信号を出力する。こ
の読み返し信号によって、回線１から回線２に電流が流
れていること、即ち、接点ＣＲが閉じていることが検出
できる。一方、接点ＣＲが開いている時は、回線１から
回線２に電流は流れない。即ち、ダイオードＤ1 ，Ｄ2
及び発光素子３ａに電流は流れない。
により発光する。フォトカプラ３の受光素子３ｂは、発
光素子３ａの発光を受けて読み返し信号を出力する。こ
の読み返し信号によって、回線１から回線２に電流が流
れていること、即ち、接点ＣＲが閉じていることが検出
できる。一方、接点ＣＲが開いている時は、回線１から
回線２に電流は流れない。即ち、ダイオードＤ1 ，Ｄ2
及び発光素子３ａに電流は流れない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の方
法では、フォトカプラ３の発光素子３ａに定格値以上の
電流が流れないようにダイオードＤ1 ，Ｄ2 が並列に接
続されているが、ライン電流Ｉ1 が大きくなると、ダイ
オードＤ1 ，Ｄ2 でバイパスしても発光素子３ａに流れ
る電流が定格値以上となる。このため、発光素子３ａに
異常が発生して読み返し信号が検出できず、正確な開閉
状態の検出ができない。
法では、フォトカプラ３の発光素子３ａに定格値以上の
電流が流れないようにダイオードＤ1 ，Ｄ2 が並列に接
続されているが、ライン電流Ｉ1 が大きくなると、ダイ
オードＤ1 ，Ｄ2 でバイパスしても発光素子３ａに流れ
る電流が定格値以上となる。このため、発光素子３ａに
異常が発生して読み返し信号が検出できず、正確な開閉
状態の検出ができない。
【０００６】この発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、フォトカプラの品質保全性を向上し、端末間や回線
間等における接点開閉状態の検出の信頼性を向上し得る
開閉検出回路を提供することを目的とする。
で、フォトカプラの品質保全性を向上し、端末間や回線
間等における接点開閉状態の検出の信頼性を向上し得る
開閉検出回路を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る開閉検出
回路は、フォトカプラの発光側ダイオードを回路に直列
に接続することによりこの回路に流れる電流を計測し、
上記回路に設けられた接点の開閉状態を検出する開閉検
出回路であって、上記フォトカプラ発光側ダイオードの
アノード・カソード間にトランジスタのコレクタ・ベー
ス間を並列に接続すると共に、上記トランジスタのベー
ス・エミッタ間にバイアス用の抵抗を接続したことを特
徴とする。
回路は、フォトカプラの発光側ダイオードを回路に直列
に接続することによりこの回路に流れる電流を計測し、
上記回路に設けられた接点の開閉状態を検出する開閉検
出回路であって、上記フォトカプラ発光側ダイオードの
アノード・カソード間にトランジスタのコレクタ・ベー
ス間を並列に接続すると共に、上記トランジスタのベー
ス・エミッタ間にバイアス用の抵抗を接続したことを特
徴とする。
【０００８】
【作用】異なる回線間の接点が閉じられている時、回線
を流れるライン電流が所定値以下の時、トランジスタの
コレクタには電流は流れず、フォトカプラの発光素子の
アノードにライン電流全てが流れる。
を流れるライン電流が所定値以下の時、トランジスタの
コレクタには電流は流れず、フォトカプラの発光素子の
アノードにライン電流全てが流れる。
【０００９】一方、ライン電流が所定値を越えた場合、
トランジスタのベース−エミッタ間の電圧がしきい値を
越え、トランジスタが作動する。これにより、上記発光
素子に流れる電流で、所定値を越える電流の大部分は、
トランジスタのコレクタに流れる。尚、上記所定値は、
トランジスタのベース−エミッタ間のしきい値（電圧）
及びベース−エミッタ間に接続される抵抗の抵抗値によ
って定められる。
トランジスタのベース−エミッタ間の電圧がしきい値を
越え、トランジスタが作動する。これにより、上記発光
素子に流れる電流で、所定値を越える電流の大部分は、
トランジスタのコレクタに流れる。尚、上記所定値は、
トランジスタのベース−エミッタ間のしきい値（電圧）
及びベース−エミッタ間に接続される抵抗の抵抗値によ
って定められる。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。この発明の一実施例である開閉検出回路の回
路構成を図１に示す。開閉検出回路は、回線１０と回線
１１との間に設置され、回線間の接点ＣＲの開閉を検出
する。回線１０は抵抗Ｒ3 を介し、フォトカプラ３に設
けられた発光素子３ａのアノードとＮＰＮトランジスタ
４のコレクタに接続されている。
説明する。この発明の一実施例である開閉検出回路の回
路構成を図１に示す。開閉検出回路は、回線１０と回線
１１との間に設置され、回線間の接点ＣＲの開閉を検出
する。回線１０は抵抗Ｒ3 を介し、フォトカプラ３に設
けられた発光素子３ａのアノードとＮＰＮトランジスタ
４のコレクタに接続されている。
【００１１】又、発光素子３ａのカソードには、トラン
ジスタ４のベースと、バイアス用の抵抗Ｒ4 が接続さ
れ、この抵抗Ｒ4 の他の一端とトランジスタ４のエミッ
タが接続されている。即ち、トランジスタ４のコレク
タ、ベース間には発光素子３ａ、ベース、エミッタ間に
は抵抗Ｒ4 が接続されている。更に、抵抗Ｒ4 とトラン
ジスタ４のエミッタ間には、接点ＣＲが接続され、この
接点ＣＲの開閉に応じて回線１１，１２間が接続／遮断
される。
ジスタ４のベースと、バイアス用の抵抗Ｒ4 が接続さ
れ、この抵抗Ｒ4 の他の一端とトランジスタ４のエミッ
タが接続されている。即ち、トランジスタ４のコレク
タ、ベース間には発光素子３ａ、ベース、エミッタ間に
は抵抗Ｒ4 が接続されている。更に、抵抗Ｒ4 とトラン
ジスタ４のエミッタ間には、接点ＣＲが接続され、この
接点ＣＲの開閉に応じて回線１１，１２間が接続／遮断
される。
【００１２】又、フォトカプラ３の受光素子３ｂのコレ
クタには、抵抗Ｒ5 を介して電圧＋５Ｖが供給される。
受光素子３ｂは、発光素子３ａの発光量に応じた電圧、
即ち読み返し信号を出力する。
クタには、抵抗Ｒ5 を介して電圧＋５Ｖが供給される。
受光素子３ｂは、発光素子３ａの発光量に応じた電圧、
即ち読み返し信号を出力する。
【００１３】次にこの実施例の動作を説明する。接点Ｃ
Ｒが閉じられ、ライン電流Ｉ10が十分に小さな値である
時、ライン電流Ｉ10は、全て受光素子３ａのフォトカプ
ラ電流Ｉ11となり、トランジスタ４のコレクタ電流Ｉ12
は流れない。
Ｒが閉じられ、ライン電流Ｉ10が十分に小さな値である
時、ライン電流Ｉ10は、全て受光素子３ａのフォトカプ
ラ電流Ｉ11となり、トランジスタ４のコレクタ電流Ｉ12
は流れない。
【００１４】しかし、発光素子３ａを流れるフォトカプ
ラ電流が抵抗Ｒ4 を流れることにより生じる電圧降下が
トランジスタ４のベース−エミッタ間ＯＮ電圧ＶBE（ほ
ぼ０．６Ｖ）に達するとコレクタ電流Ｉ12が流れ始め
る。例えば、 ＶBE ＝ １０ｍＡ × Ｒ4
ラ電流が抵抗Ｒ4 を流れることにより生じる電圧降下が
トランジスタ４のベース−エミッタ間ＯＮ電圧ＶBE（ほ
ぼ０．６Ｖ）に達するとコレクタ電流Ｉ12が流れ始め
る。例えば、 ＶBE ＝ １０ｍＡ × Ｒ4
【００１５】の関係式を満たすようにＲ4 を設定する
と、ライン電流Ｉ10が１０ｍＡ以下であれば、このライ
ン電流Ｉ10は、全て発光素子３ａのフォトカプラ電流Ｉ
11となる。
と、ライン電流Ｉ10が１０ｍＡ以下であれば、このライ
ン電流Ｉ10は、全て発光素子３ａのフォトカプラ電流Ｉ
11となる。
【００１６】しかし、ライン電流Ｉ10が１０ｍＡを越え
ると、トランジスタ４のベースがオンとなり、トランジ
スタ４の増幅率β（ほぼ７０）に応じた電流がコレクタ
を通じて流れる。このため、１０ｍＡ以上のライン電流
Ｉ10の大部分は、トランジスタ４のコレクタ電流Ｉ12に
バイパスする。
ると、トランジスタ４のベースがオンとなり、トランジ
スタ４の増幅率β（ほぼ７０）に応じた電流がコレクタ
を通じて流れる。このため、１０ｍＡ以上のライン電流
Ｉ10の大部分は、トランジスタ４のコレクタ電流Ｉ12に
バイパスする。
【００１７】このようなライン電流Ｉ10とフォトカプラ
電流との関係を図２に示す。図２に示されるように１０
ｍＡ以下でのライン電流Ｉ10とフォトカプラ電流Ｉ11と
の値は等しい。このように、１０ｍＡ以下の小電流域で
は、ライン電流Ｉ10が全てフォトカプラ３の発光素子３
ａに集中して流れるため、フォトカプラ３による電流の
検知が容易となる。
電流との関係を図２に示す。図２に示されるように１０
ｍＡ以下でのライン電流Ｉ10とフォトカプラ電流Ｉ11と
の値は等しい。このように、１０ｍＡ以下の小電流域で
は、ライン電流Ｉ10が全てフォトカプラ３の発光素子３
ａに集中して流れるため、フォトカプラ３による電流の
検知が容易となる。
【００１８】ライン電流Ｉ10が１０ｍＡを越え、フォト
カプラ電流Ｉ11に１０ｍＡ以上の電流が流れると、１０
ｍＡを越えた大部分の電流は、トランジスタ４のコレク
タにバイパスする。
カプラ電流Ｉ11に１０ｍＡ以上の電流が流れると、１０
ｍＡを越えた大部分の電流は、トランジスタ４のコレク
タにバイパスする。
【００１９】従って、接点ＣＲが閉状態で、ライン電流
Ｉ10の値が大きい場合、大部分の電流をコレクタ電流Ｉ
12にバイパスされるため、フォトカプラ３の発光素子３
ａは通常に作動する。これにより、受光素子３ｂは発光
素子３ａの発光量に応じて読み返し信号を出力すること
ができる。一方、接点ＣＲが開状態の場合、発光素子３
ａのアノード電流Ｉ11、及びトランジスタ４のコレクタ
電流Ｉ12は共に流れない。
Ｉ10の値が大きい場合、大部分の電流をコレクタ電流Ｉ
12にバイパスされるため、フォトカプラ３の発光素子３
ａは通常に作動する。これにより、受光素子３ｂは発光
素子３ａの発光量に応じて読み返し信号を出力すること
ができる。一方、接点ＣＲが開状態の場合、発光素子３
ａのアノード電流Ｉ11、及びトランジスタ４のコレクタ
電流Ｉ12は共に流れない。
【００２０】尚、同実施例では、回線間に設けられた接
点の開閉状態を検出することについて説明したが、これ
に限られることなく、例えばデジタル信号（オン／オ
フ）の出力結果を確認する回路等に適用することもでき
る。
点の開閉状態を検出することについて説明したが、これ
に限られることなく、例えばデジタル信号（オン／オ
フ）の出力結果を確認する回路等に適用することもでき
る。
【００２１】
【発明の効果】以上詳記したようにこの発明によれば、
開閉検出用のフォトカプラにトランジスタを接続するこ
とにより、フォトカプラの発光素子に所定の値を越える
電流が流れると、大部分がトランジスタのコレクタへバ
イパスする。トランジスタにバイパスする電流は、従来
適用したダイオードの場合よりはるかに大きい。これに
より、フォトカプラの発光素子に定格値以上の電流を流
すことを防止でき、発光素子を正常に作動させることが
でき、品質保全性を向上することができる。よって、フ
ォトカプラを用いた開閉検出回路の信頼性を向上するこ
とができる。
開閉検出用のフォトカプラにトランジスタを接続するこ
とにより、フォトカプラの発光素子に所定の値を越える
電流が流れると、大部分がトランジスタのコレクタへバ
イパスする。トランジスタにバイパスする電流は、従来
適用したダイオードの場合よりはるかに大きい。これに
より、フォトカプラの発光素子に定格値以上の電流を流
すことを防止でき、発光素子を正常に作動させることが
でき、品質保全性を向上することができる。よって、フ
ォトカプラを用いた開閉検出回路の信頼性を向上するこ
とができる。
【図１】この発明の一実施例に係る開閉検出回路の回路
図。
図。
【図２】同実施例における開閉検出回路に供給される電
流とフォトカプラの受光素子に流れる電流との関係を示
す図。
流とフォトカプラの受光素子に流れる電流との関係を示
す図。
【図３】従来の開閉検出回路の回路図。
３…フォトカプラ、３ａ…発光素子、３ｂ…受光素子、
４…トランジスタ、１０，１１…回線、Ｒ3 ，Ｒ4 ，Ｒ
5 …抵抗、ＣＲ…接点。
４…トランジスタ、１０，１１…回線、Ｒ3 ，Ｒ4 ，Ｒ
5 …抵抗、ＣＲ…接点。
Claims (1)
- 【請求項１】 フォトカプラの発光側ダイオードを回路
に直列に接続することによりこの回路に流れる電流を計
測し、上記回路に設けられた接点の開閉状態を検出する
開閉検出回路において、 上記フォトカプラ発光側ダイオードのアノード・カソー
ド間にトランジスタのコレクタ・ベース間を並列に接続
すると共に、上記トランジスタのベース・エミッタ間に
バイアス用の抵抗を接続したことを特徴とする開閉検出
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5331993A JPH06265585A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | 開閉検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5331993A JPH06265585A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | 開閉検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265585A true JPH06265585A (ja) | 1994-09-22 |
Family
ID=12939406
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5331993A Withdrawn JPH06265585A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | 開閉検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06265585A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999023497A1 (en) * | 1997-11-04 | 1999-05-14 | Robert Gardner | Improvements relating to current indicators |
| KR100507918B1 (ko) * | 2002-10-29 | 2005-08-10 | 프롬써어티 주식회사 | 웨이퍼 번인 시스템에서의 브이에스 케이블 단선 검출 장치 |
| US6930613B2 (en) | 2000-03-21 | 2005-08-16 | Robert Gardner | Electrical instruments circuits |
| WO2009000325A1 (de) * | 2007-06-26 | 2008-12-31 | Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Schaltung zur ansteuerung eines elektrooptischen wandlers |
-
1993
- 1993-03-15 JP JP5331993A patent/JPH06265585A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999023497A1 (en) * | 1997-11-04 | 1999-05-14 | Robert Gardner | Improvements relating to current indicators |
| US6930613B2 (en) | 2000-03-21 | 2005-08-16 | Robert Gardner | Electrical instruments circuits |
| KR100507918B1 (ko) * | 2002-10-29 | 2005-08-10 | 프롬써어티 주식회사 | 웨이퍼 번인 시스템에서의 브이에스 케이블 단선 검출 장치 |
| WO2009000325A1 (de) * | 2007-06-26 | 2008-12-31 | Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Schaltung zur ansteuerung eines elektrooptischen wandlers |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000530 |